KR100502996B1 - Production and use of octafluoropropane - Google Patents

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KR100502996B1 KR10-2002-7005525A KR20027005525A KR100502996B1 KR 100502996 B1 KR100502996 B1 KR 100502996B1 KR 20027005525 A KR20027005525 A KR 20027005525A KR 100502996 B1 KR100502996 B1 KR 100502996B1
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오히도시오
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쇼와 덴코 가부시키가이샤
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Abstract

(1)불화 촉매의 존재하에, 헥사플루오로프로펜과 불화수소를 기체상으로 150 내지 450℃의 온도에서 반응시켜 2H-헵타플루오로프로판을 얻는 단계와 (2)단계 (1)에서 얻은 2H-헵타플루오로프로판과 불소 기체를 무촉매하에 기체상으로 250 내지 500℃의 온도에서 반응시켜 옥타플루오로프로판을 얻는 단계로 이루어지는 방법에 의하여 옥타플루오로프로판을 제조한다. 반도체 디바이스의 제조 공정에 사용되는 고-순도 옥타플루오로프로판을 얻는다. (1) reacting hexafluoropropene and hydrogen fluoride in a gas phase in the presence of a fluorination catalyst at a temperature of 150 to 450 ° C. to obtain 2H-heptafluoropropane; and (2) 2H obtained in step (1). Octafluoropropane is prepared by a method comprising reacting heptafluoropropane with fluorine gas in a gaseous phase at a temperature of 250 to 500 ° C. to obtain octafluoropropane. The high-purity octafluoropropane used in the manufacturing process of the semiconductor device is obtained.

Description

옥타플루오로프로판의 제조 방법{PRODUCTION AND USE OF OCTAFLUOROPROPANE}Production method of octafluoropropane {PRODUCTION AND USE OF OCTAFLUOROPROPANE}

관련 출원의 대응-참조Corresponding-reference of the relevant application

본 출원은 미국 특허법 제111조의(b)에 따라 2000년 10월 20일에 출원된 가출원 제60/241,838호의 출원일의 이익을 미국 특허법 제119조의(e)(1)에 의거하여 주장하는, 미국 특허법 제111조의(a)에 따른 출원이다. This application claims the benefit of the date of filing of Provisional Application No. 60 / 241,838, filed October 20, 2000, pursuant to Article 111 (b) of the United States Patent Act, pursuant to Article 119 (e) (1) of the United States Patent Act. It is an application under Article 111 (a) of the Patent Act.

본 발명은 옥타플루오로프로판의 제조 방법, 옥타플루오로프로판 제품 및 그 용도에 관한 것이다. The present invention relates to a process for producing octafluoropropane, octafluoropropane products and uses thereof.

옥타플루오로프로판은, 예를 들어 반도체 디바이스 제조 공정에서 건조-에칭 기체 또는 클리닝 기체로서 사용된다. 그 제조 방법으로서 다음 방법들이 알려져 있다:Octafluoropropane is used, for example, as a dry-etching gas or a cleaning gas in semiconductor device manufacturing processes. As the preparation method, the following methods are known:

(1) 헥사플루오로프로펜과 불소 기체를 직접 불화 반응시키는 방법(특개소 62-61572호 공보(JP-B-62-61572))(1) Method for directly fluorinating hexafluoropropene with fluorine gas (JP-A 62-61572 (JP-B-62-61572))

(2) 헥사플루오로프로펜을 불화수소 중에서 전해 불화하는 방법(특개소 62-61115호 공보(JP-B-62-61115))(2) A method for electrolytic fluorination of hexafluoropropene in hydrogen fluoride (JP-A 62-61115 (JP-B-62-61115))

(3) 헥사플루오로프로펜과 불소를 촉매 존재하에 반응시키는 방법(특개평 1-45455호 공보(JP-B-1-45455))(3) Method of reacting hexafluoropropene and fluorine in the presence of a catalyst (JP-A 1-45455 (JP-B-1-45455))

(4) 헥사플루오로프로펜을 고차(high-order) 금속 불화물과 반응시키는 방법(특개소 62-54777호 공보(JP-B-62-54777)).(4) A method of reacting hexafluoropropene with a high-order metal fluoride (JP-A 62-54777 (JP-B-62-54777)).

그러나, 이러한 방법에서는 절단에 의하여 테트라플루오로메탄(CF4) 및 헥사플루오로에탄(C2F6) 등의 부산물이 생성되고, 래디칼 첨가에 의하여 C6F12와 C6F14가 생성되며, 또한, 예컨대 고리화 첨가에 따라 4-원 고리가 생성되고, 결과적으로 목적물인 옥타플루오로프로판의 수율과 선택률이 감소한다. 게다가, 이들 불순물 중 몇몇 화합물은 증류에 의하여 분리하는 것이 어려운데, 다시 말하면 고-순도의 옥타플루오로프로판을 얻는 것이 어렵다. 구체적으로는, 출발 물질로서 헥사플루오로프로펜을 사용하는 경우, 불순물로 함유된 클로로펜타플루오로에탄(CFC-115)은 불소 기체와 거의 반응하지 않고 대부분 목적물인 옥타플루오로프로판 중에 잔존하며, 비등점이 근접하기 때문에 증류에 의하여 이 불순 화합물을 거의 분리할 수 없으므로 고-순도의 옥타플루오로프로판을 생산하는 것이 어렵게 된다.However, in this method, by-products such as tetrafluoromethane (CF 4 ) and hexafluoroethane (C 2 F 6 ) are produced by cleavage, and C 6 F 12 and C 6 F 14 are produced by radical addition. In addition, for example, the addition of cyclization results in the formation of a four-membered ring, resulting in a decrease in the yield and selectivity of the desired octafluoropropane. In addition, some of these impurities are difficult to separate by distillation, that is, it is difficult to obtain high-purity octafluoropropane. Specifically, when hexafluoropropene is used as the starting material, chloropentafluoroethane (CFC-115) contained as an impurity hardly reacts with fluorine gas and remains in most of the desired octafluoropropane, Since the boiling point is near, this impurity compound can hardly be separated by distillation, making it difficult to produce high-purity octafluoropropane.

본 발명은 이러한 배경하에 이루어졌으며, 본 발명은 반도체 디바이스의 제조 공정에서 사용되는 고순도의 옥타플루오로프로판을 제조하는 방법, 고순도 옥타플루오로프로판 및 그 용도를 제공하는 것을 목적으로 한다. The present invention has been made under such a background, and the present invention aims to provide a method for producing a high purity octafluoropropane, a high purity octafluoropropane and its use for use in the manufacturing process of a semiconductor device.

전술한 목적을 달성하기 위한 광범한 연구 결과, 본 발명자들은, (1) 불화 촉매의 존재하에, 헥사플루오로프로펜과 불화수소를 기체상으로 150 내지 450℃에서 반응시켜 2H-헵타플루오로프로판을 얻는 단계 및 (2) 단계 (1)에서 얻은 2H-헵타플루오로프로판과 불소 기체를 무촉매하에 기체상으로 250 내지 500℃의 온도에서 반응시켜 옥타플루오로프로판을 얻는 단계를 포함하는 제조 방법을 이용함으로써, 고-순도의 옥타플루오로프로판을 생산할 수 있다는 것을 발견하였다. 본 발명은 이러한 발견을 기초로 완성되었다. As a result of extensive research to achieve the above object, the present inventors have (1) reacted hexafluoropropene with hydrogen fluoride in the gas phase at 150 to 450 ° C. in the presence of a fluorination catalyst to give 2H-heptafluoropropane. Obtaining (2) and reacting 2H-heptafluoropropane obtained in step (1) with fluorine gas in a gaseous phase at a temperature of 250 to 500 ° C. without a catalyst to obtain octafluoropropane. It has been found that by using, it is possible to produce high-purity octafluoropropane. The present invention has been completed based on this finding.

보다 구체적으로, 본 발명 (I)은 (1) 불화 촉매의 존재하에, 헥사플루오로프로펜과 불화수소를 기체상으로 150 내지 450℃에서 반응시켜 2H-헵타플루오로프로판을 얻는 단계 및 (2) 단계 (1)에서 얻은 2H-헵타플루오로프로판과 불소 기체를 무촉매하에 기체상으로 250 내지 500℃의 온도에서 반응시켜 옥타플루오로프로판을 얻는 단계를 포함하는, 옥타플루오로프로판의 제조 방법이다. 본 발명 (I)의 바람직한 구체예에서, 출발 물질인 헥사플루오로프로펜은 디클로로디플루오로메탄, 클로로디플루오로메탄, 클로로펜타플루오로에탄, 클로로테트라플루오로에탄 및 클로로트리플루오로에틸렌으로 구성된 군으로부터 선택되는 1종 이상의 화합물을 포함한다; 단계 (1)에서 불화 촉매는, 크롬의 산화물을 주성분으로 하고 인듐, 아연 및 니켈로 구성된 군으로부터 선택되는 적어도 1종을 첨가시켜 얻어진 벌크 촉매이며, 불화수소/헥사플루오로프로펜의 몰비는 0.8 내지 3 : 1의 범위이다. More specifically, the present invention (I) comprises the steps of (1) reacting hexafluoropropene with hydrogen fluoride in the gas phase at 150 to 450 ° C. in the presence of a fluorination catalyst to obtain 2H-heptafluoropropane and (2 1) A method for producing octafluoropropane, comprising the step of reacting 2H-heptafluoropropane obtained in step (1) with fluorine gas in a gaseous phase at a temperature of 250 to 500 ° C. to obtain an octafluoropropane. to be. In a preferred embodiment of the invention (I), the starting material hexafluoropropene is dichlorodifluoromethane, chlorodifluoromethane, chloropentafluoroethane, chlorotetrafluoroethane and chlorotrifluoroethylene At least one compound selected from the group consisting of: In step (1), the fluoride catalyst is a bulk catalyst obtained by adding at least one selected from the group consisting of chromium oxide as a main component and indium, zinc and nickel, and the molar ratio of hydrogen fluoride / hexafluoropropene is 0.8. To 3: 1.

본 발명 (I)의 바람직한 구체예에서, 2H-헵타플루오로프로판에 함유된 불순물을 제거하는 공정이 단계 (2)에 앞서 제공된다; 불순물은 테트라플루오로메탄, 트리플루오로메탄, 클로로트리플루오로메탄, 헥사플루오로에탄 및 펜타플루오로에탄으로 구성된 군으로부터 선택되는 1종 이상의 화합물이다; 불순물을 제거하는 공정은 증류 공정이다; 2H-헵타플루오로프로판은 0.01 vol% 이하의 염소 화합물 함량을 갖는다. In a preferred embodiment of the invention (I), a process for removing impurities contained in 2H-heptafluoropropane is provided before step (2); The impurity is at least one compound selected from the group consisting of tetrafluoromethane, trifluoromethane, chlorotrifluoromethane, hexafluoroethane and pentafluoroethane; The process of removing impurities is a distillation process; 2H-heptafluoropropane has a chlorine compound content of 0.01 vol% or less.

본 발명 (I)의 바람직한 구체예에서, 단계 (2)는 희석 기체의 존재하에 수행되며, 희석 기체는 불화수소, 테트라플루오로메탄, 헥사플루오로에탄 및 옥타플루오로프로판으로 구성된 군으로부터 선택되는 1종 이상의 기체이다; 단계 (2)에서 불화수소/2H-헵타플루오로프로판의 몰비는 0.9 내지 1.5 : 1의 범위이고, 2H-헵타플루오로프로판의 반응기 입구 농도는 8 mol% 이하이다. In a preferred embodiment of the invention (I), step (2) is carried out in the presence of a diluent gas, the diluent gas being selected from the group consisting of hydrogen fluoride, tetrafluoromethane, hexafluoroethane and octafluoropropane At least one gas; The molar ratio of hydrogen fluoride / 2H-heptafluoropropane in step (2) ranges from 0.9 to 1.5: 1, and the reactor inlet concentration of 2H-heptafluoropropane is 8 mol% or less.

