JPWO2007080984A1 - 照明装置および液晶表示装置 - Google Patents
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Abstract
Description
液晶表示パネルは、自発光しないので、外部からの照明光を利用して画像情報を可視表示する。液晶表示パネルを照明する機構の違いから、液晶表示装置には、反射型と透過型とがある。反射型の液晶表示装置は、外光を利用するので、夜間の屋外および暗い屋内などの暗い場所では画像情報を可視表示することができない。このような暗い場所において画像情報を可視表示するために、透過型の液晶表示装置は、液晶表示パネルを裏面から照明するバックライトと称される照明装置を備える。
バックライトには、冷陰極蛍光灯(Cold Cathode Fluorescent Lamp:略称CCFL)が広く用いられている。冷陰極蛍光灯は、外形が大きいので、バックライトの小形化が困難であり、また駆動回路に、昇圧回路および安定器などを必要とするので、バックライトの構成が複雑になるという問題がある。この問題を解決するために、青色LED(Light Emitting Diode:略称LED)の実用化に伴なって、冷陰極蛍光灯と比べて小形化が容易で、かつ駆動回路に昇圧回路および安定器などを必要としないLEDを用いた照明装置が、バックライトとして提案されている。
従来の技術では、複数のLEDを含んで構成される照明装置がある(たとえば特開2003−162229号公報参照)。
また他の従来の技術では、液晶表示パネルに表示する文字情報と画像情報と写真情報とに基づいて輝度を制御する照明装置がある(たとえば特開2005−49631号公報参照)。
LEDは、CCFLに比べて光量が少ないので、多くの照明装置は、複数のLEDを含んで構成される。特に大型の液晶表示パネルを照明する照明装置は、照明するべき面が広いので、大型となり、数百個以上のLEDを必要とする。
各LEDの順方向電圧降下は、1.5V〜4.5Vである。各LEDの順方向電圧降下は、電流の変化に対する変化が少なく、定電圧特性を有する。各LEDから放出される光量は、流れる電流を調整することによって行われ、各LEDには、通常10mA〜100mAの電流が流される。
複数のLEDを並列に接続した構成の照明装置と、複数のLEDを直列に接続した構成の照明装置とには、それぞれ利点と欠点とがある。複数のLEDを並列に接続した場合、電源が供給すべき電圧は、1つのLEDの順方向電圧降下分だけでよく、1.5V〜4.5V程度でよいが、電源が供給すべき電流は、各LEDに流れる電流を加算した大きさとなる。電源が供給する電流が大きくなると、電源からLEDまでの途中の配線などによって電力が消費され、抵抗損失が大きくなる。たとえば500個のLEDを並列に接続した場合、各LEDに流れる電流を20mAとすると、電源が供給する電流が10A(500×20mA)にもなり、抵抗損失が大きくなる。
複数のLEDを直列に接続すると、電源が供給すべき電流は、1つのLEDに流れる電流だけでよく、10mA〜100mA程度でよいが、電源が供給すべき電圧は、各LEDの順方向電圧降下を加算した大きさとなる。この場合、高電圧の電源が必要となり、装置が複雑になる。たとえば500個のLEDを並列に接続した場合、各LEDの順方向電圧降下を4Vとすると、2kV(500×2V)の電圧の電源が必要となる。
抵抗損失の大きさと、電源の構成の複雑さとの兼ね合いから、一般的な照明装置は、直列に接続されたLEDから成る複数のLEDアレイを並列に接続して構成される。この場合、1つのLEDが故障して、オープンモード、すなわち電流が流れない非導通状態になると、故障したLEDを含むLEDアレイがオープンモードとなり、このLEDアレイの全てのLEDが消灯してしまう。
図11は、他の従来の技術の照明装置1の構成の一部を模式的に示す回路図である。この照明装置1は、2つのLED2,3を並列に接続し、この並列に接続された2つのLED2,3から成るLEDユニット4を直列に接続した構成を有する。LEDユニット4の一方のLED2が故障してオープンモードに変化したとしても、他方のLED3が導通状態であれば、このLEDユニット4がオープンモードに変化しないので、LEDアレイの全てのLED2,3が消灯することを防ぐことができる。
LEDの平均故障間隔が106時間であっても、数百個のLEDを有する照明装置では、数千時間に1つの割合でLEDが故障する可能性がある。図11に示す従来の技術の照明装置1では、LEDユニットの一方のLED2が故障してオープンモードに変化すると、故障した一方のLED2に流れていた電流が他方のLED3に流れるので、他方のLED3に流れる電流が大きくなり、他方のLED3の負荷が大きくなる。従来の技術の照明装置1では、LED2,3に印加される電圧を個別に測定することができないので、LED2,3の故障を検出することが難しく、LED2,3の故障に対応した対策を取ることが難しいという問題が生じる。
また、直列に接続されたLEDから成る複数のLEDアレイを並列に接続した場合、前述したように1つのLEDが故障して非導通状態になると、故障したLEDを含むLEDアレイの全てのLEDが消灯してしまうという問題がある。
また本発明の目的は、発光素子の故障の検出が容易な照明装置およびこの照明装置を備える液晶表示装置を提供することである。
本発明は、電圧を印加することによって発光する複数の発光素子が、相互に直列に接続されて形成される発光素子アレイと、
前記発光素子アレイの各発光素子に個別に並列に接続され、各発光素子が発光状態のときに印加される電圧よりも高い予め定める電圧が印加されたときに、電流が流れない非導通状態から電流が流れる導通状態に変化する複数の電流迂回素子と、
前記発光素子アレイに直列に接続され、各発光素子に電圧を印加する電源部とを含むことを特徴とする照明装置である。
また本発明は、電源部から各発光素子を経て接地部位にわたる接続経路上に接続される電圧検出用の複数の端子部をさらに含むことを特徴とする。
また本発明は、複数の前記発光素子アレイを含み、
前記各端子部は、
端子部本体と、
制御端子を有し、電源部から各発光素子を経て接地部位にわたる接続経路と前記端子部本体との間に接続され、制御端子に与えられる制御信号に応じて、非導通状態および導通状態が切換わるスイッチ素子とを含み、
