JPS639877A - Three-dimensional measuring method - Google Patents

Three-dimensional measuring method

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JPS639877A
JPS639877A JP61154383A JP15438386A JPS639877A JP S639877 A JPS639877 A JP S639877A JP 61154383 A JP61154383 A JP 61154383A JP 15438386 A JP15438386 A JP 15438386A JP S639877 A JPS639877 A JP S639877A
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JP
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light
optical path
frequency
photodetector
dimensional
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JP61154383A
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Japanese (ja)
Inventor
Shigeru Kawai
滋 河合
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication of JPS639877A publication Critical patent/JPS639877A/en
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Abstract

PURPOSE:To accurately take measurement in a short time by finding the optical path difference between reference light and reflected light by using a two-dimensional photodetector. CONSTITUTION:Coherent light is split into two and while one light component reflected by a corner cube 4 is passed through a reference optical path, the other light component is projected on a body 5; and scattered light from the body 5 is image-formed by a lens 2 and interferes with the reference light from the corner cube 4 on the two-dimensional photodetector 7. Further, frequency modulation is imposed on a laser 1 by a laser driving device 9 controlled by a computing element 11. Then, the interference pattern between the reference light from the corner cube 4 and the reflected light from the body 5 has beats in proportion to the optical path difference and the photodetection signal of the photodetector 7 is sampled at frequency more than twice the frequency of the beats to store at least three sampling images in an image memory 11, the phase of a sampling point is found from the stored data by an arithmetic unit 12 to calculate the frequency of the beat signal by using the phase information, thereby finding the optical path difference between the distance to the body 5 and the reference optical path length.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は3次元計測装置に関し、時に基準光路と被測定
物体までの光路との光の位相差を使って被測定物体まで
の距離を測定する光ホモダイン計測法による3次元計測
装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Industrial Application Field) The present invention relates to a three-dimensional measuring device, which sometimes measures the distance to a measured object using the phase difference of light between a reference optical path and an optical path to the measured object. This invention relates to a three-dimensional measurement device using an optical homodyne measurement method.

(従来の技術) 従来、3次元形状の物体を計測する手段として、光を利
用する方法や計算機を用いた画像処理による方法が提案
されている。光を利用する方法では、格子を投影し物体
面で変形した格子と基準の格子との間に生じるモアレ縞
を用いる方法が一般的である。この方法は、物体面上に
格子の像を投影し、物体の形状により変形した格子の像
と基準の格子を重ね合わせ、その差周波数として生じる
モアレ縞を解析することにより、物体の形状を測定する
方法である。詳しくは、例えば雑誌[アプライド・オプ
ティックス(Applied 0ptics)、 9巻
、1970年、1467〜1472ページに記載の論文
「モアレ・トポグラフィ(Moir6 Topogra
phy月に述べられている。しかしこの方法では、3次
元形状を定量的に求めることが困難であり、高精度の測
定には不向きであるため、さらに光を用いた高精度の測
定法として、光ディスクの焦点位置検出機構を用いる方
法や、基準光路との光路差を光の位相差として検出する
光ホモダイン計測法がある。光ディスクの焦点位置検出
機構には、いくつかの方法があるが、例えば、非点収差
法による検出機構は対物レンズの移動によって物体面に
光を集光させ、反射して戻ってきた光を収束する光路中
に円筒レンズを配置したものである。対物レンズと物体
の距離が基準の長さにある時、ビーム形状が真円となる
位置に4分割光検出器を配置する距離が変化することに
よって、ビーム形状が変化し、これを検出することによ
って、相対距離を測定できる。詳しくは、例えば、雑誌
[アイイーイーイー・トランザクションズ・オン・コン
シニーマ・エレクトロニクス(IEEE Transa
ctions on Consumer Electr
onics)。
(Prior Art) Conventionally, methods using light and methods using image processing using a computer have been proposed as means for measuring three-dimensional objects. A common method using light is to project a grating and use moiré fringes generated between the deformed grating on the object plane and the reference grating. This method measures the shape of an object by projecting a grating image onto the object surface, superimposing the image of the grating deformed by the shape of the object on the reference grating, and analyzing the moiré fringes that occur as the difference frequency. This is the way to do it. For more details, see the article ``Moir6 Topography'' published in the magazine [Applied Optics, Volume 9, 1970, pages 1467-1472].
mentioned in phy month. However, with this method, it is difficult to quantitatively determine the three-dimensional shape, and it is not suitable for high-precision measurement. Therefore, as a high-precision measurement method using light, a focal position detection mechanism of an optical disc is used. There is an optical homodyne measurement method that detects the optical path difference from a reference optical path as a phase difference of light. There are several methods for detecting the focal position of an optical disc. For example, a detection mechanism using the astigmatism method focuses light on the object plane by moving an objective lens, and then converges the reflected light. A cylindrical lens is placed in the optical path. When the distance between the objective lens and the object is the standard length, the beam shape changes by changing the distance at which the 4-split photodetector is placed at the position where the beam shape becomes a perfect circle, and this is detected. can measure relative distance. For more information, see the magazine [IEEE Transactions on Conspicuous Electronics (IEEE Trans.
tions on Consumer Electr.
onics).

