JPWO2013051071A1 - Light emitting device and method for manufacturing light emitting device - Google Patents

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全健 金
全健 金
湯淺 寛
寛 湯淺
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Abstract

発光素子は、第1電極と、前記第1電極上に形成され且つ導電層を最上層に有する発光機能層と、前記導電層の一部領域に対応する部分に不所望の開口を有する状態で前記導電層上面に形成された第2電極と、前記第2電極における前記開口を構成する周面を除いて前記第2電極上に形成された封止層とを備える。そして、前記導電層の前記一部領域が酸化されている。前記発光機能層は有機発光層を含み、当該有機発光層上に前記導電層がある。  The light-emitting element includes a first electrode, a light-emitting functional layer formed on the first electrode and having a conductive layer as an uppermost layer, and an undesired opening in a portion corresponding to a partial region of the conductive layer. A second electrode formed on the upper surface of the conductive layer; and a sealing layer formed on the second electrode except for a peripheral surface constituting the opening of the second electrode. The partial region of the conductive layer is oxidized. The light emitting functional layer includes an organic light emitting layer, and the conductive layer is on the organic light emitting layer.

Description

本発明は、第1電極、発光機能層、第2電極及び封止層を備える発光素子及び当該発光素子の製造方法に関する。   The present invention relates to a light emitting element including a first electrode, a light emitting functional layer, a second electrode, and a sealing layer, and a method for manufacturing the light emitting element.

発光素子には、発光層や導電層を有する発光機能層が、第1電極に相当する陽極と、第2電極に相当する陰極とに挟まれた構造を有するものがある。   Some light-emitting elements have a structure in which a light-emitting functional layer including a light-emitting layer and a conductive layer is sandwiched between an anode corresponding to a first electrode and a cathode corresponding to a second electrode.

発光層や陰極は、水分、酸素等のガス(以下、単に、「水分等のガス」や「ガス」ともいう。)の影響を受ける。具体的には、発光層は、例えば水分等により発光特性が低下し、素子としての寿命が短くなる。陰極は、例えば酸素等により電気特性が変化する。電気特性の変化が大きい場合には発光層に電子を供給することができなくなり、発光しなくなる(所謂、表示欠陥である。)。   The light emitting layer and the cathode are affected by a gas such as moisture and oxygen (hereinafter also simply referred to as “gas such as moisture” and “gas”). Specifically, the light emitting layer has light emitting characteristics that are degraded by, for example, moisture, and the lifetime of the device is shortened. The electrical characteristics of the cathode change due to, for example, oxygen. When the change in the electrical characteristics is large, electrons cannot be supplied to the light emitting layer, and light emission does not occur (so-called display defect).

このため、水分等のガスから発光層や陰極を保護するため、つまり、ガスの侵入をバリアするために、例えば陰極の上面に封止層が形成されている。   For this reason, in order to protect a light emitting layer and a cathode from gas, such as a water | moisture content, ie, in order to barrier invasion of gas, the sealing layer is formed, for example on the upper surface of a cathode.

一方、発光層からは光が発せられ、この光は、例えば、陰極、封止層を透過して外部へと取り出される(トップエミッションの場合である。)。このため、封止層には、高いガスバリア性だけでなく、優れた光透過性が要求され、例えばシリコン窒化膜(SiN膜)等が利用されている。   On the other hand, light is emitted from the light emitting layer, and this light passes through, for example, the cathode and the sealing layer and is extracted to the outside (in the case of top emission). For this reason, the sealing layer is required to have not only high gas barrier properties but also excellent light transmittance, and for example, a silicon nitride film (SiN film) or the like is used.

また、発光素子のガスバリア性をさらに高めるために、封止層を原子層成長法(Atomic Layer Epitaxy)法により形成する技術も提案されている(例えば、特許文献1、2)。   In addition, in order to further improve the gas barrier property of the light emitting element, a technique for forming a sealing layer by an atomic layer epitaxy method has been proposed (for example, Patent Documents 1 and 2).

特開2001−284042号公報JP 2001-284042 A 特開2003−332042号公報JP 2003-332042 A

しかしながら、上記封止層を採用しても、発光ムラや色ムラが生じる場合がある。   However, even when the sealing layer is employed, light emission unevenness and color unevenness may occur.

例えば、発光素子の製造過程中に何らかの不具合が生じた場合、例えば導電性を有する異物が、発光機能層内の導電層に付着した場合、当該導電層の電気特性が変化していまい、発光ムラ・色ムラ等を引き起こす。   For example, when some trouble occurs during the manufacturing process of the light emitting element, for example, when a foreign substance having conductivity adheres to the conductive layer in the light emitting functional layer, the electrical characteristics of the conductive layer do not change, and uneven light emission occurs.・ Causes uneven color.

本発明は、上記問題に鑑みてなされたものであって、不具合が発生したとしても発光ムラ等を少なくできる発光素子及び発光素子の製造方法を提供することを目的とする。   The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide a light-emitting element and a method for manufacturing the light-emitting element that can reduce unevenness in light emission even when a problem occurs.

上記課題を解決するために、本発明の一態様に係る発光素子は、第1電極と、前記第1電極上に形成され且つ導電層を最上層に有する発光機能層と、前記導電層の一部領域に対応する部分に不所望の開口を有する状態で前記導電層上面に形成された第2電極と、前記第2電極における前記開口を構成する周面を除いて前記第2電極上に形成された封止層とを備え、前記導電層の前記一部領域が酸化されている。   In order to solve the above problems, a light-emitting element according to one embodiment of the present invention includes a first electrode, a light-emitting functional layer formed over the first electrode and having a conductive layer as an uppermost layer, and one of the conductive layers. Formed on the second electrode except for the second electrode formed on the upper surface of the conductive layer with an undesired opening in a portion corresponding to the partial region and the peripheral surface constituting the opening in the second electrode And the partial region of the conductive layer is oxidized.

上記課題を解決するために、本発明の一態様に係る発光素子の製造方法は、第1電極、発光層と導電層とを含む発光機能層、第2電極及び封止層をこの順で基板上に備える発光素子の製造方法において、基板上に第1電極を形成する第1工程と、前記第1工程で形成された第1電極上に発光機能層を形成する第2工程と、前記第2工程で形成された発光機能層上に第2電極を形成する第3工程と、前記第3工程で形成された第2電極上に封止層を形成する第4工程と、前記第4工程後に、基板を酸素雰囲気下に晒して、酸素雰囲気に曝露されている導電層部分の酸化を促進する第5工程とを行う。   In order to solve the above problems, a method for manufacturing a light-emitting element according to one embodiment of the present invention includes a first electrode, a light-emitting functional layer including a light-emitting layer and a conductive layer, a second electrode, and a sealing layer in this order. In the method of manufacturing a light emitting device provided above, a first step of forming a first electrode on a substrate, a second step of forming a light emitting functional layer on the first electrode formed in the first step, and the first A third step of forming a second electrode on the light emitting functional layer formed in two steps, a fourth step of forming a sealing layer on the second electrode formed in the third step, and the fourth step. Thereafter, the substrate is exposed to an oxygen atmosphere to perform a fifth step of promoting oxidation of the conductive layer portion exposed to the oxygen atmosphere.

本発明の一態様に係る発光素子及び本発明の一態様に係る発光素子の製造方法では、発光素子の製造過程中に何らかの不具合、例えば導電性を有する異物が導電層に付着しても、当該導電層の異物付着部分が酸化されるので、異物との間で絶縁化され、当該導電層の電気特性の変化を抑制でき、光ムラ等を少なくできる。   In the light-emitting element according to one embodiment of the present invention and the method for manufacturing the light-emitting element according to one embodiment of the present invention, even if some defect, for example, a foreign matter having conductivity adheres to the conductive layer during the manufacturing process of the light-emitting element, Since the foreign matter adhering portion of the conductive layer is oxidized, it is insulated from the foreign matter, the change in the electrical characteristics of the conductive layer can be suppressed, and light unevenness can be reduced.

表示装置の全体構成を模式的に示すブロック図である。It is a block diagram which shows typically the whole structure of a display apparatus. 表示パネルの要部を模式的に示す部分断面図である。It is a fragmentary sectional view which shows typically the principal part of a display panel. 表示パネルの製造工程の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the manufacturing process of a display panel. 表示パネルの製造工程の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the manufacturing process of a display panel. 表示パネルの製造工程の一例を示す図である。It is a figure which shows an example of the manufacturing process of a display panel. 異物が電子輸送層の上面に付着した場合を示す図である。It is a figure which shows the case where a foreign material adheres to the upper surface of an electron carrying layer. 製造工程中の異物付着部分の状態を説明する図である。It is a figure explaining the state of the foreign material adhesion part in a manufacturing process.

<実施の態様>
本発明の一態様である発光素子は、第1電極と、前記第1電極上に形成され且つ導電層を最上層に有する発光機能層と、前記導電層の一部領域に対応する部分に不所望の開口を有する状態で前記導電層上面に形成された第2電極と、前記第2電極における前記開口を構成する周面を除いて前記第2電極上に形成された封止層とを備え、前記導電層の前記一部領域が酸化されている。これにより、不具合が発生したとしても発光ムラ等を少なくできる。
<Aspect of implementation>
A light-emitting element which is one embodiment of the present invention includes a first electrode, a light-emitting functional layer formed over the first electrode and having a conductive layer as an uppermost layer, and a portion corresponding to a partial region of the conductive layer. A second electrode formed on the upper surface of the conductive layer in a state having a desired opening; and a sealing layer formed on the second electrode excluding a peripheral surface constituting the opening in the second electrode. The partial region of the conductive layer is oxidized. Thereby, even if a malfunction occurs, unevenness in light emission and the like can be reduced.

