KR100348845B1 - 가입자 회로 및 선로 시험장치 - Google Patents

가입자 회로 및 선로 시험장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은, 가입자 회로 및 선로 시험장치에 관한 것으로서, 더욱 자세하게는 시스템의 회로 및 선로의 특성 및 성능을 시험하기 위한 시험장치에서 요구되는 전원의 형태와 시험하고자 하는 신호의 데이터 취합 과정에서 필요한 회로의 그라운드가 간단하게 처리된 시험장치에 관한 것이다.
본 발명은, 하나의 전원을 인가받아 다수의 출력전원을 제공하는 DC-DC변환 모듈과 같은 소자를 사용하여 시스템과 시험장치의 그라운드를 분리하여서, 별도의 전원장치를 사용하지 않고도 시험장치의 설계시 경제적인 부담과 설계공간의 부담을 줄일 수 있도록 하는 데에 그 목적이 있다.
그리고, 또다른 예로 별도의 연산프로그램을 사용하여 시스템과 시험장치의 그라운드를 공통으로 사용하여도 그라운드가 분리되었을 경우와 동일한 시험데이터 값을 얻을 수 있도록 하는 데에 그 목적이 있다.
본 발명은, 별도의 전원장치를 사용하지 않고도 시험장치의 설계시 경제적인 부담과 설계공간의 부담을 덜 수 있는 효과가 있으며, 또한, 시험장치를 시스템 일부의 블록으로 설계가 가능한 효과가 있다.

Description

가입자 회로 및 선로 시험장치{APPARATUS FOR APPLICATION POWER OF USER CIRCUITS AND LINES TESTER ON COMMUNICATION}
본 발명은 가입자 회로 및 선로 시험장치에 관한 것으로서, 더욱 자세하게는 시스템의 회로 및 선로의 특성 및 성능을 시험하기 위한 시험장치에서 요구되는 전원의 형태와 시험하고자 하는 신호의 데이터 취합 과정에서 필요한 회로의 그라운드가 간단하게 처리된 시험장치에 관한 것이다.
일반적인 통신망에서는 통신시스템과 통신가입자 사이에는 2선식과 4선식 또는 E선, M선이 포함된 동선이 전송매체로서 연결되며, 그 구성을 도 1에 나타내었다.
도 1은 시스템과 시험장치와의 회로 및 선로의 관계를 나타낸 것으로, 도시된 바와 같이, 상기 전송매체를 통하여 통신시스템과 통신가입자(105) 사이에 음성 및 데이터 신호가 송수신될 수 있도록 한다.
상기 통신시스템에서는 음성 및 데이터신호를 가입자(102)와 송수신 할 수 있도록 가입자 보드(100)를 설치한다.
통신시스템에는 시험할 회로 및 선로를 선택할 수 있도록 회로/선로 선택부(101)가 구비되어 있으며, 시험장치(102)를 물리적으로 연결을 할 수 있다.
상기 시험장치(102)를 사용하여 가입자와 시스템간 송수신되는 정보의 이상여부를 검사하거나, 전송매체의 이상여부 및 가입자 보드의 이상여부를 시험할 수 있도록 한다.
선로 시험시의 시험점(TEST POINT)은 각각 전송매체로 사용되는 2선, 4선, E선, M선과 시스템에서 정의한 그라운드로 구분되어지며, 일반적인 전송매체중, 2선식의 등가회로를 도2에 도시하였다.
회로 시험시의 시험점(TEST POINT)은 전송매체와 대용되어지는 시스템의 점과 시스템에서 정의하는 점으로 정의되어진다.
일반적으로 많이 사용되는 독립형 시험장치의 경우, 시험할 신호의 데이터를 얻고자 할 때에는, 임의의 한 점을 시험장치의 그라운드와 연결 후 또 다른 한 점의 신호크기를 측정하여 데이터를 얻을 수 있다.
즉, 두 점의 전압차를 찾아내어 아날로그-디지털 변환부를 거쳐 아날로그 데이터를 디지털 데이터화한다.
