JPWO2005124315A1 - Comprehensive evaluation method of creep remaining life - Google Patents
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Abstract
クリープ損傷を受けている機器部材の余寿命を、細粒部と粗粒部とに拘わらず精度よく評価することができる方法を提供する。クリープ損傷を受けている機器部材がクリープ破壊するまでの時間で表される余寿命を評価するための方法である。機器部材の表面において、1mm2の範囲内で少なくとも2つの結晶粒界の各長さの1/2以上に亘って存在している連結ボイドの個数を求め、上記1mm2の面積に対する当該特定ボイドの個数の比をLパラメータとする。また、機器部材の表面において、1mm2の範囲内で1結晶粒界の長さに対する該粒界上にある全ボイドの長さの合計の比をボイド粒界占有率として各結晶粒界について求め、その最大値をMパラメータとする。上記LパラメータとMパラメータに基づいて機器部材の余寿命をそれぞれ評価し、いずれか短く評価された方の結果を機器部材の余寿命とする。Provided is a method capable of accurately evaluating the remaining life of a device member subjected to creep damage regardless of a fine grain portion and a coarse grain portion. This is a method for evaluating the remaining life represented by the time until creep destruction of a device member that has undergone creep damage. On the surface of the equipment member, find the number of connecting voids that exist over 1/2 of each length of at least two grain boundaries within the range of 1 mm2, and the number of specific voids for the area of 1 mm2 Is the L parameter. Further, on the surface of the device member, the ratio of the total length of all voids on the grain boundary to the length of one grain boundary within the range of 1 mm 2 is obtained for each grain boundary as the void boundary occupation ratio, The maximum value is set as the M parameter. The remaining life of the equipment member is evaluated based on the L parameter and the M parameter, respectively, and the result of the shorter evaluation is defined as the remaining life of the equipment member.
Description
本発明は、クリープ損傷を受けている機器部材の余寿命を評価する技術に関する。 The present invention relates to a technique for evaluating the remaining life of a device member that has undergone creep damage.
例えば、火力発電ボイラや蒸気タービンに使用される高温部材のように、高温・高圧下で長時間使用される機器部材においては、特に溶接部付近(溶接金属部、溶接熱影響部、及び母材)で、時間の経過と共にクリープ損傷による劣化が進展し、金属組織にボイド又はキャビティと呼ばれる微小な空孔若しくは空隙(これらを総称して「ボイド」という)が発生する。ボイドは成長しながら、連結し、合体し、やがて1(結晶)粒界長さ程度の微視き裂を形成し、微視き裂が更に伝播と連結とを繰り返すことによって、部材全体を破壊(クリープ破壊)に至らせる。従って、火力発電ユニットを長時間に亘って安定的に運転するためには、機器部材がクリープ破壊するまでの時間又は後述の「クリープ寿命消費率」で表される余寿命を、的確に把握することが必要である。 For example, in the case of equipment members that are used for a long time under high temperature and high pressure, such as high-temperature members used in thermal power generation boilers and steam turbines, especially in the vicinity of welds (welded metal parts, weld heat-affected parts, and base materials) ), Deterioration due to creep damage progresses as time passes, and minute voids or voids called voids or cavities (collectively referred to as “voids”) are generated in the metal structure. As the void grows, it joins and coalesces, eventually forming a microcrack of about 1 (crystal) grain boundary length, and the microcrack further repeats propagation and connection, destroying the entire member. (Creep destruction). Therefore, in order to stably operate the thermal power generation unit over a long period of time, it is possible to accurately grasp the time until the equipment member creeps or the remaining life represented by the “creep life consumption rate” described later. It is necessary.
下記の非特許文献1によれば、現在、日本国内の80%以上の事業用火力発電ユニットは、累積運転時間が10万時間を超えており、その他の20%についても20万時間を超えているという状況である。このため、定期検査時には、火力発電ユニットのボイラ等について、過去の余寿命診断経歴、構造、応力、温度、加重等の条件から、最も過酷な条件下にある箇所を選定し、クリープ劣化の進展状況を的確に把握し、適切に補修することが重要である。
According to the following
下記の非特許文献2には、実機部材に発生したボイドに注目した従来のクリープ余寿命評価方法として、部材表面を研磨し、腐食させ、アセチルセルロース製等の膜を貼り付けて部材表面を写しとったもの(以下「レプリカ」という)を用いた評価方法が記載されている。このレプリカを用いた余寿命或いはクリープ損傷評価方法としては、Aパラメータ、組織対比、ボイド面積率(非特許文献3)、ボイド面積密度、粒界損傷(非特許文献4)等の各種パラメータによる評価方法が知られている。
Non-Patent
これらの方法では、実機部材のクリープ劣化の状態を表すパラメータを求め、新材の時からクリープ破壊までの総時間(寿命)に対する実使用時間の割合で表される「クリープ寿命消費率」を求めることによって、実機部材の余寿命を推定する。具体的には、上記いずれの方法においても、まず、クリープ試験を行い、各方法のパラメータとクリープ寿命消費率との関係を表すマスターカーブを作成する。そして、対象とする実機部材の表面からレプリカを採取し、このレプリカ上で求めたパラメータを上記マスターカーブと照合することにより、当該実機部材のクリープ寿命消費率を推定することができる。更に、実機部材の余寿命評価時における実使用時間とクリープ寿命消費率とに基づいて、実機部材の余寿命を表す時間を推定することができる。具体的には、評価時におけるクリープ寿命消費率を“A”、実使用時間を“B”とすると、余寿命tは、“t=B×{(1−A)/A}”の式により求めることができる。 In these methods, parameters representing the state of creep deterioration of actual machine members are obtained, and the “creep life consumption rate” expressed as the ratio of the actual usage time to the total time (life) from the time of new material to creep failure is obtained. Thus, the remaining life of the actual machine member is estimated. Specifically, in any of the above methods, first, a creep test is performed to create a master curve that represents the relationship between the parameters of each method and the creep life consumption rate. Then, a creep life consumption rate of the actual machine member can be estimated by collecting a replica from the surface of the target actual machine member and comparing the parameter obtained on the replica with the master curve. Furthermore, based on the actual use time and the creep life consumption rate at the time of evaluating the remaining life of the actual machine member, the time representing the remaining life of the actual machine member can be estimated. Specifically, when the creep life consumption rate at the time of evaluation is “A” and the actual use time is “B”, the remaining life t is calculated by the equation “t = B × {(1−A) / A}”. Can be sought.
このほかにも、下記の非特許文献5には、超音波ノイズエネルギー法や超音波スペクトロスコピー法等の非破壊検査にてクリープ余寿命を推定する方法が記載されている。また、下記の非特許文献6、7には、粒界のボイドに着目した指標として用いられる「粒界線上ボイド占有率」(非特許文献8)について、クリープ損傷パラメータとしての物理的意味が明確であることが記載されている。
In addition, Non-Patent
上記の各評価法のうち「Aパラメータ法」は、決められた領域内で応力軸に平行な直線を引き、この直線と粒界線との交点数に占めるボイドの発生した粒界線の割合をパラメータとするものであり、一般に「測定用Aパラメータ」と呼ばれている。しかしながら、Aパラメータは、粒界に1つでもボイドが存在すれば、その粒界面は大きな損傷を受けたとして、その粒界全体を微小き裂とみなす、という考え方に基づくため、一般的に用いられる測定用Aパラメータの物理的意味は希薄とされている。 Among the above evaluation methods, the “A-parameter method” draws a straight line parallel to the stress axis in a determined region, and the parameter is the ratio of the grain boundary line where voids occupy the number of intersections between the straight line and the grain boundary line. And is generally called “A parameter for measurement”. However, since the A parameter is based on the idea that if there is even one void at the grain boundary, the grain interface is severely damaged and the whole grain boundary is regarded as a microcrack, so it is generally used. The physical meaning of the measured A parameter is sparse.
