KR100317766B1 - High Density Information Recording and Playback Method - Google Patents

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KR100317766B1
KR100317766B1 KR1019950705281A KR19950705281A KR100317766B1 KR 100317766 B1 KR100317766 B1 KR 100317766B1 KR 1019950705281 A KR1019950705281 A KR 1019950705281A KR 19950705281 A KR19950705281 A KR 19950705281A KR 100317766 B1 KR100317766 B1 KR 100317766B1
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와까바야시고이찌로
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고모다오사무
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가나이 쓰도무
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Abstract

제1 출력 및 파장을 갖는 기록용 레이저와 제1 출력부보다 낮은 제2 출력 및 상기 제1 파장보다 짧은 제2 파장을 갖는 재생용 레이저를 사용하고, 기록 및 재생용의 레이저를 NA가 약 0.55인 대물 렌즈를 사용해서 원판 형상의 기록 매체 상에 조사하고, 원판 형상 기록 매체의 기록 특성 및 레이저를 조사하는 광학계 내의 차폐판에 의해 기록용 레이저의 파장과 대물 렌즈의 NA로부터 광학적으로 결정되는 스폿 크기와 비교해서 약 1/4 이하의 미소 마크를 기록 매체 상에 형성하고, 기록방식으르서는 트랙 방향과 트랙 반경 방향에 이르는 2차원 격자의 격자점에 마크를 배열시키는 2차원 기록을 행하고, 재생 방식으로서는 2차원 격자점 상의 상기 마크로부터의 재생 신호를 검출하고 각 마크로부터의 재생 신호를 서로 사용해서 신호를 처리하는 정보를 검출하는 광학적 기록 재생 방법이 개시되어 있다.A recording laser having a first output and a wavelength and a reproduction laser having a second output lower than the first output portion and a second wavelength shorter than the first wavelength are used, and the laser for recording and reproduction is about 0.55. A spot which is optically determined from the wavelength of the recording laser and the NA of the objective lens by a shielding plate in the optical system that irradiates onto the disc-shaped recording medium using an objective lens and irradiates the recording characteristics of the disc-shaped recording medium and the laser. A micro mark of about 1/4 or less in comparison with the size is formed on the recording medium, and in the recording method, two-dimensional recording is performed in which marks are arranged at grid points of a two-dimensional grid that extends in the track direction and the track radius direction. As a method, a reproduction signal from the mark on a two-dimensional lattice point is detected, and information that processes the signal by using the reproduction signals from each mark is detected. It is disclosed in optical recording and reproducing method.

Description

고밀도 정보 기록 재생 방법High Density Information Recording Playback Method

본원은 1994년 10월 12일 출원한 미국 특허출원 제08/321619호 및 지금은 포기된 미국 특허출원 제07/704227호의 1994년 8월 2일부 출원의 계속 출원인 미국 특허출원 제08/285003호의 일부 계속 출원(continuation-in-part)으로 미국 특허출원 제08/321619호 및 제08/285003호의 개시내용이 본 발명에 수용된다.This application is part of US patent application Ser. No. 08/321619, filed October 12, 1994, and US Patent application Ser. No. 08/285003, a continuing application of the August 2, 1994 application of US patent application Ser. No. 07/704227, now abandoned; In a continuation-in-part, the disclosures of US patent applications 08/321619 and 08/285003 are incorporated into the present invention.

현재, 제품으로 되어 있는 광 디스크 장치의 면밀도는 약 880 메가비트/평방인치(Mb/in2) 정도이고, 연구 개발 레벨에서도 광 디스크가 사용되는 환경 조건의 엄격함을 극복하여, 종합적으로 실현할 수 있다고 할 수 있는 것은 제품 레벨의 3배 정도이다. 또, 제품으로 되어 있는 광 디스크 장치의 사용 파장은 780 nm, 대물 렌즈의 NA는 0.55, 기록 빙식은 마크장 기록이고, 서보 방식은 연속 서보이다. 참고 문헌은 ECMA(유럽 컴퓨터 매뉴팩처 어소시에이선)의 규격 문서이다.At present, the surface density of the optical disk device of the product is about 880 megabits per square inch (Mb / in 2 ), and at the research and development level, it is possible to comprehensively realize the strictness of the environmental conditions in which the optical disk is used. What you can do is about three times the product level. The wavelength of the optical disk device made of the product is 780 nm, the NA of the objective lens is 0.55, the recording ice type is mark length recording, and the servo method is continuous servo. The reference is a specification document of ECMA (European Computer Manufacturing Association).

본 발명의 목적은 현재 실현가능한 구성 요소를 사용해서 광 디스크에 있어서 가장 고밀도한 기록 재생 특성을 실현하는 것이다. 실현된 기록 밀도의 값은 10Gbit/in2이다.It is an object of the present invention to realize the most dense recording and reproducing characteristics of an optical disc by using the presently feasible components. The value of the realized recording density is 10 Gbit / in 2 .

[발명의 개시][Initiation of invention]

본 발명의 취지는 아래와 같다.The purpose of the present invention is as follows.

(1) 기록용 레이저는 출력 50 mW, 파장 680nm의 반도체 레이저, 재생은 출력 15 mW 이상의 파장 530 nm를 발진하는 SHG(세컨드 하모닉 제너레이션) 광원을 채용한다.(1) The recording laser employs a semiconductor laser having a power of 50 mW and a wavelength of 680 nm, and a reproducing SHG (second harmonic generation) light source that oscillates at a wavelength of 530 nm with an output of 15 mW or more.

(2) 대물 렌즈의 NA는 0.55, 기록용과 재생용의 파장에 대해 색수차의 보정을 행한 것을 사용한다.(2) The NA of the objective lens is 0.55, and the chromatic aberration is corrected for the wavelengths for recording and reproduction.

(3) 기록 매체는 파장과 대물 렌즈의 NA로부터 결정되는 스폿 크기에 비교하여 1/4이하의 미소 마크를 작성할 수 있는 것을 사용한다. 또한, 자기 다층막의 각층의 온도에 대한 자기 특성의 차이점을 이용한 초해상 특성을 갖는 매체도 사용한다.(3) As the recording medium, a micromark of 1/4 or less can be produced in comparison with the spot size determined from the wavelength and the NA of the objective lens. In addition, a medium having super resolution characteristics using a difference in magnetic properties with respect to the temperature of each layer of the magnetic multilayer film is also used.

(4) 광학계로서는 파장과 대물 렌즈의 NA로부터 결정되는 스폿 크기보다도 디스크 면상에서 작게 할 수 있는 초해상 광학계를 사용한다. 또, 복수의 스폿을 기록 혹은 재생시에 작성하는 구성으로 한다.(4) As the optical system, a super resolution optical system that can be made smaller on the disk plane than the spot size determined from the wavelength and NA of the objective lens is used. Also, a plurality of spots are created at the time of recording or reproduction.

(5) 기록 방식으로서는 트랙 방향과 트랙 반경 방향에 이르는 2차원 격자의 격자점에 동일 원형 형상의 마크를 배열치킨 2차원 기록을 행한다.(5) In the recording method, two-dimensional recording is performed in which marks of the same circular shape are arranged at grid points of a two-dimensional grid extending in the track direction and the track radial direction.

(6) 재생 방식은 2차원 격자점 상의 마크로부터의 재생 신호를 검출하고, 각 마크로부터의 재생 신호를 서로 이용하여 신호 처리를 행하고, 정보를 검출한다.이 때, 격자점에 동기한 타이밍으로 광원으로부터 통상 직류광으로 조사하는 것보다 큰 피크 전력을 갖는 광을 펄스적으로 조사하고, 그 반사광을 격자점에 동기한 타이밍에 의해 검출한다.(6) The reproduction method detects a reproduction signal from a mark on a two-dimensional lattice point, performs signal processing using each of the reproduction signals from each mark, and detects information. At this time, the timing is synchronized with the lattice point. Irradiating light with a peak power larger than that irradiated with a direct current light from a light source is pulsed, and the reflected light is detected by the timing synchronized with a grating point.

(7) 트랙킹은 샘플 서보를 사용하고, 이산적으로 설치된 매립 비트로부터 기록과 재정의 클럭을 만들고, 워블 마크로부터 트래킹 에러 신호를 검출한다.(7) Tracking uses sample servo, creates a write and redefine clock from discretely installed embedded bits, and detects a tracking error signal from the wobble mark.

기록은 광원으르서 현재 입수할 수 있고, 또 직접 변조할 수 있는 파장 680 nm의 고출력 레이저를 이용하고, 스폿 크기를 1.23 미크론 정도로 한다. 더우기, 광학적 초해상 효과를 갖게 하고, 또 광 출력의 효율을 고려하면서, 약 7할인 0.87 미크론으로 스폿 크기를 축소한다. 이 스폿을 이용하여서 기록 스폿의 1/4 이하의 마크를 형성할 수 있는 매체에 직경이 0.22 미크론인 마크를 기록한다. 이 매체의 구성으로서는Recording is done using a high power laser with a wavelength of 680 nm, which is currently available as a light source and can be directly modulated, with a spot size of about 1.23 microns. Moreover, the spot size is reduced to 0.87 microns, which is about seven percent, while giving an optical super-resolution effect and considering the efficiency of light output. This spot is used to record a mark having a diameter of 0.22 microns on a medium capable of forming a mark of 1/4 or less of the recording spot. As the structure of this medium

(1) 미리 0.22 미크론 정도를 목표로 한 모양을 갖는 미소 마크가 기록된 매립 마크층을 설치하고, 샘플서보에 의해 이 위에 기록 스폿을 위치시켜서, 매립된 비트로부터 클릭을 작성하고, 이 클릭에 따라 매립 마크를 자기 전사하는지의 여부에 따라 정보 마크를 재생층에 기록한다. 재생층에 기록된 마크는 매립 마크 형상으로 되어 기록 스폿에 의존하지 않는 미소 마크로 된다.(1) A buried mark layer in which a micromark having a shape aimed at about 0.22 microns is recorded in advance, a recording spot is placed thereon by a sample servo, and a click is made from the embedded bit. Therefore, the information mark is recorded in the reproduction layer depending on whether or not the buried mark is self-transferred. The mark recorded in the reproduction layer becomes a buried mark shape and becomes a micro mark that does not depend on the recording spot.

(2) 기록 감도 특성을 미소 영역에서 국부적으로 변화시켜서 기록 스폿에 의존하지 않는 미소 마크를 작성한다. 구체적인 수단으로서는 기록막에 강력한 레이저광을 조사하고, 국부적으로 구조를 완화시켜서 보자력을 약화시킨다.(2) A micro mark that does not depend on the recording spot is created by locally changing the recording sensitivity characteristic in the micro area. As a specific means, a laser beam is irradiated to the recording film, and the structure is loosened locally to weaken the coercive force.

(3) 광 디스크의 기판에 미소 요철의 패턴을 인젝션으로 미리 설치하고, 자기 마크의 형성의 핵(核)으로 하여, 기록 마크가 국부적으로 형성되기 쉽게 한다. 이로써 기록 스폿에 의존하지 않는 미소 마크를 작성한다.(3) A pattern of minute unevenness is preliminarily provided on the substrate of the optical disk by injection, and the recording marks are easily formed locally by the nucleus of the formation of the magnetic marks. This creates a micromark that does not depend on the recording spot.

이상에 의해 형성된 마크에 복수 또는 단수의 스폿을 샘플 서보를 사용하여 위치 결정하고, 매립 마크로부터 작성된 클럭에 따라 2차원 격자점 상에 광 스폿이 위치 결정된 때에 펄스 조사를 행하고, 반사광을 격자점에 동기한 타이밍으로 검출하고 각각 샘플 호울드한다. 인접 격자점으로부터의 간섭량을 학습 영역에서 미리 구해놓고, 샘플호울드 후의 검출 신호로부터 간섭량을 제거하는 처리를 행하여, 격자점에 기록된 마크의 유무를 검출한다.A plurality of or a single spot is positioned on the mark formed by the above using sample servo, pulse irradiation is performed when the light spot is positioned on the two-dimensional lattice point according to the clock generated from the buried mark, and the reflected light is directed to the lattice point. Detection is performed at the synchronized timing, and each sample is sampled. The amount of interference from the adjacent grid points is obtained in advance in the learning area, and a process of removing the amount of interference from the detection signal after the sample holder is performed to detect the presence or absence of a mark recorded at the grid point.

본 발명은 광학적으로 정보를 기록 및 재생하는 장치, 특히 원판 형상의 매체에 정보를 기록 재생하는 광 디스크 장치의 고밀도화에 관한 것이다.The present invention relates to a high density of an apparatus for optically recording and reproducing information, particularly an optical disc apparatus for recording and reproducing information on a disc-shaped medium.

제1도는 본 발명의 기록 마크와 기록 재생 스폿과의 관계를 설명하기 위한 평면도이다.1 is a plan view for explaining the relationship between a recording mark and a recording / reproducing spot of the present invention.

제2도는 본 발명의 광학적 초해상의 광학계 구성 블럭도이다.2 is a block diagram of the optical system of the optical super resolution of the present invention.

제3도는 본 발명의 광학적 초해상의 광학 필터 구성 설명도이다.3 is an explanatory diagram of the optical filter configuration of the optical super resolution of the present invention.

제4도는 본 발명의 광학 초해상에 의한 효과를 설명하는 블럭도이다.4 is a block diagram illustrating the effect of the optical super resolution of the present invention.

제5도는 보자력과 기록막상의 온도와의 관계를 설명하는 블럭도이다.5 is a block diagram explaining the relationship between the coercive force and the temperature on the recording film.

제6도는 자화 마크의 기록 과정의 설명도이다.6 is an explanatory diagram of a recording process of a magnetization mark.

제7A도 및 제7B도는 각각 본 발명의 매체의 일실시예의 구성 및 측정 결과를 설명하는 도면이다.7A and 7B are diagrams illustrating the configuration and measurement results of one embodiment of the medium of the present invention, respectively.

제8A도 및 제8B도는 각각 본 발명의 다른 일실시예의 구성 및 측정 결과를 설명하는 도면이다.8A and 8B are diagrams illustrating the configuration and measurement results of another embodiment of the present invention, respectively.

제9A도 및 제9B도는 각각 본 발명의 매체의 또 다른 실시예의 구성 및 측정결과를 설명하는 도면이다.9A and 9B are views for explaining the configuration and measurement results of another embodiment of the medium of the present invention, respectively.

제10A도 및 제10B도는 TbFeCo 조성의 자화 마크의 제어 성능의 블럭도이다.10A and 10B are block diagrams of the control performance of the magnetization marks of the TbFeCo composition.

제11도는 광 스폿 조사에 따른 온도 분포의 블럭도이다.11 is a block diagram of a temperature distribution according to light spot irradiation.

제12도는 보자력과 기록 온도의 그래프이다.12 is a graph of coercive force and recording temperature.

제13도는 RE 리치 조성의 기록 전력 변동에 의한 마크 직경의 변동의 그래프이다.13 is a graph of variation in mark diameter due to variation in recording power of RE rich composition.

제14도는 TM 리치 조성의 기록 전력 변동에 의한 마크 직경의 변동의 그래프이다.14 is a graph of variation in mark diameter due to variation in recording power of TM rich composition.

제15도는 본 발명의 기록 재생계의 구성 블럭도이다.Fig. 15 is a block diagram of the recording and reproducing system of the present invention.

제16도는 본 발명의 기록 재생계의 스폿 배치의 평면도이다.16 is a plan view of the spot arrangement of the recording and reproduction system of the present invention.

제17도는 본 발명의 트래킹 에러 신호 검출 과정의 설명도이다.17 is an explanatory diagram of a tracking error signal detection process of the present invention.

제18도는 본 발명의 트래킹 에러 신호를 검출하는 연산 회로의 블럭 설명도이다.18 is a block explanatory diagram of an arithmetic circuit for detecting the tracking error signal of the present invention.

제19도는 본 발명에 따라 검출된 트래킹 에러 신호를 설명하는 그래프이다.19 is a graph illustrating the tracking error signal detected in accordance with the present invention.

제20도는 본 발명에 따라 검출된 트래킹 에러 신호를 이용한 제어 회로의 회로도이다.20 is a circuit diagram of a control circuit using the tracking error signal detected according to the present invention.

제21도는 본 발명의 기록 방법의 트랙 레이아웃을 설명하는 평면도이다.21 is a plan view for explaining the track layout of the recording method of the present invention.

제22도는 본 발명의 기록 방법의 다른 트랙 레이아웃을 설명하는 평면도이다.22 is a plan view for explaining another track layout of the recording method of the present invention.

제23도는 본 발명의 재생을 위한 간섭계수를 학습하는 설명의 평면도이다.23 is a plan view of the explanation of learning the interference coefficient for reproduction of the present invention.

제24도는 본 발명의 데이타 기록 회로의 개략적인 블럭도이다.24 is a schematic block diagram of a data write circuit of the present invention.

제25도는 본 발명의 데이타 검출부를 설명하는 블럭도이다.25 is a block diagram illustrating a data detection unit of the present invention.

제26도는 본 발명의 데이타 선택부를 설명하는 블럭도이다.26 is a block diagram for explaining a data selection section of the present invention.

제27도는 본 발명의 데이타 기록부의 한 실시예를 설명하는 블럭도이다.Fig. 27 is a block diagram for explaining an embodiment of the data recording section of the present invention.

제28도는 본 발명의 데이타 재생 회로의 개략적인 블럭도이다.28 is a schematic block diagram of the data reproducing circuit of the present invention.

제29도는 본 발명의 데이타 재생에 있어거의 검출부를 설명하는 블럭도이다.Fig. 29 is a block diagram for explaining the almost detection unit in the data reproduction of the present invention.

제30도는 본 발명의 기록 재생의 동기 보정부를 설명하는 블럭도이다.30 is a block diagram illustrating a synchronous correction unit of recording and reproducing of the present invention.

제31도는 본 발명의 재생 신호 처리를 설명하는 블럭도이다.31 is a block diagram for explaining reproduction signal processing of the present invention.

제32도는 본 발명의 영역 인식 회로를 설명하는 도면이다.32 is a diagram illustrating an area recognition circuit of the present invention.

제33도는 간섭계수의 설명도이다.33 is an explanatory diagram of an interference coefficient.

제34도는 다아릴 에텐 유도체의 스펙트럼 특성의 그래프이다.34 is a graph of the spectral characteristics of a polyaryl ethene derivative.

제35도는 본 발명의 광검출기의 구성도이다.35 is a configuration diagram of the photodetector of the present invention.

제36도는 광호변성 재료의 입사 에너지 밀도와 투과율의 관계를 도시하는 그래프이다.36 is a graph showing the relationship between the incident energy density and the transmittance of the photochromic material.

제37도는 광호변성 재료의 입사 전력 밀도와 투과광 전력 밀도의 관계를 도시하는 그래프이다.37 is a graph showing the relationship between the incident power density and the transmitted light power density of the photochromic material.

제38A도 및 제38B도는 자기 초해상의 원리도이다.38A and 38B are principle diagrams of magnetic super resolution.

제39A도, 제39B도, 제39C도 및 제39D도는 본 발명의 기록 재생 방법에 있어서 마크 배열과 신호 처리를 설명하는 도면이다.39A, 39B, 39C, and 39D are views for explaining mark arrangement and signal processing in the recording and reproducing method of the present invention.

제40도는 본 발명의 격자점 간격에 존재하는 마크로부터 검출된 신호와 처리영역을 설명하는 도면이다.40 is a diagram for explaining a signal and a processing area detected from marks existing in the grid point intervals of the present invention.

제41도는 광 디스크에 있어서 부분 응답(1, 1)의 설명도이다.41 is an explanatory diagram of partial responses 1 and 1 in the optical disk.

제42도는 본 발명의 인접 트랙으로부터의 간섭을 없앤 부분 응답 처리를 설명하는 도면이다.42 is a view for explaining the partial response process which eliminates the interference from the adjacent track of the present invention.

제43A도 및 제43B도는 본 발명의 인접 트랙으로부터의 간섭을 제거한 때와 제거하지 않을 때의 부분 응답의 파형을 설명하는 도면이다.43A and 43B are diagrams for explaining waveforms of partial responses when the interference from adjacent tracks of the present invention is removed and not removed.

제44A도 내지 제44D도는 펄스 재생 방식의 원리를 설명하는 도면이다.44A to 44D are diagrams for explaining the principle of the pulse regeneration method.

제45도는 신호 레벨과 노이즈 레벨의 주파수 스펙트럼을 나타내는 그래프도이다.45 is a graph showing the frequency spectrum of the signal level and the noise level.

제46도는 개별 노이즈 레벨의 주파수 스펙트럼의 그래프도이다.46 is a graphical representation of the frequency spectrum of individual noise levels.

제47도는 신호 레벨과 노이즈 래밸의 재생 전력 의존 특성 그래프이다.FIG. 47 is a graph of regenerative power dependency characteristics of signal level and noise level.

제48도는 SN의 재생 전력 의존 특성 그래프도이다.48 is a graph illustrating regenerative power dependency characteristics of SN.

제49도는 케르 회전각의 온도 의존 특성 그래프이다.49 is a temperature dependent characteristic graph of Kerr rotation angle.

