JPWO2016143451A1 - Organic semiconductor film manufacturing method, organic transistor - Google Patents

Organic semiconductor film manufacturing method, organic transistor Download PDF

Info

Publication number
JPWO2016143451A1
JPWO2016143451A1 JP2017504931A JP2017504931A JPWO2016143451A1 JP WO2016143451 A1 JPWO2016143451 A1 JP WO2016143451A1 JP 2017504931 A JP2017504931 A JP 2017504931A JP 2017504931 A JP2017504931 A JP 2017504931A JP WO2016143451 A1 JPWO2016143451 A1 JP WO2016143451A1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ink
organic semiconductor
organic
organic solvent
semiconductor film
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2017504931A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP6317032B2 (en
Inventor
浩史 太田
浩史 太田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujifilm Corp
Original Assignee
Fujifilm Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujifilm Corp filed Critical Fujifilm Corp
Publication of JPWO2016143451A1 publication Critical patent/JPWO2016143451A1/en
Application granted granted Critical
Publication of JP6317032B2 publication Critical patent/JP6317032B2/en
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K10/00Organic devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching; Organic capacitors or resistors having potential barriers
    • H10K10/40Organic transistors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/68Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
    • H01L29/76Unipolar devices, e.g. field effect transistors
    • H01L29/772Field effect transistors
    • H01L29/78Field effect transistors with field effect produced by an insulated gate
    • H01L29/786Thin film transistors, i.e. transistors with a channel being at least partly a thin film
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K10/00Organic devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching; Organic capacitors or resistors having potential barriers
    • H10K10/40Organic transistors
    • H10K10/46Field-effect transistors, e.g. organic thin-film transistors [OTFT]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Thin Film Transistor (AREA)
  • Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)

Abstract

本発明は、汎用性が高く、所望の領域の略全域に渡って有機半導体膜を製造することができる有機半導体膜の製造方法、および、有機トランジスタを提供する。本発明の有機半導体膜の製造方法は、有機半導体および有機半導体に対する親和性が高い第1有機溶媒を含む第1インクと、第1有機溶媒より有機半導体に対する親和性が低く、第1有機溶媒と混和する第2有機溶媒からなる第2インクとを混合して、有機半導体膜を製造する有機半導体膜の製造方法であって、基板上に第2インクを供給する工程と、基板上に供給された第2インクの蒸発による体積の減少量が第2インクの供給量に対して10体積%超となる前に、第2インク上に第1インクを供給して、第1インクおよび第2インクを混合し、その後、第1有機溶媒および第2有機溶媒を除去して有機半導体膜を製造する工程とを有し、第1インクおよび第2インクの表面張力が所定の関係を満たす。The present invention provides a method for producing an organic semiconductor film and an organic transistor, which are highly versatile and can produce an organic semiconductor film over substantially the entire desired region. The organic semiconductor film manufacturing method of the present invention includes a first ink containing an organic semiconductor and a first organic solvent having a high affinity for the organic semiconductor, a lower affinity for the organic semiconductor than the first organic solvent, An organic semiconductor film manufacturing method for manufacturing an organic semiconductor film by mixing a second ink composed of a second organic solvent to be mixed, the step of supplying a second ink onto a substrate, and a step of supplying the second ink onto the substrate The first ink is supplied onto the second ink before the volume reduction due to evaporation of the second ink exceeds 10% by volume with respect to the supply amount of the second ink, and the first ink and the second ink are supplied. And then, removing the first organic solvent and the second organic solvent to produce an organic semiconductor film, the surface tensions of the first ink and the second ink satisfy a predetermined relationship.

Description

本発明は、有機半導体膜の製造方法、および、有機トランジスタに関する。   The present invention relates to an organic semiconductor film manufacturing method and an organic transistor.

軽量化、低コスト化、および、柔軟化が可能であることから、液晶ディスプレイおよび有機EL(electroluminescence)ディスプレイ、並びに、RFID(radio frequency identification)等に、有機薄膜トランジスタ(有機TFT)が利用されている。
有機薄膜トランジスタの製造においては、有機半導体を有機溶媒等に高濃度に溶解させた溶液(インク)を用いる印刷技術により、省エネルギーかつ低コストで大面積の有機半導体膜を製造することができる可能性がある。
Organic thin film transistors (organic TFTs) are used for liquid crystal displays, organic EL (electroluminescence) displays, RFID (radio frequency identification), and the like because they can be reduced in weight, cost, and flexibility. .
In the production of organic thin-film transistors, there is a possibility that a large-area organic semiconductor film can be produced at low energy and cost by printing technology using a solution (ink) in which an organic semiconductor is dissolved in an organic solvent or the like at a high concentration. is there.

このような有機半導体膜の製造方法としては、種々の方法が提案されている。例えば、特許文献1では、薄膜のほぼ全領域が単一の単結晶からなる単結晶性有機半導体薄膜を作製する方法として、有機半導体に親和性の高い有機溶媒に有機半導体を高濃度に溶解して得た第1のインクと、有機半導体に親和性の低い有機溶媒からなる第2のインクとを混合する方法が開示されている。   As a method for manufacturing such an organic semiconductor film, various methods have been proposed. For example, in Patent Document 1, as a method for producing a single-crystal organic semiconductor thin film in which almost the entire region of the thin film is a single single crystal, the organic semiconductor is dissolved at a high concentration in an organic solvent having a high affinity for the organic semiconductor. A method of mixing the first ink obtained in this way with a second ink made of an organic solvent having a low affinity for organic semiconductors is disclosed.

特開2012−49291号公報JP 2012-49291 A

一方、特許文献1においては、所望の効果を得るために、インクを貯留する領域の一部に種結晶が高効率に発生する形状を付与する必要がある。より具体的には、特許文献1においては、小さな液溜部位、大きな液溜部位、および、これらの間の対流を抑制するためのくびれとなる部位を設けることにより、種結晶を高効率に発生させている。しかしながら、上記のような方法では、有機半導体膜の形成領域の形状が限定され、必ずしも汎用性の点では十分とはいえない。
また、本発明者は、種結晶が高効率に発生する形状が付与されていない、親液領域および撥液領域のパターンを有する基板を用いて、特許文献1に記載される手順に従い、基板上の親液領域に第2のインクを付与した後、さらに、親液領域に第1のインクを付与して有機半導体膜の作製を行ったところ、親液領域の一部にしか有機半導体膜が作製されないことを知見した。
On the other hand, in Patent Document 1, in order to obtain a desired effect, it is necessary to give a shape in which a seed crystal is generated with high efficiency to a part of a region where ink is stored. More specifically, in Patent Document 1, a seed crystal is generated with high efficiency by providing a small liquid reservoir part, a large liquid reservoir part, and a constricted part for suppressing convection therebetween. I am letting. However, the method as described above limits the shape of the region where the organic semiconductor film is formed, and is not necessarily sufficient in terms of versatility.
In addition, the present inventor uses a substrate having a pattern of a lyophilic region and a liquid repellent region, which is not provided with a shape in which a seed crystal is generated with high efficiency, in accordance with the procedure described in Patent Document 1 on the substrate. After the second ink was applied to the lyophilic region, the organic semiconductor film was produced by applying the first ink to the lyophilic region. It was found that it was not produced.

本発明は、上記実情を鑑みて、汎用性が高く、所望の領域の略全域に渡って有機半導体膜を製造することができる有機半導体膜の製造方法を提供することを課題とする。
また、本発明は、上記製造方法より製造される有機半導体膜を含む有機トランジスタを提供することも課題とする。
In view of the above circumstances, an object of the present invention is to provide a method for manufacturing an organic semiconductor film that is highly versatile and can manufacture an organic semiconductor film over substantially the entire desired region.
Moreover, this invention also makes it a subject to provide the organic transistor containing the organic-semiconductor film manufactured by the said manufacturing method.

本発明者らは、上記課題について鋭意検討した結果、2種のインク間の表面張力の関係、インクの供給時期、使用される有機溶媒の特性などを制御することにより、上記課題を解決できることを見出した。
すなわち、本発明者らは、以下の構成により上記課題が解決できることを見出した。
As a result of intensive studies on the above problems, the present inventors have found that the above problems can be solved by controlling the relationship of the surface tension between the two types of ink, the timing of supplying the ink, the characteristics of the organic solvent used, and the like. I found it.
That is, the present inventors have found that the above problem can be solved by the following configuration.

(1) 有機半導体および有機半導体に対する親和性が高い第1有機溶媒を含む第1インクと、第1有機溶媒より有機半導体に対する親和性が低く、第1有機溶媒と混和する第2有機溶媒からなる第2インクとを混合して、有機半導体膜を製造する有機半導体膜の製造方法であって、
基板上に第2インクを供給する工程と、
基板上に供給された第2インクの蒸発による体積の減少量が第2インクの供給量に対して10体積%超となる前に、第2インク上に第1インクを供給して、第1インクおよび第2インクを混合し、その後、第1有機溶媒および第2有機溶媒を除去して有機半導体膜を製造する工程とを有し、
第1有機溶媒の25℃における飽和蒸気圧をp、分子量をMとしたとき、以下の式(X)で求められるZが10より小さく、
同一温度における第1有機溶媒の表面張力γ1と第2有機溶媒の表面張力γ2とが式(Y)の関係を満たす、有機半導体膜の製造方法。なお、飽和蒸気圧の単位はkPaであり、分子量の単位はg/molである。
式(Y) 0<γ2−γ1<5
(2) 第1インク中の有機半導体の濃度が、第1有機溶媒と第2有機溶媒との体積比が3:1である混合溶媒中における有機半導体の溶解度よりも大きい、(1)に記載の有機半導体膜の製造方法。なお、濃度および溶解度のそれぞれの単位は、g/Lである。
(3) 第2インクの供給量に対する第1インクの供給量の体積比が0.3以下である、(1)または(2)に記載の有機半導体膜の製造方法。
(4) 第1インクの供給および第2インクの供給を、インクジェット法により実施する、(1)〜(3)のいずれかに記載の有機半導体膜の製造方法。
(5) (1)〜(4)のいずれかに記載の製造方法より製造される有機半導体膜を含む有機トランジスタ。
(1) A first ink containing an organic semiconductor and a first organic solvent having a high affinity for the organic semiconductor, and a second organic solvent having a lower affinity for the organic semiconductor than the first organic solvent and miscible with the first organic solvent. An organic semiconductor film manufacturing method for manufacturing an organic semiconductor film by mixing a second ink,
Supplying a second ink on the substrate;
The first ink is supplied onto the second ink before the volume reduction due to the evaporation of the second ink supplied onto the substrate exceeds 10% by volume with respect to the supply amount of the second ink. Mixing the ink and the second ink, and then removing the first organic solvent and the second organic solvent to produce an organic semiconductor film,
When the saturated vapor pressure at 25 ° C. of the first organic solvent is p and the molecular weight is M, Z obtained by the following formula (X) is smaller than 10,
A method for producing an organic semiconductor film, wherein the surface tension γ1 of the first organic solvent and the surface tension γ2 of the second organic solvent satisfy the relationship of the formula (Y) at the same temperature. The unit of saturated vapor pressure is kPa, and the unit of molecular weight is g / mol.
Formula (Y) 0 <γ2-γ1 <5
(2) The concentration of the organic semiconductor in the first ink is greater than the solubility of the organic semiconductor in the mixed solvent in which the volume ratio of the first organic solvent to the second organic solvent is 3: 1. Manufacturing method of the organic semiconductor film. Each unit of concentration and solubility is g / L.
(3) The method for producing an organic semiconductor film according to (1) or (2), wherein the volume ratio of the first ink supply amount to the second ink supply amount is 0.3 or less.
(4) The method for producing an organic semiconductor film according to any one of (1) to (3), wherein the supply of the first ink and the supply of the second ink are performed by an inkjet method.
(5) An organic transistor including an organic semiconductor film manufactured by the manufacturing method according to any one of (1) to (4).

本発明によれば、汎用性が高く、所望の領域の略全域に渡って有機半導体膜を製造することができる有機半導体膜の製造方法を提供することができる。
また、本発明によれば、上記製造方法より製造される有機半導体膜を含む有機トランジスタを提供することもできる。
ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, versatility is high and can provide the manufacturing method of the organic-semiconductor film which can manufacture an organic-semiconductor film over the substantially whole region of a desired area | region.
Moreover, according to this invention, the organic transistor containing the organic-semiconductor film manufactured by the said manufacturing method can also be provided.

