JPS6348935Y2 - - Google Patents

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JPS6348935Y2
JPS6348935Y2 JP4795383U JP4795383U JPS6348935Y2 JP S6348935 Y2 JPS6348935 Y2 JP S6348935Y2 JP 4795383 U JP4795383 U JP 4795383U JP 4795383 U JP4795383 U JP 4795383U JP S6348935 Y2 JPS6348935 Y2 JP S6348935Y2
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JP
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motor
sample
micrometer head
frame
supporter
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Description

【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本考案はマイクロメータヘツドにモータを直結
して試料室内の試料を微細移動する電子顕微鏡等
の試料移動装置に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Field of Application] The present invention relates to a sample moving device such as an electron microscope that minutely moves a sample within a sample chamber by directly connecting a motor to a micrometer head.

透過電子顕微鏡における試料は極めて高い倍率
で観察されるため、非常に微細に移動させる必要
があり、従来からマイクロメータヘツドの移動を
テコ体により更に減速し、試料室内のステージに
伝達するようになしてある。過去の多くの装置で
は前記マイクロメータヘツドはシヤフトを介して
摘子に接続され、該摘子を回転させることにより
手動的に試料移動を行なつている。しかし、近時
マイクロコンピユータにより各部を制御する電子
顕微鏡が実用されるようになり、試料移動も手動
から電動に変りつつある。
Because samples in transmission electron microscopes are observed at extremely high magnification, they must be moved very minutely. Conventionally, the movement of the micrometer head is further slowed down by a lever, and then transmitted to the stage inside the sample chamber. There is. In many past devices, the micrometer head is connected to a knob via a shaft, and the sample is manually moved by rotating the knob. However, in recent years, electron microscopes whose various parts are controlled by microcomputers have come into practical use, and sample movement is also changing from manual to electric.

〔従来技術〕[Prior art]

第1図及び第2図は夫々従来の電動による試料
移動装置の概略を説明する図である。第1図にお
いて、1は電子顕微鏡の鏡筒であり、該鏡筒は試
料像観察室2、結像レンズ系3、試料室4、集束
レンズ系5及び電子銃(図示せず)より構成さ
れ、架台6上に積載されている。前記試料室内に
は試料を保持する試料ステージが電子線光軸に対
し垂直な平面内で任意に移動可能に収納されてお
り、試料室の外壁に設けたテコ体部7を介して試
料の移動が実行される。該テコ体部にはマイクロ
メータヘツド8が連結しており、該マイクロメー
タヘツドはカツプリング9、自在継ぎ手10、シ
ヤフト11及び自在継ぎ手12を介して架台6に
固定したモータ13に接続している。この装置
で、モータ13をマイクロコンピユータ等を介し
て制御して回転させると、該回転は自在継ぎ手1
2、シヤフト11、自在継ぎ手10及びカツプリ
ング9を介してマイクロメータヘツド8に伝達さ
れ、該マイクロメータヘツドのスピンドルがその
回転量に応じて直線移動する。該移動はテコ体に
より更に減速され試料室内のステージに伝達され
試料は所定の微小量移動される。
FIGS. 1 and 2 are diagrams each schematically explaining a conventional electric sample moving device. In FIG. 1, 1 is a lens barrel of an electron microscope, and the lens barrel is composed of a sample image observation chamber 2, an imaging lens system 3, a sample chamber 4, a focusing lens system 5, and an electron gun (not shown). , is loaded on the pedestal 6. A sample stage for holding a sample is housed in the sample chamber so as to be movable at will within a plane perpendicular to the electron beam optical axis, and the sample can be moved via a lever body 7 provided on the outer wall of the sample chamber. is executed. A micrometer head 8 is connected to the lever body, and the micrometer head is connected to a motor 13 fixed to the frame 6 via a coupling 9, a universal joint 10, a shaft 11, and a universal joint 12. With this device, when the motor 13 is controlled and rotated via a microcomputer etc., the rotation is caused by the rotation of the universal joint 1.
2. It is transmitted to the micrometer head 8 via the shaft 11, the universal joint 10 and the coupling 9, and the spindle of the micrometer head moves linearly in accordance with the amount of rotation. The movement is further decelerated by the lever and transmitted to the stage inside the sample chamber, and the sample is moved by a predetermined minute amount.

第2図に示す移動装置は電動のみでなく手動で
試料が移動できるように構成したもので、第1図
の装置に対し、自在継ぎ手12とモータ13の間
に傘歯車機構14、手動摘子15及びクラツチ機
構16,17が付加されている。而して、クラツ
チ16をON、17をOFFにして摘子15の回転
が傘歯車機構14に伝わらないようにしておく
と、第1図と同様にモータ13による試料の移動
が可能である。一方、クラツチ17をON、クラ
ツチ16をOFFにするとモータ13と傘歯車機
構14との連繋が断たれ、試料は摘子15により
手動的に移動される。又、両方のクラツチを働か
せた状態にすると電動と手動とを重畳して試料移
動を行なうことが可能である。
The moving device shown in FIG. 2 is configured so that the sample can be moved not only electrically but also manually. 15 and clutch mechanisms 16, 17 are added. If the clutch 16 is turned ON and the clutch 17 is turned OFF so that the rotation of the knob 15 is not transmitted to the bevel gear mechanism 14, the sample can be moved by the motor 13 as in FIG. On the other hand, when the clutch 17 is turned ON and the clutch 16 is turned OFF, the connection between the motor 13 and the bevel gear mechanism 14 is severed, and the sample is manually moved using the knob 15. In addition, when both clutches are activated, it is possible to move the sample both electrically and manually.

このような装置において、試料移動をモータ駆
動する理由は試料の任意な位置を再現性高く観察
できることであるが、第1図及び第2図から解る
ようにマイクロメータヘツド8とモータ13の間
にはカツプリング9、自在継ぎ手10、シヤフト
11、自在継ぎ手12等が介在されているので、
大きなバツクラツシユが発生し、必ずしも充分な
再現性で試料を精密移動できないと云う欠点があ
る。
In such an apparatus, the reason why the sample is moved by a motor is that it is possible to observe any position on the sample with high reproducibility, but as can be seen from FIGS. Since the coupling ring 9, the universal joint 10, the shaft 11, the universal joint 12, etc. are interposed,
This method has the disadvantage that a large backlash occurs and the sample cannot be precisely moved with sufficient reproducibility.

〔考案の目的〕[Purpose of invention]

本考案は上記点に鑑み、試料のモータ駆動時全
くバツクラツシユの生じない精密な試料移動装置
を提供することを目的とするものである。
In view of the above points, it is an object of the present invention to provide a precise sample moving device that does not cause any backlash when the sample is driven by a motor.

〔考案の構成〕[Structure of the idea]

このような目的を達成するため、試料室内に置
かれた試料ステージをマイクロメータヘツドによ
り微細移動させる装置において、前記マイクロメ
ータヘツドのサポータに接続されたフレームにモ
ータを保持せしめ、該モータ本体の回転は規制す
るが該モータ本体の前記マイクロメータヘツド移
動軸方向への移動は許容するガイド機構を前記フ
レームに設けたことを特徴としている。
To achieve this purpose, in a device in which a sample stage placed in a sample chamber is minutely moved by a micrometer head, a motor is held in a frame connected to a supporter of the micrometer head, and the rotation of the motor body is The present invention is characterized in that the frame is provided with a guide mechanism that restricts movement of the motor body in the direction of the movement axis of the micrometer head but allows movement of the motor body in the direction of the movement axis of the micrometer head.

〔実施例〕〔Example〕

以下本考案を図面に示した実施例に基づき説明
する。
The present invention will be described below based on embodiments shown in the drawings.

第3図は第1の実施例の主要部正面図、第4図
は該第3図のA−A線断面図であり、第1図のモ
ータのみによる駆動の場合に対応する実施例であ
る。図中、18はテコ体部7に固着されたマイク
ロメータヘツド8のサポータで、筒状をしてお
り、該サポータ内にマイクロメータヘツドは固定
され且つ該ヘツドの駆動部はサポータ内で回転及
び軸方向の移動が可能である。又、サポータには
窓19が穿つてあり、この窓を通してマイクロメ
ータの目盛が読取れるようになつている。前記サ
ポータ18には筒状のフレーム20が一体化して
あり、この中にモータ(パルスモータ)13が収
納されている。該モータの軸はカツプリング21
により前記マイクロメータヘツド8の駆動部に直
結されている。前記モータは精密な歯車減速機構
を有する場合がある。フレーム20にはマイクロ
メータヘツド8のスピンドルの軸方向に1本、又
は複数本のガイド溝22が形成されており、この
溝内にモータを保持したガイド23の突起部(キ
ー)23a,23bが摺動自在に嵌合している。
FIG. 3 is a front view of the main parts of the first embodiment, and FIG. 4 is a cross-sectional view taken along line A-A in FIG. . In the figure, reference numeral 18 denotes a cylindrical supporter for the micrometer head 8 fixed to the lever body 7. The micrometer head is fixed within the supporter, and the drive section of the head rotates and rotates within the supporter. Axial movement is possible. The supporter is also provided with a window 19 through which the scale of the micrometer can be read. A cylindrical frame 20 is integrated into the supporter 18, and a motor (pulse motor) 13 is housed within the frame 20. The shaft of the motor is a coupling ring 21
is directly connected to the drive section of the micrometer head 8. The motor may have a precision gear reduction mechanism. One or more guide grooves 22 are formed in the frame 20 in the axial direction of the spindle of the micrometer head 8, and protrusions (keys) 23a and 23b of the guide 23 holding the motor are inserted into these grooves. They are slidably fitted.

斯かる構成において、モータ8に所定の電源、
例えば、コンピユータからパルス信号を供給する
と、そのパルス数に応じた角度だけモータは回転
する。該モータの回転はカツプリング21を介し
て直ちにマイクロメータヘツドの駆動部に伝達さ
れ、それによつて該マイクロメータのスピンドル
は図中、上下に移動する。このとき前記マイクロ
メータヘツドの駆動部も回転しながら上下に移動
するが、モータ8がフレーム20のガイド溝22
及びモータガイド23の突起23a,23bにガ
イドされ上下に移動するので、マイクロメータに
よる試料の駆動には何等の支障も来たさない。し
かも、該モータは回転が阻止されているので、該
モータへのパルス信号の供給には何等の制限もな
い。
In such a configuration, the motor 8 is supplied with a predetermined power source,
For example, when a pulse signal is supplied from a computer, the motor rotates by an angle corresponding to the number of pulses. The rotation of the motor is immediately transmitted via the coupling 21 to the drive of the micrometer head, whereby the spindle of the micrometer is moved up and down in the figure. At this time, the drive section of the micrometer head also rotates and moves up and down, but the motor 8 is connected to the guide groove 20 of the frame 20.
Since it is guided by the protrusions 23a and 23b of the motor guide 23 and moves up and down, there is no problem in driving the sample by the micrometer. Moreover, since the motor is prevented from rotating, there are no restrictions on the supply of pulse signals to the motor.

以上のような装置にすると、モータ13とマイ
クロメータヘツド8とはカツプリング21により
直結されるので、連結機構によるバツクラツシユ
が皆無となり、モータ13による回転が極めて正
確に伝達され、従つて再現性の良い試料移動が可
能となる。
In the device as described above, the motor 13 and the micrometer head 8 are directly connected by the coupling 21, so there is no backlash due to the coupling mechanism, and the rotation by the motor 13 is transmitted extremely accurately, resulting in good reproducibility. Sample movement becomes possible.

第5図乃至第7図は本考案の他の実施例を示す
もので、モータ駆動と手動とを適宜使用できるよ
うになしたものである。第5図は概略的な図であ
り、第2図に対応している。第6図は該第5図の
主要部の正面図、第7図はそのB−B線断面図で
ある。これらの図において、第4図までと同符号
は同一の部材を示してある。本実施例にあつては
フレーム20がマイクロメータヘツドのサポータ
18に固着されておらず、ベアリング24,25
により回転できるように構成してある。又、フレ
ーム20には自在継ぎ手10が連結されており、
該継ぎ手に繋がるシヤフト11、自在継ぎ手12
電磁ブレーキ26及び傘歯車機構14を介して手
動用の摘子15によつてフレーム20に回転が与
えられる。27はコンタクトであり、ベアリング
24と25との間に設けたコンタクトリング28
に接触して外部電源からの信号(パルス電流)を
受け、リード線29を介してモータ13に供給す
る。前記リング28は固定状態にあるので、フレ
ーム20と同時にモータ13が回転してもコンタ
クト27を通して支障なくパルス電流がモータへ
供給できる。モータ13とマイクロメータヘツド
8の結合及びモータ13のガイド機構は第4図に
示した実施例と同様である。
FIGS. 5 to 7 show other embodiments of the present invention, in which motor drive and manual operation can be used as appropriate. FIG. 5 is a schematic diagram and corresponds to FIG. FIG. 6 is a front view of the main part of FIG. 5, and FIG. 7 is a sectional view taken along the line B--B. In these figures, the same reference numerals as up to FIG. 4 indicate the same members. In this embodiment, the frame 20 is not fixed to the supporter 18 of the micrometer head, and the bearings 24, 25 are not fixed to the supporter 18 of the micrometer head.
It is configured so that it can be rotated. Further, a universal joint 10 is connected to the frame 20,
Shaft 11 connected to the joint, universal joint 12
Rotation is applied to the frame 20 by a manual knob 15 via an electromagnetic brake 26 and a bevel gear mechanism 14. 27 is a contact, and a contact ring 28 provided between the bearings 24 and 25.
The terminal contacts the terminal to receive a signal (pulse current) from an external power source, and supplies the signal to the motor 13 via the lead wire 29. Since the ring 28 is in a fixed state, even if the motor 13 rotates at the same time as the frame 20, pulsed current can be supplied to the motor through the contacts 27 without any problem. The connection between the motor 13 and the micrometer head 8 and the guide mechanism of the motor 13 are the same as in the embodiment shown in FIG.

このような装置において、電磁ブレーキ26に
通電し、該ブレーキを働かせた状態となし、モー
タにパルス信号を送るとフレーム20がブレーキ
26により固定状態となつているので、丁度第3
図、第4図の実施例と同じ機能となり、マイクロ
メータヘツド8に直結されたモータ13により試
料は駆動される。次に、電磁ブレーキ26への電
流をOFFにしその制動を解除すると、摘子15
が自由に回転できるようになるので、モータへの
給電を停止して摘子15を回転するとシヤフト1
1、自在継ぎ手10、フレーム20、ガイド23
を介してモータ自体が回転し、それによりマイク
ロメータヘツドが回転する。又、手動とモータ駆
動とを併用したい場合には前記電磁ブレーキ26
を解除した状態で、摘子を回転すると同時にモー
タ13へパルス信号を与えると両者が同時に働
き、試料の早送り等に使用できる。
In such a device, when the electromagnetic brake 26 is energized, the brake is activated, and a pulse signal is sent to the motor, the frame 20 is fixed by the brake 26.
It has the same function as the embodiment shown in FIGS. 4 and 4, and the sample is driven by a motor 13 directly connected to the micrometer head 8. Next, when the current to the electromagnetic brake 26 is turned off and the braking is released, the knob 15
can now rotate freely, so if you stop supplying power to the motor and rotate knob 15, shaft 1
1, universal joint 10, frame 20, guide 23
The motor itself rotates via the micrometer head, which in turn rotates the micrometer head. In addition, if you want to use both manual and motor drive, the electromagnetic brake 26
When the knob is rotated and a pulse signal is applied to the motor 13 at the same time in a state where the knob is released, both act simultaneously and can be used for rapid feeding of a sample, etc.

〔効果〕〔effect〕

以上説明したような構成となせば、モータがマ
イクロメータヘツドに直結した構造であるから、
従来のようにバツクラツシユがなくなり、精密な
モータ駆動により試料移動が可能となる。又、図
から解るように駆動機構は非常にコンパクトに形
成でき、モータの設置場所に苦労するようなこと
もなくなる。
With the configuration described above, the motor is directly connected to the micrometer head, so
There is no backlash like in the past, and the sample can be moved using a precise motor drive. Furthermore, as can be seen from the figure, the drive mechanism can be formed very compactly, and there is no need to worry about where to install the motor.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図及び第2図は夫々従来の試料移動装置の
例を示す概略図、第3図は本考案の一実施例の主
要部正面図、第4図は第3図のA−A線断面図、
第5図は本考案の他の実施例の概略図、第6図は
その主要部の正面図、第7図は第6図のB−B線
断面図である。 1:電子顕微鏡の鏡筒、4:試料室、7:テコ
体部、8:マイクロメータヘツド、11:シヤフ
ト、13:モータ、14:傘歯車機構、15:手
動用摘子、18:マイクロメータヘツドのサポー
タ、20:フレーム、21:カツプリング、2
2:ガイド溝、23:モータガイド、23a,2
3b:ガイド用突起、26:電磁ブレーキ。
Figures 1 and 2 are schematic diagrams showing examples of conventional sample moving devices, Figure 3 is a front view of main parts of an embodiment of the present invention, and Figure 4 is a cross section taken along line A-A in Figure 3. figure,
FIG. 5 is a schematic diagram of another embodiment of the present invention, FIG. 6 is a front view of the main part thereof, and FIG. 7 is a sectional view taken along the line B--B in FIG. 6. 1: Lens barrel of electron microscope, 4: Sample chamber, 7: Lever body, 8: Micrometer head, 11: Shaft, 13: Motor, 14: Bevel gear mechanism, 15: Manual knob, 18: Micrometer Head supporter, 20: Frame, 21: Coupling, 2
2: Guide groove, 23: Motor guide, 23a, 2
3b: Guide protrusion, 26: Electromagnetic brake.

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】 (1) 試料室内に置かれた試料ステージをマイクロ
メータヘツドにより微細移動させる装置におい
て、前記マイクロメータヘツドのサポータに接
続されたフレームにモータを保持せしめ、該モ
ータ本体の回転は規制するが該モータ本体の前
記マイクロメータヘツド移動軸方向への移動は
許容するガイド機構を前記フレームに設けてな
る電子顕微鏡等の試料移動装置。 (2) 前記フレームはサポータに対して回転可能で
あり、該フレームはシヤフトを介して手動用の
摘子に接続している実用新案登録請求の範囲第
1項記載の電子顕微鏡等の試料移動装置。 (3) 前記シヤフトの途中にブレーキ機構を設け、
前記モータ駆動による試料移動の場合、該ブレ
ーキ機構を働かせて手動用の摘子による駆動を
停止させるように構成した実用新案登録請求の
範囲第2項記載の電子顕微鏡等の試料移動装
置。
[Claims for Utility Model Registration] (1) In a device for finely moving a sample stage placed in a sample chamber using a micrometer head, a motor is held in a frame connected to a supporter of the micrometer head, and the motor body A sample moving device such as an electron microscope, wherein the frame is provided with a guide mechanism that restricts the rotation of the motor body but allows movement of the motor body in the direction of the movement axis of the micrometer head. (2) The sample moving device for an electron microscope or the like according to claim 1, wherein the frame is rotatable with respect to a supporter, and the frame is connected to a manual knob via a shaft. . (3) A brake mechanism is provided in the middle of the shaft,
A sample moving device for an electron microscope or the like according to claim 2, which is configured to operate the brake mechanism to stop driving by a manual knob when the sample is moved by the motor drive.
JP4795383U 1983-03-31 1983-03-31 Sample moving devices such as electron microscopes Granted JPS59152657U (en)

Priority Applications (1)

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JPS59152657U JPS59152657U (en) 1984-10-13
JPS6348935Y2 true JPS6348935Y2 (en) 1988-12-15

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ID=30178493

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JPH0631642Y2 (en) * 1988-01-18 1994-08-22 工業技術院長 Precision positioning mechanism

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JPS59152657U (en) 1984-10-13

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