JPS6380372A - Pattern recognition device - Google Patents

Pattern recognition device

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Publication number
JPS6380372A
JPS6380372A JP22495786A JP22495786A JPS6380372A JP S6380372 A JPS6380372 A JP S6380372A JP 22495786 A JP22495786 A JP 22495786A JP 22495786 A JP22495786 A JP 22495786A JP S6380372 A JPS6380372 A JP S6380372A
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JP
Japan
Prior art keywords
pattern
image data
data
picture
pattern recognition
Prior art date
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Pending
Application number
JP22495786A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Takashi Ishizaki
貴 石崎
Shigeru Abe
茂 阿部
Yasuaki Nakamura
泰明 中村
Katsuyuki Kamei
克之 亀井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Priority to JP22495786A priority Critical patent/JPS6380372A/en
Publication of JPS6380372A publication Critical patent/JPS6380372A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To execute logical operation at a high speed to recognize a specific pattern in a short time by designating specific picture elements of the pattern and subjecting only specified picture elements to logical operation and recognizing the pattern with a small number of operations. CONSTITUTION:Information of a reference picture element A and featuring picture elements B, C, and E is inputted to define picture elements A, B, C and E as specific picture elements of a pattern. Coordinates (X, Y) of specific picture elements to the reference picture element and their values P are set to the value of the picture element A. When the heading offset value of picture data is defined as SOFF, a heading offset value ROFF of objective picture data is obtained in accordance with an equation I where XH indicates the size in the horizontal direction. The number of picture elements on picture data is checked, and the following processing are skipped if the pattern is absent. Next, picture data is subjected to the operation in accordance with a formula II. In the next stage, the operation is performed in accordance with a formula III. Feature points B and C are subjected to the operation in accordance with the formula II, and results and the feature point E are subjected to the operation in accordance with the formula III, and results are transferred to an output area. These operations are executed in all areas.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、画像データから特定のパターンを認識する
パターン認識装置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a pattern recognition device that recognizes a specific pattern from image data.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来この種のパターン認識装置として第7図に示すもの
があった。また、第8図は第7図の従来におけるパター
ン認識装置が行っている、手塚慶−0北橋忠宏、小川秀
夫著、ディジタル画像処理工学、日刊工業新聞社、 1
985 、pp107−111に示されたテンプレート
マツチングと呼ばれるパターン認識手法を示す図である
。第7図において、1はテンプレートデータを記憶する
テンプレートメモリ、2は図面の画像データを記憶する
記憶装置、3は前記テンプレートメモリ1と記憶装置2
に記憶されたデータの一致度を計測する演算製蓋である
A conventional pattern recognition device of this type is shown in FIG. In addition, FIG. 8 shows the results of the conventional pattern recognition device shown in FIG.
985, pp. 107-111, is a diagram showing a pattern recognition method called template matching. In FIG. 7, 1 is a template memory that stores template data, 2 is a storage device that stores drawing image data, and 3 is the template memory 1 and the storage device 2.
This is a calculation lid that measures the degree of coincidence of data stored in the .

次に動作について説明する。まず第8図(a)に示すパ
ターンを認識する場合にはテンブレートメそり1に第8
図ら)に示すテンプレートデータを用意し、記憶袋fi
12に記憶された図面の画像データと演算装置3で照合
する。演算装置3では画像データ中のテンプレートデー
タのサイズ内の画素(第8図(C)の破線内の部分)に
ついて、テンプレートデータの画素の値との一致を調べ
、パターンの一致を判定する。この操作を画像データ中
の照合範囲を一画素ずつ移動しく第8図(c)の矢印)
、画像データ全面について行い、結果を記憶装置2に格
納する。
Next, the operation will be explained. First, when recognizing the pattern shown in FIG. 8(a), the eighth
Prepare the template data shown in Fig.
The image data of the drawing stored in 12 is compared with the arithmetic unit 3. The arithmetic unit 3 checks whether pixels within the size of the template data in the image data (portion within the broken line in FIG. 8C) match the pixel values of the template data, and determines whether the patterns match. This operation moves the matching range in the image data one pixel at a time (arrow in Figure 8(c)).
, is performed on the entire image data, and the results are stored in the storage device 2.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

従来のパターン認識装置は以上のように構成されている
ので、テンプレートデータの画素数の演算を画像データ
の画素数回だけ行うことになる。
Since the conventional pattern recognition device is configured as described above, the calculation of the number of pixels of template data is performed as many times as the number of pixels of image data.