시험장치는 시스템에서 정의하는 그라운드와 시험장치에서 사용되는 그라운드가 분리되어야 원하는 시험점의 데이터를 얻을 수 있다.
즉, 시스템의 그라운드와 다른 한 점을 시험할 때, 그라운드가 분리되었을 경우에는 원하는 신호의 데이터를 얻을 수 있지만, 그 외의 시험점과 그라운드에서의 데이터는 오류를 발생한다. 도 2를 예를 들어 설명하면, 시스템과 시험장치의그라운드가 분리되지 않으면, 팁(200)과 그라운드(202)사이의 신호와 링(201)과 그라운드 사이의 신호는 측정이 가능하지만, 팁(200)과 링(201)사이를 측정한 데이터는 오류를 발생한다.
상기와 같은 이유로 시스템과는 별도의 전원을 사용하는 시험장치를 사용해야만 하며, 이것은 독립형의 시험장치와는 달리 시스템 실장형의 시험장치로 시험 또는 측정결과를 시스템으로 전송하여야 하는데, 이 때 RS-232C 프로토콜과 같은 간단한 형태의 정합버스를 갖는 종래의 시험장치의 경우에 포토커플러를 이용하여 시스템과 시험장치의 그라운드를 분리하는 구성으로 설계되며, 그 예를 도 3에 나타내었다.
도 3은 포토커플러를 이용한 RS-232C 방식의 시스템 정합의 구성을 나타낸 것으로, 포토커플러(300)를 이용하여 RS-232C 드라이버(302)를 통해 시스템 상위 프로세서(303)와 데이터를 송수신한다.
포토커플러(300)의 포토다이오드는 시험장치 그라운드를 사용하고, 포토커플러(300)의 포토트랜지스터는 시스템 그라운드를 사용하게 되므로 그라운드가 분리된다.
그러나, 독립형 시험장치의 경우에는, 시스템과는 별도의 전원, 별도의 그라운드를 필요로 하기 때문에 그 구성이 복잡해지는 문제점이 있다.
또한, 이에 따른 시험장치의 성능을 최대화하기 위해서 시스템 버스와 직접 정합하는 시험장치가 필요하다.
한편, 도 3에 도시된 바와 같은 포토커플러를 구성하는 장치는, RS-232C 드라이버보다 복잡한 구성을 갖는 시스템과의 정합장치(INTERFACE)를 구비할 경우, 입출력 포트 각각에 대하여 포토커플러가 구성되어야 함으로써, 그 구성된 포트만큼 다수의 포토커플러가 구비되어야 하므로 비용상의 부담을 유발하는 것이 사실이다.
또한, RS-232C 드라이버 등 입출력장치를 사용할 경우에도, 시리얼통신이라서 데이터 처리속도가 느릴 뿐만 아니라, 시스템 상위 프로세서에서 드라이버 제어를 위한 프로그램이 필요하게 된다.
또한, 일반적으로 시스템의 호환성을 위해 시스템 상위 프로세서의 데이터버스를 그대로 사용하는 것을 요구하기 때문에 데이터 정합장치가 더 구성되어야 한다.
위와 같은 문제점을 해소하기 위해 안출된 본 발명은, 하나의 전원을 인가받아 다수의 출력전원을 제공하는 DC-DC변환 모듈과 같은 소자를 사용하여 시스템과 시험장치의 그라운드를 분리하여서, 별도의 전원장치를 사용하지 않고도 시험장치의 설계시 경제적인 부담과 설계공간의 부담을 줄일 수 있도록 하는 데에 그 목적이 있다.
그리고, 또다른 예로 별도의 연산프로그램을 사용하여 시스템과 시험장치의 그라운드를 공통으로 사용하여도 그라운드가 분리되었을 경우와 동일한 시험데이터값을 얻을 수 있도록 하는 데에 그 목적이 있다.
도 1은 시스템과 시험장치와의 가입자 회로 및 선로의 관계를 나타낸 블럭도이다.
도 2는 2선식 가입자 선로의 등가회로를 나타낸 것이다.
도 3은 포토커플러를 이용한 RS-232C방식의 시스템 정합을 나타낸 것이다.
