KR0133248Y1 - 프로브식 탁도 검출기 - Google Patents

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KR0133248Y1 KR2019960010543U KR19960010543U KR0133248Y1 KR 0133248 Y1 KR0133248 Y1 KR 0133248Y1 KR 2019960010543 U KR2019960010543 U KR 2019960010543U KR 19960010543 U KR19960010543 U KR 19960010543U KR 0133248 Y1 KR0133248 Y1 KR 0133248Y1
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Abstract

핸드 헬드이고, 한편으로는 경량이고, 저농도의 탁도의 측정이나 미량의 탁도의 측정에 적합한 90°산란광의 측정 방식을 응용한 탁도 검출기를 저렴한 값에 제공하는 것이다.
프리앰프를 내장하는 케이싱과, 바로 그 케이싱의 선단에 광학 하우징이 설치되어 있는 프로브식 탁도 검출기에 있어서, 바로 그 광학 하우징 내에 조립된 발광소자와 수광소자는 상기 발광소자에서 투광된 측정광에 대하여 상기 수광소자가 항상 90°로 대향하도록 배치되어 있는 것을 특징으로 하는 프로브식 탁도 검출기.

Description

프로브식 탁도 검출기
제1도는 본 고안에 관한 하우징의 가공면을 90°로 형성한 경우의 구조를 나타낸 단면도.
제2도는 본 고안에 관한 하우징의 가공명을 135°로 형성한 경우의 구조를 나타낸 단면도.
제3도는 본 고안의 광학 하우징에 탈착식 광학 커버를 부착한 경우의 구조를 나타낸 단면도.
제4도는 본 고안에 관한 검출기를 사용하여 물 탱크 내의 검수의 탁도 측정을 실시하는 경우의 실시도이다.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
1 : 케이싱 2 : 광학 하우징
3 : 발광소자 4 : 수광소자
5 : 가공면 6 : 탈착식 광학 커버
7 : 프리앰프 8 : 투광창
9 : 수광창 10 : 케이블
11 : 검수의 흐르는 방향 12 : 물 탱크
13 : 측정 챔버 14 : 홈
본 고안은 소망하는 수역의 탁도를 측정하기 위한 검출기에 관한 것으로, 특히 저농도의 탁도 측정, 또는 미량의 탁도 측정에 적합한 프로브식 탁도 검출기에 관한 것이다.
상기 검수의 탁도를 측정하는 방법으로서, 표면 산란광의 측정 방식, 투과광의 측정 방식, 투과 산란광의 측정 방식, 적분구(積分球)의 방식, 반사광의 측정 방식, 90°산란광의 측정 방식 등이 있으나, 상기 90°산란광의 측정 방식이란, 시험관 등에 샘플링한 검수를 검출기 블록, 변환기, 지시기, 지시부 등을 일체화 한 측정계기에 그 때마다 탈착하여 검수의 탁도를 스포트 측정하는 방법이지만, 종래는 본 고안과 같이 90°산란광의 측정 검출기 자체를 수중에 집어 넣어 그 탁도를 측정하는 것은 존재하고 있지 않았기 때문에, 소망하는 수역에서 그 때마다 측정계기를 세트하고, 검수를 샘플링하지 않으면 아니되는 등 그 계측 작업이 매우 번거로왔고, 검수의 연속적인 탁도 측정이 곤란하다는 문제점이 있었다. 또한, 연속적으로 측정을 할 수 없는 결과, 그 측정된 수치도 오차가 발생되기 쉬웠던 문제점도 안고 있었다.
본 고안은 상기와 같은 문제점을 해소할 수 있는 검출기 전체를 방수식, 한편으로는 핸드 헬드(hand heald)한 것으로 하고, 게다가 상기 90°산란광의 측정 방식의 원리를 응용하는 것으로, 수중에 이를 집어넣는 것 만으로도 연속적인 탁도의 측정을 가능케 한 프로브식 탁도 검출기이다.
