JPWO2005041175A1

JPWO2005041175A1 - 情報記録装置及び情報記録方法

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Publication number: JPWO2005041175A1
Application number: JP2005514999A
Authority: JP
Inventors: 堀川　邦彦; 邦彦堀川; 城田　彰; 彰城田; 内野　裕行; 裕行内野; 谷口　昭史; 昭史谷口; 村松　英治; 英治村松
Original assignee: Pioneer Corp
Current assignee: Pioneer Corp
Priority date: 2003-10-27
Filing date: 2004-10-26
Publication date: 2007-08-23
Also published as: US20070133369A1; US7719943B2; WO2005041175A1

Abstract

熱干渉の発生を効果的に防止し、適切な形状の記録マークを形成することが可能な情報記録装置及び方法を提供する。記録媒体にレーザ光を照射して記録信号に応じた記録マークを形成する情報記録装置は、前記レーザ光を出射する光源と、前記記録信号に基づいて記録パルス信号を生成する信号生成手段と、前記記録パルス信号に基づいて前記光源を駆動する駆動手段と、を備える。前記記録パルス信号は、前記記録マークを形成するマーク期間と、前記記録マークを形成しないスペース期間とを含む。前記記録パルス信号は、所定長さ以下のスペース期間の全体、及び、前記所定長さより長いスペース期間の一部におけるレベルをオフレベルとする。記録パルス信号がオフレベルとなっている期間は記録媒体が冷却されるので、熱干渉の影響を抑制することができる。

Description

本発明は、レーザ光線などを利用して光ディスクに情報を記録する技術に属する。

ＤＶＤ−Ｒ（DVD-Recordable）、ＤＶＤ−ＲＷ（DVD-Re-recordable）などの書き込み又は書き換え可能な光ディスクには、ディスクの記録面上にレーザ光を照射して情報を記録する。光ディスクの記録面上のレーザ光が照射された部分は、温度が上昇するために光ディスクを構成する光記録媒体に変化が生じ、これにより記録マークが記録面上に形成される。

よって、記録すべき情報に応じた時間幅を有する記録パルスでレーザ光を変調して記録すべき信号に応じた長さのレーザパルスを生成し、これを光ディスクに照射することにより、記録すべき情報に応じた長さの記録マークを光ディスク上に形成することができる。

一方、最近では１つの記録マークを１つのレーザパルスで形成するのではなく、複数の短いパルスを含むパルス列部（パルストレインとも呼ばれる）により記録マークを形成するレーザパワーの制御手法が利用されている。このような手法はライトストラテジーとも呼ばれ、単一の記録パルスを照射する方法に比べて、光ディスクの記録面上における熱蓄積が減少するので、記録マークが形成される記録面上の温度分布を均一化することができる。その結果、記録マークが涙滴形状となることを防止して好ましい形状の記録マークを形成することができる。

しかし、上述のライトストラテジーでは、通常速度での記録時には問題はないが、高速記録時にはクロックが高速化するために記録レーザを駆動する記録パルスの制御が困難となる。このような観点から、高速記録時には、パルストレインを含む記録パルス波形に代えて、トップパルス期間と、ラストパルス期間と、その間の中間バイアス期間とから構成される記録パルス波形を使用する手法が提案されている（例えば、特許文献１及び２を参照）。

上記のような記録パルス波形を使用する場合でも、連続する記録マークの間のスペース期間が短い場合や、スペース期間のレーザパワーが大きい場合には熱干渉の問題が生じる。熱干渉とは、ある記録マークを記録する際に記録レーザの照射により光ディスクの記録面に与えられた熱が、残留熱として次の記録マークの記録に影響を与えることをいう。熱干渉が生じると、短いスペース期間の後に形成される記録マークの開始位置や長さが変動して適切な形状の記録マークが形成できなくなる。

特開２００３−７７１２８号公報特開２００３−８５７５３号公報

本発明が解決しようとする課題は上記のようなものが例として挙げられる。本発明は、熱干渉の発生を効果的に防止し、適切な形状の記録マークを形成することが可能な情報記録装置及び方法を提供することにある。

本発明の１つの好適な実施形態では、記録媒体にレーザ光を照射して記録信号に応じた記録マークを形成する情報記録装置は、前記レーザ光を出射する光源と、前記記録信号に基づいて前記光源を駆動する記録パルス信号を生成する信号生成手段と、を備え、前記記録パルス信号は、前記記録マークを形成するマーク期間と、前記記録マークを形成しないスペース期間とを含み、前記記録パルス信号は、所定長さ以下のスペース期間の全体、及び、前記所定長さより長いスペース期間の一部におけるレベルがバイアスパワーレベルより低いオフレベルである。

