KR100625938B1 - Bond integrity test system for wire bonder - Google Patents
Bond integrity test system for wire bonder Download PDFInfo
- Publication number
- KR100625938B1 KR100625938B1 KR1020050066161A KR20050066161A KR100625938B1 KR 100625938 B1 KR100625938 B1 KR 100625938B1 KR 1020050066161 A KR1020050066161 A KR 1020050066161A KR 20050066161 A KR20050066161 A KR 20050066161A KR 100625938 B1 KR100625938 B1 KR 100625938B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- wire
- test system
- shaft
- integrity test
- bond integrity
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
- H01L24/78—Apparatus for connecting with wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
- H01L2224/78—Apparatus for connecting with wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/74—Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
- H01L2224/78—Apparatus for connecting with wire connectors
- H01L2224/7825—Means for applying energy, e.g. heating means
- H01L2224/783—Means for applying energy, e.g. heating means by means of pressure
- H01L2224/78301—Capillary
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
- H01L2224/85009—Pre-treatment of the connector or the bonding area
- H01L2224/8503—Reshaping, e.g. forming the ball or the wedge of the wire connector
- H01L2224/85035—Reshaping, e.g. forming the ball or the wedge of the wire connector by heating means, e.g. "free-air-ball"
- H01L2224/85045—Reshaping, e.g. forming the ball or the wedge of the wire connector by heating means, e.g. "free-air-ball" using a corona discharge, e.g. electronic flame off [EFO]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
- H01L2224/85—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
- H01L2224/859—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector involving monitoring, e.g. feedback loop
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/00014—Technical content checked by a classifier the subject-matter covered by the group, the symbol of which is combined with the symbol of this group, being disclosed without further technical details
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01006—Carbon [C]
Abstract
본 발명은 와이어 본딩 장비의 본드 완전성 테스트 시스템에 관한 것으로서, 특히 본드 완전성 테스트 시스템의 와이어 스풀 홀더 어셈블리에 관한 것이다.The present invention relates to a bond integrity test system of wire bonding equipment, and more particularly to a wire spool holder assembly of a bond integrity test system.
즉, 본 발명은 와이어 본딩 공정중 반도체 칩의 본딩패드와 기판간의 와이어 본딩이 제대로 이루어졌는지 그리고 와이어의 인출 공급이 끊어지지 않고 연속적으로 잘 공급되고 있는지를 판단하는 본드 완전성 테스트 시스템의 구성중 와이어 스풀 홀더 어셈블리의 구조를 기존의 브러시 슬립 링 접촉방식에서 회전식 전기 커넥터 접촉방식으로 새롭게 개선하여, 자재에 카본 가루 등이 떨어져 불량을 초래하는 현상을 방지하는 동시에 BITS 보드로 피드백되는 저항 측정신호에 노이즈가 섞이는 것을 방지함으로써, 본드 완전성 테스트가 완전하게 이루어질 수 있도록 한 와이어 본딩 장비의 본드 완전성 테스트 시스템을 제공하고자 한 것이다.That is, the present invention relates to a wire spool during construction of a bond integrity test system for determining whether wire bonding between a bonding pad of a semiconductor chip and a substrate is properly performed during wire bonding and whether the lead supply is continuously supplied well without being cut off. The structure of the holder assembly has been newly improved from the conventional brush slip ring contact method to the rotary electrical connector contact method, which prevents carbon powder, etc. from falling into the material, and at the same time prevents noise in the resistance measurement signal fed back to the BITS board. It was intended to provide a bond integrity test system of wire bonding equipment that prevents mixing and allows bond integrity testing to be completed.
본드 완전성 테스트 시스템, BITS보드, 회전식 전기커넥터, 브러시 슬립 링 접촉방식, 반도체 패키지, 와이어 본딩 Bond Integrity Test System, BITS Board, Swivel Electrical Connector, Brush Slip Ring Contact, Semiconductor Package, Wire Bonding
Description
도 1은 본 발명에 따른 와이어 본딩 장비의 본드 완전성 테스트 시스템중 와이어 스풀 홀더 어셈블리를 나타내는 분리 사시도,1 is an exploded perspective view illustrating a wire spool holder assembly in a bond integrity test system of a wire bonding apparatus according to the present invention;
도 2a,2b,2c는 본 발명에 따른 와이어 본딩 장비의 본드 완전성 테스트 시스템중 와이어 스풀 홀더 어셈블리를 나타내는 조립 사시도로서, 모터 및 와이어 스풀 홀더가 장착되기 전의 상태를 나타내는 조립 사시도,Figure 2a, 2b, 2c is an assembled perspective view showing a wire spool holder assembly of the bond integrity test system of the wire bonding equipment according to the present invention, an assembly perspective view showing a state before the motor and the wire spool holder is mounted,
도 2d는 본 발명에 따른 와이어 스풀 홀더 어셈블리에 적용되는 회전식 전기 커넥터의 내부 구조를 보여주는 개략도,2d is a schematic diagram showing an internal structure of a rotary electrical connector applied to a wire spool holder assembly according to the present invention;
도 3은 본 발명에 따른 와이어 본딩 장비의 본드 완전성 테스트 시스템중 와이어 스풀 홀더 어셈블리를 나타내는 조립 사시도로서, 모터의 장착전 상태를 나타내는 조립 사시도,3 is an assembled perspective view showing the wire spool holder assembly in the bond integrity test system of the wire bonding equipment according to the present invention, the assembled perspective view showing the pre-mounted state of the motor,
도 4는 본 발명에 따른 와이어 본딩 장비의 본드 완전성 테스트 시스템중 와이어 스풀 홀더 어셈블리를 나타내는 조립 사시도로서, 완전한 조립 상태를 나타내는 조립 사시도,4 is an assembled perspective view showing the wire spool holder assembly in the bond integrity test system of the wire bonding equipment according to the present invention, the assembled perspective view showing a complete assembly state,
