KR0174669B1 - Failure Detection Device in Sept Transmission Equipment - Google Patents

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KR0174669B1 KR1019960010805A KR19960010805A KR0174669B1 KR 0174669 B1 KR0174669 B1 KR 0174669B1 KR 1019960010805 A KR1019960010805 A KR 1019960010805A KR 19960010805 A KR19960010805 A KR 19960010805A KR 0174669 B1 KR0174669 B1 KR 0174669B1
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Abstract

1. 청구범위에 기재된 발명이 속한 기술분야 : 셉트 전송장비에서 발생되는 장애를 검출하는 장치.1. TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION The invention described in the claims belongs to: A device for detecting a disturbance occurring in a sept transmission device.

2. 발명이 해결하려고 하는 기술적 과제 : 광통신 선로 또는 MUX변환 중 발생되는 장애를 검출하여 프로세서로 전송하는 장애검출회로와, 상기 장애 검출회로로부터 전송되는 장애 내역을 일정 주기로 전송받아 관리하는 프로세서로 구성되는 종래의 장애 검출장치에서는 장애가 리드타임(Read Time)주기 사이에 발생되는 경우에는 장애 내역을 잃어버리게 되어 사용자에게 장애 발생을 알리지 못하는 문제가 있었다.2. Technical problem to be solved by the invention: a fault detection circuit for detecting a fault generated during the optical communication line or MUX conversion to the processor and a processor for receiving and managing the fault history transmitted from the fault detection circuit at regular intervals In the conventional failure detection apparatus, when a failure occurs between read time periods, the failure history is lost, and thus there is a problem that the user cannot be notified of the failure.

3. 발명의 해결방법의 요지 : 셉트 전송장비에서 장애 발생을 검출하여 장애 내역을 전송하는 장애검출회로와, 상기 장애검출회로로부터 전송된 장애 내역을 리드타임이 발생될 때까지 유지하여 전송하는 장애보관회로와, 일정주기를 가지는 리드타임에 상기 장애보관회로로부터 전송되는 장애 내역을 읽어들인 후 읽어들인 장애 내역을 관리하는 프로세서로 구성되는 장애검출장치.3. Summary of the Solution of the Invention: A fault detection circuit that detects a fault occurrence in the Sept transmission device and transmits a fault history, and a fault that maintains and transmits the fault history transmitted from the fault detection circuit until a lead time occurs. And a processor for managing a fault history read after reading the fault history transmitted from the fault storage circuit at a lead time having a predetermined period.

4. 발명의 중요한 용도 : 셉트 전송장비.4. Significant use of the invention: sept transmission equipment.

Description

셉트 전송장비에서 장애 검출장치Failure Detection Device in Sept Transmission Equipment

제1도는 일반적인 셉트 전송장비의 블럭 구성도.Figure 1 is a block diagram of a typical sept transmission equipment.

제2도는 종래의 장애 검출장치의 블럭 구성도.2 is a block diagram of a conventional failure detection apparatus.

제3도는 종래의 장애 검출장치에 의해 검출되는 장애 내역도.3 is a failure history diagram detected by a conventional failure detection apparatus.

제4도는 본 발명에 따른 장애 검출장치의 블럭 구성도.4 is a block diagram of a failure detection apparatus according to the present invention.

제5도는 본 발명에 따른 장애 검출장치에 의해 검출되는 장애 내역도.5 is a failure history detected by the failure detection apparatus according to the present invention.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

10 : 광시스템 11 : MUX시스템10: optical system 11: MUX system

12 : 프로세서 13 : 장애수집시스템12 processor 13 fault collection system

14 : W/S 20 : 장애검출회로14: W / S 20: Fault detection circuit

40 : 장애보관회로40: fault storage circuit

본 발명은 셉트 전송장비에 관한 것으로, 특히 하드웨어적인 장애가 발생될 때 정확하게 장애 발생을 검출하는 장애 검출장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a septum transmission device, and more particularly, to a failure detection device that accurately detects a failure when a hardware failure occurs.

일반적으로 셉트 전송장치라 함은 유럽에서의 전기 통신 표준화기구에 해당하는 유럽 우편. 전기 통신 주관청 회의(Conference of European Postal and Telecom munications Administrations, 이하 CEPT라함)에서 정의하는 신호 전송 장치를 말한다.In general, the septal transmission is a European postal equivalent to the telecommunication standardization body in Europe. Signaling device as defined by the Conference of European Postal and Telecom munications Administrations (CEPT).

