KR100498224B1 - Idc type terminal block - Google Patents

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KR100498224B1
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양수경
류명주
이강식
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주식회사 케이티
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    • H01R11/00—Individual connecting elements providing two or more spaced connecting locations for conductive members which are, or may be, thereby interconnected, e.g. end pieces for wires or cables supported by the wire or cable and having means for facilitating electrical connection to some other wire, terminal, or conductive member, blocks of binding posts
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Abstract

본 발명은 IDC(Interconnect Displacement Connection)형 터미널 블록에 관한 것으로서, 본 발명의 IDC형 터미널 블록내 핀들은 팁선 및 링선에 각각 연결되는 두 개의 IDC용 핀들을 구비하며, IDC용 핀들은 인접 IDC용 핀들과 60。의 높이차를 갖고 팁선/링선과 접속되어 페어선들간의 누화 간섭을 최소화 하며, 인입 배선용 핀과 인출 배선용 핀들 사이에는 팁선 및 링선과 연결가능한 4단자의 밴텀 잭이 구성되고, 밴텀 잭의 4단자와 연결가능한 4단자를 갖는 밴텀 플러그를 이용하여 인입 배선용 핀과 인출 배선용 핀을 통한 선로 상태 및 데이터 전송 상태를 시험할 수 있도록 구성된다. The present invention relates to an IDC (Interconnect Displacement Connection) terminal block, wherein the pins in the IDC terminal block of the present invention have two IDC pins respectively connected to a tip line and a ring line, and the IDC pins are adjacent IDC pins. It has a height difference of 60 ° and is connected to the tip wire / ring wire to minimize crosstalk interference between the pair wires, and a 4-terminal bantam jack that can be connected to the tip wire and the ring wire is formed between the lead wire pin and the lead wire pin. It is configured to test the line state and data transmission state through the inlet wiring pin and the outlet wiring pin using a bantam plug having four terminals which can be connected to four terminals.

따라서, 본 발명의 IDC형 터미널 블록에서는 페어선들간의 누화 간섭이 대폭 감소하며, 절분 시험을 간단히 행할 수 있다는 효과가 있다. Therefore, in the IDC terminal block of the present invention, crosstalk interference between pair wires is greatly reduced, and there is an effect that the chip test can be easily performed.

Description

ＩＤＣ형 터미널 블록{IDC TYPE TERMINAL BLOCK}IDC terminal block {IDC TYPE TERMINAL BLOCK}

본 발명은 IDC(Interconnect Displacement Connection)형 터미널 블록에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 절분 시험이 용이한 IDC형 터미널 블록에 관한 것이다. The present invention relates to an IDC (Interconnect Displacement Connection) type terminal block, and more particularly, to an IDC type terminal block that is easy to test a chip.

기존의 업무용 건물 또는 공동 주택의 동단자함 또는 중간 단자함내에 음성급 회선을 수용하기 위하여 10핀(Pin)의 나사 또는 랩핑 방식의 터미널 블록이 구성되어 있다. 이러한 환경에서 향후 멀티미디어 서비스를 위하여 IDC형의 4P 단위 또는 10P 단위의 터미널 블록이 개발되었다.A 10-pin screw or wrapping terminal block is constructed to accommodate voice-grade lines in the same terminal box or intermediate terminal box of an existing business building or apartment house. In this environment, IDP type 4P unit or 10P unit terminal block has been developed for future multimedia services.

