JPS6354276B2 - - Google Patents

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Publication number
JPS6354276B2
JPS6354276B2 JP56109767A JP10976781A JPS6354276B2 JP S6354276 B2 JPS6354276 B2 JP S6354276B2 JP 56109767 A JP56109767 A JP 56109767A JP 10976781 A JP10976781 A JP 10976781A JP S6354276 B2 JPS6354276 B2 JP S6354276B2
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JP
Japan
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pattern
unit
legal
mesh
unit mesh
Prior art date
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JP56109767A
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Japanese (ja)
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JPS5810965A (en
Inventor
Toshuki Sakai
Juichi Oota
Michihiko Mino
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Original Assignee
Individual
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Publication date
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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N1/00Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
    • H04N1/40Picture signal circuits
    • H04N1/409Edge or detail enhancement; Noise or error suppression

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Character Input (AREA)
  • Image Processing (AREA)
  • Facsimile Image Signal Circuits (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は英数字、漢字かな混り文の文章、グラ
フや表、設計図面など、一般に線図形と呼ばれて
いる2次元パターンの処理に関し、さらに詳しく
は、歪を受けノイズの混入した2次元パターンを
本来のパターンに修正・復元する方式に関する。
[Detailed Description of the Invention] The present invention relates to the processing of two-dimensional patterns that are generally called line figures, such as alphanumeric characters, texts containing kanji and kana, graphs, tables, and design drawings. This invention relates to a method for correcting and restoring a two-dimensional pattern mixed with reception noise to the original pattern.

いわゆる線図形と呼ばれている2次元パターン
を通信伝送したり複写したりすると、パターンの
品質が劣化する。これは、伝送途中や複写過程で
発生するノイズや歪によるものである。このよう
な本来のパターン以外の成分が全く混入しないよ
うな伝送系や複写機構の実現は、実際上殆ど不可
能である。したがつて、ノイズが重畳したり変歪
をうけた2次元パターンを、その本来のパターン
へ修正・復元するための技術の確立が要請されて
いる。
When a two-dimensional pattern called a line figure is transmitted or copied, the quality of the pattern deteriorates. This is due to noise and distortion occurring during transmission or during the copying process. In practice, it is almost impossible to realize a transmission system or copying mechanism that does not contain components other than the original pattern. Therefore, there is a need to establish a technique for correcting and restoring a two-dimensional pattern with superimposed noise or distortion to its original pattern.

ところで、文章や図面の情報源である線図形
は、自然画像と違つて、ある手段を用い、ある特
定の生成規則に沿つて生成されるのが普通であ
る。すなわち、伝送や複写による2次元パターン
の品質劣化は、ノイズや歪により上記の生成規則
に合わないパターンへ変形されるためと考えるこ
とができる。したがつて、2次元パターン中の生
成規則に合わない成分を修正すれば、本来のパタ
ーンの復元が可能なはずである。
By the way, unlike natural images, line figures, which are information sources for texts and drawings, are usually generated using a certain method and according to certain production rules. That is, the quality deterioration of a two-dimensional pattern due to transmission or copying can be considered to be due to the deformation of the two-dimensional pattern into a pattern that does not conform to the above-mentioned generation rules due to noise or distortion. Therefore, it should be possible to restore the original pattern by correcting the components in the two-dimensional pattern that do not conform to the generation rules.

本発明は、かゝる観点に基づいて2次元パター
ンを修正・復元するための一方式を提供すること
を目的とするものである。
The present invention aims to provide a method for correcting and restoring a two-dimensional pattern based on such a viewpoint.

