JPS6382448A - Photosensitive body - Google Patents

Photosensitive body

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JPS6382448A
JPS6382448A JP22942086A JP22942086A JPS6382448A JP S6382448 A JPS6382448 A JP S6382448A JP 22942086 A JP22942086 A JP 22942086A JP 22942086 A JP22942086 A JP 22942086A JP S6382448 A JPS6382448 A JP S6382448A
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JP
Japan
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atoms
gas
film
flow rate
photoreceptor
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JP22942086A
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Japanese (ja)
Inventor
Shuji Iino
修司 飯野
Mochikiyo Osawa
大澤 以清
Hideo Yasutomi
英雄 保富
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Minolta Co Ltd
Original Assignee
Minolta Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPS6382448A publication Critical patent/JPS6382448A/en
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Abstract

PURPOSE:To improve the transferability of an electric charge transfer layer by providing the charge transfer layer consisting of hydrogenated amorphous carbon contg. Si or/and Ge and an electric charge generating layer contg. specific atoms together with oxygen atoms. CONSTITUTION:For example, the charge transfer layer 2 and the charge generat ing layer 3 are successively laminated on a conductive substrate 1. The layer 2 consists of the hydrogenated amorphous carbon film contg. Si or/and Ge. The layer 3 consists of the hydrogenated or fluorinated amorphous silicon film contg. O and contg. P or/and B. Both the layers 2 and 3 are preferably formed by glow discharge. The charge transfer layer having the adequate transferability and excellent electric chargeability, durability, etc., is thereby obtd. The reduc tion in the film thickness of the charge generating layer is permitted as well.

Description

【発明の詳細な説明】 産束上Ωぢ里分野 本発明は、電荷発生層と電荷輸送層とを有する感光体に
関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to a photoreceptor having a charge generation layer and a charge transport layer.

従米挾術 カールソン法の発明以来、電子写真の応用分野は著しい
発展を続け、電子写真用感光体にも様々な材料が開発さ
れ実用化されてきた。
Since the invention of the Carlson method, the field of electrophotography has continued to make remarkable progress, and various materials have been developed and put into practical use for photoreceptors for electrophotography.

従来用いられて来た電子写真感光体材料の主なものとし
ては、非晶質セレン、セレン砒素、セレンテルル、硫化
カドミウム、酸化亜鉛、アモルファスシリコン等の無機
物質、ポリビニルカルバゾール、金属フタロシアニン、
ジスアゾ顔料、トリスアゾ顔料、ペリレン顔料、トリフ
ェニルメタン化合物、トリフェニルアミン化合物、ヒド
ラゾン化合物、スチリル化合物、ピラゾリン化合物、オ
キサゾール化合物、オキサジアゾール化合物、等の有機
物質が挙げられる。また、その構成形態としては、これ
らの物質を単体で用いる単層型構成、結着材中に分散さ
せて用いるバインダー型構成、機能別に電荷発生層と電
荷輸送層とを設ける積層型構成等が挙げられる。
The main electrophotographic photoreceptor materials conventionally used include inorganic substances such as amorphous selenium, selenium arsenide, selenium telluride, cadmium sulfide, zinc oxide, amorphous silicon, polyvinyl carbazole, metal phthalocyanine,
Examples include organic substances such as disazo pigments, trisazo pigments, perylene pigments, triphenylmethane compounds, triphenylamine compounds, hydrazone compounds, styryl compounds, pyrazoline compounds, oxazole compounds, and oxadiazole compounds. In addition, the configurations include a single-layer structure in which these substances are used alone, a binder-type structure in which they are dispersed in a binder, and a laminated structure in which a charge generation layer and a charge transport layer are provided for each function. Can be mentioned.

しかしながら、従来用いられて来た電子写真感光体材料
にはそれぞれ欠点があフた。その一つとして人体への有
害性が挙げられるが、前述したアモルファスシリコンを
除く無機物質においては、何れも好ましくない性質を持
つものであった。また、電子写真感光体が実際に複写機
内で用いられるためには、帯電、露光、現像、転写、除
電、清掃等の苛酷な環境条件に曝された場合においても
、常に安定な性能を維持している必要があるが、前述し
た有機物質においては、何れも耐久性に乏しく、性能面
での不安定要素が多かった。
However, conventionally used electrophotographic photoreceptor materials each have their own drawbacks. One of these is their toxicity to the human body, and all inorganic substances, except for the amorphous silicon mentioned above, have unfavorable properties. In addition, in order for an electrophotographic photoreceptor to be actually used in a copying machine, it must always maintain stable performance even when exposed to harsh environmental conditions such as charging, exposure, development, transfer, neutralization, and cleaning. However, all of the organic substances mentioned above have poor durability and many unstable factors in terms of performance.

このような欠点を解消すべく、近年、有害性を改善し耐
久性に富んだ材料として、グロー放電法により生成され
るアモルファスシリコンの電子写真感光体への応用が進
んで来ている。しかし、アモルファスシリコンは、原料
としてシランガスを多量に必要とする反面、高価なガス
であることから、出来上がった電子写真感光体も従来の
感光体に比べ大幅に高価なものとなる。また、成膜速度
が遅く、成膜時間の増大に伴い爆発性を有するシラン未
分解生成物を粉塵状に発生する等、生産上の不都合も多
い。また、この粉塵が製造時に感光層中に混入した場合
には、画像品質に著しく悪影響を及ぼす。ざらに、アモ
ルファスシリコンは、元来、比誘電率が高いため帯電性
能が低く、複写機内で所定の表面電位に帯電するために
は膜厚を厚くする必要があり、高価なアモルファスシリ
コン膜を長時間堆積させなくてはならない。
In order to eliminate such drawbacks, in recent years, amorphous silicon produced by a glow discharge method has been increasingly applied to electrophotographic photoreceptors as a material with improved toxicity and high durability. However, while amorphous silicon requires a large amount of silane gas as a raw material, it is an expensive gas, so the resulting electrophotographic photoreceptor is also significantly more expensive than a conventional photoreceptor. In addition, there are many inconveniences in production, such as the slow film formation rate and the generation of explosive silane undecomposed products in the form of dust as the film formation time increases. Furthermore, if this dust gets mixed into the photosensitive layer during manufacturing, it will have a significant negative effect on image quality. Generally, amorphous silicon has low charging performance due to its high specific dielectric constant, and in order to charge it to a predetermined surface potential in a copying machine, it is necessary to increase the thickness of the film. You have to accumulate time.

ところでアモルファスカーボン膜自体は、プラズマ有機
重合膜として古くより知られており、例えばジエン(M
、5hen)及びベル(A、T。
By the way, the amorphous carbon film itself has been known for a long time as a plasma organic polymerized film, for example, diene (M
, 5hen) and Bell (A, T.

Be1l)により、1973年発行ののジャーナル・オ
ブ・アプライド・ポリマー・サイエンス(Journa
l  of  Applied  P。
Journal of Applied Polymer Science (Journa Be1l), published in 1973.
l of Applied P.

lymer  5cience)第17巻の第885頁
乃至第892頁において、あらゆる有機化合物のガスか
ら作製され得る事が、また、同著者により、1979年
のアメリカンケミカルソサエティ  (America
n  ChemicalSociety)発行によるプ
ラズマボリマライゼーション(Plasma  Pol
ymerization)の中でもその成膜性が論じら
れている。
lymer 5science), Volume 17, pages 885 to 892, the same author also reported in the 1979 American Chemical Society that all organic compounds can be prepared from gases.
Plasma Pol
ymerization), its film formability has been discussed.

しかしながら従来の方法で作製したプラズマ有機重合膜
は絶縁性を前提とした用途に限って用いられ、即ちそれ
らの膜は通常のポリエチレン膜の如<1016Ωam程
度の比抵抗を有する絶縁膜と考えられ、或は、少なくと
もそのような膜であるとの認識のもとに用いられていた
。実際に電子写真感光体への用途にしても同様の認識か
ら、保護層、接着層、ブロッキング層もしくは絶縁層に
限られており、所謂アンダーコート層もしくはオーバー
コート層としてしか用いられていなかった。
However, plasma organic polymer films prepared by conventional methods are used only for applications that require insulation, that is, they are considered to be insulating films with a specific resistance of about <1016 Ωam, like ordinary polyethylene films. Or at least it was used with the recognition that it was such a membrane. Due to the same recognition, its actual use in electrophotographic photoreceptors has been limited to protective layers, adhesive layers, blocking layers, or insulating layers, and has only been used as so-called undercoat layers or overcoat layers.

例えば、特開昭59−28161号公報には、基板上に
ブロッキング層及び接着層としてプラズマ重合された網
目構造を有する高分子層を設け、その上にアモルファス
シリコン層を設けた感光体が開示されている。特開昭5
9−38753号公報には、基板上にブロッキング層及
び接着層として酸素と窒素と炭化水素の混合ガスから生
成される1013〜1o15Ωcmの高抵抗のプラズマ
重合膜を10人〜100人設けた上にアモルファスシリ
コン層を設けた感光体が開示されている。特開昭59−
136742号公報には、アルミ基板上に設けたアモル
ファスシリコン層内へ光照射時にアルミ原子が拡散する
のを防止するための保護層として1〜5μm程度の炭素
膜を基板表面に形成せしめた感光体が開示されている。
For example, JP-A-59-28161 discloses a photoreceptor in which a plasma-polymerized polymer layer having a network structure is provided on a substrate as a blocking layer and an adhesive layer, and an amorphous silicon layer is provided thereon. ing. Japanese Patent Application Publication No. 5
Publication No. 9-38753 discloses that a high resistance plasma polymerized film of 1013 to 1015 Ωcm generated from a mixed gas of oxygen, nitrogen, and hydrocarbon is provided on a substrate as a blocking layer and an adhesive layer by 10 to 100 people. A photoreceptor is disclosed that includes an amorphous silicon layer. Unexamined Japanese Patent Publication 1987-
Publication No. 136742 discloses a photoreceptor in which a carbon film of approximately 1 to 5 μm is formed on the surface of the substrate as a protective layer to prevent aluminum atoms from diffusing into the amorphous silicon layer provided on the aluminum substrate during light irradiation. is disclosed.

特開昭60−63541号公報には、アルミ基板とその
上に設けたアモルファスシリコン層との接着性を改善す
るために、接着層として200人〜2μmのダイヤモン
ド状炭素膜を中間に設けた感光体が開示され、残留電荷
の面から膜厚は2μm以下が好ましいとされている。
Japanese Unexamined Patent Publication No. 60-63541 discloses a photosensitive material in which a diamond-like carbon film with a thickness of 200 to 2 μm is provided in the middle as an adhesive layer in order to improve the adhesion between an aluminum substrate and an amorphous silicon layer provided thereon. It is said that the film thickness is preferably 2 μm or less in terms of residual charge.

これらの開示は、何れも基板とアモルファスシリコン層
との間に、所謂アンダーコート層を設けた発明であり、
電荷輸送性についての開示は全くなく、また、a−5i
の有する前記した本質的問題を解決するものではない。
All of these disclosures are inventions in which a so-called undercoat layer is provided between the substrate and the amorphous silicon layer,
There is no disclosure regarding charge transport properties, and a-5i
However, it does not solve the above-mentioned essential problems.

また、例えば、特開昭50−20728号公報には、ポ
リビニルカルバゾール−セレン系感光体の表面に保護層
としてグロー放電重合によるポリマー膜を0.1〜ll
1m設けた感光体が開示されている。特開昭59−21
4859号公報には、アモルファスシリコン感光体の表
面に保護層としてスチレンやアセチレン等の有機炭化水
素モノマーをプラズマ重合させて5μm程度の膜を形成
させる技術が開示されている。特開昭60−61761
号公報には、表面保護層として、500人〜2μmのダ
イヤモンド状炭素薄膜を設けた感光体が開示され、透光
性の面からM厚は2μm以下が好ましいときれてている
。特開昭60−249115号公報には、0.05〜5
μm程度の無定形炭素または硬質炭素膜を表面保護層と
して用いる技術が開示きれ、膜厚が5μmを越えると感
光体活性に悪影響が及ぶとされている。
For example, JP-A-50-20728 discloses that a polymer film formed by glow discharge polymerization is applied as a protective layer on the surface of a polyvinylcarbazole-selenium photoreceptor in an amount of 0.1 to 1 ll.
A photoreceptor with a length of 1 m is disclosed. Japanese Unexamined Patent Publication 1986-21
Japanese Patent No. 4859 discloses a technique of plasma polymerizing an organic hydrocarbon monomer such as styrene or acetylene as a protective layer on the surface of an amorphous silicon photoreceptor to form a film of about 5 μm. Japanese Patent Publication No. 60-61761
The publication discloses a photosensitive member provided with a diamond-like carbon thin film of 500 to 2 .mu.m as a surface protective layer, and it is said that the thickness M is preferably 2 .mu.m or less from the viewpoint of light transmission. JP-A-60-249115 discloses that 0.05 to 5
A technique has been disclosed in which an amorphous carbon or hard carbon film with a thickness of about .mu.m is used as a surface protective layer, and it is said that if the film thickness exceeds 5 .mu.m, the photoreceptor activity is adversely affected.

これらの開示は、何れも感光体表面に所謂オーバーコー
ト層を設けた発明であり、電荷輸送性についての開示は
全くなく、また、a−Siの有する前記した本質的間層
を解決するものではない。
All of these disclosures are inventions in which a so-called overcoat layer is provided on the surface of a photoreceptor, and there is no disclosure regarding charge transport properties, and they do not solve the above-mentioned essential interlayer that a-Si has. do not have.

また、特開昭51−46130号公報には、ポリビニル
カルバゾール系電子写真感光体の表面にグロー放電重合
を行なって0.001〜3μmのポリマー膜を形成せし
めた電子写真感光板が開示されているが、電荷輸送性に
ついては全く言及されていないし、a−Siの持つ前記
した本質的問題を解決するものではない。
Further, JP-A-51-46130 discloses an electrophotographic photosensitive plate in which a polymer film of 0.001 to 3 μm is formed on the surface of a polyvinyl carbazole electrophotographic photoreceptor by glow discharge polymerization. However, there is no mention of charge transport properties, and it does not solve the above-mentioned essential problems of a-Si.

一方、アモルファスシリコン膜については、スピア(W
、E、5pear)及びレコンバ(P。
On the other hand, regarding the amorphous silicon film, Spear (W
, E, 5pear) and Recomba (P.

G、LeComber)により1976年発行のフィロ
ソフィカル・マガジン(Philosophfcal 
 Magazine)第33巻の第935頁乃至第94
9頁において、極性@御が可能な材料である事が報じら
れて以来、種々の光電デバイスへの応用が試みられて来
た。感光体への応用に関しては、例えば、特開昭56−
62254号公報、特開昭57−119356号公報、
特開昭57−177147号公報、特開昭57−119
357号公報、特開昭57−177149号公報、特開
昭57−119357号公報、特開昭57−17714
6号公報、特開昭57−177148号公報、特開昭5
7−174448号公報、特開昭57−174449号
公報、特開昭57−174450号公報、等に、炭素原
子を含有したアモルファスシリコン感光体が開示きれて
いるが、何れもアモルファスシリコンの光導電性を炭素
原子により調整する事を目的としたものであり、また、
アモルファスシリコン自体厚い膜を必要としている。
Philosophical Magazine (Philosophical Magazine) published in 1976 by
Magazine) Volume 33, pages 935 to 94
Since it was reported on page 9 that it is a material that can control polarity, attempts have been made to apply it to various photoelectric devices. Regarding the application to photoreceptors, for example,
No. 62254, Japanese Patent Application Laid-open No. 119356/1983,
JP-A-57-177147, JP-A-57-119
357, JP 57-177149, JP 57-119357, JP 57-17714
Publication No. 6, JP-A-57-177148, JP-A-5
Amorphous silicon photoreceptors containing carbon atoms have been disclosed in JP-A No. 7-174448, JP-A-57-174449, JP-A-57-174450, etc., but all of them are amorphous silicon photoconductors. The purpose is to adjust the properties using carbon atoms, and
Amorphous silicon itself requires a thick film.

