KR100614635B1 - A exposure system for a semiconductor device fabrication installation - Google Patents

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KR100614635B1
KR100614635B1 KR1019990027492A KR19990027492A KR100614635B1 KR 100614635 B1 KR100614635 B1 KR 100614635B1 KR 1019990027492 A KR1019990027492 A KR 1019990027492A KR 19990027492 A KR19990027492 A KR 19990027492A KR 100614635 B1 KR100614635 B1 KR 100614635B1
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배용국
신종찬
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삼성전자주식회사
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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/70058Mask illumination systems
    • G03F7/70091Illumination settings, i.e. intensity distribution in the pupil plane or angular distribution in the field plane; On-axis or off-axis settings, e.g. annular, dipole or quadrupole settings; Partial coherence control, i.e. sigma or numerical aperture [NA]
    • G03F7/701Off-axis setting using an aperture

Abstract

본 발명은 반도체 제조 공정에서 빛으로 웨이퍼의 표면을 노광시키기 위한 반도체 노광 시스템에 관한 것으로, 어퍼쳐를 통하여 소정의 패턴을 갖는 포토 마스크에 대하여 노광을 행하는 반도체 노광 시스템은 어퍼쳐들이 놓여지는 슬롯들을 갖는 케이스와, 슬롯들에 놓여진 어퍼쳐들 중 선택된 어퍼쳐가 로딩위치에 위치되도록 케이스를 이동시키기 위한 제 1 이동부재 및 제 1 이동부재에 의해 이동된 케이스에서 로딩위치에 위치된 선택된 어퍼쳐를 슬롯으로부터 인출하여 빛이 지나가는 경로상의 세팅위치로 이동시키기 위한 제 2 이동부재를 구비한다.

Figure 111999007642368-pat00001

BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor exposure system for exposing a surface of a wafer with light in a semiconductor manufacturing process, wherein a semiconductor exposure system for exposing a photomask having a predetermined pattern through an aperture includes slots in which the apertures are placed. A slot having a first moving member for moving the case and a selected aperture positioned at the loading position in the case moved by the first moving member such that the selected aperture among the apertures placed in the slots is positioned at the loading position. And a second moving member for drawing out from and moving to a setting position on a path through which light passes.

Figure 111999007642368-pat00001

Description

반도체 제조 공정에 사용되는 노광 시스템{A EXPOSURE SYSTEM FOR A SEMICONDUCTOR DEVICE FABRICATION INSTALLATION}A EXPOSURE SYSTEM FOR A SEMICONDUCTOR DEVICE FABRICATION INSTALLATION

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 노광 시스템의 광학계를 간략하게 나타낸 도면;1 is a simplified illustration of an optical system of an exposure system according to an embodiment of the invention;

도 2는 도 1에 도시된 어퍼쳐 교체 수단을 설명하기 위한 도면;FIG. 2 is a view for explaining the aperture replacement means shown in FIG. 1; FIG.

도 3a 내지 도 3c는 도 2에 도시된 어퍼쳐 교체 수단에 의한 어퍼쳐 교체를 순차적으로 설명하기 위한 도면들;3A to 3C are views for sequentially explaining aperture replacement by the aperture replacement means shown in FIG. 2;

도 4는 본 발명의 다른 실시예에 따른 어퍼쳐 교체 수단을 설명하기 위한 블록도이다.4 is a block diagram illustrating an aperture replacement means according to another embodiment of the present invention.

* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for the main parts of the drawings

12 : 빔소스부 30 : 케이스12: beam source unit 30: case

32 : 슬롯 40 : 제 1 이동부재32: slot 40: first moving member

42 : 리드 스크류 44 : 모터42: lead screw 44: motor

46 : 가이드 레일 48 : 이동판46: guide rail 48: moving plate

50 : 제 2 이동부재 52 : 구동장치50: second moving member 52: drive device

54 : 아암 56 : 핸들러54: arm 56: handler

60 : 어퍼쳐 60: aperture

본 발명은 반도체 노광 시스템에 관한 것으로, 좀 더 구체적으로는 반도체 제조 공정에서 빛으로 웨이퍼의 표면을 노광시키기 위한 반도체 노광 시스템에 관한 것이다.The present invention relates to a semiconductor exposure system, and more particularly to a semiconductor exposure system for exposing a surface of a wafer with light in a semiconductor manufacturing process.