互いに異なる発光素子アレイに接続される端子部の端子部本体が、相互に接続されることを特徴とする。
また本発明は、1つの前記発光素子アレイに接続される各端子部の制御端子は、相互に接続されることを特徴とする。
また本発明は、前記スイッチ素子は、MOS電界効果トランジスタを含むことを特徴とする。
また本発明は、前記スイッチ素子は、バイポーラトランジスタを含むことを特徴とする。
また本発明は、前記電源部は、定電流を供給する定電流源から成ることを特徴とする。
また本発明は、前記照明装置と、
照明装置の光を放射する一表面に対向して設けられる液晶表示パネルと、
前記端子部の電圧を測定する電圧測定部と、
電圧測定部の測定結果に基づいて各発光素子の発光状態を検出し、各発光素子の発光状態に基づいて前記液晶表示パネルの光の透過率を調整する制御部とを含むことを特徴とする液晶表示装置である。
図1は、本発明の実施の一形態の照明装置の回路構成を示す回路図である。
図2は、電源部Pの回路構成を示す回路図である。
図3は、照明装置の平面図である。
図4は、図3の切断面線IV−IVから見た照明装置の断面図である。
図5は、照明装置を備える液晶表示装置を模式的に示す斜視図である。
図6は、全ての発光素子Tが正常に発光している状態の照射面における照明装置および各発光素子Tからの光の強度を模式的に表す図である。
図7は、1つの発光素子Tが消灯した状態の照射面における照明装置および各発光素子Tからの光の強度を模式的に表す図である。
図8は、1つの発光素子Tが消灯状態の照射面における照明装置および各発光素子Tからの光の強度および液晶表示パネルの透過率を模式的に表す図である。
図9は、本発明のさらに他の実施の形態の照明装置の電源部Pの回路構成を示す回路図である。
図10は、本発明のさらに他の実施の形態の照明装置の一部の回路構成を示す回路図である。
図11は、他の従来の技術の照明装置の構成の一部を模式的に示す回路図である。
図1は、本発明の実施の一形態の照明装置10の回路構成を示す回路図である。照明装置10は、液晶表示装置21におけるバックライトに用いられる。照明装置10は、複数の発光素子アレイS1,S2,…,Si−1,Si(記号iは、2以上の整数)と、複数の電流迂回素子Uと、複数の端子部11と、複数の電源部P1,P2,…,Pi−1,Piとを含んで構成される。なお図1には、後述する液晶表示装置21に備えられる制御部22と、電圧測定部23とが示されている。
以後、発光素子アレイS1,S2,…,Si−1,Siを総称する場合、および発光素子アレイS1,S2,…,Si−1,Siのうちの不特定のものを示す場合、単に発光素子アレイSと記載する場合がある。また電源部P1,P2,…,Pi−1,Piを総称する場合、および電源部P1,P2,…,Pi−1,Piのうちの不特定のものを示す場合、単に電源部Pと記載する場合がある。
発光素子アレイSm(記号mは、正の整数)は、発光素子T(1,m),T(2,m),…,T(j−1,m),T(j,m)(記号jは、2以上の整数)が相互に直列に接続されて構成される。以後、発光素子アレイSを構成する複数の発光素子を総称する場合、および発光素子アレイSを構成する複数の発光素子のうちの不特定のものを示す場合、単に発光素子Tと記載する場合がある。図1には、i=3,j=3の場合の照明装置10を示している。
発光素子Tは、電圧を印加することによって発光する。本実施の形態では、発光素子Tは、LED(Light Emitting Diode:略称LED)によって実現される。発光素子Tは、たとえばアノードAと、p形半導体層と、n形半導体層と、カソードKとがこの順に積層されて構成される。アノードAとカソードKとは、金属材料および合金材料などの導電性を有する材料を用いて形成され、具体的には、金(Au)、金とゲルマニウムとの合金(AuGe)、金と亜鉛との合金(AuZn)、ニッケル(Ni)およびアルミニウム(Al)などによって形成される。n形半導体層およびp形半導体層は、ガリウム砒素(GaAs)、アルミニウムガリウム砒素(AlGaAs)、窒化ガリウム(GaN)、窒化アルミニウムガリウムインジウム(AlGaInN)、セレン化亜鉛(ZnSe)、およびインジウムガリウムリン(InGaP)などの半導体材料に不純物をドーピングしたものを用いて形成される。特に、照明装置10を液晶表示装置21のバックライトに使用する場合には、白色光を発生する必要があるので、通常は光の3原色である赤色、緑色および青色の3色をベースに混色を行い白色とする。演色性があまり重要視されない場合には、青色LEDに黄色色素を混合した白色ダイオードを使用することができる。逆に演色性がより重視される場合には、光の3原色に加え、黄色、シアン等のLEDを追加してもよい。発光素子Tのn形半導体層およびp形半導体層は、GaNなどの半導体材料に不純物をドーピングしたものを用いて形成される。
発光素子アレイSmの各発光素子Tは、順方向に相互に直列に接続される。すなわち発光素子T(n,m)(記号nは、1以上の整数)のカソードKと発光素子T(n+1,m)のアノードAとが電気的に接続される。LEDの順方向電圧降下は、LEDの発光色(発光波長)に依存する(赤:1.5V〜青紫:4.5V)ため、発光素子アレイSmは同じ発光色を持つLEDで構成することが好ましい。
発光素子Tが発光状態のときのアノードAとカソードKとの間の電圧である順方向電圧降下V1は、1.5V〜4.5V程度である。順方向電圧降下V1は、電流の変化に対する変化が少なく、定電圧特性を有する。また発光素子Tが故障すると、電流が流れる導通状態、すなわちショートモードから、電流が流れない非導通状態、すなわちオープンモードに変化する。
電流迂回素子Uは、各発光素子Tに個別に並列に接続される。以後、発光素子T(n,m)に個別に並列に接続される電流迂回素子Uを特定して示す場合、電流迂回素子U(n,m)と記載する場合がある。電流迂回素子Uは、予め定める電圧が印加されたときに、電流が流れない非導通状態から電流が流れる導通状態に変化する。この予め定める電圧は、発光素子Tが発光状態のときに印加される電圧よりも高い値に選ばれる。具体的には、予め定める電圧は、照明装置10の使用時における発光素子Tの順方向電圧降下V1よりも高い値に選ばれる。以後電流迂回素子Uが非導通状態から導通状態に変化するときの予め定める電圧を、絶縁破壊電圧V2と記載する場合がある。予め定める電圧が、順方向電圧降下V1よりも高い値に選ばれることによって、並列に接続された発光素子Tが正常に発光しているときには、電流迂回素子Uは、非導通状態を維持する。したがって並列に接続された発光素子Tが発光状態のときには、電流迂回素子Uに電流が流れず、電流迂回素子Uによって電力が消費されない。