「ボイド面積率法」は、決められた領域内で単位面積当たりのボイドの面積の割合をパラメータとするものであり、「ボイド面積密度法」は、単位面積(通常1mm2)当たりに存在するボイドの個数をパラメータとする評価方法である。このボイド面積密度法は、ボイドの個数を求めるだけでよいため、測定は容易であるが、このパラメータ(ボイド面積密度)は、ボイドの半径及び個数に比例し、結晶粒径に反比例するため、部材内部に実際に存在するボイドの個数を直接表すものではないという問題点がある。The “void area ratio method” uses the void area ratio per unit area within a specified area as a parameter, and the “void area density method” exists per unit area (usually 1 mm 2 ). This is an evaluation method using the number of voids as a parameter. This void area density method is easy to measure because it is only necessary to determine the number of voids, but this parameter (void area density) is proportional to the radius and number of voids and inversely proportional to the crystal grain size. There is a problem in that it does not directly represent the number of voids actually present in the member.
「粒界線上ボイド占有率法」は、部材の切断面又は表面に現れた所定の範囲内にある各粒界線について、粒界線の長さに対する、該粒界線上にある各ボイドの長さの合計の割合を求め、その平均値をパラメータとする評価方法である。このパラメータは、クリープ破壊の経路となる粒界面上でのボイドの面積率と等しく、従来の損傷力学で用いられてきた有効断面積と一対一の対応関係があるため、物理的な意味が明確であるとされているが、他の方法と比べて測定が困難であるという問題点がある。 “Void occupancy method on the grain boundary line” is a method for determining the length of each void on the grain boundary line with respect to the length of the grain boundary line for each grain boundary line within a predetermined range appearing on the cut surface or surface of the member. In this evaluation method, the total ratio is obtained and the average value is used as a parameter. This parameter is equal to the void area ratio on the grain interface, which is the path of creep fracture, and has a one-to-one correspondence with the effective cross-sectional area used in conventional damage mechanics, so the physical meaning is clear. However, there is a problem that measurement is difficult as compared with other methods.
下記の特許文献1には、クリープ劣化した機器部材の「クリープ寿命消費率」を簡単に精度よく推定することができるクリープ(余)寿命評価方法が記載されている。この方法は、部材の1つの結晶粒界の長さに対する該粒界上にあるボイドの長さの合計の割合を各粒界について求め、その最大値をパラメータ(「Mパラメータ」という)とする評価方法であることから、「Mパラメータ法」と呼ばれている。このMパラメータ法では、Mパラメータが“1”に近いほど、クリープ寿命消費率が高く余寿命が短い、即ちクリープ破壊の危険性が高いという評価を得ることができる。
しかしながら、上記のような機器部材において、特に溶接金属部及び溶接熱影響部の金属組織は、溶接金属側から順に、主に粒径約100マイクロメートル(μm)程度(200μm以上のものもある)の結晶から成る粗粒部と、粒径1μm〜10μm程度の結晶から成る細粒部とで構成される点、及び、1つのボイドが細粒部における1つの結晶粒界とほぼ同じ大きさに成長することが最近の実験で判明した点を踏まえると、上記のMパラメータ法で「細粒部」を評価する場合には、クリープ寿命の初期においてMパラメータが“1”に達する、即ちクリープ破壊の危険性が高いという評価に至るおそれがある。 However, in the above-mentioned equipment members, the metal structure of the weld metal part and the weld heat-affected zone is mainly about 100 micrometers (μm) in particle size in order from the weld metal side (some have 200 μm or more). The point is composed of a coarse-grained portion made of a crystal and a fine-grained portion made of a crystal having a particle size of about 1 μm to 10 μm, and one void is almost the same size as one crystal grain boundary in the fine-grained portion. In light of the fact that growth has been found in recent experiments, when the “fine-grained portion” is evaluated by the above-mentioned M-parameter method, the M-parameter reaches “1” at the beginning of the creep life. May lead to an evaluation that the risk is high.
また、前述のように、クリープ破壊は粒界上で発生したボイドが成長、連結、合体して微視き裂を形成することが主要因である点、及び、微視き裂は特にクリープ寿命の後半において集中的に発生する点を踏まえると、1つのボイドが細粒部における1つの結晶粒界と同じ大きさになっても、直ちにクリープ破壊の危険性が高いとはいえないため、Mパラメータ法は、「細粒部」に対してはクリープ寿命を精度よく評価することが困難である。 In addition, as described above, the main cause of creep fracture is the formation of microcracks by the growth, connection and coalescence of voids generated on the grain boundaries. In view of the fact that it occurs intensively in the latter half of the case, even if one void becomes the same size as one grain boundary in the fine grain part, it cannot be said that the risk of creep fracture is high immediately. In the parameter method, it is difficult to accurately evaluate the creep life for the “fine-grained portion”.
一方、種々のクリープ試験の結果によれば、粗粒部と細粒部においてクリープ破壊に至る部分は、長手溶接又は周溶接等の溶接方法の違いや応力の掛かり具合等の各種条件によって異なる点、及び、実機部材は各種の溶接が施され、かつ多軸応力場に置かれている点を考慮すると、細粒部におけるクリープ寿命を精度よく評価することも重要である。 On the other hand, according to the results of various creep tests, the portion that reaches the creep fracture in the coarse grain portion and the fine grain portion differs depending on various conditions such as differences in welding methods such as longitudinal welding and circumferential welding, and stress conditions. In view of the fact that the actual machine members are subjected to various types of welding and placed in a multiaxial stress field, it is also important to accurately evaluate the creep life in the fine-grained portion.
また、細粒部を評価する場合、例えば、従来のAパラメータ法では、測定対象となる損傷を受けている粒界が不明確であること、及び粒界数が非常に多くなることから、細粒部を評価するのは実際上困難である。 Further, when evaluating a fine grain part, for example, in the conventional A-parameter method, the grain boundaries that are damaged to be measured are unclear and the number of grain boundaries becomes very large. It is practically difficult to evaluate the grain.
本発明は、以上の状況に鑑み、クリープ損傷を受けている機器部材の余寿命を、細粒部と粗粒部とに拘わらず精度よく評価することができる方法を提供することを目的とする。 In view of the above situation, an object of the present invention is to provide a method capable of accurately evaluating the remaining life of a device member that has undergone creep damage regardless of whether the portion is a fine-grained portion or a coarse-grained portion. .
本発明は、クリープ損傷を受けている機器部材がクリープ破壊するまでの時間又はクリープ寿命消費率で表される余寿命を評価するための方法において、前記機器部材の表面において、所定の範囲内で複数の結晶粒界に亘って存在する特定ボイドの個数を求め、前記所定の範囲の面積に対する当該特定ボイドの個数の比を特定ボイド密度とし、前記機器部材の表面において、所定の範囲内で1結晶粒界の長さに対する該粒界上にある全ボイドの長さの合計の比をボイド粒界占有率として各結晶粒界について求め、その最大値を最大ボイド粒界占有率とし、前記特定ボイド密度と前記最大ボイド粒界占有率に基づいて前記機器部材の余寿命をそれぞれ評価し、いずれか短く評価された方の結果を前記機器部材の余寿命とすることを特徴とする。 The present invention relates to a method for evaluating the time until creep destruction of an equipment member that has undergone creep damage or the remaining life represented by a creep life consumption rate, within a predetermined range on the surface of the equipment member. The number of specific voids existing across a plurality of crystal grain boundaries is obtained, and the ratio of the number of specific voids to the area of the predetermined range is defined as a specific void density, and 1 in the predetermined range on the surface of the device member. The ratio of the total length of all voids on the grain boundary to the length of the grain boundary is obtained for each grain boundary as a void grain boundary occupation ratio, and the maximum value is defined as the maximum void boundary occupation ratio. The remaining life of the device member is evaluated based on the void density and the maximum void boundary occupancy rate, respectively, and the result of the shorter evaluation is defined as the remaining life of the device member.
