KR100431242B1 - Substrate for LCD and method for fabricating of the same - Google Patents

Substrate for LCD and method for fabricating of the same Download PDF

Info

Publication number
KR100431242B1
KR100431242B1 KR10-2001-0041130A KR20010041130A KR100431242B1 KR 100431242 B1 KR100431242 B1 KR 100431242B1 KR 20010041130 A KR20010041130 A KR 20010041130A KR 100431242 B1 KR100431242 B1 KR 100431242B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
electrode
wiring
pixel
gate
substrate
Prior art date
Application number
KR10-2001-0041130A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20030005715A (en
Inventor
백흠일
김기홍
Original Assignee
엘지.필립스 엘시디 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지.필립스 엘시디 주식회사 filed Critical 엘지.필립스 엘시디 주식회사
Priority to KR10-2001-0041130A priority Critical patent/KR100431242B1/en
Publication of KR20030005715A publication Critical patent/KR20030005715A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR100431242B1 publication Critical patent/KR100431242B1/en

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/1333Constructional arrangements; Manufacturing methods
    • G02F1/1345Conductors connecting electrodes to cell terminals
    • G02F1/13454Drivers integrated on the active matrix substrate
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • G02F1/136286Wiring, e.g. gate line, drain line
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2320/00Control of display operating conditions
    • G09G2320/02Improving the quality of display appearance
    • G09G2320/0247Flicker reduction other than flicker reduction circuits used for single beam cathode-ray tubes
    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2320/00Control of display operating conditions
    • G09G2320/02Improving the quality of display appearance
    • G09G2320/0257Reduction of after-image effects

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)

Abstract

본 발명은 액정표시장치용 어레이기판의 ΔVP측정방법에 관한 것이다.The present invention relates to a method of measuring ΔV P of an array substrate for a liquid crystal display device.

종래에는, 상기 어레이기판을 구성하는 각 화소에서 발생하는 ΔVP값을 정확히 측정할 수 없었기 때문에, ΔVP값에 의해 발생하는 플리커 패턴을 띄운 후 수동으로 공통전압을 조정하여 상기 플리커 패턴을 제거하는 방법으로 ΔVP값을 보정하였다.In the related art, since the ΔV P value generated in each pixel constituting the array substrate could not be accurately measured, the flicker pattern generated by the ΔV P value was floated, and then the common voltage was manually adjusted to remove the flicker pattern. The ΔV P value was corrected by the method.

전술한 바와 같은 공통전압 조정방법은 플리커패턴을 사람 눈으로 확인하기 때문에 정확한 ΔVP값을 찾지 못할 뿐 아니라 각 그레이(gray)별로 측정해야 하기 때문에 시간이 오래 걸리는 단점이 있다.As described above, the common voltage adjusting method does not find an accurate ΔV P value because the flicker pattern is checked by the human eye, and it takes a long time because it needs to be measured for each gray.

이러한 문제를 해결하기 위한 본 발명은, 어레이기판의 화소전극과 접촉하는 별도의 배선을 추가하여, 상기 배선을 통해 각 화 소에 흐르는 신호의 정확한 파형을 측정할 수 있도록 하였다.In order to solve this problem, the present invention adds a separate wiring contacting the pixel electrode of the array substrate, so that an accurate waveform of a signal flowing to each pixel can be measured through the wiring.

이와 같은 방법은 상기 ΔVP값을 비교적 정확히 측정할 수 있기 때문에 ΔVP값을 보정하기가 쉽다. 따라서 ΔVP에 의한 플리커(flicker)나 잔상(residual image)과 같은 불량을 방지할 수 있으므로, 더욱 선명한 화질을 보유한 액정패널을 제작하는 것이 가능하다.With this method, it is easy to correct the value ΔV P it is possible to relatively accurately measure the value ΔV P. Therefore, defects such as flicker or residual image due to ΔV P can be prevented, and thus it is possible to manufacture a liquid crystal panel having a clearer image quality.

Description

액정표시장치용 어레이기판과 그 제조방법{Substrate for LCD and method for fabricating of the same}Array substrate for liquid crystal display device and manufacturing method thereof {Substrate for LCD and method for fabricating of the same}

본 발명은 액정표시장치(LCD)용 어레이기판에 관한 것이며, 특히 어레이기판 상에 형성된 스위칭소자의 구성에 관한 것으로, 상기 스위칭소자를 구성하는 게이트전극과 드레인전극의 겹침면적에서 발생하는 기생용량(Cgd)에 의해 화소영역에서 발생하는 직류성분인 ΔVp의 정확한 값을 측정하기 위한 액정표시장치용 어레이기판 및 그 제작방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an array substrate for a liquid crystal display device (LCD), and more particularly, to a configuration of a switching element formed on an array substrate, wherein the parasitic capacitance generated at the overlapping area of the gate electrode and the drain electrode constituting the switching element ( C gd ) relates to an array substrate for a liquid crystal display device and a method of manufacturing the same for measuring an accurate value of ΔV p , which is a direct current component generated in a pixel region.

도 1은 일반적인 액정표시장치를 개략적으로 나타낸 분해사시도이다.1 is an exploded perspective view schematically illustrating a general liquid crystal display device.

도시한 바와 같이, 일반적인 액정표시장치(11)는 다수의 서브컬러필터(7)와, 각 서브 컬러필터 사이에 구성된 블랙매트릭스(6)와, 상기 서브컬러필터(7)와 블랙매트릭스(6)상에 증착된 투명한 공통전극(18)이 형성된 상부기판(5)과, 화소영역(P)과, 화소영역 상에 형성된 화소전극(17)과, 스위칭소자(T)와, 어레이배선이 형성된 하부기판(22)으로 구성되며, 상기 상부기판(5)과 하부기판(22) 사이에는 액정(14)이 충진되어 있다.As shown in the drawing, a general liquid crystal display device 11 includes a plurality of sub color filters 7, a black matrix 6 disposed between each sub color filter, and the sub color filter 7 and the black matrix 6. An upper substrate 5 having a transparent common electrode 18 deposited thereon, a pixel region P, a pixel electrode 17 formed on the pixel region, a switching element T, and a lower array array formed thereon. It consists of a substrate 22, the liquid crystal 14 is filled between the upper substrate 5 and the lower substrate 22.

