KR100377097B1 - Testing Socket unit for Cathod Ray Tube - Google Patents
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Abstract
본 발명은 음극선관 검사공정에서 불량 유무를 검출하기 위하여 터미널블록을 검사테이블 소켓에 결합하고 탈거 하도록 인도하는 소켓에 관한 것으로 검사공정에서 터미널블럭의 탈거 조작을 수작업에서 조작기구로 대체함으로서 극선관 터미널블럭의 소손이나 데미지를 없애 불량을 사전에 방지하고 검사테이블의 소켓의 교환 없이 사양이 다른 터미널블럭의 결합도 가능하도록 하는 것이다.The present invention relates to a socket for guiding a terminal block to the inspection table socket and to remove the terminal block in order to detect the defect in the cathode ray tube inspection process by replacing the removal operation of the terminal block in the inspection process by a manual operation in the polar ray tube terminal It eliminates damage and damage of blocks, and prevents defects in advance, and enables the combination of terminal blocks of different specifications without replacing the socket of the inspection table.
본 발명에 따른 검사테이블의 소켓유니트는, 검사테이블(200)에 지지되어 터미널블럭(100)의 다수의 접촉단자(101)가 결합되는 대응되는 접속핀(111)이 고정된 베이스(112)가 있으며, 베이스의 접속핀을 따라 슬라이드 진퇴 운동되도록 접속핀을 인도하는 가이드홈(113)이 있으며 그 가이드홈을 중심으로 터미널블럭이 결합되는 면이 소켓(114)으로 형성되어 터미널블럭을 접속핀을 따라 수용하는 소켓하우징(115)을 구비하며, 베이스를 따라 소켓하우징을 들어올려 소켓에 삽입된 터미널블럭을 방출하고, 베이스를 따라 이동된 소켓하우징을 원위치로 복원시키는 것을 특징으로 한다.The socket unit of the test table according to the present invention, the base 112 is supported by the test table 200 is fixed to the corresponding connecting pin 111 to which the plurality of contact terminals 101 of the terminal block 100 is coupled In addition, there is a guide groove 113 for guiding the connecting pin to slide forward and backward movement along the connection pin of the base and the terminal block is coupled to the terminal block is formed around the guide groove to form a terminal block connecting pin And a socket housing 115 accommodating along the base, lifting the socket housing along the base to release the terminal block inserted into the socket, and restoring the socket housing moved along the base to its original position.
이에 따라 음극선관 검사공정에서 터미널블럭의 소손이나 데미지를 줄여 음극선관의 불량을 방지하고 검사공정의 자동화와 터미널블럭 검사 수용에 대한 호환성을 제공한다.Accordingly, in the cathode ray tube inspection process, the damage or damage of the terminal block is reduced to prevent the defect of the cathode ray tube, and the automation of the inspection process and the compatibility of the terminal block inspection acceptance are provided.
Description
본 발명은 음극선관(CRT) 제조 공정의 후(End) 공정에 해당하는 음극선관 검사공정에서 터미널블럭을 검사테이블에 결합하여 음극선관의 불량유무를 검출하기 위하여 터미널블록을 검사테이블 소켓에 결합하고 탈거 하도록 인도하는 소켓에 관한 것으로 더 상세하게는 검사공정에서 터미널블럭의 탈거 조작을 수작업에서 조작기구로 대체함으로서 부주의에 의한 음극선관 터미널블럭의 소손이나 데미지를 없애 음극선관의 제품 불량을 사전에 방지하고 터미널블럭이 결합되는 검사테이블의 소켓의 교환 없이 곧바로 사양이 다른 터미널블럭의 결합도 인도할 수 있도록 함으로서 제품 양산의 연속성 유지와 자동화가 가능하도록 하는 것이다.In the present invention, the terminal block is coupled to the inspection table in the cathode ray tube inspection process corresponding to the end process of the cathode ray tube (CRT) manufacturing process, and the terminal block is coupled to the inspection table socket to detect whether the cathode ray tube is defective. The socket is guided to remove. More specifically, it is possible to prevent product defects in cathode ray tube by inadvertently damaging or damaging cathode ray tube terminal block by replacing terminal block removal operation by manual operation in the inspection process. In addition, it is possible to maintain the continuity and automate the production of the product by directly connecting the terminal blocks of different specifications without replacing the socket of the inspection table to which the terminal blocks are coupled.
일반적으로 완성된 음극선관은 검사유니트를 통해 전자기적 특성을 검사하고이를 조정하는 ITC조정작업(Intergrated Tube Component)을 거치게 된다.In general, the finished cathode ray tube undergoes an ITC coordinated operation (Intergrated Tube Component) that inspects and adjusts electromagnetic characteristics through an inspection unit.
음극선관의 검사방법은 도 1 및 도 2와 같이 음극선관(10)의 네크부(20) 단부를 따라 환상으로 정렬된 복수개의 급전핀(30)들에 대하여 검사전압입력측(40)으로부터 유도되는 검사 전압을 매개하는 소켓(50)을 결합한 다음 소켓(50)을 통하여 각 급전핀(30)에 적정 전압을 인가시켜 줌으로써, 전자총의 각 그리드에서 요구하는 상응 전압이 걸리도록 하여 이들 그리드 전극들간에 전자빔의 접속 및 가속에 필요한 전자기적 렌즈들이 형성되도록 해주고 그 결과를 모니터링 하여 음극선관의 상태를 조정하거나 불량여부도 판단한다.The inspection method of the cathode ray tube is derived from the inspection voltage input side 40 with respect to the plurality of feed pins 30 annularly aligned along the end of the neck portion 20 of the cathode ray tube 10 as shown in FIGS. 1 and 2. By coupling the sockets 50 for the inspection voltage and then applying the appropriate voltages to each of the feed pins 30 through the sockets 50, the corresponding voltages required by each grid of the electron gun are applied to the grid electrodes. It allows the formation of electromagnetic lenses necessary for the connection and acceleration of the electron beam and monitors the results to adjust the condition of the cathode ray tube or determine whether there is any defect.
