KR100370484B1 - 금속물체의 검출장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 RL 직렬회로의 과도현상의 특성에 의거하여 금속물체의 유무를 검출하는 검출장치를 제공하는 것이다.
이를 위한 검출장치는 검사대상물을 포함할 수 있는 피검사물에 접근가능하도록 배치되는 검사대상물 검출용 코일(L)과 상기 코일에 직렬로 결합된 저항(R)으로 이루어지는 RL 직렬회로와, 상기 RL 직렬회로에 직류전압을 인가하였을 때에 생기는 과도현상의 특성의 변화를 상기 RL 직렬회로 기준의 과도현상의 특성에 의거하여 검출하고, 이 검출결과에 의해 상기 검사대상물의 유무를 나타내는 검사결과를 출력하는 처리회로(W, T, G)를 구비한다.

Description

금속물체의 검출장치{DEVICE FOR DETECTING METALLIC BODY}
본 발명은 금속을 검출하기 위해서 코일을 사용하는 검출장치에 관한 것이다.
종래, 코일을 사용하여 금속을 검출하는 방법으로서는 대표적으로 3가지의 방법이 있다. ·
종래의 제 1 방법에서는 금속검출용 코일에 교류전류를 흘려 둔다. 피검출물이 코일의 위에 오면, 코일의 인덕턴스가 변화되고, 그것에 의하여 전류가 변화되어 교류전압이 변화된다. 이 교류전압의 변화를 검출하여 금속을 검출한다.
종래의 제 2 방법에서는 송신코일과 수신코일을 인접하여 배치한다. 이들 코일의 위에 피검출물이 왔을 때, 수신코일에 유기되는 신호가 변화된다. 그 신호변화를 검지함으로써 금속을 검출한다.
종래의 제 3 방법에서는 기준발진회로와, 검출용 발진회로와, 상기 검출용 발진회로에 접속된 검출용 코일을 사용한다. 피검출물이 코일의 위에 오면, 검출용 발진주파수가 변화된다. 이 변화된 검출용 발진주파수와, 기준의 발진주파수를 비교함으로써 금속을 검출한다.
또, 상기의 방법에 있어서 검출동작을 안정시키기 위해서 마이크로 컴퓨터를 부가하는 경우도 있다.
상기의 어느 방법도 교류전류가 인가되어 있는 코일에 금속이 접근하였을 때상기 코일의 임피던스가 변화하는 현상을 이용하여 금속의 검출을 행한다. 그 때문에 코일에 교류전류를 연속적으로 인가하여 둘 필요가 있고, 또한 교류발생용의 발진회로를 필요로 하였다. 그 때문에 부품의 수가 많아지는 단점이 있다.
또한 종래의 방식에서는 금속물체 검출장치의 발진회로를 항상 구동하여 둘 필요가 있기 때문에 소비전력이 많은 단점이 있다. 또한 종래의 방식에서는 소비전력이 많기 때문에 소형의 배터리로 구동하도록 장치를 소형화할 수 없는 단점이 있다.
또, 종래의 방식에서는 금속물체 검출장치의 검출감도를 높게 하기 위해서는 발진회로를 불안정하게 할 필요가 있다. 즉, 발진회로를 외부로부터의 영향을 쉽게 받도록 구성할 필요가 있다. 그러나 발진회로를 불안정하게 함으로써, 금속물체 검출장치의 동작이 불안정하게 되는 단점이 있다. 예를 들어 여름에 설치한 금속물체 검출장치의 동작이 겨울이 되면 불안정하게 되고, 또 그 반대로 겨울에 설치한 금속물체 검출장치의 동작이 여름이 되면 불안정하게 된다. 즉, 금속물체 검출장치의 검출감도를 높게 하면 환경 등의 영향을 받기 쉬운 단점이 단점이 있다.
또, 종래의 방식에서는 금속물체 검출장치의 주파수에 가까운 주파수를 발생하는 교류발진기가 금속물체 검출장치의 가까이에 있는 경우에는 금속물체 검출장치가 교류발진기로부터의 신호를 수신하여 증폭한다. 그 결과 금속물체 검출장치가 오동작을 일으키는 단점이 있다. 따라서 금속물체 검출장치의 주파수와 동일 또는 그것에 가까운 주파수를 발생하는 교류발진기의 가까이에서 금속물체 검출장치를 사용할 수 없는 단점이 있다.
