KR100614114B1 - Dilute system for wafer washing and dilute method thereof - Google Patents
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Abstract
본 발명은, 기판 세정용 용액 희석시스템 및 방법에 관한 것이다. 이 중 기판 세정용 용액 희석시스템에 있어서는, 소정의 첨가제가 함유되어 있는 원액탱크와; 믹싱탱크와; 일단은 상기 원액탱크와 연결되고 타단은 상기 믹싱탱크에 연통되어 상기 원액탱크 내의 첨가제를 상기 믹싱탱크로 공급하는 원액라인과; 상기 믹싱탱크로 워터를 공급하는 워터라인과; 상기 믹싱탱크 내에서 믹싱 완료된 상기 워터 및 원액의 혼합액을 송출하는 혼합액라인과; 상기 혼합액라인으로부터 제공되는 혼합액을 저장하는 혼합액탱크와; 상기 혼합액탱크 내의 혼합액을 기판 세정 공정으로 공급하는 혼합액공급라인을 포함하는 것을 특징으로 한다.The present invention relates to a solution dilution system and method for cleaning substrates. Among these, a solution dilution system for substrate cleaning comprises: a stock solution tank containing a predetermined additive; A mixing tank; A stock solution line having one end connected to the stock solution tank and the other end connected to the mixing tank to supply an additive in the stock solution tank to the mixing tank; A waterline for supplying water to the mixing tank; A mixed liquid line for delivering a mixed liquid of the mixed water and the raw liquid in the mixing tank; A mixed liquid tank for storing a mixed liquid provided from the mixed liquid line; And a mixed liquid supply line for supplying the mixed liquid in the mixed liquid tank to a substrate cleaning process.
이에 의하여, 기판 세정용 워터에 별도의 첨가제를 일정 비율로 희석시켜 기판을 세정함으로써 기판의 계면을 활성화시켜 계면에 정전기가 발생되는 것을 저지할 수 있도록 한 기판 세정용 용액 희석시스템 및 방법이 제공된다.Thereby, a substrate cleaning solution dilution system and method are provided in which a separate additive is diluted in a predetermined ratio in the substrate cleaning water to clean the substrate, thereby activating the interface of the substrate to prevent generation of static electricity at the interface. .
Description
도 1은 본 발명에 따른 기판 세정용 용액 희석시스템의 구성도,1 is a block diagram of a solution dilution system for cleaning a substrate according to the present invention;
도 2는 중량센서의 배치에 따른 실시예를 도시한 도면,2 is a view showing an embodiment according to the arrangement of the weight sensor;
도 3은 본 발명에 따른 기판 세정용 용액 희석시스템의 다른 실시예를 보인 도면,3 is a view showing another embodiment of a solution dilution system for cleaning substrates according to the present invention;
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for the main parts of the drawings
20 : 희석시스템 22 : 원액탱크20: Dilution system 22: Stock tank
24 : 믹싱탱크 25 : 교반기24: mixing tank 25: agitator
26 : 혼합액탱크 30 : 제어부26: mixed liquid tank 30: control unit
31 : 원액공급라인 32 : 원액라인31: feed solution line 32: feed solution line
33 : 워터라인 34 : 혼합액라인33: waterline 34: mixed liquid line
본 발명은, 기판 세정용 용액 희석시스템 및 방법에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 기판 세정용 워터에 별도의 첨가제를 희석시켜 기판을 세정함으로써 기 판의 계면을 활성화하여 기판 계면에 정전기가 발생되는 것을 저지할 수 있도록 한 반도체 기판 세정용 용액 희석시스템 및 방법에 관한 것이다.The present invention relates to a solution dilution system and method for substrate cleaning, and more particularly, by diluting an additive in a substrate cleaning water and cleaning the substrate to activate the interface of the substrate to generate static electricity at the substrate interface. A solution dilution system and method for cleaning semiconductor substrates can be prevented.
