KR100361693B1 - Trimming apparatus for temperature compensation - Google Patents

Trimming apparatus for temperature compensation Download PDF

Info

Publication number
KR100361693B1
KR100361693B1 KR1019990037654A KR19990037654A KR100361693B1 KR 100361693 B1 KR100361693 B1 KR 100361693B1 KR 1019990037654 A KR1019990037654 A KR 1019990037654A KR 19990037654 A KR19990037654 A KR 19990037654A KR 100361693 B1 KR100361693 B1 KR 100361693B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
resistors
temperature compensation
temperature
reference resistors
value
Prior art date
Application number
KR1019990037654A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR20010026365A (en
Inventor
이경탁
김찬
Original Assignee
주식회사 케이이씨
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 케이이씨 filed Critical 주식회사 케이이씨
Priority to KR1019990037654A priority Critical patent/KR100361693B1/en
Publication of KR20010026365A publication Critical patent/KR20010026365A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR100361693B1 publication Critical patent/KR100361693B1/en

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L1/00—Measuring force or stress, in general
    • G01L1/20—Measuring force or stress, in general by measuring variations in ohmic resistance of solid materials or of electrically-conductive fluids; by making use of electrokinetic cells, i.e. liquid-containing cells wherein an electrical potential is produced or varied upon the application of stress
    • G01L1/22—Measuring force or stress, in general by measuring variations in ohmic resistance of solid materials or of electrically-conductive fluids; by making use of electrokinetic cells, i.e. liquid-containing cells wherein an electrical potential is produced or varied upon the application of stress using resistance strain gauges
    • G01L1/2268—Arrangements for correcting or for compensating unwanted effects
    • G01L1/2281—Arrangements for correcting or for compensating unwanted effects for temperature variations
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L19/00—Details of, or accessories for, apparatus for measuring steady or quasi-steady pressure of a fluent medium insofar as such details or accessories are not special to particular types of pressure gauges
    • G01L19/02—Arrangements for preventing, or for compensating for, effects of inclination or acceleration of the measuring device; Zero-setting means
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01L—MEASURING FORCE, STRESS, TORQUE, WORK, MECHANICAL POWER, MECHANICAL EFFICIENCY, OR FLUID PRESSURE
    • G01L9/00—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means
    • G01L9/02—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means by making use of variations in ohmic resistance, e.g. of potentiometers, electric circuits therefor, e.g. bridges, amplifiers or signal conditioning
    • G01L9/04—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means by making use of variations in ohmic resistance, e.g. of potentiometers, electric circuits therefor, e.g. bridges, amplifiers or signal conditioning of resistance-strain gauges
    • G01L9/045—Measuring steady of quasi-steady pressure of fluid or fluent solid material by electric or magnetic pressure-sensitive elements; Transmitting or indicating the displacement of mechanical pressure-sensitive elements, used to measure the steady or quasi-steady pressure of a fluid or fluent solid material, by electric or magnetic means by making use of variations in ohmic resistance, e.g. of potentiometers, electric circuits therefor, e.g. bridges, amplifiers or signal conditioning of resistance-strain gauges with electric temperature compensating means

Abstract

개시된 온도 보상용 트리밍장치는 온도 특성의 정밀 제어가 요구되는 각종 집적소자 및 각종 센서의 신호 처리회로 등에 사용되어 온도 보상을 조정하는 것이다.The disclosed temperature compensation trimming device is used for signal processing circuits of various integrated devices and various sensors requiring precise control of temperature characteristics to adjust temperature compensation.