도 5는 와이어 본딩 장비의 본드 완전성 테스트 시스템의 회로 연결도로서, 접촉저항을 감소시킬 수 있는 원리를 설명하는 회로도, 5 is a circuit connection diagram of the bond integrity test system of the wire bonding equipment, illustrating a principle that can reduce the contact resistance;
도 6은 종래의 본드 완전성 테스트 시스템중 와이어 스풀 홀더 어셈블리를 나타내는 분리 사시도,6 is an exploded perspective view showing a wire spool holder assembly in a conventional bond integrity test system;
도 7은 종래의 본드 완전성 테스트 시스템중 와이어 스풀 홀더 어셈블리를 나타내는 조립 사시도,7 is an assembled perspective view showing a wire spool holder assembly in a conventional bond integrity test system;
도 8은 종래의 본드 완전성 테스트 시스템중 와이어 스풀 홀더 어셈블리의 브러시 슬립링과 스풀 홀더축간의 접촉 마찰이 발생하는 것을 보여주는 측면도,8 is a side view showing contact friction between the brush slip ring of the wire spool holder assembly and the spool holder shaft in a conventional bond integrity test system;
도 9는 종래의 본드 완전성 테스트 시스템중 와이어 스풀 홀더 어셈블리의 브러시 슬립링과 스풀 홀더축간의 접촉 마찰로 인하여 노이즈가 발생하는 것을 설명하는 파형도,9 is a waveform diagram illustrating that noise occurs due to contact friction between a brush slip ring of a wire spool holder assembly and a spool holder shaft in a conventional bond integrity test system;
도 10은 와이어 본딩 장비의 본드 완전성 테스트 시스템을 설명하는 시스템도,10 is a system diagram illustrating a bond integrity test system of wire bonding equipment;
도 11 및 도 12는 와이어 본딩 장비의 본드 완전성 테스트 시스템의 개선 전후를 비교하는 파형도,11 and 12 are waveform diagrams comparing before and after improvement of the bond integrity test system of the wire bonding equipment,
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명><Explanation of symbols for the main parts of the drawings>
10 : BITS 보드 12 : 와이어10: BITS Board 12: Wire
14 : 와이어 스풀 홀더 16 : 모터14: wire spool holder 16: motor
18 : 와이어 스풀(Spool) 20 : 회전식 전기커넥터18: wire spool 20: rotary electrical connector
22 : 동력전달용 케이스 24 : 제1장착홀22: power transmission case 24: the first mounting hole
26 : 제2장착홀 28 : 제3장착홀26: 2nd mounting hole 28: 3rd mounting hole
30 : 스풀축 32 : 보조축30: spool shaft 32: auxiliary shaft
34 : 제1헬리컬기어 36 : 메인축34: 1st helical gear 36: main shaft
38 : 제2헬리컬기어 40 : 베어링38: second helical gear 40: bearing
42 : 배선 44 : 고정체42: wiring 44: fixture
46 : 회전체 48 : 전도성의 수은46: rotating body 48: conductive mercury
50 : 회전축 52 : 지지단50: rotation axis 52: support end
54 : 메인 엔드와이어 고정단 56 : 보조 엔드와이어 고정단54: main end wire fixed end 56: auxiliary end wire fixed end
60 : 관통홀 62 : 지지판60 through
64 : 접촉 브러시64: contact brush
본 발명은 와이어 본딩 장비의 본드 완전성 테스트 시스템에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 와이어 본딩 공정중 반도체 칩의 본딩패드와 기판간의 와이어 본딩이 제대로 이루어졌는지를 판단하는 본드 완전성 테스트 시스템의 구성중 와이어 스풀 홀더의 구조를 기존의 브러시 슬립 링 접촉방식에서 회전식 전기커넥터 접촉방식으로 새롭게 개선하여, 자재에 카본 가루 등이 떨어져 불량을 초래하는 현상을 방지하는 동시에 노이즈에 의한 에러신호를 억제하여 본드 완전성 테스트가 완전하게 이루어질 수 있도록 한 와이어 본딩 장비의 본드 완전성 테스트 시스템에 관한 것이다.The present invention relates to a bond integrity test system of a wire bonding apparatus, and more particularly, a wire spool holder during construction of a bond integrity test system for determining whether wire bonding between a bonding pad of a semiconductor chip and a substrate is properly performed during a wire bonding process. The new structure has been improved from the conventional brush slip ring contact method to the rotary electrical connector contact method, which prevents carbon powder, etc. from falling down, and prevents the error signal caused by noise. The bond integrity test system of the wire bonding equipment to be made.
통상적으로 반도체 패키지는 기판(인쇄회로기판, 회로필름, 리드프레임)의 칩 부착영역에 반도체 칩을 실장하는 칩 부착공정과, 상기 반도체 칩의 본딩패드와 기판의 와이어 본딩 영역을 와이어로 연결하는 와이어 본딩 공정과, 반도체 칩과 와이어 등을 외부로부터 보호하기 위하여 실시하는 몰딩 공정 등을 필수적으로 거쳐서 제조된다.In general, a semiconductor package includes a chip attaching process for mounting a semiconductor chip in a chip attaching region of a substrate (a printed circuit board, a circuit film, and a lead frame), and a wire connecting a bonding pad of the semiconductor chip and a wire bonding region of the substrate with a wire. It is manufactured through the bonding process and the molding process performed in order to protect a semiconductor chip, a wire, etc. from the exterior.
상기 와이어 본딩을 위한 장비(이하, 와이어 본더라 칭함)에 대한 구성을 첨부한 도 10을 참조로 간략히 살펴보면 다음과 같다.With reference to Figure 10 attached to the configuration for the equipment (hereinafter referred to as wire bonder) for the wire bonding briefly as follows.
와이어가 인출 가능하게 감겨져 있는 와이어 피딩부 즉, 와이어 스풀 홀더 어셈블리(100)와; 와이어의 피딩방향을 캐필러리쪽으로 전환해주는 디버팅 로드 (200)및 안내해주는 에어 가이드(300)와; 상기 와이어의 장력을 조절해주는 텐셔너(400)와; 자재에 대한 와이어의 최종 공급 경로가 되는 미세한 직경의 관통홀이 형성된 캐필러리(500)와; 높은 전압을 걸어주어 그 전압이 캐필러리 하단으로 인출된 와이어에 방전되게 하여 볼 형상으로 만들어주는 EFO 완드(600) 등을 포함하여 구성되어 있다.A wire feeding part, that is, a wire
따라서, 상기 캐필러리의 연속적 구분 동작에 의하여 반도체 칩의 본딩패드에 행하는 볼 본딩(1차 본딩이라고도 함)과, 기판의 본딩영역에 행하는 스티치 본딩(2차 본딩이라고도 함)이 실시된다.Therefore, ball bonding (also referred to as primary bonding) to the bonding pads of the semiconductor chip and stitch bonding (also referred to as secondary bonding) to the bonding region of the substrate are performed by the continuous sorting operation of the capillary.
한편, 상기 캐필러리(500)의 위쪽에는 1차 및 2차 본딩이 종료된 시점에서 와이어의 인출을 끊어주는 와이어 클램프(700)가 위치되어 있다.On the other hand, the upper portion of the capillary 500 is a
이러한 구성 및 작동을 하는 와이어 본더는 반도체 칩의 본딩패드와 기판의 와이어 본딩 영역간에 와이어가 제대로 연결되었는지를 실시간으로 판정해주는 본드 완전성 테스트 시스템(BITS: Bond Integrity Test System)을 포함하고 있다.The wire bonder having such a configuration and operation includes a Bond Integrity Test System (BITS) that determines in real time whether the wire is properly connected between the bonding pad of the semiconductor chip and the wire bonding area of the substrate.