図1Aは、有機半導体膜の製造方法の一実施形態にて用いられる基板の断面図である。FIG. 1A is a cross-sectional view of a substrate used in an embodiment of a method for producing an organic semiconductor film. 図1Bは、図1Aに示される基板の上面図である。FIG. 1B is a top view of the substrate shown in FIG. 1A. 図1Cは、有機半導体膜の製造方法の一実施形態にて用いられる基板の親液領域上に第2インクを供給した際の断面図である。FIG. 1C is a cross-sectional view when the second ink is supplied onto a lyophilic region of a substrate used in an embodiment of the method for producing an organic semiconductor film. 図1Dは、図1Cに示される基板の上面図である。FIG. 1D is a top view of the substrate shown in FIG. 1C. 図1Eは、有機半導体膜の製造方法の一実施形態にて用いられる基板の親液領域上に第2インクおよび第1インクを供給した際の断面図である。FIG. 1E is a cross-sectional view when the second ink and the first ink are supplied onto the lyophilic region of the substrate used in the embodiment of the method for manufacturing the organic semiconductor film. 図1Fは、図1Eに示される基板の上面図である。FIG. 1F is a top view of the substrate shown in FIG. 1E. 図1Gは、有機半導体膜の製造方法の一実施形態にて用いられる基板の親液領域上に有機半導体膜を作製した際の断面図である。FIG. 1G is a cross-sectional view when an organic semiconductor film is formed on a lyophilic region of a substrate used in one embodiment of a method for manufacturing an organic semiconductor film. 図1Hは、図1Gに示される基板の上面図である。FIG. 1H is a top view of the substrate shown in FIG. 1G. 特許文献1に具体的に開示されているインクを用いた場合に得られる有機半導体膜を有する基板の断面図である。It is sectional drawing of the board | substrate which has an organic-semiconductor film obtained when the ink specifically disclosed by patent document 1 is used. 図2Bは、図2Aに示される基板の上面図である。FIG. 2B is a top view of the substrate shown in FIG. 2A.

以下に、本発明の有機半導体膜の製造方法(析出方法)について説明する。
なお、本明細書において「〜」を用いて表される数値範囲は、「〜」の前後に記載される数値を下限値および上限値として含む範囲を意味する。
本発明の特徴点としては、主に、第1インクと第2インクとの表面張力差を調整している点、第1有機溶媒の蒸発速度を調整している点、および、第1インクを供給する時期を調整している点の3つが挙げられる。以下では、図1を参照しながら、上記の特徴点について詳述する。
図1A〜図1Hは、本発明の有機半導体膜の製造方法の一実施形態を工程順に示す図である。なお、図1Aは図1BのA−A線で切断した断面図であり、図1Cは図1DのB−B線で切断した断面図であり、図1Eは図1FのC−C線で切断した断面図であり、図1Gは図1HのD−D線で切断した断面図である。
まず、図1Aおよび図1Bに示すように、親液領域12および撥液領域14を表面に有する基板10を用意し、その後、図1Cおよび図1Dに示すように、親液領域12に第2インク16を供給(付与)する。
次に、図1Eおよび図1Fに示すように、第2インク16上に第1インク18を供給(付与)すると、第1インク18が第2インク16上に層流状に濡れ広がる。このように第1インク18が第2インク16上に濡れ広がるためには、第1インク18と第2インク16との表面張力差が所定の範囲内にあればよい。このように第2インク16上に層状の第1インク18が形成されることにより、親液領域12全域に渡って有機半導体膜が形成されやすくなる。
なお、第2インク16と第1インク18との界面では、第2インク16中の第2有機溶媒と第1インク18中の第1有機溶媒とが相互拡散することで、第1インク18の第2インク16側の領域において有機半導体の溶解度が低下して、有機半導体の結晶が析出し始める。この際、第2インク16と第1インク18との界面の全域に渡って、結晶が略同時に析出し始めるため、結晶が無い領域などの欠陥が生じにくい。
また、第2インク16上に第1インク18を供給する際には、基板10上の第2インク16の蒸発による体積の減少量が第2インク16の供給量に対して10体積%超となる前に、第1インク18の供給を実施する。仮に、第2インク16の減少量が10体積%超となると、第2インク16の蒸発量の増加と共に、第2インク16の液面での対流が大きくなり、第1インク18を第2インク16上に供給した際に、第1インク18の層流拡散が乱されてしまう。また、第2インク16の液面の対流が大きいと、第2インク16と第1インク18との界面も乱されてしまい、局所的に有機半導体の結晶が生じやすくなってしまい、結果として親液領域全域に渡って有機半導体膜が得られにくくなる。
さらに、上述したように、第1インク18は第2インク16上を濡れ広がるが、その際、第1インク18中の第1有機溶媒の蒸発速度が速すぎると、第2インク16との相互拡散の前に、第1有機溶媒の蒸発により局所的に有機半導体の結晶が生じやすくなってしまい、結果として親液領域全域に渡って有機半導体膜が得られにくくなる。そこで、本発明では、第1有機溶媒の蒸発速度を制御している。なお、特定の温度における物質の蒸発量は、その物質の飽和蒸気圧と分子量の平方根との積に比例することが、Langmuir−Knudsenの関係式として知られている。後述する式(X)の関係は、Langmuir−Knudsenの関係式を考慮して作成されたものである。
上記要件を満たすことにより、図1Gおよび図1Hに示すように、所定の親液領域12上の略全域に渡って有機半導体膜20を製造することができる。なお、略全域とは、親液領域12の約70%超の領域であることを意図する。
Below, the manufacturing method (deposition method) of the organic-semiconductor film of this invention is demonstrated.
In the present specification, a numerical range represented by using “to” means a range including numerical values described before and after “to” as a lower limit value and an upper limit value.
Features of the present invention are mainly that the difference in surface tension between the first ink and the second ink is adjusted, the evaporation rate of the first organic solvent is adjusted, and the first ink is There are three points that adjust the supply timing. Hereinafter, the feature points will be described in detail with reference to FIG.
1A to 1H are views showing an embodiment of the method for producing an organic semiconductor film of the present invention in the order of steps. 1A is a cross-sectional view taken along line AA in FIG. 1B, FIG. 1C is a cross-sectional view taken along line BB in FIG. 1D, and FIG. 1E is cut along line CC in FIG. 1F. 1G is a cross-sectional view taken along the line DD of FIG. 1H.
First, as shown in FIGS. 1A and 1B, a substrate 10 having a lyophilic region 12 and a lyophobic region 14 on the surface is prepared, and then, as shown in FIG. 1C and FIG. Ink 16 is supplied (applied).
Next, as shown in FIGS. 1E and 1F, when the first ink 18 is supplied (applied) onto the second ink 16, the first ink 18 wets and spreads on the second ink 16 in a laminar flow. In order for the first ink 18 to spread on the second ink 16 in this way, the difference in surface tension between the first ink 18 and the second ink 16 only needs to be within a predetermined range. By forming the layered first ink 18 on the second ink 16 in this manner, an organic semiconductor film is easily formed over the entire lyophilic region 12.
Note that, at the interface between the second ink 16 and the first ink 18, the second organic solvent in the second ink 16 and the first organic solvent in the first ink 18 mutually diffuse, so that the first ink 18 In the region on the second ink 16 side, the solubility of the organic semiconductor is lowered, and crystals of the organic semiconductor begin to precipitate. At this time, since crystals begin to precipitate almost simultaneously over the entire interface between the second ink 16 and the first ink 18, defects such as regions without crystals are less likely to occur.
Further, when the first ink 18 is supplied onto the second ink 16, the volume reduction amount due to the evaporation of the second ink 16 on the substrate 10 is more than 10 volume% with respect to the supply amount of the second ink 16. Before the first ink 18 is supplied. If the amount of decrease of the second ink 16 exceeds 10% by volume, the amount of evaporation of the second ink 16 increases and the convection at the liquid surface of the second ink 16 increases, and the first ink 18 is changed to the second ink. When supplied onto 16, the laminar flow diffusion of the first ink 18 is disturbed. In addition, when the convection of the liquid surface of the second ink 16 is large, the interface between the second ink 16 and the first ink 18 is disturbed, and organic semiconductor crystals are liable to be generated locally. It becomes difficult to obtain an organic semiconductor film over the entire liquid region.
Furthermore, as described above, the first ink 18 spreads over the second ink 16, but at this time, if the evaporation rate of the first organic solvent in the first ink 18 is too high, the first ink 18 may interact with the second ink 16. Before the diffusion, the organic semiconductor crystal is likely to be locally generated by evaporation of the first organic solvent, and as a result, it becomes difficult to obtain the organic semiconductor film over the entire lyophilic region. Therefore, in the present invention, the evaporation rate of the first organic solvent is controlled. It is known as a Langmuir-Knudsen relational expression that the amount of evaporation of a substance at a specific temperature is proportional to the product of the saturated vapor pressure of the substance and the square root of the molecular weight. The relationship of formula (X), which will be described later, is created in consideration of the Langmuir-Knudsen relationship.
By satisfying the above requirements, as shown in FIGS. 1G and 1H, the organic semiconductor film 20 can be manufactured over substantially the entire region on the predetermined lyophilic region 12. Note that “substantially the entire area” is intended to mean an area of more than about 70% of the lyophilic area 12.

一方、特許文献1に具体的に開示されている、オルトジクロロベンゼンを含む第1インクおよびジメチルホルムアミド(DMF)を含む第2インクを使用した場合、図2Aおよび図2Bに示すように、親液領域12の約50%程度の領域のみにしか有機半導体膜20を製造することができない。   On the other hand, when the first ink containing orthodichlorobenzene and the second ink containing dimethylformamide (DMF), which are specifically disclosed in Patent Document 1, are used, as shown in FIG. 2A and FIG. The organic semiconductor film 20 can be manufactured only in about 50% of the region 12.

以下、本発明の有機半導体膜の製造方法(以後、単に「本発明の製造方法」とも称する)の手順の詳細について詳述する。
以下では、まず、本発明の製造方法で使用される第1インクおよび第2インクの成分について詳述する。
Hereinafter, the details of the procedure of the method for producing an organic semiconductor film of the present invention (hereinafter also simply referred to as “the production method of the present invention”) will be described in detail.
In the following, first, the components of the first ink and the second ink used in the production method of the present invention will be described in detail.

<第1インク>
第1インクは、有機半導体および有機半導体に対する親和性が高い第1有機溶媒を含むインクである。言い換えると、第1インクは、有機半導体に対する親和性が高い第1有機溶媒に有機半導体を溶解して得たインクである。
<First ink>
The first ink is an ink that contains an organic semiconductor and a first organic solvent having high affinity for the organic semiconductor. In other words, the first ink is an ink obtained by dissolving an organic semiconductor in a first organic solvent having high affinity for the organic semiconductor.

(有機半導体)
使用される有機半導体の種類は特に制限されず、公知の有機半導体を使用することができる。具体的には、6,13−ビス(トリイソプロピルシリルエチニル)ペンタセン(TIPSペンタセン)、テトラメチルペンタセン、および、パーフルオロペンタセン等のペンタセン類、TES−ADT(5,11−ビス(トリエチルシリルエチニル)アントラジチオフェン)、および、diF−TES−ADT(2,8−ジフルオロ−5,11−ビス(トリエチルシリルエチニル)アントラジチオフェン)等のアントラジチオフェン類、DPh−BTBT(2,7−ジフェニル[1]ベンゾチエノ[3,2−b][1]ベンゾチオフェン)、および、Cn−BTBT(ベンゾチエノベンゾチオフェン)等のベンゾチエノベンゾチオフェン類、Cn−DNTT(dinaphtho[2,3-b:2',3'-f]thieno[3,2-b]thiophene)等のジナフトチエノチオフェン類、ペリキサンテノキサンテン等のジオキサアンタントレン類、ルブレン類、C60、および、PCBM([6,6]-Phenyl-C61-Butyric Acid Methyl Ester)等のフラーレン類、銅フタロシアニン、および、フッ素化銅フタロシアニン等のフタロシアニン類、P3RT(ポリ(3−アルキルチオフェン))、PQT(ポリ[5,5'−ビス(3−ドデシル−2−チエニル1)−2,2'−ビチオフェン])、および、P3HT(ポリ(3−ヘキシルチオフェン))等のポリチオフェン類、並びに、ポリ[2,5−ビス(3−ドデシルチオフェン−2−イル)チエノ[3,2−b]チオフェン](PBTTT)等のポリチエノチオフェン類等が例示される。
(Organic semiconductor)
The kind in particular of organic semiconductor used is not restrict | limited, A well-known organic semiconductor can be used. Specifically, pentacenes such as 6,13-bis (triisopropylsilylethynyl) pentacene (TIPS pentacene), tetramethylpentacene, and perfluoropentacene, TES-ADT (5,11-bis (triethylsilylethynyl) Anthradithiophenes), and diF-TES-ADT (2,8-difluoro-5,11-bis (triethylsilylethynyl) anthradithiophene), DPh-BTBT (2,7-diphenyl [ 1] benzothieno [3,2-b] [1] benzothiophene) and benzothienobenzothiophenes such as Cn-BTBT (benzothienobenzothiophene), Cn-DNTT (dinaphtho [2,3-b: 2 ' , 3'-f] thieno [3,2-b] thiophene) and other dinaphthothienothiophenes, perixane Dioxaanthanthrenes such as tenoxanthene, rubrenes, C60, and fullerenes such as PCBM ([6,6] -Phenyl-C61-Butyric Acid Methyl Ester), copper phthalocyanines, and phthalocyanines such as fluorinated copper phthalocyanines , P3RT (poly (3-alkylthiophene)), PQT (poly [5,5′-bis (3-dodecyl-2-thienyl1) -2,2′-bithiophene]), and P3HT (poly (3 And polythiophenes such as poly [2,5-bis (3-dodecylthiophen-2-yl) thieno [3,2-b] thiophene] (PBTTT) and the like. Illustrated.