상기 하부기판(22)은 어레이기판이라고도 하며, 스위칭소자인 박막트랜지스터(T)가 매트릭스형태(matrix type)로 위치하고, 이러한 다수의 박막트랜지스터를교차하여 지나가는 게이트배선(13)과 데이터배선(15)이 형성된다.The lower substrate 22 is also called an array substrate, and the thin film transistor T, which is a switching element, is positioned in a matrix type, and the gate wiring 13 and the data wiring 15 passing through the plurality of thin film transistors cross each other. Is formed.

이때, 상기 화소영역(P)은 상기 게이트배선(13)과 데이터배선(15)이 교차하여 정의되는 영역이며, 상기 화소영역 상에는 전술한 바와 같이, 투명한 화소전극(17)이 형성된다.In this case, the pixel area P is an area defined by the gate wiring 13 and the data wiring 15 intersecting. A transparent pixel electrode 17 is formed on the pixel area as described above.

상기 화소전극(17)은 인듐-틴-옥사이드(indium-tin-oxide : ITO)와 같이 빛의 투과율이 비교적 뛰어난 투명 도전성금속을 사용한다.The pixel electrode 17 uses a transparent conductive metal having a relatively high transmittance of light, such as indium-tin-oxide (ITO).

전술한 바와 같은 구성을 가지는 액정패널의 동작은 액정의 전기광학적 효과에 기인한 동작특성에 의한 것이다.The operation of the liquid crystal panel having the configuration as described above is due to the operating characteristics due to the electro-optical effect of the liquid crystal.

자세히 설명하면, 상기 액정(도 1의 14)은 자발분극 특성을 가지는 유전이방성 물질이며, 전압이 인가되면 자발분극에 의해 쌍극자를 형성함으로써 전계의 인가방향에 따라 분자의 배열방향이 바뀌는 특성을 갖는다.In detail, the liquid crystal (14 of FIG. 1) is a dielectric anisotropic material having spontaneous polarization characteristics, and when a voltage is applied, a dipole is formed by spontaneous polarization to change the arrangement direction of molecules according to an application direction of an electric field. .

따라서, 이러한 배열상태에 따라 광학적 특성이 바뀜으로써 전기적인 광변조가 생기게 된다.Therefore, the optical characteristic is changed according to this arrangement state, thereby causing electrical light modulation.

이러한 액정의 광변조현상에 의해 빛을 차단 또는 통과시키는 방법으로 이미지를 구현하게 된다.The image is realized by a method of blocking or passing light by the light modulation phenomenon of the liquid crystal.

도 2는 도 1의 구성 중 일부 화소만을 도시한 확대평면도이다.FIG. 2 is an enlarged plan view showing only some pixels in the configuration of FIG. 1.

전술한 구성 중 상기 액정(14)을 구동하기 위해 필요한 요소들은 신호를 전달하는 게이트배선(13)과 데이터배선(15)과, 상기 게이트배선과 데이터배선에 각각 연결되고, 상기 게이트배선(13)과 데이터배선(15)이 교차하는 지점에 위치하는 스위칭소자인 박막트랜지스터(T)와 상기 박막트랜지스터에 연결된 화소전극(17)이다.The elements necessary for driving the liquid crystal 14 of the above-described configuration are connected to the gate wiring 13 and the data wiring 15 for transmitting signals, the gate wiring and the data wiring, respectively, and the gate wiring 13. And a thin film transistor T which is a switching element positioned at the intersection of the data line 15 and the pixel electrode 17 connected to the thin film transistor.

상기 박막트랜지스터(T)는 상기 게이트배선(13)과 연결된 게이트전극(31)과, 상기 게이트전극(31)상부에서 상기 게이트전극(31)과 소정면적으로 겹쳐 형성되는 소스전극(33)및 드레인전극(35)으로 구성되며, 상기 소스전극과 드레인전극은 반도체층(32)을 사이에 두고 이격되어 형성된다.The thin film transistor T includes a gate electrode 31 connected to the gate wiring 13, a source electrode 33 and a drain formed on the gate electrode 31 to overlap a predetermined area with the gate electrode 31. Comprising an electrode 35, the source electrode and the drain electrode are formed spaced apart with the semiconductor layer 32 therebetween.

상기 반도체층(32)은 일반적으로 비정질실리콘(a-Si:H)을 사용하여 형성하며, 경우에 따라서 폴리실리콘으로 형성할 수 있다.The semiconductor layer 32 is generally formed using amorphous silicon (a-Si: H), and may be formed of polysilicon in some cases.

이때, 상기 소스전극(33)은 상기 게이트배선(13)과 교차하는 데이터배선(15)과 연결되어 형성되고, 상기 드레인전극(35)은 상기 화소영역(P)상에 위치한 화소전극(17)과 연결된다.In this case, the source electrode 33 is connected to the data line 15 intersecting the gate line 13, and the drain electrode 35 is the pixel electrode 17 positioned on the pixel area P. Connected with

여기서, 상기 화소전극(17)의 일부는 상기 화소영역(P)을 정의하는 게이트배선(13)의 상부까지 연장되어 상기 게이트배선과 함께 스토리지 커패시터(Cst)(C)를 이룬다.A portion of the pixel electrode 17 extends to an upper portion of the gate line 13 defining the pixel area P to form a storage capacitor C st and C together with the gate line.

전술한 구성에서, 상기 액정패널은 상기 게이트배선(13)에 접속된 박막트랜지스터(T)의 게이트전극(31)에 게이트 전압(주사펄스)를 인가하여 스위칭소자를 온 상태로 하고, 상기 게이트 전압(주사펄스)에 의해 동기되어 드레인전극으로부터 진폭 변조된 화소 전압(영상신호 펄스)이 화소에 전달되면, 상기 전달된 신호에 의해 상기 화소전극 상에 분포한 액정(도 1의 14)이 분극하여 재배열하게 된다.In the above-described configuration, the liquid crystal panel applies a gate voltage (scan pulse) to the gate electrode 31 of the thin film transistor T connected to the gate wiring 13 to turn on the switching element, and the gate voltage When a pixel voltage (video signal pulse), which is amplitude-modulated from the drain electrode in synchronization with (scanning pulse), is transmitted to the pixel, the liquid crystal (14 in FIG. 1) distributed on the pixel electrode is polarized by the transmitted signal. Will rearrange.

