KR0151978B1

KR0151978B1 - Automatic testing control device

Info

Publication number: KR0151978B1
Application number: KR1019950003938A
Authority: KR
Inventors: 손봉락
Original assignee: 배순훈; 대우전자주식회사
Priority date: 1995-02-27
Filing date: 1995-02-27
Publication date: 1999-04-15
Also published as: KR960033212A

Abstract

가변 저항기 및 EVR 소자를 자동으로 검사 조정하는 장치에 관한 것이며, 조정 대상 프린트 기판의 테스트 포인트를 선택하고, 그 테스트 포인트로 부터 신호를 검출하고 그 검출신호를 계측부로 계측하여 그 계측값을 읽어들이고 그 계측값과 기준값을 비교하여 비교결과에 따라 가변 저항 소자를 조정하고, 가변저항 소자의 조정이 완료된 경우, EVR 소자에 대해 상기의 과정을 수행한다.The present invention relates to a device for automatically inspecting and adjusting a variable resistor and an EVR element, selecting a test point of an adjustment target printed circuit board, detecting a signal from the test point, measuring the detected signal with a measuring unit, and reading the measured value. The measured value and the reference value are compared to adjust the variable resistance element according to the comparison result, and when the adjustment of the variable resistance element is completed, the above process is performed on the EVR element.

Description

Automatic inspection adjusting device

제1도는 종래의 가변 저항 소자의 조정장치를 보이는 블록도.1 is a block diagram showing a conventional adjusting device for a variable resistance element.

제2도는 종래의 EVR 소자의 조정장치를 보이는 블록도.2 is a block diagram showing an apparatus for adjusting a conventional EVR device.

제3도는 본 발명에 의한 자동검사 조정장치의 구성을 보이는 블록도.3 is a block diagram showing the configuration of the automatic inspection adjusting device according to the present invention.

제4도는 본 발명에 의한 자동검사 조정장치의 제어 방법을 보이는 플로우챠트이다.4 is a flowchart showing a control method of the automatic inspection adjusting device according to the present invention.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings

31 : 제어부 32 : PWM펄스 발생부31: control unit 32: PWM pulse generator

33 : 조정부 35 : 지그부33: adjusting section 35: jig section

36 : 멀티플렉서부 37 : 계측부36: multiplexer section 37: measurement section

38 : 패턴 발생부 39 : 조정대상 프린트 기판38: pattern generator 39: the printed substrate to be adjusted

본 발명은 프린트 기판 자동검사 조정장치에 관한 것으로, 특히 EVR(Electrical Variable Resistor) 및 가변 저항기(VR:Variable Resistor)를 겸비한 프린트 기판을 가변 저항기를 조정하는 조정비트와 EVR 소자를 조정하는 PWM(Pulse Width Modulation)펄스 발생장치를 이용하여 동시에 조정 가능한 프린트 기판의 자동 검사 조정장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention [0001] The present invention relates to an automatic inspection control device for printed circuit boards, and more particularly, a PWM (Pulse) for adjusting an EVR element and an adjustment bit for adjusting a variable resistor of a printed board having an EVR (Variable Resistor) and a variable resistor (VR) Width Modulation) relates to an automatic inspection and adjustment device for a printed board that can be simultaneously adjusted using a pulse generator.

종래의 조정비트에 의한 조정시스템은 제1도에 도시한 바와같이 지그부(4)위에 조정대상 프린트기판(3)을 올려놓고 계측기(2)로 지그부(4)의 측정신호를 계측하고 그 계측결과를 제어부(1)로 처리하여, 조정각도를 결정한 후 XY로보트(7)를 하강시켜 조정비트(6)를 조정소자(3a)에 위치시키고, 모터(5)에 제어신호를 보내 조정비트(6)를 회전시켜 상기 결정된 조정각도로 조정소자(3a)를 회전시켜 조정한다.In the conventional adjustment system using an adjustment bit, as shown in FIG. 1, the adjustment target printed circuit board 3 is placed on the jig part 4, and the measurement signal of the jig part 4 is measured by the measuring instrument 2, and the The measurement result is processed by the controller 1, the adjustment angle is determined, the XY robot 7 is lowered, the adjustment bit 6 is placed on the adjustment element 3a, and a control signal is sent to the motor 5 to adjust the adjustment bit. (6) is rotated and the adjustment element 3a is adjusted by rotating the said adjustment angle.