しかして本発明にあつては、2次元パターンに
おけるm×n画素(例えば3×3画素)を単位メ
ツシユとし、該単位メツシユに出現するパターン
のうち特定の複数のパターンを合法パターンとし
て予め選定しておく。そして処理すべき2次元パ
ターン上で単位メツシユの位置を1画素単位で順
次移動しながら各単位メツシユのパターンを観則
し、合法パターンの単位メツシユはそのまゝと
し、合法パターン以外のパターン(非合法パター
ンと称す)の単位メツシユには合法パターンを割
付ける。ある非合法パターンの単位メツシユに合
法パターンを割付けたときは、その単位メツシユ
(注目単位メツシユと称す)中の画素を含む修正
処理済みの他の単位メツシユ(その数は単位メツ
シユのサイズによつて異なるが、これらを参照単
位メツシユと称す)のパターンを再観測し、非合
法パターンが生じないかチエツクする。非合法パ
ターンが生じなければ注目単位メツシユの修正は
終了である。非合法パターンが生じた場合は、注
目単位メツシユに別の合法パターンを改めて割付
けて、その参照単位メツシユのパターンを改めて
観測して非合法パターンが生じないかをチエツク
し、以下同様に参照単位メツシユに非合法パター
ンが生じなくなるまで注目単位メツシユの修正を
繰返す。非合法パターンの単位メツシユに割付け
る合法パターンは、例えばその非合法パターンと
のハミング距離にしたがつて選択する。勿論、こ
の選択規則に限定されるものではない。
However, in the present invention, m×n pixels (for example, 3×3 pixels) in a two-dimensional pattern are used as a unit mesh, and a plurality of specific patterns among the patterns appearing in the unit mesh are selected in advance as legal patterns. I'll keep it. Then, observe the pattern of each unit mesh while sequentially moving the position of the unit mesh pixel by pixel on the two-dimensional pattern to be processed, and leave the unit mesh of the legal pattern as it is, and A legal pattern is assigned to the unit mesh (referred to as a legal pattern). When a legal pattern is assigned to a unit mesh of an illegal pattern, other unit meshes (the number of which are modified depending on the size of the unit mesh) that include the pixels in that unit mesh (referred to as the unit mesh of interest) are These patterns are different, but these are called reference unit meshes) and are checked to see if any illegal patterns occur. If no illegal pattern occurs, the modification of the unit of interest mesh is completed. If an illegal pattern occurs, reassign another legal pattern to the target unit mesh, observe the pattern of the reference unit mesh anew to check whether an illegal pattern occurs, and then repeat the reference unit mesh in the same way. The modification of the target unit mesh is repeated until no illegal patterns occur. The legal pattern to be assigned to the unit mesh of the illegal pattern is selected, for example, according to the Hamming distance from the illegal pattern. Of course, the selection rule is not limited to this.

なお、非合法パターンを合法パターンへ変換す
ることによつて2次元パターンを修正・復元する
という基本原理については、本出願人が特願昭56
−44464号(特開昭57−159362号公報参照)とし
て既に特許出願しており、本発明はこの既出願発
明の延長上にあるものである。こゝで、本発明の
目的を更に詳述すれば、処理のハードウエア化お
よび高速化が容易で、かつ高精度のパターン修正
が可能な2次元パターン修正方式を提供すること
である。
The basic principle of correcting and restoring a two-dimensional pattern by converting an illegal pattern into a legal pattern was proposed by the applicant in a patent application filed in 1983.
A patent application has already been filed as No. 44464 (see Japanese Unexamined Patent Publication No. 57-159362), and the present invention is an extension of this already filed invention. To be more specific, the object of the present invention is to provide a two-dimensional pattern correction method that can easily be implemented in hardware and at high speed, and can perform highly accurate pattern correction.

以下、本発明による2次元パターン修正方式の
一実施例を、図面を参照しながら説明する。
An embodiment of the two-dimensional pattern correction method according to the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図は本発明の2次元パターン修正方式の一
実施例の機能ブロツク図である。
FIG. 1 is a functional block diagram of an embodiment of the two-dimensional pattern correction method of the present invention.