また、前記第2電極の前記周面と前記封止層とが、原子層単位で形成された第2封止層により被覆されている。これにより、ガスバリア性を高めることができる。   The peripheral surface of the second electrode and the sealing layer are covered with a second sealing layer formed in units of atomic layers. Thereby, gas barrier property can be improved.

また、前記導電層の一部領域に異物が付着され、前記異物は、前記一部領域の酸化により固着されている。これにより、異物が飛散等して他の部位に付着するのを防ぐことができる。   In addition, foreign matter is attached to a partial region of the conductive layer, and the foreign matter is fixed by oxidation of the partial region. Thereby, it can prevent that a foreign material scatters and adheres to another site | part.

また、前記導電層の一部領域は、前記異物の付着部分を除いて、前記第2封止層により被覆されている。これにより、導電層のガスバリア性を高めることができる。   Moreover, a partial region of the conductive layer is covered with the second sealing layer except for a portion where the foreign matter is attached. Thereby, the gas barrier property of a conductive layer can be improved.

また、前記異物は、第2電極と同じ材料の層と、封止層と同じ材料の層とが当該異物上に形成された状態で、前記第2封止層により被覆されている。これにより、異物が外れるようなことを少なくできる。   The foreign material is covered with the second sealing layer in a state where a layer of the same material as the second electrode and a layer of the same material as the sealing layer are formed on the foreign material. Thereby, it can reduce that a foreign material remove | deviates.

また、前記発光機能層は有機発光層を含み、前記導電層は前記発光層に電子を輸送する電子輸送層である。   The light emitting functional layer includes an organic light emitting layer, and the conductive layer is an electron transport layer that transports electrons to the light emitting layer.

本発明の一態様である発光素子は、第1電極、発光層と導電層とを含む発光機能層、第2電極及び封止層をこの順で基板上に備える発光素子の製造方法において、基板上に第1電極を形成する第1工程と、前記第1工程で形成された第1電極上に発光機能層を形成する第2工程と、前記第2工程で形成された発光機能層上に第2電極を形成する第3工程と、前記第3工程で形成された第2電極上に封止層を形成する第4工程と、前記第4工程後に、基板を酸素雰囲気下に晒して、酸素雰囲気に曝露されている導電層部分の酸化を促進する第5工程とを行う。これにより、不具合が発生したとしても発光ムラ等を少なくできる発光素子を製造することができる。   A light-emitting element which is one embodiment of the present invention is a method for manufacturing a light-emitting element including a first electrode, a light-emitting functional layer including a light-emitting layer and a conductive layer, a second electrode, and a sealing layer in this order. A first step of forming a first electrode thereon; a second step of forming a light emitting functional layer on the first electrode formed in the first step; and a light emitting functional layer formed in the second step. A third step of forming a second electrode; a fourth step of forming a sealing layer on the second electrode formed in the third step; and after the fourth step, exposing the substrate to an oxygen atmosphere, And a fifth step of promoting oxidation of the conductive layer portion exposed to the oxygen atmosphere. As a result, it is possible to manufacture a light emitting element that can reduce unevenness in light emission even if a problem occurs.

また、前記第5工程は、数百msecから数secの間酸素を通気させる。これにより、導電層部分に酸化を容易に形成することができる。   In the fifth step, oxygen is vented for several hundreds of milliseconds to several seconds. Thereby, oxidation can be easily formed in the conductive layer portion.

また、前記第5工程の後に、原子層成長法又は原子層堆積法により第2封止層を形成する。これにより、封止性を高めることができる。   Further, after the fifth step, a second sealing layer is formed by an atomic layer growth method or an atomic layer deposition method. Thereby, sealing performance can be improved.

上記本発明の一態様である発光素子は、発光機能層として導電層を最上層に含んでいたが、当該導電層に着目すると以下のようになる。   The light-emitting element which is one embodiment of the present invention includes a conductive layer as an uppermost layer as a light-emitting functional layer, and attention is paid to the conductive layer as follows.

発光素子は、導電性を有する第1の領域と、前記第1の領域の一部が酸化されて形成され且つ絶縁性を有する第2の領域とを有する第1の機能層と、前記第1の機能層における前記第1の領域に対応し且つ導電性を備える第1の部分と、前記第1の機能層における前記第2の領域に対応する開口部とを有する層を1または複数含む第2の機能層と、前記第2の機能層の表面を覆う第1の封止部と、前記第1の機能層における前記第2領域に対応する第2の封止部と、前記第1の封止部と前記第2の封止部との間に形成され且つ一端側が前記第1の機能層の前記第2の領域へと延びる亀裂部とを有するとともに絶縁性を備える第1の封止層と、絶縁性材料を含み、前記第1の封止膜の前記第1の封止部と第2の封止部との表面を覆うと共に、その一部が前記第1の機能層の第2の領域であって前記亀裂部と対向する部分に存在し、前記亀裂部における前記第1の機能層の第2の領域へ延びる経路を閉塞している第2の封止層とを有する。   The light-emitting element includes a first functional layer having a first region having conductivity, a second region formed by oxidizing a part of the first region and having an insulating property, and the first function layer. A first layer including one or a plurality of layers having a first portion corresponding to the first region in the functional layer and having conductivity, and an opening corresponding to the second region in the first functional layer. 2 functional layers, a first sealing portion covering the surface of the second functional layer, a second sealing portion corresponding to the second region in the first functional layer, and the first A first seal formed between the sealing portion and the second sealing portion and having one end side having a crack portion extending to the second region of the first functional layer and having an insulating property A layer and an insulating material, covering the surfaces of the first sealing portion and the second sealing portion of the first sealing film, and A part of the second region of the first functional layer is present in a portion facing the crack portion, and a path extending to the second region of the first functional layer in the crack portion is blocked. And a second sealing layer.

ここでは、第1の機能層は上記導電層に相当する。第1の機能層の第2の領域は上記導電層の一部領域に相当する。第2の機能層における第1の部分と開口部とを有する層が上記第2電極に相当し、開口部が上記開口に相当する。第1の封止層が上記封止層に相当し、第2の封止層は上記第2封止層に相当する。   Here, the first functional layer corresponds to the conductive layer. The second region of the first functional layer corresponds to a partial region of the conductive layer. The layer having the first portion and the opening in the second functional layer corresponds to the second electrode, and the opening corresponds to the opening. The first sealing layer corresponds to the sealing layer, and the second sealing layer corresponds to the second sealing layer.

また、前記第1の機能層の前記第2の領域の表面部には異物が付着し、前記第2の機能層の前記開口部は前記異物に対応して形成され、前記第1の封止膜の第2の封止部は、前記異物を直接または間接的に覆う。   In addition, foreign matter adheres to the surface portion of the second region of the first functional layer, the opening of the second functional layer is formed corresponding to the foreign matter, and the first sealing The second sealing portion of the film directly or indirectly covers the foreign matter.

また、前記第1の機能層は、アルカリ金属またはアルカリ土類金属を含む層であり、前記第2の機能層は、陰極である。   The first functional layer is a layer containing an alkali metal or an alkaline earth metal, and the second functional layer is a cathode.

さらに換言すると、発光素子は、一部に欠損部が形成された第1の層と、前記第1の層における前記欠損部の周辺部分が酸化されて酸化部が形成された第2の層とを有する機能層と、前記機能層を覆う封止部材とを有する。   In other words, the light-emitting element includes a first layer in which a defect portion is partially formed, and a second layer in which the peripheral portion of the defect portion in the first layer is oxidized to form an oxidation portion. And a sealing member that covers the functional layer.

ここでは、第1の層が上記第1の機能層に相当し、第2の層が上記第2の機能層に相当し、第1の層と第2の層とが同一でも良いし、異なっても良い。   Here, the first layer corresponds to the first functional layer, the second layer corresponds to the second functional layer, and the first layer and the second layer may be the same or different. May be.

一方、上記本発明の一態様である製造方法は、発光機能層として導電層を最上層に含んでいたが、当該導電層に着目すると以下のようになる。    On the other hand, the manufacturing method according to one embodiment of the present invention includes the conductive layer as the uppermost layer as the light emitting functional layer, and attention is paid to the conductive layer as follows.

