JPS6347296B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPS6347296B2
JPS6347296B2 JP57024985A JP2498582A JPS6347296B2 JP S6347296 B2 JPS6347296 B2 JP S6347296B2 JP 57024985 A JP57024985 A JP 57024985A JP 2498582 A JP2498582 A JP 2498582A JP S6347296 B2 JPS6347296 B2 JP S6347296B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal
circuit
analog
output
test signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP57024985A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS58142649A (ja
Inventor
Takashi Nishimura
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP57024985A priority Critical patent/JPS58142649A/ja
Publication of JPS58142649A publication Critical patent/JPS58142649A/ja
Publication of JPS6347296B2 publication Critical patent/JPS6347296B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/04Measuring peak values or amplitude or envelope of ac or of pulses

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
  • Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 (a) 発明の技術分野 本発明は変復調装置等の通信機器におけるアナ
ログ信号回路の応答時間の測定に係り、特に測定
の自動化に好適な測定方式の改良に関す。
(b) 技術の背景 近来通信技術の進展に伴いアナログ信号の送受
信において変復調装置が広く用いらられている。
この装置の自動利得制御回路はフイードバツク系
を持つており、入力アナログ信号に対して或る種
の応答特性を示す。即ち入力アナログ信号に対し
て出力アナログ信号は或る遅延をもつて追従す
る。従つて入力レベルが変つた時には変化した時
から新しいレベルに至る迄に時間がかゝりこれを
応答時間という。これは短かい方が望ましいが避
けられないので、所定時間(例えば10ms)以下
に押えるように設計、製作され品質保証される。
この時行なわれる応答時間の測定は人手を要し面
倒な作業であり装置の量産時には応答時間測定の
省力化が要請されている。
(c) 従来技術と問題点 以下変復調装置の自動利得制御回路を被測定回
路とする測定例の従来方法について第1図及び第
2図を参照して説明する。第1図は従来方法を例
示するブロツク図、第2図は第1図の波形図を示
す。図中、1は発振器、2は信号コントロール回
路、3は被測定回路、4はオシロスコープ、aは
測定スタート信号、bは入力交流試験信号、cは
出力交流試験信号、Eは信号安定部の最終点、S
は標準値、Uはアツパリミツト、Lはロアリミツ
ト、tは応答時間を示す。
第1図に示すように発振器1、信号コントロー
ル回路2、被測定回路3及びオシロスコープ4が
直列に接続されており、更に信号コントロール回
路2とオシロスコープ4が接続されている。発信
器1は所定周波数の交流試験信号を発生するもの
であり、信号コントロール回路2は発信器1から
入力される交流試験信号を必要な時間だけ通過さ
せる機能をもつている。またオシロスコープ4は
被測定回路3から出力された交流試験信号の波形
を測定するものである。このような構成を有する
ので発信器1から発せられた交流試験信号は信号
コントロール回路2を経て被測定回路3に交流試
験信号bとして入力される。そこで、被測定回路