なお、後述するように、上記有機半導体のSP(Solubility Parameter)値(MPa)1/2は、第1有機溶媒のSP値(MPa)1/2および第2有機溶媒のSP値(MPa)1/2との間で所定の関係を満たしていることが好ましい。
なお、有機半導体のSP値(MPa)1/2の測定方法としては、Fedorsの計算方法(R.F.Fedors,Polymer Engineering Science,14,p147−154(1974))を用いる。
As described below, the organic semiconductor SP (Solubility Parameter) value (MPa) 1/2 is, the SP value of the first organic solvent (MPa) 1/2 and a second organic SP value of the solvent (MPa) 1 It is preferable to satisfy a predetermined relationship with / 2 .
In addition, as a measuring method of SP value (MPa) 1/2 of an organic semiconductor, the Fedors calculation method (RF Fedors, Polymer Engineering Science, 14, p147-154 (1974)) is used.

(第1有機溶媒)
第1有機溶媒は、上記有機半導体に対する親和性が高い有機溶媒である。親和性が高いとは、有機半導体の溶解度が高いことを意図し、いわゆる有機半導体の良溶媒に該当する。
第1有機溶媒の25℃における飽和蒸気圧をp(kPa)、分子量をM(g/mol)としたとき、以下の式(X)で求められるZは10より小さい。なかでも、形成される有機半導体膜の面積がより大きい点(以後、単に「本発明の効果がより優れる点」とも称する)で、Zは8以下であることが好ましく、7以下であることがより好ましい。下限は特に制限されないが、0.1以上の場合が多く、取り扱い性の点で、0.5以上の場合が好ましい。
(First organic solvent)
The first organic solvent is an organic solvent having high affinity for the organic semiconductor. High affinity means that the solubility of the organic semiconductor is high and corresponds to a so-called good solvent for the organic semiconductor.
When the saturated vapor pressure at 25 ° C. of the first organic solvent is p (kPa) and the molecular weight is M (g / mol), Z obtained by the following formula (X) is smaller than 10. Among these, Z is preferably 8 or less, and preferably 7 or less in that the area of the organic semiconductor film to be formed is larger (hereinafter also referred to simply as “the effect of the present invention is more excellent”). More preferred. The lower limit is not particularly limited, but is often 0.1 or more, and is preferably 0.5 or more from the viewpoint of handleability.

なお、上述したように、上記式(X)は、Langmuir−Knudsenの関係式と同様に、物質の飽和蒸気圧と分子量の平方根との積を表すもので、Zは物質の蒸発速度と関連する。このZが大きいほど、蒸発速度が大きいことを意図する。   As described above, the above formula (X) represents the product of the saturated vapor pressure of the substance and the square root of the molecular weight, as with the Langmuir-Knudsen relational expression, and Z is related to the evaporation rate of the substance. . It is intended that the greater the Z, the greater the evaporation rate.

第1有機溶媒の種類は特に制限されず、有機半導体の種類に応じて、適宜最適な有機溶媒が選択される。有機溶媒としては、例えば、メタノール、エタノール、イソプロパノール、ノルマル−ブタノール、セカンダリーブタノール、ノルマル−ヘキサノール、1,3−ブタンジオール、1,2−プロパンジオール、および、シクロヘキサノール等のアルコール系溶媒;アニソール、および、メチルアニソール等のエーテル系溶媒;アセトン、メチルエチルケトン、メチルイソブチルケトン、ジイソブチルケトン、シクロヘキサノン、シクロペンタノン、および、ベンズアルデヒド等のケトン系溶媒;酢酸エチル、酢酸ブチル、酢酸−ノルマル−アミル、硫酸メチル、プロピオン酸エチル、フタル酸ジメチル、安息香酸エチル、プロピレングリコールモノメチルエーテルアセテート、および、メトキシプロピルアセテート等のエステル系溶媒;トルエン、キシレン、ベンゼン、エチルベンゼン、テトラリン、および、ヘキサデカン等の炭化水素系溶媒;四塩化炭素、トリクロロエチレン、クロロホルム、1,1,1−トリクロロエタン、塩化メチレン、モノクロロベンゼン、および、ジクロロベンゼン等のハロゲン化炭化水素系溶媒;テトラヒドロフラン、ジエチルエーテル、エチレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル、1−メトキシ−2−プロパノール、および、プロピレングリコールモノメチルエーテル等のエーテル系溶媒;ジメチルホルムアミド、および、ジメチルアセトアミド等のアミド系溶媒;ジメチルスルホキシド、および、スルホラン等のスルホン酸系溶媒などが挙げられる。   The type of the first organic solvent is not particularly limited, and an optimal organic solvent is appropriately selected according to the type of the organic semiconductor. Examples of the organic solvent include methanol, ethanol, isopropanol, normal-butanol, secondary butanol, normal-hexanol, 1,3-butanediol, 1,2-propanediol, and alcohol solvents such as cyclohexanol; anisole, And ether solvents such as methylanisole; ketone solvents such as acetone, methyl ethyl ketone, methyl isobutyl ketone, diisobutyl ketone, cyclohexanone, cyclopentanone, and benzaldehyde; ethyl acetate, butyl acetate, acetic acid-normal-amyl, methyl sulfate Ester solvents such as ethyl propionate, dimethyl phthalate, ethyl benzoate, propylene glycol monomethyl ether acetate, and methoxypropyl acetate; Hydrocarbon solvents such as ethylene, xylene, benzene, ethylbenzene, tetralin, and hexadecane; halogenated carbon tetrachloride, trichloroethylene, chloroform, 1,1,1-trichloroethane, methylene chloride, monochlorobenzene, and dichlorobenzene Hydrocarbon solvents; ether solvents such as tetrahydrofuran, diethyl ether, ethylene glycol monomethyl ether, ethylene glycol monoethyl ether, 1-methoxy-2-propanol, and propylene glycol monomethyl ether; dimethylformamide, dimethylacetamide, etc. Amide solvents; dimethyl sulfoxide and sulfonic acid solvents such as sulfolane.

第1有機溶媒の好適態様としては、有機半導体のSP値(MPa)1/2をAとした時、以下の式(1)の関係を満たすS1のSP値を示す有機溶媒Xが挙げられる。
式(1) A−1.5<S1<A+1.5
つまり、有機半導体のSP値であるAを基準として、上記有機溶媒XのSP値(S1)(MPa)1/2は(A−1.5)超(A+1.5)未満の範囲にあることが好ましい。第1有機溶媒のSP値が上記範囲内であれば、有機半導体に対する第1有機溶媒の親和性がより高く、第1有機溶媒中における有機半導体の溶解度がより高い。なかでも、有機半導体に対する親和性がより高く、高濃度のインクを調製できる点で、有機溶媒XのSP値(S1)の範囲は、式(2)の関係を満たすことが好ましい。
式(2) A−1.0<S1<A+1.0
例えば、有機半導体であるTIPSペンタセンのSP値は19.4(MPa)1/2と計算される。よって、この有機半導体に好適な第1有機溶媒としては、上記式(1)を参照して、SP値(MPa)1/2が17.9超20.9未満の有機溶媒を使用することが好ましい。上記範囲のSP値(MPa)1/2を示す有機溶媒としては、例えば、トルエン(18.2)、テトラリン(19.9)、クロロホルム(19.0)、クロロベンゼン(19.4)、o−ジクロロベンゼン(20.5)、アニソール(19.5)などが挙げられる。なお、上記溶媒記載のカッコ欄は、各溶媒のSP値(MPa)1/2を意図する。
第1有機溶媒のSP値については、Polymer HandBook(Second Edition)第IV章 Solubility Parameter Valuesに記載があり、その値を本発明におけるSP値とする。また、単位は(MPa)1/2であり、25℃における値を指す。なお、データの記載がないものについては、R.F.Fedors,Polymer Engineering Science,14,p147−154(1974)に記載の方法で計算した値を本発明におけるSP値とする。
また、後述する第2有機溶媒のSP値に関しても、上記と同様の定義である。
A preferred embodiment of the first organic solvent is an organic solvent X that exhibits an SP value of S1 that satisfies the relationship of the following formula (1) when the SP value (MPa) 1/2 of the organic semiconductor is A.
Formula (1) A-1.5 <S1 <A + 1.5
That is, the SP value (S1) (MPa) 1/2 of the organic solvent X is in the range of more than (A-1.5) and less than (A + 1.5), based on A which is the SP value of the organic semiconductor. Is preferred. If the SP value of the first organic solvent is within the above range, the affinity of the first organic solvent to the organic semiconductor is higher, and the solubility of the organic semiconductor in the first organic solvent is higher. Especially, it is preferable that the range of SP value (S1) of the organic solvent X satisfy | fills the relationship of Formula (2) from the point that affinity with an organic semiconductor is higher and a high concentration ink can be prepared.
Formula (2) A-1.0 <S1 <A + 1.0
For example, the SP value of TIPS pentacene, which is an organic semiconductor, is calculated as 19.4 (MPa) 1/2 . Therefore, as the first organic solvent suitable for this organic semiconductor, an organic solvent having an SP value (MPa) 1/2 of more than 17.9 and less than 20.9 is used with reference to the above formula (1). preferable. Examples of the organic solvent having an SP value (MPa) 1/2 in the above range include toluene (18.2), tetralin (19.9), chloroform (19.0), chlorobenzene (19.4), o- Examples include dichlorobenzene (20.5) and anisole (19.5). In addition, the parenthesis column of the said solvent description intends SP value (MPa) 1/2 of each solvent.
The SP value of the first organic solvent is described in Polymer HandBook (Second Edition), Chapter IV, Solubility Parameter Values, and this value is the SP value in the present invention. Moreover, a unit is (MPa) 1/2 and points out the value in 25 degreeC. In addition, R.D. F. The value calculated by the method described in Fedors, Polymer Engineering Science, 14, p147-154 (1974) is used as the SP value in the present invention.
Further, the SP value of the second organic solvent described later is the same definition as above.

第1有機溶媒の沸点は特に制限されないが、本発明の効果がより優れる点で、100〜250℃が好ましく、150〜210℃がより好ましい。
なお、沸点(℃)は、1気圧下でのものを意図する。
The boiling point of the first organic solvent is not particularly limited, but is preferably 100 to 250 ° C, more preferably 150 to 210 ° C, from the viewpoint that the effect of the present invention is more excellent.
The boiling point (° C.) is intended at 1 atm.