도 4는 본 발명의 가입자 회로 및 선로 시험장치의 제 1실시예를 나타낸 블럭도이다.
도 5는 본 발명의 제 2실시예를 나타낸 블럭도이다.
도 6은 본 발명의 제 3실시예를 나타낸 블럭도이다.
*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명*
100 : 가입자보드 101 : 회로/선로 선택부
102 : 시험장치
103, 407, 506, 605 : 시스템 상위 프로세서
200 : 팁(TIP) 201 : 링(RING)
202 : 그라운드(GROUND) 300, 404 : 포토커플러(PHOTO COUPLER)
302 : RS-232C 드라이버
402, 503, 602 : 아날로그-디지털 변환부
400, 500, 600 : 시험점 선택부 401, 501, 601 : 이득 선택부
405, 504, 603 : 디지털 시그널 프로세서
406, 505, 604 : 시스템 정합부 403 : 직렬-병렬 변환부
502 : 아이솔레이션 오피엠프(ISOLATION OP-AMP)
위와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 피 시험 동선(시험선로)을 선택하는 시험점 선택부와, 상기 선택된 시험선로의 신호를 아날로그-디지털 변환부로 입력이 가능한 크기로 신호를 선택하는 이득선택부와, 상기 크기가 선택된 신호를 고속의 샘플링 과정으로 입력된 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하는 아날로그-디지털 변환부와, DC-DC 변환 모듈로부터 전원을 인가받으며, 포토다이오드는 시험장치 그라운드를 사용하고 포토트랜지스터는 시스템 그라운드를 사용하여서, 아날로그-디지털 변환부의 출력을 포토 다이오드에서 광신호로 변환하고, 상기 광신호가 포토트랜지스터로 전송되어 다시 전기적인 신호로 변환하는 포토커플러와, 상기 신호를 연산을 통해 원하는 실제의 시험결과 데이터로 변환하는 디지털 시그널 프로세서와, 상기 시험결과 데이터를 시스템 상위 프로세서로 전달하는 시스템 정합부를 포함하여 구성된 것을 특징으로 한다.
또한, 본 발명은 시험선로를 선택하는 시험점 선택부와, 상기 선택된 시험 선로의 신호를 아날로그 변환소자와 아날로그-디지털 변환부에 입력가능한 범위로 입력신호의 크기를 선택하는 이득선택부와, 입력단은 시험장치 그라운드를 사용하고, 출력단은 시스템 그라운드를 사용하여 그라운드 분리가 가능한 아날로그 변환소자와, 상기 아날로그 변환소자로부터 출력된 아날로그 신호를 고속의 샘플링 과정을 거쳐 디지털 신호로 변환하는 아날로그-디지털 변환부와, 상기 아날로그-디지털변환부를 통해 변환된 데이터를 입력받아 연산을 통해 실제의 시험 결과 데이터로 변환하는 디지털 시그널 프로세서와, 상기 시험결과 데이터를 시스템 상위 프로세서로 전달하는 시스템 정합부를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.
본 발명은 또한, 시스템과 그라운드를 공통으로 사용하는 시험장치에 있어서, 시험선로를 선택하는 시험점 선택부와, 상기 선택된 시험선로의 신호를 아날로그-디지털 변환부에 입력가능한 범위로 입력신호의 크기를 선택하는 이득선택부와, 상기 범위가 선택된 아날로그 신호를 고속의 샘플링 과정을 거쳐 디지털 신호로 변환하는 아날로그-디지털 변환부와, 상기 디지털 신호의 데이터를 연산을 통해 원하는 실제의 시험결과 데이터로 변환하는 디지털 시그널 프로세서와, 상기 시험결과 데이터를 시스템 상위 프로세서로 전달하는 시스템 정합부로 이루어지며, 상기 디지털 시그널 프로세서에는 각 시험항목에 대하여 공통의 그라운드를 구성하여 그라운드 분리시와 동일한 값을 가질수 있도록 연산프로그램이 더 포함되어져 있는 것을 특징으로 한다.
이하 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조로 하여 설명하면 다음과 같다.