그런데, 이러한 조정시스템은 EVR 소자를 내장한 프린트 기판의 조정이 불가능하다.By the way, such an adjustment system is impossible to adjust the printed board incorporating an EVR element.

또한, EVR 소자를 조정하는 시스템은 제2도에 도시한 바와같이 지그부(24)위에 조정대상 프린트 기판(25)를 설치하고, 조정대상 프린트 기판(25)의 다수의 테스트 포인트로부터 신호를 검출하여 계측부(23)로 그 신호를 측정한다. 그 측정 결과에 따라 제어부(21)는 PWM펄스 발생부(22)에 제어신호를 출력하고, PWM펄스 발생부(22)는 그 제어신호에 따른 PWM 신호를 조정대상 프린트 기판(25)에 출력한다. 상기 PWM 신호는 EVR소자(25a)에 입력되어 그 출력전압이 바뀜으로써, 각 테스트 포인트에서의 신호가 변화하고, 그 변화가 규격치에 도달할 때까지 상기 과정이 반복된다.In addition, the system for adjusting the EVR element is provided with an adjustment target printed circuit board 25 on the jig portion 24, as shown in FIG. 2, and detects a signal from a plurality of test points of the adjustment target printed circuit board 25. The signal is measured by the measuring unit 23. According to the measurement result, the control unit 21 outputs a control signal to the PWM pulse generator 22, and the PWM pulse generator 22 outputs a PWM signal according to the control signal to the adjustment target printed circuit board 25. . The PWM signal is input to the EVR element 25a and its output voltage changes so that the signal at each test point changes and the process is repeated until the change reaches the standard value.

그런데, 이러한 EVR 조정시스템은 가변 저항기가 장착된 프린트 기판은 조정할 수가 없었다.However, such an EVR control system could not adjust a printed board equipped with a variable resistor.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로, 본 발명의 목적은 가변 저항기 및 EVR 소자를 동시에 조정할 수 있는 자동검사 조정장치를 제공하는 것이다.The present invention is to solve the above problems, it is an object of the present invention to provide an automatic inspection adjusting device that can adjust the variable resistor and the EVR element at the same time.

상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 의한 장치는 조정대상 프린트 기판의 테스트 포인트로부터 신호를 검출하는 지그부와,In order to achieve the above object, an apparatus according to the present invention includes a jig unit for detecting a signal from a test point of an adjustment target printed board,

상기 지그부로부터 다수의 검출신호를 받아 그중하나의 신호를 출력하는 멀티플렉서부와,A multiplexer unit which receives a plurality of detection signals from the jig unit and outputs one of them;

상기 멀티플렉서부로부터 검출신호를 받아 계측하고 그 결과를 출력하는 계측부와,A measuring unit which receives the detection signal from the multiplexer unit, measures the output signal, and outputs the result;

상기 멀티플렉서부에 선택제어신호를 출력하여 상기 조정 대상 프린트 기판의 테스트 포인트를 선택하고 상기 계측부로부터 상기 테스트 포인트에서 검출한 검출신호에 대한 계측결과 신호를 받아 규격치와 비교하여 검출긴호가 규격치가 되도록 조정소자 및 EVR 소자의 조정제어신호를 출력하는 제어부와,Selecting a test point of the adjustment target printed circuit board by outputting a selection control signal to the multiplexer unit, receiving a measurement result signal for the detection signal detected by the test point from the measuring unit, and adjusting the detected signal to a standard value by comparing with a standard value. A control unit for outputting adjustment control signals of the device and the EVR device;

상기 제어부로부터 EVR소자의 조정제어 신호를 받아 상기 조정 대상 프린트 기판의 EVR소자에 PWM조정신호를 출력하는 PWM펄스 발생부와,A PWM pulse generator for receiving an adjustment control signal of the EVR element from the control unit and outputting a PWM adjustment signal to the EVR element of the adjustment target printed board;

상기 제어부로부터 조정소자의 조정제어신호를 받아 상기 조정 대상 프린트 기판의 조정소자를 조정하는 조정부를 구비한다.And an adjusting unit which receives an adjusting control signal of the adjusting element from the control unit and adjusts the adjusting element of the adjusting target printed circuit board.