(第1インクの製造方法)
第1インクは、上述した、第1有機溶媒に有機半導体を溶解させて得られる。
第1インクの製造方法は特に制限されず、例えば、所定量の第1有機溶媒に有機半導体を添加して、必要に応じて、有機半導体が添加された第1有機溶媒に対して、撹拌および/または超音波処理などを施す方法が挙げられる。
第1インク中における有機半導体の濃度(g/L)は特に制限されないが、本発明の効果がより優れる点で、第1有機溶媒と後述する第2有機溶媒との体積比(第1有機溶媒の体積:第2有機溶媒の体積)が3:1である混合溶媒中における有機半導体の溶解度(g/L)よりも大きいことが好ましい。上述したように、第2インク上に第1インクを供給すると、第1インク中の第1有機溶媒と第2インク中の第2有機溶媒とが相互拡散し始める。その際、第1インク中の第2インク側の領域では徐々に第2有機溶媒の濃度が高まっていき、いわゆる混合溶液の状態が形成される。上述したような、第1有機溶媒と第2有機溶媒との体積比が3:1である混合溶媒中における有機半導体の溶解度よりも第1インク中における有機半導体の濃度が大きい場合、第1インク中に拡散した第2有機溶媒の影響により有機半導体が析出しやすくなり、所望の効果が得られやすくなる。
なお、第1インク中における有機半導体の濃度(g/L)の具体的な範囲は使用される有機半導体の種類などによって異なるが、5.0〜50g/Lの場合が多く、本発明の効果がより優れる点で、7.0〜30g/Lが好ましい。
(Method for producing first ink)
The first ink is obtained by dissolving the organic semiconductor in the first organic solvent described above.
The method for producing the first ink is not particularly limited. For example, the organic semiconductor is added to a predetermined amount of the first organic solvent, and, if necessary, the first organic solvent to which the organic semiconductor is added is stirred and And / or a sonication method.
The concentration (g / L) of the organic semiconductor in the first ink is not particularly limited, but the volume ratio of the first organic solvent to the second organic solvent described later (first organic solvent) is more effective in the present invention. The volume of the second organic solvent) is preferably larger than the solubility (g / L) of the organic semiconductor in the mixed solvent having a ratio of 3: 1. As described above, when the first ink is supplied onto the second ink, the first organic solvent in the first ink and the second organic solvent in the second ink start to diffuse each other. At that time, the concentration of the second organic solvent gradually increases in the region on the second ink side in the first ink, and a so-called mixed solution state is formed. When the concentration of the organic semiconductor in the first ink is larger than the solubility of the organic semiconductor in the mixed solvent in which the volume ratio of the first organic solvent to the second organic solvent is 3: 1 as described above, the first ink is used. The organic semiconductor is likely to be precipitated due to the influence of the second organic solvent diffused therein, and a desired effect is easily obtained.
The specific range of the concentration (g / L) of the organic semiconductor in the first ink varies depending on the type of organic semiconductor used, but is often 5.0 to 50 g / L. Is more preferably 7.0 to 30 g / L.

<第2インク>
第2インクは、第1有機溶媒より有機半導体に対する親和性が低く、第1有機溶媒と混和する第2有機溶媒からなるインクである。
第2有機溶媒は、上記有機半導体に対する親和性が低い有機溶媒である。親和性が低いとは、有機半導体の溶解度が低いことを意図し、いわゆる有機半導体の貧溶媒に該当する。
第2有機溶媒の種類は特に制限されず、有機半導体の種類に応じて、適宜最適な有機溶媒が選択される。有機溶媒としては、例えば、上述した第1有機溶媒で列挙した溶媒が挙げられる。
<Second ink>
The second ink is an ink made of a second organic solvent that has a lower affinity for an organic semiconductor than the first organic solvent and is miscible with the first organic solvent.
The second organic solvent is an organic solvent having a low affinity for the organic semiconductor. The low affinity means that the solubility of the organic semiconductor is low, and corresponds to a so-called poor solvent for the organic semiconductor.
The type of the second organic solvent is not particularly limited, and an optimal organic solvent is appropriately selected according to the type of the organic semiconductor. As an organic solvent, the solvent enumerated by the 1st organic solvent mentioned above is mentioned, for example.

第2有機溶媒の好適態様としては、有機半導体のSP値(MPa)1/2をAとした時、以下の式(3)または式(4)の関係を満たすS2のSP値を示す有機溶媒Yが挙げられる。
式(3) A−10.0<S2<A−4.0
式(4) A+4.0<S2<A+10.0
つまり、有機半導体のSP値であるAを基準として、上記有機溶媒YのSP値(S2)(MPa)1/2は(A−10.0)超(A−4.0)未満の範囲にあるか、または、(A+4.0)超(A+10.0)未満の範囲にあることが好ましい。第2有機溶媒のSP値が上記範囲内であれば、有機半導体に対する第2有機溶媒の親和性の低さと、第1有機溶媒と第2有機溶媒との混和性とのより良好な両立が可能となる。なかでも、本発明の効果がより優れる点で、有機溶媒YのSP値(S2)の範囲は、式(5)または式(6)の関係を満たすことが好ましい。
式(5) A−7.5<S2<A−4.3
式(6) A+4.3<S2<A+7.5
As a preferred embodiment of the second organic solvent, when the SP value (MPa) 1/2 of the organic semiconductor is A, the organic solvent showing the SP value of S2 that satisfies the relationship of the following formula (3) or formula (4) Y is mentioned.
Formula (3) A-10.0 <S2 <A-4.0
Formula (4) A + 4.0 <S2 <A + 10.0
That is, based on A which is the SP value of the organic semiconductor, the SP value (S2) (MPa) 1/2 of the organic solvent Y is in a range exceeding (A-10.0) and less than (A-4.0). Preferably, it is in the range of more than (A + 4.0) and less than (A + 10.0). If the SP value of the second organic solvent is within the above range, better compatibility between the low affinity of the second organic solvent for the organic semiconductor and the miscibility of the first organic solvent and the second organic solvent is possible. It becomes. Especially, it is preferable that the range of SP value (S2) of the organic solvent Y satisfy | fills the relationship of Formula (5) or Formula (6) by the point which the effect of this invention is more excellent.
Formula (5) A-7.5 <S2 <A-4.3
Formula (6) A + 4.3 <S2 <A + 7.5

第2有機溶媒の沸点は特に制限されないが、本発明の効果がより優れる点で、120〜300℃が好ましく、150〜290℃がより好ましい。
なお、沸点(℃)は、1気圧下でのものを意図する。
The boiling point of the second organic solvent is not particularly limited, but is preferably 120 to 300 ° C and more preferably 150 to 290 ° C in that the effect of the present invention is more excellent.
The boiling point (° C.) is intended at 1 atm.

上述した第1有機溶媒と第2有機溶媒とは、混和する。混和とは、常温常圧環境下において、いずれに比率においても第1有機溶媒と第2有機溶媒とが均一に混合することを意図する。
第1有機溶媒のSP値と第2有機溶媒のSP値との差(MPa)1/2の絶対値は特に制限されないが、両者がより均一に混和して、本発明の効果がより優れる点で、10未満であることが好ましく、7.0以下であることがより好ましい。下限は特に制限されないが、2.5以上の場合が多い。
The first organic solvent and the second organic solvent described above are miscible. The term “mixing” is intended to mean that the first organic solvent and the second organic solvent are uniformly mixed in any ratio in a normal temperature and normal pressure environment.
The absolute value of the difference (MPa) 1/2 between the SP value of the first organic solvent and the SP value of the second organic solvent is not particularly limited, but both are more uniformly mixed and the effect of the present invention is more excellent. And is preferably less than 10, more preferably 7.0 or less. The lower limit is not particularly limited, but is often 2.5 or more.

<製造方法の手順>
本発明の製造方法は、基板上に第2インクを供給する工程(第2インク供給工程)と、基板上に供給された第2インクの蒸発による体積の減少量が第2インクの供給量に対して10体積%超となる前に、第2インク上に第1インクを供給して、第1インクおよび第2インクを混合し、その後、第1有機溶媒および第2有機溶媒を除去して有機半導体膜を製造する工程(第1インク供給工程)とを有する。
以下では、それぞれの工程の手順について詳述する。
<Procedure of manufacturing method>
According to the manufacturing method of the present invention, the step of supplying the second ink onto the substrate (second ink supply step), and the volume reduction amount due to evaporation of the second ink supplied onto the substrate becomes the supply amount of the second ink. On the other hand, before the amount exceeds 10% by volume, the first ink is supplied onto the second ink, the first ink and the second ink are mixed, and then the first organic solvent and the second organic solvent are removed. And a step of manufacturing an organic semiconductor film (first ink supply step).
Below, the procedure of each process is explained in full detail.

(第2インク供給工程)
本工程は、基板上に第2インクを供給する工程である。より具体的には、例えば、まず、図1Aおよび図1Bに示すように、親液領域12および撥液領域14を有する基板10を用意して、次に、図1Cおよび図1Dに示すように、親液領域12上に第2インク16を供給する。
本工程で使用される第2インクの態様は、上述の通りである。
(Second ink supply step)
This step is a step of supplying the second ink onto the substrate. More specifically, for example, first, as shown in FIGS. 1A and 1B, a substrate 10 having a lyophilic region 12 and a lyophobic region 14 is prepared, and then, as shown in FIGS. 1C and 1D. Then, the second ink 16 is supplied onto the lyophilic region 12.
The aspect of the second ink used in this step is as described above.

基板の種類は特に制限されず、公知の基板(樹脂基板、ガラス基板、金属基板、および、シリコン基板など)を適宜使用できる。例えば、ボトムゲート・ボトムコンタクト型の有機TFTを製造する際には、絶縁層上にソース電極およびドレイン電極が形成された基板上のソース電極およびドレイン電極の間に、第1インクおよび第2インクを吐出して、有機半導体結晶を析出させることもできる。
なかでも、所定の位置に有機半導体膜を析出させることができる点で、その表面上に親液領域(親インク領域)および撥液領域(撥インク領域)を有する基板を使用することが好ましい。つまり、いわゆる親液パターンおよび撥液パターンを有する基板が好ましい。このような基板を使用すると、インクジェット法により着滴させた液滴を一定の領域内に画定することができる。
ここで、親液領域とは、溶液が濡れ広がりやすい領域であり、撥液領域とは、溶液が濡れ広がり難い領域である。そのため、インクを基板上に付与した際には、撥液領域ではインクが弾かれやすく、親液領域においてインクが留まりやすい。
なお、基板表面上に親液領域および撥液領域があるとは、言い換えると、基板表面上にインクに対する接触角の大きさが異なる領域が2つあることを意図する。親液領域と撥液領域とのインクに対する接触角の差の絶対値は特に制限されないが、インクがより一方の領域内に留まりやすい点で、20°以上が好ましく、25°以上がより好ましい。上限は特に制限されないが、90°以下の場合が多い。
また、親液領域は、インクに対する接触角が15°以下の領域であることが好ましく、撥液領域は、インクに対する接触角が40°以上の領域であることが好ましい。
なお、上記接触角の測定方法としては、25℃で、親液領域(または、撥液領域)上にインクを滴下して、滴下後1秒時点での接触角を測定する。
The type of the substrate is not particularly limited, and a known substrate (such as a resin substrate, a glass substrate, a metal substrate, or a silicon substrate) can be used as appropriate. For example, when a bottom gate / bottom contact type organic TFT is manufactured, a first ink and a second ink are interposed between a source electrode and a drain electrode on a substrate in which a source electrode and a drain electrode are formed on an insulating layer. It is also possible to deposit organic semiconductor crystals by discharging.
Among them, it is preferable to use a substrate having a lyophilic region (parent ink region) and a lyophobic region (ink repellent region) on the surface in that an organic semiconductor film can be deposited at a predetermined position. That is, a substrate having a so-called lyophilic pattern and lyophobic pattern is preferable. When such a substrate is used, droplets deposited by an ink jet method can be defined in a certain region.
Here, the lyophilic region is a region where the solution tends to wet and spread, and the liquid repellent region is a region where the solution is difficult to spread. Therefore, when ink is applied on the substrate, the ink is likely to be repelled in the liquid repellent area, and the ink tends to stay in the lyophilic area.
Note that the presence of the lyophilic region and the liquid repellent region on the substrate surface means that there are two regions on the substrate surface having different contact angles with respect to the ink. The absolute value of the difference in contact angle between the lyophilic region and the liquid repellent region with respect to the ink is not particularly limited, but is preferably 20 ° or more, and more preferably 25 ° or more in that the ink tends to stay in one region. The upper limit is not particularly limited, but is often 90 ° or less.
The lyophilic region is preferably a region having a contact angle with respect to ink of 15 ° or less, and the lyophobic region is preferably a region having a contact angle with respect to ink of 40 ° or more.
As a method for measuring the contact angle, ink is dropped on the lyophilic region (or lyophobic region) at 25 ° C., and the contact angle at 1 second after the dropping is measured.

親液領域および撥液領域の作製方法は特に制限されず、公知の方法を採用でき、例えば、親液化処理としては基板上に光照射(UV(紫外線)照射)を行う方法が挙げられ、撥液化処理としては公知の撥液剤(撥水剤)(例えば、ヘキサメチルジシラザン)を基板上に付与する方法が挙げられる。
親液領域と撥液領域とを作製する際には、基板表面の一部に上記親液化処理および/または上記撥液化処理を実施すればよく、両者の処理を所定の場所に実施してもよい。
A method for producing the lyophilic region and the lyophobic region is not particularly limited, and a known method can be adopted. For example, the lyophilic process includes a method of performing light irradiation (UV (ultraviolet) irradiation) on the substrate. Examples of the liquefaction treatment include a method of applying a known liquid repellent (water repellent) (for example, hexamethyldisilazane) onto the substrate.
When producing the lyophilic region and the lyophobic region, the lyophilic treatment and / or the lyophobic treatment may be performed on a part of the substrate surface. Good.