또, 금속물체 검출장치의 동작의 안정성을 유지하기 위해서 마이크로 컴퓨터를 부가함으로써 금속물체 검출장치가 비싸지는 단점이 있다.
본 발명의 목적은 상기의 단점을 개량하는 금속물체 검출장치를 제공하는 것이다.
또, 본 발명의 목적은 직렬로 접속된 검출용 코일과 저항을 구비하나, 용량분(콘덴서)을 구비하지 않는 회로를 사용하고, 상기 회로에 직류전압이 인가되었을 때의 과도현상을 이용하여 금속물체를 검출하는 금속물체 검출장치를 제공하는 것이다.
도 1은 본 발명의 원리를 설명하기 위한 도,
도 2는 도 1의 회로의 시간에 대한 전압의 변화를 나타내는 도로서 (a)는 도 1의 A-C 사이의 전압의 변화를 나타내고, (b)는 도 1의 B-C 사이의 전압의 변화를 나타내는 도,
도 3은 본 발명의 금속물체 검출장치의 일 실시예를 나타내는 도,
도 4는 도 3의 금속물체 검출장치의 각부에 있어서의 신호파형과 시간과의 상관을 나타내는 도로서, 금속물체가 코일의 위에 없는 경우의 신호의 파형과, 금속물체가 코일의 위에 있는 경우의 신호의 파형을 나타내는 도이다.
※도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
A, B, C : RL 회로의 전압을 측정하는 점
D : 스위치와 시간 펄스발생기를 구동하는 구동신호
E : 구동전원 G : 게이트회로
I : 인버터 L : 검출코일
O : 게이트회로의 출력신호 R : 저항
S : 스위치 T : 시간펄스 발생기
W : 파형 정형회로
본 발명의 금속물체의 검출장치는,피검사물에 접근 가능하도록 배치되는 코일(L)과, 상기 코일에 직렬로 결합된 저항(R)으로 이루어지는 RL 직렬회로와,
상기 코일이 전자기적인 영향을 받고 있지 않은 상태에서 상기 RL 직렬회로에 직류전압을 인가하였을 때에 생기는 상기 RL 직렬회로의 과도현상의 특성을 기준으로 하여, 이 기준의 과도현상의 특성과, 상기 피검사물이 상기 코일에 전자기적인 영향을 미칠 수 있는 상태에서 상기 RL 직렬회로에 직류전압을 인가하였을 때에 생기는 과도현상의 특성을 비교하여, 비교 결과에 의거하여 상기 피검사물이 금속을 포함하는지 여부를 나타내는 신호를 출력하는 회로를 구비한다.또, 상기한 금속물체의 검출장치에 있어서, 상기 과도현상의 특성은, 상기 RL 직렬회로의 시정수에 의거하는 특성이다.
본 발명의 금속물체의 검출장치는,피검사물에 접근 가능하도록 배치되는 코일(L)과, 상기 코일에 직렬로 결합된 저항(R)으로 이루어지는 RL 직렬회로와,
전원으로부터 상기 RL 직렬회로에 대한 직류전압의 인가를 제어하기 위한 수단과,
상기 피검사물이 상기 코일에 전자기적인 영향을 미칠 수 있는 상태에서 상기 RL 직렬회로에 직류전압이 인가되었을 때에 생기는 과도현상에 의거하여, 상기 피검사물이 상기 코일에 전자기적인 영향을 미칠 수 있는 상태에서의 상기 RL 직렬회로의 시정수인 제 1 시정수에 대응한 검출신호를 출력하는 회로와,
상기 검출신호와, 상기 코일이 전자기적인 영향을 받지 않은 상태에서의 상기 RL 직렬회로의 시정수인 미리 정한 기준이 되는 제 2 시정수에 대응한 기준신호를 비교하여 차이를 검출하여, 이 차이에 의거하여 상기 피검사물이 금속을 포함하는지 여부를 나타내는 신호를 발생하여 출력하는 회로를 구비한다.
