KR0147008B1 - Anode open inspection method for cathode ray tube - Google Patents
Anode open inspection method for cathode ray tubeInfo
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Abstract
본 발명은 CRT의 검사방법에 관한 것으로서, 특히 애노드의 오픈을 용이하게 검사할 수 있도록 된 CRT의 애노드 오프 검사방법에 관한 것으로서, 애노드전극에 제 1전압을 인가하는 단계와, 제 1내지 제 3 그리드에 각각 제 2 내지 제 4 전압을 인가하는 단계, 상기 제 1전압에 대해 저항을 직렬로 결합하는 단계 및 상기 저항에 의한 강하전압이 일정 이상인지를 근거로 양부판정을 실행하는 단계를 포함하여 구성된 것을 특징으로 한다.The present invention relates to a method for inspecting a CRT, and more particularly, to a method for inspecting an anode off of a CRT that enables an easy inspection of the opening of the anode, the method comprising applying a first voltage to the anode electrode, and a first to third method. Applying each of the second to fourth voltages to the grid, coupling the resistors in series to the first voltage, and performing a positive determination based on whether the drop voltage caused by the resistance is above a certain level. Characterized in that configured.
Description
제1도는 일반적인 CRT 검사장치를 나타낸 구성도.1 is a block diagram showing a general CRT inspection apparatus.
제2도는 본 발명의 일실시예에 따른 CRT의 애노드 오픈 검사방법을 설명하기 위한 구성도.2 is a block diagram illustrating an anode open inspection method of a CRT according to an embodiment of the present invention.
*도면의 주요부분에 대한 부호의 설명* Explanation of symbols for main parts of the drawings
1:CRT 2:고압발생회로1: CRT 2: High voltage generating circuit
3:가변저항 4:전압미터기3: Variable resistance 4: Voltage meter
본 발명은 CRT의 검사방법에 관한 것으로, 특히 애노드의 오픈(open)을 용이하게 검사할 수 있도록 된 CRT의 애노드 오픈 검사방법에 관한 것이다.The present invention relates to a CRT test method, and more particularly, to an anode open test method of the CRT, which enables easy inspection of the open of the anode.
현재, 텔레비젼 수상기나 컴퓨터용 모니터등에 있어서는 화상출력장치로서 CRT(Cathode-ray Tube)를 사용하고 있는 바, 이 CRT 내부에는 고압이 인가되기 때문에, CRT 제조시에 고압에 대한 내성을 검사하는 것이 필요하게 된다.Currently, CRTs (Cathode-ray Tubes) are used as image output devices in television receivers and computer monitors. Since high pressure is applied inside the CRT, it is necessary to check the resistance to high pressure during CRT manufacturing. Done.
제 1도는 상술한 CRT 검사장치를 나타낸 구성도로, 제 1 도에서 참조번호 1은 검사대상의 CRT이고, 2는 이 CRT(1)의 애노드전극과 다그사이에 고압을 인가하기 위한 고압발생회로, 3은 이 고압발생회로(2)의 출력전압을 가변시키기 위한 가변저항이다.1 is a configuration diagram showing the above-described CRT inspection apparatus. In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a CRT to be inspected, and 2 denotes a high voltage generation circuit for applying a high voltage between the anode electrode and the dag of the CRT 1; 3 is a variable resistor for varying the output voltage of the high voltage generating circuit 2.
즉, 상술한 구성으로 된 종래의 CRT 검사장치에 있어서는 검사원이 암실등과 같이 어두운 장소에서 가변저항(3)을 순차적으로 조정하여 CRT(1)로 인가되는 전압을 점차로 높이면서 CRT에 스파크가 발생하는지를 검사함으로써 CRT의 이상여부를 검사하도록 되어 있다.That is, in the conventional CRT inspection apparatus having the above-described configuration, the inspector sequentially adjusts the variable resistor 3 in a dark place such as a dark room to gradually increase the voltage applied to the CRT 1, causing sparks in the CRT. It is to check whether the CRT is abnormal by checking whether it is.
그런데, 상술한 검사에 있어서, 만일 검사용 CRT의 애노드전극이 내부적으로 단선되어 있는 경우에는 CRT에 이상이 있는 경우에도 스파크가 발생되지 않기 때문에 상술한 내압검사가 올바로 실행될 수 없게 된다.By the way, in the above-described inspection, if the anode electrode of the inspection CRT is internally disconnected, no spark is generated even if there is an abnormality in the CRT.