基板上の親液領域の形状は特に制限されず、例えば、四角形状、角丸長方形状、円形状、楕円形状、および、三角形状などが挙げられる。
基板上の親液領域の数は特に制限されず、少なくとも1つあればよく、複数あってもよい。複数の親液領域がある場合、それぞれの親液領域の大きさ(面積)および/または形状は異なっていてもよい。
The shape of the lyophilic region on the substrate is not particularly limited, and examples thereof include a quadrangular shape, a rounded rectangular shape, a circular shape, an elliptical shape, and a triangular shape.
The number of lyophilic regions on the substrate is not particularly limited, and it may be at least one and may be plural. When there are a plurality of lyophilic regions, the size (area) and / or shape of each lyophilic region may be different.

第2インクを基板上に供給(付与)する方法は特に制限されず、インクジェット法、スピンコート法、ニーダーコート法、バーコート法、ブレードコート法、ディップコート法、カーテンコート法、キャスト法、および、スクリーン転写法などの公知の方法が採用できる。なかでも、所定の位置に第2インクを付与しやすい点で、インクジェット法が好ましい。
インクジェット法にて第2インクを吐出する際の一滴あたりの体積量は特に制限されないが、本発明の効果がより優れる点で、1〜1000pLが好ましく、10〜100pLがより好ましい。
なお、インクジェット装置としては、インクジェットヘッドを備えた公知の装置を使用することができる。
The method for supplying (applying) the second ink onto the substrate is not particularly limited, and includes an inkjet method, a spin coating method, a kneader coating method, a bar coating method, a blade coating method, a dip coating method, a curtain coating method, a casting method, and A known method such as a screen transfer method can be employed. Among these, the ink jet method is preferable because the second ink can be easily applied to a predetermined position.
The volume per droplet when the second ink is ejected by the inkjet method is not particularly limited, but is preferably 1 to 1000 pL, and more preferably 10 to 100 pL in terms of more excellent effects of the present invention.
In addition, as an inkjet apparatus, the well-known apparatus provided with the inkjet head can be used.

(第1インク供給工程)
本工程は、第2インク上に第1インクを供給して、第1インクおよび第2インクを混合し、その後、第1有機溶媒および第2有機溶媒を除去して有機半導体膜を製造する工程である。より具体的には、図1Eおよび図1Fに示すように、第2インク16上に第1インク18を供給して、その後、図1Gおよび図1Hに示すように、第1インク18中の第1有機溶媒および第2インク16中の第2有機溶媒を除去することにより、有機半導体膜20を製造する。
本工程で使用される第2インクの態様は、上述の通りである。
なお、同一温度における第1有機溶媒の表面張力γ1と第2有機溶媒の表面張力γ2とが式(Y)の関係を満たす。つまり、所定の温度Tにおける第1有機溶媒の表面張力γ1と、所定の温度Tにおける第2有機溶媒の表面張力γ2とが、以下の式(Y)の関係を満たす。なお、所定の温度Tとしては25℃が好ましく、言い換えると、以下の関係は25℃において満たされることが好ましい。
式(Y) 0<γ2−γ1<5
上述したように、式(Y)の関係が満たされることにより、第1インクを第2インク上に供給した際に、第1インクが第2インク上に層流状に濡れ広がる。
なかでも、本発明の効果がより優れる点で、以下の式(Z)の関係を満たすことが好ましい。
式(Z) 0<γ2−γ1<3
(First ink supply step)
In this step, the first ink is supplied onto the second ink, the first ink and the second ink are mixed, and then the first organic solvent and the second organic solvent are removed to manufacture the organic semiconductor film. It is. More specifically, as shown in FIGS. 1E and 1F, the first ink 18 is supplied onto the second ink 16, and then, as shown in FIGS. 1G and 1H, the first ink 18 in the first ink 18 is supplied. The organic semiconductor film 20 is manufactured by removing the first organic solvent and the second organic solvent in the second ink 16.
The aspect of the second ink used in this step is as described above.
Note that the surface tension γ1 of the first organic solvent and the surface tension γ2 of the second organic solvent at the same temperature satisfy the relationship of the formula (Y). That is, the surface tension γ1 of the first organic solvent at the predetermined temperature T and the surface tension γ2 of the second organic solvent at the predetermined temperature T satisfy the relationship of the following formula (Y). The predetermined temperature T is preferably 25 ° C. In other words, the following relationship is preferably satisfied at 25 ° C.
Formula (Y) 0 <γ2-γ1 <5
As described above, when the relationship of the formula (Y) is satisfied, when the first ink is supplied onto the second ink, the first ink wets and spreads on the second ink in a laminar manner.
Especially, it is preferable to satisfy | fill the relationship of the following formula | equation (Z) at the point which the effect of this invention is more excellent.
Formula (Z) 0 <γ2-γ1 <3

第2インク上に第1インクを供給する方法は特に制限されず、上記(第2インク供給工程)にて説明した第2インクを供給する方法が挙げられ、なかでも、インクジェット法が好ましい。
なお、本工程では、基板上に供給された第2インクの蒸発による体積の減少量が第2インクの供給量に対して10体積%超となる前に、第2インク上に第1インクを供給する。上述したように、第2インクの蒸発による体積の減少量が10体積%超となると、第2インクの液面での対流が大きくなり、第1インクの層流拡散(濡れ広がり)が乱されてしまい、かつ、第1有機溶媒と第2有機溶媒との相互拡散が局所的に進行してしまうため、所望の効果が得られない。
なお、本発明の効果がより優れる点で、第2インクの蒸発による体積の減少量が第2インクの供給量に対して8体積%超となる前に、第2インク上に第1インクを供給することが好ましい。上記減少量の下限は特に制限されないが、0体積%が挙げられる。なお、上記第2インクの供給量とは、上記第2インク供給工程にて基板上に供給された第2インクの量を意図する。
The method of supplying the first ink onto the second ink is not particularly limited, and includes the method of supplying the second ink described in the above (Second ink supply step), and among these, the inkjet method is preferable.
In this step, the first ink is placed on the second ink before the volume reduction amount due to evaporation of the second ink supplied on the substrate exceeds 10% by volume with respect to the second ink supply amount. Supply. As described above, when the volume reduction due to the evaporation of the second ink exceeds 10% by volume, the convection on the liquid surface of the second ink increases, and the laminar flow diffusion (wetting spread) of the first ink is disturbed. In addition, since the mutual diffusion of the first organic solvent and the second organic solvent proceeds locally, a desired effect cannot be obtained.
It should be noted that the first ink is placed on the second ink before the volume reduction due to the evaporation of the second ink exceeds 8% by volume with respect to the supply amount of the second ink. It is preferable to supply. The lower limit of the amount of decrease is not particularly limited, but may be 0% by volume. The supply amount of the second ink is intended to be the amount of the second ink supplied onto the substrate in the second ink supply step.

上記第1インクの供給時期の決定方法は特に制限されず、基板上の第2インクの量を直接測定しながら第1インクの供給時期を決定する方法(方法1)や、予め第2インクの単位時間当たりの蒸発量を算出しておき、第1インクの供給時期を決定する方法(方法2)が挙げられる。
なお、予め第2インクの単位時間当たりの蒸発量を算出する方法としては、例えば、基板上に所定量の第2インクを供給して第2インクが全て蒸発するまでの時間Tを算出し、上記と同量の第2インクが基板上に供給された場合には、第2インクの蒸発による体積の減少量が第2インクの供給量に対して10体積%となる時期をT/10時間経過時とする方法が挙げられる。この場合、上記方法2の態様では、T/10時間経過前までに第1インクを第2インクに供給すればよい。
The method for determining the supply timing of the first ink is not particularly limited, and a method (method 1) for determining the supply timing of the first ink while directly measuring the amount of the second ink on the substrate, There is a method (method 2) of calculating the evaporation amount per unit time and determining the supply timing of the first ink.
Incidentally, in advance as the method for calculating the evaporation amount per second ink unit of time, for example, calculates the time T A to the second ink by supplying a predetermined amount of the second ink on the substrate is completely evaporated When the same amount of the second ink as described above is supplied onto the substrate, the time when the amount of decrease in volume due to evaporation of the second ink becomes 10% by volume with respect to the supply amount of the second ink is T A / For example, a method in which 10 hours elapse is used. In this case, in the method 2 described above, the first ink may be supplied to the second ink before T A / 10 hours have elapsed.

第2インク上に供給される第1インクの供給量は特に制限されず、使用される有機半導体の種類によって適宜最適な量が選択される。通常、第2インクの供給量に対する第1インクの供給量の体積比(第1インクの供給量/第2インクの供給量)が0.05〜1.0である場合が多く、本発明の効果がより優れる点で、0.3以下であることが好ましく、0.05〜0.3であることがより好ましい。   The supply amount of the first ink supplied onto the second ink is not particularly limited, and an optimal amount is appropriately selected depending on the type of organic semiconductor used. Usually, the volume ratio of the first ink supply amount to the second ink supply amount (first ink supply amount / second ink supply amount) is often 0.05 to 1.0. It is preferable that it is 0.3 or less at the point which an effect is more excellent, and it is more preferable that it is 0.05-0.3.

第2インク上に第1インクを供給した後、両者の混合溶液から第1有機溶媒および第2有機溶媒を除去することにより、有機半導体膜が得られる。
第1有機溶媒および第2有機溶媒を除去する方法は特に制限されず公知の方法が採用され、第1有機溶媒および第2有機溶媒を蒸発(揮発)させて除去する方法が好ましい。第1有機溶媒および第2有機溶媒を蒸発させる方法は特に制限されず、室温下で静置する方法や、加熱条件下で静置する方法や、風乾する方法などが挙げられる。
After supplying the first ink onto the second ink, the organic semiconductor film is obtained by removing the first organic solvent and the second organic solvent from the mixed solution of both.
A method for removing the first organic solvent and the second organic solvent is not particularly limited, and a known method is adopted, and a method of removing the first organic solvent and the second organic solvent by evaporation (volatilization) is preferable. The method for evaporating the first organic solvent and the second organic solvent is not particularly limited, and examples thereof include a method of standing at room temperature, a method of standing under heating conditions, and a method of air drying.

上記手順により製造した有機半導体膜には、種々の用途に好適に使用することができる。特に、有機トランジスタの有機半導体膜に好適使用することができる。   The organic semiconductor film produced by the above procedure can be suitably used for various applications. In particular, it can be suitably used for an organic semiconductor film of an organic transistor.

以下に実施例を示すが、本発明はこれらに限定されるものではない。   Examples are shown below, but the present invention is not limited thereto.

(親液領域および撥液領域を有する基板Aの作製)
200nmの酸化膜付きSiウェハにUV/O処理を行い、表面の清浄化処理、および、親液化処理を行った。その後、親液化処理が施されたSiウェハを、5質量%のオクタデシルトリメトキシシラン/トルエン溶液に一晩浸漬して表面を撥液化した。この撥液表面上に、600μm×100μmの開口を持つメタルマスクを磁石で吸着させ、その状態で再度UV/O処理を行うことで、メタルマスク開口部分に対応する親液領域と、メタルマスクで遮蔽された部分に対応する撥液領域を形成した。なお、後述する実施例および比較例で使用するインク(第1インクおよび第2インク)の接触角は、親液領域では15°未満であり、撥液領域では50°超であった。
(Production of substrate A having a lyophilic region and a liquid repellent region)
A 200 nm Si film-coated Si wafer was subjected to UV / O 3 treatment, surface cleaning treatment, and lyophilic treatment. Thereafter, the Si wafer subjected to the lyophilic treatment was immersed in a 5% by mass octadecyltrimethoxysilane / toluene solution overnight to make the surface liquid repellent. On this liquid repellent surface, a metal mask having an opening of 600 μm × 100 μm is adsorbed by a magnet, and UV / O 3 treatment is performed again in this state, so that a lyophilic region corresponding to the opening portion of the metal mask and the metal mask A liquid-repellent region corresponding to the portion shielded with was formed. Note that the contact angles of the inks (first ink and second ink) used in Examples and Comparative Examples described later were less than 15 ° in the lyophilic region and more than 50 ° in the liquid repellent region.