■が解決しようとする問題、Φ 以上のように、従来、電子写真感光体に用いられている
プラズマ有機重合膜は所謂アンダーコート層もしくはオ
ーバーコート層として使用きれていたが、それらはキャ
リアの輸送機能を必要としない膜であって、有機重合膜
が絶縁性で有るとの判断にたって用いられている。従っ
てその膜厚も高々5μm程度の極めて薄い膜としてしか
用いられず、キャリアはトンネル効果で膜中を通過する
か、トンネル効果が期待できない場合には、残留電位の
発生に関して事実上問題にならずに済む程度の薄い膜で
しか用いられていない。また、従来、電子写真に用いら
れているアモルファスシリコン膜は所謂厚膜で使用され
ており、価格或は生産性等に、不都合な点が多い。
Problem to be solved by Φ As mentioned above, plasma organic polymer films conventionally used in electrophotographic photoreceptors have been used only as so-called undercoat layers or overcoat layers; It is a film that does not require any function, and is used based on the judgment that the organic polymer film is insulating. Therefore, it can only be used as an extremely thin film with a thickness of about 5 μm at most, and carriers either pass through the film by tunneling effect, or if a tunneling effect cannot be expected, there is virtually no problem with the generation of residual potential. It is only used in thin films that are only small enough to last. Furthermore, amorphous silicon films conventionally used in electrophotography are so-called thick films, which have many disadvantages in terms of cost, productivity, and the like.

本発明者らは、アモルファスカーボン膜の電子写真感光
体への応用を検討しているうちに、本来絶縁性であると
考えられていた水素化アモルファスカーボン膜がシリコ
ン原子及びゲルマニウム原子のうち少なくとも一方を含
有せしめる事により、燐原子及び硼素原子のうち少なく
とも一方を含有すると共に酸素原子を含有してなる水素
化或は弗素化アモルファスシリコン膜との積層において
は電荷輸送性を有し、容易に好適な電子写真特性を示し
始める事を見出した。その理論的解釈には本発明者にお
いても不明確な点が多く詳細に亙り言及はできないが、
シリコン原子及びゲルマニウム原子のうち少なくとも一
方を含有せしめた水素化アモルファスカーボン膜中に捕
捉されている比較的不安定なエネルギー状態の電子、例
えばπ電子、不対電子、残存フリーラジカル等が形成す
るバンド構造が、燐原子及び硼素原子のうち少なくとも
一方を含有すると共に酸素原子を含有してなる水素化或
は弗素化アモルファスシリコン膜が形成するバンド構造
と電導帯もしくは荷電子帯において近似したエネルギー
準位を有するため、燐原子及び硼素原子のうち少なくと
も一方を含有すると共に酸素原子を含有してなる水素化
或は弗素化アモルファスシリコン膜中で発生したキャリ
アが容易にシリコン原子及びゲルマニウム原子のうち少
なくとも一方を含有せしめた水素化アモルファスカーボ
ン膜中へ注入され、ざらに、このキャリアは前述の比較
的不安定なエネルギー状態の電子の作用によりシリコン
原子及びゲルマニウム原子のうち少なくとも一方を含有
せしめた水素化アモルファスカーボン膜中を好適に走行
し得るためと推定される。
While considering the application of an amorphous carbon film to an electrophotographic photoreceptor, the present inventors discovered that a hydrogenated amorphous carbon film, which was originally thought to be insulating, was found to contain at least one of silicon atoms and germanium atoms. By containing , it has charge transport properties and is easily suitable for stacking with a hydrogenated or fluorinated amorphous silicon film containing at least one of phosphorus atoms and boron atoms and also containing oxygen atoms. It was discovered that the electrophotographic properties began to show certain electrophotographic properties. There are many points in the theoretical interpretation that are unclear even to the inventor, so it is not possible to discuss the details in detail.
A band formed by electrons in a relatively unstable energy state, such as π electrons, unpaired electrons, and residual free radicals, captured in a hydrogenated amorphous carbon film containing at least one of silicon atoms and germanium atoms. An energy level whose structure is similar in conduction band or valence band to the band structure formed by a hydrogenated or fluorinated amorphous silicon film containing at least one of phosphorus atoms and boron atoms and oxygen atoms. Therefore, carriers generated in a hydrogenated or fluorinated amorphous silicon film containing at least one of phosphorus atoms and boron atoms and oxygen atoms can easily form at least one of silicon atoms and germanium atoms. The carriers are injected into the hydrogenated amorphous carbon film containing at least one of silicon atoms and germanium atoms due to the action of the electrons in the relatively unstable energy state described above. It is presumed that this is because it can run suitably through the carbon film.

本発明はその新たな知見を利用することにより、アモル
ファスシリコン感光体の持つ前述の如き本質的問題点を
全て解消し、また従来とは全く使用目的も特性も異なる
、有機プラズマ重合膜、特にシリコン原子及びゲルマニ
ウム原子のうち少なくとも一方を含有してなる水素化ア
モルファスカーボン膜を電荷輸送層として使用し、かつ
、燐原子及び硼素原子のうち少なくとも一方を含有する
と共に酸素原子を含有してなる水素化或は弗素化アモル
ファスシリコンの薄膜を電荷発生層として使用した感光
体を提供する事を目的とする。
By utilizing this new knowledge, the present invention solves all the above-mentioned essential problems of amorphous silicon photoreceptors, and also produces organic plasma polymerized films, especially silicon Hydrogenation using a hydrogenated amorphous carbon film containing at least one of atoms and germanium atoms as a charge transport layer, and containing at least one of phosphorus atoms and boron atoms as well as oxygen atoms. Another object of the present invention is to provide a photoreceptor using a thin film of fluorinated amorphous silicon as a charge generation layer.

問題点を解決するための手段 即ち、本発明は、電荷発生層と電荷輸送層とを有する機
能分離型感光体において、該電荷輸送層がプラズマ重合
反応から生成されるシリコン原子及びゲルマニウム原子
のうち少なくとも一方を含有してなる水素化アモルファ
スカーボン膜であり、かつ、該電荷発生層が燐原子及び
硼素原子のうち少なくとも一方を含有すると共に酸素原
子を含有してなる水素化或は弗素化アモルファスシリコ
ン膜であることを特徴とする感光体に関する(以下、本
発明による電荷輸送層をa−C膜及び電荷発生層をa−
5i膜と称する)。
Means for solving the problem, that is, the present invention provides a functionally separated photoreceptor having a charge generation layer and a charge transport layer, in which the charge transport layer contains silicon atoms and germanium atoms generated from a plasma polymerization reaction. A hydrogenated amorphous carbon film containing at least one of phosphorus atoms and boron atoms, and a hydrogenated or fluorinated amorphous silicon film containing at least one of phosphorus atoms and boron atoms and oxygen atoms. Regarding a photoreceptor characterized in that it is a film (hereinafter, the charge transport layer according to the present invention is referred to as a-C film and the charge generation layer is referred to as a-
5i film).

本発明は、従来のアモルファスシリコン感光体において
は、電荷発生層として優れた機能を有するアモルファス
シリコンを、電荷発生能が無くても電荷輸送能ざえあれ
ば済む電荷輸送層としても併用していたため発生してい
たこれらの問題点を解決すべく成されたものである。
The present invention was developed because, in conventional amorphous silicon photoreceptors, amorphous silicon, which has an excellent function as a charge generation layer, is also used as a charge transport layer, which requires only charge transport ability even if it does not have charge generation ability. This was done to solve these problems.

即ち、本発明は、電荷輸送層としてグロー放電により生
成されるシリコン原子及びゲルマニウム原子のうち少な
くとも一方を含有してなる水素化アモルファスカーボン
膜を設け、かつ、電荷発生層として同じくグロー放電に
より生成される燐原子及び硼素原子のうち少なくとも一
方を含有すると共に酸素原子を含有してなる水素化或は
弗素化アモルファスシリコン膜を設けた事を特徴とする
機能分離型感光体に関する。該電荷輸送層は、可視光も
しくは半導体レーザー光付近の波長の光に対しては明確
なる光導電性は有ざないが、好適な輸送性を有し、ざら
に、帯電能、耐久性、耐候性、耐環境汚染性等の電子写
真感光体性能に優れ、しかも透光性にも優れるため、機
能分離型感光体としての積層構造を形成する場合におい
ても極めて高い自由度が得られるものである。また、該
電荷発生層は、可視光もしくは半導体レーザー光付近の
波長の光に対して優れた光導電性を有し、しかも従来の
アモルファスシリコン感光体に比べて極めて薄い膜厚で
、その機能を活かす事ができるものである。
That is, the present invention provides a hydrogenated amorphous carbon film containing at least one of silicon atoms and germanium atoms produced by glow discharge as a charge transport layer, and a hydrogenated amorphous carbon film containing at least one of silicon atoms and germanium atoms produced by glow discharge as a charge generation layer. The present invention relates to a functionally separated photoreceptor characterized by being provided with a hydrogenated or fluorinated amorphous silicon film containing at least one of phosphorus atoms and boron atoms and oxygen atoms. Although the charge transport layer does not have clear photoconductivity for visible light or light with a wavelength near semiconductor laser light, it has suitable transport properties, and has good charging ability, durability, and weather resistance. It has excellent electrophotographic photoreceptor performance such as durability and environmental pollution resistance, and is also excellent in light transmission, so it provides an extremely high degree of freedom when forming a laminated structure as a function-separated photoreceptor. . In addition, the charge generation layer has excellent photoconductivity for visible light or light with a wavelength near semiconductor laser light, and has an extremely thin film thickness compared to conventional amorphous silicon photoreceptors. It is something that can be put to good use.

本発明においては、a−C膜を形成するために有機化合
物ガス、特に炭化水素ガスが用いられる。
In the present invention, an organic compound gas, particularly a hydrocarbon gas, is used to form the a-C film.

該炭化水素における相状態は常温常圧において必ずしも
気相である必要はなく、加熱或は減圧等により溶融、蒸
発、昇華等を経て気化しうるものであれば、液相でも固
相でも使用可能である。
The phase state of the hydrocarbon does not necessarily have to be a gas phase at room temperature and normal pressure; it can be used in either a liquid phase or a solid phase as long as it can be vaporized through melting, evaporation, sublimation, etc. by heating or reduced pressure. It is.

使用可能な炭化水素には種類が多いが、飽和炭化水素と
しては、例えば、メタン、エタン、プロパン、ブタン、
ペンタン、ヘキサン、ヘプタン、オクタン、ノナン、デ
カン、ウンデカン、ドデカン、トリテ゛カン、テトラデ
カン、ベンタテ°カン、ヘキサコサン、ヘブタテ゛カン
、オクタデカン、ノナデカン、エイコサン、ヘンエイコ
サン、トコサン、トリコサン、テトラコサン、ペンタコ
サン、ヘキサコサン、ヘプタコサン、オクタコサン、ノ
ナコサン、トリアコンタン、トドリアコンクン、ペンタ
トリアコンタン、等のノルマルパラフィン並びに、イソ
ブタン、イソペンタン、ネオペンタン、イソヘキサン、
ネオヘキサン、2.3−ジメチルブタン、2−メチルヘ
キサン、3−エチルペンタン、2.2−ジメチルペンタ
ン、2.4−ジメチルペンタン、3,3−ジメチルペン
タン、トリブタン、2−メチルへブタン、3−メチルへ
ブタン、2,2−ジメチルヘキサン、2.2.5−ジメ
チルヘキサン、2.2.3−トリメチルペンタン、2.
2.4−トリメチルペンタン、2,3゜3−トリメチル
ペンタン、2.3.4−)ジメチルペンタン、イソナノ
ン、等のイソパラフィン、等が用いられる。不飽和炭化
水素としては、例えば、エチレン、プロピレン、イソブ
チレン、1−ブテン、2−ブテン、1−ペンテン、2−
ペンテン、2−メチル−1−ブテン、3−メチル−1−
ブテン、2−メチル−2−ブテン、1−ヘキセン、テト
ラメチルエチレン、1−ヘプテン、1−オクテン、1−
ノネン、1−デセン、等のオレフィン、並びに、アレン
、メチルアレン、ブタジェン、ペンタジェン、ヘキサジ
エン、シクロペンタジェン、等のジオレフィン、並びに
、オシメン、アロオシメン、ミルセン、ヘキサトリエン
、等のトリオレフイン、並びに、アセチレン、ブタジイ
ン、1゜3−ペンタジイン、2.4−へキサジイン、メ
チルアセチレン、1−ブチン、2−ブチン、1−ペンチ
ン、1−ヘキシン、1−ヘプチン、1−オクチン、1−
ノニン、1−デシン、等が用いられる。
There are many types of hydrocarbons that can be used, but examples of saturated hydrocarbons include methane, ethane, propane, butane,
Pentane, hexane, heptane, octane, nonane, decane, undecane, dodecane, tritecane, tetradecane, bentatecane, hexacosane, hebutatecane, octadecane, nonadecane, eicosane, heneicosane, tocosane, tricosane, tetracosane, pentacosane, hexacosane, heptacosane, octacosane, Normal paraffins such as nonacosane, triacontane, todoriacontane, pentatriacontane, as well as isobutane, isopentane, neopentane, isohexane,
Neohexane, 2,3-dimethylbutane, 2-methylhexane, 3-ethylpentane, 2,2-dimethylpentane, 2,4-dimethylpentane, 3,3-dimethylpentane, tributane, 2-methylhebutane, 3 -Methylhebutane, 2,2-dimethylhexane, 2.2.5-dimethylhexane, 2.2.3-trimethylpentane, 2.
Isoparaffins such as 2.4-trimethylpentane, 2,3°3-trimethylpentane, 2.3.4-)dimethylpentane, isonanone, etc. are used. Examples of unsaturated hydrocarbons include ethylene, propylene, isobutylene, 1-butene, 2-butene, 1-pentene, 2-
Pentene, 2-methyl-1-butene, 3-methyl-1-
Butene, 2-methyl-2-butene, 1-hexene, tetramethylethylene, 1-heptene, 1-octene, 1-
Olefins such as nonene, 1-decene, diolefins such as allene, methylalene, butadiene, pentadiene, hexadiene, cyclopentadiene, and triolefins such as ocimene, alloocimene, myrcene, hexatriene, and Acetylene, butadiyne, 1゜3-pentadiyne, 2.4-hexadiyne, methylacetylene, 1-butyne, 2-butyne, 1-pentyne, 1-hexyne, 1-heptyne, 1-octyne, 1-
Nonine, 1-decyne, etc. are used.

