JPS6358028B2 - - Google Patents

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JPS6358028B2
JPS6358028B2 JP56040054A JP4005481A JPS6358028B2 JP S6358028 B2 JPS6358028 B2 JP S6358028B2 JP 56040054 A JP56040054 A JP 56040054A JP 4005481 A JP4005481 A JP 4005481A JP S6358028 B2 JPS6358028 B2 JP S6358028B2
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JP
Japan
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transistor
resistor
switch means
power generation
emitter
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Hajime Matsuhashi
Yoshio Akita
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Denso Corp
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NipponDenso Co Ltd
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  • Control Of Charge By Means Of Generators (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、車輛用充電装置に係り異常時におけ
る誤動作の防止を実現するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a vehicle charging device, and is intended to prevent malfunctions in the event of an abnormality.

第1図に示す充電装置の回路構成はこれまで本
発明者等が提案してきたものである。
The circuit configuration of the charging device shown in FIG. 1 has been proposed by the present inventors.

第1図において、電圧調整器2内の各回路の動
作に必要な電源はバツテリ3、キースイツチ4を
介して端子204より電源線27を通して供給さ
れる。この端子204がはずれた場合、電源はバ
ツテリ3→キースイツチ4→チヤージランプ5→
端子205→トランジスタ250内のダイオード
255→電源線27の経路で供給されることにな
る。この時の電源線27の電圧は、電圧調整器2
内の各回路が消費する電流が変化することによ
り、チヤージランプ5を流れる電流が変化し、チ
ヤージランプ5の両端に生ずる電圧降下も変化す
るため、非常に不安定になる。例えば、トランジ
スタ24が導通した場合と非導通である場合とで
は、電源線27の電圧が大きく異なることは明ら
かである。この様に電源線27の電圧が不安定に
なると、電圧調整器2内の各回路は誤動作を生じ
やすくなり、交流発電機1の発電制御が不能にな
る場合もあり好ましくない。
In FIG. 1, the power necessary for the operation of each circuit in the voltage regulator 2 is supplied from a terminal 204 through a power line 27 via a battery 3 and a key switch 4. If this terminal 204 is disconnected, the power source is battery 3 → key switch 4 → charge lamp 5 →
It is supplied through the path of terminal 205 → diode 255 in transistor 250 → power supply line 27. At this time, the voltage of the power line 27 is determined by the voltage regulator 2.
As the current consumed by each circuit in the circuit changes, the current flowing through the charge lamp 5 changes, and the voltage drop occurring across the charge lamp 5 also changes, making it extremely unstable. For example, it is clear that the voltage of the power supply line 27 is significantly different when the transistor 24 is conductive and when it is not conductive. If the voltage of the power supply line 27 becomes unstable in this way, each circuit in the voltage regulator 2 is likely to malfunction, and power generation control of the alternator 1 may become impossible, which is not preferable.

前記の様な不具合を解消するためには、第1図
の構成におけるトランジスタ250のかわりに第
2,3,4図に示した各トランジスタ2501,
2502及び2503を使用することも考えられ
る。しかし、これらは下記に述べる様にそれぞれ
欠点がある。まず、第2図のトランジスタ250
1を使用した場合はトランジスタ250と比べ電
流増幅率が著しく小さいので発電検出回路23内
にトランジスタ250を使用した場合に比べて一
層増幅率の大きい電流増幅回路を必要とする。第
3図のトランジスタ2502を使用した場合は電
流増幅率の点ではトランジスタ250より優れて
いるが、微少な漏洩電流によつても導通してしま
うという様に誤動作を生じやすい。この漏洩電流
による誤動作はエミツタ端子256とベース端子
258の間に外付け抵抗を接続することによつて
ある程度は防止することができる。しかし、トラ
ンジスタ2502が非導通のときトランジスタ2
502内のトランジスタ252のベース端子には
安定した電位が与えられないため、コレクタ・エ
ミツタ間の逆方向降伏電圧がトランジスタ250
と比べ低下する。第4図のトランジスタ2503
を使用した場合は、電流増幅率及び漏洩電流によ
る誤動作、降伏電圧のいずれもトランジスタ25
0と同率であり、しかもトランジスタ250の場
合と異なりダイオード255が無いので前記の様
な不具合も生じない。しかし、トランジスタ25
03の様な構成を1つのシリコンチツプ内に作り
込むためには、トランジスタ250の場合と比べ
て複雑な工程を必要とするか、もしくはトランジ
スタ250と同様の工程で作り込む場合は、トラ
ンジスタ2503内の抵抗254をトランジスタ
250内の抵抗254と同じ抵抗値とするために
一層大きなチツプ面積を必要とする。
In order to eliminate the above-mentioned problems, each transistor 2501 shown in FIGS. 2, 3, and 4 is used instead of the transistor 250 in the configuration shown in FIG.
It is also possible to use 2502 and 2503. However, each of these has drawbacks as described below. First, the transistor 250 in FIG.
1, the current amplification factor is significantly smaller than that of the transistor 250, so a current amplification circuit with a larger amplification factor than the case where the transistor 250 is used is required in the power generation detection circuit 23. When the transistor 2502 shown in FIG. 3 is used, it is superior to the transistor 250 in terms of current amplification factor, but it tends to malfunction as it becomes conductive even with a small leakage current. Malfunctions due to this leakage current can be prevented to some extent by connecting an external resistor between the emitter terminal 256 and the base terminal 258. However, when transistor 2502 is non-conducting, transistor 2
Since a stable potential is not applied to the base terminal of the transistor 252 in the transistor 502, the reverse breakdown voltage between the collector and emitter of the transistor 252
It decreases compared to Transistor 2503 in FIG.
When using transistor 25, both the current amplification factor, malfunction due to leakage current, and breakdown voltage are
0, and unlike the case of the transistor 250, there is no diode 255, so the above-mentioned problem does not occur. However, transistor 25
In order to create a structure like 03 in one silicon chip, a more complicated process is required compared to the case of the transistor 250, or if it is manufactured in the same process as the transistor 250, the structure inside the transistor 2503 is required. In order to make the resistor 254 in the transistor 250 have the same resistance value as the resistor 254 in the transistor 250, a larger chip area is required.