상기 본드 완전성 테스트 시스템은 자재에 대한 와이어 본딩 공정중 와이어의 인출이 단락없이 캐필러리까지 제대로 인출되고 있는지 그리고 와이어 본딩이 제대로 이루어졌는지를 실시간으로 판정해주는 시스템이다.The bond integrity test system is a system for determining in real time whether the wire is drawn out to the capillary without a short circuit and the wire bonding is properly performed during the wire bonding process for the material.
여기서, 상기 본드 완전성 테스트 시스템에 대하여 구체적으로 설명하면 다음과 같다.Herein, the bond integrity test system will be described in detail.
첨부한 도 10은 와이어 본딩 장비의 본드 완전성 테스트 시스템을 개략적으로 나타낸 시스템도에서 알 수 있듯이, 실질적으로 와이어 본더의 본드 완전성 테스트 시스템은 와이어 본더내에 내장되어 있는 BITS보드(10)의 전류 흐름 제어에 의하여 이루어진다.As shown in FIG. 10, a system diagram schematically illustrating a bond integrity test system of wire bonding equipment, the bond integrity test system of the wire bonder is substantially used to control the current flow of the BITS
상기 BITS보드(10)의 전류 흐름 제어를 위하여, 와이어와 접촉하여 저항을 발생시키는 부분(와이어 스풀 홀더 어셈블리(100), 디버팅 로드(200), 와이어 클램프(700))간이 통전 가능한 상태로 연결된다.In order to control the current flow of the BITS
즉, BITS보드(10)와 상기 와이어 스풀 홀더 어셈블리(100)가 배선에 의하여 통전 가능하게 연결되고, BITS보드(10)와 상기 디버팅 로드(200)간이 배선에 의하여 통전 가능하게 연결되며, 또한 BITS보드(10)와 상기 와이어 클램프(700)간이 배선에 의하여 통전 가능하게 연결된다.That is, the BITS
따라서, 상기 BITS보드(10)에서 각 배선을 통하여 전류를 인가하게 되면, 와 이어 스풀 홀더 어셈블리(100)의 스풀에 감겨진 와이어(12)로 전류가 흐르게 되고, 디버팅 로드(200) 및 이 디버팅 로드(200)와 접촉하는 와이어(12)로 전류가 흐르게 되며, 와이어 클램프(700) 및 이 와이어 클램프(700)와 접촉하는 와이어(12)로 전류가 흐르게 되어, 결국 전류는 와이어(12)를 따라 자재의 반도체 칩 또는 기판을 통하여 접지영역(와이어 본더에 구비됨)으로 흐르게 된다.Therefore, when the current is applied through each wire in the
이때, 상기 와이어의 전기적 접촉저항이 발생하게 되는데, 첨부한 도 5의 회로 연결도에서 보는 바와 같이, 상기 와이어 스풀 홀더 어셈블리(100)에서의 접촉저항(후술하는 바와 같이, 와이어 스풀 홀더의 스풀축과 접촉 브러시간의 접촉저항)과, 디버팅 로드(200)와의 접촉저항과, 와이어 클램프(700)와의 접촉저항이 발생하게 된다.At this time, the electrical contact resistance of the wire is generated, as shown in the circuit connection diagram of FIG. 5, the contact resistance of the wire spool holder assembly 100 (as described below, the spool shaft of the wire spool holder). Contact resistance between the contact brush and the contact brush), the contact resistance with the
이때의 각 접촉저항값은 BITS보드(10)에서 피드백 신호로 검출하게 되는 바, 기준치 범위내이면 정상적인 와이어 본딩이 진행되는 것으로 기준치 범위 밖이면 와이어 본딩이 제대로 진행되지 않은 것으로 판정하게 된다.At this time, each contact resistance value is detected by the BITS
즉, 정상적인 접촉저항이 존재하는 것은 와이어가 캐필러리까지 제대로 인출되어, 최종적으로 칩 또는 기판에 와이어가 본딩된 것을 의미하므로, 결국 정상적인 와이어 본딩이 진행되고 있음을 의미하는 것이다.That is, the presence of normal contact resistance means that the wire is properly drawn out to the capillary and finally the wire is bonded to the chip or the substrate, and thus, the normal wire bonding is in progress.
여기서, 종래의 와이어 스풀 홀더 어셈블리의 구성을 살펴보면 다음과 같다.Here, look at the configuration of a conventional wire spool holder assembly as follows.
첨부한 도 6은 종래의 본드 완전성 테스트 시스템중 와이어 스풀 홀더 어셈블리를 나타내는 분리 사시도이고, 도 7은 그 조립된 상태를 나타내는 사시도이다.6 is an exploded perspective view showing the wire spool holder assembly in the conventional bond integrity test system, and FIG. 7 is a perspective view showing the assembled state thereof.
