KR100610454B1 - Bit line sense amplifier driving controller - Google Patents
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Abstract
본 발명은 반도체 메모리장치에서 사용되는 비트라인 센스앰프 구동 제어장치에 관한 것으로, 특히 셀프 리프레쉬 모드로의 진입여부를 감지하는 별도의 감지수단을 구비하여 상기 감지수단의 출력결과에 따라 센스앰프 활성화 제어신호의 전위레벨을 노말 동작모드와 셀프 리프레쉬 모드에 대해 차별화시켜 인가해주도록 제어하므로써, 셀프 리프레쉬 모드시 소모되는 전류량을 최소화하여 저전력을 실현하도록 한 비트라인 센스앰프 구동 제어장치에 관한 것이다.The present invention relates to a bit line sense amplifier driving control apparatus used in a semiconductor memory device. In particular, the present invention includes a separate sensing means for sensing the entry into the self-refresh mode and controls the activation of the sense amplifier according to the output result of the sensing means. The present invention relates to a bit line sense amplifier driving control apparatus which realizes low power by minimizing the amount of current consumed in the self refresh mode by controlling the potential level of the signal to be differently applied to the normal operation mode and the self refresh mode.
Description
도 1 은 종래기술에 따른 비트라인 센스앰프 구동 제어장치와 비트라인 센스앰프와의 연결관계를 도시한 회로 구성도1 is a circuit diagram illustrating a connection relationship between a bit line sense amplifier driving control apparatus and a bit line sense amplifier according to the related art.
도 2 는 본 발명에 따른 비트라인 센스앰프 구동 제어장치와 비트라인 센스앰프와의 연결관계를 도시한 회로 구성도2 is a circuit diagram illustrating a connection relationship between a bit line sense amplifier driving control device and a bit line sense amplifier according to the present invention.
도 3a 및 도 3b 는 각각 본 발명에 따른 비트라인 센스앰프 구동 제어장치의 노말동작모드와 셀프 리프레쉬 모드시의 동작 타이밍도3A and 3B are operation timing diagrams in the normal operation mode and the self refresh mode of the bit line sense amplifier driving control apparatus according to the present invention, respectively.
< 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 ><Description of Symbols for Major Parts of Drawings>
10: 센싱부 20: 비교부10: sensing unit 20: comparison unit
30, 40: 전류경로 형성부 50: 감지부30, 40: current path forming unit 50: sensing unit
100: 비트라인 센스앰프100: bit line sense amplifier
200, 250: 비트라인 센스앰프 구동 제어장치200, 250: bit line sense amplifier drive control device
rto, /s: 센스앰프 활성화 제어신호rto, / s: sense amplifier activation control signal
본 발명은 반도체 메모리장치에서 사용되는 비트라인 센스앰프 구동 제어장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 센스앰프 활성화 제어신호의 전위레벨을 노말 동작모드와 셀프 리프레쉬 모드에 대해 차별화시켜 인가해주므로써, 셀프 리프레쉬 모드시의 소모전력을 최소화하여 저전력을 실현하도록 한 비트라인 센스앰프 구동 제어장치에 관한 것이다.The present invention relates to a bit line sense amplifier driving control device used in a semiconductor memory device, and more particularly, by applying a potential level of a sense amplifier activation control signal differently from a normal operation mode and a self refresh mode. The present invention relates to a bit line sense amplifier driving control device for minimizing power consumption in mode to realize low power.
일반적으로, 셀프 리프레쉬(self-refresh)란 디램(dynamic random access memory: DRAM) 등의 반도체 메모리장치가 대기상태에서 메모리 셀내에 저장된 데이타를 유지하기 위해 자체적으로 내부에서 일정주기를 갖고 리프레쉬를 수행하는 것을 의미한다.In general, self-refresh is a process in which a semiconductor memory device such as a dynamic random access memory (DRAM) performs a refresh with a predetermined period internally to maintain data stored in a memory cell in a standby state. Means that.
이때, 리프레쉬동작이란 셀내 데이타를 보존하기 위해 워드라인을 인에이블시켜 다시 비트라인 센스앰프에서의 센싱을 거쳐 데이타를 셀에 재저장하는 동작을 의미하며, 디램 등의 메모리동작에 있어서 셀프 리프레쉬 동작모드는 컴퓨터를 장시간 사용하지 않을 경우 내부적으로 소모되는 전류량을 최소화하기 위해 동작하는 모드로, 셀프 리프레쉬 모드로의 진입시 디램에서 소모되는 전류량을 최소화하는 것이 매우 중요하다.In this case, the refresh operation refers to an operation of enabling a word line to preserve data in a cell, and then re-storing the data into a cell after sensing by a bit line sense amplifier. In the memory operation such as DRAM, the self refresh operation mode This mode operates to minimize the amount of current consumed internally when the computer is not used for a long time. It is very important to minimize the amount of current consumed by the DRAM when entering the self-refresh mode.
