KR0154431B1 - Open-short measuring apparatus for pcb - Google Patents
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Abstract
본 발명은 인쇄회로기판 상에 부품과 부품들 사이의 오픈 쇼트 상태를 측정할 수 있도록 한 인쇄회로기판의 요픈 쇼트 측정장치에 관한 것 으로, 장치의 전체를 제어하고 측정결과를 받아 미리 기억된 정보와 비교하여 오픈 쇼트를 판단하는 제어기와, 상기 제어기로 부터 제어신호를 받아 인쇄회로기판상에 부품을 선택하는 멀티플렉서와, 상기 제어기에 의하여 제어신호를 받아 인쇄회로기판상에 부품의 오픈 쇼트 상태를 측정하는 오픈 쇼트 측정부와, 상기 제어기로 부터 제어신호를 받아 오픈 쇼트 측정부에서 측정된 결과를 저장하고 상기 제어기에 전달하는 버퍼 로 구성하여 인쇄회로기판의 오픈 쇼트 상태를 신속하게 측정하고 미지의 저항값의 범위까지 측정할 수 있도록 한 것임.The present invention relates to a short-circuit measuring device of a printed circuit board that can measure the open short state between components on the printed circuit board. A controller for determining an open short in comparison with the controller, a multiplexer for receiving a control signal from the controller, and selecting a component on a printed circuit board, and receiving a control signal from the controller to determine an open short state of the component on the printed circuit board. An open short measuring unit for measuring and a buffer for receiving a control signal from the controller and storing a result measured in the open short measuring unit and transmitting the result to the controller to quickly measure the open short state of the printed circuit board and unknown This is to measure the resistance range.
Description
제1도는 본 발명의 오픈 쇼트 측정장치의 제어 블럭도.1 is a control block diagram of an open short measuring device of the present invention.
제2도는 본 발명에 이용되는 캘빈 더블 브리지의 회로도.2 is a circuit diagram of a Calvin double bridge used in the present invention.
제3도는 본 발명의 오픈 쇼트 측정부 의 기본 회로도.3 is a basic circuit diagram of an open short measuring unit of the present invention.
제4도는 본 발명의 오픈 쇼트 측정부의 전체회로도.4 is an overall circuit diagram of an open short measuring unit of the present invention.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings
1 : 제어기 2 : 인쇄회로기판1 controller 2 printed circuit board
3 : 멀티플렉서 4 : 오픈 쇼트 측정부3: multiplexer 4: open short measurement unit
5 : 버퍼 OPI : 연산증폭기5: Buffer OPI: Operational Amplifier
COMP1- COMP3 : 비교기 R1- R20 : 저항COMP1- COMP3: Comparator R1- R20: Resistance
본 발명은 인쇄회로기판의 오픈 쇼트 측정장치에 관 한 것으로, 특히 인쇄회로기판 상에 부품과 부품들 사이의 오픈 쇼트 상태를 측정할수 있도록 한 인쇄회로기판의 오픈 쇼트 측정장치에 관한 것 이다.The present invention relates to an open short measuring device of a printed circuit board, and more particularly, to an open short measuring device of a printed circuit board to measure the open short state between the parts on the printed circuit board.
종래의 인쇄회로기판 상에 부품에 대한 오픈 쇼트 상태를 측정하는 측정 장치는 테스터 나 오실로스코프 등 여러가지가 있는바, 이들은 정전압 및 정전류를 인쇄회로기판 상에 오픈 쇼트 상태를 알고자 하는 곳에 인가하여 그 측정결과를 A/D 콘버터를 통해서 받아 들여서 그 저항값을 알아내어 오픈 인지 쇼트인지를 판단하도록 되어 있었다.There are various measurement devices for measuring the open short state of a component on a printed circuit board, such as a tester or an oscilloscope, and they measure the voltage by applying a constant voltage and a constant current to a place where the short circuit is known on the printed circuit board. The result was received through the A / D converter, and the resistance value was determined to determine whether it was open or short.
그러나 상기와 같은 측정방법은 A/D 콘버터로 읽어드리는 시간 및 측정값 연산을 하는데 소요되는 시간이 걸리는 문제점을 가지고 있었다.However, the measurement method as described above has a problem in that it takes time to read the A / D converter and calculate the measured value.