画像読取部101は、文書や図面などを周知の
方法でラスタ走査し、画素単位でサンプリングし
て処理対象の2次元パターンを得、入力バツフア
102に格納する。単位メツシユ抽出部103
は、入力バツフア102に格納された2次元パタ
ーンについて、単位メツシユと同サイズの観測窓
をラスタ走査の主走査方向に1画素単位で移動し
ながら、各位置における観測窓内の領域(これが
単位メツシユに相当する)のパターンを抽出す
る。つまり、単位メツシユ抽出部103では、単
位メツシユを主走査方向に1画素単位でシフト
し、各位置の単位メツシユ・パターンを抽出して
いくのである。
The image reading unit 101 raster-scans a document, drawing, or the like using a well-known method, samples it pixel by pixel, obtains a two-dimensional pattern to be processed, and stores it in the input buffer 102 . Unit mesh extraction unit 103
Regarding the two-dimensional pattern stored in the input buffer 102, while moving an observation window of the same size as the unit mesh pixel by pixel in the main scanning direction of raster scanning, the area within the observation window at each position (this is the unit mesh) is (equivalent to ) is extracted. That is, the unit mesh extraction section 103 shifts the unit mesh in the main scanning direction pixel by pixel and extracts the unit mesh pattern at each position.

第2図はラスタ走査の走査方向と単位メツシユ
の関係を示したものである。同図の太線201で
囲まれた3×3画素領域が、ある時点における単
位メツシユである。以下、単位メツシユのサイズ
を3×3画素と仮定する。2次元パターンについ
て、このような単位メツシユを主走査方向へ1画
素単位に順次シフトして行く。単位メツシユが最
終画素位置まで進んだら、2次元パターンを副走
査方向に1画素シフトし(つまり、1走査ライン
分だけシフトし)、改めて最初の画素位置から単
位メツシユを主走査方向へ1画素単位で順次シフ
トする。
FIG. 2 shows the relationship between the scanning direction of raster scanning and the unit mesh. A 3×3 pixel area surrounded by a thick line 201 in the figure is a unit mesh at a certain point in time. Hereinafter, it is assumed that the size of the unit mesh is 3×3 pixels. Regarding the two-dimensional pattern, such a unit mesh is sequentially shifted pixel by pixel in the main scanning direction. When the unit mesh advances to the final pixel position, shift the two-dimensional pattern by one pixel in the sub-scanning direction (that is, shift by one scanning line), and then move the unit mesh one pixel at a time in the main scanning direction from the first pixel position. to shift sequentially.

変換処理部104は、単位メツシユ抽出部10
3が抽出した各位置における単位メツシユ・パタ
ーンを合法パターン格納部105に予め格納され
ている合法パターンと比較し、該単位メツシユ・
パターンが合法パターンか非合法パターンがをチ
エツクする。第3図は単位メツシユのサイズが3
×3画素の場合の合法パターンの一例を示したも
ので、これは前述の特願昭56−44464号(特開昭
57−159362号公報参照)に示されているものと同
じものである。
The conversion processing unit 104 includes the unit mesh extraction unit 10
3 compares the extracted unit mesh pattern at each position with the legal pattern previously stored in the legal pattern storage unit 105, and
Checks whether the pattern is a legal pattern or an illegal pattern. In Figure 3, the unit mesh size is 3.
This is an example of a legal pattern in the case of ×3 pixels, which is based on the aforementioned Japanese Patent Application No. 56-44464
57-159362)).

変換処理部104では、単位メツシユ・パター
ンが上記合法パターン格納部105の合法パター
ンとの比較の結果、合法パターンと判定された場
合は、単位メツシユ・パターンをそのまゝワーキ
ングメモリ106の該当位置に格納し、次の位置
の単位メツシユに対する処理に移る。ワーキング
メモリ106は、既に処理済みの合法パターンを
一時保持するために用いられるものである。一
方、単位メツシユ・パターンが非合法と判定され
た場合は、以下の手順で修正処理を行う。
When the unit mesh pattern is determined to be a legal pattern as a result of comparison with the legal pattern in the legal pattern storage unit 105, the conversion processing unit 104 stores the unit mesh pattern as it is in the corresponding position of the working memory 106. Then, the process moves on to the unit mesh at the next position. The working memory 106 is used to temporarily hold legal patterns that have already been processed. On the other hand, if the unit mesh pattern is determined to be illegal, correction processing is performed in the following steps.

