JPWO2020105092A1 - 画像処理方法および画像処理装置 - Google Patents
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Abstract
Description
図1は、画像処理装置の第1の実施形態の構成例を示すブロック図である。図1に示す例では、画像処理装置10は、可視光前景尤度生成部11、デプス前景尤度生成部12、デプス信頼度生成部13、および前景検出部14を備える。
第1の実施形態の画像処理装置10は、可視光画像におけるエッジとデプス画像におけるエッジとを比較したが、第2の実施形態では、画像処理装置は、可視光画像におけるエッジと近赤外画像におけるエッジとを比較する。
第1の実施形態の画像処理装置10は、デプス画像におけるエッジと可視光画像におけるエッジとを比較し、第2の実施形態の画像処理装置20は、デプス画像におけるエッジと近赤外画像におけるエッジとを比較したが、第3の実施形態では、画像処理装置は、デプス画像におけるエッジを、可視光画像におけるエッジおよび近赤外画像におけるエッジと比較する。
前記可視光画像の撮影対象と同じ撮影対象のデプス画像から第2の前景尤度を生成し、
少なくとも前記可視光画像と前記デプス画像とを用いて、前記デプス画像の信頼度を生成し、
前記デプス画像の信頼度を重みとして、前記第1の前景尤度と前記第2の前景尤度とから前記撮影対象の前景尤度を決定する
画像処理方法。
付記1の画像処理方法。
前記可視光画像におけるエッジを検出し、
前記デプス画像におけるエッジが検出された領域に相当する前記可視光画像における領域においてエッジが検出された場合に、当該領域に相対的に高い信頼度を付与する
付記1または付記2の画像処理方法。
前記デプス画像の撮影対象と同じ撮影対象の近赤外画像におけるエッジを検出し、
前記デプス画像におけるエッジが検出された領域に相当する前記近赤外画像における領域においてエッジが検出された場合に、当該領域に相対的に高い信頼度を付与する
付記1または付記2の画像処理方法。
前記可視光画像におけるエッジを検出し、
前記デプス画像の撮影対象と同じ撮影対象の近赤外画像におけるエッジを検出し、
前記デプス画像におけるエッジが検出された領域に相当する前記可視光画像における領域および前記近赤外画像における領域においてエッジが検出された場合に、当該領域に相対的に高い信頼度を付与する
付記1または付記2の画像処理方法。
付記1から付記5のうちのいずれかの画像処理方法。
前記可視光画像の撮影対象と同じ撮影対象のデプス画像から第2の前景尤度を生成する第2の尤度生成手段と、
少なくとも前記可視光画像と前記デプス画像とを用いて、前記デプス画像の信頼度を生成するデプス信頼度生成手段と、
前記デプス画像の信頼度を重みとして、前記第1の前景尤度と前記第2の前景尤度とから前記撮影対象の前景尤度を決定する前景検出手段と
を備えた画像処理装置。
前記デプス信頼度決定部は、前記デプス画像における観測値の勾配が所定値以下である領域に相対的に高い信頼度を付与する
付記7の画像処理装置。
前記デプス信頼度決定部は、前記デプス画像におけるエッジが検出された領域に相当する前記可視光画像における領域においてエッジが検出された場合に、当該領域に相対的に高い信頼度を付与する
付記7または付記8の画像処理装置。
前記デプス信頼度決定部は、前記デプス画像におけるエッジが検出された領域に相当する前記近赤外画像における領域においてエッジが検出された場合に、当該領域に相対的に高い信頼度を付与する
付記7または付記8の画像処理装置。
前記デプス信頼度決定部は、前記デプス画像におけるエッジが検出された領域に相当する前記可視光画像における領域および前記近赤外画像における領域においてエッジが検出された場合に、当該領域に相対的に高い信頼度を付与する
付記7または付記8の画像処理装置。
前記デプス信頼度決定部は、測距不能画素からなる領域に低い信頼度を与える
請求項8から請求項11のうちのいずれか1項に記載の画像処理装置。
可視光画像から第1の前景尤度を生成する処理と、
前記可視光画像の撮影対象と同じ撮影対象のデプス画像から第2の前景尤度を生成する処理と、
少なくとも前記可視光画像と前記デプス画像とを用いて、前記デプス画像の信頼度を生成する処理と、
前記デプス画像の信頼度を重みとして、前記第1の前景尤度と前記第2の前景尤度とから前記撮影対象の前景尤度を決定する処理と
を実行させるための画像処理プログラム。
11 可視光前景尤度生成部
12 デプス前景尤度生成部
13,13B,13C デプス信頼度生成部
14 前景検出部
41 可視光カメラ
42 デプスカメラ
43 近赤外光カメラ
100 画像処理装置
101 第1の尤度生成手段
102 第2の尤度生成手段
103 デプス信頼度生成手段
104 前景検出手段
131 観測値勾配算出部
132 測距不能画素判定部
133 第1のエッジ検出部
134 第2のエッジ検出部
135 第3のエッジ検出部
136 デプス信頼度決定部
1000 CPU
1001 記憶装置
1002 メモリ
Claims (13)
- 可視光画像から第1の前景尤度を生成し、
