JPS6377887A - Purifying method for organosilicon compound - Google Patents

Purifying method for organosilicon compound

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JPS6377887A
JPS6377887A JP22156886A JP22156886A JPS6377887A JP S6377887 A JPS6377887 A JP S6377887A JP 22156886 A JP22156886 A JP 22156886A JP 22156886 A JP22156886 A JP 22156886A JP S6377887 A JPS6377887 A JP S6377887A
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organosilicon compound
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chloride
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organosilicon
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紀夫 篠原
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  • Organic Low-Molecular-Weight Compounds And Preparation Thereof (AREA)

Abstract

PURPOSE:To readily and efficiently remove a very small amount of impurities and obtain an organosilicon compound of high purity, by bringing the organosilicon compound containing the impurities into contact with an organomagnesium compound. CONSTITUTION:An organomagnesium compound, preferably Grignard reagent is added to an organosilicon compound containing impurities such as halogenated organic compounds, e.g. methyl chloride, ethyl bromide, chlorobenzene, biphenyl chloride, etc., and the resultant reaction mixture is stirred at preferably -70-+50 deg.C. The organosilicon compound is then separated to afford the aimed organosilicon compound of high purity.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、シラン類、シロキサン類のような有機ケイ素
化合物の精製方法に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Field of Application] The present invention relates to a method for purifying organosilicon compounds such as silanes and siloxanes.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

近年、半導体工業用材料としてシラン類及びシロキサン
類の利用が進むにつれて、その中に不純物として含まれ
る微量のメチルクロライド、メチルブロマイド、クロロ
ベンゼン、ブロモベンゼン。
In recent years, as the use of silanes and siloxanes as materials for the semiconductor industry has progressed, trace amounts of methyl chloride, methyl bromide, chlorobenzene, and bromobenzene are contained as impurities.

クロロビフェニル、ブロモビフェニルのようなハロゲン
化有機化合物がシリコンウェハーなどの半導体基板を侵
し、材料トラブルを起すことが明らかになってきた。
It has become clear that halogenated organic compounds such as chlorobiphenyl and bromobiphenyl attack semiconductor substrates such as silicon wafers, causing material problems.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

そこで、本発明は、簡便かつ効率的に不純物であるハロ
ゲン化有機化合物などを有機ケイ素化合物から分離し、
精製する方法を提供することを目的とするものである。
Therefore, the present invention simply and efficiently separates impurities such as halogenated organic compounds from organosilicon compounds, and
The purpose of this invention is to provide a method for purification.

c問題点を解決するための手段〕 本発明者らは、次の方法により、前記目的を達成し、有
機ケイ素化合物を精製し得ることを見出した。
c. Means for Solving Problems] The present inventors have found that the above object can be achieved and an organosilicon compound can be purified by the following method.

すなわち、本発明は、不純物を含有する有機ケイ素化合
物を有機マグネシウム化合物と接触させた後、有機ケイ
素化合物を分離することからなる有機ケイ素化合物の精
製方法を提供するものである。
That is, the present invention provides a method for purifying an organosilicon compound, which comprises contacting an organosilicon compound containing impurities with an organomagnesium compound and then separating the organosilicon compound.