음극선관의 불량 여부 검출과 판단 또는 조정하는 방법은 이와 같이 음극선관에 직접 전압을 걸어 전자빔의 접속 및 가속에 필요한 전자기적 렌즈들을 형성하는 방법외에 다양한 방법들이 알려져 있으나 전자총의 각 그리드에서 요구하는 상응 전압을 인가하는 방식인 경우 예를들면 음극선관(10)의 각 급전핀(30)들중 통상적으로 3번핀(또는 L3단자)으로 불리우는 하나의 급전핀(30)에는 전자총 포커스전압인 EC3 전압이 인가되게 되는데, 이 급전핀(30)에 걸리는 포커스 전압은 전자총의 각 부위에 대한 인가전압중 가장 높은 기준전압이 되기 때문에 관련 검사작업시 상기 급전핀(30)에 걸리는 포커스 전압이 요구되는 전압값 범위로 인가되는 지의 여부를 측정 체크 하거나 콘트라스트도 검사한다.The method of detecting, determining or adjusting whether the cathode ray tube is defective is known in addition to the method of applying the voltage directly to the cathode ray tube to form the electromagnetic lenses required for the connection and acceleration of the electron beam. In the case of applying a voltage, for example, one of the feed pins 30 of the cathode ray tube 10, which is commonly referred to as pin 3 (or L3 terminal), has an EC3 voltage that is an electron gun focus voltage. Since the focus voltage applied to the feed pin 30 becomes the highest reference voltage among the applied voltages for the respective parts of the electron gun, the voltage value required for the focus voltage applied to the feed pin 30 during the related inspection work. Measure or check the contrast or not.
따라서, 전자총의 각 그리드에서 요구하는 상응 전압을 인가하는 방식의 음극선관 검사유니트는, 음극선관(10)의 네크부(20)에 결합되는 소켓(50)과 이 소켓(50)으로부터 연장되어 외부 전압을 입력받기 위한 터미널블럭(80) 그리고 터미널블럭(80)에 소정의 전압을 전달하기 위한 검사테이블(90) 및 가공된 전압을 외부에서 전달하고 음극선관(10)의 상태를 모니터링하는 검사시스템을 구비한다.Therefore, the cathode ray tube inspection unit in which the corresponding voltage required in each grid of the electron gun is applied is extended from the socket 50 and the socket 50 which are coupled to the neck portion 20 of the cathode ray tube 10 and externally. An inspection system for transmitting a predetermined voltage to the terminal block 80 and a terminal block 80 for receiving a voltage and an inspection system for transmitting the processed voltage from the outside and monitoring the state of the cathode ray tube 10. It is provided.
음극선관(10)에 결합되는 소켓(50)은 급전핀(30)의 정열위치에 상응하는 핀홀(60)이 있으며, 이들 각 핀홀(60)들은 리드와이어(70)를 통해 터미널블럭(80)의 접촉단자(81)와 연결되어 있는 한편 그 터미널블럭(80)의 접촉단자(81)를 검사테이블(90)의 접속핀(91)과 결합될 수 있도록 검사테이블(90)에는 터미널블럭(80)의 접촉단자(81)를 유도할 접속핀(91)이 접촉단자(81)에 대응되는 위치에 돌출되어 있으며 접속핀(91)의 주위로는 터미널블럭(80)의 바디가 안착될 공간(92)이 가공되어 있다.The socket 50 coupled to the cathode ray tube 10 has a pinhole 60 corresponding to the alignment position of the feed pin 30, and each of the pinholes 60 is connected to the terminal block 80 through the lead wire 70. It is connected to the contact terminal 81 of the terminal block 80 of the terminal block 80 so that the contact terminal 81 of the test table 90 can be coupled with the connecting pin 91 of the terminal block (80) A connecting pin 91 for guiding the contact terminal 81 of the protrusion protrudes at a position corresponding to the contact terminal 81, and a space in which the body of the terminal block 80 is to be seated around the connecting pin 91. 92) is processed.
따라서, 검사유니트상에서의 ITC조정작업 또는 불량검출을 위해서는 먼저 소켓(50)을 음극선관(10)의 네크부(20)에 있는 급전핀(30)들에 결합하고 소켓(50)과 리드와이어(70)를 통해 연장된 터미널블럭(80)의 접촉단자(81)를 검사테이블(90)의 접속핀(91)에 ??추어 끼운 뒤 터미널블럭(80)의 바디를 검사소켓(93)에 안착시켜 ITC조정작업이나 음극선관 상태를 모니터링하게 되는데, 터미널블럭(80)을 검사테이블(90)의 검사소켓(93)에 결합하면 곧바로 전자총의 각 그리드에서 요구하는 상응 전압이 단자(91) 및 핀(91)(30)을 통해 인가되어 음극선관의 상태를 모니터링 하여 검사작업을 완료한다.Therefore, for ITC adjustment work or defect detection on the inspection unit, the socket 50 is first coupled to the feed pins 30 in the neck portion 20 of the cathode ray tube 10 and the socket 50 and the lead wire ( Insert the contact terminal 81 of the terminal block 80 extending through the 70 into the connecting pin 91 of the test table 90 and then seat the body of the terminal block 80 to the test socket 93 ITC adjustments or cathode ray tube conditions are monitored, and when the terminal block 80 is coupled to the inspection socket 93 of the inspection table 90, the corresponding voltages required by each grid of the electron gun are the terminals 91 and pins. It is applied through (91) (30) to monitor the state of the cathode ray tube to complete the inspection work.
한편, 음극선관의 ITC조정작업이나 검사작업이 완료되면 검사테이블(90)의 검사소켓(93)에 결합되어 있는 터미널블럭(80)을 탈거시켜 검사가 완료된 음극선관을 라인을 따라 다음 공정으로 이송 시키고 대기중인 다음 음극선관에 대하여 동일한 검사작업을 반복하는데, 여기서 터미널블럭(80)의 탈거에 있어서 상당한 결함이 발견된다.On the other hand, when the ITC adjustment work or inspection work of the cathode ray tube is completed, the terminal block 80 coupled to the inspection socket 93 of the inspection table 90 is removed, and the cathode ray tube having been inspected is transferred along the line to the next process. And the same inspection is repeated for the next cathode ray tube in the air where significant defects are found in the removal of the terminal block 80.
그 예와 원인은 다음과 같은 것이다.Examples and causes are as follows.
