JPS6382460A - Photosensitive body - Google Patents

Photosensitive body

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JPS6382460A
JPS6382460A JP22943286A JP22943286A JPS6382460A JP S6382460 A JPS6382460 A JP S6382460A JP 22943286 A JP22943286 A JP 22943286A JP 22943286 A JP22943286 A JP 22943286A JP S6382460 A JPS6382460 A JP S6382460A
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JP
Japan
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film
atoms
gas
flow rate
layer
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JP22943286A
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Japanese (ja)
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Shuji Iino
修司 飯野
Mochikiyo Osawa
大澤 以清
Hideo Yasutomi
英雄 保富
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Minolta Co Ltd
Original Assignee
Minolta Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To improve the transferability of an electric charge transfer layer by using the charge transfer layer consisting of hydrogenated amorphous carbon contg. nitrogen and halogen and an electric charge generating layer. CONSTITUTION:For example, the charge transfer layer 2 and the charge generating layer 3 are successively laminated on a conductive substrate 1. The layer 2 consists of the hydrogenated amorphous carbon film contg. at least the nitrogen and halogen. The layer 3 consists of the hydrogenated or fluorinated amorphous silicon germanium film. The layers 2, 3 can be formed by glow discharge. The charge transfer layer having the adequate transferability and excellent electric chargeability, durability, etc., is thereby obtd. The charge generating layer which has excellent photoconductivity and the functions of which can be best utilized in spite of the reduction in the thickness thereof is obtd.

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、電荷発生層と電荷輸送層とを有する感光体に
関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to a photoreceptor having a charge generation layer and a charge transport layer.

従来技術 カールソン法の発明以来、電子写真の応用分野は著しい
発展を続け、電子写真用感光体にも様々な材料が開発さ
れ実用化されてきた。
BACKGROUND OF THE INVENTION Since the invention of the Carlson method, the application field of electrophotography has continued to make remarkable progress, and various materials have been developed and put into practical use for electrophotographic photoreceptors.

従来用いられて来た電子写真感光体材料の主なものとし
ては、非晶質セレン、セレン砒素、セレンテルル、硫化
カドミウム、酸化亜鉛、アモルファスシリコン等の無機
物質、ポリビニルカルバゾール、金属フタロシアニン、
ジスアゾ顔料、トリスアゾ顔料、ペリレン顔料、トリフ
ェニルメタン化合物、トリフェニルアミン化合物、ヒド
ラゾン化合物、スチリル化合物、ピラゾリン化合物、オ
キサゾール化合物、オキサジアゾール化合物、等の有機
物質が挙げられる。また、その構成形態としては、これ
らの物質を単体で用いる単層型構成、結着材中に分散さ
せて用いるバインダー型構成、機能別に電荷発生層と電
荷輸送層とを設ける積層型構成等が挙げられる。
The main electrophotographic photoreceptor materials conventionally used include inorganic substances such as amorphous selenium, selenium arsenide, selenium telluride, cadmium sulfide, zinc oxide, amorphous silicon, polyvinyl carbazole, metal phthalocyanine,
Examples include organic substances such as disazo pigments, trisazo pigments, perylene pigments, triphenylmethane compounds, triphenylamine compounds, hydrazone compounds, styryl compounds, pyrazoline compounds, oxazole compounds, and oxadiazole compounds. In addition, the configurations include a single-layer structure in which these substances are used alone, a binder-type structure in which they are dispersed in a binder, and a laminated structure in which a charge generation layer and a charge transport layer are provided for each function. Can be mentioned.

しかしながら、従来用いられて来た電子写真感光体材料
にはそれぞれ欠点があフた。その一つとして人体への有
害性が挙げられるが、前述したアモルファスシリコンを
除く無機物質においては、何れも好ましくない性質を持
つものであった。また、電子写真感光体が実際に複写機
内で用いられるためには、帯電、露光、現像、転写、除
電、清掃等の苛酷な環境条件に曝された場合においても
、常に安定な性能を維持している必要があるが、前述し
た有機物質においては、何れも耐久性に乏しく、性能面
での不安定要素が多量じな。
However, conventionally used electrophotographic photoreceptor materials each have their own drawbacks. One of these is their toxicity to the human body, and all inorganic substances, except for the amorphous silicon mentioned above, have unfavorable properties. In addition, in order for an electrophotographic photoreceptor to be actually used in a copying machine, it must always maintain stable performance even when exposed to harsh environmental conditions such as charging, exposure, development, transfer, neutralization, and cleaning. However, the organic materials mentioned above all have poor durability and many unstable factors in terms of performance.

このような欠点を解消すべく、近年、有害性を改善し耐
久性に富んだ材料として、グロー放電法により生成され
るアモルファスシリコンの電子写真感光体への応用が進
んで来ている。しかし、アモルファスシリコンは、原料
としてシランガスを多量に必要とする反面、高価なガス
であることから、出来上がった電子写真感光体も従来の
感光体に比べ大幅に高価なものとなる。また、成膜速度
が遅く、成膜時間の増大に伴い爆発性を有するシラン未
分解生成物を粉塵状に発生する等、生産上の不都合も多
い。また、この粉塵が製造時に感光層中に混入した場合
には、画像品質に著しく悪影響を及ぼす。ざらに、アモ
ルファスシリコンは、元来、比誘電率が高いため帯電性
能が低く、複写機内で所定の表面電位に帯電するために
は膜厚を厚くする必要があり、高価なアモルファスシリ
コン膜を長時間堆積させなくてはならない。
In order to eliminate such drawbacks, in recent years, amorphous silicon produced by a glow discharge method has been increasingly applied to electrophotographic photoreceptors as a material with improved toxicity and high durability. However, while amorphous silicon requires a large amount of silane gas as a raw material, it is an expensive gas, so the resulting electrophotographic photoreceptor is also significantly more expensive than a conventional photoreceptor. In addition, there are many inconveniences in production, such as the slow film formation rate and the generation of explosive silane undecomposed products in the form of dust as the film formation time increases. Furthermore, if this dust gets mixed into the photosensitive layer during manufacturing, it will have a significant negative effect on image quality. Generally, amorphous silicon has low charging performance due to its high specific dielectric constant, and in order to charge it to a predetermined surface potential in a copying machine, it is necessary to increase the thickness of the film. You have to accumulate time.

ところでアモルファスカーボンH’J自体は、プラズマ
有機重合膜として古くより知られており、例えばジエン
(M、5hen)及びベル(A、T。
By the way, amorphous carbon H'J itself has been known for a long time as a plasma organic polymer film, such as diene (M, 5hen) and bell (A, T).

Be1l)により、1973年発行ののジャーナル・オ
ブ・アプライド・ポリマー・サイエンス(Journa
l  of  Applied  P。
Journal of Applied Polymer Science (Journa Be1l), published in 1973.
l of Applied P.

lymer  5cience)第17巻の第885頁
乃至第892頁において、あらゆる有機化合物のガスか
ら作製きれ得る事が、また、同著者により、1979年
のアメリカンケミカルソサエティ  (America
n  ChemicalSociety)発行によるプ
ラズマボリマライゼーション(Plasma  Pol
ymerization)の中でもその成膜性が論じら
れている。
lymer 5science), Volume 17, pages 885 to 892, the same author also reported in the 1979 American Chemical Society that all organic compounds can be produced from gases.
Plasma Pol
ymerization), its film formability has been discussed.

しかしながら従来の方法で作製したプラズマ有機重合膜
は絶縁性を前提とした用途に限って用いられ、即ちそれ
らの膜は通常のポリエチレン膜の如<1016Ωcm程
度の比抵抗を有する絶縁膜と考えられ、或は、少なくと
もそのような膜であるとの認識のもとに用いられていた
。実際に電子写真感光体への用途にしても同様の認識か
ら、保護層、接着層、ブロッキング層もしくは絶縁層に
限られており、所謂アンダーコート層もしくはオーバー
コート層としてしか用いられていなかった。
However, plasma organic polymer films prepared by conventional methods are used only for applications that assume insulation properties, that is, they are considered to be insulating films with a specific resistance of about <1016 Ωcm, like ordinary polyethylene films. Or at least it was used with the recognition that it was such a membrane. Due to the same recognition, its actual use in electrophotographic photoreceptors has been limited to protective layers, adhesive layers, blocking layers, or insulating layers, and has only been used as so-called undercoat layers or overcoat layers.

例えば、特開昭59−28161号公報には、基板上に
ブロッキング層及び接着層としてプラズマ重合きれた網
目構造を有する高分子層を設け、その上にアモルファス
シリコン層を設けた感光体が開示されている。特開昭5
9−38753号公報には、基板上にブロッキング層及
び接着層として酸素と窒素と炭化水素の混合ガスから生
成される1013〜10I5Ωamの高抵抗のプラズマ
重合膜を10人〜100人設けた上にアモルファスシリ
コン層を設けた感光体が開示されている。特開昭59−
136742号公報には、アルミ基板上に設けたアモル
ファスシリコン層内へ光照射時にアルミ原子が拡散する
のを防止するための保vi層として1〜5μm程度の炭
素膜を基板表面に形成せしめた感光体が開示きれている
。特開昭60−63541号公報には、アルミ基板とそ
の上に設けたアモルファスシリコン層との接着性を改善
するために、接着層として200人〜2μmのダイヤモ
ンド状炭素膜を中間に設けた感光体が開示きれ、残留電
荷の面から膜厚は2um以下が好ましいとされている。
For example, JP-A-59-28161 discloses a photoreceptor in which a plasma-polymerized polymer layer having a network structure is provided on a substrate as a blocking layer and an adhesive layer, and an amorphous silicon layer is provided on the polymer layer. ing. Japanese Patent Application Publication No. 5
Publication No. 9-38753 discloses that a high resistance plasma polymerized film of 1013 to 10 I5 Ωam generated from a mixed gas of oxygen, nitrogen, and hydrocarbon is provided on a substrate as a blocking layer and an adhesive layer by 10 to 100 people. A photoreceptor is disclosed that includes an amorphous silicon layer. Unexamined Japanese Patent Publication 1987-
Publication No. 136742 discloses a photosensitive material in which a carbon film of about 1 to 5 μm is formed on the surface of an aluminum substrate as a vibrator layer to prevent aluminum atoms from diffusing into an amorphous silicon layer provided on an aluminum substrate during light irradiation. My body is fully revealed. Japanese Unexamined Patent Publication No. 60-63541 discloses a photosensitive material in which a diamond-like carbon film with a thickness of 200 to 2 μm is provided in the middle as an adhesive layer in order to improve the adhesion between an aluminum substrate and an amorphous silicon layer provided thereon. It is said that the film thickness is preferably 2 um or less from the viewpoint of residual charge.

これらの開示は、何れも基板とアモルファスシリコン層
との間に、所謂アンダーコード層を設けた発明であり、
電荷輸送性についての開示は全くなく、また、a−Si
の有する前記した本質的問題を解決するものではない。
These disclosures are all inventions in which a so-called undercode layer is provided between the substrate and the amorphous silicon layer,
There is no disclosure regarding charge transport properties, and a-Si
However, it does not solve the above-mentioned essential problems.

また、例えば、特開昭50−20728号公報には、ポ
リビニルカルバゾール−セレン系感光体の表面に保護層
としてグロー放電重合によるポリマー膜を0.1〜1μ
m設けた感光体が開示されている。特開昭59−214
859号公報には、アモルファスシリコン感光体の表面
に保護層としてスチレンやアセチレン等の有機炭化水素
モノマーをプラズマ重合させて5μm程度の膜を形成さ
せる技術が開示されている。特開昭60−61761号
公報には、表面保護層として、500人〜2μmのダイ
ヤモンド状炭素薄膜を設けた感光体が開示され、透光性
の面から膜厚は2μm以下が好ましいとされてている。
For example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 50-20728 discloses that a polymer film of 0.1 to 1 μm formed by glow discharge polymerization is applied as a protective layer on the surface of a polyvinylcarbazole-selenium photoreceptor.
A photoreceptor is disclosed. Japanese Patent Publication No. 59-214
Japanese Patent No. 859 discloses a technique for forming a protective layer on the surface of an amorphous silicon photoreceptor by plasma polymerizing an organic hydrocarbon monomer such as styrene or acetylene to form a film of about 5 μm. JP-A No. 60-61761 discloses a photoreceptor provided with a diamond-like carbon thin film of 500 to 2 μm as a surface protective layer, and it is said that the film thickness is preferably 2 μm or less in terms of light transmission. ing.

特開昭60−249115号公報には、0.05〜5μ
m程度の無定形炭素または硬質炭素膜を表面保護層とし
て用いる技術が開示され、膜厚が5μmを越えると感光
体活性に悪影響が及ぶとされている。
JP-A-60-249115 discloses that 0.05 to 5μ
A technique has been disclosed in which an amorphous carbon or hard carbon film with a thickness of about 5 μm is used as a surface protective layer, and it is said that if the film thickness exceeds 5 μm, the photoreceptor activity will be adversely affected.

これらの開示は、何れも感光体表面に所謂オーバーコー
ト層を設けた発明であり、電荷輸送性についての開示は
全くなく、また、a−3iの有する前記した本質的問題
を解決するものではない。
All of these disclosures are inventions in which a so-called overcoat layer is provided on the surface of a photoreceptor, and there is no disclosure of charge transport properties, and they do not solve the above-mentioned essential problems of a-3i. .

また、特開昭51−46130号公報には、ポリビニル
カルバゾール系電子写真感光体の表面にグロー放電重合
を行なって0.001〜3μmのポリマー膜を形成せし
めた電子写真感光板が開示されているが、電荷輸送性に
ついては全く言及されていないし、a−3iの持つ前記
した本質的問題を解決するものではない。
Further, JP-A-51-46130 discloses an electrophotographic photosensitive plate in which a polymer film of 0.001 to 3 μm is formed on the surface of a polyvinyl carbazole electrophotographic photoreceptor by glow discharge polymerization. However, there is no mention of charge transport properties, and it does not solve the above-mentioned essential problems of a-3i.

一方、アモルファスシリコン膜については、スピア(W
、E、5pear)及びレコンパ(P。
On the other hand, regarding the amorphous silicon film, Spear (W
, E, 5pear) and Recompa (P.

Q、 L6(:omber)により1976年発行のフ
ィロソフィカル・マガジン(Philosophica
l  Magazine)第33巻の第935頁乃至第
949頁において、極性制御が可能な材料である事が報
じられて以来、種々の光電デバイスへの応用が試みられ
て来た。感光体への応用に関しては、例えば、特開昭5
6−62254号公報、特開昭57−119356号公
報、特開昭57−177147号公報、特開昭57−1
19357号公報、特開昭57−177149号公報、
特開昭57−119357号公報、特開昭57−177
146号公報、特開昭57−177148号公報、特開
昭57−174448号公報、特開昭57−17444
9号公報、特開昭57−174450号公報、等に、炭
素原子を含有したアモルファスシリコン感光体が開示さ
れているが、何れもアモルファスシリコンの光導電性を
炭素原子により調整する事を目的としたものであり、ま
た、アモルファスシリコン自体厚い膜を必要としている
Philosophical Magazine published in 1976 by Q, L6 (:omber)
Since it was reported on pages 935 to 949 of Vol. 33 of I Magazine that polarity can be controlled, attempts have been made to apply it to various photoelectric devices. Regarding application to photoreceptors, for example, Japanese Patent Application Laid-open No. 5
6-62254, JP 57-119356, JP 57-177147, JP 57-1
No. 19357, Japanese Patent Application Laid-open No. 177149/1983,
JP-A-57-119357, JP-A-57-177
146, JP 57-177148, JP 57-174448, JP 57-17444
Amorphous silicon photoreceptors containing carbon atoms are disclosed in Japanese Patent Application Laid-open No. 57-174450, etc., but all of them aim to adjust the photoconductivity of amorphous silicon with carbon atoms. Furthermore, amorphous silicon itself requires a thick film.