電流迂回素子Uは、本実施の形態では2端子素子であって、アンチヒューズよって実現される。電流迂回素子Uは、導電層と、ポリシリコン層と、電気絶縁層とポリシリコン層と、導電層とがこの順で積層されて構成される。導電層は、金属材料および合金材料などの導電性を有する材料を用いて形成され、具体的には、金(Au)、金とゲルマニウムとの合金(AuGe)、金と亜鉛との合金(AuZn)、ニッケル(Ni)およびアルミニウム(Al)などによって形成される。ポリシリコン層は、導電性を有するポリシリコンによって形成される。電気絶縁層は、電気絶縁性を有し、酸化シリコン(SiO2)などによって形成される。電流迂回素子Uは、半導体プロセスによって小形に形成される。このような小形の電流迂回素子Uを用いることによって、照明装置10の小形化が実現される。本実施の形態では、電流迂回素子U(n,m)の一方の導電層は、発光素子T(n,m)のアノードAに電気的に接続され、電流迂回素子U(n,m)の他方の導電層は、発光素子T(n,m)のカソードKに電気的に接続される。
各電源部Pは、各発光素子アレイSに個別に直列に接続され、各発光素子Tに電圧を印加する。具体的には、電源部Pmは、発光素子アレイSmに直列に接続される。電源部Pmの高電圧側の端子15は、発光素子アレイSmの発光素子T(1,m)のアノードAに接続される。電源部Pは、本実施の形態では、定電流源として機能し、発光素子アレイSに定電流を供給する。
図2は、電源部Pの回路構成を示す回路図である。電源部Pは、接合形電界効果トランジスタ(Junction Field Effect Transistor:略称JFET)12と、抵抗器13とを含んで構成される。JFET12のドレインは、接地部位であるグランドに対して正電圧となる正電源に接続される。正電源は、JFET12のドレインに定電圧を印加する。
抵抗器13の一端は、JFET12のソースに接続され、抵抗器13の他端は、JFET12のゲートに接続される。すなわちJFET12のソースは、抵抗器13を介してゲートに接続される。また抵抗器13の他端は、発光素子T(1,m)のアノードAに接続される。
JFET12のドレインとソースとの間に流れる電流は、ゲートとソースとの間の電圧によって定まるので、抵抗器13の抵抗値を一定とすると、抵抗器13の他端を通って発光素子アレイSに流れる電流は、一定になる。すなわち電源部Pは、定電流源として機能し、発光素子アレイSのインピーダンスが変化したとしても、発光素子アレイSに一定の電流を流すことができる。電源部Pから発光素子アレイSに流れる電流は、抵抗器13の抵抗値に依存するので、この抵抗値を調整することによって発光素子アレイSに流れる電流、すなわち各発光素子Tに流れる電流を調整することができる。電源部Pは、たとえば10mA〜100mAの定電流を出力して発光素子アレイSに供給する。これによって、各発光素子Tには、10mA〜100mAの電流が流れる。
各端子部11は、端子部本体Xと、スイッチ素子Wとをそれぞれ含んで構成される。スイッチ素子Wは、制御信号が与えられる制御端子14を有する。本実施の形態では、スイッチ素子Wは、nチャンネル形MOSFET(Metal Oxide Semiconductor FET)によって実現される。前記制御端子14は、MOSFETのゲート19に対応する。
各端子部11のスイッチ素子Wのドレイン18は、電源部Pから各発光素子Tを経て接地部位であるグランドにわたる接続経路上に接続される。本実施の形態では、前記接続経路は、発光素子T(n,m)のアノードAと、発光素子T(n+1,m)のカソードKとが電気的に接続される経路と、発光素子T(1,m)のアノードAと電源部Pmの高電圧側の端子15とが電気的に接続される経路とに対応する。具体的には、各端子部11のスイッチ素子Wのドレイン18は、各発光素子TのアノードAに個別に電気的に接続される。以後、発光素子T(n,m)のアノードAに個別に接続される端子部11のスイッチ素子Wを特定して示すときには、スイッチ素子W(n,m)と記載する場合がある。
1つの発光素子アレイSに接続される各端子部11の制御端子14は、相互に接続される。すなわちスイッチ素子W(1,m),W(2,m),…,W(j−1,m),W(j,m)の各制御端子14は、互いに接続され、それぞれ制御部22に接続される。このように各制御端子14を互いに接続することによって、照明装置10の端子の数を抑制することができる。
スイッチ素子Wのサブストレート端子16は、ソース17、ドレイン18およびゲート19のうちの最低の電位以下の電位となる部位に接続される。本実施の形態ではスイッチ素子Wのサブストレート端子16は、グランドに接続される。
互いに異なる発光素子アレイSに接続される各端子部11の端子部本体Xは、相互に接続される。本実施の形態では、スイッチ素子W(n,1),W(n,2),…,W(n,i−1),W(n,i)の各ソース17が相互に接続されて共通の端子部本体Xに接続される。したがって発光素子T(n,1),T(n,2),…,T(n,i−1),T(n,i)に接続される端子部11の端子部本体Xが共通化される。スイッチ素子W(n,1),W(n,2),…,W(n,i−1),W(n,i)の各ソース17が相互に接続される端子部本体Xを特定して示す場合、端子部本体Xnと記載する場合がある。このように端子部本体Xを共通化することによって、照明装置10の端子の数を抑制することができる。
スイッチ素子Wは、制御端子14に与えられる制御信号に応じて非導通状態および導通状態が切換わる。すなわちスイッチ素子Wは、前記接続経路と同電位である発光素子TのアノードAと端子部本体Xとを非導通状態および導通状態のいずれかに切換える。本実施の形態では、制御信号としてサブストレート端子16が接続されるグランドの電圧よりも高い電圧が制御端子14に印加されると、スイッチ素子Wのソース17とドレイン18とが導通し、発光素子TのアノードAと、端子部本体Xとを導通状態にする。また制御信号としてサブストレート端子16が接続されるグランドの電圧と同じ電圧を制御端子14に印加すると、スイッチ素子Wのソース17とドレイン18とが非導通状態となり、発光素子TのアノードAと、端子部本体Xとが非導通状態になる。スイッチ素子WにMOSFETを用いるので、電圧を制御するだけで発光素子TのアノードAと、端子部本体Xとを、非導通状態および導通状態のいずれかに容易に切換えることができる。
