JPS6382425A - Photosensitive body - Google Patents

Photosensitive body

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JPS6382425A
JPS6382425A JP22939786A JP22939786A JPS6382425A JP S6382425 A JPS6382425 A JP S6382425A JP 22939786 A JP22939786 A JP 22939786A JP 22939786 A JP22939786 A JP 22939786A JP S6382425 A JPS6382425 A JP S6382425A
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Japan
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atoms
film
gas
flow rate
photoreceptor
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JP22939786A
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Japanese (ja)
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Shuji Iino
修司 飯野
Mochikiyo Osawa
大澤 以清
Hideo Yasutomi
英雄 保富
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Minolta Co Ltd
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Abstract

PURPOSE:To permit improvement in photosensitive characteristics and extreme reduction in film thickness by forming an electric charge transfer layer of a hydrogenated amorphous carbon film contg. nitrogen and halogen atoms and an electric charge generating layer of a hydrogenated or fluorinated amorphous silicon germanium film contg. at least either of phosphorus or boron atoms, respectively. CONSTITUTION:The charge transfer layer 2 of a function sepn. type photosensitive body having the charge transfer layer 2 and the charge generating layer 3 is formed of the hydrogenated amorphous carbon a-C film contg. the nitrogen atoms and halogen atoms and the charge generating layer 3 is formed of the hydrogenated or fluorinated amorphous silicon germanium a-Si film contg. at least either of the phosphorus atoms or boron atoms and the carbon atoms. The a-C film is formed to 5-50mu thickness and the content of N is specified to 5% and the content of halogens to 0.1-25%. The a-Si film is formed to 0.1-5mu thickness and the content of C is specified to 0.001-5% and the content of P or B to <=20,000ppm. The charge transfer layer 2 is thereby improved in transferability, electric chargeability, durable weatherability and translucency, and the charge generating layer 3 is provided with the excellent photoconductivity of visible light and wavelength light near laser light and is extremely reduced in the film thickness.

Description

【発明の詳細な説明】 崖栗上Ω皿里分野 本発明は、電荷発生層と電荷輸送層とを有する感光体に
関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to a photoreceptor having a charge generation layer and a charge transport layer.

従米挾術 カールソン法の発明以来、電子写真の応用分野は著しい
発展を続け、電子写真用感光体にも様々な材料が開発さ
れ実用化されてきた。
Since the invention of the Carlson method, the field of electrophotography has continued to make remarkable progress, and various materials have been developed and put into practical use for photoreceptors for electrophotography.

従来用いられて来た電子写真感光体材料の主なものとし
ては、非晶質セレン、セレン砒素、セレンテルル、硫化
カドミウム、酸化亜鉛、アモルファスシリコン等の無機
物質、ポリビニルカルバゾール、金属フタロシアニン、
ジスアゾ顔料、トリスアゾ顔料、ペリレン顔料、トリフ
ェニルメタン化合物、トリフェニルアミン化合物、ヒド
ラゾン化合物、スチリル化合物、ピラゾリン化合物、オ
キサゾール化合物、オキサジアゾール化合物、等の有機
物質が挙げられる。また、その構成形態としては、これ
らの物質を単体で用いる単層型構成、結着材中に分散さ
せて用いるバインダー型構成、機能別に電荷発生層と電
荷輸送層とを設ける積層型構成等が挙げられる。
The main electrophotographic photoreceptor materials conventionally used include inorganic substances such as amorphous selenium, selenium arsenide, selenium telluride, cadmium sulfide, zinc oxide, amorphous silicon, polyvinyl carbazole, metal phthalocyanine,
Examples include organic substances such as disazo pigments, trisazo pigments, perylene pigments, triphenylmethane compounds, triphenylamine compounds, hydrazone compounds, styryl compounds, pyrazoline compounds, oxazole compounds, and oxadiazole compounds. In addition, the configurations include a single-layer structure in which these substances are used alone, a binder-type structure in which they are dispersed in a binder, and a laminated structure in which a charge generation layer and a charge transport layer are provided for each function. Can be mentioned.

しかしながら、従来用いられて来た電子写真感光体材料
にはそれぞれ欠点があった。その一つとして人体への有
害性が挙げられるが、前述したアモルファスシリコンを
除く無機物質においては、何れも好ましくない性質を持
つものであった。また、電子写真感光体が実際に複写機
内で用いられるためには、帯電、露光、現像、転写、除
電、清掃等の苛酷な環境条件に曝された場合においても
、常に安定な性能を維持している必要があるが、前述し
た有機物質においては、何れも耐久性に乏しく、性能面
での不安定要素が多かった。
However, the electrophotographic photoreceptor materials conventionally used each have drawbacks. One of these is their toxicity to the human body, and all inorganic substances, except for the amorphous silicon mentioned above, have unfavorable properties. In addition, in order for an electrophotographic photoreceptor to be actually used in a copying machine, it must always maintain stable performance even when exposed to harsh environmental conditions such as charging, exposure, development, transfer, neutralization, and cleaning. However, all of the organic substances mentioned above have poor durability and many unstable factors in terms of performance.

このような欠点を解消すべく、近年、有害性を改善し耐
久性に富んだ材料として、グロー放電法により生成され
るアモルファスシリコンの電子写真感光体への応用が進
んで来ている。しかし、アモルファスシリコンは、原料
としてシランガスを多量に必要とする反面、高価なガス
であることから、出来上がった電子写真感光体も従来の
感光体に比べ大幅に高価なものとなる。また、成膜速度
が遅く、成膜時間の増大に伴い爆発性を有するシラン未
分解生成物を粉塵状に発生する等、生産上の不都合も多
い。また、この粉塵が製造時に感光層中に混入した場合
には、画像品質に著しく悪影響を及ぼす。さらに、アモ
ルファスシリコンは、元来、比誘電率が高いため帯電性
能が低く、複写機内で所定の表面電位に帯電するために
は膜厚を厚くする必要があり、高価なアモルファスシリ
コン膜を長時間堆積させなくてはならない。
In order to eliminate such drawbacks, in recent years, amorphous silicon produced by a glow discharge method has been increasingly applied to electrophotographic photoreceptors as a material with improved toxicity and high durability. However, while amorphous silicon requires a large amount of silane gas as a raw material, it is an expensive gas, so the resulting electrophotographic photoreceptor is also significantly more expensive than a conventional photoreceptor. In addition, there are many inconveniences in production, such as the slow film formation rate and the generation of explosive silane undecomposed products in the form of dust as the film formation time increases. Furthermore, if this dust gets mixed into the photosensitive layer during manufacturing, it will have a significant negative effect on image quality. Furthermore, since amorphous silicon originally has a high dielectric constant, it has poor charging performance, and in order to charge it to a predetermined surface potential in a copying machine, it is necessary to increase the thickness of the film. must be deposited.

ところでアモルファスカーボン膜自体は、プラズマ有機
重合膜として古くより知られており、例えばジエン(M
、5hen)及びベル(A、T。
By the way, the amorphous carbon film itself has been known for a long time as a plasma organic polymerized film, for example, diene (M
, 5hen) and Bell (A, T.

Be1l)により、1973年発行ののジャーナル・オ
ブ・アプライド・ポリマー・サイエンス(Journa
 1  of  App l ied  Palyme
r  5cience)第17巻の第885頁乃至第8
92頁において、あらゆる有機化合物のガスから作製さ
れ得る事が、また、同著者により、1979年のアメリ
カンケミカルソサエティー(American  Ch
emicalSociety)発行によるプラズマボリ
マライゼーション(Plasma  Polymeri
zation)の中でもその成膜性が論じられている。
Journal of Applied Polymer Science (Journa Be1l), published in 1973.
1 of Applied Palyme
r 5science) Volume 17, pages 885 to 8
On page 92, it was also reported by the same author in the American Chemical Society in 1979 that all organic compounds can be made from gases.
Plasma Polymeri, published by Chemical Society
zation), its film formability is also discussed.

しかしながら従来の方法で作製したプラズマ有機重合膜
は絶縁性を前提とした用途に限って用いられ、即ちそれ
らの膜は通常のポリエチレン膜の如く1016Ωcm程
度の比抵抗を有する絶縁膜と考えられ、或は、少なくと
もそのような膜であるとの認識のもとに用いられていた
。実際に電子写真感光体への用途にしても同様の認識か
ら、保護層、接着層、ブロッキング層もしくは絶縁層に
限られており、所謂アンダーコート層もしくはオーバー
コート層としてしか用いられていなかった。
However, plasma organic polymer films prepared by conventional methods are used only for applications that assume insulation properties, that is, they are considered to be insulating films with a specific resistance of about 1016 Ωcm, like ordinary polyethylene films, or was used with the understanding that it was at least such a membrane. Due to the same recognition, its actual use in electrophotographic photoreceptors has been limited to protective layers, adhesive layers, blocking layers, or insulating layers, and has only been used as so-called undercoat layers or overcoat layers.

例えば、特開昭59−28161号公報には、基板上に
ブロッキング層及び接着層としてプラズマ重合された網
目構造を有する高分子層を設け、その上にアモルファス
シリコン層を設けた感光体が開示されている。特開昭5
9−38753号公報には、基板上にブロッキング層及
び接着層として酸素と窒素と炭化水素の混合ガスから生
成される1013〜1015Ωcmの高抵抗のプラズマ
重合膜を10人〜100人設けた上にアモルファスシリ
コン層を設けた感光体が開示されている。特開昭59−
136742号公報には、アルミ基板上に設けたアモル
ファスシリコン層内へ光照射時にアルミ原子が拡散する
のを防止するための保護層として1〜5μm程度の炭素
膜を基板表面に形成せしめた感光体が開示されている。
For example, JP-A-59-28161 discloses a photoreceptor in which a plasma-polymerized polymer layer having a network structure is provided on a substrate as a blocking layer and an adhesive layer, and an amorphous silicon layer is provided thereon. ing. Japanese Patent Application Publication No. 5
Publication No. 9-38753 discloses that a plasma polymerized film with a high resistance of 1013 to 1015 Ωcm, which is generated from a mixed gas of oxygen, nitrogen, and hydrocarbon, is provided on a substrate as a blocking layer and an adhesive layer by 10 to 100 people. A photoreceptor is disclosed that includes an amorphous silicon layer. Unexamined Japanese Patent Publication 1987-
Publication No. 136742 discloses a photoreceptor in which a carbon film of approximately 1 to 5 μm is formed on the surface of the substrate as a protective layer to prevent aluminum atoms from diffusing into the amorphous silicon layer provided on the aluminum substrate during light irradiation. is disclosed.

特開昭60−63541号公報には、アルミ基板とその
上に設けたアモルファスシリコン層との接着性を改善す
るために、接着層として200人〜2μmのダイヤモン
ド状炭素膜を中間に設けた感光体が開示され、残留電荷
の面から膜厚は2μm以下が好ましいとされている。
Japanese Unexamined Patent Publication No. 60-63541 discloses a photosensitive material in which a diamond-like carbon film with a thickness of 200 to 2 μm is provided in the middle as an adhesive layer in order to improve the adhesion between an aluminum substrate and an amorphous silicon layer provided thereon. It is said that the film thickness is preferably 2 μm or less in terms of residual charge.

これらの開示は、何れも基板とアモルファスシリコン層
との間に、所謂アンダーコート層を設けた発明であり、
電荷輸送性についての開示は全くなく、また、a−Si
の有する前記した本質的問題を解決するものではない。
All of these disclosures are inventions in which a so-called undercoat layer is provided between the substrate and the amorphous silicon layer,
There is no disclosure regarding charge transport properties, and a-Si
However, it does not solve the above-mentioned essential problems.

また、例えば、特開昭50−20728号公報には、ポ
リビニルカルバゾール−セレン系感光体の表面に保護層
としてグロー放電重合によるポリマー膜を0.1〜1μ
m設けた感光体が開示されている。特開昭59−214
859号公報には、アモルファスシリコン感光体の表面
に保護層としてスチレンやアセチレン等の有機炭化水素
モノマーをプラズマ重合させて5μm程度の膜を形成さ
せる技術が開示されている。特開昭60−61761号
公報には、表面保護層として、500人〜2μmのダイ
ヤモンド状炭素薄膜を設けた感光体が開示され、透光性
の面から膜厚は2μm以下が好ましいとされてている。
For example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 50-20728 discloses that a polymer film of 0.1 to 1 μm formed by glow discharge polymerization is applied as a protective layer on the surface of a polyvinylcarbazole-selenium photoreceptor.
A photoreceptor is disclosed. Japanese Patent Publication No. 59-214
Japanese Patent No. 859 discloses a technique for forming a protective layer on the surface of an amorphous silicon photoreceptor by plasma polymerizing an organic hydrocarbon monomer such as styrene or acetylene to form a film of about 5 μm. JP-A No. 60-61761 discloses a photoreceptor provided with a diamond-like carbon thin film of 500 to 2 μm as a surface protective layer, and it is said that the film thickness is preferably 2 μm or less in terms of light transmission. ing.

特開昭60−249115号公報には、0.05〜5μ
m程度の無定形炭素または硬質炭素膜を表面保護層とし
て用いる技術が開示され、膜厚が5μmを越えると感光
体活性に悪影響が及ぶとされている。
JP-A-60-249115 discloses that 0.05 to 5μ
A technique has been disclosed in which an amorphous carbon or hard carbon film with a thickness of about 5 μm is used as a surface protective layer, and it is said that if the film thickness exceeds 5 μm, the photoreceptor activity will be adversely affected.

これらの開示は、何れも感光体表面に所謂オーバーコー
ト層を設けた発明であり、電荷輸送性についての開示は
全くなく、また、a−5iの有する前記した本質的問題
を解決するものではない。
All of these disclosures are inventions in which a so-called overcoat layer is provided on the surface of a photoreceptor, and there is no disclosure of charge transport properties, and they do not solve the above-mentioned essential problems of a-5i. .

また、特開昭51−46130号公報には、ポリビニル
カルバゾール系電子写真感光体の表面にグロー放電重合
を行なって0.001〜3μmのポリマー膜を形成せし
めた電子写真感光板が開示されているが、電荷輸送性に
ついては全く言及されていないし、a”Siの持つ前記
した本質的問題を解決するものではない。
Further, JP-A-51-46130 discloses an electrophotographic photosensitive plate in which a polymer film of 0.001 to 3 μm is formed on the surface of a polyvinyl carbazole electrophotographic photoreceptor by glow discharge polymerization. However, there is no mention of charge transport properties, and it does not solve the above-mentioned essential problems of a''Si.

一方、アモルファスシリコン膜については、スピア(W
、E、5pear)及びレコンバ(P。
On the other hand, regarding the amorphous silicon film, Spear (W
, E, 5pear) and Recomba (P.

G、LeComber)により1976年発行のフィロ
ソフィカル・マガジン(Philosophical 
 Magazine)第33巻の第935頁乃至第94
9頁において、極性制御が可能な材料である事が報じら
れて以来、種々の光電デバイスへの応用が試みられて来
た。感光体への応用に関しては、例えば、特開昭56−
62254号公報、特開昭57−119356号公報、
特開昭57−177147号公報、特開昭57−119
357号公報、特開昭57−177149号公報、特開
昭57−119357号公報、特開昭57−17714
6号公報、特開昭57−177148号公報、特開昭5
7−174448号公報、特開昭57−174449号
公報、特開昭57−174450号公報、等に、炭素原
子を含有したアモルファスシリコン感光体が開示されて
いるが、何れもアモルファスシリコンの光導電性を炭素
原子により調整する事を目的としたものであり、また、
アモルファスシリコン自体厚い膜を必要としている。
Philosophical Magazine published in 1976 by
Magazine) Volume 33, pages 935 to 94
Since it was reported on page 9 that it is a material whose polarity can be controlled, attempts have been made to apply it to various photoelectric devices. Regarding the application to photoreceptors, for example,
No. 62254, Japanese Patent Application Laid-open No. 119356/1983,
JP-A-57-177147, JP-A-57-119
357, JP 57-177149, JP 57-119357, JP 57-17714
Publication No. 6, JP-A-57-177148, JP-A-5
Amorphous silicon photoreceptors containing carbon atoms are disclosed in JP-A No. 7-174448, JP-A-57-174449, JP-A-57-174450, etc., but all of them are amorphous silicon photoconductors. The purpose is to adjust the properties using carbon atoms, and
Amorphous silicon itself requires a thick film.