22巻、1976年、304〜308ページに記載の論
文「ビデオディスクの光学的出力(Optical R
eadout ofVideodisc) Jに述べら
れている。しかし、この方法では、測定範囲が限られて
おり汎用的でない。一方、光ホモダイン計測法は物体に
光を照射して戻ってきた反射光と基準光路の光を干渉さ
せるものである。この時、基準光の位相の変調や光の波
長の変調によって干渉光にビート信号を発生させ、その
周波数から距離を測定する。光の波長を変調する方法に
ついての詳細は、例えば雑誌「アプライド・オプティッ
クス(Applied 0ptics)、20巻、19
81年、400〜ページに記載の論文「波長可変干渉計
による絶対距離測定(Absolute Distan
ceMeasurements   by   Var
iable   WavelengthInterfe
rometryl Jに述べられている。この方法は、
数十m以上の距離を数pm以下の精度で測定することが
でき、高精度でしかも汎用性のある計測法である。
22, 1976, pages 304-308.
eadout of Video disc) J. However, this method has a limited measurement range and is not versatile. On the other hand, the optical homodyne measurement method irradiates an object with light and causes the reflected light that returns to interfere with the light on the reference optical path. At this time, a beat signal is generated in the interference light by modulating the phase of the reference light or the wavelength of the light, and the distance is measured from the frequency of the beat signal. For more information on how to modulate the wavelength of light, see, for example, the magazine Applied Optics, Vol. 20, 19.
1981, the paper "Absolute Distance Measurement Using a Tunable Wavelength Interferometer" on pages 400~
ceMeasurements by Var
iable WavelengthInterfe
rometryl J. This method is
It is a highly accurate and versatile measurement method that can measure distances of tens of meters or more with an accuracy of several pm or less.

(発明が解決しようとする問題点) 上述した従来の3次元形状物体の計測手段は、待に光ホ
モダイン計測法においては、−回の測定は被測定物体の
一点に対して行うものであるので、物体の3次元形状を
得るためにはビームを2次元走査しなければならず、測
定に多大の時間を要するという欠点があり、また画像処
理による方法においては、汎用性のある反面、計測精度
が低く、また処理に多大の時間を要するという欠点があ
る。
(Problems to be Solved by the Invention) The above-mentioned conventional means for measuring three-dimensional objects is based on the fact that in the optical homodyne measurement method, - measurements are performed at one point on the object to be measured. However, in order to obtain the three-dimensional shape of an object, the beam must be scanned two-dimensionally, which has the disadvantage of requiring a large amount of time for measurement.Also, methods based on image processing, although versatile, lack measurement accuracy. However, it has the disadvantage that the processing time is low and the processing time is long.