スイッチ素子W(1,m),W(2,m),…,W(j−1,m),W(j,m)の各制御端子14にそれぞれ制御信号としてグランドよりも高い電圧を印加し、W(1,m),W(2,m),…,W(j−1,m),W(j,m)を除くスイッチ素子Wの制御端子14にそれぞれ制御信号としてグランドと同じ電圧を印加した場合の回路の動作について説明する。この場合、スイッチ素子W(1,m),W(2,m),…,W(j−1,m),W(j,m)のソース17とドレイン18とは導通状態となり、スイッチ素子W(1,m),W(2,m),…,W(j−1,m),W(j,m)を除くスイッチ素子Wのソース17とドレイン18とは非導通状態となる。したがって端子部本体Xnと、発光素子T(n,m)のアノードAとが導通状態となる。すなわち端子部本体Xnは、発光素子T(n,m)のアノードAと同電位となる。たとえば発光素子T(1,2),T(2,2),T(3,2)の制御端子14に制御信号としてグランドよりも高い電圧を印加し、この発光素子T(1,2),T(2,2),T(3,2)を除く発光素子Tの制御端子14に制御信号としてグランドと同じ電圧を印加すると、端子部本体X1,X2,X3は、それぞれ発光素子T(1,2),T(2,2),T(3,2)のアノードAと同電位となる。このようにスイッチ素子Wの制御端子14に与える制御信号を制御することによって、端子部本体Xnの電圧を、発光素子アレイSmの発光素子T(n,m)のアノードAと同じ電圧にすることができる。
照明装置10の1つの発光素子Tが故障して、ショートモードからオープンモードに変化したときの回路の動作について説明する。
全ての発光素子Tが正常でショートモードのとき、各発光素子Tには電源部Pから定電流が供給されて、各発光素子TのアノードAとカソードKとの間には、順方向電圧降下V1が印加されている状態である。このとき各発光素子Tに並列に接続された電流迂回素子Uには、それぞれ順方向電圧降下V1が印加されている。電流迂回素子Uは、絶縁破壊電圧V2を超える電圧が印加されない限りオープンモードを維持するので、並列に接続された発光素子Tが発光状態のときには、オープンモードを維持する。したがって、発光素子Tが故障してショートモードに変化しない限り、電流迂回素子Uには電流が流れない。
発光素子アレイSmの発光素子T(n,m)が故障してショートモードからオープンモードに変化すると、発光素子Tは直列に接続されているので、発光素子アレイSmは、ショートモードからオープンモードに変化する。このときオープンモードに変化した発光素子T(n,m)に並列に接続された電流迂回素子U(n,m)には、一時的に発光素子アレイSmの発光素子T(n,m)を除く残余の発光素子Tの順方向電圧降下V1を合計した電圧{V1×(j−1)}が印加される。この電圧が、絶縁破壊電圧V2を超えると、電流迂回素子U(n,m)がオープンモードからショートモードに変化する。電流迂回素子U(n,m)がショートモードに変化すると、故障する前に発光素子T(n,m)に流れていた電流が、電流迂回素子U(n,m)を迂回して流れるようになり、発光素子アレイSmがオープンモードからショートモードに変化する。これによって発光素子アレイSmの故障した発光素子T(n,m)を除く残余の発光素子Tが発光状態となり、正常な発光素子Tが消灯してしまうことを防ぐことができる。
発光素子T(n,m)が故障すると、発光素子アレイSmのインピーダンスが変化するが、電源部Pmは、定電流を発光素子アレイSmに供給するので、各発光素子Tに流れる電流は変化しない。したがって発光素子T(n,m)が故障したとしても、正常に発光している各発光素子Tにかかる負荷は変化せず、発光素子Tに過負荷がかかることを防ぐことができる。これによって照明装置10の長寿命化を図ることができる。
電圧測定部23は、グランドを基準とした端子部11の電圧を測定する。電圧測定部23は、たとえばA/D変換器によって実現される。電圧測定部23は、測定した端子部11の電圧を、デジタルデータとして制御部22に与える。本実施の形態では、電圧測定部23は、端子部本体Xnの電圧と発光素子T(n,m)のアノードAとが同じ電圧のときに端子部本体Xnの電圧を測定し、発光素子T(n,m)のアノードAの電圧を測定する。
制御部22は、電圧測定部23から与えられる端子部11の電圧に基づいて、各発光素子TのアノードAとカソードKとの間の電圧を算出する。発光素子T(n,m)のアノードAとカソードKとの間の電圧は、電流迂回素子U(n,m)の電圧降下と同じである。具体的には、端子部本体Xnの電圧から端子部本体Xn+1の電圧を減算することによって、発光素子T(n,m)のアノードAとカソードKとの間の電圧を算出する。また各端子部本体Xの電圧は、グランドを基準とした電圧なので、発光素子T(j,m)のアノードAとカソードKとの間の電圧は、端子部本体Xjの電圧と同じである。
発光素子Tが正常であって、ショートモードで発光しているとき、発光素子TのアノードAとカソードKとの間の電圧は、順方向電圧降下V1である。順方向電圧降下V1は、前述したように1.5V〜4.5V程度である。
発光素子Tが故障してオープンモードに変化すると、この発光素子Tに並列に接続された電流迂回素子Uがショートモードに変化し、オープンモードの発光素子TのアノードAとカソードKとの間の電圧は、電流迂回素子Uの電圧降下と同じとなる。電流迂回素子Uがショートモードになると、電流迂回素子Uの抵抗が零に近くなるので、電流迂回素子Uの電圧降下は、零に近くなる。ショートモードの電流迂回素子Uの抵抗値は、たとえば50mΩ以下となる。発光素子Tに10mA〜100mAの電流を流して使用している場合、電流迂回素子Uには10mA〜100mAの電流が流れるので、電流迂回素子Uの電圧降下は、5mV以下となり、順方向電圧降下V1に比べ十分に小さい値となる。したがって、端子部本体Xnの電圧から端子部本体Xn+1の電圧を減算した値が、順方向電圧降下V1に比べ小さい場合、発光素子アレイSmの発光素子T(n,m)がオープンモードであって、消灯状態であることがわかる。また、端子部本体Xjの電圧が零に近い場合、発光素子T(j,m)がオープンモードであって、消灯状態であることがわかる。このように電圧測定部23から与えられる各端子部本体Xの電圧を表すデジタルデータを処理することによって、制御部22は、電圧測定部23の測定結果に基づいて各発光素子Tの発光状態を検出し、ショートモードで消灯している発光素子Tを特定することができる。
