KR100543807B1 - Measurement system of panel for cathode ray tube - Google Patents

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KR100543807B1
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삼성코닝 주식회사
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Abstract

본 발명은 음극선관용 판넬의 측정 시스템에 관한 것이다. 본 발명은 베이스를 갖추고 있으며, 베이스의 상면에는 판넬의 위치를 결정하여 측정 위치를 제공할 수 있도록 포지셔너가 승,하강 운동이 가능하게 설치된다. 베이스의 상면에 측정의 기준 평면을 제공할 수 있도록 레퍼런스 게이지가 승,하강 운동이 가능하게 설치되고, 로봇은 판넬을 검지하는 제 1 터치 센서의 프로브를 상하좌우 및 선회 운동시키며, 배출 장치는 베이스를 따라 이동 가능하게 설치되어 측정 위치에서 판넬을 배출시키고, 이러한 판넬의 측정 공정은 컴퓨터에 의해 제어된다. 따라서, 컴퓨터의 제어에 의해 판넬의 3차원 측정을 자동으로 수행할 수 있으므로, 측정 결과의 합격 여부를 신속하고 정확하게 판정할 수 있을 뿐만 아니라, 판넬의 측정 결과에 이상이 있는 경우에도 제조 현장 등에 신속한 조치를 취할 수 있어 제조 공정의 손실을 최소화시킬 수 있게 된다. 또한, 측정의 자동화로 인하여 정밀도 및 신뢰성이 향상되고, 측정 결과를 데이터화하여 효율적으로 관리할 수 있게 된다. 그리고, 컴퓨터의 데이터를 지역 네트워크의 구축에 의해 용이하게 공유할 수 있으므로, 판넬의 연구 및 개발을 일괄적으로 수행할 수 있어 능률적이고 경제적인 운영이 가능해지게 된다. 또한, 시료의 채취 작업이 불필요해져 측정 작업이 단순해지며, 불필요한 인력과 시간의 낭비를 줄일 수 있게 된다.The present invention relates to a measurement system for a panel for a cathode ray tube. The present invention is equipped with a base, the positioner is installed on the upper surface of the base to enable the lifting, lowering movement to provide a measuring position by determining the position of the panel. The reference gauge is installed to enable the up and down movement to provide a reference plane of measurement on the upper surface of the base, and the robot moves the probe of the first touch sensor detecting the panel up, down, left and right, and the discharge device It is installed so as to be movable along the discharge panel at the measurement position, the measurement process of this panel is computer controlled. Therefore, the three-dimensional measurement of the panel can be automatically performed by computer control, so that not only can the judgment of the result of the measurement be passed quickly and accurately, but also if the panel measurement results are abnormal. Measures can be taken to minimize losses in the manufacturing process. In addition, precision and reliability are improved due to the automation of the measurement, and the measurement results can be efficiently managed by data. In addition, since computer data can be easily shared by building a local network, panel research and development can be performed collectively, and efficient and economical operation is possible. In addition, the sample collection operation is unnecessary, which simplifies the measurement operation and reduces unnecessary manpower and waste of time.

Description

음극선관용 판넬의 측정 시스템Measurement system of panel for cathode ray tube

본 발명은 음극선관용 판넬(panel)의 치수 및 형상을 3차원 측정에 의해 자동으로 측정하기 위한 음극선관용 판넬의 측정 시스템에 관한 것이다.The present invention relates to a measuring system for a cathode ray tube panel for automatically measuring the dimensions and shape of the cathode ray tube panel by three-dimensional measurement.

컬러텔레비젼이나 컴퓨터 모니터 등의 제조에 사용되는 음극선관은 기본적으로 세 가지의 구성 요소, 즉 화상이 투시되는 판넬과, 이 판넬의 배면에 부착되는 원추형의 휀넬(funnel)과, 휀넬의 꼭지점에 용착되는 관형상의 네크(neck)로 이루어진다. 판넬은 훼이스(face)와 스커트(skirt)를 갖추고 있으며, 훼이스의 내면에는 결상용 형광체가 도포되고, 스커트에는 다수의 구멍을 갖는 섀도우마스크가 핀에 의해 지지된다. 그리고, 네크에는 전자총이 설치되며, 전자총은 섀도우마스크의 구멍을 통하여 형광체로 전자빔을 발사함으로써 화상을 생성하게 된다.Cathode ray tubes used in the manufacture of color televisions and computer monitors are basically three components: a panel through which images are projected, a conical funnel attached to the back of the panel, and welding at the vertices of the channel. It consists of a tubular neck. The panel has a face and a skirt, and an imaging phosphor is applied to the inner surface of the face, and a shadow mask having a plurality of holes is supported by the pin. An electron gun is installed in the neck, and the electron gun generates an image by firing an electron beam through a hole of a shadow mask with a phosphor.

이와 같은 음극선관의 판넬, 휀넬 및 네크는 모두 유리로 제조된다. 특히, 판넬과 휀넬은 곱(gob)이라 불리는 용융유리 덩어리를 원하는 크기 및 형상으로 프레스 성형에 의해 제조하게 된다. 성형 공정에 의해 제조된 성형품은 일반적으로 거친 표면을 가지므로, 음극선관의 화상 품질을 개선하려면 성형품의 표면을 적절히 연마하여 광학적 결함을 제거할 필요가 있다. 성형품이 판넬인 경우 연마를 필요로 하는 표면은 훼이스와, 휀넬이 용착되는 스커트의 시일에지(seal edge)이다.The panels, channels and necks of these cathode ray tubes are all made of glass. In particular, the panel and channel will produce a molten glass mass called a gob by press molding into a desired size and shape. Since the molded article produced by the molding process generally has a rough surface, it is necessary to properly polish the surface of the molded article to remove optical defects in order to improve the image quality of the cathode ray tube. If the molded article is a panel, the surface which needs to be polished is the seal edge of the face and the skirt to which the channel is to be welded.

한편, 판넬은 품질의 균일성을 유지하기 위하여 샘플링 검사를 수행하게 된다. 샘플링 검사에 의한 판넬의 측정 항목은 크게 치수, 형상 및 거칠기로 나눌 수 있으며, 측정의 세부 항목에는 대략 15개 정도가 있다. 예를 들어 측정의 세부 항목에는 시일에지의 두께, 훼이스의 중심 두께, 아웃 베벨(out bevel) 등의 측정이 있다. In the meantime, the panel performs sampling inspection to maintain uniformity of quality. The measurement items of the panel by sampling inspection can be largely divided into dimensions, shapes, and roughness, and there are about 15 measurement items. For example, the measurement details include the thickness of the seal edge, the center thickness of the face, the out bevel, and the like.