前記可視光画像の撮影対象と同じ撮影対象のデプス画像から第2の前景尤度を生成し、
少なくとも前記可視光画像と前記デプス画像とを用いて、前記デプス画像の信頼度を生成し、
前記デプス画像の信頼度を重みとして、前記第1の前景尤度と前記第2の前景尤度とから前記撮影対象の前景尤度を決定する
画像処理方法。 - 前記デプス画像における観測値の勾配が所定値以下である領域に相対的に高い信頼度を付与した上で、前記デプス画像の信頼度を生成する
請求項1記載の画像処理方法。 - 前記デプス画像におけるエッジを検出し、
前記可視光画像におけるエッジを検出し、
前記デプス画像におけるエッジが検出された領域に相当する前記可視光画像における領域においてエッジが検出された場合に、当該領域に相対的に高い信頼度を付与する
請求項1または請求項2記載の画像処理方法。 - 前記デプス画像におけるエッジを検出し、
前記デプス画像の撮影対象と同じ撮影対象の近赤外画像におけるエッジを検出し、
前記デプス画像におけるエッジが検出された領域に相当する前記近赤外画像における領域においてエッジが検出された場合に、当該領域に相対的に高い信頼度を付与する
請求項1または請求項2記載の画像処理方法。 - 前記デプス画像におけるエッジを検出し、
前記可視光画像におけるエッジを検出し、
前記デプス画像の撮影対象と同じ撮影対象の近赤外画像におけるエッジを検出し、
前記デプス画像におけるエッジが検出された領域に相当する前記可視光画像における領域および前記近赤外画像における領域においてエッジが検出された場合に、当該領域に相対的に高い信頼度を付与する
請求項1または請求項2記載の画像処理方法。 - 測距不能画素からなる領域に低い信頼度を与える
請求項1から請求項5のうちのいずれか1項に記載の画像処理方法。 - 可視光画像から第1の前景尤度を生成する第1の尤度生成手段と、
前記可視光画像の撮影対象と同じ撮影対象のデプス画像から第2の前景尤度を生成する第2の尤度生成手段と、
少なくとも前記可視光画像と前記デプス画像とを用いて、前記デプス画像の信頼度を生成するデプス信頼度生成手段と、
前記デプス画像の信頼度を重みとして、前記第1の前景尤度と前記第2の前景尤度とから前記撮影対象の前景尤度を決定する前景検出手段と
を備えた画像処理装置。 - 前記デプス信頼度生成手段は、少なくとも前記デプス画像における観測値の勾配を算出する観測値勾配算出部と、前記デプス画像の信頼度を決定するデプス信頼度決定部とを含み、
前記デプス信頼度決定部は、前記デプス画像における観測値の勾配が所定値以下である領域に相対的に高い信頼度を付与する
請求項7記載の画像処理装置。 - 前記デプス信頼度生成手段は、前記デプス画像におけるエッジを検出する第1のエッジ検出部と、前記可視光画像におけるエッジを検出する第2のエッジ検出部と、前記デプス画像の信頼度を決定するデプス信頼度決定部とを含み、
前記デプス信頼度決定部は、前記デプス画像におけるエッジが検出された領域に相当する前記可視光画像における領域においてエッジが検出された場合に、当該領域に相対的に高い信頼度を付与する
請求項7または請求項8記載の画像処理装置。 - 前記デプス信頼度生成手段は、前記デプス画像におけるエッジを検出する第1のエッジ検出部と、前記デプス画像の撮影対象と同じ撮影対象の近赤外画像におけるエッジを検出する第3のエッジ検出部と、前記デプス画像の信頼度を決定するデプス信頼度決定部とを含み、
前記デプス信頼度決定部は、前記デプス画像におけるエッジが検出された領域に相当する前記近赤外画像における領域においてエッジが検出された場合に、当該領域に相対的に高い信頼度を付与する
請求項7または請求項8記載の画像処理装置。 - 前記デプス信頼度生成手段は、前記デプス画像におけるエッジを検出する第1のエッジ検出部と、前記可視光画像におけるエッジを検出する第2のエッジ検出部と、前記デプス画像の撮影対象と同じ撮影対象の近赤外画像におけるエッジを検出する第3のエッジ検出部と、前記デプス画像の信頼度を決定するデプス信頼度決定部を含み、
前記デプス信頼度決定部は、前記デプス画像におけるエッジが検出された領域に相当する前記可視光画像における領域および前記近赤外画像における領域においてエッジが検出された場合に、当該領域に相対的に高い信頼度を付与する
請求項7または請求項8記載の画像処理装置。 - 前記デプス信頼度生成手段は、前記デプス画像における測距不能画素を検出する測距不能画素判定部を含み、
前記デプス信頼度決定部は、測距不能画素からなる領域に低い信頼度を与える
請求項8から請求項11のうちのいずれか1項に記載の画像処理装置。 - コンピュータに、
可視光画像から第1の前景尤度を生成する処理と、
前記可視光画像の撮影対象と同じ撮影対象のデプス画像から第2の前景尤度を生成する処理と、
少なくとも前記可視光画像と前記デプス画像とを用いて、前記デプス画像の信頼度を生成する処理と、
前記デプス画像の信頼度を重みとして、前記第1の前景尤度と前記第2の前景尤度とから前記撮影対象の前景尤度を決定する処理と
を実行させるための画像処理プログラム。
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