JPWO2018110267A1 - Reflection / transmission characteristic measuring device - Google Patents

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Abstract

反射特性/透過特性に誤差が生じることを抑制し、反射/透過特性測定装置の構造が複雑になることを抑制し、反射/透過特性測定装置において制御が複雑になることを抑制する。反射/透過特性測定装置においては、反射光または透過光に応じた検出信号が積分され積分信号が出力される。白色校正が行われる場合に積分信号が第1の積分信号となっており測定が行われる場合に積分信号が第2の積分信号になっているとした場合に、(1)白色校正が行われるときに、少なくともひとつの発光時間に含まれる第1の発光時間だけ照明光が発光され、第1の積分信号が小さくなるほど補正後の少なくともひとつの発光時間が長くなる補正処理が少なくともひとつの発光時間に対して行われ、(2)測定が行われるときに、少なくともひとつの発光時間に含まれる第2の発光時間だけ照明光が発光される。It is possible to suppress the occurrence of errors in the reflection / transmission characteristics, suppress the complexity of the structure of the reflection / transmission characteristic measurement apparatus, and suppress the control from being complicated in the reflection / transmission characteristic measurement apparatus. In the reflection / transmission characteristic measuring apparatus, the detection signal corresponding to the reflected light or transmitted light is integrated and an integrated signal is output. (1) White calibration is performed when the integral signal is the first integral signal when white calibration is performed and the integral signal is the second integral signal when measurement is performed. Sometimes, at least one light emission time is corrected, in which illumination light is emitted only for a first light emission time included in at least one light emission time, and the corrected at least one light emission time becomes longer as the first integrated signal becomes smaller. (2) When measurement is performed, illumination light is emitted for a second light emission time included in at least one light emission time.

Description

本発明は、反射/透過特性測定装置に関する。   The present invention relates to a reflection / transmission characteristic measuring apparatus.

分光測色計は、試料の分光反射特性を測定する装置である。   The spectrocolorimeter is a device that measures the spectral reflection characteristics of a sample.

分光測色計は、試料に照明光を照射し、試料が照明光を反射することにより生じた反射光の分光特性等を測定する。   The spectrocolorimeter irradiates a sample with illumination light, and measures the spectral characteristics and the like of reflected light generated by the sample reflecting the illumination light.

分光測色計においては、例えば、発光回路が発光動作に必要な電力を光源に供給し、光源が照明光を発光する発光動作を行い、光検出器が反射光に応じた検出信号を出力し、積分回路が検出信号を積分し積分信号を出力し、演算処理部が出力された積分信号から分光測色の結果を演算する。   In a spectrocolorimeter, for example, a light-emitting circuit supplies power necessary for a light-emitting operation to a light source, the light source performs a light-emitting operation that emits illumination light, and a photodetector outputs a detection signal corresponding to reflected light. The integration circuit integrates the detection signal and outputs an integration signal, and the arithmetic processing unit calculates the result of spectral colorimetry from the output integration signal.

分光測色計に備えられる光源および分光測色計に備えられる発光回路が備える素子の特性は、環境に依存するとともに、時間が経過するにつれて変化する。このため、分光測色計の測定性能も、環境に依存するとともに、時間が経過するにつれて変化する。例えば、環境温度が変化した場合は、発光回路が供給する電力が変化し、光源が発光する照明光の光量が変化し、光検出器が受光する反射光の光量が変化し、分光測色計の測定性能が変化する。また、時間が経過するにつれて、光源が劣化し、光源が発光する光の光量が低下し、光検出器が受光する反射光の光量が低下し、分光測色計の測定性能が変化する。   The characteristics of the elements included in the light source provided in the spectrocolorimeter and the light emitting circuit provided in the spectrocolorimeter depend on the environment and change with time. For this reason, the measurement performance of the spectrocolorimeter also depends on the environment and changes with time. For example, when the environmental temperature changes, the power supplied by the light emitting circuit changes, the amount of illumination light emitted from the light source changes, the amount of reflected light received by the photodetector changes, and the spectrocolorimeter The measurement performance changes. Further, as time passes, the light source deteriorates, the amount of light emitted from the light source decreases, the amount of reflected light received by the photodetector decreases, and the measurement performance of the spectrocolorimeter changes.

分光測色計等の反射特性測定装置において、光源が発光する光の光量が変化した場合でも測定が精度よく行われるようにするための校正が行われる場合がある。特許文献1および2に記載された技術は、その一例である。   In a reflection characteristic measurement device such as a spectrocolorimeter, calibration may be performed so that measurement can be performed accurately even when the amount of light emitted from the light source changes. The techniques described in Patent Documents 1 and 2 are an example.

特許文献1に記載された技術においては、光源の明るさが明るさ検知センサーにより測定され、光源の明るさが正常でないと判断された場合に光源の明るさが正常な明るさに調整される(段落0027および0028)。特許文献1に記載された技術によれば、光源の明るさが正常値に保たれ、測定の信頼性が向上する(段落0030および0034)。   In the technique described in Patent Document 1, the brightness of a light source is measured by a brightness detection sensor, and when it is determined that the brightness of the light source is not normal, the brightness of the light source is adjusted to a normal brightness. (Paragraphs 0027 and 0028). According to the technique described in Patent Document 1, the brightness of the light source is maintained at a normal value, and the measurement reliability is improved (paragraphs 0030 and 0034).

特許文献2に記載された技術においては、ラインセンサーの視野内で測定の邪魔にならない位置でかつラインセンサーのピントがあう位置に白色校正板が配置され、色測定が行われる場合に白色校正板が撮像されランプの経時的なエネルギーの減衰量が演算され、減衰量だけ色測定データを補正するための補正値が求められ、色測定値に補正値が掛けられる(段落0008,0012および0035)。特許文献2に記載された技術によれば、安定した色測定値が得られる(段落0035)。   In the technique described in Patent Document 2, when a white calibration plate is arranged in a position that does not interfere with the measurement in the field of view of the line sensor and is in focus with the line sensor, and the color measurement is performed, the white calibration plate is used. Is taken and the amount of energy attenuation over time of the lamp is calculated, a correction value for correcting the color measurement data by the amount of attenuation is obtained, and the color measurement value is multiplied by the correction value (paragraphs 0008, 0012 and 0035). . According to the technique described in Patent Document 2, stable color measurement values can be obtained (paragraph 0035).

