JPWO2018142477A1 - 要求分析装置、要求分析方法および要求分析プログラム - Google Patents

Abstract

要求分析装置（１００）において、関係分析部（１１０）が、項目関係情報（２０）に表された要求項目間の関係に基づいて、複数の要求項目をグループに分類する。また、サブシステム分析部（１２０）が、項目関係情報（２０）に表された要求項目間の関係と、項目関係情報（２０）に表された各要求項目と各サブシステムとの関係とに基づいて、各要求項目から関係を辿ることにより到達するサブシステムの数を抽出する。また、結果表示部（１４０）が、複数の要求項目の要求項目ごとに、その要求項目が分類されたグループを識別する識別子と、その要求項目から関係を辿ることにより到達するサブシステムの数とを設定した分析結果情報（３０）を表示する。

Description

本発明は、試験設計の品質向上のための要求分析装置、要求分析方法および要求分析プログラムに関する。

組込みシステムの開発における試験設計において、組込みシステムに求められる要求項目に対応する試験項目が作成される。要求項目が多くなり複雑になると、試験項目の抜け漏れおよび重複が生じやすくなる。そこで、特許文献１および２には、要求項目を図示あるいは詳細化し、分析することで、試験項目の抜け漏れおよび重複を削減する手法が開示されている。

特開２０１２−２２６６５２号公報 特開２００３−１０８４０５号公報

特許文献１に開示された手法では、複数の試験項目間の関係性を図示することで、試験項目の最適化を行い、抜け漏れおよび重複を削減することを可能とする。
特許文献２に開示された手法では、試験項目の詳細化を行い、システムの挙動要素を最小単位に分割することで、試験項目の抜け漏れおよび重複を削減することを可能とする。

しかし、特許文献１および特許文献２のように、図にまとめた試験項目に基づいて、より確実に抜け漏れおよび重複がない試験項目を策定するためには、更なる指標が必要である。

本発明は、図にまとめた要求項目に基づいて、各要求項目の関係性を評価するための更なる指標を自動的に算出し、より確実に試験項目の抜け漏れおよび重複を防止することを目的とする。

本発明に係る要求分析装置は、複数のサブシステムを有する組込みシステムに求められる複数の要求項目の要求項目間の関係を表し、かつ、前記複数の要求項目の各要求項目と前記複数のサブシステムの各サブシステムとの関係を表す項目関係情報を分析する要求分析装置において、
前記項目関係情報に表された前記要求項目間の関係に基づいて、前記複数の要求項目をグループに分類する関係分析部と、
前記要求項目間の関係と、前記複数の要求項目の各要求項目と前記複数のサブシステムの各サブシステムとの関係とに基づいて、前記複数の要求項目の各要求項目から関係を辿ることにより到達するサブシステムの数を抽出するサブシステム分析部と、
前記複数の要求項目の要求項目ごとに、前記要求項目が分類されたグループを識別する識別子と前記要求項目から関係を辿ることにより到達するサブシステムの数とを設定した分析結果情報を表示する結果表示部とを備えた。

本発明に係る要求分析装置では、関係分析部が、項目関係情報に表された要求項目間の関係に基づいて、複数の要求項目をグループに分類する。また、サブシステム分析部が、項目関係情報に表された要求項目間の関係と、項目関係情報に表された各要求項目と各サブシステムとの関係とに基づいて、各要求項目から関係を辿ることにより到達するサブシステムの数を抽出する。また、結果表示部が、複数の要求項目の要求項目ごとに、その要求項目が分類されたグループを識別する識別子と、その要求項目から関係を辿ることにより到達するサブシステムの数とを設定した分析結果情報を表示する。よって、本発明に係る要求分析装置によれば、各要求項目の関係性を評価するための更なる指標を自動的に提示することができる。

実施の形態１に係る要求分析装置１００の構成図。 実施の形態１に係る項目関係情報２０の例を示す図。 実施の形態１に係る項目関係情報２０の各要素の説明図。 実施の形態１に係る要求分析装置１００の要求分析方法５２０および要求分析プログラム５１０の要求分析処理Ｓ１００のフロー図。 実施の形態１に係る要求項目３０１の例を示す図。 実施の形態１に係る包含分析処理Ｓ１１を示すフロー図。 実施の形態１に係る下位包含探索処理Ｓ１２を示すフロー図。 実施の形態１に係るグループ名変更処理Ｓ１３を示すフロー図。 実施の形態１に係る最上位抽出処理Ｓ１４を示すフロー図。 実施の形態１に係る最下位抽出処理Ｓ１５を示すフロー図。 実施の形態１に係る関係分析処理Ｓ１０による項目関係情報２０の分析結果である包含分析結果２１の例を示す図。 実施の形態１に係る関連分析処理Ｓ２１を示すフロー図。 実施の形態１に係る関連性探索処理Ｓ２２を示すフロー図。 実施の形態１に係る関連性探索処理Ｓ２２による探索結果。 実施の形態１に係る分析結果情報３０の例を示す図。 実施の形態１に係る結果表示処理Ｓ３０を示すフロー図。 実施の形態１の変形例に係る要求分析装置１００の構成図。