상기 셉트 전송장치의 일반적인 구성은 제1도에 도시된 바와 같다. 상기 제1도를 참조하여 구성을 설명하면, 광시스템(10)은 광케이블에 접속되어 수신되는 광신호를 광전변환하여 전기적신호로 변환하거나 전기적신호를 전광변환하여 광신호로 변환하여 전송하는 광전송장비를 말한다. MUX시스템(11)은 데이타를 전송하는 하나의 광대역 전송로를 사용하여 복수 전송을 할 때 주파수 대역의 분할이나 시분할 방식 등으로 데이타를 전송한다. 프로세서(12)는 상기 광시스템(10)과 MUX시스템(11)에서 발생된 장애를 1차로 수집한다. 장애수집시스템(13)은 상기 프로세서(12)에서 1차로 수집된 장애 내역을 총괄 수집한다. W/S(14)는 상기 광 시스템(10)과 MUX시스템(11)에서 발생된 장애 내역을 상기 프로세서(12)로부터 전송받아 장애 발생 내역을 확인할 수 있게끔 그레픽(Graphic)으로 처리한다.The general configuration of thecept transmitter is as shown in FIG. Referring to FIG. 1, the optical system 10 converts an optical signal received by being connected to an optical cable into an electrical signal by photoelectric conversion or by converting the electrical signal into an optical signal by converting the optical signal into an optical signal. Say. The MUX system 11 transmits data in a frequency band division or time division scheme or the like when multiple transmissions are performed using one broadband transmission path for transmitting data. The processor 12 primarily collects the failures generated in the optical system 10 and the MUX system 11. The fault collection system 13 collectively collects the fault details collected by the processor 12 first. The W / S 14 receives the failure details generated in the optical system 10 and the MUX system 11 from the processor 12 and processes them graphically so that the failure occurrence details can be confirmed.

종래에 장애 검출장치의 구성은 제2도에 도시된 바와 같다. 상기 제2도를 참조하여 구성을 설명하면, 장애 검출회로(20)는 광통신 선로 또는 MUX변환 중 발생되는 장애를 검출하여 프로세서(12)로 전송한다. 상기 장애 검출회로(20)에서 이루어지는 장애 전송은 상기 프로세서(12)로부터 입력되는 리드타임(Read Time)을 주기로 장애가 발생하였을 경우에는 하이신호를 전송하고, 장애가 없거나 해제된 경우에는 로우신호를 전송한다.Conventionally, the configuration of the failure detecting apparatus is as shown in FIG. Referring to FIG. 2, the fault detection circuit 20 detects a fault generated during an optical communication line or MUX conversion and transmits the fault to the processor 12. The fault transmission in the fault detection circuit 20 transmits a high signal when a fault occurs with a read time input from the processor 12 and a low signal when there is no fault or is released. .

예컨데 상기 제2도의 장애 검출장치에 의해 검출된 장애의 결과도는 제3도에 도시된 바와 같다.For example, the result of the failure detected by the fault detection apparatus of FIG. 2 is as shown in FIG.

상기 제2도와 제3도를 참조하여 종래에 장애를 검출하는 과정의 일 실시예를 들어 설명하면, 장애 검출과정은 장애검출회로(20)에서 검출되어 전송된 장애 내역은 리드타임(Read Time)주기로 프로세서(12)에 의해 읽혀지고 관리된다.Referring to FIG. 2 and FIG. 3, a failure detection process is detected by the failure detection circuit 20. The failure history transmitted by the failure detection circuit 20 is read time. It is read and managed by the processor 12 in cycles.

제3도의 310단계의 리드타임(Read Time)에서 상기 프로세서(12)는 상기 장애 검출회로(20)로부터 a버스를 통하여 전송되는 a장애를 검출한다. 그리고 상기 프로세서(12)는 상기 검출된 a장애를 데이타화하여 관리한다. 또한 312단계의 리드 타임(Read Time)에서 상기 프로세서(12)는 상기 장애 검출회로(20)로부터 d버스를 통하여 전송되는 d장애를 검출하고, 상기 310단계에서 검출된 a장애를 해제한다. 그리고 상기 프로세서(12)는 상기 검출된 d장애를 데이타화하여 관리한다.In the read time of step 310 of FIG. 3, the processor 12 detects a fault transmitted from the fault detection circuit 20 through a bus. The processor 12 records and manages the detected a fault. In addition, in step 312, the processor 12 detects the d fault transmitted from the fault detection circuit 20 through the d bus, and releases the a fault detected in step 310. The processor 12 records and manages the detected d failure.