전자총의 각 그리드에서 요구하는 상응 전압을 인가하는 방식의 음극선관 검사공정은 터미널블럭(80)의 접촉단자(81)를 검사테이블(90)의 접속핀(91)에 결합시키고 그 검사소켓(93)에 안착시켜 검사전압입력측(40)으로부터 공급되는 전압을 음극선관에 통전시키는 작업을 통해 이루어지고, 그 작업은 라인상에서 이루어지고 있으며 이에 따라 작업자가 인위적으로 라인을 정지시키지 않을 경우 연속 반복 작업의 흐름에서 벗어나기 어렵다. 따라서 라인의 진행 속도가 빠를수록 검사공정에서 터미널블럭(80)을 검사테이블(90)에 꼽고 빼는 수작업 속도가 빨라진다.The cathode ray tube inspection process of applying the corresponding voltage required in each grid of the electron gun couples the contact terminal 81 of the terminal block 80 to the connection pin 91 of the inspection table 90 and the inspection socket 93. ) Is made through the operation of energizing the cathode ray tube with the voltage supplied from the test voltage input side 40, and the work is performed on the line, so that if the operator does not artificially stop the line, Difficult to escape from the flow Therefore, the faster the speed of the line, the faster the manual operation of plugging the terminal block 80 into the inspection table 90 in the inspection process.
도 3은 검사테이블(90)에 터미널블럭(80)을 꼽고 다시 빼는 동작을 단계적으로 표현한 것으로 a단계는 꼽는 작업이고, b는 빼내는 초기 단계이며, c는 탈거 단계로서, 단계a의 경우는 꼽는 작업이므로 비교적 터미널블럭(80)의 소손이나 데미지의 발생 원인이 적고(작업자가 정확하게 수직에 방향으로 맞추어만 접속되기 때문), 단계b의 경우 빼는 과정이지만 검사소켓(93)에 터미널블럭(80)의 바디가 들어있는 상태이므로 접촉단자(81)에 비틀림 외력이 전달되지 못하여 접촉단자의 소손이나 데이지가 생기지 않으나, 단계c에서는 터미널블럭(80)의 탈거 방향이 수직 'y'축으로부터 임의의 θ각으로 그 탈거방향이 기울어질 수 있다.3 is a step-by-step representation of the operation of plugging the terminal block 80 into the inspection table 90 and removing it again, step a is the plugging operation, b is the initial step of removing, c is the removing step, and in the case of step a Since it is a work, relatively little causes of damage or damage of the terminal block 80 (because the operator is connected only in the vertical direction exactly), and in the case of step b, the terminal block 80 is connected to the inspection socket 93. Since the torsional external force is not transmitted to the contact terminal 81 because the body is in the state, the burnout of the contact terminal or daisy does not occur. However, in step c, the removal direction of the terminal block 80 is random from the vertical 'y' axis. The removal direction may be inclined at an angle.
터미널블럭(80)의 이상적인 탈거방향을 수직 'y'축 방향으로볼 때 a.b단계는 모두 수직 'y'축과 근접되지만 c단계에서의 탈거방향은 'y'축 방향으로부터 어긋나있으며, 수작업에 의한 탈거 방향은 다양한 θ각 기울기로 나타난다. 물론 'y'축과 일치하는 탈거 방향도 얻을 수 있지만 이는 작업자의 작업 위치나 라인 속도 및 숙련도 등에 따라 수시로 변화되는 양상으로 나타나게 되며 이로 인해 일정한 작업을 기대할 수 없다.When the ideal stripping direction of the terminal block 80 is viewed in the vertical 'y' axis direction, the ab steps are all close to the vertical 'y' axis, but the stripping direction in the c step is shifted from the 'y' axis direction. The stripping direction is represented by various θ angle slopes. Of course, the removal direction coinciding with the 'y' axis can also be obtained, but this may appear to change from time to time depending on the worker's working position, line speed, and skill level.
수직축 탈거방향은 터미널블럭(80)의 접촉단자(81)의 손상이나 데미지를 주지 않는 방향이다. 터미널블럭(80)을 기울어진 상태로 강제로 검사테이블(90)의 검사소켓(93)에서 빼내면 도 4와 같이 터미널블럭(80)의 접촉단자(81)의 홈이 확장되거나 일부가 벌어지는 변형된 접촉단자(81a)를 형성시킨다.The vertical axis detachment direction is a direction that does not damage or damage the contact terminal 81 of the terminal block 80. When the terminal block 80 is tilted and forcibly pulled out from the test socket 93 of the test table 90, the groove of the contact terminal 81 of the terminal block 80 is expanded or partially opened as shown in FIG. Contact terminals 81a are formed.
터미널블럭(80)의 변형은 곧 사소한 부분에서의 결함이 음극선관의 불량으로 발전되는 문제를 야기 시킨다. 즉, 완성된 음극선관은 네크부(20)에 소켓(50)이 결합되어 있고 이로부터 연장된 터미널블럭(80)이 회로기판과 연결될 수 있는 상태로 되어 있는 것으로서, 전자총의 각 그리드에서 요구하는 상응 전압을 인가하기 위해 네크부(20)에 소켓(50)을 결합하고 그 소켓(50)으로부터 연장된 터미널블럭(80)을 검사테이블(90)에 결합시켰던 검사공정에서의 소켓(50)과 터미널블럭(80)은 교환없이 그대로 음극선관의 구성 부품으로 양산되기 때문에 검사공정에서 터미널블럭(80)의 소손이나 데미지가 생길 경우 이를 검사하거나 교환하는 작업이 불가능하다. 만약 터미널불럭(80)의 상태를 검사하는 공정을 별도로 두는 경우 그 만큼 공정 시간과 비용이 투자 되어 현재 라인에서는 이러한 터미널블럭(80)의 결함에 대한 보완공정을 별도로 두지 않고 있으며 이에 따라 터미널블럭(80)의 접촉단자(81) 홀이 확장되거나 균열이 생기는 등의 결함을 가질 경우 나중에 최종 제품단계에서 회로기판의 핀과 안정된 접속을 유지하지 못하는 중대한 문제를 야기 시키게 되는 것이다.Deformation of the terminal block 80 causes a problem that a defect in a minor part develops into a failure of the cathode ray tube. That is, the completed cathode ray tube is a state in which the socket 50 is coupled to the neck portion 20 and the terminal block 80 extending therefrom can be connected to the circuit board. The socket 50 in the inspection process in which the socket 50 is coupled to the neck portion 20 and the terminal block 80 extending from the socket 50 is coupled to the inspection table 90 to apply a corresponding voltage. Since the terminal block 80 is mass-produced as a component of the cathode ray tube without replacement, it is impossible to inspect or replace the terminal block 80 when it is damaged or damaged in the inspection process. If the process of checking the state of the terminal block 80 is set aside, the process time and cost are invested accordingly, and the current line does not provide a supplementary process for the defect of the terminal block 80, and thus the terminal block ( If the hole of the contact terminal 81 of 80) has a defect such as expansion or cracking, it will cause a serious problem of failing to maintain a stable connection with the pin of the circuit board later in the final product stage.