ステツプ(i):処理対象として注目している単位メ
ツシユ(注目単位メツシユ)に、合法パターン
格納部105内の1つの合法パターンを割付
け、ワーキングメモリ106の該当位置に格納
する。こゝでは3×3画素のサイズの単位メツ
シユのパターンを9ビツトのハミング符号と考
え、注目単位メツシユのパターン(非合法パタ
ーンである)とのハミング距離が最小の合法パ
ターンを選択し、それを注目単位メツシユに割
付けるものとする。また、同一ハミング距離の
合法パターンが2つ以上存在するときは、良画
質の2次元パターン上での出現頻度の高い合法
パターンを選んで注目単位メツシユに割付ける
ものとする。
Step (i): One legal pattern in the legal pattern storage section 105 is allocated to the unit mesh of interest as a processing target (unit mesh of interest), and stored in the corresponding position in the working memory 106. Here, we consider a unit mesh pattern with a size of 3 x 3 pixels as a 9-bit Hamming code, select a legal pattern with the minimum Hamming distance from the pattern of the unit mesh of interest (which is an illegal pattern), and then It shall be assigned to the attention unit mesh. Furthermore, when there are two or more legal patterns with the same Hamming distance, the legal pattern that appears more frequently on the two-dimensional pattern of good image quality is selected and assigned to the mesh unit of interest.

ステツプ(ii):ワーキングメモリ106における上
記注目単位メツシユの近傍の修正処理が済んで
いる単位メツシユのうち、注目単位メツシユ中
の画素を含む単位メツシユ(参照単位メツシユ
と称す)のパターンを再観測し(即ち再読出
し)、非合法パターンが生じていないかチエツ
クする。これは、注目単位メツシユの元のパタ
ーンを合法パターンに置換えたことにより、注
目単位メツシユ中の変化した画素を含む単位メ
ツシユのパターンが非合法パターンになる可能
性があるからである。
Step (ii): Among the unit meshes in the working memory 106 for which correction processing has been completed in the vicinity of the unit mesh of interest, the pattern of the unit mesh (referred to as reference unit mesh) including the pixels in the unit mesh of interest is re-observed. (i.e., reread) and check whether illegal patterns have occurred. This is because, by replacing the original pattern of the unit mesh of interest with a legal pattern, there is a possibility that the pattern of the unit mesh that includes the changed pixels in the unit mesh of interest becomes an illegal pattern.

今、第2図中の斜線を施した単位メツシユ2
02が注目単位メツシユであるとすると、点線
203で囲んだ範囲内の計12個の単位メツシユ
が参照単位メツシユとなる。たゞし、注目単位
メツシユ中の画素のうち、変更のなかつた画素
だけを含む単位メツシユはチエツクの対象から
除外するようにしてもよい。このようにすれ
ば、変更画素が1つの場合は、参照単位メツシ
ユを8個に減らせる。
Now, the hatched unit mesh 2 in Figure 2
If 02 is the unit mesh of interest, a total of 12 unit meshes within the range surrounded by the dotted line 203 will be the reference unit mesh. However, unit meshes that include only unchanged pixels among the pixels in the unit mesh of interest may be excluded from the target of the check. In this way, when the number of changed pixels is one, the number of reference unit meshes can be reduced to eight.

ステツプ(iii):チエツクの結果、いずれの参照単位
メツシユにも非合法パターンが出現しなけれ
ば、注目単位メツシユの修正処理を終了し、次
の位置の単位メツシユの処理へ移る。非合法パ
ターンが出現した場合は、次のステツプ(iv)へ進
む。
Step (iii): As a result of the check, if no illegal pattern appears in any of the reference unit meshes, the correction process for the unit mesh of interest is completed and the process moves on to the process for the unit mesh at the next position. If an illegal pattern appears, proceed to the next step (iv).

