KR100327121B1 - 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치에 대한 전송성능시험장치 - Google Patents

디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치에 대한 전송성능시험장치 Download PDF

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Abstract

본 발명은 대칭 또는 비대칭 데이터 전송속도를 가진 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치에 대한 전송성능 시험장치에 관한 것으로, 대칭 또는 비대칭 데이터 전송속도를 갖는 네트워크측 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치와 가입자측 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치를 동시에 시험하기 위한 전송성능 시험장치를 제공하기 위하여, 제어 신호를 발생시켜 로컬 버스에 공급하고 터미널과 통신을 하며, 전송성능 시험중의 각 상태를 표시하기 위한 제어 수단; 디지털로 입력되는 데이터를 디지털 가입자 회선 프로토콜로 송신 처리를 하여 아날로그 데이터로 출력하며, 아날로그로 입력된 데이터를 상기 디지털 가입자 회선 프로토콜로 수신 처리를 하여 디지털 데이터로 출력해주기 위한 송수신 프로토콜 처리 수단; 및 상기 로컬 버스에 접속되어 상기 제어 수단의 제어를 받아 시험용 데이터를 발생시키고, 상기 프로토콜 처리 수단을 경유하여 설정된 경로를 통과하여 되돌아온 상기 시험용 데이터를 수신 비교하여 에러 유무를 상기 제어 수단에 전달해 주기 위한 송수신 논리 수단을 포함하며, 전송성능 측정 시스템 등에 이용됨.

Description

디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치에 대한 전송성능 시험장치{Transfer Performance Test Apparatus For Digital Subscriber Line Protocol Processing Device}
본 발명은 대칭 또는 비대칭 데이터 전송속도를 가진 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치에 대한 전송성능 시험장치에 관한 것이다.
종래의 대칭 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치 시험장비는 일정한 프레임 구조를 갖는 차동 신호 정합을 가지며, 대칭 속도의 데이터 송수신을 한다.
그러므로, 시험을 받는 대칭 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치가 대칭 데이터 속도의 일정한 프레임 구조를 가지며 차동 신호 정합을 가져야만 하거나, 외부에 일정한 프레임 구조를 가진 차동 신호 정합회로를 부가하여 시험장비에 접속해서 시험하여야 한다는 문제점이 있었다.
또한, 비대칭 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치 시험장비는 차동 신호 정합을 가지며, 한가지 시험에 각각 다른 속도로 시험할 수 있는 환경을 지원하지 않는다.
그러므로, 시험을 받는 비대칭 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치가 차동 신호 정합을 가져야만 하거나, 외부에 차동 신호 정합회로를 부가하여 시험장비에 접속해서 시험하여야 하고, 네트워크측과 가입자측 양단에 각각 1대씩 2대의 시험 장비를 가져야만 시험할 수 있다는 문제점이 있었다.
즉, 상기한 바와 같은 종래의 시험장비를 이용한 시험은 디지털 가입자 회선의 특성상 실제 사용되는 시스템의 네트워크측과 가입자측에 모두 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치가 장착된 상태에서만 시험할 수 있으며, 외부 시험장비를 이용해서 시험해야 하므로 부피가 크고 구성이 복잡하여 다루기가 불편하고 시험하기가 어렵다는 문제점이 있었다.
이하, 도 1 및 도 2 를 참조하여 종래의 가입자 회선 프로토콜 처리장치에 대한 전송성능 시험 장치를 설명한다.
도 1 은 종래의 대칭 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치에 대한 전송성능 시험 장치의 일실시예 구성도이다.
즉, 도 1 은 2대의 전송성능 시험장비(또는 2채널용 전송성능 시험장비) (101), 2대의 프레임 구성 및 신호 정합기(102), 및 선로 모의시험기(103)로 구성되어, 네트워크측 대칭 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치(104)와 가입자측 대칭 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치(105)를 시험하는 전송성능 시험 장치를 나타내고 있다.