따라서 본 발명의 목적은 측정하고자 하는 인쇄회로기판 상에 부품과 부품간에 오픈 쇼트상태를 빠르게 측정할수 있는 오프 쇼트 측정장치를 제공하고자 하는데 있으며, 상기의 목적을 실현하기 위하여 본 발명은 장치의 전체를 제어하고 측정결과를 받아 미리 기억된 정보와 비교하여 오픈 쇼트를 판단하는 제어기와, 상기 제어기로 부터 제어신호를 받아 인쇄회로기판상에 부품을 선택하는 멀티플랙서와, 상기 제어기에 의하여 제어신호를 받아 인쇄회로기판상에 부품의 오픈 쇼트 상태를 측정하는 오픈 쇼트 측정부와, 상기 제어기로 부터 제어신호를 받아 오픈 쇼트 측정부에서 측정된 결과를 저장하고 상기 제어기에 전달하는 버퍼로 구성하여서 된 것이다.Accordingly, an object of the present invention is to provide an off shot measuring device capable of quickly measuring an open short state between a part and a part on a printed circuit board to be measured. A controller for controlling and receiving the measurement result and comparing the stored information with the previously stored information to determine an open short, a multiplexer for receiving a control signal from the controller and selecting a component on the printed circuit board, and controlling the control signal by the controller. It is composed of an open short measuring unit for receiving the open short measuring state of the component on the printed circuit board, and a buffer for receiving the control signal from the controller to store the result measured in the open short measuring unit and to transmit it to the controller. .
이하 첨부된 도면에 의거 본 발명을 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
제1도는 본 발명 오픈 쇼트 측정장치의 제어 블럭도 로서, 장치의 전체를 제어하고 측정결과를 받아 미리 기억된 정보와 비교하여 오픈 쇼트를 판단하는 제어기(1)와, 상기 제어기(1)로 부터 제어신호를 받아 인쇄회로기판(2)상에 부품을 선택하는 멀티플랙서(3)와, 상기 제어기(1)에 의하여 제어신호를 받아 인쇄회로기판(2)상에 부품의 오픈 쇼트 상태를 측정하는 오픈 쇼트 측정부(4)와, 상기 제어기(1)로 부터 제어신호를 받아 오픈 쇼트 측정부(4)에서 측정된 결과를 저장하고 상기 제어기에 전달하는 버퍼(5)로 구성하여서 된 것이다.1 is a control block diagram of an open short measuring device according to the present invention. The controller 1 controls the entire apparatus, receives a measurement result, and compares the stored information with previously stored information. A multiplexer (3) for selecting a component on the printed circuit board (2) by receiving a control signal, and measuring the open short state of the component on the printed circuit board (2) by receiving a control signal by the controller (1). It consists of an open short measuring unit 4, and a buffer (5) for receiving a control signal from the controller (1) to store the result measured by the open short measuring unit (4) and to transmit it to the controller.
제2도는 본 발명 오픈 쇼트 측정장치에 이용되는 캘빈 더블 브리지회로를 나타낸 것으로, 상기 캘빈 더블 브리지회로는 미지의 저저항(S)을 측정하기 위하여 사용되는 측정회로 로서, 상기 미지의 저저항(S)의 범위를 알고 싶으면, R / P = r / p로 구성하고 R /P = S / Q의 비율로 저항 P,R 가변저항 Q p r를 구성하여 갈바노메터(G)가 등전위를 이룰때 까지 가변저항 Q 를 조절한다.2 shows a Calvin double bridge circuit used in the open short measuring device of the present invention, wherein the Calvin double bridge circuit is a measurement circuit used to measure an unknown low resistance (S). If you want to know the range of), configure R / P = r / p and configure resistance P, R variable resistance Q pr at the ratio of R / P = S / Q, and change until galvanometer (G) is equipotential. Adjust the resistance Q.