以下、本発明の実施の形態について、図を用いて説明する。なお、各図中、同一または相当する部分には、同一符号を付している。実施の形態の説明において、同一または相当する部分については、説明を適宜省略または簡略化する。

図にまとめた要求項目あるいは試験項目に基づいて、抜け漏れおよび重複がない具体的試験項目を策定するためには、各項目の関係性を評価するための更なる指標が必要である。以下に各項目の関係性を評価するための更なる指標の例（Ａ）および（Ｂ）を示す。
（Ａ）包含の関係にある複数の項目をグループ化する指標。システムの評価試験では、試験の工数を削減するため、包含関係にあり、重複する内容があると考えられる複数の項目を一部の項目に絞り込んで試験を実施することが望ましい。絞り込む方法としては、様々な方法が考えられる。具体例としては、論理性の観点における試験では、抽象度の低い項目に絞り込むことが考えられる。また、ユーザビリティの観点における試験では、抽象度の高い項目に絞り込むことが考えられる。さらに、グループ化することによって、システム全体を俯瞰的に捉えることができ、項目の抜け漏れを発見しやすくなる。
（Ｂ）項目に対する試験を実施する試験フェーズを判断するための指標。システムの評価においては、各項目の粒度に応じ、試験フェーズを分けて試験を実施することが一般的である。このとき、試験フェーズ間の役割分担が曖昧な場合、試験フェーズ間において試験項目の抜け漏れあるいは重複が発生しやすい。特に、複数のサブシステムが関連する複合的システムの試験を実施する場合、システム全体の評価試験と各サブシステムの評価試験との間の役割分担が不明確であり、試験項目の抜け漏れあるいは重複が懸念される。これを避けるため、個々の試験フェーズ毎に項目を考えるのではなく、システム全体に求められる要求項目を抽出した後、各要求項目を、各サブシステムの評価試験において評価する要求項目と、システム全体の評価試験において評価する要求項目に分類して考える。

実施の形態１．
＊＊＊構成の説明＊＊＊
図１を用いて、本実施の形態に係る要求分析装置１００の構成について説明する。
図１に示すように、要求分析装置１００は、コンピュータである。要求分析装置１００は、プロセッサ９１０、記憶装置９２０、入力インタフェース９３０、および出力インタフェース９４０といったハードウェアを備える。記憶装置９２０は、メモリ９２１と補助記憶装置９２２とを有する。プロセッサ９１０は、信号線を介して他のハードウェアと接続され、これら他のハードウェアを制御する。

要求分析装置１００は、構成要素として、関係分析部１１０とサブシステム分析部１２０と記憶部１３０と結果表示部１４０とを備える。関係分析部１１０は、包含分析部１１１と下位包含探索部１１２とグループ名変更部１１３と最上位抽出部１１４と最下位抽出部１１５とを有する。また、サブシステム分析部１２０は、関連分析部１２１と関連性探索部１２２とを有する。
包含分析部１１１と下位包含探索部１１２とグループ名変更部１１３と最上位抽出部１１４と最下位抽出部１１５と関連分析部１２１と関連性探索部１２２と結果表示部１４０との機能は、ソフトウェアで実現される。
記憶部１３０は、メモリ９２１により実現される。記憶部１３０には、入力インタフェース９３０を介して入力された項目関係情報２０が記憶される。また、記憶部１３０には、プロセッサ９１０に要求項目関係の分析結果である分析結果情報３０が記憶される。なお、記憶部１３０は、メモリ９２１および補助記憶装置９２２により実現されていてもよい。あるいは、記憶部１３０は、補助記憶装置９２２のみで実現されてもよい。記憶部１３０の実現方法は任意である。

補助記憶装置９２２には、包含分析部１１１と下位包含探索部１１２とグループ名変更部１１３と最上位抽出部１１４と最下位抽出部１１５と関連分析部１２１と関連性探索部１２２と結果表示部１４０との機能を実現する要求分析プログラム５１０が記憶されている。このプログラムは、プロセッサ９１０によりメモリ９２１に読み込まれ、プロセッサ９１０によって実行される。これにより、包含分析部１１１と下位包含探索部１１２とグループ名変更部１１３と最上位抽出部１１４と最下位抽出部１１５と関連分析部１２１と関連性探索部１２２と結果表示部１４０との機能が実現される。また、補助記憶装置９２２には、ＯＳ（Ｏｐｅｒａｔｉｎｇ Ｓｙｓｔｅｍ）も記憶されている。ＯＳの少なくとも一部がメモリ９２１にロードされ、プロセッサ９１０はＯＳを実行しながら、要求分析プログラム５１０を実行する。

プロセッサ９１０は、演算処理を行うＩＣ（Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ）である。プロセッサ９１０は、具体例としては、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、ＤＳＰ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｓｉｇｎａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｏｒ）、あるいはＧＰＵ（Ｇｒａｐｈｉｃｓ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）である。

