KR100381394B1 - Source processing apparatus for processing the organic material under the high pressure and high temperature - Google Patents
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Abstract
본 발명은 유기반도체 공정에 있어 유기 물질 및 금속을 고온 고압 처리하면서 가스밀봉성 및 안전도가 보장될 수 있는 고온 고압의 유기물질 처리장치를 제공하는 것을 목적으로 하고 있다. 본 발명은 유기 반도체의 소스 물질을 압력용기 내에 장전하고 히터를 사용하여 가열시킴으로써 온도를 상승시키기 위한 유기 반도체 장치 제조용 고온 고압의 유기물질 처리장치에 있어서, 유기 반도체를 제조하기 위한 처리 챔버에 소스 물질을 이동시키는 압력 용기; 상기 압력 용기 내에 진공상태로 간격을 두고 배치되어 있는 가열기; 상기 가열기의 가열작용으로부터 상기 소스물질의 상향 유동을 통과시키는 하부의 하부 탱크; 및,상기 하부 영역에서 상기 처리 챔버와 연통 상태를 형성하기 위한 통로가 형성되는 것을 야기하는 상부 탱크를 포함하고, 상기 상부 탱크는 상기 하부 탱크에서 증발된 유기물 및 알카리 금속물질을 가진 소스물질의 속도를 다운시킨다.An object of the present invention is to provide a high temperature and high pressure organic material processing apparatus capable of ensuring gas sealing and safety while high temperature and high pressure treatment of organic materials and metals in an organic semiconductor process. The present invention relates to a high temperature and high pressure organic material processing apparatus for manufacturing an organic semiconductor device for raising a temperature by loading a source material of an organic semiconductor into a pressure vessel and heating using a heater, wherein the source material is used in a processing chamber for manufacturing an organic semiconductor. A pressure vessel for moving the; Heaters disposed in the pressure vessel at intervals in a vacuum state; A lower lower tank through which an upward flow of the source material passes from the heating operation of the heater; And an upper tank causing a passage for forming a communication state with the processing chamber in the lower region, wherein the upper tank has a velocity of a source material having an organic material and an alkali metal material evaporated from the lower tank. Down.
Description
본 발명은 유기 물질 및 금속을 고온, 고압 분위기에서 처리하는 유기 반도체장치에 관한 것이다. 보다 상세하게는 본 발명은 유기 반도체 장치의 증착 장치내 압력용기에 밀봉된 유기 물질 및 알카리 금속 물질이 보다 고압상태로 될수록 녹는점이 보다 낮아지는 것을 이용하여 가열 가압하여 처리하면서 밀봉성 및 안전도를 도모하기 위한 유기 반도체 장치 제조용 고온 고압의 유기물질 처리장치에 관한 것이다.The present invention relates to an organic semiconductor device for treating organic materials and metals in a high temperature, high pressure atmosphere. More specifically, the present invention promotes sealability and safety while heating and pressurizing the organic material and the alkali metal material sealed in the pressure vessel in the deposition apparatus of the organic semiconductor device using a lower melting point as the pressure becomes higher. It relates to an organic material processing apparatus of high temperature and high pressure for manufacturing an organic semiconductor device.
통상적인 반도체 CVD 장치의 구조는 소스 물질에 고압을 형성하는 수분의 사이클 시간에 웨이퍼를 하나씩 처리하는 실리콘 반도체 또는 UL실리콘의 제조시 고압가스의 사용에 의해서 실리콘 와이퍼와 같은 판형상의 가공물을 처리하는데 적합하다.The structure of a conventional semiconductor CVD apparatus is suitable for processing a plate-like workpiece such as a silicon wiper by the use of high pressure gas in the manufacture of silicon semiconductors or UL silicon, which processes wafers one by one at a cycle time of a few minutes to form a high pressure on the source material. Do.