일반적인 전송성능 시험장비는 대칭 데이터 속도로 일정한 프레임 형태의 데이터를 차동 신호 레벨로 송수신하므로 프로토콜 처리장치와 시험장비 사이에 프레임 구성 및 신호 정합기가 필요하다.
네트워크측 전송성능 시험장비는 프레임 구성 및 신호 정합기에게 차동 신호 레벨의 송신 데이터(Tdata_a+/-)와 송신 데이터 클럭(Tclk_a+/-)을 입력시키면 프레임 구성 및 신호 정합기는 이 신호를 입력 받아서 프레임을 형성하고 TTL 레벨로 변환 후 송신 데이터(TxD_a), 송신 데이터 클럭(TxC_a), 송신 동기신호(TxFS_a)를 네트워크측 대칭 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치에게 주고 여기서 대칭 디지털 가입자 회선 송신 프로토콜 처리를 하여 아날로그 신호로 출력한다. 선로 모의시험기는 입력되는 신호에 대해 시험하고자 하는 선로의 조건을 지정해서 시뮬레이션하여 하여 출력해 준다.
가입자측 대칭 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치는 입력되는 아날로그 신호를 대칭 디지털 가입자 회선 수신 프로토콜 처리를 하여 TTL 레벨의 수신 데이터(RxD_a), 수신 데이터 클럭(RxC_a), 수신 동기신호(RxFS_a)를 프레임 구성 및 신호 정합기에게 주면 여기서 프레임을 형성하고, 차동 신호 레벨로 데이터를 변환하여 수신 데이터(Rdata_a+/-)와 수신 데이터 클럭(Rclk_a+/-)을 전송성능 시험장비로 출력해준다. 전송성능 시험장비는 이 데이터를 지정된 비트 열과 비교하여 에러 유무를 판단해서 결과를 출력해 준다. 마찬가지로 시험장비에서 가입자측으로 차동 신호 레벨의 송신 데이터(Tdata_b+/-)와 송신 데이터 클럭(Tclk_b+/-)이 프레임 구성 및 신호 정합기로 입력되면 여기서 출력된 TTL 레벨의 송신 데이터(TxD_a), 송신 데이터 클럭(TxC_a), 송신 동기신호(TxFS_a)는 위와 유사한 과정을 거쳐 시험장비에 수신 데이터(Rdata_b+/-)와 수신 데이터 클럭(Rclk_b+/-)으로 입력되고 이 데이터를 검사하여 그 결과를 출력 한다.
도 2 는 종래의 비대칭 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치에 대한 전송성능 시험 장치의 일실시예 구성도이다.
즉, 도 2 는 네트워크측 전송성능 시험장비(201), 가입자측 전송성능 시험장비(202), 2대의 프레임 구성 및 신호 정합기(203) 및 선로 모의시험기(204)로 구성되어, 네트워크측 비대칭 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치(205)와 가입자측 대칭 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치(206)를 시험하는 전송성능 시험 장치를 나타내고 있다.
일반적인 전송성능 시험장비는 일정한 속도로 프레임 형태 또는 비트 열 형태의 데이터를 차동 신호 레벨로 송수신하므로 프로토콜 처리장치와 시험장비 사이에 프레임 구성 및 신호 정합기가 필요하다.
시험 방법은 도 1 에서 설명한 것과 유사하며, 비대칭일 경우는 상향과 하향의 데이터 전송속도가 각각 다르므로 반드시 2대의 시험장비를 사용하여야 한다. 데이터가 프레임 형태 또는 비트 열 형태일 경우에 따라 프레임 구성 및 신호 정합기에서 제어가 달라진다.
본 발명은 상기 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 대칭 또는 비대칭 데이터 전송속도를 갖는 네트워크측 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치와 가입자측 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치를 동시에 시험하기 위한, 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치에 대한 전송성능 시험장치를 제공하는데 그 목적이 있다.
