JPWO2017061171A1 - 電位測定装置 - Google Patents
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Abstract
Description
アレイ状に配置され、化学変化によって発生する活動電位発生点の電位を検出する複数の読み出し電極と、
参照電位を検出する参照電極と、
読み出し電極による検出電位と参照電極による検出電位との電位差を得る増幅部と、
を備え、
参照電極が、読み出し電極のアレイ内に配置されている、
構成となっている。
1.本開示の電位測定装置、全般に関する説明
2.本開示の一実施形態に係る電位測定装置
2−1.実施例1(複数の読み出し電極に対して増幅器を共通に設けた例)
2−2.実施例2(実施例1の変形例)
2−3.実施例3(実施例1の変形例)
2−4.実施例4(実施例1及び実施例3の変形例)
2−5.実施例5(実施例1の変形例)
本開示の電位測定装置にあっては、読み出し電極、参照電極、及び、増幅器が一つの半導体基板に集積された構成とすることができる。また、参照電極の電極サイズについて、読み出し電極の電極サイズよりも大きい形態とし、読み出し電極について、活動電位発生点の大きさと同程度の大きさの電極サイズを有する形態とすることができる。このとき、参照電極がその平面内に複数の開口部を有しており、読み出し電極が参照電極の開口部内に位置するように配置されている構成とすることができる。
本実施形態に係る電位測定装置は、アレイ状に配置された複数の読み出し電極、参照電極、及び、読み出し電極による検出電位と参照電極による検出電位との電位差を得る増幅器を、好ましくは、一つの半導体基板(半導体チップ)に集積して成るデバイスである。複数の読み出し電極は、化学変化によって発生する活動電位発生点の電位を、同時測定で検出する。参照電極は、読み出し電極が検出する活動電位発生点の電位との差分を取る際の基準となる基準電位を参照電位として検出する。
図1は、実施例1に係る電位測定装置の構成の概略を示す構成図である。本実施例に係る電位測定装置10は、CMOS集積回路技術を用いて作成された電極部11、行選択部12、列選択部13、増幅部14A,14B、及び、A/D変換部15A,15Bを、一つの半導体基板(半導体チップ)16に集積して成るデバイスである。ここでは、増幅部14A,14B及びA/D変換部15A,15Bを、電極部11を挟んで両側に配置した構成を採っているが、電極部11の一方側に配置する構成を採ることも可能である。
実施例2は、実施例1の変形例である。図3に、実施例2に係る電位測定装置の構成の概略を示す。実施例1に係る電位測定装置10は、アレイ状に配置された複数の読み出し電極21に対して増幅部14A,14Bの複数の差動型増幅器24を共通に設けた構成となっている。これに対して、実施例2に係る電位測定装置10は、アレイ状に配置された複数の読み出し電極21の個々に対して差動型増幅器24を設けた構成となっている。
実施例3は、実施例1の変形例である。図4に、実施例3に係る電位測定装置における読み出し電極21及び参照電極22と差動型増幅器24との間の配線構造を示す。実施例1は、参照電極22の電極サイズを、読み出し電極21の電極サイズよりも大きく設定した構成となっていた(図2A参照)。これに対して、実施例3は、読み出し電極21の電極サイズよりも、参照電極22の電極サイズを小さく設定した構成となっている。
ΔV2=Q(1/C+1/C’) ……(1)
となる。
ΔV1=Q(1/C+A/C’) ……(2)
となり、読み出し電極21に発生する電位の方が、参照電極22に発生する電位よりも大きくなる。
実施例4は、実施例1及び実施例3の変形例である。図5に、実施例4に係る電位測定装置の構成の概略を示す。図5に示すように、本実施例に係る電位測定装置は、電極サイズの大きさが異なる第1,第2の電極、即ち、電極サイズが相対的に大きい電極41(以下、単に「大きい電極41」と記述する)と、電極サイズが相対的に小さい電極42(以下、単に「小さい電極42」と記述する)とを有している。そして、本実施例に係る電位測定装置は、大きい電極41と小さい電極42とをアレイ状に配置し、それぞれの電極に差動型増幅器(図3参照)を設け、そのアナログ出力、あるいは、A/D変換後のデータに対して平均値を採るデバイス構成となっている。
実施例5は、実施例1の変形例である。図7に、実施例5に係る電位測定装置における読み出し電極21の電極構造の一例を示す。読み出し電極21の電極構造に関して、実施例1では平面的な構造としていたのに対して、本実施例では立体的な構造(三次元構造)とした構成となっている。すなわち、本実施例では、読み出し電極21の電極構造を立体的な構造とすることで、平面的な構造の場合よりも表面積を大きくしている。一方、参照電極22の電極構造については、実施例1の場合と同様に平面的な構造としている。
[1]アレイ状に配置され、化学変化によって発生する活動電位発生点の電位を検出する複数の読み出し電極と、
参照電位を検出する参照電極と、
読み出し電極による検出電位と参照電極による検出電位との電位差を得る増幅部と、
を備え、
参照電極は、読み出し電極のアレイ内に配置されている、
電位測定装置。
[2]読み出し電極、参照電極、及び、増幅器は、一つの半導体基板に集積されている、
上記[1]に記載の電位測定装置。
[3]参照電極の電極サイズは、読み出し電極の電極サイズよりも大きい、
上記[1]又は[2]に記載の電位測定装置。
[4]読み出し電極は、活動電位発生点の大きさと同程度の大きさの電極サイズを有する、
上記[1]]〜[3]のいずれかに記載の電位測定装置。
[5]参照電極は、その平面内に複数の開口部を有しており、