도 4는 본 발명의 회로 및 선로 시험장치의 제 1실시예로, 아날로그-디지털 변환부(402)와 디지털 시그널 프로세서부(405)의 그라운드를 분리한 장치를 블럭도로 나타낸 것이다.
도시된 바와 같이, 피 시험 동선(시험선로)을 선택하는 시험점 선택부(400)와, 선택된 시험선로의 신호를 아날로그-디지털 변환부(402)에 입력가능한 크기로 신호를 선택하는 이득선택부(401)와, 선택된 신호를 고속의 샘플링 과정으로 입력된 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하여 디지털 데이터를 얻는 아날로그-디지털 변환부(402)와, 상기 디지털 데이터를 직렬형식의 데이터로 변환하는 병렬-직렬변환부(403)와, 직렬형식으로 변환된 데이터를 입력측에서 광신호로 변환하여 출력측으로 전송하고, 출력측에서는 상기 광신호를 다시 전기적인 신호로 변환하는 포토커플러(404)와, 상기 포토커플러로부터 입력된 데이터를 연산을 통해 원하는 실제의 시험결과 데이터로 변환하는 디지털 시그널 프로세서부(405)와, 상기 시험결과를 시스템 상위 프로세서(407)에 전달하는 시스템 정합부(406)를 포함하여 이루어진다.
상기 시스템에서 제공하는 전원을 DC-DC 변환모듈의 입력측 전원으로 하고, DC-DC 변환모듈의 출력전원을 시험장치의 전원으로 하여, 시스템전원과 시험장치의 전원을 각각 분리한다.
상기 시험장치의 전원부에는 시험하고자 하는 항목의 저항 및 정전용량의 데이터를 얻기 위한 시험용 전원이 포함되어 있다.
이와 같은 특징을 갖는 제 1실시예는 그라운드의 분리점이 아날로그-디지털 변환부(402)와 디지털 시그널 프로세서부(405)의 사이가 된다.
DC-DC 변환모듈로부터 전원을 인가받은 포토커플러(404)의 입출력 양단에서 그라운드가 분리되어 포토커플러(404)의 포토다이오드는 시험장치 그라운드를 사용하고, 포토커플러(404)의 포토트랜지스터는 시스템 그라운드를 사용하게 된다.
즉, 하나의 출력전원으로 아날로그-디지털 변환부(402)를 사용하고, 또 하나의 출력전원으로 디지털 시그널 프로세서부(405)의 그라운드와 시스템에서 제공하는 그라운드를 같이 사용하여 아날로그-디지털 변환부(402)와 디지털 시그널 프로세서부(405) 상호간의 신호 선 사이에 포토커플러(404)를 이용하여 데이터를 주고받는 것이다.
이때, 아날로그-디지털 변환부(402)의 출력방식에 따라 직렬방식의 출력형식이라면 병렬-직렬 변환부(403)가 필요하지 않다.
그러나, 아날로그-디지털 변환부(402)가 병렬방식의 출력형식이라면, 병렬로 전송되는 신호의 열 수만큼 포토커플러가 구비되어야 하는데, 이때 사용되는 포토커플러의 수를 줄이기 위하여 직렬방식의 전달이 가능하도록 아날로그-디지털 변환부(402)와 디지털 시그널 프로세서부(405)사이에 병렬-직렬 변환부(403)를 구성하도록 한다.
단, 상기에서 병렬방식의 출력형식일 때에는 스위칭 방식의 DC-DC 변환 모듈의 전원 공급 부품의 시험용 전원의 그라운드와 아날로그-디지털 변환부의 그라운드를 같이 사용하여도 무방하다.
도 5는 본 발명의 제 2실시예를 나타낸 것으로, 아날로그 변환소자를 사용하여 시험 신호원과 아날로그-디지털 변환부의 그라운드를 분리한 장치를 블럭도로 나타낸다.