종래의 와이어 스풀 홀더 어셈블리는 BITS보드(10) 및 와이어(12)에 대한 전 기적 연결 방식을 브러시 슬립 링 접촉방식으로 채택하고 있는 바, 그 구성을 크게 나누어보면, 중앙에 와이어 스풀 홀더(14)의 스풀축(30)이 삽입되는 관통홀(60)이 형성된 사각판 형태의 지지판(62)과, 이 지지판(62)의 이면에 장착되는 모터(16)와, 상기 지지판(62)의 전면에 장착되는 와이어 스풀 홀더(14)로 구성된다.The conventional wire spool holder assembly adopts the electric connection method to the BITS
상기 지지판(62)의 관통홀(60)을 중심으로 그 일면(와이어 스풀 홀더와 대향되는 쪽)에는 역 "U" 자 형태로서 좌우방향으로 탄성력을 갖는 접촉 브러시(64)가 부착된다.A
이때, 상기 접촉 브러시(64)는 배선에 의하여 BITS 보드(10)와 연결된다.In this case, the
상기 와이어 스풀 홀더(14)는 일측이 개방된 중공형의 원통형 플라스틱 성형체로서, 둘레면에는 다수개의 보조 엔드와이어 고정단(56)이 돌출 부착되고, 일측쪽에는 상기 고정단(56)과 통전 가능하게 금속재의 스풀축(30)이 돌출 형성되어 있으며, 반대쪽에는 상기 스풀축(30)과 통전 가능한 메인 엔드와이어 고정단(54)이 부착되어 있다.The
따라서, 상기 지지판(62)의 관통홀(60)을 통하여 와이어 스풀 홀더(14)의 스풀축(30)이 삽입되는 동시에 상기 모터의 회전축과 결합된다.Therefore, the
이때, 상기 와이어 스풀 홀더(14)의 스풀축(30)의 외경면이 상기 지지판(62)의 접촉 브러시(64)의 내면과 서로 통전 가능하게 접촉된 상태가 된다.At this time, the outer diameter surface of the
한편, 상기 와이어 스풀 홀더(14)의 외경면에는 와이어가 감져진 채로 저장된 와이어 스풀(18)이 삽입 체결되는 바, 와이어 스풀(18)에 감겨진 와이어의 엔드와이어(와이어 끝단)는 상기 메인 엔드와이어 고정단(54) 또는 보조 엔드 와이어 고정단(56)에 고정된다.On the other hand, the
따라서, 상기 BITS 보드(10)에서 인가된 전류신호는 배선 → 접촉 브러시(64) → 와이어 스풀 홀더(14)의 스풀축(30) → 메인 엔드와이어 고정단(54) 또는 보조 엔드와이어 고정단(56) → 와이어 스풀(18)에 감겨진 와이어로 흐르게 된다.Therefore, the current signal applied from the
이때, 상기 BITS 보드(10)에서 전류신호가 인가되었을 때, 와이어 스풀 홀더 어셈블리에서의 접촉저항은 상기 와이어 스풀 홀더(14)의 스풀축(30)과 접촉 브러시(64)간에 이루어지는 접촉저항으로 판단하게 된다.At this time, when the current signal is applied from the
즉, 상기 모터(16)의 회전과 함께 동축상의 와이어 스풀 홀더(14)가 회전하게 되면, 와이어 스풀 홀더(14)에 체결된 스풀(18)로부터 와이어(12)가 풀리면서 상기 디버팅 로드(200)와 에어가이드(300) 그리고 와이어 클램프(700)를 경유하여 캐필러리(500)로 와이어(12)가 공급되며, 결국 캐필러리(500)의 상하 운동에 의하여 반도체 칩과 기판간의 와이어 본딩 공정이 진행되는 것이다.That is, when the coaxial
이러한 구성 및 동작으로 이루어지는 종래의 와이어 스풀 홀더 어셈블리에 의하여 다음과 같은 문제점이 발생되었다.The following problems have been caused by the conventional wire spool holder assembly made of such a configuration and operation.
상기 모터의 회전과 함께 동축상의 와이어 스풀 홀더가 회전하게 되면, 상기 접촉브러시와 상기 와이어 스풀 홀더의 스풀축이 서로 접촉마찰을 하게 된다.When the coaxial wire spool holder rotates with the rotation of the motor, the contact brush and the spool shaft of the wire spool holder are in contact friction with each other.
즉, 첨부한 도 8에 도시된 바와 같이 상기 와이어 스풀 홀더(14)의 스풀축(30)이 회전을 하면서 그 외경면이 상기 접촉브러시(64)의 내표면에 연속적으로 접촉마찰을 하게 된다.That is, as shown in FIG. 8, as the
이러한 지속적인 접촉마찰로 인하여, 스풀축(30)의 코팅면이 마모되어 크롬 및 카본 가루가 발생되는 자재쪽으로 낙하되는 문제점이 있었다.Due to this continuous contact friction, there is a problem that the coating surface of the
상기 카본 가루가 자재에 떨어지게 되면, 반도체 칩 및 기판의 품질 자체에치명적인 영향을 주고, 결국 반도체 패키지의 불량을 초래하는 문제점이 발생된다.When the carbon powder falls on the material, it causes a fatal effect on the quality of the semiconductor chip and the substrate itself, and eventually causes a defect of the semiconductor package.
특히, 마모된 스풀축(30)이 접촉브러시(64)의 내표면에 연속적으로 접촉마찰을 하게 되면, 이때의 마찰저항 증가로 인하여 저항 측정신호가 상기 BITS보드(10)로 피드백(Feedback)될 때, 첨부한 도 9의 파형도에서 보듯이 노이즈(Noise)가 함께 섞여 들어가 가짜 신호(Error)로 작용하게 되고, 결국 와이어 본더의 가동률을 정지시키는 문제점이 있었다.In particular, when the
본 발명은 상기한 제반 문제점을 해결하기 위하여 연구 개발된 것으로서, 와이어 본딩 공정중 반도체 칩의 본딩패드와 기판간의 와이어 본딩이 제대로 이루어졌는지 그리고 와이어의 인출 공급이 끊어지지 않고 연속적으로 잘 공급되고 있는지를 판단하는 본드 완전성 테스트 시스템의 구성중 와이어 스풀 홀더 어셈블리의 구조를 기존의 브러시 슬립 링 접촉방식에서 회전식 전기 커넥터 접촉방식으로 새롭게 개선하여, 자재에 카본 가루 등이 떨어져 불량을 초래하는 현상을 방지하는 동시에 BITS 보드로 피드백되는 저항 측정신호에 노이즈가 섞이는 것을 방지함으로써, 본드 완전성 테스트가 완전하게 이루어질 수 있도록 한 와이어 본딩 장비의 본드 완전성 테스트 시스템을 제공하는데 그 목적이 있다.The present invention has been researched and developed in order to solve the above problems. Whether the wire bonding between the bonding pad of the semiconductor chip and the substrate is properly performed during the wire bonding process, and whether the drawing out of the wire is continuously supplied well without being cut off. The structure of the wire spool holder assembly is newly improved from the conventional brush slip ring contact method to the rotary electrical connector contact method during the configuration of the bond integrity test system to be judged, thereby preventing carbon powder from falling and causing defects. The goal is to provide a bond integrity test system for wire bonding equipment that ensures that the bond integrity test is completed by preventing noise from mixing into the resistance measurement signal fed back to the BITS board.
상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명은 모터 및 와이어 스풀 홀더를 포함하는 본드 완전성 테스트 시스템용 와이어 스풀 홀더 어셈블리에 있어서, 상기 모터의 회전력을 와이어 스풀 홀더에 전달하는 동력전달수단과; 이 동력전달수단에 장착되어, 와이어 스풀 홀더의 회전과 동시에 BITS 보드의 전류신호에 대한 접촉저항을 발생시키는 회전식 전기커넥터를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 와이어 본딩 장비의 본드 완전성 테스트 시스템을 제공한다.In order to achieve the above object, the present invention provides a wire spool holder assembly for a bond integrity test system including a motor and a wire spool holder, comprising: power transmission means for transmitting a rotational force of the motor to a wire spool holder; It is attached to the power transmission means, and provides a bond integrity test system of the wire bonding equipment, characterized in that it comprises a rotary electrical connector for generating a contact resistance to the current signal of the BITS board at the same time the rotation of the wire spool holder.