本発明における精製の対象となる有機ケイ素化合物とし
ては、オルガノシラン類、オルガノシロキサン類が挙げ
られる。オルガノシラン類としては、例えばジメチルジ
クロロシラン、ジエチルジクロロシラン、メチルトリク
ロロシラン、エチルトリクロロシラン、トリメチルクロ
ロシラン、トリエチルクロロシランのようなアルキルク
ロロシラン類;ジメチルジメトキシシラン、ジメチルジ
ェトキシシラン、メチルトリメトキシシラン、メチルト
リエトキシシラン、ジエチルジメトキシシラン、ジエチ
ルジェトキシシラン、エチルトリメトキシシラン、エチ
ルトリエトキシシランのようなアルキルアルコキシシラ
ン類;ジフェニルジクロロシラン、フェニルトリクロロ
シラン、トリフェニルクロロシランのようなフェニル基
を持つクロロシラン類;ジフェニルジメトキシシラン、
フェニルトリメトキシシラン、トリフェニルメトキシシ
ラン、ジフェニルジェトキシシラン、フェニルトリエト
キシシラン、トリフェニルエトキシシランのようなフェ
ニルアルコキシシラン類;オルガノシロキサンとしては
、例えば、ヘキサメチルジシロキサン、ヘキサエチルジ
シロキサン、オクタメチルトリシロキサン、デカメチル
テトラシロキサンのよよなアルキル基を持つ鎖状シロキ
サン類;ヘキサメチルシクロトリシロキサン、オクタメ
チルシクロテトラシロキサン、デカメチルシクロペンタ
シロキサンのようなアルキル基を持つ環、状シロキサン
類;ヘキサフェニルジシロキサン。
Organosilicon compounds to be purified in the present invention include organosilanes and organosiloxanes. Examples of organosilanes include alkylchlorosilanes such as dimethyldichlorosilane, diethyldichlorosilane, methyltrichlorosilane, ethyltrichlorosilane, trimethylchlorosilane, and triethylchlorosilane; dimethyldimethoxysilane, dimethyljethoxysilane, methyltrimethoxysilane, and methyl Alkylalkoxysilanes such as triethoxysilane, diethyldimethoxysilane, diethyljethoxysilane, ethyltrimethoxysilane, and ethyltriethoxysilane; chlorosilanes with phenyl groups such as diphenyldichlorosilane, phenyltrichlorosilane, and triphenylchlorosilane ; diphenyldimethoxysilane,
Phenylalkoxysilanes such as phenyltrimethoxysilane, triphenylmethoxysilane, diphenyljethoxysilane, phenyltriethoxysilane, and triphenylethoxysilane; examples of organosiloxane include hexamethyldisiloxane, hexaethyldisiloxane, octa Chain siloxanes with alkyl groups such as methyltrisiloxane and decamethyltetrasiloxane; cyclic siloxanes with alkyl groups such as hexamethylcyclotrisiloxane, octamethylcyclotetrasiloxane, and decamethylcyclopentasiloxane ;Hexaphenyldisiloxane.

オクタフェニルトリシロキサン、デカフェニルテトラシ
ロキサンのようなフェニル基を持つ鎖状シロキサン、及
びフェニルトリス(トリメチルシロキシ)シランのよう
なメチル基及びフェニル基を持つ分岐状シロキサンが挙
げられる。
Examples include linear siloxanes having phenyl groups such as octaphenyltrisiloxane and decaffenytetrasiloxane, and branched siloxanes having methyl and phenyl groups such as phenyltris(trimethylsiloxy)silane.

本発明に使用される有機マグネシウム化合物としては、
例えば、一般式: 〔式中、Rはメチル、工°チル、プロピル、ブチル。
The organomagnesium compounds used in the present invention include:
For example, the general formula: [wherein R is methyl, ethyl, propyl, or butyl.

アミル等のアルキル基、シクロヘキシル、メチルシクロ
ヘキシル等のシクロアルキル基、フェニル。
Alkyl groups such as amyl, cycloalkyl groups such as cyclohexyl and methylcyclohexyl, and phenyl.

トリル、エチルフェニル等のアリール基などの炭化水素
基であり、 Xは、塩素、臭素、ヨウ素等のハロゲン原子である。〕 で表されるグリニヤール試薬、及びジメチルマグネシウ
ム、ジエチルマグネシウム、ジフェニルマグネシウム等
の有機マグネシウム化合物が挙げられ、グリニヤール試
薬が特に好ましい。
It is a hydrocarbon group such as an aryl group such as tolyl or ethylphenyl, and X is a halogen atom such as chlorine, bromine, or iodine. ] Grignard reagents represented by these and organic magnesium compounds such as dimethylmagnesium, diethylmagnesium, and diphenylmagnesium are mentioned, and Grignard reagents are particularly preferred.

前記のグリニヤール試薬の具体例としては、次のような
ものがある。即ち、メチルマグネシウムクロライド、 
tert−ブチルマグネシウムクロライド、メチルマグ
ネシウムブロマイド、エチルマグネシウムブロマイド、
 tert−ブチルマグネシウムブロマイド、メチルマ
グネシウムアイオダイド。
Specific examples of the Grignard reagent mentioned above include the following. That is, methylmagnesium chloride,
tert-butylmagnesium chloride, methylmagnesium bromide, ethylmagnesium bromide,
tert-butylmagnesium bromide, methylmagnesium iodide.

フェニルマグネシウムクロライド、フェニルマグネシウ
ムブロマイド、フェニルマグネシウムアイオダイド、シ
クロヘキシルマグネシウムクロライド等である。
These include phenylmagnesium chloride, phenylmagnesium bromide, phenylmagnesium iodide, and cyclohexylmagnesium chloride.

