JPWO2017141933A1 - Polymer compound, composition and organic thin film transistor - Google Patents

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Abstract

キャリア移動度がより高い有機薄膜トランジスタ。ブロック化イソシアナト基及びブロック化イソチオシアナト基を含む群から選ばれる少なくとも1種の基を有する繰り返し単位と、ヒドロキシ基を有する繰り返し単位、カルボキシ基を有する繰り返し単位並びにヒドロキシ基及びカルボキシ基を有する繰り返し単位を含む群から選ばれる少なくとも1種の繰り返し単位と、式(1)で表される繰り返し単位とを含む高分子化合物。【化1】(式(1)中、R1、R2、R3は水素原子、フッ素原子、炭素原子数1〜20の1価の有機基を表す。R4は水素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子、炭素原子数1〜20の1価の有機基を表す。Rfはフッ素原子、フッ素原子を含む1価の有機基を表す。Raは炭素原子数1〜20の2価の有機基、−O−、−CO−、−COO−、−NHCO−、−NHCOO−を表す。m1は0〜6の整数を表す。n1は1〜5の整数を表す。)Organic thin film transistor with higher carrier mobility. A repeating unit having at least one group selected from the group comprising a blocked isocyanato group and a blocked isothiocyanato group, a repeating unit having a hydroxy group, a repeating unit having a carboxy group, and a repeating unit having a hydroxy group and a carboxy group A polymer compound comprising at least one repeating unit selected from the group comprising, and a repeating unit represented by the formula (1). (In the formula (1), R1, R2, and R3 each represent a hydrogen atom, a fluorine atom, or a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms, and R4 represents a hydrogen atom, a chlorine atom, a bromine atom, or iodine. An atom and a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms, Rf represents a fluorine atom and a monovalent organic group containing a fluorine atom, Ra represents a divalent organic group having 1 to 20 carbon atoms,- O-, -CO-, -COO-, -NHCO-, -NHCOO- are represented, m1 represents an integer of 0 to 6, and n1 represents an integer of 1 to 5.)

Description

本発明は、高分子化合物、該高分子化合物を含む組成物に関し、特に有機薄膜トランジスタの絶縁層用組成物、及びこの組成物を材料として用いるゲート絶縁層を含む有機薄膜トランジスタに関する。   The present invention relates to a polymer compound and a composition containing the polymer compound, and more particularly to a composition for an insulating layer of an organic thin film transistor and an organic thin film transistor including a gate insulating layer using the composition as a material.

有機材料を用いる有機薄膜電界効果トランジスタ(有機薄膜トランジスタ)は、無機材料を用いる無機電界効果トランジスタと比較して、より低温の製造プロセスで製造することができる。よって、有機薄膜トランジスタにおいては、基板としてプラスチック基板、プラスチックフィルムを用いることができ、結果として、より軽量で壊れにくいトランジスタを製造することができる。   An organic thin film field effect transistor (organic thin film transistor) using an organic material can be manufactured by a lower temperature manufacturing process than an inorganic field effect transistor using an inorganic material. Therefore, in an organic thin film transistor, a plastic substrate or a plastic film can be used as a substrate, and as a result, a lighter and less fragile transistor can be manufactured.

また、有機薄膜トランジスタは、有機材料を含む液(溶液、分散液)の塗布や印刷により製造が可能な場合があり、この場合には大面積の有機薄膜トランジスタアレイを低コストで製造することが可能である。   An organic thin film transistor may be manufactured by applying or printing a liquid (solution, dispersion) containing an organic material. In this case, a large area organic thin film transistor array can be manufactured at low cost. is there.

さらに、有機薄膜トランジスタに用いることができる材料は、その種類が豊富である。よって、分子構造の異なる種々の材料から適宜選択して用いることにより、有機薄膜トランジスタの特性を根本的に変化させることが可能である。そのため、異なる機能を有する材料を適宜組み合わせることで、無機材料を用いる電界効果トランジスタでは不可能なほど多種多様な機能を有する有機薄膜トランジスタを備える電子デバイスを実現することも可能である。   Furthermore, there are a wide variety of materials that can be used for the organic thin film transistor. Therefore, the characteristics of the organic thin film transistor can be fundamentally changed by appropriately selecting and using various materials having different molecular structures. Therefore, by appropriately combining materials having different functions, it is also possible to realize an electronic device including organic thin film transistors having various functions that are impossible with a field effect transistor using an inorganic material.

電界効果トランジスタでは、ゲート電極に印加される電圧(ゲート電圧)がゲート絶縁層を介して半導体層に作用して、ドレイン電流のオン、オフを制御する。そのため、有機薄膜トランジスタに用いられるゲート絶縁層の材料には、薄膜にしたときに高い絶縁破壊強度が要求される。   In a field effect transistor, a voltage (gate voltage) applied to a gate electrode acts on a semiconductor layer through a gate insulating layer to control on / off of a drain current. Therefore, the material of the gate insulating layer used for the organic thin film transistor is required to have a high dielectric breakdown strength when it is formed into a thin film.

また、特にボトムゲート型の有機薄膜トランジスタでは有機半導体層がゲート絶縁層に重なるように設けられるため、ゲート絶縁層の材料には、有機半導体層と良好な界面を形成させるために有機半導体層との高い親和性が要求される。   In particular, in the case of a bottom gate type organic thin film transistor, the organic semiconductor layer is provided so as to overlap the gate insulating layer. Therefore, the material of the gate insulating layer is different from the organic semiconductor layer in order to form a good interface with the organic semiconductor layer. High affinity is required.

これまで、有機薄膜トランジスタに用いられるゲート絶縁層の材料については、種々の材料について検討が行われてきた。   Until now, various materials have been studied for the material of the gate insulating layer used in the organic thin film transistor.

例えば、下記特許文献1には、有機薄膜トランジスタにおけるゲート絶縁層の材料としてフッ素原子を含有する熱硬化性樹脂組成物が記載されている。下記特許文献1には、この材料を用いて形成されたゲート絶縁層を備える有機薄膜トランジスタでは、ヒステリシスが小さく、電気的特性が安定していることが示されている。   For example, Patent Document 1 below describes a thermosetting resin composition containing fluorine atoms as a material for a gate insulating layer in an organic thin film transistor. Patent Document 1 below shows that an organic thin film transistor including a gate insulating layer formed using this material has low hysteresis and stable electrical characteristics.

特許第5479817号Patent No. 5479817

しかしながら、有機薄膜トランジスタを、例えば有機エレクトロルミネッセンス素子(有機EL素子)のような発光素子を駆動する駆動素子として用いることなどを考慮すると、有機薄膜トランジスタのキャリア移動度をより向上させる必要がある。   However, considering that the organic thin film transistor is used as a driving element for driving a light emitting element such as an organic electroluminescence element (organic EL element), it is necessary to further improve the carrier mobility of the organic thin film transistor.

したがって、本発明の目的は、キャリア移動度がより高い有機薄膜トランジスタを提供することにある。   Accordingly, an object of the present invention is to provide an organic thin film transistor having higher carrier mobility.

すなわち、本発明は下記[1]〜[10]を提供する。
[1] ブロック化イソシアナト基及びブロック化イソチオシアナト基を含む群から選ばれる少なくとも1種の基を有する繰り返し単位と、
ヒドロキシ基を有する繰り返し単位、カルボキシ基を有する繰り返し単位並びにヒドロキシ基及びカルボキシ基を有する繰り返し単位を含む群から選ばれる少なくとも1種の繰り返し単位と、
下記式(1)で表される繰り返し単位と
を含む高分子化合物。

Figure 2017141933
(式(1)中、
、R、Rは、互いに異なっていてもよく、水素原子、フッ素原子、又は炭素原子数1〜20の1価の有機基を表す。
は、水素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子又は炭素原子数1〜20の1価の有機基を表す。
Rfは、フッ素原子、又はフッ素原子を含む1価の有機基を表す。
は、炭素原子数1〜20の2価の有機基、−O−で表される基、−CO−で表される基、−COO−で表される基、−NHCO−で表される基、又は−NHCOO−で表される基を表し、前記−O−で表される基、前記−CO−で表される基、前記−COO−で表される基、前記−NHCO−で表される基、及び前記−NHCOO−で表される基の結合手は、前記式(1)中の前記Rが結合する炭素原子側に位置していても、前記式(1)中のベンゼン環を構成する炭素原子側に位置していてもよく、前記2価の有機基中の水素原子は、フッ素原子で置換されていてもよい。
m1は、0〜6の整数を表す。
n1は、1〜5の整数を表す。
が複数個ある場合、それらは互いに異なっていてもよい。Rが複数個ある場合、それらは互いに異なっていてもよい。Rfが複数個ある場合、それらは互いに異なっていてもよい。)
[2] 前記ヒドロキシ基を有する繰り返し単位及びカルボキシ基を有する繰り返し単位が、下記式(2)で表される繰り返し単位である、[1]に記載の高分子化合物。
Figure 2017141933
(式(2)中、
、R、Rは、互いに異なっていてもよく、水素原子、フッ素原子、又は炭素原子数1〜20の1価の有機基を表す。Rは、炭素原子数1〜20の2価の有機基、−O−で表される基、−CO−で表される基、−COO−で表される基、−NHCO−で表される基、又は−NHCOO−で表される基を表し、前記−O−で表される基、前記−CO−で表される基、前記−COO−で表される基、前記−NHCO−で表される基、及び前記−NHCOO−で表される基の結合手は、前記式(2)中の前記Rが結合する炭素原子側に位置していても、前記式(2)中のX側に位置していてもよい。前記2価の有機基中の水素原子は、フッ素原子で置換されていてもよい。
m2は、0〜6の整数を表す。
は、ヒドロキシ基又はカルボキシ基を表す。)
[3] 前記ブロック化イソシアナト基又はブロック化イソチオシアナト基が、下記式(3)で表される基又は下記式(4)で表される基である、[1]又は[2]に記載の高分子化合物。
Figure 2017141933
(式(3)及び(4)中、
は、酸素原子又は硫黄原子を表す。
〜R12は、互いに異なっていてもよく、水素原子又は炭素原子数1〜20の1価の有機基を表す。)
[4] [1]〜[3]のいずれか一つに記載の高分子化合物を含む組成物。
[5] [1]〜[3]のいずれか一つに記載の高分子化合物及び有機溶媒のみからなる、[4]に記載の組成物。
[6] [4]又は[5]に記載の組成物からなる有機薄膜トランジスタの絶縁層用組成物。
[7] [4]〜[6]のいずれか一つに記載の組成物を硬化した膜。
[8] [7]に記載の膜をゲート絶縁層として含む、有機薄膜トランジスタ。
[9] [7]に記載の膜をオーバーコート層としてさらに含む、[8]に記載の有機薄膜トランジスタ。
[10] [4]〜[6]のいずれか一つに記載の組成物を、基材の表面に塗布して塗布層を形成する工程と、
前記塗布層を硬化する工程と
を含む、有機薄膜トランジスタの製造方法。That is, the present invention provides the following [1] to [10].
[1] A repeating unit having at least one group selected from the group comprising a blocked isocyanato group and a blocked isothiocyanato group;
At least one repeating unit selected from the group comprising a repeating unit having a hydroxy group, a repeating unit having a carboxy group, and a repeating unit having a hydroxy group and a carboxy group;
The high molecular compound containing the repeating unit represented by following formula (1).
Figure 2017141933
(In the formula (1),
R 1 , R 2 , and R 3 may be different from each other, and represent a hydrogen atom, a fluorine atom, or a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms.
R 4 represents a hydrogen atom, a chlorine atom, a bromine atom, an iodine atom or a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms.
Rf represents a fluorine atom or a monovalent organic group containing a fluorine atom.
R a is represented by a divalent organic group having 1 to 20 carbon atoms, a group represented by —O—, a group represented by —CO—, a group represented by —COO—, or —NHCO—. Or a group represented by -NHCOO-, a group represented by -O-, a group represented by -CO-, a group represented by -COO-, or -NHCO- Even if the bond represented by the group represented by the group represented by -NHCOO- is located on the carbon atom side to which R 1 in the formula (1) is bonded, the group represented by the formula (1) It may be located on the carbon atom side constituting the benzene ring, and the hydrogen atom in the divalent organic group may be substituted with a fluorine atom.
m1 represents the integer of 0-6.
n1 represents the integer of 1-5.
When there are a plurality of R a s , they may be different from each other. When there are a plurality of R 4 , they may be different from each other. When there are a plurality of Rf, they may be different from each other. )
[2] The polymer compound according to [1], wherein the repeating unit having a hydroxy group and the repeating unit having a carboxy group are repeating units represented by the following formula (2).
Figure 2017141933
(In the formula (2),
R 5 , R 6 , and R 7 may be different from each other, and represent a hydrogen atom, a fluorine atom, or a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms. R b is a divalent organic group having 1 to 20 carbon atoms, a group represented by —O—, a group represented by —CO—, a group represented by —COO—, or —NHCO—. Or a group represented by -NHCOO-, a group represented by -O-, a group represented by -CO-, a group represented by -COO-, or -NHCO- Even if the bond of the group represented by the group represented by —NHCOO— is located on the carbon atom side to which R 5 in the formula (2) is bonded, the group in the formula (2) It may be located on the Xa side. A hydrogen atom in the divalent organic group may be substituted with a fluorine atom.
m2 represents the integer of 0-6.
Xa represents a hydroxy group or a carboxy group. )
[3] The high blocked structure according to [1] or [2], wherein the blocked isocyanato group or blocked isothiocyanato group is a group represented by the following formula (3) or a group represented by the following formula (4): Molecular compound.
Figure 2017141933
(In the formulas (3) and (4),
Xb represents an oxygen atom or a sulfur atom.
R 8 to R 12 may be different from each other and represent a hydrogen atom or a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms. )
[4] A composition comprising the polymer compound according to any one of [1] to [3].
[5] The composition according to [4], comprising only the polymer compound according to any one of [1] to [3] and an organic solvent.
[6] A composition for an insulating layer of an organic thin film transistor, comprising the composition according to [4] or [5].
[7] A film obtained by curing the composition according to any one of [4] to [6].
[8] An organic thin film transistor comprising the film according to [7] as a gate insulating layer.
[9] The organic thin film transistor according to [8], further including the film according to [7] as an overcoat layer.
[10] A step of applying the composition according to any one of [4] to [6] to a surface of a substrate to form a coating layer;
A method for producing an organic thin film transistor, comprising: curing the coating layer.

本発明の高分子化合物、該高分子化合物を含む組成物を用いれば、有機薄膜トランジスタのキャリア移動度をより高くすることができる。   When the polymer compound of the present invention and the composition containing the polymer compound are used, the carrier mobility of the organic thin film transistor can be further increased.

図1は、本発明の第1実施形態にかかるボトムゲートトップコンタクト型の有機薄膜トランジスタの構造を模式的に示す概略的な図である。FIG. 1 is a schematic view schematically showing the structure of a bottom gate top contact type organic thin film transistor according to a first embodiment of the present invention. 図2は、本発明の第2実施形態にかかるボトムゲートボトムコンタクト型有機薄膜トランジスタの構造を模式的に示す概略的な図である。FIG. 2 is a schematic view schematically showing the structure of a bottom gate bottom contact type organic thin film transistor according to a second embodiment of the present invention. 図3は、本発明の第3実施形態にかかるトップゲートボトムコンタクト型の有機薄膜トランジスタの構造を模式的に示す概略的な図である。FIG. 3 is a schematic view schematically showing the structure of a top gate bottom contact type organic thin film transistor according to a third embodiment of the present invention.

次に、本発明の実施形態についてさらに詳細に説明する。なお、参照される各図面は、発明が理解できる程度に、構成要素の形状、大きさおよび配置が概略的に示されているに過ぎない。本発明は以下の記述によって限定されるものではなく、各構成要素は本発明の要旨を逸脱しない範囲において適宜変更可能である。説明に用いられる図面において、同様の構成要素については同一の符号を付して示し、重複する説明については省略する場合がある。また、本発明の実施形態にかかる構成は、必ずしも図面に示された配置で、製造されたり、使用されたりするわけではない。   Next, embodiments of the present invention will be described in more detail. Each drawing referred to only schematically shows the shape, size, and arrangement of components to the extent that the invention can be understood. The present invention is not limited to the following description, and each component can be appropriately changed without departing from the gist of the present invention. In the drawings used for the description, the same components are denoted by the same reference numerals, and overlapping descriptions may be omitted. Further, the configuration according to the embodiment of the present invention is not necessarily manufactured or used in the arrangement shown in the drawings.

なお、本明細書において、「高分子化合物」とは、分子中に互いに異なっていてもよい複数の構造単位(繰り返し単位)を含む化合物を意味しており、いわゆる2量体も「高分子化合物」に含まれる。また、本明細書において、「低分子化合物」とは、分子中に複数の構造単位を含んでいない化合物を意味する。   In the present specification, the “polymer compound” means a compound containing a plurality of structural units (repeating units) which may be different from each other in the molecule. "include. In the present specification, the “low molecular weight compound” means a compound that does not contain a plurality of structural units in the molecule.

<共通する用語の説明>
本明細書で共通して用いられる用語は、特記しない限り、以下の意味である。
<Explanation of common terms>
Terms commonly used in this specification have the following meanings unless otherwise specified.

「炭素原子数1〜20の1価の有機基」は、直鎖状、分岐状、環状のいずれの態様であってもよく、飽和していても不飽和であってもよい。   The “monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms” may be linear, branched, or cyclic, and may be saturated or unsaturated.

炭素原子数1〜20の1価の有機基としては、例えば、炭素原子数1〜20の直鎖状炭化水素基、炭素原子数3〜20の分岐状炭化水素基、炭素原子数3〜20の環状炭化水素基、炭素原子数6〜20の芳香族炭化水素基、炭素原子数1〜20のアルコキシ基、炭素原子数6〜20のアリールオキシ基、炭素原子数2〜20のアシル基、炭素原子数2〜20のアルコキシカルボニル基、炭素原子数7〜20のアリールオキシカルボニル基が挙げられ、好ましくは、炭素原子数1〜6の直鎖状炭化水素基、炭素原子数3〜6の分岐状炭化水素基、炭素原子数3〜6の環状炭化水素基、炭素原子数6〜20の芳香族炭化水素基、炭素原子数1〜6のアルコキシ基、炭素原子数6〜20のアリールオキシ基、炭素原子数2〜7のアシル基、炭素原子数2〜7のアルコキシカルボニル基、炭素原子数7〜20のアリールオキシカルボニル基などである。   Examples of the monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms include a linear hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms, a branched hydrocarbon group having 3 to 20 carbon atoms, and 3 to 20 carbon atoms. A cyclic hydrocarbon group, an aromatic hydrocarbon group having 6 to 20 carbon atoms, an alkoxy group having 1 to 20 carbon atoms, an aryloxy group having 6 to 20 carbon atoms, an acyl group having 2 to 20 carbon atoms, Examples thereof include an alkoxycarbonyl group having 2 to 20 carbon atoms and an aryloxycarbonyl group having 7 to 20 carbon atoms, preferably a linear hydrocarbon group having 1 to 6 carbon atoms and 3 to 6 carbon atoms. Branched hydrocarbon group, cyclic hydrocarbon group having 3 to 6 carbon atoms, aromatic hydrocarbon group having 6 to 20 carbon atoms, alkoxy group having 1 to 6 carbon atoms, aryloxy having 6 to 20 carbon atoms Groups, acyl groups of 2 to 7 carbon atoms, carbon atoms 2-7 alkoxycarbonyl group, and the like aryloxycarbonyl group having 7 to 20 carbon atoms.

炭素原子数1〜20の直鎖状炭化水素基、炭素原子数3〜20の分岐状炭化水素基、炭素原子数3〜20の環状炭化水素基、炭素原子数1〜20のアルコキシ基、炭素原子数6〜20のアリールオキシ基、炭素原子数2〜20のアシル基、炭素原子数2〜20のアルコキシカルボニル基、炭素原子数7〜20のアリールオキシカルボニル基は、これらの基に含まれる水素原子がハロゲン原子で置換されていてもよい。   Straight chain hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms, branched hydrocarbon group having 3 to 20 carbon atoms, cyclic hydrocarbon group having 3 to 20 carbon atoms, alkoxy group having 1 to 20 carbon atoms, carbon These groups include aryloxy groups having 6 to 20 atoms, acyl groups having 2 to 20 carbon atoms, alkoxycarbonyl groups having 2 to 20 carbon atoms, and aryloxycarbonyl groups having 7 to 20 carbon atoms. The hydrogen atom may be substituted with a halogen atom.

炭素原子数6〜20の芳香族炭化水素基は、基中の水素原子が1価の有機基、ハロゲン原子で置換されていてもよい。   In the aromatic hydrocarbon group having 6 to 20 carbon atoms, a hydrogen atom in the group may be substituted with a monovalent organic group or a halogen atom.

炭素原子数1〜20の1価の有機基の具体例としては、メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基、イソプロピル基、イソブチル基、tert−ブチル基、シクロプロピル基、シクロブチル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、シクロペンチニル基、シクロヘキシニル基、トリフルオロメチル基、トリフルオロエチル基、フェニル基、ナフチル基、アントリル基、トリル基、キシリル基、ジメチルフェニル基、トリメチルフェニル基、エチルフェニル基、ジエチルフェニル基、トリエチルフェニル基、プロピルフェニル基、ブチルフェニル基、メチルナフチル基、ジメチルナフチル基、トリメチルナフチル基、ビニルナフチル基、エテニルナフチル基、メチルアントリル基、エチルアントリル基、ペンタフルオロフェニル基、トリフルオロメチルフェニル基、クロロフェニル基、ブロモフェニル基、メトキシ基、エトキシ基、フェノキシ基、アセチル基、ベンゾイル基、メトキシカルボニル基、フェノキシカルボニル基などが挙げられる。
炭素原子数1〜20の1価の有機基としては、アルキル基が好ましい。
Specific examples of the monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms include methyl group, ethyl group, propyl group, butyl group, pentyl group, hexyl group, isopropyl group, isobutyl group, tert-butyl group, and cyclopropyl group. , Cyclobutyl group, cyclopentyl group, cyclohexyl group, cyclopentynyl group, cyclohexynyl group, trifluoromethyl group, trifluoroethyl group, phenyl group, naphthyl group, anthryl group, tolyl group, xylyl group, dimethylphenyl group, trimethylphenyl Group, ethylphenyl group, diethylphenyl group, triethylphenyl group, propylphenyl group, butylphenyl group, methylnaphthyl group, dimethylnaphthyl group, trimethylnaphthyl group, vinylnaphthyl group, ethenylnaphthyl group, methylanthryl group, ethylanthryl group , Pentaf Orofeniru group, trifluoromethylphenyl group, chlorophenyl group, bromophenyl group, a methoxy group, an ethoxy group, a phenoxy group, an acetyl group, a benzoyl group, a methoxycarbonyl group, and the like phenoxycarbonyl group.
As the monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms, an alkyl group is preferable.

「炭素原子数1〜20の2価の有機基」は、直鎖状、分岐状、環状のいずれの態様であってもよく、脂肪族炭化水素基であっても芳香族炭化水素基であってもよい。炭素原子数1〜20の2価の有機基としては、例えば、炭素原子数1〜20の2価の直鎖状脂肪族炭化水素基、炭素原子数3〜20の2価の分岐状脂肪族炭化水素基、炭素原子数3〜20の2価の環状炭化水素基、1価の有機基等で置換されていてもよい炭素原子数6〜20の2価の芳香族炭化水素基が挙げられる。中でも、炭素原子数1〜20の2価の有機基としては、炭素原子数1〜6の2価の直鎖状脂肪族炭化水素基、炭素原子数3〜6の2価の分岐状脂肪族炭化水素基、炭素原子数3〜6の2価の環状炭化水素基、アルキル基等で置換されていてもよい2価の炭素原子数6〜20の芳香族炭化水素基が好ましい。   The “divalent organic group having 1 to 20 carbon atoms” may be linear, branched, or cyclic, and may be an aliphatic hydrocarbon group or an aromatic hydrocarbon group. May be. Examples of the divalent organic group having 1 to 20 carbon atoms include a divalent linear aliphatic hydrocarbon group having 1 to 20 carbon atoms and a divalent branched aliphatic group having 3 to 20 carbon atoms. Examples thereof include a hydrocarbon group, a divalent cyclic hydrocarbon group having 3 to 20 carbon atoms, and a divalent aromatic hydrocarbon group having 6 to 20 carbon atoms which may be substituted with a monovalent organic group. . Among them, examples of the divalent organic group having 1 to 20 carbon atoms include a divalent linear aliphatic hydrocarbon group having 1 to 6 carbon atoms and a divalent branched aliphatic group having 3 to 6 carbon atoms. A divalent aromatic hydrocarbon group having 6 to 20 carbon atoms which may be substituted with a hydrocarbon group, a divalent cyclic hydrocarbon group having 3 to 6 carbon atoms, an alkyl group or the like is preferable.

2価の脂肪族炭化水素基及び2価の環状炭化水素基の具体例としては、メチレン基、エチレン基、プロピレン基、ブチレン基、ペンチレン基、ヘキシレン基、イソプロピレン基、イソブチレン基、ジメチルプロピレン基、シクロプロピレン基、シクロブチレン基、シクロペンチレン基、シクロヘキシレン基などが挙げられる。   Specific examples of the divalent aliphatic hydrocarbon group and the divalent cyclic hydrocarbon group include a methylene group, an ethylene group, a propylene group, a butylene group, a pentylene group, a hexylene group, an isopropylene group, an isobutylene group, and a dimethylpropylene group. , Cyclopropylene group, cyclobutylene group, cyclopentylene group, cyclohexylene group and the like.

炭素原子数6〜20の2価の芳香族炭化水素基の具体例としては、フェニレン基、ナフチレン基、アントリレン基、ジメチルフェニレン基、トリメチルフェニレン基、エチレンフェニレン基、ジエチレンフェニレン基、トリエチレンフェニレン基、プロピレンフェニレン基、ブチレンフェニレン基、メチルナフチレン基、ジメチルナフチレン基、トリメチルナフチレン基、ビニルナフチレン基、エテニルナフチレン基、メチルアントリレン基、エチルアントリレン基などが挙げられる。   Specific examples of the divalent aromatic hydrocarbon group having 6 to 20 carbon atoms include phenylene group, naphthylene group, anthrylene group, dimethylphenylene group, trimethylphenylene group, ethylenephenylene group, diethylenephenylene group, and triethylenephenylene group. , Propylenephenylene group, butylenephenylene group, methylnaphthylene group, dimethylnaphthylene group, trimethylnaphthylene group, vinylnaphthylene group, ethenylnaphthylene group, methylanthrylene group, ethylanthrylene group, and the like.

「ハロゲン原子」は、フッ素原子、塩素原子、臭素原子、又はヨウ素原子である。   The “halogen atom” is a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, or an iodine atom.

<高分子化合物>
本発明の高分子化合物は、ブロック化イソシアナト基及びブロック化イソチオシアナト基を含む群から選ばれる少なくとも1種の基を有する繰り返し単位と、ヒドロキシ基を有する繰り返し単位、カルボキシ基を有する繰り返し単位並びにヒドロキシ基及びカルボキシ基を有する繰り返し単位を含む群から選ばれる少なくとも1種の繰り返し単位と、下記式(1)で表される繰り返し単位とを含む高分子化合物である(以下、「高分子化合物(A)」という場合がある。)。
<Polymer compound>
The polymer compound of the present invention comprises a repeating unit having at least one group selected from the group comprising a blocked isocyanato group and a blocked isothiocyanato group, a repeating unit having a hydroxy group, a repeating unit having a carboxy group, and a hydroxy group And a polymer compound containing at least one repeating unit selected from the group containing a repeating unit having a carboxy group and a repeating unit represented by the following formula (1) (hereinafter referred to as “polymer compound (A)”). ").

Figure 2017141933
Figure 2017141933

式(1)中、
、R、Rは、互いに異なっていてもよく、水素原子、フッ素原子、又は炭素原子数1〜20の1価の有機基を表す。
は、水素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子又は炭素原子数1〜20の1価の有機基を表す。
Rfは、フッ素原子、又はフッ素原子を含む1価の有機基を表す。
は、炭素原子数1〜20の2価の有機基、−O−で表される基、−CO−で表される基、−COO−で表される基、−NHCO−で表される基、又は−NHCOO−で表される基を表し、前記−O−で表される基、前記−CO−で表される基、前記−COO−で表される基、前記−NHCO−で表される基、及び前記−NHCOO−で表される基の結合手は、前記式(1)中の前記Rが結合する炭素原子側に位置していても、前記式(1)中のベンゼン環を構成する炭素原子側に位置していてもよく、前記2価の有機基中の水素原子は、フッ素原子で置換されていてもよい。
m1は、0〜6の整数を表す。
n1は、1〜5の整数を表す。
が複数個ある場合、それらは互いに異なっていてもよい。Rが複数個ある場合、それらは互いに異なっていてもよい。Rfが複数個ある場合、それらは互いに異なっていてもよい。
In formula (1),
R 1 , R 2 , and R 3 may be different from each other, and represent a hydrogen atom, a fluorine atom, or a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms.
R 4 represents a hydrogen atom, a chlorine atom, a bromine atom, an iodine atom or a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms.
Rf represents a fluorine atom or a monovalent organic group containing a fluorine atom.
R a is represented by a divalent organic group having 1 to 20 carbon atoms, a group represented by —O—, a group represented by —CO—, a group represented by —COO—, or —NHCO—. Or a group represented by -NHCOO-, a group represented by -O-, a group represented by -CO-, a group represented by -COO-, or -NHCO- Even if the bond represented by the group represented by the group represented by -NHCOO- is located on the carbon atom side to which R 1 in the formula (1) is bonded, the group represented by the formula (1) It may be located on the carbon atom side constituting the benzene ring, and the hydrogen atom in the divalent organic group may be substituted with a fluorine atom.
m1 represents the integer of 0-6.
n1 represents the integer of 1-5.
When there are a plurality of R a s , they may be different from each other. When there are a plurality of R 4 , they may be different from each other. When there are a plurality of Rf, they may be different from each other.