바람직한 구현예로서, 상기 동력전달수단은 일측면에 상기 모터의 축이 삽입되는 제1장착홀 및 상기 회전식 전기커넥터가 장착되는 제2장착홀이 관통 형성되고, 반대측면에는 상기 제2장착홀과 직선방향으로 일치하며 상기 와이어 스풀 홀더의 스풀축이 삽입되는 제3장착홀이 관통 형성된 동력전달용 케이스와; 상기 모터의 회전력을 와이어 스풀 홀더의 스풀축 및 회전식 전기 커넥터에 동시에 전달할 수 있도록 상기 동력전달용 케이스의 내부에 배열되는 축 및 기어조립체로 구성된 것을 특징으로 한다.In a preferred embodiment, the power transmission means has a first mounting hole through which the shaft of the motor is inserted and a second mounting hole through which the rotary electric connector is mounted, and on the opposite side thereof, the second mounting hole. A power transmission case coinciding in a straight direction and having a third mounting hole through which the spool shaft of the wire spool holder is inserted; And a shaft and a gear assembly arranged inside the power transmission case so as to simultaneously transmit the rotational force of the motor to the spool shaft and the rotary electrical connector of the wire spool holder.
더욱 바람직한 구현예로서, 상기 축 및 기어조합체는 상기 모터 축과 연결되는 보조축과; 이 보조축에 결합되는 제1헬리컬기어와; 상기 회전식 전기커넥터와 와이어 스풀 홀더의 스풀축을 동축으로 연결하는 메인축과; 이 메인축에 장착되어 상기 제1헬리컬기어와 치합되는 제2헬리컬기어와; 상기 메인축의 양끝단에 부착되어 상기 동력전달용 케이스의 내벽면에 지지되는 베어링으로 구성된 것을 특징으로 한다.In a more preferred embodiment, the shaft and the gear combination includes an auxiliary shaft connected to the motor shaft; A first helical gear coupled to the auxiliary shaft; A main shaft for coaxially connecting the rotary electrical connector and the spool shaft of the wire spool holder; A second helical gear mounted to the main shaft and engaged with the first helical gear; It is attached to both ends of the main shaft is characterized in that consisting of a bearing supported on the inner wall surface of the power transmission case.
바람직한 구현예로서, 상기 회전식 전기커넥터는 BITS보드와 연결되는 배선이 부착되는 고정체와; 이 고정체에 대하여 회전 및 통전 가능하게 연결되는 회전체와; 상기 고정체에 대한 회전체의 자유회전을 허용하는 베어링수단으로 구성된 것을 특징으로 한다.In a preferred embodiment, the rotary electrical connector includes a fixture to which wires connected to the BITS board are attached; A rotating body rotatably connected to the stationary body and energized; Characterized in that the bearing means for allowing a free rotation of the rotating body relative to the fixed body.
특히, 상기 베어링수단은 BITS보드와 연결된 배선과 통전 가능하도록 상기 고정체의 내부에 충진된 전도성의 수은과, 일끝단이 상기 수은에 담겨지고 타단은 상기 고정체의 이면으로 돌출되어 상기 회전체와 결합되는 회전축으로 구성된 것을 특징으로 한다.In particular, the bearing means is conductive mercury filled in the interior of the fixture to enable electricity to be connected to the wiring connected to the BITS board, one end is contained in the mercury and the other end is projected to the back of the fixture and the rotating body and It is characterized by consisting of a rotating shaft coupled.
또한, 상기 동력전달용 케이스의 제2장착홀의 외주면에는 상기 회전식 전기커넥터의 지지 역할을 하는 반원형 단면의 지지단이 일체로 더 형성된 것을 특징으로 한다.In addition, the outer peripheral surface of the second mounting hole of the power transmission case is characterized in that the support end of the semi-circular cross-section that serves as the support of the rotary electrical connector is further formed integrally.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부도면을 참조로 상세하게 설명하기로 한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
첨부한 도 1은 본 발명에 따른 와이어 본딩 장비의 본드 완전성 테스트 시스템중 와이어 스풀 홀더 어셈블리를 나타내는 분리 사시도이고, 도 3은 모터의 장착전 상태를 나타내는 조립 사시도이며, 도 4는 완전한 조립 상태를 나타내는 조립 사시도이다.1 is an exploded perspective view illustrating a wire spool holder assembly in a bond integrity test system of a wire bonding apparatus according to the present invention, FIG. 3 is an assembled perspective view illustrating a pre-mounting state of a motor, and FIG. Assembly perspective view.
전술한 바와 같이, 본드 완전성 테스트 시스템중 와이어 스풀 홀더 어셈블리는 와이어 스풀 홀더에 회전력을 전달하는 모터(16)와, 와이어가 감겨진 스풀(18)이 외경면에 삽입 장착되는 와이어 스풀 홀더(14)를 포함하여 구성된다.As described above, the wire spool holder assembly of the bond integrity test system includes a
본 발명은 본드 완전성 테스트 시스템의 구성중 와이어 스풀 홀더 어셈블리의 구조를 기존의 브러시 슬립 링 접촉방식에서 회전식 전기 커넥터 접촉방식으로 새롭게 개선하여, 자재에 카본 가루 등이 떨어져 불량을 초래하는 현상을 방지하는 동시에 BITS 보드로 피드백되는 저항 측정신호에 노이즈가 섞이는 것을 방지할 수 있도록 한 점에 주안점이 있다.The present invention newly improves the structure of the wire spool holder assembly during the configuration of the bond integrity test system from the conventional brush slip ring contact method to the rotary electric connector contact method to prevent the phenomenon of carbon powder falling on the material and causing a defect. At the same time, the focus is on preventing noise from mixing into the resistance measurement signal fed back to the BITS board.