メモリ９２１は、データを一時的に記憶する記憶機器である。メモリ９２１は、具体例としては、ＳＲＡＭ（Ｓｔａｔｉｃ Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）あるいはＤＲＡＭ（Ｄｙｎａｍｉｃ Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ）である。
補助記憶装置９２２は、データを保管する記憶機器である。補助記憶装置９２２は、具体例としては、ＨＤＤ（Ｈａｒｄ Ｄｉｓｋ Ｄｒｉｖｅ）である。また、補助記憶装置９２２は、ＳＤ（登録商標）（Ｓｅｃｕｒｅ Ｄｉｇｉｔａｌ）メモリカード、ＣＦ（ＣｏｍｐａｃｔＦｌａｓｈ）、ＮＡＮＤフラッシュ、フレキシブルディスク、光ディスク、コンパクトディスク、ブルーレイ（登録商標）ディスク、ＤＶＤ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｖｅｒｓａｔｉｌｅ Ｄｉｓｋ）といった可搬記憶媒体であってもよい。

入力インタフェース９３０は、マウス、キーボード、タッチパネルといった入力装置と接続されるポートである。入力インタフェース９３０は、具体例としては、ＵＳＢ（Ｕｎｉｖｅｒｓａｌ Ｓｅｒｉａｌ Ｂｕｓ）端子である。なお、入力インタフェースは、ＬＡＮ（Ｌｏｃａｌ Ａｒｅａ Ｎｅｔｗｏｒｋ）と接続されるポートであってもよい。
出力インタフェース９４０は、ディスプレイといった表示機器のケーブルが接続されるポートである。出力インタフェース９４０は、具体例としては、ＵＳＢ端子またはＨＤＭＩ（登録商標）端子である。ディスプレイは、具体例としては、ＬＣＤ（Ｌｉｑｕｉｄ Ｃｒｙｓｔａｌ Ｄｉｓｐｌａｙ）である。

要求分析装置１００は、１つのプロセッサのみを備えていてもよいし、複数のプロセッサを備えていてもよい。複数のプロセッサが包含分析部１１１と下位包含探索部１１２とグループ名変更部１１３と最上位抽出部１１４と最下位抽出部１１５と関連分析部１２１と関連性探索部１２２と結果表示部１４０との機能を実現するプログラムを連携して実行してもよい。

包含分析部１１１と下位包含探索部１１２とグループ名変更部１１３と最上位抽出部１１４と最下位抽出部１１５と関連分析部１２１と関連性探索部１２２と結果表示部１４０との処理の結果を示す情報、データ、信号値、および、変数値は、補助記憶装置９２２、メモリ９２１、または、プロセッサ９１０内のレジスタまたはキャッシュメモリに記憶される。

要求分析プログラムプロダクトとは、包含分析部１１１と下位包含探索部１１２とグループ名変更部１１３と最上位抽出部１１４と最下位抽出部１１５と関連分析部１２１と関連性探索部１２２と結果表示部１４０として説明している機能を実現するプログラムが記録された記憶媒体あるいは記憶装置である。要求分析プログラムプロダクトは、見た目の形式に関わらず、コンピュータ読み取り可能なプログラムをロードしているものである。

図２は、本実施の形態に係る項目関係情報２０の構成を示す図である。また、図３は、本実施の形態に係る項目関係情報２０の各要素の説明図である。
図２および図３を用いて、本実施の形態に係る項目関係情報２０について説明する。
項目関係情報２０は、図にまとめられた要求項目である。項目関係情報２０としては、モデリング言語ＳｙｓＭＬの要求図といった要求項目間の関係性を図あるいはダイヤグラムで表す方式が知られている。本実施の形態では、具体的な試験項目を機械的に決定するための指標として、試験対象を絞り込むための指標あるいは試験フェーズを判断するための指標を定量的に算出することを目的としている。

項目関係情報２０は、複数のサブシステムを有する組込みシステムに求められる複数の要求項目の要求項目間の関係を表し、かつ、複数の要求項目の各要求項目と複数のサブシステムの各サブシステムとの関係を表す。
図２および図３に示すように、項目関係情報２０は、要求項目３０１と、サブシステム３０２と、要求項目間の関係を表す包含関係３０３および導出関係３０４と、要求項目とサブシステム間の関係を表す充足関係３０５とを備える。

包含関係３０３は、親要求項目３０６と呼ばれる片方の要求項目３０１が、子要求項目３０７と呼ばれるもう片方の要求項目３０１を包含していることを図示した関係である。このとき、ある親要求項目３０６が満たされることと、その親要求項目３０６と包含関係にある全ての子要求項目３０７が満たされることは同義である。
導出関係３０４は、親要求項目３０６と呼ばれる片方の要求項目３０１を達成する手段として、子要求項目３０７と呼ばれるもう片方の要求項目３０１を導出可能であること図示した関係である。
充足関係３０５は、親要求項目３０６と呼ばれる要求項目３０１を充足させるために子サブシステム３０８と呼ばれるサブシステム３０２を用いることを図示した関係である。

包含関係３０３および導出関係３０４は、複数の要求項目の要求項目間の関係の例である。充足関係３０５は、複数の要求項目の各要求項目と複数のサブシステムの各サブシステムとの関係の例である。
親要求項目と、子要求項目あるいは子サブシステムとの関係は、親子関係あるいは上下関係である。親要求項目は、上位要求項目ともいう。子要求項目は、下位要求項目ともいう。子サブシステムは、下位サブシステムともいう。