소정의 기준 온도계수를 가지고 상호간에 직렬 연결되어 바이어스 전압 또는 동작 값을 설정하는 복수의 기준 저항과, 온도 보상을 위하여 복수의 기준 저항과 상이한 온도계수를 가지고 복수의 기준 저항과 각기 동일한 값을 가짐과 아울러 그 복수의 기준 저항에 직렬 연결되는 복수의 온도 보상용 저항과, 복수의 기준 저항에 각기 병렬 접속되어 그 복수의 기준 저항을 개방시키고 인위적으로 복수의 기준 저항을 각기 쇼트시킬 수 있는 복수의 쇼트 수단과, 복수의 온도 보상용 저항에 각기 병렬 접속되어 그 온도 보상용 저항을 각기 쇼트시키고 인위적으로 복수의 온도 보상용 저항을 개방시킬 수 있는 복수의 개방 수단을 구비하여, 설정할 온도계수에 따라 복수의 기준 저항을 선택적으로 쇼트시키고, 선택적으로 쇼트시킨 복수의 기준 저항과 동일한 값을 가지는 복수의 온도 보상용 저항을 선택적으로 개방시켜 전체 합성 저항의 값에는 변동을 주지 않으면서 온도계수의 값을 조정한다.A plurality of reference resistors having a predetermined reference temperature coefficient connected in series with each other to set a bias voltage or an operating value, and having a temperature coefficient different from the plurality of reference resistors for temperature compensation, each having the same value as the plurality of reference resistances And a plurality of temperature compensating resistors connected in series to the plurality of reference resistors, and a plurality of temperature compensating resistors respectively connected in parallel to the plurality of reference resistors to open the plurality of reference resistors and to artificially short the plurality of reference resistors. A short means and a plurality of opening means connected in parallel to a plurality of temperature compensation resistors respectively to shorten the temperature compensation resistors and to artificially open the plurality of temperature compensation resistors. A plurality of reference resistors are selectively shorted and a plurality of reference resistors selectively shorted To selectively open the plurality of resistors for temperature compensation having a value and adjusts the value of the number of standing thermometer without causing fluctuations, the combined resistance value of the whole.

Description

온도 보상용 트리밍장치{Trimming apparatus for temperature compensation}Trimming apparatus for temperature compensation

본 발명은 온도 특성의 정밀 제어가 요구되는 각종 집적소자 및 각종 센서의 신호 처리회로 등에 사용되어 온도 보상을 조정하는 온도 보상용 트리밍장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a trimming device for temperature compensation which is used for various integrated devices and signal processing circuits of various sensors that require precise control of temperature characteristics to adjust temperature compensation.

일반적으로 온도 특성의 정밀 제어가 필요한 각종 집적소자나, 각종 센서의 신호를 처리하여 출력하는 신호 처리회로 등에서는 온도의 변화에 관계없이 정확하게 동작할 수 있도록 하기 위하여 온도 보상을 하고 있다.In general, various integrated devices that require precise control of temperature characteristics, signal processing circuits that process and output signals from various sensors, and the like are compensated for temperature so that they can operate accurately regardless of temperature changes.

종래에는 정확한 온도 보상을 위하여 집적회로 등을 설계할 경우에 저항 등의 파라미터를 동일한 공정 조건 등으로 제조하고 있다.Conventionally, when designing an integrated circuit or the like for accurate temperature compensation, parameters such as resistance are manufactured under the same process conditions.

그러나 온도 보상을 위하여 정확하게 설계하여도 제조공정에서 오차가 발생할 수 있는 것으로서 이 공정 오차에 의하여 정확하게 온도 보상을 할 수 없었다.However, even if designed correctly for temperature compensation, an error may occur in the manufacturing process, and thus temperature compensation could not be accurately performed due to this process error.

그리고 미국특허 제5,042,307호에서는 직류적인 출력 특성의 보상과, 온도보상용 트리밍 저항의 트리밍 방법을 제시하고 있다.In addition, US Patent No. 5,042,307 proposes a method of compensating DC output characteristics and trimming a temperature compensation trimming resistor.

그러나 상기 미국특허 제5,042,307호는 온도 보상을 위하여 저항 값을 조정할 경우에 직류 특성에 영향을 주게 되는 문제점이 있었다.However, the U.S. Patent No. 5,042,307 has a problem of affecting the DC characteristics when adjusting the resistance value for temperature compensation.

따라서 본 발명의 목적은 직류 특성에는 아무런 영향을 주지 않고, 공정 오차 및 실제 집적소자의 특성상의 오차를 정확하게 보상할 수 있는 온도 보상용 트리밍장치를 제공하는데 있다.Accordingly, it is an object of the present invention to provide a trimming device for temperature compensation that can accurately compensate for process errors and errors in characteristics of an actual integrated device without affecting the direct current characteristic.