脂環式炭化水素としては、例えば、シクロプロパン、シ
クロブタン、シクロペンタン、シクロヘキサン、シクロ
へブタン、シクロオクタン、シクロノナン、シクロデカ
ン、シクロウンデカン、シクロドデカン、シクロトリデ
カン、シクロテトラデカン、シクロペンタデカン、シク
ロヘキサデカン、等のシクロパラフィン並びに、シクロ
プロペン、シクロブテン、シクロペンテン、シクロヘキ
セン、シクロヘプテン、シクロオクテン、シクロノネン
、シクロデセン、等のシクロオレフィン並びに、リモネ
ン、テルビルン、フエランドレン、シルベストレン、ツ
エン、カレン、ピネン、ボルニレン、カンフエン、フェ
ンチェン、シクロウンデカン、トリシクレン、ビサボレ
ン、ジンギベレン、クルクメン、フムレン、カジネンセ
スキベニヘン、セリネン、カリオフィレン、サンタレン
、セドレン、カンホレン、フィロクラテン、ボドカルブ
レン、ミレン、等のテルペン並びに、ステロイド等が用
いられる。芳香族炭化水素としては、例えば、ベンゼン
、トルエン、キシレン、ヘミメリテン、プソイドクメン
、メシチレン、プレニテン、イソジュレン、ジュレン、
ペンタメチルベンゼン、ヘキサメチルベンゼン、エチル
ベンゼン、プロピルベンゼン、クメン、スチレン、ビフ
ェニル、テルフェニル、ジフェニルメタン、トリフェニ
ルメタン、ジベンジル、スチルベン、インデン、ナフタ
リン、テトラリン、アントラセン、フェナントレン、等
が用いられる。
Examples of alicyclic hydrocarbons include cyclopropane, cyclobutane, cyclopentane, cyclohexane, cyclohebutane, cyclooctane, cyclononane, cyclodecane, cycloundecane, cyclododecane, cyclotridecane, cyclotetradecane, cyclopentadecane, cyclohexadecane, Cycloparaffins such as cyclopropene, cyclobutene, cyclopentene, cyclohexene, cycloheptene, cyclooctene, cyclononene, cyclodecene, and cycloolefins such as limonene, tervirune, phelandrene, sylvestrene, thuene, carene, pinene, bornylene, camphene, and phene. Terpenes such as chen, cycloundecane, tricyclene, bisabolene, zingiberene, curcumene, humulene, kajinensesesquivenichen, selinene, caryophyllene, santarene, cedrene, camphorene, phylloclatene, bodocarbrene, mirene, and steroids are used. Examples of aromatic hydrocarbons include benzene, toluene, xylene, hemimelithene, pseudocumene, mesitylene, prenitene, isodurene, durene,
Pentamethylbenzene, hexamethylbenzene, ethylbenzene, propylbenzene, cumene, styrene, biphenyl, terphenyl, diphenylmethane, triphenylmethane, dibenzyl, stilbene, indene, naphthalene, tetralin, anthracene, phenanthrene, etc. are used.

ざらに、炭化水素以外でも、例えば、アルコール類、ケ
トン類、エーテル類、エステル類、等炭素と成りうる化
合物であれば使用可能である。
In general, any compound other than hydrocarbons that can be converted into carbon, such as alcohols, ketones, ethers, and esters, can be used.

本発明におけるa −CfJ中に含まれる水素原子の量
はグロー放電を用いるというその製造面がら必然的に定
まるが、炭素原子と水素原子の総量に対して、概ね30
乃至60原子%含有される。ここで、炭素原子並びに水
素原子の膜中含有量は、有機元素分析の常法、例えばO
NH分析を用いる事により知る事ができる。
The amount of hydrogen atoms contained in a-CfJ in the present invention is inevitably determined by the production process using glow discharge, but it is approximately 30% of the total amount of carbon atoms and hydrogen atoms.
It is contained in an amount of 60 atomic %. Here, the content of carbon atoms and hydrogen atoms in the film is determined using a conventional method for organic elemental analysis, for example, O
This can be determined by using NH analysis.

本発明におけるa −C膜中に含まれる水素原子の量は
、成膜装置の形態並びに成膜時の条件により変化するが
、例えば、基板温度を高くする、圧力を低くする、原料
炭化水素ガスの希釈率を低くする、印加電力を高くする
、交番電界の周波数を低くする、交番電界に重畳せしめ
た直流電界強度を高くする、等の手段、或は、これらの
組合せ操作は、含有水素量を低くする効果を有する。
The amount of hydrogen atoms contained in the a-C film in the present invention varies depending on the form of the film forming apparatus and the conditions during film forming, but for example, increasing the substrate temperature, lowering the pressure, using the raw material hydrocarbon gas, etc. Measures such as lowering the dilution rate of hydrogen, increasing the applied power, lowering the frequency of the alternating electric field, increasing the strength of the direct current electric field superimposed on the alternating electric field, or combinations thereof, can reduce the amount of hydrogen contained. It has the effect of lowering

本発明における電荷輸送層としてのa −C膜の膜厚は
、通常の電子写真プロセスで用いるためには、5乃至5
0μm1特に7乃至20μmが適当であり、5μmより
薄いと、帯電電位が低いため充分な複写画像濃度を得る
事ができない。また、50μmより厚いと、生産性の面
で好ましくない。
The thickness of the a-C film as the charge transport layer in the present invention is 5 to 5
A suitable value is 0 μm, especially 7 to 20 μm; if it is thinner than 5 μm, the charging potential will be low, making it impossible to obtain a sufficient density of the copied image. Moreover, if it is thicker than 50 μm, it is not preferable in terms of productivity.

このa−C膜は、高透光性、高暗抵抗を有するとともに
電荷輸送性に富み、膜厚を上記の様に5μm以上として
もキャリアはトラップされる事無く輸送され明減衰に寄
与する事が可能である。
This a-C film has high light transmittance, high dark resistance, and is rich in charge transport properties, and even if the film thickness is 5 μm or more as mentioned above, carriers are transported without being trapped and contribute to bright attenuation. is possible.

本発明における原料気体からa −C膜を形成する過程
としては、原料気体が、直流、低周波、窩周波、或はマ
イクロ波等を用いたプラズマ法により生成されるプラズ
マ状態を経て形成される方法が最も好ましいが、その他
にも、イオン化蒸着法、或はイオンビーム蒸着法等によ
り生成されるイオン状態を経て形成されてもよいし、真
空蒸着法、或はスパッタリング法等により生成される中
性粒子から形成されてもよいし、ざらには、これらの組
み合わせにより形成されてもよい。
In the process of forming an a-C film from a raw material gas in the present invention, the raw material gas is formed through a plasma state generated by a plasma method using direct current, low frequency, cavity frequency, microwave, etc. Although this method is the most preferable, it may also be formed through an ion state generated by an ionization vapor deposition method, an ion beam vapor deposition method, etc., or an intermediate state generated by a vacuum vapor deposition method, a sputtering method, etc. It may be formed from sexual particles, or it may be formed from a combination of these particles.

本発明においては炭化水素の他に、a −C膜中に少な
くともシリコン原子或はゲルマニウム原子を添加するた
めの原料として、シリコン化合物或はゲルマニウム化合
物が用いられる。該シリコン化合物或はゲルマニウム化
合物における相状態は常温常圧において必ずしも気相で
ある必要はなく、加熱或は減圧等により溶融、蒸発、昇
華等を経て気化しうるものであれば、液相でも固相でも
使用可能である。シリコン化合物或はゲルマニウム化金
物としては、例えば、シラン、ジシラン、弗化シラン、
ゲルマン等の無機化合物、金属フタロシアニン、金属ア
ルコラード等の有機化合物が用いられる。
In the present invention, in addition to hydrocarbons, a silicon compound or a germanium compound is used as a raw material for adding at least silicon atoms or germanium atoms into the a-C film. The phase state of the silicon compound or germanium compound does not necessarily have to be a gas phase at room temperature and normal pressure, but it can be a liquid phase or a solid phase as long as it can be vaporized through melting, evaporation, sublimation, etc. by heating or reduced pressure. It can also be used in phases. Examples of the silicon compound or metal germanide include silane, disilane, fluorinated silane,
Inorganic compounds such as germane and organic compounds such as metal phthalocyanine and metal alcoholade are used.

本発明において化学的修飾物質として含有されるシリコ
ン原子或(よゲルマニウム原子の量は、全構成原子に対
して10原子%以下である。ここで、シリコン原子或は
ゲルマニウム原子の膜中含有量は、元素分析の常法、例
えばオージェ分析により知る事ができる。シリコン原子
或はゲルマニウム原子を含まない場合には、好適な輸送
性が確保されず、ざらに、成膜後の経時劣化を招きやす
くなる。一方、シリコン原子の量が10原子%を越える
場合には、少量の添加では好適な輸送性を保証していた
シリコン原子が逆に膜の高抵抗化を招く作用を示し、感
度が低下してしまう。一方、ゲルマニウム原子の量が1
0原子%を越える場合には、少量の添加では好適な輸送
性を保証していたゲルマニウム原子が逆に膜の低抵抗化
を招く作用を示し、帯電能が低下してしまう。従って、
本発明におけるシリコン原子或はゲルマニウム原子の添
加量範囲は重要である。
In the present invention, the amount of silicon atoms (or germanium atoms) contained as a chemical modifier is 10 at% or less based on the total constituent atoms.Here, the content of silicon atoms or germanium atoms in the film is This can be determined by conventional methods of elemental analysis, such as Auger analysis.If silicon atoms or germanium atoms are not included, suitable transport properties cannot be ensured, and deterioration over time after film formation is likely to occur. On the other hand, when the amount of silicon atoms exceeds 10 at %, the silicon atoms, which had guaranteed good transport properties when added in small amounts, instead work to increase the resistance of the film, resulting in a decrease in sensitivity. On the other hand, if the amount of germanium atoms is 1
If the amount exceeds 0 atomic %, the germanium atoms, which had ensured suitable transport properties when added in small amounts, instead exhibit the effect of lowering the resistance of the film, resulting in a decrease in charging ability. Therefore,
In the present invention, the range of the amount of silicon atoms or germanium atoms added is important.

本発明において化学的修飾物質として含有されるシリコ
ン原子或はゲルマニウム原子の量は、主に、プラズマ反
応を行なう反応室への前述のシリコン化合物或はゲルマ
ニウム化合物の導入量を増減することにより制御するこ
とが可能である。シリコン化合物或はゲルマニウム化合
物の導入量を増大させれば、本発明によるa−Cp中へ
のシリコン原子或はゲルマニウム原子の添加量を窩くす
ることが可能であり、逆にシリコン化合物或はゲルマニ
ウム化合物の導入量を減少させれば、本発明によるa−
C膜中へのシリコン原子或はゲルマニウム原子の添加量
を低くすることが可能である。
In the present invention, the amount of silicon atoms or germanium atoms contained as a chemical modifier is mainly controlled by increasing or decreasing the amount of the silicon compound or germanium compound introduced into the reaction chamber in which the plasma reaction is performed. Is possible. By increasing the amount of silicon compound or germanium compound introduced, it is possible to reduce the amount of silicon atoms or germanium atoms added to a-Cp according to the present invention. By reducing the amount of compound introduced, a-
It is possible to reduce the amount of silicon atoms or germanium atoms added to the C film.

本発明においては、a−Si膜を形成するためにシラン
ガス、ジシランガス、或は、弗化シランガスが用いられ
る。また、化学的修飾物質として燐原子或は硼素原子を
膜中に含有せしめるための原料ガスとして、ホスフィン
ガス或はジボランガス等が用いられる。さらに、化学的
修飾物質として酸素原子を膜中に含有せしめるための原
料ガスとして、酸素ガス、亜酸化窒素ガス、オゾンガス
、或は、−酸化炭素ガス、等の酸素化合物ガスが用いら
れる。
In the present invention, silane gas, disilane gas, or fluorinated silane gas is used to form the a-Si film. Furthermore, phosphine gas, diborane gas, or the like is used as a raw material gas for incorporating phosphorus atoms or boron atoms as chemical modifiers into the film. Furthermore, an oxygen compound gas such as oxygen gas, nitrous oxide gas, ozone gas, or -carbon oxide gas is used as a raw material gas for containing oxygen atoms as a chemical modifier in the film.

本発明において化学的修飾物質として含有される燐原子
或は硼素原子の量は、全構成原子に対して20000原
子ppm以下である。ここで燐原子或は硼素原子の膜中
含有量は、元素分析の常法、例えばオージェ分析或はI
MA分析により知る事ができる。燐原子或は硼素原子の
膜中含有量が20000原子ppmより高い場合には、
少量の添加では好適な輸送性、或は、極性制御効果を保
証していた燐原子或は硼素原子が、逆に膜の低抵抗化を
招く作用を示し、帯電能の低下を来たす。従って、本発
明における燐原子或は硼素原子添加量の範囲は重要であ
る。
In the present invention, the amount of phosphorus atoms or boron atoms contained as a chemical modifier is 20,000 atomic ppm or less based on all constituent atoms. Here, the content of phosphorus atoms or boron atoms in the film is determined by a conventional method of elemental analysis, such as Auger analysis or I
This can be known through MA analysis. When the content of phosphorus atoms or boron atoms in the film is higher than 20,000 atomic ppm,
Phosphorus atoms or boron atoms, which, when added in small amounts, ensure suitable transport properties or polarity control effects, conversely exhibit the effect of lowering the resistance of the film, resulting in a decrease in charging ability. Therefore, the range of the amount of phosphorus atoms or boron atoms added in the present invention is important.

本発明において化学的修飾物質として含有される酸素原
子の量は、全構成原子に対して0.001乃至1原子%
である。ここで酸素原子の膜中含有量は、元素分析の常
法、例えばオージェ分析或はIMA分析により知る事が
できる。酸素原子の膜中含有量がo、ooi原子%より
低い場合には、a−5i膜の電気抵抗値が低くなる事か
らa−Si膜にコロナ帯電等による電界がかかりにくく
なり、光励起キャリアが必ずしも効率よ<a−C膜中に
注入されなくなり感度の低下を招く。また、帯電能も低
下する。酸素原子の膜中含有量が1原子%より高い場合
には、逆にa−Si膜の電気抵抗値が高くなりすぎる事
から、光励起キャリアの発生効率並びに易動速度が低下
し、感度の低下を招く。従って、本発明における酸素原
子添加量の範囲は重要である。
In the present invention, the amount of oxygen atoms contained as a chemical modifier is 0.001 to 1 atomic% based on the total constituent atoms.
It is. Here, the content of oxygen atoms in the film can be determined by a conventional method of elemental analysis, such as Auger analysis or IMA analysis. When the content of oxygen atoms in the film is lower than o or ooi atomic percent, the electric resistance value of the a-5i film becomes low, making it difficult for the a-Si film to be subjected to an electric field due to corona charging, etc., and photoexcited carriers are It is not necessarily efficient to inject into the aC film, resulting in a decrease in sensitivity. Furthermore, the charging ability is also reduced. If the content of oxygen atoms in the film is higher than 1 atomic %, the electrical resistance of the a-Si film becomes too high, resulting in a decrease in the generation efficiency and mobile speed of photoexcited carriers, and a decrease in sensitivity. invite. Therefore, the range of the amount of oxygen atoms added in the present invention is important.

本発明におけるa−3i膜中に含まれる水素原子或は弗
素原子の量はグロー放電を用いるというその製造面から
必然的に定まるが、シリコン原子と水素原子或はシリコ
ン原子と弗素原子の総量に対して、概ね10乃至35原
子%含有される。ここで、水素原子或は弗素原子の膜中
含有量は、元素分析の宮法、例えばONH分析、オージ
ェ分析等を用いる事により知る事ができる。
The amount of hydrogen atoms or fluorine atoms contained in the a-3i film of the present invention is necessarily determined from the manufacturing aspect of using glow discharge, but the total amount of silicon atoms and hydrogen atoms or silicon atoms and fluorine atoms On the other hand, the content is approximately 10 to 35 at%. Here, the content of hydrogen atoms or fluorine atoms in the film can be determined by using the Miya method of elemental analysis, such as ONH analysis and Auger analysis.

本発明における電荷発生層としてのa−3i膜の膜厚は
、通常の電子写真プロセスで用いるためには、0.1乃
至5μmが適当であり、0.1μmより薄いと、光吸収
が不十分となり充分な電荷発生が行なわれなくなり、感
度の低下を招く。また、5μmより厚いと、生産性の面
で好ましくない。このa−3i膜は電荷発生能に富み、
さらに、本発明の最も特徴とするところのa  CFJ
との積層構成において効率よ<a−C膜中に発生キャリ
アを注入せしめ、好適な明減衰に寄与する事が可能であ
る。
The appropriate thickness of the a-3i film as the charge generation layer in the present invention is 0.1 to 5 μm for use in a normal electrophotographic process, and if it is thinner than 0.1 μm, light absorption is insufficient. As a result, sufficient charge generation is not performed, resulting in a decrease in sensitivity. Moreover, if it is thicker than 5 μm, it is not preferable in terms of productivity. This a-3i film has a rich charge generation ability,
Furthermore, the most characteristic feature of the present invention is a CFJ
In the laminated structure with the a-C film, generated carriers can be efficiently injected into the a-C film, contributing to suitable bright attenuation.