＊＊＊動作の説明＊＊＊
図４を用いて、本実施の形態に係る要求分析装置１００の要求分析方法５２０および要求分析プログラム５１０の要求分析処理Ｓ１００について説明する。
要求分析処理Ｓ１００において、要求分析装置１００は、要求図である項目関係情報２０を分析する。要求分析処理Ｓ１００は、関係分析処理Ｓ１０とサブシステム分析処理Ｓ２０と結果表示処理Ｓ３０とを有する。

関係分析処理Ｓ１０において、関係分析部１１０は、項目関係情報２０に表された要求項目間の関係に基づいて、複数の要求項目をグループに分類する。関係分析部１１０は、複数の要求項目の各要求項目から同一の関係で辿ることにより、複数の要求項目から抽出される要求項目を１つのグループとして分類する。項目関係情報２０は、複数の要求項目の要求項目間の包含関係を表している。関係分析部１１０は、複数の要求項目の各要求項目から包含関係を下位に向かって辿ることにより、複数の要求項目から抽出される要求項目を１つのグループとして分類する。すなわち、関係分析部１１０は、項目関係情報２０の各要求項目について包含関係を分析する。

サブシステム分析処理Ｓ２０において、サブシステム分析部１２０は、要求項目間の関係と、複数の要求項目の各要求項目と複数のサブシステムの各サブシステムとの関係とに基づいて、複数の要求項目の各要求項目から関係を辿ることにより到達するサブシステムの数を抽出する。サブシステム分析部１２０は、上下関係を持つ要求項目間の関係または上下関係を持つ各要求項目と各サブシステムとの関係を上位項目から下位項目の方向に辿ることにより到達するサブシステムの数を抽出する。すなわち、サブシステム分析部１２０は、項目関係情報２０の各要求項目について関連するサブシステムを分析する。

結果表示処理Ｓ３０において、結果表示部１４０は、複数の要求項目の要求項目ごとに、要求項目が分類されたグループを識別する識別子と要求項目から関係を辿ることにより到達するサブシステムの数とを設定した分析結果情報３０を表示する。結果表示部１４０は、出力インタフェース９４０を介して、分析結果情報３０をディスプレイといった表示機器に表示する。

図５を用いて、本実施の形態に係る要求項目３０１の構成について説明する。要求項目３０１は、要求項目名７０１と、グループ名７０２と、最上位要求項目フラグ７０３と、最下位要求項目フラグ７０４と、関連サブシステム数７０５とを有する。グループ名７０２の初期値は、要求項目名７０１と一致する。

＜関係分析処理Ｓ１０＞
関係分析処理Ｓ１０は、包含分析部１１１による包含分析処理Ｓ１１と、下位包含探索部１１２による下位包含探索処理Ｓ１２と、グループ名変更部１１３によるグループ名変更処理Ｓ１３と、最上位抽出部１１４による最上位抽出処理Ｓ１４と、最下位抽出部１１５による最下位抽出処理Ｓ１５とを有する。

図６を用いて、本実施の形態に係る包含分析処理Ｓ１１について説明する。包含分析処理Ｓ１１は、関係分析処理Ｓ１０において、最初に実行されるルーチンである。
図７を用いて、本実施の形態に係る下位包含探索処理Ｓ１２について説明する。下位包含探索処理Ｓ１２は、与えられた要求項目に対して直接的または間接的に包含関係を持つ子要求項目を抽出し、探索するルーチンである。
図８を用いて、本実施の形態に係るグループ名変更処理Ｓ１３について説明する。グループ名変更処理Ｓ１３は、要求項目が持つグループ名を変更するルーチンである。
図９を用いて、本実施の形態に係る最上位抽出処理Ｓ１４について説明する。最上位抽出処理Ｓ１４は、グループ内において最上位となる要求項目を抽出するルーチンである。
図１０を用いて、本実施の形態に係る最下位抽出処理Ｓ１５について説明する。最下位抽出処理Ｓ１５は、グループ内において最下位となる要求項目を抽出するルーチンである。

＜包含分析処理Ｓ１１＞
ステップＳ８０１からステップＳ８０２において、包含分析部１１１は、ｉ番目の要求項目に対して、下位包含探索処理Ｓ１２を実行する。包含分析部１１１は、ｉが項目関係情報２０に含まれる要求項目３０１の総数になるまで、ステップＳ８０１からステップＳ８０２の処理を繰り返す。
ｉが要求項目３０１の総数を超えると、ステップＳ８０３において、包含分析部１１１は、最上位抽出処理Ｓ１４を実行する。次に、ステップＳ８０４において、包含分析部１１１は、最下位抽出処理Ｓ１５を実行する。