도 1 은 종래의 대칭 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치에 대한 전송성능 시험 장치의 일실시예 구성도.
도 2 는 종래의 비대칭 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치에 대한 전송성능 시험 장치의 일실시예 구성도.
도 3 은 본 발명에 따른 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치에 대한 전송성능 시험장치의 일실시예 구성도.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *
301 : 중앙제어부 302 : 메모리부
303 : 제어 논리부 304 : 상태 표시부
305 : 비트/셀 송수신 프로그램 논리소자(네트워크측)
306 : 비트/셀 송수신 프로그램 논리소자(가입자측)
307 : 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치(네트워크측)
308 : 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치(가입자측)
309 : 선로 모의 시험기
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치에 대한 전송성능 시험장치에 있어서, 제어 신호를 발생시켜 로컬 버스에 공급하고 터미널과 통신을 하며, 전송성능 시험중의 각 상태를 표시하기 위한 제어 수단; 디지털로 입력되는 데이터를 디지털 가입자 회선 프로토콜로 송신 처리를 하여 아날로그 데이터로 출력하며, 아날로그로 입력된 데이터를 상기 디지털 가입자 회선 프로토콜로 수신 처리를 하여 디지털 데이터로 출력해주기 위한 송수신 프로토콜 처리 수단; 및 상기 로컬 버스에 접속되어 상기 제어 수단의 제어를 받아 시험용 데이터를 발생시키고, 상기 프로토콜 처리 수단을 경유하여 설정된 경로를 통과하여 되돌아온 상기 시험용 데이터를 수신 비교하여 에러 유무를 상기 제어 수단에 전달해 주기 위한 송수신 논리 수단을 포함한다.
즉, 본 발명은 단일 보드에 구성된 하나의 시험장치를 이용하여 양방향 데이터 전송속도가 동일한 대칭 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치뿐만 아니라 상향과 하향의 데이터 전송속도가 다른 비대칭 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치의 전송성능을 시험하기 위해 프로세서, 메모리, 제어 논리 회로, 비트/셀 송수신 프로그램 논리소자를 사용해서, 간단한 보드 형태의 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치의 전송성능 시험장치를 구성하며, 이 장치를 이용해서 시스템에 장착하기 전에 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치의 전송성능을 시험하고자 한다.
이하, 도 3 을 참조하여 본 발명에 따른 바람직한 일실시예를 상세히 설명한다.
도 3 은 본 발명에 따른 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치에 대한 전송성능 시험장치의 일실시예 구성도로서, 중앙 제어부(1), 메모리부(302), 제어 논리부(303), 상태 표시부(304), 네트워크측과 가입자측 비트/셀 송수신 프로그램 논리소자(305,306), 네트워크측과 가입자측 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치(307,308), 및 선로 모의 시험기(309)로 구성되어 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치로의 전송성능 시험 기능을 수행한다.
중앙제어부(301)는 8비트 범용 프로세서를 구비하여 데이터 신호선, 주소 신호선, 제어 신호선을 발생시켜 이들을 로컬 버스에 공급해 주고, 메모리부(302)의 모니터 프로그램을 이용하여 시험장치 전체를 제어하고, 시험 프로그램을 이용하여 전송성능을 시험한다. 50MHz의 자체 클럭을 가지며, 전원 입력시 및 리셋 스위치에 의한 시험장치 전체의 리셋을 위한 리셋 신호를 생성하여 로컬버스에 공급해 주고, 직렬 통신 포트를 통하여 디버깅을 위한 터미널 연결 기능을 제공해 준다.
메모리부(302)는 상기 로컬버스에 연결되어 상기 중앙제어부(301)로부터 주소 신호를 공급받고, 8비트 데이터를 주고받으며, 제어 논리부(303)로부터 메모리 선택 신호, 메모리 읽기 신호, 메모리 쓰기 신호를 공급받아 제어된다. 기본 모니터 프로그램과 시험 프로그램을 저장하는 512kB 롬 1개와 각종 데이터 저장을 위한 256kB 램 1개를 구성하여 메모리의 기능을 수행한다.