(高分子化合物(A))
ここで、高分子化合物(A)について説明する。高分子化合物(A)は、同一分子内にブロック化イソシアナト基及び/又はブロック化イソチオシアナト基と、ヒドロキシ基及び/又はカルボキシ基と、前記式(1)で表される繰り返し単位とを含む。
(Polymer Compound (A))
Here, the polymer compound (A) will be described. The polymer compound (A) contains a blocked isocyanato group and / or a blocked isothiocyanato group, a hydroxy group and / or a carboxy group, and a repeating unit represented by the formula (1) in the same molecule.

高分子化合物(A)は、前記のとおり分子内にブロック化イソシアナト基及び/又はブロック化イソチオシアナト基を有する。   The polymer compound (A) has a blocked isocyanato group and / or a blocked isothiocyanato group in the molecule as described above.

ここで、高分子化合物(A)が有しているブロック化イソシアナト基及び/又はブロック化イソチオシアナト基を第1の官能基とすると、この第1の官能基は活性水素とは反応しない。しかしながら、第1の官能基に電磁波又は熱が作用すると第2の官能基が生成し、生成した第2の官能基が活性水素と反応できるようになる。つまり、この第1の官能基は、電磁波又は熱が作用することによりブロック化剤に由来する保護基が脱離して、活性水素と反応する第2の官能基を生成することができる官能基である。   Here, when the blocked isocyanato group and / or the blocked isothiocyanato group possessed by the polymer compound (A) is a first functional group, the first functional group does not react with active hydrogen. However, when an electromagnetic wave or heat acts on the first functional group, a second functional group is generated, and the generated second functional group can react with active hydrogen. In other words, the first functional group is a functional group that can generate a second functional group that reacts with active hydrogen by elimination of the protective group derived from the blocking agent by the action of electromagnetic waves or heat. is there.

ここで、活性水素とは、酸素原子、窒素原子及び硫黄原子のような炭素原子以外の原子に結合した水素原子をいう。   Here, the active hydrogen refers to a hydrogen atom bonded to an atom other than a carbon atom such as an oxygen atom, a nitrogen atom and a sulfur atom.

活性水素と反応する第2の官能基は、組成物の貯蔵安定性を維持する観点から、ゲート絶縁層の形成工程が実施されるまでは保護(ブロック)されていることが好ましい。つまり、前記第1の官能基はゲート絶縁層の形成工程における電磁波による処理又は加熱処理により脱離されて、活性水素と反応する第2の官能基を生成する官能基であることが好ましい。このようにすれば、ゲート絶縁層の形成工程が実施されるまでは第1の官能基として組成物中に存在することになり、結果として、組成物の貯蔵安定性が向上する。   From the viewpoint of maintaining the storage stability of the composition, the second functional group that reacts with active hydrogen is preferably protected (blocked) until the step of forming the gate insulating layer is performed. That is, the first functional group is preferably a functional group that generates a second functional group that reacts with active hydrogen by being removed by electromagnetic wave treatment or heat treatment in the step of forming the gate insulating layer. If it does in this way, it will exist in a composition as a 1st functional group until the formation process of a gate insulating layer is implemented, As a result, the storage stability of a composition improves.

高分子化合物(A)は、上記のとおり、同一分子内にブロック化イソシアナト基及び/又はブロック化イソチオシアナト基と、ヒドロキシ基及び/又はカルボキシ基とを有しているので、高分子化合物(A)は架橋性が高く、高分子化合物(A)を含む組成物を硬化してゲート絶縁層(薄膜)としたときに未架橋部位が残存しにくく、ゲート電圧が印加されても分極しにくいため、ゲート絶縁層の分極が抑制されると考えられる。このようにゲート絶縁層の分極が抑制されると、キャリア移動度が向上する。   Since the polymer compound (A) has a blocked isocyanato group and / or a blocked isothiocyanate group, a hydroxy group and / or a carboxy group in the same molecule as described above, the polymer compound (A) Is highly crosslinkable, and when the composition containing the polymer compound (A) is cured to form a gate insulating layer (thin film), an uncrosslinked site is unlikely to remain, and polarization is difficult even when a gate voltage is applied. It is considered that the polarization of the gate insulating layer is suppressed. In this way, when the polarization of the gate insulating layer is suppressed, the carrier mobility is improved.

高分子化合物(A)においては、ブロック化イソシアナト基及び/又はブロック化イソチオシアナト基とヒドロキシ基及び/又はカルボキシ基とが、ヒドロキシ基及び/又はカルボキシ基のモル量を100としたときにモル比で、好ましくは1/100〜10000/100となるように、より好ましくは10/100〜1000/100となるように調節される。   In the polymer compound (A), the blocked isocyanato group and / or the blocked isothiocyanato group and the hydroxy group and / or the carboxy group have a molar ratio when the molar amount of the hydroxy group and / or the carboxy group is 100. , Preferably adjusted to be 1/100 to 10000/100, more preferably 10/100 to 1000/100.

高分子化合物(A)は、重量平均分子量が3000〜1000000であることが好ましく、5000〜500000であることがより好ましい。高分子化合物(A)は、直鎖状、分岐状、環状のいずれの態様であってもよい。   The polymer compound (A) preferably has a weight average molecular weight of 3,000 to 1,000,000, and more preferably 5,000 to 500,000. The polymer compound (A) may be any of linear, branched, and cyclic embodiments.

高分子化合物(A)は、フッ素原子を含む繰り返し単位を含む。よって、高分子化合物(A)を含む組成物を硬化した硬化物(膜)の疎水性を向上させることができる。   The polymer compound (A) includes a repeating unit containing a fluorine atom. Therefore, the hydrophobicity of the cured product (film) obtained by curing the composition containing the polymer compound (A) can be improved.

高分子化合物(A)としては、例えば、ポリ(スチレン−コ−(2,3,4,5,6−ペンタフルオロスチレン)−コ−[2−〔O−(1’−メチルプロピリデンアミノ)カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート]−コ−(2−ヒドロキシブチルメタクリレート))、ポリ(スチレン−コ−(2,3,4,5,6−ペンタフルオロスチレン)−コ−[2−〔O−(1’−メチルプロピリデンアミノ)カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート]−コ−メタクリル酸)、ポリ(スチレン−コ−(2,3,4,5,6−ペンタフルオロスチレン)−コ−[2−〔O−(1’−メチルプロピリデンアミノ)カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート]−コ−(2−ヒドロキシブチルメタクリレート))、ポリ(スチレン−コ−(2,3,4,5,6−ペンタフルオロスチレン)−コ−[2−〔O−(1’−メチルプロピリデンアミノ)カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート]−コ−(4−ビニル安息香酸))、ポリ((2,3,4,5,6−ペンタフルオロベンジルアクリレート)−コ−[2−〔O−(1’−メチルプロピリデンアミノ)カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート]−コ−(4−ヒドロキシブチルメタクリレート))、ポリ(2,3,4,5,6−ペンタフルオロスチレン−コ−[2−〔1’−(3’,5’−ジメチルピラゾリル)カルボニルアミノ〕エチル−メタクリレート]−コ−〔2−(2−ヒドロキシエトキシ)エチルアクリレート〕)、ポリ(2,3,4,5,6−ペンタフルオロスチレン−コ−アクリロニトリル−コ−[2−〔O−(1’−メチルプロピリデンアミノ)カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート]−コ−(3−ヒドロキシ−1−アダマンチルアクリレート))、ポリ(2,3,4,5,6−ペンタフルオロスチレン−コ−アクリロニトリル−コ−[2−〔1’−(3’,5’−ジメチルピラゾリル)カルボニルアミノ〕エチル−メタクリレート]−コ−(4−ヒドロキシシクロヘキシルアクリレート))、ポリ(2,3,4,5,6−ペンタフルオロスチレン−コ−アクリロニトリル−コ−[2−〔O−(1’−メチルプロピリデンアミノ)カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート]−コ−アリルトリメチルゲルマニウム−コ−アクリル酸)、ポリ(2,3,4,5,6−ペンタフルオロスチレン−コ−アクリロニトリル−コ−[2−〔1’−(3’,5’−ジメチルピラゾリル)カルボニルアミノ〕エチル−メタクリレート]−コ−アリルトリメチルゲルマニウム−コ−エチレングリコールモノアリルエーテル)、ポリ(スチレン−コ−2,3,4,5,6−ペンタフルオロスチレン−コ−[2−〔O−(1’−メチルプロピリデンアミノ)カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート]−コ−(1,5−ヘキサジエン−3,4−ジオール))、ポリ(スチレン−コ−2,3,4,5,6−ペンタフルオロスチレン−コ−[2−〔1’−(3’、5’−ジメチルピラゾリル)カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート]−コ−ペンタエリスリトールトリアクリレート)、ポリ(スチレン−コ−2,3,4,5,6−ペンタフルオロスチレン−コ−アクリロニトリル−コ−[2−〔O−(1’−メチルプロピリデンアミノ)カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート]−コ−(p−ヒドロキシスチレン))、ポリ(スチレン−コ−2,3,4,5,6−ペンタフルオロスチレン−コ−アクリロニトリル−コ−[2−〔1’−(3’,5’−ジメチルピラゾリル)カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート]−コ−(4−ヒドロキシブチルアクリレート))、ポリ(スチレン−コ−2,3,4,5,6−ペンタフルオロスチレン−コ−アクリロニトリル−コ−[2−〔O−(1’−メチルプロピリデンアミノ)カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート]−コ−アリルトリメチルゲルマニウム−コ−(8−ヒドロキシオクチルメタクリレート))、ポリ(スチレン−コ−2,3,4,5,6−ペンタフルオロスチレン−コ−アクリロニトリル−コ−[2−〔1’−(3’,5’−ジメチルピラゾリル)カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート]−コ−アリルトリメチルゲルマニウム−コ−〔2−(2−ヒドロキシエトキシ)エチルメタクリレート〕)、ポリ(メチルメタクリレート−コ−2,3,4,5,6−ペンタフルオロスチレン−コ−[2−〔O−(1’−メチルプロピリデンアミノ)カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート]−コ−(3−ヒドロキシ−1−アダマンチルメタクリレート))、ポリ(メチルメタクリレート−コ−2,3,4,5,6−ペンタフルオロスチレン−コ−[2−〔1’−(3’,5’−ジメチルピラゾリル)カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート]−コ−(4−ヒドロキシメチルシクロヘキシルアクリレート))、ポリ(2,3,4,5,6−ペンタフルオロスチレン−コ−(2,2,2−トリフルオロエチルメタクリレート)−コ−[2−〔O−(1’−メチルプロピリデンアミノ)カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート]−コ−(4−ヒドロキシメチルシクロヘキシルメタリレート))、ポリ(2,3,4,5,6−ペンタフルオロスチレン−コ−(2,2,2−トリフルオロエチルメタクリレート)−コ−[2−〔1’−(3’,5’−ジメチルピラゾリル)カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート]−コ−(2−アクリロイロキシエチル−コハク酸))、ポリ(スチレン−コ−2,3,4,5,6−ペンタフルオロベンジルメタクリレート−コ−[2−〔O−(1’−メチルプロピリデンアミノ)カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート]−コ−(2−カルボキシエチルアクリレート))、ポリ(スチレン−コ−2,3,4,5,6−ペンタフルオロベンジルメタクリレート−コ−[2−〔1’−(3’,5’−ジメチルピラゾリル)カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート]−コ−(4−カルボキシブチルアクリレート))、ポリ(スチレン−コ−2,3,4,5,6−ペンタフルオロベンジルメタクリレート−コ−アクリロニトリル−コ−[2−〔O−(1’−メチルプロピリデンアミノ)カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート]−コ−(2−カルボキシブチルメタクリレート))、ポリ(スチレン−コ−2,3,4,5,6−ペンタフルオロベンジルメタクリレート−コ−アクリロニトリル−コ−[2−〔1’−(3’,5’−ジメチルピラゾリル)カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート]−コ−(2−ヒドロキシエチルメタクリレート))、ポリ(スチレン−コ−2,3,4,5,6−ペンタフルオロベンジルメタクリレート−コ−アクリロニトリル−コ−[2−〔O−(1’−メチルプロピリデンアミノ)カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート]−コ−アリルトリメチルゲルマニウム−コ−(2−ヒドロキシエチルメタクリレート))、ポリ(スチレン−コ−2,3,4,5,6−ペンタフルオロベンジルメタクリレート−コ−アクリロニトリル−コ−[2−〔1’−(3’,5’−ジメチルピラゾリル)カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート]−コ−アリルトリメチルゲルマニウム−コ−アクリル酸)、ポリ(メチルメタクリレート−コ−2,3,4,5,6−ペンタフルオロベンジルメタクリレート−コ−[2−〔O−(1’−メチルプロピリデンアミノ)カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート]−コ−(3−ビニル安息香酸))、ポリ(メチルメタクリレート−コ−2,3,4,5,6−ペンタフルオロベンジルメタクリレート−コ−[2−〔1’−(3’,5’−ジメチルピラゾリル)カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート]−コ−メタクリル酸)、ポリ(スチレン−コ−2,3,4,5,6−ペンタフルオロベンジルメタクリレート−コ−(2,2,2−トリフルオロエチルメタクリレート)−コ−[2−〔O−(1’−メチルプロピリデンアミノ)カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート]−コ−メタクリル酸)、ポリ(スチレン−コ−2,3,4,5,6−ペンタフルオロベンジルメタクリレート−コ−(2,2,2−トリフルオロエチルメタクリレート)−コ−[2−〔1’−(3’,5’−ジメチルピラゾリル)カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート]−コ−メタクリル酸)、ポリ(スチレン−コ−2,3,4,5,6−ペンタフルオロベンジルメタクリレート−コ−[2−〔O−(1’−メチルプロピリデンアミノ)カルボキシルアミノ〕エチル−メタクリレート]−コ−メタクリル酸)、ポリ(スチレン−コ−4−(1−エトキシエチル)スチレン−コ−2,3,4,5,6−ペンタフルオロベンジルメタクリレート−コ−[2−〔O−(1’−メチルプロピリデンアミノ)カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート]−コ−(4−ヒドロキシブチルメタクリレート))、ポリ(スチレン−コ−4−(1−エトキシエチル)スチレン−コ−2,3,4,5,6−ペンタフルオロベンジルメタクリレート−コ−[2−〔1’−(3’,5’−ジメチルピラゾリル)カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート]−コ−(4−ヒドロキシブチルメタクリレート))、ポリ(スチレン−コ−{4−ビニル−(テトラヒドロ−2−ピラニル)ベンゾエート}−コ−2,3,4,5,6−ペンタフルオロベンジルメタクリレート−コ−[2−〔O−(1’−メチルプロピリデンアミノ)カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート]−コ−(4−ヒドロキシブチルメタクリレート))、ポリ(スチレン−コ−{4−ビニル−(テトラヒドロ−2−ピラニル)ベンゾエート}−コ−2,3,4,5,6−ペンタフルオロベンジルメタクリレート−コ−[2−〔1’−(3’,5’−ジメチルピラゾリル)カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート]−コ−(4−ヒドロキシブチルメタクリレート))等が挙げられる。   Examples of the polymer compound (A) include poly (styrene-co- (2,3,4,5,6-pentafluorostyrene) -co- [2- [O- (1′-methylpropylideneamino)]. Carboxyamino] ethyl-methacrylate] -co- (2-hydroxybutyl methacrylate)), poly (styrene-co- (2,3,4,5,6-pentafluorostyrene) -co- [2- [O- ( 1′-methylpropylideneamino) carboxyamino] ethyl-methacrylate] -co-methacrylic acid), poly (styrene-co- (2,3,4,5,6-pentafluorostyrene) -co- [2- [ O- (1′-methylpropylideneamino) carboxyamino] ethyl-methacrylate] -co- (2-hydroxybutyl methacrylate)), poly (styrene-co- (2,3,4) 5,6-pentafluorostyrene) -co- [2- [O- (1′-methylpropylideneamino) carboxyamino] ethyl-methacrylate] -co- (4-vinylbenzoic acid)), poly ((2, 3,4,5,6-pentafluorobenzyl acrylate) -co- [2- [O- (1′-methylpropylideneamino) carboxyamino] ethyl-methacrylate] -co- (4-hydroxybutyl methacrylate)), Poly (2,3,4,5,6-pentafluorostyrene-co- [2- [1 '-(3', 5'-dimethylpyrazolyl) carbonylamino] ethyl-methacrylate] -co- [2- (2 -Hydroxyethoxy) ethyl acrylate]), poly (2,3,4,5,6-pentafluorostyrene-co-acrylonitrile-co- [2- [O- (1 ' Methylpropylideneamino) carboxyamino] ethyl-methacrylate] -co- (3-hydroxy-1-adamantyl acrylate)), poly (2,3,4,5,6-pentafluorostyrene-co-acrylonitrile-co- [ 2- [1 '-(3', 5'-dimethylpyrazolyl) carbonylamino] ethyl-methacrylate] -co- (4-hydroxycyclohexyl acrylate)), poly (2,3,4,5,6-pentafluorostyrene -Co-acrylonitrile-co- [2- [O- (1'-methylpropylideneamino) carboxyamino] ethyl-methacrylate] -co-allyltrimethylgermanium-co-acrylic acid), poly (2,3,4, 5,6-pentafluorostyrene-co-acrylonitrile-co- [2- [1 '-(3', 5 ' -Dimethylpyrazolyl) carbonylamino] ethyl-methacrylate] -co-allyltrimethylgermanium-co-ethylene glycol monoallyl ether), poly (styrene-co-2,3,4,5,6-pentafluorostyrene-co- [ 2- [O- (1′-methylpropylideneamino) carboxyamino] ethyl-methacrylate] -co- (1,5-hexadiene-3,4-diol)), poly (styrene-co-2,3,4) , 5,6-pentafluorostyrene-co- [2- [1 '-(3', 5'-dimethylpyrazolyl) carboxyamino] ethyl-methacrylate] -co-pentaerythritol triacrylate), poly (styrene-co- 2,3,4,5,6-pentafluorostyrene-co-acrylonitrile-co- [2- [O- (1'- Tylpropylideneamino) carboxyamino] ethyl-methacrylate] -co- (p-hydroxystyrene)), poly (styrene-co-2,3,4,5,6-pentafluorostyrene-co-acrylonitrile-co- [ 2- [1 ′-(3 ′, 5′-dimethylpyrazolyl) carboxyamino] ethyl-methacrylate] -co- (4-hydroxybutyl acrylate)), poly (styrene-co-2,3,4,5,6) -Pentafluorostyrene-co-acrylonitrile-co- [2- [O- (1'-methylpropylideneamino) carboxyamino] ethyl-methacrylate] -co-allyltrimethylgermanium-co- (8-hydroxyoctyl methacrylate)) , Poly (styrene-co-2,3,4,5,6-pentafluorostyrene-co-acrylic Nitrile-co- [2- [1 ′-(3 ′, 5′-dimethylpyrazolyl) carboxyamino] ethyl-methacrylate] -co-allyltrimethylgermanium-co- [2- (2-hydroxyethoxy) ethyl methacrylate]) , Poly (methyl methacrylate-co-2,3,4,5,6-pentafluorostyrene-co- [2- [O- (1'-methylpropylideneamino) carboxyamino] ethyl-methacrylate] -co- ( 3-hydroxy-1-adamantyl methacrylate)), poly (methyl methacrylate-co-2,3,4,5,6-pentafluorostyrene-co- [2- [1 '-(3', 5'-dimethylpyrazolyl) ) Carboxyamino] ethyl-methacrylate] -co- (4-hydroxymethylcyclohexyl acrylate)), poly ( 2,3,4,5,6-pentafluorostyrene-co- (2,2,2-trifluoroethyl methacrylate) -co- [2- [O- (1′-methylpropylideneamino) carboxyamino] ethyl -Methacrylate] -co- (4-hydroxymethylcyclohexyl metallate)), poly (2,3,4,5,6-pentafluorostyrene-co- (2,2,2-trifluoroethyl methacrylate) -co- [2- [1 ′-(3 ′, 5′-dimethylpyrazolyl) carboxyamino] ethyl-methacrylate] -co- (2-acryloyloxyethyl-succinic acid)), poly (styrene-co-2,3, 4,5,6-pentafluorobenzyl methacrylate-co- [2- [O- (1'-methylpropylideneamino) carboxyamino] ethyl-methacrylate -Co- (2-carboxyethyl acrylate)), poly (styrene-co-2,3,4,5,6-pentafluorobenzyl methacrylate-co- [2- [1 '-(3', 5'-dimethyl) Pyrazolyl) carboxyamino] ethyl-methacrylate] -co- (4-carboxybutyl acrylate)), poly (styrene-co-2,3,4,5,6-pentafluorobenzyl methacrylate-co-acrylonitrile-co- [2 -[O- (1'-methylpropylideneamino) carboxyamino] ethyl-methacrylate] -co- (2-carboxybutyl methacrylate)), poly (styrene-co-2,3,4,5,6-pentafluoro Benzyl methacrylate-co-acrylonitrile-co- [2- [1 '-(3', 5'-dimethylpyrazolyl) carboxyl Amino] ethyl-methacrylate] -co- (2-hydroxyethyl methacrylate)), poly (styrene-co-2,3,4,5,6-pentafluorobenzyl methacrylate-co-acrylonitrile-co- [2- [O -(1'-methylpropylideneamino) carboxyamino] ethyl-methacrylate] -co-allyltrimethylgermanium-co- (2-hydroxyethyl methacrylate)), poly (styrene-co-2,3,4,5,6) -Pentafluorobenzyl methacrylate-co-acrylonitrile-co- [2- [1 '-(3', 5'-dimethylpyrazolyl) carboxyamino] ethyl-methacrylate] -co-allyltrimethylgermanium-co-acrylic acid), poly (Methyl methacrylate-co-2,3,4,5,6-pentafluoro Robenzyl methacrylate-co- [2- [O- (1′-methylpropylideneamino) carboxyamino] ethyl-methacrylate] -co- (3-vinylbenzoic acid)), poly (methyl methacrylate-co-2,3 , 4,5,6-pentafluorobenzyl methacrylate-co- [2- [1 '-(3', 5'-dimethylpyrazolyl) carboxyamino] ethyl-methacrylate] -co-methacrylic acid), poly (styrene-co -2,3,4,5,6-pentafluorobenzyl methacrylate-co- (2,2,2-trifluoroethyl methacrylate) -co- [2- [O- (1'-methylpropylideneamino) carboxyamino ] Ethyl-methacrylate] -co-methacrylic acid), poly (styrene-co-2,3,4,5,6-pentafluorobenzyl methacrylate) Chlorate-co- (2,2,2-trifluoroethyl methacrylate) -co- [2- [1 ′-(3 ′, 5′-dimethylpyrazolyl) carboxyamino] ethyl-methacrylate] -co-methacrylic acid), Poly (styrene-co-2,3,4,5,6-pentafluorobenzyl methacrylate-co- [2- [O- (1'-methylpropylideneamino) carboxylamino] ethyl-methacrylate] -co-methacrylic acid ), Poly (styrene-co-4- (1-ethoxyethyl) styrene-co-2,3,4,5,6-pentafluorobenzyl methacrylate-co- [2- [O- (1'-methylpropylidene) Amino) carboxyamino] ethyl-methacrylate] -co- (4-hydroxybutyl methacrylate)), poly (styrene-co-4- (1- Toxiethyl) styrene-co-2,3,4,5,6-pentafluorobenzyl methacrylate-co- [2- [1 '-(3', 5'-dimethylpyrazolyl) carboxyamino] ethyl-methacrylate] -co- (4-hydroxybutyl methacrylate)), poly (styrene-co- {4-vinyl- (tetrahydro-2-pyranyl) benzoate} -co-2,3,4,5,6-pentafluorobenzyl methacrylate-co- [ 2- [O- (1′-methylpropylideneamino) carboxyamino] ethyl-methacrylate] -co- (4-hydroxybutyl methacrylate)), poly (styrene-co- {4-vinyl- (tetrahydro-2-pyranyl) ) Benzoate} -co-2,3,4,5,6-pentafluorobenzyl methacrylate-co- [2- [1 '-(3', 5'-dimethylpyrazolyl) carboxyamino] ethyl-methacrylate] -co- (4-hydroxybutyl methacrylate)) and the like.

(高分子化合物(A)の製造方法)
高分子化合物(A)は、例えば、ブロック化イソシアナト基及びブロック化イソチオシアナト基を含む群から選ばれる少なくとも1種の基を有する繰り返し単位の原料となるモノマー(重合性モノマー)と、ヒドロキシ基を有する繰り返し単位、カルボキシ基を有する繰り返し単位並びにヒドロキシ基及びカルボキシ基を有する繰り返し単位を含む群から選ばれる少なくとも1種の繰り返し単位の原料となるモノマー(重合性モノマー)と、前記式(1)で表される繰り返し単位の材料となるモノマー(重合性モノマー)と、要すれば高分子化合物(A)が含み得るその他の繰り返し単位の原料となる他のモノマー(重合性モノマー)とを、光重合開始剤もしくは熱重合開始剤を用いて共重合させる方法により製造することができる。
(Method for producing polymer compound (A))
The polymer compound (A) has, for example, a monomer (polymerizable monomer) serving as a raw material of a repeating unit having at least one group selected from the group containing a blocked isocyanato group and a blocked isothiocyanato group, and a hydroxy group A monomer (polymerizable monomer) serving as a raw material for at least one repeating unit selected from the group comprising a repeating unit, a repeating unit having a carboxy group, and a repeating unit having a hydroxy group and a carboxy group, and represented by the formula (1) Photopolymerization of a monomer (polymerizable monomer) that is a material of the repeating unit and another monomer (polymerizable monomer) that is a raw material of another repeating unit that can be included in the polymer compound (A) if necessary It can manufacture by the method of copolymerizing using an agent or a thermal-polymerization initiator.

高分子化合物(A)の材料であるモノマーを重合させるための光重合開始剤の例としては、アセトフェノン、2,2−ジメトキシ−2−フェニルアセトフェノン、2,2−ジエトキシアセトフェノン、4−イソプロピル−2−ヒドロキシ−2−メチルプロピオフェノン、2−ヒドロキシ−2−メチルプロピオフェノン、4,4’−ビス(ジエチルアミノ)ベンゾフェノン、ベンゾフェノン、メチル(o−ベンゾイル)ベンゾエート、1−フェニル−1,2−プロパンジオン−2−(o−エトキシカルボニル)オキシム、1−フェニル−1,2−プロパンジオン−2−(o−ベンゾイル)オキシム、ベンゾイン、ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエーテル、ベンゾインイソプロピルエーテル、ベンゾインイソブチルエーテル、ベンゾインオクチルエーテル、ベンジルジメチルケタール、ベンジルジエチルケタール、ジアセチル等のカルボニル化合物、メチルアントラキノン、クロロアントラキノン、クロロチオキサントン、2−メチルチオキサントン、2−イソプロピルチオキサントン等のアントラキノン、チオキサントン誘導体、ジフェニルジスルフィド、ジチオカーバメート等の硫黄化合物が挙げられる。   Examples of the photopolymerization initiator for polymerizing the monomer that is the material of the polymer compound (A) include acetophenone, 2,2-dimethoxy-2-phenylacetophenone, 2,2-diethoxyacetophenone, 4-isopropyl- 2-hydroxy-2-methylpropiophenone, 2-hydroxy-2-methylpropiophenone, 4,4′-bis (diethylamino) benzophenone, benzophenone, methyl (o-benzoyl) benzoate, 1-phenyl-1,2 -Propanedione-2- (o-ethoxycarbonyl) oxime, 1-phenyl-1,2-propanedione-2- (o-benzoyl) oxime, benzoin, benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether, benzoin isopropyl ether, benzoin isobutyl Ether, ben Carbonyl compounds such as inoctyl ether, benzyldimethyl ketal, benzyl diethyl ketal, diacetyl, anthraquinones such as methylanthraquinone, chloroanthraquinone, chlorothioxanthone, 2-methylthioxanthone, 2-isopropylthioxanthone, thioxanthone derivatives, diphenyl disulfide, dithiocarbamate, etc. A sulfur compound is mentioned.

