KR0173220B1

KR0173220B1 - Probe setting apparatus

Info

Publication number: KR0173220B1
Application number: KR1019950039715A
Authority: KR
Inventors: 허만인
Original assignee: 정몽원; 만도기계주식회사
Priority date: 1995-11-04
Filing date: 1995-11-04
Publication date: 1999-05-15
Also published as: KR970028432A

Abstract

본 발명은 프로브의 최대값 및 최소값을 신속 간편하게 세팅하고 휴대가 가능한 프로브 세팅장치에 관한 것으로, 홀더(10)에 최대값 세팅면(21) 및 최소값 세팅면(22)이 형성된 블록 게이지(20)를 이동가능케 설치하고, 블록 게이지의 일측에 가이드 홈(23)을 형성하며, 가이드 홈에 끼워지도록 홀더의 일측 중심을 통해 세트 스크류(30)를 체결하고, 홀더의 타측 중심을 통해 부싱(40)을 압입, 고정하며, 부싱을 통해 프로브(50)를 삽입하여 프로브가 블록 게이지의 최대 또는 최소값 세팅면에 접촉되도록 하고, 홀더와 부싱을 관통하도록 세트 스크류(60)를 체결하면서 세트 스크류에 노브(61)를 형성하여, 세트 스크류를 이완시켜 블록 게이지를 상,하방으로 이동시키고, 세트 스크류를 체결, 프로브를 고정함에 따라 프로브의 최대 및 최소값을 간편하게 세팅시킬 수 있도록 구성하며, 상기 프로브를 스케일(71)이 형성된 칼럼(70)에 연결하여 최대 및 최소값의 세팅상태를 볼 수 있도록 된 것이다.The present invention relates to a probe setting device that can quickly and easily set the maximum value and the minimum value of the probe and is portable. The block gauge 20 has a maximum value setting surface 21 and a minimum value setting surface 22 formed on the holder 10. To move the installation, to form a guide groove 23 on one side of the block gauge, to fasten the set screw 30 through the center of one side of the holder to fit in the guide groove, the bushing 40 through the other center of the holder And insert the probe 50 through the bushing so that the probe contacts the maximum or minimum setting surface of the block gauge, and tighten the set screw 60 through the holder and the bushing, 61), by loosening the set screw to move the block gauge up and down, fastening the set screw, and fixing the probe to easily set the maximum and minimum values of the probe. The probe is connected to the column 70 on which the scale 71 is formed so that the setting state of the maximum and minimum values can be viewed.

Description

Probe setting device

제1도는 종래 프로브 세팅 지그의 구성도.1 is a block diagram of a conventional probe setting jig.

제2도는 본 발명 프로브 세팅장치의 구성도.2 is a block diagram of a probe setting apparatus of the present invention.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

10 : 홀더 20 : 블록 게이지10 holder 20 block gauge

21 : 최소값 세팅면 22 : 최대값 세팅면21: minimum value setting surface 22: maximum value setting surface

23 : 가이드 홈 30, 60 : 세트 스크류23: guide groove 30, 60: set screw

40 : 부싱 50 : 프로브40: bushing 50: probe

61 : 노브 70 : 컬럼61 knob 70 column

71 : 스케일71: scale

본 발명은 프로브 세팅장치에 관한 것으로, 특히 프로브의 최대값 및 최소값을 신속 간편하게 세팅하고 휴대가 가능한 프로브 세팅장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a probe setting device, and more particularly, to a probe setting device which is capable of quickly and easily setting and carrying a maximum and minimum value of a probe.