그러나 상기 장애 검출회로(20)로부터 b버스를 통해 314단계와 316단계의 리드타임(Read Time) 사이에 전송되는 b장애를 상기 프로세서(12)는 검출하지 못하고 상기 314단계에서 상기 312단계에서 검출된 d장애를 해제한다. 그리고 다음 리드타임(Read Time)인 318단계에서 a버스를 통하여 전송되는 a장애를 검출하여 데이타로 관리한다. 결국 상기 프로세서(12)는 장애 검출과정에서 b장애는 발생되지 않은 것으로 인지하게 되며, 최종적으로 제1도에 나타난 장애수집시스템(13)으로 b장애의 발생을 전송하지 않게 된다.However, the processor 12 does not detect the b failure transmitted from the fault detection circuit 20 through the b bus between steps 314 and 316, a read time of step 316, and detects it in step 312 in step 314. Release the fault. In operation 318, the next read time, a failure transmitted through the a bus is detected and managed as data. As a result, the processor 12 recognizes that b failure has not occurred in the failure detection process, and finally does not transmit the occurrence of b failure to the failure collection system 13 shown in FIG.

상기한 바와 같이 종래의 장애 검출장치에서는 장애가 리드타임(Read Time)주기 사이에 발생되는 경우에는 장애 내역을 잃어버리게 되어 사용자에게 장애 발생을 알리지 못하는 문제가 있었다.As described above, in the conventional failure detection apparatus, when a failure occurs between read time periods, the failure history is lost, and thus there is a problem that the user cannot be notified of the failure.

따라서 본 발명의 목적은 장애가 발생하는 경우에 리드타임이 발생하여 장애 내역을 읽을 때 까지 장애 내역을 유지하는 장애 검출장치를 제공하는데 있다.Accordingly, an object of the present invention is to provide a failure detection apparatus that maintains a failure history until a read time occurs when a failure occurs.

상기한 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 장애검출회로에서 발생된 장애 내역을 프로세서가 읽어가기 전까지 장애 내역을 유지하는 장애보관회로를 구비함을 특징으로 한다.The present invention for achieving the above object is characterized in that it comprises a fault storage circuit for maintaining the fault history until the processor reads the fault history generated in the fault detection circuit.

이하 본 발명을 첩부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the attached drawings.

본 발명을 수행하기 위한 장애검출장치의 구성은 제4도에 도시된 바와 같다. 상기 제4도를 참조하여 설명하면, 장애검출회로(20)는 장애 발생을 검출하여 장애 내역을 버스(a, b, c, d)를 통하여 전송한다. 장애보관회로(40)는 상기 장애검출회로(20)로부터 버스(a, b, c, d)를 통하여 전송되는 장애 내역을 버스(a', b', c', d')를 통하여 전송하며, 프로세서(12)로부터 장애 내역을 변경하기 위한 세트펄스(Set Pulse)가 전송될 때까지 장애 발생을 알리기 위한 하이레벨의 장애 내역을 유지한다. 그리고 상기 세트펄스(Set Pulse)가 전송되면 보관되어 있는 장애 내역을 로우레벨로 변경한다. 상기 프로세서(12)는 리드타임(Read Time)주기에 따라 발생되는 리드타임(Read Time)에 상기 장애보관회로(40)로부터 버스(a', b', c', d')를 통해 제공되는 장애 내역을 데이타화하여 관리하며, 장애 내역이 전송되면 상기 장애보관회로(40)에서 유지되는 장애 내역을 세트하기 위한 세트펄스(Set Pulse)를 전송한다. 상기 장애검출회로(20)와 장애보관회로(40)는 제1도에 도시된 광시스템(10) 또는 MUX시스템(11)에 내장된다. 상기 프로세서(12)는 제1도에 도시된 프로세서와 동일하다.The configuration of the fault detection apparatus for carrying out the present invention is as shown in FIG. Referring to FIG. 4, the failure detection circuit 20 detects a failure and transmits a failure history through the buses a, b, c, and d. The fault keeping circuit 40 transmits fault details transmitted from the fault detecting circuit 20 through buses a, b, c, and d through buses a ', b', c ', and d'. Until the set pulse for changing the fault history is transmitted from the processor 12, the fault history of the high level for notifying the occurrence of the fault is maintained. When the set pulse is transmitted, the stored fault history is changed to a low level. The processor 12 is provided through the buses a ', b', c ', and d' from the fault keeping circuit 40 at a read time generated according to a read time period. The fault details are managed by data, and when the fault details are transmitted, a set pulse for setting the fault details maintained in the fault storage circuit 40 is transmitted. The fault detection circuit 20 and the fault storage circuit 40 are embedded in the optical system 10 or the MUX system 11 shown in FIG. The processor 12 is identical to the processor shown in FIG.