이때 갈바노메터(G)가 중앙을 가르키게 되면 등전위가 된것으로, 저항(S)는 S = R X (Q / p) 이므로 알고자 하는 미지의 저저항(S)을 알 수 있도록 한 것이다.At this time, if the galvanometer (G) points to the center, it becomes equipotential, and the resistance (S) is S = R X (Q / p), so that the unknown low resistance (S) to be known is known.
제3도는 본 발명 오픈 쇼트 측정장치에 적용되는 오픈 쇼트 측정부의 기본 회로도 로서, 제2도의 캘빈 더블 브리지회로에서 갈바노메터(S)대신에 비교기(COMP1)를 접속하고 상기 비교기(COMP1)의 출력단자에는 표시램프(LED1)를 접속하며, 전원이 입력되는 전압단에는 연산증폭기(OP1)를 통해서 연산증폭된 전압이 입력 되도록 구성된다.3 is a basic circuit diagram of an open short measuring unit applied to the open short measuring device of the present invention. In the Calvin double bridge circuit of FIG. 2, a comparator COMP1 is connected instead of a galvanometer S, and the output of the comparator COMP1 is output. The display lamp LED1 is connected to the terminal, and the voltage amplified by the operational amplifier OP1 is input to the voltage terminal to which the power is input.
따라서 연산증폭기(OP1)의 반전단자(-)에 입력되는 기준전압(V2)은 저항(R15)(R16)에 의하여 V2 = -15 X -R15/R16 으로 되고 전류 i1 = V2/R15 로 된다.Therefore, the reference voltage V2 input to the inverting terminal (−) of the operational amplifier OP1 becomes V2 = -15 X -R15 / R16 and the current i1 = V2 / R15 by the resistors R15 and R16.
미지의 저항 RX에 흐르는 전류 I2 = V2 / RX에 의하여 결정된다.It is determined by the current I2 = V2 / RX flowing into the unknown resistor RX.
저항(R14)은 미소저항이므로 저항(R13)에서 흘러온 전류가 모두 미소저항(R14)으로 흐른다고 가정하면 여기에 흐르는 전류 (i1 +i2)에 의하여 V4 = (i1 + i2) x (R13 + R14) 으로 결정된다.Since resistor R14 is a micro resistor, assuming that all currents flowing from resistor R13 flow to micro resistor R14, V4 = (i1 + i2) x (R13 + R14) by the current (i1 + i2) flowing therein. ) Is determined.
그리고 미소저항(R14)에 의하여 전압 (V3)이 발생되며, 상기 전압(V3) 과 저항(R14) 쪽으로 미세한 전류가 흐르게 되어 저항(R3)(R4)의 분압전압(V1)이 발생하고 -V1 은 저항(R1) 과 저항(R2) 의 분압에 의해 발생한다.The voltage V3 is generated by the minute resistor R14, and a minute current flows toward the voltage V3 and the resistor R14 to generate a divided voltage V1 of the resistors R3 and R4. Is generated by the partial pressure of the resistor R1 and the resistor R2.
즉 V1 = (V3 X R4) / (R4 + R3) 이고, -V1 = (V4 X R2) / (R1 + R2)이다.That is, V1 = (V3 X R4) / (R4 + R3), and -V1 = (V4 X R2) / (R1 + R2).
그리고 -V1 +V1 이면 상기 비교기(COMP1)의 출력이 로우신호가 출력 되어, 표시램프(LED1)는 온 되고, 상기 -V1 V1이면 상기 비교기(COMP1) 의 출력은 하이신호가 출력되어 표시램프(LED1) 는 오프 되게 된다.If -V1 + V1, the output of the comparator COMP1 is low and the display lamp LED1 is turned on. If -V1 V1, the output of the comparator COMP1 is output a high signal and the display lamp ( LED1) is turned off.