発明の実施態様では、上記特定ボイドは、少なくとも2つの結晶粒界の各長さの1/2以上に亘って存在する拡張ボイドであり、或いは、複数の結晶粒界上で発生したボイドが合体することによって形成された連結ボイドである。 In an embodiment of the invention, the specific void is an extended void that exists over at least half of each length of at least two crystal grain boundaries, or voids generated on a plurality of crystal grain boundaries are combined. It is the connection void formed by doing.
また、上記最大ボイド粒界占有率は、以下の式で求められる。 The maximum void grain boundary occupancy is obtained by the following equation.
ここで、mはボイドが存在する粒界の数、nは各粒界上に存在するボイドの個数、lαiはα番目の粒界上に存在するi番目のボイドの粒界方向の長さ、Lαはボイドが存在するα番目の粒界の長さである。Here, m is the number of grain boundaries where voids are present, n is the number of voids present on each grain boundary, and l αi is the length of the i-th void existing on the α-th grain boundary in the grain boundary direction. , L α is the length of the α-th grain boundary where the void exists.
更に、余寿命の評価は、上記特定ボイド密度と余寿命との関係について及び上記最大ボイド粒界占有率と余寿命との関係についてクリープ試験から得られた各評価基準を参照することにより、前記時間を推定することである。或いは、余寿命の評価は、上記特定ボイド密度及び最大ボイド粒界占有率についての各評価基準に加えて、所定の範囲の面積に対する当該範囲内の全ボイドの個数の比であるボイド個数密度その他のパラメータについての評価基準も参照し、各パラメータの評価基準で推定される時間のうち最短のものを前記余寿命とすることである。 Furthermore, the evaluation of the remaining life is performed by referring to each evaluation standard obtained from the creep test for the relationship between the specific void density and the remaining life and for the relationship between the maximum void grain boundary occupancy and the remaining life. It is to estimate the time. Or, in addition to the above evaluation criteria for the specific void density and the maximum void grain boundary occupancy rate, the remaining life is evaluated by the ratio of the number of all voids within the range to the number of voids in the range. The evaluation criteria for the other parameters are also referred to, and the shortest time estimated by the evaluation criteria for each parameter is set as the remaining life.
より具体的な態様では、機器部材の粒径10μm以下の結晶で形成される細粒部の表面に存在するボイドを対象とする。 In a more specific embodiment, the voids present on the surface of the fine-grained portion formed of crystals having a particle size of 10 μm or less of the device member are targeted.
また、機器部材の表面を画像化して、該画像上でボイドの個数を求める。この場合、機器部材の表面を研磨して腐食させた後にアセチルセルロース製等の膜を貼り付けて該表面を写しとるか、又は撮像手段を用いて機器部材の表面を撮像することによって、機器部材の表面を画像化することが可能である。 Further, the surface of the device member is imaged, and the number of voids is obtained on the image. In this case, the surface of the equipment member is polished and corroded, and then a film made of acetylcellulose or the like is pasted to copy the surface, or the equipment member is imaged using an imaging means, It is possible to image the surface of
本発明によれば、機器部材の表面において所定の範囲内で複数の結晶粒界に亘って存在する特定ボイドの個数を求め、その範囲の面積に対する特定ボイドの個数の比で表される特定ボイド密度を求めることにより、クリープ損傷を受けている機器部材の余寿命を評価することができる。この評価法は、所定の範囲内にあるボイドの全てではなく、そのうちの特定ボイドのみを検出すればよいので、従来のボイド個数密度法よりも迅速且つ容易に評価できる。また、複数の結晶粒界に亘って存在する特定ボイドは、1つの粒界を越えて2以上の粒界に跨るまでに成長したボイドであるので、その個数は、当該機器部材の表面のクリープ劣化の進行の度合いを示す指標となる。従って、上記の「特定ボイド密度」というパラメータを用いることで、クリープ劣化の状況、具体的には余寿命を正しく把握できると共に、結晶粒界が小さい「細粒部」においても2以上の粒界に跨るボイドに着目することで、従来のAパラメータ法等の評価方法では困難な細粒部における余寿命の評価を精度よく行うことができる。 According to the present invention, the number of specific voids existing over a plurality of crystal grain boundaries within a predetermined range on the surface of the device member is obtained, and the specific void represented by the ratio of the number of specific voids to the area of the range By obtaining the density, it is possible to evaluate the remaining life of the equipment member that has undergone creep damage. This evaluation method can be evaluated more quickly and easily than the conventional void number density method because it is only necessary to detect not all of the voids within a predetermined range but only specific voids. In addition, since the specific voids that exist across a plurality of crystal grain boundaries are voids that have grown beyond one grain boundary to span two or more grain boundaries, the number of creeps on the surface of the device member It becomes an index indicating the degree of progress of deterioration. Therefore, by using the parameter “specific void density” described above, it is possible to correctly grasp the state of creep deterioration, specifically the remaining life, and at least two grain boundaries even in a “fine grain part” where the grain boundary is small. By paying attention to the voids extending over, it is possible to accurately evaluate the remaining life in the fine-grained portion, which is difficult with the conventional evaluation method such as the A-parameter method.
具体的態様によれば、特定ボイドとして、少なくとも2つの結晶粒界の各長さの1/2以上に亘って存在する拡張ボイド、或いは、複数の結晶粒界上で発生したボイドが合体することによって形成された連結ボイドを検出することにより、クリープ劣化の進行の度合いをより正確に把握できる。 According to a specific aspect, as the specific void, an extended void existing over 1/2 or more of each length of at least two crystal grain boundaries, or a void generated on a plurality of crystal grain boundaries is combined. By detecting the connection void formed by the above, the degree of progress of creep deterioration can be grasped more accurately.
また、具体的な余寿命の評価法として、上記のような特定ボイド密度と余寿命との関係についてクリープ試験で得られた評価基準(例えば、後述のマスターカーブ)を参照ないし照合することにより、機器部材がクリープ破壊するまでの時間(或いはクリープ寿命消費率)を推定することができる。 Further, as a specific evaluation method of the remaining life, by referring to or collating an evaluation standard (for example, a master curve described later) obtained by a creep test for the relationship between the specific void density and the remaining life as described above, It is possible to estimate the time (or creep life consumption rate) until the equipment member creeps.
更に、上記「特定ボイド密度」についての評価基準のほかに、「ボイド個数密度」その他のパラメータについての評価基準も参照し、各パラメータの評価基準で推定される時間のうち最短のものを機器部材の余寿命とすることで、より安全側に立った評価が可能である。これらの評価基準としては、後述のとおり各パラメータとクリープ寿命消費率との関係を表すマスターカーブその他、両者の関係を表す関数やデータなどを用いることができる。 Furthermore, in addition to the evaluation criteria for the above-mentioned “specific void density”, reference is also made to the evaluation criteria for “void number density” and other parameters. By making it the remaining life of, it is possible to evaluate from a safer side. As these evaluation criteria, as will be described later, a master curve representing the relationship between each parameter and the creep life consumption rate, and other functions and data representing the relationship between the two can be used.
また、本発明によれば、所定の範囲内にあるボイドの個数を求める箇所として、前述のように粒径10μm以下の結晶で形成される細粒部の表面を選ぶことができる。 In addition, according to the present invention, as described above, the surface of the fine-grained portion formed of crystals having a particle size of 10 μm or less can be selected as a location for obtaining the number of voids within a predetermined range.
更に、本発明方法の実施に際しては、機器部材表面に存在するボイドを測定する手段として、機器部材の表面を画像化すれば、コンピュータ等の機械によって特定ボイドを自動認識し、画像上でそれらの個数を迅速且つ容易に求めることができる。この場合、機器部材の表面の画像は、機器部材の表面を研磨して腐食させた後にアセチルセルロース製等の膜を貼り付けて該表面を写しとること、又は撮像手段を用いて機器部材の表面を撮像することによって得られる。 Furthermore, when the method of the present invention is implemented, if the surface of the device member is imaged as a means for measuring the voids existing on the surface of the device member, the specific void is automatically recognized by a machine such as a computer, and those voids are displayed on the image. The number can be obtained quickly and easily. In this case, the image of the surface of the equipment member is obtained by polishing the surface of the equipment member and then corroding the surface of the equipment member to copy the surface, or by using an imaging means. Is obtained by imaging.