예컨대 상기 제4도의 장애 검출장치에 의해 검출된 장애의 결과도는 제5도에 도시된 바와 같다.For example, the result of the fault detected by the fault detecting apparatus of FIG. 4 is as shown in FIG.

따라서 본 발명의 일 실시 예를 제4, 5도를 참조하여 상세히 설명한다.Therefore, an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 4 and 5.

프로세서(12)는 제5도 510단계의 리드타임(Read Time)에서 장애보관회로(40)로부터 장애 내역이 없음을 검출한다. 그러나 장애보관회로(40)는 상기 510단계의 리드타임(Read Time)이 발생한 후 장애 검출회로(20)로부터 a버스를 통하여 a장애를 전송받아 하이레벨의 a장애 내역을 a'버스를 통해 전송하게 된다. 상기 프로세서(12)는 512단계의 리드타임(Read Time)에서 상기 장애보관회로(40)로부터 전송되는 a장애 내역을 읽어 데이타화하여 관리하며, 세트펄스(Set Pulse)를 상기 장애보관회로(40)로 전송하여 유지되고 있는 장애 내역을 로우레벨로 세트한다. 그리고 상기 장애보관회로(40)는 상기 512단계의 리드타임(Read Time)이 발생한 후 상기 장애 검출회로(20)로부터 b버스를 통하여 b장애를 전송받아 하이 레벨의 b장애 내역을 b'버스를 통해 전송하게 된다. 상기 프로세서(12)는 514단계의 리드타임(Read Time)에서 상기 장애보관회로(40)로부터 전송되는 b장애 내역을 읽어 데이타화하여 관리하며, 세트펄스(Set Pulse)를 상기 장애보관회로(40)로 전송하여 유지되고 있는 장애 내역을 로우레벨로 세트한다.The processor 12 detects that there is no fault history from the fault storage circuit 40 at the read time of step 510 of FIG. 5. However, the fault keeping circuit 40 receives a fault from the fault detection circuit 20 through the a bus after the read time of step 510 occurs, and transmits a fault level of the high level through the a 'bus. Done. The processor 12 reads a fault history transmitted from the fault storage circuit 40 at a read time of step 512 to form a data, and manages a set pulse. Set the fault history that is being transmitted and maintained at low level. The fault keeping circuit 40 receives b faults from the fault detection circuit 20 through the b buses after the read time of step 512 has occurred, and b faults of the high level b faults. Will be sent through. The processor 12 reads b error history transmitted from the fault storage circuit 40 at a read time in step 514 to data and manages the set fault, and sets the fault pulse to the fault storage circuit 40. Set the fault history that is being transmitted and maintained at low level.