発光素子の製造方法は、導電性を備える第1の機能層を形成する第1工程と、前記第1の機能層上に、導電性を備える層を1または複数含む第2の機能層を形成する第2工程と、前記第2の機能層上に絶縁性を備える第1の封止層を形成する第3工程と、前記第1の封止膜上に絶縁性を備える第2の封止層を形成する第4工程とを有し、前記第2工程は、前記第1の層の表面に異物が付着している領域では、前記表面であって前記異物から空間を隔てて離間した周辺部に対し、前記第2の機能層を形成する工程であり、前記第3工程は、前記第1の封止層を、前記異物と,その周辺部に形成されている前記第2の層との間における)空間に対応する部分を除いて、前記第2の層の表面と前記異物の表面とを覆って形成する工程であり、前記第4工程は、前記第2の封止層を、酸素雰囲気下において成膜させ、前記第1の封止層の表面を覆うと共に、前記第1の封止膜で覆われていない前記空間に入り込むように形成させる工程であり、且つ、前記第2の封止膜を成膜するとき、前記雰囲気中の酸素を前記空間部を通じて、前記第1の機能層における第1の封止層が形成されていない露出部分に作用させ、前記露出部分を含む前記異物に接触する表面部分を酸化させる工程である。   A method for manufacturing a light-emitting element includes: a first step of forming a first functional layer having conductivity; and a second functional layer including one or more layers having conductivity on the first functional layer. A second step of forming, a third step of forming a first sealing layer having insulating properties on the second functional layer, and a second sealing having insulating properties on the first sealing film A fourth step of forming a layer, and in the second step, in the region where the foreign matter adheres to the surface of the first layer, the periphery of the surface separated from the foreign matter with a space Forming the second functional layer with respect to the portion, and the third step includes the first sealing layer, the foreign material, and the second layer formed in the peripheral portion thereof. A step of covering the surface of the second layer and the surface of the foreign matter except for a portion corresponding to a space (between), In the step, the second sealing layer is formed in an oxygen atmosphere so as to cover the surface of the first sealing layer and to enter the space not covered by the first sealing film. And when forming the second sealing film, the first sealing layer in the first functional layer is formed through oxygen in the atmosphere through the space portion. This is a step of oxidizing a surface portion that is in contact with the foreign matter including the exposed portion by acting on a nonexposed portion.

また、前記第4工程は、前記第2の封止層を、酸素雰囲気下において、その構成材料を原子の状態で蒸着させる原子層成長法を用いて成膜する。   In the fourth step, the second sealing layer is formed using an atomic layer growth method in which a constituent material is deposited in an atomic state in an oxygen atmosphere.

また、前記第4工程は、前記第3工程によって前記第1の封止層を形成した有機発光素子の中間体を、酸素雰囲気に晒す酸素通気工程と、前記酸素通気工程後、前記中間体に対して、前記第2の封止層を原子層成長方法を用いて成膜する成膜工程と、を有し、前記酸素通気工程は、前記中間体に対して酸素を100msecから20sec通気させる。   In the fourth step, the intermediate of the organic light emitting device having the first sealing layer formed in the third step is exposed to an oxygen atmosphere, and after the oxygen aeration step, On the other hand, the second sealing layer includes a film forming step of forming a film using an atomic layer growth method, and the oxygen aeration step allows oxygen to be aerated from 100 msec to 20 sec through the intermediate.

また、前記第2工程は、前記第1の機能層の表面に異物が付着していない領域では、異物が付着していない表面全域に対し前記第2の機能層を形成する。
<実施の形態>
ここでは、発光パネルとして表示パネルを例に挙げて説明する。
1.表示装置
図1は、表示装置の全体構成を模式的に示すブロック図である。
In the second step, the second functional layer is formed over the entire surface where no foreign matter is attached in a region where no foreign matter is attached to the surface of the first functional layer.
<Embodiment>
Here, a display panel will be described as an example of the light emitting panel.
1. Display Device FIG. 1 is a block diagram schematically showing the overall configuration of a display device.

表示装置1は、同図に示すように、表示パネル10と、これに接続された駆動制御部20とを有し構成されている。   As shown in the figure, the display device 1 includes a display panel 10 and a drive control unit 20 connected thereto.

表示パネル10は、例えば、有機材料の電界発光現象を利用したトップエミッション型の有機EL表示パネルである。駆動制御部20は、4つの駆動回路21〜24と各駆動回路21〜24を制御する制御回路25とから構成されている。   The display panel 10 is, for example, a top emission type organic EL display panel using an electroluminescence phenomenon of an organic material. The drive control unit 20 includes four drive circuits 21 to 24 and a control circuit 25 that controls the drive circuits 21 to 24.

なお、表示パネルは、有機材料を利用した有機ELタイプに限定されず、無機材料を利用した無機ELタイプであっても良いし、ボトムエミッション型の有機ELタイプでも良いし、ボトムエミッション型の無機ELタイプでも良い。   The display panel is not limited to the organic EL type using an organic material, but may be an inorganic EL type using an inorganic material, a bottom emission type organic EL type, or a bottom emission type inorganic. An EL type may be used.

駆動制御部20の配置については、これに限られないし、駆動回路の個数も4つに限定するものでないし、例えば、制御回路と駆動回路とが一体になった回路でも良い。
2.表示パネル
図2は、表示パネル10の要部を模式的に示す部分断面図である。
The arrangement of the drive control unit 20 is not limited to this, and the number of drive circuits is not limited to four. For example, a circuit in which a control circuit and a drive circuit are integrated may be used.
2. Display Panel FIG. 2 is a partial cross-sectional view schematically showing a main part of the display panel 10.

表示パネル10は、同図に示されるように、基板101に複数のピクセル(画素)が行列状に形成されている。   As shown in the figure, the display panel 10 has a plurality of pixels (pixels) formed in a matrix on a substrate 101.

1ピクセルは、ここでは、複数個(具体的には3個)のサブピクセルから構成され、X方向に配された3個のサブピクセルにより構成されている。サブピクセルは、本発明の発光素子に相当し、ここでは、3個のサブピクセルは、例えば、発光色が、赤(R)、緑(G)、青(B)のサブピクセルである。   Here, one pixel is composed of a plurality (specifically, three) of sub-pixels, and is composed of three sub-pixels arranged in the X direction. The sub-pixel corresponds to the light-emitting element of the present invention. Here, the three sub-pixels are, for example, sub-pixels whose emission colors are red (R), green (G), and blue (B).

基板101は、TFT基板103上に層間絶縁膜105が形成されている。基板101上には、サブピクセル単位で陽極(本発明の「第1電極」に相当する。)107が形成されている。なお、本明細書では、基板101を基準にして、基板101に各種の機能層が積層されていく方向を上方向とする。この上方向は、図2におけるZ方向であり、上側を表側とも言う。   In the substrate 101, an interlayer insulating film 105 is formed on the TFT substrate 103. An anode 107 (corresponding to the “first electrode” in the present invention) 107 is formed on the substrate 101 in units of subpixels. Note that in this specification, the direction in which various functional layers are stacked on the substrate 101 is referred to as the upward direction, with the substrate 101 as a reference. This upward direction is the Z direction in FIG. 2, and the upper side is also referred to as the front side.

基板101における陽極107が形成されていない領域上及び陽極107上には、正孔注入層109が形成されている。なお、正孔注入層109は、サブピクセルに対応した陽極107が存する状態で基板101上の略全面に形成されるため、陽極107の上面の正孔注入層109を基準にすると隣接する陽極107間で凹入する。   A hole injection layer 109 is formed on a region of the substrate 101 where the anode 107 is not formed and on the anode 107. Note that the hole injection layer 109 is formed on substantially the entire surface of the substrate 101 in the state where the anode 107 corresponding to the subpixel exists, and therefore, the adjacent anode 107 107 with reference to the hole injection layer 109 on the upper surface of the anode 107. Recess between.

正孔注入層109上であって、隣り合う陽極107の間に相当する領域のそれぞれには、バンク(隔壁)111が形成されている。   Banks (partitions) 111 are formed in each of the regions on the hole injection layer 109 corresponding to the area between the adjacent anodes 107.

バンク111は、図2に示すように、隣接する陽極107間を埋め、陽極107の端部の上面に存する正孔注入層109から上方(厚み方向であって基板101から離れる方向であり、図中のZ方向である。)に突出する形状をしている。ここでは、突出形状は例えば台形状をしている。なお、バンク111は、平面視において井桁状に形成されている。   As shown in FIG. 2, the bank 111 fills the gap between the adjacent anodes 107 and is above the hole injection layer 109 existing on the upper surface of the end portion of the anode 107 (in the thickness direction and away from the substrate 101). (It is the Z direction in the middle.) Here, the protruding shape has a trapezoidal shape, for example. Note that the banks 111 are formed in a cross-beam shape in plan view.

バンク111で規定された各領域内(図2では、隣接するバンク111間に相当する領域である。)における正孔注入層109上には所定の光色(ここでは、上述の、赤、緑、青である。)用の発光層113が配されている。   A predetermined light color (here, the above-described red, green, etc.) is formed on the hole injection layer 109 in each region defined by the bank 111 (in FIG. 2, the region corresponding to between the adjacent banks 111). , Blue).).

バンク111における発光層113よりも上方の表面領域及び発光層113上には、電子輸送層115、陰極117及び封止部119が、この順で形成されている。電子輸送層115、陰極117及び封止部119は、バンク111で規定された領域を超えて隣接する他のサブピクセルのものと連続するように形成されている。   An electron transport layer 115, a cathode 117, and a sealing portion 119 are formed in this order on the surface region of the bank 111 above the light emitting layer 113 and on the light emitting layer 113. The electron transport layer 115, the cathode 117, and the sealing portion 119 are formed so as to be continuous with those of other adjacent subpixels beyond the region defined by the bank 111.

なお、電子輸送層115が本発明の「導電層」に相当し、正孔注入層109、発光層113、電子輸送層115までの3層が本発明の「発光機能層」に相当し、陰極が本発明の「第2電極」に相当する。   The electron transport layer 115 corresponds to the “conductive layer” of the present invention, and the three layers including the hole injection layer 109, the light emitting layer 113, and the electron transport layer 115 correspond to the “light emitting functional layer” of the present invention, and the cathode Corresponds to the “second electrode” of the present invention.