그리고, 본 발명에 의한 자동검사 조정장치는 조정대상 프린트 기판의 테스트 포인트를 선택하고, 그 테스트 포인트에서 검출한 검출신호를 계측부로 계측하고, 그 계측값과 기준치를 비교하여 그 결과에 따라 가변저항 소자를 조정하고, 가변 저항 소자를 조정완료한 경우, EVR소자에 대하여 상기 과정을 반복하는 방법으로 제어한다.Then, the automatic inspection adjusting device according to the present invention selects a test point of the printed circuit board to be adjusted, measures the detection signal detected at the test point with a measuring unit, compares the measured value with a reference value, and changes the variable resistance according to the result. When the device is adjusted and the variable resistance device is adjusted, the above process is repeated for the EVR device.

이하 도면을 참고로 하여 본 발명을 상세히 설명한다.Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

제3도는 본 발명에 의한 자동검사 장치의 구성을 보이는 블록도이다.3 is a block diagram showing the configuration of the automatic inspection device according to the present invention.

31은 제어부이며, 멀티플렉서부(36)에 선택 제어 신호를 출력하여 조정대상 프린트 기판(39)의 다수의 테스트 포인트 중에서 하나를 선택하고, 그 선택된 테스트 포인트에서 검출된 검출신호가 멀티플렉서부(36)를 통해 계측부(37)에 인가되도록 한다.31 is a control unit, and outputs a selection control signal to the multiplexer unit 36 to select one of a plurality of test points of the adjustment target printed circuit board 39, and the detection signal detected at the selected test point is the multiplexer unit 36. Through the measurement unit 37 to be applied.

그리고, 계측부(37)로부터 그 계측결과를 받아들여 그 계측값이 규격치에 도달하도록 가변저항기(39b)또는 EVR 소자(39a)를 조정하기 위한 제어신호를 조정부(33)와 PWM펄스 발생부(32)에 출력한다. 32는 PWM펄스 발생부이며, 제어부(31)로부터 제어신호를 받아 EVR 소자(39a)를 조정하는 조정신호(PWM신호)를 출력한다. 33은 가변저항 조정부이며 XY로보트(33a)와 모터(33b), 조정비트(33c)를 구비하고, 제어부(31)로부터 제어신호를 받아 XY로보트(33a)가 다수의 가변저항 소자(39b)중에서 하나를 선택하여 조정비트(33c)를 그 소자위에 위치시킨 다음, Z축 실린더(도시생략)에 의해 조정비트(33c)가 가변저항 소자(39b)의 조정홈에 삽입되면, 모터(33b)에 제어신호를 출력하여 회전력을 발생시키도록 하여 그 회전력에 의해 조정비트(33c)가 회전한다.Then, the measurement unit 37 receives the measurement result and adjusts the control unit 33 and the PWM pulse generator 32 to control the variable resistor 39b or the EVR element 39a so that the measured value reaches the standard value. ) 32 is a PWM pulse generator, which receives a control signal from the controller 31 and outputs an adjustment signal (PWM signal) for adjusting the EVR element 39a. 33 is a variable resistance adjusting unit, and includes an XY robot 33a, a motor 33b, and an adjusting bit 33c. The XY robot 33a receives a control signal from the control unit 31, and among the plurality of variable resistance elements 39b. One is selected and the adjustment bit 33c is placed on the element. Then, when the adjustment bit 33c is inserted into the adjustment groove of the variable resistance element 39b by the Z-axis cylinder (not shown), it is inserted into the motor 33b. The control bit is output to generate a rotational force, and the adjustment bit 33c rotates by the rotational force.

35는 지그부이며, 다수의 지그픽스쳐(35a)을 구비하여 조정대상 프린트 기판(39)의 다수의 테스트 포인트로부터 신호를 검출하거나, 전원을 인가한다.35 is a jig part, and includes a plurality of jig fixtures 35a to detect signals from a plurality of test points of the adjustment target printed circuit board 39 or to apply power.

36은 멀티플렉서부이며, 상기 제어부(31)로부터의 제어신호에 따라서 지그부(35)로부터의 다수의 검출신호를 입력받아 그중의 한 신호를 계측부(37)로 출력한다.Reference numeral 36 denotes a multiplexer unit, which receives a plurality of detection signals from the jig unit 35 according to the control signal from the control unit 31 and outputs one of them to the measurement unit 37.