이같은 음극선관 검사공정에서의 터미널블럭의 변형에 따른 문제점은 원인을 인력 의존형 작업 공정에서 찾을 수 있고, 그 문제점을 줄이기 위해서는 작업자의 부주의와 실수율을 줄여 정확한 품질관리가 이루어지도록 하는 방법 또는 작업자의 작업에 부담을 주지 않는 정도의 라인속도 유지를 통한 작업조건개선을 통한 방법 또는 터미널블럭의 검사공정 등의 추가 방법 등이 불량을 줄이는 대안이 될 수 있으나 모두 생산성과 비용에 관련되는 것으로서 투자메리트가 적은 것이다.The problem caused by the deformation of the terminal block in the cathode ray tube inspection process can be found in the workforce-dependent work process, and in order to reduce the problem, a method of precise quality control is achieved by reducing the carelessness and error rate of the worker. Alternative methods of reducing defects can be made by improving the working conditions by maintaining the line speed that does not burden the user, or by additional methods such as the inspection process of the terminal block, but all of them are related to productivity and cost. will be.
또 다른 문제점은 검사테이블(90)에 세팅된 접속핀(91)이 다른 사양의 터미널블럭(80)의 결합을 수용하지 못하여 터미널블럭(80)의 사양이 바뀌면 검사테이블(90)도 교환하여야 하는데 따른 작업성의 저하이다. 즉 음극선관 사이즈는 14,16,17,21...인치 등으로 다품종화 되어 있고 따라서 음극선관 사이즈에 따라 전자기적 특성이 달라 급전핀(30)의 핀수도 변화되는 것이 일반적이며 제작사에서는 이러한 다양화된 모델의 변화를 일괄작업 생산으로 연관시키기 위해 가능한 급전핀(30)의 수나 소켓(50)의 형상 그리고 터미널블럭(80)의 외형을 3~4개로 통일시켜 제작하고 있으나 급전핀(30)수의 적은 변화로도 소켓(50)과 터미널블럭(80)의 접촉단자(30)의 수 및 위치 변화를 가져오고 이는 검사공정에서 검사테이블(90)의 접속핀(91)의 위치 및 개수 조절을 동반하게 된다.Another problem is that if the connection pin 91 set on the test table 90 does not accommodate the combination of the terminal block 80 of another specification and the specification of the terminal block 80 is changed, the test table 90 should also be replaced. This is a decrease in workability. That is, the cathode ray tube size is diversified into 14, 16, 17, 21 ... inch, etc. Therefore, the electromagnetic characteristics vary according to the cathode ray tube size, so that the number of pins of the feed pin 30 is also generally changed. In order to correlate changes in the model to batch production, the number of possible feeding pins 30, the shape of the socket 50 and the appearance of the terminal block 80 are unified to three to four, but the feeding pins 30 Even a small change in the number results in a change in the number and position of the contact terminals 30 of the socket 50 and the terminal block 80, which adjusts the position and number of the connection pins 91 of the inspection table 90 in the inspection process. Will be accompanied.
따라서 음극선관의 전자기적 특성을 검사하기 위한 기존의 검사테이블(90)은 다기종의 음극선관 검사가 불가능한 문제점이 있었다.Therefore, the existing inspection table 90 for inspecting the electromagnetic properties of the cathode ray tube has a problem that it is impossible to inspect the cathode ray tube of multiple types.
따라서 본 발명의 목적은 음극선관 검사공정에서 수작업에 의해 나타나는 불완전한 터미널블럭의 탈거에 따른 터미널블럭의 소손이나 데미지를 최소화할 수 있는 대체기구를 제공하는 것이다.Therefore, an object of the present invention is to provide an alternative mechanism that can minimize the damage or damage of the terminal block due to the removal of the incomplete terminal block appearing by hand in the cathode ray tube inspection process.
본 발명의 다른 목적은 음극선관 검사공정에서 라인속도에 추종되는 터미널블럭의 탈거를 위한 검사유니트를 제공하는 것이다.Another object of the present invention is to provide an inspection unit for removing the terminal block following the line speed in the cathode ray tube inspection process.
본 발명의 또 다른 목적은 전자총의 각 그리드에서 요구하는 상응 전압을 인가하여 음극선관의 전자기적 특성을 검사하는 음극선관 검사공정의 라인 자동화를 구현하는 것이다.It is still another object of the present invention to implement line automation of the cathode ray tube inspection process of inspecting the electromagnetic characteristics of the cathode ray tube by applying a corresponding voltage required in each grid of the electron gun.
본 발명의 또 다른 목적은 다기종 음극선관의 전자기적 특성을 검사할 수 있는 검사유니트를 제공하는 것이다.It is still another object of the present invention to provide an inspection unit capable of inspecting electromagnetic characteristics of multi-type cathode ray tubes.