만약, 게이트배선이 선택되지 않으면 오프상태(off state)가 되고, 박막트랜지스터를 통하여 화소에 축적된 전하가 오프상태에서 박막트랜지스터 및 액정에 계속 방전(discharge)하게 된다.If the gate wiring is not selected, the gate state is turned off, and the charge accumulated in the pixel through the thin film transistor continues to discharge to the thin film transistor and the liquid crystal in the off state.

이러한 방전현상은 상기 박막트랜지스터의 오프저항이 큰 경우나 분해능(resolution)을 올리기 위해 화소의 면적이 작아져도 화소에 충전된 전하들이 빨리 방전될 수 있다.The discharge phenomenon may cause the charges charged in the pixel to be discharged quickly even when the off resistance of the thin film transistor is large or the area of the pixel is small to increase the resolution.

이러한 현상을 방지하기 위해, 상기 스토리지 커패시터(storage capacitor)(Cst)는 상기 화소전극에 병렬로 연결하여 사용하게 되며, 상기 스토리지 커패시터는 방전된 전하를 보충하여 화소전압을 유지하는 역할을 하게 된다.In order to prevent this phenomenon, the storage capacitor C st is connected to the pixel electrode in parallel, and the storage capacitor serves to maintain the pixel voltage by supplementing the discharged charge. .

이때, 상기 입력된 화소전압은 상기 박막트랜지스터의 단자간 기생 용량에 의해 영향을 받아 변동한다.In this case, the input pixel voltage is affected by the parasitic capacitance between the terminals of the thin film transistor.

상기 박막트랜지스터(T)의 단자간 기생용량성분은 상기 게이트전극(31)과 소스전극(33)이 겹쳐지는 부분과 상기 게이트전극(31)과 드레인전극(35)이 겹쳐지는 부분에서 발생하며 특히, 상기 게이트전극(31)과 상기 드레인전극(35)이 겹쳐지는 부분(도 2의 빗금친 영역)에서 발생하는 기생용량을 Cgd라 하는데, 이러한 드레인전극(35)과 게이트전극(31)의 겹침 면적에 의한 기생용량은 상기 화소전극(17)상부에 위치한 액정(도 1의 14)의 배열특성에 영향을 미친다.The parasitic capacitance component between the terminals of the thin film transistor T is generated in a portion where the gate electrode 31 and the source electrode 33 overlap and a portion where the gate electrode 31 and the drain electrode 35 overlap. In addition, the parasitic capacitance generated at the portion where the gate electrode 31 and the drain electrode 35 overlap (hatched region of FIG. 2) is referred to as C gd , and the drain electrode 35 and the gate electrode 31 The parasitic capacitance due to the overlapping area affects the arrangement characteristics of the liquid crystal (14 in FIG. 1) positioned on the pixel electrode 17.

이와 같이 구성되는 기생용량의 변동은 플리커(flicker)나 표시의 불 균일성을 증대시키는 원인이 된다.Variation in the parasitic capacitance configured as described above causes flicker and display unevenness to be increased.

도 3은 상기 게이트배선을 흐르는 게이트 신호에 따른 전압 파형을 예측한파형이다.3 is a waveform predicting a voltage waveform according to a gate signal flowing through the gate wiring.

도시한 바와 같이, 게이트 전압(주사펄스)(21)이 온 상태(21a)에서 데이터배선을 통해 전달되는 화소 전압(영상신호펄스)(23)은 상기 박막트랜지스터의 드레인전극을 통해서 상기 액정커패시터 및 스토리지커패시터에 인가된다.As shown, the pixel voltage (video signal pulse) 23 transferred through the data wiring in the gate voltage (scan pulse) 21 is turned on (21a) through the liquid crystal capacitor and the drain electrode of the thin film transistor. Applied to the storage capacitor.

이때 게이트 전압(주사 펄스)(21)와 함께 인가된 화소 전압(영상신호펄스)(23)은 게이트전압이 오프된 후에도 계속 유지된다.At this time, the pixel voltage (image signal pulse) 23 applied together with the gate voltage (scan pulse) 21 is maintained even after the gate voltage is turned off.

그러나 상기 게이트전극과 드레인전극 사이의 기생캐패시턴스인 상기 Cgd때문에 화소전압(23`)은 ΔVp(25)만큼의 전압이동(voltage shift)이 발생한다.However, due to the parasitic capacitance C gd between the gate electrode and the drain electrode, the pixel voltage 23 ′ generates a voltage shift by ΔV p (25).

이를 일반적으로 레벨이동전압(level shift voltage)또는 킥백전압(kickback voltage)이라 한다.This is generally referred to as a level shift voltage or kickback voltage.

이러한 킥백전압 ΔVp(25)는 도 3에 도시한 바와 같이, 기생용량에 의해 교류 구동하는 화소전압 Vp(t)(23`)에 발생하는 직류전압 오프셋(voltage offset)(ΔV)이다.Such kickback voltage ΔV p 25 is a DC voltage offset ΔV generated at the pixel voltage V p (t) 23 ′ driven by parasitic capacitance as shown in FIG. 3.

이러한 오프셋은 아래와 같은 식 (1)에 의해 표현될 수 있다.This offset can be expressed by the following equation (1).

-------- (1) -------- (One)

여기서, 상기 ΔVg는 게이트신호의 펄스폭 변화를 나타내고, 상기 Clc는 액정의 커패시터 용량을 나타내고, Cst는 스토리지 커패시턴스, Cgd는 게이트전극과 드레인전극의 겹침면적에서 발생하는 기생용량을 나타낸다.Where ΔV g represents the pulse width change of the gate signal, C lc represents the capacitor capacitance of the liquid crystal, C st represents the storage capacitance, and C gd represents the parasitic capacitance generated at the overlapping area of the gate electrode and the drain electrode. .

이러한 킥백전압(kickback voltage)은 액정패널의 구조상 제거될 수 없는 값이다.This kickback voltage is a value that cannot be removed due to the structure of the liquid crystal panel.

따라서, 공통전압을 이용하여 상기 ΔVP값을 보정하는 방법을 사용한다.Therefore, a method of correcting the ΔV P value using a common voltage is used.

상기 ΔVP값은 장비를 이용하여 직접적으로 측정할 수 없는 값이며, 화소에 흐르는 데이터 신호의 파형을 띄워 간접적으로 측정하는 방법을 사용할 수 있다.The ΔV P value is a value that cannot be measured directly by using a device, and a method of indirectly measuring a waveform of a data signal flowing through a pixel may be used.