37은 계측부이며, 멀티플렉서부(36)를 통해 검출신호를 입력받아 계측하고, 그 계측 결과를 제어부(3)로 출력한다. 38은 패턴 발생부이며, 제어부(31)로부터 제어신호에 따라 패턴 신호를 발생시켜 조정대상 프린트 기판(39)에 출력한다.37 denotes a measurement unit. The detection signal is input through the multiplexer unit 36 and measured, and the measurement result is output to the control unit 3. Reference numeral 38 denotes a pattern generator which generates a pattern signal from the controller 31 in accordance with a control signal and outputs the pattern signal to the adjustment target printed circuit board 39.

이하 본 발명의 작용, 효과를 설명한다.Hereinafter, the operation and effects of the present invention will be described.

먼저, 제어부(31)는 패턴 발생부(38)에 패턴 발생 제어신호를 출력하며 패턴신호를 발생시킨다. 패턴 발생부(38)에서 발생된 패턴신호를 조정대상 프린트 기판(39)에 입력된다. 조정대상 프린트기판(39)은 그 패턴 신호를 처리하고 이에 각 테스트 포인트에 그 처리 결과에 의한 신호가 발생된다. 각 테스트 포인트에서 발생되는 신호는 지그부(35)의 지그 픽스춰(35a)에 의해 검출되어 멀티플렉서부(36)로 인가된다. 멀티플렉서부(36)는 제어부(31)로부터 선택제어신호를 입력받아 지그부(35)로부터 출력되는 다수의 검출신호중에서 하나를 선택하여 계측부(37)로 출력한다. 계측부(37)는 그 검출신호를 계측하여 그 계측 결과를 제어부(31)로 출력한다. 제어부(31)는 계측 결과를 입력받아 비교 연산 프로그램을 실행한다. 즉, 상기 계측결과를 규격치와 비교하여 그 비교결과에 따라 조정데이타를 산출한다. 조정과정은 가변 저항기(39b)로부터 순차로 진행되어, 가변저항기(39b)에 대해 조정과정이 완료되면, EVR 소자(39a)조정과정으로 진행된다. 가변 저항기(39b)조정 과정시에는, XY로보트(33a)에 이동제어신호를 출력하여 다수의 가변저항기(39b)중에서 하나를 선택하고 Z축 실린더(도시생략)를 동작시켜 조정비트(33c)를 가변저항기(39b)의 조정홈에 삽입시킨 다음, 모터(33b)에 조정 제어 신호를 출력하여 가변 저항기(39b)를 조정한다.First, the controller 31 outputs a pattern generation control signal to the pattern generator 38 and generates a pattern signal. The pattern signal generated by the pattern generator 38 is input to the adjustment target printed circuit board 39. The adjustment target substrate 39 processes the pattern signal, and at each test point, a signal according to the processing result is generated. The signal generated at each test point is detected by the jig fixture 35a of the jig unit 35 and applied to the multiplexer unit 36. The multiplexer unit 36 receives a selection control signal from the control unit 31, selects one of a plurality of detection signals output from the jig unit 35, and outputs the selected control signal to the measurement unit 37. The measurement unit 37 measures the detection signal and outputs the measurement result to the control unit 31. The control unit 31 receives the measurement result and executes the comparison operation program. That is, the measurement result is compared with the standard value and the adjustment data is calculated according to the comparison result. The adjustment process proceeds sequentially from the variable resistor 39b. When the adjustment process for the variable resistor 39b is completed, the adjustment process proceeds to the adjustment process of the EVR element 39a. During the adjustment process of the variable resistor 39b, a movement control signal is output to the XY robot 33a, one of the plurality of variable resistors 39b is selected, and the Z-axis cylinder (not shown) is operated to operate the adjustment bit 33c. After inserting into the adjustment groove of the variable resistor 39b, an adjustment control signal is output to the motor 33b to adjust the variable resistor 39b.

