JPS6358750U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6358750U JPS6358750U JP15248486U JP15248486U JPS6358750U JP S6358750 U JPS6358750 U JP S6358750U JP 15248486 U JP15248486 U JP 15248486U JP 15248486 U JP15248486 U JP 15248486U JP S6358750 U JPS6358750 U JP S6358750U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- tube
- holding member
- attached
- sensor
- sensor holding
- Prior art date
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- Pending
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Description
第１図ないし第７図はこの考案の一実施例を示
すものであつて、第１図は管体内に配置された管
内面倣い移動装置を示す一部縦断正面図、第２図
はその縦断正面図、第３図は管内面倣い移動装置
の側面図、第４図はその縦断側面図、第５図は管
体周囲方向にゆがみがある管内に収容された管内
面倣い移動装置を示す一部縦断正面図、第６図は
管体長手方向にゆがみがある管内に収容された管
内面倣い移動装置を示す一部縦断側面図、第７図
はその縦断側面図である。第８図ないし第１３図
は従来の管内面倣い移動装置を示すものであつて
、第８図は管体内に配置された管内面倣い移動装
置を示す一部縦断正面図、第９図はその縦断正面
図、第１０図は管内面倣い移動装置の側面図、第
１１図はその縦断側面図、第１２図は管内面倣い
移動装置の平面図、第１３図は管体周囲方向にゆ
がみがある管内に収容された管内面倣い移動装置
を示す一部縦断正面図である。 図において、１は管体、２は回転移動軸、３は
支持部材、４はセンサ保持部材、５は倣いローラ
、６は板ばね、７はセンサ、１７はガイド孔、１
８はガイドリング、１９はボルト、２０は押え部
材、２１はビス、２２は支軸、２３は管内面倣い
移動装置である。
すものであつて、第１図は管体内に配置された管
内面倣い移動装置を示す一部縦断正面図、第２図
はその縦断正面図、第３図は管内面倣い移動装置
の側面図、第４図はその縦断側面図、第５図は管
体周囲方向にゆがみがある管内に収容された管内
面倣い移動装置を示す一部縦断正面図、第６図は
管体長手方向にゆがみがある管内に収容された管
内面倣い移動装置を示す一部縦断側面図、第７図
はその縦断側面図である。第８図ないし第１３図
は従来の管内面倣い移動装置を示すものであつて
、第８図は管体内に配置された管内面倣い移動装
置を示す一部縦断正面図、第９図はその縦断正面
図、第１０図は管内面倣い移動装置の側面図、第
１１図はその縦断側面図、第１２図は管内面倣い
移動装置の平面図、第１３図は管体周囲方向にゆ
がみがある管内に収容された管内面倣い移動装置
を示す一部縦断正面図である。 図において、１は管体、２は回転移動軸、３は
支持部材、４はセンサ保持部材、５は倣いローラ
、６は板ばね、７はセンサ、１７はガイド孔、１
８はガイドリング、１９はボルト、２０は押え部
材、２１はビス、２２は支軸、２３は管内面倣い
移動装置である。
Claims (1)
- 管体１の中心線上に配置された回転移動軸２の
端部に取付けられている支持部材３に管体周囲方
向に間隔をおいて配置されたセンサ保持部材４に
おける管体周囲方向の中央部が、管体半径方向に
移動自在にかつ管体中心線に直角な面内で回動自
在に取付けられ、各センサ保持部材４における管
体周囲方向の両端部に、管体内面に押付けられる
倣いローラ５が取付けられ、各センサ保持部材４
の中央部は環状の板ばね６を介して連結され、各
センサ保持部材４の中央部に管体内面に対向する
センサ７が固定されていることを特徴とする管内
面点検用センサの管内面倣い移動装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15248486U JPS6358750U (ja) | 1986-10-06 | 1986-10-06 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15248486U JPS6358750U (ja) | 1986-10-06 | 1986-10-06 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6358750U true JPS6358750U (ja) | 1988-04-19 |
Family
ID=31070501
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15248486U Pending JPS6358750U (ja) | 1986-10-06 | 1986-10-06 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6358750U (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06268732A (ja) * | 1993-03-12 | 1994-09-22 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 通信ネットワークのパス管理システム |
| JP2002286698A (ja) * | 2001-03-23 | 2002-10-03 | Kawasaki Steel Corp | 鋼管内面検査装置 |
| JP2011007548A (ja) * | 2009-06-24 | 2011-01-13 | Suzuki Motor Corp | 内周面検査装置の測定ヘッド |
| JP2013015514A (ja) * | 2011-06-10 | 2013-01-24 | Hitachi-Ge Nuclear Energy Ltd | 渦電流探傷プローブ |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS599553A (ja) * | 1982-07-07 | 1984-01-18 | Kawasaki Steel Corp | 鋼材傷検知装置 |
| JPS6042905B2 (ja) * | 1979-08-22 | 1985-09-25 | 富士通株式会社 | 半導体の不純物濃度の測定方法 |
-
1986
- 1986-10-06 JP JP15248486U patent/JPS6358750U/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6042905B2 (ja) * | 1979-08-22 | 1985-09-25 | 富士通株式会社 | 半導体の不純物濃度の測定方法 |
| JPS599553A (ja) * | 1982-07-07 | 1984-01-18 | Kawasaki Steel Corp | 鋼材傷検知装置 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH06268732A (ja) * | 1993-03-12 | 1994-09-22 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 通信ネットワークのパス管理システム |
| JP2002286698A (ja) * | 2001-03-23 | 2002-10-03 | Kawasaki Steel Corp | 鋼管内面検査装置 |
| JP2011007548A (ja) * | 2009-06-24 | 2011-01-13 | Suzuki Motor Corp | 内周面検査装置の測定ヘッド |
| JP2013015514A (ja) * | 2011-06-10 | 2013-01-24 | Hitachi-Ge Nuclear Energy Ltd | 渦電流探傷プローブ |