KR100271206B1 - 파장분할다중광전송시스템에서의온도제어방식의에탈론필터를이용한주파수및광출력감시장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 파장분할다중 광전송 시스템에서의 온도 제어 방식의 에탈론 필터를 이용한 주파수 및 광출력 감시장치에 관한 것으로, 본 발명의 목적은 파장분할다중 방식의 광전송 시스템에서 온도를 제어할 수 있는 고체 에탈론 필터를 이용하여 각 채널의 주파수 및 광출력을 감시함으로써, 시스템의 유지 및 관리를 효율적으로 수행할 수 있는 감시장치를 제공하는데 있다.
이를 위해 본 발명은 파장분할다중 광전송 시스템에서 각 채널의 주파수 및 광출력을 감시하기 위한 감시장치에 있어서, 다중화된 광신호를 분배하는 광분배수단; 상기 광분배수단에 의해 분배된 광신호의 일정한 주파수 영역만을 통과시키는 필터링수단; 상기 필터링수단에 결합되어 상기 필터링수단의 온도를 제어하기 위한 온도조절수단; 및 상기 필터링수단을 통과한 신호의 출력을 측정하는 광출력 측정수단을 포함한 것을 특징으로 한다.

Description

파장분할다중 광전송 시스템에서의 온도 제어 방식의 에탈론 필터를 이용한 주파수 및 광출력 감시장치
본 발명은 파장분할다중 광전송 시스템에서의 온도 제어 방식의 에탈론 필터를 이용한 주파수 및 광출력 감시장치에 관한 것으로, 더욱 자세하게는 파장분할다중 방식의 광전송 시스템에서 시스템의 유지 및 관리를 효율적으로 하기 위하여 온도를 제어할 수 있는 고체 에탈론 필터를 이용하여 각 채널의 주파수 및 광출력을 감시할 수 있는 감시장치에 관한 것이다.
파장분할다중(WDM: Wavelength Division Multiplexing) 방식 광전송 시스템이란 파장이 각기 다른 여러개의 전송용 레이저들을 하나의 광섬유에 다중화하여 전송함으로써, 광섬유 당 전송 용량을 크게 증가시킬 수 있는 시스템을 말한다. 이러한 시스템을 이용하면 각 레이저들이 상대적으로 낮은 전송속도에서 동작하더라도 광섬유 당 전송 용량을 크게 증가시킬 수 있으므로, 이미 설치되어 있는 광섬유를 분산 천이 광섬유로 교체하지 않고 사용하는 것이 가능하다.
그러나, 이 방식에서 가장 중요한 각 채널의 다중화/역다중화를 위한 다중화기/역다중화기가 각 채널의 주파수에 민감하고, 각 채널의 출력 수준은 시스템의 성능에 크게 관계되므로, 파장분할다중(WDM) 방식의 광전송 시스템을 효율적으로 운영하려면 각 채널의 주파수와 출력을 감시할 수 있어야 한다. 이를 위하여, 각기 다른 파일롯(pilot) 톤(tone)을 다중화된 광신호에 삽입함으로써, 각 채널의 광출력을 감시하거나, 배열된 도파관 회절격자(AWG: Arrayed-Waveguide Grating)의 채널 선택 특성을 이용하여 각 채널의 주파수를 감시하는 방법이 제안된 바 있다. 그러나, 이러한 방법들은 주파수와 광출력을 동시에 측정할 수 없는 문제점이 있다. 이러한 문제점을 극복하는 방안으로, 주파수와 광출력을 동시에 측정하기 위하여 음향 광학 가변 필터(AOTF: Acousto-Optic Tunable Filter)를 이용한 측정방법이 제안되었으나, 이 측정방법의 경우 음향 광학 가변 필터(AOTF)의 대역폭이 1 nm 이상으로 넓기 때문에 100 GHz 정도의 채널 간격을 갖는 시스템에서는 주파수와 광출력을 측정할 수 없는 문제점이 있다.
