JPS64594Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS64594Y2 JPS64594Y2 JP1982037133U JP3713382U JPS64594Y2 JP S64594 Y2 JPS64594 Y2 JP S64594Y2 JP 1982037133 U JP1982037133 U JP 1982037133U JP 3713382 U JP3713382 U JP 3713382U JP S64594 Y2 JPS64594 Y2 JP S64594Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- pipe
- dummy
- water
- sample water
- analysis
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 65
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims description 28
- 239000000538 analytical sample Substances 0.000 claims description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000008400 supply water Substances 0.000 description 2
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
この考案は、分析サンプル水採取配管に関し、
更に詳細には特に発電所ボイラ供給水の分析サン
プル水採取配管に関するものである。
更に詳細には特に発電所ボイラ供給水の分析サン
プル水採取配管に関するものである。
従来、ボイラ供給水の分析サンプル水採取配管
として、第１図に示すような配管が知られてい
る。すなわち、ヘツドベツセル１０から分析配管
１２とオーバーフロー管１４とを導出し、この分
析配管１２にサンプル水管１６とダミー水管１８
とを共通管２０を介して接続し、分析配管には分
析計に所定の弁装置を介して接続され、さらにダ
ミー水は電磁弁２２を介して回収されるように構
成されている。
として、第１図に示すような配管が知られてい
る。すなわち、ヘツドベツセル１０から分析配管
１２とオーバーフロー管１４とを導出し、この分
析配管１２にサンプル水管１６とダミー水管１８
とを共通管２０を介して接続し、分析配管には分
析計に所定の弁装置を介して接続され、さらにダ
ミー水は電磁弁２２を介して回収されるように構
成されている。
ダミー水は、分析計を洗浄するために供給され
るが、このダミー水による洗浄は発電所ボイラの
ように電力需要に変動があり、電力需要に応じて
起動停止をする所謂DSS（デイリー・スタート・
ストツプ）用の分析計の立上り精度を向上させる
目的で不可欠である。
るが、このダミー水による洗浄は発電所ボイラの
ように電力需要に変動があり、電力需要に応じて
起動停止をする所謂DSS（デイリー・スタート・
ストツプ）用の分析計の立上り精度を向上させる
目的で不可欠である。
ところで、ダミー水の弁洩れがあるとサンプル
水に混入して分析計指示に影響を及ぼすことにな
る。特に分析計がDO2計の場合、微量のダミー水
の混入も分析計の指示に影響を及ぼし指示計の振
切れの問題が起きる。このため、電磁弁２２より
のダミー水の洩水の影響をなくすため電磁弁を三
方弁とし、ダミー水をニードル弁２４を介して排
出させる必要があつた。
水に混入して分析計指示に影響を及ぼすことにな
る。特に分析計がDO2計の場合、微量のダミー水
の混入も分析計の指示に影響を及ぼし指示計の振
切れの問題が起きる。このため、電磁弁２２より
のダミー水の洩水の影響をなくすため電磁弁を三
方弁とし、ダミー水をニードル弁２４を介して排
出させる必要があつた。
それ故、この考案の一般的な目的は、複雑な弁
装置を使用しない簡単な構成の配管でダミー水の
混入の恐れのない信頼度の高いしかもコストの低
い配管構成を提供するにある。
装置を使用しない簡単な構成の配管でダミー水の
混入の恐れのない信頼度の高いしかもコストの低
い配管構成を提供するにある。
この目的を達成するため、この考案に係る分析
サンプル水採取配管は、オーバーフロー管を備え
たヘツドベツセルから分析計に連通接続する分析
配管の間にダミー水管とサンプル水管とを連通接
続してなる分析サンプル水採取配管において、前
記ヘツドベツセルから導出された前記分析配管の
下流に弁を介してダミー水管を連通接続し、さら
にその下流の分析配管にサンプル水管を連通接続
して構成し、前記サンプル水管を通してサンプル
水を前記分析計へ供給すると共に前記ダミー水管
の弁によるダミー水の洩水を前記サンプル水によ
り前記ヘツドベツセル内に押上げ流入させること
を特徴とする。
サンプル水採取配管は、オーバーフロー管を備え
たヘツドベツセルから分析計に連通接続する分析
配管の間にダミー水管とサンプル水管とを連通接
続してなる分析サンプル水採取配管において、前
記ヘツドベツセルから導出された前記分析配管の
下流に弁を介してダミー水管を連通接続し、さら
にその下流の分析配管にサンプル水管を連通接続
して構成し、前記サンプル水管を通してサンプル
水を前記分析計へ供給すると共に前記ダミー水管
の弁によるダミー水の洩水を前記サンプル水によ
り前記ヘツドベツセル内に押上げ流入させること
を特徴とする。
ダミー水管には、電磁二方弁を設けることが好
適である。
適である。
次に、この考案に係る分析サンプル水採取配管
の好適な実施例につき添付図面を参照しながら以
下詳細に説明する。
の好適な実施例につき添付図面を参照しながら以
下詳細に説明する。
第２図の配管において、ヘツドベツセル２６か
ら導出されて分析計（図示されず）に接続される
分析配管２８にサンプル水管３０とダミー水管３
２とが別々に独立して接続され、ダミー水管３２
は電磁二方弁３４を介してヘツドベツセル２６と
サンプル水管３０との間において分析配管２８に
接続される。
ら導出されて分析計（図示されず）に接続される
分析配管２８にサンプル水管３０とダミー水管３
２とが別々に独立して接続され、ダミー水管３２
は電磁二方弁３４を介してヘツドベツセル２６と
サンプル水管３０との間において分析配管２８に
接続される。
次に、この考案に係る分析サンプル水採取配管
の作用につき説明すると、サンプル水はサンプル
水管３０を介してヘツドベツセルに導入され、そ
こからオーバーフロ管３６を介して排出されて常
時流れており、分析計の弁が開放されると、サン
プル水の一部は分析配管２８を介して分析計の方
に流入するが、その圧はヘツドベツセル２６の水
頭圧に保持され一定である。分析計の弁が閉塞さ
れると、サンプル水は再びヘツドベツセル２６に
導入される。従つて、例えばダミー水が電磁二方
弁３４より洩れがあつてもサンプル水によりヘツ
ドベツセル２６に押上げられる。この時に分析計
の弁が開放されても、サンプル水は同時にヘツド
ベツセルに流入する流量が充分確保できるため、
ダミー水汚染水をヘツドベツセル２６に押上げる
と共に分析計に流入し、ダミー水が分析計の方へ
移行することはない。
の作用につき説明すると、サンプル水はサンプル
水管３０を介してヘツドベツセルに導入され、そ
こからオーバーフロ管３６を介して排出されて常
時流れており、分析計の弁が開放されると、サン
プル水の一部は分析配管２８を介して分析計の方
に流入するが、その圧はヘツドベツセル２６の水
頭圧に保持され一定である。分析計の弁が閉塞さ
れると、サンプル水は再びヘツドベツセル２６に
導入される。従つて、例えばダミー水が電磁二方
弁３４より洩れがあつてもサンプル水によりヘツ
ドベツセル２６に押上げられる。この時に分析計
の弁が開放されても、サンプル水は同時にヘツド
ベツセルに流入する流量が充分確保できるため、
ダミー水汚染水をヘツドベツセル２６に押上げる
と共に分析計に流入し、ダミー水が分析計の方へ
移行することはない。
この考案に係る分析サンプル水採取配管による
と、サンプル水にダミー水が混入しないため、ダ
ミー水の弁からの洩れによる分析値への影響は全
くなくなり、弁も従来は電磁三方弁を使用しなけ
ればならなかつたが、この考案においては電磁二
方弁でよい。従つて、分析の信頼性が向上すると
共に、コスト低減が達成される。
と、サンプル水にダミー水が混入しないため、ダ
ミー水の弁からの洩れによる分析値への影響は全
くなくなり、弁も従来は電磁三方弁を使用しなけ
ればならなかつたが、この考案においては電磁二
方弁でよい。従つて、分析の信頼性が向上すると
共に、コスト低減が達成される。
以上、この考案の好適な実施例について説明し
たが、この考案の精神を逸脱しない範囲内におい
て種々の改良並びに変更を施すことができること
は勿論である。
たが、この考案の精神を逸脱しない範囲内におい
て種々の改良並びに変更を施すことができること
は勿論である。
第１図は従来の分析サンプル水採取配管系統
図、第２図はこの考案に係る分析サンプル水採取
配管系統図である。 ２６……ヘツドベツセル、２８……分析配管、
３０……サンプル水管、３２……ダミー水管、３
４……電磁二方弁、３６……オーバーフロ管。
図、第２図はこの考案に係る分析サンプル水採取
配管系統図である。 ２６……ヘツドベツセル、２８……分析配管、
３０……サンプル水管、３２……ダミー水管、３
４……電磁二方弁、３６……オーバーフロ管。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) オーバーフロー管を備えたヘツドベツセルか
ら分析計に連通接続する分析配管の間にダミー
水管とサンプル水管とを連通接続してなる分析
サンプル水採取配管において、 前記ヘツドベツセルから導出された前記分析
配管の下流に弁を介してダミー水管を連通接続
し、さらにその下流の分析配管にサンプル水管
を連通接続して構成し、前記サンプル水管を通
してサンプル水を前記分析計へ供給すると共に
前記ダミー水管の弁によるダミー水の洩水を前
記サンプル水により前記ヘツドベツセル内に押
上げ流入させることを特徴とする分析サンプル
水採取配管。 (2) ダミー水管は電磁二方弁を介して分析配管に
接続される実用新案登録請求の範囲第１項記載
の分析サンプル水採取配管。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3713382U JPS58140456U (ja) | 1982-03-18 | 1982-03-18 | 分析サンプル水採取配管 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3713382U JPS58140456U (ja) | 1982-03-18 | 1982-03-18 | 分析サンプル水採取配管 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58140456U JPS58140456U (ja) | 1983-09-21 |
| JPS64594Y2 true JPS64594Y2 (ja) | 1989-01-09 |
Family
ID=30048530
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3713382U Granted JPS58140456U (ja) | 1982-03-18 | 1982-03-18 | 分析サンプル水採取配管 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58140456U (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5020789A (ja) * | 1973-06-21 | 1975-03-05 |
-
1982
- 1982-03-18 JP JP3713382U patent/JPS58140456U/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5020789A (ja) * | 1973-06-21 | 1975-03-05 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58140456U (ja) | 1983-09-21 |
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