이리하여 가변 저항기(39b)전부에 대해 조정이 완료되면, EVR소자(39a)조정으로 진행한다. EVR소자 조정과정은 PWM 펄스 발생부(32)에 조정제어 신호를 출력하여 EVR소자(39a)의 출력전압을 변화시키고, 각 테스트 포인트에서 검출한 신호를 앞서 설명한 바와같이 비교연산 프로그램으로 비교연산하여 그 비교 결과를 기초로 조정데이타를 산출하여 PWM 펄스 발생부(32)로 그 조정 데이터를 출력하여 조정과정을 수행한다.Thus, when the adjustment is completed for the entire variable resistor 39b, the control proceeds to the adjustment of the EVR element 39a. The EVR element adjustment process outputs an adjustment control signal to the PWM pulse generator 32 to change the output voltage of the EVR element 39a, and compares the signal detected at each test point with a comparison operation program as described above. The adjustment data is calculated based on the comparison result, and the adjustment data is output to the PWM pulse generator 32 to perform the adjustment process.

제4도는 본 발명에 의한 검사 조정장치의 제어 방법을 보이는 플로우 챠트이다.4 is a flow chart showing a control method of the inspection adjusting device according to the present invention.

단계 401에서, 멀티플렉서부(36)에 선택제어 신호를 출력하여 조정대상 프린트기판(39)의 조정소자(즉, 가변저항)의 검사를 위한 테스트 포인트를 선정한다. 단계 402에서 멀티플렉서부(36)로부터 출력되는 검출신호를 입력받은 계측부(37)가 계측한 결과를 읽어들인다. 단계403에서, 비교연산 프로그램을 실행하여 상기 계측값과 기준값이 같은 지를 판단하고, 같지 않은 경우 단계 404로 진행한다. 단계 404에서는, 계측값이 기준값 보다 큰가를 판단하고, 큰 경우에 단계405로 진행하여 모터를 역방향(CCW:Counter Clock Wise)으로 회전시켜 조정대상 가변 저항기의 값을 감소시킨후, 단계 402로 복귀하여 그 이하의 과정을 반복 수행한다. 반대로, 작은 경우에는 단계 407에서 모터를 정방향(CW:Clock Wise)으로 회전시켜 조정대상 가변 저항기의 저항값을 증가시킨 후 단계 402로 복귀하여 그 이하의 과정을 반복한다. 그리고, 상기 단계 403의 판단결과 계측값과 기준값이 같은 경우, 단계 408로 진행하여, 조정소자의 검사 및 조정을 위한 테스트포인트중 최종 테스트 포인트 인가를 판단하고, 아닌 경우 단계 401 이하의 과정을 반복하고, 최종테스트 포인트인 경우 단계 409에서, 멀티플렉서부(36)에 선택제어신호를 출력하여 EVR소자의 검사를 위한 신호를 검출할 테스트 포인트를 선정하고, 단계 410에서 멀티플렉서부(36)로부터 출력되는 검출신호를 입력받은 계측부(37)에서 계측한 결과를 읽어 들이고, 단계 411에서 비교연산 프로그램을 실행하여 계측값이 기준값과 동일한가를 판단한다. 상기의 판단결과 계측값이 기준값과 같이 않은 경우, 단계 412로 진행하여 계측값이 기준값보다 큰가를 판단한다. 그리하여, 계측값이 기준값보다 크면 단계 413으로 진행하여 EVR소자의 조정데이타를 감소시킨 후 단계 410으로 복귀하여 그 이하의 과정을 반복한다. 반대로 계측값이 기준값보다 작으면, 단계 414로 진행하여 EVR소자의 조정데이타를 증가시킨 후 단계 410으로 복귀하여 그 이하의 과정을 반복한다. 그리고, 단계 411의 판단결과 계측값과 기준값이 같은 경우, 단계 415로 진행하여 그 EVR 데이터를 메모리(예: EEPROM)에 저장하고, 단계 416에서 EVR소자의 검사 및 조정을 위한 테스트포인트중 최종테스트 포인트 인가를 판단하여 최종 테스트 포인트가 아닌 경우, 단계 409로 복귀하여 모든 테스트포인트에 대한 검사 및 조정이 완료될때까지 그 이하의 과정을 반복하고, 최종테스트 포인트인 경우 본 조정과정을 종료한다.In step 401, a selection control signal is output to the multiplexer section 36 to select a test point for the inspection of the adjustment element (i.e., the variable resistor) of the adjustment target substrate 39. In operation 402, the measurement result of the measurement unit 37 that receives the detection signal output from the multiplexer unit 36 is read. In step 403, a comparison operation program is executed to determine whether the measured value and the reference value are the same, and if not, the process proceeds to step 404. In step 404, it is determined whether the measured value is larger than the reference value. If it is large, the flow proceeds to step 405, in which the motor is rotated in the reverse direction (CCW: Counter Clock Wise) to decrease the value of the variable resistor to be adjusted, and then returns to step 402. Repeat the process below. On the contrary, if it is small, the motor is rotated in the clockwise direction (CW) in step 407 to increase the resistance value of the variable resistor to be adjusted, and then the process returns to step 402 and the subsequent steps are repeated. When the measured value and the reference value are the same as the determination result of step 403, the process proceeds to step 408 to determine whether the final test point is applied among the test points for the inspection and adjustment of the adjusting element, and if not, repeats the process of step 401 or less. In the case of the final test point, in step 409, a selection control signal is output to the multiplexer unit 36 to select a test point to detect a signal for inspection of the EVR element, and in step 410, the test point is output from the multiplexer unit 36. The measurement result of the detection signal input by the measurement unit 37 is read, and a comparison operation program is executed in step 411 to determine whether the measurement value is equal to the reference value. If the determination result is not the same as the reference value, the flow proceeds to step 412 to determine whether the measurement value is larger than the reference value. Thus, if the measured value is larger than the reference value, the process proceeds to step 413 to reduce the adjustment data of the EVR element and returns to step 410 to repeat the following steps. On the contrary, if the measured value is smaller than the reference value, the process proceeds to step 414 to increase the adjustment data of the EVR element and returns to step 410 to repeat the following steps. If the measured value and the reference value are the same as the determination result of step 411, the process proceeds to step 415 to store the EVR data in a memory (e.g., EEPROM), and in step 416, the final test of the test points for the inspection and adjustment of the EVR element. If it is determined that the point is not the final test point, the process returns to step 409, and the following steps are repeated until the inspection and adjustment of all the test points are completed, and if the final test point, the adjustment process is finished.