つまシ、テンプレートデータが82X82画素、画像デ
ータが100OX100O画素とすると演算回数は約1
,000,000,000回となる0演算装置3が1秒
に1.000,000回演算可能としても1000秒か
かる。このように処理に処理に時間がかかるという問題
点があった。
If the template data is 82 x 82 pixels and the image data is 100 x 100 pixels, the number of calculations is approximately 1.
,000,000,000 times. Even if the 0 calculation device 3 can perform calculations 1.000,000 times per second, it will take 1000 seconds. As described above, there is a problem in that the processing takes time.

この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、短時間で画像データから特定パターンをg識
するパターン認識装置を得ることを目的とする。
The present invention was made to solve the above-mentioned problems, and it is an object of the present invention to provide a pattern recognition device that can recognize a specific pattern from image data in a short time.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

この発明に係るパターン認識装置は、認識しようとする
パターンのうち特徴的な値をもつある画素を指定し、そ
の特徴をもつ画素データを求めて記憶装置に格納し、中
央演算処理装置によシ演算処理を行うことによって特定
のパターンの認識を行うものである。また、複数の特徴
を持つ画素の場合には複数回の論理演算をスキップさせ
る演算機能を中央演算処理装置に付加することによシ高
遠の論理演算処理を行うようにしたものであるO〔作 
用〕 この発明におけるパターン認識装置の特定画素の指定は
、特定された画素についてのみ論理演算を行うことによ
って少い演算回数でノ(ターンを認識する。また、特定
された演算は中央演算処理装置の内部レジスタを用いて
画像データ上の1ワード分の画素についてまとめて論理
演算を実行し、画像データ上の画素値を調べ、パターン
が存在しなければスキップして次の画素処理に移行する
The pattern recognition device according to the present invention specifies a certain pixel having a characteristic value in a pattern to be recognized, obtains pixel data having that characteristic, stores it in a storage device, and executes the process using a central processing unit. A specific pattern is recognized by performing arithmetic processing. In addition, in the case of a pixel with multiple characteristics, an arithmetic function that skips multiple logical operations is added to the central processing unit to perform high-level logical operation processing.
The designation of a specific pixel in the pattern recognition device of the present invention is performed by performing logical operations only on the specified pixels, thereby recognizing turns with a small number of operations. A logical operation is performed on one word of pixels on the image data using the internal register of the image data, the pixel values on the image data are checked, and if a pattern does not exist, the process is skipped and moves on to the next pixel processing.

〔実施例〕〔Example〕

以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図において、4は図面の2値画像データと認識しようと
するパターンのデータとの演算結果を格納する記憶装置
、5は認識されるパターンサイズの101データで回廊
を構成した認識用のデータを格納する一時記憶装置、6
は中央演算処理装fH(CPUと略称)である。なお、
中央演算処理装置6は、ビット単位に指定した領域と他
の領域を高速で論理演算する機能を具備しておシ、上記
演算を数Mバイト/秒程度で実行する。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings. 1st
In the figure, 4 is a storage device that stores the calculation result of the binary image data of the drawing and the data of the pattern to be recognized, and 5 is the storage device that stores the recognition data in which a corridor is formed by 101 data of the pattern size to be recognized. temporary storage device, 6
is a central processing unit fH (abbreviated as CPU). In addition,
The central processing unit 6 has a function of performing high-speed logical operations on areas specified in bit units and other areas, and executes the above operations at approximately several Mbytes/second.

次に動作について説明する。まず第2図のフローチャー
トにおいて、ステップ7では初期設定を行う。図面等の
2値画像データ、認識しようとするパターンの基準画素
およびそのパターンに特徴的な画素の値と基準画素に対
する座標を記憶装置4に入力する。さらに、前記記憶装
置4に画像データのサイズに合わせて、演算結果データ
の領域を確保して11′に初期化する。以下、第3図(
a)のパターンを認識するものとして説明する。この場
合、ステップ7では第3図(b)に示すように、基準面
素人と特徴的な画素B 、C、Eの情報を入力する。
Next, the operation will be explained. First, in the flowchart of FIG. 2, initial settings are performed in step 7. Binary image data such as a drawing, a reference pixel of a pattern to be recognized, pixel values characteristic of the pattern, and coordinates for the reference pixel are input into the storage device 4. Further, an area for calculation result data is secured in the storage device 4 according to the size of the image data and initialized to 11'. Below, Figure 3 (
This will be explained assuming that the pattern a) is recognized. In this case, in step 7, as shown in FIG. 3(b), information on the reference plane amateur and characteristic pixels B, C, and E is input.