본 발명 (I)의 바람직한 구체예에서, 단계 (2)의 출구 기체 중 적어도 일부를 순환시켜 단계(2)의 희석 기체로서 재사용한다; 단계 (2)의 출구 기체 중 적어도 일부를 한가지 이상의 수소화불화탄소와 반응시켜 출구 기체 중 미반응 불소 기체를 제거하는 단계를 제공한다; 수소화불화탄소는 트리플루오로메탄, 테트라플루오로에탄, 펜타플루오로에탄 및 2H-헵타플루오로프로판으로 구성된 군으로부터 선택된다; 단계 (2)의 출구 기체 중에 함유된 불화수소를 분리하고 분리된 불화수소를 단계 (1) 및/또는 단계 (2)로 송환시킨다; 불화수소를 분리시킨 기체로부터 옥타플루오로프로판의 적어도 일부를 분리하고, 남아있는 기체는 단계 (1) 및/또는 단계 (2)로 돌려보낸다. In a preferred embodiment of the invention (I), at least a portion of the outlet gas of step (2) is circulated and reused as the diluent gas of step (2); Reacting at least a portion of the outlet gas of step (2) with one or more hydrofluorocarbons to remove unreacted fluorine gas in the outlet gas; Hydrofluorocarbons are selected from the group consisting of trifluoromethane, tetrafluoroethane, pentafluoroethane and 2H-heptafluoropropane; Separating the hydrogen fluoride contained in the outlet gas of step (2) and returning the separated hydrogen fluoride to step (1) and / or step (2); At least a portion of the octafluoropropane is separated from the gas from which the hydrogen fluoride is separated, and the remaining gas is returned to step (1) and / or step (2).

본 발명 (II)는 순도가 99.995 vol% 이상인 옥타플루오로프로판을 함유하는 옥타플루오로프로판 제품에 관한 것이다. 바람직한 구체예에서, 분자내에 염소 원자를 갖는 화합물과 고리 화합물의 총량은 옥타플루오로프로판 제품을 기초로 50 vol ppm 이하이다. The present invention (II) relates to octafluoropropane products containing octafluoropropane having a purity of 99.995 vol% or more. In a preferred embodiment, the total amount of compounds having chlorine atoms in the molecule and ring compounds is up to 50 vol ppm based on octafluoropropane products.

본 발명 (III)은 전술한 옥타플루오로프로판 제품을 포함하는 에칭 기체에 관한 것이다. 본 발명 (IV)는 전술한 옥타플루오로프로판 제품을 포함하는 클리닝 기체에 관한 것이다. The present invention (III) relates to an etching gas comprising the above-described octafluoropropane article. The present invention (IV) relates to a cleaning gas comprising the above-described octafluoropropane product.

본 발명을 수행하는 최상의 방법Best way to carry out the invention

이하, 본 발명을 상세히 설명한다. Hereinafter, the present invention will be described in detail.

본 발명 (I)에 사용되는 헥사플루오로프로펜(CF3CF=CF2)은, 예를 들어 클로로디플루오로메탄(CHClF2)의 열분해에 의하여 테트라플루오로에틸렌(CF2=CF2)을 생성하는 공정 중 부산물로서 얻어지고, 또는 특개평 4-145033호 공보에 기재된대로, 프로판, 프로필렌 또는 부분적으로 할로겐화된 C3 비환상 탄화수소를 염화불화하고, 임의로 탈할로겐화하는 방법에 의하여 얻어진다. 그러나, 이들 방법으로 얻어진 헥사플루오로프로펜에는, 불순물로서 디클로로디플루오로메탄, 클로로디플루오로메탄, 클로로펜타플루오로에탄, 클로로테트라플루오로에탄과 클로로트리플루오로에틸렌 등의, 분자내에 염소 원자를 함유한 화합물이 혼입되는 경우가 많다. 본 발명은 이러한 불순물을 함유할 수 있는 헥사플루오로프로펜을 원료 물질로 하여 옥타플루오로프로판을 제조하는 방법을 제공한다. 여기서, 중간체인 2H-헵타플루오로프로판, 목적하는 옥타플루오로프로판 및 전술한 불순물의 비등점을 아래 표 1에 제시하였다.Hexafluoropropene (CF 3 CF = CF 2 ) used in the present invention (I) is, for example, tetrafluoroethylene (CF 2 = CF 2 ) by pyrolysis of chlorodifluoromethane (CHClF 2 ). It is obtained as a by-product during the process of producing or by a method of chlorinating and optionally dehalogenating propane, propylene or partially halogenated C3 acyclic hydrocarbons, as described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 4-145033. However, in the hexafluoropropene obtained by these methods, chlorine in a molecule such as dichlorodifluoromethane, chlorodifluoromethane, chloropentafluoroethane, chlorotetrafluoroethane and chlorotrifluoroethylene as impurities. The compound containing an atom is mixed in many cases. The present invention provides a method for producing octafluoropropane, using hexafluoropropene, which may contain such impurities, as a raw material. Here, the boiling points of the intermediate 2H-heptafluoropropane, the desired octafluoropropane and the aforementioned impurities are shown in Table 1 below.

화합물 명Compound name 화학식Chemical formula 비등점boiling point 클로로디플루오로메탄Chlorodifluoromethane CHClF2 CHClF 2 -41℃-41 ℃ 클로로펜타플루오로에탄Chloropentafluoroethane CF3CClF2 CF 3 CClF 2 -39.3℃-39.3 ℃ 옥타플루오로프로판Octafluoropropane CF3CF2CF3 CF 3 CF 2 CF 3 -36.7℃-36.7 ℃ 디클로로디플루오로메탄Dichlorodifluoromethane CCl2F2 CCl 2 F 2 -29.2℃-29.2 ℃ 헥사플루오로프로펜Hexafluoropropene CF3CF=CF2 CF 3 CF = CF 2 -29℃-29 ℃ 클로로트리플루오로에틸렌Chlorotrifluoroethylene CF2=CClFCF 2 = CClF -27.9℃-27.9 ℃ 2H-헵타플루오로프로판2H-heptafluoropropane CF3CHFCF3 CF 3 CHFCF 3 -15.2℃-15.2 ℃ 클로로테트라플루오로에탄Chlorotetrafluoroethane CF3CHClFCF 3 CHClF -12℃-12 ℃

표 1에 표시한 비등점에서 명백하듯이, 출발 물질인 헥사플루오로프로펜 중에 함유된, 분자내에 염소 원자를 갖는 화합물의 비등점은 얻어진 옥타플루오로프로판의 비등점에 근접하고, 따라서 단지 증류 조작만으로는 이들 화합물을 분리하기 어렵다. As is apparent from the boiling point shown in Table 1, the boiling point of the compound having a chlorine atom in the molecule contained in the starting material hexafluoropropene is close to the boiling point of the obtained octafluoropropane, and thus only by distillation operation Difficult to separate compounds

본 발명 (I)의 옥타플루오로프로판의 제조 방법에서, 우선 불화 촉매의 존재하에 헥사플루오로프로펜과 불화수소를 기체상으로 150 내지 450℃의 온도에서 반응시켜 2H-헵타플루오로프로판을 얻는 단계 (1)을 수행한다. 단계 (1)은 다음 두가지 이점을 갖는다. In the method for producing octafluoropropane of the present invention (I), first, hexafluoropropene and hydrogen fluoride are reacted in a gaseous phase at a temperature of 150 to 450 ° C. in the presence of a fluorination catalyst to obtain 2H-heptafluoropropane. Perform step (1). Step (1) has two advantages.

[1] 헥사플루오로프로펜을 불소 기체로 직접 불화 반응시키는 경우 또는 촉매 또는 고차 금속 불화물 등의 존재하에 불소 기체와 직접 불화 반응시키는 경우, 탄소-탄소 결합의 절단 반응, 래디칼 첨가 반응, 고리화 반응 등으로 인하여 다양한 부산물이 생성된다. 따라서, 수율과 선택률이 낮아질 뿐 아니라 고순도의 옥타플루오로프로판을 거의 얻을 수 없다. 본 발명은 촉매의 존재하에 헥사플루오로프로펜에 불화수소를 첨가시켜 중간체인 2H-헵타플루오로프로판을 높은 수율과 높은 선택률로 얻음으로써 이들 반응으로 인한 부산물의 생성을 억제할 수 있다. [1] When hexafluoropropene is directly fluorinated with fluorine gas or when fluorine is directly fluorinated with fluorine gas in the presence of a catalyst or a higher order metal fluoride, carbon-carbon bond cleavage reaction, radical addition reaction, and cyclization Reactions and the like produce various byproducts. Therefore, yield and selectivity are not only low, but high purity octafluoropropane is hardly obtained. The present invention can suppress the production of by-products from these reactions by adding hydrogen fluoride to hexafluoropropene in the presence of a catalyst to obtain intermediate 2H-heptafluoropropane in high yield and high selectivity.

[2] 전술한 바와 같이, 헥사플루오로프로펜은 분자내에 염소 원자를 갖는 화합물을 불순물로서 함유하는 경우가 많고 이들 화합물은 증류 조작에 의하여 제거하기 어렵다. 본 발명에서 헥사플루오로프로펜에 불화수소를 첨가시켜 중간체인 2H-헵타플루오로프로판을 얻는 반응과 동시에, 분자내에 염소 원자를 갖는 화합물을 불화수소를 이용하여 불화하고 그에 따라 증류에 의하여 분리가 용이한 화합물로 전환시킨다. [2] As described above, hexafluoropropene often contains a compound having a chlorine atom in its molecule as an impurity, and these compounds are difficult to remove by distillation. In the present invention, hydrogen fluoride is added to hexafluoropropene to obtain intermediate 2H-heptafluoropropane, and at the same time, a compound having a chlorine atom in the molecule is fluorinated using hydrogen fluoride and thus separated by distillation. Convert to easy compounds.

헥사플루오로프로펜에 불화수소를 첨가시키는 반응은 불화 촉매의 존재하에 다음 식 (1)에 따라 수행된다:The reaction of adding hydrogen fluoride to hexafluoropropene is carried out according to the following formula (1) in the presence of a fluorination catalyst:

CF3CF=CF2 + HF → CF3CHFCF3 (1)CF 3 CF = CF 2 + HF → CF 3 CHFCF 3 (1)

불화 촉매로는 통상 사용되는 크롬계 촉매를 이용할 수 있다. 헥사플루오로프로펜이 염소 함유 불순물을 포함하고 염소 함유 불순물이 불화되어 그밖의 화합물로 전환되는 경우, 그 반응 온도가 점점 높아지므로, 활성(성능)과 안정성(촉매 수명)이 우수한 촉매로서 크롬의 산화물을 주성분으로 하고, 인듐, 아연 및 니켈로부터 선택되는 적어도 1종을 첨가시켜 얻어지는 벌크 촉매를 이용하는 것이 바람직하다. 담지형 촉매(예컨대, 알루미나 담체) 역시 이용할 수 있으나, 활성과 안정성 면에서 벌크 촉매가 바람직하다. 이러한 촉매는 반응에 사용되기 전에 불화수소를 이용한 불화 처리에 의하여 활성화된다. As the fluorination catalyst, a chromium-based catalyst usually used may be used. When hexafluoropropene contains a chlorine-containing impurity and the chlorine-containing impurity is fluorinated and converted into another compound, the reaction temperature is gradually increased, so that chromium as a catalyst having excellent activity (performance) and stability (catalyst lifetime) It is preferable to use a bulk catalyst obtained by adding at least one selected from indium, zinc and nickel as an oxide as a main component. Supported catalysts (eg, alumina carriers) may also be used, but bulk catalysts are preferred in terms of activity and stability. These catalysts are activated by fluorination treatment with hydrogen fluoride before being used for the reaction.