기판이라 함은, 소위 반도체 기판을 칭하는 것이지만, 한편으로는 그 제조 공정이 반도체와 유사한 LCD, PDP 및 유기 EL 역시 기판이라 불리 수도 있다. 이러한 분류들 중에서 반도체 기판에 대해 설명하면 다음과 같다.The substrate refers to a so-called semiconductor substrate, but on the other hand, LCDs, PDPs, and organic ELs whose manufacturing processes are similar to semiconductors may also be called substrates. Among these classifications, the semiconductor substrate is described as follows.
반도체란 전기전도가 전자와 정공에 의해 이루어지는 물질로서 그의 전기저항률, 즉 비저항이 도체와 절연체 비저항값의 중간값을 취하는 것을 말하며, 이러한 성질을 이용한 반도체 기판은 각종 첨단 산업의 제품에 적용되고 있다.A semiconductor is a substance in which electrical conduction is made of electrons and holes, and its electrical resistivity, that is, the resistivity takes the intermediate value between the conductor and the insulator resistivity values. A semiconductor substrate using this property is applied to products of various high-tech industries.
이러한 반도체 기판에 전극을 형성하는 과정은, 통상적으로 성막, PR Coating, 포토마스크(Photomask)를 배치, 노광, 현상, 세정 및 에칭 공정의 순서에 의해 이루어진다. 특히 세정 공정에서는 통상의 워터(소위, "DI Water"라 함)를 이용하여 세정하게 된다. 물론, 에칭의 전전공정에서 세정하는 이유는, 에칭의 효율을 높이기 위함이다.The process of forming an electrode on such a semiconductor substrate is typically performed by a sequence of film formation, PR coating, photomask, exposure, development, cleaning and etching processes. In particular, in the washing step, washing is performed using ordinary water (so-called "DI Water"). Of course, the reason for cleaning in the whole process of etching is to raise the efficiency of etching.
종래의 기판을 세정하기 위해 원액과 워터를 일정 비율로 희석할 경우에는, 우선, 중량센서(소위, "Load Cell"이라고도 함)를 사용하여 원액의 공급량과 워터의 공급량을 조절하여 비율을 정한다.In the case of diluting the stock solution and water at a predetermined ratio to clean the conventional substrate, first, the ratio is determined by adjusting the supply amount of the stock solution and the supply amount of water using a weight sensor (so-called "Load Cell").
그리고, 정해진 비율대로 믹싱탱크로 공급된 액을 일정 시간 기구적 도구에 의해 믹싱한 후, 완전히 혼합된 액은 혼합액탱크로 저장된다. 이 일련의 공정은 믹싱탱크에서 하나의 배치(Batch)로 이루어지며 한 Batch 완료 후, 혼합액탱크로 저장된다.Then, after the liquid supplied to the mixing tank at a predetermined ratio is mixed by a mechanical tool for a predetermined time, the completely mixed liquid is stored in the mixed liquid tank. This series of processes consists of one batch in the mixing tank, and after completion of one batch, is stored in the mixed liquor tank.
그런데, 종래의 방법으로 반도체 기판에 전극을 형성하다 보면, 반도체 기판을 현상한 다음에는 통상적인 워터를 이용하여 반도체 기판을 세정하는 것이 전부였기 때문에 반도체 기판에 정전기 등이 발생되는 것을 극복하기가 실제로 곤란하였다. By the way, when the electrode is formed on the semiconductor substrate by the conventional method, it is only to clean the semiconductor substrate using ordinary water after developing the semiconductor substrate, so that it is practical to overcome the occurrence of static electricity or the like on the semiconductor substrate. It was difficult.
따라서, 본 발명의 목적은, 기판 세정용 워터에 별도의 첨가제를 일정 비율로 희석시켜 기판을 세정함으로써 기판의 계면을 활성화시켜 계면에 정전기가 발생되는 것을 저지할 수 있도록 한 기판 세정용 용액 희석시스템 및 방법을 제공하는 것이다.Accordingly, an object of the present invention is to dilute an additive in a predetermined amount of water for cleaning the substrate to clean the substrate, thereby activating the interface of the substrate to prevent generation of static electricity at the interface. And a method.