＜下位包含探索処理Ｓ１２＞
ステップＳ９０１において、下位包含探索部１１２は、与えられた要求項目３０１が調査済みであるかを確認し、調査済みであったら処理を終了する。
下位包含探索部１１２は、与えられた要求項目３０１が調査済みでない場合、与えられた要求項目３０１と包含関係を持つ子要求項目の各々についてステップＳ９０２からステップＳ９０４の処理を繰り返す。
ステップＳ９０３において、下位包含探索部１１２は、与えられた要求項目３０１を親要求項目３０６とした包含関係３０３を持つ子要求項目３０７に対し、グループ名変更処理Ｓ１３を実行する。具体的には、下位包含探索部１１２は、与えられた要求項目３０１を親要求項目３０６とした包含関係３０３を持つ子要求項目３０７のうちｉ番目の要求項目に対し、変更前のグループ名を子要求項目３０７のグループ名７０２とし、変更後のグループ名を親要求項目３０６のグループ名７０２として、グループ名変更処理Ｓ１３を実行する。つまり、「変更前のグループ名」および「変更後のグループ名」は、「グループ名変更処理Ｓ１３」に入力するパラメータである。
ステップＳ９０４において、下位包含探索部１１２は、与えられた要求項目３０１を親要求項目３０６とした包含関係３０３を持つ子要求項目３０７に対し、下位包含探索処理Ｓ１２を再帰実行する。具体的には、下位包含探索部１１２は、与えられた要求項目３０１を親要求項目３０６とした包含関係３０３を持つ子要求項目３０７のうちｉ番目の要求項目に対し、下位包含探索処理Ｓ１２を実行する。
ｉが与えられた要求項目３０１と包含関係を持つ子要求項目３０７の総数を超えると、ステップＳ９０５において、下位包含探索部１１２は、与えられた要求項目３０１を調査済みとする。

＜グループ名変更処理Ｓ１３＞
ステップＳ００１からステップＳ００３において、グループ名変更部１１３は、存在する全ての要求項目３０１に対し、グループ名７０２が変更前のグループ名と一致する場合、グループ名７０２を変更後のグループ名に変更する。

以下に説明する最上位抽出処理Ｓ１４および最下位抽出処理Ｓ１５では、関係分析部１１０は、１つのグループにおける最上位の要求項目を最上位要求項目として抽出するとともに最下位の要求項目を最下位要求項目として抽出する。
＜最上位抽出処理Ｓ１４＞
ステップＳ０１１において、最上位抽出部１１４は、存在する全ての要求項目３０１について、ステップＳ０１２からステップＳ０１３を繰り返す。
ステップＳ０１２において、最上位抽出部１１４は、ｉ番目の要求項目３０１を子要求項目３０７とした包含関係３０３を持つ親要求項目３０６が存在するかを判定する。存在しない場合、ステップＳ０１３において、最上位抽出部１１４は、要求項目３０１における最上位要求項目フラグ７０３をオンにする。存在する場合、処理はステップＳ０１１に戻る。

＜最下位抽出処理Ｓ１５＞
ステップＳ０２１において、最下位抽出部１１５は、存在する全ての要求項目３０１について、ステップＳ０２２からステップＳ０２３を繰り返す。
ステップＳ０２２において、最下位抽出部１１５は、ｉ番目の要求項目３０１を親要求項目３０６とした包含関係３０３を持つ子要求項目３０７が存在するかを判定する。存在しない場合、ステップＳ０２３において、最下位抽出部１１５は、要求項目３０１における最下位要求項目フラグ７０４をオンにする。存在する場合、処理はステップＳ０２１に戻る。

図１１は、本実施の形態に係る関係分析処理Ｓ１０による項目関係情報２０の分析結果である包含分析結果２１を示した図である。
関係分析処理Ｓ１０により、図１１に示すように、一点鎖線で囲まれた要求項目は生産性改善グループ４０１に包含される。生産性改善グループ４０１において、生産性改善の要求項目は、最上位要求項目４０２である。また、生産性改善グループ４０１において、ねじ締め忘れ防止と部品および工具の探索時間の削減の要求項目は、最下位要求項目４０３である。
以上のように、関係分析処理Ｓ１０では、関係分析部１１０は、複数の要求項目の各要求項目から包含関係を下位に向かって辿ることにより、複数の要求項目から抽出される要求項目を１つのグループとして分類する。
また、関係分析部１１０は、複数の要求項目の要求項目ごとに、識別子として要求項目が分類されたグループの名称と、要求項目が分類されたグループにおいてその要求項目が最上位要求項目あるいは最下位要求項目であるかを示す情報とを設定する。図１１に示す生産性改善グループ４０１は、グループを識別する識別子としてグループの名称である「生産性改善」が付与される。よって、図５に示すように、要求項目３０１には、グループを識別する識別子としてグループの名称である生産性改善がグループ名７０２に付与される。また、要求項目３０１は、最上位要求項目フラグ７０３と最下位要求項目フラグ７０４とを有し、最上位要求項目であるか最下位要求項目であるかが設定される。

＜サブシステム分析処理Ｓ２０＞
サブシステム分析処理Ｓ２０は、関連分析部１２１による関連分析処理Ｓ２１と関連性探索部１２２による関連性探索処理Ｓ２２とを有する。

図１２を用いて、本実施の形態に係る関連分析処理Ｓ２１について説明する。関連分析処理Ｓ２１は、サブシステム分析処理Ｓ２０において、最初に実行されるルーチンである。
図１３を用いて、本実施の形態に係る関連性探索処理Ｓ２２について説明する。関連性探索処理Ｓ２２は、与えられた要求項目またはサブシステムに対して関係を持つ親要求項目を抽出し、探索する処理である。