제1도는 종래 프로브 세팅 지그의 구성도를 나타낸 것으로, 지그(80)의 상부에 프로브(50)가 설치, 고정되고, 지그(80)의 하부에 보조 플레이트(90)가 설치되어 있으며, 상기 보조 플레이트(90)상에 최소값과 최대값을 갖는 두께가 상이한 블록 게이지(100)(110)를 설치하여 프로브(50)의 최대 및 최소값을 세팅하도록 되어 있다.1 is a view illustrating a configuration of a conventional probe setting jig, in which a probe 50 is installed and fixed at an upper portion of the jig 80, and an auxiliary plate 90 is installed at a lower portion of the jig 80. Block gauges 100 and 110 having different thicknesses with minimum and maximum values are provided on the plate 90 to set the maximum and minimum values of the probe 50.

따라서 종래의 프로브 세팅장치는 제1도와 같이, 보조 플레이트(90)상에 최대값을 갖는 블록 게이지(110)를 안치하여 프로브(50)의 최대값을 측정한 다음, 블록게이지(110)를 보조 플레이트(90)로부터 인출하고, 다시 보조 플레이트(90)상에 최소값을 갖는 블록 게이지(100)를 안치하여 프로브(50)의 최소값을 측정하여 프로브(50)를 세팅한다.Therefore, in the conventional probe setting apparatus, as shown in FIG. 1, the block gauge 110 having the maximum value is placed on the auxiliary plate 90 to measure the maximum value of the probe 50, and then the block gauge 110 is assisted. The probe 50 is set by withdrawing from the plate 90 and again placing the block gauge 100 having the minimum value on the auxiliary plate 90 to measure the minimum value of the probe 50.

블록 게이지(100)(110)의 두께 차이는 통상 20㎛정도이다.The thickness difference between the block gauges 100 and 110 is usually about 20 μm.

그러나 종래의 프로브 세팅장치는, 블록 게이지(100)(110)가 구비되어 있지 않을 경우 기준값을 구하기가 용이하지 않아 프로브(50)를 세팅하기가 용이하지 못한 단점이 있으며, 또한 프로브 세팅장치의 부피가 크기 때문에 원하는 장소에서의 프로브 세팅을 위한 장치의 이동이 매우 불편한 단점이 있었다.However, the conventional probe setting device has a disadvantage in that it is not easy to obtain a reference value when the block gauges 100 and 110 are not provided, and thus it is not easy to set the probe 50. Because of the large size, the movement of the device for setting the probe at a desired place was very inconvenient.

아울러 종래의 프로브 세팅장치는 일일이 블록 게이지(100)(110)를 교체하여 프로브(50)로부터 측정해야 하므로 측정시 오차가 발생하는 경우가 많으며, 측정시간이 많이 소요되는 단점이 있었다.In addition, the conventional probe setting device has to be measured from the probe 50 by replacing the block gauge (100, 110) one by one, the error often occurs during the measurement, there was a disadvantage that takes a lot of measurement time.

본 발명의 목적은, 세팅을 신속, 간편하게 행할 수 있는 프로브 세팅장치를 제공하기 위한 것이다.An object of the present invention is to provide a probe setting device capable of performing the setting quickly and simply.

본 발명의 다른 목적은, 오차없이 정확한 세팅이 가능하고 휴대가 간편한 프로브 세팅장치를 제공하기 위한 것이다.Another object of the present invention is to provide a probe setting device which can be accurately set without errors and is portable.

본 발명은 상기의 목적을 달성하기 위하여, 홀더의 일측에 최대 및 최소값을 갖는 블록 게이지를 설치하여 상,하로 이동가능케 하고, 블록 게이지의 일측면에 가이드 홈을 형성하며, 상기 가이드 홈에 끼워지도록 홀더의 일측 중심을 통해 세트 스크류를 체결하여 구성한다.The present invention, in order to achieve the above object, by installing a block gauge having a maximum and minimum value on one side of the holder to move up and down, to form a guide groove on one side of the block gauge, to be fitted into the guide groove It is configured by fastening a set screw through the center of one side of the holder.