本発明は上記した様な欠点を解消するためにな
されたものである。
The present invention has been made in order to eliminate the above-mentioned drawbacks.

以下、第6図に示す本発明の実施例について具
体的に説明する。本発明の各回路は半導体集積化
を意図して構成されたものである。1は整流器を
備えた交流発電機、2は電圧調整器で、この電圧
調整器2は交流発電機1の励磁電流を制御するト
ランジスタ21と、交流発電機1のバツテリ3へ
の充電電圧を端子201で検出し、これによつて
トランジスタ21を制御する電圧調整回路22の
他に、負荷をなすチヤージランプ5を駆動する第
2の半導体スイツチ手段をなすトランジスタ24
と、負荷6を駆動する第1の半導体スイツチ手段
をなすトランジスタ25、及び交流発電機1の発
電電圧を端子203で検出し、これにより、トラ
ンジスタ24及び25を制御する発電検出回路2
3を備える。ダイオード26は周知の還流ダイオ
ードである。電源線27は端子204、キースイ
ツチ4を介してバツテリ3の正極側に接続され、
これによつて電圧調整器2に含まれる各回路に電
源が供給される。トランジスタ25は、第5図に
示す如く、1つの半導体チツプ内に2つのpnp型
トランジスタ251及び252と1つの抵抗25
3を作り込み、2つのトランジスタ251及び2
52をダーリントン接続とし、前段のトランジス
タ251のベース・エミツタ間に抵抗253を接
続したものである。抵抗28はトランジスタ25
のエミツタ端子256とベース端子258の間に
接続される。
The embodiment of the present invention shown in FIG. 6 will be specifically described below. Each circuit of the present invention is constructed with the intention of semiconductor integration. 1 is an alternating current generator equipped with a rectifier, 2 is a voltage regulator, and this voltage regulator 2 has a transistor 21 that controls the excitation current of the alternator 1, and a terminal that supplies the charging voltage to the battery 3 of the alternator 1. In addition to the voltage regulating circuit 22 which is detected at 201 and thereby controls the transistor 21, there is also a transistor 24 which constitutes second semiconductor switch means for driving the charge lamp 5 which constitutes the load.
, a transistor 25 serving as a first semiconductor switch means for driving the load 6, and a power generation detection circuit 2 that detects the generated voltage of the alternator 1 at a terminal 203 and thereby controls the transistors 24 and 25.
Equipped with 3. Diode 26 is a well-known freewheeling diode. The power line 27 is connected to the positive side of the battery 3 via the terminal 204 and the key switch 4.
Power is thereby supplied to each circuit included in the voltage regulator 2. As shown in FIG. 5, the transistor 25 includes two pnp type transistors 251 and 252 and one resistor 25 in one semiconductor chip.
3 and two transistors 251 and 2
52 is Darlington connected, and a resistor 253 is connected between the base and emitter of the transistor 251 in the previous stage. Resistor 28 is transistor 25
is connected between the emitter terminal 256 and base terminal 258 of.