封止部119は、第1封止層121と、第1封止層の表面に形成された第2封止層123との2層構造を有している。なお、第1封止層121が本発明の「封止層」に相当する。
3.表示パネルの実施例
(1)基板
(1―1)TFT基板
TFT基板103は、例えば、無アルカリガラス、ソーダガラス、無蛍光ガラス、燐酸系ガラス、硼酸系ガラス、石英、アクリル系樹脂、スチレン系樹脂、ポリカーボネート系樹脂、エポキシ系樹脂、ポリエチレン、ポリエステル、シリコーン系樹脂、又はアルミナ等の絶縁性材料の基板本体上に、TFT、配線部材、および当該TFTを被覆するパッシベーション膜など(図示せず)を形成した構成である。基板本体は有機樹脂フィルムであってもかまわない。
(1−2)層間絶縁膜
層間絶縁膜105は、TFT基板103の表面段差を平坦に調整するために設けられ、ポリイミド系樹脂またはアクリル系樹脂等の絶縁材料で構成されている。
(2)陽極
陽極107は、アルミニウム(Al)、あるいはアルミニウム合金で形成されている。なお、陽極107は、例えば、銀(Ag)、銀とパラジウム(Pd)と銅(Cu)との合金、銀とルビジウム(Rb)と金(Au)との合金、モリブデン(Mo)とクロム(Cr)の合金、ニッケル(Ni)とクロムの合金等で形成されていても良い。
(3)正孔注入層
正孔注入層109は、正孔を発光層113に注入する機能を有する。正孔注入層109は、例えば、酸化タングステン(WOx)、酸化モリブデン(MoOx)、酸化モリブデンタングステン(MoxWyOz)などの遷移金属の酸化物を含む金属酸化物から形成される。
(4)バンク
バンク111は、隣接するサブピクセルを区画する機能を有する。バンク111は、例えば樹脂等の有機材料で形成されており、絶縁性を有する。有機材料の例として、アクリル系樹脂、ポリイミド系樹脂、ノボラック型フェノール樹脂等がある。バンク111は、有機溶剤耐性を有することが好ましい。さらに、バンク111はエッチング処理、ベーク処理等がされることがあるので、それらの処理に対して過度に変形、変質などをしないような耐性の高い材料で形成されることが好ましい。
(5)発光層
発光層113は、例えば有機発光層である場合には、例えば、ポリフルオレン、ポリフェニレンビニレン、ポリアセチレン、ポリフェニレン、ポリパラフェニレンエチレン、ポリ3−ヘキシルチオフェンやこれらの誘導体などの高分子材料や、特開平5−163488号公報に記載のオキシノイド化合物、ペリレン化合物、クマリン化合物、アザクマリン化合物、オキサゾール化合物、オキサジアゾール化合物、ペリノン化合物、ピロロピロール化合物、ナフタレン化合物、アントラセン化合物、フルオレン化合物、フルオランテン化合物、テトラセン化合物、ピレン化合物、コロネン化合物、キノロン化合物及びアザキノロン化合物、ピラゾリン誘導体及びピラゾロン誘導体、ローダミン化合物、クリセン化合物、フェナントレン化合物、シクロペンタジエン化合物、スチルベン化合物、ジフェニルキノン化合物、スチリル化合物、ブタジエン化合物、ジシアノメチレンピラン化合物、ジシアノメチレンチオピラン化合物、フルオレセイン化合物、ピリリウム化合物、チアピリリウム化合物、セレナピリリウム化合物、テルロピリリウム化合物、芳香族アルダジエン化合物、オリゴフェニレン化合物、チオキサンテン化合物、シアニン化合物、アクリジン化合物、8−ヒドロキシキノリン化合物の金属錯体、2−ビピリジン化合物の金属錯体、シッフ塩とIII族金属との錯体、オキシン金属錯体、希土類錯体等の蛍光物質で形成されることが好ましい。
(6)電子輸送層
電子輸送層115は、例えば、特開平5−163488号公報のニトロ置換フルオレノン誘導体、チオピランジオキサイド誘導体、ジフェキノン誘導体、ペリレンテトラカルボキシル誘導体、アントラキノジメタン誘導体、フレオレニリデンメタン誘導体、アントロン誘導体、オキサジアゾール誘導体、ペリノン誘導体、キノリン錯体誘導体で形成される。
The sealing part 119 has a two-layer structure of a first sealing layer 121 and a second sealing layer 123 formed on the surface of the first sealing layer. The first sealing layer 121 corresponds to the “sealing layer” of the present invention.
3. Example of display panel (1) Substrate (1-1) TFT substrate The TFT substrate 103 is, for example, alkali-free glass, soda glass, non-fluorescent glass, phosphate glass, borate glass, quartz, acrylic resin, styrene series TFT, wiring member, and passivation film for covering the TFT on the substrate body of an insulating material such as resin, polycarbonate resin, epoxy resin, polyethylene, polyester, silicone resin, or alumina (not shown) It is the structure which formed. The substrate body may be an organic resin film.
(1-2) Interlayer Insulating Film The interlayer insulating film 105 is provided to adjust the surface level difference of the TFT substrate 103 to be flat and is made of an insulating material such as polyimide resin or acrylic resin.
(2) Anode The anode 107 is made of aluminum (Al) or an aluminum alloy. The anode 107 may be formed of, for example, silver (Ag), an alloy of silver, palladium (Pd), and copper (Cu), an alloy of silver, rubidium (Rb), and gold (Au), molybdenum (Mo), and chromium ( It may be formed of an alloy of Cr), an alloy of nickel (Ni) and chromium, or the like.
(3) Hole Injection Layer The hole injection layer 109 has a function of injecting holes into the light emitting layer 113. The hole injection layer 109 is formed of a metal oxide including a transition metal oxide such as tungsten oxide (WOx), molybdenum oxide (MoOx), molybdenum tungsten oxide (MoxWyOz), or the like.
(4) Bank The bank 111 has a function of partitioning adjacent subpixels. The bank 111 is made of, for example, an organic material such as resin and has an insulating property. Examples of the organic material include an acrylic resin, a polyimide resin, and a novolac type phenol resin. The bank 111 preferably has organic solvent resistance. Furthermore, since the bank 111 may be subjected to an etching process, a baking process, or the like, it is preferable that the bank 111 be formed of a highly resistant material that does not excessively deform or alter the process.
(5) Light emitting layer When the light emitting layer 113 is an organic light emitting layer, for example, polymers such as polyfluorene, polyphenylene vinylene, polyacetylene, polyphenylene, polyparaphenylene ethylene, poly-3-hexylthiophene, and derivatives thereof are used. Oxinoid compounds, perylene compounds, coumarin compounds, azacoumarin compounds, oxazole compounds, oxadiazole compounds, perinone compounds, pyrrolopyrrole compounds, naphthalene compounds, anthracene compounds, fluorene compounds, fluoranthenes described in JP-A-5-163488 Compound, tetracene compound, pyrene compound, coronene compound, quinolone compound and azaquinolone compound, pyrazoline derivative and pyrazolone derivative, rhodamine compound, chrysene compound, phenant Len compound, cyclopentadiene compound, stilbene compound, diphenylquinone compound, styryl compound, butadiene compound, dicyanomethylenepyran compound, dicyanomethylenethiopyran compound, fluorescein compound, pyrylium compound, thiapyrylium compound, serenapyrylium compound, telluropyrylium compound, aromatic Ardadiene compound, oligophenylene compound, thioxanthene compound, cyanine compound, acridine compound, metal complex of 8-hydroxyquinoline compound, metal complex of 2-bipyridine compound, complex of Schiff salt and group III metal, oxine metal complex, rare earth complex It is preferable to form with fluorescent materials, such as.
(6) Electron transport layer The electron transport layer 115 is, for example, a nitro-substituted fluorenone derivative, a thiopyrandioxide derivative, a diphequinone derivative, a perylenetetracarboxyl derivative, an anthraquinodimethane derivative, fluorenylidene described in JP-A-5-163488. It is formed of a methane derivative, anthrone derivative, oxadiazole derivative, perinone derivative, or quinoline complex derivative.

なお、電子注入性を更に向上させる点から、上記電子輸送層115を構成する材料に、ナトリウム(Na)、バリウム(Ba)、カリウム(K)などのアルカリ金属またはアルカリ土類金属をドーピングしてもよく、本実施の形態では、バリウムをドーピングしている(この場合、電子輸送層は電子注入機能も有することとなる。)。
(7)陰極
陰極117は、発光層113への電子を注入するための電極である。本実施の形態ではトップエミッション型であるため、陰極117は、発光層113から発せられた光を透過させる必要があり、例えば、ITOやIZO等の透明電極で形成される。
(8)封止部
封止部119は、発光層113等が水分に晒されたり、空気に晒されたりすることを抑制する機能を有する。
In order to further improve the electron injection property, the material constituting the electron transport layer 115 is doped with an alkali metal or alkaline earth metal such as sodium (Na), barium (Ba), or potassium (K). In this embodiment, barium is doped (in this case, the electron transport layer also has an electron injection function).
(7) Cathode The cathode 117 is an electrode for injecting electrons into the light emitting layer 113. In this embodiment, since it is a top emission type, the cathode 117 needs to transmit light emitted from the light emitting layer 113 and is formed of a transparent electrode such as ITO or IZO.
(8) Sealing portion The sealing portion 119 has a function of suppressing the light emitting layer 113 and the like from being exposed to moisture or being exposed to air.