上記の情報記録装置は、例えばＤＶＤ−Ｒなどの光ディスクに好適に適用することができる。記録信号に基づいて記録パルス信号が生成され、その記録パルス信号に基づいて記録媒体上にレーザ光を照射して記録信号に応じた記録マークを形成することにより情報を記録する。記録パルス信号は記録マークを形成するためのマーク期間と記録マークを形成しないスペース期間とを含む。

ここで、所定長さ以下のスペース期間の全体において、前記記録パルス信号はバイアスパワーレベルより低いオフレベルとなる。また、所定長さより長いスペース期間の一部においても前記記録パルス信号はオフレベルとなる。記録パルス信号がオフレベルとなっている期間は記録媒体が冷却されるので、熱干渉の影響を抑制することができる。特に所定長さ以下の短いスペース期間については、その前後に位置するマーク期間に対して熱干渉の影響が生じやすいので、そのスペース期間全体において記録パルス信号をオフレベルにすることにより、熱干渉の影響を効果的に抑制することができる。こうして、良好な形状の記録マークを形成することが可能となる。

上記の情報記録装置の一態様では、前記記録パルス信号は、前記所定長さより長いスペース期間の後端部におけるレベルを前記オフレベルとしてもよい。これにより、所定長さより長いスペース期間に続くマーク期間の前端部に対する熱干渉の影響を効果的に抑制することが可能となる。

上記の情報記録装置の他の一態様では、前記記録パルス信号は、前記所定長さより長いスペース期間の前端部におけるレベルをオフレベルとしてもよい。これにより、所定長さより長いスペース期間に先行するマーク期間の後端部に対する熱干渉の影響をも効果的に抑制することができる。

好適な実施例では、前記所定長さは最短スペース長とすることができる。また、前記オフレベルは、前記光源から前記レーザパルスが出射されないレベル、即ち、ゼロレベルとすることができる。

また、好適な実施例では、前記所定長さ以下のスペース期間に続くマーク期間の前端部は、同一長さのマーク期間毎の比較において、前記所定長さより長いスペース期間に続くマーク期間の前端部よりおのおの後方に位置する。所定長さ以下の短いスペース期間は、所定長さより長いスペース期間に比べて熱干渉の影響を受けやすいので、所定長さ以下の短いスペース期間とそれより長いスペース期間とで、後続のマーク期間の前端部位置を異ならせることにより、全てのスペース期間において良好な形状の記録マークを形成することが可能となる。

本発明の他の好適な実施形態は、記録媒体にレーザ光を照射して記録信号に応じた記録マークを形成する情報記録方法であって、記録信号に基づいて記録パルス信号を生成する信号生成工程と、前記記録パルス信号に基づいて前記記録媒体上にレーザパルスを照射する照射工程と、を備え、前記記録パルス信号は、前記記録マークを形成するマーク期間と、前記記録マークを形成しないスペース期間とを含み、前記記録パルス信号は、所定長さ以下のスペース期間の全体、及び、前記所定長さより長いスペース期間の一部におけるレベルがバイアスパワーレベルより低いオフレベルであることを特徴とする。

上記の情報記録方法によっても、前述の情報記録装置と同様に、熱干渉の影響を抑制して良好な形状の記録マークを形成することが可能となる。

本発明を適用した情報記録再生装置の概略構成を示すブロック図である。図１に示す記録制御部の構成を示すブロック図である。図２に示すＬＤドライバの構成を示すブロック図である。ＬＤの駆動電流と出力パワーの関係を示すグラフである。基本ストラテジーを示す波形図である。基本ストラテジーによる各マーク長の記録パルス波形を示す波形図である。オフパルス期間を設けないストラテジーの例を示す。３Ｔスペースをオフパルス期間に設定したストラテジーの例を示す。本発明によるオフパルス期間を設定したストラテジーを示す。本発明によるパルス波形の設定手順を示す流れ図である。本発明のストラテジーによるアシンメトリとジッタの関係を示すグラフである。本発明の変形例によるストラテジーの例を示す波形図である。

符号の説明

１情報記録再生装置
２光ピックアップ
３スピンドルモータ
１０記録制御部
１２ＬＤドライバ
１３ＡＰＣ回路
１４サンプルホールド回路
１５コントローラ
１６フロントモニタダイオード
２０再生制御部
３０サーボ制御部
４０トップパルス
４１中間バイアス部
４２ラストパルス
６５、６６、６７オフパルス期間

以下、本発明の好適な実施例を図面に基づいて説明する。

［装置構成］
図１に、本発明の実施例にかかる情報記録再生装置の全体構成を概略的に示す。情報記録再生装置１は、光ディスクＤに情報を記録し、また、光ディスクＤから情報を再生するための装置である。光ディスクＤとしては、例えば１回に限り記録が可能なＣＤ−Ｒ（Compact Disc-Recordable）又はＤＶＤ−Ｒ、複数回にわたって消去及び記録が可能なＣＤ−ＲＷ（Compact Disc-Rewritable）又はＤＶＤ−ＲＷなどの種々の光ディスクを使用することができる。