도 1 은 종래기술에 따른 비트라인 센스앰프 구동 제어장치와 비트라인 센스앰프와의 연결관계를 도시한 회로 구성도로, 비트라인 센스앰프(100)내 센싱부(10)의 활성화 제어를 위한 두 제어신호(rto, /s)의 전위를 조절하는 비트라인 센스앰프 구동 제어장치(200)의 구성이 tRCD(RAS to CAS Delay: 로오 액티브 명령신호가 입력된 후 리드 및 라이트 명령신호가 입력되기까지의 시간을 의미함) 파라미터의 특성개선을 위해, 노말 동작모드와 셀프 리프레쉬 모드에 상관없이 동작초기에는 무조건 상기 비트라인 센스앰프 활성화 제어신호(rto, /s)로 외부 전원전압(Vext)을 인가해주어 비트라인 센싱동작을 제어하도록 하며, 일정시간 이후 내부적으로 전압강하된 내부 전원전압의 인가에 의해 센싱동작을 수행하도록 제어하는 구성을 하고 있다.FIG. 1 is a circuit diagram illustrating a connection relationship between a bit line sense amplifier driving control apparatus and a bit line sense amplifier according to the related art. FIG. 1 shows two controls for activation control of the
이에 따라, 동 도면에 도시된 비트라인 센스앰프 구동 제어장치(200)는 센스앰프 활성화 제어신호의 일측 신호(rto)를 피드백받아 기준 전위신호와의 전위비교를 수행하는 비교부(20)와, 상기 비교부(20)의 출력신호(/rto_ext)에 따라 활성화가 제어되어 동작초기 비트라인 센스앰프의 활성화 제어신호(rto)로 외부 전원전압을 인가해 주기위한 전류경로를 형성하는 제1 전류경로 형성부(30) 및, 상기 비교부(20)의 출력신호(/rto_ext)에 따라 상기 제1 전류경로 형성부(30)와는 상보적으로 활성화되어 상기 비트라인 센스앰프의 활성화 제어신호(rto)로 일정수준 전압강하된 내부 전원전압(Vint)을 인가해 주기위한 전류경로를 형성하는 제2 전류경로 형성부(40)를 구비하여 구성된다.Accordingly, the bit line sense amplifier
상기 구성에 의해, 초기의 비트라인 센스앰프(100)의 동작은 센스앰프 활성화 제어신호(rto)로 인가되는 외부 전원전압(Vext)에 의해 센싱동작을 수행하다가 일정시간 이후 내부적으로 전압 강하된 내부 전원전압을 상기 센스앰프 활성화 제어신호(rto)로 인가받아 센싱동작하게 되므로써, 비트라인 센스앰프(100)에서의 센싱동작시의 고속화를 실현하여 상기 tRCD 파라미터의 특성을 개선하게 된다.By the above configuration, the initial operation of the bit
그런데, 상기 tRCD 파라미터는 컬럼 어드레스가 관여하는 리드 및 라이트동 작에서만 그 특성개선이 의미가 있을 뿐, 이와 상관없은 리프레쉬 동작모드에서는 그 특성개선이 별 의미가 없는 파라미터가 된다.However, the tRCD parameter is meaningful only in the read and write operations involving the column address, and in the refresh operation mode irrelevant thereto, the tRCD parameter becomes a parameter having little meaning.
따라서, 상기한 바와 같이 동작하는 비트라인 센스앰프 구동 제어장치에 따르면 tRCD 파라미터의 특성개선에 의한 동작속도면에서의 향상은 기대할 수 있게 되지만, 내부적으로 생성된 로오 어드레스에 의해 순차적으로 워드라인을 인에이블시키기만 하면 되는 셀프 리프레쉬 동작모드시에도 고속의 데이타 센싱을 위해 일정시간동안은 외부 전원전압을 인가받아야 되기 때문에 센싱시 소모되는 전류량이 불필요하게 증가되면서 저전력을 제한하게 되는 문제점이 발생한다.Therefore, according to the bit line sense amplifier driving control device operating as described above, the improvement in the operation speed due to the improvement of the characteristics of the tRCD parameter can be expected, but the word line is sequentially read by the internally generated row address. Even in the self-refresh operation mode which needs to be enabled, an external power supply voltage must be applied for a predetermined time for high-speed data sensing, which causes a problem of limiting low power as the amount of current consumed during sensing is unnecessarily increased.