도시된 바와 같이, 피 시험 동선(시험선로)을 선택하는 시험점 선택부(500)와, 상기 선택된 시험 선로의 신호를 아날로그 변환소자인 아이솔레이션 오피엠프(ISOLATION OP-AMP)(502)와 아날로그-디지털 변환부(503)에 입력가능한 범위로 입력신호의 크기를 선택하는 이득선택부(501)와, 이득선택부(501)와 아날로그-디지털 변환부(503)의 그라운드를 분리하기 위한 아이솔레이션 오피엠프(502)와, 상기 아이솔레이션 오피엠프(502)에서 출력된 아날로그 신호를고속의 샘플링 과정을 거쳐 디지털 신호로 변환하여 디지털 데이터를 얻는 아날로그-디지털 변환부(503)와, 상기 병렬형식 또는 직렬형식의 디지털 데이터를 연산을 통해 실제의 시험 결과 데이터로 변환하는 디지털 프로세서부(504)와, 상기 시험결과를 시스템 상위 프로세서(507)에 전달하는 시스템 정합부(506)를 포함하여 이루어진다.
이와 같은 제 2실시예는 서로 다른 그라운드를 사용하게 되는데, 각기 다른 그라운드의 분리점은 아날로그 변환소자인 아이솔레이션 오피엠프(502)의 입력과 출력 사이가 된다.
아이솔레이션 오피엠프의 입력측은 시험장치 그라운드를 사용하며, 오피엠프의 출력측은 시스템 그라운드를 사용하게 된다.
즉, 시험 신호원과 아날로그-디지털 변환부(503)사이에 아이솔레이션 오피엠프(502)를 사용하여 시험점과 시험장치와의 전원을 분리하여 시험신호의 데이터를 얻을 수 있으며, 이 경우 아날로그-디지털 변환부(503)와 디지털 시그널 프로세서부(504)와의 데이터 송신 및 수신은 병렬방식이나 직렬방식 모두 가능하다.
이와 같은 제 2실시예에서는 아날로그 변환소자인 아이솔레이션 오피엠프를 사용함으로서, 아날로그 변환소자를 하나만 사용해도 되는 장점이 있지만, 아이솔레이션 오피엠프에서 약간의 게인(GAIN)차이가 생길 수 있으며, 아이솔레이션 오피엠프의 비용이 저렴하지 않아서 비용상의 문제가 야기될 수도 있다.
도 6은 본 발명의 제 3실시예를 나타낸 것으로, 시험장치와 시스템의 그라운드를 공통으로 사용하도록 하여 원하는 시험신호원의 데이터를 얻을 수 있도록 하는 것을 나타낸 블럭도이다.
도시된 바와 같이, 피 시험동선(시험선로)을 선택하는 시험점 선택부(600)와, 선택된 시험선로의 신호를 아날로그-디지털 변환부(602)에 입력가능한 범위로 입력신호의 크기를 선택하는 이득선택부(601)와, 선택된 범위의 아날로그 신호를 고속의 샘플링 과정을 거쳐 디지털 신호로 변환하는 아날로그-디지털 변환부(602)와, 상기 디지털 신호의 데이터를 연산을 통해 원하는 실제의 시험결과 데이터로 변환하는 디지털 시그널 프로세서부(603)와, 이 시험결과 데이터를 시스템과 정의된 정합방법으로 변경하는 시스템 정합부(604)로 이루어진다.
상기 디지털 시그널 프로세서(603)에는 직류 및 교류와 저항 그리고 정전용량 시험항목에 대하여 그라운드 분리시와 통일한 값을 가질 수 있도록 연산 프로그램이 더 포함되어져 있는 것을 특징으로 한다.
이와 같은 제 3실시예는, 서로 다른 그라운드를 사용하지 않고도 원하는 시험항목의 데이트를 얻을 수 있도록 함에 그 특징이 있는 것으로, 여기서 시험장치의 모든 그라운드를 시스템 그라운드와 공통으로 사용하여 시험신호원의 데이터를 얻을 수 있도록 한다.