高分子化合物(A)の材料であるモノマーを重合させるための熱重合開始剤は、ラジカル重合の開始剤であればよく、熱重合開始剤としては、例えば、2,2’−アゾビスイソブチロニトリル、2,2’−アゾビスイソバレロニトリル、2,2’−アゾビス(2,4−ジメチルバレロニトリル)、4,4’−アゾビス(4−シアノバレリックアシッド)、1,1’−アゾビス(シクロヘキサンカルボニトリル)、2,2’−アゾビス(2−メチルプロパン)、2,2’−アゾビス(2−メチルプロピオンアミジン)2塩酸塩等のアゾ化合物、メチルエチルケトンパーオキシド、メチルイソブチルケトンパーオキシド、シクロヘキサノンパーオキシド、アセチルアセトンパーオキシド等のケトンパーオキシド、イソブチルパーオキシド、ベンゾイルパーオキシド、2,4−ジクロロベンゾイルパーオキシド、o−メチルベンゾイルパーオキシド、ラウロイルパーオキシド、p−クロロベンゾイルパーオキシド等のジアシルパーオキシド、2,4,4−トリメチルペンチル−2−ヒドロパーオキシド、ジイソプロピルベンゼンパーオキシド、クメンヒドロパーオキシド、tert−ブチルパーオキシド等のヒドロパーオキシド、ジクミルパーオキシド、tert−ブチルクミルパーオキシド、ジ−tert−ブチルパーオキシド、トリス(tert−ブチルパーオキシ)トリアジン等のジアルキルパーオキシド、1,1−ジ−tert−ブチルパーオキシシクロヘキサン、2,2−ジ(tert−ブチルパーオキシ)ブタン等のパーオキシケタール、tert−ブチルパーオキシピバレート、tert−ブチルパーオキシ−2−エチルヘキサノエート、tert−ブチルパーオキシイソブチレート、ジ−tert−ブチルパーオキシヘキサヒドロテレフタレート、ジ−tert−ブチルパーオキシアゼレート、tert−ブチルパーオキシ−3,5,5−トリメチルヘキサノエート、tert−ブチルパーオキシアセテート、tert−ブチルパーオキシベンゾエート、ジ−tert−ブチルパーオキシトリメチルアジペート等のアルキルパーエステル、ジイソプロピルパーオキシジカーボネート、ジ−sec−ブチルパーオキシジカーボネート、tert−ブチルパーオキシイソプロピルカーボネート等のパーカーボネートが挙げられる。   The thermal polymerization initiator for polymerizing the monomer that is the material of the polymer compound (A) may be any radical polymerization initiator. Examples of the thermal polymerization initiator include 2,2′-azobisisobutyrate. Ronitrile, 2,2′-azobisisovaleronitrile, 2,2′-azobis (2,4-dimethylvaleronitrile), 4,4′-azobis (4-cyanovaleric acid), 1,1′- Azo compounds such as azobis (cyclohexanecarbonitrile), 2,2′-azobis (2-methylpropane), 2,2′-azobis (2-methylpropionamidine) dihydrochloride, methyl ethyl ketone peroxide, methyl isobutyl ketone peroxide , Cyclohexanone peroxide, ketone peroxide such as acetylacetone peroxide, isobutyl peroxide, benzo Diacyl peroxides such as luperoxide, 2,4-dichlorobenzoyl peroxide, o-methylbenzoyl peroxide, lauroyl peroxide, p-chlorobenzoyl peroxide, 2,4,4-trimethylpentyl-2-hydroperoxide, Hydroperoxides such as diisopropylbenzene peroxide, cumene hydroperoxide, tert-butyl peroxide, dicumyl peroxide, tert-butylcumyl peroxide, di-tert-butyl peroxide, tris (tert-butylperoxy) triazine Dialkyl peroxides such as 1,1-di-tert-butylperoxycyclohexane, peroxyketals such as 2,2-di (tert-butylperoxy) butane, and tert-butylperoxypivale Tert-butylperoxy-2-ethylhexanoate, tert-butylperoxyisobutyrate, di-tert-butylperoxyhexahydroterephthalate, di-tert-butylperoxyazelate, tert-butylperoxy -3,5,5-trimethylhexanoate, tert-butyl peroxyacetate, tert-butyl peroxybenzoate, alkyl peresters such as di-tert-butylperoxytrimethyladipate, diisopropyl peroxydicarbonate, di-sec -Percarbonates such as butyl peroxydicarbonate and tert-butylperoxyisopropyl carbonate.

以下、高分子化合物(A)が含み得る繰り返し単位について説明する。   Hereinafter, the repeating unit that the polymer compound (A) may contain will be described.

(ブロック化イソシアナト基及びブロック化イソチオシアナト基を含む群から選ばれる少なくとも1種の基を有する繰り返し単位)
高分子化合物(A)は、ブロック化イソシアナト基及びブロック化イソチオシアナト基を含む群から選ばれる少なくとも1種の基を有する繰り返し単位を含む。
換言すると、高分子化合物(A)は、ブロック化イソシアナト基のみを有する繰り返し単位を含んでいても、ブロック化イソチオシアナト基のみを有する繰り返し単位を含んでいても、ブロック化イソシアナト基及びブロック化イソチオシアナト基の両方を有する繰り返し単位を含んでいても、ブロック化イソシアナト基のみを有する繰り返し単位、ブロック化イソチオシアナト基のみを有する繰り返し単位、並びにブロック化イソシアナト基及びブロック化イソチオシアナト基の両方を有する繰り返し単位の2種以上の組み合わせを含んでいてもよい。
(Repeating unit having at least one group selected from the group comprising a blocked isocyanato group and a blocked isothiocyanato group)
The polymer compound (A) includes a repeating unit having at least one group selected from the group containing a blocked isocyanato group and a blocked isothiocyanato group.
In other words, the polymer compound (A) may contain a blocked isocyanato group and a blocked isothiocyanato group, whether it contains a repeating unit having only a blocked isocyanato group or a repeating unit having only a blocked isothiocyanato group. Of repeating units having only a blocked isocyanato group, repeating units having only a blocked isothiocyanato group, and repeating units having both a blocked isocyanato group and a blocked isothiocyanato group. A combination of more than one species may be included.

ブロック化イソシアナト基及びブロック化イソチオシアナト基を含む群から選ばれる少なくとも1種の基を有する繰り返し単位の構造は、その原料となるモノマーの化学構造に基づく。
以下、ブロック化イソシアナト基及びブロック化イソチオシアナト基を含む群から選ばれる少なくとも1種の基を有する繰り返し単位の原料となるモノマーの例を示す。
The structure of the repeating unit having at least one group selected from the group containing a blocked isocyanato group and a blocked isothiocyanato group is based on the chemical structure of the monomer as the raw material.
Hereinafter, examples of a monomer that is a raw material for a repeating unit having at least one group selected from the group containing a blocked isocyanato group and a blocked isothiocyanato group will be shown.

ブロック化イソシアナト基及びブロック化イソチオシアナト基を含む群から選ばれる少なくとも1種の基を有する繰り返し単位の原料となるモノマーの例としては、ブロック化イソシアナト基又はブロック化イソチオシアナト基と不飽和結合とを分子内に有するモノマーが挙げられる。   Examples of the monomer that is a raw material of the repeating unit having at least one group selected from the group containing a blocked isocyanato group and a blocked isothiocyanato group include a blocked isocyanate group or a blocked isothiocyanate group and an unsaturated bond. The monomer which has in the inside is mentioned.

ブロック化イソシアナト基及び/又はブロック化イソチオシアナト基と不飽和結合とを分子内に有するモノマーは、イソシアナト基及び/又はイソチオシアナト基と不飽和結合とを分子内に有する化合物と、ブロック化剤とを反応させることにより製造することができる。不飽和結合としては、不飽和二重結合が好ましい。   A monomer having a blocked isocyanato group and / or a blocked isothiocyanato group and an unsaturated bond in the molecule reacts with the blocking agent and a compound having the isocyanato group and / or the isothiocyanato group and the unsaturated bond in the molecule. Can be manufactured. As the unsaturated bond, an unsaturated double bond is preferable.

分子内に不飽和二重結合とイソシアナト基とを有する化合物の例としては、2−アクリロイルオキシエチルイソシアネート、2−メタクリロイルオキシエチルイソシアネート、2−(2’−メタクリロイルオキシエチル)オキシエチルイソシアネート等が挙げられる。分子内に不飽和二重結合とイソチオシアナト基とを有する化合物の例としては、2−アクリロイルオキシエチルイソチオシアネート、2−メタクリロイルオキシエチルイソチオシアネート、2−(2’−メタクリロイルオキシエチル)オキシエチルイソチオシアネート等が挙げられる。   Examples of the compound having an unsaturated double bond and an isocyanato group in the molecule include 2-acryloyloxyethyl isocyanate, 2-methacryloyloxyethyl isocyanate, 2- (2′-methacryloyloxyethyl) oxyethyl isocyanate, and the like. It is done. Examples of the compound having an unsaturated double bond and an isothiocyanato group in the molecule include 2-acryloyloxyethyl isothiocyanate, 2-methacryloyloxyethyl isothiocyanate, 2- (2′-methacryloyloxyethyl) oxyethyl isothiocyanate. Etc.

分子内に不飽和二重結合とブロック化イソシアナト基を有するモノマーの例としては、2−〔O−[1’−メチルプロピリデンアミノ]カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート、2−〔N−[1’,3’−ジメチルピラゾリル]カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート等が挙げられる。   Examples of the monomer having an unsaturated double bond and a blocked isocyanate group in the molecule include 2- [O- [1′-methylpropylideneamino] carboxyamino] ethyl-methacrylate, 2- [N- [1 ′]. , 3′-dimethylpyrazolyl] carboxyamino] ethyl-methacrylate and the like.

ブロック化イソシアナト基、ブロック化イソチオシアナト基は、例えば、ブロック化剤1分子中にイソシアナト基又はイソチオシアナト基と反応しうる活性水素を1個のみ有するブロック化剤と、イソシアナト基又はイソチオシアナト基を有する化合物とを反応させることにより生成させることができる。   The blocked isocyanato group and the blocked isothiocyanato group are, for example, a blocking agent having only one active hydrogen capable of reacting with an isocyanato group or an isothiocyanato group in one molecule of the blocking agent, and a compound having an isocyanato group or an isothiocyanato group. Can be produced by reacting.

ブロック化剤は、イソシアナト基及び/又はイソチオシアナト基と反応した後でも、170℃以下の温度でこれらの基から脱離させることができる化合物であることが好ましい。ブロック化剤としては、例えば、アルコ−ル化合物、フェノ−ル化合物、活性メチレン化合物、メルカプタン化合物、酸アミド化合物、酸イミド化合物、イミダゾール化合物、尿素化合物、オキシム化合物、アミン化合物、イミン化合物、重亜硫酸塩、ピリジン化合物、ピラゾール化合物が挙げられる。これらのブロック化剤は、単独で使用してもよく、また2種以上を混合して使用してもよい。好ましいブロック化剤の例としては、オキシム化合物、ピラゾール化合物が挙げられる。   The blocking agent is preferably a compound that can be removed from these groups at a temperature of 170 ° C. or lower even after reacting with an isocyanato group and / or an isothiocyanato group. Examples of the blocking agent include alcohol compounds, phenol compounds, active methylene compounds, mercaptan compounds, acid amide compounds, acid imide compounds, imidazole compounds, urea compounds, oxime compounds, amine compounds, imine compounds, and bisulfite. Examples thereof include salts, pyridine compounds, and pyrazole compounds. These blocking agents may be used alone or in combination of two or more. Examples of preferable blocking agents include oxime compounds and pyrazole compounds.

以下に、適用しうるブロック化剤を具体的に示す。アルコ−ル化合物の例としては、メタノール、エタノール、プロパノール、ブタノール、2−エチルヘキサノール、メチルセロソルブ、ブチルセロソルブ、メチルカルビトール、ベンジルアルコール、シクロヘキサノール等が挙げられる。フェノール化合物の例としては、フェノール、クレゾール、エチルフェノール、ブチルフェノール、ノニルフェノール、ジノニルフェノール、スチレン化フェノール、ヒドロキシ安息香酸エステル等が挙げられる。活性メチレン化合物の例としては、マロン酸ジメチル、マロン酸ジエチル、アセト酢酸メチル、アセト酢酸エチル、アセチルアセトン等が挙げられる。メルカプタン化合物の例としては、ブチルメルカプタン、ドデシルメルカプタン等が挙げられる。酸アミド化合物の例としては、アセトアニリド、酢酸アミド、ε−カプロラクタム、δ−バレロラクタム、γ−ブチロラクタム等が挙げられる。酸イミド化合物の例としては、コハク酸イミド、マレイン酸イミド等が挙げられる。イミダゾール化合物の例としては、イミダゾール、2−メチルイミダゾール等が挙げられる。尿素化合物の例としては、尿素、チオ尿素、エチレン尿素等が挙げられる。アミン化合物の例としては、ジフェニルアミン、アニリン、カルバゾール等が挙げられる。イミン化合物の例としては、エチレンイミン、ポリエチレンイミン等が挙げられる。重亜硫酸塩の例としては、重亜硫酸ソーダ等が挙げられる。ピリジン化合物の例としては、2−ヒドロキシピリジン、2−ヒドロキシキノリン等が挙げられる。オキシム化合物の例としては、ホルムアルドオキシム、アセトアルドオキシム、アセトオキシム、メチルエチルケトオキシム、シクロヘキサノンオキシム等が挙げられる。ピラゾール化合物の例としては、3,5−ジメチルピラゾール、3,5−ジエチルピラゾール等が挙げられる。   The applicable blocking agent is specifically shown below. Examples of the alcohol compound include methanol, ethanol, propanol, butanol, 2-ethylhexanol, methyl cellosolve, butyl cellosolve, methyl carbitol, benzyl alcohol, cyclohexanol and the like. Examples of the phenol compound include phenol, cresol, ethylphenol, butylphenol, nonylphenol, dinonylphenol, styrenated phenol, hydroxybenzoic acid ester, and the like. Examples of the active methylene compound include dimethyl malonate, diethyl malonate, methyl acetoacetate, ethyl acetoacetate, acetylacetone and the like. Examples of mercaptan compounds include butyl mercaptan and dodecyl mercaptan. Examples of the acid amide compound include acetanilide, acetic acid amide, ε-caprolactam, δ-valerolactam, γ-butyrolactam and the like. Examples of the acid imide compound include succinimide, maleic imide and the like. Examples of the imidazole compound include imidazole and 2-methylimidazole. Examples of urea compounds include urea, thiourea, ethyleneurea and the like. Examples of amine compounds include diphenylamine, aniline, carbazole and the like. Examples of the imine compound include ethyleneimine and polyethyleneimine. Examples of the bisulfite include sodium bisulfite. Examples of pyridine compounds include 2-hydroxypyridine and 2-hydroxyquinoline. Examples of oxime compounds include formal oxime, acetal oxime, acetoxime, methyl ethyl ketoxime, cyclohexanone oxime, and the like. Examples of the pyrazole compound include 3,5-dimethylpyrazole, 3,5-diethylpyrazole and the like.

高分子化合物(A)が有し得るブロック化イソシアナト基及び/又はブロック化イソチオシアナト基は、下記式(3)で表される基又は下記式(4)で表される基であることが好ましい。   The blocked isocyanato group and / or the blocked isothiocyanato group that the polymer compound (A) may have is preferably a group represented by the following formula (3) or a group represented by the following formula (4).

Figure 2017141933
Figure 2017141933

式(3)及び(4)中、Xは、酸素原子又は硫黄原子を表す。R、R、R10、R11、R12は、互いに異なっていてもよく、水素原子又は炭素原子数1〜20の1価の有機基を表す。R〜R12である炭素原子数1〜20の1価の有機基の定義、具体例等は、上記のとおりである。In the formulas (3) and (4), Xb represents an oxygen atom or a sulfur atom. R 8 , R 9 , R 10 , R 11 , and R 12 may be different from each other and represent a hydrogen atom or a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms. The definition, specific examples, and the like of the monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms that is R 8 to R 12 are as described above.

本発明の一実施形態では、前記式(3)中のR及びRは、互いに異なっていてもよく、メチル基及びエチル基からなる群から選択される基であることが好ましい。また、他の実施形態では、前記式(4)中のR10及びR12はメチル基であり、R11は水素原子であることが好ましい。In one embodiment of the present invention, R 8 and R 9 in the formula (3) may be different from each other, and are preferably groups selected from the group consisting of a methyl group and an ethyl group. In another embodiment, R 10 and R 12 in formula (4) are preferably methyl groups, and R 11 is preferably a hydrogen atom.

ブロック化イソシアナト基としては、例えば、O−(メチリデンアミノ)カルボキシアミノ基、O−(1−エチリデンアミノ)カルボキシアミノ基、O−(1−メチルエチリデンアミノ)カルボキシアミノ基、O−[1−メチルプロピリデンアミノ]カルボキシアミノ基、(N−3,5−ジメチルピラゾリルカルボニル)アミノ基、(N−3−エチル−5−メチルピラゾリルカルボニル)アミノ基、(N−3,5−ジエチルピラゾリルカルボニル)アミノ基、(N−3−プロピル−5−メチルピラゾリルカルボニル)アミノ基、(N−3−エチル−5−プロピルピラゾリルカルボニル)アミノ基等が挙げられる。   Examples of the blocked isocyanato group include O- (methylideneamino) carboxyamino group, O- (1-ethylideneamino) carboxyamino group, O- (1-methylethylideneamino) carboxyamino group, and O- [1-methylpropylene group. Ridenamino] carboxyamino group, (N-3,5-dimethylpyrazolylcarbonyl) amino group, (N-3-ethyl-5-methylpyrazolylcarbonyl) amino group, (N-3,5-diethylpyrazolylcarbonyl) amino group , (N-3-propyl-5-methylpyrazolylcarbonyl) amino group, (N-3-ethyl-5-propylpyrazolylcarbonyl) amino group, and the like.

ブロック化イソチオシアナト基としては、例えば、O−(メチリデンアミノ)チオカルボキシアミノ基、O−(1−エチリデンアミノ)チオカルボキシアミノ基、O−(1−メチルエチリデンアミノ)チオカルボキシアミノ基、O−[1−メチルプロピリデンアミノ]チオカルボキシアミノ基、(N−3,5−ジメチルピラゾリルチオカルボニル)アミノ基、(N−3−エチル−5−メチルピラゾリルチオカルボニル)アミノ基、(N−3,5−ジエチルピラゾリルチオカルボニル)アミノ基、(N−3−プロピル−5−メチルピラゾリルチオカルボニル)アミノ基、(N−3−エチル−5−プロピルピラゾリルチオカルボニル)アミノ基等が挙げられる。   Examples of the blocked isothiocyanato group include O- (methylideneamino) thiocarboxyamino group, O- (1-ethylideneamino) thiocarboxyamino group, O- (1-methylethylideneamino) thiocarboxyamino group, O- [1 -Methylpropylideneamino] thiocarboxyamino group, (N-3,5-dimethylpyrazolylthiocarbonyl) amino group, (N-3-ethyl-5-methylpyrazolylthiocarbonyl) amino group, (N-3,5- Examples include diethylpyrazolylthiocarbonyl) amino group, (N-3-propyl-5-methylpyrazolylthiocarbonyl) amino group, and (N-3-ethyl-5-propylpyrazolylthiocarbonyl) amino group.

本発明に用いられる高分子化合物(A)にかかる、ブロック化イソシアナト基及びブロック化イソチオシアナト基を含む群から選ばれる少なくとも1種の基(第1の官能基)としては、ブロック化イソシアナト基が好ましい。   As the at least one group (first functional group) selected from the group containing a blocked isocyanato group and a blocked isothiocyanato group according to the polymer compound (A) used in the present invention, a blocked isocyanato group is preferable. .

イソシアナト基及び/又はイソチオシアナト基と不飽和結合とを分子内に有する化合物と、ブロック化剤とを反応させるにあたり、必要に応じて有機溶媒、触媒等を添加して反応させることができる。   In reacting a compound having an isocyanato group and / or an isothiocyanato group and an unsaturated bond in the molecule with a blocking agent, an organic solvent, a catalyst, or the like can be added and reacted as necessary.

分子内に不飽和二重結合とブロック化イソシアナト基及び/又はブロック化イソチオシアナト基とを有するモノマーの仕込みモル比は、重合に関与する全てのモノマーに対し、好ましくは1モル%以上60モル%以下であり、より好ましくは1モル%以上30モル%以下であり、さらに好ましくは1モル%以上10モル%以下である。上記モノマーの仕込みモル比をこの範囲に調節することにより、硬化された硬化物の内部に架橋構造が十分形成され、かつ含まれる極性基の数を減少させることができる。よって、上記モノマーが重合した重合体を、例えば有機薄膜トランジスタのゲート絶縁層に用いた場合に、分極を抑制することができる。   The charged molar ratio of the monomer having an unsaturated double bond and a blocked isocyanato group and / or a blocked isothiocyanato group in the molecule is preferably 1 mol% or more and 60 mol% or less with respect to all monomers involved in the polymerization. More preferably, they are 1 mol% or more and 30 mol% or less, More preferably, they are 1 mol% or more and 10 mol% or less. By adjusting the charge molar ratio of the monomer within this range, a crosslinked structure is sufficiently formed inside the cured product and the number of polar groups contained can be reduced. Therefore, when the polymer in which the monomer is polymerized is used for, for example, a gate insulating layer of an organic thin film transistor, polarization can be suppressed.

(ヒドロキシ基を有する繰り返し単位、カルボキシ基を有する繰り返し単位並びにヒドロキシ基及びカルボキシ基を有する繰り返し単位を含む群から選ばれる少なくとも1種の繰り返し単位)
高分子化合物(A)は、ヒドロキシ基を有する繰り返し単位、カルボキシ基を有する繰り返し単位並びにヒドロキシ基及びカルボキシ基を有する繰り返し単位を含む群から選ばれる少なくとも1種の繰り返し単位を含む。
(At least one repeating unit selected from the group comprising a repeating unit having a hydroxy group, a repeating unit having a carboxy group, and a repeating unit having a hydroxy group and a carboxy group)
The polymer compound (A) includes at least one repeating unit selected from the group comprising a repeating unit having a hydroxy group, a repeating unit having a carboxy group, and a repeating unit having a hydroxy group and a carboxy group.

換言すると、高分子化合物(A)は、ヒドロキシ基を有する繰り返し単位のみを含んでいても、カルボキシ基を有する繰り返し単位のみを含んでいても、ヒドロキシ基及びカルボキシ基を有する繰り返し単位のみを含んでいても、ヒドロキシ基を有する繰り返し単位、カルボキシ基を有する繰り返し単位、並びにヒドロキシ基及びカルボキシ基を有する繰り返し単位の2種以上の組み合わせを含んでいてもよい。   In other words, the polymer compound (A) includes only a repeating unit having a hydroxy group, only a repeating unit having a carboxy group, or only a repeating unit having a hydroxy group and a carboxy group. In addition, a combination of two or more of a repeating unit having a hydroxy group, a repeating unit having a carboxy group, and a repeating unit having a hydroxy group and a carboxy group may be included.

高分子化合物(A)に含まれる、ヒドロキシ基を有する繰り返し単位、カルボキシ基を有する繰り返し単位並びにヒドロキシ基及びカルボキシ基を有する繰り返し単位を含む群から選ばれる少なくとも1種の繰り返し単位は、原料の入手が容易であるため、下記式(2)で表される繰り返し単位であることが好ましい。   The polymer compound (A) contains at least one repeating unit selected from the group comprising a repeating unit having a hydroxy group, a repeating unit having a carboxy group, and a repeating unit having a hydroxy group and a carboxy group. Since it is easy, it is preferable that it is a repeating unit represented by following formula (2).

Figure 2017141933
Figure 2017141933

前記式(2)中、R、R、Rは、互いに異なっていてもよく、水素原子、フッ素原子、又は炭素原子数1〜20の1価の有機基を表す。Rは、炭素原子数1〜20の2価の有機基、−O−で表される基、−CO−で表される基、−COO−で表される基、−NHCO−で表される基、又は−NHCOO−で表される基を表し、前記−O−で表される基、前記−CO−で表される基、前記−COO−で表される基、前記−NHCO−で表される基、及び前記−NHCOO−で表される基の結合手は、前記式(2)中の前記Rが結合する炭素原子側に位置していても、前記式(2)中のX側に位置していてもよい。前記2価の有機基中の水素原子は、フッ素原子で置換されていてもよい。m2は、0〜6の整数を表す。Xは、ヒドロキシ基又はカルボキシ基を表す。In said formula (2), R < 5 >, R < 6 >, R < 7 > may mutually differ and represents a hydrogen atom, a fluorine atom, or a C1-C20 monovalent organic group. R b is a divalent organic group having 1 to 20 carbon atoms, a group represented by —O—, a group represented by —CO—, a group represented by —COO—, or —NHCO—. Or a group represented by -NHCOO-, a group represented by -O-, a group represented by -CO-, a group represented by -COO-, or -NHCO- Even if the bond of the group represented by the group represented by —NHCOO— is located on the carbon atom side to which R 5 in the formula (2) is bonded, the group in the formula (2) It may be located on the Xa side. A hydrogen atom in the divalent organic group may be substituted with a fluorine atom. m2 represents the integer of 0-6. Xa represents a hydroxy group or a carboxy group.

前記式(2)中、R、R、Rは、水素原子又はメチル基であることが好ましい。また、m2は、0〜2の整数であることが好ましい。In said formula (2), it is preferable that R < 5 >, R < 6 >, R < 7 > is a hydrogen atom or a methyl group. Moreover, it is preferable that m2 is an integer of 0-2.

前記式(2)で表される繰り返し単位としては、例えば、下記式(2−1)で表わされる繰り返し単位が挙げられる。

Figure 2017141933
Examples of the repeating unit represented by the formula (2) include a repeating unit represented by the following formula (2-1).
Figure 2017141933

前記式(2−1)中、R、R、R及びXは、前記と同じ意味を表わす。Yは−COO−で表される基、−NHCO−で表される基、炭素原子数1〜20の2価の有機基又は直接結合を表わす。前記−COO−で表される基の炭素原子側の結合手は、前記式(2−1)中の前記Rが結合する炭素原子側に位置しており、前記−NHCO−で表される基の炭素原子側の結合手は、前記式(2−1)中の前記Rが結合する炭素原子側に位置している。Yが−COO−で表される基又は−NHCO−で表される基である場合、Yは炭素原子数1〜20の2価の有機基を表わす。Yが炭素原子数1〜20の2価の有機基で表される基である場合、Yは直接結合を表わす。Yが直接結合である場合、Yは直接結合を表わす。In the formula (2-1), R 5 , R 6 , R 7 and X a represent the same meaning as described above. Y 1 represents a group represented by —COO—, a group represented by —NHCO—, a divalent organic group having 1 to 20 carbon atoms, or a direct bond. The bond on the carbon atom side of the group represented by —COO— is located on the carbon atom side to which R 5 in the formula (2-1) is bonded, and is represented by —NHCO—. The bond on the carbon atom side of the group is located on the carbon atom side to which R 5 in the formula (2-1) is bonded. When Y 1 is a group represented by —COO— or a group represented by —NHCO—, Y 2 represents a divalent organic group having 1 to 20 carbon atoms. When Y 1 is a group represented by a divalent organic group having 1 to 20 carbon atoms, Y 2 represents a direct bond. When Y 1 is a direct bond, Y 2 represents a direct bond.