또한, 반도체 CVD 장치의 증착장치는 현재 연구 개발되고 있는 유기 EL(Oranic Electro Luminescence) 물질 및 알카리 금속을 300℃ - 1,000 ℃ 범위내의 온도까지로 가열하여 증착을 수행하고 있다. 여기서 상기 유기 EL 물질에 사용되는 유기물 및 알카리금속을 그 처리온도 1,000 ℃ 이상의 온도로 가열하면 그 물질이 변색 또는 성질상의 수명에 치명적으로 작용한다. 이에 따라, 유기 EL물질의 고온화에 따른 증착장치는 세밀하고 복잡한 시일부품들을 사용하여야만 하고, 또 이 세밀한 시일부품들, 예컨대 히터와 같은 열원은 고온처리시 고온 용기내에 밀봉적으로 수용되어야 한다. 그러므로 증착장치에서 시일부품은 그의 온도를 상승시키게 되는 경우 시일의 안정성은 처리가 긴시간 동안 실행되면 그의 소성변형이 수반하므로, 밀봉기능을 보장하도록 그 시일부품이 교체되어야 하는 문제점을 가지고 있다.In addition, the deposition apparatus of the semiconductor CVD apparatus is performing deposition by heating the organic EL (Oranic Electro Luminescence) material and alkali metal, which are currently being researched and developed, to a temperature within the range of 300 ° C to 1,000 ° C. Here, when the organic material and alkali metal used for the organic EL material are heated to a temperature of 1,000 ° C. or more at the treatment temperature, the material acts fatally on the discoloration or the life of the property. Accordingly, the vapor deposition apparatus according to the high temperature of the organic EL material must use fine and complicated seal parts, and these fine seal parts, for example, a heat source such as a heater, must be sealed in the hot container during the high temperature treatment. Therefore, when a seal part in a vapor deposition apparatus raises its temperature, the stability of the seal is accompanied by its plastic deformation when the treatment is carried out for a long time, so that the seal part has to be replaced to ensure the sealing function.
또한, 반도체 CVD 장치의 기술은 처리챔버내의 내부공간 압력과 실질적으로 동일한 고압이 다른 가스압력 액츄에이터에 의해서 발생되어 압력누출과 같은 문제점을 발생시키는 가능성을 증대시킨다. 이것은 장치의 신뢰성을 감소시킬 뿐만 아니라 안전도에서도 바람직하지 않다.In addition, the technology of the semiconductor CVD apparatus increases the possibility that a high pressure substantially equal to the internal space pressure in the processing chamber is generated by another gas pressure actuator, causing problems such as pressure leakage. This not only reduces the reliability of the device but is also undesirable in safety.
상술된 문제점을 해결하기 위하여, 본 발명의 목적은 실리콘 웨이퍼와 같은 가공물을 고압가스하에서 유기물 및 알카리 금속물질을 처리하는 처리 장치의 작동에 대해 고온 고압의 유기물질 처리하면서 밀봉성 및 안전도를 보장하는데 있다. 즉, 본 발명의 목적은 소스물질에 고압 상태를 인가할 때 상대적으로 또한 그의 온도가 저하되더라도 그 소스 물질이 균등해지게 되는 상태를 갖는다는 경향이 있다는 사실을 근거로 한 유기 반도체 장치 제조용 고온 고압의 유기물질 처리장치를 제공하는 것이다.In order to solve the above-mentioned problems, an object of the present invention is to ensure sealing and safety while processing high temperature and high pressure organic materials for operation of a processing apparatus for processing organic materials and alkali metal materials under high pressure gas such as a silicon wafer. have. That is, an object of the present invention is a high temperature and high pressure for manufacturing an organic semiconductor device based on the fact that when a high pressure state is applied to a source material, there is a tendency that the source material tends to be equal even if its temperature is lowered. It is to provide an organic material processing apparatus.
도 1은 본 발명의 유기 반도체장치 제조용 고온 고압의 유기물질 처리장치의 일실시예를 나타낸 도면이다.1 is a view showing an embodiment of a high temperature and high pressure organic material processing apparatus for manufacturing an organic semiconductor device of the present invention.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings
2 : 압력 용기 10 : 상부 탱크2: pressure vessel 10: upper tank
20 : 하부 탱크 11 : 상부 가열요소20: lower tank 11: upper heating element
21 : 하부 가열요소 22 : 유기 물질21: lower heating element 22: organic material
본 발명은 상기 목적을 성취하기 위하여 다음과 같은 기술적 수단을 제공한다.The present invention provides the following technical means to achieve the above object.