또한 상기 프로세서(12)는 516단계의 리드타임(Read Time)에서 상기 장애보관회로(40)로부터 장애 내역이 없음을 검출하며, 상기 514단계에서 전송된 장애 내역을 해제한다. 상기 장애보관회로(40)는 상기 516단계의 리드타임(Read Time)이 발생한 후 상기 장애 검출회로(20)로부터 b, c, d버스를 통하여 b, c, d장애를 전송받아 하이레벨의 b, c, d장애 내역을 b', c', d'버스를 통해 각각 전송하게 된다. 상기 프로세서(12)는 518단계의 리드타임(Read Time)에서 상기 장애보관회로(40)로부터 전송되는 b, c, d장애 내역을 읽어 데이타화하여 관리하며, 세트펄스(Set Pulse)를 상기 장애보관회로(40)로 전송하여 유지되고 있는 장애 내역을 로우레벨로 세트한다. 또한 상기 장애보관회로(40)는 상기 518단계의 리드타임(Read Time)이 발생한 후 상기 장애 검출회로(20)로부터 b, d버스를 통하여 b, d장애를 전송받아 하이레벨의 b, d장애 내역을 b', d'버스를 통해 전송하게 된다. 상기 프로세서(12)는 520단계의 리드타임(Read Time)에서 상기 장애보관회로(40)로부터 전송되는 b, d장애 내역을 읽어 데이타화하여 관리하며, 세트펄스(Set Pulse)를 상기 장애보관회로(40)로 전송하여 유지되고 있는 장애 내역을 로우레벨로 세트한다.In addition, the processor 12 detects that there is no fault history from the fault storage circuit 40 at the read time of step 516, and releases the fault history transmitted in step 514. The fault storage circuit 40 receives b, c, d faults from the fault detection circuit 20 through the b, c, d buses after the read time of the step 516 occurs, and then b of high level b. , c, d faults are transmitted through the b ', c', and d 'buses, respectively. The processor 12 reads b, c, and d failure details transmitted from the fault keeping circuit 40 at a read time in step 518 and manages them by data, and sets a set pulse to the fault. The fault history, which is transmitted to the storage circuit 40 and held, is set at a low level. In addition, the fault storage circuit 40 receives b, d faults from the fault detection circuit 20 through the b, d buses after the read time of the step 518 occurs, b, d faults of a high level. The details are transmitted via the b 'and d' buses. The processor 12 reads b and d failure details transmitted from the fault storage circuit 40 at a read time of step 520 to data and manages them, and sets a set pulse in the fault storage circuit. The fault history, which is transmitted to 40, is held at low level.

그리고 상기 장애보관회로(40)는 상기 520단계의 리드타임(Read Time)이 발생한 후 상기 장애 검출회로(20)로부터 b버스를 통하여 b장애를 전송받아 하이레벨의 b장애 내역을 b'버스를 통해 전송하게 된다. 상기 프로세서(12)는 522단계의 리드타임(Read Time)에서 상기 장애보관회로(40)로부터 전송되는 b장애 내역을 읽어 데이타화하여 관리하며, 세트펄스(Set Pulse)를 상기 장애보관회로(40)로 전송하여 유지되고 있는 장애 내역을 로우레벨로 세트한다.The fault keeping circuit 40 receives b faults from the fault detection circuit 20 through the b buses after the read time of the step 520 occurs, and then checks the b faults of the high level b faults. Will be sent through. The processor 12 reads b error history transmitted from the fault storage circuit 40 at a read time of step 522 and manages it by data, and sets a set pulse to the fault storage circuit 40. Set the fault history that is being transmitted and maintained at low level.

상술한 바와 같이 본 발명은 비 주기적으로 장애가 발생되더라도 발생된 장애 내역을 완벽하게 전송하여 사용자가 장애 발생에 대한 대처를 수행할 수 있도록 하는 효과가 있다.As described above, the present invention has an effect of allowing the user to cope with the occurrence of a failure by completely transmitting the generated failure details even when the failure occurs aperiodically.

Claims (2)

셉트 전송장비에서 광통신선로 또는 MUX에서 발생되는 장애를 검출하는 장애 검출장치에 있어서, 장애 발생을 검출하여 장애 내역을 전송하는 장애검출회로와, 상기 장애검출회로로부터 전송된 장애 내역을 리드타임이 발생될 때까지 유지하여 전송하는 장애보관회로와, 일정주기를 가지는 리드타임에 상기 장애보관회로로부터 전송되는 장애 내역을 읽어들인 후 읽어들인 장애 내역을 관리하는 프로세서로 구성됨을 특징으로 하는 장애검출장치.A failure detection apparatus for detecting a failure occurring in an optical communication line or a MUX in acept transmission device, comprising: a failure detection circuit for detecting a failure and transmitting a failure history, and a lead time for the failure history transmitted from the failure detection circuit; And a processor for maintaining and transmitting the fault history, which is maintained until the fault is stored, and a fault history read after the fault history transmitted from the fault storage circuit is read at a lead time having a predetermined period. 제1항에 있어서, 상기 프로세서는 리드타임 발생에 대응하여 상기 장애보관회로에서 유지되는 장애 내역을 읽어들인 후 상기 장애보관회로에서 유지되는 장애 내역을 세트하는 세트펄스를 상기 장애보관회로로 전송함을 특징으로 하는 장애검출장치.The method of claim 1, wherein the processor reads the fault history maintained in the fault storage circuit in response to the occurrence of a lead time and transmits a set pulse for setting the fault history maintained in the fault storage circuit to the fault storage circuit. Failure detection device characterized in that.
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