3は出力交流試験信号cをオシロスコープ4に送
る。一方信号コントロール回路2とオシロスコー
プ4に対しスタートのタイミングを合わせる測定
スタート信号aが発せられる。このタイミングに
よつてブラウン管は画面に出力交流試験信号cの
波形を描き出す。このブラウン管に表われた出力
交流試験信号cの波形を目視によつて目盛を読ん
でデータをとり被測定回路の応答時間tを求め
る。すなわち第2図に示す出力交流試験信号cの
波形において、例えば最初は大巾に振れているが
次第に安定する過渡現象を経て一定値に近づく。
この信号の安定部の最終点Eの値を標準値Sと
し、この値に許容偏差をプラス、マイナス(例え
±10%)してアツパリミツトU、ロアリミツトL
として信号スタートよりこの範囲に安定的に入つ
た時迄の時間を応答時間tとしてとらえる。オシ
ロスコープ4の他にメモリスコープ又はデジタル
メモリスコープが用いられる場合もある。
このようにして応答時間tを測定することがで
きる。しかし目視による方法はちらつくブラウン
管の映像を見て目盛を読んで測定するので時間が
かゝる上測定精度に限度があるという欠点があ
る。更に人間が介在して目視測定する為自動化に
よる省力化の要請が高まつていた。この為、オシ
ロスコープ、メモリスコープ等にコンピユータを
接続し、高速サンプリングによつて波形そのもの
を最終端迄記憶させてから応答時間を演算する方
法が行なわれることもある。しかしながらこの方
法ではコンピユータに記憶されるデータが膨大に
なるばかりでなくプログラムが複雑になるという
欠点がある。
(d) 発明の目的 本発明の目的は上記の欠点を解決する為のもの
で、アナログ信号回路の出力波形のピーク値を用
いて演算処理を行ない測定の自動化を可能にする
応答時間の測定方式を提供するにある。
(e) 発明の構成 本発明は交流試験信号を入力し、該交流試験信
号に対するアナログ信号回路の出力交流試験信号
波形を測定手段によつて測定し、該アナログ信号
回路の出力交流試験信号波形レベルが安定する迄
の応答時間を測定する測定方式であつて、前記測
定手段は前記アナログ信号回路の出力交流試験信
号波形のピーク点を検出するピーク検出手段と、
アナログ・デジタル変換手段とを設け、前記検出
手段によつて検出されたピーク点検出信号を前記
アナログ・デジタル変換手段により変換し、該変
換されたデジタル信号を基に該アナログ信号回路
の応答時間を演算するように構成されて成ること
を特徴とするアナログ信号回路の応答時間の測定
方式である。かくすることにより目的を達成する
ことができる。
(f) 発明の実施例 以下本発明の一実施例を第3図を参照して説明
する。第3図は本発明による実施例を示すブロツ
ク図、第4図は第3図の波形図である。図中、4
aは測定部、5はプラスピークホールド回路、6
はマイナスピークホールド回路、7は零クロス検
出回路、8はコントロール回路、9はアナログ信
号スイツチング回路、10はアナログ・デジタル
変換回路、11はコンピユータ、dはプラスピー
クホールド回路の制御信号、eはマイナスピーク
ホールド回路の制御信号、fはプラスピークホー
ルド回路の出力信号、gはマイナスピークホール
ド回路の出力信号、hは選択されたピークホール
ド値の信号、jはアナログ・デジタル変換命令信
号、kはスタート信号、lはリードタイミング信
号、mはデジタルデータ信号を示す。また第1図
及び第2図と同一個所は同符号で示している。
第3図において2点鎖線で囲つた部分は第1図
で説明したオシロスコース4に代る部分即ち測定
部4aである。測定部4aの構成及び機能を説明
すると、被測定回路3からの出力交流試験信号c
のプラス、マイナスのピーク及び零ラインをよぎ
る点を検出するプラスピークホールド回路5、マ
イナスピークホールド回路6及び零クロス検出回
路7が設けられて並列に接続されている。また測
定スタート信号aを受け回路全体をコントロール
する機能をもつコントロール回路8が設けられて
いる。更にアナログスイツチング回路9が設けら
れプラスピークホールド回路5及びマイナスピー
クホールド回路6に接続されている。アナログス
イツチング回路9は複数のアナログ入力信号f,
gを切換える機能をもつている。この切換えられ
て出てきた信号hをデジタルに変換するアナログ
デジタル変換回路10が設けられており、コント
ロール回路8、零クロス検出回路7及びアナログ