<実施例1>
2,7−ジオクチル[1]ベンゾチエノ[3,2−b][1]ベンゾチオフェン(C8−BTBT)(SP値:20.2(MPa)1/2)を所定量はかり取り、アニソール(SP値:19.5(MPa)1/2)に加えて、C8−BTBTの濃度が12g/Lの第1インクを作製した。
また、ジメチルホルムアミド(DMF)(SP値:24.9(MPa)1/2)からなる第2インクを用意した。
なお、アニソールとDMFとの体積比(アニソール:DMF)3:1の混合液中におけるC8−BTBTの溶解度は9.8g/Lであり、第1インク中におけるC8−BTBTの濃度(g/L)のほうが大きかった。
また、アニソールの25℃における飽和蒸気圧は0.47kPaであり分子量は108.1g/molであり、上述した式(X)にて求められるZ(=p×√M)は4.9であり、10未満であった。
また、アニソールの25℃における表面張力(γ1)は34.2mN/m、DMFの25℃における表面張力(γ2)は35.8mN/mであり、両者の表面張力差(γ2−γ1)は1.6であり、上述した式(Y)の関係を満たしていた。
<Example 1>
A predetermined amount of 2,7-dioctyl [1] benzothieno [3,2-b] [1] benzothiophene (C8-BTBT) (SP value: 20.2 (MPa) 1/2 ) is weighed and anisole (SP value) : 19.5 (MPa) 1/2 ), and a first ink having a C8-BTBT concentration of 12 g / L was produced.
A second ink made of dimethylformamide (DMF) (SP value: 24.9 (MPa) 1/2 ) was prepared.
The solubility of C8-BTBT in a mixed solution having a volume ratio of anisole to DMF (anisole: DMF) of 3: 1 is 9.8 g / L, and the concentration of C8-BTBT in the first ink (g / L ) Was bigger.
The saturated vapor pressure of anisole at 25 ° C. is 0.47 kPa, the molecular weight is 108.1 g / mol, and Z (= p × √M) obtained by the above formula (X) is 4.9. 10 or less.
Moreover, the surface tension (γ1) at 25 ° C. of anisole is 34.2 mN / m, the surface tension (γ2) of DMF at 25 ° C. is 35.8 mN / m, and the surface tension difference (γ2−γ1) between the two is 1 .6, and the relationship of the above-described formula (Y) was satisfied.

上述した第1インクおよび第2インクの組み合わせをそれぞれ別のインクジェットヘッドに充填した。第1インクおよび第2インクそれぞれの吐出体積量(1滴あたりの体積量)は、90pLおよび120pLとした。
まず、吐出の順番としては、第2インク(30滴)を親液領域内に打滴して親液領域全域を第2インクで満たした後、第2インクの体積の減少量が第2インクの供給量に対して10体積%超となる前に、第2インク上に第1インク(4滴)(第1インクの供給量は、第2インクの供給量の1/10(体積比)に該当)を打滴して、第1インクおよび第2インクを混合した。なお、第1インクの供給時期としては、より具体的には、第2インクを親液領域に供給した後、0.9秒後であった。親液領域上に上記と同様の第2インクを供給した後、その全量が蒸発するまでの時間が11.4秒であったことから、上記第1インクの供給時期の際には、第2インクの体積の減少量としては、約7.9体積%と計算される。
第1インクおよび第2インクの混合後、数秒後に第1インクと第2インクとの界面にて有機半導体結晶が析出し、その後数分で溶媒が蒸発して乾燥し、有機半導体膜が得られた。得られた有機半導体膜に対して、以下の評価を実施した。結果は表1に示す。
Separate ink jet heads were filled with the combination of the first ink and the second ink described above. The discharge volume of each of the first ink and the second ink (volume per droplet) was 90 pL and 120 pL.
First, as the order of ejection, after the second ink (30 drops) is ejected into the lyophilic area and the entire lyophilic area is filled with the second ink, the amount of decrease in the volume of the second ink is the second ink. The first ink (4 drops) on the second ink before the amount exceeds 10 vol% (the first ink supply amount is 1/10 (volume ratio) of the second ink supply amount). The first ink and the second ink were mixed. More specifically, the supply time of the first ink was 0.9 seconds after the second ink was supplied to the lyophilic region. After the second ink similar to the above was supplied onto the lyophilic area, the time until the entire amount of the ink was evaporated was 11.4 seconds. Therefore, when the first ink was supplied, the second ink was used. The amount of decrease in the ink volume is calculated to be about 7.9% by volume.
A few seconds after mixing the first ink and the second ink, an organic semiconductor crystal is deposited at the interface between the first ink and the second ink, and then the solvent is evaporated and dried within a few minutes, whereby an organic semiconductor film is obtained. It was. The following evaluation was implemented with respect to the obtained organic-semiconductor film. The results are shown in Table 1.

(評価)
析出した有機半導体膜をクロスニコル顕微鏡で観察し、親液領域内における有機半導体膜の占有率{(有機半導体膜の面積/親液領域の面積)×100}を評価した。評価基準は以下の通りであり、A〜Cであることが好ましい。
「A」:占有率が90%超
「B」:占有率が80%超90%以下
「C」:占有率が70%超80%以下
「D」:占有率が70%以下
(Evaluation)
The deposited organic semiconductor film was observed with a crossed Nicol microscope, and the occupation ratio ((area of organic semiconductor film / area of lyophilic area) × 100} of the organic semiconductor film in the lyophilic area was evaluated. Evaluation criteria are as follows, and are preferably A to C.
"A": Occupancy rate is over 90% "B": Occupancy rate is over 80% and 90% or less "C": Occupancy rate is over 70% and 80% or less "D": Occupancy rate is 70% or less

<実施例2>
第1有機溶媒をテトラリン(SP値:19.9(MPa)1/2)とし、C8−BTBTの濃度を18.0g/Lとし、第1インクの供給量を第2インクの供給量に対して3/10となるように打滴数を調整した以外は、実施例1と同様の手順に従って、有機半導体膜を作製し、評価を実施した。結果を表1に示す。
なお、テトラリンとDMFとの体積比(テトラリン:DMF)3:1の混合液中におけるC8−BTBTの溶解度は16.5g/Lであり、第1インク中におけるC8−BTBTの濃度(g/L)のほうが大きかった。
また、テトラリンの25℃における飽和蒸気圧は0.050kPaであり分子量は132.2g/molであり、上述した式(X)にて求められるZ(=p×√M)は0.6であり、10未満であった。
また、テトラリンの25℃における表面張力(γ1)は34.5mN/mであり、DMFの25℃における表面張力(γ2)とテトラリンの25℃における表面張力(γ1)との表面張力差(γ2−γ1)は1.3であり、上述した式(Y)の関係を満たしていた。
<Example 2>
The first organic solvent is tetralin (SP value: 19.9 (MPa) 1/2 ), the C8-BTBT concentration is 18.0 g / L, and the supply amount of the first ink is relative to the supply amount of the second ink. An organic semiconductor film was prepared and evaluated according to the same procedure as in Example 1 except that the droplet ejection number was adjusted to be 3/10. The results are shown in Table 1.
The solubility of C8-BTBT in a mixed solution of tetralin and DMF in a volume ratio (tetralin: DMF) of 3: 1 is 16.5 g / L, and the concentration of C8-BTBT in the first ink (g / L ) Was bigger.
Further, the saturated vapor pressure of tetralin at 25 ° C. is 0.050 kPa, the molecular weight is 132.2 g / mol, and Z (= p × √M) obtained by the above-described formula (X) is 0.6. 10 or less.
Further, the surface tension (γ1) of tetralin at 25 ° C. is 34.5 mN / m, and the surface tension difference (γ2−) between the surface tension (γ2) of DMF at 25 ° C. and the surface tension (γ1) of tetralin at 25 ° C. γ1) was 1.3, and the relationship of the above-described formula (Y) was satisfied.

<実施例3>
第1有機溶媒をシクロヘキサノン(SP値:19.6(MPa)1/2)とし、C8−BTBTの濃度を7.0g/Lとし、第1インクの供給量を第2インクの供給量に対して3/10となるように打滴数を調整した以外は、実施例1と同様の手順に従って、有機半導体膜を作製し、評価を実施した。結果を表1に示す。
なお、シクロヘキサノンとDMFとの体積比(シクロヘキサノン:DMF)3:1の混合液中におけるC8−BTBTの溶解度は6.4g/Lであり、第1インク中におけるC8−BTBTの濃度(g/L)のほうが大きかった。
また、シクロヘキサノンの25℃における飽和蒸気圧は0.670kPaであり分子量は98.2g/molであり、上述した式(X)にて求められるZ(=p×√M)は6.6であり、10未満であった。
また、シクロヘキサノンの25℃における表面張力(γ1)は34.4mN/mであり、DMFの25℃における表面張力(γ2)とシクロヘキサノンの25℃における表面張力(γ1)との表面張力差(γ2−γ1)は1.4であり、上述した式(Y)の関係を満たしていた。
<Example 3>
The first organic solvent is cyclohexanone (SP value: 19.6 (MPa) 1/2 ), the C8-BTBT concentration is 7.0 g / L, and the supply amount of the first ink is relative to the supply amount of the second ink. An organic semiconductor film was prepared and evaluated according to the same procedure as in Example 1 except that the droplet ejection number was adjusted to be 3/10. The results are shown in Table 1.
The solubility of C8-BTBT in a mixed solution of cyclohexanone and DMF (cyclohexanone: DMF) 3: 1 is 6.4 g / L, and the concentration of C8-BTBT in the first ink (g / L). ) Was bigger.
Further, cyclohexanone has a saturated vapor pressure at 25 ° C. of 0.670 kPa, a molecular weight of 98.2 g / mol, and Z (= p × √M) obtained by the above formula (X) is 6.6. 10 or less.
The surface tension (γ1) of cyclohexanone at 25 ° C. is 34.4 mN / m, and the difference in surface tension (γ2−) between the surface tension of DMF at 25 ° C. (γ2) and the surface tension of cyclohexanone at 25 ° C. (γ1). γ1) was 1.4, which satisfied the relationship of the above-described formula (Y).

<実施例4>
C8−BTBTの濃度を6.3g/Lとした以外は、実施例1と同様の手順に従って、有機半導体膜を作製し、評価を実施した。結果を表1に示す。
<Example 4>
An organic semiconductor film was prepared and evaluated according to the same procedure as in Example 1 except that the concentration of C8-BTBT was changed to 6.3 g / L. The results are shown in Table 1.

<実施例5>
C8−BTBTの濃度を12.6g/Lとした以外は、実施例2と同様の手順に従って、有機半導体膜を作製し、評価を実施した。結果を表1に示す。
<Example 5>
An organic semiconductor film was prepared and evaluated according to the same procedure as in Example 2 except that the concentration of C8-BTBT was changed to 12.6 g / L. The results are shown in Table 1.

<実施例6>
C8−BTBTの濃度を4.7g/Lとした以外は、実施例3と同様の手順に従って、有機半導体膜を作製し、評価を実施した。結果を表1に示す。
<Example 6>
An organic semiconductor film was prepared and evaluated according to the same procedure as in Example 3 except that the concentration of C8-BTBT was changed to 4.7 g / L. The results are shown in Table 1.

<実施例7>
第1インクの供給量を第2インクの供給量に対して5/10となるように打滴数を調整した以外は、実施例1と同様の手順に従って、有機半導体膜を作製し、評価を実施した。結果を表1に示す。
<Example 7>
An organic semiconductor film was prepared and evaluated according to the same procedure as in Example 1 except that the number of droplet ejections was adjusted so that the supply amount of the first ink was 5/10 with respect to the supply amount of the second ink. Carried out. The results are shown in Table 1.

<実施例8>
第1インクの供給量を第2インクの供給量に対して5/10となるように打滴数を調整した以外は、実施例2と同様の手順に従って、有機半導体膜を作製し、評価を実施した。結果を表1に示す。
<Example 8>
An organic semiconductor film was prepared and evaluated according to the same procedure as in Example 2 except that the number of droplet ejections was adjusted so that the supply amount of the first ink was 5/10 with respect to the supply amount of the second ink. Carried out. The results are shown in Table 1.

<実施例9>
第1インクの供給量を第2インクの供給量に対して4/10となるように打滴数を調整した以外は、実施例3と同様の手順に従って、有機半導体膜を作製し、評価を実施した。結果を表1に示す。
<Example 9>
An organic semiconductor film was prepared and evaluated according to the same procedure as in Example 3 except that the number of droplet ejections was adjusted so that the supply amount of the first ink was 4/10 with respect to the supply amount of the second ink. Carried out. The results are shown in Table 1.

<実施例10>
第1インクの供給量を第2インクの供給量に対して5/10となるように打滴数を調整した以外は、実施例4と同様の手順に従って、有機半導体膜を作製し、評価を実施した。結果を表1に示す。
<Example 10>
An organic semiconductor film was prepared and evaluated according to the same procedure as in Example 4 except that the number of droplet ejections was adjusted so that the supply amount of the first ink was 5/10 with respect to the supply amount of the second ink. Carried out. The results are shown in Table 1.

<実施例11>
第1インクの供給量を第2インクの供給量に対して5/10となるように打滴数を調整した以外は、実施例5と同様の手順に従って、有機半導体膜を作製し、評価を実施した。結果を表1に示す。
<Example 11>
An organic semiconductor film was prepared and evaluated according to the same procedure as in Example 5 except that the number of droplet ejections was adjusted so that the supply amount of the first ink was 5/10 with respect to the supply amount of the second ink. Carried out. The results are shown in Table 1.