256M DRAM, 1G DRAM 등의 고접적화 디바이스가 개발됨에 따라 그에 상응하는 리소그라피(lithography) 기술도 그 해상도가 더욱 향상된 수준을 요구하고 있다. As high-integration devices such as 256M DRAM and 1G DRAM are developed, the corresponding lithography technology also demands a higher level of resolution.

이에 따라 포토 리소그라피(photo lithography)도 공정 진행에 필요한 마진을 확보하기 위해서 몇 해 전부터 변형 조명계(이하 '어퍼쳐'라 함)를 도입하여 그 요구에 부합하고 있는 실정이다. 그것은 노광하는 빛의 경로를 조절 및 변형하여 해상력과 DOF(depth of focus) 마진을 향상시키는 기술이고, 현재에는 전통적인 어퍼쳐(aperture)에서 다양한 어퍼쳐들이 개발되어 해상도를 향상시키고 있다. 더불어서 앞으로 같은 어퍼쳐이지만 그 빛의 경로와 크기를 조절하는 어퍼쳐 사이즈가 더욱 더 다양하고 종류로 다양화될 것으로 보인다. Accordingly, photo lithography also meets the needs by introducing a modified illumination system (hereinafter referred to as "aperture") several years ago in order to secure a margin necessary for the process. It is a technology that improves resolution and DOF (depth of focus) margin by adjusting and modifying the path of light to be exposed. Currently, various apertures have been developed in the conventional aperture to improve resolution. In addition, the same aperture in the future, but the aperture size to control the path and size of the light seems to be more and more diversified into various types.

기존의 노광 시스템에서는 어퍼쳐를 작업자가 매뉴얼(manual)로 교체하기 때문에 시간이 많이 소요되었고 특히, 이러한 매뉴얼 작업은 시스템 내부의 오염 및 에러를 유발시키는 주요 원인이 되어 왔다. 한편, 6개의 어퍼쳐가 부착된 원형의 리벌버(revolver)는 선택하는 번호에 따라 자동적으로 돌아가게 되어 있다. 그러 나, 이러한 리벌버는 사용할 수 있는 어퍼쳐의 개수가 6개로 한정되어 있다. Existing exposure systems are time consuming because the operator replaces the aperture with a manual, and in particular, such manual work has been a major cause of contamination and errors in the system. On the other hand, the circular revolver to which six apertures are attached turns automatically according to the number to select. However, the number of apertures that can be used is limited to six.

본 발명은 이와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위한 것으로, 그 목적은 내부에 다량의 어퍼쳐들을 보유할 수 있으며, 그 다량의 어퍼쳐들 중에 원하는 어퍼쳐를 선택하여 쉽게 교체할 수 있는 새로운 형태의 반도체 노광 시스템을 제공하는데 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve such a conventional problem, and an object thereof is to provide a large amount of apertures therein, and a new type of semiconductor which can be easily replaced by selecting a desired aperture among the large amounts of apertures. An exposure system is provided.