高分子化合物(A)に含まれるヒドロキシ基及び又はカルボキシ基を有する繰り返し単位の原料となるモノマーの例としては、2−ヒドロキシエチルアクリレート、2−ヒドロキシプロピルアクリレート、3−ヒドロキシプロピルアクリレート、2−ヒドロキシブチルアクリレート、4−ヒドロキシブチルアクリレート、6−ヒドロキシヘキシルアクリレート、8−ヒドロキシオクチルアクリレート、4−ヒドロキシメチルシクロヘキシルアクリレート、2−ヒドロキシ−1−メチルエチルアクリレート、2−(2−ヒドロキシエトキシ)エチルアクリレート、2−ヒドロキシフェニルエチルアクリレート、3−ヒドロキシ−1−アダマンチルアクリレート、2−ヒドロキシシクロヘキシルアクリレート、3−ヒドロキシシクロヘキシルアクリレート、4−ヒドロキシシクロヘキシルアクリレート、2−ヒドロキシ−3−フェノキシプロピルアクリレート、カルボキシメチルアクリレート、2−カルボキシエチルアクリレート、2−カルボキシプロピルアクリレート、3−カルボキシプロピルアクリレート、2−カルボキシブチルアクリレート、4−カルボキシブチルアクリレート、6−カルボキシヘキシルアクリレート、8−カルボキシオクチルアクリレート、4−カルボキシメチルシクロヘキシルアクリレート、2−カルボキシ−1−メチルエチルアクリレート、2−カルボキシフェニルエチルアクリレート、3−カルボキシ−1−アダマンチルアクリレート、2−カルボキシシクロヘキシルアクリレート、3−カルボキシシクロヘキシルアクリレート、2−カルボキシ−3−フェノキシプロピルアクリレート、2−ヒドロキシエチルメタクリレート、2−ヒドロキシプロピルメタクリレート、3−ヒドロキシプロピルメタクリレート、2−ヒドロキシブチルメタクリレート、4−ヒドロキシブチルメタクリレート、6−ヒドロキシヘキシルメタクリレート、8−ヒドロキシオクチルメタクリレート、4−ヒドロキシメチルシクロヘキシルメタクリレート、2−ヒドロキシ−1−メチルエチルメタクリレート、2−(2−ヒドロキシエトキシ)エチルメタクリレート、2−ヒドロキシフェニルエチルメタクリレート、3−ヒドロキシ−1−アダマンチルメタクリレート、2−ヒドロキシシクロヘキシルメタクリレート、3−ヒドロキシシクロヘキシルメタクリレート、4−ヒドロキシシクロヘキシルメタクリレート、2−ヒドロキシ−3−フェノキシプロピルメタクリレート、カルボキシメチルメタクリレート、2−カルボキシエチルメタクリレート、2−カルボキシプロピルメタクリレート、3−カルボキシプロピルメタクリレート、2−カルボキシブチルメタクリレート、4−カルボキシブチルメタクリレート、6−カルボキシヘキシルメタクリレート、8−カルボキシオクチルメタクリレート、4−カルボキシメチルシクロヘキシルメタクリレート、2−カルボキシ−1−メチルエチルメタクリレート、2−カルボキシフェニルエチルメタクリレート、3−カルボキシ−1−アダマンチルメタクリレート、2−カルボキシシクロヘキシルメタクリレート、3−カルボキシシクロヘキシルメタクリレート、2−カルボキシ−3−フェノキシプロピルメタクリレート、2−プロペン−1−オール、ヒドロキシエチルビニルエーテル、ヒドロキシブチルビニルエーテル、2−アリルフェノール、3−アリルオキシプロピオン酸、4−ヒドロキシ安息香酸アリル、エチレングリコールモノアリルエーテル、3−アリルオキシ−1,2−プロパンジオール、o−ヒドロキシスチレン、m−ヒドロキシスチレン、p−ヒドロキシスチレン、アクリル酸、メタクリル酸、フマル酸、マレイン酸、イタコン酸、2−ビニル安息香酸、3−ビニル安息香酸、4−ビニル安息香酸、2−(トリフルオロメチル)アクリル酸、6−アクリルアミドヘキサン酸、N−(2−ヒドロキシエチル)アクリルアミド、N−(4−ヒドロキシフェニル)アクリルアミド、2−アクリロイロキシエチル−コハク酸、2−アクリロイロキシエチルヘキサヒドロフタル酸、2−アクリロイロキシエチル−フタル酸、2−アクリロイロキシエチル−2−ヒドロキシエチル−フタル酸、2,2−ビス(アリルオキシメチル)−1−ブタノール、1,3−ジアリルオキシ−2−プロパノール、1,5−ヘキサジエン−3,4−ジオール、ペンタエリスリトールトリアクリレート、ペンタエリスリトールトリメタクリレート、3−パーフルオロブチル−2−ヒドロキシプロピルアクリレート、3−パーフルオロヘキシル−2−ヒドロキシプロピルアクリレート、3−パーフルオロオクチル−2−ヒドロキシプロピルアクリレート、3−(パーフルオロ−3−メチルブチル)−2−ヒドロキシプロピルアクリレート、2−(パーフルオロ−3−メチルブチル)−2−ヒドロキシプロピルアクリレート、3−(パーフルオロ−5−メチルヘキシル)−2−ヒドロキシプロピルアクリレート、3−パーフルオロブチル−2−ヒドロキシプロピルメタクリレート、3−パーフルオロヘキシル−2−ヒドロキシプロピルメタクリレート、3−パーフルオロオクチル−2−ヒドロキシプロピルメタクリレート、3−(パーフルオロ−3−メチルブチル)−2−ヒドロキシプロピルメタクリレート、2−(パーフルオロ−3−メチルブチル)−2−ヒドロキシプロピルメタクリレート、3−(パーフルオロ−5−メチルヘキシル)−2−ヒドロキシプロピルメタクリレート、3−(パーフルオロ−7−メチルオクチル)−2−ヒドロキシプロピルメタクリレート、3−カルボキシ−2−ヒドロキシプロピルアクリレート等が挙げられる。   Examples of the monomer that is a raw material of the repeating unit having a hydroxy group and / or a carboxy group contained in the polymer compound (A) include 2-hydroxyethyl acrylate, 2-hydroxypropyl acrylate, 3-hydroxypropyl acrylate, 2-hydroxy Butyl acrylate, 4-hydroxybutyl acrylate, 6-hydroxyhexyl acrylate, 8-hydroxyoctyl acrylate, 4-hydroxymethylcyclohexyl acrylate, 2-hydroxy-1-methylethyl acrylate, 2- (2-hydroxyethoxy) ethyl acrylate, 2 -Hydroxyphenylethyl acrylate, 3-hydroxy-1-adamantyl acrylate, 2-hydroxycyclohexyl acrylate, 3-hydroxycyclohexyl acrylate Rate, 4-hydroxycyclohexyl acrylate, 2-hydroxy-3-phenoxypropyl acrylate, carboxymethyl acrylate, 2-carboxyethyl acrylate, 2-carboxypropyl acrylate, 3-carboxypropyl acrylate, 2-carboxybutyl acrylate, 4-carboxybutyl Acrylate, 6-carboxyhexyl acrylate, 8-carboxyoctyl acrylate, 4-carboxymethylcyclohexyl acrylate, 2-carboxy-1-methylethyl acrylate, 2-carboxyphenylethyl acrylate, 3-carboxy-1-adamantyl acrylate, 2-carboxy Cyclohexyl acrylate, 3-carboxycyclohexyl acrylate, 2-carboxy-3- Enoxypropyl acrylate, 2-hydroxyethyl methacrylate, 2-hydroxypropyl methacrylate, 3-hydroxypropyl methacrylate, 2-hydroxybutyl methacrylate, 4-hydroxybutyl methacrylate, 6-hydroxyhexyl methacrylate, 8-hydroxyoctyl methacrylate, 4- Hydroxymethylcyclohexyl methacrylate, 2-hydroxy-1-methylethyl methacrylate, 2- (2-hydroxyethoxy) ethyl methacrylate, 2-hydroxyphenylethyl methacrylate, 3-hydroxy-1-adamantyl methacrylate, 2-hydroxycyclohexyl methacrylate, 3- Hydroxycyclohexyl methacrylate, 4-hydroxycyclohexyl methacrylate, 2 -Hydroxy-3-phenoxypropyl methacrylate, carboxymethyl methacrylate, 2-carboxyethyl methacrylate, 2-carboxypropyl methacrylate, 3-carboxypropyl methacrylate, 2-carboxybutyl methacrylate, 4-carboxybutyl methacrylate, 6-carboxyhexyl methacrylate, 8 -Carboxyoctyl methacrylate, 4-carboxymethylcyclohexyl methacrylate, 2-carboxy-1-methylethyl methacrylate, 2-carboxyphenylethyl methacrylate, 3-carboxy-1-adamantyl methacrylate, 2-carboxycyclohexyl methacrylate, 3-carboxycyclohexyl methacrylate, 2-carboxy-3-phenoxypropyl methacrylate Rate, 2-propen-1-ol, hydroxyethyl vinyl ether, hydroxybutyl vinyl ether, 2-allylphenol, 3-allyloxypropionic acid, allyl 4-hydroxybenzoate, ethylene glycol monoallyl ether, 3-allyloxy-1,2 -Propanediol, o-hydroxystyrene, m-hydroxystyrene, p-hydroxystyrene, acrylic acid, methacrylic acid, fumaric acid, maleic acid, itaconic acid, 2-vinylbenzoic acid, 3-vinylbenzoic acid, 4-vinylbenzoic acid Acid, 2- (trifluoromethyl) acrylic acid, 6-acrylamidohexanoic acid, N- (2-hydroxyethyl) acrylamide, N- (4-hydroxyphenyl) acrylamide, 2-acryloyloxyethyl-succinic acid, 2- Acryroy Xylethylhexahydrophthalic acid, 2-acryloyloxyethyl-phthalic acid, 2-acryloyloxyethyl-2-hydroxyethyl-phthalic acid, 2,2-bis (allyloxymethyl) -1-butanol, 1,3 -Diallyloxy-2-propanol, 1,5-hexadiene-3,4-diol, pentaerythritol triacrylate, pentaerythritol trimethacrylate, 3-perfluorobutyl-2-hydroxypropyl acrylate, 3-perfluorohexyl-2- Hydroxypropyl acrylate, 3-perfluorooctyl-2-hydroxypropyl acrylate, 3- (perfluoro-3-methylbutyl) -2-hydroxypropyl acrylate, 2- (perfluoro-3-methylbutyl) -2-hydroxypropyl acrylate Chlorate, 3- (perfluoro-5-methylhexyl) -2-hydroxypropyl acrylate, 3-perfluorobutyl-2-hydroxypropyl methacrylate, 3-perfluorohexyl-2-hydroxypropyl methacrylate, 3-perfluorooctyl- 2-hydroxypropyl methacrylate, 3- (perfluoro-3-methylbutyl) -2-hydroxypropyl methacrylate, 2- (perfluoro-3-methylbutyl) -2-hydroxypropyl methacrylate, 3- (perfluoro-5-methylhexyl) ) -2-hydroxypropyl methacrylate, 3- (perfluoro-7-methyloctyl) -2-hydroxypropyl methacrylate, 3-carboxy-2-hydroxypropyl acrylate and the like.

分子内に不飽和二重結合とヒドロキシ基及び/又はカルボキシ基とを有するモノマーの仕込みモル比は、全てのモノマーに対して、好ましくは1モル%以上60モル%以下であり、より好ましくは1モル%以上30モル%以下であり、さらに好ましくは1モル%以上10モル%以下である。   The charge molar ratio of the monomer having an unsaturated double bond and a hydroxy group and / or a carboxy group in the molecule is preferably 1 mol% or more and 60 mol% or less, more preferably 1 mol% with respect to all monomers. It is from mol% to 30 mol%, more preferably from 1 mol% to 10 mol%.

モノマーの仕込みモル比をこの範囲に調節することにより、ゲート絶縁層の内部に架橋構造が十分形成され、かつ含まれる極性基の数を減少させることができる。結果として、ゲート絶縁層の分極を抑制することができる。   By adjusting the monomer charge molar ratio within this range, a sufficient crosslinked structure can be formed inside the gate insulating layer, and the number of polar groups contained can be reduced. As a result, the polarization of the gate insulating layer can be suppressed.

(式(1)で表される繰り返し単位)
高分子化合物(A)は、下記式(1)で表される繰り返し単位を含む。
(Repeating unit represented by formula (1))
The polymer compound (A) includes a repeating unit represented by the following formula (1).

Figure 2017141933
Figure 2017141933

前記式(1)中、R、R、Rは、互いに異なっていてもよく、水素原子、フッ素原子、又は炭素原子数1〜20の1価の有機基を表す。Rは、水素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子又は炭素原子数1〜20の1価の有機基を表す。Rfは、フッ素原子、又はフッ素原子を含む1価の有機基を表す。Rは、炭素原子数1〜20の2価の有機基、−O−で表される基、−CO−で表される基、−COO−で表される基、−NHCO−で表される基、又は−NHCOO−で表される基を表し、前記−O−で表される基、前記−CO−で表される基、前記−COO−で表される基、前記−NHCO−で表される基、及び前記−NHCOO−で表される基の結合手は、前記式(1)中の前記Rが結合する炭素原子側に位置していても、前記式(1)中のベンゼン環を構成する炭素原子側に位置していてもよく、前記2価の有機基中の水素原子は、フッ素原子で置換されていてもよい。m1は、0〜6の整数を表す。n1は、1〜5の整数を表す。In said formula (1), R < 1 >, R < 2 >, R < 3 > may mutually differ and represents a hydrogen atom, a fluorine atom, or a C1-C20 monovalent organic group. R 4 represents a hydrogen atom, a chlorine atom, a bromine atom, an iodine atom or a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms. Rf represents a fluorine atom or a monovalent organic group containing a fluorine atom. R a is represented by a divalent organic group having 1 to 20 carbon atoms, a group represented by —O—, a group represented by —CO—, a group represented by —COO—, or —NHCO—. Or a group represented by -NHCOO-, a group represented by -O-, a group represented by -CO-, a group represented by -COO-, or -NHCO- Even if the bond represented by the group represented by the group represented by -NHCOO- is located on the carbon atom side to which R 1 in the formula (1) is bonded, the group represented by the formula (1) It may be located on the carbon atom side constituting the benzene ring, and the hydrogen atom in the divalent organic group may be substituted with a fluorine atom. m1 represents the integer of 0-6. n1 represents the integer of 1-5.

が複数個ある場合、それらは互いに異なっていてもよい。Rが複数個ある場合、それらは互いに異なっていてもよい。Rfが複数個ある場合、それらは互いに異なっていてもよい。When there are a plurality of R a s , they may be different from each other. When there are a plurality of R 4 , they may be different from each other. When there are a plurality of Rf, they may be different from each other.

高分子化合物(A)が、前記式(1)で表される繰り返し単位を含むことにより、有機薄膜トランジスタのキャリア移動度をより向上させることができる。   When the polymer compound (A) contains the repeating unit represented by the formula (1), the carrier mobility of the organic thin film transistor can be further improved.

前記式(1)中、R、R、Rは、互いに独立に、水素原子又はメチル基であることが好ましい。In said formula (1), it is preferable that R < 1 >, R < 2 >, R < 3 > is a hydrogen atom or a methyl group mutually independently.

前記式(1)中、Rは、炭素原子数1〜20の2価の有機基又は−COO−で表される基であることが好ましい。In the formula (1), R a is preferably a divalent organic group having 1 to 20 carbon atoms or a group represented by —COO—.

前記式(1)中、m1は、0〜2の整数であることが好ましい。   In the formula (1), m1 is preferably an integer of 0 to 2.

前記式(1)中、n1は、組成物を硬化した硬化体の疎水性が向上するので、1〜5の整数であることが好ましい。   In the formula (1), n1 is preferably an integer of 1 to 5 because the hydrophobicity of the cured product obtained by curing the composition is improved.

前記式(1)で表される繰り返し単位の高分子化合物(A)における含有量は、ゲート絶縁層とされて電圧が印加された場合の絶縁破壊強度を高めることができるので、50質量%以上であることが好ましく、60質量%以上であることがより好ましく、65質量%以上であることがさらに好ましく、70質量%以上であることが特に好ましい。   The content of the repeating unit represented by the formula (1) in the polymer compound (A) can increase the dielectric breakdown strength when a voltage is applied as a gate insulating layer, and is therefore 50% by mass or more. Preferably, it is 60 mass% or more, more preferably 65 mass% or more, and particularly preferably 70 mass% or more.

前記式(1)で表される繰り返し単位の原料となるモノマーの例としては、2−トリフルオロメチルスチレン、3−トリフルオロメチルスチレン、4−トリフルオロメチルスチレン、2,3,4,5,6−ペンタフルオロスチレン、2−フルオロスチレン、3−フルオロスチレン、4−フルオロスチレン、2−フルオロ−α―メチルスチレン、3−フルオロ−α―メチルスチレン、4−フルオロ−α―メチルスチレン、4−フルオロ−β―メチルスチレン、4−トリフルオロメチル−α―メチルスチレン、4−フルオロ−2,6−ジメチルスチレン、2,3,4,5,6−ペンタフルオロベンジルアクリレート、2,3,4,5,6−ペンタフルオロベンジルメタクリレート、2−フルオロベンジルアクリレート、2−フルオロベンジルメタクリレート、3−フルオロベンジルアクリレート、3−フルオロベンジルメタクリレート、4−フルオロベンジルアクリレート、4−フルオロベンジルメタクリレート、4−トリフルオロメチルベンジルアクリレート、4−トリフルオロメチルベンジルメタクリレート、3−(4−フルオロフェニル)−1−プロペン、3−ペンタフルオロフェニル−1−プロペン、3−(4―トリフルオロメチルフェニル)−1−プロペン、(4−フルオロフェニル)アクリレート、(4−フルオロフェニル)メタクリレート、ペンタフルオロフェニルアクリレート、ペンタフルオロフェニルメタクリレート、2−(ペンタフルオロフェニル)エチルアクリレート、2−(ペンタフルオロフェニル)エチルメタクリレート、2−(4−フルオロフェニル)エチルアクリレート、2−(4−フルオロフェニル)エチルメタクリレート、N−(4−フルオロフェニル)アクリルアミド、N−(4−フルオロフェニル)メタクリルアミド、N−(ペンタフルオロフェニル)アクリルアミド、N−(ペンタフルオロフェニル)メタクリルアミド等が挙げられる。   Examples of the monomer as a raw material for the repeating unit represented by the formula (1) include 2-trifluoromethylstyrene, 3-trifluoromethylstyrene, 4-trifluoromethylstyrene, 2,3,4,5, 6-pentafluorostyrene, 2-fluorostyrene, 3-fluorostyrene, 4-fluorostyrene, 2-fluoro-α-methylstyrene, 3-fluoro-α-methylstyrene, 4-fluoro-α-methylstyrene, 4- Fluoro-β-methylstyrene, 4-trifluoromethyl-α-methylstyrene, 4-fluoro-2,6-dimethylstyrene, 2,3,4,5,6-pentafluorobenzyl acrylate, 2,3,4, 5,6-pentafluorobenzyl methacrylate, 2-fluorobenzyl acrylate, 2-fluorobenzyl methacrylate Rate, 3-fluorobenzyl acrylate, 3-fluorobenzyl methacrylate, 4-fluorobenzyl acrylate, 4-fluorobenzyl methacrylate, 4-trifluoromethylbenzyl acrylate, 4-trifluoromethylbenzyl methacrylate, 3- (4-fluorophenyl) -1-propene, 3-pentafluorophenyl-1-propene, 3- (4-trifluoromethylphenyl) -1-propene, (4-fluorophenyl) acrylate, (4-fluorophenyl) methacrylate, pentafluorophenyl acrylate , Pentafluorophenyl methacrylate, 2- (pentafluorophenyl) ethyl acrylate, 2- (pentafluorophenyl) ethyl methacrylate, 2- (4-fluorophenyl) ethyl Acrylate, 2- (4-fluorophenyl) ethyl methacrylate, N- (4-fluorophenyl) acrylamide, N- (4-fluorophenyl) methacrylamide, N- (pentafluorophenyl) acrylamide, N- (pentafluorophenyl) And methacrylamide.

(他の繰り返し単位の材料となるモノマー)
高分子化合物(A)は、ブロック化イソシアナト基及び/又はブロック化イソチオシアナト基を有するモノマー、ヒドロキシ基及び/又はカルボキシ基を有する繰り返し単位の原料となるモノマー、上記式(1)で表される繰り返し単位の原料となるモノマー以外の他の繰り返し単位の材料となるモノマーをさらに添加して製造してもよい。
(Monomers used as materials for other repeating units)
The polymer compound (A) includes a monomer having a blocked isocyanato group and / or a blocked isothiocyanato group, a monomer serving as a raw material of a repeating unit having a hydroxy group and / or a carboxy group, and a repeating represented by the above formula (1) You may add and manufacture the monomer used as the material of other repeating units other than the monomer used as the raw material of a unit.

他の繰り返し単位の材料となるモノマーの使用量は、分子内に不飽和二重結合とブロック化イソシアナト基及び/又はブロック化イソチオシアナト基とを有するモノマーの使用量を100モル%とした場合、通常、0モル%以上90モル%以下であってよく、0モル%以上80モル%以下であってよく、0モル%以上50モル%以下であってよい。   The amount of the monomer used as the material of the other repeating unit is usually when the amount of the monomer having an unsaturated double bond and a blocked isocyanato group and / or a blocked isothiocyanato group in the molecule is 100 mol%. 0 mol% or more and 90 mol% or less, 0 mol% or more and 80 mol% or less, and 0 mol% or more and 50 mol% or less.

「他の繰り返し単位の材料となるモノマー」としては、例えば、アクリル酸エステル及びその誘導体、メタクリル酸エステル及びその誘導体、スチレン及びその誘導体、酢酸ビニル及びその誘導体、メタアクリロニトリル及びその誘導体、アクリロニトリル及びその誘導体、有機カルボン酸のビニルエステル及びその誘導体、有機カルボン酸のアリルエステル及びその誘導体、フマル酸のジアルキルエステル及びその誘導体、マレイン酸のジアルキルエステル及びその誘導体、イタコン酸のジアルキルエステル及びその誘導体、有機カルボン酸のN−ビニルアミド誘導体、マレイミド及びその誘導体、末端不飽和炭化水素及びその誘導体等、有機ゲルマニウム誘導体等が挙げられる。   Examples of the “monomer serving as a material of another repeating unit” include acrylic acid esters and derivatives thereof, methacrylic acid esters and derivatives thereof, styrene and derivatives thereof, vinyl acetate and derivatives thereof, methacrylonitrile and derivatives thereof, acrylonitrile and derivatives thereof. Derivatives, vinyl esters of organic carboxylic acids and derivatives thereof, allyl esters of organic carboxylic acids and derivatives thereof, dialkyl esters of fumaric acid and derivatives thereof, dialkyl esters of maleic acid and derivatives thereof, dialkyl esters of itaconic acid and derivatives thereof, organic Examples thereof include N-vinylamide derivatives of carboxylic acids, maleimides and derivatives thereof, terminal unsaturated hydrocarbons and derivatives thereof, and organic germanium derivatives.

「他の繰り返し単位の材料となるモノマー」は、絶縁層に要求される特性に応じて適宜選択される。例えば、優れた耐久性や小さいヒステリシスが優先される場合は、スチレンやスチレン誘導体のように分子密度が高く、硬い膜を形成するモノマーを選択することができる。ゲート絶縁層として用いられ、ゲート電極の表面や基板の表面のような接合面に対する密着性を向上させ、良好な界面を形成できるので、「他の繰り返し単位の材料となるモノマー」としては、メタクリル酸エステル及びその誘導体、アクリル酸エステル及びその誘導体のような柔軟性を付与することができるモノマーを用いることが好ましい。   The “monomer serving as a material for other repeating units” is appropriately selected according to the characteristics required for the insulating layer. For example, when superior durability and small hysteresis are given priority, a monomer that forms a hard film with a high molecular density such as styrene or a styrene derivative can be selected. Since it is used as a gate insulating layer and improves adhesion to bonding surfaces such as the surface of a gate electrode and the surface of a substrate and can form a good interface, “a monomer as a material of another repeating unit” It is preferable to use a monomer capable of imparting flexibility such as an acid ester and a derivative thereof and an acrylic ester and a derivative thereof.

「他の繰り返し単位の材料となるモノマー」であるアクリル酸エステル類及びその誘導体としては、単官能のアクリレートや、多官能のアクリレートを使用することができる。アクリル酸エステル類及びその誘導体としては、例えば、アクリル酸メチル、アクリル酸エチル、アクリル酸−n−プロピル、アクリル酸イソプロピル、アクリル酸−n−ブチル、アクリル酸イソブチル、アクリル酸−sec−ブチル、アクリル酸ヘキシル、アクリル酸オクチル、アクリル酸−2−エチルヘキシル、アクリル酸デシル、アクリル酸イソボルニル、アクリル酸シクロヘキシル、アクリル酸フェニル、アクリル酸ベンジル、2−シアノエチルアクリレート、エチレングリコールジアクリレート、プロピレングリコールジアクリレート、1,4−ブタンジオールジアクリレート、ジエチレングリコールジアクリレート、トリエチレングリコールジアクリレート、トリメチロールプロパンジアクリレート、トリメチロールプロパントリアクリレート、ペンタエリスリトールペンタアクリレート、N,N−ジメチルアクリルアミド、N,N−ジエチルアクリルアミド、N−アクリロイルモルフォリン、2,2,2−トリフルオロエチルアクリレート、2,2,3,3,3−ペンタフルオロプロピルアクリレート、2−(パーフルオロブチル)エチルアクリレート、2−(パーフルオロヘキシル)エチルアクリレート、2−(パーフルオロオクチル)エチルアクリレート、2−(パーフルオロデシル)エチルアクリレート、2−(パーフルオロ−3−メチルブチル)エチルアクリレート、2−(パーフルオロ−5−メチルヘキシル)エチルアクリレート、2−(パーフルオロ−7−メチルオクチル)エチルアクリレート、3−(パーフルオロ−7−メチルオクチル)−2−ヒドロキシプロピルアクリレート、1H、1H、3H−テトラフルオロプロピルアクリレート、1H、1H、5H−オクタフルオロペンチルアクリレート、1H、1H、7H−ドデカフルオロヘプチルアクリレート、1H、1H、9H−ヘキサデカフルオロノニルアクリレート、1H−1−(トリフルオロメチル)トリフルオロエチルアクリレート、1H、1H、3H−ヘキサフルオロブチルアクリレート等を挙げることができる。   Monofunctional acrylates and polyfunctional acrylates can be used as the acrylate esters and derivatives thereof, which are “monomers serving as materials for other repeating units”. Examples of acrylic esters and derivatives thereof include methyl acrylate, ethyl acrylate, acrylic acid-n-propyl, isopropyl acrylate, acrylic acid-n-butyl, acrylic acid isobutyl, acrylic acid-sec-butyl, acrylic Hexyl acrylate, octyl acrylate, 2-ethylhexyl acrylate, decyl acrylate, isobornyl acrylate, cyclohexyl acrylate, phenyl acrylate, benzyl acrylate, 2-cyanoethyl acrylate, ethylene glycol diacrylate, propylene glycol diacrylate, 1 , 4-butanediol diacrylate, diethylene glycol diacrylate, triethylene glycol diacrylate, trimethylol propane diacrylate, trimethylol proppant Acrylate, pentaerythritol pentaacrylate, N, N-dimethylacrylamide, N, N-diethylacrylamide, N-acryloylmorpholine, 2,2,2-trifluoroethyl acrylate, 2,2,3,3,3-pentafluoro Propyl acrylate, 2- (perfluorobutyl) ethyl acrylate, 2- (perfluorohexyl) ethyl acrylate, 2- (perfluorooctyl) ethyl acrylate, 2- (perfluorodecyl) ethyl acrylate, 2- (perfluoro-3 -Methylbutyl) ethyl acrylate, 2- (perfluoro-5-methylhexyl) ethyl acrylate, 2- (perfluoro-7-methyloctyl) ethyl acrylate, 3- (perfluoro-7-methyloctyl) -2-hydride Xylpropyl acrylate, 1H, 1H, 3H-tetrafluoropropyl acrylate, 1H, 1H, 5H-octafluoropentyl acrylate, 1H, 1H, 7H-dodecafluoroheptyl acrylate, 1H, 1H, 9H-hexadecafluorononyl acrylate, 1H Examples include -1- (trifluoromethyl) trifluoroethyl acrylate, 1H, 1H, 3H-hexafluorobutyl acrylate, and the like.

「他の繰り返し単位の材料となるモノマー」であるメタクリル酸エステル類及びその誘導体としては、単官能のメタクリレート、多官能のメタクリレートを使用することができる。メタクリル酸エステル類及びその誘導体としては、例えば、メタクリル酸メチル、メタクリル酸エチル、メタクリル酸−n−プロピル、メタクリル酸イソプロピル、メタクリル酸−n−ブチル、メタクリル酸イソブチル、メタクリル酸−sec−ブチル、メタクリル酸ヘキシル、メタクリル酸オクチル、メタクリル酸−2−エチルヘキシル、メタクリル酸デシル、メタクリル酸イソボルニル、メタクリル酸シクロヘキシル、メタクリル酸フェニル、メタクリル酸ベンジル、エチレングリコールジメタクリレート、プロピレングリコールジメタクリレート、1,4−ブタンジオールジメタクリレート、ジエチレングリコールジメタクリレート、トリエチレングリコールジメタクリレート、トリメチロールプロパンジメタクリレート、トリメチロールプロパントリメタクリレート、ペンタエリスリトールペンタメタクリレート、N,N−ジメチルメタクリルアミド、N,N−ジエチルメタアクリルアミド、N−アクリロイルモルフォリン、2,2,2−トリフルオロエチルメタクリレート、2,2,3,3,3−ペンタフルオロプロピルメタクリレート、2−(パーフルオロブチル)エチルメタクリレート、2−(パーフルオロヘキシル)エチルメタクリレート、2−(パーフルオロオクチル)エチルメタクリレート、2−(パーフルオロデシル)エチルメタクリレート、2−(パーフルオロ−3−メチルブチル)エチルメタクリレート、2−(パーフルオロ−5−メチルヘキシル)エチルメタクリレート、2−(パーフルオロ−7−メチルオクチル)エチルメタクリレート、1H、1H、3H−テトラフルオロプロピルメタクリレート、1H、1H、5H−オクタフルオロペンチルメタクリレート、1H、1H、7H−ドデカフルオロヘプチルメタクリレート、1H、1H、9H−ヘキサデカフルオロノニルメタクリレート、1H−1−(トリフルオロメチル)トリフルオロエチルメタクリレート、1H、1H、3H−ヘキサフルオロブチルメタクリレート等が挙げられる。   Monofunctional methacrylates and polyfunctional methacrylates can be used as the methacrylic acid esters and derivatives thereof, which are “monomers serving as materials for other repeating units”. Methacrylic acid esters and derivatives thereof include, for example, methyl methacrylate, ethyl methacrylate, methacrylic acid-n-propyl, isopropyl methacrylate, methacrylic acid-n-butyl, methacrylic acid isobutyl, methacrylic acid-sec-butyl, methacrylic acid. Hexyl acid, octyl methacrylate, 2-ethylhexyl methacrylate, decyl methacrylate, isobornyl methacrylate, cyclohexyl methacrylate, phenyl methacrylate, benzyl methacrylate, ethylene glycol dimethacrylate, propylene glycol dimethacrylate, 1,4-butanediol Dimethacrylate, diethylene glycol dimethacrylate, triethylene glycol dimethacrylate, trimethylolpropane dimethacrylate, trimethylo Rupropane trimethacrylate, pentaerythritol pentamethacrylate, N, N-dimethylmethacrylamide, N, N-diethylmethacrylamide, N-acryloylmorpholine, 2,2,2-trifluoroethyl methacrylate, 2,2,3,3 , 3-pentafluoropropyl methacrylate, 2- (perfluorobutyl) ethyl methacrylate, 2- (perfluorohexyl) ethyl methacrylate, 2- (perfluorooctyl) ethyl methacrylate, 2- (perfluorodecyl) ethyl methacrylate, 2- (Perfluoro-3-methylbutyl) ethyl methacrylate, 2- (perfluoro-5-methylhexyl) ethyl methacrylate, 2- (perfluoro-7-methyloctyl) ethyl methacrylate, 1H, 1 3H-tetrafluoropropyl methacrylate, 1H, 1H, 5H-octafluoropentyl methacrylate, 1H, 1H, 7H-dodecafluoroheptyl methacrylate, 1H, 1H, 9H-hexadecafluorononyl methacrylate, 1H-1- (trifluoromethyl ) Trifluoroethyl methacrylate, 1H, 1H, 3H-hexafluorobutyl methacrylate and the like.