그러나, 상기한 바와 같은 판넬의 측정은 대개 작업자의 수작업과 3차원 측정기에 의해 개별적으로 이루어지고 있다. 예컨대, 판넬의 높이와 훼이스의 중심 두께 등은 버니어 캘리퍼스나 다이얼 게이지, 하이트 게이지 등에 의해 수작업으로 측정하고 있으며, 판넬의 치수와 시일에지의 내측 및 외측 다이어그램(diagram), 웨지(wedge) 등의 측정에는 3차원 측정기가 사용되고 있기 때문에 측정 공정이 복잡하고 번거로워지는 문제가 있었다. 그리고, 작업자의 수작업에 의해 판넬의 두께를 측정할 경우에는 작업자의 실수 등으로 인하여 측정 오차가 발생될 우려가 높기 때문에 신뢰성이 저하되는 문제를 가지게 된다. 더욱이, 판넬의 두께, 형상을 측정하기 위해서는 판넬의 대략 24군데를 절단한 시료를 채취하여 수행하여야 하므로, 시료의 채취와 판넬의 측정에 과다한 시간이 소요되었다. 특히, 시료의 채취 작업과 취급에는 세심한 주의가 요구되어 숙련된 작업이 필요할 뿐만 아니라, 시료의 채취 작업은 측정실과 별도의 채취실에서 수행하고 있어 비능률적이고 비경제적인 문제가 있었다. 이것을 개선하기 위하여 판넬의 두께, 치수 측정은 대략 8개의 시료에 의해 수행하고 있으나, 측정 공정의 단순화에는 미흡한 실정에 있다.However, the measurement of the panel as described above is usually made individually by the operator's manual and three-dimensional measuring machine. For example, the height of the panel and the center thickness of the face are measured manually by vernier calipers, dial gauges, height gauges, and the like. There is a problem that the measurement process is complicated and cumbersome because a three-dimensional measuring instrument is used. In addition, when the thickness of the panel is measured by the operator's manual work, there is a high possibility that a measurement error may occur due to a mistake of the operator. In addition, in order to measure the thickness and shape of the panel, it is necessary to take a sample of approximately 24 cuts of the panel, so that it takes an excessive amount of time to collect the sample and measure the panel. In particular, the collection and handling of the sample requires careful attention and requires skilled work, and the collection of the sample is performed in a separate collection room from the measurement room, resulting in inefficient and inefficient economic problems. In order to improve this, the thickness and dimension of the panel are measured by about eight samples, but the situation is insufficient for the simplification of the measurement process.

한편, 판넬의 측정 결과를 판정 기준과 비교하여 합격 여부를 결정하기 위해서는 개별적으로 측정된 판넬의 치수, 형상에 대한 측정 결과를 취합하여 데이터화 한 후, 이것을 판정 기준과 비교하여야 하기 때문에 합격 여부의 결정에 과다한 시간이 소요되었다. 뿐만 아니라, 판넬의 측정 결과가 불합격으로 판정될 경우에는 그 원인을 파악하여 제조 현장에 수정 조치를 취하여야 하는 것이나, 측정 결과를 제조 현장에 신속하게 전달할 수 없어 수정 조치를 지연시키는 원인이 되었으며, 나아가 판넬의 제작에 막대한 지장을 초래시키는 문제가 있었다. 또한, 제조 현장이 나뉘어져 설비된 경우에는 판넬의 측정 결과에 대한 데이터를 공유하기가 곤란하여 판넬의 연구 및 개발을 일괄적으로 수행하는데 지장이 초래되는 문제가 있었다. On the other hand, in order to determine the passability by comparing the measurement results of the panel with the criterion for determination, it is necessary to collect the measurement results for the dimensions and shapes of the individually measured panels and make them into data, and then compare them with the criterion for determination of acceptance. Too much time was spent. In addition, when the panel's measurement result is judged to fail, it is necessary to identify the cause and take corrective action at the manufacturing site, or to delay the corrective action because the measurement result cannot be delivered to the manufacturing site promptly. Furthermore, there was a problem that caused enormous obstacles in the production of the panel. In addition, when the manufacturing site is divided and installed, it is difficult to share data on the measurement results of the panel, causing problems in carrying out the panel research and development collectively.

본 발명은 상기한 바와 같은 종래의 제반 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 본 발명의 목적은 측정을 자동으로 수행할 수 있도록 한 음극선관용 판넬의 측정 시스템을 제공하는데 있다.The present invention has been made to solve the above-mentioned conventional problems, and an object of the present invention is to provide a measuring system of a panel for a cathode ray tube to perform the measurement automatically.

본 발명의 다른 목적은 측정 결과의 합격 여부를 신속하게 판정할 수 있는 음극선관용 판넬의 측정 시스템을 제공하는데 있다.Another object of the present invention is to provide a measuring system for a cathode ray tube panel that can quickly determine whether or not the result of a measurement is passed.

본 발명의 또 다른 목적은 측정 정밀도가 향상되도록 한 음극선관용 판넬 측정 시스템을 제공하는데 있다.It is still another object of the present invention to provide a panel measurement system for cathode ray tubes in which measurement accuracy is improved.

본 발명의 또 다른 목적은 측정 결과를 데이터화하여 공유할 수 있는 음극선관용 판넬의 측정 시스템을 제공하는데 있다.It is still another object of the present invention to provide a measurement system for a cathode ray tube panel that can share the measurement results by data.

본 발명의 또 다른 목적은 능률적이고 경제적인 운영이 가능한 음극선관용 판넬의 측정 시스템을 제공하는데 있다.It is another object of the present invention to provide a measuring system for a cathode ray tube panel capable of efficient and economical operation.

본 발명의 또 다른 목적은 시료의 채취없이 측정이 가능해지도록 한 음극선관용 측정 시스템을 제공하는데 있다.It is still another object of the present invention to provide a measuring system for a cathode ray tube that enables measurement without taking a sample.