図1は、本発明のクリープ余寿命評価方法のメインフローチャートである。 FIG. 1 is a main flowchart of the creep remaining life evaluation method of the present invention.
実施例では、発電プラントのボイラにおいて高温・高圧下で使用されてクリープ損傷している部材が、クリープ破壊に至るまでの時間又はクリープ寿命消費率で表される余寿命を評価する方法について説明する。 In the embodiment, a method of evaluating the remaining life represented by the time until creep rupture or the creep life consumption rate of a member that is used at high temperature and high pressure in a power plant boiler and is damaged by creep will be described. .
このクリープ余寿命評価方法では、実機部材の表面に存在するボイドと呼ばれる微小な空孔に基づく所定のパラメータを求め、これを、予め作成したパラメータ及び余寿命の関係を表す評価基準に照らし合わせることによって、当該部材の余寿命を評価する。そこで、上記評価基準を作成するため、各種供試体を用いてクリープ試験を行い、適宜中途止めを行いながら上記パラメータとしての後述のボイド連結密度(Voids Linking Density Parameter[以下、Lパラメータという])及び最大ボイド粒界占有率(Maximum Fraction of Voids on the Grain boundary Line Parameter[以下、Mパラメータという])を求める(ステップ[以下、STと表記する]1)。 In this creep remaining life evaluation method, a predetermined parameter based on a microscopic void called a void existing on the surface of an actual machine member is obtained, and this is compared with a previously created evaluation criterion representing the relationship between the parameter and the remaining life. Thus, the remaining life of the member is evaluated. Therefore, in order to create the above evaluation criteria, a creep test is performed using various specimens, and the void linkage density (Voids Linking Density Parameter [hereinafter referred to as L parameter]), which will be described later, is used as the above parameter while appropriately stopping the test. A maximum void grain boundary occupation ratio (Maximum Fraction of Voids on the Grain boundary Line Parameter [hereinafter referred to as M parameter]) is obtained (step [hereinafter referred to as ST] 1).
図2〜図4は、クリープ試験に用いる供試体及び各供試体におけるボイド観察位置を示す。 2 to 4 show a specimen used for the creep test and a void observation position in each specimen.
図2に示す供試体は、実働中の高温再熱蒸気管にてクリープ損傷を受けている溶接部から採取した試験片1であり、これを用いて、適宜中途止めを行いながらクリープ破断試験を行う。試験条件を以下に示す。
The specimen shown in FIG. 2 is a
(1)試験温度は、883.15K
(2)試験応力(引っ張り)は、68.6MPa。(1) Test temperature is 883.15K
(2) Test stress (tensile) is 68.6MPa.
また、図のように、試験片1の溶接部2付近の金属組織は、溶接金属側から、粒径約100μm以下の結晶で形成される粗粒部3と、粒径1μm〜10μm程度の結晶で形成される細粒部4とで構成されている。実施例のクリープ余寿命評価方法では、粗粒部3におけるボイド観察結果に基づいてMパラメータを求め、細粒部4におけるボイド観察結果に基づいてLパラメータを求める。
Also, as shown in the figure, the metal structure near the welded
図3の供試体は、例えば、2.25Cr-1Mo鋼で作られた中実丸棒(φ40×t8×L430)に周溶接を行い、中心をくり貫いた溶接継手管から成る試験片5である。この試験片5の周溶接部6は、1〜4層の被覆アーク溶接にてできる限り実機部材の溶接部に近い状態となるように作成し、993K×1.3hrにて熱処理するのがよい。この試験片5については、配管内圧クリープ破壊試験を行う。具体的には、試験片5を電気炉内で加熱しながら、試験片5に加圧した水を注入し、高圧蒸気にして内圧を負荷すればよい。この試験においても、適宜中途止めを行い、各中途止め時において粗粒部及び細粒部におけるボイドを観察し、後述の方法により各パラメータを求める。試験条件を以下に示す。
The specimen shown in FIG. 3 is, for example, a
(1)試験温度は、903K
(2)周方向応力は、61.3MPa(平均径の式による)。(1) Test temperature is 903K
(2) The circumferential stress is 61.3 MPa (according to the average diameter formula).
図4の供試体7は、例えば、2.25Cr-1Mo鋼で作られた高温再熱蒸気管エルボの廃材であり、この供試体7の溶接部8は、同じ曲率で曲げた一対の板を管状に組み合わせた後、長手方向に施したサブマージアーク溶接で形成される。この供試体7については、適宜中途止めを行いながら内圧クリープ破壊試験(実機加速試験)を行う。具体的には、供試体7の周囲を板型ヒーターで囲んで加熱した後、供試体7内に加圧した水を注入し、高圧蒸気にして内圧を負荷する。この試験においては、例えば、溶接部8付近の表面上に定めた2つの観察位置9a、9bにおいて、各中途止め時における粗粒部及び細粒部のボイドを観察し、各パラメータを求める。試験条件を以下に示す。 The specimen 7 in FIG. 4 is a waste material of a high temperature reheat steam pipe elbow made of, for example, 2.25Cr-1Mo steel, and the welded portion 8 of the specimen 7 is a tubular pair of plates bent with the same curvature. After being combined, the submerged arc welding is performed in the longitudinal direction. The specimen 7 is subjected to an internal pressure creep rupture test (actual machine acceleration test) while appropriately stopping the test. Specifically, after the sample 7 is surrounded by a plate heater and heated, pressurized water is injected into the sample 7 to form high-pressure steam and an internal pressure is applied. In this test, for example, at the two observation positions 9a and 9b determined on the surface near the welded portion 8, the voids of the coarse grain portion and the fine grain portion at each halfway stop are observed, and each parameter is obtained. Test conditions are shown below.
(1)試験温度は、923K
(2)試験応力は、内庄3.0MPa
(3)エルボ腹部中央の最大主応力は、39.2MPa
(4)供試体7の廃却時までの実使用時間は、約1475hr。(1) Test temperature is 923K
(2) Test stress is Uchisho 3.0MPa
(3) The maximum principal stress at the center of the elbow abdomen is 39.2 MPa
(4) The actual usage time until the specimen 7 is discarded is about 1475 hours.
図5は、更に別のクリープ試験を行うため、火力発電所の実機廃材から試験片を採取した位置を示す。(a)のSH管寄Tピースパイプ及び(b)のRHYピースパイプでは、周溶接部10、11付近の表面においてボイドを観察し、ボイドの存在が認められた部位近傍の断面から、直径10mmで標点間距離50mmの丸棒試験片を採取する。(c)のRH管寄スタブでは、ボイドの存在が認められた管寄スタブ溶接部12近傍の断面から、直径2mmのミニチュアクリープ丸棒試験片を採取する。これらの試験片については、適宜中途止めを行いながら、不活性ガス雰囲気中での単軸クリープ破断試験を行い、各中途止め時において粗粒部及び細粒部にてボイドを観察し、各パラメータを求める。各廃材の使用条件を以下の表に示す。
FIG. 5 shows a position where a test piece is collected from the actual waste material of the thermal power plant in order to perform another creep test. In the SH pipe T piece pipe of (a) and the RHY piece pipe of (b), voids were observed on the surface in the vicinity of the
図6は、試験片5(図3)を用いた配管内圧クリープ破壊試験の各中途止め時におけるボイドの発生状況を示す。ボイド観察においては、例えば、図のように走査型電子顕微鏡(以下「SEM」という)を用いて試験片5の表面を直接画像化してもよいし、試験片5の表面を研磨し、腐食させ、所定の膜(例えば、アセチルセルロースフィルム)を貼り付けて部材表面を写しとったレプリカをSEMで画像化して観察することもできる。
FIG. 6 shows the occurrence of voids during each halfway stop of the pipe internal pressure creep rupture test using the test piece 5 (FIG. 3). In void observation, for example, the surface of the
レプリカ採取において、試験片5の表面を研磨するには、例えば、グラインダにて粗研磨し、120番〜1000番の研ぎ目の砥石にて順次研磨した後、3μm〜1μm程度のダイヤモンド粒子によるバフ研磨を順次行い、鏡面仕上げを行うのがよい。
In collecting replicas, the surface of the
更に、試験片5の表面を腐食させるには、例えば、上記のように表面を研磨した後に、腐食液を脱脂綿に染み込ませて研磨面に塗布することにより、金属組織中の結晶粒界を識別可能にすることができる。腐食には、以下の2種類の腐食液を用いることができる。
Furthermore, in order to corrode the surface of the
(1)ピクリン酸:飽和ピクリン酸(メタノールに溶解)+界面活性剤
(2)硝酸(5ml)+メタノール(95ml)。(1) Picric acid: saturated picric acid (dissolved in methanol) + surfactant
(2) Nitric acid (5 ml) + methanol (95 ml).