그러나, 실제 어레이기판의 각 화소에 흐르는 파형을 직접 측정할 방법은 없으며, 대략적인 주변 값들을 이용하여 상기 식(1)에 대입하는 방식으로 ΔVP값을 예측한 후, 상기 예측된 값을 기준으로 ΔVP값을 보정하는 방법을 사용한다.However, there is no method of directly measuring the waveform flowing in each pixel of the array substrate, and after predicting the ΔV P value by substituting the equation (1) using the approximate peripheral values, the reference value is referred to. Using the method to correct the ΔV P value.

그러나, 전술한 바와 같이, 계산에 의한 ΔVP값은 실제값과 오차가 많이 발생하기 때문에 정확한 방법이라 할 수 없다.However, as described above, the calculated ΔV P value is not an accurate method because many errors occur with actual values.

또한, ΔVP를 보정하기 위한 다른 방법으로, 별도의 프로그램을 이용한 연산장비(컴퓨터)를 이용하여 플리커 패턴(flicker pattern)을 띄운 후, 상기 플리커 패턴이 거의 제거될 때까지 관찰자가 직접 공통전압을 조정하여 ΔVP값을 보정하는 방법이 있다.In addition, as another method for correcting ΔV P , a flicker pattern is displayed by using a computing device (computer) using a separate program, and the observer directly applies a common voltage until the flicker pattern is almost removed. There is a method to adjust the ΔV P value by adjusting it.

상기 플리커 패턴을 띄우는 방법은 다수의 화소(도트)중 (+)전압이 인가된 화소만 온(on)되고 (-)전압이 인가된 화소는 오프(off)가 되도록 연산장치에서 패널의 전압인가 상태를 조절한다.The method of floating the flicker pattern is to apply the voltage of the panel in the operation unit so that only the pixel to which the positive voltage is applied is turned on and the pixel to which the negative voltage is applied is turned off. Adjust the condition.

이와 같이 하면, (+)전압과 (-)전압이 다를 경우 각 프레임 사이에 휘도가 달리지고 관찰자의 눈에는 깜박거리는 플리커가 관측된다.In this case, when the positive voltage and the negative voltage are different, the luminance varies between the frames and flickering flickers are observed in the observer's eyes.

이때, 상기 공통전압은 가변저항을 이용하면 조정이 가능하다.In this case, the common voltage may be adjusted by using a variable resistor.

이러한 공통전압 조정방법은 플리커의 제거 상태를 관찰자의 눈으로 확인하기 때문에 정확한 ΔVP값을 찾지 못할 뿐 아니라, 정확한 값에 접근하기 위한 방법으로 ΔVP값을 각 그레이(gray)별로 측정해야 하기 때문에 시간이 오래 걸리는 단점이 있다.This common voltage adjustment method not only finds the exact value of ΔV P because the observer's eye checks the removal of flicker, but also needs to measure the value of ΔV P for each gray as a way to access the correct value. The disadvantage is that it takes a long time.

이러한 문제를 해결하기 위한 목적으로 본 발명이 제안되었으며, 본 발명은 상기 어레이기판의 다수의 화소에 입력된 화소전압 파형을 직접 측정하여 정확한 ΔVP를 측정하는 것을 목적으로 한다.The present invention has been proposed for the purpose of solving such a problem, and the present invention aims to measure the correct ΔV P by directly measuring the pixel voltage waveform input to the plurality of pixels of the array substrate.

도 1은 일반적인 액정표시장치의 분해 사시도이고,1 is an exploded perspective view of a general liquid crystal display device;

도 2는 액정표시장치용 어레이기판의 단일화소를 도시한 확대 평면도이고,2 is an enlarged plan view showing a single pixel of an array substrate for a liquid crystal display device;

도 3은 일반적인 액정표시장치용 어레이기판에 인가되는 신호의 파형을 도시한 도면이고,3 is a diagram showing waveforms of signals applied to a general array substrate for a liquid crystal display device;

도 4는 본 발명에 따른 액정표시장치용 어레이기판의 일부를 개략적으로 도시한 평면도이고,4 is a plan view schematically showing a part of an array substrate for a liquid crystal display device according to the present invention;

도 5a 내지 도 5d는 도 4의 Ⅴ-Ⅴ를 따라 절단하여 공정순서에 따라 도시한 공정단면도이고,5A to 5D are process cross-sectional views cut along the line VV of FIG. 4 and according to a process sequence;

도 6은 어레이기판의 개략적인 평면도이다.6 is a schematic plan view of an array substrate.

<도면의 주요부분에 대한 간단한 설명><Brief description of the main parts of the drawing>

101 : 어레이기판 102 : 게이트배선101: array substrate 102: gate wiring

104 : 게이트전극 108 : 액티브층104: gate electrode 108: active layer

112 : 데이터배선 114 : 소스전극112: data wiring 114: source electrode

116 : 드레인전극 120 : 화소전극116: drain electrode 120: pixel electrode

전술한 바와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 액정표시장치용 어레이기판은 기판과; 상기 기판 상에 제 1 절연막을 사이에 두고 교차하여 화소영역을 정의하는 게이트 배선과 데이터배선과; 상기 게이트배선과 데이터배선의 교차지점에 구성되고, 제 1 전극과 제 2 전극과 제 3 전극과 액티브층을 포함하는 스위칭 소자와; 상기 스위칭 소자의 상부에 구성되고, 상기 제 3 전극의 일부를 노출하는 제 2 절연막과; 상기 노출된 제 1 전극과 접촉하면서 상기 화소영역 상에 구성된 투명 화소전극과; 상기 투명 화소전극 상부에 구성되고, 투명 화소전극의 일부를 노출하는 제 3 절연막과; 상기 노출된 화소전극과 접촉하면서 상기 게이트배선 또는 데이터배선의 상부로 연장된 저저항 배선을 포함한다.An array substrate for a liquid crystal display device according to the present invention for achieving the above object is a substrate; Gate wiring and data wiring crossing the first insulating film on the substrate to define a pixel region; A switching element configured at an intersection point of the gate wiring and the data wiring and including a first electrode, a second electrode, a third electrode, and an active layer; A second insulating film formed over the switching element and exposing a part of the third electrode; A transparent pixel electrode formed on the pixel area while in contact with the exposed first electrode; A third insulating film formed over the transparent pixel electrode and exposing a portion of the transparent pixel electrode; And a low resistance wiring extending over the gate wiring or the data wiring while contacting the exposed pixel electrode.