이러한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 특징은,소켓을 음극선관 급전핀에 결합하고 이 소켓과 리드와이어로 연결된 터미널블럭을 검사테이블의 접속핀에 결합하여 외부 전압을 음극선관에 인가함으로서 음극선관의 전자기적 특성들의 불량여부를 검사하는 음극선관 검사 소켓 유니트에 있어서,상기 검사테이블에 지지되어 터미널블럭의 다수의 접촉단자가 결합되는 대응되는 접속핀이 고정된 베이스와,상기 베이스의 접속핀을 따라 슬라이드 진퇴 운동되도록 접속핀을 인도하는 가이드홈이 있으며 그 가이드홈을 중심으로 터미널블럭이 결합되는 면이 소켓으로 형성되어 터미널블럭을 접속핀을 따라 수용하는 소켓하우징과,상기 베이스를 따라 소켓하우징을 들어올려 터미널블럭을 방출하기 위해 상기 소켓하우징의 양측방향으로 돌출된 보스와,상기 소켓하우징을 따라 보스와 홈을 통해 결합되는 픽업레버와,상기 픽업레버를 베이스를 중심으로 회전되게 지지하는 회전축과,상기 픽업레버와 연동되어 베이스를 따라 이동된 소켓하우징을 원위치로 복원시키기 위해 소켓하우징의 하부로 연장된 가이드보스와,The characteristics of the present invention for achieving this object, by connecting the socket to the cathode ray tube feed pin and the terminal block connected to the socket and lead wire to the connection pin of the inspection table to apply an external voltage to the cathode ray tube of the cathode ray tube A cathode ray tube inspection socket unit for inspecting whether electromagnetic characteristics are defective, the base having a corresponding connection pin secured to the inspection table to which a plurality of contact terminals of a terminal block are coupled, and along a connection pin of the base. There is a guide groove for guiding the connecting pin so that the slide forward and backward movement, and the socket housing is formed on the surface of which the terminal block is coupled around the guide groove to accommodate the terminal block along the connecting pin, and the socket housing along the base. Bosses protruding in both directions of the socket housing to lift up and release the terminal block; Pick-up lever coupled through the boss and the groove along the socket housing, a rotary shaft for supporting the pickup lever rotated about the base, and in order to restore the socket housing moved along the base in conjunction with the pickup lever to the original position A guide boss extending into the lower part of the socket housing;
상기 가이드보스에 코일스프링을 설치하고 그 가이드보스에 설치된 코일스프링을 베이스에 탄지시키는 스토퍼로 이루어지는 것을 특징으로 한다.A coil spring is installed on the guide boss and a stopper for holding the coil spring mounted on the guide boss on the base is characterized in that it is made of a stopper.
이렇게 음극선관 검사공정의 검사테이블에 본 발명의 소켓유니트를 설치하여 터미널블럭을 접속하거나 탈거시키면 터미널블럭의 소손이나 데미지를 줄일수 있으며 검사공정의 자동화도 가능하고 또한 다양한 터미널블럭을 소켓유니트에 수용시킬 수 있으므로 검사테이블의 재조정 작업이나 비용투자의 문제점을 해결할 수 있게 된다.Thus, by connecting or removing the terminal block by installing the socket unit of the present invention on the inspection table of the cathode ray tube inspection process, it is possible to reduce the damage or damage of the terminal block, to automate the inspection process, and to accommodate various terminal blocks in the socket unit. It can solve the problem of recalibration of inspection table or cost investment.
도 1은 음극선관 급전핀과 소켓의 결합 사시도1 is a perspective view of the cathode ray tube feed pin and the socket coupling
도 2는 종래 음극선관 검사공정에서의 검사테이블 구성도2 is a block diagram of a conventional cathode ray tube inspection process
도 3은 종래의 음극선관 검사공정에서 터미널블럭의 탈거작업을 도식적으로 나타낸 도면Figure 3 is a schematic diagram showing the removal of the terminal block in the conventional cathode ray tube inspection process
도 4는 터미널블럭 접촉단자의 변형 상태를 보인 확대도Figure 4 is an enlarged view showing a modified state of the terminal block contact terminal
도 5는 본 발명에 따른 음극선관 검사공정의 검사테이블 구성도5 is a configuration diagram of the inspection table of the cathode ray tube inspection process according to the present invention
도 6은 음극선관의 터미널블럭의 예를 나타낸 표면도6 is a surface view showing an example of a terminal block of a cathode ray tube;
도 7은 본 발명에 따른 소켓유니트의 일부를 나타낸 단면도7 is a cross-sectional view showing a part of a socket unit according to the present invention.
도 8은 본 발명에 소켓유니트의 일부를 절취한 저면도8 is a bottom view of a part of the socket unit of the present invention cut out;
도 9는 본 발명에 따른 소켓유니트의 평면도9 is a plan view of a socket unit according to the present invention;
도 10은 본 발명에 따른 소켓유니트의 일측면도10 is a side view of a socket unit according to the present invention;
도 11은 본 발명에 따른 소켓유니트의 동작도11 is an operation of the socket unit according to the present invention
도 12는 본 발명에 따른 터미널블럭의 탈거 상태를 나타낸 단면도12 is a cross-sectional view showing a removal state of the terminal block according to the present invention.
*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명** Description of the symbols for the main parts of the drawings *
100:터미널블럭 101:접촉단자100: terminal block 101: contact terminal
110:소켓유니트 111:접속핀110: socket unit 111: connection pin
112:베이스 113:가이드홈112: base 113: guide groove
114:소켓 115:소켓하우징114: socket 115: socket housing
116:보스 117:홈116: Boss 117: Home
118:픽업레버 119:회전축118: pickup lever 119: rotary shaft
120:가이드보스 121:코일스프링120: guide boss 121: coil spring
122:스토퍼 123:슬라이드 접촉면122: stopper 123: slide contact surface
124:가이드트랙 125:가이드레일124: guide track 125: guide rail
126:커버126: cover
이하, 본발명의 실시예를 도면 도 5 내지 도 12 를 참고로 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 5 to 12.
본 발명은 도 5와 같이 소켓(50)을 음극선관의 네크부(20)에 부설된 급전핀(30)에 결합하고 이 소켓(50)과 리드와이어(70)로 연결된 터미널블럭(100)을 검사테이블(200)의 접속핀에 결합하여 외부 전압을 음극선관(10)에 인가함으로서 음극선관의 전자기적 특성들의 불량 여부 검사를 위한 검사공정에 사용되는 기구로서 터미널블럭(100)을 검사테이블(200)에 결합하기 위한 터미널블럭(100)의 소켓유니트(110)이다.5, the terminal block 100 is coupled to the feed pin 30 attached to the neck portion 20 of the cathode ray tube as shown in FIG. 5 and connected to the socket 50 and the lead wire 70. By applying an external voltage to the cathode ray tube 10 by coupling to a connection pin of the inspection table 200, the terminal block 100 is used as an instrument used in an inspection process for inspecting whether the electromagnetic characteristics of the cathode ray tube are defective. The socket unit 110 of the terminal block 100 for coupling to 200.