이러한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 온도 보상용 트리밍장치에 따르면, 소정의 기준 온도계수를 가지고 상호간에 직렬 연결되어 바이어스 전압 또는 동작 값을 설정하는 복수의 기준 저항; 온도 보상을 위하여 상기 복수의 기준 저항과 상이한 온도계수를 가지고 상기 복수의 기준 저항과 각기 동일한 값을 가짐과 아울러그 복수의 기준 저항에 직렬 연결되는 복수의 온도 보상용 저항; 상기 복수의 기준 저항에 각기 병렬 접속되어 그 복수의 기준 저항을 개방시키고 인위적으로 복수의 기준 저항을 각기 쇼트시킬 수 있는 복수의 쇼트 수단인 다이오드; 및 상기 복수의 온도 보상용 저항에 각기 병렬 접속되어 그 온도 보상용 저항을 각기 쇼트시키고 인위적으로 복수의 온도 보상용 저항을 개방시킬 수 있는 복수의 개방 수단인 퓨즈를 구비하는 것을 특징으로 한다.According to the trimming device for temperature compensation of the present invention for achieving the above object, a plurality of reference resistors having a predetermined reference temperature coefficient is connected in series with each other to set a bias voltage or an operating value; A plurality of temperature compensation resistors having a temperature coefficient different from the plurality of reference resistors for temperature compensation, each having the same value as the plurality of reference resistors and connected in series with the plurality of reference resistors; A diode which is a plurality of short means each connected in parallel to the plurality of reference resistors to open the plurality of reference resistors and to artificially short the plurality of reference resistors respectively; And a fuse which is a plurality of opening means which are connected in parallel to the plurality of temperature compensation resistors, respectively, to short the temperature compensation resistors, and to artificially open the plurality of temperature compensation resistors.

도 1은 본 발명의 온도 보상용 트리밍장치를 보인 회로도이고,1 is a circuit diagram showing a trimming device for temperature compensation of the present invention,

도 2는 본 발명의 온도 보상용 트리밍장치의 동작을 설명하기 위한 도면이다.2 is a view for explaining the operation of the trimming device for temperature compensation of the present invention.

*도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명** Description of the symbols for the main parts of the drawings *

R11, R12, R13,ㆍㆍㆍ, R1N : 복수의 기준 저항R11, R12, R13, ..., R1N: a plurality of reference resistors

R21, R22, R23,ㆍㆍㆍ, R2N : 복수의 온도 보상용 저항R21, R22, R23, ..., R2N: resistors for temperature compensation

D1, D2, D3,ㆍㆍㆍ, DN : 복수의 쇼트 수단(다이오드)D1, D2, D3, ..., DN: a plurality of short means (diodes)

FU1, FU2, FU3,ㆍㆍㆍ, FUN : 복수의 개방 수단(퓨즈)FU1, FU2, FU3, ..., FUN: a plurality of opening means (fuse)

이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 온도 보상용 트리밍장치를 상세히 설명한다.Hereinafter, a trimming device for temperature compensation according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 온도 보상용 트리밍장치를 보인 회로도이다.1 is a circuit diagram showing a trimming device for temperature compensation of the present invention.

여기서, 부호 R11, R12, R13,ㆍㆍㆍ, R1N은 소정의 기준 온도계수를 가지고 상호간에 직렬 연결되어 바이어스 전압 또는 동작 값 등을 설정하는 복수의 기준 저항이고, 부호 R21, R22, R23,ㆍㆍㆍ, R2N은 온도 보상을 위한 소정의 온도계수를 가지고 상기 복수의 기준 저항(R11, R12, R13,ㆍㆍㆍ, R1N)에 직렬 연결되는 복수의 온도 보상용 저항이다.Here, reference numerals R11, R12, R13, ..., R1N are a plurality of reference resistors which have a predetermined reference temperature coefficient and are connected in series to each other to set a bias voltage or an operating value, and the like, and reference numerals R21, R22, R23, ... R2N is a plurality of temperature compensation resistors connected in series with the plurality of reference resistors R11, R12, R13, ..., R1N with a predetermined temperature coefficient for temperature compensation.

상기 각각의 온도 보상용 저항(R21, R22, R23,ㆍㆍㆍ, R2N)은 상기 각각의 기준 저항(R11, R12, R13,ㆍㆍㆍ, R1N)과 각기 동일한 값으로 설정한다.Each of the temperature compensation resistors R21, R22, R23, ..., R2N is set to the same value as the respective reference resistors R11, R12, R13, ..., R1N.