図3は、照明装置10の平面図である。図4は、図3の切断面線IV−IVから見た照明装置10の断面図である。図3には、i=7,j=5の場合の照明装置10が示されている。
各発光素子アレイSは、表面が略平面状である電気絶縁性を有する基板24上に相互に等間隔をあけて直線状に配列される。照明装置10は、発光素子Tから光が放射される向きに基板24の周縁から延びる枠体29をさらに備える。この枠体29は、基板24から離反するに連れて、基板24の厚み方向に垂直な断面の形状が大きくなるように形成される。この枠体29によって、各発光素子Tからの光が基板24の厚み方向の一方を除く向きに漏れることを防ぐことができる。また発光素子Tは、基板24上に相互に等間隔をあけて、発光素子アレイSの配列される方向に垂直な方向に直線状に配列される。すなわち発光素子Tは、基板24上においてマトリクス状に配置される。各発光素子Tは、光の放射方向が基板24の表面に垂直な方向となるように基板24に設けられる。図1に示す回路の電気的接続は、ボンディングワイヤおよび基板24に形成されるランドなどによって実現される。
以上説明した液晶表示装置21によれば、ショートモードで消灯している発光素子Tを特定することができるので、液晶表示装置21の良品と不良品とを判別する検査を簡易に行うことができ、交換すべき発光素子Tを容易に特定することができる。
図5は、照明装置10を備える液晶表示装置21を模式的に示す斜視図である。液晶表示装置21は、液晶表示パネル31と、バックライトユニット32と、電圧測定部23と、制御部22と、駆動部とを含んで構成される。
バックライトユニット32は、第1裏面シールド33と、第1裏面シールド33の厚み方向一表面上に設けられる本実施の形態の照明装置10と、照明装置10の厚み方向一表面上に設けられる拡散板34と、拡散板34の厚み方向一表面上に設けられる拡散シート35と、拡散シート35の厚み方向一表面上に設けられるプリズムシート36と、プリズムシート36の厚み方向一表面上に設けられる反射・偏光シート37と、反射・偏光シート37の厚み方向一表面の周縁部に設けられるスペーサ38とを含んで構成される。液晶表示パネル31は、スペーサ38を介して反射・偏光シート37に対向して設けられ、照明装置10の光を放射する一表面に対向して設けられる。
第1裏面シールド33は、液晶表示装置22を機械的衝撃などから保護する。拡散板34および拡散シート35は、それぞれ通過する光を散乱して拡散する半透明の板およびシートから成る。照明装置10からの光は、拡散板34および拡散シート35を通過することによって拡散され、照明装置10の厚み方向に垂直な仮想一平面上において均一な輝度むらの少ない光となる。拡散シート35を通過した光は、プリズムシート36を通過して、反射・偏光シート37を透過し、液晶表示パネル31に集光される。液晶表示装置22は、与える電気信号により偏光角度を回転される効果により光の透過量を制御する。偏光シートは、あらかじめ液晶表示装置22に入射する光の偏光をそろえ、液晶表示装置から出射する部分の偏光シートとの組み合わせで透過量を制御するためのものである。従来は、目的としない偏光方向の光を吸収することで偏光の向きをそろえる、いわゆる偏光シートが用いられていたが、光の利用効率を高める目的で、目的としない偏光方向の光を反射することで偏光の向きをそろえる反射シートを用いることも行われている。
液晶表示パネル76は、アクティブマトリクス駆動法によって制御され、液晶層と、1対の配向膜と、共通の電位の透明電極と、複数のTFT(Thin Film Transistor)から成りそれぞれに個別に電圧が印加される透明電極と、1対のガラス基板と、カラーフィルタと、1対の偏光フィルタとを含んで構成される。液晶層は、スペーサを挟んで対向して配置される1対の配向膜の間に充填される。透明電極は、1対の配向膜を挟んで対向して配置される。カラーフィルタは、1対の配向膜のうちの照明装置10から離間する一方の厚み方向一表面上に設けられる。1対のガラス基板は、カラーフィルタと他方の配向膜とを挟んで対向して配置される。1対の偏光フィルタは、1対のガラス基板を挟んで対向して設けられる。
制御部22は、中央処理装置(Central Processing Unit:略称CPU)を含んで実現され、たとえばマイクロコンピュータによって実現される。制御部22は、記憶部を有し、この記憶部に記憶された制御プログラムを実行することによって、制御信号を制御端子14に与えたり、駆動部および電圧測定部23を制御したりする。
駆動部は、制御部22から与えられる制御指令に基づいて、透明電極に与える電圧の大きさを調整することによって、バックライトユニット32から照射される光の透過率を調整し、液晶表示パネル31に画像情報を可視表示させる。
制御部22は、前述したように制御信号を制御端子14に与え、電圧測定部23から与えられる端子部本体Xの電圧を表すデジタルデータに基づいて、各発光素子Tの発光状態を検出する。また制御部22は、駆動部を制御して、検出した各発光素子Tの発光状態に基づいて、液晶表示パネルの光の透過率を調節する。具体的には、駆動部が透明電極に与える電圧を制御することによって、液晶表示パネル31の透過率を調整する。
図6は、全ての発光素子Tが正常に発光している状態の照射面における照明装置10および各発光素子Tからの光の強度を模式的に表す図である。図7は、1つの発光素子Tが消灯した状態の照射面における照明装置10および各発光素子Tからの光の強度を模式的に表す図である。図8は、1つの発光素子Tが消灯状態の照射面における照明装置10および各発光素子Tからの光の強度および液晶表示パネル31の透過率を模式的に表す図である。
照射面は、基板24から予め定める間隔をあけて想定される基板24の厚み方向の一表面に平行な仮想一平面である。縦軸は、光強度を表す。図8において、縦軸は、光強度および透過率を表す。横軸は、発光素子Tが配列される直線上の距離を表す。照明装置10からの光の光強度を実線25で表し、各発光素子Tからの光の光強度をそれぞれ1点鎖線26で表す。また消灯状態の発光素子Tが発光していたときの、この発光素子Tからの光の光強度および照明装置10からの光の光強度を点線27で表す。また液晶表示パネル31の透過率を、2点鎖線28で表す。