また、発電検出回路23とトランジスタ24及
び25の作動についてさらに詳しく述べると、発
電検出回路23は、交流発電機1の発電電圧を端
子203で検出し、この発電電圧が所定の値以下
では、トランジスタ24を導通、トランジスタ2
4を導通、トランジスタ25を非導通とし、発電
電圧が所定の値以上では、トランジスタ24を非
導通、トランジスタ25を導通とする様作動す
る。これによつて、交流発電機1の発電電圧が所
定の値以下ではチヤージランプ5は点灯し、負荷
6は駆動されず、この発電電圧が所定の値以上に
なるとチヤージランプ5は消灯し、負荷6が駆動
される。
Further, to describe in more detail the operation of the power generation detection circuit 23 and the transistors 24 and 25, the power generation detection circuit 23 detects the generated voltage of the alternator 1 at the terminal 203, and when the generated voltage is below a predetermined value, the 24 conductive, transistor 2
When the generated voltage exceeds a predetermined value, the transistor 24 is turned off and the transistor 25 is turned on. As a result, when the generated voltage of the alternator 1 is below a predetermined value, the charge lamp 5 is turned on and the load 6 is not driven, and when the generated voltage exceeds the predetermined value, the charge lamp 5 is turned off and the load 6 is turned on. Driven.

上記の構成によれば、端子204が外れた場
合、電源線27への電源の供給は完全に絶たれる
ので、電圧調整器2内の各回路の動作は確実停止
し、トランジスタ21は非導通状態を維持する。
このため交流発電機1は確実に発電を停止するこ
とができる。また抵抗28により、漏洩電流によ
る誤動作を防止することができ、かつトランジス
タ25内のトランジスタ252のベース端子は、
同じくトランジスタ25内の抵抗253により非
導通の場合も安定な電位が与えられるので、コレ
クタ・エミツタ間の逆方向降伏電圧が低下するこ
ともない。
According to the above configuration, when the terminal 204 is disconnected, the power supply to the power line 27 is completely cut off, so the operation of each circuit in the voltage regulator 2 is reliably stopped, and the transistor 21 is in a non-conducting state. maintain.
Therefore, the AC generator 1 can reliably stop power generation. Furthermore, the resistor 28 can prevent malfunctions due to leakage current, and the base terminal of the transistor 252 in the transistor 25 is
Similarly, since the resistor 253 in the transistor 25 provides a stable potential even when the transistor is non-conductive, the reverse breakdown voltage between the collector and emitter does not decrease.

なお、第7図は発電検出回路23の一具体例で
あり、図中の各端子a,b,c,d,eは第6図
においてブロツク23中に示す記号と対応させて
ある。つまり、コンパレータ231は平滑電圧を
基準電圧と比較し、未発電時にはトランジスタ2
32,233はOFFさせる構成にしてある。
7 shows a specific example of the power generation detection circuit 23, and each terminal a, b, c, d, e in the figure corresponds to the symbol shown in the block 23 in FIG. In other words, the comparator 231 compares the smoothed voltage with the reference voltage, and when no power is being generated, the transistor 231
32 and 233 are configured to be turned off.

また、以上に述べた実施例では、pnp型のトラ
ンジスタを使用した場合について述べたが、npn
型のトランジスタを使用した場合も同様なことが
いえる。
In addition, in the embodiment described above, the case where a pnp type transistor is used is described, but an npn type transistor is used.
The same thing can be said when using a type of transistor.

ここで、第5図に示す如く、入力段トランジス
タ251のエミツタ・ベース間のみに、抵抗25
3を接続することで、1つの半導体チツプの面積
を、第4図に示す回路に対して、著しく小さくで
きる点(従来の技術に記載されている点)につい
て、以下により詳しく説明する。
Here, as shown in FIG. 5, a resistor 25 is connected only between the emitter and base of the input stage transistor 251.
The point (a point described in the prior art) that the area of one semiconductor chip can be made significantly smaller than the circuit shown in FIG. 4 by connecting the circuits shown in FIG.