<実施例12>
第1インクの供給量を第2インクの供給量に対して4/10となるように打滴数を調整した以外は、実施例6と同様の手順に従って、有機半導体膜を作製し、評価を実施した。結果を表1に示す。
<Example 12>
An organic semiconductor film was prepared and evaluated according to the same procedure as in Example 6 except that the number of droplet ejections was adjusted so that the supply amount of the first ink was 4/10 with respect to the supply amount of the second ink. Carried out. The results are shown in Table 1.

<比較例1>
インクの供給方法として、第1インク(4滴)を親液領域内に打滴して親液領域全域を第1インクで満たした後、第1インク上に第2インク(20滴)を打滴した以外は、実施例1と同様の手順に従って、有機半導体膜を作製し、評価を実施した。結果を表1に示す。
なお、第2インクの供給時期としては、第1インクを親液領域に供給した後、0.9秒後であり、第1インク中の有機溶媒が残存している状態で第2インクを供給した。
<Comparative Example 1>
As an ink supply method, after the first ink (4 drops) is ejected into the lyophilic area and the entire lyophilic area is filled with the first ink, the second ink (20 drops) is ejected onto the first ink. Except for dropping, an organic semiconductor film was prepared and evaluated according to the same procedure as in Example 1. The results are shown in Table 1.
The supply timing of the second ink is 0.9 seconds after the first ink is supplied to the lyophilic region, and the second ink is supplied in a state where the organic solvent in the first ink remains. did.

<比較例2>
インクの供給方法として、第1インク(12滴)を親液領域内に打滴して親液領域全域を第1インクで満たした後、第1インク上に第2インク(20滴)を打滴した以外は、実施例2と同様の手順に従って、有機半導体膜を作製し、評価を実施した。結果を表1に示す。
なお、第2インクの供給時期としては、第1インクを親液領域に供給した後、0.9秒後であり、第1インク中の有機溶媒が残存している状態で第2インクを供給した。
<Comparative example 2>
As an ink supply method, the first ink (12 drops) is ejected into the lyophilic area, the entire lyophilic area is filled with the first ink, and then the second ink (20 drops) is ejected onto the first ink. Except for dropping, an organic semiconductor film was prepared and evaluated according to the same procedure as in Example 2. The results are shown in Table 1.
The supply timing of the second ink is 0.9 seconds after the first ink is supplied to the lyophilic region, and the second ink is supplied in a state where the organic solvent in the first ink remains. did.

<比較例3>
インクの供給方法として、第1インク(12滴)を親液領域内に打滴して親液領域全域を第1インクで満たした後、第1インク上に第2インク(20滴)を打滴した以外は、実施例3と同様の手順に従って、有機半導体膜を作製し、評価を実施した。結果を表1に示す。
なお、第2インクの供給時期としては、第1インクを親液領域に供給した後、0.9秒後であり、第1インク中の有機溶媒が残存している状態で第2インクを供給した。
<Comparative Example 3>
As an ink supply method, the first ink (12 drops) is ejected into the lyophilic area, the entire lyophilic area is filled with the first ink, and then the second ink (20 drops) is ejected onto the first ink. Except for dropping, an organic semiconductor film was prepared and evaluated according to the same procedure as in Example 3. The results are shown in Table 1.
The supply timing of the second ink is 0.9 seconds after the first ink is supplied to the lyophilic region, and the second ink is supplied in a state where the organic solvent in the first ink remains. did.

<比較例4>
第1インクの供給時期を、第2インクを親液領域に供給した後、5秒後に変更した以外は、実施例1と同様の手順に従って、有機半導体膜を作製し、評価を実施した。結果を表1に示す。
<Comparative Example 4>
An organic semiconductor film was prepared and evaluated according to the same procedure as in Example 1 except that the supply timing of the first ink was changed 5 seconds after supplying the second ink to the lyophilic region. The results are shown in Table 1.

<比較例5>
第1インクの供給時期を、第2インクを親液領域に供給した後、5秒後に変更した以外は、実施例2と同様の手順に従って、有機半導体膜を作製し、評価を実施した。結果を表1に示す。
<Comparative Example 5>
An organic semiconductor film was prepared and evaluated according to the same procedure as in Example 2 except that the supply time of the first ink was changed 5 seconds after supplying the second ink to the lyophilic region. The results are shown in Table 1.

<比較例6>
第1インクの供給時期を、第2インクを親液領域に供給した後、5秒後に変更した以外は、実施例3と同様の手順に従って、有機半導体膜を作製し、評価を実施した。結果を表1に示す。
<Comparative Example 6>
An organic semiconductor film was prepared and evaluated according to the same procedure as in Example 3 except that the supply timing of the first ink was changed 5 seconds after supplying the second ink to the lyophilic region. The results are shown in Table 1.

<比較例7>
第1有機溶媒をクロロベンゼン(SP値:19.6(MPa)1/2)とし、C8−BTBTの濃度を30.0g/Lとした以外は、実施例1と同様の手順に従って、有機半導体膜を作製し、評価を実施した。結果を表1に示す。
なお、クロロベンゼンとDMFとの体積比(クロロベンゼン:DMF)3:1の混合液中におけるC8−BTBTの溶解度は24.6g/Lであり、第1インク中におけるC8−BTBTの濃度(g/L)のほうが大きかった。
また、クロロベンゼンの25℃における飽和蒸気圧は1.599kPaであり分子量は112.6g/molであり、上述した式(X)にて求められるZ(=p×√M)は17であり、10未満ではなかった。
また、クロロベンゼンの25℃における表面張力(γ1)は33.0mN/mであり、DMFの25℃における表面張力(γ2)とクロロベンゼンの25℃における表面張力(γ1)との表面張力差(γ2−γ1)は2.8であり、上述した式(Y)の関係を満たしていた。
<Comparative Example 7>
According to the same procedure as in Example 1, except that the first organic solvent was chlorobenzene (SP value: 19.6 (MPa) 1/2 ) and the C8-BTBT concentration was 30.0 g / L. Were prepared and evaluated. The results are shown in Table 1.
The solubility of C8-BTBT in a mixed solution of chlorobenzene and DMF (volume ratio of chlorobenzene: DMF) of 3: 1 is 24.6 g / L, and the concentration of C8-BTBT in the first ink (g / L ) Was bigger.
Further, the saturated vapor pressure of chlorobenzene at 25 ° C. is 1.599 kPa, the molecular weight is 112.6 g / mol, Z (= p × √M) determined by the above-described formula (X) is 17, and 10 Was not less than.
The surface tension (γ1) of chlorobenzene at 25 ° C. is 33.0 mN / m, and the surface tension difference (γ2−) between the surface tension (γ2) of DMF at 25 ° C. and the surface tension (γ1) of chlorobenzene at 25 ° C. γ1) was 2.8, which satisfied the relationship of the above-described formula (Y).

<比較例8>
第1有機溶媒をジクロロベンゼン(SP値:20.5(MPa)1/2)とし、C8−BTBTの濃度を22.0g/Lとし、第1インクの供給量を第2インクの供給量に対して3/10となるように打滴数を調整した以外は、実施例1と同様の手順に従って、有機半導体膜を作製し、評価を実施した。結果を表1に示す。
なお、ジクロロベンゼンとDMFとの体積比(ジクロロベンゼン:DMF)3:1の混合液中におけるC8−BTBTの溶解度は20.6g/Lであり、第1インク中におけるC8−BTBTの濃度(g/L)のほうが大きかった。
また、ジクロロベンゼンの25℃における飽和蒸気圧は0.20kPaであり分子量は147g/molであり、上述した式(X)にて求められるZ(=p×√M)は2.4であり、10未満であった。
また、ジクロロベンゼンの25℃における表面張力(γ1)は36.5mN/mであり、DMFの25℃における表面張力(γ2)とジクロロベンゼンの25℃における表面張力(γ1)との表面張力差(γ2−γ1)は−0.7であり、上述した式(Y)の関係を満たしていなかった。
<Comparative Example 8>
The first organic solvent is dichlorobenzene (SP value: 20.5 (MPa) 1/2 ), the C8-BTBT concentration is 22.0 g / L, and the supply amount of the first ink is set to the supply amount of the second ink. On the other hand, an organic semiconductor film was prepared and evaluated according to the same procedure as in Example 1 except that the number of droplet ejections was adjusted to be 3/10. The results are shown in Table 1.
The solubility of C8-BTBT in a mixed solution of dichlorobenzene and DMF (volume ratio of dichlorobenzene: DMF) 3: 1 is 20.6 g / L, and the concentration of C8-BTBT in the first ink (g / L) was larger.
Further, dichlorobenzene has a saturated vapor pressure at 25 ° C. of 0.20 kPa, a molecular weight of 147 g / mol, and Z (= p × √M) obtained by the above-described formula (X) is 2.4. It was less than 10.
The surface tension (γ1) of dichlorobenzene at 25 ° C. is 36.5 mN / m, and the surface tension difference between the surface tension (γ2) of DMF at 25 ° C. and the surface tension (γ1) of dichlorobenzene at 25 ° C. ( [gamma] 2- [gamma] 1) was -0.7 and did not satisfy the relationship of the above-described formula (Y).

<比較例9>
第1有機溶媒をメシチレン(SP値:17.8(MPa)1/2)とし、C8−BTBTの濃度を30.0g/Lとし、第1インクの供給量を第2インクの供給量に対して3/10となるように打滴数を調整した以外は、実施例1と同様の手順に従って、有機半導体膜を作製し、評価を実施した。結果を表1に示す。
なお、メシチレンとDMFとの体積比(メシチレン:DMF)3:1の混合液中におけるC8−BTBTの溶解度は27.3g/Lであり、第1インク中におけるC8−BTBTの濃度(g/L)のほうが大きかった。
また、メシチレンの25℃における飽和蒸気圧は0.330kPaであり分子量は120.2g/molであり、上述した式(X)にて求められるZ(=p×√M)は3.6であり、10未満であった。
また、メシチレンの25℃における表面張力(γ1)は27.6mN/mであり、DMFの25℃における表面張力(γ2)とメシチレンの25℃における表面張力(γ1)との表面張力差(γ2−γ1)は8.2であり、上述した式(Y)の関係を満たしていなかった。
<Comparative Example 9>
The first organic solvent is mesitylene (SP value: 17.8 (MPa) 1/2 ), the C8-BTBT concentration is 30.0 g / L, and the supply amount of the first ink is relative to the supply amount of the second ink. An organic semiconductor film was prepared and evaluated according to the same procedure as in Example 1 except that the droplet ejection number was adjusted to be 3/10. The results are shown in Table 1.
The solubility of C8-BTBT in a mixed solution of mesitylene and DMF at a volume ratio of 3: 1 (mesitylene: DMF) is 27.3 g / L, and the concentration of C8-BTBT in the first ink (g / L). ) Was bigger.
In addition, the saturated vapor pressure of mesitylene at 25 ° C. is 0.330 kPa, the molecular weight is 120.2 g / mol, and Z (= p × √M) obtained by the above formula (X) is 3.6. 10 or less.
The surface tension (γ1) of mesitylene at 25 ° C. is 27.6 mN / m, and the difference in surface tension (γ2−) between the surface tension (γ2) of DMF at 25 ° C. and the surface tension (γ1) of mesitylene at 25 ° C. γ1) was 8.2 and did not satisfy the relationship of the above-described formula (Y).

表1中、「表面張力差」欄では、上記式(Y)の関係を満たす場合を「A」、式(Y)の関係を満たさない場合を「B」とする。
表1中、「蒸発速度」欄では、上記式(X)より求められるZ(=p×√M)が10未満の場合を「A」、10以上の場合を「B」とする。
表1中、「打滴順」欄では、「インク2→1」はインク2を基板上に供給した後、インク1をさらに供給したことを表し、「インク1→2」はインク1を基板上に供給した後、インク2をさらに供給したことを表す。
表1中、「打滴間隔」欄では、基板上に供給された第2インクの蒸発による体積の減少量が第2インクの供給量に対して10体積%超となる前に、第2インク上に第1インクを供給した場合を「A」、10体積%超となった後に、第2インク上に第1インクを供給した場合を「B」とする。
表1中、「第1インク濃度」欄では、第1インク中の有機半導体の濃度が、第1有機溶媒と第2有機溶媒との体積比が3:1である混合溶媒中における有機半導体の溶解度よりも大きい場合を「A」、小さい場合を「B」とする。
In Table 1, in the “surface tension difference” column, “A” is satisfied when the relationship of the above formula (Y) is satisfied, and “B” is satisfied when the relationship of the expression (Y) is not satisfied.
In Table 1, in the “evaporation rate” column, the case where Z (= p × √M) obtained from the above formula (X) is less than 10 is “A”, and the case where it is 10 or more is “B”.
In Table 1, in the “droplet order” column, “ink 2 → 1” indicates that ink 1 is further supplied after ink 2 is supplied onto the substrate, and “ink 1 → 2” indicates that ink 1 is supplied to the substrate. This indicates that the ink 2 is further supplied after being supplied upward.
In Table 1, in the “droplet ejection interval” column, the second ink is supplied before the volume reduction amount due to evaporation of the second ink supplied onto the substrate exceeds 10% by volume with respect to the supply amount of the second ink. The case where the first ink is supplied above is “A”, and the case where the first ink is supplied onto the second ink after exceeding 10 vol% is referred to as “B”.
In Table 1, in the “first ink concentration” column, the concentration of the organic semiconductor in the first ink is such that the volume ratio of the first organic solvent to the second organic solvent is 3: 1. The case where the solubility is greater than “A” is indicated as “A”, and the case where the solubility is less than “B”.