(問題点を解決するための手段) 本発明の3次元計測方法はコヒーレントな光を2分して
、一方を光路長の定められた基準光路、他方を物体に照
射する物体光とし、前記基準光路の波面と前記物体から
の反射光を干渉させて生じるビート信号を2次元光検出
器を用いて、一定のサンプリング間隔で画像として受光
しサンプリング画像の少くとも3枚を記憶せしめ、前記
記憶したデータを用いてサンプリング点の位相を求め、
前記位相の情報を用いてビート信号の周波数を計算して
、前記物体までの距離と前記基準光路長の光路長差を求
めることを特徴とする3次元計測方法である。
(Means for Solving the Problems) The three-dimensional measurement method of the present invention divides coherent light into two parts, uses one as a reference optical path with a predetermined optical path length, and the other as an object beam that irradiates an object. A two-dimensional photodetector is used to receive a beat signal generated by interference between the wavefront of the optical path and the reflected light from the object as images at regular sampling intervals, and at least three of the sampled images are stored. Find the phase of the sampling point using the data,
This three-dimensional measurement method is characterized in that the frequency of the beat signal is calculated using the phase information to determine the optical path length difference between the distance to the object and the reference optical path length.

(発明の作用、原理) 第2図は本発明の原理を示す概念図、第3図はレーザ光
の発振周波数の時間的変化を示すグラフである。
(Operation and Principle of the Invention) FIG. 2 is a conceptual diagram showing the principle of the invention, and FIG. 3 is a graph showing temporal changes in the oscillation frequency of laser light.

第2図に示すような干渉計を構成し、周波数変調された
半導体レーザ101の光をビームスプリッタ103で2
分し、測距物体105からの反射光とミラー104で反
射された基準光路からの反射光との干渉のビート周波数
を測定して、物体105と基準光路の光路差を求める。
An interferometer is configured as shown in FIG.
The beat frequency of the interference between the reflected light from the distance measuring object 105 and the reflected light from the reference optical path reflected by the mirror 104 is measured to determine the optical path difference between the object 105 and the reference optical path.

周波数変調されたレーザ光は次式%式% ここで、Aoは振幅、voは中心周波数、ΔV(t)は
周波数ずれ量である。この時の瞬間周波数はV(t)=
Vo+ΔV(t)             ・・・・
・・(2)である。ここで、レーザ光の周波数を第3図
に示すような三角波状に変調させると、半周期の時間T
=1/2fにおける周波数変化量は一定である。この量
をδとする。一方、信号光の時間差は、物体面までの光
路長をC2、基準光路長をC1としてである。ただし、
Cは光速度である。この時の光検出器107の面におけ
る2つの光路の位相差はである。従って、2光束の干渉
縞強度の半周期の時間における位相変化量は ΔΦ−foTΔtp(t)dt = 2rE6r   
      ・・・”(5)となる。従って、ビート成
分′の位相偏移ΔΦを測定することにより、rを求め、
c2が得られる。
The frequency-modulated laser beam is expressed by the following formula: % where Ao is the amplitude, vo is the center frequency, and ΔV(t) is the amount of frequency deviation. The instantaneous frequency at this time is V(t)=
Vo+ΔV(t)...
...(2). Here, if the frequency of the laser beam is modulated in the form of a triangular wave as shown in Figure 3, the half period time T
The amount of frequency change at =1/2f is constant. Let this amount be δ. On the other hand, the time difference between the signal lights is based on the optical path length up to the object plane being C2 and the reference optical path length being C1. however,
C is the speed of light. At this time, the phase difference between the two optical paths on the surface of the photodetector 107 is. Therefore, the amount of phase change in the interference fringe intensity of the two light beams in half-cycle time is ΔΦ−foTΔtp(t)dt = 2rE6r
..." (5). Therefore, by measuring the phase shift ΔΦ of the beat component ', r is determined,
c2 is obtained.

この方法では、物体面でビームが集光されていなければ
ならず、拡がりを持った光を照射して3次元情報を得る
ことはできない。従って、レーザ光を2次元走査して3
次元情報を得る方法が考えられる。しかし、高い分解点
数を得る場合には、多大の時間を要し実用的でない。そ
こで、1次元アレイ状にレーザ配置し、走査する方法が
有効である。
In this method, the beam must be focused on the object plane, and it is not possible to obtain three-dimensional information by irradiating light with a spread. Therefore, by scanning the laser beam two-dimensionally,
One possible method is to obtain dimensional information. However, in order to obtain a high number of decomposition points, it takes a lot of time and is not practical. Therefore, a method of arranging lasers in a one-dimensional array and scanning them is effective.