「他の繰り返し単位の材料となるモノマー」であるスチレン及びその誘導体の例としては、スチレン、2,4−ジメチル−α−メチルスチレン、o−メチルスチレン、m−メチルスチレン、p−メチルスチレン、2,4−ジメチルスチレン、2,5−ジメチルスチレン、2,6−ジメチルスチレン、3,4−ジメチルスチレン、3,5−ジメチルスチレン、2,4,6−トリメチルスチレン、2,4,5−トリメチルスチレン、ペンタメチルスチレン、o−エチルスチレン、m−エチルスチレン、p−エチルスチレン、o−クロロスチレン、m−クロロスチレン、p−クロロスチレン、o−ブロモスチレン、m−ブロモスチレン、p−ブロモスチレン、o−メトキシスチレン、m−メトキシスチレン、p−メトキシスチレン、2−ビニルビフェニル、3−ビニルビフェニル、4−ビニルビフェニル、1−ビニルナフタレン、2−ビニルナフタレン、4−ビニル−p−ターフェニル、1−ビニルアントラセン、α−メチルスチレン、o−イソプロペニルトルエン、m−イソプロペニルトルエン、p−イソプロペニルトルエン、2,4−ジメチル−α−メチルスチレン、2,3−ジメチル−α−メチルスチレン、3,5−ジメチル−α−メチルスチレン、p−イソプロピル−α−メチルスチレン、α−エチルスチレン、α−クロロスチレン、ジビニルベンゼン、ジビニルビフェニル、ジイソプロピルベンゼン、4−(メトキシメトキシ)スチレン、4−(メトキシエトキシメチルオキシ)スチレン、4−(1−エトキシエチルオキシ)スチレン、2−(メトキシメトキシカルボニル)スチレン、2−(メトキシエトキシメチルオキシカルボニル)スチレン、2−(1−エトキシエチルオキシカルボニル)スチレン、2−(テトラヒドロピラニルオキシカルボニル)スチレン、3−(メトキシメトキシカルボニル)スチレン、3−(メトキシエトキシメチルオキシカルボニル)スチレン、3−(1−エトキシエチルオキシカルボニル)スチレン、3−(テトラヒドロピラニルオキシカルボニル)スチレン、4−(メトキシメトキシカルボニル)スチレン、4−(メトキシエトキシメチルオキシカルボニル)スチレン、4−(1−エトキシエチルオキシカルボニル)スチレン、4−(テトラヒドロピラニルオキシカルボニル)スチレン等が挙げられる。   Examples of styrene and its derivatives that are “monomers that are materials of other repeating units” include styrene, 2,4-dimethyl-α-methylstyrene, o-methylstyrene, m-methylstyrene, p-methylstyrene, 2,4-dimethylstyrene, 2,5-dimethylstyrene, 2,6-dimethylstyrene, 3,4-dimethylstyrene, 3,5-dimethylstyrene, 2,4,6-trimethylstyrene, 2,4,5- Trimethylstyrene, pentamethylstyrene, o-ethylstyrene, m-ethylstyrene, p-ethylstyrene, o-chlorostyrene, m-chlorostyrene, p-chlorostyrene, o-bromostyrene, m-bromostyrene, p-bromo Styrene, o-methoxystyrene, m-methoxystyrene, p-methoxystyrene, 2-vinyl bif Nyl, 3-vinylbiphenyl, 4-vinylbiphenyl, 1-vinylnaphthalene, 2-vinylnaphthalene, 4-vinyl-p-terphenyl, 1-vinylanthracene, α-methylstyrene, o-isopropenyltoluene, m-iso Propenyltoluene, p-isopropenyltoluene, 2,4-dimethyl-α-methylstyrene, 2,3-dimethyl-α-methylstyrene, 3,5-dimethyl-α-methylstyrene, p-isopropyl-α-methylstyrene , Α-ethylstyrene, α-chlorostyrene, divinylbenzene, divinylbiphenyl, diisopropylbenzene, 4- (methoxymethoxy) styrene, 4- (methoxyethoxymethyloxy) styrene, 4- (1-ethoxyethyloxy) styrene, 2 -(Methoxymethoxycarbonyl) styrene 2- (methoxyethoxymethyloxycarbonyl) styrene, 2- (1-ethoxyethyloxycarbonyl) styrene, 2- (tetrahydropyranyloxycarbonyl) styrene, 3- (methoxymethoxycarbonyl) styrene, 3- (methoxyethoxymethyloxy) Carbonyl) styrene, 3- (1-ethoxyethyloxycarbonyl) styrene, 3- (tetrahydropyranyloxycarbonyl) styrene, 4- (methoxymethoxycarbonyl) styrene, 4- (methoxyethoxymethyloxycarbonyl) styrene, 4- ( 1-ethoxyethyloxycarbonyl) styrene, 4- (tetrahydropyranyloxycarbonyl) styrene and the like.

「他の繰り返し単位の材料となるモノマー」であるアクリルニトリル及びその誘導体の例としては、アクリロニトリル等が挙げられる。メタアクリルニトリル及びその誘導体の例としては、メタクリロニトリル等が挙げられる。   Examples of acrylonitrile and its derivatives that are “monomers that are materials for other repeating units” include acrylonitrile and the like. Examples of methacrylonitrile and its derivatives include methacrylonitrile.

「他の繰り返し単位の材料となるモノマー」である有機カルボン酸のビニルエステル及びその誘導体の例としては、酢酸ビニル、プロピオン酸ビニル、酪酸ビニル、安息香酸ビニル、アジピン酸ジビニル等が挙げられる。   Examples of vinyl esters of organic carboxylic acids and derivatives thereof that are “monomers that are materials for other repeating units” include vinyl acetate, vinyl propionate, vinyl butyrate, vinyl benzoate, divinyl adipate, and the like.

「他の繰り返し単位の材料となるモノマー」である有機カルボン酸のアリルエステル及びその誘導体の例としては、酢酸アリル、安息香酸アリル、アジピン酸ジアリル、テレフタル酸ジアリル、イソフタル酸ジアリル、フタル酸ジアリル等が挙げられる。   Examples of allyl esters of organic carboxylic acids and derivatives thereof that are “monomers that are materials for other repeating units” include allyl acetate, allyl benzoate, diallyl adipate, diallyl terephthalate, diallyl isophthalate, diallyl phthalate, etc. Is mentioned.

「他の繰り返し単位の材料となるモノマー」であるフマル酸のジアルキルエステル及びその誘導体の例としては、フマル酸ジメチル、フマル酸ジエチル、フマル酸ジイソプロピル、フマル酸ジ−sec−ブチル、フマル酸ジイソブチル、フマル酸ジ−n−ブチル、フマル酸ジ−2−エチルヘキシル、フマル酸ジベンジル等が挙げられる。   Examples of the dialkyl ester of fumaric acid and its derivatives, which are “monomers as materials of other repeating units”, dimethyl fumarate, diethyl fumarate, diisopropyl fumarate, di-sec-butyl fumarate, diisobutyl fumarate, Examples include di-n-butyl fumarate, di-2-ethylhexyl fumarate, dibenzyl fumarate, and the like.

「他の繰り返し単位の材料となるモノマー」であるマレイン酸のジアルキルエステル及びその誘導体の例としては、マレイン酸ジメチル、マレイン酸ジエチル、マレイン酸ジイソプロピル、マレイン酸ジ−sec−ブチル、マレイン酸ジイソブチル、マレイン酸ジ−n−ブチル、マレイン酸ジ−2−エチルヘキシル、マレイン酸ジベンジル等が挙げられる。   Examples of the dialkyl ester of maleic acid and its derivatives, which are “monomers that serve as materials for other repeating units”, include dimethyl maleate, diethyl maleate, diisopropyl maleate, di-sec-butyl maleate, diisobutyl maleate, Examples include di-n-butyl maleate, di-2-ethylhexyl maleate, and dibenzyl maleate.

「他の繰り返し単位の材料となるモノマー」であるイタコン酸のジアルキルエステル及びその誘導体の例としては、イタコン酸ジメチル、イタコン酸ジエチル、イタコン酸ジイソプロピル、イタコン酸ジ−sec−ブチル、イタコン酸ジイソブチル、イタコン酸ジ−n−ブチル、イタコン酸ジ−2−エチルヘキシル、イタコン酸ジベンジル等が挙げられる。   Examples of the dialkyl ester of itaconic acid which is a “monomer serving as a material of another repeating unit” and its derivatives include dimethyl itaconate, diethyl itaconate, diisopropyl itaconate, di-sec-butyl itaconate, diisobutyl itaconate, Examples include di-n-butyl itaconate, di-2-ethylhexyl itaconate, and dibenzyl itaconate.

「他の繰り返し単位の材料となるモノマー」である有機カルボン酸のN−ビニルアミド誘導体の例としては、N−メチル−N−ビニルアセトアミド等が挙げられる。   Examples of N-vinylamide derivatives of organic carboxylic acids that are “monomers that serve as materials for other repeating units” include N-methyl-N-vinylacetamide and the like.

「他の繰り返し単位の材料となるモノマー」であるマレイミド及びその誘導体の例としては、N−フェニルマレイミド、N−シクロヘキシルマレイミド等が挙げられる。   Examples of maleimide and its derivatives that are “monomers that are materials for other repeating units” include N-phenylmaleimide, N-cyclohexylmaleimide, and the like.

「他の繰り返し単位の材料となるモノマー」である末端不飽和炭化水素及びその誘導体の例としては、1−ブテン、1−ペンテン、1−ヘキセン、1−オクテン、ビニルシクロヘキサン、塩化ビニル等が挙げられる。   Examples of terminal unsaturated hydrocarbons and derivatives thereof that are “monomers that are materials for other repeating units” include 1-butene, 1-pentene, 1-hexene, 1-octene, vinylcyclohexane, vinyl chloride, and the like. It is done.

「他の繰り返し単位の材料となるモノマー」である有機ゲルマニウム誘導体の例としては、アリルトリメチルゲルマニウム、アリルトリエチルゲルマニウム、アリルトリブチルゲルマニウム、トリメチルビニルゲルマニウム、トリエチルビニルゲルマニウム等が挙げられる。   Examples of organic germanium derivatives that are “monomers that are materials of other repeating units” include allyltrimethylgermanium, allyltriethylgermanium, allyltributylgermanium, trimethylvinylgermanium, triethylvinylgermanium, and the like.

これらの「他の繰り返し単位の材料となるモノマー」のうちでは、アクリル酸アルキルエステル、メタクリル酸アルキルエステル、スチレン、アクリロニトリル、メタアクリロニトリル、アリルトリメチルゲルマニウムが好ましい。   Of these “monomers that serve as materials for other repeating units”, alkyl acrylates, alkyl methacrylates, styrene, acrylonitrile, methacrylonitrile, and allyltrimethylgermanium are preferred.

<組成物>
本発明の組成物は、高分子化合物(A)を含む。
本発明にかかる組成物には、2種以上の高分子化合物(A)が含まれていてもよい。
<Composition>
The composition of this invention contains a high molecular compound (A).
The composition according to the present invention may contain two or more polymer compounds (A).

組成物における高分子化合物(A)の含有量は、本発明にかかる組成物全体に対して、通常、5質量%〜70質量%である。   Content of the high molecular compound (A) in a composition is 5 mass%-70 mass% normally with respect to the whole composition concerning this invention.

また、本発明にかかる組成物は、高分子化合物(A)に加えて、ヒドロキシ基及び/又はカルボキシ基を有する繰り返し単位を含まず、ブロック化イソシアナト基及び/又はブロック化イソチオシアナト基を有する繰り返し単位を含む1種以上の高分子化合物(B)を、含んでいてもよい。   In addition to the polymer compound (A), the composition according to the present invention does not include a repeating unit having a hydroxy group and / or a carboxy group, and has a repeating unit having a blocked isocyanato group and / or a blocked isothiocyanato group. One or more polymer compounds (B) containing may be contained.

組成物における高分子化合物(B)の含有量は、高分子化合物(A)の含有量を100重量部とした場合、通常、0重量部〜300重量部である。   The content of the polymer compound (B) in the composition is usually 0 to 300 parts by weight when the content of the polymer compound (A) is 100 parts by weight.

さらに、本発明にかかる組成物は、高分子化合物(A)に加えて、ブロック化イソシアナト基又はブロック化イソチオシアナト基を含有する繰り返し単位を含まず、ヒドロキシ基及び/又はカルボキシ基を有する繰り返し単位を1種以上含む高分子化合物(C)を、含んでいてもよい。   In addition to the polymer compound (A), the composition according to the present invention does not include a repeating unit containing a blocked isocyanato group or a blocked isothiocyanato group, and includes a repeating unit having a hydroxy group and / or a carboxy group. The polymer compound (C) containing 1 or more types may be included.

組成物における高分子化合物(C)の含有量は、高分子化合物(A)を100重量部とした場合、通常、0重量部〜300重量部である。   The content of the polymer compound (C) in the composition is usually 0 to 300 parts by weight when the polymer compound (A) is 100 parts by weight.

本発明にかかる組成物は、混合や粘度調節のための溶媒、高分子化合物を架橋させる際に架橋剤と組み合わせて通常用いられる添加剤などを含んでいてもよい。
組成物における添加剤などの含有量は、高分子化合物(A)を100重量部とした場合、通常、0重量部〜40重量部である。
The composition according to the present invention may contain a solvent for mixing and viscosity adjustment, an additive usually used in combination with a crosslinking agent when the polymer compound is crosslinked.
The content of additives and the like in the composition is usually 0 to 40 parts by weight when the polymer compound (A) is 100 parts by weight.

用いられる溶媒の例としては、テトラヒドロフランやジエチルエーテルなどのエーテル溶媒、ヘキサンなどの脂肪族炭化水素溶媒、シクロヘキサンなどの脂環式炭化水素溶媒、ペンテン等の不飽和炭化水素溶媒、キシレンなどの芳香族炭化水素溶媒、アセトンなどのケトン溶媒、ブチルアセテートなどのアセテート溶媒、イソプロピルアルコールなどのアルコール溶媒、クロロホルムなどのハロゲン化物溶媒及びこれらの混合溶媒が挙げられる。また、添加剤としては、架橋反応を促進するための触媒、レべリング剤、粘度調節剤などを用いることができる。   Examples of the solvent used include ether solvents such as tetrahydrofuran and diethyl ether, aliphatic hydrocarbon solvents such as hexane, alicyclic hydrocarbon solvents such as cyclohexane, unsaturated hydrocarbon solvents such as pentene, and aromatics such as xylene. Examples thereof include hydrocarbon solvents, ketone solvents such as acetone, acetate solvents such as butyl acetate, alcohol solvents such as isopropyl alcohol, halide solvents such as chloroform, and mixed solvents thereof. Moreover, as an additive, the catalyst for promoting a crosslinking reaction, a leveling agent, a viscosity modifier, etc. can be used.

本発明にかかる組成物は、硬化した膜の表面の平坦性を高くすることができるので、高分子化合物(A)及び有機溶媒のみからなることが好ましい。   Since the composition concerning this invention can make the flatness of the surface of the hardened | cured film | membrane high, it is preferable to consist only of a high molecular compound (A) and an organic solvent.

<高分子化合物、組成物の用途>
本発明の高分子化合物、該高分子化合物を含む組成物は、有機薄膜トランジスタの絶縁層用組成物として好適に用いることができる。
本発明の高分子化合物、該高分子化合物を含む組成物(絶縁層用組成物)を硬化した膜は、有機薄膜トランジスタの機能性部材として好適に用いることができる。
<Use of polymer compound and composition>
The polymer compound of the present invention and the composition containing the polymer compound can be suitably used as a composition for an insulating layer of an organic thin film transistor.
A film obtained by curing the polymer compound of the present invention and a composition containing the polymer compound (composition for insulating layer) can be suitably used as a functional member of an organic thin film transistor.

本発明の組成物を硬化した膜は、既に説明した本発明の組成物を、例えば形成対象である基材の表面に塗布して塗布層を形成する工程と、塗布層を硬化する工程とを含む製造方法により形成することができる。   The film obtained by curing the composition of the present invention comprises, for example, a step of applying the composition of the present invention described above to the surface of a base material to be formed to form a coating layer, and a step of curing the coating layer. It can form by the manufacturing method containing.

組成物を硬化した膜の製造方法は、本発明の組成物に、さらに要すれば溶媒(有機溶媒)などを含ませて膜の形成用の塗布液を調製し、調製された塗布液を基材の表面に塗布し、形成された塗布層を硬化させることにより、本発明の組成物を硬化した膜を得ることができる。   A method for producing a film obtained by curing the composition comprises preparing a coating solution for forming a film by adding a solvent (organic solvent) or the like to the composition of the present invention, if necessary, and based on the prepared coating solution. The film | membrane which hardened | cured the composition of this invention can be obtained by apply | coating to the surface of a material and hardening the formed coating layer.

塗布液の調製に用いることができる有機溶媒としては、組成物に含まれる高分子化合物、架橋剤等の成分を溶解させる有機溶媒であれば特に制限は無く、好ましくは、常圧での沸点が100℃〜200℃である有機溶媒である。好適な有機溶媒の例としては、2−ヘプタノン、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート等が挙げられる。膜の形成用の塗布液には、必要に応じてレベリング剤、界面活性剤、硬化触媒等を含ませることができる。   The organic solvent that can be used for preparing the coating solution is not particularly limited as long as it is an organic solvent that dissolves components such as a polymer compound and a crosslinking agent contained in the composition, and preferably has a boiling point at normal pressure. It is an organic solvent that is 100 ° C to 200 ° C. Examples of suitable organic solvents include 2-heptanone and propylene glycol monomethyl ether acetate. The coating solution for forming the film can contain a leveling agent, a surfactant, a curing catalyst, and the like as necessary.

有機溶媒を用いる場合、塗布液に含まれる有機溶媒の量は、塗布液全体に対し、30質量%〜95質量%であることが好ましく、60質量%〜93質量%であることが更に好ましい。   When using an organic solvent, the amount of the organic solvent contained in the coating solution is preferably 30% by mass to 95% by mass, and more preferably 60% by mass to 93% by mass with respect to the entire coating solution.

膜の形成用の塗布液は、従来公知のスピンコート法、ダイコート法、スクリーン印刷法、インクジェット法等の塗布法により基材上に塗布することができる。   The coating liquid for forming the film can be applied onto the substrate by a conventionally known coating method such as spin coating, die coating, screen printing, or ink jet.

本発明の組成物を硬化した膜は、具体的には、有機薄膜トランジスタのゲート絶縁層として好適に用いることができる。   Specifically, a film obtained by curing the composition of the present invention can be suitably used as a gate insulating layer of an organic thin film transistor.

かかる膜を特に有機薄膜トランジスタのゲート絶縁層として用いれば、有機薄膜トランジスタのキャリア移動度を効果的に向上させることができる。   If such a film is used particularly as a gate insulating layer of an organic thin film transistor, the carrier mobility of the organic thin film transistor can be effectively improved.

また、本発明の組成物(絶縁層用組成物)は、硬化したときに絶縁性、封止性、密着性、耐溶剤性に優れる。よって、本発明の組成物(絶縁層用組成物)は、有機薄膜トランジスタのオーバーコート層、アンダーコート層などの保護層用の材料としても用いることができる。   The composition of the present invention (insulating layer composition) is excellent in insulation, sealing, adhesion, and solvent resistance when cured. Therefore, the composition of the present invention (insulating layer composition) can also be used as a material for protective layers such as overcoat layers and undercoat layers of organic thin film transistors.

本発明の有機薄膜トランジスタは、例えば、本発明の組成物を硬化した膜であるゲート絶縁層に加え、さらに本発明の組成物を硬化した膜をオーバーコート層として備えていてもよい。   The organic thin film transistor of the present invention may include, for example, a film obtained by curing the composition of the present invention as an overcoat layer in addition to the gate insulating layer that is a film obtained by curing the composition of the present invention.

<有機薄膜トランジスタ>
本発明の有機薄膜トランジスタは、既に説明した本発明の組成物を硬化したゲート絶縁層を含む。
以下、図面を参照して、本発明の組成物の好適な適用先である有機薄膜トランジスタの実施形態について説明する。
<Organic thin film transistor>
The organic thin film transistor of the present invention includes a gate insulating layer obtained by curing the composition of the present invention described above.
Hereinafter, an embodiment of an organic thin film transistor, which is a suitable application destination of the composition of the present invention, will be described with reference to the drawings.

図1は、本発明の第1実施形態にかかるボトムゲートトップコンタクト型の有機薄膜トランジスタの構造を模式的に示す概略的な図である。   FIG. 1 is a schematic view schematically showing the structure of a bottom gate top contact type organic thin film transistor according to a first embodiment of the present invention.

図1に示されるように、第1実施形態の有機薄膜トランジスタ10は、基板1と、基板1の主表面に接合するように設けられたゲート電極2と、ゲート電極2を覆うように基板1に設けられたゲート絶縁層3と、ゲート絶縁層3に接合しており、ゲート電極2の直上を覆うように設けられた有機半導体層4と、有機半導体層4に接合するように設けられ、チャネル領域を挟み、かつ基板1の厚さ方向にみたときに(平面視で)チャネル領域がゲート電極2と重なるように互いに離間させて設けられたソース電極5及びドレイン電極6と、基板1に設けられたゲート電極2、ゲート絶縁層3、有機半導体層4、ソース電極5及びドレイン電極6を覆うように設けられたオーバーコート層7とを備えている。   As shown in FIG. 1, the organic thin film transistor 10 of the first embodiment is formed on a substrate 1, a gate electrode 2 provided so as to be bonded to the main surface of the substrate 1, and a substrate 1 so as to cover the gate electrode 2. A gate insulating layer 3 provided, an organic semiconductor layer 4 which is bonded to the gate insulating layer 3 so as to cover the gate electrode 2; and an organic semiconductor layer 4 which is bonded to the organic semiconductor layer 4; A source electrode 5 and a drain electrode 6 that are provided so as to be spaced apart from each other so that the channel region overlaps the gate electrode 2 when viewed in the thickness direction of the substrate 1 (in plan view) with the region interposed therebetween, And an overcoat layer 7 provided so as to cover the gate electrode 2, the gate insulating layer 3, the organic semiconductor layer 4, the source electrode 5 and the drain electrode 6.

図2は、本発明の第2実施形態にかかるボトムゲートボトムコンタクト型の有機薄膜トランジスタ10の構造を模式的に示す概略的な図である。   FIG. 2 is a schematic diagram schematically showing the structure of a bottom gate bottom contact type organic thin film transistor 10 according to the second embodiment of the present invention.

図2に示されるように、第2実施形態の有機薄膜トランジスタ10は、基板1と、基板1の主表面に接合するように設けられたゲート電極2と、ゲート電極2を覆うように基板1に設けられたゲート絶縁層3と、ゲート絶縁層3に接合しており、チャネル領域を挟み、かつ基板1の厚さ方向にみたときに(平面視で)チャネル領域がゲート電極2と重なるように互いに離間させて設けられたソース電極5及びドレイン電極6と、ソース電極5及びドレイン電極6にまたがるように、かつソース電極5及びドレイン電極6の一部分及びチャネル領域を含むゲート絶縁層3の一部分を覆うように設けられた有機半導体層4と、基板1に設けられたゲート電極2、ゲート絶縁層3、有機半導体層4、ソース電極5及びドレイン電極6を覆うように設けられたオーバーコート層7とを備えている。   As shown in FIG. 2, the organic thin film transistor 10 of the second embodiment is formed on a substrate 1, a gate electrode 2 provided so as to be bonded to the main surface of the substrate 1, and a substrate 1 so as to cover the gate electrode 2. The provided gate insulating layer 3 is bonded to the gate insulating layer 3 so that the channel region overlaps the gate electrode 2 when viewed in the thickness direction of the substrate 1 with the channel region interposed therebetween (in plan view). A source electrode 5 and a drain electrode 6 provided apart from each other, a part of the source electrode 5 and the drain electrode 6 and a part of the gate insulating layer 3 including a channel region so as to straddle the source electrode 5 and the drain electrode 6. The organic semiconductor layer 4 provided to cover the gate electrode 2, the gate insulating layer 3, the organic semiconductor layer 4, the source electrode 5, and the drain electrode 6 provided on the substrate 1. It was and a overcoat layer 7.

図3は、本発明の第3実施形態にかかるトップゲートボトムコンタクト型の有機薄膜トランジスタ10の構造を模式的に示す概略的な図である。   FIG. 3 is a schematic view schematically showing the structure of a top gate bottom contact type organic thin film transistor 10 according to the third embodiment of the present invention.

図3に示されるように、第3実施形態の有機薄膜トランジスタ10は、基板1と、基板1の主表面にチャネル領域を挟んで互いに離間するように設けられたソース電極5及びドレイン電極6と、ソース電極5及びドレイン電極6が設けられた基板1に、ソース電極5及びドレイン電極6にまたがるように設けられた有機半導体層4と、有機半導体層4、ソース電極5及びドレイン電極6を覆うように設けられたゲート絶縁層3と、ゲート絶縁層3上であって、チャネル領域上にまたがるように設けられたゲート電極2と、基板1に設けられたソース電極5、ドレイン電極6、有機半導体層4、ゲート絶縁層3及びゲート電極2を覆うオーバーコート層7とを備えている。   As shown in FIG. 3, the organic thin film transistor 10 of the third embodiment includes a substrate 1, a source electrode 5 and a drain electrode 6 provided on the main surface of the substrate 1 so as to be separated from each other with a channel region interposed therebetween, The substrate 1 provided with the source electrode 5 and the drain electrode 6 is covered with the organic semiconductor layer 4 provided so as to straddle the source electrode 5 and the drain electrode 6, and the organic semiconductor layer 4, the source electrode 5, and the drain electrode 6. A gate insulating layer 3 provided on the gate insulating layer 3, a gate electrode 2 provided on the channel region so as to extend over the channel region, a source electrode 5, a drain electrode 6 provided on the substrate 1, and an organic semiconductor An overcoat layer 7 covering the layer 4, the gate insulating layer 3, and the gate electrode 2.

<有機薄膜トランジスタの製造方法>
前記第1実施形態のボトムゲートトップコンタクト型の有機薄膜トランジスタ10は、例えば、基板1の主表面にゲート電極2を形成し、ゲート電極2を覆うようにゲート電極2が設けられた基板1(基材)の表面にゲート絶縁層3を形成し、ゲート絶縁層3上に有機半導体層4を形成し、有機半導体層4に接合するようにソース電極5及びドレイン電極6を形成し、さらに要すれば、基板1に設けられたゲート電極2、ゲート絶縁層3、有機半導体層4、ソース電極5及びドレイン電極6を覆うようにオーバーコート層7を形成することで製造することができる。
<Method for producing organic thin film transistor>
The bottom gate top contact type organic thin film transistor 10 of the first embodiment includes, for example, a substrate 1 (base) in which a gate electrode 2 is formed on the main surface of the substrate 1 and the gate electrode 2 is provided so as to cover the gate electrode 2. A gate insulating layer 3 is formed on the surface of the material, an organic semiconductor layer 4 is formed on the gate insulating layer 3, a source electrode 5 and a drain electrode 6 are formed so as to be joined to the organic semiconductor layer 4. For example, it can be manufactured by forming the overcoat layer 7 so as to cover the gate electrode 2, the gate insulating layer 3, the organic semiconductor layer 4, the source electrode 5 and the drain electrode 6 provided on the substrate 1.

前記第2実施形態のボトムゲートボトムコンタクト型の有機薄膜トランジスタ10は、例えば、基板1の主表面にゲート電極2を形成し、ゲート電極2を覆うようにゲート電極2が設けられた基板1(基材)の表面にゲート絶縁層3を形成し、ゲート絶縁層3上にソース電極5及びドレイン電極6を形成し、ソース電極5及びドレイン電極6にまたがるように、かつソース電極5及びドレイン電極6の一部分及びチャネル領域を含むゲート絶縁層3の一部分を覆うように有機半導体層4を形成し、さらに要すれば、基板1に設けられたゲート電極2、ゲート絶縁層3、有機半導体層4、ソース電極5及びドレイン電極6を覆うようにオーバーコート層7を形成することで製造することができる。   The bottom gate bottom contact type organic thin film transistor 10 of the second embodiment includes, for example, a substrate 1 (base) in which a gate electrode 2 is formed on the main surface of the substrate 1 and the gate electrode 2 is provided so as to cover the gate electrode 2. The gate insulating layer 3 is formed on the surface of the material, the source electrode 5 and the drain electrode 6 are formed on the gate insulating layer 3, and the source electrode 5 and the drain electrode 6 are straddled over the source electrode 5 and the drain electrode 6. The organic semiconductor layer 4 is formed so as to cover a part of the gate insulating layer 3 including the channel region, and if necessary, the gate electrode 2 provided on the substrate 1, the gate insulating layer 3, the organic semiconductor layer 4, It can be manufactured by forming the overcoat layer 7 so as to cover the source electrode 5 and the drain electrode 6.

前記第3実施形態のトップゲートボトムコンタクト型の有機薄膜トランジスタ10は、例えば、基板1の主表面にソース電極5及びドレイン電極6を形成し、ソース電極5及びドレイン電極6にまたがるように、有機半導体層4を形成し、有機半導体層4、ソース電極5及びドレイン電極6を形成し、ソース電極5及びドレイン電極6を覆うように、ゲート絶縁層3を形成し、チャネル領域上にまたがるようにゲート絶縁層3上にゲート電極2を形成し、さらに要すれば、ゲート絶縁層3及びゲート電極2を覆うようにオーバーコート層7を形成することで製造することができる。   The top gate bottom contact type organic thin film transistor 10 according to the third embodiment includes, for example, an organic semiconductor in which the source electrode 5 and the drain electrode 6 are formed on the main surface of the substrate 1 and straddle the source electrode 5 and the drain electrode 6. The layer 4 is formed, the organic semiconductor layer 4, the source electrode 5 and the drain electrode 6 are formed, the gate insulating layer 3 is formed so as to cover the source electrode 5 and the drain electrode 6, and the gate is formed so as to straddle the channel region. It can be manufactured by forming the gate electrode 2 on the insulating layer 3 and, if necessary, forming the overcoat layer 7 so as to cover the gate insulating layer 3 and the gate electrode 2.

本発明の有機薄膜トランジスタ10の製造方法(ゲート絶縁層3の形成工程)は、既に説明した「組成物を硬化した膜」と同様であり、基材の表面に塗布して塗布層を形成する工程と、塗布層を硬化する工程とを含む。   The method for producing the organic thin film transistor 10 of the present invention (the step of forming the gate insulating layer 3) is the same as the “film obtained by curing the composition” already described, and a step of coating the surface of the substrate to form a coating layer. And a step of curing the coating layer.

ゲート絶縁層3の形成工程における塗布層の乾燥ステップは、塗布法により基材上に形成された塗布層中の溶媒を除去することを目的としている。硬化ステップは塗布層中の高分子化合物が有する反応性の官能基による架橋反応を進行させて絶縁層用組成物が硬化したゲート絶縁層3を形成することを目的としている。   The drying step of the coating layer in the formation process of the gate insulating layer 3 aims at removing the solvent in the coating layer formed on the base material by the coating method. The purpose of the curing step is to form the gate insulating layer 3 in which the composition for the insulating layer is cured by causing a crosslinking reaction by the reactive functional group of the polymer compound in the coating layer to proceed.