日が  しようとするπ点 以上のように、従来、電子写真感光体に用いられている
プラズマ有機重合膜は所謂アンダーコート層もしくはオ
ーバーコート層として使用されていたが、それらはキャ
リアの輸送機能を必要としない膜であって、有機重合膜
が絶縁性で有るとの判断にたって用いられている。従っ
てその膜厚も高々5μm程度の極めて薄い膜としてしか
用いられず、キャリアはトンネル効果で膜中を通過する
か、トンネル効果が期待できない場合には、残留電位の
発生に関して事実上問題にならずに済む程度の薄い膜で
しか用いられていない。また、従来、電子写真に用いら
れているアモルファスシリコン膜は所謂厚膜で使用され
ており、価格或は生産性等に、不都合な点が多い。
The plasma organic polymer films conventionally used in electrophotographic photoreceptors have been used as so-called undercoat layers or overcoat layers, but they have a carrier transport function. This film is not necessary and is used based on the judgment that the organic polymer film is insulating. Therefore, it can only be used as an extremely thin film with a thickness of about 5 μm at most, and carriers either pass through the film by tunneling effect, or if a tunneling effect cannot be expected, there is virtually no problem with the generation of residual potential. It is only used in thin films that are only small enough to last. Furthermore, amorphous silicon films conventionally used in electrophotography are so-called thick films, which have many disadvantages in terms of cost, productivity, and the like.

本発明者らは、アモルファスカーボン膜の電子写真感光
体への応用を検討しているうちに、本来絶縁性であると
考えられていた水素化アモルファスカーボン膜が窒素原
子とハロゲン原子とを含有せしめる事により、水素化或
は弗素化アモルファスシリコンゲルマニウム膜とのVR
IWにおいては電荷輸送性を有し、容易に好適な電子写
真特性を示し始める事を見出した。その理論的解釈には
本発明者においても不明確な点が多く詳細に亙り言及は
できないが、窒素原子とハロゲン原子とを含有せしめた
水素化アモルファスカーボン膜中に捕捉きれている比較
的不安定なエネルギー状態の電子、例えばπ電子、不対
電子、残存フリーラジカル等が形成するバンド構造が、
水素化或は弗素化アモルファスシリコンゲルマニウムが
形成するバンド構造と電導帯もしくは荷電子帯において
近似したエネルギー準位を有するため、水素化或は弗素
化アモルファスシリコンゲルマニウム膜中で発生したキ
ャリアが容易に窒素原子とハロゲン原子とを含有せしめ
た水素化アモルファスカーボン膜中へ注入され、さらに
、このキャリアは前述の比較的不安定なエネルギー状態
の電子の作用により窒素原子とハロゲン原子とを含有せ
しめた水素化アモルファスカーボン膜中を好適に走行し
得るためと推定される。
While considering the application of amorphous carbon films to electrophotographic photoreceptors, the present inventors discovered that hydrogenated amorphous carbon films, which were originally thought to be insulating, contained nitrogen atoms and halogen atoms. In some cases, VR with hydrogenated or fluorinated amorphous silicon germanium film
It has been found that IW has charge transport properties and easily begins to exhibit suitable electrophotographic properties. There are many unclear points in the theoretical interpretation, even for the present inventor, and we cannot discuss it in detail, but it is a relatively unstable hydrogenated amorphous carbon film that contains nitrogen atoms and halogen atoms. The band structure formed by electrons in certain energy states, such as π electrons, unpaired electrons, and residual free radicals, is
Because hydrogenated or fluorinated amorphous silicon germanium has similar energy levels in the conduction band or valence band to the band structure formed by the hydrogenated or fluorinated amorphous silicon germanium, carriers generated in the hydrogenated or fluorinated amorphous silicon germanium film can easily convert into nitrogen. The carriers are injected into the hydrogenated amorphous carbon film containing nitrogen atoms and halogen atoms, and the carriers are further injected into the hydrogenated amorphous carbon film containing nitrogen atoms and halogen atoms by the action of the electrons in the relatively unstable energy state mentioned above. It is presumed that this is because it can travel suitably through the amorphous carbon film.

本発明はその新たな知見を利用することにより、アモル
ファスシリコン感光体の持つ前述の如き本質的問題点を
全て解消し、また従来とは全く使用目的も特性も異なる
、有機プラズマ重合膜、特に窒素原子とハロゲン原子と
を含有してなる水素化アモルファスカーボン膜を電荷輸
送層として使用し、かつ、水素化或は弗素化アモルファ
スシリコンゲルマニウムの薄膜を電荷発生層として使用
した感光体を提供する事を目的とする。
By utilizing this new knowledge, the present invention solves all the above-mentioned essential problems of amorphous silicon photoreceptors, and also uses organic plasma polymerized films, especially nitrogen It is an object of the present invention to provide a photoreceptor in which a hydrogenated amorphous carbon film containing atoms and halogen atoms is used as a charge transport layer, and a thin film of hydrogenated or fluorinated amorphous silicon germanium is used as a charge generation layer. purpose.

を  するための 即ち、本発明は、電荷発生層と電荷輸送層とを有する機
能分離型感光体において、該電荷輸送層がプラズマ重合
反応から生成される少なくとも窒素原子とハロゲン原子
とを含有してなる水素化アモルファスカーボン膜であり
、かつ、該電荷発生層が水素化或は弗素化アモルファス
シリコンゲル々ニウム膜であることを特徴とする感光体
に関する(以下、本発明による電荷輸送層をa−C膜及
び電荷発生層をa−3i!15!と称する)。
That is, the present invention provides a functionally separated photoreceptor having a charge generation layer and a charge transport layer, wherein the charge transport layer contains at least nitrogen atoms and halogen atoms generated from a plasma polymerization reaction. The charge transport layer according to the present invention is hereinafter referred to as a- The C film and charge generation layer are referred to as a-3i!15!).

本発明は、従来のアモルファスシリコン感光体において
は、電荷発生層として優れた機能を有するアモルファス
シリコンを、電荷発生能が無くても電荷輸送能さえあれ
ば済む電荷輸送層としても併用していたため発生してい
たこれらの問題点を解決すべく成されたものである。
The present invention was developed because, in conventional amorphous silicon photoreceptors, amorphous silicon, which has an excellent function as a charge generation layer, is also used as a charge transport layer, which requires only charge transport ability even if it does not have charge generation ability. This was done to solve these problems.

即ち、本発明は、電荷輸送層としてグロー放電により生
成される少なくとも窒素原子とハロゲン原子とを含有し
てなる水素化アモルファスカーボン膜を設け、かつ、電
荷発生層として同じくグロー放電により生成される水素
化或は弗素化アモルファスシリコンゲルマニウム膜を設
けた事を特徴とする機能分離型感光体に関する。該電荷
輸送層は、可視光もしくは半導体レーザー光付近の波長
の光に対しては明確なる光導電性は有さないが、好適な
輸送性を有し、さらに、帯電能、耐久性、耐候性、耐環
境汚染性等の電子写真感光体性能に優れ、しかも透光性
にも優れるため、機能分離型感光体としての積層構造を
形成する場合においても極めて高い自由度が得られるも
のである。また、該電荷発生層は、可視光もしくは半導
体レーザー先付近の波長の光に対して優れた光導電性を
有し、しかも従来のアモルファスシリコン感光体に比べ
て極めて薄い膜厚で、その機能を活かす事ができるもの
である。
That is, the present invention provides a hydrogenated amorphous carbon film containing at least nitrogen atoms and halogen atoms produced by glow discharge as a charge transport layer, and a hydrogenated amorphous carbon film containing at least nitrogen atoms and halogen atoms produced by glow discharge as a charge generation layer. The present invention relates to a functionally separated photoreceptor characterized by being provided with a fluorinated or fluorinated amorphous silicon germanium film. Although the charge transport layer does not have clear photoconductivity for visible light or light with a wavelength near semiconductor laser light, it has suitable transport properties, and also has good charging ability, durability, and weather resistance. Since the electrophotographic photoreceptor has excellent electrophotographic photoreceptor properties such as environmental pollution resistance and excellent light transmittance, it can provide an extremely high degree of freedom when forming a laminated structure as a function-separated photoreceptor. In addition, the charge generation layer has excellent photoconductivity for visible light or light at a wavelength near the semiconductor laser tip, and is extremely thin compared to conventional amorphous silicon photoreceptors. It is something that can be put to good use.

本発明においては、 a−C膜を形成するために有機化
合物ガス、特に炭化水素ガスが用いられる。
In the present invention, an organic compound gas, particularly a hydrocarbon gas, is used to form the a-C film.

該炭化水素における相状態は常温常圧において必ずしも
気相である必要はなく、加熱或は減圧等により溶融、蒸
発、昇華等を経て気化しうるものであれば、液相でも固
相でも使用可能である。
The phase state of the hydrocarbon does not necessarily have to be a gas phase at room temperature and normal pressure; it can be used in either a liquid phase or a solid phase as long as it can be vaporized through melting, evaporation, sublimation, etc. by heating or reduced pressure. It is.

使用可能な炭化水素には種類が多いが、飽和炭化水素と
しては、例えば、メタン、エタン、プロパン、ブタン、
ペンタン、ヘキサン、ヘプタン、オクタン、ノナン、デ
カン、ウンデカン、ドデカン、トリデカン、テトラデカ
ン、ペンタデカン、ヘキサデカン、ヘプタデカン、オク
タデカン、ノナデカン、エイコサン、ヘンエイコサン、
トコサン、トリコサン、テトラコサン、ペンタコサン、
ヘキサコサン、ヘプタコサン、オクタコサン、ノナコサ
ン、トリアコンタン、トドリアコンタン、ペンタトリア
コンタン、等のノルマルパラフィン並びに、イソブタン
、イソペンタン、ネオペンタン、イソヘキサン、ネオヘ
キサン、2,3−ジメチルブタン、2−メチルヘキサン
、3−エチルペンタン、2.2−ジメチルペンタン、2
.4−ジメチルペンタン、3,3−ジメチルペンタン、
トリブタン、2−メチルへブタン、3−メチルへブタン
、2,2−ジメチルヘキサン、2,2.5−ジメチルヘ
キサン、2,2.3−トリメチルペンタン、2.2.4
−トリメチルペンタン、2,3゜3−トリメチルペンタ
ン、2.3.4−トリメチルペンタン、イソナノン、等
のイソパラフィン、等が用いられる。不飽和炭化水素と
しては、例えば、エチレン、プロピレン、イソブチレン
、1−ブテン、2−ブテン、1−ペンテン、2−ペンテ
ン、2−メチル−1−ブテン、3−メチル−1−ブテン
、2−メチル−2−ブテン、1−ヘキセン、テトラメチ
ルエチレン、1−ヘプテン、1−オクテン、1−ノネン
、1−デセン、等のオレフィン、並びに、アレン、メチ
ルアレン、ブタジェン、ぺンタジエン、ヘキサジエン、
シクロペンタジェン、等のジオレフィン、並びに、オシ
メン、アロオシメン、ミルセン、ヘキサトリエン、等の
トリオレフイン、並びに、アセチレン、ブタジイン、1
゜3−ペンタジイン、2.4−へキサジイン、メチルア
セチレン、1−ブチン、2−ブチン、1−ペンチン、1
−ヘキシン、1−ヘプチン、1−オクチン、l−ノニン
、1−デシン、等が用いられる。
There are many types of hydrocarbons that can be used, but examples of saturated hydrocarbons include methane, ethane, propane, butane,
Pentane, hexane, heptane, octane, nonane, decane, undecane, dodecane, tridecane, tetradecane, pentadecane, hexadecane, heptadecane, octadecane, nonadecane, eicosane, heneicosane,
tocosan, tricosane, tetracosan, pentacosan,
Normal paraffins such as hexacosane, heptacosane, octacosane, nonacosane, triacontane, todoriacontane, pentatriacontane, etc., as well as isobutane, isopentane, neopentane, isohexane, neohexane, 2,3-dimethylbutane, 2-methylhexane, 3- Ethylpentane, 2,2-dimethylpentane, 2
.. 4-dimethylpentane, 3,3-dimethylpentane,
Tributane, 2-methylhebutane, 3-methylhebutane, 2,2-dimethylhexane, 2,2.5-dimethylhexane, 2,2.3-trimethylpentane, 2.2.4
Isoparaffins such as -trimethylpentane, 2,3°3-trimethylpentane, 2.3.4-trimethylpentane, isonanone, etc. are used. Examples of unsaturated hydrocarbons include ethylene, propylene, isobutylene, 1-butene, 2-butene, 1-pentene, 2-pentene, 2-methyl-1-butene, 3-methyl-1-butene, 2-methyl -Olefins such as 2-butene, 1-hexene, tetramethylethylene, 1-heptene, 1-octene, 1-nonene, 1-decene, and allene, methylalene, butadiene, pentadiene, hexadiene,
Diolefins such as cyclopentadiene, triolefins such as ocimene, allocimene, myrcene, hexatriene, acetylene, butadiyne, etc.
゜3-pentadiyne, 2.4-hexadiyne, methylacetylene, 1-butyne, 2-butyne, 1-pentyne, 1
-Hexyne, 1-heptyne, 1-octyne, l-nonine, 1-decyne, etc. are used.

脂環式炭化水素としては、例えば、シクロプロパン、シ
クロブタン、シクロペンタン、シクロヘキサン、シクロ
へブタン、シクロオクタン、シクロノナン、シクロデカ
ン、シクロウンデカン、シクロドデカン、シクロトリデ
カン、シクロテトラデカン、シクロペンタデカン、シク
ロヘキサデカン、等のシクロパラフィン並びに、シクロ
プロペン、シクロブテン、シクロペンテン、シクロヘキ
セン、シクロヘプテン、シクロオクテン、シクロノネン
、シクロデセン、等のシクロオレフィン並びに、リモネ
ン、テルビルン、フエランドレン、シルベストレン、ツ
エン、カレン、ピネン、ボルニレン、カンフエン、フエ
ンチェン、シクロウンデカン、トリシクレン、ビサボレ
ン、ジンギベレン、クルクメン、フムレン、カジネンセ
スキベニヘン、セリネン、カリオフィレン、サンタレン
、セドレン、カンホレン、フィロクラテン、ボドカルプ
レン、ミレン、等のテルペン並びに、ステロイド等が用
いられる。芳香族炭化水素としては、例えば、ベンゼン
、トルエン、キシレン、ヘミメリテン、ブンイドクメン
、メシチレン、プレニテン、イソジュレン、ジュレン、
ペンタメチルベンゼン、ヘキサメチルベンゼン、エチル
ベンゼン、プロピルベンゼン、クメン、スチレン、ピフ
ェニル、テルフェニル、ジフェニルメタン、トリフェニ
ルメタン、ジベンジル、スチルベン、インデン、ナフタ
リン、テトラリン、アントラセン、フェナントレン、等
が用いられる。
Examples of alicyclic hydrocarbons include cyclopropane, cyclobutane, cyclopentane, cyclohexane, cyclohebutane, cyclooctane, cyclononane, cyclodecane, cycloundecane, cyclododecane, cyclotridecane, cyclotetradecane, cyclopentadecane, cyclohexadecane, Cycloparaffins such as cyclopropene, cyclobutene, cyclopentene, cyclohexene, cycloheptene, cyclooctene, cyclononene, cyclodecene, and cycloolefins such as limonene, tervirun, phelandrene, sylvestrene, thuene, carene, pinene, bornylene, kamphuen, fuenchen , cycloundecane, tricyclene, bisabolene, zingiberene, curcumene, humulene, kajinensesesquivenichen, selinene, caryophyllene, santarene, cedrene, campholene, phylloclatene, bodocarprene, mirene, and other terpenes, as well as steroids, are used. Examples of aromatic hydrocarbons include benzene, toluene, xylene, hemimelithene, bunidocumene, mesitylene, prenitene, isodurene, durene,
Pentamethylbenzene, hexamethylbenzene, ethylbenzene, propylbenzene, cumene, styrene, piphenyl, terphenyl, diphenylmethane, triphenylmethane, dibenzyl, stilbene, indene, naphthalene, tetralin, anthracene, phenanthrene, etc. are used.