도 1에는 종래 IDC형 터미널 블럭(1)의 핀(P11-P15, P21-P25)들의 측면도, 도 2에는 평면도가 도시되어 있다. 핀(P11-P15,P21-P25)들은 내부에 각각 팁선(T) 및 링선(R)용 IDC용 핀(Tt, Tr)들을 구비하며, 이 IDC용 핀(Tt, Tr)들사이에 팁(T) 및 링(R)선을 갖는 코드(이하 페어선이라 함)(L11-L15, L21-L25)를 삽입하면, 내부의 팁선와 링선을 보호하고 있는 페어선(L11-L15, L21-L25)의 절연 물체(피복)는 IDC용 핀(Tt, Tr)들에 의하여 자동으로 벗겨져 페어선(L11-L15, L21-L25)내의 팁선(T) 및 링선(R)들은 핀(P11-P15, P21-P25)내 IDC용 핀(Tt, Tr)과 전기적으로 연결되는 구성을 갖는다. 이때, IDC형 터미널 블록(1)내의 핀(P11-P15, P21-P25)은 내부에서 상호 연결되어 있는 구성을 갖는 바, 결과적으로 페어선(L11-L15, L21-L25)들은 상호 연결된다. 1 is a side view of pins P11-P15 and P21-P25 of a conventional IDC terminal block 1, and FIG. 2 is a plan view. The pins P11-P15 and P21-P25 have IDC pins Tt and Tr for the tip wire T and the ring wire R, respectively, and have a tip between the IDC pins Tt and Tr. When the cords having T) and ring (R) wires (hereinafter referred to as pair wires) (L11-L15 and L21-L25) are inserted, the pair wires (L11-L15 and L21-L25) which protect the inner tip wire and the ring wire ), The insulation object (cover) is peeled off automatically by the IDC pins (Tt, Tr) so that the tip wires (T) and the ring wires (R) in the pair wires (L11-L15, L21-L25) are pins (P11-P15, P21-P25) and electrically connected to IDC pins Tt and Tr. At this time, the pins P11-P15 and P21-P25 in the IDC terminal block 1 are interconnected internally. As a result, the pair lines L11-L15 and L21-L25 are interconnected.

한편, 도 1에서 보는 바와 같이 핀(P11-P15,P21-P25)내의 IDC용 핀(Tt, Tr)들은 일직선상으로 배열되어 저속 서비스에서는 페어선((L11-L15, L21-L25))간의 누화 문제가 발생하지 않는다. 그러나, 고속 서비스에서는 근접한 페어선(L11-L15, L21-L25)간에 누화의 영향을 쉽게 받아 결국 전송 성능 저하를 초래한다. On the other hand, as shown in FIG. 1, the IDC pins Tt and Tr in the pins P11-P15 and P21-P25 are arranged in a straight line, so that in the low-speed service, the pair lines ((L11-L15, L21-L25)) are separated. No crosstalk problem occurs. However, in the high-speed service, crosstalk is easily affected between adjacent pair lines L11-L15 and L21-L25, resulting in a decrease in transmission performance.

또한, IDC형 터미널 블록들의 상태를 점검하기 위해서는 절분 시험 즉, 인입 배선(신호가 인가되는 페어선(예컨데, L11-L15)과 인출 배선(인입 배선으로부터의 신호를 출력하는 페어선(예컨데, L21-L25)간을 상호 단락시키고, 인입 배선(L11-L15) 및 인출 배선(L21-L25)의 데이터 전송 상태를 각각 점검할 필요가 있다. 따라서, 인입 배선(L11-L15)과 인출 배선(L21-L25)을 절분시키고, 이 인입 배선(L11-L15) 및 인출 배선(L21-L25)에 테스트용 코드를 각각 연결할 수 있는 구성이 필요하나, 종래의 IDC 형 터미널 블록에서는 이러한 구성이 전혀 제시되고 있지 않다는 문제가 있었다. In addition, in order to check the state of the IDC terminal blocks, a cut test, that is, a pair wire (for example, L11-L15 to which a signal is applied) and a pair wire (for example, L21 to output a signal from the lead wire) It is necessary to short-circuit between -L25 and check the data transfer states of the lead wires L11-L15 and the lead wires L21-L25, respectively, and thus the lead wires L11-L15 and the lead wires L21. -L25) and a test code can be connected to each of the lead wires (L11-L15) and the lead wires (L21-L25), but such a configuration is not shown at all in the conventional IDC terminal block. There was a problem.

본 발명은 이러한 문제를 해결하기 위한 것으로서 본 발명의 목적은, IDC 형 터미널 블록의 핀들에 접속되는 페어선들간에 발생하는 누화를 감소시킬 수 있는 IDC 형 터미널 블록을 제공하는데 있다. An object of the present invention is to provide an IDC terminal block capable of reducing crosstalk occurring between pair wires connected to pins of an IDC terminal block.

본 발명의 다른 목적은 절분 시험이 가능한 IDC 형 터미널 블록을 제공하는데 있다. Another object of the present invention is to provide an IDC type terminal block capable of chip testing.

이러한 목적을 달성하기 위하여 본 발명은,IDC(Interconnect Displacement Connection)형 터미널 블록에 있어서, IDC형 터미널 블록내 핀들은 팁선 및 링선에 각각 연결되는 두 개의 IDC용 핀들을 구비하며, IDC용 핀들은 인접 IDC용 핀들과 60。의 높이차를 갖고 팁선/링선과 접속되도록 구성한다. In order to achieve the above object, the present invention, in the IDC (Interconnect Displacement Connection) terminal block, the pins in the IDC terminal block has two IDC pins connected to the tip line and the ring line, respectively, the IDC pins are adjacent It is configured to be connected with tip line / ring line with height difference of 60 ° with IDC pins.