또, 상기한 금속물체의 검출장치에 있어서,상기 검출신호를 출력하는 상기 회로는, 상기 검출신호를, 상기 제 1 시정수에 대응하는 펄스폭을 가지는 제 1 펄스로서 생성하여 출력하고,
상기 피검사물이 금속을 포함하는지 여부를 나타내는 신호를 발생하는 상기 회로는,상기 기준신호를, 상기 제 2 시정수에 대응하는 펄스폭을 가지는 제 2 펄스로서 발생하는 시간펄스발생기와,상기 검출신호를 출력하는 상기 회로로부터 출력되는 상기 제 1 펄스와, 상기 시간펄스발생기로부터 출력되는 상기 제 2 펄스를 비교하여, 그 비교 결과로서 얻어지는 두 개의 펄스 사이의 차이에 의거하여, 피검사물이 금속을 포함하는지 여부를 나타내는 신호를 발생하여 출력하는 수단을 구비한다.
또, 다른 구성으로서는 상기한 금속물체의 검출장치에 있어서,상기 검출신호를 출력하는 상기 회로는, 상기 검출신호를, 상기 제 1 시정수에 대응하는 펄스폭을 가지는 제 1 펄스로서 생성하여 출력하고,
상기 피검사물이 금속을 포함하는지 여부를 나타내는 신호를 발생하는 상기 회로는,상기 검출신호를 출력하는 상기 회로로부터 출력되는 상기 제 1 펄스의 펄스폭을 측정함으로써, 상기 피검사물이 상기 코일에 대하여 전자기적인 영향을 미칠수 있는 상태에서의, 상기 RL 직렬회로의 상기 제 1 시정수의 값을 결정하는 펄스시간 측정회로와,상기 펄스시간 측정회로에 의하여 결정된 상기 제 1 시정수의 값과, 미리 결정되어 있는 상기 제 2 시정수의 값을 비교하여, 그 비교 결과에 의거하여 상기 피검사물이 금속을 포함하는지 여부를 나타내는 신호를 발생하는 수단을 구비한다
(발명의 실시형태)
본 발명에서는 금속검출용 코일의 인덕턴스의 변화를 과도현상을 이용하여 검지한다. 그리고 그 검지결과를 분석하여 신호로 변환하여 출력한다.
도 1은 본 발명의 원리를 설명하기 위한 도면으로서 RL 회로를 나타낸다. 도면에 있어서, L은 검출용 코일, R은 저항, S는 스위치, E는 전원이다. 이들 소자는 도 1에 나타내는 바와 같이 직렬로 접속된다. A, B, C는 이 회로의 전압을 측정하는 점을 나타낸다. 또, 코일(L)의 인덕턴스치를 L(H), 저항(R)의 저항치를 R(Ω), 전원(E)의 전압치를 E(V)라 한다.
도 2는 도 1의 회로의 시간에 대한 전압의 변화를 나타내는 도면이다. 도 2의(a)는 도 1의 A-C 사이의 전압의 변화를 나타내고, 도 2의(b)는 도 1의 B-C 사이의 전압의 변화를 나타낸다.
도 1의 회로의 스위치(S)를 ON으로 하여 A-C 사이에 직류전압 E(V)를 인가하면, 코일(L)의 양쪽 끝, 즉 B-C 사이에서는 도 2의 (b)에 나타내는 것 같은 과도현상을 나타내는 파형이 나타난다. 이 파형에 있어서 전압 E(V)가 (1-0.632) E(V), 즉 0.368 E(V)가 되기까지의 시간(τ)(즉, 시정수 τ)은 계산식 τ= L/R로 나타낸다. 이 계산식으로부터 신호의 폭, 즉 시정수(τ)의 크기는 인덕턴스치(L)에 비례하는 것을 이해할 수 있다.
코일(L)의 자계에 영향을 미치게 하는 물체, 예를 들어 금속물체에 이 코일(L)이 접근하면, 코일(L)의 인덕턴스치가 변화된다. 인덕턴스치가 변화됨으로써, RL 회로의 시정수가 변화된다.
이 RL 회로에, 예를 들어 공지의 일정시간 펄스신호 발생회로, 즉 시간펄스발생기를 조합한다. 시간펄스발생기는 소정의 시간적 길이, 즉 소정의 펄스폭을 가지는 펄스를 발생하는 회로이다. 이 시간펄스발생기에 의해 발생되는 펄스의 길이(즉, 펄스의 형상으로 나타낸 제 2 시정수)와, 측정된 시정수(즉, 펄스의 형상으로 나타낸 제 1 시정수)와의 비교를 행함으로써, 금속물체의 유무를 검출할 수 있다.(제 2 시정수는 코일이 전자기적인 영향을 받고 있지 않은 상태에서의 RL 회로의 시정수, 즉 기준이 되는 시정수이다. 제 1 시정수는, 코일이, 검사되는 물체로부터 전자기적인 영향을 받을 수 있는 상태(검사되는 물체가 코일에 접근한 상태)에서 측정되는 RL 회로의 시정수이다.)