そして、A、B、C,Eをパターンの特定画素とする。Then, let A, B, C, and E be specific pixels of the pattern.

ステップ8では特定画素の基準画素に対する座標(X、
Y)とその値Pを基準面素人の値に設定する。
In step 8, the coordinates (X,
Y) and its value P are set to the values of the reference plane amateur.

次にステップ9では、座標(X 、Y)によシ論理演算
の対象領域を設定する。すなわち、画像データを一次元
メモリとして配置した場合の画像データに対する対象画
像データの一次元的な距離(オフセット値の差)を求め
る。画像データの先頭オフセット値を5OFFとすると
対象画像データの先頭オフセット値ROFFは ROFF = 5OFF −(XHxY ) +X  
 −−・・−・(1)で求められる。ここでXHは第4
図伽)の水平方向のサイズ44を示す。
Next, in step 9, a region to be subjected to logical operations is set based on coordinates (X, Y). That is, the one-dimensional distance (difference in offset value) between the target image data and the image data when the image data is arranged as a one-dimensional memory is determined. If the start offset value of the image data is 5OFF, the start offset value ROFF of the target image data is ROFF = 5OFF - (XHxY) +X
−−・・−・It is obtained by (1). Here XH is the fourth
The horizontal size 44 of Figure 3) is shown.

ステップ10−aでは、原データ(画像データ)の値が
”0”か否かを判定し、′01であれば論理積をスキッ
プし、ステップ14へ分岐する。もし、′0”でなけれ
ば、特徴点の数だけステップ11.12の論理演算を実
行し画像データ上の画素の数(特徴数)を調べる。
In step 10-a, it is determined whether the value of the original data (image data) is "0" or not, and if it is '01, the logical product is skipped and the process branches to step 14. If it is not '0', the logical operations of steps 11 and 12 are executed for the number of feature points, and the number of pixels (number of features) on the image data is checked.

また、ステップ10ではPの値を判定し、pr。Further, in step 10, the value of P is determined and pr.

すなわち、P=1であればステップ11へ、P=0なら
ばステップ12へ移る。
That is, if P=1, the process moves to step 11, and if P=0, the process moves to step 12.

ステップ11では画像データに対して次の論理演算を行
う。
In step 11, the following logical operation is performed on the image data.

R←CRopp”)C3opp)−”0°“(2)ここ
で、(SOFF)は画像データの内容(画像データの先
頭オフセット値)、(ROFF)は対象画像データの内
容、Rは演算結果を格納するレジスタ、・は論理積を表
す。
R←CRopp”)C3opp)−”0°”(2) Here, (SOFF) is the content of the image data (starting offset value of the image data), (ROFF) is the content of the target image data, and R is the calculation result. The register to store, . represents logical product.

この演算について第4図を参照し説明する。This calculation will be explained with reference to FIG.

第4図(a)は画像データを示す図、第4図ら)は画像
データと対象画像データとの論理演算について説明する
図、第4図(c)は演算結果を示す図である。
FIG. 4(a) is a diagram showing image data, FIG. 4(a) is a diagram illustrating a logical operation between image data and target image data, and FIG.

第4図6)の論理演算について第3図(b)の特徴点B
のケースで説明する。ここではわか)やすくする為に、
二次元メモリ上での説明を行い、つづいて−次元メモリ
上での動作について説明する。
Regarding the logical operation in Figure 4 6), feature point B in Figure 3 (b)
This will be explained using the case of For the sake of simplicity,
An explanation will be given on a two-dimensional memory, and then an explanation will be given on operations on a -dimensional memory.