上記界面活性剤には、例えば、ドデシルベンゼンスルホン酸ナトリウムを用い、飽和ピクリン酸100mlに対して1gの割合で混ぜ合わせるのがよい。 As the surfactant, for example, sodium dodecylbenzenesulfonate is preferably used and mixed at a rate of 1 g with respect to 100 ml of saturated picric acid.
そして、レプリカを採取するには、腐食した試験片5の表面にレプリカ軟化材(例えば、酢酸メチル)を塗布し、アセチルセルロースフィルムを貼り付けて、レプリカ軟化材が十分乾燥した後、このアセチルセルロースフィルムを剥がせば、試験片5の表面を写しとることができる。これにより、試験片5の表面に生じているボイドは、当該レプリカ上で突起となって現れる。
In order to collect a replica, a replica softening material (for example, methyl acetate) is applied to the surface of the corroded
また、ボイド観察においては、予め光学顕微鏡等により所定の範囲(例えば、30mm2)におけるボイド発生状況を観察して、最も損傷が進行している(ボイドの発生・連結が集中している)箇所を確認した後、その箇所をSEMにて観察(例えば、1000倍で観察)すれば、損傷が進行している箇所を見逃すことなくボイド観察を行うことができる。In addition, in the observation of voids, the state of occurrence of voids in a predetermined range (for example, 30 mm 2 ) is observed in advance with an optical microscope or the like, and the place where the damage is most advanced (void generation / connection is concentrated) After confirming the above, if the portion is observed with an SEM (for example, observed at a magnification of 1000), void observation can be performed without missing the portion where the damage has progressed.
再び図6に戻り、試験片5の表面では、配管内圧クリープ破壊試験における時間の経過とともに、ボイドの数が増加しているのがわかる。例えば、各中途止め時におけるボイド発生状況は、図に示すように、
(1)クリープ寿命消費率(t/tr)=0.49では、1μm程度のボイドが発生し、
(2)t/tr=0.73では、同一粒界に複数のボイドが発生し、
(3)t/tr=0.97では、ボイドの連結が認められ、
(4)t/tr=1.0では、微視き裂を形成していた。Returning to FIG. 6 again, it can be seen that the number of voids increases on the surface of the
(1) When the creep life consumption rate (t / tr) = 0.49, a void of about 1 μm is generated.
(2) At t / tr = 0.73, multiple voids occur at the same grain boundary,
(3) At t / tr = 0.97, void connection is observed,
(4) At t / tr = 1.0, a microcrack was formed.
ここで、上記各中途止め時をクリープ寿命消費率(t/tr)で表したが、これは、試験片5がクリープ破壊に至るまで配管内圧クリープ破壊試験を行った結果から得られた値である。
Here, each halfway stop time was expressed as a creep life consumption rate (t / tr), which is a value obtained from the result of the pipe internal pressure creep rupture test until the
このように、ボイドは、初め複数の粒界上にランダムに発生するが、その後は特定の位置で集中的に発生し、やがてこれらが連結して微視き裂を形成することがわかる。 As described above, voids are initially randomly generated on a plurality of grain boundaries, but thereafter are intensively generated at specific positions, and these are eventually connected to form a microcrack.
図7は、供試体7(図4)を用いた内圧クリープ破壊試験(実機加速試験)の各中途止め時における観察位置9a、9bのボイド発生状況を示す。この試験においても、ボイドは、複数の粒界上にランダムに発生し始めた後、特定の位置で集中的に増加し、やがてこれらが連結して微視き裂を形成することがわかる。 FIG. 7 shows the occurrence of voids at the observation positions 9a and 9b when the internal pressure creep rupture test (actual machine acceleration test) using the specimen 7 (FIG. 4) is stopped halfway. In this test as well, it can be seen that voids start to be generated randomly on a plurality of grain boundaries, then increase in a concentrated manner at specific positions, and eventually connect to form a microcrack.
図8は、実施例のクリープ余寿命評価方法にて機器部材の余寿命を評価するためのLパラメータの基本的な考え方を示す。 FIG. 8 shows a basic concept of the L parameter for evaluating the remaining life of the equipment member by the creep remaining life evaluation method of the embodiment.
Lパラメータは、ボイド観察位置表面の所定の範囲の面積に対する該範囲内で複数の結晶粒界に亘って存在するボイドの個数の比で表される。具体的な求め方は、まず、観察位置の表面における所定の範囲(例えば、1mm2)内で、少なくとも2つの結晶粒界の各長さの1/2以上に亘って存在するボイド(以下「連結ボイド」という)の個数を求める。The L parameter is represented by the ratio of the number of voids existing across a plurality of crystal grain boundaries within the predetermined area of the void observation position surface. Specifically, first, voids (hereinafter referred to as “below”, which exist within a predetermined range (for example, 1 mm 2 ) on the surface of the observation position and over 1/2 of each length of at least two grain boundaries. Number of connected voids).
例えば、図のように、ある範囲において結晶粒界15上に3つのボイド16a、16b、16cが存在する場合、最も上にあるボイド16aは、1つの結晶粒界上にのみ存在するものであるため、連結ボイドとして数えず、無視することができる。 For example, as shown in the figure, when there are three voids 16a, 16b, and 16c on the crystal grain boundary 15 in a certain range, the uppermost void 16a exists only on one crystal grain boundary. Therefore, it is not counted as a connecting void and can be ignored.
次に、中央のボイド16bは、3つの結晶粒界15上に存在し、かつ2つの結晶粒界15を完全に覆っているため、これを連結ボイドとして数える。 Next, since the central void 16b exists on the three crystal grain boundaries 15 and completely covers the two crystal grain boundaries 15, this is counted as a connecting void.
そして、ボイド16cは、3つの結晶粒界15上に存在し、かつ完全に覆っている結晶粒界15はないものの、2つの結晶粒界15の各長さの1/2以上に亘って存在するので、これも連結ボイドとして数える。 The void 16c exists on the three crystal grain boundaries 15, and there is no crystal grain boundary 15 that completely covers the void 16c, but exists over more than half of each length of the two crystal grain boundaries 15. Therefore, this is also counted as a connecting void.
上記の方法によって、各クリープ試験の中途止め時において、観察位置表面における所定の範囲(例えば、1mm2)内で連結ボイドの個数を求めた後、この個数を、評価対象範囲の面積(例えば、1mm2)で除した値で表されるLパラメータを求める。従って、Lパラメータは、以下の式で定義される。By determining the number of connecting voids within a predetermined range (for example, 1 mm 2 ) on the surface of the observation position by the above method at the midpoint of each creep test, this number is calculated as the area of the evaluation target range (for example, The L parameter expressed by the value divided by 1 mm 2 ) is obtained. Therefore, the L parameter is defined by the following equation.