따라서, 본 발명은 상기와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 본 발명의 목적은 파장분할다중 방식의 광전송 시스템에서 온도를 제어할 수 있는 고체 에탈론 필터를 이용하여 각 채널의 주파수 및 광출력을 감시함으로써, 시스템의 유지 및 관리를 효율적으로 수행할 수 있는 감시장치를 제공하는데 있다.
도1은 본 발명에 따른 광전송 시스템에서의 주파수 및 광출력 감시장치의 개략적인 블럭 구성도.
도2는 본 발명에 이용되는 필터의 특성을 나타내는 그래프.
도3은 본 발명을 이용한 주파수 및 광출력을 측정하기 위한 실험 구성도.
도4a는 4채널 파장분할다중화된 광신호의 스펙트럼을 나타낸 그래프.
도4b는 온도를 변화시키며 측정한 필터의 출력을 나타낸 그래프.
도5a는 본 발명을 이용한 주파수 및 광출력의 측정 결과 중 주파수 오차를 나타낸 그래프.
도5b는 본 발명을 이용한 주파수 및 광출력의 측정 결과 중 광출력 오차를 나타낸 그래프.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *
11, 105 : 필터 12, 106 : 열전기 냉각기
13, 107 : 온도 제어기 14, 108 : 서미스터
15, 109 : 광출력 측정기 101 : 레이저
102 : 광 감쇄기 103 : 성형 결합기
104 : 광 분배기 110 : 다중파장미터
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 파장분할다중 광전송 시스템에서 각 채널의 주파수 및 광출력을 감시하기 위한 감시장치에 있어서, 다중화된 광신호를 분배하는 광분배수단; 상기 광분배수단에 의해 분배된 광신호의 일정한 주파수 영역만을 통과시키는 필터링수단; 상기 필터링수단에 결합되어 상기 필터링수단의 온도를 제어하기 위한 온도조절수단; 및 상기 필터링수단을 통과한 신호의 출력을 측정하는 광출력 측정수단을 포함한 것을 특징으로 한다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 일 실시예를 상세히 설명하기로 한다.
먼저, 본 발명의 기술적 원리를 살펴보면 다음과 같다.
파장분할다중 방식의 광전송 시스템에서 각 채널의 주파수와 광출력을 동시에 감시하기 위해서는 공진 주파수를 변화시킬 수 있는 광필터를 사용하는 방법이 가장 경제적이다. 공진 주파수를 변화시키는 방법으로는 압전소자(piezoelectric element)를 이용하거나, 음향 광학파(acousto-optic wave)를 이용하거나, 필터의 온도를 변화시키는 방법이 사용될 수 있다. 이러한 방법들 중 온도를 변화시키는 방법은 압전소자(piezoelectric element)를 이용하는 방법처럼 동적인 부분이 없고, 음향 광학파(acousto-optic wave)를 이용한 방법처럼 대역폭이 넓지도 않다. 더구나, 간단한 제어기를 이용해 경제적으로 구현할 수 있다. 그러나, 필터의 온도를 제어할 경우 온도의 변화폭이 제한되기 때문에 넓은 영역의 주파수 대역을 측정할 수 없다. 이러한 단점을 극복하기 위하여 파장분할다중 방식의 전송 시스템이 사용하는 대역폭 내에 2개 이상의 공진 주파수를 갖는 필터를 이용하면 적은 온도 변화로도 넓은 주파수 대역을 측정할 수 있다. 이러한 다중 공진 주파수를 가진 필터의 온도 제어를 통한 광주파수 및 출력의 감시방법은 파장분할다중 방식의 광전송 시스템을 경제적으로 감시하는데 사용될 수 있다.
도1은 이러한 원리를 적용한 본 발명에 따른 파장분할다중 광전송 시스템에서의 주파수 및 광출력 감시장치의 블럭 구성도로서, 도면에서 11은 에탈론 필터, 12는 열전기 냉각기, 13은 온도 제어기, 14는 서미스터, 15는 광출력 측정기를 각각 나타낸다.