상기 제 1 전극은 상기 게이트배선과 연결된 게이트전극이고, 제 2 전극은 상기 데이터배선과 연결된 소스전극이고, 제 3 전극은 상기 소스전극과 소정간격 이격된 드레인 전극이다.The first electrode is a gate electrode connected to the gate wiring, the second electrode is a source electrode connected to the data wiring, and the third electrode is a drain electrode spaced apart from the source electrode by a predetermined distance.

상기 저 저항배선은 금(Au), 백금(Pt), 은(Ag)을 포함하는 저 저항 금속그룹 중 선택된 하나로 형성하는 것을 특징으로 한다.The low resistance wiring is formed of one selected from the group of low resistance metals including gold (Au), platinum (Pt), and silver (Ag).

본 발명의 특징에 따른 액정표시장치용 어레이기판 제조방법은 기판을 준비하는 단계와; 기판 상에 제 1 절연막을 개재하여 서로 교차하여 화소영역을 정의하는 다수의 게이트배선과 데이터배선을 형성하는 단계와; 상기 게이트배선과 데이터배선의 교차지점에 제 1, 제 2, 제 3 전극과 액티브층을 포함하는 스위칭 소자를 형성하는 단계와; 상기 스위칭 소자가 구성된 기판의 전면에 제 2 절연막을 코팅하여, 상기 스위칭 소자의 제 3 전극의 일부를 노출하는 보호막을 형성하는 단계와; 상기 노출된 제 3 전극의 일부와 접촉하면서 상기 화소영역 상에 투명 화소전극을 형성하는 단계와; 상기 화소전극이 구성된 기판의 전면에 제 3 절연막을 형성한 후, 상기 화소전극의 일부는 노출하는 단계와; 상기 노출된 화소전극에 접촉하면서 상기 게이트배선 또는 데이터배선 상부로 연장 형성된 저 저항 배선을 형성하는 단계를 포함한다.An array substrate manufacturing method for a liquid crystal display device according to an aspect of the present invention includes the steps of preparing a substrate; Forming a plurality of gate wirings and data wirings on the substrate to intersect with each other via a first insulating film to define a pixel region; Forming a switching device including first, second and third electrodes and an active layer at an intersection point of the gate wiring and the data wiring; Coating a second insulating film on the entire surface of the substrate on which the switching device is formed, to form a protective film exposing a portion of the third electrode of the switching device; Forming a transparent pixel electrode on the pixel area while contacting a portion of the exposed third electrode; Forming a third insulating film on the entire surface of the substrate on which the pixel electrode is formed, and then exposing a portion of the pixel electrode; Forming a low resistance wiring formed on the gate wiring or the data wiring while being in contact with the exposed pixel electrode.

이하 첨부한 도면을 참조하여 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 설명한다.Hereinafter, exemplary embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

-- 실시예 --Example

본 발명의 특징은 각 화소에서 발생하는 정확한 킥백전압(ΔVp)을 측정하기 위해, 어레이기판에 구성된 다수의 화소전극에 저저항 배선을 연결하여, 저저항 배선을 통해 화소전압 파형을 측정함으로써 정확한 킥백전압 값을 측정할 수 있는 것을 특징으로 한다.A characteristic of the present invention is to measure the kickback voltage (ΔVp) generated in each pixel, by connecting a low resistance wiring to a plurality of pixel electrodes configured on the array substrate, and measuring the pixel voltage waveform through the low resistance wiring to accurate kickback Characterized in that the voltage value can be measured.

도 4는 본 발명에 따른 액정표시장치용 어레이기판의 일부를 개략적으로 도시한 평면도이다.4 is a plan view schematically illustrating a part of an array substrate for a liquid crystal display according to the present invention.

도시한 바와 같이, 기판 상에 다수의 게이트배선(102)과 데이터배선(112)이 교차하여 화소영역(P)을 정의하며, 상기 두 배선의 교차지점에는 게이트전극(104)과, 소스전극(114)과 이와는 소정간격 이격된 드레인전극(116)과 액티브층(active layer)(108)으로 구성된 박막트랜지스터(T)가 위치한다.As shown, a plurality of gate wirings 102 and data wirings 112 intersect on a substrate to define a pixel region P, and at the intersections of the two wirings, a gate electrode 104 and a source electrode ( 114 and a thin film transistor T including a drain electrode 116 and an active layer 108 spaced apart from each other by a predetermined distance.

상기 게이트배선(102)은 상기 게이트전극(104)과 전기적으로 접촉하여 게이트전압(gate voltage)을 전달하고, 상기 데이터배선(112)은 상기 소스전극(114)과 전기적으로 접촉하여 데이터전압(data voltage)을 전달하는 기능을 하게 된다.The gate wiring 102 is in electrical contact with the gate electrode 104 to transmit a gate voltage, and the data wiring 112 is in electrical contact with the source electrode 114 to provide a data voltage. function to deliver voltage).

상기 화소영역(P)에는 상기 드레인전극(116)과 접촉하는 투명한 화소전극(pixel electorde)(120)을 구성하고, 상기 화소전극(120)과 전기적으로 접촉하는 저 저항 배선(124)을 별도로 구성한다.In the pixel region P, a transparent pixel electrode 120 in contact with the drain electrode 116 is formed, and a low resistance wiring 124 in electrical contact with the pixel electrode 120 is separately formed. do.

상기 저 저항 배선(124)은 어레이기판(101)의 주변영역에 근접하게 구성된 화소전극(120)에 구성되며, 상기 게이트배선(102) 또는 데이터배선(112)의 상부로연장 형성하여 어레이기판(101)의 외곽부로 인출(引出)한다.The low resistance wiring 124 is formed on the pixel electrode 120 configured to be adjacent to the peripheral region of the array substrate 101, and is formed to extend to the upper portion of the gate wiring 102 or the data wiring 112. Withdraw to the outside of 101).

이와 같은 어레이기판의 구성을 통해, 상기 어레이기판(101)의 외곽부로 인출된 배선을 이용하여 각 화소영역(P)에 입력된 화소전압의 파형을 측정할 수 있다.Through the configuration of the array substrate as described above, the waveform of the pixel voltage input to each pixel region P can be measured using the wiring drawn to the outer portion of the array substrate 101.