ざらに、炭化水素以外でも、例えば、アルコール類、ケ
トン頚、エーテル類、エステル類、等炭素と成りうる化
合物であれば使用可能である。
In general, any compound other than hydrocarbons, such as alcohols, ketones, ethers, esters, etc., that can be converted into carbon can be used.

本発明におけるa −CI51中に含まれる水素原子の
量はグロー放電を用いるというその製造面から必然的に
定まるが、炭素原子と水素原子の総量に対して、概ね3
0乃至60原子%含有きれる。ここで、炭素原子並びに
水素原子の膜中含有量は、有機元素分析の常法、例えば
CNH分析を用いる事により知る事ができる。
The amount of hydrogen atoms contained in a-CI51 in the present invention is inevitably determined from the manufacturing aspect of using glow discharge, but it is approximately 3% of the total amount of carbon atoms and hydrogen atoms.
The content can range from 0 to 60 at%. Here, the content of carbon atoms and hydrogen atoms in the film can be determined by using a conventional method of organic elemental analysis, for example, CNH analysis.

本発明におけるa−C膜中に含まれる水素原子の量は、
成膜装置の形態並びに成膜時の条件により変化するが、
例えば、基板温度を高くする、圧力を低くする、原料炭
化水素ガスの希釈率を低くする、印加電力を高くする、
交番電界の周波数を低くする、交番電界に重畳せしめた
直流電界強度を高くする、等の手段、或は、これらの組
合せ操作は、含有水素量を低くする効果を有する。
The amount of hydrogen atoms contained in the a-C film in the present invention is
It varies depending on the form of the film-forming equipment and the conditions during film-forming, but
For example, increasing the substrate temperature, decreasing the pressure, decreasing the dilution rate of the raw material hydrocarbon gas, increasing the applied power,
Measures such as lowering the frequency of the alternating electric field, increasing the strength of the DC electric field superimposed on the alternating electric field, or a combination thereof have the effect of lowering the amount of hydrogen contained.

本発明における電荷輸送層としてのa −C膜の膜厚は
、通常の電子写真プロセスで用いるためには、S乃至5
0μm、特に7乃至20μmが適当であり、5umより
薄いと、帯電電位が低いため充分な複写画像濃度を得る
事ができない。また、50μmより厚いと、生産性の面
で好ましくない。
The thickness of the a-C film as the charge transport layer in the present invention is S to 5 in order to be used in a normal electrophotographic process.
A suitable thickness is 0 μm, particularly 7 to 20 μm; if it is thinner than 5 μm, sufficient copy image density cannot be obtained because the charging potential is low. Moreover, if it is thicker than 50 μm, it is not preferable in terms of productivity.

このa−C膜は、高透光性、高暗抵抗を有するとともに
電荷輸送性に富み、膜厚を上記の様に5μm以上として
もキャリアはトラップされる事無く輸送され明減衰に寄
与する事が可能である。
This a-C film has high light transmittance, high dark resistance, and is rich in charge transport properties, and even if the film thickness is 5 μm or more as mentioned above, carriers are transported without being trapped and contribute to bright attenuation. is possible.

本発明における原料気体からa −C膜を形成する過程
としては、原料気体が、直流、低周波、高周波、或はマ
イクロ波等を用いたプラズマ法により生成されるプラズ
マ状態を経て形成される方法が最も好ましいが、その他
にも、イオン化蒸着法、或はイオンビーム蒸着法等によ
り生成されるイオン状態を経て形成きれてもよいし、真
空蒸着法、或はスパッタリング法等により生成される中
性粒子から形成されてもよいし、ざらには、これらの組
み合わせにより形成されてもよい。
The process of forming an a-C film from a raw material gas in the present invention is a method in which the raw material gas is formed through a plasma state generated by a plasma method using direct current, low frequency, high frequency, microwave, etc. is the most preferable, but it may also be formed through an ionic state generated by ionization vapor deposition, ion beam vapor deposition, etc., or a neutral state generated by vacuum vapor deposition, sputtering, etc. It may be formed from particles or a combination thereof.

本発明においては炭化水素の他に、a −C膜中に少な
くとも窒素原子を添加するための原料として、窒素化合
物が用いられる。該窒素化合物における相状態は常温常
圧において必ずしも気相である必要はなく、加熱或は減
圧等により溶融、蒸発、昇華等を経て気化しうるもので
あれば、液相でも固相でも使用可能である。窒素化合物
としては、例えば、窒素、アンモニア等の無機化合物、
アミノ基(−NH2) 、シアノ基(−CN)等の官能
基を有する有機化合物、並びに窒素を含む複素環等が用
いられる。
In the present invention, in addition to hydrocarbons, a nitrogen compound is used as a raw material for adding at least nitrogen atoms into the a-C film. The phase state of the nitrogen compound does not necessarily have to be a gas phase at room temperature and normal pressure; it can be used in either a liquid phase or a solid phase as long as it can be vaporized through melting, evaporation, sublimation, etc. by heating or reduced pressure. It is. Examples of nitrogen compounds include nitrogen, inorganic compounds such as ammonia,
Organic compounds having functional groups such as amino groups (-NH2) and cyano groups (-CN), and nitrogen-containing heterocycles are used.

使用可能な有機化合物には種類が多いが、アミノ基を有
する有機化合物としては、例えば、メチルアミン、エチ
ルアミン、プロピルアミン、ブチルアミン、アミルアミ
ン、ヘキシルアミン、ヘプチルアミン、オクチルアミン
、ノニルアミン、デシルアイミン、ウンデシルアミン、
ドデシルアミン、トリデシルアミン、テトラデシルアミ
ン、ペンタデシルアミン、セチルアミン、ジメチルアミ
ン、ジエチルアミン、ジプロピルアミン、ジブチルアミ
ン、シアミルアミン、トリメチルアミン、トリエチルア
ミン、トリプロピルアミン、トリブチルアミン、トリア
ミルアミン、アリルアミン、ジアリルアミン、トリアリ
ルアミン、シクロプロピルアミン、シクロブチルアミン
、シクロペンチルアミン、シクロヘキシルアミン、アニ
リン、メチルアニリン、ジメチルアニリン、エチルアニ
リン、ジエチルアニリン、トルイジン、ベンジルアミン
、ジベンジルアミン、トリベンジルアミン、ジフェニル
アミン、トリフェニルアミン、ナフチルアミン、エチレ
ンジアミン、トリメチレンジアミン、テトラメチレンジ
アミン、ペンタメチレンジアミン、ヘキサメチレンジア
ミン、ジアミノヘプタン、ジアミノオクタン、ジアミノ
ノナン、ジアミノデカン、フェニレンジアミン、等が用
いられる。シアノ基を有する有機化合物としては、例え
ば、アセトニトリル、プロピオニトリル、ブチロニトリ
ル、バレロニトリル、カプロニトリル、エナントニトリ
ル、カプリロニトリル、フエラルゴンニトリル、カブリ
ニトリル、ラウロニトリル、パルミトニトリル、ステア
ロニトリル、クロトンニトリル、マロンニトリル、ステ
アロニトリル、ダルタルニトリル、アジポニトリル、ベ
ンゾニトリル、トルニトリル、シアン化ベンジルケイ皮
酸ニトリル、ナフトニトリル、シアンピリジン、等が用
いられる。複素環化合物としては、例えば、ピロール、
ビロリン、ピロリジン、オキサゾール、チアゾール、イ
ミダゾール、イミダシリン、イミダゾリジン、ピラゾー
ル、ビラプリン、ピラゾリジン、トリアゾール、テトラ
ゾール、ピリジン、ピペリジン、オキサジン、モルホリ
ン、チアジン、ピリダジン、ピリミジン、ピラジン、ピ
ペラジン、トリアジン、インドール、インドリン、ベン
ゾオキサゾール、インダゾール、ベンゾイミダゾール、
キノリン、シンノリン、フタラジン、フタロシアニン、
キナゾリン、キンキサリン、カルバゾール、アクリジン
、フエナントリジン、フェナジン、フェノキサジン、イ
ンドリジン、キノリジン、キヌクリジン、ナフチリジン
、プリン、プテリジン、アジリジン、アゼピン、オキサ
ジアジン、ジチアジン、ベンゾキノリン、イミダゾチア
ゾール、等が用いられる。
There are many types of organic compounds that can be used, but examples of organic compounds that have an amino group include methylamine, ethylamine, propylamine, butylamine, amylamine, hexylamine, heptylamine, octylamine, nonylamine, decylamine, and undecyl. amine,
Dodecylamine, tridecylamine, tetradecylamine, pentadecylamine, cetylamine, dimethylamine, diethylamine, dipropylamine, dibutylamine, cyamylamine, trimethylamine, triethylamine, tripropylamine, tributylamine, triamylamine, allylamine, diallylamine, Triallylamine, cyclopropylamine, cyclobutylamine, cyclopentylamine, cyclohexylamine, aniline, methylaniline, dimethylaniline, ethylaniline, diethylaniline, toluidine, benzylamine, dibenzylamine, tribenzylamine, diphenylamine, triphenylamine, naphthylamine , ethylenediamine, trimethylenediamine, tetramethylenediamine, pentamethylenediamine, hexamethylenediamine, diaminoheptane, diaminooctane, diaminononane, diaminodecane, phenylenediamine, etc. are used. Examples of organic compounds having a cyano group include acetonitrile, propionitrile, butyronitrile, valeronitrile, capronitrile, enantonitrile, caprylonitrile, ferargonitrile, cabrinitrile, lauronitrile, palmitonitrile, stearonitrile, and crotonitrile. Nitrile, malonitrile, stearonitrile, daltarnitrile, adiponitrile, benzonitrile, tolnitrile, cyanogenated benzylcinnamate nitrile, naphthonitrile, cyanpyridine, etc. are used. Examples of the heterocyclic compound include pyrrole,
Viroline, pyrrolidine, oxazole, thiazole, imidazole, imidacilline, imidazolidine, pyrazole, birapurine, pyrazolidine, triazole, tetrazole, pyridine, piperidine, oxazine, morpholine, thiazine, pyridazine, pyrimidine, pyrazine, piperazine, triazine, indole, indoline, benzo oxazole, indazole, benzimidazole,
quinoline, cinnoline, phthalazine, phthalocyanine,
Quinazoline, quinxaline, carbazole, acridine, phenanthridine, phenazine, phenoxazine, indolizine, quinolidine, quinuclidine, napthyridine, purine, pteridine, aziridine, azepine, oxadiazine, dithiazine, benzoquinoline, imidazothiazole, and the like are used.

本発明において化学的修飾物質として含有される窒素原
子の量は、全構成原子に対して5.0原子%以下である
。ここで、窒素原子の膜中含有量は、元素分析の常法、
例えばオージェ分析により知る事ができる。窒素原子を
含まない場合には、好適な輸送性が確保されず、成膜速
度が遅く、更に、成膜後の経時劣化を招きやすくなる。
In the present invention, the amount of nitrogen atoms contained as a chemical modifier is 5.0 at % or less based on the total constituent atoms. Here, the content of nitrogen atoms in the film is determined by the usual method of elemental analysis.
For example, this can be determined by Auger analysis. If it does not contain nitrogen atoms, suitable transportability is not ensured, the film formation rate is slow, and furthermore, it is likely to deteriorate over time after film formation.

一方、窒素原子の量が5.0原子%を越える場合には、
少量の添加では好適な輸送性を保証していた窒素原子が
、逆に膜の低抵抗化を招く作用を示し、帯電能が低下し
てしまう。従って、本発明における窒素の添加量範囲は
重要である。
On the other hand, when the amount of nitrogen atoms exceeds 5.0 at%,
When added in a small amount, nitrogen atoms, which ensure suitable transportability, instead exhibit an effect that lowers the resistance of the film, resulting in a decrease in charging ability. Therefore, the range of the amount of nitrogen added in the present invention is important.

本発明に於いて化学的修飾物質として含有される窒素原
子の量は、主に、プラズマ反応を行なう反応室への前述
の窒素化合物の導入量を増減することにより制御するこ
とが可能である。窒素化合物の導入量を増大させれば、
本発明によるa−C膜中への窒素原子の添加量を高くす
ることが可能であり、逆に窒素化合物の導入量を減少さ
せれば、本発明によるa −C膜中への窒素原子の添加
量を低くすることが可能である。
In the present invention, the amount of nitrogen atoms contained as a chemical modifier can be controlled mainly by increasing or decreasing the amount of the nitrogen compound introduced into the reaction chamber in which the plasma reaction is performed. If the amount of nitrogen compounds introduced is increased,
It is possible to increase the amount of nitrogen atoms added into the a-C film according to the present invention, and conversely, by decreasing the amount of nitrogen compounds introduced, it is possible to increase the amount of nitrogen atoms added into the a-C film according to the present invention. It is possible to reduce the amount added.