ステツプ(iv):この時点までの注目単位メツシユに
割付けられた合法パターンを除外した残りの合
法パターンの中、注目単位メツシユの修正前の
パターン(非合法パターン)とのハミング距離
が最小の合法パターンを選び、それを注目単位
メツシユに改めて割付けてワーキングメモリ1
06の該当位置に格納し、再びステツプ(ii)へ戻
る。なお、同一ハミング距離の合法パターンが
2つ以上残されている場合は、ステツプ(i)にお
けると同様に良質2次元パターン上での出現頻
度の高い順から優先して選ぶ。以下、参照単位
メツシユに非合法パターンが生じなくなるま
で、注目単位メツシユに対する合成パターンの
割付けを繰返す。
Step (iv): Among the remaining legal patterns after excluding the legal patterns assigned to the mesh of the unit of interest up to this point, select the legal pattern that has the smallest Hamming distance from the pattern before modification of the mesh of the unit of interest (illegal pattern). , reassign it to the attention unit mesh, and store it in working memory 1.
06, and return to step (ii) again. If two or more legal patterns with the same Hamming distance remain, they are selected in descending order of frequency of appearance on the high-quality two-dimensional pattern, as in step (i). Thereafter, the assignment of composite patterns to the unit mesh of interest is repeated until no illegal patterns occur in the reference unit mesh.

以上のようにしてワーキングメモリ106に合
法パターンが揃うと、変換処理部104は、該合
法パターン系列を出力バツフア107に送出す
る。このような処理を処理対象の2次元パターン
の全域に施せば、ノイズや歪を効果的に除去した
合法パターンのみから成る高品質の2次元パター
ンを得ることができる。
When the legal patterns are collected in the working memory 106 as described above, the conversion processing unit 104 sends the legal pattern series to the output buffer 107. By applying such processing to the entire area of the two-dimensional pattern to be processed, it is possible to obtain a high-quality two-dimensional pattern consisting only of legal patterns from which noise and distortion have been effectively removed.

なお、上記の処理は2次元パターンの読取り走
査と歩調を合せてリアルタイムで実行してもよい
ことは当然である。この場合、処理に必要なワー
キングメモリ106は、注目単位メツシユとその
参照単位メツシユを蓄積できる容量であれば足り
ることは明らかである。例えば3×3画素サイズ
の単位メツシユの場合は、7画素(主走査方向)
×5画素(副走査方向)の2次元パターン情報を
記憶するだけの容量で間に合う。
It goes without saying that the above processing may be executed in real time in synchronization with the reading and scanning of the two-dimensional pattern. In this case, it is clear that the working memory 106 required for processing has a capacity that can store the unit of interest mesh and its reference unit mesh. For example, in the case of a unit mesh of 3 x 3 pixel size, 7 pixels (main scanning direction)
The capacity is sufficient to store two-dimensional pattern information of ×5 pixels (in the sub-scanning direction).

また、非合法パターンの単位メツシユに割付け
る合法パターンの選択は、上に述べた例ではハミ
ング距離にしたがつて行つたが、他の規則にした
がつて合法パターンを選択することも可能であ
る。
In addition, although the legal pattern to be assigned to the unit mesh of the illegal pattern was selected according to the Hamming distance in the above example, it is also possible to select the legal pattern according to other rules. .

本発明による2次元パターン修正方式は以上に
詳述した如くであり、つぎのような利点を有す
る。
The two-dimensional pattern correction method according to the present invention has been described in detail above, and has the following advantages.