상기 홀더의 타측 중심을 통해 부싱을 압입, 고정하고, 상기 부싱을 통해 프로브를 삽입하여 프로브가 블록 게이지에 접촉되도록 하며, 상기 홀더와 부싱을 관통하도록 세트 스크류를 체결하면서 세트 스크류에 노브를 형성하여 구성한 것이 특징이다.Press and fix the bushing through the other center of the holder, insert the probe through the bushing so that the probe contacts the block gauge, and form a knob on the set screw while fastening the set screw to penetrate the holder and the bushing. It is characterized by the configuration.

이하, 본 발명의 구체적인 실시예를 도면을 참조하여 상세히 설명한다.Hereinafter, specific embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

제2도는 본 발명 프로브 세팅장치의 구성도이다.2 is a configuration diagram of the probe setting apparatus of the present invention.

도면과 같이, 원형상의 홀더(10)의 일측에 최대 및 최소값을 갖도록 최대값 세팅면(21) 및 최소값 세팅면(22)이 각기 형성된 블록 게이지(20)를 설치하여 상,하로 이동가능케 하고, 상기 블록 게이지(20)의 일측면에 가이드 홈(23)을 형성하며, 상기 가이드 홈(23)에 끼워지도록 홀더(10)의 일측 중심을 통해 세트 스크류(30)를 체결하여 구성한다.As shown in the figure, a block gauge 20 having a maximum value setting surface 21 and a minimum value setting surface 22 formed thereon so as to have a maximum and minimum value on one side of the holder 10 in a circular shape is movable up and down, A guide groove 23 is formed on one side of the block gauge 20, and the set screw 30 is fastened through a center of one side of the holder 10 to be fitted into the guide groove 23.

상기 홀더(10)의 타측 중심을 통해 부싱(40)을 압입, 고정하고, 상기 부싱(40)을 통해 프로브(50)를 삽입하여 프로브(50)가 블록 게이지(20)의 최대값 세팅면(21) 또는 최소값 세팅면(22)에 접촉되도록 하며, 상기 홀더(10)와 부싱(40)을 관통하도록 세트 스크류(60)를 체결하면서 세트 스크류(60)에 노브(61)를 형성하여, 세트 스크류(30)를 이완시켜 블록 게이지(20)를 상방 또는 하방으로 이동시키고, 세트 스크류(60)를 체결, 프로브(50)를 고정함에 따라 프로브(50)의 최대 및 최소값을 간편하게 세팅시킬 수 있도록 구성한다.The bushing 40 is press-fitted and fixed through the other center of the holder 10, and the probe 50 is inserted through the bushing 40 so that the probe 50 sets the maximum value of the block gauge 20 ( 21 or the minimum setting surface 22, and the knob 61 is formed on the set screw 60 while engaging the set screw 60 to penetrate the holder 10 and the bushing 40, By loosening the screw 30, the block gauge 20 is moved upward or downward, and the set screw 60 is fastened to fix the probe 50 so that the maximum and minimum values of the probe 50 can be easily set. Configure.

또한 상기의 프로브(50)를 스케일(71)이 형성된 칼럼(70)에 연결하여 최대 및 최소값의 세팅상태를 볼 수 있도록 구성된 것이다.In addition, the probe 50 is connected to the column 70 on which the scale 71 is formed so that the setting state of the maximum and minimum values can be viewed.

따라서 본 발명은 제2도와 같이, 프로브(50)의 최소값 세팅시에는 노브(61)를 잡고 세트 스크류(60)를 이완시켜 프로브(50)를 축방향으로 움직일 수 있도록 한 다음, 블록 게이지(20)를 하방으로 이동시키면 이때 블록 게이지(20)의 가이드 홈(23)의 상측이 세트 스크류(60)에 걸려지고, 이 상태에서 노브(61)를 잡고 세트 스크류(60)를 체결시켜 프로브(50)를 블록 게이지(20)의 최소값 세팅면(22)에 접촉시킨다.Therefore, in the present invention, as shown in FIG. 2, when setting the minimum value of the probe 50, the knob 61 is held and the set screw 60 is relaxed to allow the probe 50 to move in the axial direction, and then the block gauge 20 When moving downwards), the upper side of the guide groove 23 of the block gauge 20 is caught by the set screw 60. In this state, the knob 61 is held and the set screw 60 is fastened to the probe 50. ) Is brought into contact with the minimum value setting surface 22 of the block gauge 20.