상기 목적은, 본 발명에 따라, 소정의 첨가제(Dopant)가 함유되어 있는 원액탱크와; 믹싱탱크와; 일단은 상기 원액탱크와 연결되고 타단은 상기 믹싱탱크에 연통되어 상기 원액탱크 내의 첨가제를 상기 믹싱탱크로 공급하는 원액라인과; 상기 믹싱탱크로 워터를 공급하는 워터라인과; 상기 믹싱탱크 내에서 믹싱 완료된 상기 워터 및 원액의 혼합액을 송출하는 혼합액라인과; 상기 혼합액라인으로부터 제공되는 혼합액을 저장하는 혼합액탱크와; 상기 혼합액탱크 내의 혼합액을 기판 세정 공정으로 공급하는 혼합액공급라인을 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 세정용 용액희석시스템에 의해 달성된다.The object is, according to the present invention, a stock solution tank containing a predetermined additive (Dopant); A mixing tank; A stock solution line having one end connected to the stock solution tank and the other end connected to the mixing tank to supply an additive in the stock solution tank to the mixing tank; A waterline for supplying water to the mixing tank; A mixed liquid line for delivering a mixed liquid of the mixed water and the raw liquid in the mixing tank; A mixed liquid tank for storing a mixed liquid provided from the mixed liquid line; And a mixed solution supply line for supplying a mixed solution in the mixed solution tank to a substrate cleaning process.
여기서, 상기 원액탱크로 소정의 첨가제가 기 혼합되어 있는 원액을 제공하는 원액공급라인이 포함된다.Here, a stock solution supply line is provided to provide a stock solution in which a predetermined additive is pre-mixed into the stock solution tank.
상기 각 탱크에는 상기 각 탱크 내의 유체 중량을 측정하는 중량센서가 마련되어 있다.Each said tank is provided with the weight sensor which measures the weight of the fluid in each said tank.
상기 각 라인에는 해당하는 라인의 유로를 선택적으로 개폐하는 개폐밸브와, 라인을 따라 흐르는 유체를 펌핑하는 펌프 중 적어도 어느 하나가 마련되어 있다.Each of the lines is provided with at least one of an on-off valve for selectively opening and closing the flow path of the corresponding line, and a pump for pumping the fluid flowing along the line.
상기 중량센서의 신호에 기초하여 상기 개폐밸브 및 상기 펌프의 온오프(ON/OFF) 작동을 제어하는 제어부를 포함한다.And a controller configured to control an on / off operation of the on / off valve and the pump based on the signal of the weight sensor.
상기 믹싱탱크 내에는 하나 또는 하나 이상의 교반기가 장착되어 있다.One or more agitators are mounted in the mixing tank.
상기 원액탱크, 상기 믹싱탱크 및 상기 혼합액탱크 중 어느 하나 혹은 하나 이상에는 중량센서에 의한 레벨 Detection이 가능하도록 설계되어 있다.Any one or more of the stock solution tank, the mixing tank, and the mixed solution tank is designed to allow level detection by a weight sensor.
본 희석시스템은, 상기 원액탱크, 상기 믹싱탱크 및 상기 혼합액탱크 중 적어도 어느 하나에 마련되어 해당 탱크 내에 수용된 내용물의 농도나 점도 중 어느 하나 혹은 하나 이상을 검출하는 검출센서와; 검출된 상기 농도나 점도 중 어느 하나가 모니터링 되는 모니터부를 추가로 포함한다.The dilution system includes a detection sensor provided in at least one of the stock solution tank, the mixing tank, and the mixed solution tank to detect any one or more of the concentration or viscosity of the contents contained in the tank; It further comprises a monitor unit in which any one of said detected concentration or viscosity is monitored.