第1封止層121は、例えば、酸化シリコン(SiO),窒化シリコン(SiN)、酸窒化シリコン(SiON)、炭化ケイ素(SiC),炭素含有酸化シリコン(SiOC),窒化アルミニウム(AlN),酸化アルミニウム(Al)等の材料で形成される。The first sealing layer 121 includes, for example, silicon oxide (SiO), silicon nitride (SiN), silicon oxynitride (SiON), silicon carbide (SiC), carbon-containing silicon oxide (SiOC), aluminum nitride (AlN), oxide It is made of a material such as aluminum (Al 2 O 3 ).

第2封止層123は、例えば、酸化アルミニウム(Al)、酸化シリコン(SiO)、窒化アルミニウム(AlN)、酸窒素アルミニウム(Al)等の材料で形成される。
4.製造方法
表示パネル10の製造工程を例示する。
The second sealing layer 123 is formed of a material such as aluminum oxide (Al 2 O 3 ), silicon oxide (SiO 2 ), aluminum nitride (AlN), or aluminum oxynitride (Al X O Y N Z ). .
4). Manufacturing Method The manufacturing process of the display panel 10 is illustrated.

図3から図5は、表示パネル10の製造工程の一例を示す図である。なお、図3から図5では、表示パネル10の一部を抜き出して模式的に示している。   3 to 5 are diagrams showing an example of the manufacturing process of the display panel 10. FIG. 3 to 5, a part of the display panel 10 is extracted and schematically shown.

表示パネル10は、(1)陽極を形成する工程(陽極形成工程)、(2)正孔注入層を形成する工程(正孔注入層形成工程)、(3)バンクを形成する工程(バンク形成工程)、(4)発光層を形成する工程(発光層形成工程)、(5)電子輸送層を形成する工程(電子輸送層形成工程)、(6)陰極を形成する工程(陰極形成工程)、(7)第1封止層を形成する工程(第1封止層形成工程)、(8)酸素曝露工程、(9)第2封止層を形成する工程(第2封止層形成工程)とを経て製造される。なお、上記の(1)陽極形成工程の前に、陽極を形成するべき基板101を準備する工程がある。   The display panel 10 includes (1) a step of forming an anode (anode formation step), (2) a step of forming a hole injection layer (hole injection layer formation step), and (3) a step of forming a bank (bank formation). Step), (4) Step of forming the light emitting layer (light emitting layer forming step), (5) Step of forming the electron transport layer (electron transport layer forming step), (6) Step of forming the cathode (cathode forming step) (7) Step of forming the first sealing layer (first sealing layer forming step), (8) Oxygen exposure step, (9) Step of forming the second sealing layer (second sealing layer forming step) ) And manufactured. In addition, there exists a process of preparing the board | substrate 101 which should form an anode before said (1) anode formation process.

ここで、正孔注入層形成工程から電子輸送層形成工程までの工程により発光機能層が形成さることから、正孔注入層形成工程から電子輸送層形成工程までの工程を「発光機能層形成工程」ともいう。   Here, since the light emitting functional layer is formed by the steps from the hole injection layer forming step to the electron transport layer forming step, the steps from the hole injection layer forming step to the electron transport layer forming step are referred to as “light emitting functional layer forming step. "

また、陽極形成工程が本発明の「第1工程」に、正孔注入層形成工程から電子輸送層形成工程まで(発光機能層形成工程)が本発明の「第2工程」に、陰極形成工程が本発明の「第3工程」に、第1封止層形成工程が本発明の「第4工程」に、酸素曝露工程が本発明の「第5工程」にそれぞれ相当している。   The anode forming step is the “first step” of the present invention, the hole injection layer forming step to the electron transport layer forming step (light emitting functional layer forming step) is the “second step” of the present invention, and the cathode forming step. Corresponds to the “third step” of the present invention, the first sealing layer forming step corresponds to the “fourth step” of the present invention, and the oxygen exposure step corresponds to the “fifth step” of the present invention.

各工程について説明する。
(1)陽極形成工程
TFT基板103に層間絶縁膜105が形成されている基板101上に、陽極107の材料である金属膜、例えばアルミニウム(Al)膜を成膜する。アルミニウム膜の成膜には、例えばスパッタリング法や真空蒸着法などの真空成膜法を用いることができる。
Each step will be described.
(1) Anode formation step A metal film, for example, an aluminum (Al) film, which is a material of the anode 107, is formed on the substrate 101 on which the interlayer insulating film 105 is formed on the TFT substrate 103. For forming the aluminum film, for example, a vacuum film forming method such as a sputtering method or a vacuum vapor deposition method can be used.

アルミニウム膜の成膜後、例えばフォトリソグラフィでパターニングすることにより、行列状に形成された陽極107を得る(図3の(a)参照)。陽極107の膜厚は、例えば100[nm]〜200[nm]である。
(2)正孔注入層形成工程
行列状に陽極107が形成されたTFT基板101の上面に、例えば酸化タングステン(WOx)を含む組成物を用いて、金属酸化物膜である酸化タングステン膜を成膜する(図3の(b)参照)。
After the aluminum film is formed, patterning is performed by, for example, photolithography to obtain the anodes 107 formed in a matrix (see FIG. 3A). The film thickness of the anode 107 is, for example, 100 [nm] to 200 [nm].
(2) Hole injection layer forming step A tungsten oxide film, which is a metal oxide film, is formed on the upper surface of the TFT substrate 101 on which the anodes 107 are formed in a matrix using a composition containing, for example, tungsten oxide (WOx). A film is formed (see FIG. 3B).

正孔注入層109の膜厚は、例えば1[nm]〜10[nm]であり、正孔注入層109の成膜には、スパッタリング法や真空蒸着法などの真空成膜法を用いることができる。
(3)バンク形成工程
まず、基板101に形成されている正孔注入層109上に絶縁性有機材料からなるバンク材料層を形成する。バンク材料層の形成は、例えば塗布等により行うことができる。その後、バンク材料層上に所定形状の開口部を持つマスクを重ね、マスクの上から感光させた後、余分なバンク材料層を現像液で洗い出す。これによりバンク材料層のパターニングが完了し、バンク111が完成する(図3の(c)参照)。
The film thickness of the hole injection layer 109 is, for example, 1 [nm] to 10 [nm], and the hole injection layer 109 is formed by using a vacuum film formation method such as a sputtering method or a vacuum evaporation method. it can.
(3) Bank Formation Step First, a bank material layer made of an insulating organic material is formed on the hole injection layer 109 formed on the substrate 101. The bank material layer can be formed, for example, by coating. Thereafter, a mask having an opening having a predetermined shape is overlaid on the bank material layer, and after exposing the mask from above, the excess bank material layer is washed out with a developer. Thereby, the patterning of the bank material layer is completed, and the bank 111 is completed (see FIG. 3C).

バンク111の正孔注入層109の上面からの高さは、例えば1[μm]〜2[μm]である。
(4)発光層形成工程
バンク111で区画された各領域内に、例えばインクジェット法により、発光材料を含む組成物インクを滴下し、その組成物インクを乾燥させて発光層113を形成する(図4の(a)参照)。発光層113の膜厚は、例えば10[nm]〜100[nm]である。
(5)電子輸送層形成工程
発光層113の形成後、例えばニトロ置換フルオレノン誘導体からなる誘導体層を発光層113が形成された基板101上に成膜する。成膜には、スパッタリング法や真空蒸着法などの真空成膜法を用いることができる(図4の(b)参照)。
The height of the bank 111 from the upper surface of the hole injection layer 109 is, for example, 1 [μm] to 2 [μm].
(4) Light-Emitting Layer Formation Step A composition ink containing a light-emitting material is dropped into each region partitioned by the bank 111 by, for example, an inkjet method, and the composition ink is dried to form the light-emitting layer 113 (FIG. 4 (a)). The film thickness of the light emitting layer 113 is, for example, 10 [nm] to 100 [nm].
(5) Electron Transport Layer Formation Step After the formation of the light emitting layer 113, a derivative layer made of, for example, a nitro-substituted fluorenone derivative is formed on the substrate 101 on which the light emitting layer 113 is formed. For film formation, a vacuum film formation method such as a sputtering method or a vacuum evaporation method can be used (see FIG. 4B).