まず、特徴点Bの基準画素Aに対する座標は(XB−Y
B)で値は111であるから、S(x十XB 、 y+
YB )とS (x 、y)を重ねると第4図ら)のよ
うになる。41はS (x 、y)の画像データ、42
はS (X+XB 、 y+YB )画像データを示す
。画像データ上でパターンの基準画素となる画素(xo
−yo)では、S (x o +XB * 76 +Y
B)が1111となる。従って、パターン上の特定画素
(x 、y)が111なら、S (x+X = 3’+
Y)が111となる画素にパターンの基準画素が存在す
る可能性がある。
First, the coordinates of feature point B with respect to reference pixel A are (XB-Y
B) and the value is 111, so S(x×XB, y+
When YB ) and S (x, y) are superimposed, it becomes as shown in Fig. 4, etc.). 41 is image data of S (x, y), 42
indicates S (X+XB, y+YB) image data. The pixel (xo
-yo), then S (x o +XB * 76 +Y
B) becomes 1111. Therefore, if the specific pixel (x, y) on the pattern is 111, then S (x+X = 3'+
There is a possibility that the reference pixel of the pattern exists at the pixel where Y) is 111.

画像データ41と42の重ね合わせを行うことは、画像
データ41を基準として(XB、YB)の座標分ずれ九
画像データ43と41の論理積を実行することと等価で
ある。これを−次元メモリ上での論理演算として考える
と、 画像データ45・・・先頭オフセット値5OFFから3
2ビツトのデータと 対象画像データ46・・・先頭オフセット値ROWから
32ビツトのデータとの論理積をとる。
Superimposing the image data 41 and 42 is equivalent to performing a logical product of the image data 43 and 41 with a coordinate shift of (XB, YB) based on the image data 41. Considering this as a logical operation on the -dimensional memory, image data 45...starting offset value 5OFF to 3
The 2-bit data and the target image data 46...32-bit data from the start offset value ROW are ANDed.

ステップ12では次の論理演算を行う。In step 12, the following logical operation is performed.

R←(ROFF) 拳R・・・・・・(3)Rは演算結
果を格納しておくレジスタ、(ROFF)は対象画像デ
ータの内容を反転したものを示す。
R←(ROFF) Fist R (3) R is a register that stores the calculation result, and (ROFF) indicates the inverted contents of the target image data.

この演算について第5図で説明する。第5図(a)は画
像データを示す図、第5図町はS (x+X 、 y+
Y)について第3図伽)のEについて説明する図、第5
図(c)は演算結果を示す図である。画素Eの基準画素
Aに対する座標は(XE −YE )で値は”01であ
るから、S (X+XB 、 y+Yg )と5(x−
y)を重ねると第5図ら)のようになる。51はS(x
、y) 、 52はS (x+XB = 7+YE )
を示す。
This calculation will be explained with reference to FIG. Figure 5 (a) is a diagram showing image data, the town in Figure 5 is S (x+X, y+
Regarding Y), Figure 3 is a diagram explaining E of G), Figure 5
Figure (c) is a diagram showing the calculation results. Since the coordinates of pixel E with respect to reference pixel A are (XE - YE) and the value is "01," S (X+XB, y+Yg) and 5 (x-
If you overlap y), it will look like Figure 5 et al). 51 is S(x
, y), 52 is S (x+XB = 7+YE)
shows.

画像データ上でパターンの基準画素となる画素(xo 
h )’o )ではS (XO+XB −)’o+YE
 )は10”になる。
The pixel (xo
h )'o ) then S (XO+XB -)'o+YE
) becomes 10”.

従って、パターン上の特定画素(x、y)が”0”なら
、S (x+X = )’+Y)が@ゲとなる画像デー
タ上の画素(x、y)にパターンの基準画素が存在する
可能性がある。
Therefore, if a specific pixel (x, y) on the pattern is "0", it is possible that the reference pixel of the pattern exists at the pixel (x, y) on the image data where S (x+X = )'+Y) is @ge. There is sex.

ステップ11と同様に、画像データ51を基準として(
XE、YE)の座標分ずれた画像データ53と41の論
理積を実行する。
Similarly to step 11, using the image data 51 as a reference (
The logical product of the image data 53 and 41 shifted by the coordinates (XE, YE) is executed.

ステップ11とステップ12の演算を対象画像データ数
くシ返し実行する。第3図ら)において特徴点B、Cに
ついてはステップ11の演算を、それらの結果と特徴点
Eについてはステップ12の演算を行いその結果を出力
用領域に転送する。上記の演算を全領域について実行す
る。
The calculations in steps 11 and 12 are repeated for the number of target image data. In FIG. 3, et al., the calculation in step 11 is performed for the feature points B and C, and the calculation in step 12 is performed for those results and the feature point E, and the results are transferred to the output area. The above calculation is executed for the entire area.