特開平7−55704号公報JP-A-7-55704 特開2001−99708号公報JP 2001-99708 A

特許文献1に記載された技術に代表される従来の技術においては、照明光の強度が変更されるため、照明光の強度の変更にともなって照明光の分光強度が変化し、測定される分光反射特性に誤差が生じる場合がある。例えば、特許文献1に記載された技術においては、光源の明るさが調整されるため、光源の明るさの調整にともなって投光される光の分光強度が変化し、鮮映性の数値の精度に誤差が生じる場合がある。   In the conventional technique represented by the technique described in Patent Document 1, the intensity of the illumination light is changed. Therefore, the spectral intensity of the illumination light changes with the change of the intensity of the illumination light, and is measured. An error may occur in the reflection characteristics. For example, in the technique described in Patent Document 1, since the brightness of the light source is adjusted, the spectral intensity of the projected light changes as the brightness of the light source is adjusted. There may be an error in accuracy.

特許文献1に記載された技術に代表される従来の技術においては、照明光の強度をモニターするための機構が必要になり、反射特性測定装置の構造が複雑になる等の問題が生じる。例えば、特許文献1に記載された技術においては、光源の明るさを測定する明るさ検知センサーが必要になり、塗装面性状測定装置の構造が複雑になる等の問題が生じる。   In the conventional technique represented by the technique described in Patent Document 1, a mechanism for monitoring the intensity of illumination light is required, and problems such as a complicated structure of the reflection characteristic measuring apparatus arise. For example, in the technique described in Patent Document 1, a brightness detection sensor for measuring the brightness of a light source is required, and problems such as a complicated structure of a painted surface property measuring apparatus arise.

特許文献2に記載された技術に代表される従来の技術においては、分光反射特性を補正するため、反射特性に補正誤差が生じる場合がある。例えば、特許文献2に記載された技術においては、色測定値に補正値が掛けられるため、色測定値に補正誤差が生じる場合がある。   In the conventional technique represented by the technique described in Patent Document 2, a correction error may occur in the reflection characteristic because the spectral reflection characteristic is corrected. For example, in the technique described in Patent Document 2, since a correction value is multiplied by a color measurement value, a correction error may occur in the color measurement value.

特許文献2に記載された技術に代表される従来の技術においては、分光反射特性を補正するため、反射/透過特性測定装置において制御が複雑になる等の問題が生じる。   In the conventional technique represented by the technique described in Patent Document 2, since the spectral reflection characteristics are corrected, problems such as complicated control occur in the reflection / transmission characteristic measurement apparatus.

これらの問題は、分光測色計以外の反射特性測定装置においても生じる。また、これらの問題は、透過特性測定装置においても生じる。   These problems also occur in reflection characteristic measurement devices other than the spectrocolorimeter. These problems also occur in the transmission characteristic measuring apparatus.

発明の詳細な説明に記載された発明は、これらの問題を解決することを目的とする。発明の詳細な説明に記載された発明が解決しようとする課題は、反射特性/透過特性に誤差が生じることを抑制し、反射/透過特性測定装置の構造が複雑になることを抑制し、反射/透過特性測定装置において制御が複雑になることを抑制することである。   The invention described in the detailed description of the invention aims to solve these problems. The problems to be solved by the invention described in the detailed description of the invention are to suppress the occurrence of errors in reflection characteristics / transmission characteristics, to suppress the complexity of the structure of the reflection / transmission characteristics measurement apparatus, and to reflect / To prevent the control from becoming complicated in the transmission characteristic measuring apparatus.

反射/透過特性測定装置は、光源、発光回路、光検出器、積分器、記憶部、制御部および演算処理部を備える。   The reflection / transmission characteristic measurement apparatus includes a light source, a light emitting circuit, a photodetector, an integrator, a storage unit, a control unit, and an arithmetic processing unit.

光源は、試料に照射される照明光を発光する。   The light source emits illumination light applied to the sample.

発光回路は、照明光を発光するのに要する電力を光源に供給する。   The light emitting circuit supplies power required for emitting illumination light to the light source.

光検出器は、反射光または透過光に応じた検出信号を出力する。反射光は、試料が照明光を反射することにより生じる。透過光は、試料が照明光を透過させることにより生じる。   The photodetector outputs a detection signal corresponding to the reflected light or transmitted light. The reflected light is generated when the sample reflects the illumination light. The transmitted light is generated when the sample transmits the illumination light.

積分器は、検出信号を積分し、積分信号を出力する。   The integrator integrates the detection signal and outputs an integration signal.

記憶部は、少なくともひとつの発光時間を記憶する。   The storage unit stores at least one light emission time.

制御部は、白色校正が行われる場合に積分信号が第1の積分信号となっており測定が行われる場合に積分信号が第2の積分信号になっているとした場合に、(1)白色校正が行われるときに、少なくともひとつの発光時間に含まれる第1の発光時間だけ光源が照明光を発光するように発光回路を制御し、第1の積分信号が小さくなるほど補正後の少なくともひとつの発光時間が長くなる補正処理を少なくともひとつの発光時間に対して行い、(2)測定が行われるときに、少なくともひとつの発光時間に含まれる第2の発光時間だけ光源が照明光を発光するように発光回路を制御する。   If the integrated signal is the first integrated signal when white calibration is performed and the integrated signal is the second integrated signal when measurement is performed, (1) white When calibration is performed, the light source circuit is controlled so that the light source emits illumination light for a first light emission time included in at least one light emission time. As the first integrated signal becomes smaller, at least one after correction is performed. A correction process for increasing the light emission time is performed on at least one light emission time. (2) When measurement is performed, the light source emits illumination light for a second light emission time included in at least one light emission time. The light emitting circuit is controlled.