본 고안은 상기 과제를 해결하기 위한 수단으로서, 프리앰프를 내장하는 케이싱과, 바로 그 케이싱의 선단에 광학 하우징이 설치되어 있는 프로브식 탁도 검출기에 있어서, 상기 광학 하우징 내에 조립된 광학소자와 수광소자는 상기 발광소자에서 투광된 측정광에 대하여 상기 수광소자가 항상 90°로 대향하도록 배치된 구성의 프로브식 탁도 검출기를 제안하고, 한편 상기 발광소자와 수광소자가 조립되어 있는 상기 광학 하우징의 가공면을 90°로 형성한 구성, 마찬가지로 가공면을 90°이상 170°미만으로 형성한 구성, 더불어 상기 광학 하우징에 탈착식 광학 커버를 부착한 구성의 각 프로브식 탁도 검출기를 제안하는 것이다.
[실시예]
제1도는 본 고안에 광학 하우징의 가공면을 90°로 형성한 경우의 구조를 나타낸 단면도이고, 제2도는 본 고안에 관한 광학 하우징의 가공면을 135°로 형성한 경우의 구조를 나타낸 단면도이고, 제3도는 본 고안에 관한 광학 하우징에 탈착식 광학 커버를 부착한 경우의 구조를 나타낸 단면도이고, 제4도는 본 고안에 관한 검출기를 사용하여 물 탱크 내의 검수의 탁도 측정을 실시하는 경우의 실시도이고, 제5도는 본 고안에 관한 검출기를 사용하여 인·라인 측정을 실시하는 경우의 실시도이다. 첨부되어 있는 도면에 있어서의, 그 부호 1은 케이싱, 2는 광학 하우징, 3은 발광소자, 4는 수광소자, 5는 가공면, 6은 탈착식 광학 커버, 7은 프리앰프, 8은 투광창, 9는 수광창, 10은 케이블, 11은 검수의 흐르는 방향, 12는 물 탱크, 13은 측정 챔버, 14는 홈이다.
그러면, 본 고안에서 제안하는 프로브식 탁도 검출기의 구성을 도면에 의거하여 설명하면, 아래와 같다. 먼저, 제1도는 광학 하우징(2)의 가공면(5)을 90°로 형성한 경우의 본 고안의 구성을 나타낸 것으로, 동도에 있어서의 그 부호 1은 광학 하우징(2)을 방수 상태로 장착하고, 프리앰프(7)를 내장하기 위한 케이싱이고, 2는 투광소자 및 수광소자를 수납하기 위한 광학 하우징이고, 3은 LED 등으로 이루어지는 발광소자이고, 4는 발광소자(3)에서 투광된 측정광에 대하여 항상 90°로 대향하도록 배치된 수광소자이다. 상기 프리앰프(7)를 내장하는 상기 케이싱(1)은 스텐레스 등의 내수성을 가진 소재로 이루어 지고, 상기 발광소자(3)와 수광소자(4)를 조립하여 이루어지는 상기 광학 하우징(2)과 밀폐 상태로 결합되어 있다. 상기 광학소자(2)는 내수성을 가진 것이면 그 소재는 상관 없지만, 강도나 중량의 점에서 수지제나 스텐레스제가 바람직하다. 상기 광학소자(2)의 내부에는 LED 등의 상기 발광소자(3)와 수광소자(3)가 조립되어 있으며, 상기 발광소자(3)에서 투광된 측정광에 대하여 상기 수광소자가 항상 90°로 대향하도록 배치되어 있다. 일반적으로는, 태양광선 그 밖의 외부광의 영향을 회피하기 위하여 상기 발광소자(3)로 부터의 측정광이 전방의 방향(수증 방향)으로 평행하게 투광되도록 배치되어 있으며, 따라서 그 경우, 이 측정광과 항상 90°로 대향하는 상기 수광소자(4)는, 통상 수평방향을 향하도록 배치되어 있다. 제1도에서는 상기 광학 하우징(2)의 선단에 90°의 가공면(5)이 형성되어 있으며, 이 가공면(5)상에 상기 발광소자(3)와 수광소자(4)가 90°로 대향된 상태에서 조립되어 있지만, 본 고안에 있어서는 상기 발광소자(3)에서 투광된 측정광과 수광소자(4) 사이에 있어서의 90°의 위치 관계와, 상기 광학 하우징(2)의 가공면(5)이 90°로 형성되어 있는 것과는 직접적으로 관계가 없다.
