KR100233552B1 - A frequency measuring accuracy upgrading method and a device for upgrading same - Google Patents
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Abstract
본 발명은 디지털이동통신에 있어서의 주파수측정정밀도 증강방법 및 장치에 관한 것으로, UUT(Unit Under Test)장비(1)의 측정주파수와 DDS(Direct Digital Synthesizer)장비(2)의 기준주파수를 동시에 믹서(3)로 인가하여 혼합함으로써, 저주파성분만이 남겨지도록 한 다음, 이러한 저주파성분을 차례대로 저역필터(4), 증폭기(5), 카운터(6), 컨트롤러(7)를 통과시켜 최종적으로 디스플레이(8)에 측정하고자 하는 주파수에러를 표시함으로써 주파수의 측정정밀도를 향상시킬 수 있는 주파수측정정밀도 증강방법에 관한 것이다.The present invention relates to a method and apparatus for augmenting frequency measurement accuracy in digital mobile communication, and simultaneously mixing a measurement frequency of a UUT (Unit Under Test) equipment 1 and a reference frequency of a DDS (Direct Digital Synthesizer) equipment (2). By applying and mixing in (3) so that only low frequency components are left, and then these low frequency components are sequentially passed through the low pass filter (4), the amplifier (5), the counter (6), and the controller (7). The present invention relates to a method for enhancing frequency measurement accuracy that can improve frequency measurement accuracy by displaying a frequency error to be measured in (8).
Description
본 발명은 디지털이동통신등의 통신시스템에 있어서, 잡음의 발생을 억제하도록 수신되는 주파수를 정밀하게 측정하기 위한 주파수측정정밀도를 증강시킬 수 있는 주파수측정정밀도 증강방법에 관한 것으로, 특히 정밀도가 10-11Hz정도가 요구되는 CDMA 혹은 TDMA방식의 통신주파수를 측정하는 데 있어, 그 측정정밀도를 크게 향상시킬 수 있도록 한 주파수측정정밀도 증강방법에 관한 것이다.The present invention is, more particularly, the accuracy of the method, a method capable of enhancing the frequency measurement accuracy to precisely measure the frequency that is received so as to suppress the generation of noise, the frequency measurement accuracy enhancement in a communication system such as a digital mobile communication 10- The present invention relates to a method for enhancing the frequency measurement accuracy that can greatly improve the measurement accuracy in measuring a CDMA or TDMA communication frequency requiring about 11 Hz.
최근 보편화되고 있는 추세에 있는 디지털이동통신의 경우, 통신감도를 양호하게 하기 위해서는 동기신호에 대한 주파수측정정밀도가 약 10-11정도까지를 요구하고 있다. 그러나, 지금까지의 주파수측정장비는 그 측정정밀도가 약 10-8정도밖에 되지 않았기 때문에, 상술한 디지털이동통신에 있어서 요구되는 주파수측정정밀도에 훨씬 미치지 못하였다. 따라서, 기존의 측정장비로는 디지털이동통신에서 사용되는 10-11정도의 미세한 주파수를 측정할 수는 없었다. 따라서, 상술한 디지털이동통신에서 사용되는 10-11정도의 미세한 주파수를 측정하기 위해서는 기준시간측정소스(Reference Timing Source)에 대한 주파수측정정밀도가 10-11보다 더 정밀해야 하고 주파수측정장비의 레졸루션(Resolution)은 10-11보다 작아야만 하였다.In the case of digital mobile communication, which is becoming more common in recent years, frequency measurement accuracy for synchronization signals is required to be about 10 -11 in order to improve communication sensitivity. However, the frequency measuring equipment up to now has a measurement accuracy of only about 10 -8 , which is far short of the frequency measuring precision required in the above-mentioned digital mobile communication. Therefore, the existing measuring equipment could not measure the minute frequencies of about 10 -11 used in digital mobile communication. Therefore, in order to measure the fine frequencies of about 10 -11 used in the digital mobile communication, the frequency measurement precision of the reference timing source must be more accurate than 10 -11 and the resolution of the frequency measurement equipment ( Resolution should be less than 10 -11 .