따라서, CRT의 특성 검사에 대한 신뢰도가 저하됨은 물론 CRT가 불량한 상태로 출력될 우려가 있다는 문제가 있었다.Therefore, there is a problem that the reliability of the CRT characteristic test is degraded and the CRT may be output in a bad state.
이에 본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위해 창출된 것으로서, CRT의 애노드전극의 단선을 용이하게 검사할 수 있도록 된 검사방법을 제공함에 그 목적이 있다.Accordingly, an object of the present invention is to provide an inspection method that can be easily inspected for disconnection of an anode electrode of a CRT.
상술한 목적을 실현하기 위한 본 발명에 따른 CRT의 애노드 오픈 검사방법은 애노드전극에 제 1 전압을 인가하는 단계, 제 1 내지 제 3 그리드에 각각 제 2내지 제 4 전압을 인가하는 단계, 상기 제 1 전압에 대해 저항을 직렬로 결합하는 단계, 및 상기 저항에 의한 강하전압이 일정 이상인지를 근거로 양부판정을 실행하는 단계를 포함하여 구성된 것을 특징으로 한다.An anode open inspection method of a CRT according to the present invention for realizing the above object comprises applying a first voltage to an anode electrode, applying a second to fourth voltage to the first to third grids, respectively, Coupling a resistor in series with respect to one voltage, and performing a positive determination based on whether the drop voltage caused by the resistor is equal to or greater than a predetermined value.
상술한 구성으로 된 본 발명에 의하면 애노드 오픈에 의한 CRT 특성 검사에 대한 오판단을 방지할 수 있게 된다.According to the present invention having the above-described configuration, it is possible to prevent the misjudgment of the CRT characteristic test by the anode open.
이하, 도면을 참조하여 본 발명에 따른 실시예를 설명한다.Hereinafter, an embodiment according to the present invention will be described with reference to the drawings.
제 2 도는 본 발명의 일실시예에 따른 애노드 오픈 검사방법을 설명하기 위한 구성도로서 제 1 도와 동일한 부분에는 동일한 부호를 붙이고 그 상세한 설명은 생략한다.2 is a block diagram illustrating an anode open inspection method according to an exemplary embodiment of the present invention. The same reference numerals are assigned to the same parts as the first diagram, and a detailed description thereof will be omitted.
제 2 도에서 캐소드와 그리드 G1, G2, G3에 소정의 전압을 인가하여 전자빔을 방출시키고, 방출된 전자가 CRT(1)판넬내에 코팅된 형광면에 효과적으로 끌리도록 애노드단자에 소정의 전압 V4를 인가한다. 이때 만일 애노드가 오픈이면 전압 미터기(4)에서는 반응이 없을 것이다. 즉 캐소드로부터 과도한 전자의 방출에 의한 소량의 미터기(4) 반응을 제외하고는 계속 0(zero) 볼트를 유지할 것이다.In FIG. 2 , a predetermined voltage is applied to the cathode and the grids G 1 , G 2 , and G 3 to emit an electron beam, and a predetermined voltage is applied to the anode terminal so that the emitted electrons are effectively attracted to the fluorescent surface coated in the CRT (1) panel. Apply V 4 . If the anode is open then there will be no reaction in the voltage meter (4). That is, it will continue to maintain zero volts except for a small amount of meter 4 reaction caused by the release of excess electrons from the cathode.
그리고, 애노드에 이상이 없으면 전자가 코팅된 CRT 내면에 도달하면 저항 R1에 걸리는 전압이 표시될 것이다.If there is no abnormality in the anode, when the electron reaches the inner surface of the coated CRT, the voltage applied to the resistor R1 will be displayed.
Claims (1)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019940024980A KR0147008B1 (en) | 1994-09-30 | 1994-09-30 | Anode open inspection method for cathode ray tube |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| KR1019940024980A KR0147008B1 (en) | 1994-09-30 | 1994-09-30 | Anode open inspection method for cathode ray tube |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR0147008B1 true KR0147008B1 (en) | 1998-08-01 |
Family
ID=19394098
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1019940024980A KR0147008B1 (en) | 1994-09-30 | 1994-09-30 | Anode open inspection method for cathode ray tube |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR0147008B1 (en) |
-
1994
- 1994-09-30 KR KR1019940024980A patent/KR0147008B1/en not_active IP Right Cessation
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