情報記録再生装置１は、光ディスクＤに対して記録ビーム及び再生ビームを照射する光ピックアップ２と、光ディスクＤの回転を制御するスピンドルモータ３と、光ディスクＤへの情報の記録を制御する記録制御部１０と、光ディスクＤに既に記録されている情報の再生を制御する再生制御部２０と、スピンドルモータ３の回転を制御するスピンドルサーボ、並びに光ピックアップ２の光ディスクＤに対する相対的位置制御であるフォーカスサーボ及びトラッキングサーボを含む各種サーボ制御を行うためのサーボ制御部３０と、を備える。

記録制御部１０は記録信号を受け取り、後述の処理により光ピックアップ２内部のレーザダイオードを駆動するための駆動信号Ｓ_Dを生成して、これを光ピックアップ２へ供給する。

再生制御部２０は、光ピックアップ２から出力される読取ＲＦ信号Ｓrfを受け取り、これに対して所定の復調処理、復号化処理などを施して再生信号を生成して出力する。

サーボ制御部３０は、光ピックアップ２からの読取ＲＦ信号Ｓrfを受け取り、これに基づいてトラッキングエラー信号及びフォーカス信号などのサーボ信号Ｓ１を光ピックアップ２へ供給するとともに、スピンドルサーボ信号Ｓ２をスピンドルモータ３へ供給する。これにより、トラッキングサーボ、フォーカスサーボ、スピンドルサーボなどの各種サーボ処理が実行される。

なお、本発明は主として記録制御部１０における記録方法に関するものであり、再生制御及びサーボ制御については既知の種々の方法が適用できるので、それらについての詳細な説明は行わない。

また、図１には本発明の１つの実施例として情報記録再生装置を例示しているが、本発明は記録専用の情報記録装置に適用することも可能である。

図２に、光ピックアップ２及び記録制御部１０の内部構成を示す。図２に示すように、光ピックアップ２は、光ディスクＤに対して情報を記録するための記録ビーム及び光ディスクＤから情報を再生するための再生ビームを生成するレーザダイオードＬＤと、レーザダイオードＬＤから出射されたレーザ光を受光して、レーザ光に対応するレーザパワーレベル信号ＬＤoutを出力するフロントモニタダイオード（ＦＭＤ）１６とを備える。

なお、光ピックアップ２は、この他に再生ビームの光ディスクＤによる反射ビームを受光して読取ＲＦ信号Ｓrfを生成するための光検出器や、記録ビーム及び再生ビーム並びに反射ビームを適切な方向に案内する光学系などの既知の構成要素を備えるが、それらの図示及び詳細な説明は省略する。

一方、記録制御部１０は、レーザダイオード（ＬＤ）ドライバ１２と、ＡＰＣ（Automatic Power Control）回路１３と、サンプルホールド（Ｓ／Ｈ）回路１４と、コントローラ１５とを備える。

ＬＤドライバ１２は、記録信号に応じた電流をレーザダイオードＬＤに供給して、光ディスクＤへ情報の記録を行う。フロントモニタダイオード１６は、光ピックアップ２内のレーザダイオードＬＤの近傍に配置され、レーザダイオードＬＤから出射されるレーザ光を受光して、そのレベルを示すレーザパワーレベル信号ＬＤoutを出力する。

サンプルホールド回路１４は、サンプルホールド信号APC-S/Hにより規定されるタイミングでレーザパワーレベル信号ＬＤoutのレベルをサンプルし、ホールドする。ＡＰＣ回路１３は、サンプルホールド回路１４の出力信号に基づき、レーザダイオードＬＤから出射されるレーザ光のバイアスパワーレベルが一定となるようにＬＤドライバ１２のパワー制御を行う。

コントローラ１５は、主として記録動作とＡＰＣ動作とを行う。まず、記録動作について説明する。記録動作では、コントローラ１５はレーザダイオードＬＤへ供給される電流量を制御するスイッチの切換信号ＳＷ_R、ＳＷ_W1及びＳＷ_W2を生成して、ＬＤドライバ１２へ供給する。

図３にＬＤドライバ１２の詳細構成を示す。図３に示すように、ＬＤドライバ１２は、バイアスレベル用の電流源１７Ｒ、ライトレベル用の電流源１７Ｗ１及び１７Ｗ２、スイッチ１８Ｒ、１８Ｗ１及び１８Ｗ２を備える。

バイアスレベル用の電流源１７Ｒは、レーザダイオードＬＤにバイアスパワーでレーザ光を出射させるための駆動電流Ｉ_Rを流す電流源であり、駆動電流Ｉ_Rはスイッチ１８Ｒを介してレーザダイオードＬＤに供給される。よって、スイッチ１８ＲをオンにするとレーザダイオードＬＤにバイアスパワーの駆動電流Ｉ_Rが供給され、スイッチ１８Ｒをオフにすると駆動電流Ｉ_Rの供給は停止される。電流源１７Ｒからの駆動電流Ｉ_Rの大きさは、制御信号Ｓ_APCにより変化する。