本発明の絶縁層用組成物の硬化ステップは、第1段階として、ブロック化イソシアナト基及び/又はブロック化イソチオシアナト基からブロック化剤に由来する保護基が脱離されて活性水素と反応することができるイソシアナト基及び/又はイソチオシアナト基が生成する段階、次いで、第2段階として、生成したイソシアナト基及び/又はイソチオシアナト基が、活性水素を含むヒドロキシ基及び/又はカルボキシ基と反応する段階を含んでいる。   In the curing step of the composition for an insulating layer of the present invention, as a first step, the protecting group derived from the blocking agent is removed from the blocked isocyanato group and / or the blocked isothiocyanate group, and reacts with active hydrogen. Forming a possible isocyanato group and / or isothiocyanato group, and then, as a second step, the generated isocyanato group and / or isothiocyanato group includes a step of reacting with a hydroxy group and / or carboxy group containing active hydrogen. .

第1段階と第2段階とを比較すると、第1段階の反応は第2段階の反応よりも反応速度が遅い。よって、一旦第1段階を進行させると、第2段階は自動的に進行する。そのため、本発明の絶縁層用組成物を硬化させるためには、前記第1段階を進行させればよい。   Comparing the first stage and the second stage, the reaction of the first stage is slower than the reaction of the second stage. Thus, once the first stage is advanced, the second stage automatically proceeds. Therefore, in order to cure the composition for an insulating layer of the present invention, the first step may be advanced.

前記第1段階を進行させるために、塗布層に対し、例えば電磁波もしくは熱を作用させる。塗布層に対し電磁波もしくは熱を作用させるには、具体的には、塗布層に対し電磁波を照射したり、塗布層を焼成することが含まれる。   In order to advance the first step, for example, electromagnetic waves or heat is applied to the coating layer. Specifically, applying electromagnetic waves or heat to the coating layer includes irradiating the coating layer with electromagnetic waves or firing the coating layer.

電磁波の照射は、例えば、半導体装置の製造に従来使用されている露光装置やUV硬化性樹脂を硬化させるために使用されているUVランプを用いて行うことができる。
焼成は、例えば、80℃〜300℃、好ましくは120℃〜250℃の温度で5分間〜2時間、好ましくは10分間〜1時間程度加熱処理することにより行うことができる。ブロック化イソシアナト基及び/又はブロック化イソチオシアナト基からブロック化剤に由来する保護基を脱離させるための電磁波の照射条件及び焼成条件は、ブロック化イソシアナト基及び/又はブロック化イソチオシアナト基の種類及び量等に応じて適宜決定することができる。
Irradiation of electromagnetic waves can be performed using, for example, an exposure apparatus conventionally used for manufacturing a semiconductor device or a UV lamp used for curing a UV curable resin.
Firing can be performed, for example, by heat treatment at a temperature of 80 ° C. to 300 ° C., preferably 120 ° C. to 250 ° C. for 5 minutes to 2 hours, preferably about 10 minutes to 1 hour. The irradiation conditions and firing conditions of electromagnetic waves for removing the protecting group derived from the blocking agent from the blocked isocyanato group and / or blocked isothiocyanato group are the type and amount of the blocked isocyanato group and / or blocked isothiocyanato group. It can be appropriately determined according to the above.

ゲート絶縁層3の純水に対する接触角は、絶縁層用組成物中の高分子化合物が有するフッ素原子、疎水性官能基及び親水性官能基の量を考慮して、ゲート絶縁層3の表面の親水性を増減させることにより、適宜調節することができる。   The contact angle of the gate insulating layer 3 with respect to pure water is determined on the surface of the gate insulating layer 3 in consideration of the amount of fluorine atoms, hydrophobic functional groups and hydrophilic functional groups of the polymer compound in the insulating layer composition. It can be appropriately adjusted by increasing or decreasing the hydrophilicity.

ゲート絶縁層3の表面の親水性の増減は、加熱処理が行われる雰囲気の成分を調節することにより行うことができる。例えば、ゲート絶縁層3を形成する際に行われる乾燥ステップ及び硬化ステップ(加熱又は焼成)等を、酸素を含む雰囲気中で行うとゲート絶縁層3の表面の親水性は増大し、不活性ガス雰囲気中で行うとゲート絶縁層3の表面の親水性は低下する。酸素を含む雰囲気中で加熱を行う場合は、温度を高くするとゲート絶縁層3の表面の親水性はより増大する。   The hydrophilicity of the surface of the gate insulating layer 3 can be increased or decreased by adjusting the components of the atmosphere in which the heat treatment is performed. For example, if the drying step and the curing step (heating or baking) performed when forming the gate insulating layer 3 are performed in an atmosphere containing oxygen, the hydrophilicity of the surface of the gate insulating layer 3 increases, and the inert gas When performed in an atmosphere, the hydrophilicity of the surface of the gate insulating layer 3 is lowered. When heating is performed in an atmosphere containing oxygen, the hydrophilicity of the surface of the gate insulating layer 3 is further increased by increasing the temperature.

特にフッ素原子の量を調節することにより、ゲート絶縁層3の表面エネルギーを適切な範囲に調節することができ、結果として、有機半導体層4との界面を良好な界面とすることができる。これにより有機薄膜トランジスタのキャリア移動度をより向上させることができる。   In particular, by adjusting the amount of fluorine atoms, the surface energy of the gate insulating layer 3 can be adjusted to an appropriate range, and as a result, the interface with the organic semiconductor layer 4 can be a good interface. Thereby, the carrier mobility of an organic thin-film transistor can be improved more.

含まれるフッ素原子の量を1質量%以上とすることで、有機薄膜トランジスタのヒステリシス特性を十分に低下させることができ、60質量%以下とすることで、有機半導体層との親和性を良好に保ち、有機半導体層とゲート絶縁層とを接合させたときに良好な界面を形成させることができる。   By making the amount of fluorine atoms contained 1% by mass or more, the hysteresis characteristics of the organic thin film transistor can be sufficiently lowered, and by making it 60% by mass or less, the affinity with the organic semiconductor layer is kept good. A good interface can be formed when the organic semiconductor layer and the gate insulating layer are bonded.

ゲート絶縁層3の有機半導体層4側の表面には、自己組織化単分子層を形成してもよい。この自己組織化単分子層は、例えば、有機溶媒にアルキルクロロシラン化合物もしくはアルキルアルコキシシラン化合物を1〜10質量%溶解した溶液でゲート絶縁層3を処理することにより形成することができる。   A self-assembled monolayer may be formed on the surface of the gate insulating layer 3 on the organic semiconductor layer 4 side. This self-assembled monolayer can be formed, for example, by treating the gate insulating layer 3 with a solution obtained by dissolving 1 to 10% by mass of an alkylchlorosilane compound or an alkylalkoxysilane compound in an organic solvent.

自己組織化単分子層を形成するためのアルキルクロロシラン化合物としては、例えば、メチルトリクロロシラン、エチルトリクロロシラン、ブチルトリクロロシラン、デシルトリクロロシラン、オクタデシルトリクロロシラン等が挙げられる。   Examples of the alkylchlorosilane compound for forming a self-assembled monolayer include methyltrichlorosilane, ethyltrichlorosilane, butyltrichlorosilane, decyltrichlorosilane, octadecyltrichlorosilane, and the like.

自己組織化単分子層を形成するためのアルキルアルコキシシラン化合物としては、例えば、メチルトリメトキシシラン、エチルトリメトキシシラン、ブチルトリメトキシシラン、デシルトリメトキシシラン、オクタデシルトリメトキシシラン等が挙げられる。   Examples of the alkylalkoxysilane compound for forming the self-assembled monolayer include methyltrimethoxysilane, ethyltrimethoxysilane, butyltrimethoxysilane, decyltrimethoxysilane, octadecyltrimethoxysilane and the like.

基板1、ゲート電極2、ソース電極5、ドレイン電極6及び有機半導体層4は、従来公知の有機薄膜トランジスタの製造方法に通常使用される材料及び方法で構成することができる。例えば、基板1としては樹脂基板又は樹脂フィルム、プラスチック基板又はプラスチックフィルム、ガラス基板、シリコン基板などが用いられる。ゲート電極2、ソース電極5及びドレイン電極6の材料の例としては、クロム、金、銀、アルミニウム等が挙げられる。ゲート電極2、ソース電極5及びドレイン電極6は、蒸着法、スパッタ法、インクジェット印刷法などの塗布法等の公知の方法で形成することができる。   The substrate 1, the gate electrode 2, the source electrode 5, the drain electrode 6, and the organic semiconductor layer 4 can be composed of materials and methods that are usually used in conventionally known methods for manufacturing organic thin film transistors. For example, as the substrate 1, a resin substrate or resin film, a plastic substrate or plastic film, a glass substrate, a silicon substrate, or the like is used. Examples of the material of the gate electrode 2, the source electrode 5, and the drain electrode 6 include chrome, gold, silver, and aluminum. The gate electrode 2, the source electrode 5, and the drain electrode 6 can be formed by a known method such as a coating method such as an evaporation method, a sputtering method, or an ink jet printing method.

有機半導体層4の材料である有機半導体化合物としては、π共役ポリマーが広く用いられ、例えば、ポリピロール類、ポリチオフェン類、ポリアニリン類、ポリアリルアミン類、フルオレン類、ポリカルバゾール類、ポリインドール類、ポリ(p−フェニレンビニレン)類などを用いることができる。   As an organic semiconductor compound that is a material of the organic semiconductor layer 4, π-conjugated polymers are widely used. For example, polypyrroles, polythiophenes, polyanilines, polyallylamines, fluorenes, polycarbazoles, polyindoles, poly ( p-phenylene vinylene) and the like can be used.

また、有機半導体層4の材料である有機半導体化合物としては、有機溶媒への溶解性を有する低分子化合物を用いることができる。このような低分子化合物としては、例えば、ペンタセンなどの多環芳香族の誘導体、フタロシアニン誘導体、ペリレン誘導体、テトラチアフルバレン誘導体、テトラシアノキノジメタン誘導体、フラーレン類、カーボンナノチューブ類などが挙げられる。このような低分子化合物の例としては、具体的には、9,9−ジ−n−オクチルフルオレン−2,7−ジ(エチレンボロネート)と5,5’−ジブロモ−2,2’−バイチオフェンとの縮合物等が挙げられる。   Moreover, as an organic-semiconductor compound which is a material of the organic-semiconductor layer 4, the low molecular compound which has the solubility to an organic solvent can be used. Examples of such low molecular weight compounds include polycyclic aromatic derivatives such as pentacene, phthalocyanine derivatives, perylene derivatives, tetrathiafulvalene derivatives, tetracyanoquinodimethane derivatives, fullerenes, carbon nanotubes, and the like. Specific examples of such low-molecular compounds include 9,9-di-n-octylfluorene-2,7-di (ethylene boronate) and 5,5′-dibromo-2,2′-. Examples include condensates with bithiophene.

有機半導体層4の形成工程は、例えば、有機半導体化合物に要すれば溶媒などを添加して有機半導体層4の形成用の塗布液を調製し、これをゲート絶縁層3、ソース電極5及びドレイン電極6に塗布し、塗布層を乾燥させることにより行う。本発明では、ゲート絶縁層3を構成する高分子化合物がフェニル部分又はカルボニル部分を有し、有機半導体化合物と親和性がある。それゆえ、上記塗布ステップ及び乾燥ステップによって、有機半導体層4とゲート絶縁層3との間に均一で平坦な界面を形成することができる。   In the step of forming the organic semiconductor layer 4, for example, if necessary for the organic semiconductor compound, a solvent or the like is added to prepare a coating solution for forming the organic semiconductor layer 4. The coating is performed on the electrode 6 and the coating layer is dried. In the present invention, the polymer compound constituting the gate insulating layer 3 has a phenyl moiety or a carbonyl moiety, and has an affinity for an organic semiconductor compound. Therefore, a uniform and flat interface can be formed between the organic semiconductor layer 4 and the gate insulating layer 3 by the coating step and the drying step.

有機半導体層4の形成工程に使用することができる溶媒としては有機半導体化合物を溶解又は分散させることができる溶媒であれば特に制限はない。このような溶媒としては、常圧での沸点が50℃〜200℃の溶媒が好ましい。このような溶媒の例としては、クロロホルム、トルエン、アニソール、2−ヘプタノン、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート等が挙げられる。有機半導体層4の形成用の塗布液は、既に説明した絶縁層3の形成用の塗布液と同様に、公知のスピンコート法、ダイコート法、スクリーン印刷法、インクジェット印刷法等の塗布法によりゲート絶縁層3上に塗布することができる。   The solvent that can be used in the step of forming the organic semiconductor layer 4 is not particularly limited as long as it is a solvent that can dissolve or disperse the organic semiconductor compound. As such a solvent, a solvent having a boiling point of 50 ° C. to 200 ° C. at normal pressure is preferable. Examples of such solvents include chloroform, toluene, anisole, 2-heptanone, propylene glycol monomethyl ether acetate and the like. The coating solution for forming the organic semiconductor layer 4 is gated by a known spin coating method, die coating method, screen printing method, ink jet printing method, or the like, as with the coating solution for forming the insulating layer 3 already described. It can be applied on the insulating layer 3.

オーバーコート層7(保護層)は、既に説明したゲート絶縁層3の形成工程と同様にして、例えば、既に説明した本発明の組成物を用いて形成することができる。   The overcoat layer 7 (protective layer) can be formed using the composition of the present invention already described, for example, in the same manner as in the step of forming the gate insulating layer 3 already described.

また、図示されていないアンダーコート層についてもオーバーコート層7と同様にして形成することができる。   Also, an undercoat layer (not shown) can be formed in the same manner as the overcoat layer 7.

本発明の組成物を用いれば、組成物に含まれる成分の数を減少させることができる。結果としてゲート絶縁層の形成工程、ひいては有機薄膜トランジスタの製造方法をより簡便に実施することができる。   If the composition of this invention is used, the number of the components contained in a composition can be reduced. As a result, the process for forming the gate insulating layer, and thus the method for producing the organic thin film transistor can be more easily carried out.

<有機薄膜トランジスタの用途>
本発明の組成物を用いて製造した有機薄膜トランジスタを用いて、有機薄膜トランジスタを含むディスプレイ用部材を製造することができる。また該有機薄膜トランジスタを含むディスプレイ用部材を用いて、ディスプレイ用部材を備えるディスプレイを製造することができる。
<Uses of organic thin-film transistors>
A display member including an organic thin film transistor can be produced using the organic thin film transistor produced using the composition of the present invention. Moreover, the display provided with the member for a display can be manufactured using the member for a display containing this organic thin-film transistor.

本発明の組成物を用いて形成された有機薄膜トランジスタは、OFETセンサに用いることもできる。OFETセンサは、入力信号を電気信号に変換して出力する信号変換素子として有機薄膜トランジスタ(有機電界効果トランジスタ:OFET)を用いたセンサであり、電極、絶縁層及び有機半導体層のいずれかの構造中に、感応性機能又は選択性機能を付与したものである。OFETセンサとしては、例えば、バイオセンサ、ガスセンサ、イオンセンサ、湿度センサが挙げられる。   The organic thin film transistor formed using the composition of the present invention can also be used for an OFET sensor. The OFET sensor is a sensor that uses an organic thin film transistor (organic field effect transistor: OFET) as a signal conversion element that converts an input signal into an electric signal and outputs the signal, and has an electrode, an insulating layer, or an organic semiconductor layer. In addition, a sensitive function or a selective function is added. Examples of OFET sensors include biosensors, gas sensors, ion sensors, and humidity sensors.

例えばバイオセンサは、上記のとおりの構成を有する有機薄膜トランジスタを備える。有機薄膜トランジスタは、チャネル領域及び/又はゲート絶縁層に、標的物質と特異的に相互作用するプローブ(感応性領域)を有している。標的物質の濃度が変化すると、プローブの電気的特性が変化することにより、バイオセンサとして機能させることができる。   For example, the biosensor includes an organic thin film transistor having the configuration as described above. The organic thin film transistor has a probe (sensitive region) that specifically interacts with a target substance in a channel region and / or a gate insulating layer. When the concentration of the target substance is changed, the electrical characteristics of the probe are changed, so that it can function as a biosensor.

被検試料中の標的物質を検出する方法としては、例えば、核酸、タンパク質等の生体分子、又は、人工的に合成した官能基を固相担体の表面に固定して、これらをプローブとして用いる方法が挙げられる。   As a method for detecting a target substance in a test sample, for example, biomolecules such as nucleic acids and proteins, or artificially synthesized functional groups are immobilized on the surface of a solid phase carrier, and these are used as probes. Is mentioned.

この方法では、相補的な配列を有する核酸鎖の相互作用、抗原−抗体反応、酵素−基質反応、受容体−リガンドの相互作用等の物質同士又は官能基同士の特異的な親和性を利用して、標的物質を固相担体のプローブで捕捉する。そのため、標的物質に対して特異的な親和性を有する物質又は官能基が、プローブとして選択される。   In this method, specific affinity between substances or functional groups such as interaction of nucleic acid chains having complementary sequences, antigen-antibody reaction, enzyme-substrate reaction, receptor-ligand interaction, etc. is used. Then, the target substance is captured with the probe of the solid phase carrier. Therefore, a substance or functional group having specific affinity for the target substance is selected as the probe.

プローブは、選択されたプローブの種類や固相担体の種類に応じた方法により、固相担体の表面に固定される。また、固相担体の表面でプローブを合成する(例えば、核酸伸長反応によりプローブを合成する。)こともできる。いずれの場合も、固相担体の表面に固定されたプローブと被検試料とを接触させ、適当な条件下で処理することにより、固相担体の表面でプローブ−標的物質複合体が形成される。有機薄膜トランジスタのチャネル領域及び/又はゲート絶縁層自体が、プローブとして機能してもよい。   The probe is immobilized on the surface of the solid phase carrier by a method corresponding to the type of the selected probe and the type of the solid phase carrier. Alternatively, a probe can be synthesized on the surface of a solid phase carrier (for example, a probe is synthesized by a nucleic acid extension reaction). In either case, a probe-target substance complex is formed on the surface of the solid phase carrier by bringing the probe immobilized on the surface of the solid phase carrier into contact with the test sample and treating the sample under appropriate conditions. . The channel region of the organic thin film transistor and / or the gate insulating layer itself may function as a probe.

ガスセンサは、上記のとおりの構成を備える有機薄膜トランジスタを備える。この場合の有機薄膜トランジスタにおいては、チャネル領域及び/又はゲート絶縁層が、ガス感応部として機能する。ガス感応部に被検知ガスが接触した際に、ガス感応部の電気的な特性(導電率、誘電率等)に変化が生じることにより、ガスセンサとして機能させることができる。   The gas sensor includes an organic thin film transistor having a configuration as described above. In the organic thin film transistor in this case, the channel region and / or the gate insulating layer functions as a gas sensitive part. When the gas to be detected comes into contact with the gas sensitive part, a change occurs in the electrical characteristics (conductivity, dielectric constant, etc.) of the gas sensitive part, so that it can function as a gas sensor.

被検知ガスとしては、例えば、電子受容性ガス、電子供与性ガスが挙げられる。電子受容性ガスとしては、例えば、F、Cl等のハロゲンガス、窒素酸化物ガス、硫黄酸化物ガス、酢酸等の有機酸ガスが挙げられる。電子供与性ガスとしては、例えば、アンモニアガス、アニリン等のアミン類ガス、一酸化炭素ガス、水素ガスが挙げられる。Examples of the gas to be detected include an electron accepting gas and an electron donating gas. Examples of the electron-accepting gas include halogen acids such as F 2 and Cl 2 , organic acid gases such as nitrogen oxide gas, sulfur oxide gas, and acetic acid. Examples of the electron donating gas include amine gases such as ammonia gas and aniline, carbon monoxide gas, and hydrogen gas.

本発明の組成物を用いて形成された有機薄膜トランジスタは、圧力センサの製造に用いることもできる。圧力センサは、上記のとおりの構成を備える有機薄膜トランジスタを備える。この場合、有機薄膜トランジスタにおいては、チャネル領域及び/又はゲート絶縁層が、感圧部として機能する。感圧部に応力が加わった場合に、感圧部の電気的な特性に変化が生じることにより、圧力センサとして機能させることができる。   The organic thin film transistor formed using the composition of the present invention can also be used for the production of a pressure sensor. The pressure sensor includes an organic thin film transistor having a configuration as described above. In this case, in the organic thin film transistor, the channel region and / or the gate insulating layer functions as a pressure sensitive part. When stress is applied to the pressure-sensitive part, the electrical characteristics of the pressure-sensitive part change, so that it can function as a pressure sensor.

チャネル領域が感圧部として機能する場合、チャネル領域に含有される有機半導体の結晶性をより高めるため、有機薄膜トランジスタはさらに配向層を有していてもよい。配向層としては、例えば、ヘキサメチルジシラザン等のシランカップリング剤を用いてゲート絶縁層に接合するように設けられた単分子層が挙げられる。   When the channel region functions as a pressure sensitive part, the organic thin film transistor may further include an alignment layer in order to further increase the crystallinity of the organic semiconductor contained in the channel region. Examples of the alignment layer include a monomolecular layer provided so as to be bonded to the gate insulating layer using a silane coupling agent such as hexamethyldisilazane.

また、本発明の組成物を用いて形成された有機薄膜トランジスタは、電導度変調型センサの製造に用いることもできる。本発明の電導度変調型センサは、入力信号を電気信号に変換して出力する信号変換素子として電導度計測素子を用いたものであり、本発明の組成物を含有する膜、又は、本発明の組成物を含有する膜に、検出対象の入力に対する感応性機能又は選択性機能を付与したものである。電導度変調型センサは、検出対象の入力を、本発明の組成物の電導度の変化として検出する。電導度変調型センサとしては、例えば、バイオセンサ、ガスセンサ、イオンセンサ、湿度センサが挙げられる。   Moreover, the organic thin-film transistor formed using the composition of this invention can also be used for manufacture of a conductivity modulation type sensor. The conductivity modulation type sensor of the present invention uses a conductivity measuring element as a signal conversion element that converts an input signal into an electric signal and outputs it, and a film containing the composition of the present invention or the present invention. The film containing the composition is provided with a sensitivity function or a selectivity function with respect to an input to be detected. The conductivity modulation type sensor detects an input to be detected as a change in conductivity of the composition of the present invention. Examples of the conductivity modulation type sensor include a biosensor, a gas sensor, an ion sensor, and a humidity sensor.

また、本発明の組成物を用いて形成された有機薄膜トランジスタは、バイオセンサ、ガスセンサ、イオンセンサ、湿度センサ、圧力センサ等の各種センサからの出力信号を増幅するための、有機薄膜トランジスタを含む増幅回路の製造に用いることもできる。   An organic thin film transistor formed using the composition of the present invention is an amplification circuit including an organic thin film transistor for amplifying output signals from various sensors such as a biosensor, a gas sensor, an ion sensor, a humidity sensor, and a pressure sensor. It can also be used for the manufacture of

また、本発明の組成物を用いて形成された有機薄膜トランジスタは、バイオセンサ、ガスセンサ、イオンセンサ、湿度センサ、圧力センサ等の各種センサが複数個集積されたセンサアレイの製造に用いることもできる。   Moreover, the organic thin-film transistor formed using the composition of the present invention can also be used for manufacturing a sensor array in which a plurality of various sensors such as a biosensor, a gas sensor, an ion sensor, a humidity sensor, and a pressure sensor are integrated.

また、本発明の組成物を用いて形成された有機薄膜トランジスタは、バイオセンサ、ガスセンサ、イオンセンサ、湿度センサ、圧力センサ等の各種センサが複数個集積され、各センサからの出力信号を個別に増幅するための、有機薄膜トランジスタを含む増幅回路付きセンサアレイの製造に用いることもできる。   In addition, the organic thin film transistor formed using the composition of the present invention integrates a plurality of various sensors such as biosensors, gas sensors, ion sensors, humidity sensors, and pressure sensors, and amplifies output signals from each sensor individually. Therefore, it can be used for manufacturing a sensor array with an amplifier circuit including an organic thin film transistor.

以下、実施例によって本発明をさらに詳細に説明する。本発明は以下に説明する実施例に限定されない。   Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to examples. The present invention is not limited to the examples described below.

(分子量分析)
後述する高分子化合物Cの数平均分子量及び重量平均分子量は、ゲル透過クロマトグラフィ(GPC、Waters社製、商品名:Alliance GPC 2000)を用いて求めた。測定される高分子化合物Cは、オルトジクロロベンゼンに溶解させ、GPCに注入した。GPCの移動相にはオルトジクロロベンゼンを用いた。カラムは、「TSKgel GMHHR−H(S)HT(2本連結、東ソー社製)」を用いた。検出器にはUV検出器を用いた。
(Molecular weight analysis)
The number average molecular weight and the weight average molecular weight of the polymer compound C described later were determined using gel permeation chromatography (GPC, manufactured by Waters, trade name: Alliance GPC 2000). The polymer compound C to be measured was dissolved in orthodichlorobenzene and injected into GPC. Orthodichlorobenzene was used for the mobile phase of GPC. The column used was “TSKgel GMHHR-H (S) HT (two linked, manufactured by Tosoh Corporation)”. A UV detector was used as the detector.

高分子化合物1〜13の数平均分子量及び重量平均分子量は、ゲル透過クロマトグラフィ(GPC、東ソー社製)を用いて求めた。GPCの移動相にはTHFを用いた。カラムは、「PLgel 10μm MIXED−B(1本、アジレント・テクノロジー社製)」を用いた。検出器にはUV検出器を用いた。   The number average molecular weight and the weight average molecular weight of the polymer compounds 1 to 13 were determined using gel permeation chromatography (GPC, manufactured by Tosoh Corporation). THF was used for the mobile phase of GPC. As the column, “PLgel 10 μm MIXED-B (one, manufactured by Agilent Technologies)” was used. A UV detector was used as the detector.

合成例1(高分子化合物Cの合成)
下記のスキームに沿って、高分子化合物Cを合成した。
反応容器内の気体を窒素ガスで置換した後に、下記式B−1で表される化合物B−1(286.8mg、0.200mmol)、下記式B−2で表される化合物B−2(77.6mg、0.200mmol)、テトラヒドロフランを19mL、トリス(ジベンジリデンアセトン)ジパラジウムを7.3mg、トリ−tert−ブチルホスホニウムテトラフルオロボレートを9.3mg加えて、撹拌した。得られた反応溶液に、3mol/Lのリン酸カリウム水溶液を1.0mL滴下し、3時間還流させた。得られた反応溶液に、フェニルボロン酸を24.4mg加えて、1時間還流させた。得られた反応溶液に、N,N−ジエチルジチオカルバミド酸ナトリウム三水和物を0.1g加えて、3時間還流させた。得られた反応溶液を水に注ぎ、トルエンを加え、トルエン層(トルエン溶液)を抽出した。得られたトルエン溶液を、酢酸水溶液及び水で洗浄した後、シリカゲルカラムを用いて精製した。得られたトルエン溶液をアセトンに滴下したところ、析出物が得られた。得られた析出物を、アセトンを溶媒として用いてソックスレー洗浄し、下記式で表される繰り返し単位を含む高分子化合物Cを得た。高分子化合物Cの得量は244mgであり、ポリスチレン換算の数平均分子量は3.1×10であり、重量平均分子量は6.5×10であった。
Synthesis Example 1 (Synthesis of polymer compound C)
Polymer compound C was synthesized according to the following scheme.
After substituting the gas in reaction container with nitrogen gas, compound B-1 (286.8 mg, 0.200 mmol) represented by the following formula B-1 and compound B-2 represented by the following formula B-2 ( (77.6 mg, 0.200 mmol), 19 mL of tetrahydrofuran, 7.3 mg of tris (dibenzylideneacetone) dipalladium, and 9.3 mg of tri-tert-butylphosphonium tetrafluoroborate were added and stirred. 1.0 mL of 3 mol / L potassium phosphate aqueous solution was dripped at the obtained reaction solution, and it was made to recirculate | reflux for 3 hours. To the obtained reaction solution, 24.4 mg of phenylboronic acid was added and refluxed for 1 hour. To the resulting reaction solution, 0.1 g of sodium N, N-diethyldithiocarbamate trihydrate was added and refluxed for 3 hours. The obtained reaction solution was poured into water, toluene was added, and the toluene layer (toluene solution) was extracted. The obtained toluene solution was washed with an acetic acid aqueous solution and water, and then purified using a silica gel column. When the obtained toluene solution was dropped into acetone, a precipitate was obtained. The obtained precipitate was Soxhlet washed using acetone as a solvent to obtain a polymer compound C containing a repeating unit represented by the following formula. The yield of the high molecular compound C was 244 mg, the number average molecular weight of polystyrene conversion was 3.1 * 10 < 4 >, and the weight average molecular weight was 6.5 * 10 < 4 >.

Figure 2017141933
Figure 2017141933

合成例2(高分子化合物(1)の合成)
スチレン(純正化学社製)3.22g、2,3,4,5,6−ペンタフルオロスチレン(アルドリッチ社製)3.61g、2−〔O−[1’−メチルプロピリデンアミノ]カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート(昭和電工社製、商品名「カレンズMOI−BM」)1.50g、4−ヒドロキシブチルアクリレート(日本化成社製)0.71g、2,2’−アゾビス(2−メチルプロピオニトリル)0.05g、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート(PGMEA)(東京化成社製)6.05gを、50mL耐圧容器(ACE GLASS社製)に入れ、窒素ガスでバブリングした後、密栓し、60℃のオイルバス中で17時間重合させて、下記式(i)で表される繰り返し単位、下記式(ii)で表される繰り返し単位、下記式(iii)で表される繰り返し単位、下記式(iv)で表される繰り返し単位を含む高分子化合物(1)が溶解している粘稠なPGMEA溶液を得た。得られた高分子化合物(1)のポリスチレン換算の数平均分子量は1.2×10であり、重量平均分子量は3.3×10であった。
Synthesis Example 2 (Synthesis of polymer compound (1))
Styrene (made by Junsei Kagaku) 3.22 g, 2,3,4,5,6-pentafluorostyrene (made by Aldrich) 3.61 g, 2- [O- [1′-methylpropylideneamino] carboxyamino] 1.50 g of ethyl methacrylate (made by Showa Denko KK, trade name “Karenz MOI-BM”), 0.71 g of 4-hydroxybutyl acrylate (made by Nippon Kasei Co., Ltd.), 2,2′-azobis (2-methylpropionitrile) ) 0.05 g, 6.05 g of propylene glycol monomethyl ether acetate (PGMEA) (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) was put into a 50 mL pressure vessel (manufactured by ACE GLASS), bubbled with nitrogen gas, sealed, and oil at 60 ° C. Polymerized in a bath for 17 hours, the repeating unit represented by the following formula (i), the repeating unit represented by the following formula (ii), Repeating unit represented by the formula (iii), to give a viscous PGMEA solution polymer comprising repeating units represented by the following formula (iv) (1) is dissolved. The obtained polymer compound (1) had a polystyrene equivalent number average molecular weight of 1.2 × 10 5 and a weight average molecular weight of 3.3 × 10 5 .