이를 위해, 본 발명에 따르면 상기 모터(16)의 회전력을 와이어 스풀 홀더(14)에 전달하는 동력전달수단과, 이 와이어 스풀 홀더(14)의 회전과 동시에 BITS 보드(10)의 전류신호에 대한 접촉저항을 발생시키는 회전식 전기커넥터(20)를 구비하게 된다.To this end, according to the present invention, the power transmission means for transmitting the rotational force of the
상기 동력전달수단은 동력전달용 케이스(22)와, 이 케이스의 내부에 배열되는 축 및 기어조립체로 구성된다.The power transmission means consists of a
상기 동력전달용 케이스(22)는 일측면에 상기 모터(16)의 축이 삽입되는 제1장착홀(24) 및 상기 회전식 전기커넥터(20)가 장착되는 제2장착홀(26)이 좌우 위치에 나란히 관통 형성되고, 반대측면에는 상기 제2장착홀(26)과 직선방향으로 일치하며 상기 와이어 스풀 홀더(14)의 스풀축(30)이 삽입되는 제3장착홀(28)이 관통 형성된 직사각체 구조로 성형된 것이다.The
상기 동력 전달용 케이스(22)의 내부에 축 및 기어조합체가 소정의 배열로 설치되는 바, 상기 제1장착홀(24)을 통하여 삽입된 상기 모터(16)의 축과 연결되는 보조축(32)이 회전 가능하게 배열되고, 이 보조축(32)의 끝단부에는 제1헬리컬기어(34)가 일체로 부착된다.The shaft and the gear combination are installed in a predetermined arrangement in the
또한, 상기 동력 전달용 케이스(22)의 내부에서 상기 보조축(32)의 바로 옆쪽에 메인축(36)이 배열되는 바, 이 메인축(36)의 일측단은 상기 제2장착홀(26)을 통하여 상기 회전식 전기커넥터(20)와 연결되고, 타단은 상기 제3장착홀(28)을 통하여 상기 와이어 스풀 홀더(14)의 스풀축(30)과 연결된다.In addition, the
이때, 상기 메인축(36)의 소정위치에는 상기 제1헬리컬기어(34)와 맞물리는 제2헬리컬기어(38)가 일체로 부착된다.In this case, a second
또한, 상기 메인축(36)의 양끝단에는 동력전달용 케이스(22)의 내벽면에 지지되는 베어링(40)이 체결된다.In addition,
여기서, 상기 동력 전달용 케이스의 제2장착홀을 통하여 메인축과 연결되는 회전식 전기커넥터에 대하여 살펴보면 다음과 같다.Here, the rotary electric connector connected to the main shaft through the second mounting hole of the power transmission case is as follows.
첨부한 도 2a,2b,2c는 본 발명에 따른 와이어 스풀 홀더 어셈블리를 나타내는 조립 사시도로서, 모터 및 와이어 스풀 홀더가 장착되기 전의 상태이며, 회전식 전기커넥터가 조립된 상태를 나타내는 사시도이다.2A, 2B, and 2C are attached perspective views showing the wire spool holder assembly according to the present invention, which is a state before the motor and the wire spool holder are mounted, and a perspective view showing the assembled state of the rotary electric connector.
상기 회전식 전기커넥터(20)는 BITS보드(10)와 배선(42)에 의하여 연결되는 고정체(44)와, 이 고정체(44)에 대하여 회전 및 통전 가능하게 연결되는 회전체(46)로 구성되며, 이 고정체(44)와 회전체(46)의 접합 위치에 회전체(46)의 자유회전을 허용하는 베어링수단이 개재된다.The rotary
실질적으로, 상기 동력 전달용 케이스(22)의 제2장착홀(26)을 통하여 메인축(36)과 연결되는 구성은 상기 회전식 전기커넥터(20)의 회전체(46)가 된다.Substantially, the configuration connected to the
따라서, BITS보드(10)로부터 전류신호를 받는 고정체(44)는 배선(42)이 연결 된 상태이므로 회전하지 않고 고정된 상태를 유지하고, 고정체(44)와 통전 가능하게 연결되는 동시에 상기 메인축(36)과 연결된 회전체(46)만이 회전을 하게 된다.Therefore, the
이때, 상기 고정체(44)와 회전체(46)간에 개재된 베어링수단은 첨부한 도 2d에 개략적으로 도시한 바와 같이, BITS보드(10)와 연결된 배선(42)과 통전 가능하도록 고정체(44)의 내부에 형성되는 케이싱과, 이 케이싱의 내부에 충진되는 전도성의 수은(48)과, 이 전도성의 수은(48)에 일측단이 담겨지고 타단은 케이싱의 이면을 통하여 돌출되어 상기 회전체(46)와 연결되는 회전축(50)으로 구성된다.At this time, the bearing means interposed between the fixed
이에, 상기 회전체(46)가 회전할 때, 상기 회전축(50)이 일종의 베어링 역할을 하는 전도성의 수은(48)에 담겨진 채로 자유회전을 하게 되므로, 상기 고정체(44)는 회전하지 않고 고정된 상태로 유지되는 것이다.Thus, when the
한편, 상기 동력전달용 케이스(22)의 제2장착홀(26)의 외주면에는 반원형 단면의 지지단(52)이 일체로 돌출 형성되어, 상기 회전식 전기커넥터(20)를 고정/지지하는 역할을 하게 된다.On the other hand, the outer peripheral surface of the second mounting
이렇게 구비된 동력전달용 케이스(22)에 모터(16)와 와이어 스풀 홀더(14)가 장착되는 바, 상기 모터(16)의 장착은 모터 축이 상기 동력 전달용 케이스(22)의 제1장착홀(24)을 통하여 그 내부의 보조축(32)과 연결되어 이루어지고, 상기 와이어 스풀 홀더(14)의 장착은 상기 동력 전달용 케이스(22)의 제3장착홀(28)을 통하여 상기 와이어 스풀 홀더(14)의 스풀축(30)과 연결되어 이루어지게 된다.The
물론, 상기 와이어 스풀 홀더(14)의 외경면에는 와이어가 감겨진 스풀(18)이 삽입 체결되고, 이 스풀(18)에 감겨진 와이어의 엔드와이어(와이어 끝단)는 와이어 스풀 홀더(14)에 구비된 메인 엔드와이어 고정단(54) 또는 보조 엔드 와이어 고정단(56)에 고정된다.Of course, a
여기서, 상기와 같은 구성으로 이루어진 본 발명의 와이어 스풀 홀더 어셈블리의 작동상태를 설명하기로 한다.Here, the operation state of the wire spool holder assembly of the present invention having the configuration as described above will be described.
상기 모터(16)에 전원이 인가되면, 모터 축의 회전과 함께 동력전달용 케이스(22)내의 보조축(32)이 회전하고, 이 보조축(32)에 부착된 제1헬리컬기어(34)와 맞물린 제2헬리컬기어(38)의 회전과 함께 메인축(36)이 회전을 하게 된다.When power is applied to the
이어서, 상기 메인축(36)에 연결된 스풀축(30)이 회전하는 동시에 와이어 스풀 홀더(14) 및 와이어가 감겨진 스풀(18)이 함께 회전을 하게 된다.Subsequently, the
이에, 상기 스풀(18)로부터 와이어가 풀리면서 상기 디버팅 로드(200)와 에어가이드(300) 그리고 와이어 클램프(700)를 차례로 경유하여 캐필러리(500)로 와이어가 공급되며, 최종적으로 캐필러리(500)의 상하 운동에 의하여 반도체 칩의 본딩패드와 기판의 와이어 본딩영역간의 와이어 본딩 공정이 진행되어진다.Accordingly, the wire is released from the
이러한 와이어 본딩 공정중에 본드 완전성 테스트 시스템이 다음과 같이 동시에 진행된다.During this wire bonding process, the bond integrity test system proceeds simultaneously as follows.