演算処理部は、第2の積分信号から試料の反射/透過特性を演算する。   The arithmetic processing unit calculates the reflection / transmission characteristics of the sample from the second integration signal.

発明の詳細な説明に記載された発明によれば、反射特性/透過特性に誤差が生じることが抑制され、反射/透過特性測定装置の構造が複雑になることが抑制され、反射/透過特性測定装置において制御が複雑になることが抑制される。   According to the invention described in the detailed description of the invention, errors in the reflection / transmission characteristics are suppressed, and the structure of the reflection / transmission characteristic measuring apparatus is suppressed from being complicated, and reflection / transmission characteristic measurement is performed. It is possible to suppress the control from becoming complicated in the apparatus.

この発明の目的、特徴、局面、および利点は、以下の詳細な説明と添付図面とによって、より明白となる。   The objects, features, aspects and advantages of the present invention will become more apparent from the following detailed description and the accompanying drawings.

第1実施形態の分光測色計を図示するブロック図である。1 is a block diagram illustrating a spectrocolorimeter according to a first embodiment. 第1実施形態の分光測色計に記憶されるテーブルを示す図である。It is a figure which shows the table memorize | stored in the spectral colorimeter of 1st Embodiment. 第1実施形態の分光測色計における光源の発光光量の発光回路の温度による変化を図示するグラフである。It is a graph which illustrates the change by the temperature of the light emission circuit of the light emission amount of the light source in the spectrocolorimeter of 1st Embodiment. 第1実施形態の分光測色計において行われる白色校正の手順を図示するフローチャートである。It is a flowchart which illustrates the procedure of the white calibration performed in the spectrocolorimeter of 1st Embodiment. 第1実施形態の分光測色計において行われる測定の手順を図示するフローチャートである。It is a flowchart which illustrates the procedure of the measurement performed in the spectrocolorimeter of 1st Embodiment.

1 第1実施形態
1.1 分光測色計
図1は、第1実施形態の分光測色計を図示するブロック図である。
1 First Embodiment 1.1 Spectral Colorimeter FIG. 1 is a block diagram illustrating a spectral colorimeter according to a first embodiment.

図1に図示される分光測色計1000は、試料1020に照明光1040を照射し、試料1020が照明光1040を反射することにより生じる反射光1041を受光し、反射光1041の分光強度を得、分光強度から試料1020の測色値を得る。測色値に代えてまたは測色値に加えて、測色値以外の反射特性が得られてもよい。例えば、分光反射率が得られてもよい。反射光1041に代えて、試料1020が照明光1040を透過させることにより生じる透過光が受光されてもよい。反射光1041に代えて透過光が受光される場合は、反射特性を得る反射特性測定装置である分光測色計1000が、透過特性を得る透過特性測定装置になる。分光測色方式の反射特性測定装置である分光測色計1000が、刺激値直読方式の反射特性測定装置である色彩計に置き換えられてもよい。   The spectrocolorimeter 1000 illustrated in FIG. 1 irradiates the sample 1020 with the illumination light 1040, receives the reflected light 1041 generated when the sample 1020 reflects the illumination light 1040, and obtains the spectral intensity of the reflected light 1041. The colorimetric value of the sample 1020 is obtained from the spectral intensity. Reflective characteristics other than the colorimetric values may be obtained instead of or in addition to the colorimetric values. For example, spectral reflectance may be obtained. Instead of the reflected light 1041, transmitted light generated when the sample 1020 transmits the illumination light 1040 may be received. When transmitted light is received instead of the reflected light 1041, the spectrocolorimeter 1000, which is a reflection characteristic measurement device that obtains reflection characteristics, becomes a transmission characteristic measurement device that obtains transmission characteristics. The spectrocolorimeter 1000 that is a spectrocolorimetric reflection characteristic measurement apparatus may be replaced with a colorimeter that is a stimulus value direct reading reflection characteristic measurement apparatus.

分光測色計1000は、光源1060、発光回路1061、光検出器1062、積分器1063、A/D変換器1064、制御演算部1065、記憶部1066、温度検出器1067および表示部1068を備える。光検出器1062は、受光素子1080を備える。積分器1063は、積分回路1100を備える。制御演算部1065は、制御部1120および演算部1121を備える。分光測色計1000がこれらの構成物以外の構成物を備えてもよい。   The spectrocolorimeter 1000 includes a light source 1060, a light emission circuit 1061, a photodetector 1062, an integrator 1063, an A / D converter 1064, a control calculation unit 1065, a storage unit 1066, a temperature detector 1067, and a display unit 1068. The photodetector 1062 includes a light receiving element 1080. The integrator 1063 includes an integration circuit 1100. The control calculation unit 1065 includes a control unit 1120 and a calculation unit 1121. The spectrocolorimeter 1000 may include components other than these components.

光源1060は、キセノンフラッシュランプ、発光ダイオード(LED)等であり、照明光1040を発光する。   The light source 1060 is a xenon flash lamp, a light emitting diode (LED), or the like, and emits illumination light 1040.

発光回路1061は、照明光1040を発光するのに要する電力を光源1060に供給する。   The light emitting circuit 1061 supplies power necessary for emitting the illumination light 1040 to the light source 1060.

光検出器1062は、反射光1041に応じた検出信号1140を出力する。受光素子1080は、フォトセンサーとも呼ばれ、反射光1041を受光し、反射光1041に応じた電流を出力する。検出信号1140は、受光素子1080が出力する電流である。反射光1041に代えて透過光が受光される場合は、光検出器1062は透過光に応じた検出信号を出力する。   The photodetector 1062 outputs a detection signal 1140 corresponding to the reflected light 1041. The light receiving element 1080 is also called a photosensor, receives the reflected light 1041, and outputs a current corresponding to the reflected light 1041. The detection signal 1140 is a current output from the light receiving element 1080. When transmitted light is received instead of the reflected light 1041, the photodetector 1062 outputs a detection signal corresponding to the transmitted light.