또는 이 RL 회로에 공지의 펄스시간 측정회로(펄스의 시간적 길이, 즉 펄스폭을 측정하는 회로)를 조합시킨다. 이 펄스시간 측정회로에 의해서 시정수를 측정함으로써 금속물체의 유무를 검출한다. 즉, 측정된 시정수(제 1 시정수)와, 기준이 되는 시정수(예를 들어 피검출물이 존재하지 않을 때의 RL 회로의 시정수(제 2 시정수))를 비교함으로써 금속물체의 유무를 검출한다.
이 시정수의 계산식은 미분회로와 적분회로중의 어느것에도 응용가능하다. 여기서는 검출회로의 한쪽 끝을 0전위로 접속할 수 있는 미분형의 회로를 구비하는 검출장치에 관하여 설명한다.
도 3는 본 발명의 금속물체 검출장치의 일 실시예를 나타낸다.
도면에 있어서, L은 검출용 코일이고, R은 저항이다. S는 스위치이고, E는 코일(L) 및 저항(R)의 구동전원이다. 코일(L)의 한쪽 끝은 그라운드에 접속되고, 다른쪽 끝은 저항(R)의 한쪽 끝에 접속된다. 저항(R)의 다른쪽 끝은 스위치(S)에 접속된다. 스위치(S)는 구동전원(E)으로부터 저항(R) 및 코일(L)에 공급되는 전력을 ON 또는 OFF로 한다. 또, 코일(L)의 인덕턴스치를 L(H), 저항(R)의 저항치를 R(Ω), 전원 (E)의 전압치를 E(V)라 한다.
W는 파형정형회로로서, 코일(L)로부터 검출한 신호의 파형을 직사각형파로 변환한다. 즉 파형정형회로(W)는 코일(L)로부터 검출한 파형을 기초로 하여 코일 (L)의 전압이 E(V)로부터 0.368 E(V)로 변화되기 까지의 시간과 같은 시간적 길이 (폭)를 가지는 직사각형파(제 1 시정수에 대응하는 제 1 펄스)를 발생한다. I는 인버터로서, 파형정형회로(W)의 출력측에 접속되어 파형정형회로(W)로부터 출력되는 직사각형파의 극성을 반전시킨다.
T는 시간펄스 발생기로서, 계산식 τ= L/R를 기초로 하여 예측할 수 있는 시정수 즉, 코일(L)의 가까이에 금속물체가 없는 경우의 시정수와 동일 길이 또는, 그 시정수보다도 조금 짧은 길이의 펄스(제 2 시정수에 대응하는 제 2 펄스)를 발생한다. 이 펄스의 폭을 기준으로 사용하여 코일(L)의 가까이에 금속물체가 있는 지의 여부를 판정한다.
D는 스위치(S)와 시간펄스 발생기(T)에 접속되는 구동신호이다. 스위치(S) 및 시간펄스 발생기(T)는 구동신호(D)가 공급되었을 때에 구동한다.
G는 게이트회로로서, 한쪽의 입력이 시간펄스 발생기(T)의 출력측에 접속되고, 다른쪽의 입력이 인버터(I)의 출력쪽에 접속된다. 게이트회로(G)는 시간펄스 발생기(T)로부터 출력되는 신호와, 신호파형 정형회로(W)로부터 출력되어 인버터(I)에 의해 반전된 신호를 비교한다. O은 게이트회로(G)로부터의 출력신호로서, 시간펄스 발생기(T)로부터 출력되는 신호와, 인버터(I)로부터 출력되는 신호와의 차를 나타내는 신호이다.
또, 도 3에 있어서 화살표는 신호가 흐르는 방향을 나타낸다.
다음에 도 3에 나타내는 금속물체 검출장치의 동작을 설명한다.
스위치(S) 및 시간펄스 발생기(T)에 구동신호(D)가 공급되면, 스위치(S) 및 시간펄스 발생기(T)의 양쪽이 구동한다.
