KR100442625B1

KR100442625B1 - 단말기의 플립 또는 폴더의 개폐 인식에 이용되는 홀이펙트 스위치의 오동작을 처리하는 회로 및 방법

Info

Publication number: KR100442625B1
Application number: KR10-2002-0019818A
Authority: KR
Inventors: 임희도
Original assignee: 삼성전자주식회사
Priority date: 2002-04-11
Filing date: 2002-04-11
Publication date: 2004-08-02
Also published as: US7020504B2; US20040203534A1; KR20030081546A

Abstract

본 발명은 플립 또는 폴더를 가지는 단말기에 관한 것으로, 특히 상기 단말기의 플립 또는 폴더의 개폐를 인식하는 데 이용되는 홀 이펙트 스위치의 오동작을 처리하는 회로 및 방법에 관한 것이다. 플립 혹은 폴더의 개폐에 따른 자장의 변화를 감지하여 상기 플립 혹은 폴더의 개폐를 나타내는 제1상태 혹은 제2상태 신호를 출력하는 홀 이펙트 스위치의 출력단과, 단말기의 제어부에 상기 제1상태 혹은 제2상태 신호를 전달하기 위한 플립/폴더 상태 입력단과, 상기 홀 이펙트 스위치의 출력단과 상기 플립/폴더 상태 입력단의 접속점에 연결된 풀업용 제1저항(R1)과, 상기 홀 이펙트 스위치의 출력단과 상기 플립/폴더 상태 입력단의 접속점에 연결된 리플 제거용 캐패시터와, 한 단자가 상기 홀 이펙트 스위치의 출력단에 연결되고, 다른 단자가 상기 제1저항과 캐패시터(C1)의 접속점에 연결된 제2저항(R2)으로 이루어짐을 특징으로 한다. 따라서 본 발명은 단말기에서 플립 혹은 폴더의 개폐가 잘못 인식되는 것을 방지해줌으로써 사용자의 불편을 덜어준다. 예를 들면, 통화 중에 배터리로부터 흐르는 전류의 영향을 받아 순간적으로 홀 이펙트 스위치 출력이 변화하더라도 단말기가 이를 플립 혹은 폴더가 닫힌 것으로 오인하지 않으므로 통화를 끊어버릴 우려가 없어 사용자는 안정적으로 통화를 할 수 있는 이점이 있다.

Description

단말기의 플립 또는 폴더의 개폐 인식에 이용되는 홀 이펙트 스위치의 오동작을 처리하는 회로 및 방법{APPARATUS AND METHOD FOR CONTROLLING THE MALFUNCTION OF HALL EFFECT SWITCH USED FOR SENSING OPEN OR CLOSE OF THE FLIP OR POLDER OF TERMINAL EQUIPMENT}

본 발명은 플립 또는 폴더를 가지는 단말기에 관한 것으로, 특히 상기 단말기의 플립 또는 폴더의 개폐를 인식하는 데 이용되는 홀 이펙트 스위치의 오동작을 처리하는 회로 및 방법에 관한 것이다.

일반적으로 휴대폰과 같은 이동 단말기는 바(bar)형, 플립형, 혹은 폴더형 등으로 출시되고 있다. 상기 플립 또는 폴더에는 자석이 부착되어 있고, 단말기에는 상기 플립 또는 폴더에 대응되는 위치에 홀 이펙트 스위치(hall effect switch)가 내장되어 있다. 상기 플립 또는 폴더가 열리면 상기 홀 이펙트 스위치와 상기 자석 사이의 거리는 멀어지고, 반대의 경우는 가까워진다. 그래서 상기 홀 이펙트 스위치는 상기 자석에 의해 발생하는 자장이 변화되는 것을 감지하게 된다.

상기 홀 이펙트 스위치는 로직 IC로서, 타이머를 가지고 있어 일정 주기로 동작한다. 즉, 일정 주기마다 자장의 세기를 감지하고, 그 감지되는 자장의 세기에 따라 하이(high) 신호 또는 로우(low) 신호를 출력한다. 그래서 이동 단말기의 제어부의 입력단으로 상기 하이 신호가 입력되면 상기 제어부는 플립 또는 폴더가 열린 것으로 인식한다. 반대로, 로우 신호가 입력되면 닫힌 것으로 인식한다.

도 1은 종래의 단말기에서 플립 또는 폴더의 개폐를 인지하는 장치의 구성을 나타낸 도면이다.