제50도는 선속도와 피크 온도 유지 전력의 관계와 그 때의 SN의 관계를 나타내는 그래프도이다.50 is a graph showing the relationship between the linear velocity and the peak temperature holding power and the SN at that time.

제51도는 직류 조사시와 펄스 조사시의 온도 분포 그래프이다.51 is a graph of temperature distribution at the time of direct current irradiation and pulse irradiation.

제52A도 내지 제52D도는 제2 펄스 재생 방식의 설명도이다.52A to 52D are explanatory diagrams of the second pulse regeneration method.

본 발명을 실시하기 위한 최상의 형태Best Mode for Carrying Out the Invention

제1도는 본 발명의 기록 매체상의 외양을 도시한다.1 shows the appearance on the recording medium of the present invention.

기록 스폿(101, 101', 101")은 광원으로 파장 685 nm의 반도체 레이저를 이용해서 디스크 반경 방향으로 광학적 초해상을 행하고 있다. 반도체 레이저로부터의 레이저는 개구수 0.55의 광학계를 이용해서 디스크면상에 포커싱하고, 기록 스폿(101)의 크기를 디스크 원주 방향으로 1.24 ㎛, 반경방향으로 0.87 ㎛로 한다. 기록되는 정보 마크(102)의 크기는 디스크 원주 방향으로 0.22 ㎛, 반경 방향으로 약 0.30 ㎛이다. 정보 마크(102) 끼리의 최소 간격은 약 0.22 ㎛이다. 트랙의 피치는 약 0.30 ㎛이다. 재생 스폿(103a, 103b, 103c)은 파장 533 nm의 레이저를 후술하는 자기 초해상(FAD) 및 광학적 초해상을 이용하여, 디스크 원주 방향으로 0.96 ㎛이고, 반경 방향으로 0.67 ㎛의 크기로 한다. 또, 정보 마크(102)에 앞서 클럭 마크(104), 워블 마크(105), 어드레스 마크(106) 등이 요철 형상으로 형성되어 있다.The recording spots 101, 101 'and 101 "perform optical superresolution in the radial direction of the disc using a semiconductor laser having a wavelength of 685 nm as a light source. The laser from the semiconductor laser is formed on the disc surface using an optical system having a numerical aperture of 0.55. The size of the recording spot 101 is 1.24 mu m in the circumferential direction and 0.87 mu m in the radial direction, and the size of the information mark 102 to be recorded is 0.22 mu m in the disk circumferential direction and about 0.30 mu m in the radial direction. The minimum spacing between the information marks 102 is about 0.22 占 The pitch of the track is about 0.30 占 The reproduction spots 103a, 103b, 103c are magnetic super-resolutions (FADs), which describe lasers having a wavelength of 533 nm. And an optical super-resolution, with a size of 0.96 mu m in the circumferential direction of the disk and 0.67 mu m in the radial direction, and the clock mark 104, wobble mark 105, and address mark (before the information mark 102). 106) the back Formed.

제2도에는 광학적 초해상의 구체 구성을 도시한다. 반도체 레이저(261)로부터의 빛을 커플링 렌즈(202)에 의해 평행 빔으로 하고, 프리즘(204) 등을 통해 대물 렌즈(205)로 인도하고, 결상면(206) 위에 결상한다. 이 광 경로 중에 차폐판(203)을 삽입한다.2 shows a concrete configuration of an optical super resolution. The light from the semiconductor laser 261 is made into a parallel beam by the coupling lens 202, guided to the objective lens 205 through the prism 204, and the like and formed on the imaging surface 206. The shield plate 203 is inserted in this optical path.

제3도에는 차폐판(203)을 상세히 도시한다. 차폐판(206)은 직경(r)의 빔의 일부를 광축을 중심으로 직경(r')만큼 차폐한다. 차폐(α)는 (r)과 (r')의 비(r'/r)로 정의한다. 차폐비(d)를 크게 해가면, 결상면(206) 상에 포커스된 중심 스폿의 양측에 별도의 광 스폿이 보이고, 한가운데의 스폿의 중심 강도가 감소하여 간다. 그러나, 한가운데의 스폿 크기는 작아진다. 이러한 스폿은 제1도의부호(101, 101', 101")에 대응한다.3 shows the shield plate 203 in detail. The shield plate 206 shields a part of the beam of diameter r by the diameter r 'about the optical axis. Shielding (alpha) is defined as ratio (r '/ r) of (r) and (r'). When the shielding ratio d is increased, separate light spots are seen on both sides of the center spot focused on the imaging surface 206, and the center intensity of the center spot decreases. However, the spot size in the middle becomes small. These spots correspond to reference numerals 101, 101 ′, 101 ″ in FIG. 1.

제4도에는 차폐비(α)와 스폿 크기의 관계를 도시한다. exp.는 실험치이고, cal.은 계산치이며, 규격화 스폿 직경의 기준치는 차폐비(α)가 0인 경우이다. 스폿 크기를 7할 정도로 미소화한 경우, 차페비는 0.7 정도이고, 스폿의 중심 강도는 50% 정도가 된다. 이 때의 양측의 스폿의 강도는 한가운데의 스폿의 강도의 2할 정도이고, 기록시에는 양측의 스폿으로 기록되는 경우가 없어서 문제가 없다.4 shows the relationship between the shielding ratio α and the spot size. exp. is an experimental value, cal. is a calculated value, and the reference value of the normalized spot diameter is a case where the shielding ratio (alpha) is zero. When the spot size is reduced to about seven, the chape ratio is about 0.7, and the spot center strength is about 50%. At this time, the intensity of the spots on both sides is about 20% of the intensity of the spot in the middle, and there is no problem because the spots on both sides are not recorded at the time of recording.

상술한 기록 스폿을 이용하여, 스폿 크기의 약 1/4의 크기를 갖는 마크의 형성 원리를 설명한다. 광자기 마크의 자벽은 자기적인 에너지의 안정 조건에 의해 결정된다. σw를 단위 면적당 자벽 에너지, Ms를 포화 자화, r을 자구의 반경, Hd를 자벽에 작용하는 반자계, Hext를 외부 자계로 하면, 자벽을 넓힐 수 있도록 하는 힘의 기초가 되는 자계의 합 Htotal은 이하의 식(1)로 표기된다.Using the above-described recording spot, the principle of formation of a mark having a size of about 1/4 of the spot size will be described. The magnetic wall of the magneto-optical mark is determined by the stable conditions of magnetic energy. The sum of the magnetic field Htotal, which is the basis of the force that makes the magnetic domain wider when σw is the magnetic domain energy per unit area, Ms is the saturation magnetization, r is the radius of the magnetic domain, Hd is the anti-magnetic field acting on the magnetic wall, and Hext is the external magnetic It is represented by the following formula (1).

Htotal = Hext + Hd - σw/2rMs ···(1)Htotal = Hext + Hd-σw / 2rMs

자벽은 기록막의 보자력 Hc와 상기 Htotal의 균형이 얻어진 곳에서 결정된다.The magnetic wall is determined where the balance between the coercive force Hc of the recording film and the Htotal is obtained.

제5도에는 보자력 Hc의 일반적인 보자력과 온도의 관계를 도시한다. 레이저의 조사에 의해 기록막상의 온도 분포가 변화하고, 제5도에서 Htotal과 Hc의 균형이 취해지는 온도 Trec가 되는 곳에서 자벽이 중지되고, 반전자화 마크가 형성된다. 기록 마크의 안정성은 전력 변동에 대한 자벽 위치의 변화, 즉 자화 마크의 형상 변화량으호 표현될 수 있다.5 shows the relationship between the general coercive force and the temperature of the coercive force Hc. The temperature distribution on the recording film is changed by the irradiation of the laser, and the magnetic domain wall is stopped at the place where the temperature Trec where Htotal and Hc is balanced in FIG. 5 is formed, and an inverted magnetization mark is formed. The stability of the recording mark can be expressed by the change of the position of the magnetic wall with respect to the power fluctuation, that is, the shape change amount of the magnetization mark.

제6도에는 자화 마크의 형성 원리를 도시한다. 수직 자화막(601)에 광빔(602)을 조사하는 것과 동시에 외부 자장(603)을 인가해서 자화 마크를 형성한다. 통상, 점선으로 표시한 것처럼 기록 온도 Trec는 디스크 전면에서 동일하다. 그리고, 광 빔의 조사에 의해 형성된 온도 분포(604)와 기록 온도 Trec의 교점에서 자화 마크의 자벽이 결정되고, 수직 자화막(601) 상에 자력(605)이 형성되어 있다. 이 때의 마크(606)의 폭은 스폿 크기의 반 정도로 안정 상태를 취하도록 되어 있다.6 shows the formation principle of the magnetization mark. At the same time as the light beam 602 is irradiated to the vertical magnetization film 601, an external magnetic field 603 is applied to form magnetization marks. Normally, as indicated by the dotted line, the recording temperature Trec is the same on the front of the disc. Then, the magnetic walls of the magnetization marks are determined at the intersection of the temperature distribution 604 formed by the irradiation of the light beam and the recording temperature Trec, and a magnetic force 605 is formed on the vertical magnetization film 601. The width of the mark 606 at this time is about half of the spot size to be stable.

그러나, 본 발명에서는, 제5도의 보자력 특성 또는 상기의 Htotal을 국부적으로 변화시킨 기록 온도를 T'rec로 하고, 디스크면상에서의 기록 온도 특성을 국부적으로 저하시킨다. 그리고, 기록 온도를 국부적으로 저하시킨 부분에 광 스폿을 조사하여 온도 분포(604a)를 형성한다면, 기록 온도 T'rec와 온도 분포 604a의 교점은 온도 분포의 피크 부분으로 된다. 따라서, 수직 자화막상에는 자벽(605a)이 형성되고, 자화 마크(606a)의 폭은 종래의 자화 마크(606)의 폭보다도 좁아진다. 종래의 온도 분포의 피크 부분에서는 온도 분포의 변화에 대해서도 교점의 변동이 크게 안정적이지는 않았지만, 본 발명에 의하면 기록 온도의 위치에 대한 기울기가 온도 분포의 위치에 대한 기울기와는 역극성이므로 온도 분포 변화에 대하여 교점의 변동은 억제된다. 이에 따라서, 종래보다도 낮은 기록 에너지로 미소 마크를 안정하게 형성할 수 있다.However, in the present invention, the coercive force characteristic of FIG. 5 or the recording temperature at which Htotal is locally changed is set to T'rec, and the recording temperature characteristic on the disk surface is locally lowered. Then, if the light spot is irradiated to the portion where the recording temperature is locally lowered to form the temperature distribution 604a, the intersection of the recording temperature T'rec and the temperature distribution 604a becomes the peak portion of the temperature distribution. Therefore, the magnetic wall 605a is formed on the vertical magnetization film, and the width of the magnetization mark 606a is smaller than the width of the conventional magnetization mark 606. In the peak portion of the conventional temperature distribution, the variation of the intersection point was not very stable even with the change of the temperature distribution. However, according to the present invention, the slope with respect to the position of the recording temperature is reverse polarity with the slope with respect to the position of the temperature distribution. For the change, the variation of the intersection is suppressed. As a result, it is possible to stably form the micromark with a lower recording energy than before.

기록 온도를 변화시키는 방법에는 2가지 방법이 있다. 한가지는 매체의 보자력 특성을 국부적으로 변화시키는 방법이고, 다른 한가지는 Htotal을 국부적으로 변화시키는 방법이다. 매체의 보자력 특성을 국부적으로 변화시키는 방법에 대해서제7도 내지 제9도를 이용하여 설명한다.There are two ways to change the recording temperature. One is to change the coercive force characteristics of the media locally, and the other is to locally change the Htotal. A method of locally changing the coercive force characteristic of the medium will be described with reference to FIGS.

제7도에는 디스크상에 국부적으로 구조 완화를 일으키는 예를 도시한다. 구조 완화는 어닐 작용에 의해 자기 이방성을 약하게 하는 것에 의해 기록 매체의 보자력을 국소적으로 약화시킬 수 있다.7 shows an example of causing local relaxation on the disc. Structural relaxation can locally weaken the coercive force of the recording medium by weakening magnetic anisotropy by annealing.

제7A도에는 구조 완화를 일으킨 기록 매체(701)에 광 빔(702)으로 기록을 행하는 상황을 도시한다. 구조 완화를 일으키는 부분(703)에서는 제5도에 도시한 온도의 보자력 특성이 국소적으로 저하하지만, Htotal은 변화하지 않기 때문에 실효적인 기록 온도(704)는 저하한다. 따라서, 광 빔에 의해 온도 분포(705)를 형성하면 작은 자화 마크(706)가 형성된다. 보자력의 저하량은 어닐을 위해 주어진 에너지에 의존한다. 어닐의 방법으로서는 국부적으로 고에너지의 빛을 조사하고, 온도에 따라 구조 완화를 일으키게 한 것이 있다. 이 방법에서는 고에너지 분포에 의해 국부적인 보자력의 저하량이 변화하고, 이에 따라 기록 온도가 변한다. 국부적인 영역을 좁게 하기 위해서는 양호하게는 기록 스폿보다도 미소한 스폿에 의해 기록하는 것이 양호하다. 현재 기록 스폿은 기록 파장 680 nm와, 개구수 0.55로 결정되지만, 구조 완화를 일으키기 위해 광 디스크의 원반을 작성할 때에 사용하는 단파장의 레이저와 높은 개구수의 렌즈가 사용될 수 있다. 현재 사용하고 있는 레이저와 렌즈의 조합으로는 스폿 크기를 0.45 미크론 정도로 할 수 있고, 따라서 어닐 영역을 0.2 미크론 정도로 좁힐 수 있다.FIG. 7A shows a situation where recording is performed by the light beam 702 on the recording medium 701 which caused the structure relaxation. In the part 703 which causes the structure relaxation, the coercive force characteristic of the temperature shown in FIG. 5 locally decreases, but since Htotal does not change, the effective recording temperature 704 decreases. Therefore, when the temperature distribution 705 is formed by the light beam, small magnetization marks 706 are formed. The decrease in coercive force depends on the energy given for the annealing. As an annealing method, there is a method of locally irradiating high energy light and causing structural relaxation depending on temperature. In this method, the amount of decrease in local coercive force changes due to the high energy distribution, and thus the recording temperature changes. In order to narrow the local area, it is preferable to record by a spot smaller than the recording spot. Currently, the recording spot is determined with a recording wavelength of 680 nm and a numerical aperture of 0.55, but a short-wavelength laser and a high numerical aperture lens used when creating the disc of the optical disk can be used to cause structure relaxation. The combination of lasers and lenses currently in use allows the spot size to be around 0.45 microns, thus narrowing the anneal area to about 0.2 microns.

제7B도에는 구조 완화를 발생시키고 그 위에 기록을 할 때의 재생 출력의 측정 데이타(707)를 종래의 데이타(708)와 비교하여 도시한다. 기록 전력을 저하시켜가면, 종래의 방식으로는 기록 온도와 온도 분포의 교점이 피크점에 접근하여 전력 변동에 의해 급격히 마크가 변화하고, 재생 출력이 저하한다. 그러나, 구조완화한 후에 마크를 기록하면, 기록 전력이 클 때에는 구조 완화 영역보다도 마크가 크면 대부분 종래에서와 동일한 양식의 마크가 형성되기 때문에, 재생 신호상에 어긋남은 없다. 그러나, 기록 전력을 저하시켜 가고 기록 마크가 구조 완화 영역 내에 걸려있다면, 기록 전력 변화에 대한 마크 폭 변화가 작아지므로, 출력 레벨의 변화가 작아진다.FIG. 7B shows measurement data 707 of the reproduction output at the time of generating structure relaxation and recording thereon in comparison with the conventional data 708. FIG. When the recording power is lowered, in the conventional method, the intersection of the recording temperature and the temperature distribution approaches the peak point, the mark changes rapidly due to the power variation, and the reproduction output decreases. However, when the mark is recorded after the structure is relaxed, when the mark is larger than the structure relaxed area when the recording power is large, most marks of the same style as in the prior art are formed, so that there is no deviation in the reproduced signal. However, if the recording power is lowered and the recording mark is caught in the structure relaxation area, the change in mark width with respect to the change in recording power becomes small, so that the change in output level becomes small.

제8도에는 기록 매체의 기록 마크를 형성하는 영역은 종래의 보자력과 동일하게 하고, 그 이외의 영역의 보자력을 상승시킬 수 있는 구조로 된 예를 설명한다.In FIG. 8, an example is described in which the region forming the recording mark of the recording medium is made the same as the conventional coercive force, and the coercive force of the other regions can be increased.

제8A도에는 본 발명의 매체를 도시한다. 이 수직 자화막(701)에서는 자화 마크(706)가 형성된 부분 이외의 표면 거칠기를 거칠게 하여 보자력을 향상시킨다. 즉, 자화 마크(706)가 형성되는 부분만을 평단부(801)호 한다. 따라서, 평탄부(801) 이하에서는 자벽을 중지시키는 표면 에너지가 증가하고, 외관상의 보자력을 증가시킬 수 있다. 이 구성에 의해, 기록 온도(604)는 마크 영역에서는 상대적으로 저하한다.8A shows the medium of the present invention. In this vertical magnetization film 701, the coercive force is improved by making the surface roughness other than the portion where the magnetization mark 706 is formed. That is, only the portion where the magnetization mark 706 is formed is called the flat end portion 801. Therefore, below the flat portion 801, the surface energy for stopping the magnetic wall may increase, and the apparent coercive force may increase. By this configuration, the recording temperature 604 is relatively lowered in the mark area.

표면 거칠기를 거칠게 하는 방법으로서는, 우선 광을 조사한 곳에서만 교차하고, 현상액에서 용해되지 않는 특성을 갖는 레지스트를 사용하여, 2차원 격자점 형상의 미소 마크부에 빛을 조사한다. 현상 과정에서, 농도가 진한 현상액에서 에칭하는 것에 의해 2차원 격자점을 제거한 표면을 거칠게 한다. 이와 같이 해서, 작성한 원반으로부터 스탬퍼를 작성하고, 플라스틱으로 거칠게 한 면을 스탬핑하므로써 미소 마크 주위의 표면 거칠기를 거칠게 할 수 있다. 제8B도에는 자구의 폭과 기록 전력의 관계를 도시한다. 0.2 ㎛폭의 스트라이프형 평탄부를 형성하고, 이 양측의 표면 거칠기를 거칠게 한 경우, 형성된 자구의 폭과 기록 전력의 관계는 부호(807)와 같이 된다. 표면 거칠기를 거칠게 하지 않은 경우의 데이타(808)보다도 형성된 자구의 폭이 작아진 것을 알 수 있다.As a method of roughening the surface roughness, first, light is irradiated to the micromark portion in the form of a two-dimensional lattice point by using a resist having a characteristic of crossing only in a region where light is irradiated and insoluble in a developing solution. In the development process, the surface from which the two-dimensional lattice points have been removed is roughened by etching in a concentrated developer. In this way, the surface roughness around a micro mark can be roughened by creating a stamper from the created disk and stamping the surface roughened with plastics. 8B shows the relationship between the width of the magnetic domain and the recording power. When a stripe flat portion having a width of 0.2 占 퐉 is formed and the surface roughness on both sides is roughened, the relationship between the width of the formed magnetic domain and the recording power becomes as shown by reference numeral 807. It can be seen that the width of the formed magnetic domain is smaller than that of the data 808 when the surface roughness is not roughened.

제9도에서는 자계를 국부적으로 변화시킨 예를 도시한다.9 shows an example in which the magnetic field is locally changed.

제9A도에 도시된 바와 같이, 기록막(901)에 자기적으로 접해서 미소 자화 마크(902)를 미리 매립한 층(903)을 설치해 둔다. 미소 자화 마크(902)를 2차원으로 배열하고, 매립층(903)에 접한 기록층(901) 상의 외부 자장을 자화 마크(902)가 발생하는 자장 만큼만 증가시키는 것에 의해 실효적인 Htotal을 변화시킨다.As shown in FIG. 9A, a layer 903 is provided in which the micromagnetization mark 902 is embedded in contact with the recording film 901 magnetically. The micro-magnetization marks 902 are arranged in two dimensions, and the effective Htotal is changed by increasing the external magnetic field on the recording layer 901 in contact with the buried layer 903 by only the magnetic field generated by the magnetization marks 902.

제5도를 참조하여 이의 작용을 설명한다면, 기록막의 자기 특성이 변화하지 않아도, 종래의 Htotal에 대하여 매립 마크에 의한 자화로 인해 H'total로 변화하면, 기록 온도는 Trec에서 T'rec로 저하한다. 따라서, 제9A도에서 기록 온도(904)가 매립 마크 상에서 저하하기 위해, 기록막상의 온도를 곡선(705)과 같이 상승시키면, 기록 온도(904)의 저하 영역에 대응하는 기록 마크(706)가 형성된다. 제9B도에는 기록시의 마크 형성 전력외, 이 마크를 재생할 때의 출력 신호의 관계를 도시한다.Referring to FIG. 5, the operation of the recording film is lowered from Trec to T'rec even if the magnetic properties of the recording film do not change, but change from Hc to H'total due to magnetization by a buried mark. do. Therefore, in order to reduce the recording temperature 904 on the buried mark in FIG. 9A, if the temperature on the recording film is raised as shown by the curve 705, the recording mark 706 corresponding to the lowered area of the recording temperature 904 is formed. Is formed. Fig. 9B shows the relationship between the mark forming power at the time of recording and the output signal at the time of reproducing this mark.