단계 (1)에서, 반응 온도는 헥사플루오로프로펜 중 불순물의 종류와 함량에 따라 달라지나 150 내지 450℃ 범위, 바람직하게는 200 내지 350℃ 범위이다. 헥사플루오로프로펜내에 불순물로서 CFC-115가 함유된 경우, 반응 온도는 적절하게 350 내지 450℃ 범위이고, 바람직하게는 350 내지 400℃이다. 반응 온도가 450℃를 초과하면 촉매의 안정성이 저하되는 경향이 있으므로 바람직하기 않은 한편, 150℃ 이하가 되면 목적하는 반응으로의 전환률이 감소하거나 불순물 화합물의 불화 반응이 느려지며, 이러한 효과는 바람직하지 않다. In step (1), the reaction temperature depends on the type and content of impurities in hexafluoropropene but is in the range from 150 to 450 ° C., preferably in the range from 200 to 350 ° C. When CFC-115 is contained as an impurity in hexafluoropropene, the reaction temperature is suitably in the range of 350 to 450 ° C, preferably 350 to 400 ° C. When the reaction temperature exceeds 450 ° C, the stability of the catalyst tends to be lowered. However, when the reaction temperature is lower than 150 ° C, the conversion to the desired reaction decreases or the fluorination reaction of the impurity compound is slowed. not.

불화수소와 헥사플루오로프로펜(FC-1216)의 몰 비(HF/FC01216)는 바람직하게 0.8 내지 3.0 : 1이고, 보다 바람직하게는 1.0 내지 2.0 : 1이다. 불화수소와 헥사플루오로프로펜의 몰 비가 0.8 : 1 이하가 되면, 헥사플루오로프로필렌의 전환률이 저하되고, 한편 몰 비가 3.0 : 1을 초과하면 미반응 HF의 회수 장치에 대한 비용이 증가하므로 바람직하지 않다. The molar ratio (HF / FC01216) of hydrogen fluoride and hexafluoropropene (FC-1216) is preferably 0.8 to 3.0: 1, more preferably 1.0 to 2.0: 1. When the molar ratio of hydrogen fluoride and hexafluoropropene is 0.8: 1 or less, the conversion of hexafluoropropylene is lowered, while the molar ratio of 3.0: 1 or higher increases the cost for the recovery device of unreacted HF. Not.

전술한 바와 같이, 출발 물질인 헥사플루오로프로펜은, 분자내에 염소 원자를 갖는 화합물을 불순물로서 함유할 수 있고 일반적으로 이들 불순물은 증류에 의하여 분리하기 어렵다. 분자내에 염소 원자를 갖는 화합물의 예로는 클로로디플루오로메탄, 클로로펜타플루오로에탄, 디클로로디플루오로메탄, 클로로트리플루오로에틸렌 및 클로로테트라플루오로에탄을 포함한다. 본 발명 (I)은, 불화 촉매 존재하에 주반응인, 헥사플루오로프로펜을 불화수소와 반응시켜 2H-헵타플루오로프로판을 얻는 단계에서, 염소를 함유하는 이들 화합물을 증류에 의하여 분리하기 용이한 그밖의 플루오로-화합물로 전환시킨다. As described above, the starting material hexafluoropropene may contain a compound having a chlorine atom in its molecule as an impurity, and these impurities are generally difficult to separate by distillation. Examples of compounds having a chlorine atom in the molecule include chlorodifluoromethane, chloropentafluoroethane, dichlorodifluoromethane, chlorotrifluoroethylene and chlorotetrafluoroethane. The present invention (I) is easy to separate these compounds containing chlorine by distillation in the step of reacting hexafluoropropene, which is the main reaction in the presence of a fluorination catalyst, with hydrogen fluoride to obtain 2H-heptafluoropropane. Conversion to one other fluoro-compound.

염소 화합물은, 예를 들어 다음 반응 (2) 내지 (5)에 의하여, 그밖의 불소 화합물로 전환될 수 있다:Chlorine compounds can be converted to other fluorine compounds, for example, by the following reactions (2) to (5):

CHClF2 + HF → CHF3 + HCl (2)CHClF 2 + HF → CHF 3 + HCl (2)

CF2=CClF + HF → CF3CHClF (3)CF 2 = CClF + HF → CF 3 CHClF (3)

CF3CHClF + HF → CF3CHF2 + HCl (4)CF 3 CHClF + HF → CF 3 CHF 2 + HCl (4)

CF3CClF2 + HF → CF3CF3 + HCl (5)CF 3 CClF 2 + HF → CF 3 CF 3 + HCl (5)

이들 불화 화합물과 중간체인 2H-헵타플루오로프로판의 비등점을 표 2에 표시한다. The boiling point of these fluorinated compounds and the intermediate, 2H-heptafluoropropane, is shown in Table 2.

화합물 명Compound name 화학식Chemical formula 비등점boiling point 테트라플루오로메탄Tetrafluoromethane CF4 CF 4 -128℃-128 ℃ 트리플루오로메탄Trifluoromethane CHF3 CHF 3 -84.4℃-84.4 ℃ 클로로트리플루오로메탄Chlorotrifluoromethane CClF3 CClF 3 -81.4℃-81.4 ℃ 헥사플루오로에탄Hexafluoroethane CF3CF3 CF 3 CF 3 -78.1℃-78.1 ℃ 펜타플루오로에탄Pentafluoroethane CF3CHF2 CF 3 CHF 2 -48.5℃-48.5 ℃ 2H-헵타플루오로프로판2H-heptafluoropropane CF3CHFCF3 CF 3 CHFCF 3 -15.2℃-15.2 ℃

표 2에서 명백하듯이, 중간체인 2H-헵타플루오로프로판과 전술한 반응에 따라 불화된 화합물의 비등점은 현저하게 큰 차이를 나타내고, 결과적으로 증류에 의하여 이들 화합물을 용이하게 분리할 수 있다. As is apparent from Table 2, the boiling point of the fluorinated compound according to the above-described reaction with the intermediate 2H-heptafluoropropane shows a remarkably large difference, and as a result, these compounds can be easily separated by distillation.

단계 (1)에서 얻은 2H-헵타플루오로프로판을 주성분으로 하는 기체를, 이로부터 염화수소와 미반응 불화수소를 분리하는 탈수소할로겐화 반응 단계에 도입시킨다. 염화수소와 불화수소를 증류에 의하여 추가로 서로 분리하고, 알칼리 수용액을 이용하여 염화수소를 중화시킨다. 불화수소는 헥사플루오로프로펜을 불화하는 단계로 송환될 수 있고 알칼리 수용액으로 중화처리된다. 탈수소할로겐화 반응 단계에서 염화수소와 불화수소를 분리한 후, 2H-헵타플루오로프로판을 주성분으로 하는 기체를 단계 (2)에서 처리하지만, 그 전에 기체를 증류탑에 도입시켜 2H-헵타플루오로프로판 중에 함유된 불순물을 제거하는 것이 바람직하다. A gas mainly composed of 2H-heptafluoropropane obtained in step (1) is introduced into a dehydrohalogenation reaction step in which hydrogen chloride and unreacted hydrogen fluoride are separated therefrom. Hydrogen chloride and hydrogen fluoride are further separated from each other by distillation, and the hydrogen chloride is neutralized using an aqueous alkali solution. Hydrogen fluoride can be returned to the step of fluorinating hexafluoropropene and neutralized with aqueous alkali solution. After separating hydrogen chloride and hydrogen fluoride in the dehydrohalogenation reaction step, a gas mainly composed of 2H-heptafluoropropane is treated in step (2), but before the gas is introduced into the distillation column to be contained in 2H-heptafluoropropane. It is desirable to remove the impurities.

2H-헵타플루오로프로판내에 함유된 불순물의 구체예로는 테트라플루오로메탄, 트리플루오로메탄, 클로로트리플루오로메탄, 헥사플루오로에탄 및 펜타플루오로에탄이 있다. 이들 불순물을 증류에 의하여 제거하는 것이 바람직하다. 증류탑에서, 낮은 비등 분획인 테트라플루오로메탄, 트리플루오로메탄, 클로로트리플루오로메탄, 헥사플루오로에탄과 페낱플루오로에탄은 증류탑의 상부에서 추출되고, 2H-헵타플루오로프로판은 바닥으로부터 추출된다. 2H-헵타플루오로프로판을 주성분으로 하는 이 기체는 불소 기체를 이용한 직접 불화 반응에서 출발 물질로 사용된다. 탈수소할로겐화 반응 단계 이후 증류의 유무에 관계 없이, 2H-헵타플루오로프로판내에 불순물로서 함유된 염소 화합물의 함량은 0.01 vol% 이하인 것이 바람직하고, 보다 바람직하게는 0.005 vol% 이하이다.  Specific examples of impurities contained in 2H-heptafluoropropane include tetrafluoromethane, trifluoromethane, chlorotrifluoromethane, hexafluoroethane and pentafluoroethane. It is preferable to remove these impurities by distillation. In the distillation column, the lower boiling fractions tetrafluoromethane, trifluoromethane, chlorotrifluoromethane, hexafluoroethane and pesamfluoroethane are extracted at the top of the distillation column and 2H-heptafluoropropane is extracted from the bottom. do. This gas, mainly composed of 2H-heptafluoropropane, is used as a starting material in direct fluorination with fluorine gas. Regardless of the distillation after the dehydrohalogenation reaction step, the content of the chlorine compound contained as impurities in the 2H-heptafluoropropane is preferably 0.01 vol% or less, more preferably 0.005 vol% or less.

이하 단계 (2)를 설명한다. Step (2) will be described below.

단계 (2)는 단계 (1)의 불화 단계에서 얻은 2H-헵타플루오로프로판과 불소 기체를 무촉매하에 기체상으로 250 내지 500℃의 온도에서 반응시켜 옥타플루오로프로판을 얻는 직접 불화 반응 단계이다. 이 단계는 다음 세가지 이점을 갖는다. Step (2) is a direct fluorination step for obtaining octafluoropropane by reacting 2H-heptafluoropropane obtained in the fluorination step of step (1) with fluorine gas at a temperature of 250 to 500 ° C. in a gaseous phase without catalyst. . This step has three advantages:

[1] 수소화불화탄소와 불소 기체를 반응시켜 퍼플루오로카본을 제조하는 경우, 막대한 반응열이 발생한다. 반응열은 한분자 당 반응하는 불소의 몰 수에 비례한다. 불소의 양이 많아질수록 반응열은 보다 커지고, 탄소-탄소 결합의 절단, 중합, 고리화 첨가 또는, 경우에 따라, 폭발 등의 가능성이 높아지며, 수율이 낮아지므로 공업적 제조 또는 조작상 문제가 발생한다. 직접 불화 반응에서 반응열의 급속한 발생을 억제하기 위하여, 불활성 기체(예컨대, 질소 또는 헬륨)로 불소를 희석하는 방법 및 기질인 유기물을 희석하는 방법 등이 알려져 있다. 질소 및 헬륨 등의 불활성 기체는, 증류 단계 중 목적물인 퍼플루오로카본으로부터 분리 및 정제되는 점을 고려할 때 비용면에서 바람직하지 않다. 본 발명 (I)에서는 희석 기체로서, 불화수소, 테트라플루오로메탄, 헥사플루오로에탄 및 옥타플루오로프로판으로 구성된 군으로부터 선택되는 1종 이상의 기체를 이용함으로써 전술한 문제점을 해결한다. [1] In case of producing perfluorocarbon by reacting hydrofluorocarbon and fluorine gas, enormous reaction heat is generated. The heat of reaction is proportional to the number of moles of fluorine reacted per molecule. The greater the amount of fluorine, the greater the heat of reaction, the greater the likelihood of cleavage, polymerization, cyclization or addition of carbon-carbon bonds, or in some cases explosions, and lower yields, resulting in industrial manufacturing or operational problems. do. In order to suppress the rapid generation of heat of reaction in a direct fluorination reaction, a method of diluting fluorine with an inert gas (for example, nitrogen or helium), a method of diluting an organic substance as a substrate, and the like are known. Inert gases such as nitrogen and helium are undesirable in terms of cost in view of their separation and purification from the perfluorocarbons of interest during the distillation step. In the present invention (I), the above-mentioned problem is solved by using at least one gas selected from the group consisting of hydrogen fluoride, tetrafluoromethane, hexafluoroethane and octafluoropropane as the diluent gas.