이 때, 상기 모니터부에 모니터링된 해당 내용물의 농도나 점도의 양부를 자동으로 판별하는 프로그램을 추가로 포함할 수도 있다.At this time, it may further include a program for automatically determining whether or not the concentration or viscosity of the content of the monitored content monitor.
한편, 본 발명의 다른 분야에 따르면, 상기 목적은 본 발명에 따라, 원액을 공급하는 단계와; 워터를 공급하는 단계와; 상기 원액의 종류에 따라 상기 워터와 원액의 공급 중량이 결정된 상태에서 혼합된 상기 원액과 워터를 믹싱하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 세정용 용액 희석방법에 의해서도 달성된다. On the other hand, according to another field of the present invention, the object is, according to the invention, the step of supplying a stock solution; Supplying water; It is also achieved by a solution dilution method for substrate cleaning, comprising the step of mixing the mixed solution and the water mixed in the state in which the feed weight of the water and the stock solution is determined according to the type of the stock solution.
상기 워터와 상기 원액이 믹싱 완료되어 형성된 혼합액을 저장하는 단계와; 저장된 혼합액 중 소정량만큼 기판 세정공정으로 공급하는 단계를 더 포함할 수 있다. Storing a mixed liquid formed by mixing the water and the stock solution; The method may further include supplying a predetermined amount of the stored mixed solution to the substrate cleaning process.
이하, 첨부도면을 참조하여 본 발명에 대해 상세히 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 1은 본 발명에 따른 기판 세정용 용액 희석시스템의 구성도이다. 이 도면에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 반도체 기판 세정용 희석시스템(20)은, 크게 소정의 첨가제(Dopant)가 함유되어 있는 원액탱크(22)와, 믹싱탱크(24)와, 혼합액을 저장하는 혼합액탱크(26)를 가지고 있다.1 is a block diagram of a solution dilution system for cleaning a substrate according to the present invention. As shown in this figure, the
각 원액탱크(22), 믹싱탱크(24), 혼합액탱크(26)에는 각 탱크(22,24,26) 내의 액체의 중량을 측정하는 제1 내지 제3중량센서(22a,24a,26a)가 마련되어 있다.Each of the
그리고, 각 원액탱크(22), 믹싱탱크(24), 혼합액탱크(26)에는 각 탱크(22,24,26) 내의 액체 수위를 측정하는 레벨센서 기능이 추가되며, 본 실시예에서는 혼합액탱크(26)는 레벨센서(27) 기능만을 구현하고 있다.And, each of the
원액탱크(22)의 일측에는 원액탱크(22)로 소정의 원액 제공하는 원액공급라인(31)이 배치되어 있다.One side of the
원액공급라인(31)에는 원액이 원액탱크(22)로 원활하게 제공될 수 있도록 한 제1펌프(41)가 개재되어 있다. 만일, 원액탱크(22) 내부를 청소하거나 새로운 원액으로 교체하고자 할 경우에는, 원액(22)의 타측에 형성된 배출라인(31a)을 이용하여 원액탱크(22) 내에 잔존하는 기존 원액을 배출시키면 된다.The stock
원액탱크(22)와 믹싱탱크(24) 사이에는 원액을 믹싱탱크(24)로 제공하는 원액라인(32)이 배치되어 있다. 원액라인(32)은 그 일단이 원액탱크(22)와 연결되고 타단은 믹싱탱크(24)에 연통되어 원액탱크(22) 내의 원액을 믹싱탱크(24)로 공급한다. 이러한 원액라인(32)에는 제1개폐밸브(51)가 장착되어 있다.A
믹싱탱크(24)의 일측에는 워터라인(33)이 배치되어 있다. 워터라인(33)은 그 일단이 수돗물과 같은 물공급원에 연결되고 타단은 믹싱탱크(24) 내에 마련되어 있다. 이러한 워터라인(33)에도 역시, 원액라인(32)과 마찬가지로 제2개폐밸브(52)가 장착되어 있다.The