홀 이펙트 스위치의 출력단(100)은 제어부의 플립/폴더 상태 입력단(200)에 플립 혹은 폴더의 개폐에 따른 자장의 변화를 감지하여 하이 혹은 로우 신호를 제공한다.

상기 홀 이펙트 스위치의 출력단(100)과 상기 제어부의 플립/폴더 상태 입력단(200)의 접속점에는 저항 R1 및 커패시터 C1이 접속된다. 여기서 상기 저항 R1은 풀업 저항으로서, 다른 단자는 공급전원 Vcc에 연결된다. 상기 커패시터 C1은 리플 제거용으로서, 다른 단자는 접지된다.

도 2를 참조하여 상기 도 1의 동작을 설명하면 다음과 같다.

(2a)는 홀 이펙트 스위치가 정상 상태의 신호를 출력하는 경우를 나타낸 것이다. 도시된 폴링 에지(falling edge)는 사용자가 플립 혹은 폴더를 닫았음을 의미한다. 구체적으로, 플립 혹은 폴더가 열린 상태에서는 홀 이펙트 스위치가 하이 신호를 출력하지만, 사용자가 플립 혹은 폴더를 닫으면 상기 홀 이펙트 스위치는 로우 신호를 출력하게 된다.

(2b)는 홀 이펙트 스위치가 비정상 상태의 신호를 출력하는 경우를 나타낸 것이다. 사용자가 통화를 할 경우 배터리에서 흐르는 전류에 의해 자장이 발생할 수도 있다. 홀 이펙트 스위치는 이와 같은 자장의 변화도 감지한다. 다시 말해서, 플립 혹은 폴더의 개폐에 따른 자장의 변화가 아닌, 다른 이유에 의한 자장의 변화도 감지한다. 이렇게 되면 제어부에서 플립 혹은 폴더의 개폐를 잘못 감지할 수도 있게 된다.

도시된 바와 같이, 짧은 시간 간격으로 홀 이펙트 스위치의 출력이 하이 신호에서 로우 신호로 바뀌었다가 다시 로우 신호에서 하이 신호로 바뀌는 경우 혹은 그 반대로 바뀌는 경우가 상기 비정상 상태의 한 예이다.

상기한 바와 같이 제어부가 플립 혹은 폴더의 개폐를 잘못 인식하게 되면 단말기의 사용이 매우 불편해진다. 휴대용 전화기의 경우를 예로 들면, 통화 중 갑자기 통화가 끊어지는 현상이 발생할 수 있다. 그밖에 단말기 자체적인 기능을 사용 중이었다고 하더라도 해당 기능이 제대로 수행되지 못하고 종료되어 버리는 경우를 당할 수도 있다.

따라서 본 발명의 목적은 단말기의 플립 또는 폴더의 개폐 인식에 이용되는 홀 이펙트 스위치의 오동작을 처리하는 회로 및 방법을 제공함에 있다.

상기한 바와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 단말기의 플립 또는 폴더의 개폐 인식에 이용되는 홀 이펙트 스위치의 오동작을 처리하는 회로에 있어서, 플립 혹은 폴더의 개폐에 따른 자장의 변화를 감지하여 상기 플립 혹은 폴더의 개폐를 나타내는 제1상태 혹은 제2상태 신호를 출력하는 홀 이펙트 스위치의 출력단과, 단말기의 제어부에 상기 제1상태 혹은 제2상태 신호를 전달하기 위한 플립/폴더 상태 입력단과, 상기 홀 이펙트 스위치의 출력단과 상기 플립/폴더 상태 입력단의 접속점에 연결된 풀업용 제1저항(R1)과, 상기 홀 이펙트 스위치의 출력단과 상기 플립/폴더 상태 입력단의 접속점에 연결된 리플 제거용 캐패시터와, 한 단자가 상기 홀 이펙트 스위치의 출력단에 연결되고, 다른 단자가 상기 제1저항과 캐패시터(C1)의 접속점에 연결된 제2저항(R2)으로 이루어짐을 특징으로 한다.