[2] 본 발명 (I)에서, 반응 기질인 2H-헵타플루오로프로판의 반응기 입구 농도를 희석 기체를 이용하여 폭발 범위 이하로, 구체적으로 8 mol% 이하로 낮추어 반응을 수행한다. 전술한 바와 같이, 불소 기체를 이용한 직접 불화 반응에 이용되는 불소 기체는 그 반응성이 극히 크기 때문에 기질인 유기 화합물(구체적으로 수소를 함유한 화합물)을 불소 기체에 노출시, 연소 또는 폭발이 발생할 수 있고 이는 위험하다. 단계 (2)에서, 기질로서 이용된 2H-헵타플루오로프로판이 수소 원자를 함유하기 때문에 2H-헵타플루오로프로판과 불소 기체의 폭발을 방지하는 것이 관건이다. 폭발을 방지하기 위하여서는 혼합 기체의 조성이 폭발 범위를 벗어나는 것이 필요하다. 본 발명자들은 2H-헵타플루오로프로판과 불소 기체의 폭발 범위를 검토한 결과, 2H-헵타플루오로프로판의 폭발 범위 중 그 하한치가 8 mol %이하라는 것을 발견하였다. 따라서, 반응 입구에서 2H-헵타플루오로프로판 농도의 안전한 범위를 설정할 수 있다. [2] In the present invention (I), the reaction is carried out by lowering the reactor inlet concentration of the reaction substrate 2H-heptafluoropropane to below the explosion range, specifically 8 mol% or less, using diluent gas. As described above, the fluorine gas used in the direct fluorination reaction using the fluorine gas has a very high reactivity, so that when the organic compound (specifically, a hydrogen-containing compound) is exposed to the fluorine gas, combustion or explosion may occur. And it is dangerous. In step (2), it is important to prevent the explosion of 2H-heptafluoropropane and fluorine gas since the 2H-heptafluoropropane used as the substrate contains a hydrogen atom. In order to prevent explosion, the composition of the mixed gas needs to be out of the explosion range. As a result of examining the explosion ranges of 2H-heptafluoropropane and fluorine gas, the inventors found that the lower limit of the explosion range of 2H-heptafluoropropane was 8 mol% or less. Thus, a safe range of 2H-heptafluoropropane concentrations can be established at the reaction inlet.

[3] 2H-헵타플루오로프로판을 불소 기체와 반응시키는 직접 불화 반응에서, 불소 기체에 대하여 과량의 2H-헵타플루오로프로판을 사용하는 경우 불소 기체를 제거하는 단계가 불필요하게 되지만, 이후의 분리 및 정제에서 중대한 어려움이 발생한다. 본 발명 (I)의 단계 (2)에서, 반응 효율을 높이기 위하여 2H-헵타플루오로프로판에 대하여 과잉 몰수의 불소 기체를 사용할 수 있고, 과잉의 불소 기체 사용시 반응 공정에서 유출되는 반응 생성 기체는 퍼플루오로카본과 불화수소에 추가하여 과잉분의 불소 기체를 함유한다. 과잉분의 불소 기체를 처리하기 위하여, 알루미나 또는 소다 라임 등의 무기 산화물과 기체를 반응시키는 방법이 알려져 있으나, 이 방법은 반응으로 인하여 물이 생성되고 장치 재료의 부식이 야기되므로 바람직하지 않다. 본 발명 (I)에서, 과잉의 불소 기체에 대하여 화학 당량비로 1.1배 몰의 수소화불화탄소와 기체를 접촉시켜 과잉의 불소 기체를 제거할 수 있다. [3] In a direct fluorination reaction in which 2H-heptafluoropropane is reacted with fluorine gas, the use of excess 2H-heptafluoropropane for fluorine gas eliminates the need for removing fluorine gas, but subsequent separation. And significant difficulties arise in purification. In step (2) of the present invention (I), an excess molar number of fluorine gas may be used for 2H-heptafluoropropane in order to increase the reaction efficiency, and when the excess fluorine gas is used, the reaction product gas flowing out of the reaction process is purple. In addition to fluorocarbons and hydrogen fluoride, it contains excess fluorine gas. In order to treat excess fluorine gas, a method of reacting a gas with an inorganic oxide such as alumina or soda lime is known, but this method is not preferable because the reaction generates water and causes corrosion of the device material. In the present invention (I), excess fluorine gas can be removed by contacting the gas with 1.1 times mole of hydrofluorocarbon in a chemical equivalent ratio to the excess fluorine gas.

헵타플루오로프로판을 불소 기체와 반응시키는 직접 불화 반응은 다음 반응 (6)에 따라 진행된다.:The direct fluorination reaction of reacting heptafluoropropane with fluorine gas proceeds according to the following reaction (6):

CF3CHFCF3 + F2 → CF3CF2CF3 + HF (6)CF 3 CHFCF 3 + F 2 → CF 3 CF 2 CF 3 + HF (6)

이 반응은 촉매하에 수행 가능하나 또한 무촉매하에서도 수행할 수 있다. 더욱이, 상기 기술한 바와 같이, 수소화불화탄소를 불소 기체와 반응시키는 직접 불화 반응은 반응열이 크기 때문에, 희석 기체 존재하에 반응을 수행하는 것이 바람직하다. 이 반응에 사용되는 희석 기체는 불화수소, 테트라플루오로메탄, 헥사플루오로에탄 및 옥타플루오로프로판으로 구성된 군으로부터 선택되는 1종 이상의 기체이다. 이 때, 바람직하게는, 불화수소 및/또는 옥타플루오로프로판을 사용하고, 더욱 바람직하게는 불화수소가 풍부한 기체를 사용한다.This reaction can be carried out under a catalyst but can also be carried out without catalyst. Furthermore, as described above, the direct fluorination reaction for reacting hydrofluorocarbons with fluorine gas has a large heat of reaction, and therefore, it is preferable to carry out the reaction in the presence of diluent gas. The diluent gas used for this reaction is at least one gas selected from the group consisting of hydrogen fluoride, tetrafluoromethane, hexafluoroethane and octafluoropropane. At this time, hydrogen fluoride and / or octafluoropropane are preferably used, and more preferably, a gas rich in hydrogen fluoride is used.

희석 기체를 도입하는 방법은, 2H-헵타플루오로프로판과 불소 기체 중 한가지 또는 모두를 희석 기체로 희석한 후, 반응기로 이들을 도입하는 것이다. 반응기 입구에서 기질인 2H-헵타플루오로프로판의 농도는 폭발 범위 이하인 8 mol % 이하가 바람직하고, 더욱 바람직하게는 6 mol % 이하이다. 반응기 입구에서 불소 기체의 농도는 불소 기체/2H-헵타플루오로프로판의 몰비가 0.9 내지 1.5 : 1 범위가 되도록 하는 농도가 바람직하고, 더욱 바람직한 범위는 0.9 내지 1.2 : 1이다. 만약 불소 기체/2H-헵타플루오로프로판의 몰 비가 0.9 : 1 이하가 되도록 불소 농도를 조절하는 경우에는 2H-헵타플루오로프로판의 전환률이 감소될 우려가 있는 반면, 1.5 : 1를 초과하도록 몰 비를 조절하는 경우에는 미반응 불소를 제거하는 공정이 부가되므로 바람직하지 않다. 더욱이, 불소 기체/2H-헵타플루오로프로판의 몰 비가 1.5 : 1을 초과하는 경우, 단계 (2)의 출구 기체를 순환시켜 단계 (2)의 희석 기체로 재활용할 때, 순환 기체(희석 기체)내 불소 농도가 증가할 수 있고 폭발과 같은 문제가 발생할 수 있다.The method of introducing the dilution gas is to dilute one or both of 2H-heptafluoropropane and fluorine gas with diluent gas and then introduce them into the reactor. The concentration of 2H-heptafluoropropane as substrate at the reactor inlet is preferably 8 mol% or less, more preferably 6 mol% or less, which is below the explosion range. The concentration of fluorine gas at the inlet of the reactor is preferably such that the molar ratio of fluorine gas / 2H-heptafluoropropane is in the range of 0.9 to 1.5: 1, more preferably in the range of 0.9 to 1.2: 1. If the fluorine concentration is adjusted so that the molar ratio of fluorine gas / 2H-heptafluoropropane is 0.9: 1 or less, the conversion of 2H-heptafluoropropane may be reduced, while the molar ratio exceeds 1.5: 1. In the case of controlling the reaction, a process for removing unreacted fluorine is added. Furthermore, when the molar ratio of fluorine gas / 2H-heptafluoropropane exceeds 1.5: 1, when the outlet gas of step (2) is circulated and recycled to the diluting gas of step (2), the circulating gas (diluent gas) The concentration of fluorine in the building can increase and problems such as explosion can occur.

희석 기체에 의하여 폭발 범위 이하의 농도로 희석된 2H-헵타플루오로프로판과 불소 기체를 기체상으로 반응시킬 수 있다. 반응 온도는 250 내지 500℃가 적합하고, 바람직하게는 350 내지 450℃이다. 만약 반응 온도가 250℃ 이하이면, 반응이 천천히 진행되는 반면, 500℃를 초과하면, 목적물인 옥타플루오로프로판내 탄소-탄소 결합가 깨어질 수 있으며 이는 바람직하지 않다. By dilution gas, 2H-heptafluoropropane and fluorine gas diluted to concentrations below the explosive range can be reacted in the gas phase. 250-500 degreeC of reaction temperature is suitable, Preferably it is 350-450 degreeC. If the reaction temperature is 250 ° C. or lower, the reaction proceeds slowly, while if it exceeds 500 ° C., the carbon-carbon bond in the desired octafluoropropane may be broken, which is undesirable.