본 발명의 하나의 실시예에 따라, 고온 고압 가스의 분위기에서 유기 반도체 장치 제조용 고온 고압의 유기물질을 처리하도록 의도된 가열 가압 처리 장치가 제공되어 있으며, 유기 반도체의 소스 물질을 압력용기 내에 장전하고 히터를 사용하여 가열시킴으로써 온도를 상승시키기 위한 유기 반도체 장치 제조용 고온 고압의 유기물질 처리장치에 있어서,According to one embodiment of the present invention, there is provided a heat pressurizing apparatus intended to treat high temperature and high pressure organic materials for manufacturing an organic semiconductor device in an atmosphere of high temperature and high pressure gas, wherein the source material of the organic semiconductor is loaded into a pressure vessel and In the high temperature and high pressure organic substance processing apparatus for manufacturing an organic-semiconductor device for raising a temperature by heating using a heater,
유기 반도체를 제조하기 위한 처리 챔버에 소스 물질을 이동시키는 압력 용기;A pressure vessel for moving the source material to a processing chamber for manufacturing the organic semiconductor;
상기 압력 용기 내에 진공상태로 간격을 두고 배치되어 있는 가열기;Heaters disposed in the pressure vessel at intervals in a vacuum state;
상기 가열기의 가열작용으로부터 상기 소스물질의 상향 유동을 통과시키는 하부의 하부 탱크; 및,A lower lower tank through which an upward flow of the source material passes from the heating operation of the heater; And,
상기 하부 영역에서 상기 처리 챔버와 연통 상태를 형성하기 위한 통로가 형성되는 것을 야기하는 상부 탱크를 포함하고, 상기 상부 탱크는 상기 하부 탱크에서 증발된 유기물 및 알카리 금속물질을 가진 소스물질의 속도를 다운시킨다.An upper tank causing a passage for forming a communication with the processing chamber in the lower region, wherein the upper tank slows down the source material with organic and alkali metals evaporated from the lower tank; Let's do it.
또한, 유기 반도체의 소스 물질을 압력용기 내에 장전하고 히터를 사용하여 가열시킴으로써 온도를 상승시키기 위한 유기 반도체 장치 제조용 고온 고압의 유기물질 처리장치에 있어서,In addition, in the high temperature and high pressure organic material processing apparatus for manufacturing an organic semiconductor device for raising the temperature by loading the source material of the organic semiconductor in a pressure vessel and heating using a heater,
유기 반도체를 제조시 진공상태를 유지하는 처리 챔버에 소스 물질을 이동시키는 압력 용기;A pressure vessel for moving the source material to a processing chamber that maintains a vacuum during fabrication of the organic semiconductor;
상기 압력 용기 내에 진공상태로 간격을 두고 배치되어 있는 가열기;Heaters disposed in the pressure vessel at intervals in a vacuum state;
상기 가열기의 가열작용으로부터 상기 소스물질의 상향 유동을 통과시키는 하부의 하부 탱크; 및,A lower lower tank through which an upward flow of the source material passes from the heating operation of the heater; And,
상기 하부 영역에서 상기 처리 챔버와 연통 상태를 형성하기 위한 대류용 통로가 형성되는 것을 야기하는 상부 탱크를 포함하고, 상기 상부 탱크는 상기 하부 탱크에서 증발된 유기물 및 알카리 금속물질을 가진 소스물질의 속도를 다운시키고, 상기 처리 챔버는 상기 상부 탱크내에서 제어된 상기 유기물 및 알카리 금속물질이 균일하게 흐르도록 상기 상부 탱크내 온도 및 압력보다 감소된 온도 및 압력을 유지한다.An upper tank causing a convection passage for forming a communication condition with said processing chamber in said lower region, said upper tank having a rate of source material with organic and alkali metals evaporated from said lower tank; The process chamber maintains the temperature and pressure reduced than the temperature and pressure in the upper tank so that the controlled organic and alkali metal material flows uniformly in the upper tank.