여기서 프로브(50)에 의해 측정된 최소값은 칼럼(70)의 스케일(71)을 통해 표시되므로 간단하게 프로브(50)의 최소값을 세팅할 수 있다.Since the minimum value measured by the probe 50 is displayed through the scale 71 of the column 70, the minimum value of the probe 50 may be simply set.

또한 프로브(50)의 최대값 세팅시에는 노브(61)를 잡고 세트 스크류(60)를 이완시켜 프로브(50)를 축방향으로 움직일 수 있도록 한 다음, 블록 게이지(20)를 상방으로 이동시키면 이때 블록 게이지(20)의 가이드 홈(23)의 하측이 세트 스크류(30)에 걸려지고, 이 상태에서 노브(61)를 잡고 세트 스크류(60)를 체결시켜 프로브(50)를 블록 게이지(20)의 최대값 세팅면(21)에 접촉시킨다.In addition, when setting the maximum value of the probe 50, hold the knob 61 to relax the set screw 60 to move the probe 50 in the axial direction, and then move the block gauge 20 upwards. The lower side of the guide groove 23 of the block gauge 20 is caught by the set screw 30. In this state, the knob 50 is held by the knob 61 and the set screw 60 is fastened to block the probe 50 by the block gauge 20. Contact the maximum setting surface 21 of.

여기서 프로브(50)에 의해 측정된 최대값은 칼럼(70)의 스케일(71)을 통해 표시되므로 간단하게 프로브(50)의 최대값을 세팅할 수 있다.Since the maximum value measured by the probe 50 is displayed through the scale 71 of the column 70, the maximum value of the probe 50 may be simply set.

이상과 같이 본 발명은, 홀더에 최대 및 최소값 세팅면을 갖는 블록 게이지를 설치하여 상,하로 이동가능케 하고, 블록 게이지에 가이드 홈을 형성하며, 가이드 홈에 끼워지도록 홀더의 일측 중심을 통해 세트 스크류를 체결하고, 또한 홀더의 타측 중심을 통해 부싱을 압입, 고정하며, 부싱을 통해 프로브를 삽입하여 프로브가 블록 게이지에 접촉되도록 하고, 홀더와 부싱을 관통하도록 세트 스크류를 체결하면서 세트 스크류에 노브를 형성하여, 블록 게이지를 상,하로 움직임으로써 프로브의 최대 및 최소값 세팅이 신속,간편하게 이루어지며, 프로브를 오차없이 정확하게 세팅하는 것은 물론 부피가 작아 휴대가 간편한 이점이 있다.As described above, the present invention, by installing a block gauge having a maximum and minimum value setting surface in the holder to move up and down, to form a guide groove in the block gauge, the set screw through the center of one side of the holder to fit in the guide groove , Press and hold the bushing through the center of the other side of the holder, insert the probe through the bushing so that the probe contacts the block gauge, and tighten the knob to the set screw while tightening the set screw through the holder and the bushing. By forming the block gauge up and down, the maximum and minimum value of the probe is quickly and easily set, and the probe can be set accurately and without error, and the volume is small, thus making it easy to carry.

Claims

A block gauge installed at right angles to the holder, a bushing installed through one side of the center of the holder to insert a probe, a set screw installed on the holder to fix the probe and the gauge block, and connected to the probe Probe setting device, characterized in that consisting of a column containing a scale for displaying the setting state of the probe.

The probe setting apparatus of claim 1, wherein the block gauge has a maximum and minimum measurement surface formed therein to selectively contact the probe.

According to claim 1, Probe setting device characterized in that the guide groove is formed so that the set screw is fitted on one side of the block gauge to prevent the separation of the block gauge.