단계 (2)의 출구 기체는 주로 불화수소와 옥타플루오로프로판으로 구성된다. 본 발명 (I)에서, 출구 기체의 적어도 일부를 순환시킬 수 있고 단계 (2)에서 희석 기체로 재활용할 수 있다. 출구 기체내에 미반응 불소 기체가 함유되어 있는 경우, 지속적으로 흐르는 금속 요오드화물을 함유하는 용액에 미량의 출구 기체를 지속적으로 도입하여 요오드를 생성시키고, 용액을 통과하는 특정 파장 영역의 가시광선의 투과율을 측정함으로써 생성되는 요오드를 지속적으로 정량하는 방법을 이용하여, 미반응 불소 기체의 농도를 검출할 수 있다. 불소 화합물을 검출하고 반응 속도를 결정하는 방법으로, 혼합 기체내에 함유된 퍼플루오로카본, 수소화불화탄소와 불화수소의 농도를 적외선 분광법에 따라 측정하는 방법을 이용할 수 있다. 이로써, 상기 작동은 산업적으로 안전한 상태하에, 지속적으로 수행될 수 있다. The outlet gas of step (2) consists mainly of hydrogen fluoride and octafluoropropane. In the present invention (I), at least part of the outlet gas can be circulated and recycled to the diluent gas in step (2). When unreacted fluorine gas is contained in the outlet gas, a small amount of outlet gas is continuously introduced into the solution containing the continuously flowing metal iodide to generate iodine, and the transmittance of visible light in a specific wavelength region passing through the solution The concentration of unreacted fluorine gas can be detected using a method of continuously quantifying the iodine generated by the measurement. As a method of detecting the fluorine compound and determining the reaction rate, a method of measuring the concentration of perfluorocarbon, hydrofluorocarbon and hydrogen fluoride contained in the mixed gas by infrared spectroscopy can be used. In this way, the operation can be carried out continuously under industrially safe conditions.

단계 (2)의 출구 기체를 순환에 의하여 희석 기체로서 재활용하는 것 이외에도, 미반응 불소 기체가 그 안에 함유되어 있는 경우, 예컨대, 공급된 2H-헵타플루오로프로판과 거의 동량의 반응 출구 기체를 추출하여, 미반응 불소를 제거하는 공정으로 도입한 후, 과잉의 불소 기체에 화학 당량비로 1.1배 몰의 수소화불화탄소와 접촉시켜 불소 기체를 제거하는 것이 바람직하다. 불소 기체를 제거하는 공정의 접촉 온도는 수소화불화탄소류에 따라 달라지나, 바람직하게는 250 내지 500℃이고, 더욱 바람직하게는 350 내지 450℃이다. 불소 제거 공정 후 출구 기체내 불소 기체의 농도는 통상적으로 50 ppm 이하이고, 조건에 따라 10 ppm이하일 수 있다. 과잉의 불소 기체와 반응하도록 할 수 있는 수소화불화탄소의 구체예는 트리플루오로메탄, 테트라플루오로에탄, 펜타플루오로에탄 및 2H-헵타플루오로프로판을 포함한다. In addition to recycling the outlet gas of step (2) as a diluent gas by circulation, if an unreacted fluorine gas is contained therein, for example, an almost same amount of reaction outlet gas as the supplied 2H-heptafluoropropane is extracted. After the introduction into the step of removing unreacted fluorine, it is preferable to remove the fluorine gas by contacting the excess fluorine gas with 1.1 times mole of hydrofluorocarbon in a chemical equivalent ratio. Although the contact temperature of the process of removing a fluorine gas changes with hydrofluorocarbons, Preferably it is 250-500 degreeC, More preferably, it is 350-450 degreeC. The concentration of fluorine gas in the outlet gas after the fluorine removal process is typically 50 ppm or less, and may be 10 ppm or less, depending on the conditions. Specific examples of hydrofluorocarbons capable of reacting with excess fluorine gas include trifluoromethane, tetrafluoroethane, pentafluoroethane and 2H-heptafluoropropane.

단계 (2)의 출구 기체는 단계 (2)의 희석 기체로 순환되고 재활용되는 출구 기체의 일부를 제외하고는, 그 안에 불소 기체가 잔존하는 경우, 불소 제거 공정을 거친 후에 부분적 응축 공정으로 도입된다. 출구 기체의 주성분은 불화수소와 옥타플루오로프로판인데, 부분 응축 공정에서 반응 시스템을 냉각시켜 불화수소가 액체 분리되게 하고, 옥타플루오로프로판이 주로 기체로서 분리된다. 분리된 불화수소는 순환될 수 있고 불화 단계 (1) 및/또는 직접 불화 단계 (2)로 회수되어 재활용된다. 기체로 분리되는, 옥타플루오로프로판을 주성분으로 하는 기체는 탈수 공정을 거쳐, 압축기로 승압되고 증류탑으로 도입된다. The outlet gas of step (2) is introduced into the partial condensation process after the fluorine removal process if fluorine gas remains in it, except for the part of the outlet gas that is circulated and recycled to the diluent gas of step (2) . The main components of the outlet gas are hydrogen fluoride and octafluoropropane, which cool the reaction system in a partial condensation process to allow the hydrogen fluoride to be liquid separated, and the octafluoropropane is mainly separated as a gas. The separated hydrogen fluoride can be circulated and recovered and recycled to the fluorination step (1) and / or the direct fluorination step (2). The gas based on octafluoropropane, which is separated by gas, is subjected to a dehydration process, boosted by a compressor, and introduced into a distillation column.

옥타플루오로프로판을 주성분으로 함유하는 기체를 증류탑으로 도입시킨 후, 예컨대, 1차 증류탑의 상부로부터 낮은 비등점 분획을 추출한다. 낮은 비등점 분획은 불활성 기체, 테트라플루오로메탄, 헥사플루오로에탄 등이고, 직접 불화 단계 (2)에 희석 기체로 이용할 수 있다. 하부로부터 추출된 옥타플루오로프로판을 주성분으로 하는 기체를 2차 증류탑으로 도입시키고, 2차 증류탑에서, 옥타플루오로프로판을 상부로부터 낮은 비등점 분획으로 추출한 후 제품 공정으로 도입시킨다. 2차 증류탑의 하부로부터 추출된 높은 비등점 분획을 단계 (2)로 회수시켜, 희석 기체로 사용하거나, 경우에 따라서, 유해한 기체 제거제 등을 사용하여 분해시킬 수 있다. After introducing a gas containing octafluoropropane as a main component into the distillation column, for example, a low boiling fraction is extracted from the top of the primary distillation column. The low boiling fraction is an inert gas, tetrafluoromethane, hexafluoroethane and the like, which can be used directly as diluent gas in the fluorination step (2). The gas mainly composed of octafluoropropane extracted from the bottom is introduced into the secondary distillation column, and in the secondary distillation column, the octafluoropropane is extracted from the upper portion into the lower boiling point fraction and then introduced into the product process. The high boiling fraction extracted from the bottom of the secondary distillation column can be recovered in step (2) and used as a diluent gas or, if desired, to be decomposed using a harmful gas remover or the like.

제품 공정으로 도입된 목적물 옥타플루오로프로판을, 필요하다면, 추가 정제시키고, 경우에 따라서, 탈수 공정을 통해 제품 탱크로 도입한다. 제품 탱크로 도입된 옥타플루오로프로판은 (1) TCD, FID, 또는 ECD를 사용한 기체 크로마토그래피 (GC), 또는 (2) 기체 크로마토그래피-질량 분석계 (GC-MS)와 같은 분석 방법을 사용하여 순도를 결정할 수 있다. 본 발명 (Ⅱ)는 본 발명 (I)의 제조 방법을 사용하여 얻은 99.995 vol % 이상의 순도를 갖는 고순도 옥타플루오로프로판에 관한 것이다. 옥타플루오로프로판내에 함유된 불순물에 대하여, 분자와 고리 화합물 내에 염소 원자를 함유하는 화합물의 총량은 50 vol ppm 이하이고, 이러한 불순물의 총량은 또한 10 vol ppm 이하로 감소시킬 수 있다. The desired octafluoropropane introduced into the product process is further purified, if necessary, and optionally introduced into the product tank via a dehydration process. Octafluoropropane introduced into the product tank can be prepared using analytical methods such as (1) gas chromatography using TCD, FID, or ECD, or (2) gas chromatography-mass spectrometry (GC-MS). Purity can be determined. The present invention (II) relates to high purity octafluoropropane having a purity of 99.995 vol% or more obtained using the process of the present invention (I). For impurities contained in octafluoropropane, the total amount of compounds containing chlorine atoms in the molecule and the cyclic compound is 50 vol ppm or less, and the total amount of such impurities can also be reduced to 10 vol ppm or less.

본 발명 (Ⅲ)과 본 발명 (Ⅳ)는, 본 발명 (I)의 제조 방법을 사용하여 얻은 고순도 옥타플루오로프로판의 용도에 대한 설명이다.This invention (III) and this invention (IV) are description about the use of the high purity octafluoropropane obtained using the manufacturing method of this invention (I).

본 발명 (Ⅱ)의 고순도 옥타플루오로프로판은 반도체 디바이스의 제조 방법중 에칭 공정에서 에칭 기체로 사용할 수 있고, 또한, 반도체 디바이스의 제조 방법 중 클리닝 공정에서 클리닝 가스로 사용 가능하다. LSI 또는 TFT와 같은 반도체 디바이스의 제조 방법 중, CVD법, 스퍼터링법 또는 증착법을 사용하여 박막 또는 후막을 형성하고 회로 패턴을 형성시키기 위하여 막에 에칭한다. 박막 또는 후막 형성용 장치로, 장치내벽, 지그, 파이프라인 등에 퇴적된 불필요한 퇴적물을 제거 하기 위하여 클리닝을 수행한다. 왜냐하면, 불필요한 퇴적물은 파티클 발생의 원인이 되고, 종종, 양질 막을 제조하기 위하여 제거되어야 하기 때문이다. 에칭 또는 클리닝 기체로 사용함에 있어, 본 발명의 옥타플루오로프로판을 He, Ar, 및 N2와 같은 불활성 기체로 희석하거나, F2, NF3, C2F4, HCl, O2 및 H2와 같은 기체를 적절한 비율로 혼합하여 사용할 수 있다. 하기에 실시예 및 비교예를 참고로 좀더 상세하게 설명하나, 본 발명을 이러한 실시예로 한정하여 해석해서는 안된다.The high purity octafluoropropane of the present invention (II) can be used as an etching gas in an etching step in the method of manufacturing a semiconductor device, and can also be used as a cleaning gas in a cleaning step in a manufacturing method of a semiconductor device. In the method of manufacturing a semiconductor device such as an LSI or a TFT, a thin film or a thick film is formed using a CVD method, a sputtering method or a vapor deposition method, and is etched in the film to form a circuit pattern. A device for forming a thin film or a thick film, and cleaning is performed to remove unnecessary deposits deposited on the inner wall, jig, pipeline, and the like. This is because unnecessary deposits cause particle generation and often have to be removed to produce a good quality film. In use as an etching or cleaning gas, the octafluoropropanes of the present invention may be diluted with an inert gas such as He, Ar, and N 2 , or F 2 , NF 3 , C 2 F 4 , HCl, O 2 and H 2 Gas such as can be mixed and used in an appropriate ratio. Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to Examples and Comparative Examples, but the present invention should not be construed as being limited to these Examples.

원료예 1Raw material example 1

HCF-22(CHClF2)를 수증기와 함께 알루미나상에 열분해시켜 TFE (테트라플루오로에틸렌)을 제조하는 공정으로, 부산물로 얻은 HFP(헥사플루오로프로펜)을 분리, 증류 작업을 한 후, 표 3에 나타낸 조성물을 갖는 원료 헥사플루오로프로펜을 얻었다.Thermally decomposes HCF-22 (CHClF 2 ) on alumina with water vapor to produce TFE (tetrafluoroethylene) .After separating and distilling HFP (hexafluoropropene) obtained as a by-product, A raw material hexafluoropropene having the composition shown in 3 was obtained.