상기 BITS 보드(10)에서 인가된 전류신호가 회전식 전기커넥터(20)의 고정체(44) → 고정체(44)내의 전도성의 수은(48) → 전도성 수은(48)에 담겨진 회전체(46)의 회전축(50) → 회전체(46) → 동력전달용 케이스(22)내의 메인축(36) → 와이어 스풀 홀더(14)의 스풀축(30) → 와이어 스풀 홀더(14)의 메인 엔드와이어 고정단(54) 또는 보조 엔드와이어 고정단(56) → 와이어 스풀(18)에 감겨진 와이어 (12)로 흐르게 된다.The current signal applied from the
연속적으로, 상기 와이어(12)로 전달된 전류는 캐필러리(500)를 통하여 인출되는 와이어(12)의 끝단까지 전달되는 동시에 와이어 본딩이 이루어지는 순간 반도체 칩 및 기판을 포함하는 자재를 통하여 접지영역으로 흘러가게 된다.Continuously, the current delivered to the
이때, 상기 BITS 보드(10)에서 전류신호가 인가되었을 때, 와이어 스풀 홀더 어셈블리(100)에서의 접촉저항은 상기 회전식 전기커넥터(20)의 고정체(44)와 회전체(46)간의 접촉저항으로 판단하게 된다.At this time, when a current signal is applied from the
따라서, 상기 BITS 보드(10)에서 전류신호가 인가됨과 함께 와이어 스풀 홀더 어셈블리(100)에서 발생하는 접촉저항(= 상기 회전식 전기커넥터(20)의 고정체(44)와 회전체(46)간의 접촉저항)과, 전술한 바와 같은 와이어(12)와 디버팅 로드(200)간의 접촉저항과, 와이어(12)와 와이어 클램프(700)간의 접촉저항이 각각 발생하게 된다.Accordingly, a contact resistance (= contact between the fixed
이때의 각 접촉저항값은 BITS보드(10)에 피드백되어 검출하는 바, 기준치 범위내이면 정상적인 와이어 본딩이 진행되는 것으로 판정하고, 기준치 범위 밖이면 와이어 본딩이 제대로 진행되지 않은 것으로 판정하게 된다.At this time, each contact resistance value is fed back to the
한편, BITS보드(10)로 노이즈가 피드백되는 원인은 접촉저항값의 변화가 주된 원인이며, 이러한 접촉저항 변화가 크게 생기지 않도록 전체 저항값을 낮은 저항값을 유지시켜 주는 것이 바람직하다.On the other hand, the reason that the noise is fed back to the
즉, 첨부한 도 5의 회로 연결도에서 보는 바와 같이, 상기 와이어 스풀 홀더 어셈블리(100)의 접촉저항과, 와이어(12)와 디버팅 로드(200)간의 접촉저항과, 와 이어(12)와 와이어 클램프(700)간의 접촉저항이 병렬로 연결된 상태인 바, 어느 하나의 접촉저항값을 줄여주더라도 전제 저항값은 낮아지게 된다.That is, as shown in the circuit connection diagram of FIG. 5, the contact resistance of the wire
따라서, 본 발명에 따르면 와이어(12)와 디버팅 로드(200)간의 접촉저항값과, 와이어(12)와 와이어 클램프(700)간의 접촉저항값을 낮추는 것은 한계가 있으므로, 상기 와이어 스풀 홀더 어셈블리(100)의 접촉저항을 낮추고자 한 것이다.Therefore, according to the present invention, there is a limit in lowering the contact resistance value between the
이론적인 근거로서, 와이어 스풀 홀더 어셈블리(100)의 접촉저항을 R1, 와이어(12)와 디버팅 로드(200)간의 접촉저항을 R2, 와이어(12)와 와이어 클램프(700)간의 접촉저항을 R3라 하고, R1 ≪ R2,R3 라고 가정하면, 전체 저항값 R = (R1×R2×R3)/(R1×R2)+(R2×R3)+(R1×R3) 가 된다.As a theoretical basis, the contact resistance of the wire
예를들어, R1= 5Ω, R2= 100Ω, R3= 100Ω이면, 전체저항 R= 50000/11000 = 4.55Ω < 5Ω 이 된다.For example, if R1 = 5Ω, R2 = 100Ω, R3 = 100Ω, the total resistance R = 50000/11000 = 4.55Ω <5Ω.
이와 같이, 상기 와이어 스풀 홀더 어셈블리(100)의 접촉저항을 크게 낮추어줌으로써, BITS보드(10)로 저항 측정신호가 피드백될 때 노이즈가 섞이는 것을 방지할 수 있다.As such, by greatly lowering the contact resistance of the wire
실제 저항측정 값은 1Ω이하의 낮은 고정 값으로 유지된다. The actual resistance measurement value is kept at a low fixed value below 1Ω.
이에, 본 발명에 따르면 접촉저항값이 증가하는 기존의 브러시 슬립 링 접촉방식을 회전식 전기 커넥터 접촉방식으로 개선함으로써, 와이어 스풀 홀더 어셈블리의 접촉저항값을 크게 줄일 수 있게 된다.Thus, according to the present invention, by improving the conventional brush slip ring contact method of increasing the contact resistance value to the rotary electrical connector contact method, it is possible to greatly reduce the contact resistance value of the wire spool holder assembly.
한편, 본 발명의 실험예로서, 오실로스코프를 BITS보드의 연결단자에 연결하여, 기존의 브러시 슬립 링 접촉방식과 본 발명의 회전식 전기 커넥터 접촉방식에 대한 파형을 관찰하였는 바, DC BITS 분석을 나타낸 첨부한 도 11에서 보듯이 기존의 브러시 슬립 링 접촉방식에서는 노이즈가 발생됨을 알 수 있었고, 본 발명의 회전식 전기 커넥터 접촉방식에서는 노이즈가 전혀 발생되지 않음을 알 수 있었다.On the other hand, as an experimental example of the present invention, the oscilloscope was connected to the connection terminal of the BITS board, and the waveforms of the conventional brush slip ring contact method and the rotary electrical connector contact method of the present invention were observed. As shown in FIG. 11, it can be seen that noise is generated in the conventional brush slip ring contact method, and no noise is generated in the rotary electrical connector contact method of the present invention.
또한, AC BITS 분석을 나타낸 첨부한 도 12의 파형도에서 보듯이, 기존의 브러시 슬립 링 접촉방식에서는 노이즈가 발생됨을 알 수 있었고, 본 발명의 회전식 전기 커넥터 접촉방식에서는 노이즈가 전혀 발생되지 않고 깨끗한 신호 출력을 나타냄을 알 수 있었다.In addition, as shown in the accompanying waveform diagram of Fig. 12 showing the AC BITS analysis, it can be seen that the noise is generated in the conventional brush slip ring contact method, and the noise is not generated at all in the rotary electrical connector contact method of the present invention. It can be seen that the signal output.