이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 특징은, 베이스와; 베이스의 상면에 음극선관용 판넬의 위치를 결정하여 측정 위치를 제공할 수 있도록 승,하강 운동이 가능하게 설치되며, 베이스의 하면에 로드를 갖도록 설치되는 다수의 실린더와, 실린더의 로드에 판넬의 헤이스를 지지할 수 있도록 설치되는 서포트 핀과, 판넬의 훼이스를 흡착할 수 있도록 장착되는 진공 패드를 갖는 포지셔너와; 베이스의 상면에 측정의 기준 평면을 제공할 수 있도록 포지셔너의 실린더에 의하여 승,하강 운동이 가능하게 설치되고, 상면 중앙에 판넬의 훼이스의 중앙을 지지하여 측정 지지점을 제공하는 게이지 핀이 장착되어 있는 레퍼런스 게이지와; 판넬을 검지하는 제 1 터치 센서의 프로브를 상하좌우 및 선회 운동시키는 로봇과; 베이스를 따라 이동 가능하게 설치되어 측정 위치에서 판넬을 배출시키며, 판넬이 올려 놓여지는 복수의 서포트 바를 갖는 캐리어 유닛과, 캐리어 유닛을 이동시키는 로드레스 실린더로 구성되는 배출 장치와; 판넬의 측정 공정을 제어하는 컴퓨터를 포함하는 음극선관용 판넬의 측정 시스템에 있다.Features of the present invention for achieving this object, the base; On the upper surface of the base, the cathode ray tube panel is installed to enable the lifting and lowering movement to provide the measurement position, and a number of cylinders installed to have a rod on the lower surface of the base, and the panel's hayss on the rod of the cylinder. A positioner having a support pin installed to support the vacuum pin and a vacuum pad mounted to absorb a face of the panel; The cylinder can be moved up and down by the positioner's cylinder to provide a reference plane of measurement on the upper surface of the base, and a gauge pin is provided at the center of the upper surface to support the center of the panel's face to provide a measuring support point. A reference gauge; A robot configured to vertically and horizontally rotate the probe of the first touch sensor detecting the panel; A discharging device comprising a carrier unit having a plurality of support bars on which the panel is mounted to move along the base and discharging the panel at the measurement position, and a rodless cylinder for moving the carrier unit; A measurement system for a cathode ray tube panel that includes a computer controlling the measurement process of the panel.

이하, 본 발명에 따른 음극선관용 판넬의 측정 시스템에 대한 바람직한 실시예를 첨부된 도면에 의거하여 상세하게 설명한다.Hereinafter, a preferred embodiment of a measuring system for a cathode ray tube panel according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1 내지 도 12는 본 발명에 따른 음극선관용 판넬의 측정 시스템을 설명하기 위하여 나타낸 도면이다.1 to 12 are views for explaining the measurement system of the cathode ray tube panel according to the present invention.

먼저, 도 1에 나타낸 바와 같이, 음극선관의 판넬(10)은 훼이스(12)와, 이 훼이스(12)의 가장자리로부터 후방으로 형성되는 스커트(14)를 갖추고 있다. 스커트(14)는 시일에지(16)를 가지며, 스커트(14)의 측면에는 프레스 성형 자국인 몰드 매치 라인(mold match line: 18)이 남게 된다. 판넬(10)은 장축과 단축을 갖는 대략 직사각형으로 형성되고, 판넬(10)의 치수는 대각선 길이에 따라 인치를 단위로 사용하여 구분하고 있다.First, as shown in FIG. 1, the panel 10 of the cathode ray tube includes a face 12 and a skirt 14 formed rearward from the edge of the face 12. The skirt 14 has a seal edge 16, and a mold match line 18, which is a press molding mark, is left on the side of the skirt 14. The panel 10 is formed into a substantially rectangular shape having a long axis and a short axis, and the dimensions of the panel 10 are divided using an inch unit according to the diagonal length.

도 2, 도 3 및 도 4에 나타낸 바와 같이, 상기한 판넬(10)은 3차원 측정을 수행하는 측정 시스템(20)의 측정 위치로 공급된다. 측정 시스템(20)는 3차원 측정에 의해 판넬(10)의 치수와 시일에지(16)의 두께, 내측 및 외측 다이어그램, 그리고 훼이스(12)의 중심 두께, 전체 높이(overall height), 웨지, 핀 프레인 에지 롤(pin plane edge roll), 핀 클리어런스(pin clearance), 몰드 매치 아웃사이드 다이어그램(mold match outside diagram) 등 대략 9개 정도의 항목을 측정할 수 있다. As shown in Figs. 2, 3 and 4, the panel 10 is supplied to the measurement position of the measurement system 20 which performs three-dimensional measurement. The measuring system 20 measures the dimensions of the panel 10 and the thickness of the seal edge 16, the inner and outer diagrams, and the central thickness of the face 12, overall height, wedges and pins by three-dimensional measurements. Approximately nine items can be measured: a pin plane edge roll, a pin clearance, and a mold match outside diagram.

한편, 측정 시스템(20)은 측정의 정밀도를 유지할 수 있는 정반(22)을 가지며, 정반(22)의 상면 한쪽에 베이스(24)가 설치되고, 베이스(24)의 후방 상면에는 복수의 안내구멍(26)이 길이 방향을 따라 나란하게 형성된다. 베이스(24)의 상면에는 판넬(10)의 위치를 결정하여 측정할 수 있도록 측정 위치를 제공하는 포지셔너(positioner: 30)가 설치된다.On the other hand, the measurement system 20 has a surface plate 22 which can maintain the accuracy of measurement, and a base 24 is provided on one side of the upper surface of the surface plate 22, and a plurality of guide holes are provided on the rear upper surface of the base 24. (26) are formed side by side along the longitudinal direction. On the upper surface of the base 24, a positioner 30 is provided to provide a measurement position so that the position of the panel 10 can be determined and measured.

도 5 내지 도 7에 나타낸 바와 같이, 포지셔너(30)는 베이스(24)의 하면에 다수의 실린더(32)가 로드(32a)를 갖도록 설치되며, 로드(32a)의 양쪽에는 커넥팅 로드(34)가 베이스(24)의 상방으로 돌출되도록 연결되고, 커넥팅 로드(34)의 선단에 무빙 블록(36)이 장착된다. 무빙 블록(36)의 중앙에 설치홈(38)이 형성되며, 무빙 블록(36)의 설치홈(38)에는 판넬(10)의 훼이스(12)를 지지하는 서포트 핀(40)이 설치되며, 서포트 핀(40)의 선단은 구면(40a)으로 형성된다. 도면에서 서포트 핀(40)은 3개가 배치되어 훼이스(12)를 3점 지지할 수 있도록 설치된 것을 나타냈으나, 서포트 핀(40)의 숫자 및 위치는 적절하게 변경할 수 있다. 5 to 7, the positioner 30 is installed on the lower surface of the base 24 such that a plurality of cylinders 32 have rods 32a, and connecting rods 34 on both sides of the rod 32a. Is connected to protrude upward of the base 24, and the moving block 36 is mounted at the tip of the connecting rod 34. An installation groove 38 is formed in the center of the moving block 36, and a support pin 40 for supporting the face 12 of the panel 10 is installed in the installation groove 38 of the moving block 36. The tip of the support pin 40 is formed into a spherical surface 40a. In the figure, three support pins 40 are disposed to be installed to support the face 12 three points, but the number and position of the support pins 40 can be changed as appropriate.