日が 決しようとする。!ff1l舎 以上のように、従来、電子写真感光体に用いられている
プラズマ有機重合膜は所謂アンダーコート層もしくはオ
ーバーコート層として使用されていたが、それらはキャ
リアの輸送機能を必要としない膜であって、有機重合膜
が絶縁性で有るとの判断にたって用いられている。従っ
てその膜厚も高々5μm程度の極めて薄い膜としてしか
用いられず、キャリアはトンネル効果で膜中を通過する
か、トンネル効果が期待できない場合には、残留電位の
発生に関して事実上問題にならずに済む程度の薄い膜で
しか用いられていない。また、従来、電子写真に用いら
れているアモルファスシリコン膜は所謂厚膜で使用きれ
ており、価格或は生産性等に、不都合な点が多い。
The day is about to end. ! As mentioned above, plasma organic polymer films conventionally used in electrophotographic photoreceptors have been used as so-called undercoat layers or overcoat layers, but these are films that do not require a carrier transport function. Therefore, organic polymer films are used based on the judgment that they are insulating. Therefore, it can only be used as an extremely thin film with a thickness of about 5 μm at most, and carriers either pass through the film by tunneling effect, or if a tunneling effect cannot be expected, there is virtually no problem with the generation of residual potential. It is only used in thin films that are only small enough to last. Further, the amorphous silicon films conventionally used in electrophotography are so-called thick films and are used up, and have many disadvantages in terms of cost, productivity, etc.

本発明者らは、アモルファスカーボン膜の電子写真感光
体への応用を検討しているうちに、本来絶縁性であると
考えられていた水素化アモルファスカーボン膜が窒素原
子とハロゲン原子とを含有せしめる事により、燐原子及
び硼素原子のうち少なくとも一方を含有すると共に炭素
原子を含有してなる水素化或は弗素化アモルファスシリ
コンゲルマニウム膜との積層においては電荷輸送性を有
し、容易に好適な電子写真特性を示し始める事を見出し
た。その理論的解釈には本発明者においても不明確な点
が多(詳細に亙り言及はできないが、窒素原子とハロゲ
ン原子とを含有せしめた水素化アモルファスカーボン膜
中に捕捉されている比較的不安定なエネルギー状態の電
子、例えばπ電子、不対電子、残存フリーラジカル等が
形成するバンド構造が、燐原子及び硼素原子のうち少な
(とも一方を含有すると共に炭素原子を含有してなる水
素化或は弗素化アモルファスシリコンゲルマニウム膜が
形成するバンド構造と電導帯もしくは荷電子帯において
近似したエネルギー準位を有するため、燐原子及び硼素
原子のうち少なくとも一方を含有すると共に炭素原子を
含有してなる水素化或は弗素化アモルファスシリコンゲ
ルマニウム膜中で発生したキャリアが容易に窒素原子と
ハロゲン原子とを含有せしめた水素化アモルファスカー
ボン膜中へ注入きれ、ざらに、このキャリアは前述の比
較的不安定なエネルギー状態の電子の作用により窒素原
子とハロゲン原子とを含有せしめた水素化アモルファス
カーボン膜中を好適に走行し得るためと推定される。
While considering the application of amorphous carbon films to electrophotographic photoreceptors, the present inventors discovered that hydrogenated amorphous carbon films, which were originally thought to be insulating, contained nitrogen atoms and halogen atoms. In some cases, when laminated with a hydrogenated or fluorinated amorphous silicon germanium film that contains at least one of phosphorus atoms and boron atoms and also contains carbon atoms, it has charge transport properties and is easily suitable for electrons. It was discovered that the material began to exhibit photographic properties. There are many points in the theoretical interpretation that are unclear even to the present inventor (although I cannot discuss them in detail, there are many points that are unclear even to the inventors). A band structure formed by electrons in a stable energy state, such as π electrons, unpaired electrons, residual free radicals, etc. Alternatively, since it has an energy level similar to the band structure formed by the fluorinated amorphous silicon germanium film in the conduction band or valence band, it contains at least one of phosphorus atoms and boron atoms and also contains carbon atoms. Carriers generated in the hydrogenated or fluorinated amorphous silicon germanium film are easily injected into the hydrogenated amorphous carbon film containing nitrogen atoms and halogen atoms, and these carriers are relatively unstable as described above. This is presumed to be because the hydrogenated amorphous carbon film containing nitrogen atoms and halogen atoms can travel suitably through the action of electrons in a certain energy state.

本発明はその新たな知見を利用することにより、アモル
ファスシリコン感光体の持つ前述の如き本質的問題点を
全て解消し、また従来とは全く使用目的も特性も異なる
、有機プラズマ重合膜、特に窒素原子とハロゲン原子と
を含有してなる水素化アモルファスカーボン膜を電荷輸
送層として使用し、かつ、燐原子及び硼素原子のうち少
なくとも一方を含有すると共に炭素原子を含有してなる
水素化或は弗素化アモルファスシリコンゲルマニウムの
薄膜を電荷発生層として使用した感光体を提供する事を
目的とする。
By utilizing this new knowledge, the present invention solves all the above-mentioned essential problems of amorphous silicon photoreceptors, and also uses organic plasma polymerized films, especially nitrogen A hydrogenated amorphous carbon film containing atoms and halogen atoms is used as a charge transport layer, and hydrogenated or fluorine containing at least one of phosphorus atoms and boron atoms as well as carbon atoms. An object of the present invention is to provide a photoreceptor using a thin film of amorphous silicon germanium as a charge generation layer.

問題点を解決するための手段 即ち、本発明は、電荷発生層と電荷輸送層とを有する機
能分離型感光体において、該電荷輸送層がプラズマ重合
反応から生成される少なくとも窒素原子とハロゲン原子
とを含有してなる水素化アモルファスカーボン膜であり
、かつ、該電荷発生層が燐原子及び硼素原子のうち少な
くとも一方を含有すると共に炭素原子を含有してなる水
素化或は弗素化アモルファスシリコンゲルマニウム膜で
あることを特徴とする感光体に関する(以下、本発明に
よる電荷輸送層をa −C膜及び電荷発生層をa−Si
膜と称する)。
Means for solving the problem, that is, the present invention provides a functionally separated photoreceptor having a charge generation layer and a charge transport layer, in which the charge transport layer contains at least nitrogen atoms and halogen atoms generated from a plasma polymerization reaction. and a hydrogenated or fluorinated amorphous silicon germanium film in which the charge generation layer contains at least one of phosphorus atoms and boron atoms and also contains carbon atoms. (Hereinafter, the charge transport layer according to the present invention is an a-C film and the charge generation layer is an a-Si film.
(referred to as a membrane).

本発明は、従来のアモルファスシリコン感光体において
は、電荷発生層として優れた機能を有するアモルファス
シリコンを、電荷発生能が無くても電荷輸送能きえあれ
ば済む電荷輸送層としても併用していたため発生してい
たこれらの問題点を解決すべく成されたものである。
The present invention was developed because, in conventional amorphous silicon photoreceptors, amorphous silicon, which has an excellent function as a charge generation layer, is also used as a charge transport layer, which is sufficient as long as it has charge transport ability even if it does not have charge generation ability. This was done to solve these problems.

即ち、本発明は、電荷輸送層としてグロー放電により生
成きれる少なくとも窒素原子とハロゲン原子とを含有し
てなる水素化アモルファスカーボン膜を設け、かつ、電
荷発生層として同じくグロー放電により生成される燐原
子及び硼素原子のうち少なくとも一方を含有すると共に
炭素原子を含有してなる水素化或は弗素化アモルファス
シリコンゲルマニウム膜を設けた事を特徴とする機能分
離型感光体に関する。該電荷輸送層は、可視光もしくは
半導体レーザー光付近の波長の光に対しては明確なる光
導電性は有さないが、好適な輸送性を有し、ざらに、帯
電能、耐久性、耐候性、耐環境汚染性等の電子写真感光
体性能に優れ、しかも透光性にも優れるため、機能分離
型感光体としての積層構造を形成する場合においても極
めて高い自由度が得られるものである。また、該電荷発
生層は、可視光もしくは半導体レーザー光付近の波長の
光に対して優れた光導電性を有し、しかも従来のアモル
ファスシリコン感光体に比べて極めて薄い膜厚で、その
機能を活かす事ができるものである。
That is, the present invention provides a hydrogenated amorphous carbon film containing at least nitrogen atoms and halogen atoms generated by glow discharge as a charge transport layer, and a hydrogenated amorphous carbon film containing at least nitrogen atoms and halogen atoms generated by glow discharge as a charge generation layer. The present invention relates to a functionally separated photoreceptor characterized by being provided with a hydrogenated or fluorinated amorphous silicon germanium film containing at least one of boron atoms and carbon atoms. Although the charge transport layer does not have clear photoconductivity for visible light or light with a wavelength near semiconductor laser light, it has suitable transport properties, and has excellent charging ability, durability, and weather resistance. It has excellent electrophotographic photoreceptor performance such as durability and environmental pollution resistance, and is also excellent in light transmission, so it provides an extremely high degree of freedom when forming a laminated structure as a function-separated photoreceptor. . In addition, the charge generation layer has excellent photoconductivity for visible light or light with a wavelength near semiconductor laser light, and has an extremely thin film thickness compared to conventional amorphous silicon photoreceptors. It is something that can be put to good use.

本発明においては、a−CPAを形成するために有機化
合物ガス、特に炭化水素ガスが用いられる。
In the present invention, an organic compound gas, particularly a hydrocarbon gas, is used to form the a-CPA.

該炭化水素における相状態は常温常圧において必ずしも
気相である必要はなく、加熱或は減圧等により溶融、蒸
発、昇華等を経て気化しうるものであれば、液相でも固
相でも使用可能である。
The phase state of the hydrocarbon does not necessarily have to be a gas phase at room temperature and normal pressure; it can be used in either a liquid phase or a solid phase as long as it can be vaporized through melting, evaporation, sublimation, etc. by heating or reduced pressure. It is.

使用可能な炭化水素には種類が多いが、飽和炭化水素と
しては、例えば、メタン、エタン、プロパン、ブタン、
ペンタン、ヘキサン、ヘプタン、オクタン、ノナン、デ
カン、ウンデカン、ドデカン、トリデカン、テトラデカ
ン、ペンタデカン、ヘキサデカン、ヘプタデカン、オク
タデカン、ノナデカン、エイコサン、ヘンエイコサン、
トコサン、トリコサン、テトラコサン、ペンタコサン、
ヘキサコサン、ヘプタコサン、オクタコサン、ノナコサ
ン、トリアコンタン、トドリアコンタン、ペンタトリア
コンタン、等のノルマルパラフィン並びに、イソブタン
、イソペンタン、ネオペンタン、イソヘキサン、ネオヘ
キサン、2,3−ジメチルブタン、2−メチルヘキサン
、3−エチルベブタン、2.2−ジメチルペンタン、2
.4−ジメチルペンタン、3.3−ジメチルペンタン、
トリブタン、2−メチルへブタン、3−メチルへブタン
、2.2−ジメチルヘキサン、2,2.5−ジメチルヘ
キサン、2.2.3−トリメチルペンタン、2.2.4
−)ジメチルペンタン、2,3゜3−トリメチルペンタ
ン、2,3.4−トリメチルペンタン、イソナノン、等
のイソパラフィン、等が用いられる。不飽和炭化水素と
しては、例えば、エチレン、プロピレン、インブチレン
、1−ブテン、2−ブテン、1−ペンテン、2−ペンテ
ン、2−メチル−1−ブテン、3−メチル−1−ブテン
、2−メチル−2−ブテン、1−ヘキセン、テトラメチ
ルエチレン、1−ヘプテン、1−オクテン、1−ノネン
、1−デセン、等のオレフィン、並びに、アレン、メチ
ルアレン、ブタジェン、ペンタジェン、ヘキサジエン、
シクロペンタジェン、等のジオレフィン、並びに、オシ
メン、アロオシメン、ミルセン、ヘキサトリエン、等の
トリオレフイン、並びに、アセチレン、ブタジイン、1
゜3−ペンタジイン、2.4−ヘキサジイン、メチルア
レンレン、1−ブチン、2−ブチン、1−ペンチン、1
−ヘキシン、1−ヘプチン、1−オクチン、1−ノニン
、1−デシン、等が用いられる。
There are many types of hydrocarbons that can be used, but examples of saturated hydrocarbons include methane, ethane, propane, butane,
Pentane, hexane, heptane, octane, nonane, decane, undecane, dodecane, tridecane, tetradecane, pentadecane, hexadecane, heptadecane, octadecane, nonadecane, eicosane, heneicosane,
tocosan, tricosane, tetracosan, pentacosan,
Normal paraffins such as hexacosane, heptacosane, octacosane, nonacosane, triacontane, todoriacontane, pentatriacontane, etc., as well as isobutane, isopentane, neopentane, isohexane, neohexane, 2,3-dimethylbutane, 2-methylhexane, 3- Ethylbebutane, 2,2-dimethylpentane, 2
.. 4-dimethylpentane, 3.3-dimethylpentane,
Tributane, 2-methylhebutane, 3-methylhebutane, 2.2-dimethylhexane, 2,2.5-dimethylhexane, 2.2.3-trimethylpentane, 2.2.4
-) Isoparaffins such as dimethylpentane, 2,3°3-trimethylpentane, 2,3.4-trimethylpentane, isonanone, etc. are used. Examples of unsaturated hydrocarbons include ethylene, propylene, imbutylene, 1-butene, 2-butene, 1-pentene, 2-pentene, 2-methyl-1-butene, 3-methyl-1-butene, 2- Olefins such as methyl-2-butene, 1-hexene, tetramethylethylene, 1-heptene, 1-octene, 1-nonene, 1-decene, and allene, methylalene, butadiene, pentadiene, hexadiene,
Diolefins such as cyclopentadiene, triolefins such as ocimene, allocimene, myrcene, hexatriene, acetylene, butadiyne, etc.
゜3-pentadiyne, 2.4-hexadiyne, methylallene, 1-butyne, 2-butyne, 1-pentyne, 1
-Hexyne, 1-heptyne, 1-octyne, 1-nonine, 1-decyne, etc. are used.

脂環式炭化水素としては、例えば、シクロプロパン、シ
クロブタン、シクロペンタン、シクロヘキサン、シクロ
へブタン、シクロオクタン、シクロノナン、シクロデカ
ン、シクロウンデカン、シクロドデカン、シクロトリデ
カン、シクロテトラデカン、シクロペンタデカン、シク
ロヘキサデカン、等のシクロパラフィン並びに、シクロ
プロペン、シクロブテン、シクロペンテン、シクロヘキ
セン、シクロヘプテン、シクロオクテン、シクロノネン
、シクロデセン、等のシクロオレフィン並びに、リモネ
ン、テルビルン、フエランドレン、シルベストレン、ツ
エン、カレン、ピネン、ボルニレン、カンフエン、フエ
ンチェン、シクロウンデカン、トリシクレン、ピサボレ
ン、ジンギベレン、クル 、クメン、フムレン、カジネ
ンセスキベニヘン、セリネン、カリオフィレン、サンタ
レン、セドレン、カンホレン、フィロクラテン、ボドカ
ルブレン、ミレン、等のテルペン並びに、ステロイド等
が用いられる。芳香族炭化水素としては、例えば、ベン
ゼン、トルエン、キシレン、ヘミメリテン、プソイドク
メン、メシチレン、プレニテン、イソジュレン、ジュレ
ン、ペンタメチルベンゼン、ヘキサメチルベンゼン、エ
チルベンゼン、プロピルベンゼン、クメン、スチレン、
ビフェニル、テルフェニル、ジフェニルメタン、トリフ
ェニルメタン、ジベンジル、スチルベン、インデン、ナ
フタリン、テトラリン、アントラセン、フェナントレン
、等が用いられる。
Examples of alicyclic hydrocarbons include cyclopropane, cyclobutane, cyclopentane, cyclohexane, cyclohebutane, cyclooctane, cyclononane, cyclodecane, cycloundecane, cyclododecane, cyclotridecane, cyclotetradecane, cyclopentadecane, cyclohexadecane, Cycloparaffins such as cyclopropene, cyclobutene, cyclopentene, cyclohexene, cycloheptene, cyclooctene, cyclononene, cyclodecene, and cycloolefins such as limonene, tervirun, phelandrene, sylvestrene, thuene, carene, pinene, bornylene, kamphuen, fuenchen Terpenes such as , cycloundecane, tricyclene, pisabolene, zingiberene, culu, cumene, humulene, cadinensesquivenichen, selinene, caryophyllene, santarene, cedrene, campholene, phylloclatene, bodocarbrene, mirene, and steroids are used. Examples of aromatic hydrocarbons include benzene, toluene, xylene, hemimelithene, pseudocumene, mesitylene, prenitene, isodurene, durene, pentamethylbenzene, hexamethylbenzene, ethylbenzene, propylbenzene, cumene, styrene,
Biphenyl, terphenyl, diphenylmethane, triphenylmethane, dibenzyl, stilbene, indene, naphthalene, tetralin, anthracene, phenanthrene, etc. are used.

ざらに、炭化水素以外でも、例えば、アルコール類、ケ
トン類、エーテル類、エステル類、等炭素と成りうる化
合物であれば使用可能である。
In general, any compound other than hydrocarbons that can be converted into carbon, such as alcohols, ketones, ethers, and esters, can be used.