본 발명은 크게 에탈론 필터(11)와, 상기 에탈론 필터(11)에 결합된 온도조절수단(12 내지 14)과, 상기 에탈론 필터(11)를 통과한 광신호의 출력을 측정하는 광출력 측정기(15)로 구성된다. 온도조절수단은 에탈론 필터(11)의 온도 측정을 위해 에탈론 필터(11)위에 고정된 서미스터(14)와, 에탈론 필터(11)를 냉각시키기 위해 에탈론 필터(11)에 결합된 열전기 냉각기(12), 그리고 상기 열전기 냉각기(12)의 전류를 제어하여 상기 에탈론 필터(11)의 온도를 제어하기 위한 온도 제어기(13)를 포함한다.
에탈론 필터(11)는 실리콘 웨이퍼의 양면을 코팅하여 제작될 수 있고, 에탈론 필터(11)의 온도를 조절하기 위하여 열전기 냉각기(thermoelectric cooler; 12)에 에탈론 필터(11)를 고정하였다. 또한, 에탈론 필터(11) 위에는 서미스터(thermistor; 14)가 고정되는데, 상기 고정된 서미스터(14)로부터 필터(11)의 온도를 측정한다. 그리고, 열전기 냉각기(12)의 전류를 온도 제어기(13)를 통해 조절함으로써, 에탈론 필터(11)의 온도를 조절할 수 있다.
광출력 측정기(15)는 이렇게 에탈론 필터(11)를 통과한 광신호의 출력과 서미스터(14)로부터 필터의 온도를 입력받아 각 채널별로 주파수와 광출력을 측정한다. 여기서, 광신호의 주파수 및 출력은 에탈론 필터(11)를 통과한 신호의 세기를 측정함으로써 계산될 수 있다. 즉, 에탈론 필터(11)의 온도를 제어함으로써, 에탈론 필터(11)의 공진 주파수를 변화시켜 광신호와 일치시키면 필터를 통과한 광신호의 출력이 최대가 된다. 그러므로, 에탈론 필터(11)의 온도를 변화시키면서 에탈론 필터(11)를 통과한 광신호의 최대 출력들을 측정함으로써, 각 채널의 주파수와 광출력을 측정할 수 있다. 여기서, 각 채널의 주파수는 필터를 통과한 광출력을 측정하여 최대치가 나오는 온도로부터 주파수를 계산함으로써 이루어지며, 각 채널의 출력은 필터를 통과한 광출력의 최대치로부터 필터의 손실을 보상하여 광출력을 계산함으로써 이루어진다.
그러나, 온도를 이용하여 에탈론 필터(11)의 공진 주파수를 변화시킬 경우, 실질적으로 가능한 필터(11)의 온도 변화 범위가 좁기 때문에 넓은 주파수 영역을 측정할 수 없다. 이러한 문제점은 도2에 도시된 바와 같은 특성을 갖는 여러개의 공진 주파수가 있는 필터를 사용함으로써 극복될 수 있다. 즉, 필터(11)의 온도를 조금만 변화시키더라도 넓은 주파수 영역의 신호들을 측정할 수 있다.
도2는 100 GHz의 채널간격을 갖는 4채널의 다중화된 광신호들의 주파수 및 광출력을 측정하기 위하여 사용된 필터의 특성을 나타낸 그래프이다.
이 필터(11)는 두께가 0.51mm의 실리콘 웨이퍼의 양면을 고반사 코팅하여 제작하였으며, 필터의 피네스(finesse)와 자유 스펙트럼 간격(FSR ; free spectral range)은 각각 16.8과 81.6 GHz로 측정되었다. 따라서, 이 필터의 FSR은 채널 간격보다 약 20% 좁다. 이와 같은 차이로 인하여 필터의 공진 주파수들(resonance peaks) 중 오직 하나만이 각 채널의 주파수와 일치하도록 온도를 이용하여 조절할 수 있다. 예를 들면, 도2에서 보여주는 바와 같이 에탈론 필터(11)의 온도를 27.0, 28.4, 29.8 또는 31.2 ℃가 되도록 조정하면 필터(11)의 공진 주파수들 중 하나가 193.1, 193.0, 192.9 또는 192.8 THz에서 동작하는 채널과 일치할 수 있음을 보여준다.
도3은 100 GHz 채널 간격을 가진 4채널의 파장분할다중 시스템의 주파수와 광출력을 측정하기 위한 실험 구성도를 나타낸 블럭도이다.
ITU(International Telecommunication Union)에서 권고하는 표준 주파수(193.1, 193.0, 192.9, 192.8 THz)에서 동작하는 4개의 DFB(Distributed FeedBack) 레이저(101)들의 출력 신호를 각각의 레이저(101)들에 연결된 광감쇄기(102)를 이용해 그 광출력을 조절한다. 그리고, 각각의 광감쇄기(102)에 의해 그 출력이 조절된 광신호는 성형 결합기(103)에 의해 다중화 된다.
이렇게 다중화된 광신호는 광분배기(104)에 의해 분배되는데, 광신호의 일부분은 본 발명의 감시장치인 고체 에탈론 필터(105)로 전송되고, 나머지 대부분의 광신호는 측정된 광출력과 주파수의 정확도를 확인하기 위하여 다중파장 미터(110)로 전송된다.
필터(105)를 통과한 광신호는 광출력 측정기(109)에 의해 그 출력이 측정되며, 서미스터(108)에서 측정되는 온도를 바탕으로 열전기 냉각기(106)와 온도 제어기(107)를 이용하여 필터(105)의 온도를 제어함으로써, 필터(105)의 공진 주파수를 조절할 수 있다.
도4a는 4채널 다중화된 광신호의 스펙트럼을 나타낸 그래프이고, 도4b는 에탈론 필터의 온도를 변화시키면서 이 다중화된 광신호가 에탈론 필터를 통과한 후, 측정한 광신호의 출력을 나타낸 그래프이다.
여기서 사용된 필터는 광신호의 채널 간격과 약간 다르기 때문에 도4a 및 도4b가 거의 같은 모습이 된다. 따라서, 온도를 변화시키면서 필터를 통과한 신호의 출력이 최대치가 될 때의 온도와 필터를 통과한 출력을 측정하면, 측정된 결과의 온도로부터 주파수를 계산할 수 있고, 필터를 통과한 출력으로부터는 광출력을 계산할 수 있다. 즉, 각 채널의 주파수는 에탈론 필터의 온도를 측정함으로써, 계산될 수 있다.
에탈론 필터의 온도를 조절하여 공진 피크(peak)와 레이저의 주파수가 일치되도록 만들었을 때, 필터의 출력은 최대가 된다. 따라서, 에탈론 필터의 출력이 최대일 때의 온도인 Ti m 를 측정하고, 공진 피크가 ITU 표준 주파수 Fj s 와 일치되었을 때의 온도인 Ti s 를 알고 있다면 채널 j의 주파수 fj 는 수학식 1과 같이 구할 수 있다.
fj=(Ti m-Ti s)Cf+fj s
여기서, Cf 는 실리콘의 온도상수로서 13.27 GHz/℃로 측정되었다. 측정할 수 있는 최대 주파수 범위는 에탈론 필터의 공진 피크들 중 한 피크가 표준 주파수와 일치되었을 때, 다른 피크들과 표준 주파수들과의 차이의 반으로 제한된다.
도5a는 4개의 레이저 중 3개는 ITU 표준 주파수에서 동작시키고, 한 채널씩 주파수를 변화시키며 측정한 경우 발생되는 오차를 나타낸 그래프이다.
측정된 주파수의 오차는 약 ±1 GHz 이내였으며, 이것은 필터의 온도 조절수단의 해상도가 0.1℃이기 때문이다.
각 채널의 광출력은 필터를 통과한 출력을 측정함으로써 계산될 수 있다. 에탈론 필터의 온도가 Ti 일 때의 채널 j에 해당하는 주파수에서의 필터의 손실을 Lij 로 정의 하였다. 따라서, i=j 일 때 채널 j의 주파수에서의 필터의 손실이 최소가 되도록 온도를 조절하면 n × n 배열 [Lij] 는 항상 역함수를 가진다. 여기서, n은 채널의 개수이다. 서로 다른 온도 Ti 에서 에탈론 필터를 통과한 광신호의 출력 Fi 를 측정하고, 필터의 특성을 나타내는 배열 [Lij] 를 이용하면 채널 j의 출력 Pj 는 수학식 2와 같이 구할 수 있다.
다시말해, 광출력을 계산하기 위해서는 계산하려는 채널이 동작하는 주파수의 필터 손실 뿐만 아니라 다른 채널들이 동작하는 주파수에서의 필터 손실과 다른 채널의 출력 때문에 발생하는 누화를 행렬 계산을 이용하여 제거함으로써 광출력의 정확도를 높인다.
[Pj]=[Lij]-1[Fi]
ITU 표준 주파수에서 동작되도록 조절된 레이저들의 광출력은 각각 -11.20, -9.55, -10.95, -9.28 dBm 이었다.
도5b는 이러한 레이저 중 한 채널씩 광출력을 변화시키며 측정한 오차를 나타낸 그래프이다.
도5b의 그래프는 채널간의 출력 차이가 15 dB 이내이면 측정된 광출력의 오차가 1 dB 이하임을 보여준다.
상기와 같이 이루어진 본 발명은 파장분할다중 방식의 광전송 시스템에서 온도를 변화시켜서 공진 주파수를 바꾸는 가변 광필터를 이용하여 각 채널의 주파수와 출력을 동시에 감시할 수 있으며, 이는 동적인 부분도 없고, 좁은 대역폭을 구현할 수도 있으며, 간단한 제어기를 이용해 경제적으로 구현할 수 있는 효과가 있다.

Claims (6)

  1. 파장분할다중 광전송 시스템에서 광신호 각각의 채널의 주파수 및 광출력을 동시에 감시하기 위한 감시장치에 있어서,
    다중화된 입력 광신호를 분배하는 광분배기;
    상기 광분배기에 의해 분배된 광신호를 수신하여 온도에 따라 일정한 주파수 영역만을 통과시키는 복수개의 공진주파수를 가지는 고체 에탈론 필터;
    상기 에탈론 필터의 온도 측정을 위해 상기 필터상에 고정된 서미스터;
    상기 필터를 냉각시키기 위해 상기 필터에 결합된 열전기 냉각기;
    상기 열전기 냉각기의 전류를 제어하여 상기 필터의 온도를 제어하기 위한 온도제어기; 및
    상기 에탈론 필터를 통과한 광신호의 세기를 측정하여 광신호의 주파수 및 광출력을 계산하는 광출력측정기를 구비하고,
    상기 에탈론 필터의 공진 주파수는 상기 온도제어기를 통해 상기 에탈론 필터의 온도를 제어함으로서 조절되는 것을 특징으로 하는 감시장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 에탈론 필터는 소정의 두께를 갖는 실리콘 웨이퍼의 양면을 고반사 코팅 처리하여 제조된 것을 특징으로 하는 감시장치.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 에탈론 필터의 공진 주파수의 변화폭은 입력 광신호의 공진 주파수 변화폭보다 넓은 것을 특징으로 하는 감시장치.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 광출력측정기는 상기 에탈론 필터를 통과한 신호의 출력이 최대치일 때의 측정된 온도를 이용해 각 채널의 주파수를 계산하는 것을 특징으로 하는 감시장치.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 광출력측정기는 상기 에탈론 필터를 통과한 신호의 최대치로부터 상기 에탈론 필터의 손실을 보상하여 각 채널의 광출력을 계산하는 것을 특징으로 하는 감시장치.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 광출력측정기는 계산하려는 채널이 동작하는 주파수에서 상기 에탈론 필터의 손실 뿐만 아니라 다른 채널들이 동작하는 주파수에서의 상기 에탈론 필터의 손실과 다른 채널의 출력 때문에 발생하는 누화를 행렬계산을 통해 제거하여 광출력을 계산하는 것을 특징으로 하는 감시장치.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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