즉, 본 고안에 있어서는 상기 광학 하우징(2)에 형성된 상기 가공면(5)의 각도의 여하에 관계 없이, 상기 발광소자(3)에서 투광된 측정광에 대하여 상기 수광소자(4)는 항상 90°의 위치 관계를 보존한다. 역시, 상기 발광소자(3)와 수광소자(4)를 조립하고 있는 상기 가공면(5)의 표면 부분에는 각각 수분의 유입을 차단하기 위한 강화 유리 등으로 이루어진 상기 투광창(8)과 수광창(9)이 설치되어 있다. 역시, 상기 케이블(10)의 타단은 측정계기(도시하고 있지 않음)와 접속되어 있다.
다음에, 상기 광학 하우징의 가공면(5)을 90°이상 170°미만으로 형성한 경우의 본 고안의 구성에 관하여 설명하면, 아래와 같다. 제2도는 실험의 결과, 가장 바람직한 계측 결과가 얻어진 약 135°의 상기 가공면(5)을 상기 광학 하우징(2)의 선단에 형성한 경우의 본 고안의 구성을 나타내고 있는 것으로, 상기 발광소자(3)와 수광소자(4)는 이 가공면(5)상에 상기 수광소자(3)에서 투광된 측정광에 대하여 항상 상기 수광소자(4)가 90°로 대향하도록 배치되어 있다. 제2도에서는 상기 가공면(5)의 수광소자(4)를 조립한 부분의 각도는 그대로, 상기 발광소자(3)를 조립한 부분의 각도를 둔각으로 하는 것으로, 135°의 가공면을 형성하고 있다. 그 결과, 상기 투광창(8)은 상기 수광소자(4) 및 상기 수광창(9)과 90°로 대향하는 관계가 아니지만, 상기 발광소자(3)에서 투광되는 측정광에 대한 상기 수광소자(4)의 각도가 90°인 점에 관해서는 변함은 없다. 그 밖의 구조에 관해서는 제1도에 도시하고 있는 것과 동일하다.
다음에, 제3도는 상기 광학 하우징(2)에 탈착식 광학 커버(6)를 부착한 경우의 본 고안의 구성을 도시하고 있는 것으로, 상기 탈착식 광학 커버(6)의 상부에는 본 고안에 관한 검출기를 수중에 집어 넣었을 적에, 상기 탈착식 광학 커버(6) 내에 유입한 검수가 막힘 없이 그 외부로 유출될 수 있도록 유출구가 되는 홈(14)이 형성되어 있다. 역시, 탈착식 광학 커버(6)의 탈착 방법에 관해서는 본 고안에서는 나사로 조이는 식을 예정하고 있지만, 각별히 이에 한정하고 있는 것은 아니다.
다음에, 본 고안에 관한 프로브식 탁도 검출기를 사용하여 탁도의 측정을 실시하는 경우의 수순을 도면에 의거하여 설명하면, 아래와 같다. 먼저, 제4도에 도시하고 있는 바와 같이, 본 고안에 관한 검출기를 물 탱크(12)나 하천, 호수, 바다, 우물, 상·하수도, 공업용수, 생산 공정 및 공장 배수 등 소망하는 측정 현장의 검수 중에 이를 집어 넣거나, 또는 제5도에 도시하고 있는 바와 같이, 인·라인 측정에 있어서, 배관의 측정챔버(13) 내의 검수 중에 이를 집어 넣는다. 이어서, 제1도 및 제2도에 있어서, 측정계기(도시하고 있지 아니함)의 전원을 ON하여 LED 등의 상기 발광소자(3)를 발광시키고, 상기 투광창(8)에서 측정광을 수중에 투광시키면, 그 측정광이 검수 중인 미생물이나 그 밖의 SS 및 탁도 물질에 의하여 산란광으로 되어 상기 수광창(9)에서 상기 수광소자(4)에 입광한다. 그렇게 하면, 상기 수광소자(4)는 입광한 산란광에 따라 광전류 신호를 발생하고, 이것이 상기 프리앰프(7)에 의하여 변환기(도시하고 있지 아니함)에 인도되고, 연산 증폭되어 표시기(도시하고 있지 아니함)에 탁도의 측정값이 표시된다. 그 때, 상기 광학 하우징(2)의 가공면(5)을 90°로 형성한 본 고안에서는 검수의 오염이 적고, 수류가 정지한, 또는 평온한 측정 현장에서의 사용에 적합하고, 상기 가공면(5)을 90°이상 170°미만으로 형성한 본 고안은 상기 가공면(5)이 둔각으로 되어 있기 때문에, 기포나 오염이 부착되기 어려운 것이기 때문에, 이에 의한 영향을 받기 쉬운 현장, 즉 검수가 오염된 측정 현장에서의 사용에 적합하다.