本発明におけるa −C膜中に含まれる水素原子の量は
グロー放電を用いるというその製造面から必然的に定ま
るが、炭素原子と水素原子の総量に対して、概ね30乃
至60原子%含有される。ここで、炭素原子並びに水素
原子の膜中含有量は、有機元素分析の常法、例えばCN
H分析を用いる事により知る事ができる。
The amount of hydrogen atoms contained in the a-C film of the present invention is inevitably determined from the manufacturing aspect of using glow discharge, but it is approximately 30 to 60 atomic percent contained in the a-C film based on the total amount of carbon atoms and hydrogen atoms. Ru. Here, the content of carbon atoms and hydrogen atoms in the film is determined by a conventional method of organic elemental analysis, for example, CN
This can be determined by using H analysis.

本発明におけるa −C膜中に含まれる水素原子の量は
、成膜装置の形態並びに成膜時の条件により変化するが
、例えば、基板温度を高くする、圧力を低くする、原料
炭化水素ガスの希釈率を低くする、印加電力を高くする
、交番電界の周波数を低くする、交番電界に重畳せしめ
た直流電界強度を高くする、等の手段、或は、これらの
組合せ操作は、含有水素量を低くする効果を有する。
The amount of hydrogen atoms contained in the a-C film in the present invention varies depending on the form of the film forming apparatus and the conditions during film forming, but for example, increasing the substrate temperature, lowering the pressure, using the raw material hydrocarbon gas, etc. Measures such as lowering the dilution rate of hydrogen, increasing the applied power, lowering the frequency of the alternating electric field, increasing the strength of the direct current electric field superimposed on the alternating electric field, or combinations thereof, can reduce the amount of hydrogen contained. It has the effect of lowering

本発明における電荷輸送層としてのa −C膜の膜厚は
、通常の電子写真プロセスで用いるためには、5乃至5
0 um、特に7乃至20umが適当であり、5umよ
り薄いと、帯電電位が低いため充分な複写画像濃度を得
る事ができない。また、50μmより厚いと、生産性の
面で好ましくない。
The thickness of the a-C film as the charge transport layer in the present invention is 5 to 5
0 um, especially 7 to 20 um, is appropriate; if it is thinner than 5 um, the charging potential will be low, making it impossible to obtain a sufficient density of the copied image. Moreover, if it is thicker than 50 μm, it is not preferable in terms of productivity.

このa−C膜は、高透光性、高暗抵抗を有するとともに
電荷輸送性に富み、膜厚を上記の様に5μm以上として
もキャリアはトラップきれる事無く輸送きれ明減衰に寄
与する事が可能である。
This a-C film has high light transmittance, high dark resistance, and is rich in charge transport properties, and as mentioned above, even if the film thickness is 5 μm or more, carriers are not trapped and contribute to transport brightness attenuation. It is possible.

本発明における原料気体からa −C膜を形成する過程
としては、原料気体が、直流、低周波、高周波、或はマ
イクロ波等を用いたプラズマ法により生成されるプラズ
マ状態を経て形成きれる方法が最も好ましいが、その他
にも、イオン化蒸着法、或はイオンビーム蒸着法等によ
り生成されるイオン状態を経て形成されてもよいし、真
空蒸着法、或はスパッタリング法等により生成される中
性粒子から形成されてもよいし、ざらには、これらの組
み合わせにより形成されてもよい。
In the process of forming the a-C film from the raw material gas in the present invention, there is a method in which the raw material gas is formed through a plasma state generated by a plasma method using direct current, low frequency, high frequency, microwave, etc. Most preferably, neutral particles may also be formed through an ion state generated by ionization vapor deposition, ion beam vapor deposition, etc., or neutral particles generated by vacuum vapor deposition, sputtering, etc. It may be formed from a combination of these.

本発明においては炭化水素の他に、a −C膜中に少な
くとも窒素原子を添加するための原料として、窒素化合
物が用いられる。該窒素化合物における相状態は常温常
圧において必ずしも気相である必要はなく、加熱或は減
圧等により溶融、蒸発、昇華等を経て気化しうるもので
あれば、液相でも固相でも使用可能である。窒素化合物
としては1、 例えば、窒素、アンモニア等の無機化合
物、アミノ基(NH2)、シアノ基(−CN)等の官能
基を有する有機化合物、並びに窒素を含む複素環等か用
いられる。
In the present invention, in addition to hydrocarbons, a nitrogen compound is used as a raw material for adding at least nitrogen atoms into the a-C film. The phase state of the nitrogen compound does not necessarily have to be a gas phase at room temperature and normal pressure; it can be used in either a liquid phase or a solid phase as long as it can be vaporized through melting, evaporation, sublimation, etc. by heating or reduced pressure. It is. Examples of nitrogen compounds used include inorganic compounds such as nitrogen and ammonia, organic compounds having functional groups such as amino groups (NH2) and cyano groups (-CN), and nitrogen-containing heterocycles.

使用可能な有機化合物には種類が多いが、アミノ基を有
する有機化合物としては、例えば、メチルアミン、エチ
ルアミン、プロピルアミン、ブチルアミン、アミルアミ
ン、ヘキシルアミン、ヘプチルアミン、オクチルアミン
、ノニルアミン、デシルアイミン、ウンデシルアミン、
ドデシルアミン、トリデシルアミン、テトラデシルアミ
ン、ペンタデシルアミン、セチルアミン、ジメチルアミ
ン、ジエチルアミン、ジプロピルアミン、ジブチルアミ
ン、シアミルアミン、トリメチルアミン、トリエチルア
ミン、トリプロピルアミン、トリブチルアミン、トリア
ミルアミン、アリルアミン、ジアリルアミン、トリアリ
ルアミン、シクロプロピルアミン、シクロブチルアミン
、シクロペンチルアミン、シクロヘキシルアミン、アニ
リン、メチルアニリン、ジメチルアニリン、エチルアニ
リン、ジエチルアニリン、トルイジン、ベンジルアミン
、ジベンジルアミン、トリベンジルアミン、ジフェニル
アミン、トリフェニルアミン、ナフチルアミン、エチレ
ンジアミン、トリメチレンジアミン、テトラメチレンジ
アミン、ペンタメチレンジアミン、ヘキサメチレンジア
ミン、ジアミノへブタン、ジアミノオクタン、ジアミノ
ノナン、ジアミノデカン、フェニレンジアミン、等が用
いられる。シアノ基を有する有機化合物としては、例え
ば、アセトニトリル、プロピオニトリル、ブチロニトリ
ル、バレロニトリル、カプロニトリル、エナントニトリ
ル、カプリロニトリル、フエラルゴンニトリル、カブリ
ニトリル、ラウロニトリル、パルミトニトリル、ステア
ロニトリル、クロトンニトリル、マロンニトリル、ステ
アロニトリル、ダルタルニトリル、アジポニトリル、ベ
ンゾニトリル、トルニトリル、シアン化ベンジルケイ皮
酸ニトリル、ナフトニトリル、シアンピリジン、等が用
いられる。複素環化合物としては、例えば、ビロール、
ビロリン、ピロリジン、オキサゾール、チアゾール、イ
ミダゾール、イミダシリン、イミダゾリジン、ピラゾー
ル、ピラゾリン、ピラゾリジン、トリアゾール、テトラ
ゾール、ピリジン、ピペリジン、オキサジン、モルホリ
ン、チアジン、ピリダジン、ピリミジン、ピラジン、ピ
ペラジン、トリアジン、インドール、インドリン、ベン
ゾオキサゾール、インダゾール、ベンゾイミダゾール、
キノリン、シンノリン、フタラジン、フタロシアニン、
キナゾリン、キンキサリン、カルバゾール、アクリジン
、フエナントロリン、フェナジン、フェノキサジン、イ
ンドリジン、キノリジン、キヌクリジン、ナフチリジン
、プリン、プテリジン、アジリジン、アゼピン、オキサ
ジアジン、ジチアジン、ベンゾキノリン、イミダゾチア
ゾール、等が用いられる。
There are many types of organic compounds that can be used, but examples of organic compounds that have an amino group include methylamine, ethylamine, propylamine, butylamine, amylamine, hexylamine, heptylamine, octylamine, nonylamine, decylamine, and undecyl. amine,
Dodecylamine, tridecylamine, tetradecylamine, pentadecylamine, cetylamine, dimethylamine, diethylamine, dipropylamine, dibutylamine, cyamylamine, trimethylamine, triethylamine, tripropylamine, tributylamine, triamylamine, allylamine, diallylamine, Triallylamine, cyclopropylamine, cyclobutylamine, cyclopentylamine, cyclohexylamine, aniline, methylaniline, dimethylaniline, ethylaniline, diethylaniline, toluidine, benzylamine, dibenzylamine, tribenzylamine, diphenylamine, triphenylamine, naphthylamine , ethylenediamine, trimethylenediamine, tetramethylenediamine, pentamethylenediamine, hexamethylenediamine, diaminohebutane, diaminooctane, diaminononane, diaminodecane, phenylenediamine, etc. are used. Examples of organic compounds having a cyano group include acetonitrile, propionitrile, butyronitrile, valeronitrile, capronitrile, enantonitrile, caprylonitrile, ferargonitrile, cabrinitrile, lauronitrile, palmitonitrile, stearonitrile, and crotonitrile. Nitrile, malonitrile, stearonitrile, daltarnitrile, adiponitrile, benzonitrile, tolnitrile, cyanogenated benzylcinnamate nitrile, naphthonitrile, cyanpyridine, etc. are used. Examples of the heterocyclic compound include virol,
Viroline, pyrrolidine, oxazole, thiazole, imidazole, imidacilline, imidazolidine, pyrazole, pyrazoline, pyrazolidine, triazole, tetrazole, pyridine, piperidine, oxazine, morpholine, thiazine, pyridazine, pyrimidine, pyrazine, piperazine, triazine, indole, indoline, benzo oxazole, indazole, benzimidazole,
quinoline, cinnoline, phthalazine, phthalocyanine,
Quinazoline, quinxaline, carbazole, acridine, phenanthroline, phenazine, phenoxazine, indolizine, quinolidine, quinuclidine, napthyridine, purine, pteridine, aziridine, azepine, oxadiazine, dithiazine, benzoquinoline, imidazothiazole, and the like are used.

本発明において化学的修飾物質として含有される窒素原
子の量は、全構成原子に対して5.0原子%以下である
。ここで、窒素原子の膜中含有量は、元素分析の常法、
例えばオージェ分析により知る事ができる。窒素原子を
含まない場合には、好適な輸送性が確保きれず、成膜速
度が遅く、更に、成膜後の経時劣化を招きやすくなる。
In the present invention, the amount of nitrogen atoms contained as a chemical modifier is 5.0 at % or less based on the total constituent atoms. Here, the content of nitrogen atoms in the film is determined by the usual method of elemental analysis.
For example, this can be determined by Auger analysis. If it does not contain nitrogen atoms, suitable transport properties cannot be ensured, the film formation rate is slow, and furthermore, it is likely to deteriorate over time after film formation.

一方、窒素原子の量が5.0原子%を越える場合には、
少量の添加では好適な輸送性を保証していた窒素原子が
、逆に膜の低抵抗化を招く作用を示し、帯電能が低下し
てしまう。従って、本発明における窒素の添加量範囲は
重要である。
On the other hand, when the amount of nitrogen atoms exceeds 5.0 at%,
When added in a small amount, nitrogen atoms, which ensure suitable transportability, instead exhibit an effect that lowers the resistance of the film, resulting in a decrease in charging ability. Therefore, the range of the amount of nitrogen added in the present invention is important.

本発明に於いて化学的修飾物質として含有される窒素原
子の量は、主に、プラズマ反応を行なう反応室への前述
の窒素化合物の導入量を増減することにより制御するこ
とが可能である。窒素化合物の導入量を増大させれば、
本発明によるa−C膜中への窒素原子の添加量を高くす
ることが可能であり、逆に窒素化合物の導入量を減少さ
せれば、本発明によるa −C膜中への窒素原子の添加
量を低くすることが可能である。
In the present invention, the amount of nitrogen atoms contained as a chemical modifier can be controlled mainly by increasing or decreasing the amount of the nitrogen compound introduced into the reaction chamber in which the plasma reaction is performed. If the amount of nitrogen compounds introduced is increased,
It is possible to increase the amount of nitrogen atoms added into the a-C film according to the present invention, and conversely, by decreasing the amount of nitrogen compounds introduced, it is possible to increase the amount of nitrogen atoms added into the a-C film according to the present invention. It is possible to reduce the amount added.

本発明においては炭化水素の他に、a −C膜中に少な
くともハロゲン原子を添加するためにハロゲン化合物が
使用される。ここでハロゲン原子とは、弗素原子、塩素
原子、臭素原子、及び沃素原子をいう。該ハロゲン化合
物における相状態は常温常圧において必ずしも気相であ
る必要はなく、加熱或は減圧等により溶融、蒸発、昇華
等を経て気化しうるものであれば、α相でも固相でも使
用可能である。ハロゲン化合物としては、例えば、弗素
、塩素、臭素、沃素、弗化水素、弗化塩素、弗化臭素、
弗化沃素、塩化水素、塩化臭素、塩化沃素、臭化水素、
臭化沃素、沃化水素、等の無機化合物、ハロゲン化アル
キル、ハロゲン化アリール、ハロゲ化スチレン、ハロゲ
ン化ポリメチレン、へロホルム、等の有機化合物が用い
られる。ハロゲン化アルキルとしては、例えば、フッ化
メチル、塩化メチル、臭化メチル、ヨウ化メチル、フッ
化エチル、塩化エチル、臭化エチル、ヨウ化エチル、フ
ッ化プロピル、塩化プロピル、臭化プロピル、ヨウ化プ
ロピル、フッ化ブチル、塩化ブチル、臭化ブチル、ヨウ
化ブチル、フッ化アミル、塩化アミル、臭化アミル、ヨ
ウ化アミル、フッ化ヘキシル、塩化ヘキシル、臭化ヘキ
シル、ヨウ化ヘキシル、フッ化へブチル、塩化へブチル
、臭化へブチル、ヨウ化へブチル、フッ化オクチル、塩
化オクチル、臭化オクチル、ヨウ化オクチル、フッ化ノ
ニル、塩化ノニル、臭化ノニル、・ヨウ化ノニル、フッ
化デシル、塩化デシル、臭化デシル、ヨウ化デシル、等
が用いられる。ハロゲン化アリールとしては、例えば、
フルオルベンゼン、クロルベンゼン、ブロムベンゼン、
ヨードベンゼン、クロルトルエン、ブロムトルエン、ク
ロルナフタリン、ブロムナフタリン、等が用いられる。
In the present invention, in addition to hydrocarbons, halogen compounds are used to add at least halogen atoms into the a-C film. Here, the halogen atom refers to a fluorine atom, a chlorine atom, a bromine atom, and an iodine atom. The phase state of the halogen compound does not necessarily have to be a gas phase at room temperature and normal pressure; it can be used in either the α phase or the solid phase as long as it can be vaporized through melting, evaporation, sublimation, etc. by heating or reduced pressure. It is. Examples of halogen compounds include fluorine, chlorine, bromine, iodine, hydrogen fluoride, chlorine fluoride, bromine fluoride,
Iodine fluoride, hydrogen chloride, bromine chloride, iodine chloride, hydrogen bromide,
Inorganic compounds such as iodine bromide and hydrogen iodide, and organic compounds such as alkyl halides, aryl halides, styrene halides, polymethylene halides, and heroform are used. Examples of alkyl halides include methyl fluoride, methyl chloride, methyl bromide, methyl iodide, ethyl fluoride, ethyl chloride, ethyl bromide, ethyl iodide, propyl fluoride, propyl chloride, propyl bromide, and Propyl chloride, butyl fluoride, butyl chloride, butyl bromide, butyl iodide, amyl fluoride, amyl chloride, amyl bromide, amyl iodide, hexyl fluoride, hexyl chloride, hexyl bromide, hexyl iodide, fluoride Hebutyl, hebutyl chloride, hebutyl bromide, hebutyl iodide, octyl fluoride, octyl chloride, octyl bromide, octyl iodide, nonyl fluoride, nonyl chloride, nonyl bromide, nonyl iodide, fluoride Decyl, decyl chloride, decyl bromide, decyl iodide, etc. are used. As the aryl halide, for example,
Fluorobenzene, chlorobenzene, bromobenzene,
Iodobenzene, chlorotoluene, bromotoluene, chlornaphthalene, bromonaphthalene, etc. are used.