또한, 포지셔너(30)는 커넥팅 로드(34)의 한쪽에 커넥팅 플레이트(42)가 연결되고, 커넥팅 플레이트(42)의 상면에는 포스트(44)가 스프링(46)의 탄성력을 부여받아 베이스(24)의 상방으로 승,하강 운동이 가능하도록 설치되며, 포스트(44)의 선단에 훼이스(12)를 흡착하는 진공 패드(48)가 장착된다. 진공 패드(48)는 서포트 핀(40)의 사이에 2개가 동일 직선상에 위치되도록 설치된 것을 나타냈으나, 진공 패드(48)의 숫자 및 위치는 적절하게 변경할 수 있다. 이와 같은 포지셔너(30)의 서포트 핀(40)과 진공 패드(48)는 승강되어 판넬(10)의 측정을 수행할 수 있는 측정 위치를 제공하게 된다.In addition, the positioner 30 has a connecting plate 42 connected to one side of the connecting rod 34, and a post 44 is provided with an elastic force of the spring 46 on the upper surface of the connecting plate 42 to receive the base 24. It is installed to enable the upward and downward movement of the upper side, and a vacuum pad 48 for adsorbing the face 12 on the tip of the post 44 is mounted. Although the vacuum pad 48 was shown so that two may be located in the same straight line between the support pins 40, the number and position of the vacuum pad 48 can be changed suitably. The support pin 40 and the vacuum pad 48 of the positioner 30 are lifted to provide a measurement position for performing the measurement of the panel 10.

도 5 및 도 8에 나타낸 바와 같이, 베이스(24)의 상면에는 진공 패드(48) 사이를 가로지르는 레퍼런스 게이지(reference gauge: 50)가 설치되고, 레퍼런스 게이지(50)는 복수의 포스트(52)에 의해 커넥팅 플레이트(42)의 상면에 서포트 핀(40), 진공 패드(48)와 함께 승,하강 운동이 가능하도록 고정된다. 레퍼런스 게이지(50)는 수평 바(50a)의 양쪽에 수직 바(50b)가 수직으로 각각 형성되고, 수평 바(50b)의 양쪽 모서리에는 경사면(50c)이 각각 형성되며, 수직 바(50b)의 끝에는 기준 바(50d)가 수평으로 각각 형성된다. 여기에서, 레퍼런스 게이지(50)는 기준 바(50d)가 베이스(24)의 측방에 위치할 수 있도록 수평 바(50a)의 폭이 베이스(24)의 폭보다 길게 형성되고, 기준 바(50d)의 상면은 정밀 가공되는 것이 바람직하다. 그리고, 수평 바(50a)의 중앙에 훼이스(12)의 중앙을 지지할 수 있도록 게이지 핀(54)이 장착되고, 게이지 핀(54)의 선단은 구면(54a)으로 형성되며, 게이지 핀(54)은 훼이스(12)의 중앙을 지지하여 측정 기준점을 제공하게 된다.5 and 8, the upper surface of the base 24 is provided with a reference gauge 50 that intersects between the vacuum pads 48, and the reference gauge 50 includes a plurality of posts 52. The upper and lower surfaces of the connecting plate 42 are fixed together with the support pins 40 and the vacuum pads 48 so that the lifting and lowering motions are possible. The reference gauge 50 has vertical bars 50b vertically formed on both sides of the horizontal bar 50a, and inclined surfaces 50c are formed at both corners of the horizontal bar 50b, respectively. At the ends, the reference bars 50d are formed horizontally, respectively. Here, the reference gauge 50 is formed so that the width of the horizontal bar 50a is longer than the width of the base 24 so that the reference bar 50d can be located on the side of the base 24, and the reference bar 50d The upper surface of the is preferably precision processed. And, the gauge pin 54 is mounted to support the center of the face 12 in the center of the horizontal bar (50a), the tip of the gauge pin 54 is formed of a spherical surface 54a, the gauge pin 54 ) Supports the center of the face 12 to provide a measurement reference point.

도 3 및 도 4를 다시 참조하여 설명하면, 측정 시스템(20)는 정반(22)의 상면에 설치되는 로봇(60)을 가지며, 로봇(60)은 복수의 칼럼(column: 62)에 세로 레일(64)이 설치되고, 이 세로 레일(64)을 따라 세로 액츄에이터(66)의 구동에 의해 가로 레일(68)이 직선 이송되도록 설치되며, 가로 레일(68)의 끝에는 정반(22)의 상면을 따라 이동되면서 가로 레일(68)을 지지할 수 있도록 다리(70)가 수직으로 연결된다. 또한, 로봇(60)의 가로 레일(68)에는 가로 액츄에이터(72)의 구동에 의해 캐리어(carrier: 80)가 직선 이송되도록 설치된다. 즉, 로봇(60)의 캐리어(80)는 가로 및 세로 레일(64, 68)에 의해 직교 좌표를 따라 운동하게 되며, 로봇(60)에 의한 캐리어(80)의 운동 범위는 대략 가로 1000mm, 세로 700mm 정도가 바람직하다. 로봇(60)의 캐리어(80)에는 실린더(82)의 구동에 의해 손목(84)이 수직 운동되도록 설치되고, 손목(84)에는 손(86)이 액츄에이터(88)의 구동에 선회되도록 설치된다. 로봇(60)의 손(86)에는 제 1 터치 센서(touch sensor: 90)가 설치되며, 제 1 터치 센서(90)는 선단에 판넬(10)을 접촉에 의해 검지하는 프로브(probe: 92)를 갖는다. 제 1 터치 센서(90)의 외주면 한쪽에 판넬(10)의 몰드 매치 라인(18)과 접촉되어 몰드 매치 아웃사이드 다이어그램을 측정할 수 있도록 원형의 제 2 터치 센서(94)가 프로브(96)을 갖도록 설치된다.Referring again to FIGS. 3 and 4, the measurement system 20 has a robot 60 installed on the upper surface of the surface plate 22, and the robot 60 has a vertical rail in a plurality of columns 62. (64) is installed, and the horizontal rail (68) is installed so that the horizontal rail (68) is linearly conveyed by driving the vertical actuator (66) along the vertical rail (64), and the upper surface of the surface plate (22) is disposed at the end of the horizontal rail (68). The legs 70 are vertically connected to support the horizontal rails 68 while being moved along. In addition, the horizontal rail 68 of the robot 60 is installed so that the carrier 80 is linearly transferred by driving the horizontal actuator 72. That is, the carrier 80 of the robot 60 moves along the rectangular coordinates by the horizontal and vertical rails 64 and 68, and the movement range of the carrier 80 by the robot 60 is approximately 1000 mm horizontally and vertically. About 700 mm is preferable. The carrier 80 of the robot 60 is installed such that the wrist 84 is vertically moved by the driving of the cylinder 82, and the wrist 84 is installed so that the hand 86 is pivoted by the driving of the actuator 88. . A first touch sensor 90 is installed on the hand 86 of the robot 60, and the first touch sensor 90 is a probe 92 that detects the panel 10 by contact with a tip thereof. Has The circular second touch sensor 94 is configured to contact the probe 96 so as to contact the mold match line 18 of the panel 10 on one side of the outer circumferential surface of the first touch sensor 90 to measure the mold match outside diagram. It is installed to have.