本発明における原料気体からa−Si膜を形成する過程
は、a−C膜を形成する場合と同様にして行なわれる。
The process of forming an a-Si film from a raw material gas in the present invention is carried out in the same manner as in the case of forming an a-C film.

本発明において化学的修飾物質として含有される酸素原
子、燐原子、或は、硼素原子の量は、主に、プラズマ反
応を行なう反応室への前述の酸素化合物ガス、ホスフィ
ンガス、或は、ジボランガスの導入量を増減することに
よや制御することが可能である。酸素化合物ガス、ホス
フィンガス、或は、ジボランガスの導入量を増大させれ
ば、本発明によるa−5i膜中への酸素原子、燐原子、
或は、硼素原子の添加量を高くすることが可能であり、
逆に酸素化合物ガス、ホスフィンガス、或は、ジボラン
ガスの導入量を減少させれば、本発明によるa−3i膜
中への酸素原子、燐原子、或は、硼素原子の添加量を低
くすることが可能である。
In the present invention, the amount of oxygen atoms, phosphorus atoms, or boron atoms contained as chemical modifiers is mainly determined by the amount of oxygen compound gas, phosphine gas, or diborane gas introduced into the reaction chamber in which the plasma reaction is performed. This can be controlled by increasing or decreasing the amount of introduced. By increasing the amount of oxygen compound gas, phosphine gas, or diborane gas introduced, oxygen atoms, phosphorus atoms,
Alternatively, it is possible to increase the amount of boron atoms added,
Conversely, if the amount of oxygen compound gas, phosphine gas, or diborane gas introduced is reduced, the amount of oxygen atoms, phosphorus atoms, or boron atoms added to the a-3i film according to the present invention can be reduced. is possible.

本発明における感光体は、電荷発生層と電荷輸送層から
成る機能分離型の構成とするのが最適で、該電荷発生層
と該電荷輸送層の積層構成は、必要に応じて適宜選択す
ることが可能である。
It is optimal for the photoreceptor in the present invention to have a functionally separated structure consisting of a charge generation layer and a charge transport layer, and the laminated structure of the charge generation layer and the charge transport layer may be appropriately selected as necessary. is possible.

第1図は、その一形態として、導電性基板(1)上に電
荷輸送層(2)と電荷発生層(3)を順次積層してなる
構成を示したものである。第2図は、別の一形態として
、導電性基板(1)上に電荷発生層(3)と電荷輸送層
(2)を順次積層してなる構成を示したものである。第
3図は、別の一形態として、導電性基板(1)上に、電
荷輸送層(2)と電荷発生層(3)と電荷輸送N(2)
を順次積層してなる構成を示したものである。
FIG. 1 shows, as one embodiment, a structure in which a charge transport layer (2) and a charge generation layer (3) are sequentially laminated on a conductive substrate (1). FIG. 2 shows, as another embodiment, a structure in which a charge generation layer (3) and a charge transport layer (2) are sequentially laminated on a conductive substrate (1). FIG. 3 shows, as another form, a charge transport layer (2), a charge generation layer (3), and a charge transport N (2) on a conductive substrate (1).
This figure shows a structure in which these are sequentially laminated.

感光体表面を、例えばコロナ帯電器等により正帯電した
後、画像露光して使用する場合においては、第1図では
電荷発生層(3)で発生した正孔が電荷輸送N(2)中
を導電性基板(1)に向は走行し、第2図では電荷発生
層(3)で発生した電子が電荷輸送層(2)中を感光体
表面に向は走行し、第3図では電荷発生層(3)で発生
した正孔が導電性基板側の電荷輸送層(2)中を導電性
基板(1)に向は走行すると共に、同時に電荷発生層(
3)で発生した電子が表面側の電荷輸送層(2)中を感
光体表面に向は走行し、好適な明減衰に保証された静電
潜像の形成が行なわれる。反対に感光体表面を負帯電し
た後、画像露光して使用する場合においては、電子と正
孔の挙動を入れ代えて、キャリアーの走行性を解すれば
よい。第2図及び第3図では、画像露光用の照射光が電
荷輸送層中を通過する事になるが、本発明による電荷輸
送層は透光性に優れることから、好適な潜像形成を行な
うことが可能である。
When the surface of the photoreceptor is positively charged, for example, by a corona charger, and then used for image exposure, in FIG. In Figure 2, electrons generated in the charge generation layer (3) travel towards the surface of the photoreceptor in the charge transport layer (2), and in Figure 3, electrons are generated in the conductive substrate (1). Holes generated in the layer (3) travel toward the conductive substrate (1) through the charge transport layer (2) on the conductive substrate side, and at the same time travel through the charge generation layer (2) toward the conductive substrate (1).
The electrons generated in step 3) travel toward the surface of the photoreceptor through the charge transport layer (2) on the front side, forming an electrostatic latent image guaranteed to have suitable brightness attenuation. On the other hand, when the surface of the photoreceptor is negatively charged and then used for image exposure, the behavior of electrons and holes can be exchanged to understand the mobility of carriers. In FIGS. 2 and 3, the irradiation light for image exposure passes through the charge transport layer, but since the charge transport layer according to the present invention has excellent translucency, it forms a suitable latent image. Is possible.

第4図は、ざらなる一形態として、導電性基板(1)上
に電荷輸送層(2)と電荷発生層(3)と表面保護N(
4)を順次積層してなる構成を示したものである。即ち
第1図の形態に表面保護層を設けた形態に相当するが、
第1図の形態では、最表面が耐湿性に乏しいa−3i膜
で有ることから、多くの場合実用上の対湿度安定性を確
保するために表面保護層を設けることが好ましい。第2
図及び第3図の構成の場合、最表面が耐久性に擾れたa
−C膜であるため表面保護層を設けなくてもよいが、例
えば現像剤の付着による感光体表面の汚れを防止するよ
うな、複写機内の各種エレメントに対する整合性を調整
する目的から、表面保護層を設けることもざらなる一形
態と成りうる。
FIG. 4 shows a conductive substrate (1), a charge transport layer (2), a charge generation layer (3) and a surface protection N(
4) is shown in a structure formed by sequentially stacking them. In other words, it corresponds to the form shown in Fig. 1 with a surface protective layer provided, but
In the form of FIG. 1, since the outermost surface is an a-3i film with poor moisture resistance, in many cases it is preferable to provide a surface protective layer in order to ensure practical humidity stability. Second
In the case of the configurations shown in Figures and Figure 3, the outermost surface has deteriorated in durability.
- Since it is a C film, there is no need to provide a surface protective layer, but for the purpose of adjusting the consistency with various elements in the copying machine, such as preventing stains on the surface of the photoreceptor due to adhesion of developer, surface protection Providing layers can also be an alternative form.

第5図は、ざらなる一形態として、導電性基板(1)上
に中間層(5)と電荷発生層(3)と電荷輸送N(2)
を順次積層してなる構成を示したものである。即ち第2
図の形態に中間層を設けた形態に相当するが、第2図の
形態では、導電性基板との接合面がa−3iFiである
事から、多くの場合接着性及び注入阻止効果を確保する
ために中間層を設ける事が好ましい。第1図及び第3図
の構成の場合、導電性基板との接合面が、接着性及び注
入阻止効果に優れた、本発明による電荷輸送層であるた
めミ中間層を設けなくてもよいが、例えば導電性基板の
前処理方法のような、感光層形成以前の製造工程との整
合性を調整する目的から、中間層を設けることもざらな
る一形態と成りうる。
FIG. 5 shows an intermediate layer (5), a charge generation layer (3), and a charge transport N (2) on a conductive substrate (1) as a rough form.
This figure shows a structure in which these are sequentially laminated. That is, the second
This corresponds to the form shown in the figure with an intermediate layer provided, but in the form shown in Fig. 2, the bonding surface with the conductive substrate is a-3iFi, so in most cases adhesiveness and injection blocking effect are ensured. Therefore, it is preferable to provide an intermediate layer. In the case of the configurations shown in FIGS. 1 and 3, there is no need to provide an intermediate layer because the bonding surface with the conductive substrate is the charge transport layer according to the present invention, which has excellent adhesiveness and injection blocking effect. For example, an intermediate layer may be provided for the purpose of adjusting compatibility with a manufacturing process before forming a photosensitive layer, such as a pretreatment method for a conductive substrate.

第6図は、ざらなる一形態として、導電性基板(1)上
に中間層(5)と電荷輸送層(2)と電荷発生層(3)
と表面保護N(4)を順次積層してなる構成を示したも
のである。即ち第1図の形態に中間層と表面保護層を設
けた形態に相当する。
FIG. 6 shows, as a rough form, an intermediate layer (5), a charge transport layer (2), and a charge generation layer (3) on a conductive substrate (1).
This figure shows a structure in which a surface protection layer N(4) and a surface protection layer N(4) are sequentially laminated. That is, it corresponds to the form shown in FIG. 1 with an intermediate layer and a surface protective layer provided.

中間層と表面保護層の設置理由は前述と同様であり、従
って第2図及び第3図の構成において中間層と表面保護
層を設けることもさらなる一形態と成りうる。
The reason for providing the intermediate layer and the surface protective layer is the same as described above, and therefore, providing the intermediate layer and the surface protective layer in the configurations shown in FIGS. 2 and 3 can be a further form.

本発明において中間層と表面保護層は、材料的にも、製
法的にも、特に限定を受けるものではなく所定の目的が
達せられるものであれば、適宜選択することが可能であ
る。本発明によるa−C膜を用いてもよい。但し、用い
る材料が、例えば従来例で述べた如き絶縁性材料である
場合には、残留電位発生の防止のため膜厚は5μm以下
に留める必要がある。
In the present invention, the intermediate layer and the surface protective layer are not particularly limited in terms of material or manufacturing method, and can be appropriately selected as long as a predetermined purpose can be achieved. An a-C film according to the invention may also be used. However, if the material used is, for example, an insulating material as described in the conventional example, the film thickness must be kept at 5 μm or less to prevent generation of residual potential.

本発明による感光体の電荷輸送層は、気相状態の分子を
減圧下で放電分解し、発生したプラズマ雰囲気中に含ま
れる活性中性種あるいは荷i種を基板上に拡散、電気力
、あるいは磁気力等により誘導し、基板上での再結合反
応により固相として堆積きせる、所謂プラズマ重合反応
から生成される事が好ましい。
The charge transport layer of the photoreceptor according to the present invention decomposes molecules in the gas phase by discharge under reduced pressure, and diffuses active neutral species or charged i species contained in the generated plasma atmosphere onto the substrate, using electric force or It is preferable that the material be generated by a so-called plasma polymerization reaction, which is induced by magnetic force or the like and deposited as a solid phase by a recombination reaction on a substrate.

第7図は本発明に係わる感光体の製造装置を示し、図中
(701)〜(706)は常温において気相状態にある
原料化合物及びキャリアガスを密封した第1乃至第6タ
ンクで、各々のタンクは第1乃至第6調節弁(707)
〜(712)と第1乃至第6流量制陣器(713)〜(
718)に接続されている。図中(719)〜(721
)は常温においてi々相または固相状態にある原料化合
物を封入した第1乃至第3容器で、各々の容器は気化の
ため第1乃至第3温N器(722)〜(724)により
与熱可能であり、ざらに各々の容器は第7乃至第9調節
弁(725)〜(727)と第7乃至第9流fn TI
J御器(728)〜(730)に接続されている。これ
らのガスは混合器(731)で混合された後、主管(7
32)を介して反応室(733)に送り込まれる。途中
の配管は、常温において液相または固相状態にあった原
料化合物が気化したガスが、途中で凝結しないように、
適宜配置された配管前P8器(734)により、与熱可
能とされている。反応室内には接地電極(735)と電
力中7IIlr電極(736)が対向して設置され、各
々の電極は電極加熱器(737)により与熱可能とされ
ている。電力印加電極(736)には、高周波電力用整
合器(738)を介して高周波電源(739) 、低周
波電力用整合! (740)を介して低周波電源(74
1)、ローパスフィルタ(742)を介して直流電源(
743)が接続されており、接続選択スイッチ(744
)により周波数の異なる電力が印加可能とされている。
FIG. 7 shows a photoconductor manufacturing apparatus according to the present invention, and in the figure (701) to (706) are first to sixth tanks in which the raw material compound and carrier gas, which are in a gas phase at room temperature, are sealed, respectively. The tanks are the first to sixth control valves (707)
~(712) and the first to sixth flow rate regulators (713)~(
718). (719) to (721) in the figure
) are the first to third containers containing raw material compounds that are in the i-phase or solid phase state at room temperature, and each container is heated by the first to third temperature N units (722) to (724) for vaporization. Each container has seventh to ninth control valves (725) to (727) and seventh to ninth flow fn TI.
It is connected to J Goki (728) to (730). After these gases are mixed in a mixer (731), they are passed through the main pipe (731).
32) into the reaction chamber (733). The pipes in the middle are designed to prevent the vaporized gas from the raw material compound, which is in a liquid or solid state at room temperature, from condensing on the way.
Heat can be supplied by a P8 device (734) in front of the piping, which is appropriately placed. A ground electrode (735) and a 7IIlr electrode (736) are installed facing each other in the reaction chamber, and each electrode can be heated by an electrode heater (737). A high frequency power source (739) is connected to the power application electrode (736) via a high frequency power matching box (738), and a low frequency power matching device is connected to the power applying electrode (736). (740) to the low frequency power supply (74
1), DC power supply (
743) is connected, and the connection selection switch (744
), it is possible to apply power with different frequencies.

反応室(733)内の圧力は圧力制御弁(745)によ
り調整可能であり、反応室(733)内の減圧は、排気
系選択弁(746)を介して、拡散ポンプ(747) 
、油回転ポンプ(748) 、或は、冷却除外装置(7
49) 、メカニカルブースターポンプ(750) 、
油回転ポンプ(748)により行なわれる。排ガスにつ
いては、ざらに適当な除外装置(753)により安全無
害化した後、大気中に排気される。これら排気系配管に
ついても、常温において液相または固相状態にあった原
料化合物が気化したガスが、途中で凝結しないように、
適宜配置された配管加熱器(734)により、与熱可能
とされている。反応室(733)も同様の理由から反応
室加熱器(751)により与熱可能とされ、内部に配さ
れた電極上に導電性基板(752)が設置される。第7
図において導電性基板(752)は接地電極(735)
に固定して配されているが、電力印加電極(736)に
固定して配されてもよく、ざらに双方に配されてもよい
The pressure in the reaction chamber (733) can be adjusted by a pressure control valve (745), and the pressure in the reaction chamber (733) can be reduced by a diffusion pump (747) via an exhaust system selection valve (746).
, oil rotary pump (748), or cooling exclusion device (748)
49), mechanical booster pump (750),
This is done by an oil rotary pump (748). The exhaust gas is made safe and harmless by a suitable exclusion device (753) and then exhausted into the atmosphere. These exhaust system pipings are also designed to prevent the vaporized gas from the raw material compounds, which are in a liquid or solid state at room temperature, from condensing on the way.
Heat can be supplied by appropriately placed pipe heaters (734). For the same reason, the reaction chamber (733) can also be heated by a reaction chamber heater (751), and a conductive substrate (752) is installed on the electrode arranged inside. 7th
In the figure, the conductive substrate (752) is the ground electrode (735)
Although it is fixedly arranged on the power application electrode (736), it may be fixedly arranged on the power application electrode (736), or may be arranged roughly on both sides.