その後、電子注入性を向上させるために、バリウム(Ba)を2[wt%]〜30[wt%]程度ドープする。電子輸送層の膜厚は、例えば0.5[nm]〜50[nm]である。
(6)陰極形成工程
電子輸送層115の形成後、透明な金属膜、例えばITO膜を成膜して陰極117を形成する。ITO膜の成膜には、スパッタリング法や真空蒸着法などの真空成膜法を用いることができる(図4の(c)参照)。陰極117の膜厚は、例えば10[nm]〜200[nm]である。
(7)第1封止層形成工程
陰極117の成形後、金属酸化膜、例えば酸化シリコン(SiO)膜を成膜して第1封止層121を形成する。酸化シリコン膜の成膜には、スパッタリング法、真空蒸着膜法などの真空成膜法を用いることができる(図5の(a)参照)。第1封止層121の膜厚は、例えば5[nm]〜200[nm]である。
(8)酸素曝露工程
第1封止層121が形成されたTFT基板103を酸素雰囲気下に曝露させる。このとき、後述するが、電子輸送層115が酸素雰囲気中に曝露している場合、曝露された部分(本発明の「導電層の一部領域」及び「酸素雰囲気に曝露されている導電層部分」に相当する。)に酸化膜が形成される。曝露時間は、数[sec]から数十[sec]である。
(9)第2封止層形成工程
酸素曝露工程後、酸化アルミニウム(Al)膜を成膜して第2封止層123を形成する。酸化アルミニウム膜は、膜を構成する構成材料を原子の状態で堆積させる原子層堆積法(ALD:Atomic Layer Deposition)を利用している。
Thereafter, in order to improve the electron injection property, barium (Ba) is doped by about 2 [wt%] to 30 [wt%]. The film thickness of the electron transport layer is, for example, 0.5 [nm] to 50 [nm].
(6) Cathode formation step After the formation of the electron transport layer 115, a transparent metal film, for example, an ITO film is formed to form the cathode 117. For forming the ITO film, a vacuum film forming method such as a sputtering method or a vacuum vapor deposition method can be used (see FIG. 4C). The film thickness of the cathode 117 is, for example, 10 [nm] to 200 [nm].
(7) First Sealing Layer Formation Step After forming the cathode 117, a metal oxide film, for example, a silicon oxide (SiO) film is formed to form the first sealing layer 121. For the formation of the silicon oxide film, a vacuum film formation method such as a sputtering method or a vacuum vapor deposition film method can be used (see FIG. 5A). The film thickness of the first sealing layer 121 is, for example, 5 [nm] to 200 [nm].
(8) Oxygen exposure step The TFT substrate 103 on which the first sealing layer 121 is formed is exposed in an oxygen atmosphere. At this time, as will be described later, when the electron transport layer 115 is exposed to an oxygen atmosphere, the exposed portion (the “partial region of the conductive layer” of the present invention and the conductive layer portion exposed to the oxygen atmosphere). Is equivalent to "."), An oxide film is formed. The exposure time is several [sec] to several tens [sec].
(9) Second sealing layer formation step After the oxygen exposure step, an aluminum oxide (Al 2 O 3 ) film is formed to form the second sealing layer 123. The aluminum oxide film uses an atomic layer deposition (ALD) method in which constituent materials constituting the film are deposited in an atomic state.

本例では、第2封止層123として、酸化アルミニウム膜を用いており、構成材料としてトリメチルアルミニウム(TMAであり、以下、単に「TMA」とする。)を用い、酸化剤としてOプラズマを用いている。In this example, an aluminum oxide film is used as the second sealing layer 123, trimethylaluminum (TMA, hereinafter simply referred to as “TMA”) is used as a constituent material, and O 2 plasma is used as an oxidizing agent. Used.

成膜は、TMAの導入、パージにより余剰分子の取り除き(以下、単に「パージ」という。)、Oプラズマ照射、パージの処理を1サイクルとし、数百回繰り返すことで行われる。TMAの導入、Oプラズマ照射およびパージは、数100[msec]〜200[sec]行われる
第2封止層123の膜厚は、例えば5[nm]〜200[nm]である。
5.電子輸送層109上に異物が付着した場合
表示パネル10は、クリーンな雰囲気中で製造される。しかしながら、製造工程中に表示パネル10への異物混入をゼロにすることは困難である。
The film formation is performed by introducing TMA and removing excess molecules by purging (hereinafter, simply referred to as “purge”), O 2 plasma irradiation, and purging processing as one cycle and repeating several hundred times. The introduction of TMA, the O 2 plasma irradiation and the purge are performed for several hundreds [msec] to 200 [sec]. The film thickness of the second sealing layer 123 is, for example, 5 [nm] to 200 [nm].
5. When a foreign substance adheres on the electron carrying layer 109 The display panel 10 is manufactured in a clean atmosphere. However, it is difficult to make foreign matter into the display panel 10 zero during the manufacturing process.

図6は、電子輸送層形成後に異物が付着した状態を示す図である。   FIG. 6 is a diagram illustrating a state in which foreign matter has adhered after the formation of the electron transport layer.

異物130が同図に示すように付着し、封止層(ここでの封止層は第1封止層121である。)がCVD法により形成された層だけであると、異物130の影となり、陰極117、封止層(第1封止層121)が異物130の周辺に堆積されず、溝132が形成されてしまう。つまり、電子輸送層115、陰極117が封止層(第1封止層121)により封止されずに露出することとなり、陰極117には不所望の開口が設けられることとなる。   The foreign material 130 adheres as shown in the figure, and if the sealing layer (the sealing layer here is the first sealing layer 121) is only the layer formed by the CVD method, the shadow of the foreign material 130 is affected. Thus, the cathode 117 and the sealing layer (first sealing layer 121) are not deposited around the foreign material 130, and the groove 132 is formed. That is, the electron transport layer 115 and the cathode 117 are exposed without being sealed by the sealing layer (first sealing layer 121), and an undesired opening is provided in the cathode 117.

封止層(第1封止層121)よりも下方の層が露出すると、上述したように、水分等のガスの侵入経路が溝132に沿って形成されることとなり、例えば、ガラス基板と接合するための樹脂材料を塗布した際に、溝132からガスが電子輸送層115、陰極117の内部に侵入して、パネルの表示欠陥を招くおそれがある。   When the layer below the sealing layer (first sealing layer 121) is exposed, a gas intrusion path of moisture or the like is formed along the groove 132 as described above. For example, it is bonded to a glass substrate. When a resin material is applied, the gas may enter the electron transport layer 115 and the cathode 117 from the groove 132 and cause display defects of the panel.

さらに、異物130が導電性を有する場合、電子輸送層115の電気的特性が大きく変化し、例えば、発光ムラ等を生じる。   Furthermore, when the foreign material 130 has conductivity, the electrical characteristics of the electron transport layer 115 are greatly changed, and, for example, uneven light emission occurs.

しかしながら、本実施の形態で説明した製造方法では、上記不具合が生じるのを抑制することができる。以下、その理由を、上記の製造工程で表示パネル10を製造した場合の異物付着部分の状態を示しながら説明する。   However, the manufacturing method described in this embodiment can suppress the occurrence of the above problems. Hereinafter, the reason for this will be described with reference to the state of the foreign matter adhering portion when the display panel 10 is manufactured in the above manufacturing process.

表示パネル10は、図6に示す異物130が電子輸送層115に付着した状態であっても、電子輸送層形成工程以降の工程がそのまま順次行われる。   In the display panel 10, even after the foreign material 130 shown in FIG. 6 is attached to the electron transport layer 115, the steps after the electron transport layer formation step are sequentially performed as they are.

図7は、製造工程中の異物付着部分の状態を説明する図である。
(1)第1封止層形成工程まで
表示パネル10は、異物130が付着した状態で、各形成工程が行われる。同図の(a)は、第1封止層形成工程が終了した状態を示している。
FIG. 7 is a diagram for explaining a state of a foreign matter adhesion portion during the manufacturing process.
(1) Up to the first sealing layer forming step Each forming step is performed on the display panel 10 with the foreign matter 130 attached. (A) of the figure has shown the state which the 1st sealing layer formation process was complete | finished.

同図の(a)に示すように、電子輸送層115に異物130が付着すると、本来、電子輸送層115上に形成されるべき陰極117、第1封止層121が電子輸送層115上に形成されずに、異物130の上面に形成される。   As shown in FIG. 5A, when the foreign material 130 adheres to the electron transport layer 115, the cathode 117 and the first sealing layer 121 that should be originally formed on the electron transport layer 115 are formed on the electron transport layer 115. It is formed on the upper surface of the foreign material 130 without being formed.

なお、異物上に形成されている各層、つまり、電子輸送層115、陰極117及び第1封止層121と同じ材料で形成された各層は、発光に関する機能や発光する部分を保護する機能を有していないため、これらの層は、電子輸送層用膜115b、陰極用膜117b及び第1封止層用膜121bとする。   Note that each layer formed on the foreign material, that is, each layer formed of the same material as the electron transport layer 115, the cathode 117, and the first sealing layer 121 has a function related to light emission and a function of protecting a light emitting part. Therefore, these layers are an electron transport layer film 115b, a cathode film 117b, and a first sealing layer film 121b.

このように、異物130の周辺には、異物130(異物130に形成された陰極用膜117b及び第1封止層用膜121bを含む。)と、異物周辺に形成された陰極117、第1封止層121との間に溝132が存在することになる。
(2)酸素曝露工程
第1封止層形成工程後、上述したように、酸素曝露工程を行う。これにより、酸素雰囲気下に露出している電子輸送層115が酸化される(酸化膜134として図示する。)。特に、電子輸送層115にBaがドーピングされている場合は、電子輸送層115は酸化されやすく、異物130との付着面も酸化される。なお、付着面も酸化されると異物130が電子輸送層115に固着される。この状態が、図7の(b)である。
Thus, around the foreign material 130, the foreign material 130 (including the cathode film 117 b and the first sealing layer film 121 b formed on the foreign material 130), the cathode 117 formed around the foreign material, and the first. A groove 132 exists between the sealing layer 121 and the sealing layer 121.
(2) Oxygen exposure process After a 1st sealing layer formation process, as above-mentioned, an oxygen exposure process is performed. As a result, the electron transport layer 115 exposed in the oxygen atmosphere is oxidized (illustrated as an oxide film 134). In particular, when Ba is doped in the electron transport layer 115, the electron transport layer 115 is easily oxidized, and the adhesion surface with the foreign material 130 is also oxidized. Note that the foreign matter 130 is fixed to the electron transport layer 115 when the attached surface is also oxidized. This state is shown in FIG.