스위치(S)는 구동신호(D)를 수신하면, OFF 상태로부터 ON 상태로 전환되어 구동전원(E)을 저항(R) 및 코일(L)에 결합한다. 그것에 의하여 구동전원(E)으로부터 저항(R) 및 코일(L)에 전류가 흐른다. 이때, 저항(R) 및 코일(L)에서는 과도현상이 발생한다. 파형정형회로(W)는 이 과도현상 시의 코일(L)의 전압의 변화를 나타내는 파형을 검출한다.
여기서 코일(L)의 가까이에 금속물체가 있는 경우와 없는 경우에서는 검출되는 파형의 시간적인 길이 즉, 신호의 폭이 다르다.
파형정형회로(W)는 검출한 파형의 전압치가 E(V)로부터 0.368 E(V)로 변화되기까지의 시간과 동일한 길이를 가지는 직사각형파를 생성하여 출력한다. 파형정형회로(W)로부터 출력된 직사각형파는 인버터(I)에서 반전되어 게이트회로(G)에 공급된다.
한편, 시간펄스 발생기(T)는 소정의 길이(계산식 τ= L/R를 기초로 하여 예측할 수 있는 시정수와 동일 길이 또는 그 시정수보다도 조금 짧은 길이)의 펄스의 신호를 게이트회로(G)에 공급한다.
게이트회로(G)는 시간펄스 발생기(T)로부터 공급된 신호와, 인버터(I)로부터공급된 신호를 비교하여 그들 2개의 신호의 길이의 차를 나타내는 신호(O)를 출력한다. 이 신호(0)를 기초로 하여 금속물체의 유무를 판정한다.
또, 출력신호(0)의 시간이 짧기 때문에 그대로 사용할 수 없는 경우에는 마이크로 컴퓨터를 이용하여 출력신호를 처리하거나 또는 싱글·쇼트·멀티바이브레이터 등을 사용하여 필요한 길이로 연장시켜 사용할 수 있다.
또, 연속적으로 검출동작을 행하기 위해서는 저항(R) 및 코일(L)에 직류전압을 주기적으로 인가하면 좋다. 그것을 위해서는 예를 들어 스위치(S)를 소정의 주기로 온/오프하면 좋다. 또, 전원으로서 펄스발생기를 이용하더라도 좋다. 여기서 직류전압의 인가시간은 예를 들어 금속물체가 코일(L)에 영향을 미치지 않는 상태에서의 RL 회로의 전압공급 온시의 과도현상이 종료하기까지의 기간(또는 그것보다도 조금 긴 기간)으로 하고, 전압공급 오프시의 과도현상이 종료하기까지의 기간(또는 그것보다도 조금 긴 기간)을 비인가 기간으로 한다.
또, 본 발명의 금속물체 검출장치의 회로의 저항(R) 및 코일(L)이외의 부분은 디지털회로로 구성할 수 있다.
또, 본 발명의 금속물체 검출장치에 컴퓨터 등을 조합시켜 검출동작을 더욱 안정화시키는 것도 가능하다. 또, 컴퓨터 등을 사용함으로써, 본 발명의 금속물체 검출장치의 동작상태를 관리하는 것도 가능하다.
본 발명의 금속물체 검출장치의 구성에 의해 부품의 수를 적게 할 수 있는 효과가 있고, 또한 저렴하게 제조할 수 있는 효과가 있다.
또, 본 발명의 금속물체 검출장치의 구성에 의해 마이크로 컴퓨터 등을 사용하지 않더라도 안정적으로 동작하는 효과가 있다.
또, 본 발명의 금속물체 검출장치의 구성에 의해 소비전력이 적어져 소형의 배터리로 구동하도록 소형화할 수 있는 효과가 있다.
또, 본 발명의 금속물체 검출장치의 구성에 의해 해당 금속물체 검출장치의 주파수와 동일하거나 또는 그것에 가까운 주파수를 발생하는 교류발진기의 가까이에서도 해당 금속물체 검출장치를 사용할 수 있는 효과가 있다.
또, 본 발명의 금속물체 검출장치의 회로의 저항(R) 및 코일(L) 이외의 부분을 디지털회로로 구성함으로써 온도 드리프트를 저감할 수 있는 효과가 있다.