상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 특징에 의하면, 반도체 노광 시스템은 어퍼쳐들이 놓여지는 슬롯들을 갖는 케이스와; 상기 슬롯들에 놓여진 어퍼쳐들 중 선택된 어퍼쳐가 로딩위치에 위치되도록 상기 케이스를 이동시키기 위한 제 1 이동부재 및; 상기 제 1 이송부재에 의해 이동된 상기 케이스에서 로딩위치에 위치된 상기 선택된 어퍼쳐를 슬롯으로부터 인출하여 빛이 지나가는 경로상의 세팅위치로 이동시키기 위한 제 2 이동부재를 포함한다.According to a feature of the present invention for achieving the above object, a semiconductor exposure system includes a case having slots in which apertures are placed; A first moving member for moving the case such that a selected one of the apertures placed in the slots is positioned at the loading position; And a second moving member for drawing the selected aperture positioned at a loading position in the case moved by the first transfer member from a slot to move to a setting position on a path through which light passes.

이와 같은 시스템에서 상기 제 1 이동부재는 리드 스크류와; 상기 리드 스크류의 일단에 설치되고 상기 리드 스크류를 전/역회전시키기 위한 모터와; 상기 리드 스크류에 맞물려 설치되고 상기 리드 스크류의 회전에 의해 이동되는 그리고 상기 케이스가 설치되는 이동판 및; 상기 이동판의 직선 이동되도록 가이드 해주는 레일을 포함한다.In such a system, the first moving member includes a lead screw; A motor installed at one end of the lead screw to rotate the lead screw forward / reversely; A moving plate installed in engagement with the lead screw and moved by rotation of the lead screw, and in which the case is installed; It includes a rail for guiding the linear movement of the moving plate.

이와 같은 시스템에서 상기 제 2 이동부재는 구동장치와; 상기 구동장치에 의해 이동되는 아암 및; 상기 아암의 일단에 설치되고 상기 선택된 어퍼쳐를 홀딩 하기 위한 핸들러를 포함한다. 이와 같은 시스템에서 상기 케이스의 슬롯에 놓여지는 어퍼쳐는 리벌버 모양으로 이루어져 한 리벌버 내에 여럿의 어퍼쳐를 끼울 수 있다.In such a system, the second moving member includes a driving device; An arm moved by the drive device; A handler installed at one end of the arm and for holding the selected aperture. In such a system, the apertures placed in the slots of the case may be formed in the shape of a reverberator to fit several apertures in one reverberator.

이하, 본 발명의 실시예를 첨부된 도면 도 1 내지 도 4에 의거하여 상세히 설명한다. 상기 도면들에 있어서 동일한 기능을 수행하는 구성 요소에 대해서는 동일한 참조 번호를 병기한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 1 to 4. In the drawings, components that perform the same function are denoted by the same reference numerals.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 노광 시스템의 광학계를 간략하게 나타낸 것이다. 도 2는 도 1에 도시된 어퍼쳐 교체 수단을 설명하기 위한 도면이다. 도 3a 내지 도 3c는 도 2에 도시된 어퍼쳐 교체 수단에 의한 어퍼쳐 교체를 순차적으로 설명하기 위한 도면들이다. 1 briefly illustrates an optical system of an exposure system according to an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a view for explaining the aperture replacement means shown in FIG. 1. 3A to 3C are views for sequentially explaining aperture replacement by the aperture replacement means shown in FIG. 2.