これにより、異物130が導電性を有する場合は、電子輸送層115における異物130の付着部分を含む周辺部分が酸化されるので、導電性の異物130に対して絶縁性が確保される。
(3)第2封止層形成工程
第2封止層形成工程は、上述したように、酸素曝露工程の後、ALD法により酸化アルミニウム膜(123)を成膜する。この状態が図7の(c)である。
As a result, when the foreign matter 130 has conductivity, the peripheral portion including the attached portion of the foreign matter 130 in the electron transport layer 115 is oxidized, so that insulation against the conductive foreign matter 130 is ensured.
(3) Second sealing layer forming step In the second sealing layer forming step, as described above, the aluminum oxide film (123) is formed by the ALD method after the oxygen exposure step. This state is shown in FIG.

ALD法では、原子一層毎に堆積することができる。このため、図7の(a)に示すように、異物130の周辺に溝132が存在しても、その溝132の内部にまで原子が入り込み堆積される。   In the ALD method, deposition can be performed for each atomic layer. Therefore, as shown in FIG. 7A, even if the groove 132 exists around the foreign material 130, atoms enter and accumulate inside the groove 132.

これにより、電子輸送層115の上面であって異物130が付着している部分(異物と接触している部分)の周辺で、陰極117、第1封止層121が形成されていない露出部分にも第2封止層123が形成され、露出部分が第2封止層123で封止される。   As a result, on the exposed portion where the cathode 117 and the first sealing layer 121 are not formed around the portion on the upper surface of the electron transport layer 115 where the foreign matter 130 is attached (the portion in contact with the foreign matter). The second sealing layer 123 is formed, and the exposed portion is sealed with the second sealing layer 123.

このように、本実施の形態に係る製造方法では、電子輸送層115の上面に異物130が付着しても、その付着による溝132内にまでに第2封止層123が堆積し、その後の工程で、電子輸送層115、陰極117、第1封止層121に水分等のガスが侵入するのを防止することができる。   Thus, in the manufacturing method according to the present embodiment, even if the foreign matter 130 adheres to the upper surface of the electron transport layer 115, the second sealing layer 123 is deposited up to the groove 132 due to the adhesion, In the process, gas such as moisture can be prevented from entering the electron transport layer 115, the cathode 117, and the first sealing layer 121.

特に、第2封止層123は、第1封止層121よりも膜厚が薄く形成されるが、原子単位で堆積されるため、緻密な膜が得られ(所謂、ピンホールフリーである。)、結果的に高い封止性能を得ることができる。   In particular, the second sealing layer 123 is formed thinner than the first sealing layer 121, but is deposited in units of atoms, so that a dense film can be obtained (so-called pinhole-free). ) As a result, high sealing performance can be obtained.

さらに、異物130が導電性を有する場合であっても、電子輸送層115において表面に露出している部分に酸化膜134が形成されるため、結果的にこれらに対して絶縁性が確保されることとなり、電気特性の変化を抑制することができる。   Furthermore, even when the foreign matter 130 has conductivity, the oxide film 134 is formed on the surface of the electron transport layer 115 exposed on the surface, and as a result, insulation is secured against these. As a result, changes in electrical characteristics can be suppressed.

さらに、酸化膜134上や第1封止層121上、さらには異物130や異物130に堆積した陰極用膜117b、第1封止層用膜121b上に第2封止層123が形成されるため、溝部132への第2封止層123の充填と異物130の完全な絶縁化を行うことができる。これにより。酸化膜134への水分等のガスの侵入を防ぐことができる。   Further, the second sealing layer 123 is formed on the oxide film 134, the first sealing layer 121, the foreign material 130, the cathode film 117b deposited on the foreign material 130, and the first sealing layer film 121b. Therefore, the second sealing layer 123 can be filled into the groove 132 and the foreign matter 130 can be completely insulated. By this. Intrusion of gas such as moisture into the oxide film 134 can be prevented.

また、異物130が導電性を有する場合、電子輸送層115の酸化により、異物130が電子輸送層115に固着され、別の工程で、異物130が飛散して他の部位に付着して、表示欠陥等を招くのを未然に防ぐことができる。
<変形例>
以上、本発明に係る発光素子及びその製造方法について説明したが、本発明は上記実施の形態に限られないことは勿論である。例えば、以下のような変形例が考えられる。
1.表示パネル
(1)ピクセル
実施の形態では、1ピクセルが、発光色の異なる3つ(3種類)のサブピクセルにより構成されていたが、3つ(3種類)に限定する必要はなく、例えば、1色(モノクロ)のサブピクセルで1ピクセルを構成しても良いし、例えば、発光色の異なる4つ以上のサブピクセルにより1ピクセルを構成しても良い。なお、発光色が異なると、発光層を構成する材料等が異なるが、発光層が陽極と陰極とに挟まれるという基本的構成は同じである。
(2)陽極
実施の形態では、陽極107の表面に正孔注入層109が形成されていたが、例えば、陽極107の表面に導電層を形成し、当該導電層の上面及び導電層が形成されていない基板101の上面とに正孔注入層109を形成するようにしても良い。ここでの導電層は、製造過程において陽極107が自然酸化するのを防止する保護層として機能する。
(3)発光層
正孔注入層109の上面に発光層113が形成されていたが、例えば、発光層113と正孔注入層109との間に正孔輸送層を設けても良い。正孔輸送層は、正孔注入層109から注入された正孔を発光層113へと輸送する機能を有する。
In addition, when the foreign matter 130 has conductivity, the foreign matter 130 is fixed to the electron transport layer 115 due to oxidation of the electron transport layer 115, and the foreign matter 130 is scattered and attached to other parts in another process. It is possible to prevent the occurrence of defects and the like.
<Modification>
Although the light emitting device and the manufacturing method thereof according to the present invention have been described above, the present invention is not limited to the above embodiment. For example, the following modifications can be considered.
1. Display Panel (1) Pixel In the embodiment, one pixel is composed of three (three types) sub-pixels having different emission colors, but it is not necessary to limit the number to three (three types). One pixel may be composed of one color (monochrome) subpixel, or one pixel may be composed of, for example, four or more subpixels having different emission colors. In addition, although the material etc. which comprise a light emitting layer differ if light emission colors differ, the basic composition that a light emitting layer is pinched | interposed into an anode and a cathode is the same.
(2) Anode In the embodiment, the hole injection layer 109 is formed on the surface of the anode 107. For example, a conductive layer is formed on the surface of the anode 107, and the upper surface of the conductive layer and the conductive layer are formed. The hole injection layer 109 may be formed on the upper surface of the substrate 101 that is not formed. The conductive layer here functions as a protective layer that prevents the anode 107 from being naturally oxidized during the manufacturing process.
(3) Light-Emitting Layer Although the light-emitting layer 113 is formed on the upper surface of the hole injection layer 109, for example, a hole transport layer may be provided between the light-emitting layer 113 and the hole injection layer 109. The hole transport layer has a function of transporting holes injected from the hole injection layer 109 to the light emitting layer 113.

正孔輸送層は、例えば、特開平5−163488号に記載のトリアゾール誘導体、オキサジアゾール誘導体、イミダゾール誘導体、ポリアリールアルカン誘導体、ピラゾリン誘導体及びピラゾロン誘導体、フェニレンジアミン誘導体、アリールアミン誘導体、アミノ置換カルコン誘導体、オキサゾール誘導体、スチリルアントラセン誘導体、フルオレノン誘導体、ヒドラゾン誘導体、スチルベン誘導体、ポリフィリン化合物、芳香族第三級アミン化合物及びスチリルアミン化合物、ブタジエン化合物、ポリスチレン誘導体、ヒドラゾン誘導体、トリフェニルメタン誘導体、テトラフェニルベンジン誘導体等である。特に好ましくは、ポリフィリン化合物、芳香族第三級アミン化合物及びスチリルアミン化合物で形成される。
(4)封止部
実施の形態では、第1封止層121の上面に第2封止層123が形成されていたが、例えば、第2封止層123の上面に第3封止層を形成しても良い。この場合、第3の封止層は、第1封止層121と同じ材料・成形方法で成膜しても良いし、他の方法、例えば、化学気相成長法(CVD)法により成膜しても良い。
The hole transporting layer includes, for example, triazole derivatives, oxadiazole derivatives, imidazole derivatives, polyarylalkane derivatives, pyrazoline derivatives and pyrazolone derivatives, phenylenediamine derivatives, arylamine derivatives, amino-substituted chalcones described in JP-A-5-163488. Derivatives, oxazole derivatives, styrylanthracene derivatives, fluorenone derivatives, hydrazone derivatives, stilbene derivatives, porphyrin compounds, aromatic tertiary amine compounds and styrylamine compounds, butadiene compounds, polystyrene derivatives, hydrazone derivatives, triphenylmethane derivatives, tetraphenylbenzines Derivatives and the like. Particularly preferably, it is formed of a porphyrin compound, an aromatic tertiary amine compound and a styrylamine compound.
(4) Sealing portion In the embodiment, the second sealing layer 123 is formed on the top surface of the first sealing layer 121. For example, a third sealing layer is formed on the top surface of the second sealing layer 123. It may be formed. In this case, the third sealing layer may be formed by the same material and molding method as the first sealing layer 121, or may be formed by another method, for example, a chemical vapor deposition (CVD) method. You may do it.