다음으로, 기록막의 조성을 변화시키므로써, 미소 도메인을 형성하는 방법에 대해서 기술한다. 광자기 기록막의 기본적 구성은 TbFeCo의 3원자 아몰퍼스 구조로되어 있다. Tb와 Fe의 비율에 따라, 수직 자기 특성에 차이가 생긴다.Next, a method of forming the micro domains by changing the composition of the recording film will be described. The basic structure of the magneto-optical recording film has a three-atomic amorphous structure of TbFeCo. Depending on the ratio of Tb and Fe, there is a difference in the perpendicular magnetic properties.

제10A도에는 Fe가 많은 TM 리치와 Tb가 많은 RE 리치에서의 보자력과 온도의 관계를 도시한다. 온도에 대한 보자력 특성의 경사가 TM 리치와 비교하여 RE 리치 쪽이 가파르다. 기록 온도와 기록 마크의 관계에 대해서는 제5도에 설명한 보자력 특성이 제10도와 같은 특성으로 되면 종래보다도 미소한 마크를 안정하게 형성할 수 있고, 또 Htotal의 변동에 대응하여 기록 마크의 변동이 억제된다.FIG. 10A shows the relationship between coercive force and temperature in a Fe rich TM rich and a Tb rich RE rich. The slope of the coercive force characteristic with respect to temperature is steeper compared to the TM rich. Regarding the relationship between the recording temperature and the recording mark, if the coercive force characteristic described in FIG. 5 becomes the same as that of FIG. 10, fine marks can be formed more stably than before, and variations in the recording mark are suppressed in response to variations in Htotal. do.

제10B도에는 기록 전력과 신호 출력의 관계를 도시한다. 상술한 이유에 의해, 기록 전력에 대한 출력 신호의 의존성도 RE 리치 쪽이 적다.10B shows the relationship between the write power and the signal output. For the reason described above, the dependence of the output signal on the write power is less in RE rich.

이 이유를 더 상세하게 제11도, 제l2도, 제13도 및 제14도를 써서 설명한다.This reason will be described in more detail with reference to FIGS. 11, 12, 13, and 14.

제11도는 실온 20도에 있는 매체로 레이저 광을 조사한 경우의, 각 매체마다의 온도 분포를 도시한다. 매체상의 온도 분포는 짧은 펄스를 조사한 때는 거의 스폿 분포가 같게 된다는 것을 알 수 있다.FIG. 11 shows the temperature distribution for each medium when the laser light is irradiated on the medium at room temperature 20 degrees. It can be seen that the temperature distribution on the medium is almost the same when the short pulse is irradiated.

제12도에는 제10A도에 대응하는 각 매체의 보자력 특성을 도시한다. 이 보자력 특성과 Htotal로부터 결정된 기록 온도에 의해 0.2 미크론의 기록 마크를 형성한다.FIG. 12 shows the coercive force characteristic of each medium corresponding to FIG. 10A. This coercive force characteristic and the recording temperature determined from Htotal form a recording mark of 0.2 micron.

제11도의 온도 분포에 의한 마크의 변위와 보자력의 관계를, 제13도에는 RE 리치 매체에 대해서, 제14도에는 TM 리치 매체에 대해서 나타낸다. 기록 전력이 0.2 미크론의 기록 마크를 기록할 수 있는 값으로부터 0.9에서 1.1배 변화한 때의 마크 변동이 Htotal과 보자력 특성의 교점으로부터 구해진다. 이 결과 RE 리치쪽이 마크폭 변동이 적다는 것을 알 수 있다. 제7도 내지 제9도의 기록막 구조와 RE 리치의 기록 매체를 이용하여 동일한 스폿에서 기록한 때에 종래의 반 정도의 폭을 갖는 기록 마크를 형성할 수 있다.The relationship between the displacement of the mark and the coercive force due to the temperature distribution in FIG. 11 is shown in FIG. 13 for the RE rich medium and in FIG. 14 for the TM rich medium. Mark variation when the recording power is changed from 0.9 to 1.1 times from a value capable of recording a 0.2 micron recording mark is obtained from the intersection of Htotal and the coercive force characteristic. As a result, it can be seen that the RE rich side has less mark width variation. When recording at the same spot using the recording film structure of FIGS. 7 to 9 and a RE-rich recording medium, recording marks having a width about half of the conventional one can be formed.

제15도는 본 발명의 기록 재생 장치의 구성도이다.15 is a configuration diagram of the recording and reproducing apparatus of the present invention.

재생용 광원인 SHG(300)로부터 나온 파장 532 nm의 레이저 광은 슬릿(302)을 통해 실린더형 렌즈(303)에 의해 한 방향으로 포커스된다. 부호(301)는 렌즈 광의 일부를 검출해서 렌즈 광의 강도를 제어하기 위해 A/O구동 회로(377)를 제어하는 검출기 계이다. 실린더형 렌즈(303)에서 포커스된 빛은 A/O 변조기(304)로 입력되고, 투과 회절광을 실린더형 렌즈(305)에 의해 원래의 빔 지름으로 변환된다. 원래의 빔 계로 변환된 빛은 슬릿(306)을 통해 빔 익스팬더(307)에 의해 빔의 지름을, 예를 들어 3배로 확대 변환한다. 변환 후의 빔은 편향 미러(309)와 반사 미러(310)에 따라 광 경로를 구부려서, 회절 격자(311)로 입사된다. 회절 격자(311)로 빛을 0차, ±1차 회절광의 3가지 빔으로 분할하고, 초해상용의 광학적 필터(308)를 통한 후, 광경로 합성용의 프리즘(3l2)으로 입사시킨다.Laser light having a wavelength of 532 nm from the SHG 300 which is a reproducing light source is focused in one direction by the cylindrical lens 303 through the slit 302. Reference numeral 301 denotes a detector system that controls the A / O driving circuit 377 to detect a part of the lens light and control the intensity of the lens light. Light focused at the cylindrical lens 303 is input to the A / O modulator 304 and the transmitted diffracted light is converted by the cylindrical lens 305 to the original beam diameter. The light converted to the original beam system is enlarged and converted, for example, by 3 times by the beam expander 307 via the slit 306. The converted beam is bent into the diffraction grating 311 by bending an optical path along the deflection mirror 309 and the reflection mirror 310. The diffraction grating 311 divides the light into three beams of 0th order and ± 1st order diffracted light, passes through the optical filter 308 for super resolution, and then enters the prism 3l2 for optical path synthesis.

기록용 광원인 파장 685nm의 반도체 레이저 광원(378)으로부터의 레이저를 커플링 렌즈 등의 광학계(399)에서 콜리메이트한 후 빔을 초해상용의 광학적 필터(313)를 통과시킨다. 필터(313)를 통과한 빛은 광편향기(314)와 반사 미러로 광경로를 구부려서 광경로 합성용 프리즘(316)으로 입사된다.The laser from the semiconductor laser light source 378 having a wavelength of 685 nm, which is a recording light source, is collimated by an optical system 399 such as a coupling lens, and then the beam is passed through an optical filter 313 for super resolution. The light passing through the filter 313 is incident on the optical path synthesis prism 316 by bending the optical path with the optical deflector 314 and the reflection mirror.

광경로 합성용 프리즘(312, 316)에 의해 파장 532nm, 685nm의 레이저 광이 합성되고, 반사 미러(318)와 빔 분리 프리즘(3l9)을 통과한 후 광 디스크(398)의 위를 이동하는 이동 광학계(320)를 향해 나아간다. 이동 광학계(320)에서는 고정광학계(321)로부터 나온 빔을 편향 미러로 스핀들 모터에 부착된 광 디스크(398)의 표면을 향해 구부린다. 구부러진 빔은 대물 렌즈에 의해 광 디스크(398) 상에 포커싱되어서 광 스폿을 형성한다. 형성된 광 스폿은 제l도의 기록 스폿(101), 재생 스폿(103)과 같은 위치 관계가 된다. 대물 렌즈와 광 편향 미러를 내장하는 이동 광학계(320)는 광 디스크의 반경 방향(380)으로 고속으로 이동하는 이동 테이블 상에 놓여져서 액센스 동작을 행함과 동시에 광 스폿을 트랙에 추종시키는 트래킹시에는 이동 테이블과 광 편향 미러를 연동시켜 움직이게 한다.A laser beam having a wavelength of 532 nm and 685 nm is synthesized by the optical path synthesis prisms 312 and 316 and moves over the optical disk 398 after passing through the reflection mirror 318 and the beam separation prism 3 l9. Towards the optical system 320. In the moving optical system 320, the beam from the fixed optical system 321 is bent toward the surface of the optical disk 398 attached to the spindle motor with a deflection mirror. The curved beam is focused on the optical disk 398 by the objective lens to form a light spot. The formed light spot has the same positional relationship as the recording spot 101 and the reproduction spot 103 in FIG. The moving optical system 320, which incorporates an objective lens and an optical deflection mirror, is placed on a moving table moving at a high speed in the radial direction 380 of the optical disk to perform an axing operation and simultaneously track an optical spot to the track. In this case, the moving table and the optical deflection mirror are interlocked to move.

광 디스크로부터의 반사광은 광 편향 미러를 통해 빔 분리 프리즘(319)으로 광 경로를 구부리고 난 후 반사 미러(353)로 구부려서 685nm 분리 프리즘(354)에 의해 서브 신호 및 클럭 신호 검출 광학계(355)로 입사된다. 또, 532nm의 빛은 프리즘(354)을 통과하고, 532nm분리 프리즘(356)에 의해 광자기 신호 검출계(357)로 입사된다.Reflected light from the optical disk is bent to the beam separation prism 319 through the optical deflection mirror and then to the reflection mirror 353 to the sub-signal and clock signal detection optics 355 by the 685 nm separation prism 354. Incident. The 532 nm light passes through the prism 354 and is incident on the magneto-optical signal detection system 357 by the 532 nm separation prism 356.

광자기 신호 검출계(357)로 입사한 빛은 2분의 1 파장판(358)으로 편광각을 약 45도 회전시키고, s.p 편광 분리 프리즘(359)을 통과한 s 편광과 p 편광의 3빔을 3분할 검출기(360, 370)로 검출하고, 제1도에서 도시한 재생 스폿(103a, 103b, 103c)에 대응하는 광 검출기로부터의 출력차를 차동 중폭기(371)호 형성하고, 광자기 신호(381)로서 검출한다. 광자기 신호(381)는 기록 재생 제어 회로(372)로 입력되어 후술하는 처리를 받는다.The light incident on the magneto-optic signal detector 357 rotates the polarization angle about 45 degrees with the half wave plate 358, and three beams of s-polarized light and p-polarized light passed through the sp polarized light separating prism 359. Is detected by the three-segment detector (360, 370), the output difference from the photo detector corresponding to the reproduction spots (103a, 103b, 103c) shown in FIG. Detection is made as a signal 381. The magneto-optical signal 381 is input to the recording / playback control circuit 372 and subjected to the processing described later.

서보 신호/클럭 신호 검출 광학계(355)에서는 제1도의 부호(104, 105, 106 등)의 마크를 검출한다. 검출된 신호(382)는 데이타 클럭 생성 회로(373)와 서보회로(374), 기록 재생 제어 회로(372)로 입력되고, 각각 클럭 신호의 발생, 트래킹제어, 자동 초점 제어의 제어 동작, 기록 재생 동작의 후술하는 제어를 행한다.The servo signal / clock signal detection optical system 355 detects a mark (104, 105, 106, etc.) shown in FIG. The detected signal 382 is input to the data clock generation circuit 373, the servo circuit 374, and the recording / playback control circuit 372, respectively, and generates clock signals, tracking control, control operation of autofocus control, and recording / playback. The following control of the operation is performed.

디스크를 회전시키는 스핀들(383)은 스핀들에 부착된 인코더로부터의 신호를 회전 제어계(375)로 보내고, 기준 클럭과의 동기를 취해서 일정 회전수가 되도록 스핀들 드라이버(384)를 통해 스핀들을 제어한다. 기록 재생 제어 회로(372)로부터 제어 동작의 명령을 서보 회로(374)에 주어서 이동 광학계(320)의 위치를 제어한다. 기록 재생 제어 회로(372)로부터 기록 재생의 전력 레벨을 제어하는 신호와 기록 데이타를 레이저 제어 회로(376)로 보내고, SHG(300)로부터의 출력을 제어하는 A/O 편향기(304)의 구동 회로(377)를 통해 재생 출력을 제어한다. 한편, 기록 레이저는 직류 진력을 제어하는 APC(자동 전력 제어) 제어 신호(385)와 기록 전력의 설정 레벨 명령값(386)과 기록 데이타인 2치화 데이타(387)를 레이저의 고속드라이버(378)로 입력한다.The spindle 383 for rotating the disk sends a signal from the encoder attached to the spindle to the rotation control system 375, and controls the spindle through the spindle driver 384 so as to be a fixed speed in synchronization with the reference clock. The position of the moving optical system 320 is controlled by giving the servo circuit 374 a command of a control operation from the recording / playback control circuit 372. The drive of the A / O deflector 304 which sends a signal and recording data for controlling the power level of the recording and reproducing from the recording and reproducing control circuit 372 to the laser control circuit 376 and controls the output from the SHG 300. The regenerative output is controlled through the circuit 377. On the other hand, the recording laser uses the APC (automatic power control) control signal 385 for controlling the DC force, the set level command value 386 of the recording power, and the binarization data 387 which is the recording data, and the high speed driver 378 of the laser. Enter

제16도에는 광 디스크(398) 상의 광 스폿의 배열 관계를 도시한다. 기록용 685nm의 스폿(101)이 헤드에 배치되고, 기록용 스폿(101)에 의해 미리 요철 형상으로 작성된 워블 피트(331, 332, 333, 334, 335)와 클럭 피트(336, 337, 338)를 검출한다. 트랙 중심에 대해 좌우로 미소량 오프셋시킨 워블 피트로부터는 잘 알려진 기법으로 트래킹 서보를 위한 검출 신호를 얻고, 클럭 피트로부터는 디스크 표면 상에 마크를 기록 및 재생하기 위한 타이밍의 기준이 되는 클럭 신호를 작성한다.FIG. 16 shows the arrangement relationship of the optical spots on the optical disc 398. FIG. A wobble pit 331, 332, 333, 334, 335 and a clock pit 336, 337, 338, which have a recording 685 nm spot 101, are disposed in the head and are formed in a concave-convex shape in advance by the recording spot 101. Detect. A well-known technique obtains a detection signal for tracking servo from a wobble pit that is offset by a small amount left and right with respect to the track center, and a clock signal, which is a timing reference for recording and reproducing a mark on a disk surface, from the clock pit. Write.

685nm의 스폿(101)은 스폿의 양측에 광학적 초해상 필터를 통과시킨 후의 파면 조작에 의해 사이드 로브(101', 101")를 발생시킨다. 광학적 초해상은 트랙의반경 방향에는 나타나도록 하고 트랙의 원주 방향에는 나타나지 않도록 한다.The 685 nm spot 101 generates side lobes 101 'and 101 "by wavefront manipulation after passing the optical super resolution filter on both sides of the spot. The optical super resolution is to appear in the radial direction of the track and Do not appear in the circumferential direction.

재생용의 532nm 레이저 빔은 회절 격자에 의해 3개의 스폿(103a, 103b, 103c)로 분리되며 또 각각의 스폿의 양측에 사이드 로브(103a', 103b', 103c', 103a", 103b" 103c")가 발생한다. 3개의 스폿(103a, 103b, 103c)이 서로 인접하는 가상트랙의 중심선상(350, 351, 352)에 위치하도록 제17도의 회절 격자(311)를 빔에 대해 수직면 내에서 회전시킨다. 이동계(320)의 위에 있는 편향기는 685nm의 광 스폿(101)으로 검출한 제어 신호에 의해 제어되고, 532nm의 스폿(103a, 103b, 103c)도 동시에 이동시킨다. 532nm와 685nm의 위치 맞춤은 제15도에 도시한 532nm 광 원계의 편향기(314)에 의해 미세 조정된다. 초점 맞춤은 트래킹 에러 검출과 마찬가지로 685nm의 스폿(101)을 사용해서 도시되지 않은 초점 맞춤 영역에서 비점수차 방식을 써서 초점 에러를 검출하고, 이동계의 대물 렌즈를 구동하므로써 제어한다.The 532nm laser beam for reproduction is separated into three spots 103a, 103b and 103c by a diffraction grating, and side lobes 103a ', 103b', 103c ', 103a "and 103b" 103c "on both sides of each spot. The diffraction grating 311 of FIG. 17 is rotated in a plane perpendicular to the beam such that the three spots 103a, 103b, 103c are located on the centerlines 350, 351, 352 of the virtual tracks adjacent to each other. The deflector on the moving system 320 is controlled by a control signal detected by the light spot 101 of 685 nm, and simultaneously moves the spots 103a, 103b, and 103c of 532 nm. Is fine-tuned by the deflector 314 of the 532 nm light source shown in Fig. 15. Focusing is similar to tracking error detection using a spot aberration of 685 nm using an astigmatism scheme in an unshown focus area. The focus error is detected and controlled by driving the objective lens of the mobile system.

가상 트랙 간격을 0.3 미크론으로 좁게 해야 하는데, 트랙 에러를 검출하는 스폿의 크기는 0.87 미크론으로 크므로 가상 트랜 간격과 비교해서 크다. 종래의 트랙 피치는 스폿의 크기 정도였다. 그래서, 종래의 샘플 서보용 프리피트를 사용해서 트랙 피치보다도 미세한 위치 결정이 가능한 제어 신호를 발생한다. 여기서는 프리피트 간격을 1.2 미크론, 워블 피트의 워블 간격을 0.3 미크론으로 한다.The virtual track spacing should be narrowed down to 0.3 microns, but the size of the spot for detecting track error is large, 0.87 microns, which is large compared to the virtual trans spacing. The conventional track pitch was about the size of a spot. Thus, a control signal capable of positioning finer than the track pitch is generated using a conventional sample servo prepit. The prepit spacing here is 1.2 microns and the wobble spacing of the wobble pit is 0.3 microns.

제17도에서 트랙 에러 신호의 형성 방법을 설명한다. 클릭 마크로부터 검출한 신호에 의해 타이밍을 만들어내는 클럭 신호를 작성하고, 이것을 사용해서 워블 마크(A333), 클럭 마크(338), 워블 마크(B335)의 신호 레벨을 검출하기 위한 샘플호울드 신호(A, B, C) (1702, 1703, 1704)를 작성한다. 이 신호(A, B, C)에 의해 각 마크로부터의 총광량 신호(1701)의 레벨을 샘플 호울드한다.A method of forming a track error signal is described in FIG. Create a clock signal that generates timing based on the signal detected from the click mark, and use it to sample a signal signal for detecting the signal levels of the wobble mark A333, the clock mark 338, and the wobble mark B335. A, B, C) (1702, 1703, 1704) are written. The signals A, B, and C are used to sample-hold the level of the total light quantity signal 1701 from each mark.

제18도에 트랙 에러 신호를 서보 회로(374)의 구체적인 구성을 설명한다. 샘플 호울드 회로(150a, 150b, 150c)는 각각 워블 마크(333), 클럭 마크(338), 워블 마크(335)에 의해 변조된 총광량 신호를 샘플 호울드한다. 감산 회로(152a, 152b, 152c)는 샘플 호울드된 신호간에서 각각 차동을 취하고, 트래킹 신호 A(1801), B(1802), C(1803), D(1804)를 작성한다. 이들 신호는 광 스폿을 제16도에서 도시한 트랙 피치를 8분할한 가상 트랙 중심선 N, N+1, N+2, N+7에 위치 결정하는 제어 신호가 된다.18 illustrates a specific configuration of the servo circuit 374 in which the track error signal is present. The sample holder circuits 150a, 150b, and 150c sample-hold the total light quantity signal modulated by the wobble mark 333, the clock mark 338, and the wobble mark 335, respectively. The subtraction circuits 152a, 152b, and 152c take differentials between the sample-bound signals, respectively, and create tracking signals A 1801, B 1802, C 1803, and D 1804. These signals become control signals for positioning the optical spots on the virtual track centerlines N, N + 1, N + 2, and N + 7 by dividing the track pitch shown in FIG.

제19도에는 제16도에 도시하는 가상 트랙 중심선과 트래킹 신호(1801, 1802, 1803, 1804)의 관계를 도시한다. 이 관계를 사용해서 트래킹 제어를 행할 수 있다.FIG. 19 shows the relationship between the virtual track centerline and tracking signals 1801, 1802, 1803, and 1804 shown in FIG. Tracking control can be performed using this relationship.

제20도에는 구체적인 제어 신호의 형성 회로를 도시한다. 트래킹 신호 C(1803), D(1804)의 진폭을 게인 제어(2061, 2002)로 조정한다. 또, 극성을 극성 반전 회로(2003, 2004, 2005, 2006)로 조정해서 트래킹 신호(A', B', C', D') (2003 내지 2006)를 작성한다. 이들 신호를 전환 회로(2007)에서 바꾸고 위상 보상 회로(2008)에서 처리해서 제어계의 제어 신호로서 입력하며, 이동 광학계(320) 내부의 광편향기를 제어한다.20 shows a circuit for forming a specific control signal. The amplitudes of the tracking signals C 1803 and D 1804 are adjusted by the gain controls 2061 and 2002. In addition, the tracking signals A ', B', C ', and D' (2003 to 2006) are created by adjusting the polarity with the polarity inversion circuits 2003, 2004, 2005 and 2006. These signals are switched by the switching circuit 2007, processed by the phase compensation circuit 2008, input as a control signal of the control system, and the optical deflector inside the moving optical system 320 is controlled.

제21도는 재생 정보 블럭이 3개의 정보 트랙으로 구성되는 본 발명의 기록 형태의 일례이다. 기록해야 할 정보를 정보 마크(102)의 열이 3개 모여서 이루어지는 정보 블럭(211)으로서 기록한다. 정보 블럭은 광 디스크 원주 방향에 종래의 섹터 개념을 가지며, 예컨대 헤드로부터 차례로 어드레스 영역, 타이밍 영역, 간섭 계수 학습 영역 및 데이타 기억 영역으호 구성된다. 이들 영역에 포함되는 마크(프리피트도 포함)는 섹터의 헤드 위치로부터 소정 주기로 미리 정해진 격자점(213) 상에 형성된다. 3개의 정보 트랙 상의 정보 마크는 3개의 재생 스폿(103a, 103b, 103c)으로 재생된다.21 is an example of the recording form of the present invention in which the reproduction information block is composed of three information tracks. The information to be recorded is recorded as an information block 211 formed by three rows of information marks 102. The information block has a conventional sector concept in the circumferential direction of the optical disc, and consists of, for example, an address area, a timing area, an interference coefficient learning area, and a data storage area in order from the head. Marks (including prepits) included in these areas are formed on the predetermined grid point 213 at predetermined intervals from the head position of the sector. Information marks on three information tracks are reproduced in three reproduction spots 103a, 103b, 103c.

제1도에는 제21도의 외양이 사시도로서 도시되어 있다. 어드레스 영역에는 섹터의 헤드인 것을 나타내는 특정 패턴이나 섹터 어드레스 등을 프리피트(106)로서 미리 형성해 둔다. 타이밍 영역에는 각 정보 마크 열 상에 격자점(213) 상의 위치에 타이밍 마크(104)를 미리 형성해 둔다. 격자점 상에 정보 마크를 기록하거나 격자점 상의 신호를 샘플할 시에 이용하고 스트로브 펄스는 이 타이밍 마크의 검출 신호에 기초해서 PLL 회로를 이용해서 작성 또는 보청된다. 후술하는 간섭 계수 학습 영역에는 정보 재생시의 신호 처리 연산에 필요한 간섭 계수를 학습하기 위한 학습 마크를 기록한다.FIG. 1 shows the appearance of FIG. 21 as a perspective view. In the address area, a specific pattern, a sector address, or the like indicating that the head of the sector is formed in advance as the prepit 106. The timing mark 104 is formed in advance in the timing area at the position on the grid point 213 on each column of information marks. It is used when recording an information mark on a grid point or sampling a signal on the grid point, and a strobe pulse is created or hearing using a PLL circuit based on the detection signal of this timing mark. In the interference coefficient learning region described later, a learning mark for learning the interference coefficient required for the signal processing operation during information reproduction is recorded.

제21도는 데이타 기억 영역의 부분을 도시한다. 기록해야 할 정보 마크(102)는 격자점(213) 상에 기록된다. 구체적으로는 상술한 타이밍 마크를 기초로 생성한 스트로브 펄스를 이용해서 소정 간격에 대응한 시각 …, ti-1, ti, ti+1, …에 따라 정보 마크(102)를 기록한다. 따라서, 정보는 기록되어야 할 격자점(213) 상에 정보 마크(102)가 존재하는지의 여부로 표현된다.21 shows a part of the data storage area. The information mark 102 to be recorded is recorded on the grid point 213. Specifically, the time corresponding to the predetermined interval using the strobe pulse generated based on the timing mark described above. , ti-1, ti, ti + 1,... The information mark 102 is recorded accordingly. Thus, the information is expressed by whether or not the information mark 102 exists on the grid point 213 to be recorded.

제22도에는 다른 기록 방식의 예를 도시한다. 제21도의 예에서는 격자점(213)을 광 디스크의 반경 방향 및 광 디스크의 원주 방향으로 정렬시켰지만, 제22도의 예에서는 인접하는 정보 트랙 상의 격자점 주기를 서로 반주기 어긋나게 했다. 이 때, 각 격자점에서의 광 디스크의 반경 방향의 크로스 토크는 제21도의 경우보다도 작아진다. 이 때문에, 제21도의 기록 방식 열에 비해 광 디스크의 반경 방향으로 더욱 격자점 간격을 좁게 할 수 있고, 광 디스크 반경 방향으로 훨씬 더 고밀도화가 가능하게 된다.22 shows an example of another recording method. In the example of FIG. 21, the lattice points 213 are aligned in the radial direction of the optical disc and the circumferential direction of the optical disc. In the example of FIG. 22, the lattice point periods on the adjacent information tracks are shifted by half the period. At this time, the crosstalk in the radial direction of the optical disk at each lattice point becomes smaller than in the case of FIG. For this reason, the lattice point spacing can be further narrowed in the radial direction of the optical disk as compared with the recording system row in FIG. 21, and much higher density can be made in the optical disk radial direction.

제23도는 상술한 학습 마크의 예이다. 3개의 정보 트랙 중 중앙의 정도 트랙의 격자점 상에 위치하는 고립 마크로서 학습 마크(231)를 기록하면 된다. 학습 마크(231)는 프리피트로서 미리 형성돼도 되고, 디스크 출하시에 기록해도 된다.23 is an example of the learning mark described above. The learning mark 231 may be recorded as an isolated mark located on the grid point of the center precision track among the three information tracks. The learning mark 231 may be previously formed as a prepit or may be recorded at the time of shipment of the disc.

정보 재생시에는, 우선 간섭 계수를 학습한다. 광 스폿 형상, 정보 마크 형상 및 격자점 간격의 함수인 간섭 계수는 실제의 광 디스크 장치에서 학습되어야 한다. 이 때문에 정보 재생시에는 이 학습 마크(231)를 광 스폿으로 검출하고 간섭 계수를 학습한다.At the time of information reproduction, first, the interference coefficient is learned. The interference coefficient, which is a function of the light spot shape, the information mark shape and the grid point spacing, must be learned in the actual optical disk device. For this reason, when the information is reproduced, the learning mark 231 is detected as an optical spot and the interference coefficient is learned.

재생 정보 블럭이 3개의 정보 트랙으로 이루어지는 경우에는 간섭 계수는 제33도에 도시하는 a 내지 n과 같은 특성을 갖는다.In the case where the reproduction information block is composed of three information tracks, the interference coefficient has characteristics such as a to n shown in FIG.

먼저, 광 스폿(103c)의 중심이 격자점(M-2, N+1)에 도달했을 때, 대각 방향의 간섭량으로서 q(j)를 측정하고, 격자점(M-1, N+1)에 도달했을 때 대각 방향의 간섭량으로서 q(k)를 측정하며, 계속해서 격자점(M, N+1)에 도달했을 때 반경 방향의 간섭량으로서 q(ℓ)을 측정한다. 다음에, 광 스폿(103b)의 중심이 격자점(M-2, N)에 도달했을 때 원주 방향의 간섭량으로서 q(f)를 측정하고, 격자점(M-1, N)에 도달했을 대 원주 방향의 간섭량으로서 q(g)를 측정하며, 계속해서 격자점(M, N)에도달했을 때 간섭 계수 학습용 마크(231)의 고립 신호(S, M, N)를 검출한다.First, when the center of the light spot 103c reaches the lattice points M-2 and N + 1, q (j) is measured as the amount of interference in the diagonal direction, and the lattice points M-1 and N + 1 are measured. When q is reached, q (k) is measured as the amount of interference in the diagonal direction, and then q (l) is measured as the amount of radial interference when the lattice points M and N + 1 are reached. Next, when the center of the light spot 103b reaches the lattice points M-2 and N, q (f) is measured as the amount of interference in the circumferential direction, and when the lattice points M-1 and N are reached. Q (g) is measured as the amount of interference in the circumferential direction, and then the isolated signals S, M, N of the interference coefficient learning mark 231 are detected when the grid points M, N are reached.

이상의 측정치를 기본으로 대각 방향의 간섭 계수(j)는 대각 방향의 간섭량 q(j)와 고립 신호(S, M, N)의 비 q(j)/SM, N으로 주어진다. 마찬가지로 반경 방향의 간섭 계수(ℓ)는 반경 방향의 간섭량 q(ℓ)과 고립 신호 SM, N의 비 q(ℓ)/SM, N으로 주어지고, 원주 방향의 간섭 계수(f)는 원주 방향의 간섭량 q(f)와 고립 신호 SM, N의 비 q(f)/SM, N으로 주어진다.Based on the above measurements, the interference coefficient j in the diagonal direction is given by the ratio q (j) / SM, N of the interference amount q (j) in the diagonal direction and the isolated signals S, M, and N. Similarly, the radial interference coefficient l is given by the ratio q (l) in the radial direction and the ratio q (l) / SM, N of the isolated signals SM and N, and the interference coefficient f in the circumferential direction is It is given by the ratio q (f) / SM, N of the interference amount q (f) and the isolation signal SM, N.

마찬가지로, 대각 방향의 간섭 계수(n, m)는 광 스폿(103c)의 중심이 격자점(M+1, N+1)에 도달했을 때, 및 광 스폿(103c)의 중심이 격자점(M+2, N+1)에 도달했을 때 검출할 수 있다. 또, 대각 방향의 간섭 계수(d, e)는 광 스폿(103a)의 중심이 격자점(M+1, N-1)에 도달했을 때, 및 광 스폿(103a)의 중심이 격자점(M+2, N-1)에 도달했을 때 얻을 수 있다. 더우기, 원주 방향의 간섭 계수(h, i)는 스폿(103b)이 격자점(M+1, N), (M+2, N)에서 얻어지는 값의 고립 신호(SM, N)와의 비를 취해서 간섭 계수를 구한다. 또, 상기 학습을 여러 차례 행하고 그 결과를 평균화해서 간섭 계수의 학습 정밀도를 높일 수 있다. 그 일례로서는 간섭 계수 학습용 마크를 복수개 설치하는 방법이 고려된다.Similarly, the interference coefficients n and m in the diagonal directions are obtained when the center of the light spot 103c reaches the lattice points M + 1 and N + 1, and the center of the light spot 103c is the lattice point M. It can be detected when it reaches +2, N + 1). Incidentally, the interference coefficients d and e in the diagonal directions are obtained when the center of the light spot 103a reaches the lattice points M + 1 and N-1, and the center of the light spot 103a is the lattice point M. Obtained when +2, N-1) is reached. Furthermore, the circumferential interference coefficients h and i take the ratio of the spot 103b to the isolated signals SM and N of values obtained at the lattice points M + 1 and N and M + 2 and N. Find the interference coefficient. In addition, the learning can be performed several times, and the results can be averaged to increase the learning accuracy of the interference coefficient. As an example, a method of providing a plurality of marks for interference coefficient learning is considered.

크로스 토크 노이즈 성분을 줄이기 위한 신호 처리 연산은 상기 수단으로 얻어진 각 간섭 계수와 상술한 스트로브 펄스에 의해 각 격자점 위치에서 샘플된 검출 신호를 이용해서 행한다. 이 때, PLL 회로에 의해 타이밍 보정된 스트로브 펄스를 사용하면 보다 정확하게 격자점 위치의 정보 마크 검출 신호를 샘플할 수 있다.The signal processing operation for reducing the crosstalk noise component is performed by using each interference coefficient obtained by the above means and a detection signal sampled at each lattice point position by the strobe pulse described above. At this time, when the strobe pulse corrected by the PLL circuit is used, the information mark detection signal at the grid point position can be sampled more accurately.

제21도와 같은 정보 마크 열의 경우에는 격자점(M, N) 상의 검출 신호와 격자점(M, N)에 인접하는 14 근처(5×3-1=14)의 격자점 상의 검출 신호를 이용한다(제33도에 도시함).In the case of the information mark column as shown in FIG. 21, a detection signal on the grid points M and N and a detection signal on the grid points near 14 (5 x 3-1 = 14) adjacent to the grid points M and N are used ( Shown in FIG. 33).

제40도에는 3개의 트랙(1, 2, 3)에 인접하는 2개의 트랙도 넣어서 기록된 마크만이 고립되어 존재할 때 각 격자점에서의 신호 진폭의 크기의 매트릭스를 나타낸다. 여기서, 본 실시예에서 동시에 검출 할 수 있는 것은 3개의 트랙 분밖에 없기 때문에 점선으로 둘러싸인 영역의 마크를 정확하게 검출하는 것을 고려한다. 여기서, 각 격자점 위치에서 얻어지는 고립 신호를 나타내는 연산식(2)FIG. 40 shows a matrix of the magnitude of the signal amplitude at each grid point when only the recorded marks with two tracks adjacent to the three tracks 1, 2 and 3 also exist in isolation. Here, since only three tracks can be detected simultaneously in this embodiment, it is considered to accurately detect the mark of the area surrounded by the dotted lines. Here, formula (2) representing an isolated signal obtained at each grid point position

에 있어서, E를 무시해서 얻어지는 연산값을, 크로스 토크가 삭감된 구해야 할 값으로 한다. 여기서, S(j, k)는 21개의 격자점 위치에서 얻어지는 고립 신호를 성분으로 하는 열 벡터, K(i, j)는 간섭 계수를 성분으로 하는 21차 정방 행렬, S'(i, j)는 21개의 격자점 위치에서 얻어진 검출 신호를 성분으로 하는 열 벡터, E는 상기 21개의 격자점 이외의 격자점으르부터의 크로스 토크를 나타내는 열 벡터 이다. 여기서, 크로스 토크의 영향을 완전히 차단하면, 각 격자점에서의 고립 신호 S(i, j)는 식(3)을 써서 연산할 수 있다.In Eq., The calculated value obtained by ignoring E is a value to be obtained in which crosstalk is reduced. Here, S (j, k) is a column vector whose component is an isolated signal obtained at 21 lattice point positions, and K (i, j) is a 21st-order square matrix whose component is an interference coefficient, S '(i, j). Denotes a column vector having a detection signal obtained at 21 grid point positions, and E denotes a column vector representing crosstalks from grid points other than the 21 grid points. Here, if the influence of crosstalk is completely interrupted, the isolated signal S (i, j) at each lattice point can be computed using Formula (3).

S(i, j) = K-1(i, j)(S' (i, j)-E) …(3)S (i, j) = K- 1 (i, j) (S '(i, j) -E)... (3)

그러나, 열 벡터 E의 내부에는 3가지 스폿에 의해서는 검출될 수 없는 부분이 있기 때문에, E를 무시해서 얻어지는 연산값을 계산한다. 즉, 격자점(i, j) 위치에서의 신호(S")는 식(4)를 써서 검출한 신호로부터 K의 역행렬을 사용해서 연산한다.However, since there are parts inside the column vector E that cannot be detected by the three spots, an operation value obtained by ignoring E is calculated. In other words, the signal S ″ at the grid points i and j is calculated using the inverse of K from the signal detected using the equation (4).

이상과 같이 본 발명에서의 기록 방법 및 신호 처리 연산 방법을 사용하므로 써 종래 방식에 비해 더욱 고밀도의 기록 재생이 실현 가능해졌다. 또, 정보 재생시에 사용되는 모든 광 스폿으로부터의 재생 신호에 있어서, 크로스 토크 노이즈 성분이 충분히 삭감된 신호가 얻어지므로 종래 방식에 대해 데이타 전송 비율도 향상되었다.As described above, by using the recording method and the signal processing calculation method of the present invention, recording and reproducing with higher density than the conventional method can be realized. Further, in the reproduction signals from all the light spots used at the time of information reproduction, a signal obtained by sufficiently reducing the crosstalk noise component is obtained, so that the data transfer rate is also improved compared to the conventional method.

이하에서는 정보 블럭이 3개의 정보 트랙으로 구성되는 경우를 예로 해서 상술한 정보 기록 방법 및 신호 처리 연산 방법을 실현하기 위한 기록 장치에 대해 기술한다.In the following, a recording apparatus for realizing the above-described information recording method and signal processing calculation method will be described taking the case where the information block is composed of three information tracks as an example.

먼저, 상기 복수의 광 스폿을 실현하는 광학계 및 복수의 광 스폿의 트래킹, 오토 포커스에 대해서는, 예를 들어 특공소 52-021336호 공보에 기재되어 있는 수단을 이용하면 된다. 이 때, 제21도에 도시한 바와 같이 복수의 광 스폿을 연결하는 축선은 정보 블럭 반경에 대해 기울어지며, 그 결과 각 광 스폿 간에는 광 디스크의 원주 방향에 대해 일정한 시간차가 생긴다. 이 시간차가 격자점 간격의 배수가 아닌 경우, 복수의 광 스폿(103a 내지 103c)을 써서 격자점(213) 상에 정보 마크(102)를 동시에 기록 및 재생하기 위해서는 각 광 스폿 고유의 스트로브 펄스를 준비할 필요가 있다. 즉, 각 스트로브 펄스를 각 정보 트랙 상의 격자점과 정확하게 동기시키고, 각 광 스폿은 이 각 스트로브 펄스의 타이밍에 따라 정보를 기록 및 재생하는 것이다. 이 때, 각 스트로브 펄스 간의 시간차가 상기 각 광 스폿의 시간차에 대응하게 된다.First, for the tracking and autofocus of the optical system and the plurality of light spots for realizing the plurality of light spots, means described in JP-A-52-021336 may be used. At this time, as shown in FIG. 21, the axis connecting the plurality of optical spots is inclined with respect to the information block radius, and as a result, a constant time difference occurs between the optical spots with respect to the circumferential direction of the optical disk. If this time difference is not a multiple of the grid point spacing, in order to simultaneously record and reproduce the information mark 102 on the grid point 213 by using the plurality of light spots 103a to 103c, a strobe pulse unique to each light spot is applied. You need to prepare. In other words, each strobe pulse is accurately synchronized with a lattice point on each information track, and each light spot records and reproduces information in accordance with the timing of each strobe pulse. At this time, the time difference between each strobe pulse corresponds to the time difference of each light spot.

제24도는 상기의 기록을 행하기 위한 기록 회로의 블럭도를 도시한다. 이 기록 회로는 광 스폿이 학습 영역에 돌입한 것을 검출하기 위한 광 스폿 수와 동일한 수의 검출부(201a 내지 201c), 학습 데이타와 정도 데이타를 선택하는 데이타 선택부(202) 및 데이타 기록부(203)로 구성된다. 데이타 기록부(203)는 클럭(2310)으로 제어된다.FIG. 24 shows a block diagram of a write circuit for performing the above write. This recording circuit includes a detection unit 201a to 201c having the same number of light spots for detecting that the light spot has entered the learning area, a data selection unit 202 for selecting learning data and precision data, and a data recording unit 203. It consists of. The data recorder 203 is controlled by the clock 2310.

제25도는 제24도의 검출부(201)의 일례를 도시한 것이다. 검출기(210)는 각 광 스폿에 대응해서 광 디스크 상의 마크를 검지한다. 검출기(210)로부터의 검지 신호는 게이트(2501a, 2501b)에서 소정의 타이밍 신호를 추출한다. PLL 회로(2110)는 게이트(2501a)로부터 출력되는 타이밍 마크에 대응하는 신호로부터 타이밍 신호를 형성한다. 섹터 헤드 인식 회로(212)는 게이트(2501b)로부터 출력되는 영역의 헤드에 기록되는 헤더 마크에 대응하는 신호로부터 섹터의 헤드를 인식한다. 영역 인식 회로(2130)는 검출부(201)를 제어하는 부분이다.25 shows an example of the detector 201 of FIG. The detector 210 detects a mark on the optical disk in correspondence with each light spot. The detection signal from the detector 210 extracts a predetermined timing signal from the gates 2501a and 2501b. The PLL circuit 2110 forms a timing signal from a signal corresponding to the timing mark output from the gate 2501a. The sector head recognition circuit 212 recognizes the head of the sector from the signal corresponding to the header mark recorded in the head of the area output from the gate 2501b. The area recognition circuit 2130 is a part that controls the detector 201.

제32도의 타임 차트도 참조해서 검출부(201)의 동작을 도시한다. 영역 인식회로(2130)는 PLL 회로(2110)로부터 출력되는 스트로브 펄스(215)를 계수하므로써 광 스폿의 위치를 인식하고, 그 결과로서 어드레스 영역 신호(217), 타이밍 영역 신호(218), 간섭 계수 학습 영역 신호(219) 및 데이타 기억 영역 신호(220)를 출력한다.The operation of the detector 201 is also shown with reference to the time chart of FIG. The area recognition circuit 2130 recognizes the position of the light spot by counting the strobe pulse 215 output from the PLL circuit 2110, and as a result, the address area signal 217, the timing area signal 218, and the interference coefficient The learning area signal 219 and the data storage area signal 220 are output.

상세하게는, 스트로브 펄스(215)의 계수값은 먼저 섹터 헤드 인식 회로(222)로부터 출력되는 펄스 신호(223)에 의해 리세트되어 0이 된다. 섹터 영역 인식 회로(222)는 광 검출기로부터의 출력 신호(214)를 기본으로 어드레스 영역(2170)에 형성되어 있는 섹터의 헤드를 나타내는 특정 패턴을 검출하는 회로로서, 이 특정 패턴을 검출할 때 펄스 신호(223)를 출력한다.Specifically, the count value of the strobe pulse 215 is first reset to zero by the pulse signal 223 output from the sector head recognition circuit 222. The sector area recognition circuit 222 detects a specific pattern representing a head of a sector formed in the address area 2170 based on the output signal 214 from the photodetector, and pulses when detecting the specific pattern. Outputs a signal 223.

계수값이 0에서 a 사이는 광 스폿이 어드레스 영역(2170)에 존재하므로 어드레스 영역 신호(217)만을 온으로 해서 출력한다. 어드레스 영역 신호(217)가 온이 되면, 광 검출기로부터의 출력 신호(214)는 게이트 회로(2501b)를 통해 어드레스인식 회로(212)로 출력된다. 어드레스 인식 회로(212)는 출력 신호(214)를 기본으로 어드레스 영역(2170)에 형성되어 있는 어드레스 정보를 검출하는 회로이다.Since the light spot exists in the address area 2170 between count values 0 to a, only the address area signal 217 is turned on and output. When the address area signal 217 is turned on, the output signal 214 from the photodetector is output to the address recognition circuit 212 through the gate circuit 2501b. The address recognition circuit 212 is a circuit for detecting address information formed in the address area 2170 based on the output signal 214.

계수값이 a에서 b 사이는 광 스폿이 타이밍 영역(2180)에 존재하므로 타이밍 영역 신호(218)만을 온으로 해서 출력한다. 타이핑 영역 신호(218)가 온이 되면 광 검출기로부터의 출력 신호(214)는 게이트 회로(2501a)를 통해 PLL 회로(2110)로 입력된다. PLL 회로(2110)는 광 검출기로부터의 출력 신호(214)를 기본으로 상기 타이밍 영역(2180)에 형성되어 있는 타이밍 마크를 검출하고, 이 검출 결과를 써서 상기 스트로브 펄스와 격자점 위치의 타이밍 에러를 보정한다. PL 회로(211)는 스트로브 펄스(215)를 출력하고, 이 스트로브 펄스(215)는 상기 간섭 계수 학습 영역 신호(219)가 온, 또는 상기 데이타 기억 영역 신호(220)가 온일 때에 게이트 회로(2501c)를 통해 검출부(201)로부터 출력된다.Since the light spot exists in the timing area 2180 between count values a to b, only the timing area signal 218 is turned on and output. When the typing area signal 218 is turned on, the output signal 214 from the photodetector is input to the PLL circuit 2110 through the gate circuit 2501a. The PLL circuit 2110 detects a timing mark formed in the timing region 2180 based on the output signal 214 from the photo detector, and writes the detection result to correct the timing error between the strobe pulse and the grid point position. Correct it. The PL circuit 211 outputs a strobe pulse 215, which is a gate circuit 2501c when the interference coefficient learning area signal 219 is on or the data storage area signal 220 is on. It is output from the detection unit 201 through ().

계수값이 b에서 c 사이는 광 스폿이 간섭 계수 학습 영역(2190)에 존재하므로 간섭 계수 학급 영역 신호(219)만을 온으로 해서, 계수값이 c에서 d사이는 광 스폿이 데이타 기억 영역(2200)에 존재하므로 데이타 기억 영역 신호(220) 만을 온으로 해서 출력한다. 이들 간섭 계수 학습 영역 신호(219) 및 데이타 기억 영역 신호(220)는 검출부(201)의 출력 신호가 된다. 따라서, 각 검출부(201a 내지 201c)는 상기 스트로브 필스(215a 내지 215c) 상기 간섭 계수 학습 영역 신호(219a 내지 219c) 및 데이타 기억 영역 신호(220a 내지 220c)를 출력한다.Since the light spot exists in the interference coefficient learning region 2190 between the coefficient values b and c, only the interference coefficient class region signal 219 is turned on, and the optical spot has a data storage region 2200 between the coefficient values c and d. ), Only the data storage area signal 220 is turned on and output. These interference coefficient learning region signals 219 and data storage region signals 220 become output signals of the detection unit 201. Accordingly, each of the detection units 201a to 201c outputs the strobe fields 215a to 215c, the interference coefficient learning area signals 219a to 219c, and the data storage area signals 220a to 220c.

제26도는 데이타 선택부(202)의 블럭도의 일례를 도시한 것이다. 데이타 선택부(202)에는 사용자 데이타(204), 각 검출부(201a 내지 201c)로부터의 출력인 복수의 데이타 기억 영역 신호(220a 내지 220c) 및 복수의 간섭 계수 학습 영역 신호(219a 내지 219c)가 입력된다. 이 때, 예를 들어 데이타 기억 영역 신호(220a 내지 220c) 중에서 적어도 하나가 온이 되면, 데이타 선택부(202)는 사용자 데이타(204)를 직렬 데이타(225)로서 출력한다. 또, 간섭 계수 학습 영역 신호(219a 내지 219c) 중에서 적어도 하나가 온이 되면, 간섭 계수를 학습하기 위해 필요한 정보 마크를 간섭 계수 학습 영역에 기록하기 때문에 간섭 계수 학습용 데이타 ROM(226)에 기억되어 있는 데이타 옅을 직렬 데이타(225)로서 출력한다. 이 경우 데이타 열은 제23도에 도시한 바와 같은 고립 마크를 표현하는 것이 된다.FIG. 26 shows an example of a block diagram of the data selection unit 202. As shown in FIG. The user data 204, the plurality of data storage area signals 220a to 220c and the plurality of interference coefficient learning area signals 219a to 219c, which are outputs from the respective detection units 201a to 201c, are input to the data selection unit 202. do. At this time, for example, when at least one of the data storage area signals 220a to 220c is turned on, the data selector 202 outputs the user data 204 as the serial data 225. In addition, when at least one of the interference coefficient learning region signals 219a to 219c is turned on, an information mark necessary for learning the interference coefficient is recorded in the interference coefficient learning region, so that it is stored in the interference coefficient learning data ROM 226. The data thin is output as serial data 225. In this case, the data string expresses an isolation mark as shown in FIG.

제27도는 데이타 기록부(203)의 일례를 도시한 것이다. 데이타 기록부(203)에는 상기 데이타 기록용 스트로브 펄스(221)와 상기 직렬 데이타(225)가 입력된다. 이 때, 직렬 데이타(225)는 각 기록용 스트로브 펄스(221)보다도 고주파의 기준 클럭(231)으로 동작하는 직렬 병렬 변환 회로(230)에 의해 변환된다. 변환된 데이타(232)는 FI/FO(first in / first out) 메모리(233)에 저장되고, 기록용 스트로브 펄스(221)에 의해 FI/FO 메모리(233)로부터 판독된다. 이들 판독된 데이타(234)는 변조기(235)로 입력된다. 변조된 데이타(236)는 레이저의 구동 회로(237)로 입력되고, 광 스폿(238)의 강도 변조에 의해 마크가 기록된다.FIG. 27 shows an example of the data recording section 203. As shown in FIG. The data recording strobe pulse 221 and the serial data 225 are input to the data recording unit 203. At this time, the serial data 225 is converted by the serial-parallel conversion circuit 230 which operates with the reference clock 231 of higher frequency than the respective strobe pulses 221. The converted data 232 is stored in the FI / FO (first in / first out) memory 233 and read out from the FI / FO memory 233 by the strobe pulse 221 for writing. These read data 234 are input to the modulator 235. The modulated data 236 is inputted to the driving circuit 237 of the laser, and the mark is recorded by the intensity modulation of the light spot 238.

여기서, 제1도에서의 스폿(101) 중의 하나의 스폿으로 제21도에 도시하는 3개의 정보 트랙의 정보 블럭(211)에 기록하는 경우, 상기 회로를 써서 정보 트랙 1개를 디스크 1회전마다 기록하므로써 3개의 정보 트랙에 기록한다. 또, 기록 광원으로서 파장 685nm의 3빔 레이저 어레이를 사용하고, 정보 블럭 내의 3개의 정보트랙에 각각 기록 스폿을 위치시키며, 제27도에 도시하는 FI/FO 메모리(233), 변조기(235), 레이저 구동 회로(273)를 3계통 설치하면 된다. 또, 파장 685nm의 레이저를 사용하지 않고 파장 532nm의 SHG 레이저를 3개 설치하고 A/O 변조기를 3계통 써서 3개의 빔으로 기록 재생해도 된다.Here, in the case where one of the spots 101 in FIG. 1 is recorded in the information block 211 of the three information tracks shown in FIG. 21, one information track is written for each rotation of the disc using the above circuit. Recording is done on three information tracks. In addition, a three-beam laser array having a wavelength of 685 nm is used as the recording light source, and the recording spots are placed on three information tracks in the information block, respectively, and the FI / FO memory 233, modulator 235 shown in FIG. What is necessary is just to provide three systems of the laser drive circuit 273. Alternatively, three SHG lasers having a wavelength of 532 nm may be provided without using a laser having a wavelength of 685 nm, and recording and reproduction may be performed using three beams using three A / O modulators.

제28도는 기록한 정보를 재생하기 위한 정보 재생 회로의 블럭도를 도시한다. 이 재생 회로는 광 스폿이 제32도에 도시한 각 영역에 침입한 것을 검지하기 위한 광 스폿 수와 동일한 수의 검출부(251a 내지 251c), 각 검출기로부터의 검출 신호의 동기를 취하는 동기 보정부(252) 및 연산부(253)로 구성된다.28 shows a block diagram of an information reproducing circuit for reproducing recorded information. This reproducing circuit has the same number of detectors 251a to 251c as the number of light spots for detecting the incidence of light spots entering each region shown in FIG. 32, and a synchronization correcting unit for synchronizing detection signals from the respective detectors ( 252 and arithmetic unit 253.

제29도는 상기 검출부(251)의 블럭도의 일례를 도시한 것이다. 검출부(251)는 주로 각 광 스폿에 대응한 검출기(267), 샘플 호울드 회로(256), PLL 회로(257), 섹터 헤드 인식 회로(258) 및 영역 인식 회로(259)로 구성된다. PLL 회로(257), 섹터 헤프 인식 회로(258), 영역 인식 회로(259) 및 어드레스 인식 회로(267)에 대해서는 상술한 기록 회로에서 기술한 것과 동일하고, 검출부(251)는 기록 회로에서의 검출부(201)와 마찬가지로 영역 인식 회로(259)에 의해 제어된다. 우선, 광 스폿이 타이밍 영역에 진입하면, 영역 인식 회로(213)로부터 출력된 타이밍 영역 신호(218)가 온이 되고, 광 스폿에 의해 검출된 타이밍 마크 신호가 검출부 내에 있는 PLL 회로(257)로 입력된다. PLL 회로(257)는 상기 타이밍 마크 신호를 기본으로 디스크 회전의 불규칙 등에 의한 스트로브 펄스(264)와 위상 어긋남을 보정한다. 그리고, 간섭 계수 학습 영역 신호(262)가 온, 또는 데이타 기억 영역 신호(273)가 온일 때에 PLL 회로(257)의 출력인 스트로브 펄스(264)는 샘플 호울드회로(256)의 클럭(205)이 된다. 샘플 호울드 회로(256)는 클럭(265)에 따라 입력인 검출 신호(255)의 격자점 상에서의 신호값을 샘플한다. 샘플된 값은 검출 신호(266)로서 검출부(251)의 출력이 되고 동기 보정부(252)로 입력된다.FIG. 29 shows an example of a block diagram of the detector 251. As shown in FIG. The detector 251 is mainly composed of a detector 267, a sample holder circuit 256, a PLL circuit 257, a sector head recognition circuit 258, and an area recognition circuit 259 corresponding to each light spot. The PLL circuit 257, the sector head recognition circuit 258, the area recognition circuit 259, and the address recognition circuit 267 are the same as those described in the above-described recording circuit, and the detector 251 is a detector in the write circuit. Similarly to 201, it is controlled by the area recognition circuit 259. First, when the light spot enters the timing area, the timing area signal 218 output from the area recognition circuit 213 is turned on, and the timing mark signal detected by the light spot is transferred to the PLL circuit 257 in the detection unit. Is entered. The PLL circuit 257 corrects phase shift with the strobe pulse 264 due to irregularities in disc rotation or the like based on the timing mark signal. Then, when the interference coefficient learning region signal 262 is turned on or the data storage region signal 273 is turned on, the strobe pulse 264 that is the output of the PLL circuit 257 is clocked 205 of the sample holder circuit 256. Becomes The sample holder circuit 256 samples the signal value on the lattice point of the detection signal 255 as an input according to the clock 265. The sampled value is the output of the detection unit 251 as the detection signal 266 and is input to the synchronization correction unit 252.

간섭 계수 학습 영역 신호(262)가 온, 또는 데이타 기억 영역 신호(263)가 온인 때에만 격자점에 대응하는 펄스를 발생시키는 샘플 호울드 회로(256)로부터의 출력은 제어 클럭(265)으로서 검출부(251)의 출력이 되고 동기 보정 회로(252)로 입력된다.The output from the sample holder circuit 256 which generates a pulse corresponding to the lattice point only when the interference coefficient learning area signal 262 is on or the data storage area signal 263 is on is a detection unit as the control clock 265. An output of 251 is input to the synchronous correction circuit 252.

제30도는 동기 보정부(252)의 블럭도의 일례를 도시한 것이다. 동기 보정부(252)는 주로 FI/FO 메모리와 판독 클럭 제어 회로로 구성된다. 각 검출부(251a 내지 251c)로부터 출력되어 동기 보정부(252)로 입력된 각 검출 신호(266a 내지 266c)는 마찬가지로 각 검출부(251a 내지 251c)로부터 출력되어 동기 보정부(252)로 입력된 각 제어 클럭(265a 내지 265c)에 대응해서 각 FI/FO 메모리(271a 내지 271c)에 저장된다. 또, 각 검출부(251a 내지 251c)로부터 출력된 각 간섭 계수 학습 영력 신호(262a 내지 262c)가 전부 온인 때에 온이 되는 신호를 간섭 계수 학습 영역 신호(275), 각 검출부로부터 출력된 각 데이타 기억 영역 신호(263a 내지 263c)가 도두 온인 때에 온이 되는 신호를 데이타 기억 영역 신호(276)로 하면, 이 2개의 신호 중 어느 한쪽이 온이 된 때에 판독 클럭 제어 회로(272)는 기준 클럭(277)을 출력한다. 기준 클럭(277)의 주파수는 제어 클럭(265a 내지 265c)의 주파수 이하로 한다.30 shows an example of a block diagram of the synchronization correction unit 252. As shown in FIG. The synchronization correction unit 252 is mainly composed of a FI / FO memory and a read clock control circuit. Each detection signal 266a to 266c output from each detection unit 251a to 251c and input to the synchronization correction unit 252 is similarly output from each detection unit 251a to 251c and input to the synchronization correction unit 252. The FI / FO memories 271a to 271c are stored in correspondence with the clocks 265a to 265c. Further, the signal which is turned on when each of the interference coefficient learning force signals 262a to 262c output from each of the detection units 251a to 251c is all on is the interference coefficient learning area signal 275 and each data storage area output from each detection unit. If the signal to be turned on when the signals 263a to 263c are turned on is the data storage area signal 276, the read clock control circuit 272 makes a reference clock 277 when either of these two signals is turned on. Outputs The frequency of the reference clock 277 is below the frequency of the control clocks 265a to 265c.

상기 각 FI/FO 메모리(271a 내지 271c)에 저장된 각 검출 신호(266a 내지266c)는 상기 판독 클럭 제어 회로(272)의 출력 신호(277)에 따라 판독되고, 동기된 검출 신호(278a 내지 278c)로서 동기 보정부(252)의 출력이 되어 연산부(253)로 입력된다. 또, 상기 간섭 계수 학습 영역 신호(275)와 상기 데이타 기억 영역 신호(276)은 동기 보정부(252)의 출력이 되고 연산부(253)로 입력된다.Each detection signal 266a to 266c stored in each of the FI / FO memories 271a to 271c is read out according to the output signal 277 of the read clock control circuit 272 and synchronized with the detection signals 278a to 278c. As a result, the synchronous correcting unit 252 is output and input to the calculating unit 253. The interference coefficient learning area signal 275 and the data storage area signal 276 are output from the synchronization correction unit 252 and are input to the calculation unit 253.

제31도는 연산부(253)의 일례를 도시한 것이다. 동기 보정부(252)로부더 출력되고 연산부(253)로 입력된 각 검출 신호(278a 내지 278c)는 연산기(286)로 입력된다. 이때, 동기 보정부(252)로부터의 입력인 간섭 계수 학습 영역 신호(276)가 온인 경우에는 연산기(280)는 검출 신호(278a 내지 278c)를 기본으로 상술한 계산을 행해서 간섭 계수를 산출하고, 이들 간섭 계수를 기본으로 역행렬을 계산하며(식(4)), 연산 계수를 산출한다. 산출된 연산 계수는 연산 계수용 메모리(281)에 보존된다.31 shows an example of the calculation unit 253. The detection signals 278a to 278c further output from the synchronous correcting unit 252 and input to the calculating unit 253 are input to the calculating unit 286. At this time, when the interference coefficient learning region signal 276, which is an input from the synchronization correction unit 252, is on, the calculator 280 calculates the interference coefficient by performing the above calculation based on the detection signals 278a to 278c, The inverse matrix is calculated based on these interference coefficients (Equation (4)), and the calculation coefficients are calculated. The calculated calculation coefficient is stored in the calculation coefficient memory 281.

동기 보정부(252)로부터의 입력인 데이타 기억 영역 신호(276)가 온인 경우에는 연산기(280)는 검출 신호(278a 내지 278c)와 상기 수단에 의해 산출한 연산 계수를 기본으로 식(2), (3), (4)에 도시한 연산을 행하고, 크로스 토크 노이즈를 삭감한 연산 결과(283a 내지 283c)를 비교기(284)로 출력한다. 비교기(284)는 연산값(283)을 기본으로 정보 마크의 유무를 판별한다. 판별 결과(285a 내지 285c)는 복조기(286)에서 복조되고, 이것이 재생 신호(287a 내지 287c)로서 출력된다.When the data storage area signal 276, which is an input from the synchronous correction unit 252, is on, the calculator 280 calculates the equation (2) based on the detection signals 278a to 278c and the calculation coefficient calculated by the means. The calculations shown in (3) and (4) are performed, and the calculation results 283a to 283c obtained by reducing crosstalk noise are output to the comparator 284. The comparator 284 determines the presence or absence of an information mark based on the calculation value 283. The discrimination results 285a to 285c are demodulated by the demodulator 286, which are output as the reproduction signals 287a to 287c.

더우기, 병렬 직렬 변환 회로(288)에 의해 직렬 데이타(289), 즉 사용자 데이타가 재생된다.In addition, the serial data 289, i.e., user data, is reproduced by the parallel-serial conversion circuit 288.

이상은 3개의 정보 트랙 구성을 하나의 정보 블럭으로 하고, 하나의 정보 블럭 정보를 동시에 재생하는 3트랙 동시 재생에 대한 예인데, 재생 스폿 중 한 가운데의 스폿(103b)이 주사하는 l개의 트랙만을 기록 재생하는 것도 가능하다.The above is an example of three-track simultaneous playback in which three information tracks are configured as one information block and one information block information is simultaneously reproduced. Only one track scanned by the spot 103b in the middle of the playback spots is scanned. It is also possible to record and play back.

이 방식에서는 스폿(103b)이 주사하는 트랙만이 재생 가능하면 된다. 스폿(103a, 103c)은 스폿(103b)이 조사하는 정보 트랙으로 스며드는, 인접하는 트랙으로부터의 신호 누설을 검출하기 위해 이용된다. 스폿(103a, 103c)으로 검출한 신호의 누설(크로스 토크)을 스폿(103b)으로 검출한 신호로부터 제거해서 제21도에 도시하는 정보 블럭 간격을 좁게 해도 정확한 정보를 검출할 수 있다. 따라서, 보다 더 기록 밀도를 높일 수 있다. 기록의 경우에는 제1도에 도시하는 구성과 마찬가지로 685nm의 기록 스폿(101)으로 기록하고, 532nm의 3 스폿(103a, 103b, 103c)으로 스폿(103b) 상의 정보 트랙 데이타를 재생한다.In this system, only the track scanned by the spot 103b needs to be playable. Spots 103a and 103c are used to detect signal leakage from adjacent tracks that seep into the information tracks that spot 103b irradiates. Accurate information can be detected even if the leakage (cross talk) of the signal detected by the spots 103a and 103c is removed from the signal detected by the spot 103b and the information block interval shown in FIG. 21 is narrowed. Therefore, the recording density can be further increased. In the case of recording, similarly to the configuration shown in FIG. 1, recording is performed in the recording spot 101 of 685 nm, and information track data on the spot 103b is reproduced in three spots 103a, 103b, and 103c of 532 nm.

구체적으로 이번의 면밀도에서 계산하면, 재생 파장을 530nm, 개구수를 0.55로 하면 스폿 크기 W는 0.96 미크론이 된다. 광학적 초해상에 의해 트랙 방향의 스폿 크기는 실질적으로 0.7배가 되고, 0.67 미크론이 된다. 이번에 채택한 재생 방식에서는 트랙 피치를 W의 0.4배 정도로 축소할 수 있으므로 트랙 피치 0.3 미크론을 실현할 수 있다.Specifically, when the surface density is calculated, the spot size W becomes 0.96 micron when the reproduction wavelength is 530 nm and the numerical aperture is 0.55. With optical superresolution, the spot size in the track direction is substantially 0.7 times and 0.67 microns. In the playback method adopted this time, the track pitch can be reduced to about 0.4 times W, so that a track pitch of 0.3 micron can be realized.

광학적 초해상을 행하면 디스크 표면 상에서 사이드 로브를 발생시키고, 사이드 로브에 걸린 트랙으로부터 신호가 누설된다. 이를 검출기 면상에서 검출하지 않도록 하기 위해 통상은 대물 렌즈 통과 후의 빔의 도중에 사이드 로브를 커트하기 위한 차폐판을 삽입한다. 그러나, 이번의 빔은 적어도 3개이며, 또 빔이 트랙 방향에 대해 기울어져 배치되어 있으므로 동일한 차폐판으로는 설정이 곤란하다.Optical super resolution generates side lobes on the disc surface, and signals leak from the tracks caught in the side lobes. In order not to detect this on the detector surface, a shielding plate for inserting the side lobe is usually inserted in the middle of the beam after passing through the objective lens. However, since at least three beams are present and the beams are arranged inclined with respect to the track direction, the same shielding plate is difficult to set.

제35도에는 상기 사이드 로브의 문제를 해결하는 광 검출기의 예를 도시한다. 광 검출기(350) 상에 비선형 투과 재료(351)를 코팅했다. 이 재료로서는, 예컨데 광호변성 매체인 디아릴 에텐 유도체가 양호하다.Fig. 35 shows an example of a photo detector that solves the problem of the side lobe. The nonlinear transmissive material 351 was coated on the photo detector 350. As this material, the diaryl ethene derivative which is a photochromic medium, for example is preferable.

제34도에 디아릴 에텐 유도체의 스펙트럼 특성을 도시한다. 충분한 에너지 강도가 있을 때(디아릴 에텐 A 개방-링)의 투과율 특성 곡선은 곡선(342)으로부터 곡선(341)과 같이 되고 530nm의 재생광의 에너지 강도에 대해서 투과율이 비선형으로 변화한다.34 shows the spectral characteristics of the diaryl ethene derivative. When there is sufficient energy intensity (diaryl ethene A open-ring), the transmittance characteristic curve becomes from curve 342 to curve 341 and the transmittance changes nonlinearly with respect to the energy intensity of the regenerated light at 530 nm.

제36도에 재생광의 에너지 강도에 대한 투과율 변화의 상태를 도시한다. 강도 변화가 거의 없는 빛의 경우는, 에너지는 등가적으로 평균 전력으로 표현된다.36 shows the state of the transmittance change with respect to the energy intensity of the regenerated light. In the case of light with little change in intensity, energy is equivalently expressed in average power.

제37도에는 신호 재생의 원리를 나타낸다. 입사 전력 밀도와 투과 전력 밀도의 비선형 특성이 곡선(407)과 같이 되면, 강도가 강한 부분만 광 검출기예 재생광이 도달한다. 따라서, 임사광 스폿(401)의 강도 분포는 투과 후에는 광 스풋(400)과 같은 강도 분포가 된다. 여기서, 입사광 스폿(401) 내에 사이드 로브(403)와 같은 메인 로브(402)와 비교해서 약한 빛은 투과 후에는 사이드 로브(405)와 같이 메인 로브와 비교해서 현저하게 강도가 낮아지고 광 검출기는 사이드 로브(405)가 조사하는 마크로부터의 신호를 거의 수광하지 않는다. 또, 광 검출기를 놓는 위치를 상이 맺는 위치로부터 떨어진 파필드 면으로 하고 재생 스폿이 광 편향기로 트래킹을 개시하면. 광 검출기 면상에서 스폿이 이동하게 된다. 이 상태에서도 항상 메인 로브의 빛만이 투과할 수 있도록 스폿의 이동에 따라 비선형 효과가 일어나게 하기 위해서는 재생과는 다른 빛으로 항상 이 재료를, 스폿이 이동하는 전면에 걸쳐 여기시켜 둘 필요가 있다.37 shows the principle of signal reproduction. When the nonlinear characteristics of the incident power density and the transmission power density become the curve 407, only the light intensity portion reaches the photodetector example reproduction light. Therefore, the intensity distribution of the incident light spot 401 becomes the same intensity distribution as the light spot 400 after transmission. Here, the weak light in the incident light spot 401 compared to the main lobe 402 such as the side lobe 403 is significantly lower in intensity compared to the main lobe such as the side lobe 405 after transmission, and the photodetector The side lobe 405 hardly receives a signal from the mark to be irradiated. If the position where the light detector is placed is the farfield plane away from the position where the photo detector is placed, the reproduction spot starts tracking with the optical deflector. The spot moves on the photodetector plane. In this state, it is necessary to always excite this material with the light different from the reproduction so that the nonlinear effect occurs as the spot moves so that only the light of the main lobe is transmitted at all times.

이 때문에, 제35도에 도시한 바와 같이 재생광(353) 이외의 단파장의 청색 발광 다이오드(3520)의 빛(352)을 이 재료의 전면에 조사한다. 발광 다이오드의 파장으로서는 또 하나의 스펙트럼 특성(디아릴 에텐 A 폐쇄-링)인 곡선(342)에서 투과 특성을 갖는 파장 대역(420)으로부터 480nm의 것을 선택한다. 이 파장 영역의 조사광에 의해 곡선(342)의 특성이 얻어진다. 곡선(342)에서는 신호를 검출하는 빛의 파장인 530nm에서는 흡수 특성을 가짐으로써 비선형 재료 전체로서는 530nm의 빛이 흡수되지만, 광 에너지 강도가 강하면 곡선(341)의 특성이 되어 530nm의 빛이 투과하도록 구성될 수 있다. 따라서, 비선형성은 전체적으로 조사하는 발광 다이오드의 전력에 의해 제어 가능하다. 또, 일반적으로 이러한 종류의 비선형 재료는 응답성이 늦지만, 트래킹 에러에 따르는 것과 같은 응답에는 충분히 대응할 수 있다. 상술한 바와 같이, 비선형 재료를 써서 간단한 구성으로 광학 초해상에 의한 사이드 로브로부터의 누설을 제거할 수 있어서 광학계의 조립 및 조정이 용이하게 된다.For this reason, as shown in FIG. 35, the light 352 of the short wavelength blue light emitting diode 3520 other than the reproduction light 353 is irradiated to the whole surface of this material. As the wavelength of the light emitting diode, one of 480 nm is selected from the wavelength band 420 having the transmission characteristic in the curve 342 which is another spectral characteristic (diaryl ethene A closed-ring). The characteristic of the curve 342 is obtained by irradiation light of this wavelength range. The curve 342 has absorption characteristics at 530 nm, which is the wavelength of light for detecting a signal, so that 530 nm of light is absorbed by the entire nonlinear material. However, when the light energy intensity is strong, it becomes a characteristic of the curve 341 so that 530 nm light is transmitted. Can be configured. Therefore, nonlinearity can be controlled by the power of the light emitting diode which irradiates as a whole. Also, in general, nonlinear materials of this kind are slow in responsiveness, but can sufficiently cope with a response such as following a tracking error. As described above, the leakage from the side lobe due to the optical super resolution can be eliminated with a simple configuration by using a nonlinear material, so that the assembly and adjustment of the optical system are easy.

제38A도에서 원주 방향의 재생 분해능을 향상시키기 위한, 자기 초해상의 일종인 FAD(front aperture detection)를 설명한다. 기록 매체는 제7도 및 제8도에 도시한 TbFeCo 등의 기록층(381) 상에 TbDyFe로 이루어지는 절단층(382)과 GdFeCo로 이루어지는 재생층(383)을 놓는다. 이 구조의 매체 상에 광 스폿(384)을 조사하고 화살표(385) 방향으로 이동하면, 매체 상의 트랙 중심 상의 온도 분포(387)는 스폿 후방에 온도가 높아 변형된 확장부를 갖는다. 어떤 외부 자계(386)를 기본으로 기록층(381)에 기록된 마크(389)는 온도가 낮을 때에는 절단층(282)을 통해 마크의 자화가 재생층(383)으로 전사된다. 그러나, 온도가 어떤 값(3809)을 넘으면 절단층(382)의 자화 소실 영역(3811)이 의해 전사가 가능하지 않게 된다. 즉, 재생층(383)에서 보고 있으면 레이저 스폿(384)에 사선으로 나타나는 마스크(380)가 형성되고, 온도가 낮은 영역을 개구(3800)로 해서 기록된 마크를 검출하게 된다. 이 때문에, 실질적으로 스폿(384)이 작아진 것처림 보이고 원주 방향의 분해능을 향상시킬 수 있다. 그러나, 이 개구(3800)의 형상은 초승달 모양이므로 기록 마크로부터 전산한 마크가 둥근 마크라고 해도 얻을 수 있는 신호 파형은 진행 방향에 비대칭인 파형이 된다.In FIG. 38A, front aperture detection (FAD), which is a kind of magnetic super-resolution, is described for improving the circumferential reproduction resolution. In the recording medium, a cut layer 382 made of TbDyFe and a reproduction layer 383 made of GdFeCo are placed on a recording layer 381 such as TbFeCo shown in FIGS. 7 and 8. When the light spot 384 is irradiated onto the medium of this structure and moved in the direction of the arrow 385, the temperature distribution 387 on the track center on the medium has a high temperature deformed extension behind the spot. The mark 389 recorded on the recording layer 381 based on a certain external magnetic field 386 is transferred to the reproduction layer 383 by the magnetization of the mark through the cutting layer 282 when the temperature is low. However, if the temperature exceeds a certain value 3809, the magnetization disappearance region 3811 of the cut layer 382 will not be transferable. That is, when viewed from the reproduction layer 383, a mask 380, which appears as an oblique line, is formed in the laser spot 384, and the mark recorded using the region having a low temperature as the opening 3800 is detected. For this reason, the spot 384 seems to become substantially small, and the resolution of the circumferential direction can be improved. However, since the shape of this opening 3800 is crescent-shaped, the signal waveform obtained even if the mark computed from the recording mark is a round mark is a waveform asymmetric in the advancing direction.

후술하는 2차원 등화에서는 간섭 계수를 전후좌우 모두 취하여 연산하므로써 비대칭을 보상할 수 있다. 또, 검출 신호의 분해능은 온도 분포와 스폿의 위치 어긋남에 의존하므로 온도 분포를 스폿 중심에 근접시키면 개구가 좁아지고 분해능은 향상된다. 이를 위해서는 A/O 편향기를 써서 재생광을 마크가 기록된 위치에서 펄스 형상으로 조하고, 온도 분포를 가파르게 해서 이를 중심에 근접시킨다. 재생광 강도를 변조하는 타이밍은 지금까지 서술한 바와 같이 디스크 표면 상에 형성된 프리피트로부터 PLL을 기동해서 작성된 클럭 신호로부터 만들어진다. 이 때문에 검출광의 조사 기간 내에 신호를 샘플 호울드하는 타이밍을 설정한다.In the two-dimensional equalization described later, the asymmetry can be compensated by taking the interference coefficients in front, rear, left, and right directions. In addition, since the resolution of the detection signal depends on the temperature distribution and the positional shift of the spot, when the temperature distribution approaches the center of the spot, the opening is narrowed and the resolution is improved. For this purpose, the A / O deflector is used to adjust the regenerated light into a pulse shape at the position where the mark is recorded, and to steep the temperature distribution to bring it closer to the center. The timing for modulating the reproduction light intensity is made from a clock signal generated by starting the PLL from a prepit formed on the disk surface as described above. For this reason, the timing which sample-holds a signal within the irradiation period of detection light is set.

제38B도에서 다른 자기 초해상인 RAD(rear aperture detection)를 설명한다. 제7 및 8도에서 설명한 기록층(381) 위에 스위치층(3801)과 재생층(3802)을 형성한다. RAD는 광 스폿(3803)의 초기 자장(3804)을 주고, 재생층(381)을 초기화한다.온도가 낮은 곳에서는 SW층(3801)이 기록층(301)의 마크를 재생층(3802)에 전사하지 않도록 하고, 광 스폿(3803)에 의해 온도가 높아지면 재생층(3802)에 기록층(301)의 마크(389)를 전사한다. 이와 같이 하면 마스크(3812)가 형성되어 스폿(3803)의 진행 방향 후방에 개구(3811)가 발생한다. 기록 마크(389)의 재생광을 펄스 형상으로 조사하면, 개구(3811)의 위치를 광 스폿의 중심에 위치시킬 수 있어서 재생 파형의 비대칭성을 적게 할 수 있다.Another magnetic superresolution RAD (rear aperture detection) in FIG. 38B is described. The switch layer 3801 and the reproduction layer 3802 are formed on the recording layer 381 described with reference to FIGS. The RAD gives an initial magnetic field 3804 of the light spot 3803, and initializes the reproduction layer 381. In a place where the temperature is low, the SW layer 3801 transfers the mark of the recording layer 301 to the reproduction layer 3802. When the temperature is increased by the light spot 3803, the mark 389 of the recording layer 301 is transferred to the reproduction layer 3802. In this manner, a mask 3812 is formed, and an opening 3811 is generated behind the spot 3803 in the advancing direction. When the reproduction light of the recording mark 389 is irradiated in a pulse shape, the position of the opening 3811 can be positioned at the center of the light spot, so that the asymmetry of the reproduction waveform can be reduced.

제39도에서는 이와 같이 해서 기록한 정보의 검출 원리를 설명한다.Fig. 39 explains the principle of detecting the information recorded in this way.

제39A도에 도시한 바와 같이 기록 마크(102)는 기록 데이타인 「1」과 「0」에 격자점(213)에서의 마크 유무가 대응하는 NRZ(non-return-to-zero) 규칙으로 기록되어 있다. 따라서, 검출될 신호는 2개의 레벨만 취한다.As shown in FIG. 39A, the recording mark 102 is recorded by the non-return-to-zero (NRZ) rule in which the presence or absence of the mark at the grid point 213 corresponds to " 1 " and " 0 " It is. Thus, the signal to be detected takes only two levels.

제39C도에는 스폿(103b)으로부터 검출되는 트랙 2의 신호(아이 패턴 : eye pattern)를 도시한다. 인접 트랙 1, 3으로부터의 크로스 토크에 의해 아이 레벨이 거의 개방되지 않아서 정확하게 데이타를 검출할 수 없다.39C shows a track 2 signal (eye pattern) detected from the spot 103b. Cross talks from adjacent tracks 1 and 3 hardly open the eye level, so that data cannot be detected accurately.

제39D도과 같이 아이가 개방되고 정확하게 데이타를 판독할 수 있는 신호를 처리할 필요가 있다.As shown in Fig. 39D, it is necessary to process a signal in which the child is open and can read data accurately.

제39B도에는 상기 크로스 토크를 보상해서 제39C도의 신호로부터 제39D도와 같은 신호를 얻기 위한 2차원 등가 처리 회로의 구성을 도시한다. 여기서는 간섭 계수를 학습한 후 K의 역행렬을 연산한 결과와 트랙 1, 트랙 2, 트랙 3로부터의 신호를 써서 간섭량을 제거하는 연산 계수를 구한다.FIG. 39B shows a configuration of a two-dimensional equivalent processing circuit for compensating for the cross talk to obtain a signal similar to that in FIG. 39D from the signal in FIG. 39C. Here, after learning the interference coefficient, the result of calculating the inverse matrix of K and using the signals from track 1, track 2, and track 3 is used to find an operation coefficient to remove the amount of interference.

2차원 등가 처리 회로예서는 각 트랙으로부터 재생한 신호 x(t) (3900-1,3900-2, 3900-3)를 7 타입의 트랜스버스 필터(391-1, 391-2, 391-3)에 통과시킨다. 트랜스버스 필터(391)는 지연 회로(392), 감쇠기(395), 및 가산기(396)를 가지며, 각 트랙마다 신호 파형을 정형한다. 그 후, 각 트랙으로부터의 신호 g(t)에 가중 회로(397-1, 397-2, 397-3)로 가중되어 가산 회로(393)에서 합을 취한다. 각 트랙으로부터의 신호를 통과시키는 트랜스버스 필터(391)의 지연 회로 및 감쇠기의 계수와 각 트랙으로부터의 신호에 가중 회로(397)로 가중되는 계수는 상술한 바와 같이 역행렬로부터 구한다. 지연 회로(394a, 394b)는 재생 스폿(103) 사이의 거리 r(sec)에 대응하는 지연 시간을 갖는다.In the two-dimensional equivalent processing circuit example, signals x (t) (3900-1,3900-2, 3900-3) reproduced from each track are converted into seven types of transverse filters (391-1, 391-2, 391-3). Pass it on. The transverse filter 391 has a delay circuit 392, an attenuator 395, and an adder 396, and shapes signal waveforms for each track. Thereafter, the signal g (t) from each track is weighted by the weighting circuits 397-1, 397-2, and 397-3, and summed by the addition circuit 393. The coefficients of the delay circuit and attenuator of the transverse filter 391 passing the signals from each track and the coefficients weighted by the weighting circuit 397 to the signals from each track are obtained from the inverse matrix as described above. The delay circuits 394a and 394b have a delay time corresponding to the distance r (sec) between the reproduction spots 103.

제39A도에서는 격자점 간격이 0.25 미크론, 트랙 간격이 0.3 미크론, 마크 지름이 0.22 미크론이다. 격자점 간격에 대응하는 시간을 T 3개의 스폿의 시간 간격을 t로 한다. 2차원 방향의 신호 처리에는 미리 트랙간의 시간 지연을 보상하기 위해 시간적인 지연을 준다. 신호 처리를 모두 디지탈적으로 처리하면 PLL로 작성된 클럭을 사용할 수 있어서 t 간격의 시간 지연을 제어하는 것은 용이하다.In FIG. 39A, the grid point spacing is 0.25 micron, the track spacing is 0.3 micron, and the mark diameter is 0.22 micron. The time corresponding to the grid point interval is T, and the time interval of three spots is t. The signal processing in the two-dimensional direction is given a time delay to compensate for the time delay between tracks in advance. All of the signal processing digitally makes it possible to use a clock written in a PLL, making it easy to control the time delay in the t interval.

원주 방향의 스폿에 자기 초해상의 효과를 갖지 않게 하면 원주 방향의 스폿 지름이 0.96 미크론 정도이기 때문에 이대로는 0.5 미크론 주기의 격자로부터는 신호를 검출할 수 없다. 그래서, 전송로 분야에서 잘 알려진 부분 응답을 응용한다. 직류로부터 고주파 영역에 걸쳐 솔직한 응답을 나타내는 광 디스크에서 좀더 간단한 부분 응답은 PR(1, 1)이라는 응답 특성이다. 이것은 광 디스크를 전송로로 간주한 경우에 입력 펄스에 대한 응답이 검출 타임 슬롯의 2개 분에만 존재하고, 다른 슬롯에는 응답이 나타나지 않는다는 특성이다.If the circumferential spot does not have the effect of magnetic superresolution, the spot diameter in the circumferential direction is about 0.96 micron, so that a signal cannot be detected from a lattice of 0.5 micron period. Thus, we apply a partial response that is well known in the transmission field. A simpler partial response in an optical disc that exhibits a candid response from direct current to the high frequency range is the response characteristic of PR (1, 1). This is a characteristic that when an optical disk is regarded as a transmission path, a response to an input pulse exists only in two portions of a detection time slot, and no response appears in other slots.

제41도에서 PR(1, 1)의 신호 처리 흐름을 설명한다. 사용자 데이타(ak)는 프리코더(precoder)의 처리에 의해 변조 데이타(bk)로 변환된다. 프리코더의 역할은 광 디스크 상의 결함 등에 의한 에러 전파를 방지하기 위해 광 디스크의 역특성을 미리 기록 데이타에 적용하는 것이다.In FIG. 41, the signal processing flow of the PR (1, 1) will be described. The user data ak is converted into the modulation data bk by the processing of the precoder. The role of the precoder is to apply the reverse characteristics of the optical disk to the recording data in advance in order to prevent error propagation due to defects on the optical disk or the like.

변조 데이타에 따라 기록 펄스(411)를 작성하고, 격자점(213) 상에 기록 펄스(411)에 따라 클럭 신호를 기본으로 기록 마크(102)를 기록해간다. 실질적인 재생 스폿(103)의 크기를 도면과 같이 하면, 재생 신호 파형(412)으르부터는 마크와 마크간에 하나의 격자 간격이 열려 있어도 마크를 분해할 수 없다. 그러나, 레벨이 포화 레벨의 중간 값을 취하므로써 마크 배열을 알 수 있다. 포화 레벨은 복수의 마크가 연속적으로 배열한 때에 생긴다. 마크 간의 간섭에 의해 검출 레벨은 3값을 취하는 것을 알 수 있다. 어던 레벨에 있는지를 검출하기 위해 2가지 슬라이스 레벨(413a, 413b)을 설치하고, 각 타임 슬롯마다 2개의 레벨로 분리되는 3값 중의 어느 값인가를 검출한다. 얻어진 3값을 mod2로 연산하고 2값의 복조 데이타로 간주한다. 이로써 분해능이 떨어지는 밀도에서도 신호를 검출할 수 있다. 한 트랙으로부터의 신호를 예로서 설명했지만, 본 발명에서는 인접 트랙으로부터의 간섭에 의해 부분 응답에 적합한 파형을 검출할 수 없다. 이것을 얻기 위한 수단에 대해 이하에 설명한다.The recording pulse 411 is created in accordance with the modulation data, and the recording mark 102 is recorded on the grid point 213 based on the clock signal in accordance with the recording pulse 411. If the size of the substantial reproduction spot 103 is as shown in the figure, the mark cannot be decomposed even from the reproduction signal waveform 412 even if one lattice gap is opened between the mark and the mark. However, the mark arrangement can be known as the level takes the intermediate value of the saturation level. The saturation level occurs when a plurality of marks are arranged in succession. It can be seen that the detection level takes three values due to the interference between the marks. Two slice levels 413a and 413b are provided to detect whether they are at any level, and any one of three values divided into two levels for each time slot is detected. The obtained 3 values are calculated by mod2 and regarded as 2 values of demodulation data. This makes it possible to detect signals even at low density. Although a signal from one track has been described as an example, in the present invention, a waveform suitable for the partial response cannot be detected due to interference from an adjacent track. Means for obtaining this will be described below.

제42도에는 3개의 스폿으로부터의 검출 신호(3900)를 2차원 등화 회로에 입력하기 위한 배열을 도시한다. 트랙1로부터의 검출 신호(3900-1 : S'bc내지 S'bi)를 시간 순으로 입력한다. 또, 트랙2로부터의 검출 신호(3900-2 : S'cc 내지 S'ci)를 트랙3으로부터의 검출 신호(3900-3 : S'dc 내지 S'di)를 등화 처리 회로(4201)에 입력한다. 이들 신호로부터 각 타이밍 마다 인접 마크로부터의 간섭을 제거한 트랙2의 신호(4200 : S"cc 내지 S"ci)가 얻어진다. 이 신호는 고립된 기록 마크로부터의 재생 신호를 배열한 것으로 부분 응답에 필요한 간섭량이 제거되어 있다. 그래서, 부분 응답(1, 1)의 특성이 되도록 인접 마크간의 간섭량 r-3으로부터 r3을 새롭게 추가해 가산한다. 이 결과, 인접 트랙으로부터의 간섭을 배제하며, 또 최적의 부분 응답 특성을 갖는 신호(S'"cf)가 얻어진다. 이 신호는 제40도의 점선으로 둘러싸인 21개 마크 열 내의 한 가운데의 마크로부터의 신호에 상당한다.42 shows an arrangement for inputting detection signals 3900 from three spots into a two-dimensional equalization circuit. The detection signals 3900-1 (S'bc to S'bi) from the track 1 are input in chronological order. The detection signal 3900-2 (S'cc to S'ci) from track 2 is input to the equalization processing circuit 4201 to the detection signal 3900-3 (S'dc to S'di) from track 3. do. From these signals, a signal 4200 (S " cc to S " ci) of track 2 from which interference from adjacent marks is removed at each timing is obtained. This signal is an arrangement of reproduction signals from isolated recording marks, and the amount of interference necessary for partial response is eliminated. Therefore, r3 is newly added and added from the interference amount r-3 between adjacent marks to become the characteristic of the partial response (1, 1). As a result, a signal S '"cf is obtained which eliminates interference from adjacent tracks and has an optimum partial response characteristic. The signal is obtained from a mark in the middle of 21 mark columns surrounded by dotted lines in FIG. It corresponds to signal of.

제43도에는 제42도의 등화 처리 시뮬레이션 결과를 도시한다. 계산은 격자점 간격을 20등분한 새김폭 0.0125 미크론마다 미세한 간격으로 계산을 행하고, 연속적으로 간주되는 S'"cf에 대응하는 신호 파형을 구했다.FIG. 43 shows the result of the equalization process simulation of FIG. The calculation was performed at minute intervals every 0.0125 micron indentation by dividing the grid point spacing by 20, and a signal waveform corresponding to S '"cf regarded as continuous was obtained.

제43A도가 트랙 1 2, 3에 랜덤 패턴을 배치하고, 트랙2만을 재생하며, 부분 응답용의 신호 처리만을 행한 때의 파형이다. 인접 트랙으로부터의 간섭에 의해 신호 검출에 필요한 아이 개구가 얻어져 있지 않은 것을 알 수 있다.43A shows waveforms when a random pattern is placed on tracks 1, 2, and 3, only track 2 is reproduced, and only signal processing for partial response is performed. It can be seen that the eye opening necessary for signal detection is not obtained due to interference from adjacent tracks.

제43B도는 트랙 1, 3의 신호를 검출하고 인접 마크간의 간섭을 상술한 2차원 등화로 제거한 후, 부분 응답용 신호 처리를 적용한 결과이다. 제43A도와 비교해서 충분한 아이 개구(4300)가 얻어지고, 2개의 슬라이스 레벨(413a, 413b)을 써서 신호 검출점(4302)에서 확실하게 3값이 판정 가능한 것을 알 수 있다. NRZ과 비교해서 기록 위치는 격자점이지만, 신호 검출점은 격자점의 중간점이 된다. 또, 시뮬레이션은 연속 파형에 가까운 파로 파형 처리의 상태를 나타냈으나, 본 발명에서는모든 신호 처리를 클럭에 동기한 디지탈 처리를 행한다. 그래서, 격자점 간격(T)이 슬롯 간격에 대응되고 타임 슬롯을 각 격자점의 중간점으로 한다. 따라서, 상술한 실시예에서는 각 격자점에서 신호를 샘플 호울드하고 있으나, 본 실시예에서는 각 재생 검출 신호는 타임 슬롯마다 샘플 호울드되어 신호를 처리한다. 또, 부호(4301)는 고립 마크의 재생 신호의 진폭에 상당한다.43B shows the result of applying the partial response signal processing after detecting the signals of the tracks 1 and 3, removing the interference between adjacent marks by the above-described two-dimensional equalization. Compared with the 43A, a sufficient eye opening 4300 is obtained, and it can be seen that three values can be reliably determined at the signal detection point 4302 using two slice levels 413a and 413b. Compared with NRZ, the recording position is a lattice point, but the signal detection point is an intermediate point of the lattice point. In addition, although the simulation showed the state of the wave form processing close to the continuous waveform, in the present invention, all the signal processing is performed digitally in synchronization with the clock. Thus, the grid point spacing T corresponds to the slot spacing and the time slot is the midpoint of each grid point. Therefore, in the above-described embodiment, the signal is sampled at each lattice point, but in the present embodiment, each reproduction detection signal is sampled at each time slot to process the signal. Reference numeral 4301 corresponds to an amplitude of a reproduction signal of an isolated mark.

지금까지의 실시예는 광학 초해상 효과를 트랙 반경 방향에 대해 사용했으나, 매체로서 제9도에 도시한 자기 전사 구조는 자기 초해상이 곤란하기 때문에 상술한 부분 응답을 사용하지 않을 수 없다. 그러나, 보다 더 고밀도화를 행하며 또 마진을 갖고 10Gb/in2을 실현하기 위해 원주 방향으로 광학 초해상을 행하는 것이 본 발명에 의해 가능하다. 즉, 광학적 필터로서 원형 차폐판 또는 원형 위상판을 사용하드로써 광학 초해상 효과를 등방적으로 행할 수 있다. 또, 타원 형상으로 하므로써 트랙 피치, 격자점 간격이 변화해도 대응할 수 있다. 검출은 상술한 바와 같이 비선형 투과 재료를 검출기 면상에 도포하므로써 사이드 로브의 영향을 제거할 수 있다.The embodiments thus far used the optical superresolution effect for the track radial direction, but the magnetic transfer structure shown in FIG. 9 as the medium is difficult to use the above-described partial response because the magnetic superresolution is difficult. However, it is possible by the present invention to perform optical super-resolution in the circumferential direction in order to achieve higher density and to have a margin with 10 Gb / in 2 . That is, the optical super-resolution effect is isotropically performed by using a circular shielding plate or a circular phase plate as an optical filter. Moreover, even if the track pitch and the lattice point spacing are changed by the ellipse shape, it can respond. Detection can eliminate the effects of side lobes by applying a non-linear transmissive material onto the detector face as described above.

다음에, 고 SN 재생을 행하기 위한 실시예를 이하에 도시한다.Next, an embodiment for performing high SN playback is shown below.

제44도에는 고SN 검출의 원리도를 도시한다. 제44A도는 매체상의 상황, 제44B도는 클럭 신호, 제44C도는 조사되는 레이저의 강도, 제44D도는 매체 상의 온도분포를 도시한다. 재생용 스폿(4401)은 트래킹 신호 및 클럭을 추출하기 위해 프리피트 마크(4400)가 형성되어 있는 샘플 영역(500)에서는 통상의 직류광(441)으로서 조사하고 재생을 행한다. 데이타 영역(501)에서는 격자점에 동기된 타이밍으로 재생 레벨(502)보다 큰 피크 전력 레벨(503)을 갖는 빛(442)을 펄스식으로 조사하고, 그 반사광을 격자점에 동기된 타이밍(504)으로 검출한다. 샘플 영역(500)과 데이타 영역(501) 사이에는 갭 영역(505)을 형성했다.44 shows a principle diagram of high SN detection. FIG. 44A shows the situation on the medium, FIG. 44B shows the clock signal, FIG. 44C shows the intensity of the laser to be irradiated, and FIG. 44D shows the temperature distribution on the medium. The reproduction spot 4401 irradiates and reproduces the normal DC light 441 in the sample region 500 in which the prepit mark 4400 is formed to extract the tracking signal and the clock. In the data area 501, pulses of light 442 having a peak power level 503 greater than the reproduction level 502 are pulsed at a timing synchronized with the grid point, and the reflected light is timing 504 synchronized with the grid point. ) Is detected. A gap region 505 is formed between the sample region 500 and the data region 501.

이하에, 고SN 재생이 가능한 이유에 대해 설명한다.The reason why high SN reproduction is possible is explained below.

제45도에 파장 λ532nm, 포커싱 렌즈의 개구수 NA가 0.6인 재생계에서, 선속도 V=10m/s, DC 조사 재생 전력 1mW의 경우에 최고 반복 주파수 12.5[MHz], 즉 0.4 um 마크의 반복 패턴을 재생한 경우의 스펙트럼 분석기로 측정한 주파수의 스펙트럼을 도시한다. 여기서, 격자점의 간격의 배주기가 최고 반복 주파수에 대응한다. 마크의 반복 주기에 대응한 신호(4500)는 신호 성분(C)에, 베이스 레벨의 신호(4501)가 토탈 노이즈(N)에 대응한다.45, in the reproducing system having a wavelength lambda 532nm and a numerical aperture NA of a focusing lens of 0.6, the repetition of the maximum repetition frequency of 12.5 [MHz], i. The spectrum of frequencies measured by the spectrum analyzer when the pattern is reproduced is shown. Here, the double cycle of the interval of the lattice points corresponds to the highest repetition frequency. As for the signal 4500 corresponding to the repetition period of the mark, the signal component C corresponds to the signal component C1 and the base level signal 4501 corresponds to the total noise N.

제46도에는 제45도에 도시한 노이즈 레벨(4501)이 포함되는 각종 노이즈의 스펙트럼의 실측값을 도시한다. 재생광 전력은 1mW로 했다. 노이즈 성분(4501)은 증폭기 노이즈를 포함하는 시스템 노이즈(506), 광 검출기에서 생기는 쇼트 노이즈(507), 그리고 기록시의 마크의 불균일에 기인한 변조성 노이즈를 포함하는 디스크 노이즈(508)로 구성된다. 여기서, 레이저 자체의 노이즈는 SHG 레이저를 사용하므로 충분히 무시할 수 있는 레벨에 있다. 실측 결과로는 주파수 fmin=11[MHz]를 경계로 저주파 영역에서는 디스크 노이즈(508)가 우세하고, 고주파 영역에서는 쇼트 노이즈(507)가 우세하다.FIG. 46 shows measured values of spectrums of various noises including the noise level 4501 shown in FIG. Regenerative light power was 1 mW. The noise component 4501 is composed of system noise 506 including amplifier noise, short noise 507 generated in the photodetector, and disc noise 508 including modulated noise due to nonuniformity of the mark at the time of recording. do. Here, the noise of the laser itself is at a level that can be sufficiently ignored because it uses an SHG laser. As a result of the measurement, the disk noise 508 prevails in the low frequency region around the frequency fmin = 11 [MHz], and the short noise 507 prevails in the high frequency region.

제47도에 신호 레벨(Sp-p), 각 종류의 로이즈량(N)과 매체 면상에 포커스된재생광의 전력 관계를 도시한다. 신호 레벨(Sp-p)은 제45도의 신호(4500)의 피크값에를 곱한 값에 상당하고, 노이즈는 제46도에 도시한 주파수 0으로부터 컷오프 주파수까지 영역에서 적분한 노이즈량에 상당한다. 횡축은 재생 전력(PO)을 1 로 해서 다수 규격으로 규격화한 것이다. 부호(509)는표현되는 쇼트 노이즈의 이론 곡선, 부호(510)는표현되는 신호 레벨의 이론 곡선, 부호(511)는표현되는 디스크 노이즈의 이론 곡선, 부호(500)는 시스템 노이즈의 이론 곡선이다.FIG. 47 shows the relationship between the signal level Sp-p, the amount of loosening N of each kind, and the power of the reproduced light focused on the medium surface. The signal level Sp-p corresponds to the peak value of the signal 4500 of FIG. It corresponds to the value multiplied by, and the noise corresponds to the amount of noise integrated in the region from the frequency 0 to the cutoff frequency shown in FIG. The abscissa is standardized by a number of standards with the regenerative power PO as one. The sign 509 is The theoretical curve of the short noise expressed, symbol 510 is The theoretical curve of the signal level to be expressed, symbol 511 is The theoretical curve of the disk noise, which is represented, 500 is the theoretical curve of the system noise.

검출기 상에서의 광량의 변화만을 고려하면, 시스템 노이즈(500)는 재생광의 전력에 의존하지 않는다. 반면, 쇼트 노이즈는 재생광의 전력(P)에 비례한 이론 곡선(509)이 된다. 신호 레벨과 디스크 노이즈는 재생광의 전력의 2승에 비례해서 이론 곡선(510, 511)이 된다. 여기서, 재생 전력을 올려서 신호 대역의 고주파 영역을 지배하는 쇼트 노이즈를 디스크 노이즈에 대해 줄일 수 있고 대역 내에서의 적분으로 구해지는 노이즈량을 줄일 수 있다.Considering only the change in the amount of light on the detector, the system noise 500 does not depend on the power of the reproduction light. On the other hand, the short noise becomes a theoretical curve 509 proportional to the power P of the reproduction light. The signal level and the disc noise become theoretical curves 510 and 511 in proportion to the power of the reproduction light. Here, the short noise that dominates the high frequency region of the signal band by raising the reproduction power can be reduced with respect to the disk noise, and the amount of noise determined by the integration in the band can be reduced.

제48도에 재생 전력과 재생 신호(Sp-p) 및 토탈 노이즈(Nrms)의 관계를 도시한다. 부호(512)는 재생광 DC 조사시의 재생 전력과의 관계의 이론 곡선이고, 부호(517)는 선속도 20m/sec로 재생광을 DC 조사한 경우의 실측값이며, 부호(518)는 선속도 10m/sec로 재생광을 펄스 조사한 경우의 실측값이다. 이 때의 신호 대역은 광학적 컷오프 주파수인 fmax = V/(λ/2NA)[MHz] = 22.5 MHz로 했다.FIG. 48 shows the relationship between the reproduction power, the reproduction signal Sp-p, and the total noise Nrms. Reference numeral 512 is a theoretical curve of the relationship with the reproduction power at the time of reproduction light DC irradiation, reference numeral 517 is an actual value when DC irradiation is performed at a linear speed of 20 m / sec, and reference numeral 518 is a linear speed. It is an actual value at the time of pulse irradiation of reproduction light at 10 m / sec. The signal band at this time was fmax = V / (λ / 2NA) [MHz] = 22.5 MHz, which is an optical cutoff frequency.

이론 곡선(512)으로부터 알 수 있듯이 재생 전력을 1mW로부터 2mW로 하고1.8 dB, 4mW로 하면, 2.8dB, SN인 향상되는 것을 알 수 있다. 다만, 실제의 시스템에서는 재생 전력을 증가시키는 경우에 다음의 문제가 생긴다.As can be seen from the theoretical curve 512, when the regenerative power is set from 1 mW to 2 mW and 1.8 dB and 4 mW, it can be seen that the improvement is 2.8 dB and SN. However, in an actual system, the following problem occurs when increasing the reproduction power.

제47도를 참고로 이 문제에 대해 설명한다. 제47도에서 곡선(513)은 선속도 10m/sec로 빛을 DC 조사한 경우의 신호 레벨의 실측값이고. 곡선(514)은 선속도 10m/sec로 빛을 DC 조사한 경우의 디스크 노이즈 레벨의 실측값이다.This problem is explained with reference to FIG. Curve 513 in FIG. 47 is the measured value of the signal level in the case of DC irradiation of light at a linear velocity of 10 m / sec. Curve 514 is a measured value of the disk noise level when DC irradiation of light at a linear velocity of 10 m / sec.

첫째, 신호 레벨이 실측 곡선(513)과 같이 이론 곡선(510)보다 낮다. 이것은 제49도에 도시한 바와 같이 신로 레벨을 지배하는 자성막의 케르 회전각이 온도와 함께 감소하는 성질을 갖기 때문에 재생 전력의 증가와 함께 막 표면의 온도가 상승하고 신호 레벨이 떨어지기 때문이다.First, the signal level is lower than the theoretical curve 510, such as the measured curve 513. This is because the Kerr rotation angle of the magnetic film that controls the furnace level decreases with temperature, as shown in FIG. 49, so that the temperature of the film surface increases and the signal level decreases with the increase of the regenerative power. .

둘째, 실측 곡선(514)과 같이 디스크 노이즈 레벨이 이론 곡선(511)보다도 재생 전력의 상승에 따라 증가한다. 이것은 막 표면의 온도가 상승하면 자성막의 자화가 불안정하게 되고 디스크 노이즈가 상승하기 때문이다.Second, as in the measurement curve 514, the disk noise level increases with the increase of the reproduction power than the theoretical curve 511. This is because the magnetization of the magnetic film becomes unstable and the disk noise rises when the temperature of the film surface rises.

상기 문제를 해결하기 위해 선속도를 올려서 재생 전력을 올려도 막 표면의 온도가 상승하지 않게 하는 것이 고려된다.In order to solve the above problem, it is considered that the temperature of the film surface does not rise even when the linear speed is increased to increase the regenerative power.

제47도를 참조하면, 곡선(515)은 선속도를 2배인 20m/sec로 해서 재생광을 DC 조사한 경우의 신호 레벨의 실측값이고, 곡선(516)은 마찬가지로 디스크 노이즈 레벨의 실측값이다. 곡선(515, 516)은 재생 전력을 3mW 정도까지 상승시킬 수 있는 것을 도시한다. 그러나, 재생 전력에 대한 실측의 SN은 제48도의 실측 곡선(517)에 나타난 바와 같이 0.5dB 정도의 개선 밖에 얻어지지 않는다. 그 이유는 선속도의 증가와 함께 신호 대역을 비례해서 증가시켜야 하고, 제46도에서 알 수 있는 바와같이 고주파 영역의 노이즈를 지배하는 쇼트 노이즈의 대역 내에서의 노이즈량이 증가하고, 그 결과로 SN이 떨어진다. 이 현상에 대해 후술한다.Referring to FIG. 47, the curve 515 is an actual value of the signal level when the reproduction light is irradiated with DC at 20 m / sec, which is twice the linear velocity, and the curve 516 is an actual value of the disc noise level. Curves 515 and 516 show that the regenerative power can be raised to about 3 mW. However, the measured SN with respect to the regenerative power can only be improved by about 0.5 dB as shown by the measured curve 517 of FIG. The reason is that the signal band should be increased proportionally with the increase of the linear velocity. As can be seen from FIG. 46, the amount of noise in the band of the short noise which dominates the noise in the high frequency region increases, and as a result, the SN Falls. This phenomenon will be described later.

제50도에는 막 표면의 피크 온도가 유지되는 재생 전력(5000)을 각 선속도에 대해 구하고, 구해진 재생 전력에 대해 SN을 구해서 선속도에 대한 SN(5001)을 구한 결과를 도시한다. 이 결과로부터 알 수 있듯이 선속도를 10m/sec로부터 상승시켜도 SN 향상이 거의 얻어지지 않는 것을 알 수 있다.FIG. 50 shows the result of obtaining the regenerative power 5000 at which the peak temperature of the film surface is maintained for each linear velocity, and obtaining the SN 5001 for the linear velocity by obtaining SN for the obtained regenerative power. As can be seen from this result, even if the linear velocity is increased from 10 m / sec, it is understood that almost no SN improvement is obtained.

이상의 고찰로부터, 본 실시예에서는 신호 대역을 올리지 않고 재생 전력을 올리기 위해 재생시에 데이타의 검출점에서 펄스를 조사하고 막 표면의 온도를 상승하지 않게 하면서 신호를 재생한다. 재생광의 강도 레벨은 제44C도에 도시한 바와 같이 광원으로부터 통상 직류광으로 조사하는 재생 레벨 Pdc(502)보다 큰 제3강도 레벨 Pp(503)을 갖는 빛을 격자점에서 펄스식으로 조사한다.In view of the above, in the present embodiment, in order to increase the reproduction power without raising the signal band, the signal is reproduced while irradiating a pulse at the detection point of data at the time of reproduction and not raising the temperature of the film surface. As shown in FIG. 44C, the intensity of the regenerated light is irradiated pulsed at the lattice point with light having a third intensity level Pp 503 which is larger than the regeneration level Pdc 502 irradiated from the light source with the normal DC light.

제51도에는 상기 기록 재생 조건하에서 직류광 재생시와 각종 펄스 폭의 기록막 표면의 온도 분포 실측값을 도시한다. 조사 전력의 파의 높이 값을 2mW, 광 스폿의 선속도를 10m/sec로 하고, 펄스 폭을 10ns, 20ns, 30ns 및 DC 조사로 변화시켰다. 곡선(511)은 펄스 폭 10ns, 곡선(512)은 펄스폭 20ns, 곡선(513)은 펄스폭 30ns, 곡선(514)은 DC 조사인 경우의 도달 온도이다. 펄스 폭이 10ns인 경우, 직류광 조사의 절반이 피크 온도가 되고 10m/s에서 2mW의 재생 전력을 조사할 수 있는 것을 알 수 있다.FIG. 51 shows the measured temperature distribution of the surface of the recording film of various pulse widths during direct current light reproduction under the recording and reproducing conditions. The wave height of the irradiation power was 2 mW, the linear velocity of the optical spot was 10 m / sec, and the pulse width was changed to 10 ns, 20 ns, 30 ns, and DC irradiation. Curve 511 is a pulse width of 10 ns, curve 512 is a pulse width of 20 ns, curve 513 is a pulse width of 30 ns, and curve 514 is the arrival temperature in the case of DC irradiation. When the pulse width is 10 ns, it can be seen that half of the DC light irradiation becomes the peak temperature and 2 mW of regenerative power can be irradiated at 10 m / s.

제47도에서 곡선(4700)은 선속도 10m/s로 재생광을 펄스 형상으로 조사한 경우의 재생 신호의 실측값을, 곡선(4701)은 마찬가지로 디스크 노이즈의 실측값을도시한다. 제48도의 부호(517)는 마찬가지로 재생 전력에 대한 SN의 실측 곡선을 도시한다. 이들로부터 알 수 있는 바와 같이 신속도 10m/s, 재생 전력 3mW에서 SN이 2.3dB 증가할 수 있었다.In FIG. 47, the curve 4700 shows the measured value of the reproduced signal when the reproduced light is irradiated in the pulse shape at a linear velocity of 10 m / s, and the curve 4701 similarly shows the measured value of the disc noise. Reference numeral 517 in FIG. 48 likewise shows an actual measurement curve of SN with respect to regenerative power. As can be seen from this, SN could increase by 2.3 dB at 10 m / s rapidity and 3 mW of regenerative power.

여기서, 제44C도의 조사시에는 다음의 문제가 생긴다. 제44D도에 도시한 바와 같이 빛을 DC로 조사하고 있는 샘플 영역(500)으로부터 펄스 조사로 옮겨갈 때, 직류 조사에 의한 격자점에서의 남은 열에 의해 온도 레벨이 상승한다(4400). 그러나, 다음의 펄스 조사시에는 남은 열이 작아지기 때문에 온도 레벨이 떨어진다(4401). 그리고, 수 펄스 조사 후의 온도 레벨은정상값이 된다. 이 온도 레벨의 변동을 없게 하기 위해 샘플 영역과 데이타 영역 사이에 갭 영역(505)을 형성한다.Here, the following problem arises at the time of irradiation of FIG. 44C. As shown in FIG. 44D, when moving from the sample area 500 which is irradiating light with DC to pulse irradiation, the temperature level rises due to the remaining heat at the lattice point by the direct current irradiation (4400). However, at the next pulse irradiation, since the remaining heat becomes smaller, the temperature level falls (4401). And the temperature level after several pulse irradiation turns into a normal value. A gap region 505 is formed between the sample region and the data region in order to keep this temperature level from fluctuating.

제52도에는 갭 영역을 형성하지 않고 온도 레벨을 일정하게 하는 방법을 도시한다. 광원으로부터 직류광으로 조사하는 재생 레벨(502)보다 큰 제3의 강도 레벨(503)을 갖는 펄스를 격자점에서 펄스식으로 조사하고, 강도 제로의 기간을 좁게하며, 격자점간에서는 재생 레벨(502)보다 큰 제2 강도 레벨(519)의 남은 열 용의펄스를 준다. 제52C도와 같이 강도를 변조해서 샘플 영역(500)으로부터 데이타 영역(501)으로 직정 광 스폿이 들어가도 펄스 조사에 의한 온도 레벨을 제52D도에 도시한 바와 같이 일정하게 할 수 있다.52 shows a method of making the temperature level constant without forming a gap region. A pulse having a third intensity level 503 greater than the reproduction level 502 irradiated from the light source with the direct current light is pulsed at the lattice point, the period of intensity zero is narrowed, and the regeneration level 502 between the lattice points. Pulses for the remaining heat of the second intensity level 519 greater than). As shown in FIG. 52C, even if a direct light spot enters the data area 501 from the sample area 500, the temperature level by pulse irradiation can be made constant as shown in FIG. 52D.

이하에 구체적인 재생시의 동작에 대해 설명한다.The operation during concrete playback will be described below.

재생시에 트래킹 신호 및 클럭을 추출하기 위한 샘플 영역(500)에서는 직류광으로 조사 및 재생을 행하고, 데이타 영역(501)에서 제24, 25 및 26도에 도시한기록 회로를 재생시에도 쓰며, 각 기록용 스트로브 펄스(221)에 의해 재생시의 격자점에 동기된 타이밍으로 제15도에 도시하는 AO 구동 회로(377)를 구동해서 재생광을 변조한다. 여기서, 재생 스폿(4400)은 회절 격자에 의해 3 스폿을 구성하므로 개별 스폿이 격자점에서 펄스를 발생시킬 수 있도록 각 기록용 스트로브(221)로부터의 펄스를 혼합해서 AO 구동 회로(377)를 변조한다.In the sample area 500 for extracting the tracking signal and the clock at the time of reproduction, irradiation and reproduction is performed with DC light, and the recording circuits shown in FIGS. 24, 25 and 26 degrees in the data area 501 are also used during reproduction. The strobe pulse 221 drives the AO drive circuit 377 shown in FIG. 15 at a timing synchronized with the lattice point at the time of reproduction to modulate the reproduction light. Here, since the reproduction spot 4400 constitutes three spots by a diffraction grating, the AO driving circuit 377 is modulated by mixing the pulses from each recording strobe 221 so that individual spots generate pulses at the lattice points. do.

다만, 하나의 스폿이 격자점에서 펄스를 조사하면 다른 스폿에서는 격자점이 아닌 곳에서 펄스를 조사하게 되고 온도가 상승한다. 실제로는 다른 2개의 스폿에 의한 펄스 조사가 생겨도 온도가 상승하지 않도록 펄스 폭을 1/3 정도로 한다. 또, 3개의 스폿이 항상 같은 시각에 스폿 주사 방향의 격자점 간격에 위치하도록 제15도에 도시한 회절 격자(311)를 회전 제어해도 된다. 이로써 하나의 기록용 스트로브 펄스(221)에 의해 3 스폿의 각 격자점에서 펄스가 조사되므로 1스폿 조건에서 재생 펄스 조건을 만족시킬 수 있다. 한편, 회절 격자를 쓰지 않고 재정 광원으로서 3개의 광원과 3개의 AO 구동 회로를 사용하므로써 독립적으로 변조해도 된다.However, when one spot irradiates a pulse at a lattice point, the other spot irradiates a pulse at a non-grid point and the temperature rises. In practice, the pulse width is about one-third so that the temperature does not rise even if pulse irradiation by two different spots occurs. Further, the diffraction grating 311 shown in FIG. 15 may be rotated so that three spots are always located at the same point in the lattice point interval in the spot scanning direction. As a result, the pulse is irradiated at each lattice point of three spots by one recording strobe pulse 221, so that the reproduction pulse condition can be satisfied in one spot condition. In addition, you may independently modulate by using three light sources and three AO drive circuits as a financial light source, without using a diffraction grating.

재생 회로는 제28 및 29도의 구성을 그대로 적용하고 재생 펄스 조사 기간에 반사광을 격자점에 동기된 타이밍(504)으로 검출하고, 샘플 호울드로 레벨을 검출한다. 여기서, 샘플 클럭(265)은 펄스 조사 시각과 같게 할 필요는 없고 학습 영역을 설치해서 SN이 최대가 되도록 위치를 제어해서 최적화해도 된다. 이 때, 샘플시의 시상수를 학습해서 최적화하는 것도 가능하다.The reproducing circuit applies the configuration of FIGS. 28 and 29 as it is, detects the reflected light at the timing 504 synchronized with the lattice point in the reproducing pulse irradiation period, and detects the level with the sample holder. Here, the sample clock 265 does not have to be the same as the pulse irradiation time, but may be optimized by controlling the position so that the SN is maximized by providing a learning area. At this time, it is also possible to learn and optimize the time constant at the time of sample.

실시예에서는 펄스 재생을 위한 재생 펄스 조건을 막 표면의 피크 온도로 규정했으나, 실제로는 마크는 유한한 폭을 가지므로 마크 폭에서의 온도 분포를 고려하면 더욱 최적화할 수 있다. 또, 부분 응답 신호 처리를 행하는 경우에 대해서는 그 클래스에서의 검출점에서 펄스 조사를 행하면 된다. 또, 광 초해상 스폿에 대해서도 실효 스폿 지름, 즉(λ/NA×(광 초해상에 의한 스폿 미소화율, 실시예에서는 0.8))에 대해 펄스 조건을 최적화하면 조합이 가능하다.In the embodiment, the reproduction pulse condition for pulse reproduction is defined as the peak temperature of the film surface. However, since the mark has a finite width, the mark can be further optimized by considering the temperature distribution in the mark width. In the case of performing partial response signal processing, pulse irradiation may be performed at the detection point in the class. The optical super resolution spot can also be combined by optimizing the pulse condition with respect to the effective spot diameter, i.e., (λ / NA x (spot micronization rate due to the optical super resolution, 0.8 in the embodiment)).

본 발명에 의하면, 현존의 광 디스크 장치에서의 기록 밀도가 1Gbit/in2정도인 것에 대해 현재 사용 가능한 광원, 광학적 소자, 기록 재생 기술을 써서 약 1자리 이상의 고밀도화를 실현할 수 있다.According to the present invention, a density of about 1 digit or more can be realized by using a light source, an optical element, and a recording / reproducing technique currently available for a recording density of about 1 Gbit / in 2 in an existing optical disk device.

Claims (12)

고밀도 정보 기록 및 재생 방법에 있어서,In the high density information recording and reproducing method, 초해상 광학계를 사용해서 파장 680 nm의 기록 레이저 광을 매체에 조사하여 상기 매체 상에 기록 스폿을 형성하고, 상기 기록 스폿의 열에너지로 상기 매체상에 상기 기록 스폿의 4분의 1 이하 크기의 마크를 형성하는 단계; 및A recording laser light having a wavelength of 680 nm is irradiated onto the medium by using a super resolution optical system, and a recording spot is formed on the medium, and the heat energy of the recording spot is about one quarter or less of the size of the recording spot on the medium. Forming a; And 파장 530 nm의 재생 레이저 광을 사용하여 상기 마크로부터 신호를 재생하는 단계Reproducing a signal from the mark using regenerated laser light having a wavelength of 530 nm 를 포함하는 방법.How to include. 제1항에 있어서, 상기 조사 단계에서, 트랙 방향 및 상기 트랙 방향에 수직인 반경 방향으로 확장하는 상기 매체 상의 2차원 격자의 격자점에 상호 유사한 원형 마크를 배열하는 2차원 기록을 행하는 방법.A method according to claim 1, wherein in said irradiating step, two-dimensional recording is performed in which circular marks similar to each other are arranged at grid points of a two-dimensional grid on the medium extending in a track direction and a radial direction perpendicular to the track direction. 고밀도 정보 기록 및 재생 방법에 있어서,In the high density information recording and reproducing method, 초해상 광학계를 사용해서 제1 파장의 기록 레이저 광을 매체에 조사하여 상기 매체 상에 기록 스폿을 형성하고, 상기 기록 스폿의 열에너지로 상기 매체 상에 상기 기록 스폿의 4분의 1 이하 크기의 마크를 형성하는 단계; 및A recording laser light of a first wavelength is irradiated onto the medium by using a super resolution optical system to form a recording spot on the medium, and a mark having a size equal to or less than a quarter of the recording spot on the medium by the thermal energy of the recording spot. Forming a; And 상기 제1 파장보다 짧은 제2 파장의 재생 레이저 광을 사용하여 상기 마크로부터 신호를 재생하는 단계Reproducing a signal from the mark using reproducing laser light of a second wavelength shorter than the first wavelength 를 포함하며, 상기 조사 단계에서 트랙 방향 및 상기 트랙 방향에 수직인 반경 방향으로 확장하는 상기 매체 상의 2차원 격자의 격자점에 상호 유사한 원형 마크를 배열하는 2차원 기록을 행하는 방법.2. The method of claim 2, wherein the irradiating step arranges circular marks that are similar to each other at grid points of a two-dimensional grid on the medium extending in a track direction and a radial direction perpendicular to the track direction. 제2항 또는 제3항에 있어서, 상기 마크로부터 재생된 상기 신호를 사용하여 신호 처리를 행함으로써 정보를 검출하는 방법.The method according to claim 2 or 3, wherein the information is detected by performing signal processing using the signal reproduced from the mark. 제4항에 있어서, 상기 매체 상에 이산적으로 제공된 클럭 마크로부터 기록 클럭 신호 및 재생 클럭 신호를 생성하는 단계와, 상기 매체 상에 제공된 워블 마크로부터 트래킹 에러 신호를 검출하는 단계를 더 포함하는 방법.5. The method of claim 4, further comprising generating a recording clock signal and a reproducing clock signal from discretely provided clock marks on the medium, and detecting a tracking error signal from the wobble marks provided on the medium. . 제2항 또는 제3항에 있어서, 강력한 레이저 광을 상기 매체에 미리 조사하여 국부적으로 구조를 완화시켜 보자력을 약화시킴으로써, 상기 매체의 기록 감도 특성을 미소 영역에서 국부적으로 변화시켜 상기 기록 스폿의 형상에 의존하지 않는 미소 마크를 형성하는 단계를 더 포함하는 방법.4. The shape of the recording spot according to claim 2 or 3, wherein a strong laser light is previously applied to the medium to locally relax the structure to weaken the coercive force, thereby changing the recording sensitivity characteristic of the medium locally in a minute region. Forming a micro mark that is not dependent on the method. 제2항 또는 제3항에 있어서, 인젝션에 의해 상기 매체에 광 디스크 기판의 상 미소 요철 패턴을 형성하여 자기 마크를 형성하기 위한 핵을 제공함으로써, 기록 마크의 국부적 형성을 쉽게 하고, 이에 따라 상기 기록 스폿의 형상에 의존하지 않는 미소 마크를 형성하여, 상기 매체의 기록 감도 특성을 미소 영역에서 국부적으로 변화시켜 상기 기록 스폿의 형상에 의존하지 않는 미소 마크를 형성하는 단계를 더 포함하는 방법.4. The method according to claim 2 or 3, wherein the core is formed by injection to form an image microconcave-convex pattern of the optical disk substrate to provide a nucleus for forming a magnetic mark, thereby facilitating local formation of a recording mark. Forming a micro mark that does not depend on the shape of the recording spot, and locally changing the recording sensitivity characteristic of the medium in the micro area to form a micro mark that does not depend on the shape of the recording spot. 제2항 또는 제3항에 있어서, 형성된 마크 상에 샘플 서보를 사용하여 적어도 하나의 스폿을 위치시켜서, 광 스폿이 격자점에 위치할 때 매립 마크로부터 생성된 클럭 신호에 따라 검출 신호를 샘플링하여 홀딩하며,The method according to claim 2 or 3, wherein at least one spot is positioned on the formed mark by using a sample servo to sample the detection signal according to a clock signal generated from the buried mark when the light spot is located at the lattice point. Holding, 상기 방법은,The method, 학습 영역에서 인접한 격자점으로부터의 간섭량을 미리 결정하는 단계, 및Determining an amount of interference from adjacent grid points in the learning area, and 샘플/홀드가 행해진 후에 상기 검출 신호로부터 간섭량을 제거하여 격자점에 기록된 마크의 유무를 걸출하는 단계Removing the amount of interference from the detection signal after the sample / hold is performed to determine the presence or absence of the mark recorded at the grid point 를 포함하는 방법.How to include. 제1항에 있어서, 상기 매체에 선정된 형태를 갖는 미소 마크가 기록된 매립 마크층을 미리 제공하고, 상기 기록 스폿을 상기 매립 마크층에 대해 위치시켜 상기 매립 마크가 자기적으로 전사되는지의 여부에 따라 상기 기록 스폿에 의해 상기 매체의 재생층에 정보 마크를 기록하는 방법.The method according to claim 1, wherein a buried mark layer in which a micro mark having a predetermined shape is recorded on the medium is provided in advance, and the recording spot is positioned with respect to the buried mark layer to determine whether the buried mark is magnetically transferred. Recording an information mark on a reproduction layer of said medium by said recording spot. 정보 기록 및 재생 장치에 있어서,In the information recording and reproducing apparatus, 680nm 파장의 기록용 레이저;A recording laser of 680 nm wavelength; 상기 기록용 레이저에서 매체에 이르는 광 경로에 배치되고, 상기 기록 레이저의 일부를 차단하여 상기 매체 상에 기록 스폿을 형성시켜서, 상기 기록 스폿의 4분의 1 이하의 크기를 갖는 마크가 상기 기록 스폿의 열 에너지에 의해 상기 매체상에 형성되도록 하는 차광판(shielding plate); 및A recording spot disposed on the optical path from the recording laser to the medium and blocking a portion of the recording laser to form a recording spot on the medium, wherein a mark having a size of one quarter or less of the recording spot is located in the recording spot. A shielding plate to be formed on the medium by means of thermal energy; And 상기 기록 레이저에 의해 상기 매체 상에 기록된 상기 마크로부터 신호를 재생하기 위한 530 nm 파장의 기록용 레이저A recording laser of 530 nm wavelength for reproducing a signal from the mark recorded on the medium by the recording laser. 를 포함하는 장치.Device comprising a. 제10항에 있어서, 상기 매체 상에 이산적으로 제공된 클럭 마크로부터 기록 클럭 신호 및 재생 클럭 신호를 생성하고, 상기 매체 상에 제공된 워블 마크로부터 트랙킹 에러 신호를 검출하기 위한 수단을 더 포함하는 장치.11. The apparatus of claim 10, further comprising means for generating a write clock signal and a playback clock signal from discretely provided clock marks on the medium, and detecting a tracking error signal from the wobble marks provided on the medium. 고밀도 정보 기록 및 재생 방법에 있어서,In the high density information recording and reproducing method, 초해상 광학계를 사용해서 제1 파장의 기록용 레이저 광을 매체에 조사하여 상기 매체 상에 기록 스폿을 형성하고, 상기 기록 스폿의 열에너지로 상기 매체 상에 상기 기록 스폿의 4분의 1 이하의 크기를 갖는 마크를 형성하는 단계; 및A recording laser light of a first wavelength is irradiated onto the medium by using a super resolution optical system to form a recording spot on the medium, and the recording energy on the medium is less than one quarter the size of the recording spot on the medium. Forming a mark having; And 상기 제1 파장보다 짧은 제2 파장의 재생용 레이저 광을 사용해서 상기 마크로부터 신호를 재생하는 단계Reproducing a signal from the mark using a reproducing laser light of a second wavelength shorter than the first wavelength 를 포함하며, 상기 조사 단계 이전에, 상기 매체에 선정된 형태의 마크를 갖는 미소 마크가 기록된 매립 마크 층을 제공하고, 상기 기록 스폿을 상기 매립 마크층에 대해 위치시켜 상기 매립 마크가 자기적으로 전사되는지의 여부에 따라 상기 기록 스폿에 의해 상기 매체의 재생층에 정보 마크를 기록하는 방법.And a buried mark layer in which a micro mark having a mark of a predetermined shape is recorded on the medium, and before the irradiation step, the buried mark layer is positioned with respect to the buried mark layer so that the buried mark is magnetic. And an information mark is recorded in the reproduction layer of the medium by the recording spot according to whether or not it is transferred.
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