이하, 첨부 도면을 참조하여 본 발명의 일 실시예를 상세히 설명한다. Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described an embodiment of the present invention;

도 3은 본 발명에 따른 IDC 형 터미널 블록(1)의 측면도, 도 4는 IDC 형 터미널 블록(1)의 평면도다. 도시된 바와 같이 본 발명의 IDC 형 터미널 블록(1)에서 페어선(L11-L15, L21-L25)내 IDC용 핀(Tt, Tr)들은 팁(R) 및 링선(T)이 위치하는 부분들이 지그 재그형으로 상이한 높이를 가짐을 알 수 있다. 즉, 핀(P11-P15, P21-P25)내의 IDC용 핀(Tt, Tr)들에는 도시된 바와 같이 페어선(L11-L15, L21-L25)의 팁선(T) 및 링선(R)들이 접속되나, 이 팁선(T)과 링선(R)이 핀(Tt, Tr)에 접촉하는 높이는 상호간에 60。의 각도가 발생하도록 설정된다.3 is a side view of an IDC type terminal block 1 according to the present invention, and FIG. 4 is a plan view of an IDC type terminal block 1. As shown, in the IDC terminal block 1 of the present invention, IDC pins Tt and Tr in the pair lines L11-L15 and L21-L25 are formed at portions where the tip R and the ring T are located. It can be seen that the zigzag shape has different heights. That is, the tip wires T and the ring wires R of the pair wires L11-L15 and L21-L25 are connected to the IDC pins Tt and Tr in the pins P11-P15 and P21-P25 as shown. However, the height at which the tip line T and the ring line R contact the pins Tt and Tr is set such that an angle of 60 degrees occurs.

상술한 바와 같이 구성된 터미널 블록(1)에서는 페어선(L11-L15, L21-L25)들간의 높이 차에 의하여 종래에 비하여 누화 현상이 대폭 감소될 수 있으며, 도 5를 참조하여 그 이유를 상세히 설명한다. In the terminal block 1 configured as described above, a crosstalk phenomenon may be significantly reduced as compared with the related art by the height difference between the pair lines L11-L15 and L21-L25, and the reason thereof will be described in detail with reference to FIG. 5. do.

도 5a는 도 1의 종래 터미널 블록의 IDC용 핀(Tt, Tr)에 고정되는 페어선(예컨데, L11, L12)들의 배열 상태를 도시한 도면이다. 도시된 바와 같이 페어선(L11과 L12)내의 팁선(T)과 링선(R)간에는 높이 차가 없으며(0。), 이에 따라 선로(예컨데, 페어선(L11)내 팁선(T)과 페어선(L12)내 링선(R)간의 정전 용량(C1)은 수학식 1과 같다. 5A is a diagram illustrating an arrangement state of pair wires (eg, L11 and L12) fixed to IDC pins Tt and Tr of the conventional terminal block of FIG. 1. As shown, there is no height difference between the tip line T and the ring line R in the pair lines L11 and L12 (0 °), and thus the tip line T and the pair line (for example, in the pair line L11). The capacitance C1 between the ring lines R in L12) is expressed by Equation (1).

식에서 ε는 도체의 유전율을 의미하며, d1은 팁선(T)과 링선(R)간의 거리를, A는 유전체 면적을 의미한다. In the equation, ε means the dielectric constant of the conductor, d1 is the distance between the tip line (T) and the ring line (R), A is the dielectric area.

도 5b는 도 3의 터미널 블록에서 페어선(예컨데, L11, L12)들의 배열 상태를 도시한 도면이다. 도시된 바와 같이 페어선(L11)의 링선(R)과 페어선(L12)의 팁선(T)간에는 60。의 높이차가 발생하며 이에 따라 팁선(T)과 링선(R)간의 정전 용량(C2)은 수학식 1과 같다. FIG. 5B is a diagram illustrating an arrangement state of pair lines (eg, L11 and L12) in the terminal block of FIG. 3. As shown, a height difference of 60 degrees occurs between the ring wire R of the pair wire L11 and the tip wire T of the pair wire L12, and accordingly, the capacitance C2 between the tip wire T and the ring wire R is generated. Is the same as Equation 1.