＜関連分析処理Ｓ２１＞
ステップＳ０３１において、関連分析部１２１は、ｉが項目関係情報２０に含まれるサブシステム３０２の総数になるまで、ステップＳ０３１からステップＳ０３２の処理を繰り返す。
ステップＳ０３２において、関連分析部１２１は、ｉ番目のサブシステム３０２に対し、このｉ番目のサブシステム３０２を調査対象とした関連性探索処理Ｓ２２を実行する。

＜関連性探索処理Ｓ２２＞
ステップＳ０４１において、関連性探索部１２２は、与えられた要求項目３０１またはサブシステム３０２が、調査対象のサブシステム３０２に関して調査済みであるか確認し、調査済みであったら処理を終了する。調査済みでなければ、関連性探索部１２２は、ステップＳ０４２に処理を進める。
ステップＳ０４１において、関連性探索部１２２は、与えられた要求項目３０１またはサブシステム３０２が、要求項目３０１である場合、この要求項目３０１の関連サブシステム数７０５に１を追加する。

次に、関連性探索部１２２は、ｉに１を代入し、ｉが与えられた要求項目３０１またはサブシステム３０２と関連性を有する親要求項目の総数になるまで、ステップＳ０４３からステップＳ０４４の処理を繰り返す。与えられた要求項目３０１またはサブシステム３０２と関連性を有する親要求項目の総数とは、与えられた要求項目３０１またはサブシステム３０２を子要求項目３０７または子サブシステム３０８とした、包含関係３０３、導出関係３０４、または充足関係３０５を持つ全ての親要求項目３０６の総数である。
ステップＳ０４４において、関連性探索部１２２は、ｉ番目の親要求項目に対して、関連性探索処理Ｓ２２を再帰実行する。

ｉが与えられた要求項目３０１またはサブシステム３０２と関連性を有する親要求項目の総数を超えると、ステップＳ０４５において、関連性探索部１２２は、与えられた要求項目３０１またはサブシステム３０２を調査済みとする。

図１４は、本実施の形態に係る関連性探索処理Ｓ２２による探索結果を示す図である。
図１４に示すように、関連性探索処理Ｓ２２により、各要求項目に対して、関連性を有するサブシステムの数として関連サブシステム数５０１が対応付けられる。このように、関連性探索処理Ｓ２２により、各要求項目について関連するサブシステムの数が計数される。各要求項目について関連するサブシステムの数は、図５に示す関連サブシステム数７０５に設定される。

図１５は、本実施の形態に係る分析結果情報３０の例を示す図である。
図１５に示すように、分析結果情報３０には、関係分析処理Ｓ１０およびサブシステム分析処理Ｓ２０の処理結果が設定される。図５の各要求項目３０１における、要求項目名７０１、グループ名７０２、最上位要求項目フラグ７０３、最下位要求項目フラグ７０４、および関連サブシステム数７０５の各々が、図１５の分析結果情報３０における、要求項目名６０１、グループ名６０２、最上位要求項目フラグ６０３、最下位要求項目フラグ６０４、および関連サブシステム数６０５の各々に設定される。

＜結果表示処理Ｓ３０＞
図１６を用いて、本実施の形態に係る結果表示処理Ｓ３０について説明する。
ステップＳ３１において、結果表示部１４０は、複数の要求項目の要求項目ごとに、要求項目が分類されたグループを識別する識別子と要求項目から関係を辿ることにより到達するサブシステムの数とを設定する。具体的には、結果表示部１４０は、各要求項目の、要求項目名７０１とグループ名７０２と最上位要求項目フラグ７０３と最下位要求項目フラグ７０４と関連サブシステム数７０５とに基づいて、分析結果情報３０を生成する。
ステップＳ３２において、結果表示部１４０は、生成した分析結果情報３０を、出力インタフェース９４０を介して、ディスプレイといった表示機器に表示する。

＊＊＊他の構成＊＊＊
本実施の形態では、要求分析装置１００は、入力インタフェースを介して項目関係情報を取得し、記憶部１３０に記憶していた。しかし、要求分析装置１００は通信装置を有し、通信装置を介して他の装置から項目関係情報を受信する構成でもよい。このとき、通信装置はレシーバとトランスミッタとを備える。具体的には、通信装置は通信チップまたはＮＩＣ（Ｎｅｔｗｏｒｋ Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ Ｃａｒｄ）である。通信装置はデータを通信する通信部として機能する。レシーバはデータを受信する受信部として機能し、トランスミッタはデータを送信する送信部として機能する。

また、本実施の形態では、要求分析装置１００の包含分析部１１１と下位包含探索部１１２とグループ名変更部１１３と最上位抽出部１１４と最下位抽出部１１５と関連分析部１２１と関連性探索部１２２と結果表示部１４０との機能がソフトウェアで実現される。しかし、変形例として、要求分析装置１００の包含分析部１１１と下位包含探索部１１２とグループ名変更部１１３と最上位抽出部１１４と最下位抽出部１１５と関連分析部１２１と関連性探索部１２２と結果表示部１４０との機能がハードウェアで実現されてもよい。
図１７を用いて、本実施の形態の変形例に係る要求分析装置１００の構成について説明する。
図１７に示すように、要求分析装置１００は、処理回路９０９、入力インタフェース９３０、および出力インタフェース９４０といったハードウェアを備える。