상기 유기 반도체 제조용 고온 고압처리 장치의 구조에서, 하부 탱크는 가열기로부터의 가열작용에 의한 상향 유동을 야기하고, 이러한 상향 유동은 상부 탱크 내로 유입하여 처리 챔버의 하부 영역의 과도한 고온 또는 고압을 완충하도록 기류를 형성한다. 이러한 현상은 가열기로 하여금 처리 챔버 내에서 온도의 균등성을 추가적으로 향상시키는데 기여한다.In the structure of the high temperature autoclave for manufacturing the organic semiconductor, the lower tank causes an upward flow by heating action from the heater, and this upward flow flows into the upper tank to buffer excessive high temperature or high pressure in the lower region of the processing chamber. To form airflow. This phenomenon contributes to the heater further improving the temperature uniformity in the processing chamber.
도 1 은 본 발명에 따르는 유기 반도체용 고온 고압의 유기물질 처리 장치의 본체의 예를 도시하고 있다. 이러한 도면들은 상세하게, 고온 고압의 압력 용기(2)가 고압 가스로 채워진 상태로 높은 압력하에서 장치가 작동되는 것을 도시하고 있다.1 shows an example of a main body of a high temperature and high pressure organic material processing apparatus for an organic semiconductor according to the present invention. These figures show in detail that the device is operated under high pressure with the high temperature and high pressure vessel 2 filled with high pressure gas.
도 1에 도시된 바와 같이, 압력 용기(2)는 각각 상부에 위치된 상부 탱크(10)와, 상기 상부 탱크(10)와 목부분(15)을 통해 연통하여 하부에 위치된 하부 탱크(20)를 포함한다. 그리고, 상기 상부 탱크(10) 및 상기 하부 탱크(20)에는 가열기(11,21)가 부착된다. 또한, 상기 압력 용기(2)는 상부 탱크(10)가 목부분(15)를 통해 하부 탱크(20)와 진공상태로 간격을 두고 있고 처리 챔버(33)와 연결된다.As shown in FIG. 1, the pressure vessel 2 has an upper tank 10 positioned at an upper portion thereof, and a lower tank 20 positioned at a lower portion thereof in communication with the upper tank 10 and a neck 15. ). In addition, heaters 11 and 21 are attached to the upper tank 10 and the lower tank 20. In addition, the pressure vessel 2 is spaced in a vacuum state with the upper tank 10 and the lower tank 20 through the neck portion 15 and is connected to the processing chamber 33.
또한, 상기 가열기(11,21)는 2개의 가열 요소로서 상부 탱크(10)에 상부 가열요소(11)가 설치되고,상기 하부 탱크(20)에 하부 가열요소(21)가 설치된다. 또 상기 가열기(11,21)는 상부측 가열요소(11)와 하부측 가열요소(21) 영역으로 나누어져 있고, 하부측 가열요소(21) 영역은 하부 탱크(20) 위에 적층된 소스 물질(22)을 에워싸고 있다. 가열기(11,21)는 저항 가열식이며, 압력 용기(2)에 부착되어 가열기(11,21)에 의해 공급된 열을 전달하고, 이에 따라 용기(2)의 온도는 실온에서 100 ℃ 내지 200 ℃ 사이의 온도 범위에서 유지될 수 있다. 동일한 이유로 용기(2)의 상부 탱크(10)에도 다량의 열이 축적된다. 고압 가스 도입용 구멍(23) 및 고압 가스 배출용 구멍(32)은 서로로부터 독립된 상태로 각각 압력 용기(2)의 하부 탱크(20) 및 상부 탱크(10) 위에 형성되어 있다. 또한, 가열기(11,21)는 그의 배열상태와 일정한 온도 및 압력으로 조정되는 영역이 상하방향으로 충분히 보장되어 있는 한 보다 많은 소스 물질(22)들을 확산시킬 수 있다. 즉, 소스 물질(22)들은 그를 수용하는 하부 탱크(20)의 조건, 예컨대 이미 설정된 온도 및 압력으로 조정에 의해 상하방향으로 이동 가능하다.In addition, the heaters 11 and 21 are provided with an upper heating element 11 in the upper tank 10 as two heating elements, and a lower heating element 21 in the lower tank 20. In addition, the heaters 11 and 21 are divided into upper heating element 11 and lower heating element 21 regions, and the lower heating element 21 region is formed of a source material stacked on the lower tank 20. 22) The heaters 11 and 21 are resistance-heated and are attached to the pressure vessel 2 to transfer the heat supplied by the heaters 11 and 21, so that the temperature of the vessel 2 is between 100 ° C and 200 ° C at room temperature. It can be maintained in the temperature range between. For the same reason, a large amount of heat also accumulates in the upper tank 10 of the container 2. The high pressure gas introduction hole 23 and the high pressure gas discharge hole 32 are formed on the lower tank 20 and the upper tank 10 of the pressure vessel 2, respectively, in a state independent from each other. In addition, the heaters 11 and 21 can diffuse more source materials 22 as long as the arrangement thereof and the region adjusted to a constant temperature and pressure are sufficiently ensured in the vertical direction. That is, the source materials 22 are movable up and down by adjustment to the conditions of the lower tank 20 receiving them, for example the temperature and pressure already set.