이 때, 워터는 워터라인(33)을 통해 믹싱탱크(24)나 혹은 원액탱크(22)로 제공될 수도 있다. 따라서, 워터라인(33)은 두 갈래로 분기되어 있으며 원액탱크(22) 측을 향한 라인에는 별도의 개폐밸브(52a)가 더 형성되어 있다.At this time, the water may be provided to the
워터라인(33)을 통해 워터가 믹싱탱크(24) 내로 제공되고 원액탱크(22) 내의 원액이 믹싱탱크(24)로 제공되면, 워터와 원액이 믹싱탱크(24) 내에서 믹싱된다. 이를 위해, 믹싱탱크(24) 내에는, 교반기(25)가 장착되어 있다. 교반기(25)는 교반축(25a)과, 교반축(25a)의 하단에 마련되는 교반날개(25b)로 이루어져 있다.When water is provided into the
믹싱탱크(24)와 혼합액탱크(26) 사이에는 믹싱탱크(24) 내에서 믹싱 완료된 워터 및 원액의 혼합액을 송출하는 혼합액라인(34)이 마련되어 있다. 혼합액라인(34)에는 제3개폐밸브(53)가 마련되어 있다.A mixed
그리고, 혼합액탱크(26)의 외측에는 혼합액탱크(26) 내의 혼합액을 반도체 기판(10) 세정 공정으로 공급하는 혼합액공급라인(35)이 설치되어 있다. 혼합액공급라인(35)에는 제2펌프(42)가 마련되어 있다.A mixed
이러한 구성에 의해, 반도체 기판(10)의 현상(17) 공정이 완료되어 세정 공 정에 이르면, 제어부(30)에 의해 제1펌프(41)가 작동하여 원액을 원액탱크(22) 내로 제공되도록 한다.With this configuration, when the developing process 17 of the semiconductor substrate 10 is completed and the cleaning process is reached, the
일정량만큼의 원액이 제공되면 제1중량센서(22a)가 이를 감지하여 제어부(30)로 송신하고, 제어부(30)는 제1펌프(41)의 작동을 중지시킴과 동시에 제1개폐밸브(51)를 열어 원액을 믹싱탱크(24)로 유입되도록 한다.When a predetermined amount of the stock solution is provided, the
이어, 제2개폐밸브(52)가 작동되어 워터라인(33)을 통해 워터가 믹싱탱크(24) 내로 유입된다. 어느 정도의 양만큼 워터가 믹싱탱크(24) 내로 유입되면 이를 제2중량센서(24a)가 감지하여 제어부(30)를 통해 제2개폐밸브(52)가 워터라인(33)의 유로를 단속하도록 한다.Subsequently, the second opening / closing
믹싱탱크(24) 내에 워터와 원액이 일정량 유입되면, 제어부(30)에 의해 교반기(25)가 작동하여, 교반날개(25b)에 의해 워터와 원액을 믹싱하기 시작한다. 이 때, 워터와 원액의 믹싱 비율은 원액에 포함된 첨가제의 종류에 따라 달라질 수 있다.When a predetermined amount of water and stock solution flows into the mixing
예를 들어, 워터와 원액의 믹싱 비율이 0:0 ~ 50 : 50 까지 선택적으로 조정 가능하다.For example, the mixing ratio of water and stock solution can be selectively adjusted from 0: 0 to 50:50.
믹싱이 완료되면, 제어부(30)에 의해 제3개폐밸브(53)가 작동하여 믹싱탱크(24) 내에 워터와 원액이 혼합된 혼합액을 혼합액탱크(26)로 제공한다.When the mixing is completed, the third opening and closing
혼합액탱크(26) 내로 혼합액이 일정량만큼 유입되면, 제3중량센서(26a)와 레벨센서(27)가 이를 각각 감지하여, 그 신호를 제어부(30)로 보내고 제어부(30)는 이 신호에 기초하여 제2펌프(42)를 작동시킴으로써, 혼합액공급라인(35)을 통해 혼 합액을 반도체 기판(10) 세정공정으로 공급한다.When the mixed liquid flows into the
이로써, 현상(17) 공정이 완료된 반도체 기판(10)은 워터와 원액의 혼합액을 통해 적절하게 세정될 수 있다. 따라서, 반도체 기판(10)에 정전기 등이 발생하는 것을 저지할 수 있게 된다.As a result, the semiconductor substrate 10 on which the development 17 process is completed can be appropriately cleaned through a mixture of water and the stock solution. Therefore, it is possible to prevent the generation of static electricity and the like on the semiconductor substrate 10.