通常、PNP型のダーリントントランジスタは
入力段トランジスタと出力段トランジスタの共通
コレクタ領域となるP型シリコン基板に、入力段
及び出力段それぞれのベース領域となるN型拡散
領域をそれぞれ形成し、その各そのN型拡散領域
の内側に入力段及び出力段のエミツタ領域となる
P型拡散領域を形成して構成する。このダーリン
トントランジスタの同一チツプ内に製造工程を増
加させることなく入力段あるいは出力段のベー
ス・エミツタ間に抵抗を設けようとする場合はベ
ース領域となるN型拡散領域の一部あるいはエミ
ツタ領域となるP型拡散領域の一部のいずれかを
所定の抵抗値が得られるようパターン形成して構
成するしかない。(共通コレクタ領域となるP型
シリコン基板部は一部を分離独立してパターン形
成することができないので抵抗を設けることはで
きない。) また、トランジスタに要求される特性から、ベ
ース領域となるN型拡散領域は、エミツタ領域と
なるP型拡散領域に比べて、不純物濃度が著しく
低い(比抵抗が著しく大きい)。従つて、ベース
領域となるN型拡散領域の一部に抵抗を形成する
場合に比べて、エミツタ領域となるP型拡散領域
の一部に同一の抵抗値を持つ抵抗を形成しようと
すると著しく大きなパターン面積が必要となる。
Normally, a PNP type Darlington transistor has an N-type diffusion region formed in a P-type silicon substrate, which serves as a common collector region of the input stage transistor and an output stage transistor, and an N-type diffusion region, which serves as the base region of each of the input stage and output stage transistors. A P-type diffusion region is formed inside an N-type diffusion region to serve as an emitter region of an input stage and an output stage. If you want to provide a resistance between the base and emitter of the input stage or output stage within the same chip of this Darlington transistor without increasing the manufacturing process, you can use a part of the N-type diffusion region that serves as the base region or the emitter region. The only way to do this is to pattern a part of the P-type diffusion region so that a predetermined resistance value can be obtained. (A resistor cannot be provided on the P-type silicon substrate portion, which will become the common collector region, because it is not possible to pattern a part of it separately and independently.) In addition, due to the characteristics required for transistors, the N-type silicon substrate portion, which will become the base region, cannot be provided with a resistor. The impurity concentration of the diffusion region is significantly lower (the specific resistance thereof is significantly higher) than that of the P-type diffusion region which becomes the emitter region. Therefore, if you try to form a resistor with the same resistance value in a part of the P-type diffusion region that will become the emitter region, the resistance will be significantly larger than when forming a resistor in a part of the N-type diffusion region that will become the base region. Pattern area is required.

従つて、抵抗を設ける場合はベース領域となる
N型拡散領域の一部に抵抗をパターン形成する方
がチツプ面積の点から有利であるが、これを出力
段のベース・エミツタ間に接続すると必然的にN
型拡散領域が出力段トランジスタのエミツタと接
続されることになり、P型シリコン基板すなわち
ダーリントントランジスタの共通コレクタとの間
にPN接合ダイオードが形成される(これが第1
図に示す250に相当する)。以上のことから明
らかなように、第4図に示す2503のように、
ダーリントントランジスタの同一チツプ内に共通
コレクタと出力段トランジスタのエミツタとの間
にダイオードを形成することなしに、出力段トラ
ンジスタのベース・エミツタ間に抵抗を設けるに
は、チツプ面積が大きくなるエミツタ領域の一部
に抵抗を形成するか、この抵抗形成のために工程
を追加することになつてしまうのである。
Therefore, when providing a resistor, it is more advantageous in terms of chip area to pattern the resistor on a part of the N-type diffusion region that will serve as the base region, but if it is connected between the base and emitter of the output stage, Target N
The type diffusion region will be connected to the emitter of the output stage transistor, and a PN junction diode will be formed between it and the P type silicon substrate, i.e. the common collector of the Darlington transistor (this is the first
250 shown in the figure). As is clear from the above, like 2503 shown in Figure 4,
In order to provide a resistance between the base and emitter of the output stage transistor without forming a diode between the common collector and the emitter of the output stage transistor within the same chip of the Darlington transistor, it is necessary to This results in either forming a resistor in a portion or adding an additional process to form the resistor.

また、以上に述べた実施例では、第1のスイツ
チング手段に、PNP型のトランジスタを使用し
た場合について述べたが、NPN型のトランジス
タを使用した場合も同様なことがいえる。
Further, in the embodiments described above, a case has been described in which a PNP type transistor is used as the first switching means, but the same can be said when an NPN type transistor is used.

また、負荷となすチヤージランプ5が他の負
荷、例えばコイル、抵抗、発光ダイオード等の負
荷であつても同様なことがいえる。
The same thing can be said even if the charge lamp 5 serving as a load is another load such as a coil, a resistor, a light emitting diode, or the like.