도 1에서 보인 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 노광 시스템(60)은 빔 소스부(12), 셔터(16), 인풋(input) 렌즈(18), 필터들(20a,20b), 플레이-이어(fly-eye) 렌즈들(22a,22b), 릴레이(relay) 렌즈들(24a,24b,24c,24d), 반사판들(14a,14b,14c) 등의 통상적인 구성과 본 발명의 가장 특징적인 다수의 어퍼쳐들(60)을 보관하는 케이스(30) 그리고 어퍼쳐 교체 수단인 제 1 이동부재(40) 그리고 제 2 이동부재(50)를 갖는다. 예컨대, 상기 통상적인 구성들과 관련된 기술은 이 분야의 일반적인 방법을 사용할 수 있으므로 상세한 설명은 생략하고 가장 특징적인 구성들에 대해 상세히 설명한다. 상기 케이스(30)에는 일정간격으로 12개의 슬롯들(32)이 형성되어 있다. 상기 슬롯들(32)에는 다양한 여러 종류의 어퍼쳐들(50)이 수납된다. 상기 어퍼쳐들(60)은 얇은 금속판에 원하는 부분에만 빛이 통과할 수 있도록 다양한 모양의 개구(62)를 갖는다. 예컨대, 상기 케이스(30)는 본 발명의 기술적 사상이 벗어나지 않는 범위내에서 다양한 구조적인 변화 및 변경이 가능함은 물론이다. 상기 제 1 이동부재(40)는 상기 슬롯들(32)에 놓여진 어퍼쳐들(60) 중 선택된 어퍼쳐(60')가 로딩위치(도 3a에 표시되어 있음;a)에 위치되도록 상기 케이스(30)를 X축 방향으로 이송시키기 위한 것이다. 그리고, 상기 제 2 이동부재(50)는 상기 제 1 이동부재(40)에 의해 이동된 상기 케이스(30)에서 로딩위치에 위치된 선택된 어퍼쳐(60')를 슬롯(32)으로부터 인출하고 그 어퍼쳐를 빛이 지나가는 경로상의 세팅위치(도 3a에 표시되어 있음;b)로 이송시키기 위한 것이다. 여기서 로딩위치(a)란 상기 제 2 이동부재(50)의 핸들러(56)가 어퍼쳐를 홀딩할 수 있는 위치를 뜻한다. 한편, 어퍼쳐의 세팅위치(b)는 도 3a에 도시된 바와 같이 플레이이어 렌즈(22b)와 릴레이 렌즈(24c) 사이에 해당된다. As shown in FIG. 1, an exposure system 60 according to an embodiment of the present invention includes a beam source unit 12, a shutter 16, an input lens 18, filters 20a and 20b, and a play. The conventional configuration of fly-eye lenses 22a, 22b, relay lenses 24a, 24b, 24c, 24d, reflectors 14a, 14b, 14c, etc. It has a case 30 for storing a plurality of characteristic apertures 60 and a first moving member 40 and a second moving member 50 which are aperture replacement means. For example, the techniques related to the above conventional configurations may use a general method in the art, and thus, the detailed description will be omitted and the most characteristic configurations will be described in detail. Twelve slots 32 are formed in the case 30 at regular intervals. Various slots 50 are accommodated in the slots 32. The apertures 60 have openings 62 of various shapes to allow light to pass through only a desired portion of the thin metal plate. For example, the case 30 may be various structural changes and modifications within the scope not departing from the technical spirit of the present invention. The case 30 includes the first movable member 40 such that the selected aperture 60 ′ of the apertures 60 placed in the slots 32 is positioned at a loading position (as shown in FIG. 3A; a). ) Is for feeding in the X-axis direction. Then, the second moving member 50 withdraws the selected aperture 60 'positioned at the loading position in the case 30 moved by the first moving member 40 from the slot 32 and It is for transferring the aperture to a setting position (shown in Fig. 3a; b) on the path through which light passes. Here, the loading position (a) means a position where the handler 56 of the second moving member 50 can hold the aperture. On the other hand, the setting position (b) of the aperture corresponds between the player lens 22b and the relay lens 24c as shown in FIG. 3A.