도 11 및 도 12에 나타낸 바와 같이, 측정 시스템(20)의 구동에 의해 측정이 완료된 판넬(10)은 측정 시스템(20)의 측정 위치로부터 배출 장치(100)의 구동에 의해 배출되고, 배출 장치(100)는 판넬(10)을 운반하는 캐리어 유닛(110)을 갖추고 있다. 캐리어 유닛(110)은 무빙 블록(112)의 상면 양쪽에 베이스(24)의 안내구멍(26)을 통하여 베이스(24)의 상면으로 돌출되도록 브래킷(114)이 각각 장착되고, 브래킷(114)에는 복수의 서포트 바(116)가 서로 나란하게 각각 장착된다. 여기에서, 서포트 바(116)의 높이는 판넬(10)의 훼이스(12)와 간섭되지 않도록 판넬(10)의 측정 위치보다 낮게 장착된다. 그리고, 서포트 바(116)의 외주면에는 판넬(10)이 보호되도록 복수의 커버(120)가 씌워지며, 커버(120)는 수지를 소재로 제작하는 것이 바람직하다. 무빙 블록(112)은 로드레스 실린더(rodless cylinder: 130)의 구동에 의해 레일(140)을 따라 측정 위치로부터 배출 위치로 이동된다. 그리고, 베이스(24)의 전방에는 캐리어 유닛(110)이 배출 위치로 이동된 상태를 감지하는 센서(150)가 설치된다. As shown in FIGS. 11 and 12, the panel 10 whose measurement is completed by the driving of the measuring system 20 is discharged by the driving of the discharging device 100 from the measuring position of the measuring system 20, and the discharging device 100 is equipped with a carrier unit 110 that carries a panel 10. The carrier unit 110 has brackets 114 mounted on both sides of the upper surface of the moving block 112 so as to protrude to the upper surface of the base 24 through the guide holes 26 of the base 24. A plurality of support bars 116 are mounted in parallel with each other. Here, the height of the support bar 116 is mounted lower than the measurement position of the panel 10 so as not to interfere with the face 12 of the panel 10. In addition, the outer circumferential surface of the support bar 116 is covered with a plurality of covers 120 to protect the panel 10, the cover 120 is preferably made of a resin material. The moving block 112 is moved from the measurement position to the discharge position along the rail 140 by the driving of a rodless cylinder 130. In addition, a sensor 150 for detecting a state in which the carrier unit 110 is moved to the discharge position is installed in front of the base 24.

도 2에 나타낸 바와 같이, 본 발명은 일련의 측정 공정을 제어하는 컴퓨터(160)를 갖추고 있다. 컴퓨터(160)는 마이크로프로세서와, 키보드, 마우스 등의 입력 장치와, 모니터, 프린터 등의 출력 장치를 갖추고 있으며, 이 컴퓨터(160)에는 이동이 자유로운 컨트롤 콘솔(control console: 162)이 케이블(164)에 의해 연결된다. 컨트롤 콘솔(162)의 수동 조작에 의해 컴퓨터(160)의 운영을 제어할 수 있고, 컨트롤 콘솔(162)의 사용에 의해 측정 공정의 이상 상태를 작업자가 쉽게 확인할 수 있어 운영의 융통성이 높아지게 된다. 한편, 컴퓨터(160)는 미리 설정된 순서, 조건, 위치 등에 정보에 따라 측정 시스템(20)의 구동에 의해 얻어진 측정 결과를 저장 및 출력함과 아울러 데이터화시켜 저장한다. 또한, 컴퓨터(160)에는 또 다른 컴퓨터를 접속시켜 지역 네트워크를 용이하게 구현시킬 수 있다. 한편, 본 발명의 측정 시스템(20)은 판넬(10)의 중심을 맞추는 센터링 장치(170)와, 이 센터링 장치(170)에서 중심이 맞춰진 판넬(10)을 측정 시스템(20)의 측정 위치로 이송시키는 이송 장치(180)와, 연마 전,후 판넬(10)의 형상 및 거칠기를 측정하는 형상 및 거칠기 측정기(190)와 연계시켜 운영할 수 있다.As shown in FIG. 2, the present invention includes a computer 160 that controls a series of measurement processes. The computer 160 has a microprocessor, input devices such as a keyboard and a mouse, and output devices such as a monitor and a printer. The computer 160 includes a control console 162 which can be moved freely. Connected by). The operation of the computer 160 can be controlled by manual operation of the control console 162, and the operator can easily check the abnormal state of the measurement process by using the control console 162, thereby increasing the flexibility of the operation. On the other hand, the computer 160 stores and outputs the measurement results obtained by the driving of the measurement system 20 in accordance with information on a predetermined order, condition, position, and the like, and stores them in data. In addition, the computer 160 can be easily connected to another computer to implement a local area network. On the other hand, the measuring system 20 of the present invention, the centering device 170 centering the panel 10, and the panel 10 centered in the centering device 170 to the measuring position of the measuring system 20 It may be operated in conjunction with the transfer device 180 to transfer, and the shape and roughness measuring device 190 to measure the shape and roughness of the panel 10 before and after polishing.

상술한 바와 같은 본 발명에 따른 음극선관용 판넬의 측정 시스템에 대한 작동 상태를 설명하면 다음과 같다.Referring to the operating state of the measurement system of the cathode ray tube panel according to the present invention as described above are as follows.

도 3 내지 도 5, 도 7에 나타낸 바와 같이, 판넬(10)은 센터링 장치(170)의 구동에 의해 중심이 맞춰진 후, 이송 장치(180)의 구동에 의해 측정 시스템(20)의 측정 위치로 공급된다. 판넬(10)이 측정 위치로 공급되기 전에 실린더(32)의 구동에 의해 포지셔너(30)의 서포트 핀(40), 진공 패드(48)와 레퍼런스 게이지(50)를 승강시킨 상태에서 포지셔너(30)의 상부에 판넬(10)을 공급시킨다. 3 to 5 and 7, the panel 10 is centered by the driving of the centering device 170 and then moved to the measurement position of the measuring system 20 by the driving of the transfer device 180. Supplied. Positioner 30 in a state in which the support pin 40, the vacuum pad 48 and the reference gauge 50 of the positioner 30 are raised and lowered by driving the cylinder 32 before the panel 10 is supplied to the measurement position. The panel 10 is supplied to the top of the panel.