Claims (29)

  1. 피검사물에 접근 가능하도록 배치되는 코일(L)과, 상기 코일에 직렬로 결합된 저항(R)으로 이루어지는 RL 직렬회로와,
    상기 코일이 전자기적인 영향을 받고 있지 않은 상태에서 상기 RL 직렬회로에 직류전압을 인가하였을 때에 생기는 상기 RL 직렬회로의 과도현상의 특성을 기준으로 하여, 이 기준의 과도현상의 특성과, 상기 피검사물이 상기 코일에 전자기적인 영향을 미칠 수 있는 상태에서 상기 RL 직렬회로에 직류전압을 인가하였을 때에 생기는 과도현상의 특성을 비교하여, 비교 결과에 의거하여 상기 피검사물이 금속을 포함하는지 여부를 나타내는 신호를 출력하는 회로를 구비하는 금속물체의 검출장치.
  2. 피검사물에 접근 가능하도록 배치되는 코일(L)과, 상기 코일에 직렬로 결합된 저항(R)으로 이루어지는 RL 직렬회로와,
    전원으로부터 상기 RL 직렬회로에 대한 직류전압의 인가를 제어하기 위한 수단과,
    상기 피검사물이 상기 코일에 전자기적인 영향을 미칠 수 있는 상태에서 상기 RL 직렬회로에 직류전압이 인가되었을 때에 생기는 과도현상에 의거하여, 상기 피검사물이 상기 코일에 전자기적인 영향을 미칠 수 있는 상태에서의 상기 RL 직렬회로의 시정수인 제 1 시정수에 대응한 검출신호를 출력하는 회로와,
    상기 검출신호와, 상기 코일이 전자기적인 영향을 받지 않은 상태에서의 상기 RL 직렬회로의 시정수인 미리 정한 기준이 되는 제 2 시정수에 대응한 기준신호를 비교하여 차이를 검출하여, 이 차이에 의거하여 상기 피검사물이 금속을 포함하는지 여부를 나타내는 신호를 발생하여 출력하는 회로를 구비하는 금속물체의 검출장치.
  3. 삭제
  4. 제 2 항에 있어서,
    상기 검출신호를 출력하는 상기 회로는, 상기 검출신호를, 상기 제 1 시정수에 대응하는 펄스폭을 가지는 제 1 펄스로서 생성하여 출력하고,
    상기 피검사물이 금속을 포함하는지 여부를 나타내는 신호를 발생하는 상기 회로는,
    상기 기준신호를, 상기 제 2 시정수에 대응하는 펄스폭을 가지는 제 2 펄스로서 발생하는 시간펄스발생기와,
    상기 검출신호를 출력하는 상기 회로로부터 출력되는 상기 제 1 펄스와, 상기 시간펄스발생기로부터 출력되는 상기 제 2 펄스를 비교하여, 그 비교 결과로서 얻어지는 두 개의 펄스 사이의 차이에 의거하여, 피검사물이 금속을 포함하는지 여부를 나타내는 신호를 발생하여 출력하는 수단을 구비하는 금속물체의 검출장치.
  5. 제 2 항에 있어서,
    상기 검출신호를 출력하는 상기 회로는, 상기 검출신호를, 상기 제 1 시정수에 대응하는 펄스폭을 가지는 제 1 펄스로서 생성하여 출력하고,
    상기 피검사물이 금속을 포함하는지 여부를 나타내는 신호를 발생하는 상기 회로는,
    상기 검출신호를 출력하는 상기 회로로부터 출력되는 상기 제 1 펄스의 펄스폭을 측정함으로써, 상기 피검사물이 상기 코일에 대하여 전자기적인 영향을 미칠수 있는 상태에서의, 상기 RL 직렬회로의 상기 제 1 시정수의 값을 결정하는 펄스시간 측정회로와,
    상기 펄스시간 측정회로에 의하여 결정된 상기 제 1 시정수의 값과, 미리 결정되어 있는 상기 제 2 시정수의 값을 비교하여, 그 비교 결과에 의거하여 상기 피검사물이 금속을 포함하는지 여부를 나타내는 신호를 발생하는 수단을 구비하는 금속물체의 검출장치.
  6. 삭제
  7. 삭제
  8. 삭제
  9. 삭제
  10. 삭제
  11. 삭제
  12. 삭제
  13. 삭제
  14. 삭제
  15. 삭제
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  29. 제 1 항에 있어서,
    상기 과도현상의 특성은, 상기 RL 직렬회로의 시정수에 의거하는 특성인 금속물체의 검출장치.
KR10-1999-0018420A 1998-05-22 1999-05-21 금속물체의 검출장치 KR100370484B1 (ko)

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