積分回路1100は、検出信号1140を積分し、積分信号1160を出力する。積分信号1160は、受光素子1080が出力した電流を電圧に変換したものである。   The integration circuit 1100 integrates the detection signal 1140 and outputs an integration signal 1160. The integration signal 1160 is obtained by converting the current output from the light receiving element 1080 into a voltage.

A/D変換器1064は、アナログ電気信号である積分信号1160をデジタル電気信号である積分信号1180に変換する。   The A / D converter 1064 converts the integration signal 1160 that is an analog electrical signal into an integration signal 1180 that is a digital electrical signal.

制御演算部1065は、組み込みコンピューターであり、インストールされたファームウェアにしたがって動作する。制御演算部1065の機能の一部がソフトウェアを実行しないハードウェアに担われてもよい。制御部1120は、発光回路1061を制御する。演算部1121は、積分信号1180から試料1020の測色値を演算する。したがって、A/D変換器1064および演算部1121は、積分信号1160から試料1020の測色値を演算する演算処理部1190を構成する。   The control operation unit 1065 is an embedded computer and operates according to installed firmware. A part of the function of the control arithmetic unit 1065 may be carried by hardware that does not execute software. The control unit 1120 controls the light emitting circuit 1061. The calculation unit 1121 calculates the colorimetric value of the sample 1020 from the integrated signal 1180. Therefore, the A / D converter 1064 and the calculation unit 1121 constitute a calculation processing unit 1190 that calculates the colorimetric value of the sample 1020 from the integrated signal 1160.

記憶部1066は、制御演算部1065から出力された情報を記憶し、後述するテーブル、測定回数および補正回数を記憶する。測定回数は、後述する測定が行われた回数である。補正回数は、後述する補正処理が行われた回数である。   The storage unit 1066 stores information output from the control calculation unit 1065, and stores a table, a measurement count, and a correction count described later. The number of times of measurement is the number of times a measurement described later has been performed. The number of corrections is the number of times correction processing described later has been performed.

温度検出器1067は、発光回路1061の温度を検出する。発光回路1061の温度以外の分光測色計1000の内部の温度が検知されてもよい。   The temperature detector 1067 detects the temperature of the light emitting circuit 1061. The temperature inside the spectrocolorimeter 1000 other than the temperature of the light emitting circuit 1061 may be detected.

表示部1068は、制御演算部1065から出力された情報を表示する。   The display unit 1068 displays information output from the control calculation unit 1065.

1.2 テーブル
図2は、第1実施形態の分光測色計に記憶されるテーブルを示す図である。
1.2 Table FIG. 2 is a diagram showing a table stored in the spectrocolorimeter of the first embodiment.

図2に図示されるテーブル1200は、記憶部1066に記憶され、発光回路1061の温度と光源1060の発光時間との関係を定義する関係テーブルであり、5個の発光時間である「85μsec」「80μsec」「75μsec」「65μsec」および「60μsec」を含み、5個の温度である「10℃以下」「10−15℃」「15−20℃」「20−35℃」および「35℃以上」を含む。「10℃以下」「10−15℃」「15−20℃」「20−35℃」および「35℃以上」は、「85μsec」「80μsec」「75μsec」「65μsec」および「60μsec」にそれぞれ対応する。テーブル1200が、4個以下または6個以上の発光時間を含み4個以下または6個以上の発光時間にそれぞれ対応する4個以下または6個以上の温度を含むテーブルに置き換えられてもよい。テーブル1200は、温度が低くなるほど発光時間が長くなるように定義されている。   A table 1200 illustrated in FIG. 2 is a relationship table that is stored in the storage unit 1066 and defines the relationship between the temperature of the light emitting circuit 1061 and the light emission time of the light source 1060. The five light emission times “85 μsec” and “ Including 80 μsec, “75 μsec”, “65 μsec”, and “60 μsec”, the five temperatures are “10 ° C. or lower”, “10-15 ° C.”, “15-20 ° C.”, “20-35 ° C.”, and “35 ° C. or higher”. including. “10 ° C. or less”, “10-15 ° C.”, “15-20 ° C.”, “20-35 ° C.” and “35 ° C. or more” correspond to “85 μsec”, “80 μsec”, “75 μsec”, “65 μsec” and “60 μsec”, respectively. To do. The table 1200 may be replaced with a table including 4 or less or 6 or more temperatures corresponding to 4 or less or 6 or more emission times each including 4 or less or 6 or more emission times. The table 1200 is defined such that the light emission time increases as the temperature decreases.

テーブル1200に代えて任意の温度に対応する1個の発光時間が記憶部1066に記憶されてもよい。   Instead of the table 1200, one light emission time corresponding to an arbitrary temperature may be stored in the storage unit 1066.

1.3 発光光量の温度依存性
図3は、光源がキセノン管である場合の光源の発光光量の発光回路の温度による変化を図示するグラフである。
1.3 Temperature Dependence of Light Emission Rate FIG. 3 is a graph illustrating changes in the light emission amount of a light source according to the temperature of the light emission circuit when the light source is a xenon tube.

図3に図示されるように、光源1060の発光光量は、発光回路1061の温度が低下するにつれて低下する。発光回路1061の温度が低下するにつれて光源1060の発光光量が低下するのは、発光回路1061に備えられるコンデンサーの温度が低下するにつれて当該コンデンサーのtanδが増加することで、コンデンサー内部における損失が増加するためである。温度が5℃だけ変化した場合の発光光量の変化は、25℃における発光光量の10%以上になる場合があり、低温側において特に大きくなる。   As illustrated in FIG. 3, the amount of light emitted from the light source 1060 decreases as the temperature of the light emitting circuit 1061 decreases. The amount of light emitted from the light source 1060 decreases as the temperature of the light emitting circuit 1061 decreases. The loss inside the capacitor increases because the tan δ of the capacitor increases as the temperature of the capacitor provided in the light emitting circuit 1061 decreases. Because. The change in the amount of emitted light when the temperature changes by 5 ° C. may be 10% or more of the amount of emitted light at 25 ° C., and becomes particularly large on the low temperature side.