Figure 2017141933
Figure 2017141933

合成例3(高分子化合物(2)の合成)
2,3,4,5,6−ペンタフルオロベンジルメタクリレート(シンクエスト・ラボラトリーズ社製)5.32g、2−〔O−[1’−メチルプロピリデンアミノ]カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート(昭和電工社製、商品名「カレンズMOI−BM」)0.61g、4−ヒドロキシブチルアクリレート(日本化成社製)0.36g、2,2’−アゾビス(2−メチルプロピオニトリル)0.04g、PGMEA(東京化成社製)8.21gを、50mL耐圧容器(ACE GLASS社製)に入れ、窒素ガスでバブリングした後、密栓し、70℃のオイルバス中で17時間重合させて、下記式(v)で表される繰り返し単位、下記式(iii)で表される繰り返し単位、下記式(iv)で表される繰り返し単位を含む高分子化合物(2)が溶解している粘稠なPGMEA溶液を得た。得られた高分子化合物(2)のポリスチレン換算の数平均分子量は5.4×10であり、重量平均分子量は4.5×10であった。
Synthesis Example 3 (Synthesis of polymer compound (2))
2,3,4,5,6-pentafluorobenzyl methacrylate (manufactured by Synquest Laboratories) 5.32 g, 2- [O- [1′-methylpropylideneamino] carboxyamino] ethyl methacrylate (Showa Denko) Manufactured, trade name “Karenz MOI-BM”) 0.61 g, 4-hydroxybutyl acrylate (manufactured by Nippon Kasei Co., Ltd.) 0.36 g, 2,2′-azobis (2-methylpropionitrile) 0.04 g, PGMEA ( 8.21 g (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) was put in a 50 mL pressure vessel (manufactured by ACE GLASS), bubbled with nitrogen gas, sealed, and polymerized in an oil bath at 70 ° C. for 17 hours to obtain the following formula (v) A polymer unit comprising a repeating unit represented by the following formula (iii), a repeating unit represented by the following formula (iv) (2) There was obtained a viscous PGMEA solution dissolved. The obtained polymer compound (2) had a polystyrene equivalent number average molecular weight of 5.4 × 10 4 and a weight average molecular weight of 4.5 × 10 5 .

Figure 2017141933
Figure 2017141933

合成例4(高分子化合物(3)の合成)
スチレン(純正化学社製)3.13g、2,3,4,5,6−ペンタフルオロスチレン(アルドリッチ社製)3.50g、2−〔O−[1’−メチルプロピリデンアミノ]カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート(昭和電工社製、商品名「カレンズMOI−BM」)1.45g、2−ヒドロキシエチルメタクリレート(東京化成社製)0.78g、2,2’−アゾビス(2−メチルプロピオニトリル)0.045g、PGMEA(東京化成社製)5.93gを、50mL耐圧容器(ACE GLASS社製)に入れ、窒素ガスでバブリングした後、密栓し、60℃のオイルバス中で16時間重合させて、下記式(i)で表される繰り返し単位、下記式(ii)で表される繰り返し単位、下記式(iii)で表される繰り返し単位、下記式(vi)で表される繰り返し単位を含む高分子化合物(3)が溶解している粘稠なPGMEA溶液を得た。得られた高分子化合物(3)のポリスチレン換算の数平均分子量は9.2×10であり、重量平均分子量は2.2×10であった。
Synthesis Example 4 (Synthesis of polymer compound (3))
Styrene (manufactured by Junsei Kagaku) 3.13 g, 2,3,4,5,6-pentafluorostyrene (manufactured by Aldrich) 3.50 g, 2- [O- [1'-methylpropylideneamino] carboxyamino] 1.45 g of ethyl methacrylate (made by Showa Denko KK, trade name “Karenz MOI-BM”), 0.78 g of 2-hydroxyethyl methacrylate (made by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.), 2,2′-azobis (2-methylpropionitrile) ) 0.045g, 5.93g of PGMEA (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) are put in a 50mL pressure vessel (manufactured by ACE GLASS), bubbled with nitrogen gas, sealed, and polymerized in an oil bath at 60 ° C for 16 hours. The repeating unit represented by the following formula (i), the repeating unit represented by the following formula (ii), the repeating unit represented by the following formula (iii), the following formula (v A polymer compound containing a repeating unit represented by) (3) to obtain a viscous PGMEA solution dissolved. The number average molecular weight of polystyrene conversion of the obtained polymer compound (3) was 9.2 × 10 4 , and the weight average molecular weight was 2.2 × 10 5 .

Figure 2017141933
Figure 2017141933

合成例5(高分子化合物(4)の合成)
スチレン(純正化学社製)3.18g、2,3,4,5,6−ペンタフルオロスチレン(アルドリッチ社製)3.55g、2−〔O−[1’−メチルプロピリデンアミノ]カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート(昭和電工社製、商品名「カレンズMOI−BM」)1.48g、メタクリル酸(東京化成社製)0.53g、2,2’−アゾビス(2−メチルプロピオニトリル)0.053g、PGMEA(東京化成社製)5.85gを、50mL耐圧容器(ACE GLASS社製)に入れ、窒素ガスでバブリングした後、密栓し、60℃のオイルバス中で16時間重合させて、下記式(i)で表される繰り返し単位、下記式(ii)で表される繰り返し単位、下記式(iii)で表される繰り返し単位、下記式(vii)で表される繰り返し単位を含む高分子化合物(4)が溶解している粘稠なPGMEA溶液を得た。高分子化合物(4)のポリスチレン換算の数平均分子量は3.0×10であり、重量平均分子量は9.3×10であった。
Synthesis Example 5 (Synthesis of polymer compound (4))
Styrene (manufactured by Junsei Kagaku) 3.18 g, 2,3,4,5,6-pentafluorostyrene (manufactured by Aldrich) 3.55 g, 2- [O- [1′-methylpropylideneamino] carboxyamino] 1.48 g of ethyl methacrylate (made by Showa Denko KK, trade name “Karenz MOI-BM”), 0.53 g of methacrylic acid (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.), 2,2′-azobis (2-methylpropionitrile) 053 g, 5.85 g of PGMEA (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) were put in a 50 mL pressure vessel (manufactured by ACE GLASS), bubbled with nitrogen gas, sealed, and polymerized in an oil bath at 60 ° C. for 16 hours. A repeating unit represented by the formula (i), a repeating unit represented by the following formula (ii), a repeating unit represented by the following formula (iii), and a repeating represented by the following formula (vii) Polymer compounds comprising units (4) to obtain a viscous PGMEA solution dissolved. The number average molecular weight in terms of polystyrene of the polymer compound (4) was 3.0 × 10 4 , and the weight average molecular weight was 9.3 × 10 4 .

Figure 2017141933
Figure 2017141933

合成例6(高分子化合物(5)の合成)
スチレン(純正化学社製)3.02g、2,3,4,5,6−ペンタフルオロスチレン(アルドリッチ社製)3.38g、2−〔O−[1’−メチルプロピリデンアミノ]カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート(昭和電工社製、商品名「カレンズMOI−BM」)1.41g、4−ビニル安息香酸(東京化成社製)0.86g、2,2’−アゾビス(2−メチルプロピオニトリル)0.043g、PGMEA(東京化成社製)5.80gを、50mL耐圧容器(ACE GLASS社製)に入れ、窒素ガスでバブリングした後、密栓し、60℃のオイルバス中で16時間重合させて、下記式(i)で表される繰り返し単位、下記式(ii)で表される繰り返し単位、下記式(iii)で表される繰り返し単位、下記式(viii)で表される繰り返し単位を含む高分子化合物(5)が溶解している粘稠なPGMEA溶液を得た。高分子化合物(5)のポリスチレン換算の数平均分子量は4.1×10であり、重量平均分子量は1.3×10であった。
Synthesis Example 6 (Synthesis of polymer compound (5))
Styrene (made by Junsei Kagaku) 3.02, g, 2,3,4,5,6-pentafluorostyrene (made by Aldrich) 3.38 g, 2- [O- [1′-methylpropylideneamino] carboxyamino] 1.41 g of ethyl methacrylate (trade name “Karenz MOI-BM” manufactured by Showa Denko KK), 0.86 g of 4-vinylbenzoic acid (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.), 2,2′-azobis (2-methylpropionitrile) ) 0.043g, PGMEA (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) 5.80g are put into a 50mL pressure vessel (manufactured by ACE GLASS), bubbled with nitrogen gas, sealed, and polymerized in a 60 ° C oil bath for 16 hours. The repeating unit represented by the following formula (i), the repeating unit represented by the following formula (ii), the repeating unit represented by the following formula (iii), and the following formula (viii) Polymer compound containing a repeating unit (5) was obtained a viscous PGMEA solution dissolved. The number average molecular weight in terms of polystyrene of the polymer compound (5) was 4.1 × 10 4 , and the weight average molecular weight was 1.3 × 10 5 .

Figure 2017141933
Figure 2017141933

合成例7(高分子化合物(6)の合成)
スチレン(純正化学社製)49.40g、2,3,4,5,6−ペンタフルオロスチレン(アルドリッチ社製)46.10g、2−〔O−[1’−メチルプロピリデンアミノ]カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート(昭和電工社製、商品名「カレンズMOI−BM」)19.00g、2,2’−アゾビス(2−メチルプロピオニトリル)0.57g、PGMEA(和光純薬社製)76.71gを、250mL耐圧容器(ACE GLASS社製)に入れ、窒素ガスでバブリングした後、密栓し、60℃のオイルバス中で18時間重合させて、下記式(i)で表される繰り返し単位、下記式(ii)で表される繰り返し単位、下記式(iii)で表される繰り返し単位を含む高分子化合物(6)が溶解している粘稠なPGMEA溶液を得た。
Synthesis Example 7 (Synthesis of polymer compound (6))
Styrene (made by Junsei Kagaku) 49.40 g, 2,3,4,5,6-pentafluorostyrene (made by Aldrich) 46.10 g, 2- [O- [1′-methylpropylideneamino] carboxyamino] Ethyl methacrylate (made by Showa Denko KK, trade name “Karenz MOI-BM”) 19.00 g, 2,2′-azobis (2-methylpropionitrile) 0.57 g, PGMEA (made by Wako Pure Chemical Industries) 76. 71 g was put into a 250 mL pressure vessel (manufactured by ACE GLASS), bubbled with nitrogen gas, sealed, polymerized in an oil bath at 60 ° C. for 18 hours, and a repeating unit represented by the following formula (i): A viscous PGMEA solution in which the repeating unit represented by the following formula (ii) and the polymer compound (6) containing the repeating unit represented by the following formula (iii) were dissolved was obtained.

Figure 2017141933
Figure 2017141933

合成例8(高分子化合物(7)の合成)
4−アミノスチレン(アルドリッチ社製)18.60g、2,3,4,5,6−ペンタフルオロスチレン(アルドリッチ製)70.79g、2,2’−アゾビス(2−メチルプロピオニトリル)0.45g、PGMEA(東京化成社製)134.75gを、250mL耐圧容器(ACE GLASS社製)に入れ、窒素ガスでバブリングした後、密栓し、60℃のオイルバス中で18時間重合させて、下記式(ii)で表される繰り返し単位、下記式(ix)で表される繰り返し単位を含む高分子化合物(7)が溶解している粘稠なPGMEA溶液を得た。
Synthesis Example 8 (Synthesis of polymer compound (7))
4-aminostyrene (manufactured by Aldrich) 18.60 g, 2,3,4,5,6-pentafluorostyrene (manufactured by Aldrich) 70.79 g, 2,2′-azobis (2-methylpropionitrile) 45 g, PGMEA (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) 134.75 g was put in a 250 mL pressure vessel (manufactured by ACE GLASS), bubbled with nitrogen gas, sealed, and polymerized in an oil bath at 60 ° C. for 18 hours. A viscous PGMEA solution in which the polymer unit (7) containing the repeating unit represented by the formula (ii) and the repeating unit represented by the following formula (ix) was dissolved was obtained.

Figure 2017141933
Figure 2017141933

合成例9(高分子化合物(8)の合成)
スチレン(純正化学社製)7.80g、2,3,4,5,6−ペンタフルオロスチレン(アルドリッチ社製)7.28g、2−〔O−[1’−メチルプロピリデンアミノ]カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート(昭和電工社製、商品名「カレンズMOI−BM」)3.00g、2,2’−アゾビス(2−メチルプロピオニトリル)0.90g、2−ヘプタノン(東京化成社製)12.11gを、50mL耐圧容器(ACE GLASS社製)に入れ、窒素ガスでバブリングした後、密栓し、60℃のオイルバス中で18時間重合させて、下記式(i)で表される繰り返し単位、下記式(ii)で表される繰り返し単位、下記式(iii)で表される繰り返し単位を含む高分子化合物(8)が溶解している粘稠な2−ヘプタノン溶液を得た。高分子化合物(8)のポリスチレン換算の数平均分子量は7.7×10であり、重量平均分子量は1.4×10であった。
Synthesis Example 9 (Synthesis of polymer compound (8))
Styrene (made by Junsei Kagaku) 7.80 g, 2,3,4,5,6-pentafluorostyrene (made by Aldrich) 7.28 g, 2- [O- [1′-methylpropylideneamino] carboxyamino] Ethyl methacrylate (made by Showa Denko KK, trade name “Karenz MOI-BM”) 3.00 g, 2,2′-azobis (2-methylpropionitrile) 0.90 g, 2-heptanone (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) 12 .11 g was put into a 50 mL pressure vessel (manufactured by ACE GLASS), bubbled with nitrogen gas, sealed, polymerized in an oil bath at 60 ° C. for 18 hours, and the repeating unit represented by the following formula (i) A viscous 2-heptanone solution in which the polymer compound (8) containing a repeating unit represented by the following formula (ii) and a repeating unit represented by the following formula (iii) was dissolved was obtained. The number average molecular weight in terms of polystyrene of the polymer compound (8) was 7.7 × 10 4 , and the weight average molecular weight was 1.4 × 10 5 .

Figure 2017141933
Figure 2017141933

合成例10(高分子化合物(9)の合成)
2,3,4,5,6−ペンタフルオロスチレン(アルドリッチ社製)3.57g、4−ヒドロキシブチルアクリレート(日本化成社製)0.90g、2,2’−アゾビス(2−メチルプロピオニトリル)0.022g、2−ヘプタノン(東京化成社製)10.5gを、50mL耐圧容器(ACE GLASS社製)に入れ、窒素ガスでバブリングした後、密栓し、60℃のオイルバス中で18時間重合させて、下記式(ii)で表される繰り返し単位、下記式(iv)で表される繰り返し単位を含む高分子化合物(9)が溶解している粘稠な2−ヘプタノン溶液を得た。高分子化合物(9)のポリスチレン換算の数平均分子量は4.2×10であり、重量平均分子量は7.6×10であった。
Synthesis Example 10 (Synthesis of polymer compound (9))
2,3,4,5,6-pentafluorostyrene (manufactured by Aldrich) 3.57 g, 4-hydroxybutyl acrylate (manufactured by Nippon Kasei Co., Ltd.) 0.90 g, 2,2′-azobis (2-methylpropionitrile) ) Put 0.022 g, 10.5 g of 2-heptanone (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) into a 50 mL pressure vessel (manufactured by ACE GLASS), bubble with nitrogen gas, seal tightly, and in a 60 ° C. oil bath for 18 hours Polymerization was performed to obtain a viscous 2-heptanone solution in which the polymer unit (9) containing the repeating unit represented by the following formula (ii) and the repeating unit represented by the following formula (iv) was dissolved. . The number average molecular weight in terms of polystyrene of the polymer compound (9) was 4.2 × 10 4 , and the weight average molecular weight was 7.6 × 10 4 .

Figure 2017141933
Figure 2017141933

合成例11(高分子化合物(10)の合成)
スチレン(純正化学社製)2.87g、2,3,4,5,6−ペンタフルオロスチレン(アルドリッチ社製)3.20g、2−〔O−[1’−メチルプロピリデンアミノ]カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート(昭和電工社製、商品名「カレンズMOI−BM」)1.33g、4−アミノスチレン(東京化成社製)0.66g、2,2’−アゾビス(2−メチルプロピオニトリル)0.040g、PGMEA(東京化成社製)8.10gを、50mL耐圧容器(ACE GLASS社製)に入れ、窒素ガスでバブリングした後、密栓し、60℃のオイルバス中で17時間重合させて、下記式(i)で表される繰り返し単位、下記式(ii)で表される繰り返し単位、下記式(iii)で表される繰り返し単位、下記式(ix)で表される繰り返し単位を含む高分子化合物(10)をゲルとして析出させた。
Synthesis Example 11 (Synthesis of polymer compound (10))
Styrene (manufactured by Junsei Kagaku) 2.87 g, 2,3,4,5,6-pentafluorostyrene (manufactured by Aldrich) 3.20 g, 2- [O- [1′-methylpropylideneamino] carboxyamino] Ethyl methacrylate (made by Showa Denko KK, trade name “Karenz MOI-BM”) 1.33 g, 4-aminostyrene (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) 0.66 g, 2,2′-azobis (2-methylpropionitrile) 0.040 g and 8.10 g of PGMEA (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) are put in a 50 mL pressure vessel (manufactured by ACE GLASS), bubbled with nitrogen gas, sealed, and polymerized in an oil bath at 60 ° C. for 17 hours. , A repeating unit represented by the following formula (i), a repeating unit represented by the following formula (ii), a repeating unit represented by the following formula (iii), and a repeating unit represented by the following formula (ix) Polymer compounds comprising units returns (10) to precipitate as a gel.

Figure 2017141933
Figure 2017141933

合成例12(高分子化合物(11)の合成)
スチレン(純正化学社製)4.19g、2,3,4,5,6−ペンタフルオロスチレン(アルドリッチ社製)3.94g、2−〔O−[1’−メチルプロピリデンアミノ]カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート(昭和電工社製、商品名「カレンズMOI−BM」)0.81g、4−ヒドロキシブチルアクリレート(日本化成社製)0.48g、2,2’−アゾビス(2−メチルプロピオニトリル)0.047g、PGMEA(東京化成社製)6.29gを、50mL耐圧容器(ACE GLASS社製)に入れ、窒素ガスでバブリングした後、密栓し、60℃のオイルバス中で17時間重合させて、下記式(i)で表される繰り返し単位、下記式(ii)で表される繰り返し単位、下記式(iii)で表される繰り返し単位、下記式(iv)で表される繰り返し単位を含む高分子化合物(11)が溶解している粘稠なPGMEA溶液を得た。高分子化合物(11)のポリスチレン換算の数平均分子量は6.9×10であり、重量平均分子量は1.7×10であった。
Synthesis Example 12 (Synthesis of polymer compound (11))
4.19 g of styrene (manufactured by Junsei Kagaku), 3.94 g of 2,3,4,5,6-pentafluorostyrene (manufactured by Aldrich), 2- [O- [1′-methylpropylideneamino] carboxyamino] 0.81 g of ethyl methacrylate (made by Showa Denko KK, trade name “Karenz MOI-BM”), 0.48 g of 4-hydroxybutyl acrylate (made by Nippon Kasei Co., Ltd.), 2,2′-azobis (2-methylpropionitrile) ) 0.047 g, 6.29 g of PGMEA (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) are put into a 50 mL pressure vessel (manufactured by ACE GLASS), bubbled with nitrogen gas, sealed, and polymerized in an oil bath at 60 ° C. for 17 hours. The repeating unit represented by the following formula (i), the repeating unit represented by the following formula (ii), the repeating unit represented by the following formula (iii), the following formula (iv) A polymer compound containing a repeating unit represented in (11) was obtained a viscous PGMEA solution dissolved. The number average molecular weight in terms of polystyrene of the polymer compound (11) was 6.9 × 10 4 , and the weight average molecular weight was 1.7 × 10 5 .

Figure 2017141933
Figure 2017141933

合成例13(高分子化合物(12)の合成)
2,3,4,5,6−ペンタフルオロベンジルメタクリレート(シンクエスト・ラボラトリーズ社製)3.62g、2−〔O−[1’−メチルプロピリデンアミノ]カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート(昭和電工社製、商品名「カレンズMOI−BM」)0.276g、4−ヒドロキシブチルアクリレート(日本化成社製)0.328g、2,2’−アゾビス(2−メチルプロピオニトリル)0.021g、PGMEA(東京化成社製)9.90gを、50mL耐圧容器(ACE GLASS社製)に入れ、窒素ガスでバブリングした後、密栓し、70℃のオイルバス中で16時間重合させて、下記式(v)で表される繰り返し単位、下記式(iii)で表される繰り返し単位、下記式(iv)で表される繰り返し単位を含む高分子化合物(12)が溶解している粘稠なPGMEA溶液を得た。得られた高分子化合物(12)のポリスチレン換算の数平均分子量は4.0×10であり、重量平均分子量は1.7×10であった。
Synthesis Example 13 (Synthesis of polymer compound (12))
2,3,4,5,6-pentafluorobenzyl methacrylate (manufactured by Synquest Laboratories) 3.62 g, 2- [O- [1′-methylpropylideneamino] carboxyamino] ethyl-methacrylate (Showa Denko) Manufactured, trade name “Karenz MOI-BM”) 0.276 g, 4-hydroxybutyl acrylate (Nihon Kasei Co., Ltd.) 0.328 g, 2,2′-azobis (2-methylpropionitrile) 0.021 g, PGMEA ( 9.90 g (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) is placed in a 50 mL pressure vessel (ACE GLASS), bubbled with nitrogen gas, sealed, and polymerized in an oil bath at 70 ° C. for 16 hours to obtain the following formula (v) A polymer compound comprising a repeating unit represented by the following formula, a repeating unit represented by the following formula (iii), and a repeating unit represented by the following formula (iv) (12) was obtained a viscous PGMEA solution dissolved. The number average molecular weight of polystyrene conversion of the obtained polymer compound (12) was 4.0 × 10 4 , and the weight average molecular weight was 1.7 × 10 5 .

Figure 2017141933
Figure 2017141933

合成例14(高分子化合物(13)の合成)
2,3,4,5,6−ペンタフルオロベンジルメタクリレート(シンクエスト・ラボラトリーズ社製)3.85g、2−〔O−[1’−メチルプロピリデンアミノ]カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート(昭和電工社製、商品名「カレンズMOI−BM」)0.412g、4−ヒドロキシブチルアクリレート(日本化成社製)0.123g、2,2’−アゾビス(2−メチルプロピオニトリル)0.022g、PGMEA(東京化成社製)10.3gを、50mL耐圧容器(ACE GLASS社製)に入れ、窒素ガスでバブリングした後、密栓し、70℃のオイルバス中で16時間重合させて、下記式(v)で表される繰り返し単位、下記式(iii)で表される繰り返し単位、下記式(iv)で表される繰り返し単位を含む高分子化合物(13)が溶解している粘稠なPGMEA溶液を得た。得られた高分子化合物(13)のポリスチレン換算の数平均分子量は3.9×10であり、重量平均分子量は1.5×10であった。
Synthesis Example 14 (Synthesis of polymer compound (13))
2,3,4,5,6-pentafluorobenzyl methacrylate (manufactured by Synquest Laboratories) 3.85 g, 2- [O- [1′-methylpropylideneamino] carboxyamino] ethyl methacrylate (Showa Denko) Manufactured, trade name “Karenz MOI-BM”) 0.412 g, 4-hydroxybutyl acrylate (manufactured by Nippon Kasei Co., Ltd.) 0.123 g, 2,2′-azobis (2-methylpropionitrile) 0.022 g, PGMEA ( 10.3 g (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) is put in a 50 mL pressure vessel (manufactured by ACE GLASS), bubbled with nitrogen gas, sealed, and polymerized in an oil bath at 70 ° C. for 16 hours to obtain the following formula (v) A polymer compound comprising a repeating unit represented by the following formula, a repeating unit represented by the following formula (iii), and a repeating unit represented by the following formula (iv) (13) was obtained a viscous PGMEA solution dissolved. The obtained polymer compound (13) had a polystyrene-equivalent number average molecular weight of 3.9 × 10 4 and a weight average molecular weight of 1.5 × 10 5 .

Figure 2017141933
Figure 2017141933

合成例15(高分子化合物(14)の合成)
2,3,4,5,6−ペンタフルオロベンジルメタクリレート(シンクエスト・ラボラトリーズ社製)18.63g、2−〔O−[1’−メチルプロピリデンアミノ]カルボキシアミノ〕エチル−メタクリレート(昭和電工社製、商品名「カレンズMOI−BM」)3.63g、4−ビニル安息香酸(東京化成社製)2.22g、2,2’−アゾビス(2−メチルプロピオニトリル)0.131g、PGMEA(東京化成社製)57.5gを、125mL耐圧容器(ACE GLASS社製)に入れ、窒素ガスでバブリングした後、密栓し、70℃のオイルバス中で16時間重合させて、下記式(v)で表される繰り返し単位、下記式(iii)で表される繰り返し単位、下記式(viii)で表される繰り返し単位を含む高分子化合物(14)が溶解している粘稠なPGMEA溶液を得た。得られた高分子化合物(14)のポリスチレン換算の数平均分子量は3.9×10であり、重量平均分子量は9.4×10であった。
Synthesis Example 15 (Synthesis of polymer compound (14))
2,3,4,5,6-pentafluorobenzyl methacrylate (manufactured by Synquest Laboratories) 18.63 g, 2- [O- [1′-methylpropylideneamino] carboxyamino] ethyl methacrylate (Showa Denko) Manufactured, trade name “Karenz MOI-BM”) 3.63 g, 4-vinylbenzoic acid (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) 2.22 g, 2,2′-azobis (2-methylpropionitrile) 0.131 g, PGMEA ( 57.5 g (manufactured by Tokyo Chemical Industry Co., Ltd.) is put into a 125 mL pressure vessel (manufactured by ACE GLASS), bubbled with nitrogen gas, sealed, and polymerized in an oil bath at 70 ° C. for 16 hours to obtain the following formula (v) A polymer unit comprising a repeating unit represented by formula (iii): a repeating unit represented by formula (iii): a repeating unit represented by formula (viii): To give a viscous PGMEA solution dissolved. The obtained polymer compound (14) had a polystyrene-equivalent number average molecular weight of 3.9 × 10 4 and a weight average molecular weight of 9.4 × 10 4 .

Figure 2017141933
Figure 2017141933

実施例1(有機薄膜トランジスタ(1)の製造及び評価)
合成例2で得た高分子化合物(1)のPGMEA溶液15.14g、PGMEA60.6gを125mLサンプル瓶に入れ、攪拌して溶解させることにより均一な塗布液(1)を調製した。
Example 1 (Production and Evaluation of Organic Thin Film Transistor (1))
A uniform coating solution (1) was prepared by placing 15.14 g of the PGMEA solution of polymer compound (1) obtained in Synthesis Example 2 and 60.6 g of PGMEA in a 125 mL sample bottle and dissolving them by stirring.

塗布液(1)及び高分子化合物Aを含む溶液を用いて、ボトムゲートボトムコンタクト型の有機薄膜トランジスタ素子(1)を製造した(有機薄膜トランジスタ(1)又はトランジスタ(1)という場合がある。以下、同様である。)。以下に具体的に説明する。   A bottom gate bottom contact type organic thin film transistor element (1) was manufactured using a solution containing the coating liquid (1) and the polymer compound A (sometimes referred to as an organic thin film transistor (1) or a transistor (1). The same). This will be specifically described below.

フォトリソグラフィ工程及びエッチング工程によりガラス基板に形成されたクロム(Cr)層をパターニングしてゲート電極を形成した。   A chromium (Cr) layer formed on the glass substrate by the photolithography process and the etching process was patterned to form a gate electrode.

続いて塗布液(1)をゲート電極が形成されたガラス基板のゲート電極側にスピンコート法により塗布し、形成された塗布層を180℃で30分間加熱処理することで、塗布液(1)の塗布層が硬化した硬化膜であるゲート絶縁層を形成した。形成されたゲート絶縁層の厚さは、658nmであった。   Subsequently, the coating liquid (1) is applied to the gate electrode side of the glass substrate on which the gate electrode is formed by spin coating, and the formed coating layer is heat-treated at 180 ° C. for 30 minutes, whereby the coating liquid (1). A gate insulating layer, which is a cured film obtained by curing the coating layer, was formed. The formed gate insulating layer had a thickness of 658 nm.

次に、ゲート絶縁層が形成されたガラス基板のゲート絶縁層側に、蒸着法により金の層をパターン形成することでソース電極及びドレイン電極を形成した。   Next, a source electrode and a drain electrode were formed by patterning a gold layer by a vapor deposition method on the gate insulating layer side of the glass substrate on which the gate insulating layer was formed.