処理回路９０９は、上述した包含分析部１１１と下位包含探索部１１２とグループ名変更部１１３と最上位抽出部１１４と最下位抽出部１１５と関連分析部１２１と関連性探索部１２２と結果表示部１４０との機能および記憶部１３０を実現する専用の電子回路である。処理回路９０９は、具体的には、単一回路、複合回路、プログラム化したプロセッサ、並列プログラム化したプロセッサ、ロジックＩＣ、ＧＡ、ＡＳＩＣ、または、ＦＰＧＡである。ＧＡは、Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙの略語である。ＡＳＩＣは、Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ Ｓｐｅｃｉｆｉｃ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔの略語である。ＦＰＧＡは、Ｆｉｅｌｄ−Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙの略語である。

要求分析装置１００の包含分析部１１１と下位包含探索部１１２とグループ名変更部１１３と最上位抽出部１１４と最下位抽出部１１５と関連分析部１２１と関連性探索部１２２と結果表示部１４０との機能は、１つの処理回路９０９で実現されてもよいし、複数の処理回路９０９に分散して実現されてもよい。

別の変形例として、要求分析装置１００の機能がソフトウェアとハードウェアとの組合せで実現されてもよい。すなわち、要求分析装置１００の一部の機能が専用のハードウェアで実現され、残りの機能がソフトウェアで実現されてもよい。

要求分析装置１００のプロセッサ９１０、記憶装置９２０、および、処理回路９０９を、総称して「プロセッシングサーキットリ」という。つまり、要求分析装置１００の構成が図１および図１７のいずれに示した構成であっても、要求分析装置１００の機能は、プロセッシングサーキットリにより実現される。

「部」を「工程」または「手順」または「処理」に読み替えてもよい。また、要求分析装置１００の機能をファームウェアで実現してもよい。

＊＊＊本実施の形態の効果の説明＊＊＊
本実施の形態に係る要求分析装置１００は、各要求項目に対し、機械的に関係性の評価を行うことによって、試験対象の絞込みあるいは試験フェーズの判断を行う。要求分析装置１００は、まず、要求項目間の包含関係を分析し、包含関係を持つ複数の要求項目をグループにまとめ、グループの最上位要求項目と最下位要求項目とを明確にする関係分析部を有する。関係分析部により、各試験観点に対して評価すべき要求項目を判断できるようにする。次に、要求項目に関連するサブシステムの数を算出するサブシステム分析部を有する。サブシステム分析部により、サブシステムの数によって試験フェーズを判断できるようにする。

本実施の形態に係る要求分析装置１００によれば、要求項目あるいはサブシステム間の関係性を表した要求図といった情報に基づいて、包含関係のある要求項目をグループ化し、最上位要求項目と最下位要求項目を明確にすることができる。よって、本実施の形態に係る要求分析装置１００によれば、一部の要求項目に絞り込んで試験を実施することが可能となる。また、本実施の形態に係る要求分析装置１００によれば、各要求項目に対応する試験項目を実施する試験フェーズを明確化することが可能となる。よって、本実施の形態に係る要求分析装置１００によれば、試験項目の重複あるいは抜け漏れ防止につなげることができる。

上述した実施の形態では、包含分析部と下位包含探索部とグループ名変更部と最上位抽出部と最下位抽出部と関連分析部と関連性探索部との各々が独立した機能ブロックとして要求分析装置を構成している。しかし、上述した実施の形態のような構成でなくてもよく、要求分析装置の構成は任意である。要求分析装置の機能ブロックは、上述した実施の形態で説明した機能を実現することができれば、任意である。これらの機能ブロックを、他のどのような組み合わせ、あるいは任意のブロック構成で、要求分析装置を構成しても構わない。

実施の形態１について説明したが、この実施の形態のうち、複数の部分を組み合わせて実施しても構わない。あるいは、この実施の形態のうち、１つの部分を実施しても構わない。その他、この実施の形態を、全体としてあるいは部分的に、どのように組み合わせて実施しても構わない。
なお、上述した実施の形態は、本質的に好ましい例示であって、本発明、その適用物および用途の範囲を制限することを意図するものではなく、必要に応じて種々の変更が可能である。