このため、発光回路1061の温度が低くなるにつれて光源1060の発光時間が長くなるように定義されるテーブル1200を参照して発光回路1061の温度が低くなるほど光源1060の発光時間が長くなる補正処理が行われた場合は、光源1060の発光光量の低下が光源1060の発光時間の延長により補償され、積分信号1160の強度が維持され、S/N比の低下等の分光測色計1000の性能の低下が抑制される。   For this reason, referring to the table 1200 defined so that the light emission time of the light source 1060 becomes longer as the temperature of the light emission circuit 1061 becomes lower, a correction process in which the light emission time of the light source 1060 becomes longer as the temperature of the light emission circuit 1061 becomes lower. If performed, the decrease in the amount of light emitted from the light source 1060 is compensated by the extension of the light emission time of the light source 1060, the intensity of the integrated signal 1160 is maintained, and the performance of the spectrocolorimeter 1000 such as a decrease in the S / N ratio is improved. Reduction is suppressed.

1.4 白色校正の手順
図4は、第1実施形態の分光測色計において行われる白色校正の手順を図示するフローチャートである。
1.4 White Calibration Procedure FIG. 4 is a flowchart illustrating the white calibration procedure performed in the spectrocolorimeter of the first embodiment.

以下では、白色校正が行われる場合に、積分信号1160が第1の積分信号になっており、温度検出器1067により検出される温度が第1の温度になっているとする。   In the following, it is assumed that when white calibration is performed, the integration signal 1160 is the first integration signal, and the temperature detected by the temperature detector 1067 is the first temperature.

ステップS101においては、白色校正が開始される。   In step S101, white calibration is started.

ステップS101に続くステップS102においては、温度検出器1067が温度を検出する。   In step S102 following step S101, the temperature detector 1067 detects the temperature.

ステップS102に続くステップS103においては、制御部1120が、第1の発光時間を設定する。第1の発光時間の設定においては、テーブル1200が参照され、5個の温度である「10℃以下」「10−15℃」「15−20℃」「20−35℃」および「35℃以上」から第1の温度に一致する温度である第1の一致温度が選択され、5個の発光時間である「85μsec」「80μsec」「75μsec」「65μsec」および「60μsec」から第1の一致温度に対応する発光時間である第1の対応発光時間が選択され、第1の対応発光時間が第1の発光時間とされる。   In step S103 following step S102, the control unit 1120 sets the first light emission time. In setting the first light emission time, the table 1200 is referred to, and the five temperatures are “10 ° C. or lower”, “10-15 ° C.”, “15-20 ° C.”, “20-35 ° C.”, and “35 ° C. or higher”. The first coincidence temperature, which is the temperature that coincides with the first temperature, is selected, and the first coincidence temperature is selected from the five light emission times “85 μsec”, “80 μsec”, “75 μsec”, “65 μsec”, and “60 μsec”. The first corresponding light emission time which is the light emission time corresponding to is selected, and the first corresponding light emission time is set as the first light emission time.

任意の温度に対応する1個の発光時間が記憶部1066に記憶されている場合は、当該1個の発光時間が第1の発光時間とされる。   When one light emission time corresponding to an arbitrary temperature is stored in the storage unit 1066, the one light emission time is set as the first light emission time.

ステップS103に続くステップS104においては、分光測色計1000が測定動作を行う。測定動作においては、試料1020が、白色校正板になり、制御部1120が、第1の発光時間だけ光源1060が照明光1040を発光するように発光回路1061を制御する。テーブル1200は、温度が低くなるほど発光時間が長くなるように定義されているため、第1の発光時間は、第1の温度が低くなるほど長くなる。   In step S104 following step S103, the spectrocolorimeter 1000 performs a measurement operation. In the measurement operation, the sample 1020 becomes a white calibration plate, and the control unit 1120 controls the light emitting circuit 1061 so that the light source 1060 emits the illumination light 1040 for the first light emission time. Since the table 1200 is defined such that the light emission time becomes longer as the temperature becomes lower, the first light emission time becomes longer as the first temperature becomes lower.

ステップS104に続くステップS105においては、制御部1120が、第1の積分信号が許容範囲内にあるか否かを判定する。制御部1120は、ステップS105において第1の積分信号が許容範囲内にあると判定した場合は、ステップS105に続いてステップS106を実行する。制御部1120は、ステップS105において第1の積分信号が許容範囲内にないと判定した場合は、ステップS105に続いてステップS107からS113までを実行する。   In step S105 following step S104, the control unit 1120 determines whether or not the first integration signal is within an allowable range. When it is determined in step S105 that the first integrated signal is within the allowable range, the control unit 1120 executes step S106 following step S105. When determining in step S105 that the first integrated signal is not within the allowable range, the control unit 1120 executes steps S107 to S113 subsequent to step S105.

ステップS106においては、白色校正が完了する。   In step S106, white calibration is completed.

ステップS107においては、制御部1120が、測定回数が基準の測定回数であるN回より少ないか否かを判定する。制御部1120は、測定回数がN回より少ないと判定した場合は、ステップS107に続いてステップS108からS110までを実行する。制御部1120は、測定回数がN回以上であると判定した場合は、ステップS107に続いてステップS111からステップS113までを実行する。   In step S107, control unit 1120 determines whether or not the number of measurements is less than N, which is the reference number of measurements. When it is determined that the number of times of measurement is less than N times, the control unit 1120 executes steps S108 to S110 subsequent to step S107. When it is determined that the number of measurements is N or more, the control unit 1120 executes step S111 to step S113 following step S107.