ライトレベル用の電流源１７Ｗ１及び１７Ｗ２は、それぞれレーザダイオードＬＤにライトパワーでレーザ光を出射させるための駆動電流Ｉ_W1及びＩ_W2を流す電流源である。駆動電流Ｉ_W1はスイッチ１８Ｗ１を介してレーザダイオードＬＤに供給され、駆動電流Ｉ_W2はスイッチ１８Ｗ２を介してレーザダイオードＬＤに供給される。

本発明によるライトストラテジーでは、第１のライトパワーＰoと、それより低い第２のライトパワーＰmの２つのレベルのライトパワーが使用される（図５参照）。スイッチ１８Ｒをオンにした状態で、スイッチ１８Ｗ１をオンにすると、レーザダイオードＬＤに駆動電流Ｉ_R及びＩ_W1の合計駆動電流が供給され、これにより第２のライトパワーＰmでレーザダイオードが駆動される。また、スイッチ１８Ｒ及び１８Ｗ１をオンにした状態でさらにスイッチ１８Ｗ２をオンにすると、レーザダイオードＬＤにはさらに駆動電流Ｉ_W2が供給され、その結果、レーザダイオードには駆動電流Ｉ_R、Ｉ_W1及びＩ_W2の合計の駆動電流が流れてレーザダイオードは第１のライトパワーＰoで駆動される。スイッチ１８Ｗ１をオフにすると駆動電流Ｉ_W1の供給は停止され、スイッチ１８Ｗ２をオフにすると駆動電流Ｉ_W2の供給は停止される。

図４に、レーザダイオードＬＤに供給される駆動電流と、レーザダイオードＬＤから出射されるレーザ光の出力パワーとの関係を示す。図４からわかるように、レーザダイオードＬＤに駆動電流Ｉ_Rを供給すると、バイアスパワーＰbでレーザ光が出射される。その状態でさらに駆動電流Ｉ_W1を加えると、第２のライトパワーＰmでレーザ光が出射される。また、さらに駆動電流Ｉ_W2を加えると、第１のライトパワーＰoでレーザ光が出射される。

光ディスクへの情報の記録時には、基本的には駆動電流Ｉ_Rを常に供給してバイアスパワーＰbでレーザ光を出射しておき、さらに記録パルスに従って駆動電流Ｉ_W1及びＩ_W2を追加することにより第１のライトパワーＰo又は第２のライトパワーＰmが印加されて、情報が光ディスクに記録される。

次に、ＡＰＣ動作について説明する。ＡＰＣ動作は、レーザダイオードＬＤにより出力されるレーザ光のバイアスパワーのレベルが一定となるように、ＬＤドライバ１２からレーザダイオードＬＤに供給される駆動電流レベルを調整するものである。より詳細には、記録信号（８−１６変調されており、３Ｔ〜１１Ｔ、１４Ｔの長さのマーク期間及びスペース期間を有する）のスペース部のうち、長いスペース期間（例えば５Ｔ〜１１Ｔ、１４Ｔのスペース期間）中において、バイアスパワーＰbのレベルが一定となるように記録制御部１０からの駆動信号Ｓ_Dを調整する。

具体的には以下のように動作する。コントローラ１５は、上述のように記録信号に対応する記録パルスを生成して、当該記録パルスによってＬＤドライバ１２を駆動してレーザダイオードＬＤからレーザ光を出射させる。

フロントモニタダイオード１６は、光ピックアップ２内のレーザダイオードＬＤの近傍に配置され、レーザダイオードＬＤから出射したレーザ光を受光してそのレベルを示すレーザパワーレベル信号ＬＤoutを生成し、サンプルホールド回路１４に供給する。

サンプルホールド回路１４は、コントローラ１５から入力されるサンプルホールド信号APC-S/Hにより与えられるタイミングで、フロントモニタダイオード１６から供給されるレーザパワーレベル信号ＬＤoutをサンプルし、そのレベルを所定期間ホールドする。コントローラ１５から出力されるサンプルホールド信号APC-S/Hは、ＡＰＣを実行する期間（「ＡＰＣ期間」と呼ぶ。）を示すパルスである。

よってサンプルホールド回路１４は、記録信号のスペース期間中のＡＰＣ期間においてレーザパワーレベル信号ＬＤoutのレベルをホールドしてＡＰＣ回路１３へ供給する。ＡＰＣ回路１３は、ＡＰＣ期間におけるレーザパワーレベル信号ＬＤoutのレベルが一定となるように、ＬＤドライバ１２へ制御信号Ｓ_APCを供給する。

制御信号Ｓ_APCは、図３に示すように、ＬＤドライバ１２内のバイアスレベル用電流源１７Ｒに入力される。これにより、制御信号Ｓ_APCに応じて、バイアスレベル用電流源１７Ｒから流れる電流Ｉ_Rが変化する。つまり、レーザダイオードＬＤにより得られるバイアスパワーレベルが一定となるようにＡＰＣが実行される。

［ライトストラテジー］
次に、本発明によるライトストラテジーについて説明する。

（基本ライトストラテジー）
まず、基本ライトストラテジーによる記録パルス波形を図５に示す。図５に示すように、基本ライトストラテジーによる記録パルス波形は、トップパルス４０、中間バイアス部４１及びラストパルス４２の３つの部分により構成される。また、これらの部分以外においては、記録パルス波形はバイアスパワーＰbのレベルに維持されている。

基本ライトストラテジーは、２値のライトパワーを使用している。トップパルス４０及びラストパルス４２は第１のライトパワーＰoを有し、中間バイアス部４１は第２のライトパワーＰmを有している。第２のライトパワーＰmはバイアスパワーＰbより高いが、第１のライトパワーＰoより低く設定される。

トップパルス４０はマーク記録のために光ディスクの記録面を予熱し、マーク始端部を形成する役割を有する。中間バイアス部４１は記録データの長さに応じてその時間幅が変化する。ラストパルス４２は主としてマークの後端部の形状を調整する役割を有する。また、基本的には、形成される記録マークの長さはトップパルス幅Ｔtop、ラストパルス幅Ｔlp、トップパルス前端部からラストパルス後端部までの幅Ｔｐ及び第１のライトパワーＰoにより制御され、形成される記録マークの幅は第２のライトパワーＰmにより制御される。

図６に、記録すべき各マーク長に対応する記録パルス波形を示す。記録データは８−１６変調されており、３Ｔ〜１１Ｔ、１４Ｔの長さのマーク期間及びスペース期間を有する。図示のように、記録パルス波形の前方エッジはマーク長にかかわらず常に記録データの前方エッジから遅れた位置にある。３Ｔ及び４Ｔの記録データの記録パルス波形は中間バイアス部４１を有さず、トップパルス４０とラストパルス４２とが合成された形で１つのパルスとなっている。このパルスのパワーはトップパルス及びラストパルスと同じ第１のライトパワーＰoである。

記録データが５Ｔ以上の場合は、それぞれの長さに応じて中間バイアス部４１の長さが増加する。トップパルス４０とラストパルス４２のパルス幅は基本的にはそれぞれほぼ一定であり、中間バイアス部４１のように記録データ長に応じて大きく変化させなくても良い。

なお、図６の例においては、記録データが４Ｔの場合もトップパルスとラストパルスが合成した１つのパルス波形としているが、図６中の破線１００で示すように、記録データが４Ｔの場合は中間バイアス部を設けるように記録パルス波形を決定することもできる。

（改良型ライトストラテジー）
次に、本発明に係る改良型ライトストラテジーについて説明する。改良型ライトストラテジーは、上記の基本ライトストラテジーを基礎とし、熱干渉の影響を除去するように決定されるものである。

ここで、熱干渉について簡単に説明しておく。熱干渉とは、あるマークを記録する際に記録レーザの照射により光ディスクの記録面に与えられた熱が、残留熱として次のマークの記録に影響を与えることをいう。熱干渉は、連続する２つのマークの間のスペースが短いほど生じやすく、長いほど生じにくい。この理由は以下の通りである。１つのマークから次のマークまでのスペースが長いと、その間に光ディスクの記録面は冷却するため、次のマーク記録時には残留熱は小さくなっている。これに対し、１つのマークから次のマークまでのスペースが短いと、光ディスクの記録面が冷えきらないうちに次のマーク記録のための記録レーザが照射されてしまう。よって、短いスペースの次のマークほど熱干渉の影響を受けやすい。熱干渉の影響により、短いスペースの次のマークの前端部が前方に伸びてしまい、マーク長が長くなってしまうことが起きる。このため、以下の改良型ライトストラテジーでは、熱干渉の影響を除去するようにストラテジーを設計する。

まず、上記の基本ストラテジーに対して、記録パルス波形の調整を行った様子を図７に示す。図７において、上段は３Ｔスペースの次のマークの記録状態を示し、下段は４Ｔ〜１４Ｔスペースの次のマークの記録状態を示す。なお、図７は、記録パルス波形とマークの記録状態（記録位置）との関係を概念的に示す図であり、実際の光ディスク上のマークの記録位置などを示すものではない。図７に示す調整では、３Ｔスペースの次のマークと、４Ｔ〜１４Ｔスペースの次のマークとで、記録パルス波形の前端部の位置を異ならせている。即ち、３Ｔスペースに続くマーク６１に対応する記録パルス５１の前端部は線分７２の位置にあるのに対し、４Ｔ〜１４Ｔスペースに続くマーク６２に対応する記録パルス５２の前端部は線分７１の位置にある。なお、マーク５１とマーク５２は同じ長さのマークである。線分７１と線分７２のずれは例えば０．０５Ｔ程度とすることができる。

前述のように、３Ｔスペースの次のマークは熱干渉の影響により、マークの前端部が前方へ伸びてしまう傾向がある。よって、図７において、仮に３Ｔスペースの次のマーク６１に対応する記録パルス５１を線分７１の位置から開始するように設定すると、マーク６１の前端部が前方へ伸びてしまい、４Ｔ〜１４Ｔスペースに続くマーク６２より、実際に形成されるマーク長が長くなってしまう。このため、図７の上段に示すように、３Ｔスペースの次のマーク６１に対応する記録パルス５１は、４Ｔ〜１４Ｔスペースの次のマーク６２に対応する記録パルス５２より前端部の位置を後方にしている。なお、記録パルス５１の前端部と記録パルス５２の前端部の位置関係は相対的に決定されるものであり、記録パルス５１の前端部の位置を基準とすれば記録パルス５２の前端部の位置は前方であり、記録パルス５２の前端部の位置を基準とすれば記録パルス５１の前端部の位置は後方であるということになる。

このように、３Ｔスペースの次のマークに対応する記録パルスの前端部を、４Ｔ〜１４Ｔスペースの次のマークに対応する記録パルスの前端部より後方に配置すれば、熱干渉の影響により３Ｔスペースの次のマークと４Ｔ〜１４Ｔスペースの次のマークのマーク長が異なることを防止することができる。

しかし、その場合でも、図７に示すように、３Ｔスペースの期間中はバイアスパワーレベルＰｂでレーザ光の照射が行われている。よって、熱干渉の影響をさらに抑制するためには、スペース期間においてレーザをオフしてしまうことが効果的である。図８にその手法を示す。図８において、上段は３Ｔスペースの次のマークの記録状態を示し、下段は４Ｔ〜１４Ｔスペースの次のマークの記録状態を示す。なお、図８も記録パルス波形とマークの記録状態（記録位置）との関係を概念的に示す図である。

図７の上段と図８の上段とを比較するとわかるように、図８の記録パルスでは、３Ｔスペース期間においてレーザパワーをオフレベルＰoffとしている（即ち、レーザ駆動電流を０とし、レーザをオフとする）。なお、レーザパワーをオフレベルＰoffとした期間を、以下、「オフパルス期間」と呼ぶ。図８の上段では、３Ｔスペース全体をオフパルス期間６５としている。こうすると、図示のように、熱干渉の影響はさらに抑制され、形成されたマーク６１の前端部は線分７２の位置まで後退する。これは、熱干渉の影響が軽減されたため、形成されたマーク６１の前端部の伸びが抑制されたことに起因する。このように、熱干渉の影響を受けやすい３Ｔスペースでは、レーザパワーをオフレベルＰoffとすることにより、熱干渉の影響を効果的に抑制することができる。

但し、このように３ＴスペースのみにおいてレーザパワーをオフレベルＰoffに設定すると、図８から理解されるように、４Ｔ〜１４Ｔスペースの次のマークとマーク長が異なってしまうという不具合が生じる。図８の下段は図７の下段と同様であり、４Ｔ〜１４Ｔのスペース期間ではレーザパワーをバイアスパワーＰｂに維持している。よって、４Ｔ〜１４Ｔスペースの次のマーク６２の前端部は線分７１の位置にあるのに対し、３Ｔスペースの次のマーク６１の前端部は線分７２の位置にあるため、同じマークであっても、３Ｔスペースの次に形成するか、４Ｔ〜１４Ｔスペースの次の形成するかによって、マーク長が異なってしまうという不具合が生じる。

そこで、図９に示すように、４Ｔ〜１４Ｔスペースにおいては、その一部にオフパルス期間を設ける。図９において、上段は３Ｔスペースの次のマークの記録状態を示し、下段は４Ｔ〜１４Ｔスペースの次のマークの記録状態を示す。なお、図９も記録パルス波形とマークの記録状態（記録位置）との関係を概念的に示す図である。

図９の上段は図８の上段と同様である。即ち、３Ｔスペース期間は、レーザパワーをオフレベルＰoffに低下させ、オフパルス期間６５とする。これにより、熱干渉の影響は抑制され、形成されるマーク６１の前端部は線分７２の位置になる。

これに対し、図９の下段に示すように、４Ｔ〜１４Ｔにおいては、その後端部にオフパルス期間６６を設け、レーザパワーレベルをＰoffまで低下させる。但し、このオフパルス期間６６は、４Ｔ〜１４Ｔのスペース期間の一部のみであり、３Ｔスペースの場合のように、スペース期間の全てとはしない。これにより、図９の下段に示すように、４Ｔ〜１４Ｔスペースの次のマークに対しても、オフパルス期間を設けることにより熱干渉の影響をさらに抑制することが可能となる。

このように、本発明の改良型ストラテジーでは、図９に示すように、３Ｔスペース期間中はレーザパワーを全期間でオフレベルＰoffに低下させる。また、４Ｔ〜１４Ｔスペース期間中は、その後端部において所定期間だけレーザパワーをオフレベルＰoffに低下させる。これにより、いずれのスペース長においても、オフパルス期間の導入により熱干渉の影響を効果的に抑制することができる。また、図７との比較から理解されるように、図９に示す改良型ストラテジーでは、図７で説明した記録パルス波形の調整（即ち、記録パルス５１の前端位置を記録パルス５２の前端位置に対して相対的に後方に配置すること）も同時に適用されている。よって、このパルス波形の調整による熱干渉の抑制効果も同時に得られている。

なお、４Ｔ〜１４Ｔのスペース期間におけるオフパルス期間６６の長さは、そのスペース長又は次のマーク長に拘わらず一定としてもよく、そのスペース長又は次のマーク長に応じて変化させてもよい。例えば、スペース長に応じてオフパルス期間６６の長さを変える場合、例えば４Ｔスペースにおけるオフパルス期間６６を１．２５Ｔ、１４Ｔスペースにおけるオフパルス期間６６を０．８５Ｔなどとし、その間のスペースにおけるオフパルス期間はその間の値に設定することができる。また、次のマーク長に応じてオフパルス期間６６の長さを変える場合は、例えば次のマークが３Ｔである場合のオフパルス期間６６は１．２５Ｔ、次のマークが１４Ｔである場合のオフパルス期間６６は０．８５Ｔなどとすることができる。

このようなオフパルス期間６５及び６６は、図２及び図３を参照して説明したＬＤドライバ１２において、スイッチＳＷW1、ＳＷW2及びＳＷRの全てをオフとし、駆動電流を０とすることにより実現できる。これにより、図４に示すように、駆動電流が０の場合、レーザ出力パワーはオフレベルＰoffに設定される。

図１０を参照して上述した本発明の改良型ストラテジーによる記録パルス波形（ストラテジー）の具体的な設定手順について説明する。まず、図７に示したように、オフパルス期間を設けることなく、記録パルス波形（ストラテジー）を調整する（ステップＳ１）。次に、図８に示したように、３Ｔスペースを全期間にわたりオフパルス期間とする（ステップＳ２）。さらに、図９に示したように、４Ｔ以上のスペースの後端にオフパルス期間６６を設定する（ステップＳ３）。次に、そうして得られた記録パルス波形に対して、熱干渉の改善量に応じて、大きいアシンメトリでボトムジッタを得るようにストラテジーを調整する（ステップＳ４）。そして最後に４Ｔ以上のスペースのオフパルス期間を調整し、ジッタを最小化する（ステップＳ５）。こうして、記録パルス波形の設定が終了する。

こうして得られた記録パルス波形と、図７に示したオフパルス期間を用いない記録パルス波形の特性を図１１に示す。図１１は横軸にアシンメトリ、縦軸にクロック対ジッタ比を示している。クロック対ジッタ比が最小となる位置（ボトムジッタとも呼ぶ）のアシンメトリは、図７に示したオフパルス期間を用いない場合は−０．０５程度であるのに対し、図９に示したオフパルス期間を用いた場合は−０．０１程度であり、＋０．０４程度の改善が見られる。

（変形例）
図９に示すストラテジーでは、４Ｔ〜１４Ｔのスペース期間において、その後端部にオフパルス期間６６を設けている。このオフパルス期間６６は、それに続くマークの前端部の形成に対する熱干渉の影響を軽減する効果を有する。これに加えて、図１２の下段に示すように、４Ｔ〜１４Ｔスペースの前端部にもオフパルス期間６７を設けることもできる。このオフパルス期間６７は、そのスペースの前に位置するマークの後端部の形成に対する熱干渉の影響を軽減する効果を有する。よって、図１２の下段に示すように、前端部と後端部にそれぞれオフパルス期間６７及び６６を設けることにより、当該スペースの前後におけるマークの形成に対する熱干渉の影響を抑制することができる。

なお、上記の実施例では、３Ｔスペースの全期間をオフパルス期間とし、４Ｔ〜１４Ｔスペースはその一部をオフパルス期間としている。これに代えて、３Ｔ及び４Ｔスペースはその全体をオフパルス期間とし、５Ｔ〜１４Ｔスペースはその一部をオフパルス期間としてもよい。

本発明に係る情報記録装置及び情報記録方法は、例えば民生用或いは業務用の映像、音声、データなどの各種情報を高密度に記録可能なＤＶＤなどの高密度光ディスクの記録再生を行うＤＶＤレコーダなどに利用可能である。また、民生用或いは業務用の各種コンピュータ機器に搭載又は接続可能なドライブ装置などの情報記録再生装置にも利用可能である。

【００１１】
ースの次のマークほど熱干渉の影響を受けやすい。熱干渉の影響により、短いスペースの次のマークの前端部が前方に伸びてしまい、マーク長が長くなってしまうことが起きる。このため、以下の改良型ライトストラテジーでは、熱干渉の影響を除去するようにストラテジーを設計する。
［００５５］
まず、上記の基本ストラテジーに対して、記録パルス波形の調整を行った様子を図７に示す。図７において、上段は３Ｔスペースの次のマークの記録状態を示し、下段は４Ｔ〜１４Ｔスペースの次のマークの記録状態を示す。なお、図７は、記録パルス波形とマークの記録状態（記録位置）との関係を概念的に示す図であり、実際の光ディスク上のマークの記録位置などを示すものではない。図７に示す調整では、３Ｔスペースの次のマークと、４Ｔ〜１４Ｔスペースの次のマークとで、記録パルス波形の前端部の位置を異ならせている。即ち、３Ｔスペースに続くマーク６１に対応する記録パルス５１の前端部は線分７２の位置にあるのに対し、４Ｔ〜１４Ｔスペースに続くマーク６２に対応する記録パルス５２の前端部は線分７１の位置にある。なお、マーク６１とマーク６２は同じ長さのマークである。線分７１と線分７２のずれは例えば０．０５Ｔ程度とすることができる。
［００５６］
前述のように、３Ｔスペースの次のマークは熱干渉の影響により、マークの前端部が前方へ伸びてしまう傾向がある。よって、図７において、仮に３Ｔスペースの次のマーク６１に対応する記録パルス５１を線分７１の位置から開始するように設定すると、マーク６１の前端部が前方へ伸びてしまい、４Ｔ〜１４Ｔスペースに続くマーク６２より、実際に形成されるマーク長が長くなってしまう。このため、図７の上段に示すように、３Ｔスペースの次のマーク６１に対応する記録パルス５１は、４Ｔ〜１４Ｔスペースの次のマーク６２に対応する記録パルス５２より前端部の位置を後方にしている。なお、記録パルス５１の前端部と記録パルス５２の前端部の位置関係は相対的に決定されるものであり、記録パルス５１の前端部の位置を基準とすれば記録パルス５２の前端部の位置は前方であり、記録パルス５２の前端部の位置を基準とすれば記録パルス５１の前端部の位置は後方であるということになる。
［００５７］
このように、３Ｔスペースの次のマークに対応する記録パルスの前端部を、４Ｔ〜１４Ｔスペースの次のマークに対応する記録パルスの前端部より後方に配置すれば、熱

Claims

記録媒体にレーザ光を照射して記録信号に応じた記録マークを形成する情報記録装置において、
前記レーザ光を出射する光源と、
前記記録信号に基づいて前記光源を駆動する記録パルス信号を生成する信号生成手段と、を備え、
前記記録パルス信号は、前記記録マークを形成するマーク期間と、前記記録マークを形成しないスペース期間とを含み、
前記記録パルス信号は、所定長さ以下のスペース期間の全体、及び、前記所定長さより長いスペース期間の一部におけるレベルがバイアスパワーレベルより低いオフレベルであることを特徴とする情報記録装置。
前記記録パルス信号は、前記所定長さより長いスペース期間に続くマーク期間の直前におけるレベルがオフレベルであることを特徴とする請求項１に記載の情報記録装置。
前記記録パルス信号は、前記所定長さより長いスペース期間の前端部におけるレベルが前記オフレベルであることを特徴とする請求項２に記載の情報記録装置。
前記所定長さは最短スペース長であることを特徴とする請求項１に記載の情報記録装置。
前記オフレベルは、前記光源から前記レーザパルスが出射されないレベルであることを特徴とする請求項１に記載の情報記録装置。
前記所定長さ以下のスペース期間に続くマーク期間の前端部は、同一長さのマーク期間毎の比較において、前記所定長さより長いスペース期間に続くマーク期間の前端部よりおのおの後方に位置することを特徴とする請求項１に記載の情報記録装置。
記録媒体にレーザ光を照射して記録信号に応じた記録マークを形成する情報記録方法において、
記録信号に基づいて記録パルス信号を生成する信号生成工程と、
前記記録パルス信号に基づいて前記記録媒体上にレーザパルスを照射する照射工程と、を備え、
前記記録パルス信号は、前記記録マークを形成するマーク期間と、前記記録マークを形成しないスペース期間とを含み、
前記記録パルス信号は、所定長さ以下のスペース期間の全体、及び、前記所定長さより長いスペース期間の一部におけるレベルがバイアスパワーレベルより低いオフレベルであることを特徴とする情報記録方法。