부호 D1, D2, D3,ㆍㆍㆍ, DN은 상기 복수의 기준 저항(R11, R12, R13,ㆍㆍㆍ, R1N)에 각기 병렬 접속되어 그 복수의 기준 저항(R11, R12, R13,ㆍㆍㆍ, R1N)을 개방시키고 인위적으로 복수의 기준 저항(R11, R12, R13,ㆍㆍㆍ, R1N)을 각기 쇼트시키는 복수의 쇼트 수단인 다이오드이다.The symbols D1, D2, D3, ..., DN are connected in parallel to the plurality of reference resistors R11, R12, R13, ..., R1N, respectively, and the plurality of reference resistors R11, R12, R13, ... And a diode which is a plurality of short means for opening R1N and artificially shorting the plurality of reference resistors R11, R12, R13, ..., R1N, respectively.

부호 FU1, FU2, FU3,ㆍㆍㆍ, FUN은 상기 복수의 온도 보상용 저항(R21, R22, R23,ㆍㆍㆍ, R2N)에 각기 병렬 접속되어 온도 보상용 저항(R21, R22, R23,ㆍㆍㆍ, R2N)을 각기 쇼트시키고 인위적으로 복수의 온도 보상용 저항(R21, R22, R23,ㆍㆍㆍ, R2N)을 개방시킬 수 있는 복수의 개방 수단인 퓨즈이다.The symbols FU1, FU2, FU3, ..., FUN are connected in parallel to the plurality of temperature compensation resistors R21, R22, R23, ..., R2N, respectively, so that the temperature compensation resistors R21, R22, R23, ... A fuse which is a plurality of opening means capable of shortening R2N) and artificially opening the plurality of temperature compensation resistors R21, R22, R23, ..., R2N.

이와 같이 구성된 본 발명의 온도 보상용 트리밍장치는 설정할 온도 보상 값에 따라 복수의 쇼트 수단인 다이오드(D1, D2, D3,ㆍㆍㆍ, DN)를 선택적으로 쇼트시켜 복수의 기준 저항(R11, R12, R13,ㆍㆍㆍ, R1N)이 선택적으로 쇼트되게 함과 아울러 선택적으로 쇼트시킨 다이오드(D1, D2, D3,ㆍㆍㆍ, DN)가 병렬 접속된 복수의 기준 저항(R11, R12, R13,ㆍㆍㆍ, R1N)과 동일한 값을 가지는 복수의 온도 보상용 저항(R21, R22, R23,ㆍㆍㆍ, R2N)에 병렬 접속된 복수의 개방 수단인 퓨즈(FU1, FU2, FU3,ㆍㆍㆍ, FUN)를 선택적으로 개방시킨다.The trimming device for temperature compensation according to the present invention configured as described above selectively shorts a plurality of short means diodes D1, D2, D3, ..., DN according to the temperature compensation value to be set, thereby providing a plurality of reference resistors R11, R12. , R13, ..., R1N are selectively shorted, and the plurality of reference resistors R11, R12, R13, which are selectively connected with diodes D1, D2, D3, ..., DN are connected in parallel. Fuses FU1, FU2, FU3, ... which are a plurality of opening means connected in parallel to a plurality of temperature compensation resistors R21, R22, R23, ..., R2N having the same value as R1N. , FUN) optionally open.

그러면, 양단(A)(B) 사이의 전체 저항 값은 변동되지 않으면서 온도 보상 값만 조정된다.Then, only the temperature compensation value is adjusted without changing the total resistance value between both ends A and B.

예를 들면, 도 2에 도시된 바와 같이 복수의 기준 저항(R11, R12, R13)의 온도계수가 1000ppm/℃이고, 복수의 온도 보상용 저항(R21, R22, R23)의 온도계수가 4000ppm/℃이며, 저항(R11, R21)의 값은 10㏀이고, 저항(R12, R22)의 값은 5㏀이며, 저항(R13, R23)의 값은 2㏀이라고 가정하면, 양단(A)(B) 사이의 전체 저항 값은 17㏀이고, 온도계수는 1000ppm/℃이다.For example, as shown in FIG. 2, the temperature coefficients of the plurality of reference resistors R11, R12, and R13 are 1000 ppm / ° C, and the temperature coefficients of the plurality of temperature compensation resistors R21, R22, and R23 are 4000 ppm / ° C. , Assuming that the values of the resistors R11 and R21 are 10 Hz, the values of the resistors R12 and R22 are 5 Hz and the values of the resistors R13 and R23 are 2 Hz, between both ends A and B. The total resistance value of is 17㏀, the temperature coefficient is 1000ppm / ℃.