照明装置10からの光は、各発光素子Tからの光を重ね合わせた光である。各発光素子Tの間隔は、各発光素子Tが正常に発光しているときに、照明装置10からの光の強度が照射面において一定となるように定められる。照明装置10からの光は、各発光素子Tからの光を重ね合わせた光なので、1つの発光素子Tが消灯すると、この発光素子Tからの光の強度分だけ照射面において光強度が弱くなる。したがって照射面において、光強度が均一にならずに、消灯した発光素子Tの照射領域が暗くなり、光強度にへこみが生じる。
記憶部は、特定の発光素子Tが消灯したときの、消灯した発光素子Tの照射領域の光強度がどの程度低下するかを表す情報を予め記憶している。前記情報は、各発光素子Tの配置から算出することができる。制御部22は、各発光素子Tの発光状態に基づいて前記液晶表示パネル31の光の透過率を調整する。具体的には制御部22は、記憶部に記憶された情報に基づいて、特定の発光素子Tが消灯したときの、前記光強度のへこみを見積る。制御部22は、見積った光強度のへこみから、このへこみを補正するために液晶表示パネル31のどの部位の透過率をどの程度調整すべきかを判断し、駆動部を制御して液晶表示パネル31の透過率を調整する。
液晶表示パネル31の光の透過率は、画像情報と、発光素子Tの発光状態とに応じて調整される。たとえば画像情報がkビット(記号kは、正の整数)で表される場合、透過率を調整するための透過率情報は、この画像情報の下位に調整用のsビット(記号sは、正の整数)を付加した(k+s)ビットの情報から構成される。液晶表示パネル31の光の透過率は、透過率情報に基づいて調整され、たとえば透過率情報が大きいほど透過率を大きくし、透過率情報が小さいほど透過率を小さくする。具体的には、透過率情報が大きいほど透明電極に印加する電圧を大きくし、透過率情報が小さいほど透明電極に印加する電圧を小さくする。
透過率を調整するための情報の下位sビットは、全ての発光素子Tが発光しているときには、「0」に設定される。また消灯した発光素子Tの照射領域の下位sビットは、透過率を調整すべき度合に応じて設定される。具体的には、透過率を調整すべき度合が高いほど、下位sビットの数値を大きくする。たとえば透過率を最も調整すべき部位の下位sビットは、全て「1」に設定される。これによって、透過率を調整するための情報が、(2s−1)かさ上げされるので、この分だけ透過率が高くなり、消灯した発光素子Tの照射領域が(2s−1)階調上がる。このように透過率を調整することによって、液晶表示パネル31における消灯した発光素子Tの照射領域が暗くなることを防ぐことができる。
本発明の他の実施の形態の照明装置では、照明装置10においてスイッチ素子Wは、pチャンネル形MOSFETによって実現される。この場合、前述の実施の形態における発光素子TのアノードAとカソードKとの接続関係を反転させ、かつ前述の実施の形態におけるグランドと電源部Pの高電圧側の端子15とを交換させる。すなわち発光素子T(1,m)のカソードKをグランドに接続し、発光素子T(j,m)のアノードAおよびサブストレート端子16を電源部Pmの高電圧側の端子15に接続すればよい。またMOSFETのソース17とドレイン18とを導通させるには、制御端子14として機能するゲート19にサブストレート端子16の電圧よりも低い電圧を印加すればよい。
本発明のさらに他の実施の形態の照明装置では、照明装置10において発光素子T(j,m)のカソードKに接続されるスイッチ素子Wをさらに設けてもよい。この場合、制御部22は、グランドの電位を基準にしなくても、発光素子T(j,m)に接続される2つのスイッチ素子Wのソース17の電圧の差から、発光素子T(j,m)のアノードAとカソードKとの間に印加される電圧を算出することができる。
本発明のさらに他の実施の形態の照明装置では、照明装置10において電流迂回素子Uは、タンタル焼結電解コンデンサによって実現されてもよい。タンタル焼結電解コンデンサは、予め定める電圧が印加されると、オープンモードからショートモードに変化する。ショートモードに変化する電圧が、発光素子Tの順方向電圧降下V1よりも高いタンタル焼結電解コンデンサであれば、前述したように並列に接続される発光素子Tがオープンモードに変化したときに、電流迂回素子Uは、オープンモードからショートモードに変化する。これによって故障してオープンモードに変化した発光素子Tのみが消灯する照明装置が実現される。
図9は、本発明のさらに他の実施の形態の照明装置の電源部Pの回路構成を示す回路図である。本実施の形態の照明装置は、前述の各実施の形態の電源部Pの構成が異なる。電源部Pは、演算増幅器45と、抵抗器46と、定電圧源47とを含んで構成される。定電圧源47は、たとえば3端子レギュレータによって実現される。
演算増幅器45の正側の電源端子は、グランドよりも電圧の高い正電源に接続される。演算増幅器45の負側の電源端子は、グランドよりも電圧の低い負電源に接続される。抵抗器46の一端は、演算増幅器45の出力端子に接続される。抵抗器46の他端は、定電圧源の定電圧側の端子と、演算増幅器45の反転入力端子に接続される。定電圧源47の高電圧側の端子15は、演算増幅器45の非反転入力端子に接続される。抵抗器46の他端は、発光素子T(1,m)のアノードAに接続される。演算増幅器45は、抵抗器46を流れる電流による電圧降下が、定電圧源47の電圧に一致するように動作する。このとき、演算増幅器45の入力インピーダンスが抵抗器46および負荷として接続される定電流出力15のインピーダンス並列和より十分高ければ、演算増幅器45の反転入力端子に流れる電流が無視でき、抵抗器46を流れる電流は抵抗アレイに流れる電流となる。定電圧源47の電圧をV47とし、抵抗器46の抵抗値をR46とするとき、定電流出力15の電流I15は、式(1)で表される。
V47=R46×I15 …(1)
次式(2)で得られる抵抗値を持つ抵抗器を使用することで、定電流出力15の電流値を設定できる。
R46=V47/I15 …(2)
本発明のさらに他の実施の形態の照明装置では、電源部Pは、カレントミラー回路によって実現されてもよい。また電源部Pは、チョッパ制御によって実現されてもよい。