この装誼によるパターン認識を第6図に示す。Figure 6 shows pattern recognition using this design.

すなわち、第6図(a)の画像データから、第3図(a
)のパターンを認識する。特徴点Bに対する論理演算を
行った結果を第6図ら)に、さらに特徴点Cについての
演算を行った結果を第6図(c)に、さらに特徴点Eに
ついて演算を行うと第6図(d)に示す演算結果が得ら
れ、第3口伝)のパターンの基准画素が存在する画素が
そのiま残シ、パターンが認識される。但し、本特許に
おいては特徴点B 、C、Eについての演算をレジスタ
で行っている為に、第6図(b) 、 (c)の状況は
出力されず、(d)の処理結果が得られる。
That is, from the image data of FIG. 6(a), FIG. 3(a)
) patterns. The result of performing the logical operation on feature point B is shown in Figure 6(c), the result of performing the operation on feature point C is shown in Figure 6(c), and the result of performing the operation on feature point E is shown in Figure 6(). The calculation result shown in d) is obtained, and the pixel in which the reference pixel of the pattern 3) exists remains, and the pattern is recognized. However, in this patent, since the calculations for feature points B, C, and E are performed using registers, the situations in Figure 6 (b) and (c) are not output, and the processing result in (d) is obtained. It will be done.

パターン上の特定画素の指定は、画像データとの関連で
、そのパターンに特徴的な画素を選ぶ。
To specify a specific pixel on a pattern, select a pixel that is characteristic of the pattern in relation to the image data.

式(2) 、 (3)の演算、ステップ11.12は可
変長フィールドのデータ演算ができる中央演算処理装置
6で高速に行う。
The calculations of equations (2) and (3), steps 11 and 12, are performed at high speed by the central processing unit 6, which is capable of data calculations on variable length fields.

1000X100O画素の画像データの場合、中央演算
処理装置6の演算能力を4Mバイト/秒としてもパター
ン上の特定画素1画素分について、演算時間は約0.0
3秒、パターン上指定する画素を10画素とすると演算
時間は約0.3秒となる。仮に32X32画素すべてを
特定画素としたとしても演算時間は約30秒である。パ
ターンの特定画素の指定と、高速論理演算の実行によシ
処理時間を短縮することができる。
In the case of image data of 1000 x 1000 pixels, even if the computing power of the central processing unit 6 is 4 Mbytes/sec, the computing time for one specific pixel on the pattern is approximately 0.0
If the number of pixels designated on the pattern is 10, the calculation time will be approximately 0.3 seconds. Even if all 32×32 pixels are designated as specific pixels, the calculation time is about 30 seconds. Processing time can be shortened by specifying specific pixels of a pattern and performing high-speed logical operations.

なお、上記実施例では、中央演算処理装置での演算出力
結果を記憶装置に格納するようにしたが、ディスプレイ
装置上のディスプレイ用の記憶装置に格納すれば、演算
結果が即座にディスプレイ装置に表示される。
In the above embodiment, the calculation output results from the central processing unit are stored in the storage device, but if they are stored in the storage device for display on the display device, the calculation results can be immediately displayed on the display device. be done.