도 1은 종래의 단말기에서 플립 또는 폴더의 개폐를 인지하는 부분의 구성을 나타낸 도면

도 2는 홀 이펙트 스위치가 정상 상태 및 비정상 상태 신호를 출력하는 경우를 나타낸 도면

도 3은 단말기에서 플립 또는 폴더의 개폐를 인지하는 부분 중 본 발명의 실시 예에 따른 홀 이펙트 스위치의 오동작 처리 장치가 추가된 구성을 나타낸 도면

도 4는 본 발명의 실시 예에 따라 홀 이펙트 스위치의 출력 신호를 보정한 상태를 나타낸 도면

도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 홀 이펙트 스위치의 오동작을 처리하는 방법을 나타낸 흐름도

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예를 상세히 설명한다. 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략할 것이다.

도 3은 단말기에서 플립 또는 폴더의 개폐를 인지하는 부분 중 본 발명의 실시 예에 따른 홀 이펙트 스위치의 오동작 처리 회로가 추가된 구성을 나타낸 도면이다.

전술한 도 1의 구성과 비교할 때, 본 발명을 실시하기 위해서 도 3에는 저항 R2가 추가로 연결되며, 각 저항 및 캐패시터의 용량도 도 1의 그것들과 달라져야 한다.

저항 R2는 일 측이 홀 이펙트 스위치의 출력단(300)과 접속되고, 다른 일 측은 저항 R1과 커패시터 C1의 접속점에 연결되어 있다. 상기 저항 R2의 연결로, 로우 신호는가 된다.

홀 이펙트 스위치는 일정 주기(예: 60msec)로 자장의 세기를 측정하여 그 값을 그대로 유지시키기 위해서는 래치(latch)와 같은 소자를 사용할 수 있다. 일반적으로 반도체 소자가 어떤 신호(예: 공급전압 Vcc)를 하이 신호로 인식하기 위해서는 적어도 그 신호의 크기가 이상적인(ideal) 값의 70% 이상이 되어야 한다. 반대로, 로우 신호로 인식하기 위해서는 적어도 그 신호의 크기가 이상적인 값의 30% 이하가 되어야 한다. 이러한 조건을 만족시키기 위해서는 상기 저항 R1과 저항 R2의 비를 다음 수학식 1과 같이 결정해야 한다.

도 3에서 저항 R1과 저항 R2를 각각 90K과 10K용량으로 선택하여 사용하면 상기 조건을 만족한다.

구체적인 예를 들면, 전술한 도 1의 경우는 저항 R1이 100K이고 커패시터 C1은 0.1 uF이며 하이 신호가 1 VCC 일 때 로우 신호가 0 VCC 이지만, 도 3의 경우는 저항 R1이 90K이고 저항 R2가 10K이며 커패시터 C1이 33㎌이고 하이 신호가 1 VCC 일 때 로우 신호가 0.1 VCC 이다.

사용자가 통화를 하는 도중에 배터리에서 흐르는 전류에 의해 자장이 발생했다고 가정하면, 종래의 경우에는 전술한 도 2에서 (2b)의 S2 혹은 S3에 도시된 바와 같이 일시적으로 홀 이펙트 스위치의 출력이 하이 신호에서 로우 신호로 바뀌겠지만, 본 발명의 실시 예에 따르면 하이 신호를 그대로 유지하여 플립 혹은 폴더가 닫힌 것으로 오인식을 되는 것을 막을 수 있다. 즉, 제어부의 플립/폴더 상태 입력단(310)으로 저항 R2와 캐패시터 C1의 곱인 시정수 τ에 의해 하한 임계값(이상적인 신호의 70%)을 넘지 않는 신호가 인가될 것이므로 하이 신호로 인식되어질 수 있다.

도 4는 본 발명의 실시 예에 따라 홀 이펙트 스위치의 출력 신호를 보정한 상태를 나타낸 도면이다.

S2-1 및 S3-1은 각각 전술한 도 2에서 (2b)의 S2 및 S3의 경우에 대응된다. 플립/폴더 상태 입력단(310)을 통해 상기 (2b)의 S2 혹은 S3을 그대로 전달받은 단말기의 제어부(도시하지 않음.)는 로우 신호 혹은 하이 신호로 인식하게 되지만, 도 3과 같은 구성을 가지면 상기 플립/폴더 상태 입력단(310)으로 전달되는 신호가 S2-1 혹은 S3-1과 같이 각각 하한 임계값(이상적인 신호의 70%) 혹은 상한 임계값(이상적인 신호의 30%)을 넘지 않아 정상적으로 하이 신호 혹은 로우 신호로 인식되어질 수 있다.

자장의 세기를 측정하는 주기 t동안 발생하는 순간적인 전압 강하가 30% 이하여야 정상적인 하이 신호로 인식되므로 하한 임계값 v1(t)은 다음 수학식 2와 같이 나타낼 수 있다.