제어 논리부(303)는 상기 로컬 버스에 연결되어 주소 신호와 제어 신호를 중앙제어부(301)로부터 공급받아 네트워크측과 가입자측 비트/셀 송수신 프로그램 논리소자(305,306)를 선택하기 위한 선택신호(NLCS*, SLCS*), 네트워크측과 가입자측 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치(307,308)를 선택하기 위한 선택신호((NPCS*, SPCS*), 비트/셀 송수신 프로그램 논리소자(305,306) 및 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치(307,308)의 멀티 플렉싱된 데이터와 주소를 나타내기 위한 주소/데이터 신호(AD0 ~ AD7), 비트/셀 송수신 프로그램 논리소자(305,306)의 자체 시험을 위한 시험 클럭(TEST_CLK), 상태 표시부(304)의 발광프로그램 논리소자를 켜 주기 위한 상태 신호(RUN*, HALT*, FAIL*, NRLOS*, SRLOS*, NERR*, STERR*), 메모리부(302)의 롬을 선택하기 위한 롬 선택신호(ROMS*), 램을 선택하기 위한 램 선택 신호(RAMS*)를 만들어 로컬 버스를 통하여 각 부분에 공급해 준다.
상태 표시부(304)는 시험장치의 현재 상태를 표시하기 위한 발광 논리소자로 구성되었으며, 프로세서가 정상으로 동작함을 나타내는 동작신호(RUN_LED), 프로세서가 정지 상태에 있음을 나타내는 정지신호(HALT_LED), 메모리부(302)의 자체 데이터 쓰기/읽기 시험이 비정상임을 나타내는 비정상 신호(FAIL_LED), 시험 중에 네트워크측 비트/셀 송수신 프로그램 논리소자(305)에서 동기가 맞지 않음을 나타내는 네트워크측 동기불일치 신호(NRLOS_LED), 시험 중에 가입자측 비트/셀 송수신 프로그램 논리소자(306)에서 동기가 맞지 않음을 나타내는 가입자측 동기 불일치 신호(SRLOS_LED), 시험 중에 네트워크측 비트/셀 송수신 프로그램 논리소자(305)에서 에러가 발생했음을 나타내는 네트워크측 에러 신호(NERR_LED), 시험 중에 가입자측 비트/셀 송수신 프로그램 논리소자(306)에서 에러가 발생했음을 나타내는 가입자측 에러 신호(SERR_LED)로 구성되어 사용자가 쉽게 가시적으로 시험장치 상태나 전송성능 시험 중의 상태를 알 수 있다.
비트/셀 송수신 프로그램 논리소자(305,306)는 상기 로컬버스에 접속되고 네트워크측과 가입자측에 각각 하나씩 사용된다. 먼저 비트 열 데이터를 가지고 시험할 경우를 설명하면 다음과 같다.
네트워크측 비트/셀 송수신 프로그램 논리소자(305)는 중앙제어부(301)의 제어를 받아 송신 데이터 클럭(Tclk_a)에 동기하여 송신 데이터(Tdata_a)를 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치(307)에 출력해 준다. 선로와 선로 모의시험기(309)를 통과하여 가입자측 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치(308)에 입력된 데이터는 디지털 가입자 회선 수신 처리가 되어 수신 데이터 클럭(Rclk_a)에 동기한 수신 데이터(Rdata_a)가 네트워크측 비트/셀 송수신 프로그램 논리소자에 입력되어 비트의 에러 유무가 검사되고 그 결과가 중앙제어부(301)로 전달되어 연결된 터미널에 출력된다.