また、画像データの論理演算として論理積のみを行った
けれどパターン認識に裕度を持之せる為に、特徴点mヶ
のうちnヶ成立するものを求めることによシ実行(n6
m)できる。またこの処理に関しては画像データ間の論
理演算の回数が増加する為に、内部レジスタの演算回数
が増加し、よシー層の高速化が図れる。(例えば、内部
レジスタの演算速度は約32Mバイト/秒。) 〔発明の効果〕 以上のように、この発明によれば、パターンの特定画素
を指定し、特定され念画素のみについて論理演算を実行
することによって少い演算回数でパターン認識ができる
ので、高速の論理演算の実行により、短時間で特定のパ
ターンを認識することができる効果がある。
In addition, although only the logical product was performed as a logical operation on the image data, in order to maintain margin in pattern recognition, it was executed by finding the ones that hold n out of m feature points (n6
m) I can. Further, regarding this processing, since the number of logical operations between image data increases, the number of operations of internal registers increases, and the speed of the storage layer can be increased. (For example, the operation speed of the internal register is approximately 32 Mbytes/second.) [Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, a specific pixel of a pattern is specified and a logical operation is performed only on the specified pixel. By doing so, pattern recognition can be performed with a small number of calculations, so that a specific pattern can be recognized in a short time by executing high-speed logical calculations.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はこの発明の一実施例によるパターン認識装置の
構成を示すブロック図、第2図はこの発明の一実施例に
よるパターン認識装置の動作を示すフローチャート、第
3図(a) 、 (b) 、第4図(a) 〜(e)。 第5口部)〜(c)及び第6図(a)〜(d)はこの発
明の一実施例によるパターン認識装置の動作を示す説明
図、第7図は従来のパターン認識装置の構成を示すブロ
ック図、第8口伝)〜(c)は従来のパターン認識装置
の動作を示す説明図である。 図において、4は記憶装置、5は一時記憶装置、6は中
央演算処理装置である。 特許出願人  三菱電機株式会社 第1図 6:中夫:実算処5¥装置 第2図 第3図    第4図 第5図    第6図 第7図
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of a pattern recognition device according to an embodiment of the invention, FIG. 2 is a flowchart showing the operation of the pattern recognition device according to an embodiment of the invention, and FIGS. 3(a) and (b) ), Figures 4(a) to (e). 5th part) to (c) and FIGS. 6(a) to (d) are explanatory diagrams showing the operation of a pattern recognition device according to an embodiment of the present invention, and FIG. 7 shows the configuration of a conventional pattern recognition device. The block diagrams shown in FIG. 8) to (c) are explanatory diagrams showing the operation of a conventional pattern recognition device. In the figure, 4 is a storage device, 5 is a temporary storage device, and 6 is a central processing unit. Patent applicant Mitsubishi Electric Corporation Figure 1 Figure 6: Nakao: Actual calculation processor 5\ device Figure 2 Figure 3 Figure 4 Figure 5 Figure 6 Figure 7

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)図面の2値画像データと認識しようとするパター
ンの特定画素のデータとを格納する記憶装置と、前記記
憶装置のビット単位に指定した領域のデータと他の領域
のデータとの論理演算を実行し認識するパターンの特定
画素の位置情報を格納する一時記憶装置と、前記記憶装
置のビット単位に指定した領域と他の領域及び種類を制
御しながら後記中央演算処理装置内部のレジスタを用い
て画像データ上の1ワード分の画素についてまとめて論
理演算を実行し、画像データ上の画素数を調ペパターン
が不存在時にスキップ処理をする中央演算処理装置を備
えたパターン認識装置。
(1) A storage device that stores the binary image data of the drawing and data of specific pixels of the pattern to be recognized, and a logical operation between data in an area specified in bits of the storage device and data in other areas. A temporary storage device for storing positional information of a specific pixel of a pattern to be recognized and a register inside the central processing unit described later while controlling an area specified in bit units of the storage device and other areas and types. A pattern recognition device equipped with a central processing unit that performs logical operations on pixels of one word on image data at once, and skips the number of pixels on the image data when no adjustment pattern exists.
(2)前記認識しようとするパターンのうち特徴的な値
を持つ画素が複数存在する場合には複数回の論理演算を
スキップさせる演算機能を中央演算処理装置に付加し画
像データ上の素子数を調べるようにしたことを特徴とす
る特許請求の範囲第1項記載のパターン認識装置。
(2) If there are multiple pixels with characteristic values in the pattern to be recognized, a calculation function is added to the central processing unit that skips multiple logical operations, and the number of elements in the image data is increased. The pattern recognition device according to claim 1, characterized in that the pattern recognition device is configured to check the pattern recognition device.
JP22495786A 1986-09-25 1986-09-25 Pattern recognition device Pending JPS6380372A (en)

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JP22495786A JPS6380372A (en) 1986-09-25 1986-09-25 Pattern recognition device

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JP22495786A JPS6380372A (en) 1986-09-25 1986-09-25 Pattern recognition device

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2010051169A (en) * 2008-08-20 2010-03-04 Abb Technology Ag High-voltage switch with cooling

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JP2010051169A (en) * 2008-08-20 2010-03-04 Abb Technology Ag High-voltage switch with cooling

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