以上述べたように本発明では、バツテリに2つ
の負荷が直列に接続され、この2つの負荷を、交
流発電機の発電、非発電に応じて、発電の場合は
一方の負荷を駆動し、非発電の場合は他方の負荷
を駆動するというように、相反する駆動をするた
めに、第1、第2の半導体スイツチ手段をバツテ
リと接地側端子の間に直列に接続し、これら第
1、第2の半導体スイツチ手段の互いの接続点と
前記2つの負荷の互いの接続点とを結線した構成
において、バツテリ側に接続されている第1の半
導体スイツチ手段として、1つの半導体チツプ内
に入力段トランジスタ、出力段トランジスタとの
ダーリントン接続とし、かつ入力段トランジスタ
のベース・エミツタ間のみに抵抗を接続すること
によつて、第1の半導体スイツチ手段は、電流増
幅率や漏洩電流による誤動作、降伏電圧、製造工
程及びチツプ面積のいずれもこれまでのものとほ
ぼ同等とすることができ、かつ、前記負荷と前記
第1の半導体スイツチ手段との間の結線が外れた
場合、誤動作が生じることもないという優れた効
果が得られる。
As described above, in the present invention, two loads are connected in series to the battery, and these two loads are driven depending on whether the alternator is generating power or not. In order to perform contradictory driving such as driving the other load in the case of power generation, first and second semiconductor switch means are connected in series between the battery and the ground terminal. In a configuration in which the mutual connection points of the two semiconductor switch means and the mutual connection points of the two loads are connected, an input stage is provided in one semiconductor chip as the first semiconductor switch means connected to the battery side. By making a Darlington connection between the transistor and the output stage transistor, and by connecting a resistor only between the base and emitter of the input stage transistor, the first semiconductor switch means can prevent malfunctions due to current amplification factors, leakage currents, and breakdown voltages. , both the manufacturing process and the chip area can be made almost the same as those of the previous ones, and malfunctions will not occur if the connection between the load and the first semiconductor switch means is disconnected. This excellent effect can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図乃至第4図は本発明者等がこれまでに提
案した事例を示す電気回路図、第5図、第6図及
び第7図は本発明の一実施例を示す電気回路図で
ある。 1……交流発電機、2……電圧調整器、3……
バツテリ、5……チヤージランプ、6……負荷、
22……電圧調整回路、23……発電検出回路、
24,25……トランジスタ、28……外付け抵
抗、251,252……ダーリントン構成のトラ
ンジスタ、253……抵抗。
FIGS. 1 to 4 are electrical circuit diagrams showing examples proposed by the present inventors, and FIGS. 5, 6, and 7 are electrical circuit diagrams showing one embodiment of the present invention. . 1... AC generator, 2... Voltage regulator, 3...
battery, 5...charge lamp, 6...load,
22... Voltage adjustment circuit, 23... Power generation detection circuit,
24, 25...Transistor, 28...External resistor, 251, 252...Darlington configuration transistor, 253...Resistor.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 発電機の発電状態を検出してそれに応じた信
号を発生する発電検出回路と、 キースイツチを介してバツテリに並列接続され
た、第1の半導体スイツチ手段及び第2の半導体
スイツチ手段からなる直列回路と、 前記キースイツチの一端と前記第1、第2の半
導体スイツチ手段の接続点との間に設けられた負
荷とを含み、 かつ前記第1の半導体スイツチ手段は、ダーリ
ントン構造となる出力段トランジスタと入力段ト
ランジスタとからなり、この入力段トランジスタ
のベース・エミツタ間のみに抵抗を設けると共
に、前記出力段、入力段トランジスタおよび抵抗
は1つの半導体チツプ内に形成され、 しかも前記入力段トランジスタのベース側と前
記出力段トランジスタのエミツタ側との間に外付
け抵抗を設けてなり、 前記第1、第2の半導体スイツチ手段を前記発
電検出回路の信号に応じて駆動するように構成し
たことを特徴とする車輛用充電装置。
[Claims] 1. A power generation detection circuit that detects the power generation state of the generator and generates a signal in accordance with the power generation state, and a first semiconductor switch means and a second semiconductor that are connected in parallel to the battery via a key switch. a series circuit comprising switch means; and a load provided between one end of the key switch and a connection point of the first and second semiconductor switch means, and the first semiconductor switch means has a Darlington structure. It consists of an output stage transistor and an input stage transistor, and a resistor is provided only between the base and emitter of this input stage transistor, and the output stage, input stage transistor, and resistor are formed in one semiconductor chip, and the An external resistor is provided between the base side of the input stage transistor and the emitter side of the output stage transistor, and the first and second semiconductor switch means are driven in accordance with the signal from the power generation detection circuit. A vehicle charging device characterized by comprising:
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JPS5523747A (en) * 1978-08-03 1980-02-20 Nippon Denso Co Automotive generator generating indicator

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