여기서, 온도계수를 조정하기 위하여 다이오드(D1)를 쇼트시킴과 아울러 퓨즈(FU1)를 개방시킬 경우에 양단(A)(B) 사이의 전체 저항 값은 17㏀으로 변동되지 않고, 온도계수는 다음의 수학식 1과 같이 2765ppm/℃로 조정된다.Here, when the diode D1 is shorted and the fuse FU1 is opened in order to adjust the temperature coefficient, the total resistance value between the both ends A and B does not change to 17 kΩ, and the temperature coefficient is It is adjusted to 2765ppm / ℃ as shown in the equation (1).

(4000 × 10 ＋ 1000 × 7) / 17 ≒ 2765ppm/℃(4000 × 10 + 1000 × 7) / 17 ≒ 2765ppm / ℃

그리고 다이오드(D2)를 쇼트시킴과 아울러 퓨즈(FU2)를 개방시킬 경우에 양단(A)(B) 사이의 전체 저항 값은 17㏀으로 변동되지 않고, 온도계수는 다음의 수학식 2와 같이 1882ppm/℃로 조정된다.When the diode D2 is shorted and the fuse FU2 is opened, the total resistance value between the both ends A and B does not change to 17 kΩ, and the temperature coefficient is 1882 ppm as shown in Equation 2 below. / ℃.

(1000 × 12 ＋ 4000 × 5) / 17 ≒ 1882ppm/℃(1000 × 12 + 4000 × 5) / 17 ≒ 1882ppm / ℃

또한 다이오드(D3)를 쇼트시킴과 아울러 퓨즈(FU3)를 개방시킬 경우에 양단(A)(B) 사이의 전체 저항 값은 17㏀으로 변동되지 않고, 온도계수는 다음의 수학식 3과 같이 1353ppm/℃로 조정된다.In addition, when the diode D3 is shorted and the fuse FU3 is opened, the total resistance value between the both ends A and B does not change to 17 kΩ, and the temperature coefficient is 1353 ppm as shown in Equation 3 below. / ℃.

(1000 × 15 ＋ 4000 × 2) / 17 ≒ 1353ppm/℃(1000 × 15 + 4000 × 2) / 17 ≒ 1353ppm / ℃

이상에서와 같이 본 발명에 따르면, 복수의 기준 저항과 각기 값은 동일하면서 온도계수가 상이한 복수의 온도 보상용 저항을 구비하여 설정할 온도계수에 따라 복수의 기준 저항을 선택적으로 쇼트시킴과 아울러 그 선택적으로 쇼트시킨 복수의 기준 저항과 동일한 값을 가지는 복수의 온도 보상용 저항을 선택적으로 개방시킴으로써 전체 합성 저항의 값에는 변동을 주지 않으면서 온도계수의 값을 조정하여 온도 보상을 할 수 있다.As described above, according to the present invention, the plurality of reference resistors and the respective values are the same but have a plurality of temperature compensation resistors having different temperature coefficients, and selectively short the plurality of reference resistors according to the temperature coefficient to be set. By selectively opening a plurality of temperature compensating resistors having the same value as a plurality of shorted reference resistors, temperature compensation can be performed by adjusting the value of the temperature coefficient without changing the value of the total synthesized resistance.

Claims (3)