第8図は本発明に係わる感光体の製造装置の別の一形態
を示し、反応室(833)内部の形態以外は、第7図に
示した本発明に係わる感光体の製造装置と同様であり、
付記された番号は、700番台のものを800番台に置
き換えて解すればよい。第8図において、反応室(83
3)内部には、第7図における接地電極(735)を兼
ねた円筒形の導電性基板(852)が設置され、内側に
は電極加熱器(837)が配されている。導電性基板(
852)周囲には同じく円筒形状をした電力印加電極(
836)が配され、外側には電極加熱器(837)が配
されている。導電性基板(852)は、外部より駆動モ
ータ(854)を用いて自転可能となっている。
FIG. 8 shows another embodiment of the photoconductor manufacturing apparatus according to the present invention, which is similar to the photoconductor manufacturing apparatus according to the present invention shown in FIG. 7 except for the internal configuration of the reaction chamber (833). can be,
The appended numbers can be understood by replacing the 700s with 800s. In FIG. 8, the reaction chamber (83
3) A cylindrical conductive substrate (852) that also serves as the ground electrode (735) in FIG. 7 is installed inside, and an electrode heater (837) is placed inside. Conductive substrate (
852) There is also a cylindrical power application electrode (
836) is arranged, and an electrode heater (837) is arranged outside. The conductive substrate (852) is rotatable using an external drive motor (854).

感光体製造に供する反応室は、拡散ポンプにより予め1
0−4乃至1O−6Torr程度にまで減圧し、真空度
の確認と装置内部に吸着したガスの脱着を行なう。同時
に電極加熱器により、電極並びに電極に固定して配され
た導電性基板を所定の温度まで昇温する。導電性基板に
は、前述の如き感光体構成の中から所望の構成を得るた
めに、必要であれば、予めアンダーコート層或は電荷発
生層を設けて置いてもよい。アンダーコート層或は電荷
発生層の設置には、本装置を用いてもよいし別装置を用
いてもよい。次いで、第1乃至第6タンク及び第1乃至
第3容器から、原料ガスを適宜第1乃至第9流量制御器
を用いて定流量化しながら反応室内に導入し、圧力調節
弁により反応室内を一定の減圧状態に保つ。ガス流量が
安定化した後、接続選択スイッチにより、例えば高周波
電源を選択し、電力印加電極に高周波電力を投入する。
The reaction chamber used for photoreceptor production is preliminarily heated by a diffusion pump.
The pressure is reduced to about 0-4 to 10-6 Torr, and the degree of vacuum is confirmed and the gas adsorbed inside the device is desorbed. At the same time, an electrode heater heats the electrode and the conductive substrate fixedly disposed on the electrode to a predetermined temperature. If necessary, an undercoat layer or a charge generation layer may be provided in advance on the conductive substrate in order to obtain a desired photoreceptor structure from among those described above. The present apparatus or a separate apparatus may be used to provide the undercoat layer or the charge generation layer. Next, the raw material gases are introduced into the reaction chamber from the first to sixth tanks and the first to third containers while being kept at a constant flow rate using the first to ninth flow rate controllers, and the inside of the reaction chamber is kept constant using the pressure control valve. Maintain a reduced pressure. After the gas flow rate is stabilized, a connection selection switch is used to select, for example, a high frequency power source, and high frequency power is applied to the power application electrode.

両電極間には放電が開始され、時間と共に基板上に固相
の膜が形成される。a−Si膜或はa−C膜は、原料ガ
スを代える事により任意に形成可能である。放電を一旦
停止し、原料ガス組成を変更した後、再び放電を再開す
れば異なる組成の膜を積層する事ができる。また、放電
を持続させながら原料ガス流量だけを徐々に代え、異な
る組成の膜を勾配を持たせながら積層する事も可能であ
る。
A discharge is started between the two electrodes, and a solid phase film is formed on the substrate over time. The a-Si film or the a-C film can be formed arbitrarily by changing the source gas. Films with different compositions can be laminated by once stopping the discharge, changing the source gas composition, and then restarting the discharge. It is also possible to gradually change only the raw material gas flow rate while sustaining the discharge, and to stack films of different compositions with a gradient.

反応時間により膜厚を制御し、所定の膜厚並びに積層構
成に達したところで放電を停止し、本発明による感光体
を得る。次いで、第1乃至第9調節弁を閉じ、反応室内
を充分に排気する。ここで所望の感光体構成が得られる
場合には反応室内の真空を破り、反応室より本発明によ
る感光体を取り出す。更に所望の感光体構成において、
電荷発生層或はオーバーコート層が必要とされる場合に
は、そのまま本装置を用いるか、或は同様に一旦真空を
破り取り出して別装置に移してこれらの層を設け、本発
明による感光体を得る。
The film thickness is controlled by the reaction time, and when a predetermined film thickness and laminated structure are reached, the discharge is stopped to obtain a photoreceptor according to the present invention. Next, the first to ninth control valves are closed to sufficiently exhaust the inside of the reaction chamber. If the desired photoreceptor configuration is obtained, the vacuum in the reaction chamber is broken and the photoreceptor according to the present invention is taken out from the reaction chamber. Furthermore, in a desired photoreceptor configuration,
If a charge generation layer or an overcoat layer is required, the photoreceptor according to the present invention can be fabricated by using the present device as is, or by breaking the vacuum and transferring it to another device to provide these layers. get.

以下実施例を挙げながら、本発明を説明する。The present invention will be explained below with reference to Examples.

X旅健1 本発明に係わる製造装置を用いて、第1図に示す如き、
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの順に設けた
本発明感光体を作製した。
X Travel Ken 1 Using the manufacturing apparatus according to the present invention, as shown in FIG.
A photoreceptor of the present invention was prepared in which a conductive substrate, a charge transport layer, and a charge generation layer were provided in this order.

電荷輸送層形成工程: 第7図に示すグロー放電分解装置において、まず、反応
装置(733)の内部を10−6To r r程度の高
真空にした後、第1調節弁(707)、及び第4調節弁
(710)を解放し、第1タンク(701)より水素ガ
ス、及び第4タンク(704)よりゲルマンガスを各々
出力圧1.0Kg/cm2の下で第1、及び第4流量制
祁器(713、及び716)内へ流入させた。同時に、
第1容器(719)よりミルセンガスを第1温調器(7
22)温度70℃のもと第7流量制御n器(728)内
へ流入させた。各流量制御器を用いて、水素ガスの流量
を20secm、ゲルマンガスの流量を5secm、及
びミルセンガスの流量を5secmとなるように設定し
て、途中混合器(731)を介して、主管(732)よ
り反応室(733)内へ流入した。各々の流量が安定し
た後に、反応室(733)内の圧力が1.5Torrと
なるように圧力調節弁(745)を調整した。一方、導
電性基板(752)としては、樅50×横50X厚3m
mのアルミニウム基板を用いて、予め150℃に加熱し
ておき、ガス流量及び圧力が安定した状態で、予め接続
選択スイッチ(744)により接続しておいた低周波電
源(741)を投入し、電力印加11極(736)に1
10Wattの電力を周波数500KHzの下で印加し
て約3時間40分プラズマ重合反応を行ない、導電性基
板(752)上に厚さ15μmのa−C膜を電荷輸送層
として形成した。成膜完了後は、電力印加を停止し、調
節弁を閉じ、反応室(733)内を充分に排気した。
Charge transport layer forming step: In the glow discharge decomposition apparatus shown in FIG. 4 control valve (710) is released, hydrogen gas is supplied from the first tank (701), and germane gas is supplied from the fourth tank (704) to the first and fourth flow rate controls under an output pressure of 1.0 kg/cm2. It was made to flow into the kaiki (713 and 716). at the same time,
Myrcene gas is supplied from the first container (719) to the first temperature controller (7
22) It was made to flow into the seventh flow rate control unit (728) at a temperature of 70°C. Using each flow rate controller, set the flow rate of hydrogen gas to 20 sec, the flow rate of germane gas to 5 sec, and the flow rate of myrcene gas to 5 sec. The liquid then flowed into the reaction chamber (733). After each flow rate became stable, the pressure control valve (745) was adjusted so that the pressure inside the reaction chamber (733) was 1.5 Torr. On the other hand, the conductive substrate (752) is 50m x 50m x 3m thick.
Using an aluminum substrate of M, preheat it to 150°C, and with the gas flow rate and pressure stable, turn on the low frequency power supply (741) that was previously connected with the connection selection switch (744), 1 for 11 power application poles (736)
A plasma polymerization reaction was carried out for about 3 hours and 40 minutes by applying a power of 10 Watts at a frequency of 500 KHz to form a 15 μm thick a-C film as a charge transport layer on the conductive substrate (752). After the film formation was completed, power application was stopped, the control valve was closed, and the inside of the reaction chamber (733) was sufficiently evacuated.

以上のようにして得られたa −C膜につき有機元素分
析を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原
子と水素原子の総量に対して45原子%であった。また
、オージェ分析より含有きれるゲルマニウム原子の量は
全構成原子に対して2゜8原子%であった。
When organic elemental analysis was performed on the a-C film obtained as described above, the amount of hydrogen atoms contained was 45 at % based on the total amount of carbon atoms and hydrogen atoms. Further, according to Auger analysis, the amount of germanium atoms that could be contained was 2.8 at % based on the total constituent atoms.

電荷発生層形成工程: 次いで、第1調節弁(707)、第5調節弁(711)
、及び第6調節弁(712)を解放し、第1タンク(7
01)から水素ガス、第5タンク(705)から亜酸化
窒素ガス、及び第6タンク(706)からシランガスを
、出力圧I Kg/Cm2の下で第1、第5、及び第6
流量制御器(713,717、及び718)内へ流入さ
せた。同時に、第4調節弁(710)を解放し、第4タ
ンク(704)より水素ガスで1100ppに希釈され
たジボランガスを、出力圧1.5Kg/cm2の下で第
4流量制御器(716)内へ、流入させた。
Charge generation layer forming step: Next, the first control valve (707) and the fifth control valve (711)
, and the sixth control valve (712), and the first tank (7
01), nitrous oxide gas from the fifth tank (705), and silane gas from the sixth tank (706) at the first, fifth, and sixth tanks under an output pressure of I Kg/Cm2.
It was made to flow into the flow controllers (713, 717, and 718). At the same time, the fourth control valve (710) is opened, and diborane gas diluted to 1100 pp with hydrogen gas is supplied from the fourth tank (704) into the fourth flow rate controller (716) under an output pressure of 1.5 kg/cm2. I let it flow.

各流量制御器の目盛を調整して水素ガスの流量を200
secm、亜酸化窒素ガスの流量を0,01sccrr
+、シランガスの流量を101005e。
Adjust the scale of each flow rate controller to set the hydrogen gas flow rate to 200.
secm, the flow rate of nitrous oxide gas to 0.01 sccrr
+, silane gas flow rate 101005e.

水素ガスで1100pI)に希釈されたジボランガスの
流量を10105eとなるように設定し、反応室(73
3)内に流入させた。各々の流量が安定した後に、反応
室(733)内の圧力が0.8Torrとなるように圧
力調節弁(745)を調整した。一方、a−C膜が形成
されている導電性基板(752)は、250℃に加熱し
ておき、ガス流量及び圧力が安定した状態で、高周波電
源(739)より周波数13.56MHzの下で電力印
加電極(736)に35Wattの電力を印加し、グロ
ー放電を発生させた。この放電を5分間行ない、厚き0
.3μmの電荷発生層を得た。
The flow rate of diborane gas diluted to 1100pI with hydrogen gas was set to 10105e, and
3) It was allowed to flow into the interior. After each flow rate became stable, the pressure control valve (745) was adjusted so that the pressure inside the reaction chamber (733) was 0.8 Torr. On the other hand, the conductive substrate (752) on which the a-C film is formed is heated to 250°C, and is heated at a frequency of 13.56 MHz from a high frequency power source (739) while the gas flow rate and pressure are stable. A power of 35 Watts was applied to the power application electrode (736) to generate glow discharge. This discharge was carried out for 5 minutes, and a thick 0
.. A charge generation layer of 3 μm was obtained.

得られたa−3i膜につき、金属中ONH分析(i場製
作所製EMGA−1300) 、オージェ分析、及びI
MA分析を行なったところ、含有される水素原子は全構
成原子に対して22原子%、硼素原子は10原子ppm
、酸素原子は0.001原子%であった。
The obtained a-3i film was subjected to ONH analysis in metal (EMGA-1300 manufactured by iba Seisakusho), Auger analysis, and I
When MA analysis was performed, the hydrogen atoms contained were 22 atomic% and the boron atoms were 10 atomic ppm based on the total constituent atoms.
, oxygen atoms were 0.001 atomic %.

特性: 得られた感光体を常用のカールソンプロセスの中で負帯
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一490V (+480■)で有り、即ち、
全感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当り
の帯電能は32V/μm(31V/μm)と極めて高く
、このことから充分な帯電性能を有する事が理解された
Characteristics: When the obtained photoreceptor was used with both negative and positive charging in a conventional Carlson process, the following performance was obtained. Here, the measured values during positive charging are shown in parentheses, and the highest charging potential is -490V (+480■), that is,
Since the total photoreceptor film thickness was 15.degree. 3 .mu.m, the charging ability per 1 .mu.m was extremely high at 32 V/.mu.m (31 V/.mu.m), and from this it was understood that the photoreceptor had sufficient charging performance.

また、暗中にてVmaxからVmaxの90%の表面電
位にまで暗減衰するのに要した時間は約21秒(約23
秒)であり、このことから充分な電荷保持性能を有する
事が理解きれた。また、最高帯電電位に初期帯電した後
、白色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位にま
で明減衰させたところ必要とされた光量は1.6ルツク
ス・秒(1,5ルックスφ秒)であり、このことから充
分な光感度性能を有する事が理解された。
In addition, the time required for dark decay from Vmax to 90% of Vmax in the dark was approximately 21 seconds (approximately 23 seconds).
seconds), and from this we can understand that it has sufficient charge retention performance. In addition, after initial charging to the highest charging potential, the brightness was attenuated to a surface potential of 20% of the highest charging potential using white light. seconds), and from this it was understood that it had sufficient photosensitivity performance.

以上より、本例に示した本発明による感光体は、感光体
として優れた性能を有するものである事が理解される。
From the above, it is understood that the photoreceptor according to the present invention shown in this example has excellent performance as a photoreceptor.

また、この感光体に対して常用のカールソンプロセスの
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
Further, when an image was formed and transferred to this photoreceptor using the commonly used Carlson process, a clear image was obtained.

実施例2 本発明に係わる製造装置を用いて、第1図に示す如き、
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの順に設けた
本発明感光体を作製した。
Example 2 Using the manufacturing apparatus according to the present invention, as shown in FIG.
A photoreceptor of the present invention was prepared in which a conductive substrate, a charge transport layer, and a charge generation layer were provided in this order.

