KR100289335B1 - 위상차를 이용한 비파괴 함수율 측정장치 - Google Patents

Abstract

본 발명은 정전용량 변화에 따른 위상차 변화를 이용하여 농산물이나 식품의 함수율을 비파괴적으로 측정하는 장치에 관한 것으로, 교류이론을 응용하여 개발된 함수율 측정장치를 통과하는 농산물이나 식품의 주파수의 위상을 검출하여 위상의 특성과 측정 대상물 내에 존재하는 함수율의 상관관계를 규명하여 함수율을 측정하도록 함으로써 측정 대상물의 함수율을 비파괴 방식으로 간편하면서 정확히 측정할 수 있도록 한 것이다.

Description

위상차를 이용한 비파괴 함수율 측정장치

본 발명은 위상차 변화를 이용한 비파괴 함수율 측정장치에 관한 것으로, 상세하게는 교류이론을 응용하여 개발된 함수율 측정장치를 통과하는 농산물이나 식품의 주파수의 위상을 검출하여 위상의 특성과 측정 대상물 내에 존재하는 함수율의 상관관계를 규명하여 함수율을 측정하도록 함으로써 측정 대상물의 함수율을 비파괴 방식으로 간편하면서 정확히 측정할 수 있도록 한 것이다.

일반적으로 과도한 건조는 농산물의 손실을 가져오고 또한 열에너지의 낭비를 초래하게되며 덜 건조된 농산물은 저장 중 부패하거나 미생물에 의한 변질을 가져와 품질저하와 손실의 원인이 된다.

한편, 건조시설·저장시설·가공시설 등을 갖춘 대단위 미곡 종합처리장 또는 식품공정의 자동차를 위해 농산물(또는 가공식품)의 비파괴적 함수율(또는 당도) 측정장치의 개발이 절실히 요구되고 있으며, 건조과정 중에서 함수율의 비파괴적 연속측정은 과도한 건조나 미비한 건조와 같은 불량건조를 방지할 수 있어서 균일한 건조를 달성할 수 있으며, 농산물의 정확한 함수율 측정은 건조 및 저장과정에서 열에너지의 효율적 이용 및 품질결정에 중요한 역활을 하게된다.

이러한, 목적에 이용되는 함수율 측정장치로는 현재 일정 시료를 채취하여 파괴적으로 함수율을 측정하는 장치에 의존하고 있는 실정이며, 이러한 비파괴 적이며 연속적인 함수율 측정장치의 개발에 대한 연구가 여러 국가에서 활발히 진행되고 있으나 근 적외선을 이용하거나 전기적 물성 측정을 통한 함수율 판정이 주류를 이루고 있다.

벼의 경우 집·출하장 등에서 저장 중인 벼의 손실을 최소화하기 위해서는 벼의 함수율 측정이 필수적인데, 벼의 함수율을 측정하는 방법은 오븐법을 비롯한 직접법과 벼의 함수율에 따른 유전율 변화를 측정하는 방법, 전기 저항의 변화를 측정하는 방법과 같은 비 파괴적 방법 등이 있다.

최근에는 벼 함수율의 비파괴 측정이 대단위 미곡 종합처리장 등에서 요구되므로 전기저항 및 유전율의 변화를 측정하는 방법이 그 대안으로 제시되고 있으나 전기저항에 의한 함수율 측정은 샘플의 수가 작아 대표성이 떨어지고, 유전율에 의한 함수율 측정은 산물의 밀도에 많은 영향을 받게된다.

또한, 발진회로의 온도보상기능을 갖춘 곡물수분장치가 일본공개특허공보 소 57－200842호로 공개된 바 있으나, 이는 온도보상에 의해 발진주파수가 비교적 안정적이기는 하나 고주파를 이용하여 입력신호와 출력신호의 전압차를 측정한 후 이를 이용하여 수분값과 비교하는 방식으로 임피던스 측정회로를 포함하여 임피던스의 변화를 전압으로 변환하여 그 차이를 수분값으로 환산하여 측정하게 되므로(단일의 전압변화분을 이용하여)분해능이 낮아 측정 정밀도가 떨어지는 문제점이 있다.