도 2 및 도 3a를 참조하면서 어퍼쳐 교체 수단인 상기 제 1 및 제 2 이동부재를 좀더 구체적으로 살펴보면, 상기 제 1 이동부재(40)는 X축 방향으로 서로 평행한 2개의 가이드 레일(46) 및 리드 스크류(42)를 갖는다. 그리고 상기 리드 스크류(42)를 회전시키기 위한 모터(44)와 회전하는 리드 스크류(42)와 맞물려 상기 가이드 레일(46)을 따라 X축으로 슬라이드 이동되는 이동판(48)을 갖는다. 상기 이동판(48)에는 상기 케이스(30)가 고정되어 설치된다. 상기 리드 스크류(42)의 한쪽 끝단은 상기 모터(44)의 구동축과 연결되고 다른 쪽 끝단은 고정단(42a)에 의하여 노광 시스템의 프레임(미도시됨)에 고정되는 것이 바람직하다. 상기 모터(44)는 콘트롤러(70)에 접속되며 이 콘트롤러(70)는 노광 시스템의 컴퓨터(80) 에 연결된다. 즉, 콘트롤러(70)를 통하여 컴퓨터(80)로부터 소정의 신호가 출력되면 이것에 따라 모터(44)가 구동하여 상기 이동판(48)이 X축 방향으로 선택된 어퍼쳐와 로딩위치의 거리만큼 슬라이드 이동되는 것이다. Referring to FIGS. 2 and 3A, the first and second moving members, which are aperture replacement means, will be described in more detail. The first moving members 40 may include two guide rails 46 parallel to each other in the X-axis direction. And a lead screw 42. And a moving plate 48 which is engaged with the motor 44 for rotating the lead screw 42 and the rotating lead screw 42 and slides along the guide rail 46 along the X-axis. The case 30 is fixed to the movable plate 48. One end of the lead screw 42 is preferably connected to the drive shaft of the motor 44 and the other end is fixed to the frame (not shown) of the exposure system by the fixed end 42a. The motor 44 is connected to a controller 70, which is connected to the computer 80 of the exposure system. That is, when a predetermined signal is output from the computer 80 through the controller 70, the motor 44 is driven accordingly, and the movable plate 48 slides by the distance between the aperture and the loading position selected in the X-axis direction. It is moved.

상기 제 2 이동부재(50)는 구동장치(52)와 이 구동장치(52)와 연결된 아암(54) 그리고 상기 아암(54)의 끝단에 설치되고 상기 로딩위치에 위치되어 있는 어퍼쳐를 홀딩하기 위한 핸들러(56)를 갖는다. 상기 핸들러(56)는 빛이 통과되는 어퍼쳐의 개구(62)부분이 가려지지 않도록 어퍼쳐의 가장자리부분을 홀딩하는 것이 바람직하다. 한편, 상기 구동장치(52)는 상기 모터와 마찬가지로 상기 노광 시스템의 컴퓨터(80)에 연결되며 상기 컴퓨터에 의해 제어된다. 예컨대, 도면에 도시된 상기 핸들러는 일 예에 불과하며 예컨대, 핸들러는 상기 어퍼쳐를 홀딩하기 좋은 구조로 이루어지는 것이 바람직하다. The second moving member 50 holds the driving device 52, an arm 54 connected to the driving device 52, and an aperture installed at the end of the arm 54 and positioned at the loading position. Has a handler 56. The handler 56 preferably holds the edge of the aperture so that the opening 62 of the aperture through which light passes is not covered. On the other hand, the driving device 52 is connected to the computer 80 of the exposure system and controlled by the computer, similarly to the motor. For example, the handler shown in the drawing is merely an example, and for example, the handler is preferably configured to hold the aperture.

도 3a 내지 도 3c는 이와 같은 구성으로 이루어진 어퍼쳐 교체 수단의 동작을 설명하기 위한 도면들이다. 3A to 3C are views for explaining the operation of the aperture replacement means having such a configuration.