≥0.7VCC (τ= R2 * C1)

여기서 상기 주기 t가 60msec라고 가정하면, 상기 시정수 τ는 약 0.1682 이상이므로 저항 R2의 용량이 10K일 때 커패시터 C1은 16.82㎌ 보다 크면 된다. 그러므로 전술한 가정과 같이 커패시터 C1의 용량을 33㎌으로 사용한 것은 상기 조건을 만족하는 것이다.

시정수 τ가 0.33인 경우 상기 수학식 2는 다음과 같이 계산된다.

v1(t) = VCC * e= 0.8

반대로, 자장의 세기를 측정하는 주기 t동안 발생하는 순간적인 전압 상승역시 30% 이하여야 정상적인 로우 신호로 인식되므로 상한 임계값 v2(t)는 다음 수학식 3과 같이 나타낼 수 있다.

)+ R2/(R1+R2) * (1 - e ) ) ≤0.3VCC (τ1 = R2 * C1, τ2 = R1 * C1)

여기서 상기 주기 t가 60msec라고 가정하면, 상기 시정수 τ는 약 27.29 이상이므로 저항 R1의 용량이 90K이고 저항 R2의 용량이 10K일 때 커패시터 C1은 27.29㎌ 보다 크면 된다. 그러므로 전술한 가정과 같이 커패시터 C1의 용량을 33㎌으로 사용한 것은 상기 조건을 만족하는 것이다.

시정수 τ가 0.33인 경우 상기 수학식 3은 다음과 같이 계산된다.

결론적으로, 본 발명을 실시하기 위해서는 도 3과 같은 구성을 가지는 동시에, 두 저항 R1, R2와 캐패시터 C1이 상기 수학식 1 ∼ 수학식 3을 만족하는 용량을 갖는 것이어야 한다.

한편, 상술한 바와 같이 하드웨어적으로 홀 이펙트 스위치의 오동작을 처리하는 것과 달리 소프트웨어적으로 구현할 수도 있다.

도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 홀 이펙트 스위치의 오동작을 처리하는 방법을 나타낸 흐름도이다.

이 방법은 최대 에러 시간보다 긴 시간동안 신호에 변화가 없으면 정상으로 인식하는 것인데, 이 방법을 사용할 경우 플립 또는 폴더의 개폐를 인지하는 부분은 도 1과 같이 그대로 두어도 된다.

이 방법의 개요는 다음과 같다.

제어부가 폴링 혹은 인터럽트 방식에 의거 플립/폴더 상태 입력단(200)을 체크한 순간 로우 신호가 검출되었는데, 이전에 검출한 신호가 하이 신호였다면, 현재 일어난 변화가 외부 간섭에 의한 순간적 오류인지 실제로 플립 혹은 폴더가 닫힌 것인지 구별할 수 없다. 그러므로 이 경우에는 홀 이펙트 스위치의 샘플링 주기 (예를 들어 60ms)보다 짧은 주기를 갖는 타이머 (예를 들어 50ms)를 2회 동작시켜 연속해서 2회 모두 로우 신호가 검출될 경우 실제로 플립 혹은 폴더가 닫힌 것으로 인식한다. 그러나 상기 타이머를 2회 동작시키는 동안 1회라도 하이 신호가 검출될 경우에는 순간적인 오류에 의한 변화로 인식하고 그 변화를 무시한다. 즉, 플립 혹은 폴더가 닫힌 것으로 인식하지 않는다.

마찬가지로, 제어부가 플립/폴더 상태 입력단(200)을 체크한 순간 하이 신호가 검출되었는데, 이전에 검출한 신호가 로우 신호였다면, 현재 일어난 변화가 외부 간섭에 의한 순간적 오류인지 실제로 플립 혹은 폴더가 열린 것인지 구별할 수 없다. 그러므로 이 경우에는 홀 이펙트 스위치의 샘플링 주기 보다 짧은 주기를 갖는 타이머를 2회 동작시켜 연속해서 2회 모두 하이 신호가 검출될 경우 실제로 플립 혹은 폴더가 열린 것으로 인식한다. 그러나 상기 타이머를 2회 동작시키는 동안 1회라도 로우 신호가 검출될 경우에는 순간적인 오류에 의한 변화로 인식하고 그 변화를 무시한다. 즉, 플립 혹은 폴더가 열린 것으로 인식하지 않는다.