이와 같이 판넬(10)이 공급되면, 훼스트(12)의 중앙이 게이지 핀(54)의 구면(54a)에 지지되며, 이로 인하여 판넬(10)의 하강이 정지되면서 측정 위치가 결정된다. 그리고, 서포트 핀(40)의 구면(40a)이 훼이스(12)를 3점 지지하여 판넬(10)을 안정적으로 받쳐주게 되고, 진공 패드(48)는 훼이스(12)를 흡착하여 판넬(10)의 유동을 방지하게 되며, 이로 인하여 판넬(10)의 측정 위치가 결정된다. 한편, 진공 패드(48)가 훼이스(12)를 흡착할 때에는 포스트(44)가 스프링(46)의 탄성변형에 의해 승,하강 운동되면서 충격을 흡수하게 되어 흡착이 안정적으로 이루어지게 된다. When the panel 10 is supplied in this way, the center of the paste 12 is supported by the spherical surface 54a of the gauge pin 54, whereby the lowering of the panel 10 is stopped and the measurement position is determined. Then, the spherical surface 40a of the support pin 40 supports the face 12 three points to stably support the panel 10, and the vacuum pad 48 adsorbs the face 12 to the panel 10. This prevents the flow of, thereby determining the measurement position of the panel 10. On the other hand, when the vacuum pad 48 adsorbs the face 12, the post 44 is moved up and down by the elastic deformation of the spring 46 to absorb the shock, so that the adsorption is made stable.

도 9a 내지 도 9e, 도 10에 나타낸 바와 같이, 측정 시스템(20)의 포지셔너(30)에 의해 판넬(10)의 측정 위치가 결정된 후에는, 로봇(60)의 구동에 의해 판넬(10)의 3차원 측정을 수행한다. 로봇(60)은 세로 및 가로 액츄에이터(66, 72)의 구동에 의해 세로 및 가로 레일(64, 68)의 직교 좌표를 따라 캐리어(80)를 운동시키며, 이 캐리어(80)의 운동과 동시에 실린더(82)의 구동에 의해 손목(84)을 승,하강시켜 제 1 터치 센서(90)의 프로브(92)를 지정 위치로 이동시키면서 측정을 수행한다. 3차원 측정의 예를 들면, 먼저 레퍼런스 게이지(50)의 기준 바(50d)에 제 1 터치 센서(90)의 프로브(92)를 접촉시킨 후 훼이스(12)의 내면 중앙에 접촉시키게 되면, 기준바(50d)로부터 훼이스(12)의 내면 중앙까지의 거리를 측정할 수 있고, 이러한 측정에 의해 훼이스(12)의 중심 두께를 측정할 수 있게 된다. 또한, 프로브(92)를 스커트(14)의 각 내,외면에 순차적으로 접촉시키는 것에 의해 판넬(10)의 치수와, 시일에지(16)의 두께, 내측 및 외측 다이어그램을 측정할 수 있게 된다. 9A to 9E and 10, after the measurement position of the panel 10 is determined by the positioner 30 of the measurement system 20, the panel 10 is driven by the robot 60. Perform three-dimensional measurements. The robot 60 moves the carrier 80 along the orthogonal coordinates of the longitudinal and transverse rails 64, 68 by the driving of the longitudinal and transverse actuators 66, 72, and at the same time as the movement of the carrier 80, the cylinder The wrist 84 is raised and lowered by the driving of 82 to move the probe 92 of the first touch sensor 90 to a predetermined position, and the measurement is performed. For example, in the case of three-dimensional measurement, if the probe 92 of the first touch sensor 90 is first brought into contact with the reference bar 50d of the reference gauge 50 and then contacted with the inner center of the face 12, the reference The distance from the bar 50d to the center of the inner surface of the face 12 can be measured, and the center thickness of the face 12 can be measured by this measurement. Further, by sequentially contacting the probe 92 to each of the inner and outer surfaces of the skirt 14, the dimensions of the panel 10, the thickness of the seal edge 16, the inner and outer diagrams can be measured.

한편, 판넬(10)의 핀 클리어런스, 핀 프레인 에지 롤 등과 같은 항목을 측정할 때에는, 액츄에이터(88)의 구동에 의해 제 2 터치 센서(94)가 판넬(10)에 접촉되지 않도록 제 1 터치 센서(90)를 소정의 각도로 선회시켜 측정을 수행한다. 그리고, 제 2 터치 센서(94)의 프로브(96)를 판넬(10)의 몰드 매치 라인(18)과 순차적으로 접촉시키는 것에 의해 몰드 매치 아웃사이드 다이어그램을 측정할 수 있게 된다. On the other hand, when measuring items such as pin clearance, pin plane edge roll, etc. of the panel 10, the first touch sensor is prevented from contacting the panel 10 with the second touch sensor 94 driven by the actuator 88. The measurement is performed by turning 90 at a predetermined angle. The mold match outside diagram can be measured by sequentially contacting the probe 96 of the second touch sensor 94 with the mold match line 18 of the panel 10.

이와 같이 측정 시스템(20)의 구동에 의해 판넬(10)의 측정을 자동으로 수행할 있으므로, 작업의 연속성과 효율성이 향상된다. 또한, 시료를 채취하지 않고서도 훼이스(12)의 중심 두께를 측정할 수 있어 측정 작업이 단순화되며, 측정 작업에 전문적이고 많은 인력이 필요없게 될 뿐만 아니라, 측정 시간을 크게 단축시킬 수 있게 된다. 그리고, 측정 시스템(20)의 측정 결과는 컴퓨터(160)에 입력되며, 컴퓨터(160)는 측정 시스템(20)으로부터 입력되는 측정 결과를 데이터화하여 판정 기준과 비교하고, 이것의 합격 여부를 결정한다.As such, since the measurement of the panel 10 is automatically performed by driving the measurement system 20, the continuity and efficiency of the work are improved. In addition, since the center thickness of the face 12 can be measured without taking a sample, the measurement work is simplified, and the measurement work is not only professional and requires much manpower, but also the measurement time can be greatly shortened. Then, the measurement result of the measurement system 20 is input to the computer 160, and the computer 160 converts the measurement result input from the measurement system 20 into data and compares it with the determination criteria, and determines whether or not the result is passed. .