화합물compound 화학식Chemical formula 구성 (부피 %)Composition (volume%) 헥사플루오로프로펜Hexafluoropropene CF3CF=CF2 CF 3 CF = CF 2 99.968599.9685 테트라플루오로에틸렌Tetrafluoroethylene CF2=CF2 CF 2 = CF 2 0.00330.0033 클로로트리플루오로에틸렌Chlorotrifluoroethylene CF2=CClFCF 2 = CClF 0.00080.0008 디클로로테트라플루오로에탄Dichlorotetrafluoroethane CF3CCl2FCF 3 CCl 2 F 0.00110.0011 클로로펜타플루오로에탄Chloropentafluoroethane CF3CClF2 CF 3 CClF 2 0.01920.0192 펜타플루오로에탄Pentafluoroethane CF3CHF2 CF 3 CHF 2 0.00280.0028 클로로트리플루오로에탄Chlorotrifluoroethane CF3CH2ClCF 3 CH 2 Cl 0.00040.0004 클로로디플루오로메탄Chlorodifluoromethane CHClF2 CHClF 2 0.00390.0039

원료예 2Raw material example 2

상업적으로 이용가능한 헥사플루오로프로펜을 분석하였고, 표 4에 표시난 조성을 갖는 것을 발견하였다.Commercially available hexafluoropropenes were analyzed and found to have the compositions shown in Table 4.

화합물compound 화학식Chemical formula 구성 (부피 %)Composition (volume%) 헥사플루오로프로펜Hexafluoropropene CF3CF=CF2 CF 3 CF = CF 2 99.919699.9196 테트라플루오로에틸렌Tetrafluoroethylene CF2=CF2 CF 2 = CF 2 0.00080.0008 클로로트리플루오로에틸렌Chlorotrifluoroethylene CF2=CClFCF 2 = CClF 0.00040.0004 클로로펜타플루오로에탄Chloropentafluoroethane CF3CClFE CF 3 CClF E 0.04140.0414 디클로로디플루오로메탄Dichlorodifluoromethane CCl2F2 CCl 2 F 2 0.02480.0248 클로로디플루오로메탄Chlorodifluoromethane CHClF2 CHClF 2 0.00690.0069 클로로디플루오로에틸렌Chlorodifluoroethylene CF2=CHClCF 2 = CHCl 0.00420.0042 테트라플루오로에탄Tetrafluoroethane CF3CH2FCF 3 CH 2 F 0.00190.0019

불화 촉매의 제조Preparation of Fluorinated Catalyst

정제된 물 0.6L를 함유하는 10 L 컨테이너에, 452g Cr(NO3)3·9H2O와 42g In(NO3)3·nH2O (n은 약 5)를 정제된 물 1.2L에 용해하여 용액을 얻었고, 0.31L의 28% 암모니아수를 반응액의 pH 7.5 내지 8.5인 반응 용액을 달성시키기 위하여 두 수용액의 각각의 유속을 조절하여 교반하면서 1시간 이상 방울로 첨가시킨다. 생성된 히드록사이드 슬러리를 여과시켰고, 정제된 물로 완전히 세정한 후, 120℃에서 12시간 동안 건조시켰다. 이렇게 얻은 고체를 분쇄하고, 그래파이트와 혼합시킨 후, 정제기로 펠렛화시켰다. 질소 흐름하에, 이렇게 얻은 펠렛을 400℃에서 4시간 동안 하소시켜 촉매 전구체를 얻었다. 촉매 천구체를 인코넬-메이드 반응기(Inconel-made reactor)에 채운 후, 대기압하에 350℃에서, 질소로 희석한 HF 흐름하에 불화 처리 (촉매의 활성)를 수행한 후, 100% HF 흐름하에 촉매를 제조하였다.In a 10 L container containing 0.6 L of purified water, 452 g Cr (NO 3 ) 3 · 9H 2 O and 42 g In (NO 3 ) 3 · nH 2 O (n is approximately 5) are dissolved in 1.2 L of purified water. To obtain a solution, 0.31 L of 28% ammonia water was added dropwise for 1 hour or more while adjusting and controlling the respective flow rates of the two aqueous solutions to achieve a reaction solution of pH 7.5 to 8.5 of the reaction solution. The resulting hydroxide slurry was filtered, washed thoroughly with purified water and then dried at 120 ° C. for 12 hours. The solid thus obtained was milled, mixed with graphite and pelletized with a refiner. Under nitrogen flow, the pellet so obtained was calcined at 400 ° C. for 4 hours to obtain a catalyst precursor. The catalyst sphere was charged to an Inconel-made reactor, and then subjected to a fluorination treatment (activation of the catalyst) at 350 ° C. under atmospheric pressure, under a HF stream diluted with nitrogen, and then under a 100% HF flow. Prepared.

실시예 1Example 1

내부 직경 1인치와 길이 1m의 인코넬 600형 반응기로, 상기 불화 촉매 제조에 기술한 방법에 따라 제조된 촉매 100 ml 채웠고, 질소를 흘리면서 온도를 400℃ 까지 올렸다. 거기에, 불화 질소를 6.32 NL/hr로 공급시킨 후 원료예 1에 기술한 바와 같이 헥사플루오로프로펜을 주성분으로 하는 가스를 3.24 NL/hr로 공급시켰다. 질소 가스의 공급을 중지시킴으로서, 반응을 개시하였다. 두시간 후, 배출 가스를 포타슘 히드록사이드 수용액으로 세정하여 산성분을 제거시킨 후, 가스 조성을 기체 크로마토그래피로 분석한 결과, 표 5의 조성을 갖는 기체를 얻었다. An Inconel 600 reactor with an internal diameter of 1 inch and a length of 1 m was charged with 100 ml of the catalyst prepared according to the method described for preparing the fluorinated catalyst, and the temperature was raised to 400 ° C while flowing nitrogen. Thereafter, nitrogen fluoride was supplied at 6.32 NL / hr, and a gas containing hexafluoropropene as the main component was supplied at 3.24 NL / hr as described in Raw Material Example 1. The reaction was started by stopping the supply of nitrogen gas. After two hours, the exhaust gas was washed with an aqueous potassium hydroxide solution to remove the acid component, and the gas composition was analyzed by gas chromatography. As a result, a gas having the composition shown in Table 5 was obtained.

화합물compound 화학식Chemical formula 구성 (vol %)Composition (vol%) 2H-헵타플루오로프로판2H-heptafluoropropane CF3CHFCF3 CF 3 CHFCF 3 99.961199.9611 트리플루오로메탄Trifluoromethane CHF3 CHF 3 0.00530.0053 헥사풀루오로에탄Hexafuluroethane CF3CF3 CF 3 CF 3 0.01920.0192 펜타플루오로에탄Pentafluoroethane CF3CHF2 CF 3 CHF 2 0.00710.0071 옥타플루오로프로판Octafluoropropane CF3CF2CF3 CF 3 CF 2 CF 3 0.00040.0004 헥사플루오로프로펜Hexafluoropropene CF3CF=CF2 CF 3 CF = CF 2 0.00520.0052 클로로펜타플루오로에탄Chloropentafluoroethane CF3CClF2 CF 3 CClF 2 0.00080.0008 테트라플루오로에탄Tetrafluoroethane CF3CH2FCF 3 CH 2 F 0.00080.0008 클로로트리플루오로에탄Chlorotrifluoroethane CF3CH2ClCF 3 CH 2 Cl 0.00010.0001

산 성분을 제거시킨 후 가스를 실린더 컨테이너를 사용하여 냉각 수집하였고, 공지 방법을 통해 낮은 비등점 분획과 높은 비등점 분획을 제거시키기 위하여 증류 정제시켰다. 증류 정제 후 얻은 조성물을 기체 크로마토그래피로 분석 하였고 표 6의 조성을 갖는 것을 발견하였다.After the acid component was removed, the gas was collected by cooling using a cylinder container and distilled purified to remove the low and high boiling fractions by known methods. The composition obtained after distillation purification was analyzed by gas chromatography and found to have the composition of Table 6.

화합물compound 화학식Chemical formula 구성 (vol %)Composition (vol%) 2H-헵타플루오로프로판2H-heptafluoropropane CF3CHFCF3 CF 3 CHFCF 3 99.996599.9965 펜타플루오로에탄Pentafluoroethane CF3CHF2 CF 3 CHF 2 0.00030.0003 옥타플루오로프로판Octafluoropropane CF3CF2CF3 CF 3 CF 2 CF 3 0.00010.0001 헥사플루오로프로펜Hexafluoropropene CF3CF=CF2 CF 3 CF = CF 2 0.00190.0019 클로로펜타플루오로에탄Chloropentafluoroethane CF3CClF2 CF 3 CClF 2 0.00070.0007 테트라플루오로에탄Tetrafluoroethane CF3CH2FCF 3 CH 2 F 0.00050.0005

표 6에 나타난 결과로부터, 2H-헵타플루오로프로판내 불순물로 함유된 클로린 화합물을 증류시켜 0.01 vol % 이하로 감소시킬 수 있다는 것을 발견하였다.From the results shown in Table 6, it was found that the chlorine compound contained as an impurity in 2H-heptafluoropropane can be distilled down to less than 0.01 vol%.

실시예 2Example 2

실시예 1에서 얻은, 증류 후 2H-헵타플루오로프로판을 주성분으로 하는 기체를 사용하여, 불소 기체로 직접 불화 반응을 수행시켰다. 내부 직경 20.6 mmΦ와 길이 500 mm의 니켈 반응기 (전기 히터에 의하여 가열; 반응기는 불소 가스로 500℃ 온도에서 부동태화 처리를 실시)는 질소 가스를 20 NL/hr로 공급하여 흘려주면서 400℃ 온도에서 가열하였다.The fluorination reaction was carried out directly with fluorine gas using a gas mainly composed of 2H-heptafluoropropane after distillation obtained in Example 1. A nickel reactor with an internal diameter of 20.6 mmΦ and a length of 500 mm (heated by an electric heater; the reactor undergoes passivation at a temperature of 500 ° C. with fluorine gas) was supplied at 20 NL / hr and flowed at 400 ° C. Heated.

그후, 불화수소 (희석 가스)를 60 NL/hr로 이분지로 공급시켰고, 한가지 기체 유량으로, 상기 2H-헵타플루오로프로판을 주성분으로 하는 기체를 3.24 NL/hr로 공급시켰다. 그후, 또다른 불화수소 기체 유량으로 불소 기체를 3.55 NL/hr로 공급시켰고, 질소 기체 공급을 중단시키고, 직접 불화 반응을 수행시켰다. 3시간 후, 반응 생성 기체를 포타슘 히드록사이드 수용액과 포타슘 요도드화물 수용액을 사용하여 세정하였고, 불화수소와 미반응 불소 기체를 분석하고, 산 성분을 제거시킨 후 기체 크로마토그래피로 분석하였다. 그 결과로, 유기물은 표 7에 표시한 기체 조성을 갖는 것을 발견하였다.Hydrogen fluoride (diluent gas) was then fed into the bifurcation at 60 NL / hr, and at one gas flow rate, the gas mainly containing the 2H-heptafluoropropane was supplied at 3.24 NL / hr. Thereafter, fluorine gas was supplied at 3.55 NL / hr at another hydrogen fluoride gas flow rate, the nitrogen gas supply was stopped, and a direct fluorination reaction was performed. After 3 hours, the reaction product gas was washed with aqueous potassium hydroxide solution and aqueous potassium iodide solution, hydrogen fluoride and unreacted fluorine gas were analyzed, the acid component was removed, and analyzed by gas chromatography. As a result, the organic substance was found to have a gas composition shown in Table 7.

화합물compound 화학식Chemical formula 구성 (vol %)Composition (vol%) 옥타플루오로프로판Octafluoropropane CF3CF2CF3 CF 3 CF 2 CF 3 99.104299.1042 테트라플루오로메탄Tetrafluoromethane CF4 CF 4 0.00110.0011 헥사플루오로에탄Hexafluoroethane CF3CF3 CF 3 CF 3 0.00170.0017 2H-헵타플루오로프로판2H-heptafluoropropane CF3CHFCF3 CF 3 CHFCF 3 0.87620.8762 클로로펜타플루오로에탄Chloropentafluoroethane CF3CClF2 CF 3 CClF 2 0.00060.0006 퍼플루오로헥산Perfluorohexane C6F14 C 6 F 14 0.01620.0162

반응 출구 기체내 미반응 불소 기체량은 0.26 NL/hr이다.The amount of unreacted fluorine gas in the reaction outlet gas is 0.26 NL / hr.