電荷輸送層形成工程: 第7図に示すグロー放電分解装置において、まず、反応
装置(733)の内部を10−6To r r程度の寓
真空にした後、第1調節弁(707)、第2調節弁(7
08) 、及び第6調節弁(712)を解放し、第1タ
ンク(701)から水素ガス、第2タンク(702)か
らエチレンガス、及び第6タンク(706)からシラン
ガスを、各々出力圧1.○Kg/am2の下で第1、第
2、及び第6流量制御器(713,714、及び718
)内へ流入させた。各流量制御器を用いて、水素ガスの
流量を60secm、エチレンガスの流量を60SCC
m、及びシランガスの流量を3secmとなるように設
定して、途中混合器(731)を介して、主管(732
)より反応室(733)内へ流入した。各々の流量が安
定した後に、反応室(733)内の圧力が1.8Tor
rとなるように圧力調節弁(745)を調整した。一方
、導電性基板(752)としては、樅50X横50X厚
3mmのアルミニウム基板を用いて、予め250℃に加
熱しておき、ガス流量及び圧力が安定した状態で、予め
接続選択スイッチ(744)により接続しておいた高周
波電源(739)を投入し、電力印加量w1(736)
に180Wattの電力を周波数13.56MHzの下
で印加して約10時間プラズマ重合反応を行ない、導電
性基板(752)上に厚き15μmのa−C膜を電荷輸
送層とし、て形成した。成膜完了後は、電力印加を停止
し、調節弁を閉じ、反応室(733)内を充分に排気し
た。
Charge transport layer forming step: In the glow discharge decomposition apparatus shown in FIG. Control valve (7
08) and the sixth control valve (712) are released, hydrogen gas is supplied from the first tank (701), ethylene gas is supplied from the second tank (702), and silane gas is supplied from the sixth tank (706) at an output pressure of 1. .. ○The first, second, and sixth flow controllers (713, 714, and 718 under Kg/am2)
). Using each flow rate controller, set the flow rate of hydrogen gas to 60 sec and the flow rate of ethylene gas to 60 SCC.
m, and the flow rate of silane gas is set to 3 seconds, and the main pipe (732
) into the reaction chamber (733). After each flow rate stabilized, the pressure inside the reaction chamber (733) reached 1.8 Torr.
The pressure regulating valve (745) was adjusted so that the temperature was r. On the other hand, as the conductive substrate (752), use an aluminum substrate of 50 x 50 x 3 mm thick, heat it to 250°C in advance, and when the gas flow rate and pressure are stable, connect the connection selection switch (744) in advance. Turn on the high frequency power supply (739) connected to
A plasma polymerization reaction was carried out for about 10 hours by applying a power of 180 Watts at a frequency of 13.56 MHz to form a 15 μm thick a-C film as a charge transport layer on the conductive substrate (752). After the film formation was completed, power application was stopped, the control valve was closed, and the inside of the reaction chamber (733) was sufficiently evacuated.

以上のようにして得られたa−σ膜につき有機元素分析
を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原子
と水素原子の総量に対して45原子%であった。また、
オージェ分析より含有されるシリコン原子の量は全構成
原子に対して0.4原子%であった。
Organic elemental analysis of the a-σ film obtained as described above revealed that the amount of hydrogen atoms contained was 45 at % based on the total amount of carbon atoms and hydrogen atoms. Also,
According to Auger analysis, the amount of silicon atoms contained was 0.4 at % based on the total constituent atoms.

電荷発生層形成工程: 次いで、第1調節弁(707) 、第5調節弁(711
)、及び第6調節弁(712)を解放し、第1タンク(
701)から水素ガス、第5タンク(705)から酸素
ガス、及び第6タンク(706)からシランガスを、出
力圧IKg/cm2の下で第1、第5、及び第6流量制
郊器(713,717、及び718)内へ流入させた。
Charge generation layer forming step: Next, the first control valve (707) and the fifth control valve (711
), and the sixth control valve (712) are released, and the first tank (
Hydrogen gas from the fifth tank (701), oxygen gas from the fifth tank (705), and silane gas from the sixth tank (706) are supplied to the first, fifth, and sixth flow restrictors (713) under an output pressure of IKg/cm2. , 717, and 718).

同時に、第4調節弁(710)を解放し、第4タンク(
704)より水素ガスで1100ppに希釈されたジボ
ランガスを、出力圧L 5Kg/cm2の下で第4流量
制郊器(716)内へ、流入きせた。各流量制御器の目
盛を調整して水素ガスの流量を200secm、酸素ガ
スの流量を0.5secmsシランガスの流量を101
005e、水素ガスで1100ppに希釈きれたジボラ
ンガスの流量を10105eに設定し、反応室(733
)内に流入させた。各々の流量が安定、した後に、反応
室(733)内の圧力が0.9Torrとなるように圧
力調節弁(745)を調整した。一方、a −C膜が形
成されている導電性基板(752)は、230℃に加熱
しておき、ガス流量及び圧力が安定した状態で、高周波
電源(739)より周波数13.56MHzの下で電力
印加電極(736)に35Wattの電力を印加し、グ
ロー放電を発生させた。この放電を5分間行ない、厚き
0.3μmの電荷発生層を得た。
At the same time, the fourth control valve (710) is released and the fourth tank (
Diborane gas diluted to 1100 pp with hydrogen gas (704) was allowed to flow into the fourth flow restrictor (716) under an output pressure L of 5 kg/cm2. Adjust the scale of each flow rate controller to set the hydrogen gas flow rate to 200 sec, the oxygen gas flow rate to 0.5 sec, and the silane gas flow rate to 101 sec.
005e, the flow rate of diborane gas diluted to 1100pp with hydrogen gas was set to 10105e, and the reaction chamber (733
). After each flow rate became stable, the pressure control valve (745) was adjusted so that the pressure in the reaction chamber (733) was 0.9 Torr. On the other hand, the conductive substrate (752) on which the a-C film is formed has been heated to 230°C, and with the gas flow rate and pressure stabilized, it is heated at a frequency of 13.56 MHz from a high frequency power source (739). A power of 35 Watts was applied to the power application electrode (736) to generate glow discharge. This discharge was carried out for 5 minutes to obtain a charge generation layer with a thickness of 0.3 μm.

得られたa−3iJ15jにつき、金属中ONH分析(
板場製作断裂EMGA−1300) 、オージェ分析、
及びIMA分析を行なったところ、含有される水素原子
は全構成原子に対して2Q原子%、硼素原子は12原子
ppm、酸素原子は0.1原子%であった。
The obtained a-3iJ15j was subjected to ONH analysis in metal (
Itaba fabrication fracture EMGA-1300), Auger analysis,
When IMA analysis was carried out, the hydrogen atoms contained were 2Q atomic %, the boron atoms were 12 atomic ppm, and the oxygen atoms were 0.1 atomic %, based on the total constituent atoms.

特性: 得られた感光体を常用のカールソンプロセスの中で負帯
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一650V (+680V)で有り、即ち、
全感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当り
の帯電能は42V/μm(44V/μm)と極めて高く
、このことから充分な帯電性能を有する事が理解された
Characteristics: When the obtained photoreceptor was used with both negative and positive charging in a conventional Carlson process, the following performance was obtained. Here, the measured values during positive charging are shown in parentheses, and the highest charging potential is -650V (+680V), that is,
Since the total photoreceptor film thickness was 15.degree. 3 .mu.m, the charging ability per 1 .mu.m was extremely high at 42 V/.mu.m (44 V/.mu.m), and from this it was understood that the photoreceptor had sufficient charging performance.

また、暗中にてVmaxからVmaxの9o%の表面電
位にまで暗減衰するのに要した時間は約17秒(約16
秒)であり、このことから充分な電荷保持性能を有する
事が理解された。また、最高帯電電位に初期帯電した後
、白色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位にま
で明減衰させたところ必要とされた光量は1.フルック
ス・秒(1,’4ルックス・秒)であり、このことから
充分な光感度性能を有する事が理解された。
In addition, the time required for dark decay from Vmax to a surface potential of 9% of Vmax in the dark was approximately 17 seconds (approximately 16
seconds), and from this it was understood that it had sufficient charge retention performance. Furthermore, after initial charging to the highest charging potential, the brightness was attenuated to a surface potential of 20% of the highest charging potential using white light, and the amount of light required was 1. flux-second (1,'4 lux-second), and from this it was understood that it had sufficient photosensitivity performance.

以上より、本例に示した本発明による感光体は、感光体
として優れた性能を有するものである事が理解される。
From the above, it is understood that the photoreceptor according to the present invention shown in this example has excellent performance as a photoreceptor.

また、この感光体に対して常用のカールソンプロセスの
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
Further, when an image was formed and transferred to this photoreceptor using the commonly used Carlson process, a clear image was obtained.

去施例旦 本発明に係わる製造装置を用いて、第1図に示す如き、
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの頭に設けた
本発明感光体を作製した。
In the previous example, using the manufacturing apparatus according to the present invention, as shown in FIG.
A photoreceptor of the present invention was prepared in which a conductive substrate, a charge transport layer, and a charge generation layer were provided on the head.

電荷輸送層形成工程: 第7図に示すグロー放電分解装置において、まず、反応
装置(733)の内部を10=To r r程度の高真
空にした後、第1調節弁(707)、第2調節弁(70
8) 、及び第6調箇弁(712)を解放し、第1タン
ク(701)から水素ガス、第2タンク(702)から
ブタジェンガス、及び第6タンク(706)からシラン
ガスを、各々出力圧1.0Kg/am2の下で第1、第
2、及び第6流量制御藩(713,714、及び718
)内へ流入させた。各流量制御器を用いて、水素ガスの
流量を60secm1ブタジェンガスの流量を60SC
Cm%及びシランガスの流量を5secmとなるように
設定して、途中混合器(731)を介して、主管(73
2)より反応室(733)内へ流入した。各々の流量が
安定した後に、反応室(733)内の圧力が1.8To
rrとなるように圧力調節弁(745)を調整した。一
方、導電性基板(752)としては、樅50X横50×
厚3mmのアルミニウム基板を用いて、予め250℃に
加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定した状態で、予
め接続選択スイッチ(744)により接続しておいた低
周波電源(741)を投入し、電力印加電極(736)
に120Wattの電力を周波数400KHzの下で印
加して約40分間プラズマ重合反応を行ない、導電性基
板(752)上に厚ざ15μmのa−C膜を電荷輸送層
として形成した。成膜完了後は、電力印加を停止し、調
節弁を閉じ、反応室(733)内を充分に排気した。
Charge transport layer forming step: In the glow discharge decomposition apparatus shown in FIG. Control valve (70
8) and the sixth regulating valve (712) are released, hydrogen gas is supplied from the first tank (701), butadiene gas is supplied from the second tank (702), and silane gas is supplied from the sixth tank (706) at an output pressure of 1, respectively. The 1st, 2nd, and 6th flow rate control domains (713, 714, and 718
). Using each flow rate controller, set the flow rate of hydrogen gas to 60 sec, and the flow rate of butadiene gas to 60 sec.
Cm% and the flow rate of silane gas were set to 5 sec, and the main pipe (73
2) into the reaction chamber (733). After each flow rate stabilizes, the pressure inside the reaction chamber (733) increases to 1.8To
The pressure regulating valve (745) was adjusted so that rr. On the other hand, as a conductive substrate (752), fir 50× horizontal 50×
Using a 3 mm thick aluminum substrate, preheat it to 250°C, and with the gas flow rate and pressure stable, turn on the low frequency power supply (741) that was previously connected using the connection selection switch (744). , power application electrode (736)
A power of 120 Watts was applied at a frequency of 400 KHz to carry out a plasma polymerization reaction for about 40 minutes, thereby forming an a-C film with a thickness of 15 μm as a charge transport layer on the conductive substrate (752). After the film formation was completed, power application was stopped, the control valve was closed, and the inside of the reaction chamber (733) was sufficiently evacuated.

以上のようにして得られたa −C膜につき有機元素分
析を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原
子と水素原子の総量に対して53原子%であった。また
、オージェ分析より含有されるシラン原子の量は全構成
原子に対して5.2原子%であった。
When organic elemental analysis was performed on the a-C film obtained as described above, the amount of hydrogen atoms contained was 53 at % based on the total amount of carbon atoms and hydrogen atoms. Moreover, the amount of silane atoms contained was 5.2 at % based on the total constituent atoms according to Auger analysis.

電荷発生層形成工程: 次いで、第1調節弁(707)、第3調節弁(709)
、第5調節弁(711)、及び第6調節弁(712)を
解放し、第1タンク(701)から水素ガス、第3タン
ク(703)から四弗化シランガス、第5タンク(70
5)から亜酸化窒素ガス、及び第6タンク(706)か
らシランガスを、出力圧IKg/cm2の下で第1、第
3、第5、及び第6流量制御器(713,715,71
7、及び718)内へ流入させた。同時に、第4調節弁
(710)を解放し、第4タンク(704)より水素ガ
スで1−00 p p mに希釈されたジボランガスを
、出力圧1.5Kg/cm2の下で第4流量制御器(7
16)内へ、流入きせた。各流量制御器の目盛を調整し
て水素ガスの流量を200sCCm、四弗化シランガス
の流量を50sccm。
Charge generation layer forming step: Next, the first control valve (707) and the third control valve (709)
, the fifth control valve (711), and the sixth control valve (712) are released, hydrogen gas is supplied from the first tank (701), tetrafluorosilane gas is supplied from the third tank (703), and the fifth tank (70
5) and silane gas from the sixth tank (706) through the first, third, fifth, and sixth flow rate controllers (713, 715, 71) under an output pressure of IKg/cm2.
7, and 718). At the same time, the fourth control valve (710) is opened, and diborane gas diluted to 1-00 ppm with hydrogen gas is supplied from the fourth tank (704) under the fourth flow rate control under an output pressure of 1.5 Kg/cm2. Vessel (7
16) Inflow began to flow inside. The scale of each flow rate controller was adjusted to set the flow rate of hydrogen gas to 200 sCCm and the flow rate of silane tetrafluoride gas to 50 sccm.

亜酸化窒素ガスの流量をlsecmsシランガスの流量
を50sccmt水素ガスで1100ppに希釈された
ジボランガスの流量を10105eとなるように設定し
、反応室(733)内に流入させた。各々の流量が安定
した後に、反応室(733)内の圧力が0.9Torr
となるように圧力調節弁(745)を調整した。一方、
a−C膜が形成されている導電性基板(752)は、2
50℃に加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定した状
態で、高周波電源(739)より周波数13゜66MH
zの下で電力印加電極(736)に35Wattの電力
を印加し、グロー放電を発生させた。この放電を5分間
行ない、厚き0.3μmの電荷発生層を得た。
The flow rate of nitrous oxide gas was set to lsecms, the flow rate of silane gas was set to 50 sccm, and the flow rate of diborane gas diluted to 1100 pp with hydrogen gas was set to 10105e, and the mixture was allowed to flow into the reaction chamber (733). After each flow rate stabilizes, the pressure inside the reaction chamber (733) is 0.9 Torr.
The pressure control valve (745) was adjusted so that on the other hand,
The conductive substrate (752) on which the a-C film is formed is 2
After heating to 50℃ and with stable gas flow rate and pressure, a high frequency power supply (739) is used to generate a frequency of 13℃ and 66MH.
z, a power of 35 Watt was applied to the power application electrode (736) to generate glow discharge. This discharge was carried out for 5 minutes to obtain a charge generation layer with a thickness of 0.3 μm.

得られたa−3i膜につき、金属中ONH分析(板場製
作所製EMGA−1300) 、オージェ分析、及びI
MA分析を行なったところ、含有される水素原子は全構
成原子に対して22原子%、硼素原子は10原子pPm
N弗素原子はS原子%、酸素原子は0.1原子%であっ
た。
The obtained a-3i film was subjected to ONH analysis in metal (EMGA-1300 manufactured by Itaba Seisakusho), Auger analysis, and I
When MA analysis was performed, the hydrogen atoms contained were 22 at % of the total constituent atoms, and the boron atoms were 10 at pPm.
The N fluorine atoms were S atom %, and the oxygen atoms were 0.1 atom %.

特性: 得られた感光体を常用のカールソンプロセスの中で負帯
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一860V (+830V)で有り、即ち、
全感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当り
の帯電能は56■/μm (54V/μm)と極めて高
く、このことから充分な帯電性能を有する事が理解され
た。
Characteristics: When the obtained photoreceptor was used with both negative and positive charging in a conventional Carlson process, the following performance was obtained. Here, the measured values at the time of positive charging are shown in parentheses, and the highest charging potential is -860V (+830V), that is,
Since the total photoreceptor film thickness was 15.3 .mu.m, the charging ability per 1 .mu.m was extremely high at 56 .mu./.mu.m (54 V/.mu.m), and from this it was understood that the photoreceptor had sufficient charging performance.