따라서, 본 발명은 정전용량에 의한 위상차 변화를 읽어 농산물이나 식품의 함수율을 비파괴적인 방법으로 간편하면서 정확히 검사할 수 있는 장치를 제공함에 목적이 있다.

상기 목적을 달성하기 위하여 함수율 측정을 위한 안테나와, 1kHz∼20MHz의 기준신호를 발생하여 증폭한 다음 안테나로 공급하는 기준 신호발생부와 증폭부, 안테나로부터 출력되는 미세한 위상변화 신호를 증폭 및 검출하는 증폭부와 위상 검출부, 검출된 위상을 변환하는 위상변환부와, 일련의 프로그램으로 변환 입력되는 위상을 기준신호와 비교하여 위상 변화분을 계산한 다음 함수율로 치환하고 또한 각 회로부를 제어하는 제어기와, 함수율을 표시하는 신호출력부와, 함수율 데이터를 외부로 전달하는 통신용 인터페이스와, 농산물 및 식품의 온도를 측정하여 제어기로 입력하는 온도측정부와, 측정 대상 농산물이나 식품을 선택하거나 2차 보정을 선택할 수 있는 설정부로 구성한다.

상기에서 기준신호 발생부는 1kHz에서 20MHz까지의 다양한 주파수의 신호원을 안정적으로 가변 발생시킬 수 있는 구조로 하여 저주파에서부터 고주파까지 다양한 정전용량을 측정할 수 있도록 한다.

또한, 안테나로부터 안정적인 신호를 얻기 위해서는 저항(R)과 콘덴서(C)의 배열이 회로에 추가로 연결이 되어야 하며, 안테나 내에 측정 대상 농산물이나 식품이 존재한다고 가정할 때, 농산물이나 식품의 함수율이 높은 경우 정전 용량 값은 큰 값을 갖게되지만 저항 값은 낮은 값을 갖게된다.

상기에서 함수율이 낮은 경우에는 이와 반대로 정전 용량값은 작고 저항값은 큰 값을 가지게 되며, 본 발명은 이러한 추이에 변화하는 위상차를 검출하여 농산물이나 식품의 함수율을 비파괴 방식으로 함수율을 측정하므로 농산물이나 식품의 밀도에 영향을 받거나 주지 않으면서 함수율 측정이 가능해 진다.

제1도는 본 발명에 사용하는 위상 측정용 안테나의 전기적인 등가 회로도.

제2도는 본 발명에서 위상 측정의 기본원리를 설명하기 위한 기본회로도.

제3도는 본 발명 다른 실시예의 단면도.

제4도는 본 발명에서 함수율이 낮은 샘플의 위상차 그래프도.

제5도는 본 발명에서 함수율이 높은 샘플의 위상차 그래프도.

제6도는 본 발명에서 기본회로를 이용한 기초실험용 회로 블럭도.

제7도는 본 발명의 기초 실험결과 그래프도.

제8도는 본 발명 위상검출 회로의 블럭도.

제9도는 본 발명 위상 검출 원리도.

제10도는 본 발명에서 함수율 측정을 위한 작업 순서도.

제11도는 본 발명의 한 실시예로 제시한 호퍼 스케일러의 호퍼 내에 설치한 안테나의 등가 회로도로, (a)－－옆에서 본 등가회로도. (b)－－상부에서 내려다 본 등가 회로도.

제12도는 본 발명의 한 실시예로 제시한 호퍼 스케일러의 정면도 및 측면도.

제13도는 본 발명에서 위상차와 함수율과의 상관관계를 도시한 그래프도.

제14도는 본 발명에서 위상차와 수분밀도의 상관관계를 도시한 그래프도.

제15도는 본 발명에서 위상차와 함수율과의 상관관계를 도시한 그래프도.

제16도는 본 발명에서 위상차와 수분밀도의 상관관계를 도시한 그래프도.

제17도는 본 발명에서 위상차와 함수율과의 상관관계를 도시한 그래프도.

제18도는 본 발명에서 위상차와 수분밀도의 상관관계를 도시한 그래프도.

제19도는 본 발명의 한 실시예로 제시한 호퍼 스케일러의 제원표.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

A : 안테나 H : 호퍼

RG : 주파수 가변 발진기 DO : 디지털 오실로스코프

R : 저항 C : 콘덴서

IB : 절연판 2 : 기준신호 발생부

4, 6 : 증폭부 8 : 위상검출부

10 : 위상변환부 12 : 신호출력부

14 : 제어기 16 : 통신 인터페이스

18 : 온도측정부 20 : 호퍼 스케일러

22 : 중앙부 전극 24 : 외부 전극

26 : 설정부

이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부한 도면에 따라 상세히 설명하면 다음과 같다.

본 발명은 1차적으로 측정 대상물(이를테면 농산물이나 식품)의 정전특성을 측정하는 것으로 시작하며, 정전용량은 일반적으로 두 개의 극판 사이에 함수율을 측정하고자 하는 특정물질 예컨대 농산물이나 식품을 채워 넣은 후 정지간에 신속히 측정하게 된다.

일반적으로 평행판 사이에서의 정전용량은이며, 여기서, C = 정전용량[F 또는 μ F], ε_o= 공기의 유전율, ε = 상대유전율, A = 평행판의 단면적, D = 평행판 사이의 거리이다.

상기에서 상대 유전율이란 공기의 유전율을 1로 할 때, 그 이외의 다른 대상물의 유전율 비를 의미하며, 물은 공기에 비해 그 값이 80배 정도로 큰 편이다.

물을 포함하는 대상물의 경우 정전용량은 공기에 비해 큰 값을 유지하며, 대상물이 물을 포함하는 정도에 비례하여 상대 유전율은 증가하며, 수분은 기체, 액체, 고체 중에 존재하는 물의 상대적인 값으로 다음 식으로 구할 수 있다.

상기 식에서 함수율이란 곡물과 같이 고체 중에 존재하는 수분의 비를 의미한다. 따라서 정전 용량식 함수율 측정기란 고형의 측정대상물에 존재하는 수분에 비례한 정전용량 값을 함수율로 변환하는 제반 장치라고 규정할 수 있다.

정전용량을 이용한 함수율 측정용 안테나(A)의 정전용량은 평판이든지 원통형이든지 상관없이 두 극판 사이에 측정 대상물을 넣은 후 측정하게 된다.

두 극판 사이에 측정 대상물이 위치하게 될 때 정전용량을 측정하는 안테나(A)는 저주파와 고주파를 이용하는 전기적인 회로에서는 제1도와 같이 저항 한 개와 콘덴서 한 개의 병렬회로로 정의된다.

직류전원을 공급할 때 저항(R)값 만의 변화를 측정하게 되나, 교류전원을 공급할 때에는 저항(R)값과 콘덴서(C)값의 변화를 측정하게 되며, 교류가 입력될 때 모든 소자는 교류에 대한 저항 값의 형태를 가지게 되고 이 값을 임피던스(Z)라고 정의하며 그 단위는 오옴(Ω)을 사용한다.

병렬로 연결된 회로에 대한 교류 임피던스는 다음과 같이 계산된다.

임피던스(Z) = R + jXc

여기서,, f = 주파수[Hz], C = 정전용량[μF]이다.

또한, 교류의 위상을 측정하는 경우 특정 주파수를 갖는 교류가 전기회로를 통과할 때 저항체에서는 그 위상의 변화가 없으나, 콘덴서를 지날 때는 그 위상이 변화하게 된다.

저항(R)과 콘덴서(C)가 직렬로 연결될 때 교류의 위상은 지상이 되나, 저항과 콘덴서가 제2도와 같이 직렬 형태로 연결 될 때는 교류위상은 진상이 된다.

제2도에서 측정되는 위상의 변화는 다음과 같은 식으로 구할 수 있다.

Φ₁= 0,이고,

여기서,

위상차 측정 Φ_diff= Φ₂－ Φ₁이다.

또한, 안테나(A)로부터 안정적인 신호를 얻기 위해서는 저항(R)과 콘덴서(C)를 추가로 접속하여야 하며, 제3도에서 저항(R1)(R2)과 콘덴서(C1)는 시뮬레이션을 위한 특정 값으로 그 값을 변화시켜 안테나(A)에서 최대의 위상차가 나오는 값(또는 접속점)을 찾을 수 있다.

상기 안테나(A) 내에 측정 대상 농산물이나 식품이 존재한다고 가정할 때, 농산물이나 식품의 함수율이 높은 경우 정전 용량 값은 큰 값을 갖게되지만 저항값은 낮은 값을 갖게된다.

함수율이 낮은 경우에는 이와 반대로 정전 용량값은 작은 값을 가지게 되며, 저항값은 큰 값을 가지게 된다.

본 발명은 이러한 추이에 따라 변환하는 위상차를 검출하여 농산물이나 식품의 함수율을 정확히 측정할 수 있으며, 이러한 원리를 바탕으로 시뮬레이션 한 결과는 다음과 같다.

먼저, 제4도는 정전용량 값이 낮을 때의 위상차를 측정한 결과 그래프로, 입력전원을 5V로 공급하고, 주파수는 26kHz로 공급하였을 때 정전 용량값은 약 1nF, 저항값은 약 2MΩ 이었다.

또한, 제5도는 정전 용량값이 높을 때의 위상차를 측정한 결과 그래프로, 입력전원을 5V로 공급하고, 주파수는 26kHz로 공급하였을 때 정전 용량값은 약 9nF, 저항값은 약 2KΩ 이었다.

제6도는 본 발명에서 기초실험을 하기 위한 기본 회로 블록도이다.

즉, 위상차를 발생시키는 안테나(A)와 싸인(sine) 파형의 고주파를 발생시키는 주파수 가변형 발진기(RG)와 안테나로 감지한 위상을 비교하여 출력하는 디지털 오실로스코프(DO)로 시뮬레이션에서 최적화 된 값을 이용하여 기초실험을 위한 간이회로를 구성하였다.

상기에서 주파수 가변형 발진기(RG:Generator)는 발진주파수를 1kHz에서 100MHz까지 가변시킬 수 있는 장비를 이용하였으며, 매우 안정적인 신호원으로 이용되었다.

디지털 오실로스코프(Digital Oscilloscope)는 신호원과 기본회로를 통과한 신호를 동시에 출력하여 그 위상차를 측정한 후 그 간격을 출력하고, 함수율 측정 대상품종으로는 국내에서 널리 재배되고 있는 단립종 벼 들로서 화성, 일품, 추청품종을 사용하였다.

또한, 표준 수분측정 방법은 다양한 방법들이 있으나, 국내 농가에 널리 보급되어 있는 전기저항식 수분계를 검정하는 농산물 검사소 측정법을 이용하였으며, 그 측정방법은 다음과 같다.

먼저, 전체 측정대상물에서 일부인 5g 샘플 벼를 채취한 후, 이를 분쇄기로 분쇄한 다음 105℃ 상온 건조기에 넣은 후 5시간 건조하고, 건조된 샘플은 건조 전후의 질량차이를 이용하여 그 함수율을 측정하였다.

제7도는 상기 과정으로 측정한 함수율의 결과를 나타낸 것으로, 함수율 측정곡선은 3차식으로 나타났으며, 결정계수(r²)는 약 0.98 이고, 오차는 약 0.55였다.

기초실험 결과를 이용하여 함수율 측정기를 개발하기 위해서는 주파수 발생 회로, 위상차 변환 및 측정회로, 주 회로(Main Controller), 입출력 회로(Input/Output Board), 통신회로(Serial communication, RS－232 등), 정전용량 측정회로(Dielectric Property Measurement Board), 온도측정 센서(Thermometer), 정전용량 측정 안테나(Antenna)와 같은 구성의 함수율 측정기로 구성된다.

즉, 제8도와 같이 함수율 측정을 위한 안테나(a)와, 1kHz∼20MHz의 기준신호를 발생하여 증폭한 다음 안테나(A)로 공급하는 기준 신호발생부(2)와 증폭부(4), 안테나(A)로부터 출력되는 미세한 위상변화 신호를 증폭 및 검출하는 증폭부(6)와 위상 검출부(8), 검출된 위상을 변환하는 위상변환부(10)와, 일련의 프로그램으로 변환 입력되는 위상을 기준신호와 비교하여 위상 변화분을 계산한 다음 함수율 데이터로 치환하고 또한 각 회로부를 제어하는 제어기(14)와, 함수율을 표시하는 신호출력부(12)와, 함수율 데이터를 외부로 전달하는 통신용 인터페이스(16)와, 농산물 및 식품의 온도를 측정하여 제어기(14)로 입력하는 온도측정부(18)와, 측정대상 농산물이나 식품을 선택하거나 2차 보정을 선택할 수 있는 설정부(26)를 제어기(14)의 입력에 접속하여 구성한다.

상기에서 위상 변환된 신호가 입력되면 제어기(14)는 위상 변환된 신호의 하이레벨(high level)(TTL 5V 출력)기간 동안의 시간을 계산한다. 이 기간은 함수율과 직접적으로 비례하는 신호이므로 하이레벨의 시간을 측정함으로써 함수율 측정이 가능하다.

또한, 기준 신호발생부(2)는 1kHz에서 20MHz까지의 다양한 주파수의 신호원을 안정적으로 가변 발생시킬 수 있는 구조로 하여 저주파에서부터 고주파까지 다양한 정전용량을 측정할 수 있도록 한다.

제9도는 위상검출의 원리를 자세하게 설명하고 있다. 제9(a)도는 기준 신호발생부(2)에서 발생되는 기준신호와 안테나(A)를 통과한 후의 신호를 나타내고 있다. 함수율이 높은 신호의 경우 진폭이 기준신호와 비슷하며 위상차도 작게 나타나고 있다.

반면 함수율이 낮은 신호의 경우 출력신호의 진폭이 작아졌으며 아울러 위상차가 많이 발생하고 있다. 제9(b)도는 제9(a)도의 신호를 반파 정류하여 0V 이하의 신호는 제거되고 0V 이상의 신호만 얻은 모습이다.

제9(c)도는 반파 정류하여 디지털 회로에서 읽을 수 있도록 그 크기를 TTL 레벨(level)로 바꾼 신호이다. 디지털 신호변환 및 파형정형은 슈미트 트리거(shimmit trigger)와 같은 일반적인 회로를 사용하면 될 것이다.

제9(d)도는 안테나(A)로 공급한 기준 주파수와, 안테나(A)로부터 획득한 신호를 합성하여 얻은 신호이다.

상기 신호는 함수율에 따라 그 폭의 크기가 달라지며, 따라서 함수율 측정의 가능성을 제시하여 준다. 이 신호를 제어기(14)에서 처리하면 함수율을 측정할 수 있으며, 이러한 측정방법은 저주파의 경우 제9(d)도의 신호를 윈도우(window) 신호로 사용하고 주파수 카운터를 이용하여 함수율을 측정하는 방법과, 고주파의 경우 적분기를 사용하여 적분한 후 A/D 콘버터(converter)를 이용하여 그 크기를 측정하는 방법이 있다.

본 발명에서는 주파수 카운터를 이용한 함수율 측정방법을 이용하였다.

함수율 측정을 위한 제어 및 출력을 위한 제어기(14)는 8751와 같은 원 칩(ONE CHIP)의 마이컴(MICOM)을 이용하였으며, 상기 제어기(14)에는 정확한 함수율 측정을 위하여 측정 대상 선정을 위한 대상물 또는 측정 곡선 선택키, 2차적으로 함수율 값을 선정할 수 있는 2차 보정키가 내장되어 있다.

함수율은 온도에 따라 그 값이 변화하는 경향이 있다. 보통 1℃ 상승에 따라 0.1% 내외의 함수율 값이 증가하는 경향이 있다. 따라서 본 발명에서는 pt－100과 같은 온도측정 감지센서로 구성된 온도 측정부(18)를 호퍼(H)내에 설치한 다음 제어기(14)에 접속하여 측정하도록 한다.

본 발명에서 함수율 측정 결과는 세븐 쎄그먼트(7－segment)나 액정 표시기로 구성된 신호출력부(12)로 측정값을 상시 출력할 수 있도록 하고, RS－232와 같은 통신 인터페이스(16)를 통하여 외부 컴퓨터와 마이컴에 시리얼(serial) 신호로 그 결과 값을 전달할 수도 있으며 외부에서 제어기(14)를 원격으로 제어할 수도 있다.

함수율 측정을 위한 제어 프로그램의 순서도(flow chart)는 제10도와 같다.

본 발명 의한 함수율 측정속도는 1초에 최대 1,000회이다. 따라서 1초에 10회 정도의 함수율 측정이 요구된다면 최대 100채널(channel)에 해당하는 개수의 함수율을 측정할 수 있다.

이때, 10회 정도의 함수율 값을 평균하는 이유는 외부잡음(noise)에 의한 약간의 신호차이(신호오차)를 평균화 함으로서 정확한 함수율을 측정하기 위함이며, 따라서, 본 발명 함수율 측정기의 정확도는 다른 함수율 측정기에 비해 그 정확도가 더욱 향상된다.

한편, 함수율을 측정하기 위한 안테나(A)는 적용 대상물 및 그 크기에 따라 다르게 제작할 수 있는바 본 발명에서는 대용량 호퍼 스케일러에 실제로 적용하였다. 제12도는 농산물이나 식품의 중량계량 및 수분 측정용 호퍼 스케일러(20)의 정면도 및 측면도이고, 제11도는 상기 호퍼 스케일러(20)의 내부에 설치한 안테나(A)의 측면 및 평면에서 바라본 모습이다.

하부호퍼(H2)의 수직 중심선에 절연판(IB)을 수직으로 고정하고, 절연판(IB)의 좌·우측 앞·뒤 표면에 도전성 전극(22)을 접착시켜 고정하고, 다른 전극(24)은 호퍼 스케일러(20)의 외벽을 이용하여 전극(22)(24) 사이에 등가저항(R)과 등가 콘덴서(C)로 구성되는 총 4개의 안테나(A)를 설치하고, 전극(22)(24)의 단자에는 기준신호 공급용 증폭부(4)와 위상 검출용 증폭부(6)를 각각 접속하여 각각의 안테나(A)로 함수율을 구한 다음 4개의 함수율 값을 평균하도록 구성하여 측정오차를 줄이도록 한다.

상기에서 안테나(A)의 갯수를 4개로 예를 들었으나, 함수율 측정 대상물의 종류나 측정량 또는 호퍼의 크기에 따라 물론 그 이상 또는 그 이하의 갯수와 크기로 구성할 수 있을 것이며, 중앙부의 전극(22)과 외부의 전극(24) 사이에 농산물과 식품을 비롯한 함수율 측정 대상물이 위치하게 되며, 따라서 중앙부의 전극(22)과 호퍼의 외벽인 외부전극(24)은 콘덴서와 저항이 병렬로 연결된 등가회로를 가지게 된다.

본 발명의 함수율 측정기를 적용한 호퍼 스케일러(20)는 상부호퍼(H1)와 하부호퍼(H1)로 2개 구성된다. 상부호퍼(H1)는 일정한 밀도를 유지하기 위하여 일정한 양 이상의 측정 대상물이 존재할 때만 안테나(A)에 측정대상물을 공급하는 구조를 가지고 있으며, 상부호퍼(H2)의 내측면에는 제어기(14)에 접속된 온도 측정부(18)를 설치하여 농산물이나 식품의 온도를 측정하여 함수율을 계산할 때 이용하도록 한다.

따라서, 약간의 차이는 있지만 일정한 크기의 밀도를 유지할 수 있음이 실험결과를 통해서 검증되었다.

호퍼 스케일러(20)는 중량을 측정하기 위하여 로드셀을 이용한 측정방식을 채택하고 있다. 60kg 이상의 대상물에 대하여 1/16,000의 분해능을 가지며 정확한 중량 측정이 가능하다.

함수율을 측정하고 그 결과를 얻기 위하여 샘플 제작의 선택이 필요하며 본 발명에서는 측정 대상물로 벼를 선택하였으며, 벼의 초기 함수율이 13% 내외였으므로 함수율을 높이기 위해 물을 가수하여 함수율을 높이는 방법을 이용하였다.

또한, 함수율이 벼 전체에 걸쳐 고르게 분포되도록 물을 가수하여 4℃의 저온 저장고에 2주 이상 보관하여 전체적으로 함수율 평형이 이루어지도록 하였다.

또한, 함수율 측정방법에서 농산물 검사소 표준방법은 5g의 벼 샘플을 분쇄한 후 105℃에서 5시간 건조한 다음 습량 기준 함수율 방법을 이용하였으며 전체적인 함수율의 범위는 13% ∼ 28%까지 고르게 분포되었다.

개발된 제품의 성능을 평가하기 위해 함수율 측정실험을 2회에 걸쳐 실시하고 밀도수준은 2수준 정도로 하였으며 밀도수준에 따른 함수율 변화를 상쇄시키기 위해 수분밀도의 정의를 이용하여 밀도를 보정하였다.

수분밀도란 함수율과 건물(dry matter)량의 곱으로 안테나(A) 내에 들어있는 수분의 절대적인 양을 나타내며 이 값은 함수율 측정에서 큰 영향을 미치는 것으로 나타났다.

다음으로 저밀도에서의 함수율 측정을 하였다.

먼저, 상부에 설치된 상부호퍼는 일정한 높이에서 일정한 시간 간격으로 상부 개폐문(gate)를 열어 하부호퍼(H2)로 공급되는 농산물이나 식품의 양을 일정하게 유지함으로써 안테나(A)에서의 밀도를 함수율에 따라 일정하게 유지시키도록 한다.

일반적으로는 밀도는 함수율이 높아짐에 따라 밀도도 동일하게 커지는 경향이 있지만, 동일 함수율에서는 일정하게 그 밀도를 유지시킬 수 있으며 밀도는 질량을 측정함으로써 보정할 수 있다.

다음으로 고밀도에서 함수율을 측정하였다, 저밀도 실험과 동일하게 일차적으로 농산물이나 식품을 안테나(A)가 있는 하부호퍼(H2)에 자연스럽게 쏟아 부은 후에 호퍼 외부에 일정한 크기의 힘으로 충격을 가하여 밀도를 높였다. 밀도를 증가시킨 후 위상차를 이용한 함수율 측정값은 제15도와 같으며, 위상차를 이용하여 수분밀도를 측정한 값은 제16도와 같다.