따라서 상기 디지털이동통신에서 요구되는 주파수측정정밀도(10-11)에 부합하기 위해서는 측정하고자 하는 주파수성분에 대한 믹싱(Mixing)처리 즉, 주파수줌잉(Freq. Zooming)을 수행함으로써 10-12혹은 10-13정도의 미세한 주파수성분까지를 측정할 수 있다. 그러나 하나의 측정장비를 이용하여, 그에 입력되는 다수의 측정주파수 예를들어 10MHz, 1.544MHz, 2.048MHz등 이동통신에서 사용되는 여러 종류의 측정주파수를 측정하기 위해서는 상기 입력되는 측정주파수의 수에 상응하는 기준주파수가 필요함에 따라서, 상기 기준주파수를 인가하기 위한 장비 또한 여러 대가 필요하게 되므로, 측정장비의 단가가 비싸지게 되었다.Therefore, 10-12, or by performing a mixing (Mixing) process that is, the frequency zooming (. Zooming Freq) of the frequency component to be measured in order to meet the frequency measurement accuracy (10-11) required in the digital mobile communication 10- Up to 13 minute frequency components can be measured. However, in order to measure several types of measurement frequencies used in mobile communication, such as 10 MHz, 1.544 MHz, 2.048 MHz, etc., using a single measuring instrument, the number of measurement frequencies corresponding to the inputted frequency is corresponding. As the reference frequency is required, the number of equipment for applying the reference frequency is also required, resulting in high cost of the measuring equipment.
따라서, 본 발명은 하나의 클럭펄스소스신호를 이용하여, 즉, 다이랙트 디지털 신디사이저(이하 간단히 DDS장비라 함)의 프로그램가능한 주파수소스신호를 기준주파수신호로써 사용하고, 이러한 기준주파수신호를 미세한 잡음주파수가 합성된 상태에 있는 UUT(시험장비)의 주파수신호와 동시에 믹서를 통하여 비교측정하여 저주파성분만을 남게 하고, 이 저주파성분을 재차 측정함으로써 주파수측정정밀도를 향상시킬 수 있는 주파수측정정밀도 증강방법을 제공하기 위한 것을 목적으로 하고 있다.Accordingly, the present invention uses a single clock pulse source signal, that is, a programmable frequency source signal of a direct digital synthesizer (hereinafter simply referred to as a DDS device) as a reference frequency signal, and this reference frequency signal is used as a fine noise. The frequency signal of UUT (test equipment) in the synthesized state is compared and measured simultaneously through the mixer, so that only low frequency components remain, and the low frequency components are measured again to improve the frequency measurement accuracy. It aims to provide.
또한 본 발명은 디지털이동통신등의 통신시스템에서 사용되는 주파수에 대한 측정을 정밀하게 수행하기 위해서, 믹서에 인가되는 기준주파수신호와 측정주파수신호를 서로 바꾸어서 믹서에 인가하여줌으로써 측정주파수가 변하더라도 기준주파수를 변화시킬 필요가 없도록 할 수 있는 주파수측정정밀도 증강방법을 제공하기 위한 것을 또다른 목적으로 하고 있다.In addition, the present invention in order to accurately measure the frequency used in the communication system, such as digital mobile communication, by changing the reference frequency signal and the measurement frequency signal applied to the mixer to apply to the mixer even if the measurement frequency changes It is another object of the present invention to provide a method for enhancing frequency measurement accuracy that can eliminate the need to change the frequency.
도 1은 본 발명에 따른 주파수측정정밀도 증강장치를 개략적으로 나타내는 블록도.1 is a block diagram schematically showing an apparatus for enhancing frequency measurement precision according to the present invention;
도 2는 제 1도에 있어서의 측정주파수와 기준주파수를 믹서에 서로 바꾸어 입력하여서 주파수를 측정하는 방법을 나타내는 블록도.Fig. 2 is a block diagram showing a method of measuring a frequency by inputting a measurement frequency and a reference frequency into the mixer in Fig. 1, respectively.