본 발명의 바람직한 실시예에 따른 소켓유니트(110)의 주요부분은, 도 5 내지 도 7과 같이 검사테이블(200)에 지지되어 터미널블럭(100)의 다수의 접촉단자(101)가 결합되는 대응되는 접속핀(111)이 고정된 베이스(112), 베이스(112)의 접속핀(111)을 따라 슬라이드 진퇴 운동되도록 접속핀(111)을 인도하는 가이드홈(113)이 있으며 그 가이드홈(113)을 중심으로 터미널블럭(100)이 결합되는 면이 소켓(114)으로 형성되어 터미널블럭(100)을 수용하는 소켓하우징(115), 베이스(112)를 따라 소켓하우징(115)을 들어올려 소켓(114)에 들어있는 터미널블럭(100)을 방출하기 위해 소켓하우징(115)의 양측 방향으로 돌출된 보스(116)와 소켓하우징(115)을 따라 보스(116)와 홈(117)을 통해 결합되는 픽업레버(118) 그리고 픽업레버(118)를 베이스(112)를 중심으로 회전되게 회전축(119)으로 고정하여 구성되었다.The main part of the socket unit 110 according to the preferred embodiment of the present invention is supported by the inspection table 200 as shown in Figs. 5 to 7 corresponding to the plurality of contact terminals 101 of the terminal block 100 is coupled There is a guide groove 113 for guiding the connecting pin 111 to move forward and backward movement along the connection pin 111 of the base 112 is fixed, the connection pin 111 of the base 112 and the guide groove 113 The terminal block 100 is coupled to the surface of the socket 114 is formed around the socket housing 115 to accommodate the terminal block 100, the socket housing 115 along the base 112 to lift the socket Through the boss 116 and the groove 117 along the socket housing 115 and the boss 116 protruding in both directions of the socket housing 115 to release the terminal block 100 contained in (114) The pickup lever 118 and the pickup lever 118 is fixed to the rotating shaft 119 to be rotated about the base 112 Configured.
그리고 도 7과 같이 픽업레버(118)와 연동되어 베이스(112)를 따라 이동된 소켓하우징(115)을 원위치로 복원시키기 위해 소켓하우징(115)의 하부로는 가이드보스(120)를 연장하고 그 가이드보스(120)에는 코일스프링(121)을 설치하는 한편 가이드보스(120)의 단부에는 코일스프링(121)을 베이스(112)에 탄지시키는 스토퍼(122)를 설치하여 소켓하우징(115)의 운동방향에 따라 코일스프링(121)의 수축팽창력으로 소켓하우징(115)이 베이스(112)를 따라 복원되도록 되어있다.And extends the guide boss 120 to the lower portion of the socket housing 115 to restore the socket housing 115 moved along the base 112 in conjunction with the pickup lever 118 as shown in FIG. The guide boss 120 is provided with a coil spring 121, and at the end of the guide boss 120, a stopper 122 for holding the coil spring 121 on the base 112 is installed to move the socket housing 115. The socket housing 115 is restored along the base 112 by the contracting expansion force of the coil spring 121 along the direction.
그리고 도 8과 같이 베이스(112)와 소켓하우징(115)이 슬라이드 접촉되는 양측 일단에는 슬라이딩 접촉면(123)을 두었으며, 그 슬라이딩 접촉면(123)은 베이스(112)에 가이드트랙(124)을 형성하고 소켓하우징(115)에는 그 가이드트랙(124)에 인도되는 슬라이드 레일(125)을 부설하여 소켓하우징(115)의 슬라이드 직선 운동을 유도하도록 되어 있다.8, sliding contact surfaces 123 are disposed at both ends of the base 112 and the socket housing 115 in sliding contact, and the sliding contact surfaces 123 form guide tracks 124 on the base 112. In addition, a slide rail 125 guided to the guide track 124 is provided in the socket housing 115 to induce a slide linear motion of the socket housing 115.
또한 베이스(112)와 소켓하우징(115)은 터미널블럭(100)의 접촉단자(101)의 위치 및 개수가 다른 다른 기종의 터미널블럭을 수용할 수 있도록 베이스(112)의 접속핀(111) 위치와 소켓하우징(115)의 가이드홈(113)의 위치를 조절하여 적어도 한 개이상의 소켓(114)으로 이루어지는 소켓하우징(115)의 증설 구조를 포함한다.In addition, the base 112 and the socket housing 115 are positioned at the connection pins 111 of the base 112 to accommodate terminal blocks of different models having different positions and numbers of the contact terminals 101 of the terminal block 100. And an extension structure of the socket housing 115 including at least one or more sockets 114 by adjusting the position of the guide groove 113 of the socket housing 115.
또한 터미널블럭(100)이 접속되는 소켓하우징(115)의 접속면에는 소켓하우징(115)을 따라 슬라이드 이동 가능한 커버(126)를 장착하여 소켓(114)의 위치를 선택할 수 있도록 구성된다.In addition, the connection surface of the socket housing 115 to which the terminal block 100 is connected is configured to mount a cover 126 that is slidable along the socket housing 115 so as to select the position of the socket 114.
그리고 소켓하우징(115)의 복원을 위하여 들어올려진 소켓하우징(115)에 외력을 전달하는 별도의 가동성부재를 설치할 수 있으며, 픽업레버(118)를 실린더와 같은 별도의 가동성부재 의해 동작 시키는 구조를 포함한다.And it is possible to install a separate movable member for transmitting an external force to the raised socket housing 115 for the restoration of the socket housing 115, and includes a structure for operating the pickup lever 118 by a separate movable member such as a cylinder. do.
본 발명의 작용효과는 다음과 같다.Effects of the present invention are as follows.
터미널블럭(100)을 검사테이블(200)에 접속 시키는 본 발명의 소켓유니트(110)는 도 5와 같이 베이스(112)를 검사테이블(200)에 고정시키고 그 외부에 소켓하우징(115)을 장착하여 픽업레버(118)에 의해 소켓하우징(15)을 들어올리고 다시 원위치로 복원시킴으로서 터미널블럭(100)의 탈거를 수작업이 아닌 기구적 탈거 작업으로 바꿔주는 작용을 한다.The socket unit 110 of the present invention connecting the terminal block 100 to the test table 200 secures the base 112 to the test table 200 as shown in FIG. 5 and mounts the socket housing 115 to the outside thereof. By lifting the socket housing 15 by the pickup lever 118 and restoring the socket housing 15 back to its original position, the terminal block 100 is removed by manual removal instead of manual removal.