또한, 호퍼(H)로 공급되는 농산물과 식품의 양과 그 밀도는 임의적이므로, 설정부(26)를 통하여 반드시 밀도보정을 하여야 한다. 밀도를 측정하기 위해서 질량을 측정하였으며, 제17도에서 두 수준의 밀도에 대한 위상차를 동일한 그림에 나타내었다. 두 곡선의 함수율 차이는 1% 이내로 나타났으며, 따라서 설정부(26)로 밀도 보정을 하여야 한다.

제18도는 수분밀도를 이용하여 밀도와 무관한 측정이 가능한 것이 가능한 가를 측정하기 위해 밀도 2수준의 수분밀도를 하나의 그래프로 나타내었다. 결정계수의 값이 제17도에 비해 다소 낮은 값을 가지지만 수분밀도를 이용한 밀도 보정의 가능성을 확인할 수 있었다.

이하 본 발명을 이용하여 실험한 평가는 다음표와 같다.

이상과 같이 본 발명은 위상차를 이용하여 검사되는 시료(sample)의 함수율을 화학적 또는 물리적 손상없이 비 파괴적으로 유지할 수 있으며, 또한 필요시 일정시간 간격으로 재 측정할 수 있는 장점이 있다.

또한, 본 발명 함수율 측정장치의 개발은 측정대상 및 응용산업분야 확대(식품류, 의약류 등), 관련기술로 확장이 가능한(금속검출기, 수위측정계 등) 등의 파급효과를 지니며, 비파괴 방식으로 함수율을 측정하므로 농산물이나 식품의 밀도에 영향을 받거나 주지 않으면서 함수율 측정이 가능해지는 등의 효과가 있는 유용한 발명이다.

Claims (2)

1. 함수율 측정 대상물이 일시적으로 수납되는 안테나(A)에 위상을 갖는 교류 고주파를 공급한 다음 수납되는 측정 대상물의 함수율에 따라 변화하는 검출 신호 변화치를 읽어 측정 대상물의 함수율을 비 파괴적으로 측정하는 함수율 측정 장치에 있어서, 함수율 측정을 위한 안테나(A)와, 1kHz∼20MHz의 기준신호를 발생하여 증폭한 다음 안테나(A)로 공급하는 기준 신호발생부(2)와 증폭부(4), 안테나(A)로부터 출력되는 미세한 위상변화 신호를 증폭 및 검출하는 증폭부(6)와 위상 검출부(8), 검출된 위상을 변환하는 위상변환부(10)와, 일련의 프로그램으로 변환 입력되는 위상을 기준신호와 비교하여 위상 변화분을 계산한 다음 함수율로 치환하고 또한 각 회로부를 제어하는 제어기(14)와, 함수율을 표시하는 신호출력부(12)와, 함수율 데이터를 외부로 전달하는 통신용 인터페이스(16)와, 농산물 및 식품의 온도를 측정하여 제어기(14)로 입력하는 온도측정부(18)와, 측정 대상 농산물이나 식품을 선택하거나 2차 보정을 선택할 수 있는 설정부(26)를 제어기(14)의 입력에 접속하여 구성함을 특징으로 하는 위상차를 이용한 비파괴 함수율 측정장치.
2. 제1항에 있어서, 함수율 측정 대상물이 수납되는 안테나(A)의 수직 중심선에 절연판(IB)을 수직으로 고정하고, 절연판(IB)의 좌·우측 앞·뒤 표면에 도전성 전극(22)을 접착시켜 고정하고, 다른 전극(24)은 호퍼 스케일러(20)의 외벽을 이용하여 전극(22)(24) 사이에 등가 저항(R)과 등가 콘덴서(C)로 구성되는 한개 이상의 안테나(A)를 설치하고, 전극(22)(24)의 단자에는 기준신호 공급용 증폭부(4)와 위상 검출용 증폭부(6)를 각각 접속하여 안테나(A)로 함수율을 측정하여 평균값을 구하도록 한 위상차를 이용한 비파괴 함수율 측정장치.