도 3은 종래의 방법을 따른 측정정밀도와 본 발명을 따른 측정정밀도를 비교설명하는 도면.3 is a view illustrating a comparison between the measurement precision according to the conventional method and the measurement precision according to the present invention.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings
1. UUT 2. DDS1.UUT 2.DDS
3. 믹서 4. 저역필터(LPF)3. Mixer 4. Low Pass Filter
5. 증폭기 6. 카운터5. Amplifier 6. Counter
7. 컨트롤러 8. 디스플레이7. Controller 8. Display
fr. 기준주파수 fu. 측정주파수fr. Reference frequency fu. Measuring frequency
fD. 고정주파수f D. Fixed frequency
이하, 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 구성 및 그에 따른 작용효과를 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described the configuration of the present invention and the resulting effects.
먼저, 도 1을 참고로 하여 본 발명에 따른 주파수측정정밀도 증강장치의 전체적인 구조를 설명한다.First, referring to Figure 1 will be described the overall structure of the frequency measurement precision enhancing apparatus according to the present invention.
도 1에 나타낸 바와같이, 본 발명의 주파수측정정밀도 증강장치는 믹서(3)와 저역필터(4)와 증폭기(5)와 카운터(6)와 컨트롤러(7)와 디스플레이(8)로 이루어져서, UUT(Unit Under Test)장비(1)의 측정주파수신호와 DDS(Direct Digital Synthesizer)장비(2)의 기준주파수신호를 동시에 믹서(3)에 인가하여서, 상기 믹서(3)로 하여금 상기 측정주파수와 기준주파수를 비교하여 잡음성분인 저주파신호만을 남게 하고, 이러한 저주파신호에서 고조파성분은 저역필터(4)를 통하여 제거하고, 증폭기(5)를 통하여 저주파성분을 증폭하여 카운터(6)를 구동시키고, 다음단의 컨트롤러(7)로 차례대로 인가하여 최종적으로 디스플레이(8)에서 측정하고자 하는 주파수에러를 표시하도록 되어 있다.As shown in Fig. 1, the frequency measurement precision increasing apparatus of the present invention comprises a mixer 3, a low pass filter 4, an amplifier 5, a counter 6, a controller 7 and a display 8, and a UUT. (Unit Under Test) by applying the measurement frequency signal of the equipment (1) and the reference frequency signal of the DDS (Direct Digital Synthesizer) equipment (2) at the same time to the mixer (3), the mixer 3 causes the measurement frequency and reference By comparing the frequencies, only the low frequency signal, which is a noise component, remains, and the harmonic components are removed from the low frequency filter 4 through the low pass filter 4, and the low frequency components are amplified through the amplifier 5 to drive the counter 6, and then It is applied sequentially to the controller 7 of the stage to finally display the frequency error to be measured on the display 8.
이를 보다 상세히 설명하면, 도면에 나타낸 바와같이 시험장비인 UUT장비(1)에서는 측정주파수신호(fu=f+fe)가 +신호로써 믹서(3)로 인가되고, DDS장비(2)에서는 기준주파수신호(fr=f+△f)가 -신호로써 믹서(3)로 인가되고 있다. 그러면, 상기 믹서(3)로 인가된 각각의 측정주파수신호(fu=f+fe)와 기준주파수신호(fr=f+△f)는 믹서(3)내에서 비교되어 fu-fr처리가 된다. 그러면, 측정주파수의 f와 기준주파수의 f는 서로 상쇄되어 소거되고 저주파신호인 fe-△f만이 남게 된다. 이러한 저주파신호는 fe-△f의 하모닉(harmonic)(고조파성분)성분으로 남아 있게 된다. 그 성분은 다음과 같이 표현된다.In more detail, as shown in the drawing, in the UUT device 1, which is a test equipment, the measurement frequency signal fu = f + fe is applied to the mixer 3 as a + signal, and in the DDS device 2, the reference frequency signal ( fr = f + Δf) is applied to the mixer 3 as a-signal. Then, the respective measured frequency signals fu = f + fe and the reference frequency signals fr = f + Δf applied to the mixer 3 are compared in the mixer 3 for fu-fr processing. Then, f of the measurement frequency and f of the reference frequency cancel each other out, leaving only the low frequency signal fe-Δf. This low frequency signal remains as a harmonic (harmonic component) component of fe-Δf. The component is expressed as follows.
fe-△f=(fe-△f)+2(fe-△f)+3(fe-△f)+…….fe-Δf = (fe-Δf) + 2 (fe-Δf) + 3 (fe-Δf) +... … .
상기의 저주파신호(fe-△f)의 고조파성분(2(fe-△f)+3(fe-△f)+……)은 저역필터(4)를 통하여 제거된다. 계속해서 이 신호는 증폭기(5)로 이동하고, 증폭기(5)에서는 저주파신호(fe-△f)를 증폭하여 상기 신호레벨을 증가시킴으로써 카운터(6)를 트리거(trigger)할 수 있도록 한다. 카운터(6)에서는 부호변화점(zero-crossing)독출을 행할 경우에, 노이즈입력에 대하여 트기거되지 않도록 dc 오프셋(offset)을 행하여 노이즈가 카운터(6)를 구동하는 것을 방지한다. 카운터(6)를 통과한 신호(fe-△f)는 컨트롤러(7)에 인가되게 된다. 그러면, 컨트롤러(7)에서는 이 신호(fe-△f)를 측정하고 이 측정값에 △f를 가함으로써 fe-△f+△f처리가 수행된다. 결국 디스플레이(8)에는 측정하고자 하는 주파수에러(fe)만이 표시된다. 상기에서, △f의 값은 임의로 선택하는 오프셋 주파수(offset frequency)로써 대략 100Hz정도이며, △f의 값이 너무 작으면 필터디자인(filter design)이 어려워지는 단점이 있다. 상술한 바와 같이, 이러한 주파수에러성분을 재차 측정함으로써 주파수측정정밀도를 크게 향상시킬 수 있는 것이다.The harmonic components 2 (fe-Δf) + 3 (fe-Δf) +... Of the low frequency signal fe-Δf are removed through the low pass filter 4. Subsequently, this signal is moved to the amplifier 5, and the amplifier 5 amplifies the low frequency signal fe-Δf so as to increase the signal level so that the counter 6 can be triggered. In the counter 6, when zero-crossing reading is performed, a dc offset is performed so as not to be triggered with respect to the noise input to prevent the noise from driving the counter 6. The signal fe-Δf that has passed through the counter 6 is applied to the controller 7. Then, the controller 7 measures this signal fe-Δf and adds Δf to the measured value to perform fe-Δf + Δf. As a result, only the frequency error fe to be measured is displayed on the display 8. In the above description, the value of Δf is about 100 Hz as an arbitrarily selected offset frequency, and when the value of Δf is too small, filter design becomes difficult. As described above, the frequency measurement accuracy can be greatly improved by measuring the frequency error component again.
도면상에서, fe는 측정하고자 하는 주파수에러이고, UUT(1)로부터 믹서(3)로 입력되는 신호(f+fe)는 통상적으로 디지털이동통신분야에서 많이 사용되는 2.048MHz, 1.544MHz, 10MHz의 측정주파수신호이다. 이러한 여러가지 주파수를 하나의 측정장비로 측정하기 위해서는 통상적으로 여러 개의 기준주파수가 필요하나, 그렇게 할 경우에는 각각의 측정주파수마다 그에 해당하는 기준주파수가 필요하게 되므로 비용문제를 감안할 때, 그러한 방법은 적당한 방법이 아니므로, 본 발명에 있어서는 안정된 주파수공급원(원자주파수원;Atomic Frequency STD)으로부터 고정주파수(fD)를 프로그램가능한 주파수발생원인 다이랙트 디지털 신디사이저(DDS)에 인가하여 기준주파수를 선별하여 출력하도록 하고 있다.In the figure, fe is a frequency error to be measured, and the signal f + fe input from the UUT 1 to the mixer 3 is a measurement frequency signal of 2.048 MHz, 1.544 MHz, and 10 MHz, which are commonly used in the digital mobile communication field. to be. In order to measure these various frequencies with a single measuring device, several reference frequencies are usually required, but in that case, a corresponding reference frequency is required for each measurement frequency. is not a method, in a stable frequency source in the present invention (atomic frequency source; atomic frequency STD) from a fixed frequency (f D) the programmable frequency causes die Rotaract digital synthesizer (DDS) is applied to selected and outputting a reference frequency in I'm trying to.
원자주파수발생원으로는 세슘(Cesium)이나 루비듐(Rubidium)을 사용하여야 한다. 상기 세슘이나 루비듐을 이용한 주파수발생원에서는 통상적으로 10MHz, 5MHz, 1MHz등의 주파수들이 발생된다. 따라서, 상기 DDS(2)에는 프로그램가능한 주파수원으로써 세슘이나 루비듐을 이용한 원자주파수발생원에서 발생되는 여러 주파수들이 입력되어 있다. 따라서, 상기 DDS(2)로부터 해당하는 주파수를 선택하여 이를 기준주파수용의 고정주파수(fD)로 하기 위해, 상기 DDS(2)에 필요한 워드(word)를 입력하게 되면, 상기 DDS(2)에서는 필요한 기준주파수가 출력되게 된다. 따라서, UUT(1)로부터의 측정주파수가 1.544MHz나 2.048MHz중 어느 하나로 변할 경우라도 DDS(2)로부터는 그에 상당하는 기준주파수를 선택적으로 인가할 수 있다. 따라서, 하나의 측정장비로 정확하게 측정할 수 있다. 예를들어, 상기 UUT(1)에서의 측정주파수(fu)가 2. 048MHz+fe일 경우에는, 상기 DDS(2)에서 출력되는 기준주파수(fr)를 2. 048MHz+10Hz로 하게 되면, 최종적으로는 fe만의 저주파성분만이 남게 되므로, 주파수를 10-13까지 고정밀하게 측정할 수 있다.Cesium or Rubidium should be used as the atomic frequency generator. In the frequency generator using cesium or rubidium, frequencies of 10 MHz, 5 MHz, and 1 MHz are typically generated. Therefore, in the DDS 2, various frequencies generated from an atomic frequency generator using cesium or rubidium as a programmable frequency source are input. Accordingly, when a word necessary for the DDS 2 is input to select a corresponding frequency from the DDS 2 and set it as a fixed frequency f D for a reference frequency, the DDS 2 In the reference frequency required is output. Therefore, even when the measurement frequency from the UUT 1 changes to either 1.544 MHz or 2.048 MHz, the corresponding reference frequency can be selectively applied from the DDS 2. Therefore, it is possible to measure accurately with one measuring device. For example, when the measurement frequency (fu) in the UUT (1) is 2.48 MHz + fe, when the reference frequency (fr) output from the DDS (2) is 2.048 MHz + 10 Hz, finally only fe Since only low frequency components remain, frequencies can be measured with high precision up to 10 -13 .
즉, 도 3을 참고로 하여 종래방법을 따른 측정정밀도와 본 발명을 따른 측정정밀도를 비교설명하면 다음과 같다. 도면에 나타낸 바와같이, 종래의 방법으로 2,048,000.00001Hz를 측정할 경우에는 최종적인 측정값은 (가)에 나타낸 바와같이 2,048,000Hz로 그 정확도는 1/2048000으로 즉, 4.88×10-7인 반면, 본 발명의 믹서를 이용하여 추출된 저주파신호성분인 △f+ fe(△f=10Hz, fe=0.00001Hz)를 측정할 경우에는 측정값은 (나)에 나타낸 바와같이 10.00001Hz로 그 측정정밀도는 0.00001/2048000=4.88×10-12으로 향상된다. 따라서, 본 발명에 따르면 주파수에 대한 측정정밀도를 현저하게 증강시킬 수 있는 것이다.That is, the measurement precision according to the conventional method and the measurement precision according to the present invention will be described with reference to FIG. 3 as follows. As shown in the figure, in the case of measuring 2,048,000.00001Hz by the conventional method, the final measured value is 2,048,000Hz as shown in (a) and its accuracy is 1/2048000, that is, 4.88 × 10 -7 . When measuring the low frequency signal component Δf + fe (Δf = 10Hz, fe = 0.00001Hz) extracted using the mixer of the present invention, the measured value is 10.00001Hz as shown in (b) and the measurement precision is 0.00001 / 2048000 = 4.88 x 10 -12 . Therefore, according to the present invention, it is possible to remarkably increase the measurement accuracy with respect to frequency.
한편, DDS를 사용하면 DDS로 입력되는 고정주파수 fD는fD≥2fr가 되어야 한다. 그런데 원자주파수발생원의 최대주파수는 10MHz이므로, DDS의 출력주파수는 5MHz를 넘지 못한다. 따라서, 이러한 상태에서는 UUT(1)의 측정주파수가 5MHz이하일 때만 측정가능하다는 제한조건이 부여되게 된다. 상기 제한조건을 해결하기 위해 본 발명에서는 도 2에 나타낸 바와같이, 도 1에 있어서의 UUT(1)로부터의 측정주파수신호(fu)(f+fe)를 DDS(2)에 인가하고, 기준주파수신호(fr)는 ÷N으로 인가시키는 방법을 제안하고 있다. 이러한 방법에 따르면, DDS(2)로부터는 f+fe+△f의 주파수가 -신호로써 믹서(3)로 인가되고, ÷N으로부터는 기준주파수(fr)가 N으로 분주되어서 f만이 +신호로써 믹서(3)로 인가된다. 따라서, 믹서(3)에서는 상기 기준주파수(fr)와 DDS(2)에서 출력되는 측정주파수(fu)가 비교되면서 fr-fu처리 즉 f-(f+fe+△f)처리가 수행된다. 그러면, 상기 합성된 신호들중 고주파성분인 f와 f는 서로 상쇄되어 소거되고 -(fe+△f)의 저주파신호성분만이 남게 된다. 이러한 저주파신호는 저역필터(4)를 통과하게 되며, 계속해서 증폭기(5), 카운터(6)를 거쳐서 컨트롤러(7)로 인가된다. 그러면, 상기 컨트롤러(7)에서는 상기 저주파신호(-(fe+△f))를 측정한 다음, 이러한 측정값에 +△f를 가함으로써, 결국 측정하고자 하는 주파수에러성분인 -fe만이 남게 된다. 상기에서, UUT(1)의 측정주파수신호(fu=f+fe)를 DDS(2)에 인가하고, 기준주파수신호(fr)를 N=1로 하여 직접 믹서(3)에 입력할 경우에는 DDS(2)의 출력주파수는 fu≥2(f+fe+△f)의 조건을 만족해야 하므로 20MHz이상의 고주파를 측정가능하게 된다. 또한, N=2, 3, 4, ……등으로 기준주파수를 분주할 경우에는 측정주파수가 기준주파수보다 1/N배 낮은 주파수를 측정할 수 있다. 비록 본 방법에 있어서는 -fe의 주파수성분만이 남게 되지만, 이는 실질적으로 fe와 동일값으로 취해진다. 따라서, 상기 주파수에러성분을 재차 측정함으로써 주파수측정정밀도를 크게 향상시킬 수 있는 것이다.On the other hand, when DDS is used, the fixed frequency f D input to the DDS must be f D ≥2fr. However, since the maximum frequency of the atomic frequency source is 10MHz, the output frequency of the DDS does not exceed 5MHz. Therefore, in this state, the constraint that the measurement is possible only when the measurement frequency of the UUT 1 is 5MHz or less is given. In order to solve the above limitation condition, in the present invention, as shown in Fig. 2, the measurement frequency signal fu (f + fe) from the UUT 1 in Fig. 1 is applied to the DDS 2, and the reference frequency signal ( fr) proposes a method of applying ÷ N. According to this method, the frequency of f + fe + Δf is applied to the mixer 3 as the − signal from the DDS 2, and the reference frequency fr is divided into N from ÷ N so that only f is the + signal as the mixer 3. Is applied. Therefore, in the mixer 3, the fr-fu process, that is, the f- (f + fe + Δf) process, is performed while the reference frequency fr and the measurement frequency fu output from the DDS 2 are compared. Then, the high frequency components f and f of the synthesized signals cancel each other out and only the low frequency signal component of-(fe + Δf) remains. This low frequency signal passes through the low pass filter 4 and is subsequently applied to the controller 7 via the amplifier 5 and the counter 6. Then, the controller 7 measures the low frequency signal (− (fe + Δf) and then adds + Δf to the measured value, so that only -fe, which is the frequency error component to be measured, remains. In the above, when the measurement frequency signal f u = f + fe of the UUT 1 is applied to the DDS 2, and the reference frequency signal f r is directly input to the mixer 3 with N = 1. Since the output frequency of the DDS (2) must satisfy the condition of f u ? 2 (f + fe +? F), a high frequency of 20 MHz or more can be measured. In addition, N = 2, 3, 4,... … In the case of dividing the reference frequency by, for example, the frequency can be measured 1 / N times lower than the reference frequency. Although only the frequency component of -fe is left in this method, this is taken to be substantially equal to fe. Therefore, frequency measurement accuracy can be greatly improved by measuring the frequency error component again.
상기 도 2에 나타낸 방법으로 주파수를 측정하게 되면, UUT의 측정주파수신호가 기준주파수신호보다 N배의 높은 주파수라도 측정할 수 있으므로, 기준원자주파수발생원의 최대주파수가 10MHz일 경우라도 이보다 높은 UUT의 주파수를 측정할 수 있으므로, 주파수측정대역을 크게 넓힐 수 있다.When the frequency is measured by the method shown in FIG. 2, the measured frequency signal of the UUT can be measured even if the frequency is N times higher than the reference frequency signal, even if the maximum frequency of the reference atomic frequency generator is 10 MHz. Since the frequency can be measured, the frequency measurement band can be greatly widened.
따라서, 본 발명에 따르면 측정주파수와 기준주파수를 믹서를 통하여 비교측정하여 저주파신호만을 남게 하여 이를 재차 측정함으로써 주파수측정정밀도를 크게 향상시킬 수 있으며, UUT의 측정주파수와 DDS에 인가되는 기준주파수를 서로 바꾸어서 믹서에 입력하게 되면 UUT의 측정주파수가 변화하여도 기준주파수는 변화시킬 필요가 없어 하나의 장비로도 충분하므로 장치의 구성에 따른 비용을 대폭 절감할 수 있다.Therefore, according to the present invention, the measurement frequency and the reference frequency are measured and compared by using a mixer, so that only the low frequency signal is left and measured again, thereby greatly improving the frequency measurement accuracy, and the measurement frequency of the UUT and the reference frequency applied to the DDS are different from each other. If inputted into the mixer, the reference frequency does not need to be changed even if the measurement frequency of the UUT changes, so a single device is sufficient, which can greatly reduce the cost according to the configuration of the device.
Claims (2)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019960035914A KR100233552B1 (en) | 1996-08-27 | 1996-08-27 | A frequency measuring accuracy upgrading method and a device for upgrading same |
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---|---|---|---|
KR1019960035914A KR100233552B1 (en) | 1996-08-27 | 1996-08-27 | A frequency measuring accuracy upgrading method and a device for upgrading same |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR19980016369A KR19980016369A (en) | 1998-05-25 |
KR100233552B1 true KR100233552B1 (en) | 1999-12-01 |
Family
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019960035914A KR100233552B1 (en) | 1996-08-27 | 1996-08-27 | A frequency measuring accuracy upgrading method and a device for upgrading same |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100233552B1 (en) |
-
1996
- 1996-08-27 KR KR1019960035914A patent/KR100233552B1/en not_active IP Right Cessation
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Publication number | Publication date |
---|---|
KR19980016369A (en) | 1998-05-25 |
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FPAY | Annual fee payment |
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