상기와 같이 타이머를 2회 동작시켜서 판단하는 경우는 오류가 연속해서 발생하지 않는다고 가정한 것이다. 그러나 이러한 전제를 무시하면, 즉 오류가 연속해서 발생하는 경우를 고려하면 다음 수학식 4와 같은 조건을 만족시켜야 한다.

T2 * CNT ≥T1 * Emax

여기서, T1은 홀 이펙트 스위치의 샘플링 주기, 즉 자장의 세기를 검출하는 주기(예: 60ms)이고, T2는 플립/폴더 상태 입력단(200)으로 입력되는 신호의 상태 변화가 검출되었을 때 그것이 오류인지 아닌지 여부를 확인하기 위해 그때부터 일시적으로 제어부가 플립/폴더 상태 입력단(200)을 체크하는 주기(예: 50ms)를 의미한다. 또한 CNT는 상기 주기 T2를 구현하기 위한 타이머(제2타이머)의 동작 횟수를 나타내고, Emax는 홀 이펙트 스위치의 연속한 오류의 최대 발생 개수를 의미한다. 상기 연속한 오류의 최대 발생 개수는 실험 결과치를 사용할 수 있을 것이다.

예를 들어, 연속해서 오류가 발생하는 개수가 최대 2개이면, 홀 이펙트 스위치의 샘플링 주기를 60ms라 할 경우, 순간적인 오류가 120ms동안 유지될 수 있다. 다시 말해서, 오류가 일어날 수 있는 최대(최악)의 시간은 120ms이다. 그러므로 이 경우에는 상기 홀 이펙트 스위치의 샘플링 주기 보다 짧은 주기, 예를 들면 50ms 타이머를 3회 동작시켜 오류를 검사한다.

도 5는 상기와 같은 연속 혹은 비연속 오류 발생의 경우를 모두 고려하여 나타낸, 본 발명의 실시 예에 따른 홀 이펙트 스위치의 오동작을 처리하는 방법을 도시한, 흐름도이다.

5a단계에서 단말기의 제어부(도시하지 않음.)는 초기화 작업을 수행한다. 상기 초기화 작업에는 전술한 홀 이펙트 스위치의 샘플링 주기 T1, 플립/폴더 상태 입력단(200)으로 입력되는 신호의 상태 변화가 검출되었을 때 그것이 오류인지 아닌지를 확인하기 위해 그때부터 일시적으로 제어부가 플립/폴더 상태 입력단(200)을 체크하는 주기 T2, 상기 주기 T2를 구현하기 위한 제2타이머의 동작 횟수 CNT, 그리고 홀 이펙트 스위치의 연속한 오류의 최대 발생 개수 Emax를 설정하는 동작을 포함한다.

5b단계에서 제어부는 제2타이머의 구동으로 주기 T2(예 : 50ms)가 경과했는지 체크한다. 상기 체크결과 주기 T2가 경과되었으면, 5c단계에서 제어부는 현재 홀 이펙트 스위치에서 출력되는 신호의 상태, 즉 플립/폴더 상태 입력단(200)을 통해 감지되는 신호의 상태가 이전에 감지된 신호와 같은지 체크한다. 상기 체크결과 현재 검출된 신호와 이전에 검출된 신호의 상태가 같으면 5g단계로 진행하여 카운트를 리셋한 다음 상기 5b단계로 되돌아간다.

반면에, 현재 검출된 신호와 이전에 검출된 신호의 상태가 다르면 플립 혹은 폴더가 개폐되었거나 오인식된 경우이다. 그러므로 오인식된 경우인지 아닌지 확인하기 위해 다음 단계들을 수행한다.

5d단계에서 CNT를 1증가시킨 다음, 5e단계로 진행하여 CNT가 Emax 보다 큰지 여부를 체크한다. 이때 만일 상기 CNT가 Emax 보다 크지 않으면 상기 5b단계로 되돌아간다. 반면에, 상기 CNT가 Emax 보다 크면 5f단계에서 정상 처리 후, 상기 5g단계로 진행하여 CNT를 리셋한 다음 상기 5b단계로 되돌아간다.

한편 본 발명의 상세한 설명에서는 구체적인 실시 예에 관해 설명하였으나,본 발명의 범위에서 벗어나지 않는 한도 내에서 여러 가지 변형이 가능함은 물론이다. 그러므로 본 발명의 범위는 설명된 실시 예에 국한되지 않으며, 후술되는 특허청구의 범위뿐만 아니라 이 특허청구의 범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.