산 성분을 제거시킨 후 기체를 실린더 컨테이너를 사용하여 냉각 수집하였고, 공지 방법을 통해 낮은 비등점 분획과 높은 비등점 분획을 제거시키기 위하여 증류 정제시켰다. 증류 정제 후 얻은 조성물을 기체 크로마토그래피로 분석 하였고 표 8의 조성을 갖는 것을 발견하였다.After the acid component was removed, the gas was collected by cooling using a cylinder container and distilled purified to remove the low and high boiling fractions by known methods. The composition obtained after distillation purification was analyzed by gas chromatography and found to have the composition of Table 8.

화합물compound 화학식Chemical formula 구성 (vol %)Composition (vol%) 옥타플루오로프로판Octafluoropropane CF3CF2CF3 CF 3 CF 2 CF 3 99.999299.9992 2H-헵타플루오로프로판2H-heptafluoropropane CF3CHFCF3 CF 3 CHFCF 3 0.00020.0002 클로로펜타플루오로에탄Chloropentafluoroethane CF3CClF2 CF 3 CClF 2 0.00060.0006

표 8에 나타난 결과로부터, 생성된 옥타플루오로프로판이 순도 99.999 vol % 이상을 갖는 것을 발견하였다.From the results shown in Table 8, it was found that the resulting octafluoropropane had a purity of 99.999 vol% or more.

실시예 3Example 3

실시예 2에서 직접 불화 반응 후 얻은 미반응 불소 기체를 함유하는 출구 기체를 내부 직경 20.6 mmΦ와 길이 500 mm의 니켈 반응기로 도입하였다. 기체 조성을 불화수소 유량 62.82 NL/hr, 유기물 유량 3.16 NL/hr 과 미반응 불소 기체 유량 약 0.26 NL/hr로 하였다. 반응기 온도를 390℃로 올렸고, 반응기 입구부로 부터 수소화불화탄소와 같은 트리플루오르메탄을 약 0.286 NL/hr로 공급시켰고, 미반응 불소와 유기물 조성을 적정 및 기체 크로마토그래피 분석하였다. 트리플루오로메탄과 반응 후 출구 기체내 미반응 불소 기체 양은 50 ppm 이하이고, 출구 기체는 표 9에 표시한 조성을 갖는다.The outlet gas containing the unreacted fluorine gas obtained after the direct fluorination reaction in Example 2 was introduced into a nickel reactor having an internal diameter of 20.6 mmΦ and a length of 500 mm. The gas composition was 62.82 NL / hr hydrogen fluoride flow rate, 3.16 NL / hr organic matter flow rate, and about 0.26 NL / hr unreacted fluorine gas flow rate. The reactor temperature was raised to 390 ° C., trifluoromethane such as hydrofluorocarbons were fed at about 0.286 NL / hr from the reactor inlet, and the unreacted fluorine and organic composition were titrated and gas chromatographed. The amount of unreacted fluorine gas in the outlet gas after the reaction with trifluoromethane is 50 ppm or less, and the outlet gas has the composition shown in Table 9.

화합물compound 화학식Chemical formula 구성 (vol %)Composition (vol%) 옥타플루오로프로판Octafluoropropane CF3CF2CF3 CF 3 CF 2 CF 3 91.684991.6849 테트라플루오로메탄Tetrafluoromethane CF4 CF 4 5.27075.2707 트리플루오로메탄Trifluoromethane CHF3 CHF 3 3.02323.0232 헥사플루오로에탄Hexafluoroethane CF3CF3 CF 3 CF 3 0.00280.0028 2H-헵타플루오로프로판2H-heptafluoropropane CF3CHFCF3 CF 3 CHFCF 3 0.00290.0029 클로로펜타플루오로에탄Chloropentafluoroethane CF3CClF2 CF 3 CClF 2 0.00060.0006 퍼플루오로헥산Perfluorohexane C6F14 C 6 F 14 0.01490.0149

그 후, 남아있는 불소 기체를 제거시킨 후 출구 기체를 포타슘 히드록사이드 수용액으로 세정하여, 불화수소를 제거하였다. 산 성분을 제거시킨 후 기체를 실린더 컨테이너를 사용하여 냉각 수집하였고, 공지 방법을 통해 낮은 비등점 분획과 높은 비등점 분획을 제거시키기 위하여 증류 정제시켰다. 증류 정제 후 얻은 조성물을 기체 크로마토스래피로 분석 하였고 표 10에 표시한 조성을 갖는 것을 발견하였다.Thereafter, the remaining fluorine gas was removed, and then the outlet gas was washed with an aqueous potassium hydroxide solution to remove hydrogen fluoride. After the acid component was removed, the gas was collected by cooling using a cylinder container and distilled purified to remove the low and high boiling fractions by known methods. The composition obtained after the distillation purification was analyzed by gas chromatography and found to have the composition shown in Table 10.

화합물compound 화학식Chemical formula 구성 (vol %)Composition (vol%) 옥타플루오로프로판Octafluoropropane CF3CF2CF3 CF 3 CF 2 CF 3 99.999399.9993 2H-헵타플루오로프로판2H-heptafluoropropane CF3CHFCF3 CF 3 CHFCF 3 0.00010.0001 클로로펜타플루오로에탄Chloropentafluoroethane CF3CClF2 CF 3 CClF 2 0.00060.0006

비교 실시예 1Comparative Example 1

헥사플루오로프로펜과 불소 기체를 반응시키는 직접 불화 반응을 수행하였다. 내부 직경 20.6 mmΦ와 길이 500 mm의 니켈 반응기 (전기 히터에 의하여 가열; 반응기는 불소 기체로 500℃ 온도에서 부동태화 처리를 실시)는 질소 기체를 60 NL/hr로 이분지로 공급하여 흘려주면서 50℃ 온도에서 가열하였다. 원료예 1에서 기술한 헥사플루오로프로판을 주성분으로 하는 기체를 질소 기체 유량 3.24 NL/hr로 공급하였다. 그후, 또다른 질소 기체 유량으로 불소 기체를 3.55 NL/hr로 공급시켰고, 직접 불화 반응을 수행시켰다. 2시간 후, 반응 생성 기체를 포타슘 히드록사이드 수용액과 포타슘 요도드화물 수용액을 사용하여 세정하였고, 미반응 불소 기체를 제거하여 기체 크로마토그래피로 분석하였다. 그 결과, 유기물은 표 11에 나타난 기체 조성을 갖는 것을 발견하였다.A direct fluorination reaction was carried out to react hexafluoropropene with fluorine gas. A nickel reactor with an internal diameter of 20.6 mmΦ and a length of 500 mm (heated by an electric heater; the reactor undergoes passivation treatment at a temperature of 500 ° C. with fluorine gas) was supplied with nitrogen gas at 60 NL / hr and flowed into a bifurcation 50 Heated at 캜. A gas mainly composed of hexafluoropropane described in Raw Material Example 1 was supplied at a nitrogen gas flow rate of 3.24 NL / hr. Thereafter, fluorine gas was supplied at 3.55 NL / hr at another nitrogen gas flow rate, and a direct fluorination reaction was performed. After 2 hours, the reaction product gas was washed with aqueous potassium hydroxide solution and aqueous potassium iodide solution, and the reaction product was analyzed by gas chromatography by removing unreacted fluorine gas. As a result, the organic material was found to have a gas composition shown in Table 11.

화합물compound 화학식Chemical formula 구성 (vol %)Composition (vol%) 옥타플루오로프로판Octafluoropropane CF3CF2CF3 CF 3 CF 2 CF 3 93.351593.3515 헥사플루오로에탄Hexafluoroethane CF3CF3 CF 3 CF 3 0.00630.0063 클로로트리플루오로메탄Chlorotrifluoromethane CClF3 CClF 3 0.00390.0039 클로로펜타플루오로에탄Chloropentafluoroethane CF3CClF2 CF 3 CClF 2 0.02040.0204 디클로로테트라플루오로에탄Dichlorotetrafluoroethane CF3CCl2FCF 3 CCl 2 F 0.00110.0011 퍼플루오로헥산Perfluorohexane C6F14 C 6 F 14 6.61226.6122 옥타플루오로시클로부탄Octafluorocyclobutane C4F8 C 4 F 8 0.00460.0046

표 11에 나타난 결과에서 제시된 바와 같이, 헥사플루오로프로펜과 불소 기체를 직접 불화 반응시켜 옥타플루오로프로판을 제조하는 방법은 중합, 고리화 첨가가 일어나고, 수율이 저하되는 것을 발견하였다.As shown in the results shown in Table 11, the method for producing octafluoropropane by directly fluorinating hexafluoropropene and fluorine gas was found to be polymerized, cyclized, and yields decreased.

그 후, 산 성분을 제거시킨 후 기체를 실린더 컨테이너를 사용하여 냉각 수집하였고, 공지 방법을 통해 낮은 비등점 분획과 높은 비등점 분획을 제거시키기 위하여 증류 정제시켰다. 증류 정제 후 얻은 조성물을 기체 크로마토그래피로 분석 하였고 표 12에 표시한 조성을 갖는 것을 발견하였다.Thereafter, after removing the acid component, the gas was collected by cooling using a cylinder container, and distillation purification was performed to remove a low boiling point fraction and a high boiling point fraction by a known method. The composition obtained after distillation purification was analyzed by gas chromatography and found to have the composition shown in Table 12.

화합물compound 화학식Chemical formula 구성 (vol %)Composition (vol%) 옥타플루오로프로판Octafluoropropane CF3CF2CF3 CF 3 CF 2 CF 3 99.976899.9768 클로로펜타플루오로에탄Chloropentafluoroethane CF3CClF2 CF 3 CClF 2 0.02180.0218 옥타플루오로시클로부탄Octafluorocyclobutane C4F8 C 4 F 8 0.00220.0022

표 12의 결과에서 제시된 바와 같이, 옥타플루오로프로판, 클로린 화합물로서 클로로펜타플루오로에탄 및 고리 화합물로서 옥타플루오로시클로부탄을 분리하여 고순도로 정제하는 것은 어렵다.As shown in the results in Table 12, it is difficult to separate and purify to high purity by separating octafluoropropane, chloropentafluoroethane as chlorine compounds and octafluorocyclobutane as ring compounds.

실시예 4Example 4

헥사플루오로프로펜 원료를 원료예 2로 변화시키는 것을 제외하고 실시예 1과 동일한 작업과 동일한 조건하에 반응을 수행시켰다. 산 성분을 제거시킨 후 기체를 분석하였고 표 13의 조성을 갖는 것을 발견하였다.The reaction was carried out under the same conditions as in Example 1 except that the hexafluoropropene raw material was changed to Raw Material Example 2. The gas was analyzed after removing the acid component and found to have the composition of Table 13.