이러한 실험예 결과, 본 발명에 따른 회전식 전기 커넥터 접촉방식은 BITS보드로 저항 측정신호가 피드백될 때 노이즈가 섞이는 것을 방지할 수 있음을 알 수 있었고, 결국 가짜 노이즈 발생을 방지하여 와이어 본더의 가동률을 정지시키는 현상을 방지할 수 있게 된다.As a result of these experiments, it was found that the rotary electrical connector contact method according to the present invention could prevent noise from mixing when the resistance measurement signal was fed back to the BITS board. The phenomenon of stopping can be prevented.
또한, 기존의 브러시 슬립 링 접촉방식에서 카본 가루가 발생되여 자재쪽으로 낙하되는 문제점을 완전하게 해결하여 반도체 패키지의 불량을 방지할 수 있게 된다.In addition, it is possible to completely solve the problem that the carbon powder is generated in the conventional brush slip ring contact method falling to the material to prevent the defect of the semiconductor package.
이상에서 본 바와 같이, 본 발명에 따른 와이어 본딩 장비의 본드 완전성 테스트 시스템에 의하면, 본드 완전성 테스트 시스템의 구성중 와이어 스풀 홀더 어셈블리의 구조를 기존의 브러시 슬립 링 접촉방식에서 회전식 전기 커넥터 접촉방식으로 새롭게 개선하여, 자재에 카본 가루 등이 떨어져 불량을 초래하는 현상을 방지할 수 있다.As described above, according to the bond integrity test system of the wire bonding equipment according to the present invention, the structure of the wire spool holder assembly during the configuration of the bond integrity test system is newly renewed from the conventional brush slip ring contact method to the rotary electric connector contact method. By improving, it is possible to prevent a phenomenon in which carbon powder or the like falls on the material and causes a defect.
특히, BITS 보드로 피드백되는 저항 측정신호에 노이즈가 섞이는 것을 방지함으로써, 본드 완전성 테스트가 완전하게 이루어질 수 있는 장점을 제공한다.In particular, by preventing noise from mixing into the resistance measurement signal fed back to the BITS board, the bond integrity test can be completed completely.
Claims (6)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050066161A KR100625938B1 (en) | 2005-07-21 | 2005-07-21 | Bond integrity test system for wire bonder |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050066161A KR100625938B1 (en) | 2005-07-21 | 2005-07-21 | Bond integrity test system for wire bonder |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR100625938B1 true KR100625938B1 (en) | 2006-09-18 |
Family
ID=37631848
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020050066161A KR100625938B1 (en) | 2005-07-21 | 2005-07-21 | Bond integrity test system for wire bonder |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100625938B1 (en) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100894824B1 (en) | 2007-09-19 | 2009-04-24 | 황용근 | The wire drum assembly for wire bonding equipment |
KR101083233B1 (en) | 2011-08-10 | 2011-11-14 | 세미텍 주식회사 | Substrate fixing device rate warpage protecting device |
KR101836893B1 (en) * | 2017-03-16 | 2018-03-09 | 주식회사 씨이텍 | Wire spool kit and wire supply equipment comprising the same |
US11594503B2 (en) | 2020-05-14 | 2023-02-28 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Wire bonding method for semiconductor package |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0629344A (en) * | 1992-07-08 | 1994-02-04 | Hitachi Ltd | Wire feeding device |
JPH1070149A (en) | 1997-08-13 | 1998-03-10 | Hitachi Ltd | Method and apparatus for wire bonding |
KR980005934A (en) * | 1996-06-28 | 1998-03-30 | 김주용 | Wire transfer device of wire bonder and method thereof |
JP2001156104A (en) | 1999-11-30 | 2001-06-08 | Shinkawa Ltd | Wire bonder |
-
2005
- 2005-07-21 KR KR1020050066161A patent/KR100625938B1/en not_active IP Right Cessation
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0629344A (en) * | 1992-07-08 | 1994-02-04 | Hitachi Ltd | Wire feeding device |
KR980005934A (en) * | 1996-06-28 | 1998-03-30 | 김주용 | Wire transfer device of wire bonder and method thereof |
JPH1070149A (en) | 1997-08-13 | 1998-03-10 | Hitachi Ltd | Method and apparatus for wire bonding |
JP2001156104A (en) | 1999-11-30 | 2001-06-08 | Shinkawa Ltd | Wire bonder |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100894824B1 (en) | 2007-09-19 | 2009-04-24 | 황용근 | The wire drum assembly for wire bonding equipment |
KR101083233B1 (en) | 2011-08-10 | 2011-11-14 | 세미텍 주식회사 | Substrate fixing device rate warpage protecting device |
KR101836893B1 (en) * | 2017-03-16 | 2018-03-09 | 주식회사 씨이텍 | Wire spool kit and wire supply equipment comprising the same |
US11594503B2 (en) | 2020-05-14 | 2023-02-28 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Wire bonding method for semiconductor package |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100625938B1 (en) | Bond integrity test system for wire bonder | |
US5238173A (en) | Wire bonding misattachment detection apparatus and that detection method in a wire bonder | |
KR101095099B1 (en) | Flat type vibration motor | |
US7830051B2 (en) | Resolver, manufacturing method thereof, and motor using the resolver | |
KR910009779B1 (en) | Bonding method of insulating wire | |
US8276489B2 (en) | Spindle apparatus | |
JP2008034811A (en) | Ball forming device in wire bonding device, and bonding device | |
JP7444077B2 (en) | Contact terminals, inspection jigs, and inspection equipment | |
CN108453385A (en) | A kind of the turntable laser-beam welding machine and method for laser welding of battery cover board | |
KR0161547B1 (en) | Wire bonding apparatus | |
CA2363409A1 (en) | A wire bonder for ball bonding insulated wire and method of using same | |
KR20110033158A (en) | Device for supplying solder wire to soldering spot | |
WO2006060913A1 (en) | Wire bonder for ball bonding insulated wire and method of using same | |
US20020075025A1 (en) | Semiconductor testing tool | |
US20050248224A1 (en) | Flat-type vibration motor | |
US20070080602A1 (en) | Brush apparatus for rotary electric machine | |
US5318234A (en) | Automatic wire de-spooler for wire bonding machines | |
CN209707560U (en) | A kind of precision low-field electrode device | |
KR20100000766U (en) | Wire feeding device and wire bonding device comprising the same | |
KR101243197B1 (en) | Pencil type iron | |
JP5095439B2 (en) | Motors and electronic devices | |
KR20220065239A (en) | Motor | |
JP2008128794A (en) | Method and apparatus for evaluating crushability of sheath part of electric wire | |
JP4072377B2 (en) | Tool state detection device | |
JP2011143510A (en) | Disconnection detecting device of wire saw |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20110906 Year of fee payment: 6 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |