KR100211927B1 - Method and composition for underplating copper alloy and iron-nickel alloy with copper-nickel alloy - Google Patents

Method and composition for underplating copper alloy and iron-nickel alloy with copper-nickel alloy Download PDF

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Abstract

동 합금 및 철-니켈 합금 소재로 된 반도체 리드 프레임(Lead Frame), 인쇄회로 기판(PCB) 및 커넥터의 하지 도금 조성물, 하지 도금 방법 및 그 도금체가 개시되어 있다. 하지 도금 조성물은 동 15-25g/, 니켈 10-20g/이 포함된 수용액으로 이루어진다. 하지 도금 층은 동-니켈 합금층으로 이루어지고 하지 도금층 위에는 추가로 팔라듐 층, 금 층 또는 팔라듐-금 합금 층을 도금할 수 있다. 하지 도금 층 형성 방법은 하지 도금 조성물 용액에 동 합금 또는 철-니켈 합금 소재로 된 피도금체를 담근 후, 피도금체에 전류를 2.5-5.0 ASD로 흘려주어 이루어진다. 본 발명에 따르면, 동 합금 및 철-니켈 합금 소재의 동 니켈 합금 하지 도금 층은 기존의 니켈 단독 도금층보다 훨씬 유연하고 밀착성, 내식성이 우수하며, 또한 기존의 동 도금 후 니켈 도금하는 2단계 공정 보다 훨씬 작업성이 뛰어나며 공해 물질도 없는 한층 진보된 우수한 도금이다.Disclosed are a semiconductor lead frame (PCB), a printed circuit board (PCB) and a base plate composition of a connector, a base plate method, and a plated body made of a copper alloy and an iron-nickel alloy. Base plating composition is copper 15-25g / Nickel 10-20g / It consists of an aqueous solution included. The base plating layer consists of a copper-nickel alloy layer and may further plate a palladium layer, a gold layer or a palladium-gold alloy layer on the base plating layer. The base plating layer forming method is performed by dipping a plated body made of a copper alloy or an iron-nickel alloy material in a base plated composition solution, and then flowing a current of 2.5-5.0 ASD through the plated body. According to the present invention, the copper nickel alloy base plated layer of copper alloy and iron-nickel alloy material is much more flexible than the conventional nickel plated layer, has excellent adhesion and corrosion resistance, and is more than the two-step process of nickel plating after conventional copper plating. It is an advanced plating that is much more workable and free of pollution.

Description

동 합금 및 철-니켈 합금 소재의 동-니켈 합금 하지 도금 조성물 및 하지 도금 방법Copper-nickel alloy not plating composition and not plating method of copper alloy and iron-nickel alloy material

본 발명은 동 합금 또는 철-니켈 합금 소재의 동-니켈 합금하지 도금 조성물 및 하지 도금 방법에 관한 것으로서, 특히 동 합금 또는 철-니켈 합금 소재로 된 반도체 리드 프레임(Lead Frame), 인쇄 회로기판(PCB) 및 커넥터 등에 사용할 수 있는 동-니켈 합금 하지 도금 조성물 및 하지 도금 방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a copper-nickel alloy base plating composition and a base plating method of a copper alloy or an iron-nickel alloy material, and more particularly, to a semiconductor lead frame and a printed circuit board made of a copper alloy or an iron-nickel alloy material. The present invention relates to a copper-nickel alloy base plating composition and a base plating method which can be used for PCB) and connectors.

종래 동 합금 또는 철-니켈 합금 소재로 된 반도체 리드 프레임에는 주로 은 또는 주석-납 합금을 도금하여 왔다.Conventionally, semiconductor lead frames made of copper or iron-nickel alloys have been mainly plated with silver or tin-lead alloys.

그러나 은 도금의 문제점으로서 은 도금 부분의 변색, 구리의 산화막 형성, 다이 접촉시의 수지의 번짐, 성형시의 밀착력 불량 등과 함께 은 도금액이 유해한 공해 물질, 예를 들면 시안 화합물로 되어 있다는 점이 지적되어 왔다. 또한 주석-납 도금액 역시 중금속 물질인 납을 다량 함유하고 있는 문제점이 있었다.However, as a problem of silver plating, it is pointed out that the silver plating solution is made of harmful pollutants such as cyan compounds, along with discoloration of silver plated portions, formation of copper oxide films, resin bleeding during die contact, and poor adhesion during molding. come. In addition, tin-lead plating solution also had a problem that contains a large amount of lead, a heavy metal material.

또한 인쇄회로 기판 및 커넥터에 기본적으로 하지 동 도금 후 니켈 도금, 그위에 팔라듐 또는 금 도금이 사용되고 있지만 만족할 만한 성능 및 효율을 얻고 있는 것이 아니다.In addition, nickel plated copper plated and palladium or gold plated on copper circuit boards and connectors are basically used, but satisfactory performance and efficiency are not obtained.

최근 들어 은 도금 및 주석-납 합금 도금을 대신하여 설파민산 니켈 도금액을 사용하지 하지 도금을 하고 있다. 그러나 이 니켈 하지 도금 역시 완전한 특성을 나타내지 못하고 있다. 예를 들어, 니켈 도금층이 갖는 큰 내부 응력(internal stress) 때문에 반도체 공정상의 트리밍 및 포밍(Triming Forming)시 하지 니켈 도금층에서 미세한 균열(crack)이 발생하여 내식성, 납땜성 및 다른 도금층과의 밀착성을 저하시켜서 반도체 리드 프레임, 인쇄회로 기판 및 커넥터 등의 신뢰성을 떨어뜨리는 문제가 있다.Recently, nickel plating is not used instead of silver plating solution and tin-lead alloy plating. However, this nickel base plating also does not show complete characteristics. For example, due to the large internal stress of the nickel plated layer, a fine crack occurs in the underlying nickel plated layer during trimming and trimming in the semiconductor process, resulting in corrosion resistance, solderability, and adhesion with other plating layers. There is a problem of lowering the reliability of semiconductor lead frames, printed circuit boards, connectors and the like.

특히 철-니켈 합금 소재(Alloy #42)인 경우에는 이 소재(Ni 42%, Fe 56%, Mn 0.8%, Si 0.3%, Ca 0.035%, P 0.025%)자체에 함유되어 있는 Si 및 Ca성분으로 인하여 화학적 활성화 처리가 어렵고 또한 이 소재 위에 곧바로 니켈 도금을 하면 이 소재에 함유되어 있는 Fe로 인하여 밀착력이 떨어지기 때문에 부식 발생 및 미세 균열에 의한 납땜성 저하 등의 문제점이 많다.Particularly in the case of an iron-nickel alloy material (Alloy # 42), Si and Ca components contained in the material (42%, Fe 56%, Mn 0.8%, Si 0.3%, Ca 0.035%, P 0.025%) Because of this, chemical activation is difficult, and if nickel is immediately plated on this material, the adhesion force is reduced due to Fe contained in this material, and thus there are many problems such as corrosion and deterioration in solderability due to micro cracks.

이러한 문제점들을 극복하기 위하여 은 도금 및 주석-납 합금 도금을 배제하고 또한 현재 사용중인 하지 니켈 도금보다 훨씬 특성이 우수한 새로운 하지 도금액 개발이 절실하게 되었다.In order to overcome these problems, it is urgent to develop a new base plating solution that excludes silver plating and tin-lead alloy plating and also has much better characteristics than the base nickel plating currently in use.

한편, 동 합금 및 철-니켈 합금 소재 위에 동 도금 후 니켈 도금, 그 다음 팔라듐 또는 금 도금이 시행되고 있으나 이것은 3 또는 4단계 공정으로 복잡하여 작업 효율이 떨어지고, 각 도금 층과의 전기적응력에 의해 밀착 불량 및 미세 균열이 발생하는 문제점이 있다. 뿐만 아니라 동 도금시 유독한 시안 화합물을 사용하고 있어 공해를 유발시키는 문제점이 있다.On the other hand, nickel plating, then palladium or gold plating are carried out after copper plating on copper alloy and iron-nickel alloy material, but this is complicated by 3 or 4 step process, which reduces working efficiency and is caused by electrical stress with each plating layer. There is a problem that poor adhesion and fine cracks occur. In addition, there is a problem of causing pollution due to the use of toxic cyan compound during copper plating.

이에 본 발명자는 동 합금 및 철-니켈 합금 소재에 적용되는 종래의 하지 도금층의 상기 문제점들을 해결하고자 예의 연구한 결과, 동 도금 후 니켈 도금을 하는 2단계 공정을 1단계로 단축시키면서 내식성, 밀착성, 유연성이 훨씬 우수한 동-니켈 합금 도금 조성물을 개발하여 본 발명을 완성하게 되었다.Therefore, the present inventors have studied diligently to solve the above problems of the conventional base plating layer applied to the copper alloy and iron-nickel alloy material, and as a result, the corrosion resistance, adhesion, The copper-nickel alloy plating composition was developed with much greater flexibility to complete the present invention.

본 발명의 목적은 동 합금 및 철-니켈 합금 소재에 적용되는 동-니켈 합금 하지 도금 조성물을 제공하는데 있다.It is an object of the present invention to provide a copper-nickel alloy base plating composition applied to copper alloy and iron-nickel alloy materials.

본 발명의 다른 목적은 상기 본 발명의 하지 도금 조성물로부터 형성되는 하지 도금층을 제공하는데 있다.Another object of the present invention is to provide an underlying plating layer formed from the underlying plating composition of the present invention.

본 발명의 또 다른 목적은 상기 본 발명의 동-니켈 합금 하지 도금층을 형성하는 방법을 제공하는데 있다.Still another object of the present invention is to provide a method of forming a copper-nickel alloy under plated layer of the present invention.

상기 목적을 달성하기 위한 하지 도금 조성물은, 동 15-25g/, 니켈 10-20g/이 포함된 수용액으로 이루어진다.The base plating composition for achieving the above object is copper 15-25 g / Nickel 10-20g / It consists of an aqueous solution included.

바람직하게는, 상기 동-니켈 합금 하지 도금 조성물에 하나 이상의 전도성 염 30-100g/, 착화제 0.5-20g/, 표면개선제 0.1-5g/, 및 응력 감소제 0.05-0.2g/가 포함된다.Preferably, 30-100 g / of at least one conductive salt in the copper-nickel alloy base plating composition Complexing agent 0.5-20g / , Surface improver 0.1-5g / , And stress reducing agent 0.05-0.2 g / Included.

상기 다른 목적을 달성하기 위한 하지 도금층은 동-니켈 합금으로 이루어진다.The base plated layer for achieving the above another object is made of a copper-nickel alloy.

상기 또 다른 목적을 달성하기 위한 하지 도금층 형성 방법은 ㄱ) 동 15-25g/ℓ 및 니켈 10-20g/가 포함된 수용액으로 이루어진 도금 조성물 용액에 동 합금 또는 철-니켈 합금 소재로 된 피도금체를 담그는 단계 ; 및Method for forming a base plated layer to achieve the above another object is a) copper 15-25g / l and nickel 10-20g / Dipping a plated body made of a copper alloy or an iron-nickel alloy material in a plating composition solution consisting of an aqueous solution containing a; And

ㄴ) 피도금체에 전류를 2.5-5.0 ASD(ampere per square decimeter)을 흘려주어 두께 0.8-1.5μ의 하지 도금층을 형성하는 단계를 포함하여 이루어진다.B) flowing a current of 2.5-5.0 ASD (ampere per square decimeter) to the plated body to form a base plating layer having a thickness of 0.8-1.5 mu.

상기 하지 도금층 위에서 추가로 팔라듐 층, 금 층 또는 팔라듐 - 금 합금 층을 도금할 수 있다.The palladium layer, gold layer or palladium-gold alloy layer may further be plated on the base plating layer.

이하 본 발명에 대하여 보다 상세히 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail.

본 발명의 동은 합금되는 니켈 농도와 전도성 염의 종류에 따라 적절한 염 형태로 공급되며, 염의 예로서는 황산동 5 수화물, 피로인산 제 2구리, 탄산 제 2구리, 또는 이들의 혼합물을 들 수 있으며, 조성물에 투입되기 전에 미리 적절한 전도성 염과의 반응을 거칠 수도 있다. 조성물중의 동 금속의 농도는 15-25g/ℓ, 바람직하게는 20g/ℓ이다.Copper of the present invention is supplied in an appropriate salt form depending on the nickel concentration to be alloyed and the type of conductive salt, and examples of the salt include copper sulfate pentahydrate, cupric pyrophosphate, cupric carbonate, or mixtures thereof. It may be reacted with a suitable conductive salt beforehand. The concentration of copper metal in the composition is 15-25 g / l, preferably 20 g / l.

니켈은 예를 들어 황산니켈 6 수화물, 탄산니켈 4 수화물, 황산아민니켈 또는 이들의 혼합물 등을 사용할 수 있으며, 도금 조성물 내에서 침전 또는 증화되지 않도록 미리 전동성 염과 반응시킨 후 조성물에 투입하는 것이 바람직하다. 금속 니켈의 농도는 10-20g/ℓ, 바람직하게는 15g/이다. 전도성 염은 합금되는 동과 니켈의 금속염 종류에 따라 적절하게 선택되어야 하는데, 메타설폰산염, 구연산염 또는 황산염등이 사용될 수 있는데, 예를 들어 메탄설폰산, 구연산칼륨, 구연산, 구연산나트륨, 황산암모늄, 황산나트륨, 황산 또는 이들의 혼합물을 들 수 있다.Nickel may be used, for example, nickel sulfate hexahydrate, nickel carbonate tetrahydrate, amine nickel sulfate, or a mixture thereof, and the like may be added to the composition after reacting with the electromotive salt in advance so as not to precipitate or thicken in the plating composition. Do. The metal nickel concentration is 10-20 g / l, preferably 15 g / l. to be. The conductive salt should be appropriately selected depending on the type of metal salt of copper and nickel to be alloyed. Metasulfonic acid salts, citrates or sulfates may be used, for example methanesulfonic acid, potassium citrate, citric acid, sodium citrate, ammonium sulfate, Sodium sulfate, sulfuric acid or mixtures thereof.

전도성 염은 금속과 잘 결합되어야 하며 이를 위해서는 금속과 충분히 반응되어야 하는데, 경우에 따라서는 금속과 별도로 반응시킨 후에 투입시킨다. 전도성 염의 농도는 30-100g/, 바람직하게는 50-80g/이다.The conductive salts must be well combined with the metal and for this to be sufficiently reacted with the metal, in some cases after the reaction with the metal separately. Conductive salt concentration is 30-100g / , Preferably 50-80 g / to be.

합금되는 동과 니켈은 단독으로 잘 결합될 수 있는 것도 있지만 그렇지 않은 경우에는 이들 금속을 착화시켜 안정된 도금을 만들어 주도록 착화제를 적절하게 선택하여 사용하는 것이 바람직하다. 착화제의 예로는 글루콘산, 에틸렌디아민테트라아세트산나트륨염 2 수화물, N, N', N''-트리토실디에틸렌트리아민 또는 이들의 혼합물을 들 수 있다. 사용되는 착화제의 양은 0.5-10g/, 바람직하게는 0.7-7g/1이다.The alloyed copper and nickel may be combined well alone, but in other cases, it is preferable to use an appropriately selected complexing agent to complex these metals to make stable plating. Examples of complexing agents include gluconic acid, ethylenediaminetetrasodium acetate dihydrate, N, N ', N''-tritosyldiethylenetriamine, or mixtures thereof. The amount of complexing agent used is 0.5-10 g / And preferably 0.7-7 g / 1.

표면 개선제로서는 6-옥소-3,9-디타아비시클로[9.3.1]펜타데카-1(15), 11-13-트리엔, 주석산칼륨나트륨, N,N-디에틸-1,3-디아미노프로판 또는 이들의 혼합물 등이 사용되며, 사용량은 0.1-5g/, 바람직하게는 0.5-2.0g/이다.As surface improvers, 6-oxo-3,9-diabicyclo [9.3.1] pentadeca-1 (15), 11-13-triene, potassium tartrate sodium, N, N-diethyl-1,3-dia Minopropane or a mixture thereof is used, and the amount of use is 0.1-5 g / , Preferably 0.5-2.0 g / to be.

응력 감소제로서는 a, a'-디클로로-2,6-루티딘, S(-)-N-(1-폐닐에틸)벤질아민, 아조디카르복실시 디피페리디드 또는 이들의 혼합물을 들 수 있으며, 사용량은 0.05-0.2g/, 바람직하게는 0.1-0.15g/농도로 사용된다.Examples of the stress reducing agent include a, a'-dichloro-2,6-lutidine, S (-)-N- (1-pentylethyl) benzylamine, azodicarboxyl dipiperidide or mixtures thereof. Usage is 0.05-0.2g / , Preferably 0.1-0.15 g / Used as a concentration.

동 및 니켈 금속의 농도가 각각 25 및 20g/ℓ보다 높으면 금속 석출속도가 빠르고 전류효율이 너무 높아 고전류 부위의 도금이 타고 금속의 활성 또한 높아져 도금표면에 금속 결정이 석출되어 도금 표면이 고르지 못하게 되어 균열이 발생하는 반면, 동 및 니켈 금속의 농도가 각각 15 및 10g/보다 낮으면 전류효율이 낮아 저전류부위에 도금이 잘 되지 않으며 도금표면에 핀 홀(pin hole) 또는 피트(pit)가 발생하기 쉽고; 전도성 염의 농도는 100g/보다 높으면 합금 비율이 떨어지거나 전류효율이 높아져서 고전류 부위의 도금이 타고 형성된 도금층의 높은 내부 응력에 의해 균열이 발생하거나 도금된 금속 입자가 고르지 못하고, 전도성 염의 농도가 30g/보다 낮으면 저전류부위에 도금이 잘 되지 않고, 내식성, 밀착성 등이 떨어지며; 착화제의 농도가 10g/보다 높거나 0.5g/보다 낮으면 도금 표면의 불량은 물론 도금액의 평형이 깨어져 도금액의 수명이 짧아지게 되며;; 표면 개선제 또는 응력 감소제의 농도가 각각 5 및 0.2g/보다 높으면 유기물의 과량으로 도금액이 혼탁해지거나 도금액의 평형이 깨어지기 쉬우며 도금표면도 전류 범위가 좁아져 고전류와 저전류 모두 도금이 되지 않고 검게 되거나 핀 홀과 피트가 심하게 발생하고, 표면 개선제 또는 응력 감소제의 농도가 각각 0.1 및 0.05g/ℓ보다 낮으면 니켈 도금층의 응력 때문에 균열이 심하게 발생하고 피트가 생긴다.If the concentrations of copper and nickel metals are higher than 25 and 20 g / l, respectively, the metal deposition rate is fast and the current efficiency is too high, so that the plating of the high current part is carried out and the activity of the metal is also increased. Cracks occur, while the concentrations of copper and nickel metal are 15 and 10 g / When lower, the current efficiency is low, so plating is not performed well at low current sites, and pin holes or pits are easily generated on the plating surface; Conductive salt concentration is 100g / If higher, the alloy ratio is lowered or the current efficiency is increased, resulting in cracking or uneven plating of metal particles due to the high internal stress of the plating layer formed by plating of the high current portion, and the concentration of the conductive salt is 30 g / If it is lower than the low current portion plating is not good, corrosion resistance, adhesion and the like is inferior; The concentration of the complexing agent is 10 g / Greater than or equal to 0.5 g / Lower the plating surface, as well as the balance of the plating liquid is broken, the life of the plating liquid is shortened; The concentration of the surface improver or stress reducer was 5 and 0.2 g / The higher the organic matter, the more the plating liquid becomes turbid or the equilibrium of the plating liquid is easily broken, and the plating surface also has a narrow current range, so that both high and low currents are not plated, or pin holes and pits are severely generated, and surface improvers or If the concentration of the stress reducing agent is lower than 0.1 and 0.05 g / l, respectively, cracking occurs badly and pits occur due to the stress of the nickel plating layer.

본 발명에 따른 도금 조성물은 금속염의 종류에 따라 적절한 전도성 염 및 착화제를 사용하므로 안정성이 우수하고 불순물에 매우 둔감하므로 장시간 사용해도 균일한 도금이 이루어진다.Since the plating composition according to the present invention uses an appropriate conductive salt and a complexing agent according to the type of metal salt, it has excellent stability and is very insensitive to impurities, thereby achieving uniform plating even when used for a long time.

한편 본 발명에 따른 도금층 형성 방법은 다음과 같다.Meanwhile, the plating layer forming method according to the present invention is as follows.

도금 조성물인 동, 니켈, 전도성 염, 착화제 및 기타 첨가제 등을 직접 물에 용해시키거나 금속염을 미리 전동성 염 또는 착화제와 반응시킨 후 물에 용해시켜 충분히 반응시킴으로써 도금 조성물을 만든다. 본 발명에 따른 동-니켈 합금 하지 도금액은 15-20 Be'(Baume')의 비중을 지니며, 약 pH 1-3의 산도를 가진다.The plating composition is prepared by directly dissolving copper, nickel, conductive salts, complexing agents, and other additives, which are plating compositions, directly in water or by reacting a metal salt with an electrically conductive salt or a complexing agent, and then dissolving in water to sufficiently react. The copper-nickel alloy base plating solution according to the present invention has a specific gravity of 15-20 Be '(Baume') and has an acidity of about pH 1-3.

상기 도금 조성물을 상온으로 유지하면서 음극인 피도금체와 백금망과 같은 양극을 담그고, 전류를 2.5-5.0 ASD, 바람직하게는 3-4 ASD를 흘려주어 피도금체에 두께 0.8-.1.5μ의 동-니켈 합금 하지 도금 층을 형성시킨다. 전류밀도가 5.0ASD보다 높으면 도금표면이 타고, 2.5ASD보다 낮으면 도금이 잘 되지 않거나 도금 표면에 피트가 발생한다. 이후 상기 하지 도금층 위에 팔라듐 도금, 금 도금 또는 팔라듐-금 합금 도금을 한다.While maintaining the plating composition at room temperature, a cathode such as a plated body and a platinum network, which is a cathode, is immersed, and a current of 2.5-5.0 ASD, preferably 3-4 ASD, is flown to the plated body to have a thickness of 0.8-.1.5 μm. Copper-nickel alloy base plated layer is formed. If the current density is higher than 5.0 ASD, the plating surface burns, and if the current density is lower than 2.5 ASD, the plating is not good or pits occur on the plating surface. Thereafter, palladium plating, gold plating or palladium-gold alloy plating is performed on the base plating layer.

이하 실시에로 본 발명을 더욱 상세히 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to the following examples.

단, 본 발명의 범위가 하기 실시예만으로 한정되는 것은 아니다.However, the scope of the present invention is not limited only to the following Examples.

[실시예 1]Example 1

하기 성분들을 증류수에 넣어 도금 조성물을 제조하였다.The following components were added to distilled water to prepare a plating composition.

황산 동 5 수환물 80g/ Copper sulfate 5 receiver 80 g /

황산니켈 6 수화물 55g/ Nickel Sulfate Heptahydrate 55g /

황산 암모늄 60g/ Ammonium Sulfate 60g /

황산 나트륨 40g/ Sodium sulfate 40g /

글루코산 5g/ Gluconic Acid 5g /

6-옥소-3,9-디타아비시클로[9,3,1]펜타메카-6-oxo-3,9-diabicyclo [9,3,1] pentameca-

1(15),11-13-트리엔 0.2g/ 1 (15), 11-13-triene 0.2g /

a,a'-디클로로-2,6-루티딘 0.07g/ a, a'-dichloro-2,6-lutidine 0.07 g /

상기 제조된 도금 조성물로 피도금체인 반도체 리드 프레임, 인쇄회로 기판 또는 커넥터를 음극으로 하고 3 ASD의 전류를 흘려 전기도금을 하여 표면이 아주 고르고 유연한 60:40의 동-니켈 합금 도금 층을 얻었다. 이 도금층 위에 팔라듐 도금, 금, 도금, 팔라듐-금 합금 도금을 선별 도금하여 각각 좋은 결과를 얻었다.The above-described plating composition was electroplated by applying a semiconductor lead frame, a printed circuit board, or a connector as a cathode, and a current of 3 ASD was applied to obtain a highly uniform and flexible 60-40 copper-nickel alloy plating layer. Palladium plating, gold, plating, and palladium-gold alloy plating were selectively plated on this plating layer to obtain good results, respectively.

[실시예 2]Example 2

하기 성분들을 증류수에 넣어 도금 조성물을 제조하였다.The following components were added to distilled water to prepare a plating composition.

피로인산제 2구리 50g/ 50 g of cupric pyrophosphate

황산아민 니켈 40g/ Amine nickel sulfate 40g /

메탄설폰산 55g/ Methanesulfonic Acid 55g /

N,N'N''- 트리토실디에틸렌트리아민 2g/ N, N'N ''-tritosyldiethylenetriamine 2g /

N, N-디에틸-1,3-디아민노프로판 0.1g/ N, N-diethyl-1,3-diaminenopropane 0.1 g /

S(-)-N(1-페닐에틸)벤질아민 0.05g/ 0.05 g / S (-)-N (1-phenylethyl) benzylamine

상기 제조된 도금 조성물로 실시예 1에서와 같이 동일한 조건하에서 도금한 결과 표면이 아주 고르고 유연한 동-니켈 하지 도금 층을 얻었다. 이후 실시예 1에서와 동일하게 팔라듐 도금, 금 도금 또는 라듐-금 합금 도금을 하여 좋은 결과를 얻었다.Plating under the same conditions as in Example 1 with the above prepared plating composition resulted in a very even and flexible copper-nickel base plated layer. Thereafter, palladium plating, gold plating or radium-gold alloy plating were performed in the same manner as in Example 1 to obtain good results.

[실시예 3]Example 3

하기 성분들을 증류수에 넣어 도금 조성물을 제조하였다.The following components were added to distilled water to prepare a plating composition.

탄산 제 2구리 45g/ 45 g / cupric carbonate

탄산니켈 4 수화물 27g/ Nickel Carbonate Tetrahydrate 27g /

구연산 70g/ Citric acid 70g /

구연산 칼륨 28g/ Potassium Citrate 28g /

에틸렌디아민테트라아세트산Ethylenediaminetetraacetic acid

나트륨염 2 수화물 5g/ Sodium Salt Dihydrate 5g /

주석산칼륨나트륨 3g/ Sodium Potassium Tartrate 3g /

아조디카르복실릭 디피페리디드 0.1g/ Azodicarboxylic dipiperidide 0.1 g /

상기 제조된 도금 조성물로 실시예 1에서와 동일한 조건하에서 도금한 결과 표면이 아주 고르고 유연한 동-니켈 합금 하지 도금 층을 얻었고, 이후 실시예 1에서와 동일하게 팔라듐, 금 또는 팔라듐-금합금 도금을 하여 내식성, 납땜성 및 밀착성이 좋은 도금층을 얻었다.As a result of plating under the same conditions as in Example 1 with the plating composition prepared above, a very uniform and flexible copper-nickel alloy base plated layer was obtained, and then palladium, gold, or palladium-gold alloy plating was performed as in Example 1. The plating layer which was excellent in corrosion resistance, solderability, and adhesiveness was obtained.

Claims (12)

15-25g/의 동, 10-20g/의 니켈, 30-100g/의 전도성 염, 0.5-10g/의 착화제, 0.1-5g/의 표면 개선제 및 0.05-0.2g/의 응력 감소제를 포함하는 수용액 형태의 동 합금 또는 철-니켈 합금 소재의 동-니켈 합금 하지 도금 조성물.15-25g / Copper, 10-20 g / Nickel, 30-100g / Of conductive salt, 0.5-10g / , Complexing agent, 0.1-5g / Surface improver and 0.05-0.2g / Copper-nickel alloy base plating composition of the copper alloy or iron-nickel alloy material in the form of an aqueous solution containing a stress reducing agent of the. 제1항에 있어서, 상기 동은 황산동 5 수화물, 피로인산 제2구리, 탄산 제 2구리 및 이들의 혼합물로 구성된 군 중에서 선택되는 것의 형태로 수용액에 투입되는 것을 특징으로 하는 동 합금 또는 철-니켈 합금 소재의 하지 도금 조성물.The copper alloy or iron-nickel of claim 1, wherein the copper is added to the aqueous solution in the form of a copper sulfate pentahydrate, cupric pyrophosphate, cupric carbonate, and a mixture thereof. Base plating composition of alloy material. 제1항에 있어서, 상기 니켈은 황산 니켈 6 수화물, 탄산 니켈 4 수화물, 황산아민니켈 및 이들의 혼합물로 구성된 군 중에서 선택되는 것의 형태로 수용액에 투입되는 것을 특징으로 하는 동 합금 또는 철-니켈 합금 소재의 하지 도금 조성물.The copper alloy or iron-nickel alloy of claim 1, wherein the nickel is added to the aqueous solution in the form of one selected from the group consisting of nickel sulfate hexahydrate, nickel carbonate tetrahydrate, amine nickel sulfate and mixtures thereof. Base plating composition of the material. 제1항에 있어서, 상기 전도성 염은 메탄설폰산, 구연산 칼륨, 구연산, 구연산 나트륨, 황산 암모늄, 황산 나트륨, 황산 및 이들의 혼합물로 구성된 군 중에서 선택되는 것을 특징으로 하는 동 합금 또는 철-니켈 합금 소재의 하지 도금 조성물.The copper alloy or iron-nickel alloy of claim 1, wherein the conductive salt is selected from the group consisting of methanesulfonic acid, potassium citrate, citric acid, sodium citrate, ammonium sulfate, sodium sulfate, sulfuric acid and mixtures thereof. Base plating composition of the material. 제1항에 있어서, 상기 착화제는 글루콘산, 에틸렌디아민 테트라아세트산 나트륨염 2 수화물, N,N',N''-트리토실디에틸렌트리아민 및 이들의 혼합물로 구성된 군 중에서 선택되는 것을 특징으로 하는 동 합금 또는 철-니켈 합금 소재의 하지 도금 조성물.The method of claim 1, wherein the complexing agent is selected from the group consisting of gluconic acid, ethylenediamine tetraacetic acid sodium salt dihydrate, N, N ', N' '-tritosyldiethylenetriamine, and mixtures thereof. Not plating composition of copper alloy or iron-nickel alloy material. 제1항에 있어서, 상기 표면 개선제는 6-옥소-3,9-디티아비시클로[9.3.1]펜타데카-1(15),11-13-트리엔, 주석산칼륨나트륨, N,N-디에틸-1,3-디아미노프로판 및 이들의 혼합물로 구성된 군 중에서 선택되는 것을 특징으로 하는 동 합금 또는 철-니켈 합금 소재의 하지 도금 조성물.The method of claim 1, wherein the surface improving agent is 6-oxo-3,9-dithiabicyclo [9.3.1] pentadeca-1 (15), 11-13-triene, potassium tartrate sodium, N, N-di A base plating composition of copper alloy or iron-nickel alloy material, characterized in that it is selected from the group consisting of ethyl-1,3-diaminopropane and mixtures thereof. 제1항에 있어서, 상기 응력 감소제는,'-디클로르-2,6-루티딘, S(-)-N-(1-페닐에틸)벤질아민, 아조디카르복실릭디피페리디드 및 이들의 혼합물로 구성된 군 중에서 선택되는 것을 특징으로 하는 동 합금 또는 철-니켈 합금 소재의 하지 도금 조성물.The method of claim 1, wherein the stress reducing agent , '-Dichlor-2,6-lutidine, S (-)-N- (1-phenylethyl) benzylamine, azodicarboxylic dipiperidide and mixtures thereof Base plating composition of copper alloy or iron-nickel alloy material. ㄱ) 15-25g/의 동, 10-20g/의 니켈, 30-100g/의 전도성염, 0.5-10g/의 착화제, 0.1-5g/의 표면 개선제 및 0.05-0.2g의 응력 감소제를 포함하는 수용액 형태의 도금 조성물 용액에 동 합금 또는 철-니켈 합금 소재로 된 피도금체를 담그는 단계; ㄴ) 피도금체에서 전류를 2.5-5.0 ASD(ampere per square decimeter)로 흘려주어 두께 0.8-1.5μ의 하지 도금층을 형성하는 단계를 포함하는, 동 합금 또는 철-니켈 합금 소재의 하지 도금 방법.A) 15-25 g / Copper, 10-20 g / Nickel, 30-100g / Of conductive salt, 0.5-10g / , Complexing agent, 0.1-5g / Surface improver and 0.05-0.2g Dipping a plated body made of a copper alloy or an iron-nickel alloy into a solution of a plating composition in the form of an aqueous solution containing a stress reducing agent of; B) flowing a current from the plated body to 2.5-5.0 ampere per square decimeter (ASD) to form a base plated layer having a thickness of 0.8-1.5 microns. 제8항에 있어서, 상기 동-니켈 합금 하지 도금 층 위에 팔라듐 도금, 금 도금 또는 팔라듐-금 합금 도금을 하는 것을 특징으로 하는 방법.The method of claim 8, wherein palladium plating, gold plating or palladium-gold alloy plating is performed on the copper-nickel alloy underlying plating layer. 제8항의 방법에 따라 제조된, 동 합금 또는 철-니켈 합금 소재로 된 피도금체 및 상기 피도금체 상에 동-니켈 합금으로 형성된 하지 도금층을 포함하는 도금체.A plated body comprising a plated body made of a copper alloy or an iron-nickel alloy material prepared according to the method of claim 8 and a base plated layer formed of a copper-nickel alloy on the plated body. 제10항에 있어서, 상기 피도금체가 반도체 리드 프레임(Lead Frame), 인쇄회로 기판(PCB) 또는 커넥터인 것을 특징으로 하는 도금체.The plated body according to claim 10, wherein the plated body is a semiconductor lead frame, a printed circuit board (PCB), or a connector. 제10항에 있어서, 상기 하지 도금 층 위에 팔라듐, 금 또는 팔라듐-금 합금이 추가로 도금된 것을 특징으로 하는 도금체.The plated material according to claim 10, wherein a palladium, gold or palladium-gold alloy is further plated on the base plating layer.
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