本発明の方法により除去される不純物としては、例えば
前述のようにハロゲン化有機化合物が挙げられるが、こ
れに限定されるものではない。除去されるハロゲン化有
機化合物としては、メチルクロライド、メチルブロマイ
ド、エチルクロライド。
Examples of impurities removed by the method of the present invention include, but are not limited to, halogenated organic compounds as described above. The halogenated organic compounds to be removed include methyl chloride, methyl bromide, and ethyl chloride.

エチルブロマイド、エチルアイオダイド、クロロベンゼ
ン、ブロモベンゼン、ヨードベンゼン、塩化ビフェニル
、臭化ビフェニル、ヨウ化ビフェニル等が挙げられる。
Examples include ethyl bromide, ethyl iodide, chlorobenzene, bromobenzene, iodobenzene, chlorinated biphenyl, brominated biphenyl, iodized biphenyl, and the like.

グリニヤール試薬等の有機マグネシウム化合物を不純物
を含有する有機ケイ素化合物と接触させるには、グリニ
ヤール試薬等を適当な有a溶媒溶液として有機ケイ素化
合物に加え、好ましくは一70〜100℃、特に好まし
くは一70〜50℃において攪拌等を行なえばよい。こ
のとき、使用するグリニヤール試薬等の有機マグネシウ
ム化合物の量は、不純物として含まれているハロゲン化
有機化合物等の1〜1000倍モル量が好ましく、特に
1〜100倍モル量が好ましい。また、グリニヤール試
薬を溶かす溶媒としては、エチルエーテル、ブチルエー
テル、テトラヒドロフランのようなエーテル類が好まし
い。また、この種のエーテル類と併用して、ベンゼン、
トルエン、キシレン、ヘキサンのようなグリニヤール試
薬に対して不活性な溶媒も利用できる。接触処理時間は
比較的短時間でもよいが、通常は1時間から10時間程
度が望ましい。処理後混合物を濾過し、濾液を蒸留する
か、或は水洗後、水溶液層を分離した後に、蒸留すれば
目的の精製シランや精製シロキサンが得られる。
To bring an organomagnesium compound such as a Grignard reagent into contact with an organosilicon compound containing impurities, the Grignard reagent or the like is added to the organosilicon compound as a solution in a suitable aqueous solvent, preferably at -70 to 100°C, particularly preferably at -100°C. Stirring etc. may be performed at 70 to 50°C. At this time, the amount of the organomagnesium compound such as the Grignard reagent used is preferably 1 to 1000 times the molar amount of the halogenated organic compound contained as an impurity, particularly preferably 1 to 100 times the molar amount. Moreover, as a solvent for dissolving the Grignard reagent, ethers such as ethyl ether, butyl ether, and tetrahydrofuran are preferable. In addition, benzene,
Solvents that are inert to Grignard reagents such as toluene, xylene, and hexane are also available. Although the contact treatment time may be relatively short, it is usually desirably about 1 hour to 10 hours. The target purified silane or purified siloxane can be obtained by filtering the treated mixture and distilling the filtrate, or by washing with water, separating the aqueous solution layer, and then distilling it.

〔作 用〕[For production]

本発明の方法により不純物を容易に分離することができ
る真の理由は明らかではないが、シラン類やシロキサン
類の有機ケイ素化合物中の不純物がグリニヤール試薬等
の有機マグネシウム化合物に吸着されるか、或いは有機
ケイ素化合物と有機マグネシウム化合物との反応生成物
に吸着される結果、分離が容易になるためと推定される
The true reason why impurities can be easily separated by the method of the present invention is not clear, but the reason is that impurities in organosilicon compounds such as silanes and siloxanes are adsorbed to organomagnesium compounds such as Grignard reagents, or It is presumed that this is because separation becomes easier as a result of adsorption to the reaction product of the organosilicon compound and the organomagnesium compound.

〔実施例〕〔Example〕

次に本発明を実施例により具体的に説明する。 Next, the present invention will be specifically explained using examples.