測定回数がN回より少ない場合は、白色校正板からの反射光1041の強度が許容範囲内にない原因が光源1060の劣化ではなく光源1060の個体差にあると推定される。一方、測定回数がN回以上である場合は、白色校正板からの反射光1041の強度が許容範囲内にない原因が光源1060の個体差ではなく光源1060の劣化にあると推定される。したがって、ステップS107によれば、光源1060の個体差が存在すると推定される場合は、ステップS108からS110までにおいて光源1060の個体差が存在する場合に適した第1の補正処理が行われ、光源1060の劣化が存在すると推定される場合は、ステップS111からS113までにおいて光源1060の劣化が存在する場合に適した第2の補正処理が行われる。第1の補正処理および第2の補正処理は、互いに異なる。   When the number of measurements is less than N, it is estimated that the reason why the intensity of the reflected light 1041 from the white calibration plate is not within the allowable range is not the deterioration of the light source 1060 but the individual difference of the light sources 1060. On the other hand, when the number of times of measurement is N or more, it is estimated that the cause that the intensity of the reflected light 1041 from the white calibration plate is not within the allowable range is not the individual difference of the light sources 1060 but the deterioration of the light sources 1060. Therefore, according to step S107, when it is estimated that there is an individual difference of the light source 1060, the first correction process suitable for the case where there is an individual difference of the light source 1060 in steps S108 to S110 is performed. When it is estimated that 1060 degradation exists, the second correction process suitable for the case where the degradation of the light source 1060 exists in steps S111 to S113 is performed. The first correction process and the second correction process are different from each other.

ステップS108においては、制御部1120が、第1の積分信号が許容範囲の下限より小さいのかまたは許容範囲の上限より大きいのかを判定する。制御部1120は、ステップS108において第1の積分信号が許容範囲の下限より小さいと判定した場合は、ステップS108に続いてステップS109を実行する。制御部1120は、ステップS108において第1の積分信号が許容範囲の上限より大きいと判定した場合は、ステップS108に続いてステップS110を実行する。   In step S108, control unit 1120 determines whether the first integrated signal is smaller than the lower limit of the allowable range or larger than the upper limit of the allowable range. When determining in step S108 that the first integrated signal is smaller than the lower limit of the allowable range, the control unit 1120 executes step S109 following step S108. When determining in step S108 that the first integrated signal is larger than the upper limit of the allowable range, the control unit 1120 executes step S110 following step S108.

ステップS109においては、制御部1120が、テーブル1200を補正する。ステップS109におけるテーブル1200の補正においては、補正後の5個の発光時間が補正前の5個の発光時間よりそれぞれ長くなるようにテーブル1200に含まれる5個の発光時間の補正処理が行われる。例えば、5個の発光時間が一律に5μsecだけ延長される。5個の発光時間の補正量が互いに異なってもよい。   In step S109, the control unit 1120 corrects the table 1200. In the correction of the table 1200 in step S109, the five light emission times included in the table 1200 are corrected so that the five light emission times after correction are longer than the five light emission times before correction. For example, the five light emission times are uniformly extended by 5 μsec. The correction amounts of the five light emission times may be different from each other.

ステップS110においては、制御部1120が、テーブル1200を補正する。ステップS110におけるテーブル1200の補正においては、補正後の5個の発光時間が補正前の5個の発光時間よりそれぞれ短くなるようにテーブル1200に含まれる5個の発光時間の補正処理が行われる。   In step S110, the control unit 1120 corrects the table 1200. In the correction of the table 1200 in step S110, the five light emission times included in the table 1200 are corrected so that the five light emission times after correction are shorter than the five light emission times before correction.

ステップS109およびS110によれば、第1の積分信号が小さくなるほど補正後の5個の発光時間が長くなる補正処理が5個の発光時間に対して行われる。   According to steps S109 and S110, the correction processing in which the five light emission times after correction become longer as the first integrated signal becomes smaller is performed for the five light emission times.

ステップS109が実行された後は、再びステップS102が実行される。また、ステップS110が実行された後は、再びステップS102が実行される。これにより、第1の積分信号が許容範囲内にあるようになるまで第1の補正処理が繰り返される。   After step S109 is executed, step S102 is executed again. Moreover, after step S110 is performed, step S102 is performed again. Thus, the first correction process is repeated until the first integrated signal is within the allowable range.

ステップS111においては、制御部1120が、テーブル1200が補正済であるか否かを判定する。制御部1120は、ステップS111においてテーブル1200が補正済でないと判定した場合は、ステップS111に続いてステップS112を実行する。制御部1120は、ステップS111においてテーブル1200が補正済であると判定した場合は、ステップS111に続いてステップS113を実行する。   In step S111, control unit 1120 determines whether or not table 1200 has been corrected. If it is determined in step S111 that the table 1200 has not been corrected, the control unit 1120 executes step S112 following step S111. When it is determined in step S111 that the table 1200 has been corrected, the control unit 1120 executes step S113 following step S111.

ステップS112においては、制御部1120が、テーブル1200を補正する。ステップS112におけるテーブル1200の補正においては、補正後の5個の発光時間が補正前の5個の発光時間よりそれぞれ長くなるようにテーブル1200に含まれる5個の発光時間の補正処理が行われる。これにより、測定回数がN回より多くなっているにもかかわらずテーブル1200が補正されていない場合は、テーブル1200が補正される。   In step S112, the control unit 1120 corrects the table 1200. In the correction of the table 1200 in step S112, the five light emission times included in the table 1200 are corrected so that the five light emission times after correction are longer than the five light emission times before correction. Thus, when the table 1200 is not corrected even though the number of measurements is greater than N, the table 1200 is corrected.

ステップS113においては、制御部1120が、表示部1068にエラー表示を行わせる。エラー表示は、光源1060が劣化していることを示す警告表示である。これにより、測定回数がN回以上であり補正回数が1回以上であると判定されたときに、エラー表示が行われる。測定回数がN回以上であり補正回数が1回以上であると判定された場合は、光源1060の劣化が存在すると推定されるため、エラー表示は、光源1060の劣化が存在すると推定される場合に行われる。1回という基準の回数が他の基準の回数に置き換えられてもよい。   In step S113, control unit 1120 causes display unit 1068 to display an error. The error display is a warning display indicating that the light source 1060 has deteriorated. Thereby, when it is determined that the number of measurements is N or more and the number of corrections is 1 or more, an error display is performed. When it is determined that the number of measurements is N or more and the number of corrections is one or more, it is estimated that the light source 1060 is deteriorated. Therefore, the error display is estimated that the light source 1060 is deteriorated. To be done. The standard number of times of one time may be replaced with the number of times of another standard.