図10は、本発明のさらに他の実施の形態の照明装置40の一部の回路構成を示す回路図である。本実施の形態の照明装置40は、前述の各実施の形態の照明装置と同様の構成であるので、対応する部分については同一の符号を付して、重複する説明については省略する。本実施の形態の照明装置40は、前述の各実施の形態の照明装置の端子部11のスイッチ素子Wが異なる。
スイッチ素子Wは、本実施の形態では、バイポーラトランジスタ42と抵抗器43とを含んで構成される。以後バイポーラトランジスタ42を省略してトランジスタ42と記載する場合がある。抵抗器43の一端は、トランジスタ42のベースに接続される。各スイッチ素子Wの抵抗器43の他端は、発光素子TのアノードAにそれぞれ接続される。
制御端子14は、トランジスタ42のコレクタに対応する。スイッチ素子W(1,m),W(2,m),…,W(j−1,m),W(j,m)の各制御端子14は、互いに接続され、それぞれ制御部22に接続される。スイッチ素子W(n,1),W(n,2),…,W(n,i−1),W(n,i)の各エミッタは、相互に接続されて端子部本体Xnに接続される。
制御部22は、発光素子アレイSmの発光素子TのアノードAの電圧を測定する場合、スイッチ素子W(1,m),W(2,m),…,W(j−1,m),W(j,m)の各制御端子14にそれぞれ制御信号として順方向電圧降下V1×jよりも高い電圧を印加し、W(1,m),W(2,m),…,W(j−1,m),W(j,m)を除くスイッチ素子Wの制御端子14と制御部22との間を高抵抗にする。これによってW(1,m),W(2,m),…,W(j−1,m),W(j,m)を除くスイッチ素子Wのコレクタが開放状態となる。
制御端子14に発光素子TのアノードAの電圧よりも高い電圧を制御信号として印加すると、コレクタとエミッタとが導通し、エミッタの電圧が、発光素子TのアノードAの電圧からベース−エミッタ間の順方向電圧降下と抵抗器43の電圧降下とを減算した値となる。コレクタとエミッタとが導通した状態では、ベース−エミッタ間の順方向電圧降下は、ほとんど一定であって、0.6V〜0.7V程度である。またコレクタとエミッタとが導通している状態では、ベースにはほとんど電流が流れ込まないので、抵抗器43の電圧降下は、ベース−エミッタ間の順方向電圧降下に対して無視してもよいくらい小さい。したがって、制御端子14に発光素子TのアノードAの電圧よりも高い電圧を制御信号として印加すると、エミッタから発光素子TのアノードAの電圧を表す電圧が出力される。スイッチ素子Wにバイポーラトランジスタを用いるので、電圧を制御するだけで前記接続経路と同電位である発光素子TのアノードAと、端子部本体Xとを、非導通状態または導通状態のいずれかに容易に切換えることができる。
発光素子T(n,m)のアノードAの電圧は、発光素子T(n,m),(n+1,m),…,T(j−1,m),T(j,m)がショートモードで正常に発光しているときは、順方向電圧降下V1×(j−n−1)である。発光素子T(n,m),(n+1,m),…,T(j−1,m),T(j,m)のうちの数個、たとえば4個が消灯してオープンモードのとき、発光素子T(n,m)のアノードAの電圧は、方向電圧降下V1×(j−n−1−4)である。このように、消灯している発光素子Tがある場合、発光素子T(n,1)T(n,2),…,T(n,i−1),T(n,j)のアノードAの電圧が互いに異なる場合がある。
発光素子T(n,m)のアノードAの電圧を測定する方法について説明する。仮に抵抗器43がなく、スイッチ素子Wのゲート19が抵抗器43を介さずに発光素子TのアノードAに接続される場合、コレクタが開放状態であったとしても、ベースとエミッタとに順方向の電圧が印加されると、ベース−エミッタ間が導通し、エミッタの電圧がベース電圧から順方向電圧降下を減算した値になる。したがって抵抗器43がない場合、スイッチ素子W(n,m)の制御端子14にのみ電圧を印加していたとしても、端子部本体Xnの電圧は、発光素子T(n,1)T(n,2),…,T(n,i−1),T(n,j)のアノードAのうちの最も電圧の高い電圧から順方向電圧降下V1を減算した値となる。このように抵抗器43がない場合、スイッチ素子W(n,m)の制御端子14に高電圧を印加したとしても、端子部本体Xnには発光素子T(n,m)のアノードAの電圧を表す電圧が出力されない場合があるので、発光素子T(n,m)のアノードAの電圧を正確に測定することができない。
スイッチ素子Wのベースと発光素子TのアノードAとを抵抗器43を介して接続した場合、コレクタが開放状態のときにベースとエミッタとが導通して電流が流れると、この抵抗器43による電圧降下が大きくなるので、エミッタには発光素子TのアノードAの電圧を表す電圧は出力されなくなる。つまり抵抗器43の電圧降下が、電圧を測定すべき発光素子T(n,m)のアノードAの電圧と、他の発光素子TのアノードAの電圧との電圧差を吸収する。このようにベースに抵抗器43を接続することによって、スイッチ素子W(n,m)の制御端子14に高電圧を印加すると、端子部本体Xnは、発光素子T(n,m)のアノードAの電圧を表す電圧となる。これによって故障してオープンモードになった発光素子Tがあるか否かに拘わらず、所定の発光素子TのアノードAの電圧を測定し、故障した発光素子Tを特定することができる。またコレクタと抵抗器43の他端との間に順方向の電圧が印加されたとしても、この電圧を抵抗器43の電圧降下によって吸収することができるので、ベースからコレクタに電流が流れることを防ぐことができる。
本発明のさらに他の実施の形態の照明装置では、スイッチ素子Wのトランジスタのエミッタおよびコレクタの接続を、前述の実施の形態の照明装置のトランジスタ42のエミッタおよびコレクタの接続と逆にしてもよい。具体的には、エミッタと制御部22とを接続して、エミッタを制御端子14として機能させ、コレクタを端子部本体Xに接続するようにしてもよい。
前述の各実施の形態の照明装置は、液晶表示パネルのバックライトの他に、信号機、高い演色性が求められる撮影スタジオおよびショーウインドウ等への照明などに用いられてもよい。
本発明は、その精神または主要な特徴から逸脱することなく、他のいろいろな形態で実施できる。したがって、前述の実施形態はあらゆる点で単なる例示に過ぎず、本発明の範囲は特許請求の範囲に示すものであって、明細書本文には何ら拘束されない。さらに、特許請求の範囲に属する変形や変更は全て本発明の範囲内のものである。
