JPWO2021193574A5 - - Google Patents
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- 238000010884 ion-beam technique Methods 0.000 claims 8
- 150000002500 ions Chemical class 0.000 claims 5
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- 239000011148 porous material Substances 0.000 claims 2
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Claims (3)
- イオン源から出射されたイオンを導くイオンガイドと、
複数の電極を含む静電レンズと、
前記静電レンズから出射するイオンビームを平行にするイオンビーム平行化機構と、
前記イオンビーム平行化機構から出射したイオンビームを入射軸とは直交する方向に加速する直交加速部と、
前記直交加速部から出射したイオンを反射させる反射器を含むリフレクトロンと、
前記リフレクトロンから入射するイオンを検出する検出器と
を備え、
前記イオンビーム平行化機構は、前記静電レンズ及び前記直交加速部の真空室とのコンダクタンスを形成するための細孔と、当該細孔の後段に設けられた円筒形電極とを備えたことを特徴とする飛行時間型質量分析装置。 - 前記イオンビーム平行化機構は、前記イオンビーム平行化機構を室温以上の温度に加熱するサーマライザを更に備える請求項１に記載の飛行時間型質量分析装置。
- 前記静電レンズは、その出射口付近でイオンビームが略平行とするように構成されている、請求項１又は２に記載の飛行時間型質量分析装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2020052063 | 2020-03-24 | ||
| PCT/JP2021/011807 WO2021193574A1 (ja) | 2020-03-24 | 2021-03-22 | 飛行時間型質量分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPWO2021193574A1 JPWO2021193574A1 (ja) | 2021-09-30 |
| JPWO2021193574A5 true JPWO2021193574A5 (ja) | 2022-10-27 |
Family
ID=77890303
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2022510510A Ceased JPWO2021193574A1 (ja) | 2020-03-24 | 2021-03-22 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPWO2021193574A1 (ja) |
| WO (1) | WO2021193574A1 (ja) |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3385707B2 (ja) * | 1994-03-17 | 2003-03-10 | 株式会社日立製作所 | 質量分析装置 |
| WO2014203305A1 (ja) * | 2013-06-17 | 2014-12-24 | 株式会社島津製作所 | イオン輸送装置及び該装置を用いた質量分析装置 |
| GB2567794B (en) * | 2017-05-05 | 2023-03-08 | Micromass Ltd | Multi-reflecting time-of-flight mass spectrometers |
-
2021
- 2021-03-22 WO PCT/JP2021/011807 patent/WO2021193574A1/ja active Application Filing
- 2021-03-22 JP JP2022510510A patent/JPWO2021193574A1/ja not_active Ceased
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