상기 케이스(30)에 수납되어 있는 어퍼쳐들 중에 원하는 어퍼쳐를 사용하기 위해서는 먼저, 상기 이동판(30)을 그 선택된 어퍼쳐(60')와 로딩위치(a)의 거리만큼 X축으로 슬라이드 이동시킨다. 즉, 원하는 어퍼쳐(60')의 번호를 노광 시스템의 컴퓨터(80)에 입력하면 컴퓨터가 그 선택된 어퍼쳐(60')와 로딩위치(a)의 거리를 계산하여 상기 모터(44)를 구동시킨다. 결국, 도 3b에 도시된 바와 같이 상기 모터(44)의 구동에 의해 리드 스크류(42)가 회전하고 따라서 상기 이동판(48)이 이동되는 것이다. In order to use a desired aperture among the apertures stored in the case 30, first, the movable plate 30 is slid along the X axis by the distance between the selected aperture 60 'and the loading position (a). Let's do it. That is, when the desired aperture 60 'number is input to the exposure system computer 80, the computer calculates the distance between the selected aperture 60' and the loading position a to drive the motor 44. Let's do it. As a result, as shown in FIG. 3B, the lead screw 42 is rotated by the driving of the motor 44, and thus the moving plate 48 is moved.

예컨대, 상기 노광 시스템(10)은 선택된 어퍼쳐(60')가 로딩위치(a)로 정확하게 이동되었는지를 감지하기 위한 센싱 부재를 더 구비할 수 있다. 이로 인하여 자동적인 어퍼쳐 이동 교체 중에 있어서의 미스 매칭(mis matching)을 미연에 방지할 수 있다. For example, the exposure system 10 may further include a sensing member for sensing whether the selected aperture 60 'is correctly moved to the loading position a. This makes it possible to prevent mismatching during automatic aperture shift replacement.

이렇게 상기 로딩위치(a)에 선택된 어퍼쳐(60')가 위치되면 상기 제 2 이동부재(50)의 구동장치(52)에 의해 상기 핸들러(56)가 로딩위치(a)로 이동되고 상기 선택된 어퍼쳐(60')는 상기 핸들러(56)에 홀딩된다. 상기 핸들러(56)는 상기 어퍼쳐를 홀딩한 상태에서 상기 구동장치(52)에 의해 상기 빛이 지나가는 경로상의 어퍼쳐 세팅위치(b)로 상기 선택된 어퍼쳐(60')를 위치시킨다.(도 3c 참조) 본 발명의 실시예에서는 상기 어퍼쳐의 세팅위치(b)가 플레이이어 렌즈(22b)와 릴레이 렌즈(24c) 사이에 위치되지만 이는 예를 들어 설명한 것에 불과하며, 상기 어퍼쳐의 세팅 위치는 상기 빛이 지나가는 경로의 어느 위치로도 변경이 가능함은 물론이다.When the selected aperture 60 'is positioned at the loading position a, the handler 56 is moved to the loading position a by the driving device 52 of the second moving member 50. Aperture 60 ′ is held in the handler 56. The handler 56 positions the selected aperture 60 'at the aperture setting position b on the path through which the light passes by the drive device 52 while holding the aperture. In the embodiment of the present invention, although the setting position (b) of the aperture is located between the player lens 22b and the relay lens 24c, this is merely an example, and the setting position of the aperture is shown. Of course, it is possible to change to any position of the path that the light passes.

도 4는 본 발명의 다른 실시예에 따른 어퍼쳐 교체 수단을 설명하기 위한 블록도이다.4 is a block diagram illustrating an aperture replacement means according to another embodiment of the present invention.

본 실시예에 도시된 케이스(30')에는 6개의 어퍼쳐가 부착된 원형의 리벌버(revolver)들(90)이 각 슬롯에 수납된다.In the case 30 ′ shown in this embodiment, circular revolvers 90 to which six apertures are attached are accommodated in each slot.