各発光素子は、直列に接続されるので、1つの発光素子が故障することによって導通状態から非導通状態に変化すると、発光素子アレイが非導通状態となる。このとき、非導通状態に変化した発光素子に並列に接続された電流迂回素子には、電源部から発光素子アレイに印加されている電圧が一時的に印加される。この電圧が予め定める電圧を超えると、電流迂回素子は、非導通状態から導通状態に変化する。これによって非導通状態に変化した発光素子に流れていた電流が、電流迂回素子を迂回して流れるようになり、発光素子アレイが導通状態に変化する。このように電流迂回素子を発光素子に並列に接続することによって、発光素子アレイの発光素子のうちのいずれかが非導通状態に変化したとしても、発光素子アレイの全ての発光素子が消灯することを防ぐことができる。
また本発明によれば、複数の端子部は、電源部から各発光素子を経て接地部位にわたる接続経路上、すなわち各発光素子間の接続経路または電源部と発光素子との接続経路に接続されるので、各端子部の電圧を測定することによって、各発光素子に印加される電圧が求まる。
前述したように故障して非導通状態となった発光素子に並列に接続された電流迂回素子は、導通状態なので、故障した発光素子に印加される電圧、すなわち導通状態の電流迂回素子の電圧降下は、発光状態の発光素子に印加される電圧に比べて小さい。各発光素子に印加されている電圧を求めることができるので、この電圧から非導通状態に変化した発光素子、すなわち故障した発光素子を容易に特定することができる。
また本発明によれば、スイッチ素子は、制御端子に与えられる制御信号に応じて非導通状態および導通状態が切換わるので、端子部本体は、制御信号に応じて各発光素子間の接続経路または電源部と発光素子との接続経路との接続状態が切換わる。互いに異なる発光素子アレイに接続される端子部の端子部本体は、相互に接続されて同電位となるが、接続経路との接続状態が制御信号に応じて切換わるので、制御信号に応じた特定の接続経路、すなわち特定の発光素子の端子の電圧を出力する。これによって複数の端子部の電圧から、各発光素子に印加されている電圧が求まる。互いに異なる発光素子アレイに接続される端子部の端子部本体を、相互に接続することによって端子部本体を共通化し、端子部本体の数を減らすことができる。これによって照明装置の端子数を減らすことができる。
また本発明によれば、1つの前記発光素子アレイに接続される各端子部の制御端子は、相互に接続されるので、制御端子を共通化することができ、制御端子に接続される端子の数を減らすことができる。
また本発明によれば、スイッチ素子は、MOS電界効果トランジスタを含んで構成される。MOS電界効果トランジスタは、印加する電圧を制御するだけで、導通状態と非導通状態とが切換わるので、電源部から各発光素子を経て接地部位にわたる接続経路と、前記端子部本体とを、非導通状態または導通状態のいずれかに容易に切換えることができる。
また本発明によれば、スイッチ素子は、バイポーラトランジスタを含んで構成される。バイポーラトランジスタは、印加する電圧を制御するだけで、導通状態と非導通状態とが切換わるので、電源部から各発光素子を経て接地部位にわたる接続経路と、前記端子部本体とを、非導通状態または導通状態のいずれかに容易に切換えることができる。
また本発明によれば、電源部は、定電流を供給する定電流源から成り、定電流を発光素子アレイに供給するので、各発光素子に流れる電流は変化しない。したがって一部の発光素子が故障したとしても、正常に発光している各発光素子にかかる負荷は変化せず、発光素子に過負荷がかかることを防ぐことができる。これによって照明装置の長寿命化を図ることができる。
また本発明によれば、液晶表示パネルは、照明装置の光を放射する一表面に対向して設けられるので、照明装置は、液晶表示パネルに光を照射するバックライトとして機能する。電圧測定部は、前記端子部の電圧を測定する。制御部は、電圧測定部によって測定された端子部の電圧から、各発光素子が導通状態か非導通状態かを判断し、各発光素子の発光状態を検出する。制御部は、たとえば非導通状態の発光素子が発光していたときに、この発光素子の照射領域における液晶表示パネルの光の透過率を上げるように調整する。これによって発光素子が非導通状態に変化して消灯したときに、液晶表示パネルにおける消灯した発光素子の照射領域の輝度の低下を抑制することができる。
Claims (8)
- 電圧を印加することによって発光する複数の発光素子が、相互に直列に接続されて形成される発光素子アレイと、
前記発光素子アレイの各発光素子に個別に並列に接続され、各発光素子が発光状態のときに印加される電圧よりも高い予め定める電圧が印加されたときに、電流が流れない非導通状態から電流が流れる導通状態に変化する複数の電流迂回素子と、
前記発光素子アレイに直列に接続され、各発光素子に電圧を印加する電源部とを含むことを特徴とする照明装置。 - 電源部から各発光素子を経て接地部位にわたる接続経路上に接続される電圧検出用の複数の端子部をさらに含むことを特徴とする請求項1記載の照明装置。
- 複数の前記発光素子アレイを含み、
前記各端子部は、
端子部本体と、
制御端子を有し、電源部から各発光素子を経て接地部位にわたる接続経路と前記端子部本体との間に接続され、制御端子に与えられる制御信号に応じて、非導通状態および導通状態が切換わるスイッチ素子とを含み、
互いに異なる発光素子アレイに接続される端子部の端子部本体が、相互に接続されることを特徴とする請求項2記載の照明装置。 - 1つの前記発光素子アレイに接続される各端子部の制御端子は、相互に接続されることを特徴とする請求項3記載の照明装置。
- 前記スイッチ素子は、MOS電界効果トランジスタを含むことを特徴とする請求項3または4記載の照明装置。
- 前記スイッチ素子は、バイポーラトランジスタを含むことを特徴とする請求項3または4記載の照明装置。
- 前記電源部は、定電流を供給する定電流源から成ることを特徴とする請求項1〜6のいずれか1つに記載の照明装置。
- 請求項2〜7のいずれか1つに記載の照明装置と、
照明装置の光を放射する一表面に対向して設けられる液晶表示パネルと、
前記端子部の電圧を測定する電圧測定部と、
電圧測定部の測定結果に基づいて各発光素子の発光状態を検出し、各発光素子の発光状態に基づいて前記液晶表示パネルの光の透過率を調整する制御部とを含むことを特徴とする液晶表示装置。
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