마찬가지로 가입자측 송수신 프로그램 논리소자(306)도 중앙제어부(301)의 제어를 받아 이와 유사한 과정을 거쳐 출력된 송신 데이터(Tdata_b)는 송신 데이터 클럭(Tclk_b)에 동기되어 출력되고, 선로 모의시험기(309)와 가입자측 및 네트워크측의 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치(307,308)를 통과한 후 수신 데이터 클럭(Rclk_b)에 동기되어 가입자측 비트/셀 송수신 프로그램 논리소자에 수신 데이터(Rdata_b)가 입력되어 에러 유무가 검사되고 그 결과가 중앙제어부(301)로 전달되어 연결된 터미널에 동시에 출력된다.
디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치(307,308)가 비동기 전송 모드 표준 버스인 유토피아 정합을 가질 경우는 시험 데이터가 8비트 유토피아 데이터 버스로 연결되어야 한다. 이 경우를 설명하면 다음과 같다.
네트워크측 비트/셀 송수신 프로그램 논리소자(305)는 중앙제어부(301)의 제어를 받아 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치(308)로부터 송신 셀 가능 신호(TxCA_a)를 입력받고, 송신 데이터 클럭(TxC_a)에 동기하여 송신 데이터(TxD_a[0:7]), 송신 셀 시작 신호(TxSOC_a), 송신 가능 신호(TxEN_a)를 네트워크측 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치(307)에 출력해 준다. 선로와 선로 모의시험기(309)를 통과하여 가입자측 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치(308)에 입력된 데이터는 디지털 가입자 회선 수신 처리가 되어 네트워크측 비트/셀 송수신 프로그램 논리소자(305)로부터 입력되는 수신 가능 신호(RxEN_a)와 수신 데이터 클럭(RxC_a)에 동기하여 수신 데이터(RxD_a[0:7]), 수신 셀 시작 신호(RxSOC_a), 수신 셀 가능 신호(RxCA_a)가 네트워크측 비트/셀 송수신 프로그램 논리소자(305)에 입력되어 셀 데이터의 에러 유무가 검사되고 그 결과가 중앙제어부(301)로 전달되어 연결된 터미널에 출력된다.
마찬가지로 가입자측 비트/셀 송수신 프로그램 논리소자(306)도 중앙제어부(301)의 제어를 받아 이와 유사한 과정을 거쳐 출력된 송신 데이터(TxD_b[0:7]), 송신 셀 시작 신호(TxSOC_b), 송신 가능 신호(TxEN_b)를 가입자측 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치(308)에 출력해 주고 송신 셀 가능 신호(TxCA_b)를 입력받는다. 선로 모의시험기(309)와 가입자측 및 네트워크측의 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치(307,308)를 통과한 후 가입자측 비트/셀 송수신 프로그램 논리소자(306)로부터 입력되는 수신 가능 신호(RxEN_b)와 수신 데이터 클럭(RxC_b)에 동기하여 수신 데이터(RxD_b[0:7]), 수신 셀 시작 신호(RxSOC_b), 수신 셀 가능 신호(RxCA_b)가 가입자측 비트/셀 송수신 프로그램 논리소자(306)에 입력되어 셀 데이터의 에러 유무가 검사되고 그 결과가 중앙제어부(301)로 전달되어 연결된 터미널에 출력된다.
디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치(307,308)는 상기 비트/셀 송수신 프로그램 논리소자(305,306)와 선로에 연결되며, 수신한 비트 열 형태 또는 비동기 전송 모드 셀 형태의 디지털 데이터를 디지털 가입자 회선 송신 프로토콜 처리를 하고 아날로그 신호로 변환하여 선로에 출력해 주고, 반대로 선로에서 수신한 아날로그 신호를 디지털 가입자 회선 수신 프로토콜 처리를 하고 디지털 신호로 변환하여 비트/셀 송수신 프로그램 논리소자에 출력해 준다. 프로세서에 의한 제어 및 프로세서와 상호 통신을 위하여 데이터 신호선, 주소 신호선, 제어 신호선을 통해 내부 버스에 연결된다.