따라서, C1과 C2간에는 수학식 3과 같은 관계가 성립된다. Therefore, a relationship as in Equation 3 is established between C1 and C2.

따라서, 페어간의 높이차가 60。가 되도록 설정하면 페어간의 상호 정전 용량은 1/2 감소한다. 따라서, 페어선(L11-L15, L21-L25)간의 누화 현상은 감소된다. Therefore, when the height difference between pairs is set to 60 degrees, the mutual capacitance between pairs is reduced by 1/2. Therefore, crosstalk between the pair lines L11-L15 and L21-L25 is reduced.

한편, 도 4의 평면도에 도시된 바와 같이 인입 배선을 위한 핀((P11-P15)과 인출 배선을 위한 핀(P21-P25)들 사이에는 반텀(Banton) 플러그를 삽입할 수 있는 반텀 잭(2)이 형성되어 있다. 여기서, 밴텀 잭(2)은 도 6에 도시된 바와 같이 인입 배선용 핀(P1i)의 IDC용 팁핀(Tt) 및 링핀(Tr)과 각각 연결되는 두 개의 단자(a, b)와, 인입 배선용 핀(P2i)의 IDC용 팁핀(Tt) 및 링핀(Tr)과 각각 연결되는 두 개의 단자(c, d)를 구비한다. 이들 단자(a, c, (b, d)는 상호 연결되나, 도 7의 밴텀 플러그(3)가 밴텀 잭(2)에 삽입되면 이들은 상호 오픈되고, 그 대신에 밴텀 플러그(3)의 단자(e, f, g, h)에 각각 연결된다. 밴텀 플러그(3)의 단자(e, f, g, h)들은 코드선(4)을 통하여 각각 인입 배선용 클램프(C1,C2) 및 인출 배선용 클램프(C3, C4)에 연결되어 있다. 이때, 인입 배선용 핀(P1i)은 밴텀 플러그(3)의 인입 배선용 클램프(C1, C2)는 인출 배선용 핀(P2i)의 IDC용 팁핀(Tt) 및 링핀(Tr)에 각각 연결되며, 밴텀 플러그(3)의 인출 배선용 클램프(C3, C4)는 인출 배선용 핀(P2i)의 IDC용 팁핀(Tt) 및 링핀(Tr)에 각각 연결된다. Meanwhile, as shown in the plan view of FIG. 4, a bantam jack 2 into which a bantam plug can be inserted between the pins P11-P15 for the lead-in wiring and the pins P21-P25 for the lead-out wiring. Here, the bantam jack 2 has two terminals a and b connected to the IDC tip pin Tt and the ring pin Tr of the inlet wiring pin P1i, respectively, as shown in FIG. ) And two terminals (c, d) connected to the IDC tip pin (Tt) and the ring pin (Tr) of the lead wiring pin (P2i), respectively. Although interconnected, when the bantam plug 3 of Fig. 7 is inserted into the bantam jack 2, they are opened to each other and instead connected to the terminals e, f, g and h of the bantam plug 3, respectively. The terminals e, f, g, and h of the bantam plug 3 are connected to the lead wiring clamps C1 and C2 and the lead wiring clamps C3 and C4, respectively, through the cord wires 4. The wiring pin P1i is the pin of the bantam plug 3. The inlet wiring clamps C1 and C2 are connected to the IDC tip pin Tt and the ring pin Tr of the outgoing wiring pin P2i, respectively, and the outgoing wiring clamps C3 and C4 of the bantam plug 3 are the outgoing wiring pins. (P2i) is connected to the IDC tip pin (Tt) and ring pin (Tr), respectively.