한편, 도 1을 보면, 제1 내지 제3중량센서(22a,24a,26a)가 각 탱크(22,24,26)의 하부에 마련되어 있지만, 도 2에 도시된 바와 같이, 제1 내지 제3중량센서(22'a,24'a,26'a)는 각 탱크(22,24,26)의 플랜지부(22',24',26') 하단에 마련될 수도 있는 것이다.Meanwhile, referring to FIG. 1, although the first to
이처럼 일정 비율로 희석하는 방법으로 중량센서를 사용함으로써 비율의 조정을 보다 정밀하고 신뢰성 있게 행할 수 있다.By using the weight sensor in such a manner as to dilute at a constant ratio, the ratio can be adjusted more precisely and reliably.
또한, 본 발명의 시스템(20)은 하단에 휠(21a)을 갖는 별도의 시스템본체(21)에 일체로 장착되어 원하는 곳으로 쉽게 위치이동될 수도 있는 것이다.In addition, the
한편, 전술한 실시예에서는 원액탱크(22)의 일측에 원액탱크(22)로 소정의 원액 제공하는 원액공급라인(31)이 배치되어 있다는 정도로 도면 및 설명을 하였다.On the other hand, in the above-described embodiment has been described and described to the extent that the stock
그러나, 원액을 공급하는 원액공급라인(31)의 공급단 영역에는 도 3에 도시된 바와 같이, 별도의 원액공급부(60)가 추가로 설치될 수 있다.However, as shown in FIG. 3, a separate stock
이 때, 원액공급부(60)를 서랍식으로 구성한다면 원액이 소실될 경우, 충전 하기가 용이하다는 이점이 있다. 즉, 본 시스템을 중단하지 않더라도 공정 가동중에, 소정량의 원액을 공급할 수 있는 이점이 있다.At this time, if the stock
서랍식 구성을 간략하게 보면, 소정량의 원액을 수용하는 원액공급부(60)가 원액공급부(60)를 지지하는 슬라이딩 레일부(61)에 결합되어 있다. 이에, 사용자가 슬라이딩 레일부(61)에 대해 원액공급부(60)를 슬라이딩 이동시키면서 필요에 따라 원액을 충전하거나 혹은 반대로 취출할 수도 있고, 공정 중에도 쉽게 원액을 교체할 수 있는 이점이 있는 것이다. 서랍식 구성이란 일반화된 것이므로 그에 대한 구체적인 도면은 생략하도록 한다.Briefly, the drawer configuration, the stock
한편, 전술한 실시예에 의하면, 원액탱크(22), 믹싱탱크(24), 혼합액탱크(26)에는 각 탱크(22,24,26) 내의 액체의 중량을 측정하는 제1 내지 제3중량센서(22a,24a,26a)가 마련되어 있다라고 되어 있다. 이럴 경우, 장착된 제1 내지 제3중량센서(22a,24a,26a)로 인해 해당 탱크 내의 내용물의 양은 원하는 데로 측정될 수 있다.On the other hand, according to the embodiment described above, the first to third weight sensors for measuring the weight of the liquid in each
그러나, 이러한 경우, 원하는 양은 정확하게 측정되기는 하되, 해당 탱크 내에 들어있거나 혹은 유입되어 교반되어 형성된 내용물 등의 농도나 점도를 정확하게 산출하기는 어렵다. 특히, 제일 마지막 공정을 거치는 혼합액탱크(26) 내에 수용된 내용물인 혼합액에 대한 농도나 점도를 정확하게 파악하기가 어렵기에 측정자가 간헐적으로 일정량을 발췌하여 그에 따른 농도나 점도를 파악하였다.However, in this case, the desired amount is accurately measured, but it is difficult to accurately calculate the concentration or viscosity of the contents contained in the tank or formed by stirring. In particular, since it is difficult to accurately determine the concentration or viscosity of the mixed solution, which is the content contained in the
이에, 본 출원인은 이러한 단점을 해소하기 위해 원액탱크(22), 믹싱탱크(24), 혼합액탱크(26) 중 적어도 어느 하나 혹은 모두에 해당 탱크 내에 수용된 내용물의 농도나 점도 중 어느 하나 혹은 하나 이상을 검출하는 검출센서(미도시)를 두고 있다.Accordingly, the present applicant, at least one or more of the concentration or viscosity of the contents contained in the tank in at least one or both of the