ステップS112が実行された後は、再びステップS102が実行される。   After step S112 is executed, step S102 is executed again.

1.5 測定の手順
図5は、第1実施形態の分光測色計において行われる測定の手順を図示するフローチャートである。
1.5 Measurement Procedure FIG. 5 is a flowchart illustrating a measurement procedure performed in the spectrocolorimeter of the first embodiment.

以下では、測定が行われる場合に、積分信号1160が第2の積分信号になっており、温度検出器1067により検出される温度が第2の温度になっているとする。   Hereinafter, it is assumed that when measurement is performed, the integration signal 1160 is the second integration signal, and the temperature detected by the temperature detector 1067 is the second temperature.

ステップS121においては、測色が開始される。   In step S121, color measurement is started.

ステップS121に続くステップS122においては、温度検出器1067が温度を検出する。   In step S122 following step S121, the temperature detector 1067 detects the temperature.

ステップS122に続くステップS123においては、制御部1120が、第2の発光時間を設定する。第2の発光時間の設定においては、テーブル1200が参照され、5個の温度である「10℃以下」「10−15℃」「15−20℃」「20−35℃」および「35℃以上」から第2の温度に一致する温度である第2の一致温度が選択され、5個の発光時間である「85μsec」「80μsec」「75μsec」「65μsec」および「60μsec」から第2の一致温度に対応する発光時間である第2の対応発光時間が選択され、第2の対応発光時間が第2の発光時間とされる。   In step S123 following step S122, control unit 1120 sets a second light emission time. In setting the second light emission time, the table 1200 is referred to, and the five temperatures are “10 ° C. or lower”, “10-15 ° C.”, “15-20 ° C.”, “20-35 ° C.” and “35 ° C. or higher”. The second coincidence temperature, which is the temperature that coincides with the second temperature, is selected from “85 μsec”, “80 μsec”, “75 μsec”, “65 μsec”, and “60 μsec”, which are the five light emission times. The second corresponding light emission time which is the light emission time corresponding to is selected, and the second corresponding light emission time is set as the second light emission time.

ステップS123に続くステップS124においては、分光測色計1000が測色動作を行う。測色動作においては、制御部1120が、第2の発光時間だけ光源1060が照明光1040を発光するように発光回路1061を制御する。テーブル1200は、温度が低くなるほど発光時間が長くなるように定義されているため、第2の発光時間は、第2の温度が低くなるほど長くなる。   In step S124 following step S123, the spectrocolorimeter 1000 performs a colorimetric operation. In the color measurement operation, the control unit 1120 controls the light emitting circuit 1061 so that the light source 1060 emits the illumination light 1040 for the second light emission time. Since the table 1200 is defined such that the light emission time becomes longer as the temperature becomes lower, the second light emission time becomes longer as the second temperature becomes lower.

ステップS124に続くステップS125においては、制御部1120が、第2の積分信号が飽和しているか否かを判定する。制御部1120は、ステップS125において第2の積分信号が飽和していないと判定した場合は、ステップS126を実行する。制御部1120は、ステップS126において第2の積分信号が飽和していると判定した場合は、ステップS127を実行する。   In step S125 following step S124, control unit 1120 determines whether or not the second integration signal is saturated. When it is determined in step S125 that the second integrated signal is not saturated, the control unit 1120 executes step S126. When it is determined in step S126 that the second integrated signal is saturated, control unit 1120 executes step S127.

ステップS126においては、演算処理部1190が、第2の積分信号から測色値を演算し、測色が完了する。   In step S126, the arithmetic processing unit 1190 calculates a colorimetric value from the second integrated signal, and the colorimetry is completed.

ステップS127においては、制御部1120が、表示部1068にエラー表示を行わせる。エラー表示は、校正を促す警告表示である。   In step S127, the control unit 1120 causes the display unit 1068 to display an error. The error display is a warning display prompting calibration.

第1実施形態の分光測色計1000によれば、照明光1040の強度が変更されず、光源1060の測色値に補正が行われないため、測色値に誤差が生じることが抑制され、分光測色計1000において制御が複雑になることが抑制される。また、照明光1040の強度をモニターするための機構が不要であるため、分光測色計1000の構造が複雑になることが抑制される。   According to the spectrocolorimeter 1000 of the first embodiment, since the intensity of the illumination light 1040 is not changed and the colorimetric value of the light source 1060 is not corrected, the occurrence of an error in the colorimetric value is suppressed, In the spectrocolorimeter 1000, the control is prevented from becoming complicated. Further, since a mechanism for monitoring the intensity of the illumination light 1040 is not required, the structure of the spectrocolorimeter 1000 is suppressed from becoming complicated.

この発明は詳細に説明されたが、上記した説明は、すべての局面において、例示であって、この発明がそれに限定されるものではない。例示されていない無数の変形例が、この発明の範囲から外れることなく想定され得るものと解される。   Although the present invention has been described in detail, the above description is illustrative in all aspects, and the present invention is not limited thereto. It is understood that countless variations that are not illustrated can be envisaged without departing from the scope of the present invention.

本発明に係る反射/透過特性測定装置は、反射/透過特性を測定する測定分野において利用可能性がある。   The reflection / transmission characteristic measurement apparatus according to the present invention can be used in the measurement field for measuring reflection / transmission characteristics.