이하, 도면을 참조하여 본 발명에 따른 액정표시장치용 어레이기판의 제작공정을 설명한다.Hereinafter, a manufacturing process of an array substrate for a liquid crystal display device according to the present invention will be described with reference to the drawings.

도 5a 내지 도 5d는 도 4의 Ⅴ-Ⅴ를 따라 절단하여 공정순서에 따라 도시한 공정 단면도이다.(도 4의 평면도 참조)5A through 5D are cross-sectional views taken along the line V-V of FIG. 4 according to a process sequence (see plan view of FIG. 4).

먼저, 도 5a에 도시한 바와 같이, 기판(100) 상에 도전성 금속을 증착하고 패턴하여 게이트배선과(도 4의 102), 상기 게이트배선(102)에서 평면적으로 돌출 형성된 게이트전극(104)을 형성한다.First, as shown in FIG. 5A, a conductive metal is deposited and patterned on the substrate 100 to form a gate wiring (102 of FIG. 4) and a gate electrode 104 protruding from the gate wiring 102 in a planar manner. Form.

상기 도전성 금속은 알루미늄(Al), 알루미늄 합금, 구리(Cu), 텅스텐(W), 몰리브덴(Mo), 안티몬(Sb), 크롬(Cr)등을 포함하는 도전성 금속그룹 중 선택하여 형성한다.The conductive metal is selected from conductive metal groups including aluminum (Al), aluminum alloy, copper (Cu), tungsten (W), molybdenum (Mo), antimony (Sb), chromium (Cr) and the like.

다음으로, 상기 게이트전극(104)등이 형성된 기판(100)의 전면에 질화실리콘 (SiNX) 또는 산화실리콘(SiO2)을 증착하여 제 1 절연막인 게이트 절연막(106)을 형성한다.Next, silicon nitride (SiN X ) or silicon oxide (SiO 2 ) is deposited on the entire surface of the substrate 100 on which the gate electrode 104 or the like is formed to form a gate insulating layer 106 as a first insulating layer.

다음으로, 도 5b에 도시한 바와 같이, 게이트 절연막(106)이 형성된 기판(100)의 전면에 순수한 비정질실리콘(a-Si:H)과 불순물이 포함된 비정질 실리콘(p+ 또는 n+a-Si:H)을 증착한 후 패턴하여, 액티브층(108)과 오믹콘택층(110)을 형성한다.Next, as shown in FIG. 5B, pure silicon (a-Si: H) and amorphous silicon (p + or n + a-Si) containing impurities are formed on the entire surface of the substrate 100 on which the gate insulating layer 106 is formed. : H) is deposited and patterned to form the active layer 108 and the ohmic contact layer 110.

다음으로, 상기 액티브층(108)과 오믹콘택층(110)이 형성된 기판(100)의 전면에 전술한 바와 같은 도전성 금속을 증착하고 패턴하여, 게이트배선(도 4의 102)과 교차하여 화소영역을 정의하는 데이터배선(112)과, 상기 데이터배선(112)에서 평면적으로 돌출 형성된 소스전극(114)과 이와는 소정간격 이격된 드레인전극(116)을 형성한다.Next, the conductive metal as described above is deposited and patterned on the entire surface of the substrate 100 on which the active layer 108 and the ohmic contact layer 110 are formed, and intersect with the gate wiring (102 in FIG. 4) to form a pixel region. And a data electrode 112 defining a data line, a source electrode 114 protruding in a plane from the data line 112, and a drain electrode 116 spaced a predetermined distance from the data line 112.

다음으로, 도 5c에 도시한 바와 같이, 상기 소스전극 및 드레인전극(114,116)이 형성된 기판(100)의 전면에 벤조사이클로부텐(BCB)과 아크릴(Acryl)계 수지(Resin) 등을 포함하는 유기절연 물질그룹 중 선택된 하나를 코팅하여 제 2 절연막인 보호막(118)을 형성한다.Next, as shown in FIG. 5C, an organic material including benzocyclobutene (BCB) and an acrylic resin (Resin), etc., is formed on the entire surface of the substrate 100 on which the source and drain electrodes 114 and 116 are formed. One of the insulating material groups is coated to form a protective film 118 that is a second insulating film.

연속하여, 상기 보호막(118)을 패턴하여, 상기 드레인전극(116)의 일부를 노출하는 제 1 콘택홀(K1)을 형성한다.Subsequently, the passivation layer 118 is patterned to form a first contact hole K1 exposing a part of the drain electrode 116.

다음으로, 인듐-틴-옥사이드(ITO)와 인듐-징크-옥사이드(IZO)를 포함하는 투명 도전성 금속그룹 중 선택된 하나를 증착하고 패턴하여, 상기 노출된 드레인전극(116)과 접촉하면서 상기 화소영역(P)에 위치하도록 투명한 화소전극(120)을 형성한다.Next, one selected from a group of transparent conductive metals including indium tin oxide (ITO) and indium zinc oxide (IZO) is deposited and patterned to contact the exposed drain electrode 116 and the pixel region. The transparent pixel electrode 120 is formed to be positioned at (P).

다음으로, 도 5d에 도시한 바와 같이, 상기 화소전극(120)이 형성된 기판(100)의 전면에 절연물질을 증착 또는 코팅하여 제 3 절연막(122)을 형성한다.Next, as shown in FIG. 5D, a third insulating layer 122 is formed by depositing or coating an insulating material on the entire surface of the substrate 100 on which the pixel electrode 120 is formed.

연속하여, 상기 제 3 절연막(122)을 패턴하여, 상기 화소전극(120)의 일부가노출되는 제 2 콘택홀(K2)을 형성한다.Subsequently, the third insulating layer 122 is patterned to form a second contact hole K2 through which a portion of the pixel electrode 120 is exposed.

다음으로, 상기 제 3 절연막(122)이 형성된 기판(100)의 전면에 금(Au), 백금(Pt), 은(Ag)과 같은 저저항 금속을 선택 증착하고 패턴하여, 상기 노출된 화소전극(120)에 접촉하면서, 상기 데이터배선(112)을 따라 기판의 외곽으로 인출되는 저 저항 배선(124)을 형성한다.Next, a low resistance metal such as gold (Au), platinum (Pt), and silver (Ag) is selectively deposited and patterned on the entire surface of the substrate 100 on which the third insulating layer 122 is formed, thereby exposing the exposed pixel electrode. The low resistance wiring 124 is formed along the data wiring 112 to the outside of the substrate while being in contact with the 120.