また、暗中にてVmaxからVmaxの90%の表面電
位にまで暗減衰するのに要した時間は約28秒(約29
秒)であり、このことから充分な電荷保持性能を有する
事が理解きれた。また、最高帯電電位に初期帯電した後
、白色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位にま
で明減衰きせたとこる必要とされた光量は2.3ルツク
ス・秒(2,0ルツクス・秒)であり、このことから充
分な光感度性能を有する事が理解された。
In addition, the time required for dark decay from Vmax to 90% of Vmax in the dark was approximately 28 seconds (approximately 29 seconds).
seconds), and from this we can understand that it has sufficient charge retention performance. In addition, after initial charging to the highest charging potential, the brightness was attenuated to a surface potential of 20% of the highest charging potential using white light.The amount of light required was 2.3 lux seconds (2.0 lux・seconds), and from this it was understood that it had sufficient photosensitivity performance.

以上より、本例に示した本発明による感光体は、感光体
として優れた性能を有するものである事が理解される。
From the above, it is understood that the photoreceptor according to the present invention shown in this example has excellent performance as a photoreceptor.

また、この感光体に対して常用のカールソンプロセスの
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
Further, when an image was formed and transferred to this photoreceptor using the commonly used Carlson process, a clear image was obtained.

大塵グ戟 本発明に係わる製造装置を用いて、第1図に示す如き、
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの順に設けた
本発明感光体を作製した。
Using the manufacturing apparatus according to the present invention, as shown in FIG.
A photoreceptor of the present invention was prepared in which a conductive substrate, a charge transport layer, and a charge generation layer were provided in this order.

電荷輸送層形成工程: 第7図に示すグロー放電分解装置において、まず、反応
装置(733)の内部を10−’To r r程度の高
真空にした後、第1調節弁(707)、第2調節弁(7
08)、及び第4調節弁(710)を解放し、第1タン
ク(701)から水素ガス、第2タンク(702)から
アセチレンガス、及び第4タンク(704)からゲルマ
ンガスを、各々出力圧1.0Kg/cm2の下で第1、
第2、及び第6流量制御器(713,714、及び71
6)内へ流入させた。各流量制御器を用いて、水素ガス
の流量を105105seアセチレンガスの流量を45
secm、及びゲルマンガスの流量を9sccmとなる
ように設定して、途中混合!(731)を介して、主管
(732)より反応室(733)内へ流入した。各々の
流量が安定した後に、反応室(733)内の圧力が2.
0Torrとなるように圧力調節弁(745)を調整し
た。一方、導電性基板(752)としては、樅50X横
50×厚3mmのアルミニウム基板を用いて、予め19
0℃に加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定した状態
で、予め接続選択スイッチ(744)により接続してお
いた高周波電源(739)を投入し、電力印加電極(7
36)に90Wattの電力を周波数13.56MHz
の下で印加して約3時間20分プラズマ重合反応を行な
い、導電性基板(752)上に厚さ15μmのa−C膜
を電荷輸送層として形成した。成膜完了後は、電力印加
を停止し、調節弁を閉じ、反応室(733)内を充分に
排気した。
Charge transport layer forming step: In the glow discharge decomposition apparatus shown in FIG. 2 control valves (7
08) and the fourth control valve (710), hydrogen gas is supplied from the first tank (701), acetylene gas is supplied from the second tank (702), and germane gas is supplied from the fourth tank (704), respectively at the output pressure. The first under 1.0Kg/cm2,
Second and sixth flow controllers (713, 714, and 71
6) Allowed to flow into the interior. Using each flow rate controller, set the flow rate of hydrogen gas to 105,105se and the flow rate of acetylene gas to 45.
Set the flow rate of secm and germane gas to 9 sccm and mix in the middle! (731) and flowed into the reaction chamber (733) from the main pipe (732). After each flow rate stabilizes, the pressure inside the reaction chamber (733) decreases to 2.
The pressure control valve (745) was adjusted so that the pressure was 0 Torr. On the other hand, as the conductive substrate (752), an aluminum substrate of 50 mm x 50 mm x 3 mm in thickness was used.
After heating the gas to 0°C and stabilizing the gas flow rate and pressure, turn on the high frequency power source (739) that was previously connected using the connection selection switch (744), and connect the power application electrode (7
36) 90Watt power at frequency 13.56MHz
A plasma polymerization reaction was carried out for about 3 hours and 20 minutes under the following conditions, and a 15 μm thick a-C film was formed as a charge transport layer on the conductive substrate (752). After the film formation was completed, power application was stopped, the control valve was closed, and the inside of the reaction chamber (733) was sufficiently evacuated.

以上のようにして得られたa−C膜につき有機元素分析
を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原子
と水素原子の総量に対して34原子%であった。また、
オージェ分析より含有されるゲルマニウム原子の量は全
構成原子に対して7゜8原子%であった。
When organic elemental analysis was performed on the a-C film obtained as described above, the amount of hydrogen atoms contained was 34 at % based on the total amount of carbon atoms and hydrogen atoms. Also,
According to Auger analysis, the amount of germanium atoms contained was 7.8 at % based on the total constituent atoms.

電荷発生層形成工程: 次いで、第1調節弁(707)、第5調節弁(711)
、及び第6調節弁(712)を解放し、第1タンク(7
01)から水素ガス、第5タンク(705)から亜酸化
窒素ガス、及び第6タンク(706)からシランガスを
、出力圧IKg/cm2の下で第1、第5、及び第6流
量制罪器(713,717、及び718)内へ流入させ
た。同時に、第4調節弁(710)を解放し、第4タン
ク(704)より水素ガスで1100ppに希釈された
ジボランガスを、出力圧1.5Kg/cm2の下で第4
流量制御器(716)内へ、流入させた。
Charge generation layer forming step: Next, the first control valve (707) and the fifth control valve (711)
, and the sixth control valve (712), and the first tank (7
Hydrogen gas from 01), nitrous oxide gas from the fifth tank (705), and silane gas from the sixth tank (706) are supplied to the first, fifth, and sixth flow rate suppressors under an output pressure of IKg/cm2. (713, 717, and 718). At the same time, the fourth control valve (710) is opened, and diborane gas diluted to 1100 pp with hydrogen gas is supplied from the fourth tank (704) to the fourth tank under an output pressure of 1.5 kg/cm2.
It was made to flow into the flow rate controller (716).

各流量制御器の目盛を調整して水素ガスの流量を200
secm、亜酸化窒素ガスの流量を3secm、シラン
ガスの流量を1001005e水素ガスで1100pp
に希釈されたジボランガスの流量を10105eに設定
し、反応室(733)内に流入させた。各々の流量が安
定した後に、反応室(733)内の圧力が1.0Tor
rとなるように圧力調節弁(745)を調整した。一方
、a−C膜が形成されている導電性基板(752)は、
240℃に加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定した
状態で、高周波電源(739)より周波数13.56M
Hzの下で電力印加電極(736)に45Wattの電
力を印加し、グロー放電を発生きせた。この放電を5分
間行ない、厚き0゜3μmの電荷発生層を得た。
Adjust the scale of each flow rate controller to set the hydrogen gas flow rate to 200.
secm, nitrous oxide gas flow rate 3sec, silane gas flow rate 1001005e hydrogen gas 1100pp
The flow rate of the diborane gas diluted to 10105e was set to 10105e, and the diborane gas was allowed to flow into the reaction chamber (733). After each flow rate stabilized, the pressure inside the reaction chamber (733) was reduced to 1.0 Torr.
The pressure regulating valve (745) was adjusted so that the temperature was r. On the other hand, the conductive substrate (752) on which the a-C film is formed is
After heating to 240℃ and with stable gas flow rate and pressure, a high frequency power source (739) is used to generate a frequency of 13.56M.
A power of 45 Watt was applied to the power application electrode (736) under Hz to generate glow discharge. This discharge was carried out for 5 minutes to obtain a charge generation layer with a thickness of 0.3 μm.

得られたa−Si膜につき、金属中ONH分析(板場製
作所製EMGA−1300) 、オージェ分析、及びI
MA分析を行なったところ、含有される水素原子は全構
成原子に対して21原子%、硼素原子は11原子ppm
、酸素原子は0.31原子%であった。
The obtained a-Si film was subjected to ONH analysis in metal (EMGA-1300 manufactured by Itaba Seisakusho), Auger analysis, and I
When MA analysis was performed, the hydrogen atoms contained were 21 atomic % and the boron atoms were 11 atomic ppm based on the total constituent atoms.
, oxygen atoms were 0.31 at%.

特性: 得られた感光体を常用のカールソンプロセスの中で負帯
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一900v(+970V)で有り、即ち、全
感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当りの
帯電能は59V/μm(63V/μm)と極めて高く、
このことから充分な帯電性能を有する事が理解された。
Characteristics: When the obtained photoreceptor was used with both negative and positive charging in a conventional Carlson process, the following performance was obtained. Here, the measured values during positive charging are shown in parentheses, and the highest charging potential is -900V (+970V).In other words, since the total photoreceptor film thickness is 15°3μm, the charging capacity per μm is 59V. /μm (63V/μm), which is extremely high.
From this, it was understood that it had sufficient charging performance.

また、暗中にてVmaxからVmaxの90%の表面電
位にまで暗減衰するのに要した時間は約46秒(約49
秒)であり、このことから充分な電荷保持性能を有する
事が理解された。また、最高帯電電位に初期帯電した後
、白色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位にま
で明減衰させたとこる必要とされた光量は7.2ルツク
ス・秒(4,5ルツクス・秒)であり、このことから充
分な光感度性能を有する事が理解された。
In addition, the time required for dark decay from Vmax to 90% of Vmax in the dark was approximately 46 seconds (approximately 49 seconds).
seconds), and from this it was understood that it had sufficient charge retention performance. In addition, after initial charging to the highest charging potential, white light was used to brightly attenuate the surface potential to 20% of the highest charging potential.The amount of light required was 7.2 lux·sec (4.5 lux・seconds), and from this it was understood that it had sufficient photosensitivity performance.

以上より、本例に示した本発明による感光体は、感光体
として濠れた性能を有するものである事が理解される。
From the above, it is understood that the photoreceptor according to the present invention shown in this example has excellent performance as a photoreceptor.

また、この感光体に対して常用のカールソンプロセスの
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像か得られた
When an image was formed and transferred to this photoreceptor using the commonly used Carlson process, a clear image was obtained.

実施例5 本発明に係わる製造装置を用いて、第1図に示す如き、
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの順に設けた
本発明感光体を作製した。
Example 5 Using the manufacturing apparatus according to the present invention, as shown in FIG.
A photoreceptor of the present invention was prepared in which a conductive substrate, a charge transport layer, and a charge generation layer were provided in this order.

電荷輸送層形成工程: 第7図に示すグロー放電分解装置において、まず、反応
装置(733)の内部を10=To r r程度の高真
空にした後、第1調節弁(707)、第2調節弁(70
8) 、及び第6調節弁(712)を解放し、第1タン
ク(701)から水素ガス、第2タンク(702)から
ブタジインガス、及び第6タンク(706)からシラン
ガスを、各々出力圧1.0Kg/am2の下で第1、第
2、及び第6流量制御器(713,714、及び718
)内へ流入させた。各流量制御器を用いて、水素ガスの
流量を60secm、ブタジインガスの流量を60se
cm、及びシランガスの流量を1105cCとなるよう
に設定して、途中混合器(731)を介して、主管(7
32)より反応室(733)内へ流入した。各々の流量
が安定した後に、反応室(733)内の圧力が2.0T
orrとなるように圧力調節弁(745)を調整した。
Charge transport layer forming step: In the glow discharge decomposition apparatus shown in FIG. Control valve (70
8) and the sixth control valve (712) are released to supply hydrogen gas from the first tank (701), butadiene gas from the second tank (702), and silane gas from the sixth tank (706) to an output pressure of 1. The first, second, and sixth flow controllers (713, 714, and 718
). Using each flow rate controller, set the flow rate of hydrogen gas to 60 sec and the flow rate of butadiene gas to 60 sec.
cm and the flow rate of silane gas to 1105 cC, the main pipe (7
32) into the reaction chamber (733). After each flow rate stabilizes, the pressure inside the reaction chamber (733) is 2.0T.
The pressure control valve (745) was adjusted so that the

一方、導電性基板(752)としては、縦50X横50
×厚3mmのアルミニウム基板を用いて、予め130℃
に加熱しておき、ガス流量及び圧力が安定した状態で、
予め接続選択スイッチ(744)により接続しておいた
低周波電源(741)を投入し、電力印加電極(736
)に180Wattの電力を周波数100KHzの下で
印加して約30分間プラズマ重合反応を行ない、導電性
基板(752)上に厚き15μmのa−C膜を電荷輸送
層として形成した。成膜完了後は、電力印加を停止し、
調節弁を閉じ、反応室(733)内を充分に排気した。
On the other hand, the conductive substrate (752) is 50 x 50 x 50 x 50 x 50 x 50 x 50
× Using an aluminum substrate with a thickness of 3 mm, heat the temperature at 130°C in advance.
After heating to , and with the gas flow and pressure stable,
Turn on the low frequency power supply (741) that has been connected in advance using the connection selection switch (744), and connect the power application electrode (736).
) was applied with a power of 180 Watts at a frequency of 100 KHz to carry out a plasma polymerization reaction for about 30 minutes to form a 15 μm thick a-C film as a charge transport layer on the conductive substrate (752). After completing the film formation, stop applying power and
The control valve was closed and the inside of the reaction chamber (733) was sufficiently evacuated.

以上のようにして得られたa−C膜につき有機元素分析
を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原子
と水素原子の総量に対して40原子%であった。また、
オージェ分析より含有されるシリコン原子の量は全構成
原子に対して9.4原子%であった。
When organic elemental analysis was performed on the a-C film obtained as described above, the amount of hydrogen atoms contained was 40 at % based on the total amount of carbon atoms and hydrogen atoms. Also,
According to Auger analysis, the amount of silicon atoms contained was 9.4 at % based on the total constituent atoms.

電荷発生層形成工程: 次いで、第1調筋弁(707)、第5調節弁(711)
、及び第6調節弁(712)を解放し、第1タンク(7
01)から水素ガス、第5タンク(705)から酸素ガ
ス、及び第6タンク(706)からシランガスを、出力
圧IKg/am2の下で第1、第5、及び第6流量制御
器(713,717、及び718)内へ流入させた。同
時に、第4調節弁(710)を解放し、第4タンク(7
04)より水素ガスで10ppmに希釈されたホスフィ
ンガスを、出力圧1.5Kg/am2の下で第4流量制
御器(716)内へ、流入させた。各流量制御器の目盛
を調整して水素ガスの流量を200secm、酸素ガス
の流量を1.3secmsシランガスの流量を200s
ecms水素ガスで1100ppに希釈されたホスフィ
ンガスの流量を10105eに設定し、反応室(733
)内に流入させた。各々の流量が安定した後に、反応室
(733)内の圧力が0.9Torrとなるように圧力
調節弁(745)を調整した。一方、a−C膜が形成き
れている導電性基板(752)は、250℃に加熱して
おき、ガス流量及び圧力が安定した状態で、高周波電源
(739)より周波数13.56MHzの下で電力印加
電極(736)に35Wattの電力を印加し、グロー
放電を発生させた。この放電を5分間行ない、厚き0.
3μmの電荷発生層を得た。
Charge generation layer forming step: Next, the first adjustment valve (707) and the fifth adjustment valve (711)
, and the sixth control valve (712), and the first tank (7
Hydrogen gas from the fifth tank (705), and silane gas from the sixth tank (706) are supplied to the first, fifth, and sixth flow rate controllers (713, 01) under an output pressure of IKg/am2. 717 and 718). At the same time, the fourth control valve (710) is released and the fourth tank (710) is released.
Phosphine gas diluted to 10 ppm with hydrogen gas from 04) was flowed into the fourth flow rate controller (716) under an output pressure of 1.5 Kg/am2. Adjust the scale of each flow rate controller to set the hydrogen gas flow rate to 200 seconds, the oxygen gas flow rate to 1.3 seconds, and the silane gas flow rate to 200 seconds.
The flow rate of phosphine gas diluted to 1100pp with ecms hydrogen gas was set to 10105e, and the reaction chamber (733
). After each flow rate became stable, the pressure control valve (745) was adjusted so that the pressure inside the reaction chamber (733) was 0.9 Torr. On the other hand, the conductive substrate (752) on which the a-C film has been completely formed is heated to 250°C, and with the gas flow rate and pressure stable, it is heated at a frequency of 13.56 MHz from a high frequency power source (739). A power of 35 Watts was applied to the power application electrode (736) to generate glow discharge. This discharge was carried out for 5 minutes, and a thick 0.
A charge generation layer of 3 μm was obtained.