따라서, IDC 형 터미널 블록의 동작 상태를(즉, 이상 여부를) 시험하고자 하는 경우에는 시험하고자 하는 인입 배선용 핀(P1i) 및 인출 배선핀(P2i)들 사이에 형성된 밴텀 잭(2)에 밴텀 플러그(3)를 삽입한다. 이와 같이 밴텀 플러그(3)가 밴텀 잭(2)에 삽입되면 상술한 바와 같이 인입 배선용 핀(P1i)과 인출 배선용 핀(P2i)은 상호 단락되나, 인입 배선용 핀(P1i)은 밴텀 플러그(3)의 인입용 클램프(C1,C2)에 연결되고, 인출 배선용 핀(P2i)은 밴텀 플러그(3)의 인출용 클램프(C3,C4)에 연결된다. 따라서, 이 밴텀 플러그(3)에 연결된 인입, 인출용 클램프(C1,C2,C3,C4)를 시험용 기기(인입선 및 인출선을 통한 신호의 상태를 검사하기 위한 장치)에 각각 연결하므로써 IDC형 터미널 블록에 연결된 인입 배선 및 인출 배선의 심선 상태 및 데이터의 전송 상태를 용이하게 검사할 수 있다. Therefore, when the operation state of the IDC type terminal block (that is, abnormality) is to be tested, the bantam plug is provided in the bantam jack 2 formed between the lead wiring pin P1i and the lead wiring pin P2i to be tested. Insert (3). When the bantam plug 3 is inserted into the bantam jack 2 as described above, the lead wiring pin P1i and the lead wiring pin P2i are short-circuited to each other, but the lead wiring pin P1i is connected to the bantam plug 3. Is connected to the drawing clamp (C1, C2), the lead wire pin (P2i) is connected to the drawing clamp (C3, C4) of the bantam plug (3). Accordingly, the IDC terminal is connected by connecting the inlet / outlet clamps C1, C2, C3, and C4 connected to the bantam plug 3 to the test equipment (devices for checking the state of signals through the inlet and outlet lines), respectively. The core state of the lead wires and the lead wires connected to the block and the transfer state of data can be easily checked.

이와 같이 본 발명의 IDC형 터미널 블록에서는 페어선들간의 누화 간섭이 대폭 감소하며, 절분 시험을 간단히 행할 수 있다는 효과가 있다. As described above, in the IDC terminal block of the present invention, crosstalk interference between pair wires is greatly reduced, and there is an effect that the chip test can be easily performed.

도 1은 종래 아이디시형 터미널 블록의 측면도,1 is a side view of a conventional ID-type terminal block,

도 2는 종래 아이디시형 터미널 블록의 평면도, 2 is a plan view of a conventional ID-type terminal block,

도 3은 본 발명에 따른 아이디시형 터미널 블록의 측면도, 3 is a side view of the ID-type terminal block according to the present invention;

도 4는 본 발명에 따른 아이디시형 터미널 블록의 평면도, 4 is a plan view of an id-type terminal block according to the present invention;

도 5는 본 발명에 따른 아이디시형 터미널 블록에서 페어선내의 정전 용량을 설명하기 위한 도면, 5 is a view for explaining the capacitance in the pair line in the ID-type terminal block according to the present invention;

도 6은 본 발명에 따른 아이디시형 터미널 블록에 구성되는 밴텀 잭의 개략도, 6 is a schematic diagram of a bantam jack configured in an ID-type terminal block according to the present invention;

도 7은 본 발명에 따른 아이디시형 터미널 블록의 밴텀 플러그의 개략도, 7 is a schematic diagram of a bantam plug of an id-type terminal block according to the present invention;

<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명><Description of the symbols for the main parts of the drawings>

1 : 아이디시형 터미널 블록 2 : 밴텀 잭1: ID terminal terminal block 2: Bantam jack

3 : 밴텀 플러그3: bantam plug

Claims (2)

IDC(Interconnect Displacement Connection)형 터미널 블록에 있어서, In the IDC (Interconnect Displacement Connection) terminal block, 상기 IDC형 터미널 블록내 핀들은 팁선 및 링선에 각각 연결되는 두 개의 IDC용 핀들을 구비하며, 상기 IDC용 핀들은 인접 IDC용 핀들과 60。의 높이차를 갖고 팁선/링선과 접속되도록 구성된 아이디씨형 터미널 블록.The pins in the IDC type terminal block have two IDC pins respectively connected to the tip line and the ring line, and the IDC pins have a height difference of 60 ° with the adjacent IDC pins and are configured to be connected to the tip line / ring line. Type terminal block. 제 1 항에 있어서, The method of claim 1, 인입 배선용 핀과 인출 배선용 핀들 사이에는 팁선 및 링선과 연결가능한 4단자의 밴텀 잭이 구성되어, Between the lead wiring pin and the lead wiring pin, a four-terminal bantam jack connectable with a tip wire and a ring wire, 상기 밴텀 잭의 4단자와 연결가능한 4단자를 갖는 밴텀 플러그를 이용하여 상기 인입 배선용 핀과 인출 배선용 핀을 통한 데이터 전송 상태를 감시할 수 있도록 구성된 아이디씨형 터미널 블록. ID terminal terminal block configured to monitor the data transmission state through the lead wiring pin and the lead wiring pin using a bantam plug having four terminals connectable to the four terminals of the bantam jack.
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