상술한 바와 같이 본 발명은 단말기에서 플립 혹은 폴더의 개폐가 잘못 인식되는 것을 방지해줌으로써 사용자의 불편을 덜어준다. 예를 들면, 통화 중에 배터리로부터 흐르는 전류의 영향을 받아 순간적으로 홀 이펙트 스위치 출력이 변화하더라도 단말기가 이를 플립 혹은 폴더가 닫힌 것으로 오인하지 않으므로 통화를 끊어버릴 우려가 없어 사용자는 안정적으로 통화를 할 수 있는 이점이 있다.

Claims

단말기의 플립 또는 폴더의 개폐 인식에 이용되는 홀 이펙트 스위치의 오동작을 처리하는 회로에 있어서,

플립 혹은 폴더의 개폐에 따른 자장의 변화를 감지하여 상기 플립 혹은 폴더의 개폐를 나타내는 제1상태 혹은 제2상태 신호를 출력하는 홀 이펙트 스위치의 출력단과,

단말기의 제어부에 상기 제1상태 혹은 제2상태 신호를 전달하기 위한 플립/폴더 상태 입력단과,

상기 홀 이펙트 스위치의 출력단과 상기 플립/폴더 상태 입력단의 접속점에 연결된 풀업용 제1저항(R1)과,

상기 홀 이펙트 스위치의 출력단과 상기 플립/폴더 상태 입력단의 접속점에 연결된 리플 제거용 캐패시터와,

한 단자가 상기 홀 이펙트 스위치의 출력단에 연결되고, 다른 단자가 상기 제1저항과 캐패시터(C1)의 접속점에 연결된 제2저항(R2)으로 이루어짐을 특징으로 하는 회로.
제1항에 있어서,

상기 제1 및 제2저항의 용량비는 다음 수학식 5와 같고, 상기 플립/폴더 상태 입력단으로 제공되는 신호가 상기 제1상태 혹은 제2상태로 인식되는 하한 임계값 v1(t) 및 상한 임계값 v2(t)는 다음 수학식 6 및 수학식 7을 만족함을 특징으로 하는 회로.

≥0.7VCC

(τ= R2 * C1, t: 홀 이펙트 스위치가 자장의 세기를 측정하는 주기)

)+ R2/(R1+R2) * (1 - e ) ) ≤0.3VCC (τ1 = R2 * C1, τ2 = R1 * C1)
단말기의 플립 또는 폴더의 개폐 인식에 이용되는 홀 이펙트 스위치의 오동작을 처리하는 방법에 있어서,

홀 이펙트 스위치가 자장의 세기를 검출하는 제1주기(T1), 제어부의 플립/폴더 상태 입력단으로 입력되는 신호의 상태 변화를 체크하는 제2주기(T2), 상기 제2주기의 도래를 체크하기 위한 타이머의 동작 횟수(CNT), 홀 이펙트 스위치의 연속한 오류의 최대 발생 개수(Emax)를 다음 수학식 8을 만족하도록 설정하는 초기화동작을 수행하는 제1과정과,

T2 * CNT ≥T1 * Emax

상기 제1과정 수행 후, 상기 제2주기가 경과되었으면 홀 이펙트 스위치에서 출력되어 제어부의 플립/폴더 상태 입력단을 통해 감지되는 신호의 상태가 이전에 감지된 신호와 같은지 체크하는 제2과정과,

상기 제2과정에서 현재 검출된 신호와 이전에 검출된 신호의 상태가 다르면 타이머 동작 횟수를 1증가시킨 다음, 상기 수학식 8을 만족하는지 여부를 체크하는 제3과정과,

상기 제3과정에서 상기 수학식 8을 만족하면 플립 혹은 폴더의 개/폐로 인식하는 제4과정으로 이루어짐을 특징으로 하는 방법.
제3항에 있어서,

상기 제2과정 혹은 제4과정에서 현재 검출된 신호와 이전에 검출된 신호의 상태가 같거나 상기 제4과정 수행 후, 타이머 동작 횟수를 리셋한 다음 상기 제2과정부터 다시 수행하도록 하는 제5과정을 더 포함함을 특징으로 하는 방법.
제3항에 있어서,

상기 제2주기(T2)는 상기 제1주기(T1) 보다 상대적으로 짧은 주기임을 특징으로 하는 방법.