本発明においては炭化水素の他に、a −C膜中に少な
くともハロゲン原子を添加するためにハロゲン化合物が
使用される。ここでハロゲン原子とは、弗素原子、塩素
原子、臭素原子、及び沃素原子をいう。該ハロゲン化合
物における相状態は常温常圧において必ずしも気相であ
る必要はなく、加熱或は減圧等により溶融、蒸発、昇華
等を経て気化しうるものであれば、液相でも同相でも使
用可能である。ハロゲン化合物としては、例えば、弗素
、塩素、臭素、沃素、弗化水素、弗化塩素、弗化臭素、
弗化沃素、塩化水素、塩化臭素、塩化沃素、臭化水素、
臭化沃素、沃化水素、等の無機化合物、ハロゲン化アル
キル、ハロゲン化アリール、ハロゲ化スチレン、ハロゲ
ン化ポリメチレン、へロホルム、等の有機化合物が用い
られる。ハロゲン化アルキルとしては、例えば、フッ化
メチル、塩化メチル、臭化メチル、ヨウ化メチル、フッ
化エチル、塩化エチル、臭化エチル、ヨウ化エチル、フ
ッ化プロピル、塩化プロピル、臭化プロピル、ヨウ化プ
ロピル、フッ化ブチル、塩化ブチル、臭化ブチル、ヨウ
化ブチル、フッ化アミル、塩化アミル、臭化アミル、ヨ
ウ化アミル、フッ化ヘキシル、塩化ヘキシル、臭化ヘキ
シル、ヨウ化へキシル、フッ化ヘプチル、塩化へブチル
、臭化へブチル、ヨウ化へブチル、ヨウ化オクチル、塩
化オクチル、臭化オクチル、ヨウ化オクチル、フッ化ノ
ニル、塩化ノニル、臭化ノニル、ヨウ化ノニル、フッ化
デシル、塩化デシル、臭化デシル、ヨウ化デシル、等が
用いられる。ハロゲン化アリールとしては、例えば、フ
ルオルベンゼン、クロルベンゼン、ブロムベンゼン、ヨ
ードベンゼン、クロルトルエン、ブロムトルエン、クロ
ルナフタリン、ブロムナフタリン、等が用いられる。ハ
ロゲン化スチレンとしては、例えば、クロルスチレン、
ブロムスチレン、ヨードスチレン、フルオルスチレン、
等が用いられる。ハロゲン化ポリメチレンとしては、例
えば、塩化メチレン、臭化メチレン、ヨウ化メチレン、
塩化エチレン、臭化エチレン、ヨウ化エチレン、塩化ト
リメチレン、臭化トリメチレン、ヨウ化トリメチレン、
ジ塩化ブタン、ジ臭化ブタン、ショウ化ブタン、ジ塩化
ペンタン、ジ臭化ペンタン、ショウ化ペンタン、ジ塩化
ヘキサン、ジ臭化ヘキサン、ショウ化ヘキサン、ジ塩化
へブタン、ジ臭化へブタン、ショウ化へブタン、ジ塩化
オクタン、ジ臭化オクタン、ショウ化オクタン、ジ塩化
ノナン、ジ臭化ノナン、ジ塩化デカン、ジヨウ化デカン
、等が用いられる。へロホルムとしては、例えば、フル
オロホルム、クロロホルム、ブロモホルム、ヨードホル
ム、等が用いられる。
In the present invention, in addition to hydrocarbons, halogen compounds are used to add at least halogen atoms into the a-C film. Here, the halogen atom refers to a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom. The phase state of the halogen compound does not necessarily have to be a gas phase at room temperature and normal pressure; it can be used in either a liquid phase or the same phase as long as it can be vaporized through melting, evaporation, sublimation, etc. by heating or reduced pressure. be. Examples of halogen compounds include fluorine, chlorine, bromine, iodine, hydrogen fluoride, chlorine fluoride, bromine fluoride,
Iodine fluoride, hydrogen chloride, bromine chloride, iodine chloride, hydrogen bromide,
Inorganic compounds such as iodine bromide and hydrogen iodide, and organic compounds such as alkyl halides, aryl halides, styrene halides, polymethylene halides, and heroform are used. Examples of alkyl halides include methyl fluoride, methyl chloride, methyl bromide, methyl iodide, ethyl fluoride, ethyl chloride, ethyl bromide, ethyl iodide, propyl fluoride, propyl chloride, propyl bromide, and Propyl chloride, butyl fluoride, butyl chloride, butyl bromide, butyl iodide, amyl fluoride, amyl chloride, amyl bromide, amyl iodide, hexyl fluoride, hexyl chloride, hexyl bromide, hexyl iodide, fluoride Heptyl chloride, hebutyl chloride, hebutyl bromide, hebutyl iodide, octyl iodide, octyl chloride, octyl bromide, octyl iodide, nonyl fluoride, nonyl chloride, nonyl bromide, nonyl iodide, decyl fluoride , decyl chloride, decyl bromide, decyl iodide, etc. are used. As the aryl halide, for example, fluorobenzene, chlorobenzene, brombenzene, iodobenzene, chlorotoluene, bromotoluene, chlornaphthalene, bromnaphthalene, etc. are used. Examples of halogenated styrene include chlorstyrene,
Bromstyrene, iodostyrene, fluorostyrene,
etc. are used. Examples of halogenated polymethylene include methylene chloride, methylene bromide, methylene iodide,
Ethylene chloride, ethylene bromide, ethylene iodide, trimethylene chloride, trimethylene bromide, trimethylene iodide,
Butane dichloride, butane dibromide, butane dichloride, pentane dichloride, pentane dibromide, pentane dichloride, hexane dichloride, hexane dibromide, hexane dichloride, hebutane dichloride, hebutane dibromide, Used are hebutane dichloride, octane dichloride, octane dibromide, octane dichloride, nonane dichloride, nonane dibromide, decane dichloride, decane diiodide, and the like. Examples of heloform include fluoroform, chloroform, bromoform, iodoform, and the like.

本発明において化学的修飾物質として含有されるハロゲ
ン原子の量は、全構成原子に対して0゜1乃至25原子
%である。ここで、膜中に含有されるハロゲン原子の量
は、元素分析の常法、例えばオージェ分析により知る事
ができる。ハロゲン原子の量が0.1原子%より低い場
合には、必ずしも好適な電荷輸送性が保証されず、感度
低下もしくは残留電位の発生等を生じ易くなり、また、
経時的感度安定性も保証されなくなる。ハロゲン原子の
量が25原子%より高い場合には、適量の添加では好適
な電荷輸送性と残留電位発生防止を保証していたハロゲ
ン原子が、逆に、帯電能の低下、さらには経時後の暗抵
抗を低くする作用を示し、数カ月単位の保管中に電荷保
持能の低下を招く。また、必ずしも成膜性が保証されな
くなり、膜の剥離、油状化もしくは粉体化を招く。従っ
て、本発明におけるハロゲン原子添加量の範囲は重要で
ある。
In the present invention, the amount of halogen atoms contained as a chemical modifier is 0.1 to 25 at.% based on the total constituent atoms. Here, the amount of halogen atoms contained in the film can be determined by a conventional method of elemental analysis, such as Auger analysis. If the amount of halogen atoms is lower than 0.1 atomic %, suitable charge transport properties are not necessarily guaranteed, and sensitivity decreases or residual potential is likely to occur, and
Sensitivity stability over time is also no longer guaranteed. When the amount of halogen atoms is higher than 25 atom%, the halogen atoms, which had guaranteed suitable charge transport properties and prevention of residual potential generation when added in an appropriate amount, could conversely cause a decrease in charging ability and It has the effect of lowering dark resistance, leading to a decrease in charge retention ability during storage for several months. Furthermore, film-forming properties are not necessarily guaranteed, leading to peeling of the film, oily state, or powdery state. Therefore, the range of the amount of halogen atoms added in the present invention is important.

本発明において化学的修飾物質として含有きれるハロゲ
ン原子の量は、主に、プラズマ反応を行なう反応室への
前述のハロゲン化合物の導入量を増減することにより制
御することが可能である。
In the present invention, the amount of halogen atoms that can be contained as a chemical modifier can be controlled mainly by increasing or decreasing the amount of the halogen compound introduced into the reaction chamber in which the plasma reaction is performed.

ハロゲン化合物の導入量を増大させれば、本発明による
a−C膜中へのハロゲン原子の添加量を高くすることが
可能であり、逆にハロゲン化合物の導入量を減少きせれ
ば、本発明によるa −C膜中へのハロゲン原子の添加
量を低くすることが可能である。
By increasing the amount of halogen compound introduced, it is possible to increase the amount of halogen atoms added to the a-C film according to the present invention, and conversely, by decreasing the amount of halogen compound introduced, the amount of halogen atoms added to the a-C film according to the present invention can be increased. It is possible to reduce the amount of halogen atoms added to the a-C film.

本発明においては、a−Si膜を形成するためにシラン
ガス、ジシランガス、或は、弗化シランガスが用いられ
る。また、ゲルマニウム原子を含有させるために、ゲル
マンガスが用いられる。
In the present invention, silane gas, disilane gas, or fluorinated silane gas is used to form the a-Si film. Furthermore, germane gas is used to contain germanium atoms.

本発明におけるa−3i膜中に含有されるゲルマニウム
原子の含有量は、シリコン原子とゲルマニウム原子との
総和に対して、30原子%以下が好ましい。ここで、ゲ
ルマニウム原子及びシリコン原子の含有率は、元素分析
の常法、例えばオージェ分析により知る事ができる。ゲ
ルマニウム原子の含有量は、膜形成時に流入するゲルマ
ンガスの流量を増加する事により高くなる。ゲルマニウ
ム原子の含有量が高くなるにつれ本発明感光体の長波長
感度は向上し、短波長領域から長波長領域にまで幅広く
露光源が選択され得るようになり好ましいが、ゲルマニ
ウム原子が30原子%より多く含有されると帯電能の低
下を招くため、過剰の添加は好ましくない。従って、本
発明におけるa−Si膜中に含有されるゲルマニウム原
子の含有量は重要である。
The content of germanium atoms contained in the a-3i film in the present invention is preferably 30 at % or less with respect to the total of silicon atoms and germanium atoms. Here, the contents of germanium atoms and silicon atoms can be determined by a conventional method of elemental analysis, for example, Auger analysis. The content of germanium atoms can be increased by increasing the flow rate of germane gas flowing during film formation. As the content of germanium atoms increases, the long wavelength sensitivity of the photoreceptor of the present invention improves, and exposure sources can be selected from a wide range from short wavelength regions to long wavelength regions, which is preferable. Excessive addition is not preferable since a large content will lead to a decrease in charging ability. Therefore, the content of germanium atoms contained in the a-Si film in the present invention is important.

本発明におけるa−3ill中に含まれる水素原子或は
弗素原子の量はグロー放電を用いるというその製造面か
ら必然的に定まるが、シリコン原子と水素原子或はシリ
コン原子と弗素原子の総量に対して、概ね10乃至35
原子%含有される。ここで、水素原子或は弗素原子の膜
中含有量は、元素分析の常法、例えばONH分析、オー
ジェ分析等を用いる事により知る事かで伊る。
The amount of hydrogen atoms or fluorine atoms contained in a-3ill in the present invention is necessarily determined from the manufacturing aspect of using glow discharge, but it is determined based on the total amount of silicon atoms and hydrogen atoms or silicon atoms and fluorine atoms. Approximately 10 to 35
Contains atomic%. Here, the content of hydrogen atoms or fluorine atoms in the film can be determined by using conventional methods of elemental analysis, such as ONH analysis and Auger analysis.

本発明における電荷発生層としてのa−SiJIgの膜
厚は、通常の電子写真プロセスで用いるためには、0.
1乃至5μmが適当であり、0.1μmより薄いと、光
吸収が不十分となり充分な電荷発生が行なわれなくなり
、感度の低下を招く。また、5μmより厚いと、生産性
の面で好ましくない。このa−3i膜は電荷発生能に富
み、さらに、本発明の最も特徴とするところのa−C膜
との積層構成において効率よ<a−CI!!中に発生キ
ャリアを注入せしめ、好適な明減衰に寄与する事が可能
である。
The film thickness of a-SiJIg as a charge generation layer in the present invention is 0.0000.
A suitable thickness is 1 to 5 .mu.m, and if it is thinner than 0.1 .mu.m, light absorption will be insufficient and sufficient charge generation will not be carried out, leading to a decrease in sensitivity. Moreover, if it is thicker than 5 μm, it is not preferable in terms of productivity. This a-3i film is rich in charge generation ability, and furthermore, in the laminated structure with the a-C film, which is the most distinctive feature of the present invention, it is highly efficient < a-CI! ! It is possible to inject generated carriers into the layer and contribute to suitable bright attenuation.

本発明における原料気体からa−Si膜を形成する過程
は、a−C膜を形成する場合と同様にして行なわれる。
The process of forming an a-Si film from a raw material gas in the present invention is carried out in the same manner as in the case of forming an a-C film.

本発明における感光体は、電荷発生層と電荷輸送層から
成る機能分離型の構成とするのが最適で、該電荷発生層
と該電荷輸送層の積層構成は、必要に応じて適宜選択す
ることが可能である。
It is optimal for the photoreceptor in the present invention to have a functionally separated structure consisting of a charge generation layer and a charge transport layer, and the laminated structure of the charge generation layer and the charge transport layer may be appropriately selected as necessary. is possible.

第1図は、その一形態として、導電性基板(1)上に電
荷輸送層(2)と電荷発生層(3)を順次積層してなる
構成を示したものである。第2図は、別の一形態として
、導電性基板(1)上に電荷発生N(3)と電荷輸送層
(2)を順次積層してなる構成を示したものである。第
3図は、別の一形態として、導電性基板(1)上に、電
荷輸送層(2)と電荷発生層(3)と電荷輸送層(2)
を順次積層してなる構成を示したものである。
FIG. 1 shows, as one embodiment, a structure in which a charge transport layer (2) and a charge generation layer (3) are sequentially laminated on a conductive substrate (1). FIG. 2 shows, as another embodiment, a structure in which a charge generation layer (3) and a charge transport layer (2) are sequentially laminated on a conductive substrate (1). FIG. 3 shows, as another embodiment, a charge transport layer (2), a charge generation layer (3), and a charge transport layer (2) on a conductive substrate (1).
This figure shows a structure in which these are sequentially laminated.

感光体表面を、例えばコロナ帯電器等により正帯電した
後、画像露光して使用する場合におい“では、第1図で
は電荷発生層(3)で発生した正孔が電荷輸送層(2)
中を導電性基板(1)に向は走行し、第2図では電荷発
生7EJ (3)で発生した電子が電荷輸送層(2)中
を感光体表面に向は走行し、第3図では電荷発生層(3
)で発生した正孔が導電性基板側の電荷輸送、Ff(2
)中を導電性基板(1)に向は走行すると共に、同時に
電荷発生層(3)で発生した電子が表面側の電荷輸送層
(2)中を感光体表面に向は走行し、好適な明減衰に保
証された静電潜像の形成が行なわれる。反対に感光体表
面を負帯電した後、画像露光して使用する場合において
は、電子と正孔の挙動を入れ代えて、キャリアーの走行
性を解すればよい。第2図及び第3図では、画像露光用
の照射光が電荷輸送層中を通過する事になるが、本発明
による電荷輸送層は透光性に優れることから、好適な潜
像形成を行なうことが可能である。
When the surface of the photoreceptor is positively charged, for example, by a corona charger, and then exposed to image light, the holes generated in the charge generation layer (3) are transferred to the charge transport layer (2) in Figure 1.
Electrons generated by charge generation 7EJ (3) travel through the charge transport layer (2) toward the surface of the photoreceptor, and in FIG. Charge generation layer (3
) The holes generated at Ff(2
) through the conductive substrate (1), and at the same time electrons generated in the charge generation layer (3) travel through the charge transport layer (2) on the surface side toward the surface of the photoreceptor. The formation of an electrostatic latent image with guaranteed brightness decay takes place. On the other hand, when the surface of the photoreceptor is negatively charged and then used for image exposure, the behavior of electrons and holes can be exchanged to understand the mobility of carriers. In FIGS. 2 and 3, the irradiation light for image exposure passes through the charge transport layer, but since the charge transport layer according to the present invention has excellent translucency, it forms a suitable latent image. Is possible.

第4図は、さらなる一形態として、導電性基板(1)上
に電荷輸送N(2)と電荷発生層(3)と表面保護層(
4)を順次積層してなる構成を示したものである。即ち
第1図の形態に表面保護層を設けた形態に相当するが、
第1図の形態では、最表面が耐湿性に乏しいa−Si膜
で有ることから、多くの場合実用上の対湿度安定性を確
保するために表面保護層を設けることが好ましい。第2
図及び第3図の構成の場合、最表面が耐久性に優れたa
−C膜であるため表面保護層を設けなくてもよいが、例
えば現像剤の付着による感光体表面の汚れを防止するよ
うな、複写機内の各種エレメントに対する整合性を調整
する目的から、表面保護層を設けることもざらなる一形
態と成りうる。
FIG. 4 shows, as a further embodiment, a charge transport N (2), a charge generation layer (3) and a surface protective layer (
4) is shown in a structure formed by sequentially stacking them. In other words, it corresponds to the form shown in Fig. 1 with a surface protective layer provided, but
In the form of FIG. 1, since the outermost surface is an a-Si film with poor moisture resistance, in many cases it is preferable to provide a surface protective layer in order to ensure practical humidity stability. Second
In the case of the configurations shown in Figures and Figure 3, the outermost surface is a with excellent durability.
- Since it is a C film, there is no need to provide a surface protective layer, but for the purpose of adjusting the consistency with various elements in the copying machine, such as preventing stains on the surface of the photoreceptor due to adhesion of developer, surface protection Providing layers can also be an alternative form.

第5図は、さらなる一形態として、導電性基板(1)上
に中間N(5)と電荷発生Fj (3)と電荷輸送層(
2)を順次積層してなる構成を示したものである。即ち
第2図の形態に中間層を設けた形態に相当するが、第2
図の形態では、導電性基板との接合面がa−3i膜であ
る事から、多くの場合接着性及び注入阻止効果を確保す
るために中間層を設ける事が好ましい。第1図及び第3
図の構成の場合、導電性基板との接合面が、接着性及び
注入阻止効果に優れた、本発明による電荷輸送層である
ため、中間層を設けなくてもよいが、例えば導電性基板
の前処理方法のような、感光層形成以前の製造工程との
整合性を調整する目的から、中間層を設けることもさら
なる一形態と成りうる。
FIG. 5 shows, as a further embodiment, an intermediate N (5), a charge generation Fj (3) and a charge transport layer (
2) is shown in a structure formed by sequentially laminating layers. In other words, it corresponds to the form in which an intermediate layer is provided in the form shown in FIG.
In the illustrated embodiment, since the bonding surface with the conductive substrate is the a-3i film, in many cases it is preferable to provide an intermediate layer to ensure adhesiveness and injection blocking effect. Figures 1 and 3
In the case of the configuration shown in the figure, since the bonding surface with the conductive substrate is the charge transport layer according to the present invention, which has excellent adhesiveness and injection blocking effect, there is no need to provide an intermediate layer. For the purpose of adjusting compatibility with the manufacturing process before the formation of the photosensitive layer, such as a pretreatment method, it is possible to provide an intermediate layer as a further form.

第6図は、さらなる一形態として、導電性基板(1)上
に中間層(5)と電荷輸送層(2)と電荷発生層(3)
と表面保護層(4)を順次積層してなる構成を示したも
のである。即ち第1図の形態に中間層と表面保護層を設
けた形態に相当する。
FIG. 6 shows, as a further embodiment, an intermediate layer (5), a charge transport layer (2) and a charge generation layer (3) on a conductive substrate (1).
This figure shows a structure in which a surface protection layer (4) and a surface protection layer (4) are sequentially laminated. That is, it corresponds to the form shown in FIG. 1 with an intermediate layer and a surface protective layer provided.

中間層と表面保護層の設置理由は前述と同様であり、従
って第2図及び第3図の構成において中間層と表面保護
層を設けることもざらなる一形態と成りうる。
The reason for providing the intermediate layer and the surface protective layer is the same as described above, and therefore, providing the intermediate layer and the surface protective layer in the configurations shown in FIGS. 2 and 3 can be an alternative form.

本発明において中間層と表面保護層は、材料的にも、製
法的にも、特に限定を受けるものではなく所定の目的が
達せられるものであれば、適宜選択することが可能であ
る。本発明によるa−C膜を用いてもよい。但し、用い
る材料が、例えば従来例で述べた如き絶縁性材料である
場合には、残留電位発生の防止のため膜厚は5μm以下
に留める必要がある。
In the present invention, the intermediate layer and the surface protective layer are not particularly limited in terms of material or manufacturing method, and can be appropriately selected as long as a predetermined purpose can be achieved. An a-C film according to the invention may also be used. However, if the material used is, for example, an insulating material as described in the conventional example, the film thickness must be kept at 5 μm or less to prevent generation of residual potential.

本発明による感光体の電荷輸送層は、気相状態の分子を
減圧下で放電分解し、発生したプラズマ雰囲気中に含ま
れる活性中性種あるいは荷電種を基板上に拡散、電気力
、あるいは磁気力等により誘導し、基板上での再結合反
応により固相として堆積させる、所謂プラズマ重合反応
から生成される事が好ましい。
The charge transport layer of the photoreceptor according to the present invention decomposes molecules in a gas phase by discharge decomposition under reduced pressure, and diffuses active neutral species or charged species contained in the generated plasma atmosphere onto the substrate, using electric force or magnetic force. It is preferable that the polymer be generated by a so-called plasma polymerization reaction, which is induced by force or the like and deposited as a solid phase by a recombination reaction on a substrate.

第7図は本発明に係わる感光体の製造装置を示し、図中
(701)〜(706)は常温において気相状態にある
原料化合物及びキャリアガスを密封した第1乃至第6タ
ンクで、各々のタンクは第1乃至第6調節弁(707)
〜(712)と第1乃至第6流量制御器(713)〜(
718)に接続されている。図中(719)〜(721
)は常温において液相または固相状態にある原料化合物
を封入した第1乃至第3容器で、各々の容器は気化のた
め第1乃至第3温調器(722)〜(724)により与
熱可能であり、さらに各々の容器は第7乃至第9調節弁
(725)〜(727)と第7乃至第9流量制御器(7
28)〜(730)に接続されている。これらのガスは
混合器(731)で混合された後、主管(732)を介
して反応室(733)に送り込まれる。途中の配管は、
常温において液相または固相状態にあった原料化合物が
気化したガスが、途中で凝結しないように、適宜配置さ
れた配管加熱器(734)により、与熱可能とされてい
る。反応室内には接地電極(735)と電力印加電極(
736)が対向して設置され、各々の電極は電極加熱器
(737)により与熱可能とされている。電力印加型I
I (736)には、窩周波電力用整合器(738)を
介して寓周波電源(739)、低周波電力用整合器(7
40)を介して低周波量1 (741) 、ローパスフ
ィルタ(742)を介してi流電源(743)が接続さ
れており、接続選択スイッチ(744)により周波数の
異なる電力が印加可能とされている。反応室(733)
内の圧力は圧力制御弁(745)により調整可能であり
、反応室(733)内の減圧は、排気系選択弁(746
)を介して、拡散ポンプ(747L油回転ポンプ(74
8) 、或は、冷却除外装置(749) 、メカニカル
ブースターポンプ(750)、油回転ポンプ(748)
により行なわれる。排ガスについては、さらに適当な除
外袋!m(753)により安全無害化した後、大気中に
排気される。これら排気系配管についても、常温におい
て液相または固相状態にあった原料化金物が気化したガ
スが、途中で凝結しないように、適宜配置された配管加
熱器(734)により、与熱可能とされている。反応室
(733)も同様の理由から反応室加熱器(751)に
より与熱可能とされ、内部に配された電極上に導電性基
板(752)が設置される。第7図において導電性基板
(752)は接地型w1(735)に固定して配されて
いるが、電力印加電極(736)に固定して配されても
よく、ざらに双方に配されてもよい。
FIG. 7 shows a photoconductor manufacturing apparatus according to the present invention, and in the figure (701) to (706) are first to sixth tanks in which the raw material compound and carrier gas, which are in a gas phase at room temperature, are sealed, respectively. The tanks are the first to sixth control valves (707)
〜(712) and the first to sixth flow rate controllers (713)〜(
718). (719) to (721) in the figure
) are first to third containers filled with raw material compounds that are in a liquid or solid state at room temperature, and each container is heated by the first to third temperature controllers (722) to (724) for vaporization. In addition, each container has seventh to ninth control valves (725) to (727) and seventh to ninth flow rate controllers (725) to (727).
28) to (730). These gases are mixed in a mixer (731) and then sent into a reaction chamber (733) via a main pipe (732). The pipes along the way are
Heat can be applied to the gas obtained by vaporizing the raw material compound, which is in a liquid or solid phase at room temperature, by an appropriately placed pipe heater (734) so as not to condense on the way. Inside the reaction chamber, there is a ground electrode (735) and a power application electrode (
736) are installed facing each other, and each electrode can be heated by an electrode heater (737). Power application type I
I (736) is connected to a frequency power source (739) and a low frequency power matching device (738) via a matching device for low frequency power (738).
A low frequency quantity 1 (741) is connected to the i-current power supply (743) through a low-pass filter (742), and power with different frequencies can be applied by a connection selection switch (744). There is. Reaction chamber (733)
The pressure inside the reaction chamber (733) can be adjusted by a pressure control valve (745), and the pressure inside the reaction chamber (733) can be reduced by an exhaust system selection valve (746).
) through a diffusion pump (747L oil rotary pump (74
8), or cooling exclusion device (749), mechanical booster pump (750), oil rotary pump (748)
This is done by For exhaust gas, an even more suitable exclusion bag! After being rendered safe and harmless by m (753), it is exhausted into the atmosphere. These exhaust system piping can also be heated by appropriately placed piping heaters (734) to prevent the vaporized gas from the raw metal material, which is in a liquid or solid phase state at room temperature, from condensing on the way. has been done. For the same reason, the reaction chamber (733) can also be heated by a reaction chamber heater (751), and a conductive substrate (752) is installed on the electrode arranged inside. In FIG. 7, the conductive substrate (752) is fixed to the ground type w1 (735), but it may also be fixed to the power application electrode (736), or roughly arranged on both sides. Good too.

第8図は本発明に係わる感光体の製造装置の別の一形態
を示し、反応室(833)内部の形態以外は、第7図に
示した本発明に係わる感光体の製造装置と同様であり、
付記された番号は、700番台のものを800番台に置
き換えて解すればよい。第8図において、反応室(83
3)内部には、第7図における接地電極(735)を兼
ねた円筒形の導電性基板(852)が設置され、内側に
は電極加熱器(837)が配きれている。導電性基板(
852)周囲には同じく円筒形状をした電力印加電極(
836)が配され、外側には電極加熱器(837)が配
されている。導電性基板(852)は、外部より駆動モ
ータ(854)を用いて自転可能となっている。
FIG. 8 shows another embodiment of the photoconductor manufacturing apparatus according to the present invention, which is similar to the photoconductor manufacturing apparatus according to the present invention shown in FIG. 7 except for the internal configuration of the reaction chamber (833). can be,
The appended numbers can be understood by replacing the 700s with 800s. In FIG. 8, the reaction chamber (83
3) A cylindrical conductive substrate (852) that also serves as the ground electrode (735) in FIG. 7 is installed inside, and an electrode heater (837) is arranged inside. Conductive substrate (
852) There is also a cylindrical power application electrode (
836) is arranged, and an electrode heater (837) is arranged outside. The conductive substrate (852) is rotatable using an external drive motor (854).

感光体製造に供する反応室は、拡散ポンプにより予め1
0−4乃至1O−6Torr程度にまで減圧し、真空度
の確認と装置内部に吸着したガスの脱着を行なう。同時
に電極加熱器により、電極並びに電極に固定して配され
た導電性基板を所定の温度まで昇温する。導電性基板に
は、前述の如き感光体構成の中から所望の構成を得るた
めに、必要であれば、予めアンダーコート層或は電荷発
生層を設けて置いてもよい。アンダーコード層或は電荷
発生層の設置には、本装置を用いてもよいし別装置を用
いてもよい。次いで、第1乃至第6タンク及び第1乃至
第3容器から、原料ガスを適宜第1乃至第9流量制御器
を用いて定流量化しながら反応室内に導入し、圧力調節
弁により反応室内を一定の減圧状態に保つ。ガス流量が
安定化した後、接続選択スイッチにより、例えば高周波
電源を選択し、電力印加電極に高周波電力を投入する。
The reaction chamber used for photoreceptor production is preliminarily heated by a diffusion pump.
The pressure is reduced to about 0-4 to 10-6 Torr, and the degree of vacuum is confirmed and the gas adsorbed inside the device is desorbed. At the same time, an electrode heater heats the electrode and the conductive substrate fixedly disposed on the electrode to a predetermined temperature. If necessary, an undercoat layer or a charge generation layer may be provided in advance on the conductive substrate in order to obtain a desired photoreceptor structure from among those described above. The present apparatus or a separate apparatus may be used to provide the undercode layer or the charge generation layer. Next, the raw material gases are introduced into the reaction chamber from the first to sixth tanks and the first to third containers while being kept at a constant flow rate using the first to ninth flow rate controllers, and the inside of the reaction chamber is kept constant using the pressure control valve. Maintain a reduced pressure state. After the gas flow rate is stabilized, a connection selection switch is used to select, for example, a high frequency power source, and high frequency power is applied to the power application electrode.

両電極間には放電が開始され、時間と共に基板上に同相
の膜が形成される。a−3i膜或はa−C膜は、原料ガ
スを代える事により任意に形成可能である。放電を一旦
停止し、原料ガス組成を変更した後、再び放電を再開す
れば異なる組成の膜を積層する事ができる。また、放電
を持続させながら原料ガス流量だけを徐々に代え、異な
る組成の膜を勾配を持たせながら積層する事も可能であ
る。
A discharge is started between the two electrodes, and over time a film of the same phase is formed on the substrate. The a-3i film or the a-C film can be formed arbitrarily by changing the raw material gas. Films with different compositions can be laminated by once stopping the discharge, changing the source gas composition, and then restarting the discharge. It is also possible to gradually change only the raw material gas flow rate while sustaining the discharge, and to stack films of different compositions with a gradient.

反応時間により膜厚を制御し、所定の膜厚並びに積層構
成に達したところで放電を停止し、本発明による感光体
を得る。次いで、第1乃至第9調節弁を閉じ、反応室内
を充分に排気する。ここで所望の感光体構成が得られる
場合には反応室内の真空を破り、反応室より本発明によ
る感光体を取り出す。更に所望の感光体構成において、
電荷発生層或はオーバーコート層が必要とされる場合に
は、そのまま本装置を用いるか、或は同様に一旦真空を
破り取り出して別装置に移してこれらの層を設け、本発
明による感光体を得る。
The film thickness is controlled by the reaction time, and when a predetermined film thickness and laminated structure are reached, the discharge is stopped to obtain a photoreceptor according to the present invention. Next, the first to ninth control valves are closed to sufficiently exhaust the inside of the reaction chamber. If the desired photoreceptor configuration is obtained, the vacuum in the reaction chamber is broken and the photoreceptor according to the present invention is taken out from the reaction chamber. Furthermore, in a desired photoreceptor configuration,
If a charge generation layer or an overcoat layer is required, the photoreceptor according to the present invention can be fabricated by using the present device as is, or by breaking the vacuum and transferring it to another device to provide these layers. get.

以下実施例を挙げながら、本発明を説明する。The present invention will be described below with reference to Examples.

実施例上 本発明に係わる製造装置を用いて、第1図に示す如き、
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの順に設けた
本発明感光体を作製した。
As an example, using the manufacturing apparatus according to the present invention, as shown in FIG.
A photoreceptor of the present invention was prepared in which a conductive substrate, a charge transport layer, and a charge generation layer were provided in this order.

電荷輸送層形成工程: 第7図に示すグロー放電分解装置において、まず、反応
装置(733)の内部を1O−6Torr程度の高真空
にした後、第1、第2、第3、及び第4調節弁(707
,708,709、及び710)を解放し、第1タンク
(701)より水素ガス、第2タンク(702)よりア
セチレンガス、第3タンク(703)より窒素ガス、及
び第4タンク(704)より四弗化炭素ガスを各々出力
圧1.0Kg/cm2の下で第1、第2、第3、及び第
4流量制御器(713,714,715、及び716)
内へ流入させた。そして各流量制御器の目盛を調整して
、水素ガスの流量を190secm、アセチレンガスの
流量を45secms窒素ガスの流量を7secms及
び四弗化炭素ガスの流量が10105eとなるように設
定して、途中混合器(731)を介して、主管(732
)より反応室(733)内へ流入した。各々の流量が安
定した後に、反応室(733)内の圧力が2.0Tor
rとなるように圧力調節弁(745)を調整した。一方
、導電性基板(752)としては、縦50×横50×厚
3mmのアルミニウム基板を用いて、予め200℃に加
熱しておき、ガス流量及び圧力が安定した状態で、予め
接続選択スイッチ(744)により接続しておいた高周
波電源(739)を投入し、電力印加電極(736)に
200Wattの電力を周波数13.56MHzの下で
印加して約2時間40分間プラズマ重合反応を行ない、
導電性基板(752)上に厚き15μmのa−C膜を電
荷輸送層として形成した。成膜完了後は、電力印加を停
止し、調節弁を閉じ、反応室(733)内を充分に排気
した。
Charge transport layer forming step: In the glow discharge decomposition apparatus shown in FIG. Control valve (707
, 708, 709, and 710), hydrogen gas from the first tank (701), acetylene gas from the second tank (702), nitrogen gas from the third tank (703), and nitrogen gas from the fourth tank (704). The first, second, third, and fourth flow rate controllers (713, 714, 715, and 716) each supply carbon tetrafluoride gas under an output pressure of 1.0 Kg/cm2.
It flowed inside. Then, adjust the scales of each flow rate controller to set the hydrogen gas flow rate to 190 seconds, the acetylene gas flow rate to 45 seconds, the nitrogen gas flow rate to 7 seconds, and the carbon tetrafluoride gas flow rate to 10105e. Through the mixer (731), the main pipe (732
) into the reaction chamber (733). After each flow rate stabilized, the pressure inside the reaction chamber (733) reached 2.0 Torr.
The pressure regulating valve (745) was adjusted so that the temperature was r. On the other hand, as the conductive substrate (752), use an aluminum substrate measuring 50 mm long x 50 mm wide x 3 mm thick, heat it to 200°C in advance, and when the gas flow rate and pressure are stable, set the connection selection switch ( 744), and applied 200 Watts of power to the power application electrode (736) at a frequency of 13.56 MHz to perform a plasma polymerization reaction for about 2 hours and 40 minutes.
A 15 μm thick a-C film was formed as a charge transport layer on a conductive substrate (752). After the film formation was completed, power application was stopped, the control valve was closed, and the inside of the reaction chamber (733) was sufficiently evacuated.

以上のようにして得られたa−C膜につき有機元素分析
を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原子
と水素原子の総量に対して34原子%、また、オージェ
分析より含有されるハロゲン原子、即ち、弗素原子の量
は全構成原子に対して2.0原子%、さらに、窒素原子
の量は全構成原子に対して0.8原子%であった。
Organic elemental analysis was performed on the a-C film obtained as described above, and the amount of hydrogen atoms contained was 34 at% based on the total amount of carbon atoms and hydrogen atoms. The amount of halogen atoms, ie, fluorine atoms, was 2.0 at % based on the total constituent atoms, and the amount of nitrogen atoms was 0.8 at % based on the total constituent atoms.

電荷発生層形成工程: 次いで、一部タンクを交換し、第1調節弁(707)、
第2調節弁(708)、第37A節弁(709)、及び
第6調節弁(712)を解放し、第1タンク(701)
から水素ガス、第2タンク(702)から四弗化シラン
ガス、第3タンク(703)からゲルマンガス、及び第
6タンク(706)からシランガスを、出力圧IKg/
cm2の下で第1、第2、第3、及び第6流量制御器(
713,714,715、及び718)内へ流入させた
。各流量側t1]器の目盛を調整して水素ガスの流量を
200secm、四弗化シランガスの流量を50sec
m、ゲルマンガスの流量を6sCCm1及びシランガス
の流量を50secmに設定し、反応室(733)内に
流入きせた。各々の流量が安定した後に、反応室(73
3)内の圧力が0.9Torrとなるように圧力調節弁
(745)を調整した。一方、a−C膜が形成されてい
る導電性基板(752)は、230℃に加熱しておき、
ガス流量及び圧力が安定した状態で、高周波電源(73
9)より周波数13.56MHzの下で電力印加電極(
736)に35Wattの電力を印加し、グロー放電を
発生させた。この放電を5分間行ない、厚さ0.3μm
の電荷発生層を得た。
Charge generation layer forming step: Next, some of the tanks are replaced, and the first control valve (707),
The second control valve (708), the 37A section valve (709), and the sixth control valve (712) are released, and the first tank (701) is opened.
hydrogen gas from the tank, tetrafluorosilane gas from the second tank (702), germane gas from the third tank (703), and silane gas from the sixth tank (706) at an output pressure of IKg/
The first, second, third, and sixth flow controllers (under cm2)
713, 714, 715, and 718). Adjust the scale of each flow rate side t1] to set the flow rate of hydrogen gas to 200 sec and the flow rate of silane tetrafluoride gas to 50 sec.
m, the flow rate of germane gas was set to 6 sCCm1, and the flow rate of silane gas was set to 50 sec, and the flow rate was allowed to flow into the reaction chamber (733). After each flow rate stabilized, the reaction chamber (73
3) The pressure regulating valve (745) was adjusted so that the pressure inside was 0.9 Torr. On the other hand, the conductive substrate (752) on which the a-C film is formed is heated to 230°C.
With the gas flow rate and pressure stable, turn on the high frequency power supply (73
9), the power application electrode (
736) to generate a glow discharge. This discharge was performed for 5 minutes, and the thickness was 0.3 μm.
A charge generation layer was obtained.

得られたa−Sillffにつき、金属中ONH分析(
板場製作所製EMGA−1300)及びオージェ分析を
行なったところ、含有される水素原子は全構成原子に対
して18原子%、弗素原子は5原子%、ゲルマニウム原
子は11原子%であった。
The obtained a-Sillff was subjected to ONH analysis in metal (
EMGA-1300 manufactured by Itaba Seisakusho) and Auger analysis revealed that the contained hydrogen atoms were 18 at%, fluorine atoms were 5 at%, and germanium atoms were 11 at%, based on the total constituent atoms.

特性: 得られた感光体を常用のカールソンプロセスの中で負帯
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の3!II定値を括弧内に示すが
、最高帯電電位は一580V (+720V)で有り、
即ち、全感光体膜厚が15゜3umであることから1μ
m当りの帯電能は38■/μm(48V/μm)と極め
て高く、このことから充分な帯電性能を有する事が理解
された。
Characteristics: When the obtained photoreceptor was used with both negative and positive charging in a conventional Carlson process, the following performance was obtained. Here, 3 when positively charged! II constant values are shown in parentheses, the highest charging potential is -580V (+720V),
That is, since the total photoreceptor film thickness is 15°3um, 1μ
The charging ability per meter was extremely high at 38 .mu.m (48 V/.mu.m), and from this it was understood that the material had sufficient charging performance.

また、暗中にてVmaxからVmaxの90%の表面電
位にまで暗減衰するのに要した時間は約19秒(約24
秒)であり、このことから充分な電荷保持性能を有する
事が理解された。また、最高帯電電位に初期帯電した後
、白色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位にま
で明減衰させたところ必要とされた光量は3.2ルツク
ス・秒(4,3ルツクス・秒)であり、このことから充
分な光感度性能を有する事が理解きれた。
In addition, the time required for dark decay from Vmax to 90% of Vmax in the dark was approximately 19 seconds (approximately 24 seconds).
seconds), and from this it was understood that it had sufficient charge retention performance. In addition, after initial charging to the highest charging potential, white light was used to brightly attenuate the surface potential to 20% of the highest charging potential, and the amount of light required was 3.2 lux · seconds (4.3 lux · seconds), and from this we can understand that it has sufficient photosensitivity performance.

以上より、本例に示した本発明による感光体は、感光体
として優れた性能を有するものである事が理解される。
From the above, it is understood that the photoreceptor according to the present invention shown in this example has excellent performance as a photoreceptor.

また、この感光体に対して常用のカールソンプロセスの
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
Further, when an image was formed and transferred to this photoreceptor using the commonly used Carlson process, a clear image was obtained.

^流込旦 本発明に係わる製造装置を用いて、第1図に示す如き、
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの順に設けた
本発明感光体を作製した。
^After pouring, as shown in Fig. 1, using the manufacturing apparatus according to the present invention,
A photoreceptor of the present invention was prepared in which a conductive substrate, a charge transport layer, and a charge generation layer were provided in this order.

電荷輸送層形成工程: 第7図に示すグロー放電分解装置において、まず、反応
装置(733)の内部を10−6To r r程度の高
真空にした後、第1、第2、第3、及び第4調節弁(7
07,708,709、及び710)を解放し、第1タ
ンク(701)より水素ガス、第2タンク(702)よ
りエチレンガス、第3タンク(703)より亜酸化窒素
ガス及び第4タンク(704)より四塩化炭素ガスを各
々出力圧1.0Kg/am”の下で第1、第2、第3、
及び第4流量制御器(713,714,715、及び7
16)内へ流入させた。そして各流量制御器の目盛を調
整して、水素ガスの流量を60secm1エチレンガス
の流量を60secm、I!酸化窒素ガスの流量を16
SCCm、及び四塩化炭素ガスの流量が20secmと
なるように設定して、途中混合器(731)を介して、
主管(732)より反応室(733)内へ流入した。各
々の流量が安定した後に、反応室(733)内の圧力が
2゜0Torrとなるように圧力調節弁(74,5)を
調整した。一方、導電性基板(752)としては、1f
50X横50×厚3mmのアルミニウム基板を用いて、
予め240℃に加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定
した状態で、予め接続選択スイッチ(744)により接
続しておいた高周波電源(739)を投入し、電力印加
電極(736)に200Wattの電力を周波数13.
56MHzの下で印加して約3時間15分プラズマ重合
反応を行ない、導電性基板(752)上に厚き15μm
のa−C膜を電荷輸送層として形成した。成膜完了後は
、電力印加を停止し、調節弁を閉じ、反応室(733)
内を充分に排気した。
Charge transport layer forming step: In the glow discharge decomposition apparatus shown in FIG. Fourth control valve (7
07, 708, 709, and 710), hydrogen gas from the first tank (701), ethylene gas from the second tank (702), nitrous oxide gas from the third tank (703), and hydrogen gas from the fourth tank (704). ), carbon tetrachloride gas was applied to the first, second, third, and
and fourth flow rate controller (713, 714, 715, and 7
16) It was allowed to flow into the interior. Then, adjust the scales of each flow rate controller to set the hydrogen gas flow rate to 60 seconds, the ethylene gas flow rate to 60 seconds, I! The flow rate of nitrogen oxide gas is 16
The flow rate of SCCm and carbon tetrachloride gas is set to 20 sec, and the mixture is passed through an intermediate mixer (731).
It flowed into the reaction chamber (733) from the main pipe (732). After each flow rate became stable, the pressure regulating valves (74, 5) were adjusted so that the pressure in the reaction chamber (733) was 2°0 Torr. On the other hand, as a conductive substrate (752), 1f
Using an aluminum substrate of 50 x width 50 x thickness 3 mm,
After heating the gas to 240°C in advance and stabilizing the gas flow rate and pressure, turn on the high frequency power source (739) that was previously connected using the connection selection switch (744), and apply 200 Watt to the power application electrode (736). Power at frequency 13.
A plasma polymerization reaction was performed for about 3 hours and 15 minutes by applying a frequency of 56 MHz, and a 15 μm thick film was formed on the conductive substrate (752).
The a-C film was formed as a charge transport layer. After completing the film formation, stop applying power, close the control valve, and open the reaction chamber (733).
The inside was thoroughly evacuated.

以上のようにして得られたa−C膜につ営有機元素分析
を行なうたところ、含有きれる水素原子の量は炭素原子
と水素原子の総量に対して43原子%、また、オージェ
分析より含有されるハロゲン原子、即ち、塩素原子の量
は全構成原子に対して5.0原子%、ざらに、窒素原子
の量は全構成原子に対して1.0原子%であった。
When the a-C film obtained as described above was subjected to organic elemental analysis, the amount of hydrogen atoms that could be contained was 43 at% based on the total amount of carbon atoms and hydrogen atoms. The amount of halogen atoms, ie, chlorine atoms, was 5.0 at % based on the total constituent atoms, and the amount of nitrogen atoms was roughly 1.0 at % based on the total constituent atoms.

電荷発生層形成工程; 次いで、一部タンクを交換し、第1調節弁(707)、
第221節弁(708)、及び第6調節弁(712)を
解放し、第1タンク(701)から水素ガス、第2タン
ク(702)からゲルマンガス、及び第6タンク(70
6)からシランガスを、出力圧IKg/cm2の下で第
1、第2、及び第6流量制御器(713,714、及び
718)内へ流入させた。各流量制御器の目盛を調整し
て水素ガスの流量を200secm、ゲルマンガスの流
量を0.6secms及びシランガスの流量を1010
05eに設定し、反応室(733)内に流入させた。各
々の流量が安定した後に、反応室(733)内の圧力が
0.8Torrとなるように圧力調節弁(745)を調
整した。一方、a −C膜が形成きれている導電性基板
(752)は、250℃に加熱しておき、ガス流量及び
圧力が安定した状態で、高周波電源(739)より周波
数13.56MHzの下で電力印加電極(736)に3
5Wattの電力を印加し、グロー放電を発生させた。
Charge generation layer forming step; Next, some of the tanks are replaced, and the first control valve (707)
The 221st node valve (708) and the 6th control valve (712) are released, hydrogen gas is supplied from the first tank (701), Germanic gas is supplied from the second tank (702), and the sixth tank (70
6) was flowed into the first, second, and sixth flow controllers (713, 714, and 718) under an output pressure of IKg/cm2. Adjust the scale of each flow rate controller to set the hydrogen gas flow rate to 200 sec, the germane gas flow rate to 0.6 secms, and the silane gas flow rate to 1010 sec.
05e to flow into the reaction chamber (733). After each flow rate became stable, the pressure control valve (745) was adjusted so that the pressure inside the reaction chamber (733) was 0.8 Torr. On the other hand, the conductive substrate (752) on which the a-C film has been completely formed is heated to 250°C, and with the gas flow rate and pressure stable, it is heated at a frequency of 13.56 MHz from a high frequency power source (739). 3 to the power application electrode (736)
A power of 5 Watts was applied to generate glow discharge.

この放電を5分間行ない、厚さ0.3umの電荷発生層
を得た。
This discharge was performed for 5 minutes to obtain a charge generation layer with a thickness of 0.3 um.

得られたa−Si股につき、金属中ONH分析(板場製
作所製EMGA−1300)及びオージェ分析を行なっ
たところ、含有きれる水素原子は全構成原子に対して2
0原子%、ゲルマニウム原子は1原子%であった。
ONH analysis in metal (EMGA-1300 manufactured by Itaba Manufacturing Co., Ltd.) and Auger analysis were performed on the obtained a-Si crotch, and it was found that the hydrogen atoms that could be contained were 2 for all constituent atoms.
The content of germanium atoms was 0 at%, and the content of germanium atoms was 1 at%.

特性; 得られた感光体を常用のカールソンプロセスの中で負帯
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一520V (+640V)で有り、即ち、
全感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当り
の帯電能は34■/μm (42V/μm)と極めて高
く、このことから充分な帯電性能を有する事が理解され
た。
Characteristics: When the obtained photoreceptor was used in a conventional Carlson process with both negative and positive charging, the following properties were obtained. Here, the measured values during positive charging are shown in parentheses, and the highest charging potential is -520V (+640V), that is,
Since the total photoreceptor film thickness was 15.degree. 3 .mu.m, the charging ability per 1 .mu.m was extremely high at 34 .mu./.mu.m (42 V/.mu.m), and from this it was understood that the photoreceptor had sufficient charging performance.

また、暗中にてVmaxからVmaxの90%の表面電
位にまで暗減衰するのに要した時間は約13秒(約16
秒)であり、このことから充分な電荷保持性能を有する
事が理解された。また、最高帯電電位に初期帯電した後
、白色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位にま
でriA減衰させたところ必要とされた光量は1.3ル
ツクス・秒(1,フルックス・秒)であり、このことか
ら充分な光感度性能を有する事が理解された。また、最
高帯電電位に初期帯電した後、半導体レーザー光(発光
波長780nm)を用いて最高帯電電位の20%の表面
電位にまで明減衰させたとこる必要とされた光量は8.
3erg/cm2(12,2erg/am2)であり、
このことから充分な長波長光感度性能を有する事が理解
された。
In addition, the time required for dark decay from Vmax to 90% of Vmax in the dark was approximately 13 seconds (approximately 16 seconds).
seconds), and from this it was understood that it had sufficient charge retention performance. In addition, after initial charging to the highest charging potential, white light was used to attenuate the surface potential to 20% of the highest charging potential, and the amount of light required was 1.3 lux·sec ), and from this it was understood that it had sufficient photosensitivity performance. In addition, after initial charging to the highest charging potential, the brightness was attenuated to a surface potential of 20% of the highest charging potential using semiconductor laser light (emission wavelength: 780 nm).The amount of light required was 8.
3erg/cm2 (12,2erg/am2),
From this, it was understood that the material had sufficient long-wavelength light sensitivity performance.

以上より、本例に示した本発明による感光体は、感光体
として優れた性能を有するものである事が理解される。
From the above, it is understood that the photoreceptor according to the present invention shown in this example has excellent performance as a photoreceptor.

また、この感光体に対して常用のカールソンプロセスの
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
Further, when an image was formed and transferred to this photoreceptor using the commonly used Carlson process, a clear image was obtained.

実施伝旦 本発明に係わる製造装置を用いて、第1図に示す如き、
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの順に設けた
本発明感光体を作製した。
Implementation Using the manufacturing apparatus according to the present invention, as shown in FIG.
A photoreceptor of the present invention was prepared in which a conductive substrate, a charge transport layer, and a charge generation layer were provided in this order.

電荷輸送層形成工程: 第7図に示すグロー放電分解装置において、まず、反応
装置(733)の内部を10−’To r r程度の窩
真空にした後、第1、第3、及び第4調節弁(707,
709、及び710)を解放し、第1タンク(701)
より水素ガス、第3タンク(703)より窒素ガス、及
び第4タンク(704)より四弗化炭素ガスを各々出力
圧1.0Kg/cm2の下で第1、第3、及び第4流量
制御器(713,715、及び716)内へ流入させた
Charge transport layer forming step: In the glow discharge decomposition apparatus shown in FIG. Control valve (707,
709 and 710), and the first tank (701)
Hydrogen gas, nitrogen gas from the third tank (703), and carbon tetrafluoride gas from the fourth tank (704) are controlled at the first, third, and fourth flow rates under an output pressure of 1.0 Kg/cm2, respectively. into the vessels (713, 715, and 716).

同時に、第1容器(719)よりスチレンガスを第1温
調W (722)温度35℃のもとで第7流量制御器(
728)内へ流入させた。そして各流量制御器の目盛を
調整して、水素ガスの流量を60secm、スチレンガ
スの流量を30secm1窒素ガスの流量を8secm
、及び四弗化炭素ガスの流量が30secmとなるよう
に設定して、途中混合器(731)を介して、主管(7
32)より反応室(733)内へ流入した。各々の流量
が安定した後に、反応室(733)内の圧力が2゜0T
orrとなるように圧力調節弁(745)を調整した。
At the same time, styrene gas is supplied from the first container (719) to the first temperature control W (722) at the seventh flow rate controller (722) at a temperature of 35°C.
728). Then, adjust the scales of each flow rate controller to set the hydrogen gas flow rate to 60 seconds, the styrene gas flow rate to 30 seconds, and the nitrogen gas flow rate to 8 seconds.
, and the flow rate of carbon tetrafluoride gas is set to 30 seconds, and the main pipe (7
32) into the reaction chamber (733). After each flow rate stabilizes, the pressure inside the reaction chamber (733) reaches 2°0T.
The pressure control valve (745) was adjusted so that the

一方、導電性基板(752)としては、asox横50
×厚3mmのアルミニウム基板を用いて、予め180℃
に加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定した状態で、
予め接続選択スイッチ(744)により接続しておいた
低周波電源(741)を投入し、電力印加電極(736
)に200Wattの電力を周波数170KHzの下で
印加して約50分間プラズマ重合反応を行ない、導電性
基板(752)上に厚き15μmのa−C膜を電荷輸送
層として形成した。成膜完了後は、電力印加を停止し、
調節弁を閉じ、反応室(733)内を充分に排気した。
On the other hand, as the conductive substrate (752), ASOX horizontal 50
× Using an aluminum substrate with a thickness of 3 mm, heat the temperature at 180°C in advance.
After heating to , and with the gas flow and pressure stable,
Turn on the low frequency power supply (741) that has been connected in advance using the connection selection switch (744), and connect the power application electrode (736).
) was applied with a power of 200 Watts at a frequency of 170 KHz to carry out a plasma polymerization reaction for about 50 minutes to form a 15 μm thick a-C film as a charge transport layer on the conductive substrate (752). After completing the film formation, stop applying power and
The control valve was closed and the inside of the reaction chamber (733) was sufficiently evacuated.

以上のようにして得られたa−C膜につき有機元素分析
を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原子
と水素原子の総量に対して47原子%、また、オージェ
分析より含有されるハロゲン原子、即ち、弗素原子の量
は全構成原子に対して6.1原子%、ざらに1.窒素原
子の量は全構成原子に対して2.1原子%であった。
Organic elemental analysis was performed on the a-C film obtained as described above, and the amount of hydrogen atoms contained was 47 at% based on the total amount of carbon atoms and hydrogen atoms. The amount of halogen atoms, that is, fluorine atoms, is 6.1 at%, approximately 1.0 at%, based on the total constituent atoms. The amount of nitrogen atoms was 2.1 at% based on the total constituent atoms.

電荷発生層形成工程: 次いで、一部タンクを交換し、第1調節弁(707)、
第2QOJ節弁(708)、及び第6調節弁(712)
を解放し、第1タンク(701)から水素ガス、第2タ
ンク(702)からゲルマンガス、及び第6タンク(7
06)からシランガスを、出力圧IKg/am2の下で
第1、第2、及び第6流量制御器(713,714、及
び718)内へ流入させた。各流量制御器の目盛を調整
して水素ガスの流量を200secm、ゲルマンガスの
流量を2sccm、及びシランガスの流量を10100
5eに設定し、反応室(733)内に流入させた。各々
の流量が安定した後に、反応室(733)内の圧力が0
.8Torrとなるように圧力調節弁(745)を調整
した。一方、a −CylJ、が形成されている導電性
基板(752)は、250℃に加熱しておき、ガス流量
及び圧力が安定した状態で、高周波電源(739)より
周波数13.56MHzの下で電力印加電極(736)
に35Wattの電力を印加し、グロー放電を発生させ
た。
Charge generation layer forming step: Next, some of the tanks are replaced, and the first control valve (707),
2nd QOJ control valve (708) and 6th control valve (712)
hydrogen gas from the first tank (701), germane gas from the second tank (702), and hydrogen gas from the sixth tank (702).
06) was flowed into the first, second, and sixth flow controllers (713, 714, and 718) under an output pressure of IKg/am2. Adjust the scale of each flow rate controller to set the hydrogen gas flow rate to 200 sec, the germane gas flow rate to 2 sccm, and the silane gas flow rate to 10100.
5e and flowed into the reaction chamber (733). After each flow rate stabilizes, the pressure in the reaction chamber (733) becomes 0.
.. The pressure regulating valve (745) was adjusted to 8 Torr. On the other hand, the conductive substrate (752) on which a-CylJ is formed is heated to 250°C, and with the gas flow rate and pressure stabilized, it is powered by a high frequency power source (739) at a frequency of 13.56 MHz. Power application electrode (736)
A power of 35 Watts was applied to generate a glow discharge.

この放電を5分間行ない、厚き0.3μmの電荷発生層
を得た。
This discharge was carried out for 5 minutes to obtain a charge generation layer with a thickness of 0.3 μm.

得られたa−3i膜につき、金属中ONH分析(板場製
作所製EMGA−1300)及びオージェ分析を行なっ
たところ、含有される水素原子は全構成原子に対して2
0原子%、ゲルマニウム原子は3原子%であった。
When the obtained a-3i film was subjected to ONH analysis in metal (EMGA-1300 manufactured by Itaba Manufacturing Co., Ltd.) and Auger analysis, it was found that the hydrogen atoms contained were 2% of the total constituent atoms.
The content of germanium atoms was 0 at%, and the content of germanium atoms was 3 at%.

特性: 得られた感光体を常用のカールソンプロセスの中で負帯
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一510V(+610V)で有り、即ち、全
感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当りの
帯電能は33V/μm (40V/μm)と極めて高く
、このことから充分な帯電性能を有する事が理解された
Characteristics: When the obtained photoreceptor was used with both negative and positive charging in a conventional Carlson process, the following performance was obtained. Here, the measured values during positive charging are shown in parentheses, and the highest charging potential is -510V (+610V).In other words, since the total photoreceptor film thickness is 15°3μm, the charging capacity per μm is 33V. /μm (40V/μm), which was extremely high, and it was understood from this that it had sufficient charging performance.

また、暗中にでVmaxからVmaxの90%の表面電
位にまで暗減衰するのに要した時間は約1;Ml+(約
15秒)であり、このことから充分な電荷保持性能を有
する事が理解された。また、最高帯電電位に初期帯電し
た後、白色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位
にまで明減衰させたところ必要ときれた光量は1.2ル
ツクス・秒(1,6ルツクス・秒)であり、このことか
ら充分な光感度性能を有する事か理解された。また、最
高帯電電位に初期帯電した後、半導体レーザー光(尭光
波長780nm)を用いて最高帯電電位の20%の表面
電位にまで明減衰させたところ必要とされた光量は?、
6erg/cm2(9,5erg/am2)であり、こ
のことから充分な長波長光感度性能を有する事が理解さ
れた。
In addition, the time required for dark decay from Vmax to 90% of Vmax surface potential in the dark is approximately 1; Ml+ (approximately 15 seconds), which indicates that it has sufficient charge retention performance. It was done. In addition, after initial charging to the highest charging potential, the brightness was attenuated using white light to a surface potential of 20% of the highest charging potential, and the required amount of light was 1.2 lux · seconds (1.6 lux · seconds), and from this it was understood that it had sufficient photosensitivity performance. Also, after initial charging to the highest charging potential, what was the amount of light required to attenuate the surface potential to 20% of the highest charging potential using semiconductor laser light (wavelength: 780 nm)? ,
6 erg/cm2 (9.5 erg/am2), and from this it was understood that it had sufficient long wavelength light sensitivity performance.

以上より、本例に示した本発明による感光体は、感光体
として優れた性能を有するものである事が理解される。
From the above, it is understood that the photoreceptor according to the present invention shown in this example has excellent performance as a photoreceptor.

また、この感光体に対して常用のカールソンプロセスの
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
Further, when an image was formed and transferred to this photoreceptor using the commonly used Carlson process, a clear image was obtained.

X塵広丘 本発明に係わる製造装置を用いて、第1図に示す如き、
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの順に設けた
本発明感光体を作製した。
Using the manufacturing apparatus according to the present invention, as shown in FIG.
A photoreceptor of the present invention was prepared in which a conductive substrate, a charge transport layer, and a charge generation layer were provided in this order.

電荷輸送層形成工程: 第7図に示すグロー放電分解装置において、まず、反応
装置(733)の内部を10−’Torr程度の高真空
にした後、第1、第2、第3、及び第4調節弁(707
,708,709、及び710)を解放し、第1タンク
(701)より水素ガス、第2タンク(702)よりブ
タジインガス、第3タンク(703)より窒素ガス、及
び第4タンク(704)より四弗化炭素ガスを各々出力
圧1.0Kg/cm2の下で第1、第2、第3、及び第
4流量制御器(713,714,715、及び716)
内へ流入させた。そして各流量制御器の目盛を調整して
、水素ガスの流量を180secm、ブタジインガスの
流量を40secm、窒素ガスの流量を7secms及
び四弗化炭素ガスの流量が10105eとなるように設
定して、途中混合器(731)を介して、主管(732
)より反応室(733)内へ流入した。各々の流量が安
定した後に、反応室(733)内の圧力が2.0Tor
rとなるように圧力調節弁(745)を調整した。一方
、導電性基板(752)としては、縦50×横50×厚
3mmのアルミニウム基板を用いて、予め180℃に加
熱しておき、ガス流量及び圧力が安定した状態で、予め
接続選択スイッチ(744)により接続しておいた低周
波電源(741)を投入し、電力印加電極(736)に
200Wattの電力を周波数500KHzの下で印加
して約30分間プラズマ重合反応を行ない、導電性基板
(752)上に厚さ15μmのa−C膜を電荷輸送層と
して形成した。成膜完了後は、電力印加を停止し、調節
弁を閉じ、反応室(733)内を充分に排気した。
Charge transport layer forming step: In the glow discharge decomposition apparatus shown in FIG. 4 control valve (707
, 708, 709, and 710), hydrogen gas from the first tank (701), butadiene gas from the second tank (702), nitrogen gas from the third tank (703), and hydrogen gas from the fourth tank (704). First, second, third, and fourth flow rate controllers (713, 714, 715, and 716) each supplying fluorocarbon gas under an output pressure of 1.0 Kg/cm2.
It flowed inside. Then, adjust the scales of each flow rate controller to set the flow rate of hydrogen gas to 180 seconds, the flow rate of butadiene gas to 40 seconds, the flow rate of nitrogen gas to 7 seconds, and the flow rate of carbon tetrafluoride gas to 10105e. Through the mixer (731), the main pipe (732
) into the reaction chamber (733). After each flow rate stabilized, the pressure inside the reaction chamber (733) reached 2.0 Torr.
The pressure regulating valve (745) was adjusted so that the temperature was r. On the other hand, as the conductive substrate (752), use an aluminum substrate measuring 50 mm long x 50 mm wide x 3 mm thick, heat it to 180 degrees Celsius in advance, and with the gas flow rate and pressure stable, connect the connection selection switch ( The low frequency power source (741) connected to the conductive substrate (744) is turned on, and 200 Watt power is applied to the power application electrode (736) at a frequency of 500 KHz to perform a plasma polymerization reaction for about 30 minutes. 752), a 15 μm thick a-C film was formed thereon as a charge transport layer. After the film formation was completed, power application was stopped, the control valve was closed, and the inside of the reaction chamber (733) was sufficiently evacuated.

以上のようにして得られたa −C膜につき有機元素分
析を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原
子と水素原子の総量に対して40原子%、また、オージ
ェ分析より含有されるハロゲン原子、即ち、弗素原子の
量は全構成原子に対して4.1原子%、ざらに、窒素原
子の量は全構成原子に対して0.7原子%であった。
Organic elemental analysis was performed on the a-C film obtained as described above, and the amount of hydrogen atoms contained was 40 at% based on the total amount of carbon atoms and hydrogen atoms. The amount of halogen atoms, ie, fluorine atoms, was 4.1 atomic % based on the total constituent atoms, and the amount of nitrogen atoms was roughly 0.7 atomic % based on the total constituent atoms.

電荷発生層形成工程: 次いで、一部タンクを交換し、第1調節弁(7O7)、
第2FJEJ節弁(708)、及び第6調節弁(712
)を解放し、第1タンク(701)から水素ガス、第2
タンク(702)からゲルマンガス、及び第6タンク(
706)からシランガスを、出力圧IKg/am2の下
で第11第2、及び第6流量制御!(713,714、
及び718)内へ流入させた。各流量制御器の目盛を調
整して水素ガスの流量を200secm、ゲルマンガス
の流量を20secm、及びシランガスの流量を101
005eに設定し、反応室(733)内に流入させた。
Charge generation layer forming step: Next, some of the tanks were replaced, and the first control valve (7O7)
2nd FJEJ control valve (708) and 6th control valve (712)
) from the first tank (701) and hydrogen gas from the second tank (701).
Germanic gas from the tank (702) and the sixth tank (
706), the silane gas is controlled at the 11th, 2nd, and 6th flow rate under the output pressure IKg/am2! (713,714,
and 718). Adjust the scale of each flow rate controller to set the hydrogen gas flow rate to 200 sec, the germane gas flow rate to 20 sec, and the silane gas flow rate to 101 sec.
005e and flowed into the reaction chamber (733).

各々の流量が安定した後に、反応室(733)内の圧力
が1.0Torrとなるように圧力調節弁(745)を
調整した。一方、a−C膜が形成されている導電性基板
(752)は、250℃に加熱しておき、ガス流量及び
圧力が安定した状態で、高周波電源(739)より周波
数13゜56MHzの下で電力印加電極(736)に4
5Wattσ電力を印加し、グロー放電を発生させた。
After each flow rate became stable, the pressure control valve (745) was adjusted so that the pressure in the reaction chamber (733) was 1.0 Torr. On the other hand, the conductive substrate (752) on which the a-C film is formed is heated to 250°C, and with the gas flow rate and pressure stable, it is heated at a frequency of 13°56MHz from a high frequency power source (739). 4 to the power application electrode (736)
A glow discharge was generated by applying a power of 5 Watts.

この放電を5分間行ない、厚き0.3μmの電荷発生層
を得た。
This discharge was carried out for 5 minutes to obtain a charge generation layer with a thickness of 0.3 μm.

得られたa−Si膜につき、金属中○NH分析(板場製
作所製EMGA−1300)及びオージェ分析を行なっ
たところ、含有きれる水素原子は全構成原子に対して2
0原子%、ゲルマニウム原子は30原子%であった。
When the resulting a-Si film was subjected to ○NH analysis in metal (EMGA-1300 manufactured by Itaba Seisakusho) and Auger analysis, the number of hydrogen atoms that could be contained was 2 for all constituent atoms.
The content of germanium atoms was 0 atom %, and the content of germanium atoms was 30 atom %.

特性: 得られた感光体を常用のカールソンプロセスの中で負帯
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一380V (+430V)で有り、即ち、
全感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当り
の帯電能は25■/μm (28V/μm)と極めて高
く、このことから充分な帯電性能を有する事が理解され
た。
Characteristics: When the obtained photoreceptor was used with both negative and positive charging in a conventional Carlson process, the following performance was obtained. Here, the measured values during positive charging are shown in parentheses, and the highest charging potential is -380V (+430V), that is,
Since the total photoreceptor film thickness was 15.3 μm, the charging ability per 1 μm was extremely high at 25 μm/μm (28 V/μm), and from this it was understood that the photoreceptor had sufficient charging performance.

また、暗中にてVmaxからVmaxの90%の表面電
位にまで暗減衰するのに要した時間は約10秒(約11
秒)であり、このことから充分な電荷保持性能を有する
事が理解された。また、最高帯電電位に初期帯電した後
、白色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位にま
で明減衰させたところ必要ときれた光量は3.4ルツク
ス・秒(3,9ルツクス・秒)であり、このことから充
分な光感度性能を有する事が理Hされた。
In addition, the time required for dark decay from Vmax to 90% of Vmax in the dark was approximately 10 seconds (approximately 11 seconds).
seconds), and from this it was understood that it had sufficient charge retention performance. Furthermore, after initial charging to the highest charging potential, white light was used to brightly attenuate the surface potential to 20% of the highest charging potential, and the required amount of light was 3.4 lux·sec (3.9 lux·sec). seconds), and from this it was concluded that the film had sufficient photosensitivity performance.

以上より、本例に示した本発明による感光体は、感光体
として優れた性能を有するものである事が理解される。
From the above, it is understood that the photoreceptor according to the present invention shown in this example has excellent performance as a photoreceptor.

また、この感光体に対して常用のカールソンプロセスの
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
Further, when an image was formed and transferred to this photoreceptor using the commonly used Carlson process, a clear image was obtained.

実施健旦 本発明に係わる製造装置を用いて、第1図に示す如き、
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの順に設けた
本発明感光体を作製した。
Using the manufacturing apparatus according to the present invention, as shown in FIG.
A photoreceptor of the present invention was prepared in which a conductive substrate, a charge transport layer, and a charge generation layer were provided in this order.

電荷輸送層形成工程: 第7図に示すグロー放電分解装置において、まず、反応
装置(733)の内部を10−6To r r程度の窩
真空にした後、第1、第2、第3、及び第4調節弁(7
07,708,709、及び710)を解放し、第1タ
ンク(701)より水素ガス、第2タンク(702)よ
りブタジェンガス、第3タンク(703)よりアンモニ
アガス、及び第4タンク(704)より四弗化炭素ガス
を各々出力圧1.0Kg/cm2の下で第11第2、第
3、及び第4流量制御器(713,714,715、及
び716)内へ流入させた。そして各流量制御器の目盛
を調整して、水素ガスの流量を1203CCm、ブタジ
ェンガスの流量を603CCm%アンモニアガスの流量
を6 s c c mz及び四弗化炭素ガスの流量が1
60secmとなるように設定して、途中混合器(73
1)を介して、主管(732)より反応室(733)内
へ流入した。
Charge transport layer forming step: In the glow discharge decomposition apparatus shown in FIG. Fourth control valve (7
07, 708, 709, and 710), hydrogen gas from the first tank (701), butadiene gas from the second tank (702), ammonia gas from the third tank (703), and ammonia gas from the fourth tank (704). Carbon tetrafluoride gas was flowed into the eleventh second, third, and fourth flow controllers (713, 714, 715, and 716) under an output pressure of 1.0 Kg/cm2, respectively. Then, by adjusting the scales of each flow rate controller, the flow rate of hydrogen gas was 1203 CCm, the flow rate of butadiene gas was 603 CCm%, the flow rate of ammonia gas was 6 s c c mz, and the flow rate of carbon tetrafluoride gas was 1.
Set it so that it is 60 sec, and mixer (73
1) and flowed into the reaction chamber (733) from the main pipe (732).

各々の流量が安定した後に、反応室(733)内の圧力
が2.ITorrとなるように圧力調節弁(745)を
調整した。一方、導電性基板(752)としては、縦5
0×横50×厚3mmのアルミニウム基板を用いて、予
め120℃に加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定し
た状態で、予め接続選択スイッチ(744)により接続
しておいた低周波電源(741)を投入し、電力印加電
極(736)に140Wattの電力を周波数400K
Hzの下で印加して約1時間20分プラズマ重合反応を
行ない、導電性基板(752)上に厚さ15μmのa−
C膜を電荷輸送層として形成した。成膜完了後は、電力
印加を停止し、調節弁を閉じ、反応室(733)内を充
分に排気した。
After each flow rate stabilizes, the pressure inside the reaction chamber (733) decreases to 2. The pressure control valve (745) was adjusted so that it became ITorr. On the other hand, as a conductive substrate (752),
Using an aluminum substrate measuring 0 x width 50 x thickness 3 mm, it was preheated to 120°C, and with the gas flow rate and pressure stabilized, a low frequency power source ( 741) and apply 140W of power to the power application electrode (736) at a frequency of 400K.
Plasma polymerization reaction was carried out for about 1 hour and 20 minutes by applying the voltage under Hz, and a 15 μm thick a-
A C film was formed as a charge transport layer. After the film formation was completed, power application was stopped, the control valve was closed, and the inside of the reaction chamber (733) was sufficiently evacuated.

以上のようにして得られたa−C膜につき有機元素分析
を行なったところ、含有きれる水素原子の量は炭素原子
と水素原子の総量に対して51原子%、また、オージェ
分析より含有されるハロゲン原子、即ち、弗素原子の量
は全構成原子に対して17.0原子%、さらに、窒素原
子の量は全構成原子に対して2.4原子%であうな。
Organic elemental analysis was performed on the a-C film obtained as described above, and the amount of hydrogen atoms that could be contained was 51 at% based on the total amount of carbon atoms and hydrogen atoms. The amount of halogen atoms, ie, fluorine atoms, is 17.0 at % based on the total constituent atoms, and the amount of nitrogen atoms is 2.4 at % based on the total constituent atoms.

電荷発生層形成工程: 次いで、一部タンクを交換し、第1調節弁(707)、
第2調節弁(708)、及び第6調節弁(712)を解
放し、第1タンク(701)から水素ガス、第2タンク
(702)からゲルマンガス、及び第6タンク(706
)からシランガスを、出力圧IKg/cm2の下で第1
、第2、及び第6流量制御器(713,714、及び7
18)内へ流入させた。各流量制御器の目盛を調整して
水素ガスの流量を200secm1ゲルマンガスの流量
を6secm、及びシランガスの流量を11005CC
に設定し、反応室(733)内に流入させた。各々の流
量が安定した後に、反応室(733)内の圧力が0.9
Torrとなるように圧力調節弁(745)を調整した
。一方、a −C膜が形成されている導電性基板(75
2)は、250℃に加熱しておき、ガス流量及び圧力が
安定した状態で、高周波電源(739)より周波数13
.56MHzの下で電力印加電極(736)に40Wa
ttの電力を印加し、グロー放電を発生させた。
Charge generation layer forming step: Next, some of the tanks are replaced, and the first control valve (707),
The second control valve (708) and the sixth control valve (712) are released, hydrogen gas is supplied from the first tank (701), Germanic gas is supplied from the second tank (702), and the sixth tank (706
) under an output pressure of IKg/cm2.
, second, and sixth flow rate controllers (713, 714, and 7
18) It was allowed to flow into the interior. Adjust the scale of each flow rate controller to set the flow rate of hydrogen gas to 200 sec, the flow rate of germane gas to 6 sec, and the flow rate of silane gas to 11005 cc.
was set to flow into the reaction chamber (733). After each flow rate stabilizes, the pressure inside the reaction chamber (733) is 0.9
The pressure control valve (745) was adjusted so that the pressure was Torr. On the other hand, a conductive substrate (75
2) is heated to 250°C, and with the gas flow rate and pressure stable, a frequency of 13 is applied from the high frequency power supply (739).
.. 40W to power application electrode (736) under 56MHz
A glow discharge was generated by applying a power of tt.

この放電を5分間行ない、厚き0.3μmの電荷発生層
を得た。
This discharge was carried out for 5 minutes to obtain a charge generation layer with a thickness of 0.3 μm.

得られたa−Si膜につき、金属中ONH分析(板場製
作所製EMGA−1300)及びオージェ分析を行なっ
たところ、含有される水素原子は全構成原子に対して2
0原子%、ゲルマニウム原子は10原子%であった。
When the obtained a-Si film was subjected to ONH analysis in metal (EMGA-1300 manufactured by Itaba Seisakusho) and Auger analysis, it was found that the hydrogen atoms contained were 2% of all constituent atoms.
The content of germanium atoms was 0 atom %, and the content of germanium atoms was 10 atom %.

特性: 得られた感光体を常用のカールソンプロセスの中で負帯
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一230V (+280V)で有り、即ち、
全感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当り
の帯電能は15V/μm(18V/μm)と極めて高く
、このことから充分な帯電性能を有する事が理解された
Characteristics: When the obtained photoreceptor was used with both negative and positive charging in a conventional Carlson process, the following performance was obtained. Here, the measured values during positive charging are shown in parentheses, and the highest charging potential is -230V (+280V), that is,
Since the total photoreceptor film thickness was 15.degree. 3 .mu.m, the charging ability per 1 .mu.m was extremely high at 15 V/.mu.m (18 V/.mu.m), and from this it was understood that the photoreceptor had sufficient charging performance.

また、暗中にてVmaxからVmaxの90%の表面電
位にまで暗減衰するのに要した時間は約4秒(約5秒)
であり、このことから充分な電荷保持性能を有する事が
理解された。また、最高帯電電位に初期帯電した後、白
色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位にまで明
減衰させたところ必要とされた光量は3.3ルツクス・
秒(3゜1ルツクス・秒)であり、このことから充分な
光感度性能を有する事が理解された。
Also, the time required for dark decay from Vmax to 90% of Vmax in the dark is approximately 4 seconds (approximately 5 seconds).
From this, it was understood that it had sufficient charge retention performance. In addition, after initial charging to the highest charging potential, the brightness was attenuated using white light to a surface potential of 20% of the highest charging potential, and the amount of light required was 3.3 lux.
seconds (3°1 lux·sec), and from this it was understood that it had sufficient photosensitivity performance.

以上より、本例に示した本発明による感光体は、感光体
として優れた性能を有するものである事が理解きれる。
From the above, it can be understood that the photoreceptor according to the present invention shown in this example has excellent performance as a photoreceptor.

また、この感光体に対して常用のカールソンプロセスの
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
Further, when an image was formed and transferred to this photoreceptor using the commonly used Carlson process, a clear image was obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図乃至第6図は本発明感光体の構成を示す図面、第
7図乃至第8図は本発明に係わる感光体の製造装置を示
す図面である。 出願人 ミノルタカメラ株式会社 第1図 第2図 第4図 第6図 手続補正書 昭和62年10月z1日
1 to 6 are drawings showing the structure of a photoreceptor according to the present invention, and FIGS. 7 to 8 are drawings showing an apparatus for manufacturing a photoreceptor according to the invention. Applicant: Minolta Camera Co., Ltd. Figure 1 Figure 2 Figure 4 Figure 6 Procedural amendment October 1, 1988

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 電荷発生層と電荷輸送層とを有する機能分離型感光体に
おいて、該電荷輸送層は少なくとも窒素原子とハロゲン
原子とを含有してなる水素化アモルファスカーボン膜で
あり、かつ、該電荷発生層は水素化或は弗素化アモルフ
ァスシリコンゲルマニウム膜であることを特徴とする感
光体。
In a functionally separated photoreceptor having a charge generation layer and a charge transport layer, the charge transport layer is a hydrogenated amorphous carbon film containing at least nitrogen atoms and halogen atoms; 1. A photoreceptor comprising a fluorinated or fluorinated amorphous silicon germanium film.
JP22943286A 1986-09-26 1986-09-26 Photosensitive body Pending JPS6382460A (en)

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