この時、同じ発振波長のレーザを用いると物体に照射し
た光が互いに干渉してビート周波数の測定ができなくな
る。周波数をδだけ変化させた時の波長変化量は で表わされる。そこで、物体の像を2次元の光検出器上
に結像し、物体の形状を一度に計測する方法が有効であ
る。この時、2次元の光検出器各分解点において、ビー
ト周波数を測定するのでは測定多大の時間を要する。そ
こで、光検出器の出力を一定の間隔でサンプリングして
画像メモリに蓄え、サンプリングした複数の画像間の演
算を行うことにより、3次元形状を計測する。第4図は
、光検出器上のある点におけるビート信号の時間変化を
示したものである。ここで、計測したい範囲の最長距離
のビート周波数が光検出器出力のサンプリング周波数の
1/2以下となるように、レーザの波長走引幅と基準光
路の長さを決定する。次に、このビート信号をん0変換
して画像メモリに記憶させる。時刻tにおけるビート信
号の振幅値をA(t)とおくとA(t)は次式で表わさ
れる。
At this time, if lasers with the same oscillation wavelength are used, the lights irradiated onto the object will interfere with each other, making it impossible to measure the beat frequency. The amount of wavelength change when the frequency is changed by δ is expressed as. Therefore, it is effective to form an image of the object on a two-dimensional photodetector and measure the shape of the object all at once. At this time, measuring the beat frequency at each resolution point of the two-dimensional photodetector requires a large amount of time. Therefore, the three-dimensional shape is measured by sampling the output of the photodetector at regular intervals, storing it in an image memory, and performing calculations between the plurality of sampled images. FIG. 4 shows the time change of the beat signal at a certain point on the photodetector. Here, the wavelength scanning width of the laser and the length of the reference optical path are determined so that the beat frequency at the longest distance in the range to be measured is 1/2 or less of the sampling frequency of the photodetector output. Next, this beat signal is converted to 0 and stored in the image memory. Letting the amplitude value of the beat signal at time t be A(t), A(t) is expressed by the following equation.

A(t)= a、5in(2nft + b)    
       −”(7)時刻’O+tlt”In−b
−における振幅値からビート信号の波形を求め、周波数
を得ることができる。ただし、恥は測定開始時刻tlT
+は恥からサンプリング間隔とTとしてmTだけ経た時
刻とする。画像メモリに記憶されたA(o)、Act)
、A(−−t)、A(rQ)のデータを順次呼び出し、
’Ott1m’fn−1.tTnにおける位相を求め、
ビート信号の周波数を計算できる。
A(t) = a, 5in (2nft + b)
-"(7) Time 'O+tlt"In-b
The waveform of the beat signal can be found from the amplitude value at - and the frequency can be obtained. However, shame is the measurement start time tlT
+ is the sampling interval and T is the time when mT has passed since shame. A(o), Act) stored in image memory
, A(--t), A(rQ) sequentially,
'Ott1m'fn-1. Find the phase at tTn,
You can calculate the frequency of the beat signal.

以上のように本発明の方法では、従来の方法のように光
源を2次元走査せずに、高精度の3次元計測ができる。
As described above, in the method of the present invention, highly accurate three-dimensional measurement can be performed without two-dimensional scanning of a light source as in conventional methods.

(実施例) 次に、本発明について、図面を参照して説明する。(Example) Next, the present invention will be explained with reference to the drawings.

第1図は、本発明の方法を具備するために用いた装置の
一実施例の構成図である。本実施例の装置はレーザ1、
レンズ2、ビースプリッタ3、コーナーキューブ4、レ
ンズ6、光検出器7、シャッター8、レーザ駆動装置9
、画像入力装置10、画像メモリ11、演算装置12を
有する。
FIG. 1 is a block diagram of one embodiment of an apparatus used to implement the method of the present invention. The device of this embodiment has a laser 1,
Lens 2, bead splitter 3, corner cube 4, lens 6, photodetector 7, shutter 8, laser drive device 9
, an image input device 10, an image memory 11, and an arithmetic device 12.

レーザ1から出射した光は、レンズ2によりコリメート
され、ビームスプリッタ3に入射する。ビームスプリッ
タ3により分けられた光の一方はコーナーキューブ4に
より反射され、基準光路となる。
Light emitted from the laser 1 is collimated by a lens 2 and enters a beam splitter 3. One of the lights separated by the beam splitter 3 is reflected by the corner cube 4 and becomes a reference optical path.