実施例1 分析により0.05モルのフェニルブロマイドを含むこ
とが判明しているオクタメチルトリシロキサン5000
 g中に、テトラヒドロフランに溶かしたメチルマグネ
シウムクロライドの溶液(濃度1モル)を温度60℃に
加温して加えた。6時間攪拌し、接触させた後に、沈殿
物をガラスフィルターを用いて濾過した。濾液を蒸留し
たところ、4500gのオクタメチルトリシロキサンが
得られた。このオクタメチルトリシロキサン中のフェニ
ルブロマイドを、ガスクロマトグラフィーにより分析し
たところ濃度は9.01ppm以下であった。
Example 1 Octamethyltrisiloxane 5000 found by analysis to contain 0.05 moles of phenyl bromide
A solution of methylmagnesium chloride (concentration: 1 mol) dissolved in tetrahydrofuran was added to the solution at a temperature of 60°C. After stirring and contacting for 6 hours, the precipitate was filtered using a glass filter. Distillation of the filtrate yielded 4500 g of octamethyltrisiloxane. When the phenyl bromide in this octamethyltrisiloxane was analyzed by gas chromatography, the concentration was found to be 9.01 ppm or less.

未精製のオクタメチルトリシロキサン(A)、上記で精
製したオクタメチルトリシロキサン(B)及び未精製オ
クタメチルトリシロキサンを単に1回更に蒸留したオク
タメチルトリシロキサン(C)の3種について、シリコ
ンウェハーを用いて、次のように基板テストを行なった
Three types of octamethyltrisiloxane (A), unpurified octamethyltrisiloxane (B) purified above, and octamethyltrisiloxane (C) obtained by further distilling the unpurified octamethyltrisiloxane once, were prepared on a silicon wafer. A board test was conducted using the following.

シリコン基板テストの方法: 301(長さ)X30m(幅)X5n(厚さ)のシリコ
ン基板表面上に試料のオクタメチルトリシロキサンを乾
燥厚0.1μmに塗り風乾させた。
Silicon substrate test method: A sample of octamethyltrisiloxane was applied to a dry thickness of 0.1 μm on the surface of a silicon substrate measuring 301 m (length) x 30 m (width) x 5 n (thickness) and air-dried.

引き続いて20重量%濃度のHF水溶液を表面上に流し
、オクタメチルトリシロキサンを分解除去した。次いで
X線光電子分析(XPS)によりCI3電子によるスペ
クトルを分析して表面状態を調べた。
Subsequently, a 20% strength by weight aqueous HF solution was passed over the surface to decompose and remove the octamethyltrisiloxane. Next, the spectrum due to CI3 electrons was analyzed by X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) to examine the surface state.

結果は次のとおりであった。The results were as follows.

A(未精製)       ・・・炭素が残った。A (unrefined)... Carbon remained.

C(1回蒸留)       ・・・炭素が残った。C (single distillation)...Carbon remained.

実施例2 分析によす0.1モルのプロモビフェニルヲ含むことが
判明しているフェニルトリス(トリメチルシロキシ)シ
ラン5000 gの中に、テトラヒドロフランに溶かし
たフェニルマグネシウムクロライドの溶液(濃度1モル
)を温度O℃にて加えた。2時間攪拌し、接触させた後
に、沈殿物をガラスフィルターを用いて濾過した。濾液
を蒸留したところ、4600 gのフェニルトリス(ト
リメチルシロキシ)シランが得られた。このフェニルト
リス(トリメチルシロキシ)シラン中のブロモビフェニ
ルをガスクロマトグラフィーにより分析したところ、そ
の温度はQ、O1ppm以下であった。シリコンウェハ
ーを用いた基板テストを実施例1と同様に未精製、精製
及び1回のみ蒸留の3種のフェニルトリス(トリメチル
シロキシ)シランについて行なった。実施例1と同様の
結果が得られた。
Example 2 A solution of phenylmagnesium chloride (concentration 1 mol) in tetrahydrofuran was added to 5000 g of phenyltris(trimethylsiloxy)silane, which was found to contain 0.1 mol of promobiphenyl by analysis. It was added at a temperature of 0°C. After stirring and contacting for 2 hours, the precipitate was filtered using a glass filter. Distillation of the filtrate yielded 4600 g of phenyltris(trimethylsiloxy)silane. When the bromobiphenyl in this phenyltris(trimethylsiloxy)silane was analyzed by gas chromatography, the temperature was found to be below 1 ppm of Q,O. Substrate tests using silicon wafers were conducted in the same manner as in Example 1 for three types of phenyltris(trimethylsiloxy)silane: unpurified, purified, and once distilled. Results similar to those in Example 1 were obtained.