또한, 제3도에 도시하고 있는 바와 같이, 상기 광학 하우징(2)에 탈착식 광학 커버(6)를 부착한 경우의 본 고안에 있어서는 그 측정 방법은 상기의 경우와 동일하지만, 태양 광선이나 그 밖의 외부광의 영향을 베재할 수 있다. 또한, 그 상부에 물의 유출가 되는 상기 홈(14)이 설치되어 있기 때문에, 상기 탈착식 광학 커버(6) 내에 유입한 검수를 막힘 없이 외부로 유출할 수 있다. 역시, 배광중인 측정챔버(13)에 있어서, 인·라인 측정을 실시하는 경우 등 외부광의 영향을 받을 우려가 없는 장소에 있어서는 탈착식 광학 커버(6)를 제거하여 사용할 수도 있다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 고안에 관한 프로브식 탁도 검출기는 90°산란광의 측정 방식의 핸드 헬드, 한편으로는 경량의 케이싱(1)과 광학 하우징(2)으로 이루어지는 프로브식 탁도 검출기에 응용한 것으로, 종래는 소망하는 검수의 샘플링, 탁도계의 측정계기로의 탈착 및 스포트 측정을 그 때마다 실시하지 않으면 아니되는 것을, 본 고안에 의하여 이와 같은 번거로움을 해소할 수 있었다. 또한, 종래는 탁도를 연속적으로 측정할 수 없었기 때문에, 그 측정값에 오차가 발생되는 경우가 때때로 있었지만, 본 고안에 있어서는 이와 같은 측정 현장에 있어서도 연속적으로 측정할 수 있기 때문에, 보다 정확한 측정값을 구할 수 있었다. 또한, 본 고안에서는 발광소자(3)와 수광소자(4)를 조립하고 있는 광학 하우징(2)의 가공면(5)을 90°의 각도를 유지시켜 형성하고, 또는 90°이상 170°미만의 각도를 유지시켜 형성한 것으로, 전자는 검수의 오염이나 기포가 부착되는 영향이 적고, 한편으로는 수류가 정지, 또는 평온한 측정 현장에서의 사용에 적합하고, 또한 후자는 검수가 오염이나 기포가 부착되는 등의 영향을 받기 쉬운 측정 현장에서의 사용에 적합한 등 장소에 따라 사용할 수 있다. 또한, 산란광의 측정에 있어서는 외부광이 측정값에 끼칠 영향이 매우 크지만, 본 고안에서는 광학 하우징(2)에 탈착식 광학 커버(6)를 부착하는 것으로, 태양광선 그 밖의 외부광을 완전히 차단할 수 있다. 또한, 탈착식 광학 커버(6)를 부착하였다고 하더라도 그 상부에 물의 유출구가 되는 홈(14)이 설치되어 있고, 탈착식 광학 커버(6)의 내부에 유입한 물이 막힘 없이 외부로 유출되기 때문에, 장착에 의하여 도리어 측정값이 악영향을 미치는 경우도 없다.

Claims (4)

  1. 프리앰프를 내장하는 케이싱과, 바로 그 케이싱의 선단에 광학 하우징이 설치되어 있는 프로브식 탁도 검출기에 있어서, 상기 광학 하우징 내에 조립된 발광소자와 수광소자는 상기 발광소자에서 투광된 측정광에 대하여 상기 수광소자가 항상 90°로 대향하도록 배치되어 있는 것을 특징으로 하는 프로브식 탁도 검출기.
  2. 제1항에 있어서, 상기 발광소자와 수광소자가 조립되어 있는 상기 광학 하우징의 가공면은 90°로 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 프로브식 탁도 검출기.
  3. 제1항에 잇어서, 상기 발광소자와 수광소자가 조립되어 있는 상기 광학 하우징의 가공면은 90°이상 170°미만으로 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 프로브식 탁도 검출기.
  4. 제1항 내지 제3항에 있어서, 상기 광학 하우징에 탈착식 광학 커버가 부착되어 있는 것을 특징으로 하는 프로브식 탁도 검출기.
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