読み出し電極は、参照電極の開口部内に位置するように配置されている、
上記[3]又は[4]に記載の電位測定装置。
[6]複数の読み出し電極、参照電極、及び、増幅器と同じ半導体基板上に、増幅器の出力をA/D変換するA/D変換部を有する、
上記[1]〜[5]のいずれかに記載の電位測定装置。
[7]増幅部は、複数の差動型増幅器から成り、
複数の差動型増幅器は、複数の読み出し電極に対して共通に設けられている、
上記[1]〜[6]のいずれかに記載の電位測定装置。
[8]増幅部は、複数の差動型増幅器から成り、
複数の差動型増幅器は、複数の読み出し電極の個々に対して設けられている、
上記[1]〜[6]のいずれかに記載の電位測定装置。
[9]電極サイズが相対的に大きい第1の電極と電極サイズが相対的に小さい第2の電極とを有しており、
第1の電極を参照電極として用い、第2の電極を読み出し電極として用いる場合と、
第1の電極を読み出し電極として用い、第2の電極を参照電極として用いる場合と、
を切り替え可能である、
上記[1]に記載の電位測定装置。
[10]第2の電極の一つ一つの検出電位を活動電位発生点の検出電位とし、
第1の電極を複数個まとめてこれら複数個の電極の各検出電位の平均値を参照電位とする、
上記[9]に記載の電位測定装置。
[11]第2の電極を複数個まとめてこれら複数個の電極の各検出電位の平均値を参照電位とし、
複数個以外の残りの第2の電極と第1の電極とをまとめてそれらの検出電位の平均を取り、その平均値を活動電位発生点の検出電位とする、
上記[9]に記載の電位測定装置。
[12]
微細な電極がアレイ状に多数配置されて成り、
数個の微細な電極の各検出電位の平均値を第2の電極の検出電位とし、数100個以上の微細な電極の各検出電位の平均値を第1の電極の検出電位とする、
上記[9]に記載の電位測定装置。
[13]読み出し電極の電極サイズが、参照電極の電極サイズよりも大きい場合において、
読み出し電極及び参照電極のそれぞれと増幅部との間に、容量値が同じ電位変換容量が直列に接続されており、
電位変換容量の容量値は、読み出し電極及び参照電極の電極−溶媒間の容量値よりも小さい、
上記[1]に記載の電位測定装置。
[14]読み出し電極及び参照電極の電極構造は、平面的な構造である、
上記[1]に記載の電位測定装置。
[15]参照電極の電極構造は、平面的な構造であり、
読み出し電極の電極構造は、立体的な構造である、
上記[1]に記載の電位測定装置。
Claims (15)
- アレイ状に配置され、化学変化によって発生する活動電位発生点の電位を検出する複数の読み出し電極と、
参照電位を検出する参照電極と、
読み出し電極による検出電位と参照電極による検出電位との電位差を得る増幅部と、
を備え、
参照電極は、読み出し電極のアレイ内に配置されている、
電位測定装置。 - 読み出し電極、参照電極、及び、増幅器は、一つの半導体基板に集積されている、
請求項1に記載の電位測定装置。 - 参照電極の電極サイズは、読み出し電極の電極サイズよりも大きい、
請求項1に記載の電位測定装置。 - 読み出し電極は、活動電位発生点の大きさと同程度の大きさの電極サイズを有する、
請求項1に記載の電位測定装置。 - 参照電極は、その平面内に複数の開口部を有しており、
読み出し電極は、参照電極の開口部内に位置するように配置されている、
請求項3に記載の電位測定装置。 - 読み出し電極、参照電極、及び、増幅器と同じ半導体基板上に、増幅器の出力をA/D変換するA/D変換部を有する、
請求項1に記載の電位測定装置。 - 増幅部は、複数の差動型増幅器から成り、
複数の差動型増幅器は、複数の読み出し電極に対して共通に設けられている、
請求項1に記載の電位測定装置。 - 増幅部は、複数の差動型増幅器から成り、
複数の差動型増幅器は、複数の読み出し電極の個々に対して設けられている、
請求項1に記載の電位測定装置。 - 電極サイズが相対的に大きい第1の電極と電極サイズが相対的に小さい第2の電極とを有しており、
第1の電極を参照電極として用い、第2の電極を読み出し電極として用いる場合と、
第1の電極を読み出し電極として用い、第2の電極を参照電極として用いる場合と、
を切り替え可能である、
請求項1に記載の電位測定装置。 - 第2の電極の一つ一つの検出電位を活動電位発生点の検出電位とし、
第1の電極を複数個まとめてこれら複数個の電極の各検出電位の平均値を参照電位とする、
請求項9に記載の電位測定装置。 - 第2の電極を複数個まとめてこれら複数個の電極の各検出電位の平均値を参照電位とし、
複数個以外の残りの第2の電極と第1の電極とをまとめてそれらの各検出電位の平均値を活動電位発生点の検出電位とする、
請求項9に記載の電位測定装置。 - 微細な電極がアレイ状に多数配置されて成り、
数個の微細な電極の各検出電位の平均値を第2の電極の検出電位とし、数100個以上の微細な電極の各検出電位の平均値を第1の電極の検出電位とする、
請求項9に記載の電位測定装置。 - 読み出し電極の電極サイズが、参照電極の電極サイズよりも大きい場合において、
読み出し電極及び参照電極のそれぞれと増幅部との間に、容量値が同じ電位変換容量が直列に接続されており、
電位変換容量の容量値は、読み出し電極及び参照電極の電極−溶媒間の容量値よりも小さい、
請求項1に記載の電位測定装置。 - 読み出し電極及び参照電極の電極構造は、平面的な構造である、
請求項1に記載の電位測定装置。 - 参照電極の電極構造は、平面的な構造であり、
読み出し電極の電極構造は、立体的な構造である、
請求項1に記載の電位測定装置。
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