도 4에 도시된 바와 같이, 어퍼쳐 교체 수단은 제 1 이동부재(40)와 제 2 이동부재(50'), 회전부재(100)로 이루어진다. 상기 제 1 이동부재(40)는 상기 케이스(30')에 수납된 리벌버들(90) 중 원하는 리벌버가 로딩위치에 위치되도록 상기 케이스(30')를 이동시키기 위한 것이다. 제 2 이동부재(50')는 상기 로딩 위치에 위치된 리벌버(90)를 상기 케이스(30')로부터 인출하여 상기 회전부재(100)로 로딩시킬 수 있도록 X축 방향과 Y축 방향으로의 동작이 가능하다. 상기 회전부재(100)는 리벌버(90)의 센터에 형성된 홀에 회전축(102)이 끼워지고 상기 리벌버(90)에 부착된 6개의 어퍼쳐들 중에 원하는 어퍼쳐가 세팅위치에 위치되도록 상기 리벌버(90)를 회전시키기 위한 것이다. 상기 제 1 이동부재는 첫 번째 실시예와 동일한 구성으로 이루어진다. As shown in FIG. 4, the aperture replacement means includes a first moving member 40, a second moving member 50 ′, and a rotating member 100. The first moving member 40 is for moving the case 30 'such that a desired reverberator is located at a loading position among the reverberators 90 accommodated in the case 30'. The second movable member 50 ′ may be pulled out of the case 30 ′ from the case 30 ′ to be loaded into the rotating member 100 in the X-axis direction and the Y-axis direction. Operation is possible. The revolving member 100 has the revolving shaft 102 fitted into a hole formed in the center of the reverberation 90, and the desired aperture is positioned at a setting position among six apertures attached to the reverberation 90. It is for rotating the bulb 90. The first moving member has the same configuration as in the first embodiment.

이와 같이 본 발명의 실시예에서는 기존의 6개의 어퍼쳐가 부착된 리벌버를 케이스(30')에 다량으로 장착할 수 있으며, 그 중에 원하는 리벌버를 상기 어퍼쳐 교체수단인 제 1 이동부재(40)와 제 2 이동부재(50') 그리고 회전부재(100)를 이용하여 용이하게 교체할 수 있는 것이다. 리벌버(revolver)는 선택하는 번호에 따라 자동적으로 돌아가게 되어 있다. As described above, according to the exemplary embodiment of the present invention, the existing six-aperture reverberator may be mounted in a large amount on the case 30 ', and a desired reverberator may be installed in the first moving member as the aperture replacement means. 40) and the second moving member 50 'and the rotating member 100 can be easily replaced using. The revolver will automatically run according to the number you choose.

이상에서, 본 발명에 따른 노광 시스템의 구성 및 동작을 상기한 설명 및 도면에 따라 도시하였지만 이는 예를 들어 설명한 것에 불과하며 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 변화 및 변경이 가능함은 물론이다.In the above, the configuration and operation of the exposure system according to the present invention are shown in accordance with the above description and drawings, but this is merely an example, and various changes and modifications are possible without departing from the spirit of the present invention. to be.

이와 같은 본 발명을 적용하면 기존보다 2배에서 3배 이상의 많은 어퍼쳐를 장착할 수 있으며, 또한 자동으로 어퍼쳐를 교체하기 때문에 어퍼쳐 교체시간을 현저히 단축할 수 있으며, 교체시 작업자에 의한 시스템 내부의 오염이나 에러를 방지할 수 있다. Applying the present invention as described above can be equipped with more than two to three times more apertures than the existing, and also because it automatically replaces the aperture can significantly shorten the aperture replacement time, when replacing the system by the operator Internal contamination and errors can be prevented.

Claims (3)