表1に示すように、本発明の有機半導体膜の製造方法によれば、所望の領域の略全域に有機半導体膜を作製できることが確認された。
なかでも、実施例1と4(または、2と5、もしくは、3と6)との比較より、第1インク中の有機半導体の濃度が、第1有機溶媒と第2有機溶媒との体積比が3:1である混合溶媒中における有機半導体の溶解度よりも大きい場合、より優れた効果が得られることが確認された。
また、実施例1と7(または、2と8、もしくは、3と9)との比較より、第2インクの供給量に対する第1インクの供給量の体積比が0.3以下である場合、より優れた効果が得られることが確認された。
一方、比較例に示すように、インク打滴順が所定の順番でない比較例1〜3、第1インクを供給する時期が所定の時期でない比較例4〜6、および、第1有機溶媒が所定の特性を満たさない比較例7〜9においては、親液領域の約半分程度の領域のみしか有機半導体膜が形成されず、所望の効果が得られなかった。
As shown in Table 1, according to the method for producing an organic semiconductor film of the present invention, it was confirmed that the organic semiconductor film can be produced over substantially the entire desired region.
In particular, the comparison between Examples 1 and 4 (or 2 and 5, or 3 and 6) indicates that the concentration of the organic semiconductor in the first ink is a volume ratio between the first organic solvent and the second organic solvent. When the solubility of the organic semiconductor in the mixed solvent having a ratio of 3: 1 is larger than that of the organic semiconductor, it was confirmed that a more excellent effect was obtained.
Further, when the volume ratio of the supply amount of the first ink to the supply amount of the second ink is 0.3 or less from the comparison between Examples 1 and 7 (or 2 and 8, or 3 and 9), It was confirmed that more excellent effects can be obtained.
On the other hand, as shown in Comparative Examples, Comparative Examples 1 to 3 in which the ink ejection order is not a predetermined order, Comparative Examples 4 to 6 in which the timing of supplying the first ink is not a predetermined time, and the first organic solvent are predetermined In Comparative Examples 7 to 9 that did not satisfy the above characteristics, the organic semiconductor film was formed only in about half of the lyophilic region, and the desired effect was not obtained.

10 基板
12 親液領域
14 撥液領域
16 第2インク
18 第1インク
20 有機半導体膜
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Substrate 12 Lipophilic area 14 Liquid repellent area 16 Second ink 18 First ink 20 Organic semiconductor film

Claims (5)

有機半導体および前記有機半導体に対する親和性が高い第1有機溶媒を含む第1インクと、前記第1有機溶媒より前記有機半導体に対する親和性が低く、前記第1有機溶媒と混和する第2有機溶媒からなる第2インクとを混合して、有機半導体膜を製造する有機半導体膜の製造方法であって、
基板上に前記第2インクを供給する工程と、
前記基板上に供給された第2インクの蒸発による体積の減少量が前記第2インクの供給量に対して10体積%超となる前に、前記第2インク上に第1インクを供給して、前記第1インクおよび前記第2インクを混合し、その後、前記第1有機溶媒および前記第2有機溶媒を除去して前記有機半導体膜を製造する工程とを有し、
前記第1有機溶媒の25℃における飽和蒸気圧をp、分子量をMとしたとき、以下の式(X)で求められるZが10より小さく、
同一温度における前記第1有機溶媒の表面張力γ1と前記第2有機溶媒の表面張力γ2とが式(Y)の関係を満たす、有機半導体膜の製造方法。なお、前記飽和蒸気圧の単位はkPaであり、前記分子量の単位はg/molである。
式(Y) 0<γ2−γ1<5
A first ink comprising an organic semiconductor and a first organic solvent having a high affinity for the organic semiconductor; and a second organic solvent having a lower affinity for the organic semiconductor than the first organic solvent and miscible with the first organic solvent. A method for producing an organic semiconductor film by mixing the second ink and
Supplying the second ink onto a substrate;
The first ink is supplied onto the second ink before the volume reduction due to evaporation of the second ink supplied onto the substrate exceeds 10% by volume with respect to the supply amount of the second ink. Mixing the first ink and the second ink, and then removing the first organic solvent and the second organic solvent to produce the organic semiconductor film,
When the saturated vapor pressure at 25 ° C. of the first organic solvent is p and the molecular weight is M, Z obtained by the following formula (X) is smaller than 10,
A method for producing an organic semiconductor film, wherein the surface tension γ1 of the first organic solvent and the surface tension γ2 of the second organic solvent satisfy the relationship of formula (Y) at the same temperature. The unit of the saturated vapor pressure is kPa, and the unit of the molecular weight is g / mol.
Formula (Y) 0 <γ2-γ1 <5
前記第1インク中の前記有機半導体の濃度が、前記第1有機溶媒と前記第2有機溶媒との体積比が3:1である混合溶媒中における前記有機半導体の溶解度よりも大きい、請求項1に記載の有機半導体膜の製造方法。なお、前記濃度および前記溶解度のそれぞれの単位は、g/Lである。   The concentration of the organic semiconductor in the first ink is greater than the solubility of the organic semiconductor in a mixed solvent in which the volume ratio of the first organic solvent to the second organic solvent is 3: 1. The manufacturing method of the organic-semiconductor film of description. Each unit of the concentration and the solubility is g / L. 前記第2インクの供給量に対する前記第1インクの供給量の体積比が0.3以下である、請求項1または2に記載の有機半導体膜の製造方法。   The method for producing an organic semiconductor film according to claim 1, wherein a volume ratio of the supply amount of the first ink to the supply amount of the second ink is 0.3 or less. 前記第1インクの供給および前記第2インクの供給を、インクジェット法により実施する、請求項1〜3のいずれか1項に記載の有機半導体膜の製造方法。   The method for producing an organic semiconductor film according to claim 1, wherein the supply of the first ink and the supply of the second ink are performed by an inkjet method. 請求項1〜4のいずれか1項に記載の製造方法より製造される有機半導体膜を含む有機トランジスタ。   The organic transistor containing the organic-semiconductor film manufactured from the manufacturing method of any one of Claims 1-4.
JP2017504931A 2015-03-06 2016-02-09 Organic semiconductor film manufacturing method, organic transistor Active JP6317032B2 (en)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015044861 2015-03-06
JP2015044861 2015-03-06
PCT/JP2016/053817 WO2016143451A1 (en) 2015-03-06 2016-02-09 Process for producing organic semiconductor film, and organic transistor

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2016143451A1 true JPWO2016143451A1 (en) 2017-09-28
JP6317032B2 JP6317032B2 (en) 2018-04-25

Family

ID=56879099

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017504931A Active JP6317032B2 (en) 2015-03-06 2016-02-09 Organic semiconductor film manufacturing method, organic transistor

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP6317032B2 (en)
WO (1) WO2016143451A1 (en)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107177239B (en) * 2017-02-17 2019-03-08 纳晶科技股份有限公司 The preparation method of the functional layer of ink set, photoelectric device and photoelectric device
CN108461654B (en) * 2017-02-17 2019-09-20 纳晶科技股份有限公司 Film layer, luminescent device, film layer processing method, apparatus and system
JP7130982B2 (en) 2018-02-27 2022-09-06 セイコーエプソン株式会社 Watch movements and watches
JP7102778B2 (en) 2018-02-27 2022-07-20 セイコーエプソン株式会社 Watch movements and watches
EP3923359B1 (en) * 2019-02-08 2024-07-17 FUJIFILM Corporation Production method for organic semiconductor thin film

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012043926A (en) * 2010-08-18 2012-03-01 National Institute Of Advanced Industrial & Technology Method of manufacturing organic semiconductor thin film
JP2012049291A (en) * 2010-08-26 2012-03-08 National Institute Of Advanced Industrial & Technology Method for manufacturing single-crystal organic semiconductor thin film
JP2014049722A (en) * 2012-09-04 2014-03-17 Nec Corp Organic semiconductor transistor and manufacturing method of the same
JP2014053587A (en) * 2012-08-09 2014-03-20 Denso Corp Organic semiconductor thin film manufacturing method, organic semiconductor device manufacturing method applying the same thereto and organic semiconductor device
JP2015173210A (en) * 2014-03-12 2015-10-01 富士フイルム株式会社 Manufacturing method of organic semiconductor crystal

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2012043926A (en) * 2010-08-18 2012-03-01 National Institute Of Advanced Industrial & Technology Method of manufacturing organic semiconductor thin film
JP2012049291A (en) * 2010-08-26 2012-03-08 National Institute Of Advanced Industrial & Technology Method for manufacturing single-crystal organic semiconductor thin film
JP2014053587A (en) * 2012-08-09 2014-03-20 Denso Corp Organic semiconductor thin film manufacturing method, organic semiconductor device manufacturing method applying the same thereto and organic semiconductor device
JP2014049722A (en) * 2012-09-04 2014-03-17 Nec Corp Organic semiconductor transistor and manufacturing method of the same
JP2015173210A (en) * 2014-03-12 2015-10-01 富士フイルム株式会社 Manufacturing method of organic semiconductor crystal

Also Published As

Publication number Publication date
JP6317032B2 (en) 2018-04-25
WO2016143451A1 (en) 2016-09-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6317032B2 (en) Organic semiconductor film manufacturing method, organic transistor
Kwak et al. Self‐organization of inkjet‐printed organic semiconductor films prepared in inkjet‐etched microwells
JP5360737B2 (en) Organic transistor manufacturing method and organic transistor
Zhang et al. Direct Patterning of Self‐Assembled Monolayers by Stamp Printing Method and Applications in High Performance Organic Field‐Effect Transistors and Complementary Inverters
JP6298896B2 (en) Organic semiconductor film manufacturing method, organic transistor
KR20100004258A (en) Ink-jet print ink and organic thin film transister using thereof
US20130143357A1 (en) Method of forming organic thin film and organic thin film forming apparatus, as well as method of manufacturing organic device
JP6453894B2 (en) Composition for forming organic semiconductor film, organic semiconductor film, and organic semiconductor element
CN108919605A (en) Light resistance composition, pixel defining layer, preparation method and application
JP6148634B2 (en) Method for producing organic semiconductor crystal
Onojima et al. Sharp phase-separated interface of 6, 13-bis (triisopropylsilylethynyl) pentacene/polystyrene blend films prepared by electrostatic spray deposition
Wang et al. Process optimization for inkjet printing of triisopropylsilylethynyl pentacene with single-solvent solutions
JP6473832B2 (en) Organic semiconductor film manufacturing equipment
JP6259390B2 (en) Organic transistor manufacturing method, organic transistor
US20140138345A1 (en) Methods of forming conductive patterns using inkjet printing methods
JP2018154806A (en) Metal fine particle dispersion, conductive ink, and electronic device
JP5640554B2 (en) Organic thin film forming method and forming apparatus, and organic device manufacturing method
JPWO2017134990A1 (en) Method for producing organic semiconductor film
Kim et al. Solvent mixture formulation for orthogonal inkjet processing and uniform pixel patterning of quantum dot light-emitting diode
Sakanoue et al. Surface planarization effect of siloxane derivatives in organic semiconductor layers
Wang et al. Modulation of surface solubility and wettability for high-performance inkjet-printed organic transistors
Kang et al. Influence of substrate temperature and overlap condition on the evaporation behavior of inkjet-printed semiconductor layers in organic thin film transistors
US20080042200A1 (en) Thin-film transistor and fabrication method thereof
JP5640553B2 (en) Method for forming organic thin film and method for manufacturing organic device
Ning et al. Inkjet Printing PEDOT: PSS without Coffee Ring Effect for QLED Applicaitons

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20170517

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20180206

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20180228

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20180320

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20180328

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 6317032

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150