1000 分光測色計
1060 光源
1061 発光回路
1062 光検出器
1063 積分器
1064 A/D変換器
1065 制御演算部
1066 記憶部
1067 温度検出器
1068 表示部
1190 演算処理部
1000 spectrophotometer 1060 light source 1061 light emission circuit 1062 photodetector 1063 integrator 1064 A / D converter 1065 control calculation unit 1066 storage unit 1067 temperature detector 1068 display unit 1190 calculation processing unit

Claims (4)

試料に照射される照明光を発光する光源と、
前記照明光を発光するのに要する電力を前記光源に供給する発光回路と、
前記試料が前記照明光を反射することにより生じる反射光または前記試料が前記照明光を透過させることにより生じる透過光に応じた検出信号を出力する光検出器と、
前記検出信号を積分し積分信号を出力する積分器と、
少なくともひとつの発光時間を記憶する記憶部と、
白色校正が行われる場合に前記積分信号が第1の積分信号となっており測定が行われる場合に前記積分信号が第2の積分信号になっているとした場合に、(1)前記白色校正が行われるときに、前記少なくともひとつの発光時間に含まれる第1の発光時間だけ前記光源が前記照明光を発光するように前記発光回路を制御し、前記第1の積分信号が小さくなるほど補正後の少なくともひとつの発光時間が長くなる補正処理を前記少なくともひとつの発光時間に対して行い、(2)前記測定が行われるときに、前記少なくともひとつの発光時間に含まれる第2の発光時間だけ前記光源が前記照明光を発光するように前記発光回路を制御する制御部と、
前記第2の積分信号から前記試料の反射/透過特性を演算する演算処理部と、
を備える反射/透過特性測定装置。
A light source that emits illumination light applied to the sample;
A light-emitting circuit that supplies the light source with the power required to emit the illumination light;
A photodetector that outputs a detection signal corresponding to reflected light generated when the sample reflects the illumination light or transmitted light generated when the sample transmits the illumination light;
An integrator that integrates the detection signal and outputs an integration signal;
A storage unit for storing at least one emission time;
When the white calibration is performed, the integration signal is the first integration signal, and when the measurement is performed, the integration signal is the second integration signal. Is performed, the light source is controlled so that the light source emits the illumination light only for a first light emission time included in the at least one light emission time, and the corrected after the first integrated signal becomes smaller Correction processing for increasing at least one light emission time is performed on the at least one light emission time. (2) When the measurement is performed, the correction process is performed for the second light emission time included in the at least one light emission time. A control unit that controls the light emitting circuit so that a light source emits the illumination light;
An arithmetic processing unit that calculates reflection / transmission characteristics of the sample from the second integration signal;
A reflection / transmission characteristic measurement apparatus comprising:
前記反射/透過特性測定装置の内部の温度を検出する温度検出器
をさらに備え、
前記少なくともひとつの発光時間が複数の発光時間であり、
前記記憶部は、前記複数の発光時間にそれぞれ対応する複数の温度をさらに記憶し、
前記制御部は、前記白色校正が行われる場合に前記温度検出器により検出される内部の温度が第1の温度となっており前記測定が行われる場合に前記温度検出器により検出される内部の温度が第2の温度になっているとした場合に、(1)前記白色校正が行われるときに、前記複数の温度から前記第1の温度に一致する温度である第1の一致温度を選択し、前記複数の発光時間から前記第1の一致温度に対応する発光時間である第1の対応発光時間を選択し、前記第1の対応発光時間を前記第1の発光時間とし、(2)前記測定が行われるときに、前記複数の温度から前記第2の温度に一致する温度である第2の一致温度を選択し、前記複数の発光時間から前記第2の一致温度に対応する発光時間である第2の対応発光時間を選択し、前記第2の対応発光時間を前記第2の発光時間とする
請求項1に記載の反射/透過特性測定装置。
A temperature detector for detecting a temperature inside the reflection / transmission characteristic measuring device;
The at least one light emission time is a plurality of light emission times;
The storage unit further stores a plurality of temperatures respectively corresponding to the plurality of light emission times,
When the white calibration is performed, the control unit detects the internal temperature detected by the temperature detector as a first temperature, and the internal temperature detected by the temperature detector when the measurement is performed. When it is assumed that the temperature is the second temperature, (1) when the white calibration is performed, a first matching temperature that is a temperature matching the first temperature is selected from the plurality of temperatures. Then, a first corresponding light emission time that is a light emission time corresponding to the first coincidence temperature is selected from the plurality of light emission times, and the first corresponding light emission time is set as the first light emission time, (2) When the measurement is performed, a second coincidence temperature that is a temperature that coincides with the second temperature is selected from the plurality of temperatures, and a light emission time corresponding to the second coincidence temperature is selected from the plurality of light emission times. Select a second corresponding light emission time which is Reflection / transmission characteristic measuring apparatus according to claim 1, the corresponding light emission time and the second light emission time.
前記補正処理は、第1の補正処理であり、
前記記憶部は、前記測定が行われた回数である測定回数をさらに記憶し、
前記制御部は、前記白色校正が行われる場合に、前記第1の積分信号が許容範囲内になく前記測定回数が基準の測定回数より少ないと判定したときに前記第1の補正処理を行い、前記第1の積分信号が前記許容範囲内になく前記測定回数が前記基準の測定回数以上であると判定したときに前記第1の補正処理と異なる第2の補正処理を行う
請求項1または2に記載の反射/透過特性測定装置。
The correction process is a first correction process,
The storage unit further stores the number of measurements that is the number of times the measurement has been performed,
When the white calibration is performed, the control unit performs the first correction process when it is determined that the first integral signal is not within an allowable range and the number of measurements is less than a reference number of measurements, 3. A second correction process different from the first correction process is performed when it is determined that the first integration signal is not within the allowable range and the measurement count is equal to or greater than the reference measurement count. The reflection / transmission characteristic measuring apparatus according to 1.
表示部
をさらに備え、
前記記憶部は、前記測定が行われた回数である測定回数および前記補正処理が行われた回数である補正回数をさらに記憶し、
前記制御部は、前記白色校正が行われる場合に、前記測定回数が基準の測定回数以上であり前記補正回数が基準の補正回数以上であると判定したときに前記表示部にエラー表示を行わせる
請求項1から3までのいずれか一項に記載の反射/透過特性測定装置。
A display unit;
The storage unit further stores a measurement count that is the number of times the measurement has been performed and a correction count that is the number of times that the correction processing has been performed,
When the white calibration is performed, the control unit causes the display unit to display an error when it is determined that the measurement count is equal to or greater than a reference measurement count and the correction count is equal to or greater than a reference correction count. The reflection / transmission characteristic measuring apparatus according to any one of claims 1 to 3.
JP2018556540A 2016-12-12 2017-11-28 Reflection / transmission characteristic measuring device Active JP7052729B2 (en)

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