図9は、別のパラメータであるMパラメータの基本的な考え方を示す。 FIG. 9 shows the basic concept of the M parameter, which is another parameter.
Mパラメータは、ボイド観察位置表面の所定の範囲(例えば、1mm2)内において、1結晶粒界の長さに対する該粒界上にある全ボイドの長さの合計の比をボイド粒界占有率として各結晶粒界について求め、その最大値で表される。即ち、Mパラメータは、以下の式で求めることができる。The M parameter is the ratio of the total length of all voids on the grain boundary to the length of one grain boundary within a predetermined range (for example, 1 mm 2 ) on the void observation position surface. It calculates | requires about each crystal grain boundary and is represented by the maximum value. That is, the M parameter can be obtained by the following equation.
ここで、mはボイドが存在する粒界の数、
nは各粒界上に存在するボイドの個数、
lαiはα番目の粒界上に存在するi番目のボイドの粒界方向の長さ、
Lαはボイドが存在するα番目の粒界の長さ
である。Where m is the number of grain boundaries where voids exist,
n is the number of voids present on each grain boundary,
l αi is the grain boundary length of the i th void existing on the α th grain boundary,
L α is the length of the α-th grain boundary where a void exists.
従って、図のように、ある粒界17上に2つのボイド18が存在し、各ボイド18の粒界方向の長さがl1、l2で、当該粒界の長さがLとすると、この粒界におけるボイド粒界占有率は、以下の式により求めることができる。Therefore, as shown in the figure, if there are two voids 18 on a certain grain boundary 17, the length of each void 18 in the grain boundary direction is l 1 and l 2 , and the length of the grain boundary is L, The void grain boundary occupation ratio in this grain boundary can be calculated | required by the following formula | equation.
このように、所定の範囲内で各粒界についてボイド粒界占有率を求めることにより、その最大値をMパラメータとして得ることができる。 Thus, by obtaining the void grain boundary occupation ratio for each grain boundary within a predetermined range, the maximum value can be obtained as the M parameter.
再びメインフローチャート(図1)に戻り、上記の各種クリープ試験を終えた後、各中途止め時において求めたLパラメータに基づいて、クリープ余寿命の評価基準としての各マスターカーブを作成する(ST2、ST3)。 Returning to the main flow chart (FIG. 1) again, after completing the above various creep tests, each master curve is created as an evaluation criterion for the remaining creep life based on the L parameter obtained at each halfway stop (ST2, ST3).
図10は、Lパラメータとクリープ寿命消費率との関係を表すマスターカーブである。 FIG. 10 is a master curve showing the relationship between the L parameter and the creep life consumption rate.
クリープ寿命消費率は、新材の時からクリープ破壊に至るまでの総時間“tr”に対するクリープ試験に供した時間及び実使用時間の合計時間“t”の比で表される。従って、供試体がクリープ破壊に至ったときは、“t/tr=1”であり、この値が小さいほど新材の状態に近い、即ち余寿命が長いと評価することができる。 The creep life consumption rate is represented by the ratio of the total time “t” of the time used for the creep test and the actual use time with respect to the total time “tr” from the time of the new material to creep rupture. Therefore, when the specimen reaches creep fracture, it is “t / tr = 1”, and it can be evaluated that the smaller this value is, the closer to the state of the new material, that is, the longer the remaining life.
このマスターカーブによれば、Lパラメータは、機器部材の寿命の前半ではほぼ“0”であり、寿命の後半において増加することを示す。これにより、このLパラメータに基づくマスターカーブは、
(1)クリープ破壊は、粒界上で発生したボイドが成長、合体、連結して微視き裂を形成することが主要因である点、
(2)微視き裂は、特にクリープ寿命の後半において集中的に発生する点、
(3)連結ボイドは、少なくとも2以上の粒界の各長さの1/2以上に亘って存在する、即ち複数のボイドが連結してできたものである点
をよく反映していることがわかる。According to this master curve, the L parameter is substantially “0” in the first half of the life of the equipment member, and increases in the second half of the life. Thus, the master curve based on this L parameter is
(1) The main cause of creep fracture is that voids generated on grain boundaries grow, coalesce and connect to form microcracks,
(2) Microcracks are concentrated in the latter half of the creep life,
(3) The connection void is well reflected in that it exists over at least half of the length of at least two grain boundaries, that is, it is formed by connecting a plurality of voids. Recognize.
図11は、Mパラメータとクリープ寿命消費率との関係を表すマスターカーブである。 FIG. 11 is a master curve showing the relationship between the M parameter and the creep life consumption rate.
このマスターカーブによれば、Mパラメータは、クリープ寿命の全般に亘って下に凸の滑らかな曲線を描いて増加し、Lパラメータによるマスターカーブ(図10)その他の従来法によるマスターカーブ(例えば、図13)のような寿命後期における急激な増加は認められない。また、Mパラメータは、局在化した損傷部、即ち最大損傷部のみに着目してクリープ寿命を評価するものであるため、寿命の初期においてもある程度の値を示すことがわかる。以上より、このMパラメータに基づくマスターカーブは、ボイドの成長及び連結が、溶接熱影響部粗粒域の結晶粒界上において、ある特定の粒界上で集中的に進行することにより、き裂が発生し、これが成長して破壊に至るというクリープ破壊のメカニズムを直接的に反映していることがわかる。 According to this master curve, the M parameter increases while drawing a downward convex smooth curve over the entire creep life, and the master curve according to the L parameter (FIG. 10) and other conventional master curves (for example, A rapid increase in the late stage of life as shown in FIG. 13) is not recognized. In addition, since the M parameter evaluates the creep life by focusing only on the localized damaged portion, that is, the maximum damaged portion, it can be seen that the M parameter shows a certain value even at the initial stage of the life. From the above, the master curve based on this M parameter indicates that the growth and connection of voids proceed intensively on a specific grain boundary on the grain boundary in the coarse region of the weld heat affected zone. It can be seen that this directly reflects the mechanism of creep rupture, which grows and breaks.
次に、実際に発電プラントのボイラにおいて使用され、クリープ損傷している部材の余寿命を評価するため、評価対象の実機部材から各種のパラメータを求める(ST4)。ここで、実施例のクリープ余寿命評価方法では、実機部材のクリープ余寿命をより精度良く評価するため、前述のLパラメータとMパラメータに基づく各評価結果と、従来の余寿命評価方法による推定結果とを比較する。例えば、従来の余寿命評価方法としては、ボイド個数密度法を採用することができる。 Next, in order to evaluate the remaining life of a member that is actually used in a boiler of a power plant and is creep damaged, various parameters are obtained from the actual machine member to be evaluated (ST4). Here, in the creep remaining life evaluation method of the example, in order to evaluate the creep remaining life of the actual machine member with higher accuracy, each evaluation result based on the aforementioned L parameter and M parameter, and the estimation result by the conventional remaining life evaluation method And compare. For example, a void number density method can be employed as a conventional remaining life evaluation method.
実機部材から各種パラメータを求める具体的な方法は、当該部材の溶接部のうち、過去の余寿命診断経歴、構造、応力、温度、荷重等の条件を総合的に勘案して、最も過酷な条件下にある箇所を選び、該箇所の表面からレプリカを採取する。このレプリカに写しとった部材表面をSEMで拡大表示すれば、所定の範囲における各種パラメータを求めることができる。 The specific method for obtaining various parameters from actual machine members is to determine the most severe conditions by comprehensively considering the past remaining life diagnosis history, structure, stress, temperature, load, etc. Pick a spot below and take a replica from the surface of that spot. When the member surface copied on the replica is enlarged and displayed by SEM, various parameters in a predetermined range can be obtained.
Lパラメータ及びMパラメータの求め方は、メインフローチャートのST1で説明したとおりである。以下、ボイド個数密度法のパラメータであるボイド個数密度の求め方を説明する。 The method for obtaining the L parameter and the M parameter is as described in ST1 of the main flowchart. Hereinafter, a method for obtaining the void number density which is a parameter of the void number density method will be described.