종래에는 중량센서(22a,24a,26a)를 통해 원하는 비율에 따라 원액과 첨가제(Dopant) 혹은, DI를 혼합했지만 그 비율(농도)이 정확한지 알 수 없었기에 본 발명에서는 이를 검출하기 위한 수단으로써 검출센서를 마련하고 있는 것이다. 물론, 검출된 결과값에 따라 만일, 첨가제(Dopant)의 양이 모자란다면 해당 물질의 양을 정확하게 산출하여 공정에 더 투입하면 될 것이다.Conventionally, although the stock solution and the additive (Dopant) or DI was mixed according to the desired ratio through the
이와 같은, 구조를 더 장치하여 기판 세정용 용액 희석시스템을 갖춘다면, 물질의 정확한 양 외에도 해당 물질에 대한 농도나 점도 역시 정확하게 검출하여 사용할 수 있는 이점이 있게 된다.If such a structure is further equipped with a solution dilution system for cleaning the substrate, in addition to the exact amount of the substance, there is an advantage that the concentration or viscosity of the substance can also be accurately detected and used.
이상 도면을 참조하여 본 발명에 대해 상세히 설명하였지만 본 발명은 이에 제한되는 것은 아니다.Although the present invention has been described in detail with reference to the drawings, the present invention is not limited thereto.
전술한 실시예에서는 반도체 기판을 그 예로 하여 본 발명에 대해 설명하고 있지만, 반도체 기판과 그 제조 공정이 유사한 LCD, PDP 및 유기 EL 등에도 본 발명의 사상이 충분히 적용될 수 있는 것이다.In the above embodiment, the present invention has been described using the semiconductor substrate as an example, but the idea of the present invention can be sufficiently applied to LCD, PDP, organic EL, and the like, which are similar to the semiconductor substrate.
한편, 전술한 실시예에서 각 탱크에는 소위, "로드셀(Load Cell)"이라는 중량센서가 마련되어 있다고 설명하고 있으나, 이러한 센서 외에도 레벨센서 등을 채용할 수도 있음은 두 말할 여지가 없는 것이다.On the other hand, in the above-described embodiment, it is described that each tank is provided with a so-called “load cell” weight sensor, but it goes without saying that a level sensor or the like may be employed in addition to such a sensor.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 따르면, 기판 세정용 워터에 별도의 첨가제를 희석시켜 기판을 세정함으로써 기판의 계면을 활성화하여 기판 계면에 정전기가 발생되는 것을 저지할 수 있도록 한 반도체 기판 세정용 용액 희석시스템 및 방법이 제공된다.As described above, according to the present invention, dilution of a separate additive in the substrate cleaning water to clean the substrate, thereby activating the interface of the substrate to prevent the generation of static electricity at the substrate interface. Systems and methods are provided.
또한, 일정 비율로 희석하는 방법으로 중량센서를 사용함으로써 비율의 조정을 보다 정밀하고 신뢰성 있게 행할 수 있다.In addition, by using a weight sensor in a method of diluting at a constant ratio, the ratio can be adjusted more precisely and reliably.
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