상기 하부 탱크(20) 및 상부 탱크(10)를 연결하는 목부분(15)은 개구가 제공되어 있는 상태로 되어 있는 구조를 가지고 있어서, 고압 가스에 의한 열의 전달이 효과적으로 이동될 수 있게 한다. 가스 이동에 의한 열의 전달, 예컨대 아르곤(Ar) 가스가 압력 매체로서 사용될 때에도, 효과적으로 열의 전달이 되기 위하여, 3개 또는 그 이상의 부재를 사용할 수도 있다.The neck portion 15 connecting the lower tank 20 and the upper tank 10 has a structure in which an opening is provided, so that heat transfer by the high pressure gas can be effectively moved. Even when transfer of heat by gas movement, such as argon (Ar) gas, is used as the pressure medium, three or more members may be used in order to effectively transfer heat.
고압 가스 도입용 통로(23)를 통하여 공급되는 고압 가스는 고속의 가압 작업 시 온도의 비균등한 분포를 방지하기 위하여, 가스 유동을 의도적으로 조절할 수 있다. 하부 탱크(20)내 소스 물질(22)은 배플(24)을 통하여 통과하는 홀(241)을 경유하여 처리 공간 내로 도입되며, 고온 고압의 유기물질 처리 장치에서 사용시 50 ℃ 내지 800 ℃의 온도에서 유지될 수 있다. 바람직한 온도는 200 ℃ 내지 300 ℃의 온도에서 사용한다. 또한, 상기 배플(24)내 홀(241)의 크기는 0.1 - 20 mm 의 크기를 갖는다. 바람직한 홀의 크기는 0.5 - 20 mm 이다.The high pressure gas supplied through the high pressure gas introduction passage 23 may intentionally adjust the gas flow in order to prevent an uneven distribution of temperature during the high speed pressurization operation. The source material 22 in the lower tank 20 is introduced into the processing space via the hole 241 passing through the baffle 24 and at a temperature of 50 ° C. to 800 ° C. when used in a high temperature and high pressure organic material processing apparatus. Can be maintained. Preferred temperatures are used at temperatures of 200 ° C to 300 ° C. In addition, the size of the hole 241 in the baffle 24 has a size of 0.1-20 mm. Preferred hole sizes are from 0.5 to 20 mm.
또한, 고온 고압의 유기물질 처리 장치는 압력 용기(2)가 고압 또는 저압하에 있을 때 또는 비워질 때 압력 용기(2) 내의 가스 및 입자들을 측정하도록 온도측정용 수단으로서 1차측 게이지(26)와 2차측 게이지(16)가 배치된다.In addition, the high temperature and high pressure organic material processing apparatus is provided with a primary gauge 26 as a means for temperature measurement to measure gases and particles in the pressure vessel 2 when the pressure vessel 2 is under high pressure or low pressure or when it is emptied. The secondary side gauge 16 is arranged.