소정의 기준 온도계수를 가지고 상호간에 직렬 연결되어 바이어스 전압 또는 동작 값을 설정하는 복수의 기준 저항;A plurality of reference resistors having a predetermined reference temperature coefficient and connected in series with each other to set a bias voltage or an operating value; 온도 보상을 위하여 상기 복수의 기준 저항과 상이한 온도계수를 가지고 상기 복수의 기준 저항과 각기 동일한 값을 가짐과 아울러 그 복수의 기준 저항에 직렬 연결되는 복수의 온도 보상용 저항;A plurality of temperature compensation resistors having a temperature coefficient different from the plurality of reference resistors for temperature compensation, each having the same value as the plurality of reference resistors and connected in series with the plurality of reference resistors; 상기 복수의 기준 저항에 각기 병렬 접속되어 그 복수의 기준 저항을 개방시키고 인위적으로 복수의 기준 저항을 각기 쇼트시킬 수 있는 복수의 쇼트 수단; 및A plurality of short means each connected in parallel to the plurality of reference resistors to open the plurality of reference resistors and to artificially short the plurality of reference resistors respectively; And 상기 복수의 온도 보상용 저항에 각기 병렬 접속되어 그 온도 보상용 저항을 각기 쇼트시키고 인위적으로 복수의 온도 보상용 저항을 개방시킬 수 있는 복수의 개방 수단으로 구성됨을 특징으로 하는 온도 보상용 트리밍장치.And a plurality of opening means connected to the plurality of temperature compensation resistors in parallel to shorten the temperature compensation resistors and to artificially open the plurality of temperature compensation resistors. 제 1 항에 있어서, 상기 복수의 쇼트 수단은;2. The apparatus of claim 1, wherein the plurality of short means; 다이오드인 것을 특징으로 하는 온도 보상용 트리밍장치.Trimming device for temperature compensation, characterized in that the diode. (정정) 제 1 항에 있어서, 상기 복수의 개방 수단은;(Correction) The method according to claim 1, wherein the plurality of opening means; 퓨즈인 것을 특징으로 하는 온도 보상용 트리밍장치.Trimming device for temperature compensation, characterized in that the fuse.
KR1019990037654A 1999-09-06 1999-09-06 Trimming apparatus for temperature compensation KR100361693B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019990037654A KR100361693B1 (en) 1999-09-06 1999-09-06 Trimming apparatus for temperature compensation

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019990037654A KR100361693B1 (en) 1999-09-06 1999-09-06 Trimming apparatus for temperature compensation

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20010026365A KR20010026365A (en) 2001-04-06
KR100361693B1 true KR100361693B1 (en) 2002-11-22

Family

ID=19610214

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019990037654A KR100361693B1 (en) 1999-09-06 1999-09-06 Trimming apparatus for temperature compensation

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR100361693B1 (en)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100745947B1 (en) * 1998-12-30 2008-01-09 주식회사 하이닉스반도체 Self Refresh Device_
KR100475736B1 (en) * 2002-08-09 2005-03-10 삼성전자주식회사 Temperature sensor having shifting temperature detection circuit for use in high speed test and method for detecting shifting temperature

Also Published As

Publication number Publication date
KR20010026365A (en) 2001-04-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0039215B1 (en) Temperature compensating voltage generator circuit
US7365588B2 (en) Automatic time constant adjustment circuit
US8373408B2 (en) High precision algorithmically assisted voltage divider with fault detection
US9709452B2 (en) Systems and methods for compensating a sensor
US8415979B2 (en) Differential driver with calibration circuit and related calibration method
US20180145026A1 (en) Method for adjusting circuit characteristics with trimming technology in integrated circuits
EP3514562B1 (en) Resistance calibration
US20070296384A1 (en) Method of forming a feedback network and structure therefor
KR100361693B1 (en) Trimming apparatus for temperature compensation
US6452405B1 (en) Method and apparatus for calibrating a current sensing system
KR950003599B1 (en) Sensor for vehicle
KR0138161B1 (en) Common mode error correction for differential amplifier
US6982610B2 (en) Termination impedance tuning circuit
US6099163A (en) Correction circuit for linearizing output of temperature sensor and method of construction
US8415971B2 (en) Transceiving circuit and transceiving circuit resistance calibration method
US20170052243A1 (en) Method for determining the conductivity of a medium
JP4710119B2 (en) Sensor circuit
EP3860313B1 (en) Temperature measurement from luminaire sensors
KR100382580B1 (en) Thermal flow meter
US6927624B2 (en) Method and circuit for improving control of trimming procedure
US6492709B2 (en) Arrangement for compensating for temperature dependent variations in surface resistance of a resistor on a chip
CN113029377A (en) Measuring module, measuring method, measuring device and printed circuit board
RU2772665C1 (en) Temperature sensor
KR100238776B1 (en) Temperature compensation method for pressure sensor and apparatus using the same
JP2004096036A (en) Resistor, its trimming method, and power supply

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee