JPS6351427B2 - - Google Patents

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Publication number
JPS6351427B2
JPS6351427B2 JP14971580A JP14971580A JPS6351427B2 JP S6351427 B2 JPS6351427 B2 JP S6351427B2 JP 14971580 A JP14971580 A JP 14971580A JP 14971580 A JP14971580 A JP 14971580A JP S6351427 B2 JPS6351427 B2 JP S6351427B2
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JP
Japan
Prior art keywords
trunk
test
incoming
relay
outgoing
Prior art date
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Expired
Application number
JP14971580A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPS5773556A (en
Inventor
Yukio Ozawa
Takashi Yokoto
Juichi Kawai
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP14971580A priority Critical patent/JPS5773556A/en
Publication of JPS5773556A publication Critical patent/JPS5773556A/en
Publication of JPS6351427B2 publication Critical patent/JPS6351427B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04MTELEPHONIC COMMUNICATION
    • H04M3/00Automatic or semi-automatic exchanges
    • H04M3/22Arrangements for supervision, monitoring or testing
    • H04M3/26Arrangements for supervision, monitoring or testing with means for applying test signals or for measuring
    • H04M3/28Automatic routine testing ; Fault testing; Installation testing; Test methods, test equipment or test arrangements therefor

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Exchanges (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は交換機においてトランクの自局内折返
し試験を行なうためのトランク試験方式に関する
ものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a trunk test method for performing an intra-station loopback test of a trunk in an exchange.

一般に交換機においては、入側に入トランク
(ICT)、出側に出トランク(OGT)が設けられ、
これらを介して対向局と接続される。従つて障害
を生じた等の理由で、トランクの試験を行なう必
要が生じた場合、このままでは、対向局の関与の
もとに試験を行なわねばならない。しかしながら
トランクの試験を行なうごとに対向局の関与を求
めることは不便であるし、また障害が自局内であ
るかどうかの切分けをするためにも自局内で折返
しを行なつて試験を行なうのが望ましい。
Generally, in a switchboard, there is an incoming trunk (ICT) on the incoming side and an outgoing trunk (OGT) on the outgoing side.
It is connected to the opposite station via these. Therefore, if it becomes necessary to test the trunk due to a failure or the like, the test must be performed with the involvement of the opposite station. However, it is inconvenient to request the involvement of the opposite station every time a trunk test is performed, and it is also inconvenient to call back within the local station and perform the test in order to determine whether the problem is within the local station. is desirable.

第1図は従来のトランク自局内折返し試験方式
の第一の例を示すブロツク図である。同図におい
てNWはネツトワーク、ICTは入トランク、
TSTOGT―1,TSTOGT―2は試験用出トラ
ンク、LTDは加入者線試験台、ATTは自動応答
トランク、OSCは発振器、TSは試験用ジヤツク
盤、S1,S2はスイツチである。
FIG. 1 is a block diagram showing a first example of a conventional trunk loopback test method. In the figure, NW is the network, ICT is the incoming trunk,
TSTOGT-1 and TSTOGT-2 are test output trunks, LTD is a subscriber line test stand, ATT is an automatic response trunk, OSC is an oscillator, TS is a test jack, and S 1 and S 2 are switches.

第1図において、試験を行なわないときは、試
験用ジヤツク盤TSは閉じていて、入トランク
ICTは対向局と接続されている。今、入トランク
ICTの試験を行なおうとするときは、試験用ジヤ
ツク盤TSに試験用プラグを挿入して対向局を分
離すると同時に、スイツチS1,S2を操作して試験
の目的に合致した試験用出トランクを選択し、こ
の試験用出トランクを介して入トランクICTをネ
ツトワークNWを経て加入者試験台LTDに接続
することによつて、折返しのパスを形成する。第
1図において二重線はこのようにして形成された
折返しパスを示している。
In Figure 1, when the test is not being conducted, the test jack panel TS is closed and the trunk is closed.
ICT is connected to the opposite station. Now entering the trunk
When performing an ICT test, insert the test plug into the test jack TS to isolate the opposing station, and at the same time operate switches S 1 and S 2 to select the test output that meets the purpose of the test. A return path is formed by selecting a trunk and connecting the incoming trunk ICT via the test outgoing trunk to the subscriber test stand LTD via the network NW. In FIG. 1, double lines indicate the folding paths thus formed.

保守者が加入線試験台LTDから擬似呼を送る
と、ネツトワークNW、試験用出トランク
TSTOGT―1,試験用ジヤツク盤TS、入トラ
ンクICTおよびネツトワークNWを順次経て自動
応答トランクATTに着信する。自動応答トラン
クATTは着信を検出して発振器OSCを起動して
特定のトーンを発生し、着信時と逆の径路によつ
て加入者線試験台LTDに送る。保守者はこれに
よつて入トランクICTにおける障害の有無を知る
ことができる。
When a maintenance person sends a pseudo call from the subscriber line test stand LTD, the network NW and test outgoing trunk
The call arrives at the automatic response trunk ATT via TSTOGT-1, the test jack TS, the incoming trunk ICT, and the network NW. The auto-answering trunk ATT detects an incoming call and activates the oscillator OSC to generate a specific tone, which is sent to the subscriber line test stand LTD via the reverse path of the incoming call. This allows maintenance personnel to know whether there is a failure in the incoming trunk ICT.

第2図は従来のトランク自局内折返し試験方式
の第二の例を示すブロツク図であつて入トランク
と出トランクの両者を試験できる方式を示したも
のである。同図において第1図におけると同一部
分は同一符号によつて示されており、TSTICT
は試験用入トランク、TSTOGTは試験用出トラ
ンク、S3,S4,S5,S6はスイツチである。
FIG. 2 is a block diagram illustrating a second example of a conventional trunk loopback test method, which is capable of testing both incoming trunks and outgoing trunks. In this figure, the same parts as in Figure 1 are indicated by the same symbols, and TSTICT
is the test input trunk, TSTOGT is the test output trunk, and S 3 , S 4 , S 5 , and S 6 are switches.

第2図において試験を行なわないときは、スイ
ツチS3,S4はいずれも接点1の側に倒されてい
て、出トランクOGT、入トランクICTはそれぞ
れ対向局に接続されている。今、出トランク
OGTの試験を行なおうとするときは、スイツチ
S3を接点2側に倒し、スイツチS5を接にする。こ
れによつて加入者線試験台LTDから出トランク
OGT、試験用入トランクTSTICTを経て自動応
答トランクATTに接続される折返しパスが形成
され、これによつて出トランクOGTの試験を行
なうことができる。
In FIG. 2, when a test is not being performed, switches S 3 and S 4 are both pushed to the contact 1 side, and the outgoing trunk OGT and incoming trunk ICT are each connected to the opposite station. Now out the trunk
When attempting to test OGT, switch
Flip S 3 to contact 2 side and connect switch S 5 . This allows the trunk to be output from the subscriber line test stand LTD.
A return path is formed via the OGT and the test incoming trunk TSTICT to the auto-response trunk ATT, thereby making it possible to test the outgoing trunk OGT.

同様にして入トランクICTの試験を行なおうと
するときは、スイツチS4を接点2側に倒し、スイ
ツチS6を接にする。これによつて、加入者線試験
台LTDから試験用出トランクTSTOGT、入トラ
ンクICTを経て自動応答トランクATTに接続さ
れる折返しパスが形成され、これによつて入トラ
ンクICTの試験を行なうことができる。
Similarly, when attempting to test the incoming trunk ICT, turn switch S 4 to contact 2 and switch S 6 to contact. As a result, a return path is formed that connects the subscriber line test stand LTD to the test outgoing trunk TSTOGT, the incoming trunk ICT, and the automatic response trunk ATT, thereby making it possible to test the incoming trunk ICT. can.

このように従来のトランク自局内折返し試験方
式においては、被試験トランクに試験用トランク
を接続するために、保守者が試験用ジヤツク盤に
試験用プラグを挿入するか、または被試験トラン
ク回路内に設けられたスイツチを操作しなければ
ならず、従つて保守者は試験台と試験用ジヤツク
盤、または試験台とトランク回路というように2
個所の操作を行なう必要があつた。しかし一般に
試験用ジヤツク盤またはトランク回路は、必ずし
も試験台の近傍に設置できると限らず、そのため
試験に手間がかかり能率が悪かつた。
In this way, in the conventional trunk loopback test method, in order to connect the test trunk to the trunk under test, a maintenance person inserts a test plug into the test jack panel or inserts a test plug into the trunk circuit under test. The maintenance personnel have to operate the switches provided, so the maintenance person has to operate two switches, such as the test stand and the test jack panel, or the test stand and the trunk circuit.
I needed to perform some operations. However, in general, test jacks or trunk circuits cannot always be installed near the test stand, making testing time-consuming and inefficient.

本発明はこのような従来技術の欠点を除去しよ
うとするものであつて、その目的は操作性を向上
したトランク試験方式を提供することにある。す
なわち本発明のトランク試験方式によれば保守者
が試験台を離れることなく試験を実行できるトラ
ンク自局内折返し試験方式を実現することもでき
るし、また予め指定した時刻に自動的に起動して
試験を行なうトランク自局内折返し自動試験方式
を実現することもできるものである。しかしてこ
の目的を達成するため、本発明のトランク試験方
式においては、試験用トランクを介して試験用ラ
インと自動応答トランクとの間でまたは異なる試
験用ラインの間で自局内折返しループを形成して
トランクの試験を行なうトランク自局内折返し試
験方式において、入トランクまたは出トランクを
それぞれ対向局と自局内折返しループ側とに切替
える引込用リレーと、該引込用リレーによつて切
替えられた入トランクまたは出トランクからの引
込線をそれぞれ対応する試験用出または入トラン
クに接続する試験用トランク選択手段とを具え、
前記引込用リレーおよび試験用トランク選択手段
を制御することによつて自局内折返しループを形
成してトランクの試験を行なうことを特徴として
いる。
The present invention aims to eliminate these drawbacks of the prior art, and its purpose is to provide a trunk testing method with improved operability. That is, according to the trunk test method of the present invention, it is possible to realize a trunk loopback test method in which the maintenance person can perform the test without leaving the test stand, and also to automatically start the test at a pre-specified time and perform the test. It is also possible to realize an automatic trunk loopback test system that performs the following. However, in order to achieve this objective, in the trunk test method of the present invention, an intra-office return loop is formed between the test line and the automatic response trunk or between different test lines via the test trunk. In the trunk internal loop test method, which tests the trunk by using test trunk selection means for connecting drop-in lines from the outgoing trunks to corresponding test outgoing or incoming trunks;
The present invention is characterized in that by controlling the pull-in relay and the test trunk selection means, a return loop within the own station is formed and a trunk test is performed.

以下、実施例について説明する。 Examples will be described below.

第3図は本発明のトランク試験方式の一実施例
の構成を示すブロツク図である。同図において、
第2図における同一部分は同一符号によつて示さ
れており、r1―1,r1―2は図示されない第
1の引込用リレーの切替接点、r2―1,r2―
2は図示されない第2の引込用リレーの切替接
点、SELはセレクタスイツチ、TTSは試験用ト
ランク選択回路、MBはビジー信号発生回路、r
3は図示されないビジー信号送出用リレーのメー
ク接点である。
FIG. 3 is a block diagram showing the structure of an embodiment of the trunk test method of the present invention. In the same figure,
Identical parts in FIG. 2 are denoted by the same reference numerals, r1-1 and r1-2 are switching contacts of the first retracting relay (not shown), r2-1 and r2-
2 is a switching contact of a second pull-in relay (not shown), SEL is a selector switch, TTS is a test trunk selection circuit, MB is a busy signal generation circuit, r
3 is a make contact of a busy signal sending relay (not shown).

第3図において、試験を行なわないときは切替
接点r1―1,r1―2,r2―1,r2―2は
接点1の側に接続されていて、出トランクOGT、
入トランクICTはそれぞれ対向局に接続されてい
る。また接点r3は開いている。今、出トランク
OGTの試験を行なおうとするときは、第1の引
込用リレーを動作させて切替接点r1―1,r1
―2を接点2側に切替えるとともにセレクタスイ
ツチSELおよび試験用トランク選択回路TTSを
動作させる。これによつてセレクタスイツチSEL
は出トランクOGTおよび対向局を試験用トラン
ク選択回路TTSに接続する。試験用トランク選
択回路TTSは、セレクタスイツチSELを経て接
続された出トランクOGTからの引込線を試験用
入トランクTSTICTに接続する。
In Fig. 3, when a test is not performed, the switching contacts r1-1, r1-2, r2-1, r2-2 are connected to the contact 1 side, and the outgoing trunk OGT,
Each incoming trunk ICT is connected to the opposite station. Further, contact r3 is open. Now out the trunk
When attempting to test the OGT, operate the first pull-in relay and connect the switching contacts r1-1, r1.
-2 to the contact 2 side and operate the selector switch SEL and test trunk selection circuit TTS. This will cause the selector switch SEL to
connects the outgoing trunk OGT and the opposite station to the test trunk selection circuit TTS. The test trunk selection circuit TTS connects the drop-in line from the outgoing trunk OGT connected via the selector switch SEL to the incoming testing trunk TSTICT.

これによつて、加入者線試験台LTDは出トラ
ンクOGT、試験用入トランクTSTICTを経て自
動応答トランクATTに接続されて折返しのパス
が形成され、出トランクOGTの試験を行なうこ
とができる状態になる。
As a result, the subscriber line test stand LTD is connected to the automatic response trunk ATT via the outgoing trunk OGT and the testing incoming trunk TSTICT, forming a return path, and is now ready to test the outgoing trunk OGT. Become.

同様にして、入トランクICTの試験を行なおう
とするときは、第2の引込用出リレーを動作させ
て切替点r2―1,r2―2を接点2側に切替え
るとともにセレクタスイツチSELおよび試験用ト
ランク選択回路TTSを動作させる。これによつ
てセレクタスイツチSELを経て接続された入トラ
ンクICTからのラインが試験用出トランク
TSTOGTに接続されるとともに、ビジー信号送
出用リレーが動作してビジー信号発生回路MBが
対向局に接続される。
Similarly, when attempting to test the incoming trunk ICT, operate the second lead-in out relay to switch switching points r2-1 and r2-2 to the contact 2 side, and selector switch SEL and test Operate trunk selection circuit TTS. This allows the line from the incoming trunk ICT connected via the selector switch SEL to become the test outgoing trunk.
At the same time as being connected to TSTOGT, the busy signal sending relay is operated and the busy signal generating circuit MB is connected to the opposite station.

従つて、加入者線試験台LTDから試験用出ト
ランクTSTOGT、入トランクICTを経て自動応
答トランクATTに接続される折返しパスが形成
されて、入トランクICTの試験を行なうことがで
きる状態になるとともに、ビジー信号がビジー信
号発生回路MBから対向局に送出されて試験中で
あることを知らせる。
Therefore, a return path is formed that connects the subscriber line test stand LTD to the test outgoing trunk TSTOGT, the incoming trunk ICT, and the automatic response trunk ATT, and the incoming trunk ICT becomes ready for testing. , a busy signal is sent from the busy signal generation circuit MB to the opposite station to inform it that the test is under way.

第3図に示されたトランク試験方式において、
各引込リレーとセレクタスイツチおよび試験用ト
ランク選択回路は加入者線試験台において操作す
ることによつてこれらを制御することが可能であ
り、従つて加入者線試験台と出トランク、入トラ
ンク等が離れて存在する場合でも、保守者は加入
者線試験台から離れることなくこれらのトランク
を試験することができ、操作性が大幅に向上す
る。
In the trunk test method shown in Figure 3,
Each lead-in relay, selector switch, and test trunk selection circuit can be controlled by operating them on the subscriber line test stand, so that the subscriber line test stand, outgoing trunk, incoming trunk, etc. Even if they are located remotely, maintenance personnel can test these trunks without leaving the subscriber line test stand, greatly improving operability.

第4図は本発明のトランク試験方式の実施例の
構成を示すブロツク図である。同図において第3
図におけると同一部分は同一符号で示されてお
り、ATCTは自動トランク回路試験装置である。
FIG. 4 is a block diagram showing the structure of an embodiment of the trunk test method of the present invention. In the same figure, the third
Identical parts in the figure are designated by the same reference numerals, and ATCT is an automatic trunk circuit tester.

第4図において自動トランク回路試験装置
ATCTは第3図に示されたトランク試験方式に
おける各引込用リレー、セレクタスイツチおよび
試験用トランク選択回路を制御するためのトラン
ク自局内折返し試験用プログラムに従つて各部を
制御する機能を有し、予め定められたトランクに
対し予定の時刻に自動的に試験を行なうことがで
きるように構成されている。
In Figure 4, automatic trunk circuit testing equipment
The ATCT has the function of controlling each part according to the trunk internal return test program for controlling each pull-in relay, selector switch, and test trunk selection circuit in the trunk test method shown in FIG. The system is configured so that a test can be automatically performed on a predetermined trunk at a scheduled time.

従つて、第4図に示されたトランク試験方式に
よれば、第3図に示されたトランク試験方式にお
けると同様のトランクの機能試験を、保守者の操
作を必要とせず自動的に予め指定した時刻に行な
うことができるので、保守者の負担はさらに軽減
される。
Therefore, according to the trunk test method shown in FIG. 4, a trunk functional test similar to that in the trunk test method shown in FIG. 3 can be automatically prespecified without requiring any operation by a maintenance person. This can be done at the specified time, further reducing the burden on the maintenance personnel.

以上説明したように本発明のトランク試験方式
よれば、保守者が試験台を離れることなく試験を
実行することができ、または予め指定した時刻に
自動的に試験を行なうことができるので、いずれ
にしても保守者の負担が大幅に軽減される。なお
ここでは試験呼が自動応答トランクATTに着信
する場合を例に説明したが他の試験用ラインに着
信する場合も着信側に呼出検出および応答機能を
設けることにより同様に自局内折返しループを形
成できることは明らかである。
As explained above, according to the trunk test method of the present invention, maintenance personnel can perform the test without leaving the test stand, or the test can be performed automatically at a pre-specified time. However, the burden on maintainers is greatly reduced. In this example, we have explained the case where the test call arrives on the automatic answering trunk ATT, but when the test call arrives on other test lines, a call detection and response function is provided on the receiving side to similarly form a return loop within the own station. It is clear that it can be done.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図および第2図はそれぞれ従来のトランク
自局内折返し試験方式の例を示すブロツク図、第
3図および第4図はそれぞれ本発明のトランク試
験方式の一実施例の構成を示すブロツク図であ
る。 NW…ネツトワーク、ICT…入トランク、
OGT…出トランク、TSTICT…試験用入トラン
ク、TSTOGT,TSTOGT―1,TSTOGT―2
…試験用出トランク、LTD…加入者線試験台、
ATT…自動応答トランク、OSC…発振器、TS…
試験用ジヤツク盤、S1,S2,S3,S4,S5,S6…ス
イツチ、SEL…セレクタスイツチ、TTS…試験
用トランク選択回路、MB…ビジー信号発生回
路、r1―1,r1―2,r2―1,r2―2…
切替接点、r3…メーク接点。
1 and 2 are block diagrams showing an example of a conventional trunk loopback test method, respectively, and FIGS. 3 and 4 are block diagrams showing the configuration of an embodiment of the trunk test method of the present invention, respectively. be. NW...Network, ICT...Incoming trunk,
OGT...Outgoing trunk, TSTICT...Incoming trunk for testing, TSTOGT, TSTOGT-1, TSTOGT-2
...exit trunk for testing, LTD...subscriber line test stand,
ATT…Automatic response trunk, OSC…Oscillator, TS…
Test jack panel, S 1 , S 2 , S 3 , S 4 , S 5 , S 6 ... switch, SEL ... selector switch, TTS ... trunk selection circuit for test, MB ... busy signal generation circuit, r1-1, r1 -2, r2-1, r2-2...
Switching contact, r3...make contact.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 試験用トランクを介して試験用ラインと自動
応答トランクとの間でまたは異なる試験用ライン
の間で自局内折返しループを形成してトランクの
試験を行なうトランク自局内折返し試験方式にお
いて、入トランクまたは出トランクをそれぞれ対
向局と自局内折返しループ側に切替える引込用リ
レーと、該引込用リレーによつて切替えられた入
トランクまたは出トランクからの引込線をそれぞ
れ対応する試験用出または入トランクに接続する
試験用トランク選択手段とを具え、前記引込用リ
レーおよび試験用トランク選択手段を制御するこ
とによつて自局内折返しループを形成してトラン
クの試験を行なうことを特徴とするトランク試験
方式。 2 前記引込用リレーおよび試験用トランク選択
手段の制御が、試験台からの操作によつて行なわ
れることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
のトランク試験方式。 3 前記引込用リレーおよび試験用トランク選択
手段の制御が、試験用プログラムによつて所定時
刻に自動的に行なわれることを特徴とする特許請
求の範囲第1項記載のトランク試験方式。
[Claims] 1 Trunk intra-station loopback test in which a trunk test is performed by forming an intra-station loop between a test line and an automatic response trunk via a test trunk or between different test lines. In this method, there is a lead-in relay that switches the incoming trunk or outgoing trunk to the opposite station and the local loop side, respectively, and a lead-in line from the incoming trunk or outgoing trunk switched by the lead-in relay to the corresponding test output. or a test trunk selection means connected to the incoming trunk, and by controlling the lead-in relay and the test trunk selection means, a return loop within the own station is formed to perform a trunk test. Trunk test method. 2. The trunk test method according to claim 1, wherein the pull-in relay and the test trunk selection means are controlled by operations from a test stand. 3. The trunk test method according to claim 1, wherein the control of the pull-in relay and the test trunk selection means is automatically performed at a predetermined time by a test program.
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