제4도는 본 발명 오픈 쇼트 측정장치의 오픈 쇼트 측정부의 전체 회로도 로서, 제3도의 오픈 쇼트 측정회로에 구동전압을 공급하는 연산증폭기(OP1)의 출력단과, 기준전압(V2)사이에 비교기(COMP1), 브리지저항(R1-R4), 저항(R18), 표시램프(LED1)로 접속되는 제 1 브리지회로와, 비교기(COMP2), 브리지저항(R5-R8), 저항(R19), 표시램프(LED2)로 접속되는 제 2 브리지회로와, 비교기(COMP3), 브리지저항(R9 - R12), 저항(R20) 표시램프(LED3)으로 접속되는 제 3 브리지회로를 차례로 접속 구성 하여서 된 것으로, 상기 미지저항(RX)의 값이 XΩ이상 일때 상기 비교기(COMP1)의 출력이 하이가 되도록 저항(R1 - R4)의 값을 정하고, 상기 미지저항(RX)의 값이 YΩ이상 일때 상기 비교기(COMP2)의 출력이 하이가 되도록 저항(R5 - R8)의 값을 정하며, 상기 미지저항(RX)의 값이 ZΩ이상 일때 상기 비교기(COMP3)의 출력이 하이가 되도록 저항(R9 - R12)의 값으로 하여 ( XΩ YΩ ZΩ )가 되돌고 설정하여 놓는다.FIG. 4 is an overall circuit diagram of the open short measuring unit of the open short measuring device according to the present invention. The comparator COMP1 is connected between the output terminal of the operational amplifier OP1 supplying the driving voltage to the open short measuring circuit of FIG. 3 and the reference voltage V2. ), A first bridge circuit connected to the bridge resistors R1-R4, resistor R18, and the display lamp LED1, the comparator COMP2, the bridge resistors R5-R8, the resistor R19, and the display lamp The second bridge circuit connected to the LED2), and the third bridge circuit connected to the comparator COMP3, the bridge resistors R9 to R12, and the resistor R20 display lamp LED3 are sequentially formed. When the value of the resistor RX is greater than or equal to XΩ, the values of the resistors R1 to R4 are determined such that the output of the comparator COMP1 becomes high, and when the value of the unknown resistance RX is greater than or equal to YΩ, the comparator COMP2 Determine the value of the resistors R5-R8 so that the output becomes high, and when the value of the unknown resistor RX is greater than or equal to ZΩ, the comparator COM Set (XΩ YΩ ZΩ) to the value of resistance (R9-R12) so that the output of P3) becomes high and set it.
상기와 같이 구성되는 본 발명의 작용효과를 설명하면 다음과 같다.Referring to the effects of the present invention configured as described above are as follows.
먼저 제어기(1)에 X = 10Ω, Y = 50Ω, Z = 100Ω이라고 하고 양품의 인쇄회로기판 으로 부터 데이타를 읽어 들여 RX 의 값이 Y (50)Ω미만 이면, 쇼트로 판정하고 Y (50)Ω이상일때 오픈 으로 판정하기 설정하여 놓은 상태에서, 일예를 들어, 제어기(1)에서는 출력단자(ㄱ)로 멀티플렉서(3)에 선택신호를 출력하면, 멀티플렉서(3)에서는 자체내의 릴레이(RY1)(RY2)를 구동시켜 상기 인쇄회로기판(2)의 미지저항(RX)의 저항값을 검출하게 되고 이검출된 저항값은 다시 멀티플렉서(2)를 통해서 오픈 쇼트 측정부(4)의 비교기(COMP1-COMP3)의 반전단자(-)에 입력되게 되고, 입력된 상기 미지저항(RX)은 상기 비교부(COMP1 - COMP3)에서 차례로 비교되고 이 비교된 저항값은 상기 제어기(1)에서 버퍼(5)로 출력되는 제어신호에 의하여 상기 비교부(COMP1-COMP3)에서 출력되는 비교된 저항값을 상기 버퍼(5)에 입력시키게 되며, 상기 버퍼(5)에 입력된 저항값은 제어기(1)의 입출력포트를 통해서 메모리에 저장시키게 된다.First, say X = 10Ω, Y = 50Ω, Z = 100Ω in the controller (1) and read the data from the good quality printed circuit board. If the value of RX is less than Y (50) Ω, it is judged as a short and Y (50). In the state in which it is determined to be open when Ω or more is set, for example, when the controller 1 outputs a selection signal to the multiplexer 3 via the output terminal a, the multiplexer 3 relays RY1 in itself. The RY2 is driven to detect the resistance value of the unknown resistor RX of the printed circuit board 2, and the detected resistance value is again obtained through the multiplexer 2 and the comparator COMP1 of the open short measurement unit 4. It is input to the inverting terminal (-) of -COMP3, the input unknown resistance (RX) is sequentially compared in the comparison unit (COMP1-COMP3) and the compared resistance value is the buffer (5) in the controller (1) The resistance value output from the comparison unit (COMP1-COMP3) by the control signal output to the) And thereby the input buffer (5), the resistance value in the input buffer 5 is thereby stored in the memory through the output port of the controller (1).