전술한 바와 같은 방법으로, 본 발명에 따른 액정표시장치용 어레이기판(101)을 제작할 수 있다.As described above, the liquid crystal display array substrate 101 according to the present invention can be manufactured.

상기 저 저항 배선은 액정패널을 완성 한 후, 각 화소의 화소전압 파형을 측정하기 위해 사용된다.The low resistance wiring is used to measure the pixel voltage waveform of each pixel after completing the liquid crystal panel.

따라서, 액정패널을 완성한 후에도 측정을 위해 상기 저저항 배선(124)이 별도로 노출되는 영역을 확보해야 한다. 이하, 도 6을 참조하여 설명한다.Therefore, even after completing the liquid crystal panel, a region where the low resistance wiring 124 is separately exposed for measurement should be secured. A description with reference to FIG. 6 is as follows.

도 6은 본 발명에 따른 어레이기판을 개략적으로 도시한 평면도이다.6 is a plan view schematically showing an array substrate according to the present invention.

도시한 바와 같이, 어레이기판(101)의 대부분은 영상표시 영역(L)으로 사용하게 되지만, 화상신호와 게이트신호를 받기 위해, 상기 어레이기판(101)의 일 측과 이와는 평행하지 않은 타측의 주변영역은 구동영역(M)으로 사용한다.As shown, most of the array substrate 101 is used as an image display area L, but in order to receive an image signal and a gate signal, a peripheral portion of one side of the array substrate 101 and the other side not parallel to the array substrate 101 is used. The area is used as the drive area M.

상기 구동영역(M)은 구동 소자를 장착한 TCP등이 상기 각 배선의 일끝단과 접촉하는 영역이다.The driving region M is a region where TCP, etc., on which a driving element is mounted, contacts one end of each of the wirings.

따라서, 상기 구동영역(M)으로 사용될 어레이기판(101)의 주변영역을 제외한 나머지 일측과 이에 평행하지 않은 타측을 포함하는 영역(N)을 어레이기판(101)의 저 저항 배선(도 4의 124)을 인출한다.Accordingly, the low resistance wiring of the array substrate 101 may include a region N including one side of the array substrate 101 to be used as the driving region M and the other side not parallel thereto. Withdraw).

이후에 액정패널이 완성된 후, 상기 인출된 저 저항배선을 통해 각 화소에서 발생하는 화소전압의 파형을 측정할 수 있다.Thereafter, after the liquid crystal panel is completed, the waveform of the pixel voltage generated in each pixel may be measured through the extracted low resistance wiring.

따라서, 상기 화소전압 파형과, 초기 입력된 데이터 신호파형을 비교하여 그 차이로 ΔVP를 측정할 수 있다.Therefore, ΔV P may be measured by comparing the pixel voltage waveform and the initially input data signal waveform.

상기 ΔVP값이 측정되면, 데이터 신호를 입력하는 입력부를 컨트롤하여, 처음부터 ΔVP값을 보상한 데이터 신호를 입력한다.When the ΔV P value is measured, the input unit for inputting the data signal is controlled to input a data signal that compensates for the ΔV P value from the beginning.

이와 같이 하면, 화면의 깜박임(flicker)이나 이미지 고착(image steaking)등의 화질불량을 개선할 수 있다.In this way, poor image quality such as flickering of the screen or image steaking can be improved.

따라서, 본 발명에 따라 액정표시장치용 어레이기판을 제작하게 되면, 상기 저 저항 배선을 통해 데이터 신호의 파형을 정확히 측정할 수 있다.Therefore, when the array substrate for the liquid crystal display device is manufactured according to the present invention, the waveform of the data signal can be accurately measured through the low resistance wiring.

따라서, 상기 ΔVP값을 정확히 보정하는 것이 가능하여 고화질의 액정패널을 제작할 수 있는 효과가 있다.Therefore, it is possible to accurately correct the ΔV P value, which has the effect of producing a high-quality liquid crystal panel.

Claims (6)