도 11 및 도 12에 나타낸 바와 같이, 측정 시스템(20)의 구동에 의해 판넬(10)의 측정이 완료되면, 배출 장치(100)의 구동에 의해 측정 시스템(20)의 측정 위치에서 배출 위치로 판넬(10)을 배출시킨다. 배출 장치(100)는 캐리어 유닛(110)의 무빙 블록(112)이 로드레스 실린더(130)의 구동에 의해 레일(140)을 따라 배출 위치에서 측정 위치로 이동되면, 서포트 바(116)가 판넬(10)의 하방에 위치하게 된다. 이러한 상태에서, 실린더(32)의 구동에 의해 로드(32a)를 후퇴시켜 포지셔너(30)의 서포트 핀(40), 진공 패드(48)와 레퍼런스 게이지(50)를 초기 위치로 복귀시킨다. 서포트 핀(40)과 진공 패드(48)가 초기 위치로 복귀되는 과정에서 판넬(10)의 훼이스(12)가 캐리어 유닛(110)의 서포트 바(116)에 지지된다. 이때, 판넬(10)의 단축은 서포트 바(116)의 길이 방향을 따라 올려놓여지게 되며, 커버(120)는 판넬(10)을 충격으로부터 보호하여 긁힘 등을 방지하게 된다. 이와 같이 판넬(10)이 서포트 바(116)에 올려놓여지면, 로드레스 실린더(130)의 구동에 의해 캐리어 유닛(110)의 무빙 블록(112)을 측정 위치에서 배출 위치로 이동시키고, 캐리어 유닛(110)이 배출 위치로 이동된다. 이 상태는 센서(150)의 작동에 의해 감지되어 배출이 완료된 것으로 컴퓨터(160)에 입력된다.As shown in FIGS. 11 and 12, when the measurement of the panel 10 is completed by the driving of the measuring system 20, the measuring device 20 is moved from the measuring position to the discharge position by driving the discharging device 100. Drain the panel 10. The discharging device 100 supports the support bar 116 when the moving block 112 of the carrier unit 110 is moved from the discharging position to the measuring position along the rail 140 by the drive of the rodless cylinder 130. It is located below (10). In this state, the rod 32a is retracted by the driving of the cylinder 32 to return the support pin 40, the vacuum pad 48, and the reference gauge 50 of the positioner 30 to the initial position. In the process of returning the support pin 40 and the vacuum pad 48 to the initial position, the face 12 of the panel 10 is supported by the support bar 116 of the carrier unit 110. At this time, the shortening of the panel 10 is placed along the longitudinal direction of the support bar 116, the cover 120 to protect the panel 10 from impact to prevent scratches and the like. When the panel 10 is placed on the support bar 116 in this way, the moving block 112 of the carrier unit 110 is moved from the measurement position to the discharge position by the drive of the rodless cylinder 130. 110 is moved to the discharge position. This state is detected by the operation of the sensor 150 and the discharge is completed is input to the computer 160.

한편, 상기한 실시예는 본 발명의 바람직한 실시예를 설명한 것에 불과하고, 본 발명의 적용 범위는 이와 같은 것에 한정되는 것은 아니며 동일 사상의 범주내에서 적절하게 변경 가능한 것이다. 예를 들어 본 발명의 실시예에 나타난 각 구성 요소의 형상 및 구조는 변형하여 실시할 수 있는 것이다. 또한, 본 발명은 판넬의 측정이외에 각종 보드, 플레이트 등의 측정에도 널리 사용할 수 있는 것이다.On the other hand, the above embodiment is only a description of the preferred embodiment of the present invention, the scope of application of the present invention is not limited to this, and can be changed as appropriate within the scope of the same idea. For example, the shape and structure of each component shown in the embodiment of the present invention can be modified. In addition, the present invention can be widely used for the measurement of various boards, plates and the like in addition to the measurement of the panel.

이상에서 설명한 바와 같이 본 발명에 따른 음극선관용 판넬의 측정 시스템에 의하면, 컴퓨터의 제어에 의해 판넬의 3차원 측정을 자동으로 수행할 수 있으므로, 측정 결과의 합격 여부를 신속하고 정확하게 판정할 수 있을 뿐만 아니라, 판넬의 측정 결과에 이상이 있는 경우에도 제조 현장 등에 신속한 조치를 취할 수 있어 제조 공정의 손실을 최소화시킬 수 있는 것이다. 또한, 측정의 자동화로 인하여 정밀도 및 신뢰성이 향상되고, 측정 결과를 데이터화하여 효율적으로 관리할 수 있는 것이다. 그리고, 컴퓨터의 데이터를 지역 네트워크의 구축에 의해 용이하게 공유할 수 있으므로, 판넬의 연구 및 개발을 일괄적으로 수행할 수 있어 능률적이고 경제적인 운영이 가능해지는 것이다. 또한, 시료의 채취 작업이 불필요해져 측정 작업이 단순해지며, 불필요한 인력과 시간의 낭비를 줄일 수 있는 것이다.As described above, according to the measurement system of the cathode ray tube panel according to the present invention, since the three-dimensional measurement of the panel can be automatically performed under the control of the computer, it is possible to quickly and accurately determine whether the measurement result is passed. In addition, even if there is an abnormality in the measurement results of the panel can be quickly taken to the manufacturing site and the like can minimize the loss of the manufacturing process. In addition, accuracy and reliability are improved due to the automation of the measurement, and the measurement results can be efficiently managed by data. In addition, since computer data can be easily shared by building a local network, panel research and development can be performed collectively, and efficient and economical operation is possible. In addition, the sample collection operation is unnecessary, which simplifies the measurement operation and reduces unnecessary manpower and waste of time.

도 1은 일반적인 음극선관용 판넬을 나타낸 단면도,1 is a cross-sectional view showing a panel for a typical cathode ray tube,

도 2는 본 발명에 따른 음극선관용 판넬의 측정 시스템의 사용 상태를 개략적으로 나타낸 정면도,Figure 2 is a front view schematically showing the state of use of the measuring system of the cathode ray tube panel according to the present invention,

도 3은 본 발명에 따른 측정 시스템을 나타낸 평면도,3 is a plan view showing a measuring system according to the present invention;

도 4는 본 발명에 따른 측정 시스템을 나타낸 정면도,4 is a front view showing a measurement system according to the present invention,

도 5는 본 발명에 따른 측정 시스템의 포지셔너를 나타낸 사시도,5 is a perspective view showing a positioner of the measuring system according to the present invention;

도 6은 본 발명에 따른 측정 시스템의 포지셔너를 나타낸 정면도,6 is a front view showing a positioner of the measuring system according to the present invention;

도 7은 도 6의 작동 상태도,7 is an operating state diagram of FIG.

도 8는 본 발명에 따른 측정 시스템의 레퍼런스 게이지를 나타낸 정면도,8 is a front view showing a reference gauge of the measuring system according to the present invention;

도 9a 내지 도 9e는 본 발명에 따른 측정 시스템에 의한 측정 상태를 나타낸 정면도,9a to 9e are front views showing the measurement state by the measurement system according to the present invention,

도 10은 본 발명에 따른 측정 시스템에 의한 측정 상태를 나타낸 사시도,10 is a perspective view showing a measurement state by the measurement system according to the present invention;

도 11은 본 발명에 따른 측정 시스템에서 배출 장치를 나타낸 정면도,11 is a front view showing the discharge device in the measuring system according to the present invention,

도 12는 본 발명에 따른 배출 장치를 나타낸 측면도이다.12 is a side view showing a discharge device according to the present invention.