이때 상기 미지저항(RX)의 값이 49Ω이라면, 오픈 쇼트측정부(4)의 비교기(COMP1)에서는 하이신호가 출력되고, 비교기(COMP2,COMP3)의 출력은 로우신호를 출력되어 상기 제어기(1)의 메모리에 쇼트상태로 저장되게 된다.In this case, when the value of the unknown resistor RX is 49Ω, a high signal is output from the comparator COMP1 of the open short measuring unit 4, and a low signal is output from the comparator COMP2 and COMP3 of the controller 1. The memory will be saved in the short state.
한편 양품의 인쇄회로기판 대신 새로운 인쇄회로기판을 테스트할때에 새로운 인쇄회로기판에 삽입된 저항(RX)에 대하여 상기 제어과정으로 상기 저항(RX)을 상기 비교기(COMP1 - COMP3)측정된 결과 이미 제어기(1)의 메모리에 저장된 데이타와 비교하게 된다.On the other hand, when testing a new printed circuit board instead of a good printed circuit board, the resistance RX is measured by the control process with respect to the resistance RX inserted in the new printed circuit board. Compared with the data stored in the memory of the controller (1).
그리고 상기 비교기(COMP1 - COMP3)의 데이타 출력중 상기 비교기(COMP1,COMP2)의 출력에 관계없이 상기 비교기(COMP3)의 출력만이 로우이면 즉 ZΩ미만 이면 상기 새로이 측정되는 양품으로 판단하고, 상기 비교기(COMP3)의 출력이 하이 이면 불량품으로 판단한다.If the output of the comparator COMP3 is low regardless of the outputs of the comparators COMP1 and COMP2 among the data outputs of the comparators COMP1 to COMP3, the output of the comparator COMP3 is low. If the output of (COMP3) is high, it is regarded as defective.
그러나 상기 측정과정 중에 오픈 쇼트 측정부(4)에서 비교기(COMP3)의 출력이 로우 이지만, 상기 비교기(COMP2)의 출력이 하이 (즉 미지저항(RX)값이 50Ω이상이고 100Ω미만)인 경우 인데도 양품으로 판정하는 것은 미지저항(RX)의 오차를 고려하여 측정여유를 주기 위함이다.However, although the output of the comparator COMP3 is low in the open short measuring unit 4 during the measurement process, the output of the comparator COMP2 is high (that is, the unknown resistance RX is 50 Ω or more and less than 100 Ω). The determination of good quality is to give the measurement margin in consideration of the error of unknown resistance (RX).
이렇게 함으로써 부품에 오차가 있더라도 오차를 고려한 측정을 할수 있기 때문에 미지의 저항값의 범위까지 측정을 할수 있게 되는 것 이다.In this way, even if there is an error in the part, the measurement can be made in consideration of the error, thereby making it possible to measure up to a range of unknown resistance values.
상에서 설명한 바와같이 본 발명은 측정하고자 하는 인쇄회로기판상에 부품과 부품간에 오픈 쇼트상태를 제어기, 오픈 쇼트 측정기, 멀티플렉서, 버퍼 로 구성되는 오픈 쇼트측정장치 로 측정 함으로써 보다 측정값 연산시간을 보다 신속하게 할수 있는 동시에 측정되는 미지의 저항값의 범위까지도 측정할수 있는 장점을 제공하는 되는 것 이다.As described above, the present invention provides faster measurement time calculation by measuring an open short state between a part and a part on a printed circuit board using an open short measuring device including a controller, an open short measuring device, a multiplexer, and a buffer. In addition, it offers the advantage of being able to measure the range of unknown resistance values measured at the same time.
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