実施例3 分析により0.1モルのフロロビフェニルを含むことが
判明しているフェニルトリエトキシシラン5000 g
中に、テトラヒドロフランに溶かしたメチルマグネシウ
ムブロマイドの溶液(濃度1モル)を温度40℃にて加
えた。10時間攪拌し、接触させた後、沈殿物をガラス
フィルターを用いて濾過した。濾液を1留したところ、
4200 gのフェニルトリエトキシシランが得られた
。このフェニルトリエトキシシラン中のフロロビフェニ
ルをガスクロマトグラフィーで分析したところ、その濃
度は0.01ppm以下であった。シリコンウェハーを
用いた基板テストを実施例1と同様にして未精製。
Example 3 5000 g of phenyltriethoxysilane analyzed to contain 0.1 mole of fluorobiphenyl
A solution of methylmagnesium bromide (1 mol concentration) dissolved in tetrahydrofuran was added thereto at a temperature of 40°C. After stirring and contacting for 10 hours, the precipitate was filtered using a glass filter. When one distillate of the filtrate was collected,
4200 g of phenyltriethoxysilane were obtained. Analysis of fluorobiphenyl in this phenyltriethoxysilane by gas chromatography revealed that its concentration was 0.01 ppm or less. A substrate test using a silicon wafer was performed in the same manner as in Example 1, and the product was unpurified.

精製及び1回蒸留のみの3種のフェニルトリエトキシシ
ランについて行なった。実施例1と同様の結果が得られ
た。
This study was conducted on three types of phenyltriethoxysilanes that were purified and distilled only once. Results similar to those in Example 1 were obtained.

実施例4 分析によす0.1モルのヨードビフェニルヲ含むことが
判明しているジフェニルジメトキシシラン5000 g
中に、ジブチルエーテル中に)容かしたメチルマグネシ
ウムアイオダイドの?容’f夜(?tr1度1モル)を
、温度30℃にて加えた。7時間攪拌し、接触させた後
、沈殿物をガラスフィルターを用いて濾過した。濾液を
蒸留したところ、4300 gのジフェニルジメトキシ
シランが得られた。このジフェニルジメトキシシラン中
のヨードビフェニルをガスクロマトグラフィーで分析し
たところ、その濃度は0.01ppm以下であった。
Example 4 5000 g of diphenyldimethoxysilane, which was found by analysis to contain 0.1 mole of iodobiphenyl.
of methylmagnesium iodide (in dibutyl ether)? The solution was added at a temperature of 30° C. (1 mole per degree). After stirring and contacting for 7 hours, the precipitate was filtered using a glass filter. Distillation of the filtrate yielded 4300 g of diphenyldimethoxysilane. When the iodobiphenyl in this diphenyldimethoxysilane was analyzed by gas chromatography, its concentration was 0.01 ppm or less.

シリコンウェハーを用いた基板テストを実施例1と同様
にして未精製、精製及び1回蒸留のみの3種のジフェニ
ルジメトキシシランについて行なった。実施例1と同様
の結果が得られた。
A substrate test using a silicon wafer was conducted in the same manner as in Example 1 for three types of diphenyldimethoxysilane: unpurified, purified, and single distillation only. Results similar to those in Example 1 were obtained.

実施例5 分析により0.1モルのブロモビフェニルを含むことが
判明しているジフェニルジクロロシラン50QOg中に
、テトラヒドロフランに溶かしたフェニルマグネシウム
アイオダイドの溶液(濃度1モル)を、温度10℃にて
加えた。10時間攪拌し、接触させた後に沈殿物をガラ
スフィルターを用いて濾過した。濾液を蒸留したところ
、4370 gのジフェニルジクロロシランが得られた
。このジフェニルジクロロシラン中のブロモビフェニル
をガスクロマトグラフィーにより分析したところ、その
濃度はQ、Qlppm以下であった。
Example 5 A solution of phenylmagnesium iodide (concentration: 1 mol) dissolved in tetrahydrofuran was added to 50 QOg of diphenyldichlorosilane, which was found to contain 0.1 mol of bromobiphenyl by analysis, at a temperature of 10°C. Ta. After stirring and contacting for 10 hours, the precipitate was filtered using a glass filter. Distillation of the filtrate yielded 4370 g of diphenyldichlorosilane. When the bromobiphenyl in this diphenyldichlorosilane was analyzed by gas chromatography, its concentration was below Q, Ql ppm.

シリコンウェハーを用いた基板テストを実施例1と同様
にして未精製、精製及び1回蒸留のみの3種のジフェニ
ルジクロロシランについて行なった。実施例1と同様の
結果が得られた。
A substrate test using a silicon wafer was conducted in the same manner as in Example 1 for three types of diphenyldichlorosilane: unpurified, purified, and single distillation only. Results similar to those in Example 1 were obtained.