本発明の2次元パターン修正方式は一元メツシ
ユを1画素単位でシフトしながら、非合法パター
ンを合法パターンへ変換し、しかも、この変換に
よつて周囲の単位メツシユに非合法パターンが生
じないよう配慮して合法パターンを選び出す。し
たがつて、実質的に、画素相互間および単位メツ
シユ相互間の接続の妥当性も維持されるため、十
分に高精度のパターン修正を期待できる。しか
も、本発明による2次元パターン修正方式は、処
理アルゴリズムが前述のように比較的単純であ
り、処理に必要とされるバツフアメモリが小容量
で足りる事と相俟つて、処理のハードウエア化お
よび高速化が容易である。
The two-dimensional pattern correction method of the present invention converts an illegal pattern into a legal pattern while shifting a one-dimensional mesh pixel by pixel, and also takes care to prevent illegal patterns from occurring in surrounding unit meshes due to this conversion. to select legal patterns. Therefore, since the validity of connections between pixels and between unit meshes is substantially maintained, sufficiently high precision pattern correction can be expected. In addition, the two-dimensional pattern correction method according to the present invention has a relatively simple processing algorithm as described above, and a small buffer memory is required for processing. It is easy to convert.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明による2次元パターン修正方式
の一実施例の機能ブロツク図、第2図は2次元パ
ターンのラスタ走査方向と単位メツシユの関係を
示す図、第3図は合法パターンの具体例を示す図
である。 101……画像読取部、102……入力バツフ
ア、103……単位メツシユ抽出部、104……
変換処理部、105……合法パターン格納部、1
06……ワーキングメモリ、107……出力バツ
フア。
Fig. 1 is a functional block diagram of an embodiment of the two-dimensional pattern correction method according to the present invention, Fig. 2 is a diagram showing the relationship between the raster scanning direction of the two-dimensional pattern and the unit mesh, and Fig. 3 is a specific example of a legal pattern. FIG. 101... Image reading unit, 102... Input buffer, 103... Unit mesh extraction unit, 104...
Conversion processing unit, 105... legal pattern storage unit, 1
06... Working memory, 107... Output buffer.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 2次元パターン内のm×n画素(但し、m、
nは2以上の整数)を単位メツシユとし、該単位
メツシユに出現するパターンのうち特定の複数の
パターンを合法パターンとして予め選定してお
き、処理すべき2次元パターン上で単位メツシユ
の位置を1画素単位で順次移動しながら各単位メ
ツシユのパターンを観測し、合法パターンの単位
メツシユはそのまゝとし、合法パターン以外のパ
ターン(非合法パターンと称す)の単位メツシユ
には1つの合法パターンを割付けると共に、非合
法パターンの単位メツシユ(注目単位メツシユと
称す)に合法パターンを割付けたときは、該注目
単位メツシユ中の画素を含む修正処理済みの他の
単位メツシユのパターンを再観測して非合法パタ
ーンが生じるかチエツクし、非合法パターンが検
出される限り該注目単位メツシユに割付ける合法
パターンを変更しながら処理を繰返すことを特徴
とする2次元パターン修正方式。 2 非合法パターンの単位メツシユに割付ける合
法パターンは、該非合法パターンとのハミング距
離にしたがつて選ぶことを特徴とする特許請求の
範囲第1項記載の2次元パターン修正方式。
[Claims] 1. m×n pixels in a two-dimensional pattern (however, m,
n is an integer of 2 or more) is taken as a unit mesh, a specific plurality of patterns that appear in the unit mesh are selected in advance as legal patterns, and the position of the unit mesh is set to 1 on the two-dimensional pattern to be processed. The pattern of each unit mesh is observed while sequentially moving pixel by pixel, and the unit mesh of legal patterns is left as is, and one legal pattern is assigned to the unit meshes of patterns other than legal patterns (referred to as illegal patterns). At the same time, when a legal pattern is assigned to a unit mesh of an illegal pattern (referred to as a unit mesh of interest), re-observe the patterns of other unit meshes that have been corrected and include pixels in the unit mesh of interest. A two-dimensional pattern correction method characterized by checking whether a legal pattern is generated and repeating the process while changing the legal pattern assigned to the mesh unit of interest as long as an illegal pattern is detected. 2. The two-dimensional pattern correction method according to claim 1, wherein the legal pattern to be assigned to the unit mesh of the illegal pattern is selected according to the Hamming distance from the illegal pattern.
JP56109767A 1981-07-14 1981-07-14 Two-dimensional pattern correcting system Granted JPS5810965A (en)

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Application Number Priority Date Filing Date Title
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JPS5810965A JPS5810965A (en) 1983-01-21
JPS6354276B2 true JPS6354276B2 (en) 1988-10-27

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JP56109767A Granted JPS5810965A (en) 1981-07-14 1981-07-14 Two-dimensional pattern correcting system

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JP (1) JPS5810965A (en)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS546714A (en) * 1977-06-17 1979-01-19 Matsushita Electric Ind Co Ltd Picture signal processing system
JPS55979A (en) * 1979-02-19 1980-01-07 Sanyo Electric Co Ltd Correction system for defective picture element of picture reader

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS5810965A (en) 1983-01-21

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