그라운드를 분리하지 않을 경우 피 시험선로는 도 2의 등가회로로 표현될 수 있는데, 공통의 그라운드와 링, 또는 공통의 그라운드와 팁 사이의 전압이나 저항 및 정전용량 등을 측정하는 것은 간단하나, 그라운드가 분리되어 있지 않고 공통의 그라운드를 사용하게 되므로, 팁과 링사이의 전압이나 저항 및 정전용량 등을 측정하는 것은 어려우므로, 상기 도 4 및 도 5에 도시된 제 1실시예, 제 2실시예에서사용하는 연산이외에도 또 다른 연산을 추가로 적용하여야 한다.
도 2를 예시로 도 6에서 쓰이는 기본연산을 설명하면 다음과 같다.
먼저, 직류 및 교류 전압시험에서 쓰이는 연산으로 다음의 수학식 1이 사용된다.
상기의 수학식 1에서 나타낸 바와 같이, 팁(200)과 링(201) 사이의 전압(Vtr)은 직접 측정이 어려우므로, 그라운드와 팁사이의 전압(Vtg)과 그라운드와 링사이의 전압(Vrg)을 더한 값이 팁과 링사이의 전압(Vtr)으로 처리된다.
저항 측정시험에서 쓰이는 연산으로는, 다음 수학식 2가 적용된다.
,
여기서,
상기 수학식 2에서는 팁과 링사이의 저항(Rtr)과 팁과 그라운드의 저항(Rtg)의 합성 병렬 저항값(Rsum)을 얻기 위해 링과 그라운드 사이의 저항값 (Rrg)을 강제적으로 0으로 취한다.
상기 수학식 2에서 나타난 것처럼, 그라운드와 팁사이의 저항값(Rtg)과 총 저항값(Rsum)을 곱한 값을 그라운드와 팁 사이의 저항값(Rtg)에서 총 저항값(Rsum)을 뺀 값으로 나눈 값이 팁과 링사이의 저항값(Rtr)으로 처리된다.
정전용량 시험에 쓰이는 연산은 다음의 수학식 3에 따른다.
여기서,
상기 수학식 3에서는 팁과 링사이의 정전용량값(Ctr)과 팁과 그라운드사이의 정전용량값(Ctg)의 합성 병렬 정전용량값(Csum)을 얻기 위해 링과 그라운드사시의 정전용량(Crg)을 강제적으로 0으로 취한다.
상기 수학식 3에서 나타난 바와 같이, 총 정전용량값(Csum)에서 그라운드와 팁 사이의 정전용량(Ctg)을 뺀 값이 팁과 링사이의 정전용량(Ctr)으로 처리된다.
이와 같은 제 3실시예의 경우, 고속의 아날로그-디지털 변환부를 설계할 수 있으나, 시험정밀도에서 성능이 떨어지므로, 저가의 시험장치를 구현하는 데에 적합하다.
본 발명은 시스템과 시험장치의 그라운드를 별도의 전원장치를 사용하지 않고도 시험장치의 설계시 경제적인 부담과 설계공간의 부담을 덜 수 있는 효과가 있으며, 또한, 독립형 시험장치를 사용하여 시험을 수행하던 종래기술에서 시험장치를 시스템 일부의 블록으로 설계가 가능한 효과가 있다.

Claims (7)

  1. 통신망에서 통신시스템과 통신가입자간에 음성 및 데이터를 전송하는 선로 및 회로의 이상여부 및 데이터의 이상여부를 시험하는 시험장치에 있어서,
    피 시험 동선(시험선로)을 선택하는 시험점 선택부와,
    상기 선택된 시험선로의 신호를 아날로그-디지털 변환부로 입력이 가능한 크기로 신호를 선택하는 이득선택부와,
    상기 크기가 선택된 신호를 고속의 샘플링 과정으로 입력된 아날로그 신호를 디지털 신호로 변환하는 아날로그-디지털 변환부와,
    DC-DC 변환 모듈로부터 전원을 인가받으며, 포토다이오드는 시험장치 그라운드를 사용하고 포토트랜지스터는 시스템 그라운드를 사용하여서, 아날로그-디지털 변환부의 출력을 포토 다이오드에서 광신호로 변환하고, 상기 광신호가 포토트랜지스터로 전송되어 다시 전기적인 신호로 변환하는 포토커플러와,
    상기 신호를 연산을 통해 원하는 실제의 시험결과 데이터로 변환하는 디지털 시그널 프로세서와,
    상기 시험결과 데이터를 시스템 상위 프로세서로 전달하는 시스템 정합부를 포함하여 구성된 것을 특징으로 하는 가입자 회로 및 선로 시험장치.