또한, 하부 탱크(20)에 배치된 가열기(21)는 복수의 영역으로 분리되어서, 복수의 영역을 걸쳐 독립적인 열의 제어가 적용될 수 있도록 하는 것이 바람직하다. 즉, 하기 설명되는 이유로 상기 가열 요소(11,21)를 전체적으로 배열하는 것이 바람직하다.In addition, the heater 21 disposed in the lower tank 20 is preferably separated into a plurality of regions, so that independent heat control can be applied over the plurality of regions. That is, it is preferable to arrange the heating elements 11 and 21 as a whole for the reasons described below.
본 실시예의 가열기(11,21)는 압력조절용 상부 탱크(10)측 가열요소(11), 하부 탱크(20)측 가열요소(21)를 분리하고, 다수의 온도 측정 수단(16,26)을 이러한 영역에 맞게 배치시키고, 그리고 이러한 영역에서 측정된 온도값을 가열용 파워 제어기(도시되지 않음)로 연속적으로 입력시킴으로써 균등한 가열에 따른 온도 분포를 갖게 한다.The heaters 11 and 21 of the present embodiment separate the heating element 11 on the pressure side of the upper tank 10 and the heating element 21 on the lower tank 20 side, and the plurality of temperature measuring means 16 and 26 are separated. It is arranged in such an area, and the temperature value measured in this area is continuously input to a heating power controller (not shown) to have a temperature distribution according to even heating.
압력 용기(2)는 내부의 고압가스를 도입용 통로(23)를 통해 하부 탱크(20)에 유입시킨다. 즉 도입되는 고압가스는 하부 탱크(20)에 형성된 고온 가스 배출용 통로(23)로부터 상부 탱크(10)를 거쳐 처리 챔버(33)로의 배출에 의해 방출된다.The pressure vessel 2 introduces the internal high pressure gas into the lower tank 20 through the introduction passage 23. That is, the high pressure gas introduced is discharged by the discharge to the processing chamber 33 from the hot gas discharge passage 23 formed in the lower tank 20 via the upper tank 10.
또한, 압력 용기(2)에 유입한 가스는 통상 Ar, He 등의 불활성 가스가 1 Mpsi 이하, 바람직하게는 20 psi 내지 500 psi 의 압력으로 공급되어 배출되는 대체 작업이 반복적으로 수행된다. 이러한 경우, 가스는 고압 가스 도입용 통로(23)로부터 도입되어, 배플(25)을 통해 고압 가스 배출홀(241)으로부터 배출된다. 이 시점에서, 가열기(11,21)는 가열 작업을 위하여 전원이 공급된다.In addition, the gas introduced into the pressure vessel 2 is repeatedly performed in which an inert gas such as Ar and He is supplied at a pressure of 1 Mpsi or less, preferably 20 psi to 500 psi, and discharged. In this case, the gas is introduced from the high pressure gas introduction passage 23 and discharged from the high pressure gas discharge hole 241 through the baffle 25. At this point, the heaters 11 and 21 are powered on for the heating operation.
한편, 상기 처리 챔버(33)는 상부 탱크(10)내에서 제어된 유기물 및 알카리 금속물질이 균일하게 흐르도록 상부 탱크(10)내 온도 및 압력보다 감소된 온도 및 압력을 유지한다. 또한, 고온 고압의 유기물질 처리장치에서 일단 처리 챔버(33)가 소정의 온도 및 압력으로 이상으로 진행되면, 가열기(11,21)는 전원이 해제되고, 그리고 그 후 가스는 고압 가스 배출용 통로로 연결된 라인을 따라 처리 챔버(33)로 방출된다.On the other hand, the processing chamber 33 maintains the temperature and pressure reduced than the temperature and pressure in the upper tank 10 so that the controlled organic and alkali metal material flows uniformly in the upper tank 10. In addition, in the organic material processing apparatus of the high temperature and high pressure, once the processing chamber 33 proceeds to the predetermined temperature and pressure or more, the heaters 11 and 21 are turned off, and then the gas is a passage for discharging the high pressure gas. It is discharged to the processing chamber 33 along the line connected to.