어퍼쳐를 통하여 소정의 패턴을 갖는 포토 마스크에 대하여 노광을 행하는 반도체 노광 시스템에 있어서:In a semiconductor exposure system for exposing to a photomask having a predetermined pattern through an aperture: 어퍼쳐들이 놓여지는 슬롯들을 갖는 케이스와;A case having slots into which the apertures are placed; 상기 슬롯들에 놓여진 어퍼쳐들 중 선택된 어퍼쳐가 로딩위치에 위치되도록 상기 케이스를 이동시키기 위한 제 1 이동부재 및;A first moving member for moving the case such that a selected one of the apertures placed in the slots is positioned at the loading position; 상기 제 1 이동부재에 의해 이동된 상기 케이스에서 로딩위치에 위치된 상기 선택된 어퍼쳐를 슬롯으로부터 인출하여 빛이 지나가는 경로상의 세팅위치로 이동시키기 위한 제 2 이동부재를 포함하여,And a second moving member for extracting the selected aperture located at a loading position in the case moved by the first moving member from a slot to move to a setting position on a path through which light passes. 다수의 어퍼쳐들 중에 원하는 어퍼쳐를 필요에 따라 교체가 용이한 것을 특징으로 하는 반도체 노광 시스템. A semiconductor exposure system, characterized in that it is easy to replace the desired aperture of the plurality of apertures as needed. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제 1 이동부재는 리드 스크류와;The first moving member includes a lead screw; 상기 리드 스크류의 일단에 설치되고 상기 리드 스크류를 전/역회전시키기 위한 모터와;A motor installed at one end of the lead screw to rotate the lead screw forward / reversely; 상기 리드 스크류에 맞물려 설치되고 상기 리드 스크류의 회전에 의해 이동되는 그리고 상기 케이스가 설치되는 이동판 및;A moving plate installed in engagement with the lead screw and moved by rotation of the lead screw, and in which the case is installed; 상기 이동판의 직선 이동되도록 가이드 해주는 레일을 포함하는 것을 특징으 로 하는 반도체 노광 시스템.And a rail for guiding the linear movement of the moving plate. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 제 2 이동부재는 구동장치와; The second moving member includes a drive device; 상기 구동장치에 의해 이동되는 아암 및;An arm moved by the drive device; 상기 아암의 일단에 설치되고 상기 선택된 어퍼쳐를 홀딩하기 위한 핸들러를 포함하고,A handler installed at one end of the arm and for holding the selected aperture, 상기 케이스의 슬롯에 놓여지는 어퍼쳐는 리벌버 모양으로 이루어져 한 리벌버 내에 여럿의 어퍼쳐를 끼울 수 있는 것을 특징으로 하는 반도체 노광 시스템.The aperture placed in the slot of the case is formed in the shape of a reverber, it is possible to fit a plurality of apertures in one reverberator.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100688065B1 (en) * 2006-01-06 2007-03-02 주식회사 고려반도체시스템 An aperture change device for wafer laser sawing apparatus and control method therefore
KR100764057B1 (en) * 2006-09-14 2007-10-08 삼성전자주식회사 Aperture unit and exposure system including the same, and method for replacement of an aperture of the aperture unit

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63300525A (en) * 1987-05-30 1988-12-07 Tokyo Electron Ltd Device for detecting transfer in and out of wafer
JPH04186610A (en) * 1990-11-17 1992-07-03 Canon Inc Board holding device
JPH04340245A (en) * 1991-03-23 1992-11-26 Tokyo Electron Ltd Wafer transfer apparatus
JPH07153818A (en) * 1993-11-30 1995-06-16 Daihen Corp Semiconductor wafer recognition equipment
KR950028636U (en) * 1994-03-10 1995-10-20 현대반도체주식회사 Peripheral exposure equipment of sputtering equipment
KR19980070196A (en) * 1997-01-24 1998-10-26 이시다아키라 Substrate Processing Equipment

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63300525A (en) * 1987-05-30 1988-12-07 Tokyo Electron Ltd Device for detecting transfer in and out of wafer
JPH04186610A (en) * 1990-11-17 1992-07-03 Canon Inc Board holding device
JPH04340245A (en) * 1991-03-23 1992-11-26 Tokyo Electron Ltd Wafer transfer apparatus
JPH07153818A (en) * 1993-11-30 1995-06-16 Daihen Corp Semiconductor wafer recognition equipment
KR950028636U (en) * 1994-03-10 1995-10-20 현대반도체주식회사 Peripheral exposure equipment of sputtering equipment
KR19980070196A (en) * 1997-01-24 1998-10-26 이시다아키라 Substrate Processing Equipment

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