픽업레버(118)를 'F'방향으로 누르면 픽업레버(118)는 회전축(119)을 중심으로 'A'방향으로 회전하면서 소켓하우징(115)의 보스(116)와 홈(117)을 통해 결합된 픽업레버(118)의 회전력을 보스(116)에 전달하여 소켓하우징(115)을 'B'방향으로 상승시킨다.When the pickup lever 118 is pressed in the 'F' direction, the pickup lever 118 is rotated in the 'A' direction about the rotation shaft 119 and coupled through the boss 116 and the groove 117 of the socket housing 115. The rotational force of the pick-up lever 118 is transmitted to the boss 116 to raise the socket housing 115 in the 'B' direction.
이때 픽업레버(118)에 가해지는 'F'의 힘은 손으로 전달하거나 실린더와 같은 별도의 가동성부재를 픽업레버(118)에 설치하여 이를 통해 전달할 수 있다.In this case, the force of 'F' applied to the pickup lever 118 may be transmitted by hand or by installing a separate movable member such as a cylinder on the pickup lever 118.
픽업레버(118)에 어떠한 형태로든 가해지는 가압력은 소켓하우징(115)의 상승운동을 일으키며 소켓하우징(115)의 상승은 코일스프링(112)을 인장시키면서 진행된다.The pressing force applied to the pick-up lever 118 in any form causes the upward movement of the socket housing 115 and the upward movement of the socket housing 115 proceeds while tensioning the coil spring 112.
소켓하우징(115)이 상승작용은 베이스(112) 상의 접속핀(111)으로부터 소켓하우징(115)의 가이드홈(113)이 상부로 이동되는 것과 마찬가지이며 이 작용을 통해 소켓(114)에 안착되어 접속핀(111)과 접속되어 있던 접촉단자(101)를 접속핀(111)으로부터 이탈시켜 최종적으로 터미널블럭(100)을 소켓(114)으로부터 이탈 시키게 된다.The synergy of the socket housing 115 is the same as that of the guide groove 113 of the socket housing 115 being moved upward from the connecting pin 111 on the base 112 and is seated on the socket 114 through this action. The contact terminal 101 connected to the connecting pin 111 is separated from the connecting pin 111 to finally separate the terminal block 100 from the socket 114.
픽업레버(118)에 대한 누름력 'F'을 제거하면 소켓하우징(115)은 코일스프링(121)의 복원력으로 다시 원위치로 복원되는데 이때 소켓하우징(115)의 소켓(114)에 형성된 가이드홈(113)은 다시 베이스(112)로부터 돌출된 접속핀(111)을 따라 원위치로 내려가 소켓(114)의 공간으로 접속핀(111)이 돌출된 초기 상태인 터미널블럭(100)의 접속을 위한 대기 상태로 복원된다.When the pressing force 'F' on the pickup lever 118 is removed, the socket housing 115 is restored to the original position by the restoring force of the coil spring 121. At this time, the guide groove formed in the socket 114 of the socket housing 115 113 is returned to its original position along the connecting pin 111 protruding from the base 112, the standby state for the connection of the terminal block 100, the initial state of the connecting pin 111 protrudes into the space of the socket 114 Is restored.
소켓하우징(115)의 복원력은 소켓하우징(115)을 당기는 코일스프링(121)에의해서 얻을 수 있고 탄성력이 아닌 실린더와 같은 가동성부재에 의해 얻을 수 있다.The restoring force of the socket housing 115 can be obtained by the coil spring 121 pulling the socket housing 115 and by a movable member such as a cylinder rather than an elastic force.
소켓하우징(115)에 구성되는 소켓(114)의 구조는 다양한 터미널블럭(100)의 접촉단자(101)를 수용할 수 있도록 베이스(112)의 접속핀(111)과 소켓하우징(115)의 가이드홈(113)을 개설하여 한 개 이상의 소켓(114)으로 구성할 수 있으며 이 경우 커버(126)를 부착하여 사용하지 않는 소켓(114)은 커버(126)를 통해 가리고 다른 소켓(114)을 사용할 경우 커버(126)를 이동시켜 터미널블럭(100)의 접촉단자(101) 사양과 맞는 소켓(114)을 선택할 수 있다.The structure of the socket 114 configured in the socket housing 115 is a guide of the connecting pin 111 of the base 112 and the socket housing 115 to accommodate the contact terminals 101 of the various terminal blocks 100. One or more sockets 114 may be formed by opening the groove 113. In this case, the socket 114 that is not used by attaching the cover 126 may be covered by the cover 126, and another socket 114 may be used. In this case, the cover 126 may be moved to select a socket 114 that meets the specifications of the contact terminal 101 of the terminal block 100.
베이스(112)와 소켓하우징(115)이 슬라이드 접촉되는 양측 일단의 슬라이딩 접촉면(123)에 의해 소켓하우징(115)의 슬라이드 직선 운동이 유도된다.The slide linear movement of the socket housing 115 is induced by the sliding contact surfaces 123 of both ends of which the base 112 and the socket housing 115 slide contact.
음극선관의 전자기적 특성 검사공정에서 본 발명에 따른 터미널블럭(100)의 접속과 탈거를 순서대로 설명하면, 먼저 터미널블럭(100)에 맞는 소켓(114)을 커버(126)를 이동시키는 방법으로 선택하여 해당 소켓(114)에 터미널블럭(100)을 삽입하면 터미널블럭(100)의 접촉단자(101)가 소켓(114)의 접속핀(111)에 끼워져 음극선관에 대한 전자기적 검사 전압이 인가되어 음극선관을 검사한다.In order to explain the connection and removal of the terminal block 100 according to the present invention in the electromagnetic characteristic inspection process of the cathode ray tube in order, first, by moving the cover 126 to the socket 114 corresponding to the terminal block 100. Selecting and inserting the terminal block 100 in the socket 114, the contact terminal 101 of the terminal block 100 is fitted to the connecting pin 111 of the socket 114, the electromagnetic test voltage applied to the cathode ray tube Inspect the cathode ray tube.