더하여, 정상적인 고온 고압 작업 예컨대, 20 MPa 또는 그 이상만큼 높은 압력하에서 균등한 열 분포가 성취될 수 있지만, 저압 상태에서 가열을 요구하는 작업을 위하여 가열기(11,21)에 대량의 파워가 공급되어야 할 경우도 있다. 이러한 경우에서는, 가열기(11,21) 주위의 온도가 모니터될 수 있도록 별개의 온도 측정 게이지가 가열기와 근접한 위치에서 배열설치된다.In addition, even heat distribution can be achieved under normal high temperature and high pressure operation, for example, as high as 20 MPa or more, but a large amount of power must be supplied to the heaters 11 and 21 for operations requiring heating at low pressure. Sometimes. In this case, a separate temperature measuring gauge is arranged in a position close to the heater so that the temperature around the heaters 11 and 21 can be monitored.
이러한 고압 장치는 유기물질의 증발을 위해 예컨대 20 psi 내지 500 psi 만큼 높은 압력과, 50 ℃ 내지 500 ℃의 온도에서 사용되도록 설계되어 있는 고압용 장치이고, 이 고압 장치에 외부와 연통하기 위한 통로가 제공되지 않으면 고압 장치는 내외의 압력차 때문에 파손되거나 심지어는 폭팔할 가능성이 크다. 따라서, 고압 장치는 파손되지 않도록 하부 탱크(20) 및 상부 탱크(10)에 일정한 진공상태 간격을 두고 케이싱되어 있다. 여기서 진공상태 간격은 하부 탱크(0) 및 상부 탱크(0)에 누수가 발생할 경우 누수량을 자동으로 펌프(27)에 의해 펌핑 아웃시키므로 고압의 용기(2)가 폭팔하는 것을 방지한다. 이에 따라서, 본 발명의 이러한 배열상태는 압력 용기(2) 내의 파손을 방지하면서 안전성은 증대한다. 아울러 이러한 간단한 구조는 용이한 유지보수를 보장한다.Such a high pressure device is a high pressure device designed to be used at a temperature as high as 20 psi to 500 psi and a temperature of 50 ° C. to 500 ° C. for evaporation of organic materials, and the high pressure device has a passage for communicating with the outside. If not provided, the high-pressure device is likely to break or even explode due to pressure differences inside and outside. Therefore, the high pressure device is cased at regular vacuum intervals in the lower tank 20 and the upper tank 10 so as not to be damaged. Here, the vacuum space interval prevents the high-pressure container 2 from being blown out by automatically pumping out the leak amount by the pump 27 when a leak occurs in the lower tank 0 and the upper tank 0. Accordingly, this arrangement of the present invention increases safety while preventing breakage in the pressure vessel 2. This simple construction also ensures easy maintenance.
상기 실시예는 예시적인 것이며 제한적인 것이 아니다. 본 발명의 범주는 첨부된 청구의 범위에 의해 정의되며, 청구의 범위의 범주 내에 포함된 모든 변경사항 또는 범주와 동일한 사항은 이에 따라 본 발명에 포함되도록 의도되는 것이다.The above examples are illustrative and not restrictive. It is intended that the scope of the invention be defined by the claims appended hereto, and all changes or categories included within the scope of the claims to be included in the invention accordingly.
상기한 바와 같이, 유기물 및 알카리금속의 증착장치내 밀봉된 소스 물질이 고압하에서 녹는점이 낮아지는 것을 이용하여 고온 고압의 유기물질 처리 장치를 구성하므로써, 고온 고압 가스가 용이하게 대류를 경험할 수 있게 되며 ALQ3와 같은 물질을 고온 고압의 유기물질 처리하면서 밀봉성 및 안전도를 얻고, 그 가공물을 처리하기에 적합하게 되는 유기 반도체 장치 제조용 고온 고압의 유기물질 처리장치가 얻어질 수 있다.As described above, by forming the organic material processing apparatus of the high temperature and high pressure by using the melting point of the sealed source material in the deposition apparatus of the organic material and alkali metal under high pressure, the high temperature and high pressure gas can easily experience convection. A high temperature and high pressure organic material processing apparatus for manufacturing an organic semiconductor device can be obtained which obtains sealability and safety while treating a material such as ALQ 3 at high temperature and high pressure, and which is suitable for treating the workpiece.
Claims (7)
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