본 발명은 상기 문제점을 해결하기 위하여 이루어진 것으로, 본 발명의 목적은 셀프 리프레쉬 모드시 노말 동작모드와는 차별화된 전류경로에 의해 비트라인 센스앰프 활성화 제어신호를 인가해주므로써, 셀프 리프레쉬 모드시 소모되는 전류량을 최소화시켜 저전력을 실현하도록 한 비트라인 센스앰프 구동 제어 장치를 제공하는데 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to apply the bit line sense amplifier activation control signal by a current path different from that of the normal operation mode in the self refresh mode. An object of the present invention is to provide a bit line sense amplifier driving control device that minimizes the amount of current to realize low power.
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상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 의한 비트라인 센스앰프 구동 제어장치는 비트라인 센스앰프 활성화 제어신호의 일측 신호를 피드백받아 기준 전위신호와의 전위비교를 수행하는 비교수단과, 비교수단의 출력신호에 따라 활성화가 제어되어 동작 초기 비트라인 센스앰프의 활성화 제어신호로 외부 전원전압을 인가해주기 위한 전류경로를 형성하는 제1 전류경로 형성수단과, 비교수단의 출력신호에 따라 제1 전류경로 형성수단과는 상보적으로 활성화되어 비트라인 센스앰프의 활성화 제어신호로 외부 전원전압이 일정수준 전압강하된 내부 전원전압을 인가해주기 위한 전류경로를 형성하는 제2 전류경로 형성수단, 및 외부로부터 입력되는 셀프 리프레쉬 명령신호와, 출력신호에 따라 상태를 달리하고 제 1전류경로형성수단의 일단으로부터 인가되는 신호를 논리조합하여 셀프 리프레쉬 모드로의 진입여부를 감지하고 그 감지결과를 비교수단의 동작 제어신호로 인가해주는 감지수단을 구비하고, 감지수단에 의해 셀프 리프레쉬 모드로의 진입이 감지되면, 출력신호는 제1 전류경로 형성수단을 차단시키는 한편 제2 전류경로 형성수단을 활성화시키는 상태의 전위신호로 출력되어, 비트라인 센스앰프 활성화 제어신호로 동작 초기부터 전압강하된 내부 전원전압이 인가되도록 제어하는 것을 특징으로 한다.
상술한 목적 및 기타의 목적과 본 발명의 특징 및 이점은 첨부된 도면과 관련한 다음의 상세한 설명을 통하여 보다 분명해 질 것이다. 이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 2 는 본 발명에 따른 비트라인 센스앰프 구동 제어장치와 비트라인 센스앰프와의 연결관계를 도시한 회로 구성도로, 비트라인 센스앰프(100)내 센싱부(10)의 활성화 제어를 위한 두 제어신호(rto, /s)의 전위를 외부입력 셀프 리프레쉬 명령신호(sref)에 의해 판별되는 셀프 리프레쉬 모드와 노말 동작모드에 따라 차별화시켜 인가해주기 위한 구성을 하고 있다.In order to achieve the above object, the bit line sense amplifier driving control apparatus according to the present invention receives a signal of one side of the bit line sense amplifier activation control signal is fed back comparison means for performing a potential comparison with the reference potential signal, and the output of the comparison means Activation is controlled in accordance with the signal to form a first current path forming means for forming a current path for applying an external power supply voltage as an activation control signal of the initial bit line sense amplifier in operation, and forming a first current path according to an output signal of the comparing means. Second current path forming means which is activated complementary to the means and forms a current path for applying an internal power supply voltage having a predetermined voltage drop to an external power supply voltage as an activation control signal of the bit line sense amplifier; The state is changed according to the self refresh command signal and the output signal, and is connected to one end of the first current path forming means. And a sensing means for logically combining the applied signals to detect the entry into the self-refresh mode and applying the detection result as an operation control signal of the comparing means. When the sensing means detects the entry into the self-refresh mode, The output signal is output as a potential signal in a state of blocking the first current path forming means and activating the second current path forming means, so that an internal power supply voltage having been dropped from the beginning of operation as a bit line sense amplifier activation control signal is applied. It is characterized by controlling.