기판과;A substrate; 상기 기판 상에 제 1 절연막을 사이에 두고 교차하여 화소영역을 정의하는 게이트배선과 데이터배선과;Gate wiring and data wiring intersecting the first insulating film on the substrate to define a pixel region; 상기 게이트배선과 데이터배선의 교차지점에 구성되고, 제 1 전극과 제 2 전극과 제 3 전극과 액티브층을 포함하는 스위칭 소자와;A switching element configured at an intersection point of the gate wiring and the data wiring and including a first electrode, a second electrode, a third electrode, and an active layer; 상기 스위칭 소자의 상부에 구성되고, 상기 제 3 전극을 노출하는 제 2 절연막과;A second insulating film formed over the switching element and exposing the third electrode; 상기 노출된 제 3 전극과 접촉하면서 상기 화소영역 상에 구성된 투명 화소전극과;A transparent pixel electrode formed on the pixel area while in contact with the exposed third electrode; 상기 투명 화소전극 상부에 구성되고, 투명 화소전극을 노출하는 제 3 절연막과;A third insulating film formed over the transparent pixel electrode and exposing the transparent pixel electrode; 상기 노출된 화소전극과 접촉하면서 상기 게이트배선 또는 데이터배선의 상부로 연장된 저저항 배선A low resistance wiring extending over the gate wiring or the data wiring while being in contact with the exposed pixel electrode 을 포함하는 액정표시장치용 어레이기판.Array substrate for a liquid crystal display device comprising a. 제 1 항에 있어서.The method of claim 1. 상기 제 1 전극은 상기 게이트배선과 연결된 게이트전극이고, 제 2 전극은 상기 데이터배선과 연결된 소스전극이고, 제 3 전극은 상기 소스전극과 이격된 드레인 전극인 액정표시장치용 어레이기판.And the first electrode is a gate electrode connected to the gate wiring, the second electrode is a source electrode connected to the data wiring, and the third electrode is a drain electrode spaced apart from the source electrode. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 저 저항배선은 금(Au), 백금(Pt), 은(Ag)을 포함하는 저 저항 금속그룹 중 선택된 하나로 형성한 액정표시장치용 어레이기판.And the low resistance wiring is formed of one selected from a group of low resistance metals including gold (Au), platinum (Pt), and silver (Ag). 기판을 준비하는 단계와;Preparing a substrate; 기판 상에 제 1 절연막을 개재하여 서로 교차하여 화소영역을 정의하는 다수의 게이트배선과 데이터배선을 형성하는 단계와;Forming a plurality of gate wirings and data wirings on the substrate to intersect with each other via a first insulating film to define a pixel region; 상기 게이트배선과 데이터배선의 교차지점에 제 1, 제 2, 제 3 전극과 액티브층을 포함하는 스위칭 소자를 형성하는 단계와;Forming a switching device including first, second and third electrodes and an active layer at an intersection point of the gate wiring and the data wiring; 상기 스위칭 소자가 구성된 기판의 전면에 제 2 절연막을 코팅하여, 상기 스위칭 소자의 제 3 전극의 일부를 노출하는 보호막을 형성하는 단계와;Coating a second insulating film on the entire surface of the substrate on which the switching element is formed, to form a protective film exposing a portion of the third electrode of the switching element; 상기 노출된 제 3 전극의 일부와 접촉하면서 상기 화소영역 상에 투명 화소전극을 형성하는 단계와;Forming a transparent pixel electrode on the pixel region while contacting a portion of the exposed third electrode; 상기 화소전극이 구성된 기판의 전면에 제 3 절연막을 형성한 후, 상기 화소전극을 노출하는 단계와;Forming a third insulating film on the entire surface of the substrate including the pixel electrode, and then exposing the pixel electrode; 상기 노출된 화소전극에 접촉하면서 상기 게이트배선 또는 데이터배선 상부로 연장 형성된 저 저항 배선을 형성하는 단계를Forming a low resistance wiring formed on the gate wiring or the data wiring while being in contact with the exposed pixel electrode; 포함하는 액정표시장치용 어레이기판 제조방법.Array substrate manufacturing method for a liquid crystal display comprising a. 제 4 항에 있어서.The method of claim 4. 상기 제 1 전극은 상기 게이트배선과 연결된 게이트전극이고, 제 2 전극은 상기 데이터배선과 연결된 소스전극이고, 제 3 전극은 상기 소스전극과 이격된 드레인 전극인 액정표시장치용 어레이기판 제조방법.The first electrode is a gate electrode connected to the gate wiring, the second electrode is a source electrode connected to the data wiring, and the third electrode is a drain electrode spaced apart from the source electrode. 제 4 항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 저 저항배선은 금(Au), 백금(Pt), 은(Ag)을 포함하는 저 저항 금속그룹 중 선택된 하나로 형성한 액정표시장치용 어레이기판 제조방법.And the low resistance wiring is formed of one selected from a group of low resistance metals including gold (Au), platinum (Pt), and silver (Ag).
KR10-2001-0041130A 2001-07-10 2001-07-10 Substrate for LCD and method for fabricating of the same KR100431242B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2001-0041130A KR100431242B1 (en) 2001-07-10 2001-07-10 Substrate for LCD and method for fabricating of the same

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR10-2001-0041130A KR100431242B1 (en) 2001-07-10 2001-07-10 Substrate for LCD and method for fabricating of the same

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20030005715A KR20030005715A (en) 2003-01-23
KR100431242B1 true KR100431242B1 (en) 2004-05-12

Family

ID=27714185

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR10-2001-0041130A KR100431242B1 (en) 2001-07-10 2001-07-10 Substrate for LCD and method for fabricating of the same

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100431242B1 (en)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5760854A (en) * 1994-07-27 1998-06-02 Hitachi, Ltd. Liquid crystal display apparatus
JP2000347221A (en) * 1999-05-27 2000-12-15 Sharp Corp Method of forming polycrystal silicon tft using copper wiring for pixel array in liquid crystal display

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5760854A (en) * 1994-07-27 1998-06-02 Hitachi, Ltd. Liquid crystal display apparatus
JP2000347221A (en) * 1999-05-27 2000-12-15 Sharp Corp Method of forming polycrystal silicon tft using copper wiring for pixel array in liquid crystal display

Also Published As

Publication number Publication date
KR20030005715A (en) 2003-01-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7545356B2 (en) Liquid crystal display device and method of manufacturing the same
US10223958B2 (en) Display device and driving method thereof
US6894735B2 (en) Array substrate of liquid crystal display device
US7733433B2 (en) Liquid crystal display having a reduced number of data driving circuit chips
US8587619B2 (en) Display apparatus and method of driving the same
US8098342B2 (en) Thin film transistor array panel comprising a pixel electrode connected to first and second thin film transistors and formed on the same layer as the shielding electrode and liquid crystal display including the same
US20120139970A1 (en) Liquid crystal display and method of driving the same
US8018411B2 (en) Thin film transistor array panel and method for manufacturing the same
KR101202530B1 (en) Liquid crystal display panel and manufacturing method of the same
US20070146563A1 (en) Liquid crystal display and method of manufacturing thereof
US8797252B2 (en) Liquid crystal display apparatus and method for generating a driver signal based on resistance ratios
KR20020042898A (en) Liquid crystal display device and method of manufacturing thereof
US5796448A (en) Structure for a parasitic capacitor and a storage capacitor in a thin film transistor-liquid crystal display and a method for making the same
KR101080356B1 (en) Thin film transistor, thin film transistor array panel, and display device
US20040119897A1 (en) Liquid crystal display device and method of fabricating the same
KR100491821B1 (en) An array substrate for LCD and method of fabricating of the same
KR100431242B1 (en) Substrate for LCD and method for fabricating of the same
KR101320499B1 (en) Liquid crystal display device
KR100916605B1 (en) An array substrate for LCD and fabricating of the same
US20050146663A1 (en) Vertically aligned mode liquid crystal display
KR100522024B1 (en) An array Substrate for liquid Crystal Display Device and Manufacturing Method Thereof
KR20200128310A (en) Liquid crystal display and the method thereof
KR20020096228A (en) Method for fabricating array substrate for lcd
KR101471144B1 (en) Method of detecting storage voltage, display apparutus using the storage voltage and method of driving the display apparutus
JP2698503B2 (en) Active matrix liquid crystal display

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20070402

Year of fee payment: 4

LAPS Lapse due to unpaid annual fee