ハロゲン化スチレンとしては、例えば、クロルスチレン
、ブロムスチレン、ヨードスチレン、フルオルスチレン
、等が用いられる。ハロゲン化ポリメチレンとしては、
例えば、塩化メチレン、臭化メチレン、ヨウ化メチレン
、塩化エチレン、臭化エチレン、ヨウ化エチレン、塩化
トリメチレン、臭化トリメチレン、ヨウ化トリメチレン
、ジ塩化ブタン、ジ臭化ブタン、ショウ化ブタン、ジ塩
化ペンタン、ジ臭化ペンタン、ショウ化ペンタン、ジ塩
化ヘキサン、ジ臭化ヘキサン、ショウ化ヘキサン、ジ塩
化へブタン、ジ臭化へブタン、ショウ化へブタン、ジ塩
化オクタン、ジ臭化オクタン、ショウ化オクタン、ジ塩
化ノナン、ジ臭化ノナン、ジ塩化デカン、ジヨウ化デカ
ン、等が用いられる。へロホルムとしては、例えば、フ
ルオロホルム、クロロホルム、ブロモホルム、ヨードホ
ルム、等が用いられる。
As the halogenated styrene, for example, chlorstyrene, bromustyrene, iodostyrene, fluorostyrene, etc. are used. As halogenated polymethylene,
For example, methylene chloride, methylene bromide, methylene iodide, ethylene chloride, ethylene bromide, ethylene iodide, trimethylene chloride, trimethylene bromide, trimethylene iodide, butane dichloride, butane dibromide, butane shoide, dichloride. Pentane, pentane dibromide, pentane dibromide, hexane dichloride, hexane dibromide, hexane dichloride, hebutane dichloride, hebutane dibromide, hebutane dichloride, octane dichloride, octane dibromide, shodate Octane dichloride, nonane dichloride, nonane dibromide, decane dichloride, decane diiodide, etc. are used. Examples of heloform include fluoroform, chloroform, bromoform, iodoform, and the like.

本発明において化学的修飾物質として含有されるハロゲ
ン原子の量は、全構成原子に対して0゜1乃至25原子
%である。ここで、膜中に含有きれるハロゲン原子の量
は電元素分析の常法、例えばオージェ分析により知る事
ができる。ハロゲン原子の量が0.1原子%より低い場
合には、必ずしも好適な電荷輸送性が保証されず、感度
低下もしくは残留電位の発生等を生じ易くなり、また、
経時的感度安定性も保証されなくなる。ハロゲン原子の
量が25原子%より高い場合には、適量の添加では好適
な電荷輸送性と残留電位発生防止を保証していたハロゲ
ン原子が、逆に、帯電能の低下、ざらには経時後の暗抵
抗を低くする作用を示し、数カ月単位の保管中に電荷保
持能の低下を招く。また、必ずしも成膜性が保証されな
くなり、膜の剥離、油状化もしくは粉体化を招く。従っ
て、本発明におけるハロゲン原子添加量の範囲は重要で
ある。
In the present invention, the amount of halogen atoms contained as a chemical modifier is 0.1 to 25 at.% based on the total constituent atoms. Here, the amount of halogen atoms that can be contained in the film can be determined by a conventional method of electric elemental analysis, such as Auger analysis. If the amount of halogen atoms is lower than 0.1 atomic %, suitable charge transport properties are not necessarily guaranteed, and sensitivity decreases or residual potential is likely to occur, and
Sensitivity stability over time is also no longer guaranteed. When the amount of halogen atoms is higher than 25 at%, the halogen atoms, which had guaranteed suitable charge transport properties and prevention of residual potential generation when added in an appropriate amount, will conversely cause a decrease in charging ability, and even worse over time. It has the effect of lowering the dark resistance of the cell, leading to a decrease in charge retention ability during storage for several months. Furthermore, film-forming properties are not necessarily guaranteed, leading to peeling of the film, oily state, or powdery state. Therefore, the range of the amount of halogen atoms added in the present invention is important.

本発明において化学的修飾物質として含有されるハロゲ
ン原子の量は、主に、プラズマ反応を行なう反応室への
前述のハロゲン化合物の導入量を増減することにより制
御することが可能である。
In the present invention, the amount of halogen atoms contained as a chemical modifier can be controlled mainly by increasing or decreasing the amount of the halogen compound introduced into the reaction chamber in which the plasma reaction is performed.

ハロゲン化合物の導入量を増大させれば、本発明による
a−C膜中へのハロゲン原子の添加量を高くすることが
可能であり、逆にハロゲン化合物の導入量を減少きせれ
ば、本発明にょるa −C膜中へのハロゲン原子の添加
量を低くすることが可能である。
By increasing the amount of halogen compound introduced, it is possible to increase the amount of halogen atoms added to the a-C film according to the present invention, and conversely, by decreasing the amount of halogen compound introduced, the amount of halogen atoms added to the a-C film according to the present invention can be increased. It is possible to reduce the amount of halogen atoms added to the Nyoru a-C film.

本発明においては、a−si膜を形成するためにシラン
ガス、ジシランガス、或は、弗化シランガスが用いられ
る。また、化学的修飾物質として燐原子或は硼素原子を
膜中に含有せしめるための原料ガスとして、ホスフィン
ガス或はジボランガス等が用いられる。ざらに、化学的
修飾物質として炭素原子を膜中に含有せしめるための原
料ガスとして、メタン、エタン、エチレン、アセチレン
、プロパン、プロピレン、ブタン、ブタジェン、ブタジ
イン、ブテン、−酸化炭素、或は、二酸化炭素等の炭素
化合物ガスが用いられる。また、ゲルマニウム原子を含
有させるために、ゲルマンガスが用いられる。
In the present invention, silane gas, disilane gas, or fluorinated silane gas is used to form the a-si film. Furthermore, phosphine gas, diborane gas, or the like is used as a raw material gas for incorporating phosphorus atoms or boron atoms as chemical modifiers into the film. In general, methane, ethane, ethylene, acetylene, propane, propylene, butane, butadiene, butadiyne, butene, carbon oxide, or carbon dioxide can be used as a raw material gas for incorporating carbon atoms as chemical modifiers into the film. A carbon compound gas such as carbon is used. Furthermore, germane gas is used to contain germanium atoms.

本発明におけるa−Si膜中に含有されるゲルマニウム
原子の含有量は、シリコン原子とゲルマニウム原子との
総和に対して、3o原子%以下が好ましい。ここで、ゲ
ルマニウム原子及びシリコン原子の含有率は、元素分析
の常法、例えばオージェ分析により知る事ができる。ゲ
ルマニウム原子の含有量は、膜形成時に流入するゲルマ
ンガスの流量を増加する事により高くなる。ゲルマニウ
ム原子の含有量が高くなるにつれ本発明感光体の長波長
感度は向上し、短波長領域から長波長領域にまで輻広く
露光源が選択され得るようになり好ましいが、ゲルマニ
ウム原子が30原子%より多く含有されると帯電能の低
下を招くため、過剰の添加は好ましくない。従って、本
発明におけるa−Si膜中に含有されるゲルマニウム原
子の含有量は重要である。
The content of germanium atoms contained in the a-Si film in the present invention is preferably 30 at % or less based on the total of silicon atoms and germanium atoms. Here, the contents of germanium atoms and silicon atoms can be determined by a conventional method of elemental analysis, for example, Auger analysis. The content of germanium atoms can be increased by increasing the flow rate of germane gas flowing during film formation. As the content of germanium atoms increases, the long-wavelength sensitivity of the photoreceptor of the present invention improves, and the exposure source can be selected from a wide range from the short wavelength region to the long wavelength region, which is preferable. Excessive addition is not preferable since a larger content will result in a decrease in charging ability. Therefore, the content of germanium atoms contained in the a-Si film in the present invention is important.

本発明において化学的修飾物質として含有される燐原子
或は硼素原子の量は、全構成原子に対して20000原
子ppm以下である。ここで燐原子或は硼素原子の膜中
含有量は、元素分析の常法、例えばオージェ分析或はI
MA分析により知る事ができる。燐原子或は硼素原子の
膜中含有量が2oooo原子ppmより高い場合には、
少量の添加では好適な輸送性、或は、極性制御効果を保
証していた燐原子或は硼素原子が、逆に膜の低抵抗化を
招く作用を示し、帯電能の低下を来たす。従って、本発
明における燐原子或は硼素原子添加量の範囲は重要であ
る。
In the present invention, the amount of phosphorus atoms or boron atoms contained as a chemical modifier is 20,000 atomic ppm or less based on all constituent atoms. Here, the content of phosphorus atoms or boron atoms in the film is determined by a conventional method of elemental analysis, such as Auger analysis or I
This can be known through MA analysis. When the content of phosphorus atoms or boron atoms in the film is higher than 200 atoms ppm,
Phosphorus atoms or boron atoms, which, when added in small amounts, ensure suitable transport properties or polarity control effects, conversely exhibit the effect of lowering the resistance of the film, resulting in a decrease in charging ability. Therefore, the range of the amount of phosphorus atoms or boron atoms added in the present invention is important.

本発明において化学的修飾物質として含有される炭素原
子の量は、全構成原子に対して0.001乃至S原子%
である。ここで炭素原子の膜中含有量は、元素分析の常
法、例えばオージェ分析或はIMA分析により知る事が
できる。炭素原子の膜中含有量が0.001原子%より
低い場合には、a−3t膜の電気抵抗値が低くなる事が
らa−3i膜にコロナ帯電等による電界がかかりにくく
なり、光励起キャリアが必ずしも効率よ<ts −C膜
中に注入されなくなり感度の低下を拓く。また、帯電能
も低下する。炭素原子の膜中含有量が5原子%より高い
場合には、a−Si膜の電気抵抗値が高くなり過ぎ、光
励起キャリアの発生効率の低下及びキャリアの5動速度
の低下により、感度低下を招く。従って、本発明におけ
る炭素原子添加量の範囲は重要である。
In the present invention, the amount of carbon atoms contained as a chemical modifier is from 0.001 to S atomic% based on the total constituent atoms.
It is. Here, the content of carbon atoms in the film can be determined by a conventional method of elemental analysis, such as Auger analysis or IMA analysis. When the content of carbon atoms in the film is lower than 0.001 at%, the electric resistance value of the a-3T film decreases, and the electric field due to corona charging etc. is less likely to be applied to the a-3i film, and photoexcited carriers are It is not necessarily injected into the <ts-C film, which leads to a decrease in sensitivity. Furthermore, the charging ability is also reduced. When the content of carbon atoms in the film is higher than 5 at%, the electrical resistance value of the a-Si film becomes too high, resulting in a decrease in sensitivity due to a decrease in the generation efficiency of photoexcited carriers and a decrease in the carrier velocity. invite Therefore, the range of the amount of carbon atoms added in the present invention is important.

本発明におけるa−Si膜中に含まれる水素原子或は弗
素原子の量はグロー放電を用いるというその製造面から
必然的に定まるが、シリコン原子と水素原子或はシリコ
ン原子と弗素原子の総量に対して、概ね10乃至35原
子%含有される。ここで、水素原子或は弗素原子の膜中
含有量は、元素分析の常法、例えばONH分析、オージ
ェ分析等を用いる事により知る事ができる。
The amount of hydrogen atoms or fluorine atoms contained in the a-Si film of the present invention is necessarily determined from the manufacturing aspect of using glow discharge, but the total amount of silicon atoms and hydrogen atoms or silicon atoms and fluorine atoms On the other hand, the content is approximately 10 to 35 at%. Here, the content of hydrogen atoms or fluorine atoms in the film can be determined by using conventional methods of elemental analysis, such as ONH analysis and Auger analysis.

本発明における電荷発生層としてのa−Si膜の膜厚は
、通常の電子写真プロセスで用いるためには、0.1乃
至5μmが適当であり、0.1μmより薄いと、光吸収
が不十分となり充分な電荷発生が行なわれなくなり、感
度の低下を招く。ま。
The appropriate thickness of the a-Si film as the charge generation layer in the present invention is 0.1 to 5 μm for use in a normal electrophotographic process, and if it is thinner than 0.1 μm, light absorption is insufficient. As a result, sufficient charge generation is not performed, resulting in a decrease in sensitivity. Ma.

た、5μmより厚いと、生産性の面で好ましくない。こ
のa−Si膜は電荷発生能に富み、ざらに、本発明の最
も特徴とするところのa−C膜との積層構成において効
率よ<a−C膜中に発生キャリアを注入せしめ、好適な
明減衰に寄与する事が可能である。
On the other hand, if it is thicker than 5 μm, it is not preferable in terms of productivity. This a-Si film has a rich charge generation ability, and in a laminated structure with the a-C film, which is the most characteristic feature of the present invention, the generated carriers can be injected into the a-C film with high efficiency. It is possible to contribute to brightness attenuation.

本発明における原料気体からa−Si膜を形成する過程
は、a−C膜を形成する場合と同様にして行なわれる。
The process of forming an a-Si film from a raw material gas in the present invention is carried out in the same manner as in the case of forming an a-C film.

本発明において化学的修飾物質として含有される炭素原
子、燐原子、或は、硼素原子の量は、主に、プラズマ反
応を行なう反応室への前述の炭素化合物ガス、ホスフィ
ンガス、或は、ジボランガスの導入量を増減することに
より制御することが可能である。炭素化合物ガス、°ホ
スフィンガス、或は、ジボランガスの導入量を増大させ
れば、本発明によるa−Si膜中への炭素原子、燐原子
、或は、硼素原子の添加量を高くすることが可能であり
、逆に炭素化合物ガス、ホスフィンガス、或ば、ジボラ
ンガスの導入量を減少させれば、本発明によるa−5:
19.中への炭素原子、燐原子、或は、硼素原子の添加
量を低くすることが可能である。
In the present invention, the amount of carbon atoms, phosphorus atoms, or boron atoms contained as chemical modifiers is mainly determined by the amount of carbon compound gas, phosphine gas, or diborane gas introduced into the reaction chamber in which the plasma reaction is performed. It can be controlled by increasing or decreasing the amount of introduced. By increasing the amount of carbon compound gas, phosphine gas, or diborane gas introduced, it is possible to increase the amount of carbon atoms, phosphorus atoms, or boron atoms added to the a-Si film according to the present invention. Possible, and conversely, if the amount of introduced carbon compound gas, phosphine gas, or diborane gas is reduced, a-5 according to the present invention:
19. It is possible to reduce the amount of carbon atoms, phosphorus atoms, or boron atoms added therein.

本発明における感光体は、電荷発生層と電荷輸送層から
成る機能分離型の構成とするのが最適で、該電荷発生層
と該電荷輸送層の積層構成は、必要に応じて適宜選択す
ることが可能である。
It is optimal for the photoreceptor in the present invention to have a functionally separated structure consisting of a charge generation layer and a charge transport layer, and the laminated structure of the charge generation layer and the charge transport layer may be appropriately selected as necessary. is possible.

第1図は、その一形態として、導電性基板(1)上に電
荷輸送層(2)と電荷発生層(3)を順次積層してなる
構成を示したものである。第2図は、別の一形態として
、導電性基板(1)上に電荷発生層(3)と電荷輸送層
(2)を順次積層してなる構成を示したものである。第
3図は、別の一形態として、導電性基板(1)上に、電
荷輸送層(2) と電荷発生層(3)と電荷輸送層(2
)を順次積層してなる構成を示したものである。
FIG. 1 shows, as one embodiment, a structure in which a charge transport layer (2) and a charge generation layer (3) are sequentially laminated on a conductive substrate (1). FIG. 2 shows, as another embodiment, a structure in which a charge generation layer (3) and a charge transport layer (2) are sequentially laminated on a conductive substrate (1). FIG. 3 shows, as another form, a charge transport layer (2), a charge generation layer (3), and a charge transport layer (2) on a conductive substrate (1).
) are sequentially laminated.

感光体表面を、例えばコロナ帯電器等により正帯電した
後、画像露光して使用する場合においては、第1図では
電荷発生FJ (3)で発生した正孔が電荷輸送層(2
)中を導電性基板(1)に向は走行し、第2図では電荷
発生層(3)で発生した電子が電荷輸送層(2)中を感
光体表面に向は走行し、第3図では電荷発生層(3)で
発生した正孔が導電性基板側の電荷輸送層(2)中を導
電性基板(1)に向は走行すると共に、同時に電荷発生
層(3)で発生した電子が表面側の電荷輸送層(2)中
を感光体表面に向は走行し、好適な明減衰に保証きれた
静電潜像の形成が行なわれる。反対に感光体表面を負帯
電した後、画像露光して使用する場合においては、電子
と正孔の挙動を入れ代えて、キャリアーの走行性を解す
ればよい。第2図及び第3図では、画像露光用の照射光
が電荷輸送層中を通過する事になるが、本発明による電
荷輸送層は透光性に優れることから、好適な潜像形成を
行なうことが可能である。
When the surface of the photoreceptor is positively charged with, for example, a corona charger, and then used for image exposure, the holes generated in the charge generation FJ (3) in FIG.
), electrons generated in the charge generation layer (3) travel through the charge transport layer (2) toward the photoreceptor surface, and in FIG. In this case, holes generated in the charge generation layer (3) travel toward the conductive substrate (1) through the charge transport layer (2) on the conductive substrate side, and at the same time, electrons generated in the charge generation layer (3) travel toward the conductive substrate (1). travels through the charge transport layer (2) on the front side towards the surface of the photoreceptor, forming an electrostatic latent image with proper brightness attenuation. On the other hand, when the surface of the photoreceptor is negatively charged and then used for image exposure, the behavior of electrons and holes can be exchanged to understand the mobility of carriers. In FIGS. 2 and 3, the irradiation light for image exposure passes through the charge transport layer, but since the charge transport layer according to the present invention has excellent translucency, it forms a suitable latent image. Is possible.

第4図は、ざらなる一形態として、導電性基板(1)上
に電荷輸送層(2)と電荷発生層(3)と表面保護層(
4)を順次積層してなる構成を示したものである。即ち
第1図の形態に表面保護層を設けた形態に相当するが、
第1図の形態では、最表面が耐湿性に乏しいa−Si膜
で有ることから、多くの場合実用上の対湿度安定性を確
保するために表面保護層を設けることが好ましい。第2
図及び第3図の構成の場合、最表面が耐久性に優れたa
−C膜であるため表面保護層を設けなくてもよいが、例
えば現像剤の付着による感光体表面の汚れを防止するよ
うな、複写機内の各種エレメントに対する整合性を調整
する目的から、表面保護層を設けることもざらなる一形
態と成りうる。
FIG. 4 shows a conductive substrate (1), a charge transport layer (2), a charge generation layer (3) and a surface protective layer (
4) is shown in a structure formed by sequentially stacking them. In other words, it corresponds to the form shown in Fig. 1 with a surface protective layer provided, but
In the form of FIG. 1, since the outermost surface is an a-Si film with poor moisture resistance, in many cases it is preferable to provide a surface protective layer in order to ensure practical humidity stability. Second
In the case of the configurations shown in Figures and Figure 3, the outermost surface is a with excellent durability.
- Since it is a C film, there is no need to provide a surface protective layer, but for the purpose of adjusting the consistency with various elements in the copying machine, such as preventing stains on the surface of the photoreceptor due to adhesion of developer, surface protection Providing layers can also be an alternative form.

第5図は、ざらなる一形態として、導電性基板(1)上
に中間層(5)と電荷発生層(3)と電荷輸送層(2)
を順次積層してなる構成を示したものである。即ち第2
図の形態に中間層を設けた形態に相当するが、第2図の
形態では、導電性基板との接合面がa−3i膜である事
から、多くの場合接着性及び注入阻止効果を確保するた
めに中間層を設ける事が好ましい。第1図及び第3図の
構成の場合、導電性基板との接合面が、接着性及び注入
阻止効果に優れた、本発明による電荷輸送層であるため
、中間層を設けなくてもよいが、例えば導電性基板の前
処理方法のような、感光層形成以前の製造工程との整合
性を調整する目的から、中間層を設けることもさらなる
一形態と成りうる。
FIG. 5 shows an intermediate layer (5), a charge generation layer (3), and a charge transport layer (2) on a conductive substrate (1) as a rough form.
This figure shows a structure in which these are sequentially laminated. That is, the second
This corresponds to the form shown in the figure with an intermediate layer provided, but in the form shown in Fig. 2, the bonding surface with the conductive substrate is an a-3i film, which ensures adhesiveness and injection blocking effect in most cases. It is preferable to provide an intermediate layer for this purpose. In the case of the configurations shown in FIGS. 1 and 3, since the bonding surface with the conductive substrate is the charge transport layer according to the present invention, which has excellent adhesiveness and injection blocking effect, it is not necessary to provide an intermediate layer. For the purpose of adjusting compatibility with the manufacturing process before forming the photosensitive layer, such as a pre-treatment method for a conductive substrate, an intermediate layer may be provided as a further form.

第6図は、ざらなる一形態として、導電性基板(1)上
に中間層(5)と電荷輸送層(2)と電荷発生層(3)
と表面保護層(4)を順次積層してなる構成を示したも
のである。即ち第1図の形態に中間層と表面保護層を設
けた形態に相当する。
FIG. 6 shows, as a rough form, an intermediate layer (5), a charge transport layer (2), and a charge generation layer (3) on a conductive substrate (1).
This figure shows a structure in which a surface protection layer (4) and a surface protection layer (4) are sequentially laminated. That is, it corresponds to the form shown in FIG. 1 with an intermediate layer and a surface protective layer provided.

中間層と表面保護層の設置理由は前述と同様であり、従
って第2図及び第3図の構成において中間層と表面保護
層を設けることもざらなる一形態と成りうる。
The reason for providing the intermediate layer and the surface protective layer is the same as described above, and therefore, providing the intermediate layer and the surface protective layer in the configurations shown in FIGS. 2 and 3 can be an alternative form.

本発明において中間層と表面保護層は、材料的にも、製
法的にも、特に限定を受けるものではなく所定の目的が
達せられるものであれば、適宜選択することが可能であ
る。本発明によるa−C膜を用いてもよい。但し、用い
る材料が、例えば従来例で述べた如き絶縁性材料である
場合には、残留電位発生の防止のため膜厚は5μm以下
に留める必要がある。
In the present invention, the intermediate layer and the surface protective layer are not particularly limited in terms of material or manufacturing method, and can be appropriately selected as long as a predetermined purpose can be achieved. An a-C film according to the invention may also be used. However, if the material used is, for example, an insulating material as described in the conventional example, the film thickness must be kept at 5 μm or less to prevent generation of residual potential.

本発明による感光体の電荷輸送層は、気相状態の分子を
減圧下で放電分解し、発生したプラズマ雰囲気中に含ま
れる活性中性種あるいは荷電様を基板上に拡散、電気力
、あるいは磁気力等により誘導し、基板上での再結合反
応により固相として堆積させる、所謂プラズマ重合反応
から生成される事が好ましい。
The charge transport layer of the photoreceptor according to the present invention decomposes molecules in the gas phase by discharge under reduced pressure, and diffuses active neutral species or charged species contained in the generated plasma atmosphere onto the substrate, using electric force or magnetism. It is preferable that the polymer be generated by a so-called plasma polymerization reaction, which is induced by force or the like and deposited as a solid phase by a recombination reaction on a substrate.

第7図は本発明に係わる感光体の製造装置を示し、図中
(701)〜(706)は常温において気相状態にある
原料化合物及びキャリアガスを密封した第1乃至第6タ
ンクで、各々のタンクは第1乃至第6調節弁(707)
〜(712)と第1乃至第6流量制御器(713)〜(
718)に接続されている。図中(719)〜(721
)は常温において液相または固相状態にある原料化合物
を封入した第1乃至第3容器で、各々の容器は気化のた
め第1乃至第3温調器(722)〜(724)により与
熱可能であり、ざらに各々の容器は第7乃至第9調節弁
(725)〜(727)と第7乃至第9流量制御器(7
28)〜(730)に接続されている。これらのガスは
混合器(731)で混合された後、主管(732)を介
して反応室(733)に送り込まれる。途中の配管は、
常温において液相または固相状態にあった原料化合物が
気化したガスが、途中で凝結しないように、適宜配置さ
れた配管加熱器(734)により、与熱可能とされてい
る。反応室内には接地電極(735)と電力印加電極(
736)が対向して設置され、各々の電極は電極加熱器
(737)により与熱可能とされている。電力印加電極
(736)には、高周波電力用整合器(738)を介し
て高周波電源(739)、低周波電力用整合器(740
)を介して低周波電源(741)、ローパスフィルタ(
742)を介して直流電源(743)が接続きれており
、接続選択スイッチ(744)により周波数の異なる電
力が印加可能とされている。反応室(733)内の圧力
は圧力制御弁(745)により調整可能であり、反応室
(733)内の減圧は、排気系選択弁(746)を介し
て、拡散ポンプ(747) 、油回転ポンプ(748)
 、或は、冷却除外装置(749) 、メカニカルブー
スターポンプ(750)、油回転ポンプ(748)によ
り行なわれる。排ガスについては、ざらに適当な除外装
置(753)により安全無害化した後、大気中に排気き
れる。これら排気系配管についても、常温において液相
または固相状態にあった原料化合物が気化したガスが、
途中で凝結しないように、適宜配置された配管加熱器(
734)により、与熱可能とされている。反応室(73
3)も同様の理由から反応室加熱器(751)により与
熱可能とされ、内部に配きれた電極上に導電性基板(7
52)が設置される。第7図において導電性基板(75
2)は接地電極(735)に固定して配されているが、
電力印加電極(736)に固定して配されてもよく、ざ
らに双方に配されてもよい。
FIG. 7 shows a photoconductor manufacturing apparatus according to the present invention, and in the figure (701) to (706) are first to sixth tanks in which the raw material compound and carrier gas, which are in a gas phase at room temperature, are sealed, respectively. The tanks are the first to sixth control valves (707)
〜(712) and the first to sixth flow rate controllers (713)〜(
718). (719) to (721) in the figure
) are first to third containers filled with raw material compounds that are in a liquid or solid state at room temperature, and each container is heated by the first to third temperature controllers (722) to (724) for vaporization. Roughly speaking, each container has seventh to ninth control valves (725) to (727) and seventh to ninth flow rate controllers (727).
28) to (730). These gases are mixed in a mixer (731) and then sent into a reaction chamber (733) via a main pipe (732). The pipes along the way are
Heat can be applied to the gas obtained by vaporizing the raw material compound, which is in a liquid or solid phase at room temperature, by an appropriately placed pipe heater (734) so as not to condense on the way. Inside the reaction chamber, there is a ground electrode (735) and a power application electrode (
736) are installed facing each other, and each electrode can be heated by an electrode heater (737). A high frequency power supply (739) and a low frequency power matching box (740) are connected to the power applying electrode (736) via a matching box for high frequency power (738).
), low frequency power supply (741), low pass filter (
A DC power source (743) is connected via a power source (742), and power with different frequencies can be applied by a connection selection switch (744). The pressure inside the reaction chamber (733) can be adjusted by a pressure control valve (745), and the pressure inside the reaction chamber (733) can be reduced through an exhaust system selection valve (746), a diffusion pump (747), and an oil rotary valve. Pump (748)
, or by a cooling exclusion device (749), a mechanical booster pump (750), or an oil rotary pump (748). The exhaust gas is made safe and harmless by a suitable exclusion device (753) and then exhausted into the atmosphere. Regarding these exhaust system piping, the gas that is the vaporized raw material compound that was in the liquid or solid phase at room temperature is
Appropriately placed pipe heaters (
734), heat can be applied. Reaction chamber (73
3) can also be heated by the reaction chamber heater (751) for the same reason, and a conductive substrate (751) is placed on the electrodes arranged inside.
52) is installed. In FIG. 7, a conductive substrate (75
2) is fixed to the ground electrode (735),
They may be fixedly arranged on the power application electrode (736), or may be arranged roughly on both sides.

第8図は本発明に係わる感光体の製造装置の別の一形態
を示し、反応室(833)内部の形態以外は、第7図に
示した本発明に係わる感光体の製造装置と同様であり、
付記された番号は、700番台のものを800番台に置
き換えて解すればよい。第8図において、反応室(83
3)内部には、第7図における接地電極(735)を兼
ねた円筒形の導電性基板(852)が設置され、内側に
は電極加熱器(837)が配されている。導電性基板(
852)周囲には同じく円筒形状をした電力印加電極(
836)が配され、外側には電極加熱器(83?)が配
きれている。導電性基板(852)は、外部より駆動モ
ータ(854)を用いて自転可能となっている。
FIG. 8 shows another embodiment of the photoconductor manufacturing apparatus according to the present invention, which is similar to the photoconductor manufacturing apparatus according to the present invention shown in FIG. 7 except for the internal configuration of the reaction chamber (833). can be,
The appended numbers can be understood by replacing the 700s with 800s. In FIG. 8, the reaction chamber (83
3) A cylindrical conductive substrate (852) that also serves as the ground electrode (735) in FIG. 7 is installed inside, and an electrode heater (837) is placed inside. Conductive substrate (
852) There is also a cylindrical power application electrode (
836) is arranged, and an electrode heater (83?) is arranged on the outside. The conductive substrate (852) is rotatable using an external drive motor (854).

感光体製造に供する反応室は、拡散ポンプにより予め1
0−4乃至1O−6Torr程度にまで減圧し、真空度
の確認と装置内部に吸着したガスの脱着を行なう。同時
にII!極加熱器により、電極並びに電極に固定して配
きれた導電性基板を所定の温度まで昇温する。導電性基
板には、前述の如き感光体構成ゐ中から所望の構成を得
るために、必要であれば、予めアンダーコート層或は電
荷発生層を設けて置いてもよい。アンダーコート層或は
電荷発生層の設置には、本装置を用いてもよいし別装置
を用いてもよい。次いで、第1乃至第6タンク及び第1
乃至第3容器から、原料ガスを適宜第1乃至第9流量制
御器を用いて定流量化しながら反応室内に導入し、圧力
調節弁により反応室内を一定の減圧状態に保つ。ガス流
量が安定化した後、接続選択スイッチにより、例えば高
周波電源を選択し、電力印加電極に高周波電力を投入す
る。両電極間には放電が開始され、時間と共に基板上に
固相の膜が形成される。a−Si膜或はa−C膜は、原
料ガスを代える事により任意に形成可能である。放電を
一旦停止し、原料ガス組成を変更した後、再び放電を再
開すれば異なる組成の膜を積層する事ができる。また、
放電を持続させながら原料ガス流量だけを徐々に代え、
異なる組成の膜を勾配を持たせながら積層する事も可能
である。
The reaction chamber used for photoreceptor production is preliminarily heated by a diffusion pump.
The pressure is reduced to about 0-4 to 10-6 Torr, and the degree of vacuum is confirmed and the gas adsorbed inside the device is desorbed. II at the same time! The electrode and the conductive substrate fixedly disposed on the electrode are heated to a predetermined temperature using a polar heater. If necessary, an undercoat layer or a charge generation layer may be provided in advance on the conductive substrate in order to obtain a desired structure from among the above-mentioned photoreceptor structures. The present apparatus or a separate apparatus may be used to provide the undercoat layer or the charge generation layer. Next, the first to sixth tanks and the first
The raw material gases are introduced into the reaction chamber from the third to third containers while being kept at a constant flow rate using the first to ninth flow rate controllers, and the inside of the reaction chamber is maintained at a constant reduced pressure by the pressure regulating valve. After the gas flow rate is stabilized, a connection selection switch is used to select, for example, a high frequency power source, and high frequency power is applied to the power application electrode. A discharge is started between the two electrodes, and a solid phase film is formed on the substrate over time. The a-Si film or the a-C film can be formed arbitrarily by changing the source gas. Films with different compositions can be laminated by once stopping the discharge, changing the source gas composition, and then restarting the discharge. Also,
Gradually change only the raw material gas flow rate while sustaining the discharge,
It is also possible to stack films with different compositions with a gradient.

反応時間により膜厚を制御し、所定の膜厚並びに積層構
成に達したところで放電を停止し、本発明による感光体
を得る。次いで、第1乃至第9調節弁を閉じ、反応室内
を充分に排気する。ここで所望の感光体構成が得られる
場合には厚化室内の真空を破り、反応室より本発明によ
る感光体を取り出す。更に所望の感光体構成において、
電荷発生層或はオーバーコート層が必要とされる場合に
は、そのまま本装置を用いるか、或は同様に一旦真空を
破り取り出して別装置に移してこれらの層を設け、本発
明による感光体を得る。
The film thickness is controlled by the reaction time, and when a predetermined film thickness and laminated structure are reached, the discharge is stopped to obtain a photoreceptor according to the present invention. Next, the first to ninth control valves are closed to sufficiently exhaust the inside of the reaction chamber. If the desired photoreceptor configuration is obtained, the vacuum in the thickening chamber is broken and the photoreceptor according to the present invention is taken out from the reaction chamber. Furthermore, in a desired photoreceptor configuration,
If a charge generation layer or an overcoat layer is required, the photoreceptor according to the present invention can be fabricated by using the present device as is, or by breaking the vacuum and transferring it to another device to provide these layers. get.

以下実施例を挙げながら、本発明を説明する。The present invention will be described below with reference to Examples.

叉旅グ1 本発明に係わる製造装置を用いて、第1図に示す如き、
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの順に設けた
本発明感光体を作製した。
Cross trip 1 Using the manufacturing apparatus according to the present invention, as shown in FIG.
A photoreceptor of the present invention was prepared in which a conductive substrate, a charge transport layer, and a charge generation layer were provided in this order.

電荷輸送層形成工程: 第7図に示すグロー放電分解装置において、まず、反応
装置(733)の内部を10−6To r r程度の高
真空にした後、第1、第3、及び第4調節弁(707,
709、及び710)を解放し、第1タンク(701)
より水素ガス、第3タンク(703)より窒素ガス、及
び第4タンク(T。
Charge transport layer forming step: In the glow discharge decomposition apparatus shown in FIG. Valve (707,
709 and 710), and the first tank (701)
hydrogen gas from the tank, nitrogen gas from the third tank (703), and nitrogen gas from the fourth tank (T.

4)より四弗化炭素ガスを各々出力圧1.0Kg/cm
2の下で第1、第3、及び第4流量制御器(713,7
15、及び716)内へ流入きせた。
4) Each output pressure of carbon tetrafluoride gas is 1.0 Kg/cm.
2, the first, third, and fourth flow controllers (713, 7
15, and 716).

同時に、第1容器(719)よりスチレンガスを第1温
調器(722)温度35℃のもとて第7流量制陣器(7
28)内へ流入させた。そして各流量制御器の目盛を調
整して、水素ガスの流量を60secmsスチレンガス
の流量を30secm1窒素ガスの流量を8secms
及び四弗化炭素ガスの流量が30secmとなるように
設定して、途中混合器(731)を介して、主管(73
2)より反応室(733)内へ流入した。各々の流量が
安定した後に、反応室(733)内の圧力が2゜0To
rrとなるように圧力調節弁(745)を調整した。一
方、導電性基板(752)としては、樅50X横50×
厚3mmのアルミニウム基板を用いて、予め180℃に
加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定した状態で、予
め接続選択スイッチ(744)により接続しておいた低
周波電源(741)を投入し、電力印加電極(736)
に200Wattの電力を周波数170KHzの下で印
加して約50分間プラズマ重合反応を行ない、導電性基
板(752)上に厚ざ15μmのa −C膜を電荷輸送
層として形成した。成膜完了後は、電力印加を停止し、
調節弁を閉じ、反応室(733)内を充分に排気した。
At the same time, styrene gas is supplied from the first container (719) to the first temperature controller (722) at a temperature of 35°C, and the seventh flow rate controller (7
28) It was allowed to flow into the interior. Then, adjust the scales of each flow rate controller to set the hydrogen gas flow rate to 60 seconds, the styrene gas flow rate to 30 seconds, and the nitrogen gas flow rate to 8 seconds.
The flow rate of carbon tetrafluoride gas is set to 30 sec, and the main pipe (73
2) into the reaction chamber (733). After each flow rate stabilizes, the pressure inside the reaction chamber (733) reaches 2°0 To
The pressure regulating valve (745) was adjusted so that rr. On the other hand, as a conductive substrate (752), fir 50× horizontal 50×
Using a 3 mm thick aluminum substrate, preheat it to 180°C, and with the gas flow rate and pressure stable, turn on the low frequency power supply (741) that was previously connected using the connection selection switch (744). , power application electrode (736)
A power of 200 Watts was applied at a frequency of 170 KHz to perform a plasma polymerization reaction for about 50 minutes, thereby forming an a-C film with a thickness of 15 μm as a charge transport layer on the conductive substrate (752). After completing the film formation, stop applying power and
The control valve was closed and the inside of the reaction chamber (733) was sufficiently evacuated.

以上のようにして得られたa −C膜につき有機元素分
析を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原
子と水素原子の総量に対して47原子%、また、オージ
ェ分析より含有されるハロゲン原子、即ち、弗素原子の
量は全構成原子に対して6.1原子%、さらに、窒素原
子の量は全構成原子に対して2.1原子%であった。
Organic elemental analysis was performed on the a-C film obtained as described above, and the amount of hydrogen atoms contained was 47 at% based on the total amount of carbon atoms and hydrogen atoms. The amount of halogen atoms, that is, fluorine atoms, was 6.1 atomic % based on the total constituent atoms, and the amount of nitrogen atoms was 2.1 atomic % based on the total constituent atoms.

電荷発生層形成工程: 次いで、一部タンクを交換し、第1調節弁(707)、
第2調節弁(708) 、第5調節弁(711)、及び
第6調節弁(712)を解放し、第1タンク(701)
から水素ガス、第2タンク(702)からゲルマンガス
、第5タンク(705)からメタンガス、及び第6タン
ク(706)からシランガスを、出力圧IKg/cm2
の下で第1、第2、第5、及び第6流量制都N(713
,714,717、及び718)内へ流入させた。
Charge generation layer forming step: Next, some of the tanks are replaced, and the first control valve (707),
The second control valve (708), the fifth control valve (711), and the sixth control valve (712) are released, and the first tank (701) is opened.
hydrogen gas, germane gas from the second tank (702), methane gas from the fifth tank (705), and silane gas from the sixth tank (706), output pressure IKg/cm2.
Under the 1st, 2nd, 5th, and 6th flow control capital N (713
, 714, 717, and 718).

同時に、第4調節弁(710)を解放し、第4タンク(
704)より水素ガスで1100ppに希釈きれたジボ
ランガスを、出力圧1.5Kg/cm2の下で第4流量
制御器(716)内へ、流入させた。各流量制御器の目
盛を調整して水素ガスの流量を200secm、ゲルマ
ンガスの流量を6S CCm %メタンガスの流量を1
0105e、シランガスの流量を101005e、水素
ガスで1100ppに希釈されたジボランガスの流量を
101005eに設定し、反応室(733)内に流入さ
せた。各々の流量が安定した後に、反応室(733)内
の圧力が0.8Torrとなるように圧力調節弁(74
5)を調整した。一方、a−C膜が形成されている導電
性基板(752)は、250℃に加熱しておき、ガス流
量及び圧力が安定した状態で、高周波電源(739)よ
り周波数13.56MHzの下で電力印加電極(736
)に40Wattの電力を印加し、グロー放電を発生さ
せた。この放電を5分間行ない、厚き0.3μmの電荷
発生層を得た。
At the same time, the fourth control valve (710) is released and the fourth tank (
Diborane gas diluted to 1100 pp with hydrogen gas from 704) was flowed into the fourth flow rate controller (716) under an output pressure of 1.5 Kg/cm2. Adjust the scale of each flow rate controller to set the hydrogen gas flow rate to 200 sec, the germane gas flow rate to 6S CCm%, and the methane gas flow rate to 1.
0105e, the flow rate of silane gas was set to 101005e, and the flow rate of diborane gas diluted to 1100 pp with hydrogen gas was set to 101005e, and these were flowed into the reaction chamber (733). After each flow rate is stabilized, the pressure regulating valve (74) is adjusted so that the pressure in the reaction chamber (733) becomes 0.8 Torr.
5) was adjusted. On the other hand, the conductive substrate (752) on which the a-C film is formed is heated to 250°C, and is heated at a frequency of 13.56 MHz from a high frequency power source (739) while the gas flow rate and pressure are stable. Power application electrode (736
) was applied with a power of 40 Watts to generate glow discharge. This discharge was carried out for 5 minutes to obtain a charge generation layer with a thickness of 0.3 μm.

得られたa−3i膜につき、金属中ONH分析(堀場製
作所製EMGA−1300) 、オージェ分析、及びI
MA分析を行なったところ、含有される水素原子は全構
成原子に対して24原子%、硼素原子は95原子ppm
、炭素原子は1.0原子%、ゲルマニウム原子は10.
5原子%であった。
The obtained a-3i film was subjected to ONH analysis in metal (EMGA-1300 manufactured by Horiba), Auger analysis, and I
When MA analysis was performed, the hydrogen atoms contained were 24 atomic % and the boron atoms were 95 atomic ppm based on the total constituent atoms.
, carbon atoms are 1.0 at%, germanium atoms are 10.
It was 5 at%.

特性: 得られた感光体を常用のカールソンプロセスの中で負帯
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一700V (+660V)で有り、即ち、
全感光体M厚が15゜3μmであることから1μm当り
の帯電能は46V/μm(43V/μm)と極めて高く
、このことから充分な帯電性能を有する事が理解された
Characteristics: When the obtained photoreceptor was used with both negative and positive charging in a conventional Carlson process, the following performance was obtained. Here, the measured values during positive charging are shown in parentheses, and the highest charging potential is -700V (+660V), that is,
Since the total thickness of the photoreceptor M was 15.degree. 3 .mu.m, the charging ability per 1 .mu.m was extremely high at 46 V/.mu.m (43 V/.mu.m), and from this it was understood that the photoreceptor had sufficient charging performance.

また、暗中にてVmaxからVmaxの90%の表面電
位にまで暗減衰するのに要した時間は約17秒(約16
秒)であ灼、このことから充分な電荷保持性能を有する
事が理解された。また、最高帯電電位に初期帯電した後
、白色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位にま
で明減衰させたとこる必要とされた光量は1.8ルツク
ス・秒(2,9ルツクス・秒)であり、このことから充
分な光感度性能を有する事が理解された。
In addition, the time required for dark decay from Vmax to 90% of Vmax in the dark was approximately 17 seconds (approximately 16 seconds).
It was understood from this that it had sufficient charge retention performance. In addition, after initial charging to the highest charging potential, white light was used to brightly attenuate the surface potential to 20% of the highest charging potential.The amount of light required was 1.8 lux·sec (2.9 lux・seconds), and from this it was understood that it had sufficient photosensitivity performance.

以上より、本例に示した本発明による感光体は、感光体
として優れた性能を有するものである事が理解きれる。
From the above, it can be understood that the photoreceptor according to the present invention shown in this example has excellent performance as a photoreceptor.

また、この感光体に対して常用のカールソンプロセスの
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
Further, when an image was formed and transferred to this photoreceptor using the commonly used Carlson process, a clear image was obtained.

実施例2 本発明に係わる製造装置を用いて、第1図に示す如き、
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの頭に設けた
本発明感光体を作製した。
Example 2 Using the manufacturing apparatus according to the present invention, as shown in FIG.
A photoreceptor of the present invention was prepared in which a conductive substrate, a charge transport layer, and a charge generation layer were provided on the head.

電荷輸送層形成工程: 第7図に示すグロー放電分解装置において、まず、反応
装置(733)の内部を10=To r r程度の高真
空にした後、第1、第2、第3、及び第4調節弁(70
7,708,709、及び71O)を解放し、第1タン
ク(701)より水素ガス、第2タンク(702)より
エヂレンガス、第3タンク(703)より亜酸化窒素ガ
ス及び第4タンク(704)より四塩化炭素ガスを各々
出力圧1.0Kg/cm2の下で第1、第2、第3、及
び第4流量制御器(713,714,715、及び71
6)内へ流入させた。そして各流量制御器の目盛を調整
して、水素ガスの流量を60secm1エチレンガスの
流量を60secm、亜酸化窒素ガスの流量を16sc
cm、及び四塩化炭素ガスの流量が20secmとなる
ように設定して、途中混合器(731)を介して、主管
(732)より反応室(733)内へ流入した。各々の
流量が安定した後に、反応室(733)内の圧力が2゜
0Torrとなるように圧力調節弁(745)を調整し
た。一方、導電性基板(752)としては、樅50X横
50×厚3mmのアルミニウム基板を用いて、予め24
0℃に加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定した状態
で、予め接続選択スイッf (744)により接続して
おいた高周波電源(739)を投入し、電力印加電極(
736)に200Wattの電力を周波数13.56M
Hzの下で印加して約5時間プラズマ重合反応を行ない
、導電性基板(752)上に厚き15μmのa−C膜を
電荷輸送層として形成した。成膜完了後は、電力印加を
停止し、調節弁を閉じ、反応室(733)内を充分に排
気した。
Charge transport layer forming step: In the glow discharge decomposition apparatus shown in FIG. 4th control valve (70
7, 708, 709, and 71O), hydrogen gas from the first tank (701), air gas from the second tank (702), nitrous oxide gas from the third tank (703), and fourth tank (704). The first, second, third, and fourth flow rate controllers (713, 714, 715, and 71
6) Allowed to flow into the interior. Then, adjust the scale of each flow rate controller to set the flow rate of hydrogen gas to 60 seconds, the flow rate of ethylene gas to 60 seconds, and the flow rate of nitrous oxide gas to 16 seconds.
cm, and the flow rate of carbon tetrachloride gas was set to be 20 seconds, and flowed into the reaction chamber (733) from the main pipe (732) via an intermediate mixer (731). After each flow rate became stable, the pressure control valve (745) was adjusted so that the pressure in the reaction chamber (733) was 2°0 Torr. On the other hand, as the conductive substrate (752), an aluminum substrate measuring 50 mm x 50 mm x 3 mm in thickness was used.
After heating to 0°C and with the gas flow rate and pressure stable, turn on the high frequency power supply (739) that was previously connected using the connection selection switch f (744), and connect the power application electrode (
736) with a power of 200 Watts at a frequency of 13.56M.
A plasma polymerization reaction was performed for about 5 hours by applying a voltage of Hz to form a 15 μm thick a-C film as a charge transport layer on the conductive substrate (752). After the film formation was completed, power application was stopped, the control valve was closed, and the inside of the reaction chamber (733) was sufficiently evacuated.

以上のようにして得られたa−CMにつき有機元素分析
を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原子
と水素原子の総量に対して43原子%、また、オージェ
分析より含有きれるハロゲン原子、即ち、塩素原子の量
は全構成原子に対して5.0原子%、ざらに、窒素原子
の量は全構成原子に対して1.0原子%であった。
Organic elemental analysis was performed on the a-CM obtained as described above, and the amount of hydrogen atoms contained was 43 at% based on the total amount of carbon atoms and hydrogen atoms. The amount of atoms, that is, the amount of chlorine atoms was 5.0 at % based on the total constituent atoms, and the amount of nitrogen atoms was roughly 1.0 at % based on the total constituent atoms.

電荷発生層形成工程: 次いで、一部タンクを交換し、第1調節弁(707)、
第5調節弁(711L及び第6調節弁(712)を解放
し、第1タンク(701)から水素ガス、第2タンク(
702)からゲルマンガス、第5タンク(705)から
エタンガス、及び第6タンク(706)からシランガス
を、出力圧IKg/cm2の下で第1、第2、第5、及
び第6流量制御器(713,714,717、及び71
8)内へ流入させた。同時に、第4調節弁(710)を
解放し、第4タンク(704)より水素ガスで1100
ppに希釈きれたジボランガスを、出力圧1.5Kg/
am2の下で第4流量制御器(716)内へ、流入させ
な。各流量制御器の目盛を調整して水素ガスの流量を2
00secm。
Charge generation layer forming step: Next, some of the tanks are replaced, and the first control valve (707),
The fifth control valve (711L) and the sixth control valve (712) are released, and hydrogen gas is transferred from the first tank (701) to the second tank (711L).
germane gas from the fifth tank (702), ethane gas from the fifth tank (705), and silane gas from the sixth tank (706) through the first, second, fifth, and sixth flow rate controllers ( 713, 714, 717, and 71
8) It was allowed to flow into the interior. At the same time, the fourth control valve (710) is released and hydrogen gas is supplied from the fourth tank (704) to 1,100 yen.
Diborane gas diluted to PP is output at an output pressure of 1.5 kg/
do not flow into the fourth flow controller (716) under am2. Adjust the scale of each flow rate controller to increase the hydrogen gas flow rate to 2.
00sec.

ゲルマンガスの流量を10105e、エタンガスの流量
を3secm、シランガスの流量を1001005c水
素ガスで1100ppに希釈されたジボランガスの流量
を10105eに設定し、反応室(733)内に流入さ
せた。各々の流量が安定した後に、反応室(733)内
の圧力が0.9Torrとなるように圧力調節弁(74
5)を調整した。一方、a −C膜が形成されている導
電性基板(752)は、240℃に加熱しておき、ガス
流量及び圧力が安定した状態で、高周波電源(739)
より周波数13.56MHzの下で電力印加電極(73
6)に45Wattの電力を印加し、グロー放電を発生
させた。この放電を5分間行ない、厚き0.3μmの電
荷発生層を得た。
The flow rate of germane gas was set to 10105e, the flow rate of ethane gas was set to 3 seconds, the flow rate of silane gas was set to 1001005c, and the flow rate of diborane gas diluted to 1100 pp with hydrogen gas was set to 10105e, and the flow rates were made to flow into the reaction chamber (733). After each flow rate stabilizes, the pressure regulating valve (74) is adjusted so that the pressure in the reaction chamber (733) becomes 0.9 Torr.
5) was adjusted. On the other hand, the conductive substrate (752) on which the a-C film is formed is heated to 240°C, and the high-frequency power source (739) is heated to stabilize the gas flow rate and pressure.
The power application electrode (73
6), a power of 45 Watts was applied to generate glow discharge. This discharge was carried out for 5 minutes to obtain a charge generation layer with a thickness of 0.3 μm.

得られたa−3i膜につき、金属中ONH分析(堀場製
作所製EMGA−1300) 、オージェ分析、及びI
MA分析を行なったところ、含有きれる水素原子は全構
成原子に対して21原子%、硼素原子は11原子ppm
1炭素原子は0.3原子%、ゲルマニウム原子は15.
7原子%であった。
The obtained a-3i film was subjected to ONH analysis in metal (EMGA-1300 manufactured by Horiba), Auger analysis, and I
According to MA analysis, the hydrogen atoms that can be contained are 21 at% of the total constituent atoms, and the boron atoms are 11 at ppm.
1 carbon atom is 0.3 at%, germanium atom is 15.
It was 7 at%.

特性: 得られた感光体を常用のカールソンプロセスの中で負帯
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一570V (+570V)で有り、即ち、
全感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当り
の帯電能は37V/μm(37V/μm)と極めて高く
、このことから充分な帯電性能を有する事が理解された
Characteristics: When the obtained photoreceptor was used with both negative and positive charging in a conventional Carlson process, the following performance was obtained. Here, the measured values during positive charging are shown in parentheses, and the highest charging potential is -570V (+570V), that is,
Since the total photoreceptor film thickness was 15.degree. 3 .mu.m, the charging ability per 1 .mu.m was extremely high at 37 V/.mu.m (37 V/.mu.m), and from this it was understood that the photoreceptor had sufficient charging performance.

また、暗中にてVmaxからVmaxの9096の表面
電位にまて暗減衰するのに要した時間は約14秒(約1
3秒)であり、このことから充分な電荷保持性能を有す
る事が理解された。また、最高帯電電位に初期帯電した
後、白色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位に
まで明減衰させたところ必要とされた光量は1.5ルツ
クス・秒(1,3ルツクス・秒)であり、このことから
充分な光感度性能を有する事が理解された。また、最高
帯電電位に初期帯電した後、半導体レーザー光(発光波
長780nm)を用いて最高帯電電位の20%の表面電
位にまで明減衰きせたとこる必要とされた光量は9.6
erg/cm2(7,5erg/cm2)であり、この
ことから充分な長波長光感度性能を有する事が理解され
た。
In addition, the time required for dark decay from Vmax to Vmax of 9096 in the dark was approximately 14 seconds (approximately 1
3 seconds), and from this it was understood that it had sufficient charge retention performance. In addition, after initial charging to the highest charging potential, the brightness was attenuated using white light to a surface potential of 20% of the highest charging potential, and the amount of light required was 1.5 lux · seconds (1.3 lux · seconds), and from this it was understood that it had sufficient photosensitivity performance. In addition, after initial charging to the highest charging potential, the brightness was attenuated to a surface potential of 20% of the highest charging potential using semiconductor laser light (emission wavelength 780 nm).The required light amount was 9.6.
erg/cm2 (7.5 erg/cm2), and from this it was understood that it had sufficient long wavelength light sensitivity performance.

以上より、本例に示した本発明による感光体は、感光体
として優れた性能を有するものである事が理解きれる。
From the above, it can be understood that the photoreceptor according to the present invention shown in this example has excellent performance as a photoreceptor.

また、この感光体に対して常用のカールソンプロセスの
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
Further, when an image was formed and transferred to this photoreceptor using the commonly used Carlson process, a clear image was obtained.

去旅男旦 本発明に係わる製造装置を用いて、第1図に示す如き、
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの頭に設けた
本発明感光体を作製した。
Using the manufacturing apparatus according to the present invention, as shown in FIG.
A photoreceptor of the present invention was prepared in which a conductive substrate, a charge transport layer, and a charge generation layer were provided on the head.

電荷輸送層形成工程: 第7図に示すグロー放電分解装置において、まず、反応
装置(733)の内部を10−6To r r程度の高
真空にした後、第1、第2、第3、及び第4調節弁(7
07,708,709、及び710)を解放し、第1タ
ンク(701)より水素ガス、第2タンク(702)よ
りアセチレンガス、第3タンク(703)より窒素ガス
、及び第4タンク(704)より四弗化炭素ガスを各々
出力圧1.0Kg/cm2の下で第1、第2、第3、及
び第4流量制御器(713,714,715、及び71
6)内へ流入させた。そして各流量制御器の目盛を調整
して、水素ガスの流量を1908ccm1アセチレンガ
スの流量を45secm、窒素ガスの流量を7secm
s及び四弗化炭素ガスの流量が10105eとなるよう
に設定して、途中混合器(731)を介して、主管(7
32)より反応室(733)内へ流入した。各々の流量
が安定した後に、反応室(733)内の圧力が2.0T
orrとなるように圧力調節弁(745)を調整した。
Charge transport layer forming step: In the glow discharge decomposition apparatus shown in FIG. Fourth control valve (7
07, 708, 709, and 710), hydrogen gas from the first tank (701), acetylene gas from the second tank (702), nitrogen gas from the third tank (703), and fourth tank (704). The first, second, third, and fourth flow rate controllers (713, 714, 715, and 71
6) Allowed to flow into the interior. Then, adjust the scales of each flow rate controller to set the hydrogen gas flow rate to 1908 ccm, the acetylene gas flow rate to 45 seconds, and the nitrogen gas flow rate to 7 seconds.
The flow rate of s and carbon tetrafluoride gas is set to 10105e, and the main pipe (7
32) into the reaction chamber (733). After each flow rate stabilizes, the pressure inside the reaction chamber (733) is 2.0T.
The pressure control valve (745) was adjusted so that the

一方、導電性基板(752)としては、*5OX横50
X厚3mmのアルミニウム基板を用いて、予め200℃
に加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定した状態で、
予め接続選択スイッチ(744)により接続しておいた
窩周波電源(739)を投入し、電力印加電極(736
)に200Wattの電力を周波数13.56MHzの
下で印加して約2時間40分間プラズマ重合反応を行な
い、導電性基板(752)上に厚き15μmのa−C膜
を電荷輸送層として形成した。成膜完了後は、電力印加
を停止し、調節弁を閉じ、反応室(733)内を充分に
排気した。
On the other hand, as the conductive substrate (752), *5OX horizontal 50
Using an aluminum substrate with a thickness of 3 mm, heat it to 200°C in advance.
After heating to , and with the gas flow and pressure stable,
Turn on the cavity frequency power source (739) that has been connected in advance using the connection selection switch (744), and connect the power application electrode (736).
) was applied with a power of 200 Watts at a frequency of 13.56 MHz to perform a plasma polymerization reaction for about 2 hours and 40 minutes to form a 15 μm thick a-C film as a charge transport layer on the conductive substrate (752). . After the film formation was completed, power application was stopped, the control valve was closed, and the inside of the reaction chamber (733) was sufficiently evacuated.

以上のようにして得られたa −C膜につき有機元素分
析を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原
子と水素原子の総量に対して34原子%、また、オージ
ェ分析より含有されるハロゲン原子、即ち、弗素原子の
量は全構成原子に対して2.○原子%、ざらに、窒素原
子の量は全構成原子に対して1.1原子%であった。
Organic elemental analysis was performed on the a-C film obtained as described above, and the amount of hydrogen atoms contained was 34 at% based on the total amount of carbon atoms and hydrogen atoms. The amount of halogen atoms, that is, fluorine atoms, is 2. Roughly speaking, the amount of nitrogen atoms was 1.1 atomic % based on the total constituent atoms.

電荷発生層形成工程: 次いで、一部タンクを交換し、第1調節弁(707)、
第2調節弁(708)、第5調筋弁(711)、及び第
6調節弁(712)を解放し、第1タンク(701)か
ら水素ガス、第2タンク(702)からゲルマンガス、
第5タンク(705)からメタンガス、及び第6タンク
(706)からシランガスを、出力圧IKg/cm2の
下で第1、第2、第5、及び第6流量制御器(713,
714,717、及び718)内へ流入させた。
Charge generation layer forming step: Next, some of the tanks are replaced, and the first control valve (707),
The second control valve (708), the fifth adjustment valve (711), and the sixth control valve (712) are released, hydrogen gas is released from the first tank (701), Germanic gas is removed from the second tank (702),
Methane gas from the fifth tank (705) and silane gas from the sixth tank (706) are supplied to the first, second, fifth, and sixth flow rate controllers (713,
714, 717, and 718).

同時に、第4調節弁(710)を解放し、第4タンク(
704)より水素ガスで100 p pmに希釈された
ジボランガスを、出力圧1.5Kg/cm2の下で第4
流量制御器(716)内へ、流入させた。各流量制御用
器の目盛を調整して水素ガスの流量を200secm1
ゲルマンガスの流量を63CCm、メタンガスの′tC
量を0.01secmsシランガスの流量を10100
5e、水素ガスで100 p pmに希釈されたジボラ
ンガスの流量を10105eとなるように設定し、反応
室(733)内に流入させた。各々の流量が安定した後
に、反応室(733)内の圧力が0.8Torrとなる
ように圧力調節弁(745)を調整した。一方、a−C
膜が形成されている導電性基板(752)は、250℃
に加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定した状態で、
高周波電源(739)より周波数13.56MHzの下
で電力印加電極(736)に35Wattの電力を印加
し、グロー放電を発生させな。この放電を5分間行ない
、厚き0゜3μmの電荷発生層を得た。
At the same time, the fourth control valve (710) is released and the fourth tank (
Diborane gas diluted to 100 ppm with hydrogen gas from 704) was added to the fourth diborane gas under an output pressure of 1.5 kg/cm2.
It was made to flow into the flow rate controller (716). Adjust the scale of each flow rate control device to adjust the flow rate of hydrogen gas to 200 sec1
The flow rate of germane gas is 63CCm, and the flow rate of methane gas is 63CCm.
Quantity: 0.01secms Silane gas flow rate: 10100
5e, the flow rate of diborane gas diluted to 100 ppm with hydrogen gas was set to 10105e, and was allowed to flow into the reaction chamber (733). After each flow rate became stable, the pressure control valve (745) was adjusted so that the pressure inside the reaction chamber (733) was 0.8 Torr. On the other hand, a-C
The conductive substrate (752) on which the film is formed is heated to 250°C.
After heating to , and with the gas flow and pressure stable,
A power of 35 Watts is applied to the power application electrode (736) at a frequency of 13.56 MHz from the high frequency power source (739), and no glow discharge is generated. This discharge was carried out for 5 minutes to obtain a charge generation layer with a thickness of 0.3 μm.

得られたa−3i膜につき、金属中ONH分析(板場製
作所製EMGA−1300) 、オージェ分析、及びI
MA分析を行なったところ、含有される水素原子は全構
成原子に対して20原子%、硼素原子は9原子pPms
炭素原子は0.001原子%、ゲルマニウム原子は9.
8原子%であった。
The obtained a-3i film was subjected to ONH analysis in metal (EMGA-1300 manufactured by Itaba Seisakusho), Auger analysis, and I
When MA analysis was performed, the hydrogen atoms contained were 20 at% of the total constituent atoms, and the boron atoms were 9 at pPms.
Carbon atoms are 0.001 at%, germanium atoms are 9.
It was 8 atom%.

特性: 得られた感光体を常用のカールソンプロセスの中で負帯
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一580V (+660V)で有り、即ち、
全感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当り
の帯電能は38V/μm (43V/μm)と極めて高
く、このことから充分な帯電性能を有する事が理解され
た。
Characteristics: When the obtained photoreceptor was used with both negative and positive charging in a conventional Carlson process, the following performance was obtained. Here, the measured values during positive charging are shown in parentheses, and the highest charging potential is -580V (+660V), that is,
Since the total photoreceptor film thickness was 15.degree. 3 .mu.m, the charging ability per 1 .mu.m was extremely high at 38 V/.mu.m (43 V/.mu.m), and from this it was understood that the photoreceptor had sufficient charging performance.

また、暗中にてVmaxからVmaxの90%の表面電
位にまで暗減衰するのに要した時間は約19秒(約20
秒)であり、このことから充分な電荷保持性能を有する
事が理解された。また、最高帯電電位に初期帯電した後
、白色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位にま
で明減衰させたとこる必要とされた光量は3.1ルツク
ス・秒(2,8ルツクス・秒)であり、このことから充
分な光感度性能を有する事が理解きれた。
In addition, the time required for dark decay from Vmax to 90% of Vmax in the dark was approximately 19 seconds (approximately 20 seconds).
seconds), and from this it was understood that it had sufficient charge retention performance. In addition, after initial charging to the highest charging potential, white light was used to brightly attenuate the surface potential to 20% of the highest charging potential.The amount of light required was 3.1 lux·sec (2.8 lux・seconds), and from this we can understand that it has sufficient photosensitivity performance.

以上より、本例に示した本発明による感光体は、感光体
として優れた性能を有するものである事が理解される。
From the above, it is understood that the photoreceptor according to the present invention shown in this example has excellent performance as a photoreceptor.

また、この感光体に対して常用のカールソンプロセスの
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
Further, when an image was formed and transferred to this photoreceptor using the commonly used Carlson process, a clear image was obtained.

実施例4 本発明に係わる製造装置を用いて、第1図に示す如き、
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこ9順に設けた
本発明感光体を作製した。
Example 4 Using the manufacturing apparatus according to the present invention, as shown in FIG.
A photoreceptor of the present invention was prepared in which a conductive substrate, a charge transport layer, and a charge generation layer were provided in this order.

電荷輸送層形成工程: 第7図に示すグロー放電分解装置において、まず、反応
装置(733)の内部を10””Torr程度の高真空
にした後、第1、第2、第3、及び第4調節弁(707
,708,709、及び710)を解放し、第1タンク
(701)より水素ガス、第2タンク(702)よりブ
タジェンガス、第3タンク(703)よりアンモニアガ
ス、及び第4タンク(704)より四弗化炭素ガスを各
々出力圧1.0Kg/cm2の下で第1、第2、第3、
及び第4流量制御器(713,714,715、及び7
16)内へ流入させた。そして各流量制御器の目盛を調
整して、水素ガスの流量を120sCCm1ブタジェン
ガスの流量を60secm1アンモニアガスの流量を6
 s c c rn %及び四弗化炭素ガスの流量が1
60secmとなるように設定して、途中混合器(73
1)を介して、主管(732)より反応室(733)内
へ流入した。
Charge transport layer forming step: In the glow discharge decomposition apparatus shown in FIG. 4 control valve (707
, 708, 709, and 710), hydrogen gas from the first tank (701), butadiene gas from the second tank (702), ammonia gas from the third tank (703), and hydrogen gas from the fourth tank (704). Carbon fluoride gas was supplied to the first, second, third, and
and fourth flow rate controller (713, 714, 715, and 7
16) It was allowed to flow into the interior. Then, adjust the scales of each flow rate controller to set the flow rate of hydrogen gas to 120 sCCm1, the flow rate of butadiene gas to 60 scm, and the flow rate of ammonia gas to 60 sCCm.
s c crn % and the flow rate of carbon tetrafluoride gas is 1
Set it so that it is 60 sec, and mixer (73
1) and flowed into the reaction chamber (733) from the main pipe (732).

各々の流量が安定した後に、反応室(733)内の圧力
が2.ITorrとなるように圧力調節弁(745)を
調整した。一方、導電性基板(752)としては、樅5
0×横50×厚3mmのアルミニウム基板を用いて、予
め120℃に加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定し
た状態で、予め接続選択スイッチ(744)により接続
しておいた低周波電源(741)を投入し、電力印加電
極(736)に140Wattの電力を周波数600K
Hzの下で印加して約1時間20分プラズマ重合反応を
行ない、導電性基板(752)上に厚さ15μmのa−
C膜を電荷輸送層として形成した。成膜完了後は、電力
印加を停止し、調節弁を閉じ、反応室(733)内を充
分に排気した。
After each flow rate stabilizes, the pressure inside the reaction chamber (733) decreases to 2. The pressure control valve (745) was adjusted so that it became ITorr. On the other hand, as the conductive substrate (752), fir 5
Using an aluminum substrate measuring 0 x width 50 x thickness 3 mm, it was preheated to 120°C, and with the gas flow rate and pressure stabilized, a low frequency power source ( 741) and apply 140W of power to the power application electrode (736) at a frequency of 600K.
Plasma polymerization reaction was carried out for about 1 hour and 20 minutes by applying the voltage under Hz, and a 15 μm thick a-
A C film was formed as a charge transport layer. After the film formation was completed, power application was stopped, the control valve was closed, and the inside of the reaction chamber (733) was sufficiently evacuated.

以上のようにして得られたa −C膜につき有機元素分
析を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原
子と水素原子の総量に対して51原子%、また、オージ
ェ分析より含有されるハロゲン原子、即ち、弗素原子の
量は全構成原子に対して19.0原子%、ざらに、窒素
原子の量は全構成原子に対して2.4原子%であった。
Organic elemental analysis was performed on the a-C film obtained as described above, and the amount of hydrogen atoms contained was 51 at% based on the total amount of carbon atoms and hydrogen atoms. The amount of halogen atoms, ie, fluorine atoms, was 19.0 at% based on the total constituent atoms, and the amount of nitrogen atoms was roughly 2.4 at% based on the total constituent atoms.