もう一方の光は物体5を照射し、物体5からの散乱光は
レンズ6により結像され、例えばCODなどの2次元光
検出器7で、コーナーキューブ4からの基準光と干渉す
る。レーザ1は例えば、GP −IBインターフェイス
の付いたパソコンなどの演算装置11に制御される例え
ばGP −IBインターフェイスの付いたファンクショ
ンジェネレータなどのレーザ駆動装置9により、第3図
に示したように周波数変調される。コーナーキューブ4
がらの基準光と物体5がらの反射光の干渉パターンは、
光路差に比例してうねりを生じる。このうねりの周波数
の2倍以上の周波数で、光検出器の受光信号をサンプリ
ングし、例えば、測定開始時刻to、 toからサンプ
リング間隔Tだけ経た時刻tx、測定終了時刻tw、お
よびtm−1におけるデータを画像メモリに記憶させる
。この際、CODなどの電荷蓄積型の2次元光検出器を
用いた場合、受光信号がサンプリング時間の平均値とな
るためシャッター8を用いて、光検出器に入射する時間
を制限する。時刻tにおける位相をφ(1)とするとφ
(1)は次式で表わされる。
The other light illuminates the object 5, and the scattered light from the object 5 is imaged by a lens 6, and interferes with the reference light from the corner cube 4 on a two-dimensional photodetector 7, such as a COD. The laser 1 is frequency-modulated as shown in FIG. 3 by a laser driving device 9 such as a function generator with a GP-IB interface, which is controlled by an arithmetic unit 11 such as a personal computer with a GP-IB interface. be done. corner cube 4
The interference pattern of the reference light of the glass and the reflected light of the object 5 is as follows:
Waviness occurs in proportion to the optical path difference. The light reception signal of the photodetector is sampled at a frequency that is more than twice the frequency of this undulation, and data are obtained at, for example, measurement start time to, time tx after sampling interval T has elapsed from to, measurement end time tw, and tm-1. is stored in the image memory. At this time, when a charge accumulation type two-dimensional photodetector such as a COD is used, since the received light signal becomes the average value of the sampling time, the shutter 8 is used to limit the time for the light to enter the photodetector. If the phase at time t is φ(1), φ
(1) is expressed by the following formula.

φ(t)= sin −1(A(t))       
     ・・曲(8)従って、演算装置12を用いて
時刻to、t1における振幅A(0)、A(T)の値か
らφ(0)、φ(T)を計算する。この時位相差が□以
下の2点の情報からφ(0)の値を一義的に決めること
ができる。同様にして、測定終了時刻iにおけるφ(m
T)の値を求めることができ、φ(0)とφ(mT)の
値より(9)、(8)式からビート信号の周波数fが計
算できる。例えば、波長1.3pmのレーザを10人の
幅で走引し、10ビツトの画像メモリを用いて33Hz
で3秒間サンプリングした場合、500X500のポイ
ントに対して170mmの範囲を7X10−5の精度で
測定できる。
φ(t)=sin −1(A(t))
...Song (8) Therefore, φ(0) and φ(T) are calculated using the arithmetic unit 12 from the values of the amplitudes A(0) and A(T) at times to and t1. At this time, the value of φ(0) can be uniquely determined from the information of two points whose phase difference is □ or less. Similarly, φ(m
The value of T) can be obtained, and the frequency f of the beat signal can be calculated from equations (9) and (8) from the values of φ(0) and φ(mT). For example, a laser with a wavelength of 1.3 pm is scanned at a width of 10 people, and a 10-bit image memory is used to scan a laser at 33 Hz.
When sampling is performed for 3 seconds at 500 x 500 points, a range of 170 mm can be measured with an accuracy of 7 x 10-5.