実施例6 分析により0.1モルのクロロベンゼンを含むことが判
明しているジフェニルジクロロシラン5000gの中に
、テトラヒドロフランに溶解させたフェニルマグネシウ
ムクロライド溶液(濃度1モル)を、温度−10℃にて
加えた。3時間攪拌し、接触させた後、ガラスフィルタ
ーを用いて沈殿物を濾過した。濾液を蒸留したところ、
4400 gのジフェニルジクロロシランが得られた。
Example 6 A phenylmagnesium chloride solution (concentration 1 mol) dissolved in tetrahydrofuran was added to 5000 g of diphenyldichlorosilane, which was found to contain 0.1 mol of chlorobenzene by analysis, at a temperature of -10°C. Ta. After stirring and contacting for 3 hours, the precipitate was filtered using a glass filter. When the filtrate was distilled,
4400 g of diphenyldichlorosilane were obtained.

このジフェニルジクロロシラン中のクロロベンゼンをガ
スクロマトグラフィーで分析したところ、その温度は0
.01pp清以下であった。
When the chlorobenzene in this diphenyldichlorosilane was analyzed by gas chromatography, its temperature was found to be 0.
.. It was less than 0.01 pp clear.

シリコンウェハーを用いた基板テストを実施例1と同様
にして未精製、精製及び1回蒸留のみの3種のジフェニ
ルジクロロシランについて行なった。実施例1と同様の
結果が得られた。
A substrate test using a silicon wafer was conducted in the same manner as in Example 1 for three types of diphenyldichlorosilane: unpurified, purified, and single distillation only. Results similar to those in Example 1 were obtained.

実施例7 分析により0.1モルのメチルクロライドを含むことが
判明しているジメチルジクロロシラン5000gの中に
、ジエチルエーテル グネシウムブロマイドの溶液(濃度1モル)を温度−2
0℃にて加えた。1時間攪拌し、接触させた後に、沈殿
物をガラスフィルターを用いて濾過した。濾液を蒸留し
たところ、4500 gのジメチルジクロロシランが得
られた。このジメチルジクロロシラン中のメチルクロラ
イドをガスクロマトグラフィーで分析したところ、その
濃度は0.01ppm以下であった。
Example 7 A solution of diethyl ethergnesium bromide (concentration 1 mol) was added to 5000 g of dimethyldichlorosilane, which was found to contain 0.1 mol of methyl chloride by analysis, at a temperature of -2
Added at 0°C. After stirring and contacting for 1 hour, the precipitate was filtered using a glass filter. Distillation of the filtrate yielded 4500 g of dimethyldichlorosilane. When the methyl chloride in this dimethyldichlorosilane was analyzed by gas chromatography, its concentration was 0.01 ppm or less.

シリコンウェハーを用いた基板テストを実施例1と同様
にして未精製,精製及び1回蒸留のみの3種のジメチル
ジクロロシランについて行なった。
A substrate test using a silicon wafer was conducted in the same manner as in Example 1 for three types of dimethyldichlorosilane: unpurified, purified, and single-distilled.

実施例工と同様の結果が得られた。Results similar to those of the example were obtained.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明の方法によると、シラン類,シロキサン類等の有
機ケイ素化合物に含まれている微量のハロゲン化有機化
合物を筒便,効率よく除去し、高純度の有機ケイ素化合
物を容易に得ることができる。こうして得られる高純度
の有機ケイ素化合物は半導体工業材料として極めて有用
である。
According to the method of the present invention, trace amounts of halogenated organic compounds contained in organosilicon compounds such as silanes and siloxanes can be effectively removed, and highly pure organosilicon compounds can be easily obtained. . The highly purified organosilicon compound thus obtained is extremely useful as a semiconductor industrial material.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 不純物を含有する有機ケイ素化合物を有機マグネシウム
化合物と接触させた後、有機ケイ素化合物を分離するこ
とからなる有機ケイ素化合物の精製方法。
A method for purifying an organosilicon compound comprising contacting an organosilicon compound containing impurities with an organomagnesium compound and then separating the organosilicon compound.
JP22156886A 1986-09-19 1986-09-19 Purifying method for organosilicon compound Granted JPS6377887A (en)

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JP (1) JPS6377887A (en)

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JPH0344079B2 (en) 1991-07-04

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