검사가 종료되면 터미널블럭(100)을 검사테이블(200)상의 소켓(114)으로부터 탈거시키는데 이때 손으로 터미널블럭(100)을 빼지 않고 픽업레버(114)를 가압하면 소켓하우징(115)이 상승하면서 터미널블럭(100) 전체를 소켓(114)의 홈으로부터 들어올려 이 힘으로 터미널블럭(100)을 소켓(114)으로부터 이탈시켜 터미널블럭(100)의 탈거를 종료한다.When the inspection is finished, the terminal block 100 is removed from the socket 114 on the inspection table 200. At this time, if the pressurizing lever 114 is pushed without removing the terminal block 100 by hand, the socket housing 115 is raised. The entire terminal block 100 is lifted from the groove of the socket 114 and the terminal block 100 is released from the socket 114 by this force to terminate the removal of the terminal block 100.
여기서 탈거방향은 소켓하우징(115)의 수직 상승방향과 동일하여 터미널블럭(100)의 접촉단자(101)의 소손이나 데미지를 발생시키지 않게 된다.Here, the removal direction is the same as the vertical upward direction of the socket housing 115 so as not to cause burnout or damage of the contact terminal 101 of the terminal block 100.
터미널블럭(100)의 탈거가 끝나면 픽업레버(118)의 작동력을 제거하면 소켓하우징(115)이 원위치로 복귀하여 다음 터미널블럭(100)의 접속을 위한 대기 상태에 놓인다.When the terminal block 100 is removed, the operating force of the pickup lever 118 is removed, and the socket housing 115 returns to its original position and is placed in a standby state for the next terminal block 100 to be connected.
음극선관 제조 라인상의 검사테이블(200)에서 소켓유니트(110)의 작용은 동일한 반복 작업을 라인속도와 관계없이 오차없이 수행시킨다.The action of the socket unit 110 in the inspection table 200 on the cathode ray tube production line performs the same repetitive operation without error regardless of the line speed.
터미널블럭(100)의 소손이나 데미지는 주로 검사를 완료하고 이를 검사테이블(200)로부터 탈거 시킬 때 발생되지만 픽업레버(118)에 의한 소켓하우징(115)의 직 상승 운동을 통한 터미널블럭(100)의 탈거 작용의 특성은 동일한 연속 반복적인 동작을 나타냄으로서 터미널블럭(100)의 어긋난 탈거로 인한 소손이나 데미지가 전혀 없으며 터미널블럭을 들어올려 탈거하게 되므로 리드와이어를 당겨서 빼낼 때 발생되는 단선이나 리드와이어의 접촉 불량 등과 같은 문제를 사전에 예방할 수 있게 된다.Burnout or damage of the terminal block 100 is mainly generated when the inspection is completed and removed from the inspection table 200, but the terminal block 100 through the upward movement of the socket housing 115 by the pickup lever 118 The characteristic of stripping action is that the same continuous repetitive motion does not cause any damage or damage due to the disassembly of the terminal block 100 and the terminal block is lifted and removed. Problems such as poor contact can be prevented in advance.
픽업레버(118)를 라인속도에 추종되어 주기적으로 작동되거나 센서에 의한 동작시기 검출 방법등에 의해 동작하는 가동성부재에 의해 가동 시키는 경우 검사공정의 자동화도 가능하다.When the pick-up lever 118 is operated by a movable member which is periodically operated following the line speed or operated by a method of detecting an operation time by a sensor, the inspection process can be automated.
즉 검사테이블(200)상의 소켓(114)에 대한 터미널블럭(100)의 삽입은 별도의 핑거를 통해 삽입하고 탈거는 자동화된 픽업레버(118)를 적용하는 경우 검사공정에서 검사식별을 제외한 터미널블럭의 삽입과 탈거 등의 전공정의 자동화가 가능하다.That is, when the terminal block 100 is inserted into the socket 114 on the inspection table 200 through the separate finger and the automated pick-up lever 118 is removed, the terminal block except for the inspection identification in the inspection process is removed. Automation of the entire process such as insertion and removal of the
또한 다양한 터미널블럭(100)의 사양을 소켓(114)의 다양화를 통해 수용할 수 있도록 함으로서 라인을 따라 이동하는 다기종의 음극선관들에 대한 검사공정을 검사테이블의 구조 변경없이 소켓의 선택 만으로 수용할 수 있는 잇점도 있다.In addition, it is possible to accommodate the specifications of the various terminal block 100 through the diversification of the socket 114, the inspection process for the various types of cathode ray tubes moving along the line by selecting the socket only without changing the structure of the inspection table There are also benefits to accommodate.
이와 같이 본 발명은 음극선관 검사공정에서 수작업에 의해 나타나는 불완전한 터미널블럭의 탈거에 따른 터미널블럭의 소손이나 데미지를 최소화할 수 있어 음극선관의 불량을 사전에 예방할 수 있으며 검사공정을 라인속도에 추종 되는 자동화된 라인을 설계할 수 있어 생산성 향상에 반영되며, 라인 설계나 구조 변경없이 다기종 음극선관의 전자기적 특성을 검사할 수 있도록 하는 효과가 있다.As described above, the present invention can minimize the damage or damage of the terminal block due to the removal of the incomplete terminal block shown by the manual operation in the cathode ray tube inspection process, which can prevent the defect of the cathode ray tube in advance, and the inspection process follows the line speed. Automated lines can be designed to reflect productivity gains, enabling the inspection of the electromagnetic properties of multiple cathode ray tubes without line design or structural changes.
Claims (6)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR10-2000-0079717A KR100377097B1 (en) | 2000-12-21 | 2000-12-21 | Testing Socket unit for Cathod Ray Tube |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR10-2000-0079717A KR100377097B1 (en) | 2000-12-21 | 2000-12-21 | Testing Socket unit for Cathod Ray Tube |
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Family
ID=19703396
Family Applications (1)
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| KR10-2000-0079717A KR100377097B1 (en) | 2000-12-21 | 2000-12-21 | Testing Socket unit for Cathod Ray Tube |
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Citations (5)
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|---|---|---|---|---|
| KR960025240U (en) * | 1994-12-30 | 1996-07-22 | Electron gun socket automatic detachment of cathode ray tube | |
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2000
- 2000-12-21 KR KR10-2000-0079717A patent/KR100377097B1/en not_active IP Right Cessation
Patent Citations (6)
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| KR200258988Y1 (en) * | 1999-05-07 | 2002-01-09 | 주용섭 | Multi-code Consent with Function of Pulling Plug Out |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| KR20010016568A (en) | 2001-03-05 |
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