次いで、ペンタフルオロベンゼンチオールのイソプロピルアルコール希釈液に、ソース電極及びドレイン電極が形成されたガラス基板を2分間浸漬することにより、ガラス基板に形成されたソース電極及びドレイン電極の表面を修飾した。続いて0.5質量%の高分子化合物Cのトルエン溶液をソース電極及びドレイン電極側にスピンコートし、ホットプレートを用いて120℃で30分間加熱処理することで、有機半導体層を形成して、有機薄膜トランジスタ(1)を得た。製造された有機薄膜トランジスタ(1)のチャネル長は20μmであり、チャネル幅は2mmであった。   Next, the surfaces of the source electrode and the drain electrode formed on the glass substrate were modified by immersing the glass substrate on which the source electrode and the drain electrode were formed in a dilute solution of pentafluorobenzenethiol in isopropyl alcohol for 2 minutes. Subsequently, a toluene solution of 0.5% by mass of polymer compound C is spin-coated on the source electrode and drain electrode sides, and heat treatment is performed at 120 ° C. for 30 minutes using a hot plate to form an organic semiconductor layer. An organic thin film transistor (1) was obtained. The manufactured organic thin film transistor (1) had a channel length of 20 μm and a channel width of 2 mm.

得られた有機薄膜トランジスタ(1)を評価した。具体的には有機薄膜トランジスタ(1)のゲート電極に電圧を印加してゲート電圧Vgを20V〜−40Vに変化させ、ソース・ドレイン間電圧Vsdを0V〜−40Vに変化させる条件で、そのトランジスタ特性を真空プロ−バ(BCT22MDC−5−HT−SCU;Nagase Electronic Equipments Service Co., LTD製)を用いて測定し、評価した。結果を下記表1に示す。   The obtained organic thin film transistor (1) was evaluated. Specifically, the transistor characteristics are obtained under the condition that a voltage is applied to the gate electrode of the organic thin film transistor (1) to change the gate voltage Vg from 20 V to -40 V and the source-drain voltage Vsd from 0 V to -40 V. Was measured using a vacuum probe (BCT22MDC-5-HT-SCU; Nagase Electronic Equipment Service Co., LTD). The results are shown in Table 1 below.

有機薄膜トランジスタ(1)のキャリア移動度は、0.43cm/Vsであった。The carrier mobility of the organic thin film transistor (1) was 0.43 cm 2 / Vs.

実施例2(有機薄膜トランジスタ(2)の製造及び評価)
合成例3で得た高分子化合物(2)のPGMEA溶液12.6g、PGMEA34.8gを100mLのサンプル瓶に入れ、攪拌して溶解させることにより均一な塗布液(2)を調製した。
Example 2 (Production and Evaluation of Organic Thin Film Transistor (2))
A uniform coating solution (2) was prepared by placing 12.6 g of the PGMEA solution of the polymer compound (2) obtained in Synthesis Example 3 and 34.8 g of PGMEA in a 100 mL sample bottle and dissolving them by stirring.

ゲート絶縁層の形成に塗布液(2)を用いたこと以外は実施例1と同様にして、ボトムゲートボトムコンタクト型の有機薄膜トランジスタ(2)を製造し、トランジスタ特性を測定し、評価した。結果を下記表1に示す。   A bottom gate bottom contact type organic thin film transistor (2) was produced in the same manner as in Example 1 except that the coating liquid (2) was used for forming the gate insulating layer, and the transistor characteristics were measured and evaluated. The results are shown in Table 1 below.

形成されたゲート絶縁層の厚さは、657nmであった。得られた有機薄膜トランジスタ(2)のキャリア移動度は、0.66cm/Vsであった。The formed gate insulating layer had a thickness of 657 nm. The carrier mobility of the obtained organic thin-film transistor (2) was 0.66 cm 2 / Vs.

実施例3(有機薄膜トランジスタ(3)の製造及び評価)
合成例4で得た高分子化合物(3)のPGMEA溶液14.8g、PGMEA52.4gを100mLのサンプル瓶に入れ、攪拌して溶解することにより均一な塗布液(3)を調製した。
Example 3 (Production and Evaluation of Organic Thin Film Transistor (3))
A uniform coating solution (3) was prepared by putting 14.8 g of the PGMEA solution of the polymer compound (3) obtained in Synthesis Example 4 and 52.4 g of PGMEA into a 100 mL sample bottle, and dissolving by stirring.

ゲート絶縁層の形成に塗布液(3)を用いたこと以外は実施例1と同様にして、ボトムゲートボトムコンタクト型の有機薄膜トランジスタ(3)を製造し、トランジスタ特性を測定し、評価した。結果を下記表1に示す。   A bottom gate bottom contact type organic thin film transistor (3) was produced in the same manner as in Example 1 except that the coating liquid (3) was used for forming the gate insulating layer, and the transistor characteristics were measured and evaluated. The results are shown in Table 1 below.

形成されたゲート絶縁層の厚さは、550nmであった。得られた有機薄膜トランジスタ(3)のキャリア移動度は、0.44cm/Vsであった。The formed gate insulating layer had a thickness of 550 nm. The carrier mobility of the obtained organic thin-film transistor (3) was 0.44 cm 2 / Vs.

実施例4(有機薄膜トランジスタ(4)の製造及び評価)
合成例5で得た高分子化合物(4)のPGMEA溶液14.6g、PGMEA51.2gを100mLのサンプル瓶に入れ、攪拌して溶解させることにより均一な塗布液(4)を調製した。
Example 4 (Production and Evaluation of Organic Thin Film Transistor (4))
A uniform coating solution (4) was prepared by putting 14.6 g of PGMEA solution of polymer compound (4) obtained in Synthesis Example 5 and 51.2 g of PGMEA into a 100 mL sample bottle, and dissolving by stirring.

ゲート絶縁層の形成に塗布液(4)を用いたこと以外は実施例1と同様にして、ボトムゲートボトムコンタクト型の有機薄膜トランジスタ(4)を製造し、トランジスタ特性を測定し、評価した。結果を下記表1に示す。   A bottom gate bottom contact type organic thin film transistor (4) was produced in the same manner as in Example 1 except that the coating liquid (4) was used for forming the gate insulating layer, and transistor characteristics were measured and evaluated. The results are shown in Table 1 below.

形成されたゲート絶縁層の厚さは、615nmであった。得られた有機薄膜トランジスタ(4)のキャリア移動度は、0.43cm/Vsであった。The thickness of the formed gate insulating layer was 615 nm. The carrier mobility of the obtained organic thin film transistor (4) was 0.43 cm 2 / Vs.

実施例5(有機薄膜トランジスタ(5)の製造及び評価)
合成例6で得た高分子化合物(5)のPGMEA溶液14.5g、PGMEA50.7gを100mLのサンプル瓶に入れ、攪拌して溶解させることにより均一な塗布液(5)を調製した。
Example 5 (Production and Evaluation of Organic Thin Film Transistor (5))
A uniform coating solution (5) was prepared by placing 14.5 g of the PGMEA solution of the polymer compound (5) obtained in Synthesis Example 6 and 50.7 g of PGMEA in a 100 mL sample bottle and dissolving them by stirring.

ゲート絶縁層の形成に塗布液(5)を用いたこと以外は実施例1と同様にして、ボトムゲートボトムコンタクト型の有機薄膜トランジスタ(5)を製造し、トランジスタ特性を測定し、評価した。結果を下記表1に示す。   A bottom gate bottom contact type organic thin film transistor (5) was produced in the same manner as in Example 1 except that the coating liquid (5) was used for forming the gate insulating layer, and transistor characteristics were measured and evaluated. The results are shown in Table 1 below.

形成されたゲート絶縁層の厚さは、625nmであった。得られた有機薄膜トランジスタ(5)のキャリア移動度は、0.43cm/Vsであった。The thickness of the formed gate insulating layer was 625 nm. The carrier mobility of the obtained organic thin-film transistor (5) was 0.43 cm 2 / Vs.

実施例6(有機薄膜トランジスタ(6)の製造及び評価)
合成例12で得た高分子化合物(11)のPGMEA溶液15.7g、PGMEA55.1gを100mLのサンプル瓶に入れ、攪拌して溶解させることにより均一な塗布液(6)を調製した。
Example 6 (Production and Evaluation of Organic Thin Film Transistor (6))
A uniform coating solution (6) was prepared by putting 15.7 g of the PGMEA solution of the polymer compound (11) obtained in Synthesis Example 12 and 55.1 g of PGMEA into a 100 mL sample bottle and dissolving them by stirring.

ゲート絶縁層の形成に塗布液(6)を用いたこと以外は実施例1と同様にして、ボトムゲートボトムコンタクト型の有機薄膜トランジスタ(6)を製造し、トランジスタ特性を測定し、評価した。結果を下記表1に示す。   A bottom gate bottom contact type organic thin film transistor (6) was produced in the same manner as in Example 1 except that the coating liquid (6) was used for forming the gate insulating layer, and the transistor characteristics were measured and evaluated. The results are shown in Table 1 below.

形成されたゲート絶縁層の厚さは、646nmであった。得られた有機薄膜トランジスタ(6)のキャリア移動度は、0.86cm/Vsであった。The formed gate insulating layer had a thickness of 646 nm. The obtained organic thin film transistor (6) had a carrier mobility of 0.86 cm 2 / Vs.

実施例7(有機薄膜トランジスタ(7)の製造及び評価)
合成例13で得た高分子化合物(12)のPGMEA溶液14.1g、PGMEA17.7gを50mLのサンプル瓶に入れ、攪拌して溶解させることにより均一な塗布液(7)を調製した。
Example 7 (Production and Evaluation of Organic Thin Film Transistor (7))
A uniform coating solution (7) was prepared by putting 14.1 g of the PGMEA solution of the polymer compound (12) obtained in Synthesis Example 13 and 17.7 g of PGMEA into a 50 mL sample bottle and dissolving them by stirring.

ゲート絶縁層の形成に塗布液(7)を用いたこと以外は実施例1と同様にして、ボトムゲートボトムコンタクト型の有機薄膜トランジスタ(7)を製造し、トランジスタ特性を測定し、評価した。結果を下記表1に示す。   A bottom gate bottom contact type organic thin film transistor (7) was produced in the same manner as in Example 1 except that the coating liquid (7) was used for forming the gate insulating layer, and transistor characteristics were measured and evaluated. The results are shown in Table 1 below.

形成されたゲート絶縁層の厚さは、613nmであった。得られた有機薄膜トランジスタ(7)のキャリア移動度は、0.45cm/Vsであった。The formed gate insulating layer had a thickness of 613 nm. The carrier mobility of the obtained organic thin-film transistor (7) was 0.45 cm 2 / Vs.

実施例8(有機薄膜トランジスタ(8)の製造及び評価)
合成例14で得た高分子化合物(13)のPGMEA溶液14.6g、PGMEA18.2gを50mLのサンプル瓶に入れ、攪拌して溶解させることにより均一な塗布液(8)を調製した。
Example 8 (Production and Evaluation of Organic Thin Film Transistor (8))
A uniform coating solution (8) was prepared by placing 14.6 g of the PGMEA solution of the polymer compound (13) obtained in Synthesis Example 14 and 18.2 g of PGMEA in a 50 mL sample bottle and dissolving them by stirring.

ゲート絶縁層の形成に塗布液(8)を用いたこと以外は実施例1と同様にして、ボトムゲートボトムコンタクト型の有機薄膜トランジスタ(8)を製造し、トランジスタ特性を測定し、評価した。結果を下記表1に示す。   A bottom gate bottom contact type organic thin film transistor (8) was produced in the same manner as in Example 1 except that the coating liquid (8) was used for forming the gate insulating layer, and the transistor characteristics were measured and evaluated. The results are shown in Table 1 below.

形成されたゲート絶縁層の厚さは、645nmであった。得られた有機薄膜トランジスタ(8)のキャリア移動度は、0.52cm/Vsであった。The formed gate insulating layer had a thickness of 645 nm. The carrier mobility of the obtained organic thin film transistor (8) was 0.52 cm 2 / Vs.

実施例9(有機薄膜トランジスタ(11)の製造及び評価)
合成例15で得た高分子化合物(14)のPGMEA溶液82.1g、PGMEA41.0gを150mLのサンプル瓶に入れ、攪拌して溶解させることにより均一な塗布液(11)を調製した。
Example 9 (Production and Evaluation of Organic Thin Film Transistor (11))
A uniform coating solution (11) was prepared by putting 82.1 g of the PGMEA solution of the polymer compound (14) obtained in Synthesis Example 15 and 41.0 g of PGMEA into a 150 mL sample bottle and dissolving them by stirring.

ゲート絶縁層の形成に塗布液(11)を用いたこと以外は実施例1と同様にして、ボトムゲートボトムコンタクト型の有機薄膜トランジスタ(11)を製造し、トランジスタ特性を測定し、評価した。結果を下記表1に示す。   A bottom gate bottom contact type organic thin film transistor (11) was manufactured in the same manner as in Example 1 except that the coating liquid (11) was used for forming the gate insulating layer, and transistor characteristics were measured and evaluated. The results are shown in Table 1 below.

形成されたゲート絶縁層の厚さは、1280nmであった。得られた有機薄膜トランジスタ(11)のキャリア移動度は、0.48cm/Vsであった。The formed gate insulating layer had a thickness of 1280 nm. The carrier mobility of the obtained organic thin film transistor (11) was 0.48 cm 2 / Vs.

比較例1(有機薄膜トランジスタ(9)の製造及び評価)
合成例7で得た高分子化合物(6)のPGMEA溶液10.00g、合成例8で得た高分子化合物(7)のPGMEA溶液5.93g、PGMEA55.82gを125mLのサンプル瓶に入れ、攪拌して溶解させることにより均一な塗布液(9)を調製した。塗布液(9)に含まれる高分子化合物のポリスチレン換算の数平均分子量は8.7×10であり、重量平均分子量は2.6×10であった。
Comparative Example 1 (Production and Evaluation of Organic Thin Film Transistor (9))
10.00 g of the PGMEA solution of the polymer compound (6) obtained in Synthesis Example 7 and 5.93 g of the PGMEA solution of the polymer compound (7) obtained in Synthesis Example 8 and 55.82 g of PGMEA were placed in a 125 mL sample bottle and stirred. Then, a uniform coating solution (9) was prepared by dissolving. The number average molecular weight in terms of polystyrene of the polymer compound contained in the coating liquid (9) was 8.7 × 10 4 , and the weight average molecular weight was 2.6 × 10 5 .

ゲート絶縁層の形成に塗布液(9)を用いたこと以外は実施例1と同様にして、ボトムゲートボトムコンタクト型の有機薄膜トランジスタ(9)を製造し、トランジスタ特性を測定し、評価した。結果を下記表1に示す。   A bottom gate bottom contact type organic thin film transistor (9) was produced in the same manner as in Example 1 except that the coating liquid (9) was used for forming the gate insulating layer, and the transistor characteristics were measured and evaluated. The results are shown in Table 1 below.

形成されたゲート絶縁層の厚さは、621nmであった。得られた有機薄膜トランジスタ(9)のキャリア移動度は、0.27cm/Vsであった。The thickness of the formed gate insulating layer was 621 nm. The obtained organic thin film transistor (9) had a carrier mobility of 0.27 cm 2 / Vs.

比較例2(有機薄膜トランジスタ(10)の製造及び評価)
合成例9で得た高分子化合物(8)の2−ヘプタノン溶液18.09g、合成例10で得た高分子化合物(9)の2−ヘプタノン溶液14.17g、2−ヘプタノン43.27gを100mLのサンプル瓶に入れ、攪拌して溶解させることにより均一な塗布液(10)を調製した。塗布液(10)に含まれる高分子化合物のポリスチレン換算の数平均分子量は6.0×10であり、重量平均分子量は1.2×10であった。
Comparative Example 2 (Production and Evaluation of Organic Thin Film Transistor (10))
100 mL of 18.09 g of 2-heptanone solution of polymer compound (8) obtained in Synthesis Example 9, 14.17 g of 2-heptanone solution of polymer compound (9) obtained in Synthesis Example 10, and 43.27 g of 2-heptanone The uniform coating liquid (10) was prepared by putting it into the sample bottle and stirring and dissolving. The number average molecular weight in terms of polystyrene of the polymer compound contained in the coating liquid (10) was 6.0 × 10 4 , and the weight average molecular weight was 1.2 × 10 5 .

ゲート絶縁層の形成に塗布液(10)を用いたこと以外は実施例1と同様にして、ボトムゲートボトムコンタクト型の有機薄膜トランジスタ(10)を製造し、トランジスタ特性を測定し、評価した。結果を下記表1に示す。   A bottom gate bottom contact type organic thin film transistor (10) was produced in the same manner as in Example 1 except that the coating liquid (10) was used for forming the gate insulating layer, and transistor characteristics were measured and evaluated. The results are shown in Table 1 below.

形成されたゲート絶縁層の厚さは、675nmであった。得られた有機薄膜トランジスタ(10)のキャリア移動度は、0.28cm/Vsであった。The formed gate insulating layer had a thickness of 675 nm. The obtained organic thin film transistor (10) had a carrier mobility of 0.28 cm 2 / Vs.

Figure 2017141933
Figure 2017141933

表1から明らかなように、本発明にかかる実施例1〜9によれば、ゲート絶縁層の形成にあたり複数種類の高分子化合物が混合された比較例1及び2と比較してキャリア移動度をより高くすることができた。   As is apparent from Table 1, according to Examples 1 to 9 of the present invention, carrier mobility is higher than that of Comparative Examples 1 and 2 in which a plurality of types of polymer compounds are mixed in forming the gate insulating layer. Could be higher.

実施例10(有機薄膜トランジスタ(12)の製造及び評価)
実施例7で得られた塗布液(7)を用いて、トップゲートボトムコンタクト型の有機薄膜トランジスタ(12)を製造した。以下に具体的に説明する。
Example 10 (Production and Evaluation of Organic Thin Film Transistor (12))
Using the coating liquid (7) obtained in Example 7, a top gate bottom contact type organic thin film transistor (12) was produced. This will be specifically described below.

まず、ガラス基板に対し、オゾンUVを照射した後、アルカリ洗浄液により洗浄し、純水によりリンスした。   First, after irradiating ozone UV with respect to the glass substrate, it wash | cleaned with the alkali cleaning liquid and rinsed with the pure water.

次に、ガラス基板上に、スパッタリング法により、基板側からクロムの層及び金の層をこの順で積層し、フォトリソグラフィ工程及びエッチング工程によりパターニングすることで、ソース電極、及びドレイン電極を形成した。ソース電極及びドレイン電極のチャネル長は10μmとし、チャネル幅は2mmとした。その後、2,3,4,5,6−テトラフルオロ−4−(トリフルオロメチル)ベンゼンチオールのイソプロピルアルコール希釈液に、ガラス基板を2分間浸漬することにより、ガラス基板上に形成した電極(特に金の層)の表面を修飾した。   Next, a chromium layer and a gold layer were laminated in this order on the glass substrate from the substrate side by sputtering, and patterned by a photolithography process and an etching process, thereby forming a source electrode and a drain electrode. . The channel length of the source electrode and the drain electrode was 10 μm, and the channel width was 2 mm. Thereafter, the electrode formed on the glass substrate (particularly, by immersing the glass substrate in isopropyl alcohol diluted with 2,3,4,5,6-tetrafluoro-4- (trifluoromethyl) benzenethiol for 2 minutes) The surface of the gold layer) was modified.

続いて合成例1で得られた0.5質量%の高分子化合物Cのトルエン溶液をソース電極及びドレイン電極側にスピンコート法により塗布し、ホットプレートを用いて150℃で7分間加熱処理することで、有機半導体層を形成した。   Subsequently, the toluene solution of 0.5% by mass of the polymer compound C obtained in Synthesis Example 1 is applied to the source electrode and drain electrode side by a spin coating method, and is heated at 150 ° C. for 7 minutes using a hot plate. Thus, an organic semiconductor layer was formed.

この有機半導体層の上に、塗布液(7)をスピンコート法により塗布し、形成された塗布層を150℃で30分間加熱処理することで、塗布層が硬化した硬化膜である、ゲート絶縁層を形成した。形成されたゲート絶縁層の厚さは、1040nmであった。   On this organic semiconductor layer, a coating liquid (7) is applied by spin coating, and the formed coating layer is heat-treated at 150 ° C. for 30 minutes to form a cured film obtained by curing the coating layer. A layer was formed. The thickness of the formed gate insulating layer was 1040 nm.

さらに、このゲート絶縁層上に、蒸着法によりアルミニウムの層を形成して、ゲート電極とすることで有機薄膜トランジスタ(12)を得た。   Furthermore, an organic thin film transistor (12) was obtained by forming an aluminum layer on the gate insulating layer by vapor deposition to form a gate electrode.

得られた有機薄膜トランジスタ(12)を評価した。
具体的には、真空プロ−バ(BCT22MDC−5−HT−SCU;Nagase Electronic Equipments Service Co.,LTD製)を用いて、有機薄膜トランジスタ(12)のゲート電極に電圧を印加してゲート電圧Vgを20V〜−40Vに変化させ、ソース・ドレイン間電圧Vsdを0V〜−40Vに変化させる条件で、キャリア移動度を測定した。
The obtained organic thin film transistor (12) was evaluated.
Specifically, using a vacuum probe (BCT22MDC-5-HT-SCU; manufactured by Nagase Electronic Equipment Service Co., LTD), a voltage is applied to the gate electrode of the organic thin film transistor (12) to obtain a gate voltage Vg. The carrier mobility was measured under the condition that the source-drain voltage Vsd was changed from 0 V to -40 V while the voltage was changed from 20 V to -40 V.

有機薄膜トランジスタ(12)のキャリア移動度は、0.81cm/Vsであった。
結果を下記表2に示す。
The carrier mobility of the organic thin film transistor (12) was 0.81 cm 2 / Vs.
The results are shown in Table 2 below.

実施例11(有機薄膜トランジスタ(13)の製造及び評価)
ゲート絶縁層の形成に実施例9で得た塗布液(11)を用いたこと以外は実施例10と同様にして、トップゲートボトムコンタクト型の有機薄膜トランジスタ(13)を製造し、トランジスタ特性を測定し、評価した。結果を下記表2に示す。
Example 11 (Production and Evaluation of Organic Thin Film Transistor (13))
A top gate / bottom contact type organic thin film transistor (13) was produced in the same manner as in Example 10 except that the coating liquid (11) obtained in Example 9 was used to form the gate insulating layer, and the transistor characteristics were measured. And evaluated. The results are shown in Table 2 below.

形成されたゲート絶縁層の厚さは、926nmであった。得られた有機薄膜トランジスタ(13)のキャリア移動度は、0.86cm/Vsであった。The formed gate insulating layer had a thickness of 926 nm. The obtained organic thin film transistor (13) had a carrier mobility of 0.86 cm 2 / Vs.

Figure 2017141933
Figure 2017141933

1 基板
2 ゲート電極
3 ゲート絶縁層
4 有機半導体層
5 ソース電極
6 ドレイン電極
7 オーバーコート層
10 有機薄膜トランジスタ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Substrate 2 Gate electrode 3 Gate insulating layer 4 Organic semiconductor layer 5 Source electrode 6 Drain electrode 7 Overcoat layer 10 Organic thin film transistor

Claims (10)

ブロック化イソシアナト基及びブロック化イソチオシアナト基を含む群から選ばれる少なくとも1種の基を有する繰り返し単位と、
ヒドロキシ基を有する繰り返し単位、カルボキシ基を有する繰り返し単位並びにヒドロキシ基及びカルボキシ基を有する繰り返し単位を含む群から選ばれる少なくとも1種の繰り返し単位と、
下記式(1)で表される繰り返し単位と
を含む高分子化合物。
Figure 2017141933
(式(1)中、
、R、Rは、互いに異なっていてもよく、水素原子、フッ素原子、又は炭素原子数1〜20の1価の有機基を表す。
は、水素原子、塩素原子、臭素原子、ヨウ素原子又は炭素原子数1〜20の1価の有機基を表す。
Rfは、フッ素原子、又はフッ素原子を含む1価の有機基を表す。
は、炭素原子数1〜20の2価の有機基、−O−で表される基、−CO−で表される基、−COO−で表される基、−NHCO−で表される基、又は−NHCOO−で表される基を表し、前記−O−で表される基、前記−CO−で表される基、前記−COO−で表される基、前記−NHCO−で表される基、及び前記−NHCOO−で表される基の結合手は、前記式(1)中の前記Rが結合する炭素原子側に位置していても、前記式(1)中のベンゼン環を構成する炭素原子側に位置していてもよく、前記2価の有機基中の水素原子は、フッ素原子で置換されていてもよい。
m1は、0〜6の整数を表す。
n1は、1〜5の整数を表す。
が複数個ある場合、それらは互いに異なっていてもよい。Rが複数個ある場合、それらは互いに異なっていてもよい。Rfが複数個ある場合、それらは互いに異なっていてもよい。)
A repeating unit having at least one group selected from the group comprising a blocked isocyanato group and a blocked isothiocyanato group;
At least one repeating unit selected from the group comprising a repeating unit having a hydroxy group, a repeating unit having a carboxy group, and a repeating unit having a hydroxy group and a carboxy group;
The high molecular compound containing the repeating unit represented by following formula (1).
Figure 2017141933
(In the formula (1),
R 1 , R 2 , and R 3 may be different from each other, and represent a hydrogen atom, a fluorine atom, or a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms.
R 4 represents a hydrogen atom, a chlorine atom, a bromine atom, an iodine atom or a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms.
Rf represents a fluorine atom or a monovalent organic group containing a fluorine atom.
R a is represented by a divalent organic group having 1 to 20 carbon atoms, a group represented by —O—, a group represented by —CO—, a group represented by —COO—, or —NHCO—. Or a group represented by -NHCOO-, a group represented by -O-, a group represented by -CO-, a group represented by -COO-, or -NHCO- Even if the bond represented by the group represented by the group represented by -NHCOO- is located on the carbon atom side to which R 1 in the formula (1) is bonded, the group represented by the formula (1) It may be located on the carbon atom side constituting the benzene ring, and the hydrogen atom in the divalent organic group may be substituted with a fluorine atom.
m1 represents the integer of 0-6.
n1 represents the integer of 1-5.
When there are a plurality of R a s , they may be different from each other. When there are a plurality of R 4 , they may be different from each other. When there are a plurality of Rf, they may be different from each other. )
前記ヒドロキシ基を有する繰り返し単位及びカルボキシ基を有する繰り返し単位が、下記式(2)で表される繰り返し単位である、請求項1に記載の高分子化合物。
Figure 2017141933
(式(2)中、
、R、Rは、互いに異なっていてもよく、水素原子、フッ素原子、又は炭素原子数1〜20の1価の有機基を表す。Rは、炭素原子数1〜20の2価の有機基、−O−で表される基、−CO−で表される基、−COO−で表される基、−NHCO−で表される基、又は−NHCOO−で表される基を表し、前記−O−で表される基、前記−CO−で表される基、前記−COO−で表される基、前記−NHCO−で表される基、及び前記−NHCOO−で表される基の結合手は、前記式(2)中の前記Rが結合する炭素原子側に位置していても、前記式(2)中のX側に位置していてもよい。前記2価の有機基中の水素原子は、フッ素原子で置換されていてもよい。
m2は、0〜6の整数を表す。
は、ヒドロキシ基又はカルボキシ基を表す。)
The polymer compound according to claim 1, wherein the repeating unit having a hydroxy group and the repeating unit having a carboxy group are a repeating unit represented by the following formula (2).
Figure 2017141933
(In the formula (2),
R 5 , R 6 , and R 7 may be different from each other, and represent a hydrogen atom, a fluorine atom, or a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms. R b is a divalent organic group having 1 to 20 carbon atoms, a group represented by —O—, a group represented by —CO—, a group represented by —COO—, or —NHCO—. Or a group represented by -NHCOO-, a group represented by -O-, a group represented by -CO-, a group represented by -COO-, or -NHCO- Even if the bond of the group represented by the group represented by —NHCOO— is located on the carbon atom side to which R 5 in the formula (2) is bonded, the group in the formula (2) It may be located on the Xa side. A hydrogen atom in the divalent organic group may be substituted with a fluorine atom.
m2 represents the integer of 0-6.
Xa represents a hydroxy group or a carboxy group. )
前記ブロック化イソシアナト基又はブロック化イソチオシアナト基が、下記式(3)で表される基又は下記式(4)で表される基である、請求項1又は2に記載の高分子化合物。
Figure 2017141933
(式(3)及び(4)中、
は、酸素原子又は硫黄原子を表す。
〜R12は、互いに異なっていてもよく、水素原子又は炭素原子数1〜20の1価の有機基を表す。)
The polymer compound according to claim 1 or 2, wherein the blocked isocyanato group or blocked isothiocyanato group is a group represented by the following formula (3) or a group represented by the following formula (4).
Figure 2017141933
(In the formulas (3) and (4),
Xb represents an oxygen atom or a sulfur atom.
R 8 to R 12 may be different from each other and represent a hydrogen atom or a monovalent organic group having 1 to 20 carbon atoms. )
請求項1〜3のいずれか一項に記載の高分子化合物を含む組成物。   The composition containing the high molecular compound as described in any one of Claims 1-3. 請求項1〜3のいずれか一項に記載の高分子化合物及び有機溶媒のみからなる、請求項4に記載の組成物。   The composition of Claim 4 which consists only of the high molecular compound and organic solvent as described in any one of Claims 1-3. 請求項4又は5に記載の組成物からなる有機薄膜トランジスタの絶縁層用組成物。   The composition for insulating layers of the organic thin-film transistor which consists of a composition of Claim 4 or 5. 請求項4〜6のいずれか一項に記載の組成物を硬化した膜。   The film | membrane which hardened | cured the composition as described in any one of Claims 4-6. 請求項7に記載の膜をゲート絶縁層として含む、有機薄膜トランジスタ。   An organic thin film transistor comprising the film according to claim 7 as a gate insulating layer. 請求項7に記載の膜をオーバーコート層としてさらに含む、請求項8に記載の有機薄膜トランジスタ。   The organic thin-film transistor of Claim 8 which further contains the film | membrane of Claim 7 as an overcoat layer. 請求項4〜6のいずれか一項に記載の組成物を、基材の表面に塗布して塗布層を形成する工程と、
前記塗布層を硬化する工程と
を含む、有機薄膜トランジスタの製造方法。
Applying the composition according to any one of claims 4 to 6 to a surface of a substrate to form a coating layer;
A method for producing an organic thin film transistor, comprising: curing the coating layer.
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