The above and other objects and features and advantages of the present invention will become more apparent from the following detailed description taken in conjunction with the accompanying drawings. Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
FIG. 2 is a circuit diagram illustrating a connection relationship between a bit line sense amplifier driving control device and a bit line sense amplifier according to the present invention. FIG. 2 is a diagram illustrating two controls for activation control of the
또한, 동 도면에 도시된 비트라인 센스앰프 구동 제어장치(200)는 비트라인 센스앰프 활성화 제어신호의 일측 신호(rto)를 피드백받아 기준 전위신호(Vref)와의 전위비교를 수행하는 비교부(20)와, 상기 비교부(20)의 출력신호(/rto_ext)에 따라 활성화가 제어되어 동작초기 비트라인 센스앰프(100)의 활성화 제어신호(rto)로 외부 전원전압(Vext)을 인가해주기 위한 전류경로를 형성하는 제1 전류경로 형성부(30)와, 상기 비교부(20) 출력신호(/rto_ext)의 반전신호(/rto_en)에 따라 상기 제1 전류경로 형성부(30)와는 상보적으로 활성화되어 상기 비트라인 센스앰프(100)의 활성화 제어신호(rto)로 상기 외부 전원전압(Vext)이 일정수준 전압강하된 내부 전원전압(Vint)을 인가해주기 위한 전류경로를 형성하는 제2 전류경로 형성부(40)와, 외부로부터 입력되는 셀프 리프레쉬 명령신호(sref)에 의해 셀프 리프레쉬 모드로의 진입여부를 감지하여 그 감지결과를 상기 비교부(20)의 동작 제어신호로 인가해주는 감지부(50)을 구비하여 구성된다.In addition, the bit line sense amplifier
이때, 상기 감지부(50)에 의해 셀프 리프레쉬모드로의 진입이 감지되면, 상기 비교부(20)의 출력신호(/rto_ext)는 상기 제1 전류경로 형성부(30)를 차단시키는 한편 상기 제2 전류경로 형성부(40)를 활성화시키는 상태의 전위신호(/rto_en)가 되도록 제어되어, 상기 비트라인 센스앰프 활성화 제어신호(rto)로 동작 초기부터 상기 전압강하된 내부 전원전압(Vint)이 인가되도록 제어하게 된다.In this case, when the
이에 따라, 셀프 리프레쉬 모드시의 전류소모를 최소화시키는 것이 가능해 지는 것이다.This makes it possible to minimize the current consumption in the self refresh mode.
도 3a 및 도 3b 는 각각 본 발명에 따른 비트라인 센스앰프 구동 제어장치의 노말 동작모드와 셀프 리프레쉬 모드시의 동작 타이밍도를 도시한 것으로, 이하 동 도면을 참조하며 본 발명에 따른 비트라인 센스앰프의 구동 제어동작을 자세히 살펴보기로 한다.3A and 3B show operation timing diagrams in the normal operation mode and the self refresh mode of the bit line sense amplifier driving control apparatus according to the present invention, respectively. Referring to the drawings below, the bit line sense amplifier according to the present invention will be described. Let's look at the drive control operation of in detail.
우선, 노말 동작모드에서의 센싱전류 제어동작을 도 3a 를 참조하며 살펴보기로 한다.First, the sensing current control operation in the normal operation mode will be described with reference to FIG. 3A.
이 경우, 셀프 리프레쉬 명령신호(sref)가 (a)에 도시된 바와 같이 '로직로우'로 인가되어지며, 상기 비교부(20)의 일측 입력신호가 되는 센스앰프 활성화 제어신호(rto)의 전위레벨이 타측 입력신호가 되는 기준 전위신호(Vref)에 비해 낮기 때문에 상기 비교부(20)의 출력신호(/rto_ext)가 (c)에 도시된 바와 같이 우선적으로 '로직로우'의 상태로 출력된다. In this case, the self-refresh command signal sref is applied as 'logic low' as shown in (a), and the potential of the sense amplifier activation control signal rto serving as an input signal of the
이로 인해, 제1 전류경로 형성부(30)가 활성화되어지면서 비트라인 센스앰프(100)로 외부 전원전압(Vext)를 공급하게 된다.As a result, the first current
이후, 상기 비교부(20)의 일측 입력신호가 되는 센스앰프 활성화 제어신호(rto)가 기준 전위신호(Vref)에 비해 높아지게 되면 상기 비교부(20)의 출력신호(/rto_ext)가 '로직하이'로 전이되어지며, 이 순간 (d)에 도시된 바와 같이 /rto_en신호가 '로직로우'로 전이되어지면서 상기 제2 전류경로 형성부(40)를 활성화시켜 상기 외부 전원전압(Vext)이 일정수준 전압강하된 내부 전원전압(Vint)을 비트라인 센스앰프(100)의 센싱 제어신호로 인가해 주게 된다.Subsequently, when the sense amplifier activation control signal rto, which is an input signal of the
이에 따라, 노말 동작모드에서의 센싱속도를 향상시킬 수 있게 된다.Accordingly, the sensing speed in the normal operation mode can be improved.