また、実施の形態では、ALD法を利用した第2封止層を第1封止層上に形成していたが、この場合、酸化曝露工程は発光機能層形成工程後に行われる。
2.製造方法
(1)第2封止層
実施の形態では、第2封止層123は電子層堆積法(ADL法)により形成されている。第2封止層123が酸化アルミニウムで構成される場合、構成材料としてトリメチルアルミニウム(TMAであり、以下、単に「TMA」とする。)を用いていたが、他の構成材料も利用することができる。
In the embodiment, the second sealing layer using the ALD method is formed on the first sealing layer. In this case, the oxidation exposure step is performed after the light emitting functional layer forming step.
2. Manufacturing Method (1) Second Sealing Layer In the embodiment, the second sealing layer 123 is formed by an electronic layer deposition method (ADL method). When the second sealing layer 123 is composed of aluminum oxide, trimethylaluminum (TMA, hereinafter simply referred to as “TMA”) is used as a constituent material, but other constituent materials may be used. it can.

他の材料としては、例えば、TEA(トリエチルアルミニウム)、DMAH(ジメチルアルミニウム水素化物)等のアルキル系金属を用いることができる。   As other materials, for example, alkyl-based metals such as TEA (triethylaluminum) and DMAH (dimethylaluminum hydride) can be used.

また、他の材料で第2封止層を構成しても良い。他の材料としては、酸化シリコン(SiO)、窒化アルミニウム(AlN)、酸窒素化合物(Al)等がある。例えば、酸窒素化合物(Al)で構成する場合、構成材料として、例えば、TMA,TEA、DMAHと窒素化合物とを反応させることで実施できる。Moreover, you may comprise a 2nd sealing layer with another material. Other materials include silicon oxide (SiO 2 ), aluminum nitride (AlN), oxynitrogen compound (Al X O Y N Z ), and the like. For example, when configuring an acid nitrogen compound (Al X O Y N Z) , as a material, for example, it is carried out by reacting TMA, TEA, a DMAH and nitrogen compounds.

さらに、他の方法により電子層単位で形成しても良い。他の方法としては、原子層成長法(ALE法)がある。
(2)酸素曝露工程
酸素曝露工程では、第1封止層121が形成されている基板101を酸素雰囲気中に晒していたが、第1封止層121の形成後に表面に露出している電子輸送層115や陰極117等を酸化させることができれば、他の方法であっても良い。
Furthermore, you may form per electronic layer by another method. As another method, there is an atomic layer growth method (ALE method).
(2) Oxygen exposure step In the oxygen exposure step, the substrate 101 on which the first sealing layer 121 is formed is exposed to an oxygen atmosphere, but the electrons exposed on the surface after the first sealing layer 121 is formed. Other methods may be used as long as the transport layer 115 and the cathode 117 can be oxidized.

また、酸素雰囲気は、酸化させることができれば良く、他の気体(窒素、アルゴン等)が含まれていても良い。   The oxygen atmosphere only needs to be oxidized and may contain other gases (nitrogen, argon, etc.).

また、酸化曝露工程は、発光機能層を形成した後に表面に露出している導電材料からなる層を酸化できれば良く、例えば、発光機能層形成工程後に行われば良い。具体的には、第1封止層121を形成する前に実施しても良い。   Moreover, the oxidation exposure process should just be performed after the light emitting functional layer formation process, for example, if the layer which consists of a conductive material exposed on the surface after forming a light emitting functional layer can be oxidized. Specifically, it may be performed before the first sealing layer 121 is formed.

なお、陰極として透明導電膜であるITOを利用している場合、酸素曝露工程で陰極に酸化膜は形成されにくいが、金属等の酸化し得る材料で陰極を構成した場合、酸化曝露工程で酸化膜が形成される。
3.開口
実施の形態では、第2電極の不所望の開口は、発光機能層の導電層への異物の付着に起因しているが、他の要因でも生じる。他の要因としては歪なバンクの形状等がある。
When ITO, which is a transparent conductive film, is used as the cathode, an oxide film is difficult to be formed on the cathode in the oxygen exposure step. However, when the cathode is made of an oxidizable material such as a metal, it is oxidized in the oxidation exposure step. A film is formed.
3. Opening In the embodiment, the undesired opening of the second electrode is caused by the adhesion of foreign matter to the conductive layer of the light emitting functional layer, but may be caused by other factors. Other factors include a distorted bank shape.

本発明は、表示装置に利用可能である。   The present invention is applicable to a display device.

10 表示パネル
101 基板
107 陽極
113 発光層
117 陰極
121 第1封止層
123 第2封止層
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 Display panel 101 Substrate 107 Anode 113 Light emitting layer 117 Cathode 121 1st sealing layer 123 2nd sealing layer

Claims (9)

第1電極と、
前記第1電極上に形成され且つ導電層を最上層に有する発光機能層と、
前記導電層の一部領域に対応する部分に不所望の開口を有する状態で前記導電層上面に形成された第2電極と、
前記第2電極における前記開口を構成する周面を除いて前記第2電極上に形成された封止層と
を備え、
前記導電層の前記一部領域が酸化されている
発光素子。
A first electrode;
A light emitting functional layer formed on the first electrode and having a conductive layer as an uppermost layer;
A second electrode formed on the upper surface of the conductive layer with an undesired opening in a portion corresponding to a partial region of the conductive layer;
A sealing layer formed on the second electrode except for a peripheral surface constituting the opening in the second electrode;
A light emitting element in which the partial region of the conductive layer is oxidized.
前記第2電極の前記周面と前記封止層とが、原子層単位で形成された第2封止層により被覆されている
請求項1に記載の発光素子。
The light emitting device according to claim 1, wherein the peripheral surface of the second electrode and the sealing layer are covered with a second sealing layer formed in atomic layer units.
前記導電層の一部領域に異物が付着され、
前記異物は、前記一部領域の酸化により固着されている
請求項1又は2に記載の発光素子。
Foreign matter is attached to a part of the conductive layer,
The light emitting device according to claim 1, wherein the foreign matter is fixed by oxidation of the partial region.
前記導電層の一部領域は、前記異物の付着部分を除いて、前記第2封止層により被覆されている
請求項3に記載の発光素子。
The light emitting element according to claim 3, wherein a part of the conductive layer is covered with the second sealing layer except for a portion where the foreign matter is attached.
前記異物は、第2電極と同じ材料の層と、封止層と同じ材料の層とが当該異物上に形成された状態で、前記第2封止層により被覆されている
請求項4に記載の発光素子。
The said foreign material is coat | covered with the said 2nd sealing layer in the state in which the layer of the same material as the 2nd electrode and the layer of the same material as the sealing layer were formed on the said foreign material. Light emitting element.
前記発光機能層は有機発光層を含み、前記導電層は前記発光層に電子を輸送する電子輸送層である
請求項1から5の何れか1項に記載の発光素子。
The light emitting device according to claim 1, wherein the light emitting functional layer includes an organic light emitting layer, and the conductive layer is an electron transport layer that transports electrons to the light emitting layer.
第1電極、発光層と導電層とを含む発光機能層、第2電極及び封止層をこの順で基板上に備える発光素子の製造方法において、
基板上に第1電極を形成する第1工程と、
前記第1工程で形成された第1電極上に発光機能層を形成する第2工程と、
前記第2工程で形成された発光機能層上に第2電極を形成する第3工程と、
前記第3工程で形成された第2電極上に封止層を形成する第4工程と、
前記第4工程後に、基板を酸素雰囲気下に晒して、酸素雰囲気に曝露されている導電層部分の酸化を促進する第5工程と
を行う
発光素子の製造方法。
In the method for manufacturing a light-emitting element including the first electrode, the light-emitting functional layer including the light-emitting layer and the conductive layer, the second electrode, and the sealing layer in this order on the substrate,
A first step of forming a first electrode on a substrate;
A second step of forming a light emitting functional layer on the first electrode formed in the first step;
A third step of forming a second electrode on the light emitting functional layer formed in the second step;
A fourth step of forming a sealing layer on the second electrode formed in the third step;
A method of manufacturing a light-emitting element, comprising: after the fourth step, performing a fifth step of exposing the substrate to an oxygen atmosphere to promote oxidation of the conductive layer portion exposed to the oxygen atmosphere.
前記第5工程は、数百msecから数secの間酸素を通気させる
請求項7に記載の発光素子の製造方法。
The method of manufacturing a light emitting element according to claim 7, wherein in the fifth step, oxygen is ventilated for several hundred milliseconds to several seconds.
前記第5工程の後に、原子層成長法又は原子層堆積法により第2封止層を形成する
請求項7又は8に記載の発光素子の製造方法。
The method for manufacturing a light emitting element according to claim 7, wherein the second sealing layer is formed by an atomic layer growth method or an atomic layer deposition method after the fifth step.
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