２０ 項目関係情報、２１ 包含分析結果、３０ 分析結果情報、１００ 要求分析装置、１１０ 関係分析部、１１１ 包含分析部、１１２ 下位包含探索部、１１３ グループ名変更部、１１４ 最上位抽出部、１１５ 最下位抽出部、１２０ サブシステム分析部、１２１ 関連分析部、１２２ 関連性探索部、１３０ 記憶部、１４０ 結果表示部、３０１ 要求項目、３０２ サブシステム、３０３ 包含関係、３０４ 導出関係、３０５ 充足関係、３０６ 親要求項目、３０７ 子要求項目、３０８ 子サブシステム、４０１ 生産性改善グループ、４０２ 最上位要求項目、４０３ 最下位要求項目、５０１ 関連サブシステム数、５１０ 要求分析プログラム、５２０ 要求分析方法、６０１，７０１ 要求項目名、６０２，７０２ グループ名、６０３，７０３ 最上位要求項目フラグ、６０４，７０４ 最下位要求項目フラグ、６０５，７０５ 関連サブシステム数、９０９ 処理回路、９１０ プロセッサ、９２０ 記憶装置、９２１ メモリ、９２２ 補助記憶装置、９３０ 入力インタフェース、９４０ 出力インタフェース、Ｓ１００ 要求分析処理、Ｓ１０ 関係分析処理、Ｓ１１ 包含分析処理、Ｓ１２ 下位包含探索処理、Ｓ１３ グループ名変更処理、Ｓ１４ 最上位抽出処理、Ｓ１５ 最下位抽出処理、Ｓ２０ サブシステム分析処理、Ｓ２１ 関連分析処理、Ｓ２２ 関連性探索処理、Ｓ３０ 結果表示処理。

Claims (8)

1. 複数のサブシステムを有する組込みシステムに求められる複数の要求項目の要求項目間の関係を表し、かつ、前記複数の要求項目の各要求項目と前記複数のサブシステムの各サブシステムとの関係を表す項目関係情報を分析する要求分析装置において、
   前記項目関係情報に表された前記要求項目間の関係に基づいて、前記複数の要求項目をグループに分類する関係分析部と、
   前記要求項目間の関係と、前記複数の要求項目の各要求項目と前記複数のサブシステムの各サブシステムとの関係とに基づいて、前記複数の要求項目の各要求項目から関係を辿ることにより到達するサブシステムの数を抽出するサブシステム分析部と、
   前記複数の要求項目の要求項目ごとに、前記要求項目が分類されたグループを識別する識別子と前記要求項目から関係を辿ることにより到達するサブシステムの数とを設定した分析結果情報を表示する結果表示部と
   を備えた要求分析装置。
2. 前記関係分析部は、
   前記複数の要求項目の各要求項目から同一の関係で辿ることにより、前記複数の要求項目から抽出される要求項目を１つのグループとして分類する請求項１に記載の要求分析装置。
3. 前記関係分析部は、
   前記１つのグループにおける最上位の要求項目を最上位要求項目として抽出するとともに最下位の要求項目を最下位要求項目として抽出する請求項２に記載の要求分析装置。
4. 前記関係分析部は、
   前記複数の要求項目の要求項目ごとに、前記識別子として前記要求項目が分類されたグループの名称と、前記要求項目が分類されたグループにおいて前記要求項目が前記最上位要求項目あるいは前記最下位要求項目であるかを示す情報とを設定する請求項３に記載の要求分析装置。
5. 前記項目関係情報は、前記複数の要求項目の要求項目間の包含関係を表し、
   前記関係分析部は、
   前記複数の要求項目の各要求項目から包含関係を下位に向かって辿ることにより、前記複数の要求項目から抽出される要求項目を前記１つのグループとして分類する請求項２から４のいずれか１項に記載の要求分析装置。
6. 前記サブシステム分析部は、
   上下関係を持つ要求項目間の関係または上下関係を持つ各要求項目と各サブシステムとの関係を上位項目から下位項目の方向に辿ることにより到達するサブシステムの数を抽出する請求項５に記載の要求分析装置。
7. 複数のサブシステムを有する組込みシステムに求められる複数の要求項目の要求項目間の関係を表し、かつ、前記複数の要求項目の各要求項目と前記複数のサブシステムの各サブシステムとの関係を表す項目関係情報を分析する要求分析装置の要求分析方法において、
   関係分析部が、前記項目関係情報に表された前記要求項目間の関係に基づいて、前記複数の要求項目をグループに分類し、
   サブシステム分析部が、前記要求項目間の関係と、前記複数の要求項目の各要求項目と前記複数のサブシステムの各サブシステムとの関係とに基づいて、前記複数の要求項目の各要求項目から関係を辿ることにより到達するサブシステムの数を抽出し、
   結果表示部が、前記複数の要求項目の要求項目ごとに、前記要求項目が分類されたグループを識別する識別子と前記要求項目から関係を辿ることにより到達するサブシステムの数とを設定した分析結果情報を表示する要求分析方法。
8. 複数のサブシステムを有する組込みシステムに求められる複数の要求項目の要求項目間の関係を表し、かつ、前記複数の要求項目の各要求項目と前記複数のサブシステムの各サブシステムとの関係を表す項目関係情報を分析する要求分析装置のプログラムにおいて、
   前記項目関係情報に表された前記要求項目間の関係に基づいて、前記複数の要求項目をグループに分類する関係分析処理と、
   前記要求項目間の関係と、前記複数の要求項目の各要求項目と前記複数のサブシステムの各サブシステムとの関係とに基づいて、前記複数の要求項目の各要求項目から関係を辿ることにより到達するサブシステムの数を抽出するサブシステム分析処理と、
   前記複数の要求項目の要求項目ごとに、前記要求項目が分類されたグループを識別する識別子と前記要求項目から関係を辿ることにより到達するサブシステムの数とを設定した分析結果情報を表示する結果表示処理と
   をコンピュータである前記要求分析装置に実行させる要求分析プログラム。

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