이상 설명한 바와같이 본 발명에 의하면, EVR소자 및 가변 저항기가 모두 장치된 프린트 기판을 조정할 수 있고, 그럼으로써, EVR 조정장치와 가변 저항기 조정장치를 구비하지 않아도 되므로 생산단가가 감소하고, 생산성이 향상된다.As described above, according to the present invention, it is possible to adjust a printed board equipped with both an EVR element and a variable resistor, thereby eliminating the need for an EVR adjusting device and a variable resistor adjusting device, thereby reducing production costs and improving productivity. do.

Claims

An automatic inspection adjusting device comprising: a jig unit for detecting signals from a plurality of test points of an adjustment target printed circuit board, a multiplexer unit for receiving a plurality of detection signals from the jig unit, and outputting one of the signals; A measurement unit for receiving the measurement signal and measuring the result and outputting the result, and outputting a selection control signal to the multiplexer unit to select a test point of the adjustment target printed circuit board, and a measurement result of the detection signal detected by the test point from the measurement unit A control unit which receives a signal and outputs an adjustment control signal of the adjustment element and the EVR element so that the detection signal becomes a standard value compared with the standard value, and receives the adjustment control signal of the EVR element from the control unit and adjusts the PWM to the EVR element of the adjustment target printed circuit board. PWM pulse generator for outputting a signal, and the control unit Receiving a control signal to adjust the device automatically checks adjustment apparatus comprising an adjustment unit for adjusting the adjustment element of the adjustment target printed board.

The automatic inspection adjusting device according to claim 1, wherein the adjusting unit includes an XY robot and an adjusting bit attached to the motor and the shaft of the motor.

The adjustment control signal of claim 1, wherein the adjustment control signal received from the control unit is an adjustment control signal for rotating the motor in reverse when the measured value is larger than the reference value, and the adjustment control for forward rotation of the motor when the measured value is smaller than the reference value. Automatic inspection adjusting device, characterized in that the signal.

The adjustment control signal received by the PWM pulse generator from the controller is data for reducing the EVR adjustment data when the measured value is larger than the reference value, and the EVR adjustment data when the measured value is smaller than the reference value. Automatic inspection adjustment device, characterized in that the increasing data.

In the control method of the automatic inspection adjusting device, a test point of the printed circuit board to be adjusted is selected, the detection signal detected at the test point is measured by a measuring unit, the measured value and the reference value are compared, and the variable resistance element according to the result. And adjusting the variable resistance element, repeating the above process for the EVR element.