電荷発生層形成工程: 次いで、一部タンクを交換し、第1調節弁(707)、
第2調節弁(708)、第3調節弁(7o9)、第5調
節弁(711)、及び第6調節弁(712)を解放し、
第1タンク(701)から水素ガス、第2タンク(70
2)からゲルマンガス、第3タンク(703)から四弗
化シランガス、第5タンク(705)から四弗化炭素ガ
ス、及び第6タンク(706)からシランガスを、出力
圧IKg/cm2の下で第1、第2、第3、第5、及び
第6流量制御器(713,714,715,717、及
び718)内へ流入させた。同時に、第4調節弁(71
0)を解放し、第4タンク(704)より水素ガスで1
100ppに希釈きれたジボランガスを、出力圧1.5
Kg/am2の下で第4流量制tFI器(716)内へ
、流入させな。各流量制御器の目盛を調整して水素ガス
の流量を200secm、ゲルマンガスの流量を3se
cm、四弗化シランガスの流量を50secm、四弗化
炭素ガスの流量をO,lscem、シランガスの流量を
50scem、水素ガスで1100ppに希釈されたジ
ボランガスの流量を10105eとなるように設定し、
反応室(733)内に流入させた。各々の流量が安定し
た後に、反応室(733)内の圧力が0.9Torrと
なるように圧力調節弁(745)を調整した。一方、a
 −C膜が形成きれている導電性基板(752)は、2
50℃に加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定した状
態で、高周波N源(739)より周波数13.56MH
zの下で電力印加電極(736)に35Wattの電力
を印加し、グロー放電を発生させた。
Charge generation layer forming step: Next, some of the tanks are replaced, and the first control valve (707),
Release the second control valve (708), the third control valve (7o9), the fifth control valve (711), and the sixth control valve (712),
Hydrogen gas from the first tank (701), hydrogen gas from the second tank (70
2), germane gas from the third tank (703), tetrafluoride silane gas from the fifth tank (705), and silane gas from the sixth tank (706) under an output pressure of IKg/cm2. into the first, second, third, fifth, and sixth flow controllers (713, 714, 715, 717, and 718). At the same time, the fourth control valve (71
0) and 1 with hydrogen gas from the fourth tank (704).
Diborane gas diluted to 100pp is heated to an output pressure of 1.5
Do not allow it to flow into the fourth flow rate limiting tFI device (716) under Kg/am2. Adjust the scale of each flow rate controller to set the hydrogen gas flow rate to 200sec and the germane gas flow rate to 3sec.
cm, the flow rate of silane tetrafluoride gas to 50 sec, the flow rate of carbon tetrafluoride gas to O,lscem, the flow rate of silane gas to 50 scem, and the flow rate of diborane gas diluted to 1100 pp with hydrogen gas to 10105e,
It was made to flow into the reaction chamber (733). After each flow rate became stable, the pressure control valve (745) was adjusted so that the pressure inside the reaction chamber (733) was 0.9 Torr. On the other hand, a
- The conductive substrate (752) on which the C film is completely formed is 2
Heated to 50℃, and with the gas flow rate and pressure stable, a high frequency N source (739) was used to generate a frequency of 13.56MH.
z, a power of 35 Watt was applied to the power application electrode (736) to generate glow discharge.

この放電を5分間行ない、厚き0.3Ltmの電荷発生
層を得た。
This discharge was carried out for 5 minutes to obtain a charge generation layer with a thickness of 0.3 Ltm.

得られたa−Si膜につき、金属中ONH分析(板場製
作所製EMGA−1300) 、オージェ分析、及びI
MA分析を行なったところ、含有される水素原子は全構
成原子に対して22原子%、硼素原子は11原子ppm
、弗素原子は4.8原子%、炭素原子は0.1原子%、
ゲルマニウム原子は6.4原子%であった。
The obtained a-Si film was subjected to ONH analysis in metal (EMGA-1300 manufactured by Itaba Seisakusho), Auger analysis, and I
When MA analysis was performed, the hydrogen atoms contained were 22 at% of the total constituent atoms, and the boron atoms were 11 at ppm.
, fluorine atoms are 4.8 at%, carbon atoms are 0.1 at%,
Germanium atoms were 6.4 at%.

特性: 得られた感光体を常用のカールソンプロセスの中で負帯
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一330V (+340V)で有り、即ち、
全感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当り
の帯電能は22V/μm(22V/μm)と高く、この
ことから充分な帯電性能を有する事が理解された。また
、暗中にてVmaxからVmaxの90%の表面電位に
まで暗減衰するのに要した時間は約5秒(約4秒)であ
り、このことから実用上問題のない電荷保持性能を有す
る事が理解された。また、最高帯電電位に初期帯電した
後、白色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位に
まで明減衰させたところ必要とされた光量は4.4ルツ
クス・秒(3,3ルツクス・秒)であり、このことから
充分な光感度性能を有する事が理解された。
Characteristics: When the obtained photoreceptor was used with both negative and positive charging in a conventional Carlson process, the following performance was obtained. Here, the measured values at the time of positive charging are shown in parentheses, and the highest charging potential is -330V (+340V), that is,
Since the total photoreceptor film thickness was 15.degree. 3 .mu.m, the charging ability per 1 .mu.m was as high as 22 V/.mu.m (22 V/.mu.m), and from this it was understood that the photoreceptor had sufficient charging performance. In addition, the time required for dark decay from Vmax to 90% of Vmax in the dark is approximately 5 seconds (approximately 4 seconds), which indicates that it has charge retention performance that poses no practical problems. was understood. Furthermore, after initial charging to the highest charging potential, white light was used to brightly attenuate the surface potential to 20% of the highest charging potential, and the amount of light required was 4.4 lux · seconds (3.3 lux · seconds), and from this it was understood that it had sufficient photosensitivity performance.

以上より、本例に示した本発明による感光体は、感光体
として優れた性能を有するものである事が理解される。
From the above, it is understood that the photoreceptor according to the present invention shown in this example has excellent performance as a photoreceptor.

また、この感光体に対して常用のカールソンプロセスの
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
Further, when an image was formed and transferred to this photoreceptor using the commonly used Carlson process, a clear image was obtained.

大施糎旦 本発明に係わる製造装置を用いて、第1図に示す如き、
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの順に設けた
本発明感光体を作製した。
Using the manufacturing apparatus according to the present invention, as shown in FIG.
A photoreceptor of the present invention was prepared in which a conductive substrate, a charge transport layer, and a charge generation layer were provided in this order.

電荷輸送層形成工程: 第7図に示すグロー放電分解装置において、まず、反応
装置(733)の内部を1O−6Torr程度の高真空
にした後、第1、第2、第3、及び第4調節弁(707
,708,709、及び71Q)を解放し、第1タンク
(701)より水素ガス、第2タンク(702)よりブ
タジインガス、第3タンク(703)より窒素ガス、及
び第4りンク(704)より四弗化炭素ガスを各々出力
圧1.0Kg/cm”の下で第1、第2、第3、及び第
4流量制御器(713,714,715、及び716)
内へ流入させた。そして各流量制御器の目盛を調整して
、水素ガスの流量を180secm1ブタジインガスの
流量を40secm、窒素ガスの流量を75 CCm 
N及び四弗化炭素ガスの流量が10105eとなるよう
に設定して、途中混合器(731)を介して、主管(7
32)より反応室(733)内へ流入した。各々の流量
が安定した後に、反応室(733)内の圧力が2.0T
orrとなるように圧力調節弁(745)を調整した。
Charge transport layer forming step: In the glow discharge decomposition apparatus shown in FIG. Control valve (707
, 708, 709, and 71Q), hydrogen gas from the first tank (701), butadiene gas from the second tank (702), nitrogen gas from the third tank (703), and nitrogen gas from the fourth link (704). The first, second, third, and fourth flow rate controllers (713, 714, 715, and 716) supply carbon tetrafluoride gas under an output pressure of 1.0 Kg/cm, respectively.
It flowed inside. Then, adjust the scales of each flow rate controller to set the hydrogen gas flow rate to 180 sec, the butadiene gas flow rate to 40 sec, and the nitrogen gas flow rate to 75 CCm.
The flow rate of N and carbon tetrafluoride gas is set to 10105e, and the main pipe (7
32) into the reaction chamber (733). After each flow rate stabilizes, the pressure inside the reaction chamber (733) is 2.0T.
The pressure control valve (745) was adjusted so that the

一方、導電性基板(752)としては、1u50X横5
0X厚3mmのアルミニウム基板を用いて、予め180
℃に加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定した状態で
、予め接続選択スイッチ(744)により接続しておい
た低周波電源(741)を投入し、電力印加電極(73
6)に200Wattの電力を周波数300KHzの下
で印加して約30分間プラズマ重合反応を行ない、導電
性基板(752)上に厚き15μmのa−C膜を電荷輸
送層として形成した。成膜完了後は、電力印加を停止し
、調節弁を閉じ、反応室(733)内を充分に排気した
On the other hand, as a conductive substrate (752), 1u50X horizontal 5
Using an aluminum substrate with a thickness of 3 mm,
℃, and with the gas flow rate and pressure stable, turn on the low frequency power supply (741) that was previously connected using the connection selection switch (744), and connect the power application electrode (73).
6), a plasma polymerization reaction was carried out for about 30 minutes by applying a power of 200 Watts at a frequency of 300 KHz to form a 15 μm thick a-C film as a charge transport layer on the conductive substrate (752). After the film formation was completed, power application was stopped, the control valve was closed, and the inside of the reaction chamber (733) was sufficiently evacuated.

以上のようにして得られたa −C膜につき有機元素分
析を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原
子と水素原子の総量に対して40原子%、また、オージ
ェ分析より含有されるハロゲン原子、即ち、弗素原子の
量は全構成原子に対して4.1原子%、さらに、窒素原
子の量は全構成原子に対して1.8原子%であった。
Organic elemental analysis was performed on the a-C film obtained as described above, and the amount of hydrogen atoms contained was 40 at% based on the total amount of carbon atoms and hydrogen atoms. The amount of halogen atoms, that is, fluorine atoms, was 4.1 at% based on the total constituent atoms, and the amount of nitrogen atoms was 1.8 at% based on the total constituent atoms.

電荷発生層形成工程: 次いで、一部タンクを交換し、第1調節弁(707)、
第2調節弁(70B)、第5調茹弁(711)、及び第
6調節弁(712)を解放し、第1タンク(701)か
ら水素ガス、第2タンク(702)からゲルマンガス、
第5タンク(705)からメタンガス、及び第6タンク
(706)からシランガスを、出力圧IKg/am2の
下で第1、第2、第5、及び第6流量制御器(713,
714,717、及び718)内へ流入きせた。
Charge generation layer forming step: Next, some of the tanks are replaced, and the first control valve (707),
The second control valve (70B), the fifth boiling valve (711), and the sixth control valve (712) are opened, hydrogen gas is released from the first tank (701), germane gas is removed from the second tank (702),
Methane gas from the fifth tank (705) and silane gas from the sixth tank (706) are supplied to the first, second, fifth, and sixth flow rate controllers (713,
714, 717, and 718).

同時に、第4調節弁(710)を解放し、第4タンク(
704)より水素ガスで10ppmに希釈されたホスフ
ィンガスを、出力圧1.5Kg/cm2の下で第4流量
制御器(716)内へ、流入させた。各流量制御器の目
盛を調整して水素ガスの流量を200secm、ゲルマ
ンガスの流量を6secm、メタンガスの流量を3se
cmsシランガスの流量を200secm、水素ガスで
1100ppに希釈されたホスフィンガスの流量を10
105eに設定し、反応室(733)内に流入させた。
At the same time, the fourth control valve (710) is released and the fourth tank (
Phosphine gas diluted to 10 ppm with hydrogen gas (704) was flowed into the fourth flow rate controller (716) under an output pressure of 1.5 Kg/cm2. Adjust the scale of each flow rate controller to set the hydrogen gas flow rate to 200 sec, germane gas flow rate to 6 sec, and methane gas flow rate to 3 sec.
The flow rate of cms silane gas is 200 sec, and the flow rate of phosphine gas diluted to 1100 pp with hydrogen gas is 10 sec.
105e to flow into the reaction chamber (733).

各々の流量が安定した後に、反応室(733)内の圧力
が1.0Torrとなるように圧力調節弁(745)を
調整した。一方、a−C膜が形成されている導電性基板
(752)は、230℃に加熱しておき、ガス流量及び
圧力が安定した状態で、高周波電源(739)より周波
数13゜56MHzの下で電力印加電極(736)に3
5Wattの電力を印加し、グロー放電を発生させた。
After each flow rate became stable, the pressure control valve (745) was adjusted so that the pressure in the reaction chamber (733) was 1.0 Torr. On the other hand, the conductive substrate (752) on which the a-C film is formed is heated to 230°C, and with the gas flow rate and pressure stable, it is heated at a frequency of 13°56MHz from a high frequency power source (739). 3 to the power application electrode (736)
A power of 5 Watts was applied to generate glow discharge.

この放電を5分間行ない、厚ざ0.3μmの電荷発生層
を得た。
This discharge was carried out for 5 minutes to obtain a charge generation layer with a thickness of 0.3 μm.

得られたa−3i膜につき、金属中ONH分析(板場製
作所製EMGA−1300) 1.t−ジ工分析、及び
IMA分析を行なったところ、含有される水素原子は全
構成原子に対して18原子%、燐原子は12原子ppm
、炭素原子は0.3原子%、ゲルマニウム原子は10.
4原子%であった。
On the obtained a-3i film, ONH analysis in metal (EMGA-1300 manufactured by Itaba Seisakusho) 1. When t-ditechnical analysis and IMA analysis were performed, the hydrogen atoms contained were 18 at % and the phosphorus atoms were 12 at ppm based on the total constituent atoms.
, carbon atoms are 0.3 at%, germanium atoms are 10.
It was 4 at%.

特性: 得られた感光体を常用のカールソンプロセスの中で負帯
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一500V (+760V)で有り、即ち、
全感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当り
の帯電能は33■/μm(49V/μm)と極めて高(
、このことから充分な帯電性能を有する事が理解きれた
Characteristics: When the obtained photoreceptor was used with both negative and positive charging in a conventional Carlson process, the following performance was obtained. Here, the measured values during positive charging are shown in parentheses, and the highest charging potential is -500V (+760V), that is,
Since the total photoreceptor film thickness is 15°3μm, the charging capacity per μm is extremely high at 33μ/μm (49V/μm).
From this, it can be understood that it has sufficient charging performance.

また、暗中にてVmaxからVmaxの90%の表面電
位にまでI!#減衰するのに要した時間は約13秒(約
19秒)であり、このことから充分な電荷保持性能を有
する事が理解された。また、最高帯電電位に初期帯電し
た後、白色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位
にまで明減衰させたとこる必要とされた光量は1.9ル
ツクス・秒(6,5ルツクス・秒)であり、このことか
ら充分な光感度性能を有する事が理解された。
In addition, I! from Vmax to 90% of Vmax surface potential in the dark! #The time required for decay was approximately 13 seconds (approximately 19 seconds), and from this it was understood that it had sufficient charge retention performance. In addition, after initial charging to the highest charging potential, white light was used to brightly attenuate the surface potential to 20% of the highest charging potential.The amount of light required was 1.9 lux·sec (6.5 lux・seconds), and from this it was understood that it had sufficient photosensitivity performance.

以上より、本例に示した本発明による感光体は、感光体
として優れた性能を有するものである事が理解される。
From the above, it is understood that the photoreceptor according to the present invention shown in this example has excellent performance as a photoreceptor.

また、この感光体に対して常用のカールソンプロセスの
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
Further, when an image was formed and transferred to this photoreceptor using the commonly used Carlson process, a clear image was obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図乃至第6図は本発明感光体の構成を示す図面、第
7図乃至第8図は本発明に係わる感光体の製造装置を示
す図面である。 出願人 ミノルタカメラ株式会社 第1図 第2図 第3図  第4図 第5図  第6図 手続補正書 昭和62年10月21日
1 to 6 are drawings showing the structure of a photoreceptor according to the present invention, and FIGS. 7 to 8 are drawings showing an apparatus for manufacturing a photoreceptor according to the invention. Applicant: Minolta Camera Co., Ltd. Figure 1 Figure 2 Figure 3 Figure 4 Figure 5 Figure 6 Procedural Amendment October 21, 1988

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 電荷発生層と電荷輸送層とを有する機能分離型感光体に
おいて、該電荷輸送層は少なくとも窒素原子とハロゲン
原子とを含有してなる水素化アモルファスカーボン膜で
あり、かつ、該電荷発生層は炭素原子を含有すると共に
燐原子及び硼素原子のうち少なくとも一方を含有してな
る水素化アモルファスシリコンゲルマニウム膜或は炭素
原子を含有すると共に燐原子及び硼素原子のうち少なく
とも一方を含有してなる弗素化アモルファスシリコンゲ
ルマニウム膜であることを特徴とする感光体。
In a functionally separated photoreceptor having a charge generation layer and a charge transport layer, the charge transport layer is a hydrogenated amorphous carbon film containing at least nitrogen atoms and halogen atoms; Hydrogenated amorphous silicon germanium film containing atoms and at least one of phosphorus atoms and boron atoms, or fluorinated amorphous film containing carbon atoms and at least one of phosphorus atoms and boron atoms A photoreceptor characterized by having a silicon germanium film.
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