한편, 셀프 리프레쉬모드에서의 센싱전류 제어동작을 도 3b 를 참조하며 살펴보기로 한다.Meanwhile, the sensing current control operation in the self refresh mode will be described with reference to FIG. 3B.
이 경우에는 (a)에 도시된 바와 같이 셀프 리프레쉬 명령신호(sref)가 '로직하이'의 상태로 인가되어지기 때문에, 상기 감지부(50)에서 '로직로우'의 출력신호를 상기 비교부(20)로 출력하게 되면서 센스앰프 활성화 제어신호(rto)와 기준 전위신호(Vref)와의 비교결과에 상관없이 그 출력신호(/rto_ext)를 (c)에 도시된 바와 같이 동작 초기부터 '로직하이'의 상태로 만들게 된다. In this case, as shown in (a), since the self refresh command signal sref is applied in a state of 'logic high', the
이에 따라, (d)에 도시된 바와 같이, /rto_en신호를 동작초기부터 '로직로우'로 전이시켜 출력하게 된다.Accordingly, as shown in (d), the / rto_en signal is transferred to 'logic low' from the beginning of operation and output.
그 결과, 상기 제1 전류경로 형성부(30)의 활성화를 차단하게 되는 한편, 상기 제2 전류경로 형성부(40)를 동작초기부터 활성화시키게 되므로써, 일정수준 전압강하된 내부 전원전압(Vint)이 비트라인 센스앰프(100)의 센싱 제어전원으로 공급되어진다.As a result, since the activation of the first current
따라서, 컬럼 어드레스의 입력에 상관없이 내부적으로 생성된 로오 어드레스에 의하여 순차적으로 워드라인을 인에이블시키기만 하면되는 셀프 리프레쉬 모드에서 비트라인 센스앰프의 구동 제어시 소모되는 전류량을 최소화시키는 것이 가능해 진다.Therefore, it is possible to minimize the amount of current consumed in controlling the driving of the bit line sense amplifier in the self-refresh mode in which the word line is sequentially enabled by the internally generated row address regardless of the input of the column address.
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명에 따른 비트라인 센스앰프 구동 제어장치에 의하면, 셀프 리프레쉬 모드로의 진입시 이를 감지하여 외부 전원전압이 일정 수준 전압강하된 내부 전원전압을 비트라인 센스앰프의 센싱 제어전원으로 공급해주도록 제어하므로써, 셀프 리프레쉬 모드에서 소모되는 전류량을 최소화하여 저전력을 실현할 수 있게 되는 매우 뛰어난 효과가 있다.As described above, according to the bit line sense amplifier driving control apparatus according to the present invention, when the self-refresh mode is entered, the internal power supply voltage of which the external power supply voltage drops to a predetermined level is sensed as the sensing control power supply of the bit line sense amplifier. By controlling the supply, there is a very good effect of realizing low power by minimizing the amount of current consumed in the self refresh mode.
아울러 본 발명의 바람직한 실시예들은 예시의 목적을 위해 개시된 것이며, 당업자라면 본 발명의 사상과 범위 안에서 다양한 수정, 변경, 부가 등이 가능할 것이며, 이러한 수정 변경 등은 이하의 특허청구의 범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.In addition, preferred embodiments of the present invention are disclosed for the purpose of illustration, those skilled in the art will be able to make various modifications, changes, additions, etc. within the spirit and scope of the present invention, such modifications and modifications belong to the scope of the claims You will have to look.
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019990063874A KR100610454B1 (en) | 1999-12-28 | 1999-12-28 | Bit line sense amplifier driving controller |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019990063874A KR100610454B1 (en) | 1999-12-28 | 1999-12-28 | Bit line sense amplifier driving controller |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20010061380A KR20010061380A (en) | 2001-07-07 |
KR100610454B1 true KR100610454B1 (en) | 2006-08-09 |
Family
ID=19631193
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019990063874A KR100610454B1 (en) | 1999-12-28 | 1999-12-28 | Bit line sense amplifier driving controller |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100610454B1 (en) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100431289B1 (en) * | 2001-06-27 | 2004-05-12 | 주식회사 하이닉스반도체 | Bit line sense amplifier control circuit of semiconductor memory device |
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KR100753077B1 (en) * | 2001-12-29 | 2007-08-31 | 주식회사 하이닉스반도체 | Bit-Line Isolation signal Generator in Semiconductor Memory Device |
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