(発明の効果) 以上説明したように本発明は、2次光検出器を用いて基
準光と反射光の光路差を求めることにより、被測定物体
までの距離を2次元並列に測定することができ、さらに
、光検出器の受光信号を演算処理することにより、光源
を2次元走査することなく3次元情報を得ることができ
る効果がある。
(Effects of the Invention) As explained above, the present invention makes it possible to measure the distance to the object to be measured two-dimensionally in parallel by determining the optical path difference between the reference light and the reflected light using a secondary photodetector. Furthermore, by processing the light reception signal of the photodetector, three-dimensional information can be obtained without two-dimensional scanning of the light source.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の一実施例の構成図、第2図は本発明の
原理を示す概念図、第3図はレーザ光の発振周波数の時
間的変化を示すグラフで、第4図は光検出器rのある点
におけるビート信号の時間変化を示した図である。 1・・・レーザ、      2・・・レンズ、3・・
・ビームスプリッタ、 4・・・コーナーキューブ、5
・・・物体、6・・・レンズ、 7・・・2次元光検出
器、8・・・シャッタ、     9・・・レーザ駆動
装置、10・・・画像入力装置、  11・・・画像メ
モリ、12・・・・・・演算装置、    101・・
・レーザ、103・・・ビームスプリッタ、 104・
・・ミラー、第  1  図 第  2  図 104ミラー 第  3  図
Fig. 1 is a configuration diagram of an embodiment of the present invention, Fig. 2 is a conceptual diagram showing the principle of the invention, Fig. 3 is a graph showing temporal changes in the oscillation frequency of laser light, and Fig. 4 is a graph showing the temporal change in the oscillation frequency of laser light. FIG. 3 is a diagram showing the time change of a beat signal at a certain point of the detector r. 1... Laser, 2... Lens, 3...
・Beam splitter, 4... Corner cube, 5
...Object, 6...Lens, 7...Two-dimensional photodetector, 8...Shutter, 9...Laser drive device, 10...Image input device, 11...Image memory, 12... Arithmetic device, 101...
・Laser, 103...Beam splitter, 104・
...Mirror, Figure 1 Figure 2 Figure 104 Mirror Figure 3

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] コヒーレントな光を2分して、一方を光路長の定められ
た基準光路、他方を物体に照射する物体光とし、前記基
準光路の波面と前記物体からの反射光を干渉させて生じ
るビート信号を2次元光検出器を用いて、一定のサンプ
リング間隔で画像として受光し、サンプリング画像の少
くとも3枚を記憶せしめ、前記記憶したデータを用いて
サンプリング点の位相を求め、前記位相の情報を用いて
ビート信号の周波数を計算して、前記物体までの距離と
前記基準光路長の光路長差を求めることを特徴とする3
次元計測方法。
Coherent light is divided into two parts, one is used as a reference optical path with a fixed optical path length, and the other is used as an object beam that irradiates an object, and the beat signal generated by interfering the wavefront of the reference optical path and the reflected light from the object is generated. A two-dimensional photodetector is used to receive light as images at regular sampling intervals, at least three of the sampling images are stored, the phase of the sampling point is determined using the stored data, and the phase information is used to determine the phase of the sampling point. and calculating the frequency of the beat signal to determine the optical path length difference between the distance to the object and the reference optical path length.
Dimensional measurement method.
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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01210805A (en) * 1988-02-18 1989-08-24 Yokogawa Electric Corp Three-dimensional shape measuring instrument
JPH07103714A (en) * 1993-10-04 1995-04-18 Yaskawa Electric Corp Laser distance measuring method
JPH08247709A (en) * 1995-03-15 1996-09-27 Oki Electric Ind Co Ltd Method for processing floating binarization
JP2005516205A (en) * 2002-01-25 2005-06-02 コヘリックス コーポレーション Interferometric spectroscopy method based on frequency modulation
JP2019215363A (en) * 2015-03-10 2019-12-19 レイセオン カンパニー LADAR system and method

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01210805A (en) * 1988-02-18 1989-08-24 Yokogawa Electric Corp Three-dimensional shape measuring instrument
JPH07103714A (en) * 1993-10-04 1995-04-18 Yaskawa Electric Corp Laser distance measuring method
JPH08247709A (en) * 1995-03-15 1996-09-27 Oki Electric Ind Co Ltd Method for processing floating binarization
JP2005516205A (en) * 2002-01-25 2005-06-02 コヘリックス コーポレーション Interferometric spectroscopy method based on frequency modulation
JP2019215363A (en) * 2015-03-10 2019-12-19 レイセオン カンパニー LADAR system and method
US10845468B2 (en) 2015-03-10 2020-11-24 Raytheon Company Coherent LADAR using intra-pixel quadrature detection

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