  2. 제 1항에 있어서,
    아날로그-디지털 변환부의 출력형식이 병렬인 경우, 데이터를 직렬형식의 데이터로 변환하는 병렬-직렬 변환부를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 가입자 회로 및 선로 시험장치.
  3. 통신망의 통신시스템과 통신가입자간에 음성 및 데이터를 전송하는 선로 및 회로의 이상여부 및 데이터의 이상여부를 시험하는 시험장치에 있어서,
    피 시험 동선(시험선로)을 선택하는 시험점 선택부와,
    상기 선택된 시험 선로의 신호를 아날로그 변환소자와 아날로그-디지털 변환부에 입력가능한 범위로 입력신호의 크기를 선택하는 이득선택부와,
    입력단은 시험장치 그라운드를 사용하고, 출력단은 시스템 그라운드를 사용하여 그라운드 분리가 가능한 아날로그 변환소자와,
    상기 아날로그 변환소자로부터 출력된 아날로그 신호를 고속의 샘플링 과정을 거쳐 디지털 신호로 변환하는 아날로그-디지털 변환부와,
    상기 아날로그-디지털변환부를 통해 변환된 데이터를 입력받아 연산을 통해 실제의 시험 결과 데이터로 변환하는 디지털 시그널 프로세서와,
    상기 시험결과 데이터를 시스템 상위 프로세서로 전달하는 시스템 정합부를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 가입자 회로 및 선로 시험장치.
  4. 제 3항에 있어서,
    상기 아날로그 변환소자는 아이솔레이션 오피엠프인 것을 특징으로 하는 가입자 회로 및 선로 시험장치.
  5. 통신시스템과 통신가입자간에 음성 및 데이터를 전송하는 선로 및 회로의 이상여부 및 데이터의 이상여부를 시험하고, 시스템과 그라운드를 공통으로 사용하는 시험장치에 있어서,
    피 시험동선(시험선로)을 선택하는 시험점 선택부와,
    상기 선택된 시험선로의 신호를 아날로그-디지털 변환부에 입력가능한 범위로 입력신호의 크기를 선택하는 이득선택부와,
    상기 범위가 선택된 아날로그 신호를 고속의 샘플링 과정을 거쳐 디지털 신호로 변환하는 아날로그-디지털 변환부와,
    상기 디지털 신호의 데이터를 연산을 통해 원하는 실제의 시험결과 데이터로 변환하는 디지털 시그널 프로세서와,
    상기 시험결과 데이터를 시스템 상위 프로세서로 전달하는 시스템 정합부로 이루어지며,
    상기 디지털 시그널 프로세서에는 각 시험항목에 대하여 공통의 그라운드를 구성하여 그라운드 분리시와 동일한 값을 가질수 있도록 연산프로그램이 더 포함되어져 있는 것을 특징으로 하는 특징으로 하는 가입자 회로 및 선로 시험장치.
  6. 제 5항에 있어서,
    상기 추가되는 연산프로그램의 시험항목은,
    직류 및 교류 시험항목에서 팁과 링사이의 전압을 연산하기 위한 연산식과,
    저항시험 항목에서 팁과 링사이의 저항을 연산하기 위한 연산식과,
    정전용량 항목에서 팁과 링사이의 정전용량을 연산하기 위한 연산식이 포함되는 것을 특징으로 하는 가입자 회로 및 선로 시험장치.
  7. 제 6항에 있어서,
    팁과 링사이의 전압을 연산하기 위한 연산식은,
    팁과 링사이의 저항을 연산하기 위한 연산식은,
    ,
    여기서,, Rrg = 0
    팁과 링사이의 정전용량을 연산하기 위한 연산식은,
    여기서,, Crg = 0
    를 이용하는 것을 특징으로 하는 그라운드 처리가 간단한 가입자 회로 및 선로 시험장치.
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