図12は、ボイド個数密度法のパラメータであるボイド個数密度の基本的な考え方を示す。ボイド個数密度は、所定の範囲の面積(例えば、1mm2)に対する該範囲内に存在する全ボイド20の個数の比であり、具体的には、以下の式で定義される。FIG. 12 shows the basic concept of void number density, which is a parameter of the void number density method. The void number density is a ratio of the number of all the voids 20 existing in a predetermined area (for example, 1 mm 2 ), and is specifically defined by the following equation.
具体的には、図に示したある範囲において、6つのボイド20が存在する場合には、各ボイド20の大きさに係わらず、これら全てのボイドの個数を数える。この作業を、所定の範囲内で行い、当該範囲の面積で除してボイド個数密度を求める。 Specifically, when there are six voids 20 within a certain range shown in the figure, the number of all these voids is counted regardless of the size of each void 20. This operation is performed within a predetermined range, and the void number density is obtained by dividing by this area.
また、ボイド個数密度を求める場合においても、ST1で説明したように、光学顕微鏡等により予め所定の範囲(例えば、30mm2)を観察し、損傷の最も進行している箇所を選び、当該箇所をSEMにて拡大して観察するのがよい。Also, when obtaining the void number density, as described in ST1, a predetermined range (for example, 30 mm 2 ) is observed in advance with an optical microscope or the like, and a location where damage is most advanced is selected. It is better to observe with SEM.
図13は、ボイド個数密度法のマスターカーブである。このマスターカーブは、メインフローチャート(図1)のST1で説明した各種クリープ試験によって自ら作成することもできるし、ボイド個数密度法その他の従来の余寿命評価方法によるマスターカーブは、公開されているため、これを利用することも可能である。 FIG. 13 is a master curve of the void number density method. This master curve can be created by itself by various creep tests described in ST1 of the main flowchart (FIG. 1), and the master curve by the void number density method and other conventional remaining life evaluation methods has been made public. It is also possible to use this.
再びメインフローチャート(ST1)に戻り、実機部材から求めた各種パラメータを、各パラメータに対応するマスターカーブ(図10、図11、図13)と照合し(ST5)、実機部材がクリープ破壊するまでの時間を推定する(ST6)。 Returning to the main flowchart (ST1) again, various parameters obtained from the actual machine members are collated with the master curves (FIGS. 10, 11, and 13) corresponding to the respective parameters (ST5), and until the actual machine members are creep-destructed. Time is estimated (ST6).
具体的には、例えば、実機部材のレプリカから求めたLパラメータが“67個/mm2”とすると、これをマスターカーブ(図10)と照合することにより、クリープ寿命消費率は“t/tr≒0.94”と推定することができる。即ち、このマスターカーブによれば、当該部材の余寿命は、全寿命の6%であると推定することができる。Specifically, for example, if the L parameter obtained from the replica of the actual machine member is “67 pieces / mm 2 ”, the creep life consumption rate is “t / tr” by comparing this with the master curve (FIG. 10). ≒ 0.94 "can be estimated. That is, according to this master curve, the remaining life of the member can be estimated to be 6% of the total life.
この“全寿命の6%”に相当する時間は、評価対象の実機部材の当該評価時における実使用時間が“t≒7000hr”とすると、以下の式により求めることができる。 The time corresponding to “6% of the total lifetime” can be obtained by the following formula, assuming that the actual use time of the actual machine member to be evaluated is “t≈7000 hr”.
また、実機部材のレプリカから求めたMパラメータが“0.87”とすると、これをマスターカーブ(図11)と照合することにより、クリープ寿命消費率は“t/tr≒0.97”と推定することができる。即ち、このマスターカーブによれば、当該部材の余寿命は、全寿命の3%に相当する時間であり、以下の式により求めることができる。 If the M parameter obtained from the replica of the actual machine member is “0.87”, the creep life consumption rate can be estimated as “t / tr≈0.97” by comparing this with the master curve (FIG. 11). . That is, according to this master curve, the remaining life of the member is a time corresponding to 3% of the total life, and can be obtained by the following equation.
更に、実機部材のレプリカから求めたボイド個数密度が“650個/mm2”とすると、これをマスターカーブ(図13)と照合することにより、クリープ寿命消費率は“t/tr≒0.92”と推定することができる。従って、ボイド個数密度法のマスターカーブによれば、当該部材の余寿命は、全寿命の8%に相当する時間であり、以下の式により求めることができる。Furthermore, if the void number density obtained from the replica of the actual machine member is “650 / mm 2 ”, the creep life consumption rate is “t / tr≈0.92” by comparing this with the master curve (FIG. 13). Can be estimated. Therefore, according to the master curve of the void number density method, the remaining life of the member is a time corresponding to 8% of the total life, and can be obtained by the following equation.
最後に、各方法による余寿命推定結果として得た時間のうち最短のものを、評価対象の実機部材がクリープ破壊に至るまでの時間と推定する(ST7)。即ち、
(1)Lパラメータに基づいて求めた余寿命は“447hr”、
(2)Mパラメータに基づいて求めた余寿命は“216hr”、
(3)ボイド個数密度法による余寿命は“609hr”
であるから、当該部材の余寿命は、Mパラメータに基づいて求められた“216hr”と推定することができる。Finally, the shortest time obtained as the remaining life estimation result by each method is estimated as the time until the actual machine member to be evaluated reaches the creep failure (ST7). That is,
(1) The remaining life calculated based on the L parameter is “447hr”
(2) The remaining life calculated based on the M parameter is "216hr"
(3) Remaining life by void number density method is “609hr”
Therefore, the remaining life of the member can be estimated to be “216 hr” obtained based on the M parameter.
以上のように、本発明のクリープ余寿命評価方法によれば、細粒部の余寿命評価に適したLパラメータ法と、祖粒部の余寿命評価に適したMパラメータ法(Mパラメータ法)とを組み合わせることにより、実機部材における評価対象部位が細粒部又は粗粒部のいずれであるかに拘わらず、実機部材の任意の箇所においてクリープ余寿命を評価することができる。更に、上記のボイド個数密度法など、従来の余寿命評価方法による推定結果と比較することにより、一層信頼度の高い余寿命評価を行うことができる。 As described above, according to the creep remaining life evaluation method of the present invention, the L parameter method suitable for the remaining life evaluation of the fine grain part and the M parameter method (M parameter method) suitable for the remaining life evaluation of the grand grain part. Can be used to evaluate the remaining creep life at any location of the actual machine member, regardless of whether the evaluation target site in the actual machine member is a fine-grained portion or a coarse-grained portion. Furthermore, the remaining life evaluation with higher reliability can be performed by comparing with the estimation result by the conventional remaining life evaluation method such as the void number density method.
以上、実施例のクリープ余寿命評価方法により実機部材の余寿命を評価する方法について説明したが、本発明のクリープ寿命評価方法におけるLパラメータの信頼性について触れておく。クリープ寿命評価の信頼性とは、採用したパラメータによる評価結果(余寿命又はクリープ寿命消費率)が、クリープ試験の結果にどれだけ近いものであるかをいう。従って、考えられ得るあらゆるパラメータを、実機部材の余寿命評価にそのまま用いることができるわけではなく、余寿命評価に採用しようとするパラメータの信頼性を予め確認しておくことが必要である。以下、Lパラメータの信頼性を確認するための精度確認試験結果の一例を示す。 The method for evaluating the remaining life of the actual machine member by the creep remaining life evaluation method of the embodiment has been described above, but the reliability of the L parameter in the creep life evaluating method of the present invention will be mentioned. The reliability of the creep life evaluation refers to how close the evaluation result (remaining life or creep life consumption rate) by the adopted parameters is to the result of the creep test. Therefore, not all parameters that can be considered can be used as they are in the remaining life evaluation of actual machine members, and it is necessary to confirm in advance the reliability of the parameters to be employed in the remaining life evaluation. Hereinafter, an example of the accuracy confirmation test result for confirming the reliability of the L parameter is shown.