得られたa−3i膜につき、金属中○NH分析(板場製
作所製EMGA−1300) 、オージェ分析、及びI
MA分析を行なったところ、含有される水素原子は全構
成原子に対して18原子%、燐原子は12原子ppm%
酸素原子は0.3原子%であった。
The obtained a-3i film was subjected to ○NH analysis in metal (EMGA-1300 manufactured by Itaba Seisakusho), Auger analysis, and I
When MA analysis was performed, the hydrogen atoms contained were 18 atomic% and the phosphorus atoms were 12 atomic ppm% of the total constituent atoms.
The oxygen atom content was 0.3 at.%.

特性: 得られた感光体を常用のカールソンプロセスの中で負帯
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一890V (+930V)で有り、即ち、
全感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当り
の帯電能は58■/μm(61V/μm)と極めて高く
、このことから充分な帯電性能を有する事が理解された
Characteristics: When the obtained photoreceptor was used with both negative and positive charging in a conventional Carlson process, the following performance was obtained. Here, the measured values during positive charging are shown in parentheses, and the highest charging potential is -890V (+930V), that is,
Since the total photoreceptor film thickness was 15.degree. 3 .mu.m, the charging ability per 1 .mu.m was extremely high at 58 .mu./.mu.m (61 V/.mu.m), and from this it was understood that the photoreceptor had sufficient charging performance.

また、暗中にてVmaxからVmaxの90%の表面電
位にまで暗減衰するのに要した時間は約38秒(約41
秒)であり、このことから充分な電荷保持性能を有する
事が理解された。また、最高帯電電位に初期帯電した後
、白色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位にま
で明減衰させたとこる必要とされた光量は2.6ルツク
ス・秒(8,9ルツクス・秒)であり、このことから充
分な光感度性能を有する事が理解された。
In addition, the time required for dark decay from Vmax to 90% of Vmax in the dark was approximately 38 seconds (approximately 41 seconds).
seconds), and from this it was understood that it had sufficient charge retention performance. In addition, after initial charging to the highest charging potential, white light was used to brightly attenuate the surface potential to 20% of the highest charging potential.The amount of light required was 2.6 lux·sec (8.9 lux・seconds), and from this it was understood that it had sufficient photosensitivity performance.

以上より、本例に示した本発明による感光体は、感光体
として優れた性能を有するものである事が理解される。
From the above, it is understood that the photoreceptor according to the present invention shown in this example has excellent performance as a photoreceptor.

また、この感光体に対して常用のカールソンプロセスの
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
Further, when an image was formed and transferred to this photoreceptor using the commonly used Carlson process, a clear image was obtained.

実流A旦 本発明に係わる製造装置を用いて、第1図に示す如き、
導電性基板、電荷輸送層、電荷発生層をこの順に設けた
本発明感光体を作製した。
As shown in FIG. 1, using the production apparatus according to the present invention,
A photoreceptor of the present invention was prepared in which a conductive substrate, a charge transport layer, and a charge generation layer were provided in this order.

電荷輸送層形成工程: 第7図に示すグロー放電分解装置において、まず、反応
装置f&(733)の内部を10−6To r r程度
の窩真空にした後、第1調節弁(707)、及び第4調
節弁(710)を解放し、第1タンク(701)より水
素ガス、及び第4タンク(704)よりゲルマンガスを
各々出力圧1.0Kg/cm2の下で第1、及び第4流
量制御器(713、及び716)内へ流入させた。同時
に、第1容器(719)よりミルセンガスを第1温調器
(722)温度70℃のもと第7流量制御器(728)
内へ流入させた。各流量制御器を用いて、水素ガスの流
量を20secm1ゲルマンガスの流量を5secm、
及びミルセンガスの流量を5secmとなるように設定
して、途中混合器(731)を介して、主管(732)
より反応室(733)内へ流入した。各々の流量が安定
した後に、反応室(733)内の圧力が1.5Torr
となるように圧力調節弁(745)を調整した。一方、
導電性基板(752)としては、樅50×櫂50X43
mmのアルミニウム基板を用いて、予め100℃に加熱
しておき、ガス流量及び圧力が安定した状態で、予め接
続選択スイッチ(744)により接続しておいた低周波
電源(741)を投入し、電力印加電極(736)に1
10Wattの電力を周波数500KHzの下で印加し
て約3時間40分プラズマ重合反応を行ない、導電性基
板(752)上に厚さ15μmのa  Cvcを電荷輸
送層として形成した。成膜完了後は、電力印加を停止し
、調節弁を閉じ、反応室(733)内を充分に排気した
Charge transport layer forming step: In the glow discharge decomposition apparatus shown in FIG. The fourth control valve (710) is released, and hydrogen gas is supplied from the first tank (701) and germane gas is supplied from the fourth tank (704) at the first and fourth flow rates under an output pressure of 1.0 Kg/cm2. It was made to flow into the controllers (713 and 716). At the same time, myrcene gas is transferred from the first container (719) to the first temperature controller (722) at a temperature of 70°C and then to the seventh flow rate controller (728).
It flowed inside. Using each flow rate controller, the flow rate of hydrogen gas is 20 seconds, the flow rate of germane gas is 5 seconds,
And the flow rate of myrcene gas was set to 5 seconds, and the main pipe (732) was passed through the intermediate mixer (731).
The liquid then flowed into the reaction chamber (733). After each flow rate stabilizes, the pressure inside the reaction chamber (733) is 1.5 Torr.
The pressure control valve (745) was adjusted so that on the other hand,
As the conductive substrate (752), fir 50 x paddle 50 x 43
Using an aluminum substrate of 1.0 mm in diameter, it was heated to 100°C in advance, and with the gas flow rate and pressure stabilized, the low frequency power supply (741), which had been connected in advance with the connection selection switch (744), was turned on. 1 to the power application electrode (736)
A plasma polymerization reaction was carried out for about 3 hours and 40 minutes by applying a power of 10 Watts at a frequency of 500 KHz to form a 15 μm thick a CVC as a charge transport layer on the conductive substrate (752). After the film formation was completed, power application was stopped, the control valve was closed, and the inside of the reaction chamber (733) was sufficiently evacuated.

以上のようにして得られたa−C膜につき有機元素分析
を行なったところ、含有される水素原子の量は炭素原子
と水素原子の総量に対して45原子%であった。また、
オージェ分析より含有されるゲルマニウム原子の量は全
構成原子に対して2゜8原子%であった。
When organic elemental analysis was performed on the a-C film obtained as described above, the amount of hydrogen atoms contained was 45 at % based on the total amount of carbon atoms and hydrogen atoms. Also,
According to Auger analysis, the amount of germanium atoms contained was 2.8 at % based on the total constituent atoms.

電荷発生層形成工程; 次いで、第1調節弁(707)、第5調箇弁(711)
、及び第6調節弁(712)を解放し、第1タンク(7
01)から水素ガス、第5タンク(705)から酸素ガ
ス、及び第6タンク(706)からシランガスを、出力
圧IKg/cm2の下で第1、第5、及び第6流量制郊
器(713,717、及び718)内へ流入させな。同
時に、第4調節弁(710)を解放し、第4タンク(7
04)より水素ガスで10ppmに希釈されたホスフィ
ンガスを、出力圧1.5Kg/cm2の下で第4流量制
御器(716)内へ、流入させな。各流量制御器の目盛
を調整して水素ガスの流量を2003 CCm N酸素
ガスの流量を0.5secm。
Charge generation layer forming step; Next, the first regulating valve (707) and the fifth regulating valve (711)
, and the sixth control valve (712), and the first tank (7
Hydrogen gas from the fifth tank (705), and silane gas from the sixth tank (706) are supplied to the first, fifth, and sixth flow restrictors (713) under an output pressure of IKg/cm2. , 717, and 718). At the same time, the fourth control valve (710) is released and the fourth tank (710) is released.
04) Do not allow the phosphine gas diluted to 10 ppm with hydrogen gas to flow into the fourth flow rate controller (716) under an output pressure of 1.5 Kg/cm2. Adjust the scale of each flow rate controller to set the flow rate of hydrogen gas to 2003 CCm and the flow rate of N oxygen gas to 0.5 sec.

シランガスの流量を200secm、水素ガスで110
0ppに希釈きれたホスフィンガスの流量を10105
eに設定し、反応室(733)内に流入させた。各々の
流量が安定した後に、反応室(733)内の圧力が1.
0Torrとなるように圧力調部弁(745)を調整し
た。一方、a−C膜が形成されている導電性基板(75
2)は、250℃に加熱しておき、ガス流量及び圧力が
安定した状態で、高周波電源(739)より周波数13
.56MHzの下で電力印加電極(736)に40Wa
ttの電力を印加し、グロー放電を発生させた。この放
電を5分間行ない、厚き0.3μmの電荷発生層を得た
The flow rate of silane gas is 200 sec, and the flow rate of hydrogen gas is 110 sec.
The flow rate of phosphine gas diluted to 0pp is 10105
e to flow into the reaction chamber (733). After each flow rate stabilizes, the pressure in the reaction chamber (733) decreases to 1.
The pressure regulating valve (745) was adjusted so that the pressure was 0 Torr. On the other hand, a conductive substrate (75
2) is heated to 250°C, and with the gas flow rate and pressure stable, a frequency of 13 is applied from the high frequency power supply (739).
.. 40W to power application electrode (736) under 56MHz
A glow discharge was generated by applying a power of tt. This discharge was carried out for 5 minutes to obtain a charge generation layer with a thickness of 0.3 μm.

得られたa−Si膜につき、金属中○NH分析(板場製
作断裂EMGA−1300) 、オージェ分析、及びI
MA分析を行なったところ、含有される水素原子は全構
成原子に対して23原子%、燐原子は13原子ppm、
酸素原子は0.1原子%であった。
The obtained a-Si film was subjected to ○NH analysis in metal (Full EMGA-1300 manufactured by Itaba), Auger analysis, and I
When MA analysis was performed, the hydrogen atoms contained were 23 at% of the total constituent atoms, the phosphorus atoms were 13 at ppm,
The oxygen atom content was 0.1 at.%.

特性: 得られた感光体を常用のカールソンプロセスの中で負帯
電並びに正帯電で用いたところ次の如き性能が得られた
。ここでは、正帯電時の測定値を括弧内に示すが、最高
帯電電位は一430V (+620V)で有り、即ち、
全感光体膜厚が15゜3μmであることから1μm当り
の帯電能は28V/μm(41V/μm)と極めて高く
、このことから充分な帯電性能を有する事が理解された
Characteristics: When the obtained photoreceptor was used with both negative and positive charging in a conventional Carlson process, the following performance was obtained. Here, the measured values during positive charging are shown in parentheses, and the highest charging potential is -430V (+620V), that is,
Since the total photoreceptor film thickness was 15.degree. 3 .mu.m, the charging ability per 1 .mu.m was extremely high at 28 V/.mu.m (41 V/.mu.m), and from this it was understood that the photoreceptor had sufficient charging performance.

また、暗中にてVmaxからVmaxの90%の表面電
位にまで暗減衰するのに要した時間は約19秒(約27
秒)であり、このことから充分な電荷保持性能を有する
事が理解きれた。また、最高帯電電位に初期帯電した後
、白色光を用いて最高帯電電位の20%の表面電位にま
で明減衰させたとこる必要とされた光量は1.1ルツク
ス・秒(2,9ルツクス・秒)であり、このことから充
分な光感度性能を有する事が理解された。
In addition, the time required for dark decay from Vmax to 90% of Vmax in the dark was approximately 19 seconds (approximately 27 seconds).
seconds), and from this we can understand that it has sufficient charge retention performance. In addition, after initial charging to the highest charging potential, white light was used to brightly attenuate the surface potential to 20% of the highest charging potential.The amount of light required was 1.1 lux·sec (2.9 lux・seconds), and from this it was understood that it had sufficient photosensitivity performance.

以上より、本例に示した本発明による感光体は、感光体
として優れた性能を有するものである事が理解される。
From the above, it is understood that the photoreceptor according to the present invention shown in this example has excellent performance as a photoreceptor.

また、この感光体に対して常用のカールソンプロセスの
中で、作像して転写したところ、鮮明な画像が得られた
。   、
Further, when an image was formed and transferred to this photoreceptor using the commonly used Carlson process, a clear image was obtained. ,

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図乃至第6図は本発明感光体の構成を示す図面、第
7図乃至第8図は本発明に係わる感光体の製造装置を示
す図面である。 出願人 ミノルタカメラ株式会社 第1図 第2図 第3図  第4図 第5図  第6図 手続補正書 昭和62年10月21日 特許庁長官 小 川 邦 夫 殿 2、発明の名称 感光体 3、補正をする者 事件との関係  出願人 住所 大阪市東区安土町Z丁目30番地 大阪国際ビル
名称 (607)   ミノルタカメラ株式会社自発補
正 5、補正の対象 図面 6、補正の内容 図面第8図を「訂正第8図」の通り補正します。
1 to 6 are drawings showing the structure of a photoreceptor according to the present invention, and FIGS. 7 to 8 are drawings showing an apparatus for manufacturing a photoreceptor according to the invention. Applicant: Minolta Camera Co., Ltd. Figure 1 Figure 2 Figure 3 Figure 4 Figure 5 Figure 6 Procedural amendment October 21, 1985 Commissioner of the Patent Office Kunio Ogawa 2 Name of the invention Photoconductor 3 , Relationship with the case of the person making the amendment Applicant address Z-30, Azuchi-cho, Higashi-ku, Osaka City Name of Osaka Kokusai Building (607) Minolta Camera Co., Ltd. Voluntary amendment 5, Drawing subject to amendment 6, Details of amendment Drawing 8 Correct as shown in "Corrected Figure 8".

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 電荷発生層と電荷輸送層とを有する機能分離型感光体に
おいて、該電荷輸送層はシリコン原子及びゲルマニウム
原子のうち少なくとも一方を含有してなる水素化アモル
ファスカーボン膜であり、かつ、該電荷発生層は酸素原
子を含有すると共に燐原子及び硼素原子のうち少なくと
も一方を含有してなる水素化アモルファスシリコン膜或
は酸素原子を含有すると共に燐原子及び硼素原子のうち
少なくとも一方を含有してなる弗素化アモルファスシリ
コン膜であることを特徴とする感光体。
In a functionally separated photoreceptor having a charge generation layer and a charge transport layer, the charge transport layer is a hydrogenated amorphous carbon film containing at least one of silicon atoms and germanium atoms, and the charge generation layer is a hydrogenated amorphous silicon film containing oxygen atoms and at least one of phosphorus atoms and boron atoms, or a fluorinated amorphous silicon film containing oxygen atoms and at least one of phosphorus atoms and boron atoms. A photoreceptor characterized by being an amorphous silicon film.
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