♣ 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 ♣ ♣ Explanation of symbols for the main parts of the drawing ♣

10: 판넬 20: 측정 시스템10: Panel 20: Measuring system

24: 베이스 30: 포지셔너24: base 30: positioner

32: 실린더 40: 서포트 핀32: cylinder 40: support pin

48: 진공 패드 50: 레퍼런스 게이지48: vacuum pad 50: reference gauge

54: 게이지 핀 60: 로봇54: gauge pin 60: robot

80: 캐리어 90: 제 1 터치 센서80: carrier 90: first touch sensor

94: 제 2 터치 센서 100: 배출 장치94: second touch sensor 100: discharge device

130: 로드레스 실린더 140: 레일130: rodless cylinder 140: rail

150: 센서 160: 컴퓨터150: sensor 160: computer

Claims (6)

베이스와;A base; 상기 베이스의 상면에 음극선관용 판넬의 위치를 결정하여 측정 위치를 제공할 수 있도록 승,하강 운동이 가능하게 설치되며, 상기 베이스의 하면에 로드를 갖도록 설치되는 다수의 실린더와, 상기 실린더의 로드에 상기 판넬의 훼이스를 지지할 수 있도록 설치되는 서포트 핀과, 상기 판넬의 훼이스를 흡착할 수 있도록 장착되는 진공 패드를 갖는 포지셔너와;In order to determine the position of the cathode ray tube panel on the upper surface of the base and to move up and down to provide a measurement position, and a plurality of cylinders installed to have a rod on the lower surface of the base and the rod of the cylinder A positioner having a support pin installed to support a face of the panel, and a vacuum pad mounted to absorb the face of the panel; 상기 베이스의 상면에 측정의 기준 평면을 제공할 수 있도록 상기 포지셔너의 실린더에 의하여 승,하강 운동이 가능하게 설치되고, 상면 중앙에 상기 판넬의 훼이스의 중앙을 지지하여 측정 지지점을 제공하는 게이지 핀이 장착되어 있는 레퍼런스 게이지와;Gauge pins are provided to enable the lifting and lowering movement by the cylinder of the positioner so as to provide a reference plane of measurement on the upper surface of the base, and to support the center of the face of the panel on the upper surface to provide a measuring support point. A reference gauge mounted; 상기 판넬을 검지하는 제 1 터치 센서의 프로브를 상하좌우 및 선회 운동시키는 로봇과;A robot configured to vertically and horizontally rotate the probe of the first touch sensor detecting the panel; 상기 베이스을 따라 이동 가능하게 설치되어 상기 측정 위치에서 상기 판넬을 배출시키며, 상기 판넬이 올려 놓여지는 복수의 서포트 바를 갖는 캐리어 유닛과, 상기 캐리어 유닛을 이동시키를 로드레스 실린더로 구성되는 배출 장치와;A discharge unit configured to be movable along the base to discharge the panel at the measurement position, the carrier unit having a plurality of support bars on which the panel is placed, and a rodless cylinder to move the carrier unit; 상기 판넬의 측정 공정을 제어하는 컴퓨터를 포함하는 음극선관용 판넬의 측정 시스템.A system for measuring a cathode ray tube panel comprising a computer for controlling the measuring process of the panel. 제 1 항에 있어서, 상기 포지셔너는,The method of claim 1, wherein the positioner, 상기 로드 각각의 양쪽에 상기 베이스의 상방으로 돌출되도록 연결되는 커넥팅 로드와;Connecting rods connected to both sides of each of the rods to protrude upwardly of the base; 상기 커넥팅 로드의 선단에 장착되며, 상기 서포트 핀이 중앙에 설치되어 있는 무빙 블록과;A moving block mounted at the front end of the connecting rod and having the support pin at the center thereof; 상기 커넥팅 로드의 한쪽에 연결되는 커넥팅 플레이트와;A connecting plate connected to one side of the connecting rod; 상기 커넥팅 플레이트의 상면에 스프링의 탄성력을 부여받아 승,하강 운동이 가능하도록 설치되고, 상기 진공 패드가 장착되어 있는 복수의 포스트를 더 구비하는 음극선관용 판넬의 측정 시스템.The upper surface of the connecting plate is applied to the elastic force of the spring is installed to enable the up and down movement, the measurement system of the cathode ray tube panel further comprises a plurality of posts that the vacuum pad is mounted. 제 1 항에 있어서, 상기 레퍼런스 게이지는 상기 게이지 핀이 중앙에 장착되어 있는 수평 바를 가지며, 상기 수평 바의 양쪽에 수직 바가 수직으로 각각 형성되고, 상기 수평 바의 양쪽 모서리에 프로브의 간섭이 방지되도록 경사면이 각각 형성되며, 상기 수직 바의 끝에 기준면을 갖는 기준 바가 수평으로 각각 형성되는 음극선관용 판넬의 측정 시스템.The method of claim 1, wherein the reference gauge has a horizontal bar in which the gauge pin is mounted in the center, vertical bars are formed on both sides of the horizontal bar, respectively, and both edges of the horizontal bar to prevent interference of the probe And a sloped surface is formed, respectively, and a reference bar having a reference surface at the end of the vertical bar is formed horizontally, respectively. 제 1 항에 있어서, 상기 제 1 터치 센서의 외주면 한쪽에 상기 판넬의 몰드 매치 라인과 접촉되어 몰드 매치 아웃사이드 다이어그램을 측정할 수 있도록 원형의 제 2 터치 센서가 프로브을 갖도록 추가로 설치되는 음극선관용 판넬의 측정 시스템.The panel for cathode ray tubes according to claim 1, further comprising a circular second touch sensor having a probe on one side of the outer circumferential surface of the first touch sensor so as to be in contact with the mold match line of the panel to measure a mold match outside diagram. Measurement system. 제 1 항에 있어서, 상기 배출 장치는,The method of claim 1, wherein the discharge device, 상기 캐리어 유닛의 이동을 안내하는 레일과;A rail for guiding the movement of the carrier unit; 상기 캐리어 유닛이 배출 위치로 이동된 상태를 감지하는 센서를 더 구비하는 음극선관용 판넬의 측정 시스템.And a sensor for sensing a state in which the carrier unit is moved to the discharge position. 제 5 항에 있어서, 상기 서포트 바의 높이는 상기 판넬의 훼이스와 간섭되지 않도록 그 측정 위치보다 낮게 장착되는 음극선관용 판넬의 측정 시스템.The system of claim 5, wherein the height of the support bar is mounted lower than the measurement position so as not to interfere with the face of the panel.
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