(1)実機規模高温再熱蒸気管シミュレート破壊試験(15mm角×L50mmの供試体を用いたクリープ試験)について破断時間は147hrであり、クリープ試験から得られたクリープ寿命消費率は、“t/tr=0.93”であった。一方、このときの供試体細粒部表面でLパラメータを適用した結果であるクリープ寿命消費率も、“t/tr=0.93”であった。 (1) For the real scale high temperature reheat steam pipe simulated fracture test (creep test using a 15mm square x L50mm specimen), the rupture time is 147hr, and the creep life consumption rate obtained from the creep test is "t /Tr=0.93 ". On the other hand, the creep life consumption rate as a result of applying the L parameter to the surface of the fine grain part of the specimen was also “t / tr = 0.93”.
(2)実機廃却材クリープ試験(φ20mm×L50mmの供試体を用いたクリープ試験)について破断時間は85hrであり、クリープ試験から得られたクリープ寿命消費率は、“t/tr=0.96”であった。一方、このときの供試体細粒部表面でLパラメータを適用した結果であるクリープ寿命消費率は、“t/tr=0.98”であった。 (2) With regard to the actual machine waste material creep test (creep test using φ20mm × L50mm specimen), the rupture time is 85hr, and the creep life consumption rate obtained from the creep test is “t / tr = 0.96” there were. On the other hand, the creep life consumption rate as a result of applying the L parameter on the surface of the fine grain part of the specimen at this time was “t / tr = 0.98”.
このように、クリープ試験結果とLパラメータによる結果(クリープ寿命消費率)は、ほぼ一致(約1%程度の誤差)しており、Lパラメータの信頼性は、非常に高いものであることを確認することができる。 In this way, the creep test result and the result by the L parameter (creep life consumption rate) are almost the same (an error of about 1%), confirming that the reliability of the L parameter is very high. can do.
また、実施例では、少なくとも2つの結晶粒界の各長さの1/2以上に亘って存在する拡張ボイドを、複数の結晶粒界上で発生したボイドが合体することによって形成された連結ボイドと捉えているが、拡張ボイドのうち、1つのボイドが成長して大きくなったものと複数のボイドが合体したものとを明確に区別することができる場合には、連結したものとそうでないものとを区別して数えるようにしてもよい。 Further, in the embodiment, the connection void formed by combining the voids generated on the plurality of crystal grain boundaries with the extended voids existing over at least half of each length of the two crystal grain boundaries. However, if it is possible to clearly distinguish between expanded voids that grow and grow from one void and those that combine multiple voids, those that are connected and those that are not And may be counted separately.
また、実施例では、クリープ余寿命としての時間を求める際には、ST1の各種クリープ試験から得られた各パラメータとクリープ寿命消費率との関係を表すデータに基づいて、コンピュータでマスターカーブを作成することにより、実機部材から求めた各種のパラメータを入力するだけで、上記の各計算式に基づいてクリープ寿命消費率及び余寿命を即座に求めることも可能である。 In the example, when calculating the time as the remaining creep life, a master curve is created by a computer based on data representing the relationship between each parameter obtained from various creep tests of ST1 and the creep life consumption rate. By doing so, it is possible to immediately obtain the creep life consumption rate and the remaining life based on the above-described calculation formulas only by inputting various parameters obtained from actual machine members.
以上、実施例のクリープ余寿命評価方法により実機部材の余寿命を評価する方法について説明したが、本発明はこれに限られず、例えば、実施例では、従来のボイド個数密度法による推定結果も比較対象としたが、その他のパラメータに基づく評価方法による推定結果を比較対象とすることもできる。その他の方法としては、例えば、Aパラメータ法、組織対比法、ボイド面積率法、又はボイド面積密度法を採用することができる。 As described above, the method of evaluating the remaining life of the actual machine member by the creep remaining life evaluation method of the embodiment has been described, but the present invention is not limited to this. For example, in the embodiment, the estimation result by the conventional void number density method is also compared. Although it was set as a target, estimation results by an evaluation method based on other parameters can be set as comparison targets. As other methods, for example, an A parameter method, a tissue contrast method, a void area ratio method, or a void area density method can be employed.
また、実施例では、実機部材の余寿命評価基準として、Lパラメータ又はMパラメータとクリープ寿命消費率との関係を表す各マスターカーブを採用したが、両者の関係を表すデータベースを作成しておき、これを実機部材から求めた各種パラメータと照合して余寿命を評価することもできる。いずれの方法においても、コンピュータを用いて、実機部材から求めたLパラメータを入力することによって余寿命を自動的に算出させるようにすることができる。 Further, in the examples, each master curve representing the relationship between the L parameter or the M parameter and the creep life consumption rate was adopted as the remaining life evaluation standard of the actual machine member, but a database representing the relationship between the two was created, The remaining life can also be evaluated by comparing this with various parameters obtained from actual machine members. In any of the methods, the remaining life can be automatically calculated by inputting the L parameter obtained from the actual machine member using a computer.
更に、実施例では、実機部材からLパラメータを求める際には、部材表面のレプリカを採取して、レプリカをSEM等により拡大して目視によりボイドを観察しているが、レプリカ等で部材表面を画像化した後、コンピュータ等の機械によって連結ボイドを自動認識し、画像上でそれらの個数を迅速かつ容易に求めることも可能である。
Further, in the embodiment, when obtaining the L parameter from the actual machine member, a replica of the member surface is collected, and the replica is enlarged by SEM or the like and the void is visually observed. After imaging, it is also possible to automatically recognize the connected voids by a machine such as a computer and quickly and easily obtain the number of them on the image.
Claims (8)
前記機器部材の表面において、所定の範囲内で複数の結晶粒界に亘って存在する特定ボイドの個数を求め、前記所定の範囲の面積に対する当該特定ボイドの個数の比を特定ボイド密度とし、
前記機器部材の表面において、所定の範囲内で1結晶粒界の長さに対する該粒界上にある全ボイドの長さの合計の比をボイド粒界占有率として各結晶粒界について求め、その最大値を最大ボイド粒界占有率とし、
前記特定ボイド密度と前記最大ボイド粒界占有率に基づいて前記機器部材の余寿命をそれぞれ評価し、いずれか短く評価された方の結果を前記機器部材の余寿命とすることを特徴とするクリープ余寿命評価方法。In the method for evaluating the time until the creep failure of the equipment member subjected to creep damage or the remaining life represented by the creep life consumption rate,
On the surface of the device member, the number of specific voids existing across a plurality of grain boundaries within a predetermined range is obtained, and the ratio of the number of specific voids to the area of the predetermined range is defined as the specific void density,
On the surface of the device member, a ratio of the total length of all voids on the grain boundary to the length of one grain boundary within a predetermined range is determined for each grain boundary as a void grain boundary occupation ratio, Let the maximum value be the maximum void grain boundary occupancy,
Creep characterized by evaluating the remaining life of the device member based on the specific void density and the maximum void grain boundary occupancy, respectively, the result of which one of the shorter evaluation is the remaining life of the device member Remaining life evaluation method.
nは各粒界上に存在するボイドの個数、
lαiはα番目の粒界上に存在するi番目のボイドの粒界方向の長さ、
Lαはボイドが存在するα番目の粒界の長さ
である。The creep remaining life evaluation method according to any one of claims 1 to 3, wherein the maximum void grain boundary occupancy is obtained by the following equation.
n is the number of voids present on each grain boundary,
l αi is the grain boundary length of the i th void existing on the α th grain boundary,
L α is the length of the α-th grain boundary where a void exists.
8. The creep remaining life evaluation method according to claim 7, wherein the image of the surface of the device member is obtained by polishing the surface of the device member and then corroding the surface of the device member, and then copying the surface by applying a predetermined film. A creep remaining life evaluation method characterized by being obtained by imaging the surface of the equipment member using means.
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