화합물compound 화학식Chemical formula 구성 (vol %)Composition (vol%) 2H-헵타플루오로프로판2H-heptafluoropropane CF3CHFCF3 CF 3 CHFCF 3 99.907999.9079 트리플루오로메탄Trifluoromethane CHF3 CHF 3 0.00980.0098 헥사플루오로에탄Hexafluoroethane CF3CF3 CF 3 CF 3 0.04140.0414 펜타플루오로에탄Pentafluoroethane CF3CHF2 CF 3 CHF 2 0.00280.0028 클로로트리플루오로에탄Chlorotrifluoroethane CClF3 CClF 3 0.02360.0236 옥타플루오로프로판Octafluoropropane CF3CF2CF3 CF 3 CF 2 CF 3 0.00050.0005 헥사플루오로프로펜Hexafluoropropene CF3CF=CF2 CF 3 CF = CF 2 0.00490.0049 클로로펜타플루오로에탄Chloropentafluoroethane CF3CClF2 CF 3 CClF 2 0.00040.0004 테트라플루오로에탄Tetrafluoroethane CF3CH2FCF 3 CH 2 F 0.00290.0029 디클로로디플루오로메탄Dichlorodifluoromethane CCl2F2 CCl 2 F 2 0.00120.0012 클로로테트라플루오로에탄Chlorotetrafluoroethane CF3CHClFCF 3 CHClF 0.00050.0005 클로로트리플루오로에탄Chlorotrifluoroethane CF3CH2ClCF 3 CH 2 Cl 0.00410.0041

산 성분을 제거시킨 후 기체를 실린더 컨테이너를 사용하여 냉각 수집하였고, 공지 방법을 통해 낮은 비등점 분획과 높은 비등점 분획을 제거시키기 위하여 증류 정제시켰다. 정제 후 얻은 조성물을 기체 크로마토그래피로 분석 하였고 표 14에 표시한 조성과 같이 관찰되었다.After the acid component was removed, the gas was collected by cooling using a cylinder container and distilled purified to remove the low and high boiling fractions by known methods. The composition obtained after purification was analyzed by gas chromatography and observed as shown in Table 14.

화합물compound 화학식Chemical formula 구성 (vol %)Composition (vol%) 2H-헵타플루오로프로판2H-heptafluoropropane CF3CHFCF3 CF 3 CHFCF 3 99.992599.9925 펜타플루오로에탄Pentafluoroethane CF3CHF2 CF 3 CHF 2 0.00090.0009 옥타플루오로프로판Octafluoropropane CF3CF2CF3 CF 3 CF 2 CF 3 0.00020.0002 헥사플루오로프로펜Hexafluoropropene CF3CF=CF2 CF 3 CF = CF 2 0.00160.0016 클로로펜타플루오로에탄Chloropentafluoroethane CF3CClF2 CF 3 CClF 2 0.00140.0014 테트라플루오로에탄Tetrafluoroethane CF3CH2FCF 3 CH 2 F 0.00250.0025 디클로로디플루오로메탄Dichlorodifluoromethane CCl2F2 CCl 2 F 2 0.00090.0009

표 14에 나타난 결과로부터, 2H-헵타플루오로프로판 중에 불순물로 함유된 염서 화합물을 증류시켜 그 양을 0.01 vol % 이하로 감소시킬 수 있다.From the results shown in Table 14, the salt compound contained as an impurity in 2H-heptafluoropropane can be distilled to reduce the amount to 0.01 vol% or less.

실시예 5Example 5

2H-헵타플루오로프로판 대신 실시예 4에 기술한 정제된 생성물을 사용하는 것을 제외하고, 실시예 2와 동일한 작업과 조건하에 반응을 수행시켰다. 산 성분을 제거시킨 후 기체를 실린더 컨테이너를 사용하여 냉각 수집하였고, 공지 방법을 통해 낮은 비등점 분획과 높은 비등점 분획을 제거시키기 위하여 증류하여 정제시켰다. 생성된 조성물을 기체 크로마토그래피로 분석 하였고 표 15에 표시한 조성를 갖는 것을 발견하였다.The reaction was carried out under the same operations and conditions as in Example 2, except that the purified product described in Example 4 was used instead of 2H-heptafluoropropane. After the acid component was removed, the gas was collected by cooling using a cylinder container and purified by distillation to remove the low and high boiling fractions by known methods. The resulting composition was analyzed by gas chromatography and found to have the composition shown in Table 15.

화합물compound 화학식Chemical formula 구성 (vol %)Composition (vol%) 옥타플루오로프로판Octafluoropropane CF3CF2CF3 CF 3 CF 2 CF 3 99.997999.9979 클로로펜타플루오로에탄Chloropentafluoroethane CF3CClF2 CF 3 CClF 2 0.00150.0015 디클로로디플루오로메탄Dichlorodifluoromethane CCl2F2 CCl 2 F 2 0.00060.0006

표 15의 결과에서 제시된 바와 같이, 순도 99.995 vol % 이상의 옥타플루오로프로판을 얻을 수 있다.As shown in the results in Table 15, octafluoropropane with a purity of 99.995 vol% or more can be obtained.

이상 설명한 바와 같이, 본 발명의 방법을 이용함으로써 염소 존재의 불순물을 함유하는 헥사플루오로프로펜을 사용하여 고순도 옥타플루오로프로판을 제조할 수 있고, 본 발명을 사용하여 제조된 고순도 옥타플루오로프로판을 반도체 디바이스의 제조 공정에서 에칭 또는 클리닝 기체로 사용할 수 있다.As described above, by using the method of the present invention, high purity octafluoropropane can be prepared using hexafluoropropene containing impurities in the presence of chlorine, and high purity octafluoropropane produced using the present invention. May be used as an etching or cleaning gas in the manufacturing process of semiconductor devices.

Claims (20)

(1) 크롬의 산화물을 주성분으로 하고 인듐, 아연 및 니켈로 구성된 군으로부터 선택되는 적어도 1종을 첨가시켜 얻어지는 벌크 촉매인 불화 촉매 존재하에, 헥사플루오로프로펜과 불화수소를 기체상으로 150 내지 450℃의 온도에서 반응시켜 2H-헵타플루오로프로판을 얻는 단계와,(1) 150 to hexafluoropropene and hydrogen fluoride in the gas phase in the presence of a fluorinated catalyst which is a bulk catalyst obtained by adding at least one member selected from the group consisting of indium, zinc and nickel as the main component of chromium oxide; Reacting at a temperature of 450 ° C. to obtain 2H-heptafluoropropane, (2) 단계 (1)에서 얻은 2H-헵타플루오로프로판과 불소 기체를 무촉매하에 기체상으로 250 내지 500℃의 온도에서 반응시켜 옥타플루오로프로판을 얻는 단계를 포함하는 옥타플루오로프로판의 제조방법.(2) preparing octafluoropropane, comprising reacting 2H-heptafluoropropane obtained in step (1) with fluorine gas in a gaseous phase at a temperature of 250 to 500 ° C. without a catalyst. Way. 제 1 항에 있어서, 헥사플루오로프로펜은 디클로로디플루오로메탄, 클로로디플루오로메탄, 클로로펜타플루오로에탄, 클로로테트라플루오로에탄 및 클로로트리플루오로에틸렌으로 구성된 군으로부터 선택되는 1종 이상의 화합물을 함유하는 것인 방법.The method of claim 1, wherein the hexafluoropropene is at least one selected from the group consisting of dichlorodifluoromethane, chlorodifluoromethane, chloropentafluoroethane, chlorotetrafluoroethane and chlorotrifluoroethylene. Containing a compound. 삭제delete 제 1 항에 있어서, 단계 (1) 중 불화수소/헥사플루오로프로펜의 몰 비는 0.8 내지 3 : 1의 범위인 방법. The process according to claim 1, wherein the molar ratio of hydrogen fluoride / hexafluoropropene in step (1) is in the range of 0.8 to 3: 1. 제 1 항에 있어서, 단계 (2) 이전에 2H-헵타플루오로프로판 중에 함유된 불순물을 제거하는 단계를 추가로 포함하는 것인 방법. The method of claim 1 further comprising the step of removing impurities contained in 2H-heptafluoropropane prior to step (2). 제 5 항에 있어서, 불순물은 테트라플루오로메탄, 트리플루오로메탄, 클로로트리플루오로메탄, 헥사플루오로에탄과 펜타플루오로에탄으로 구성된 군으로부터 선택되는 1종 이상의 화합물인 것인 방법. 6. The method of claim 5 wherein the impurity is at least one compound selected from the group consisting of tetrafluoromethane, trifluoromethane, chlorotrifluoromethane, hexafluoroethane and pentafluoroethane. 제 5 항 또는 6 항에 있어서, 2H-헵타플루오로프로판 중에 함유된 불순물을 제거하는 단계가 증류 공정인 방법. 7. The process of claim 5 or 6 wherein the step of removing impurities contained in 2H-heptafluoropropane is a distillation process. 제 1 항에 있어서. 2H-헵타플루오로프로판 중에 함유된 염소 화합물이 0.01 vol% 이하인 방법. The method of claim 1. The chlorine compound contained in 2H-heptafluoropropane is 0.01 vol% or less. 제 1 항에 있어서, 단계 (2)는 희석 기체의 존재하에 수행되며, 상기 희석 기체는 불화수소, 테트라플루오로메탄, 헥사플루오로에탄과 옥타플루오로프로판으로 구성된 군으로부터 선택되는 1종 이상의 기체인 방법. The process of claim 1, wherein step (2) is carried out in the presence of a diluent gas, the diluent gas being at least one gas selected from the group consisting of hydrogen fluoride, tetrafluoromethane, hexafluoroethane and octafluoropropane. How to be. 제 1 항에 있어서, 단계 (2) 중 불소 기체/2H-헵타플루오로프로판의 몰비는 0.9 내지 1.5 : 1의 범위인 방법. The process according to claim 1, wherein the molar ratio of fluorine gas / 2H-heptafluoropropane in step (2) is in the range of 0.9 to 1.5: 1. 제 1 항에 있어서, 단계 (2) 중 2H-헵타플루오로프로판의 반응기 입구 농도는 8 mol% 이하인 방법. The process of claim 1 wherein the reactor inlet concentration of 2H-heptafluoropropane in step (2) is 8 mol% or less. 제 1 항에 있어서, 단계 (2)의 출구 기체 중 적어도 일부를 순환시켜 단계 (2)의 희석 기체로서 재사용하는 것인 방법. The process of claim 1 wherein at least some of the outlet gas of step (2) is circulated and reused as the diluent gas of step (2). 제 1 항에 있어서, 단계 (2)의 출구 기체 중 적어도 일부를 1종 이상의 수소화불화탄소와 반응시켜 출구 기체에 함유된 미반응 불소 기체를 제거하는 단계를 포함하는 것인 방법. The process of claim 1 comprising reacting at least a portion of the outlet gas of step (2) with at least one hydrofluorocarbon to remove unreacted fluorine gas contained in the outlet gas. 제 13 항에 있어서, 수소화불화탄소는 트리플루오로메탄, 테트라플루오로에탄, 펜타플루오로에탄 및 2H-헵타플루오로프로판으로 구성된 군으로부터 선택되는 것인 방법.The method of claim 13, wherein the hydrofluorocarbon is selected from the group consisting of trifluoromethane, tetrafluoroethane, pentafluoroethane and 2H-heptafluoropropane. 제 1 항에 있어서, 단계 (2)의 출구 기체 중에 함유된 불화수소를 분리하고, 분리된 불화수소를 단계 (1) 및/또는 단계 (2)로 돌려보내는 것인 방법. The process according to claim 1, wherein the hydrogen fluoride contained in the outlet gas of step (2) is separated and the separated hydrogen fluoride is returned to step (1) and / or step (2). 제 1 항에 있어서, 불화수소를 분리한 기체로부터 옥타플루오로프로판의 적어도 일부를 분리하고, 남아있는 기체를 단계 (1) 및/또는 단계 (2)로 돌려보내는 것인 방법. The method of claim 1, wherein at least a portion of the octafluoropropane is separated from the gas from which the hydrogen fluoride is separated and the remaining gas is returned to step (1) and / or step (2). 삭제delete 삭제delete 삭제delete 삭제delete
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