선로 모의시험기(309)는 외부에서 콘넥터를 통해 네트워크측과 가입자측의 선로에 연결되며 성능 시험을 위하여 사용자가 지정한 다양한 선로 조건을 시뮬레이션 해 준다. 본 시험장치에는 포함되지 않으며 선로 시험 조건을 지정해 주기 위해 사용된다.
상기와 같이 구성된 범용 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치에 대한 전송성능 시험장치는 대칭 양방향 및 비대칭 양방향으로 다양한 속도의 데이터에 대한 전송성능 시험 기능을 수행한다.
이상에서 설명한 본 발명은, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 있어 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하므로 전술한 실시예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이 아니다.
상기와 같은 본 발명은 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치에 대한 전송성능 시험장치로서 대칭 및 비대칭 데이터 전송속도의 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치를 간단한 시험장치 보드를 이용하여 비트 열 형태 또는 비동기 전송 모드 셀 형태의 다양한 속도를 가진 데이터에 대해서 네트워크측과 가입자측 모두를 시스템에 실장하기 전에 시험하여 성능을 검증할 수 있는 우수한 효과가 있다.

Claims (5)

  1. 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치에 대한 전송성능 시험장치에 있어서,
    제어 신호를 발생시켜 로컬 버스에 공급하고 터미널과 통신을 하며, 전송성능 시험중의 각 상태를 표시하기 위한 제어 수단;
    디지털로 입력되는 데이터를 디지털 가입자 회선 프로토콜로 송신 처리를 하여 아날로그 데이터로 출력하며, 아날로그로 입력된 데이터를 상기 디지털 가입자 회선 프로토콜로 수신 처리를 하여 디지털 데이터로 출력해주기 위한 송수신 프로토콜 처리 수단; 및
    상기 로컬 버스에 접속되어 상기 제어 수단의 제어를 받아 시험용 데이터를 발생시키고, 상기 프로토콜 처리 수단을 경유하여 설정된 경로를 통과하여 되돌아온 상기 시험용 데이터를 수신 비교하여 에러 유무를 상기 제어 수단에 전달해 주기 위한 송수신 논리 수단
    을 포함하는 전송성능 시험장치
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 제어 수단은,
    자체 클럭을 가지며 데이터 신호선, 주소 신호선, 제어 신호선을 발생시켜 로컬 버스에 공급해 주며 터미널과 통신을 하기 위한 중앙 제어 수단;
    상기 로컬 버스에 접속되고 기본 모니터 프로그램 및 전송 성능 시험 프로그램을 저장하기 위한 저장 수단;
    상기 로컬 버스에 접속되고 주소 디코딩을 하며 필요한 제어 신호를 생성하기 위한 제어 논리 수단; 및
    프로세서의 현재 상태와 시험중의 각종 신호의 동기, 에러 상태 및 시험 결과를 표시하기 위한 상태 표시 수단
    을 포함하는 전송성능 시험장치
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 송수신 프로토콜 처리 수단의 상기 디지털 가입자 회선 프로토콜 송신 처리는, 비대칭 디지털 가입자 회선 프로토콜 송신 처리 또는 대칭 디지털 가입자 회선 프로토콜 송신 처리인 것을 특징으로 하는 전송성능 시험장치.
  4. 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 송수신 논리 수단의 상기 시험용 데이터는 비트 열 형태인 것을 특징으로 하는 전송성능 시험장치.
  5. 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 송수신 논리 수단의 상기 시험용 데이터는 비동기 전송 모드 셀 형태인 것을 특징으로 하는 전송성능 시험장치.
KR1019990061872A 1999-12-24 1999-12-24 디지털 가입자 회선 프로토콜 처리장치에 대한 전송성능시험장치 KR100327121B1 (ko)

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