スイツチング回路9から信号k,j,hを受け図
中1点鎖線で示したコンピユータ11にリードタ
イミング信号l及びデータ信号mを送るようにな
つている。
このような構成及び機能を有するので、測定部
4aを使用して測定する時は、第4図に示すよう
な信号の波形で次のような動作をする。まず測定
スタート信号aを受けたコントロール回路8は待
機状態となり、被測定回路3の出力交流試験信号
cを待つ。出力交流試験信号cがあるレベルを越
えると測定部4a全体に測定スタート命令を出す
と同時にコンピユータ11に対しスタート信号k
を出して測定がスタートしたことを知らせる。測
定がスタートすると、零クロス検出回路7は、出
力交流試験信号cの波形の極性判定を行ない、制
御信号d,eで対応するプラスピークホールド回
路5あるいはマイナスピークホールド回路6を動
作させ信号fあるいは信号gを出力させると共に
アナログスイツチング回路9の通過ルートを選択
しピークを通過した時点でアナログデジタル変換
回路10に変換命令jを出す。変換命令jを受け
たアナログデジタル変換回路10はピークホール
ド値hを変換し、変換終了と共にコンピユータ1
1に対しリードタイミング信号lと変換したデー
タ信号mを送る。コンピユータ11は時間点とデ
ータ番号とに対応させてデータを記憶する。また
コントロール回路8はスタート時点より一定時間
後に回路を停止する。停止信号を受けたコンピユ
ータは終了間際の安定部の最終点Eのデータを標
準値とし、この標準値より応答の許容偏差を算出
してアツパリミツトU及びロアリミツトLを求
め、この値と記憶している各ピーク値とを比較す
る。この時最終データ側から時間を溯つで比較を
行ない許容値を越えたところで応答の限界時間を
認識する。即ち、この場合転送されているデータ
は最初から順番であり、また入力されている周波
数は既知であるので第4図の場合にはアツパリミ
ツトUを越えたデータの番号から時間が求められ
る。このようにして任意のレベルに達するような
回路の過渡応答時間を簡単なコンピユータ処理に
よつて求めることができる。上記実施例は変復調
装置の例を説明したが濾波器等のアナログ信号回
路の応答時間の測定にも適用できることは勿論で
ある。
(g) 発明の効果 以上説明したように本発明によれば、アナログ
信号回路の出力交流波形のピークホールド回路、
零クロス検出回路及びアナログデジタル変換回路
を用いて交流入力信号のプラス、マイナスのピー
ク値をコンピユータに記憶させ、そのピーク値の
記憶列を演算処理することにより、入力交流波形
の応答時間を求めることができるので、オシロス
コープ等による目視測定に比べて精度よく迅速
に、しかも測定の自動化ができるという効果があ
る。またオシロスコープ等にコンピユータを接続
して高速サンプリングによつて出力交流波形その
ものを最終端迄記憶させてから応答時間を演算す
る方法に比べてプログラムが極めて簡単になると
いう効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来方法を例示するブロツク図、第2
図は第1図の波形図、第3図は本発明による実施
例を示すブロツク図、第4図は第3図の波形図で
ある。 図において、1は発振器、2は信号コントロー
ル回路、3は被測定回路、4はオシロスコープ、
4aは測定部、5はプラスピークホールド回路、
6はマイナスピークホールド回路、7は零クロス
検出回路、8はコントロール回路、9はアナログ
信号スイツチング回路、10はアナログ・デジタ
ル変換回路、11はコンピユータを示す。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 交流試験信号を入力し、該交流試験信号に対
    するアナログ信号回路の出力交流試験信号波形を
    測定手段によつて測定して、該アナログ信号回路
    の出力交流試験信号波形レベルが安定するまでの
    応答時間を測定する測定方式であつて、前記測定
    手段は前記アナログ信号回路の出力交流試験信号
    波形のピーク点を検出するピーク検出手段と、ア
    ナログ・デジタル変換手段とを設け、前記検出手
    段によつて検出されたピーク点検出信号を前記ア
    ナログ・デジタル変換手段により変換し、該変換
    されたデジタル信号を基に該アナログ信号回路の
    応答時間を演算するように構成されて成ることを
    特徴とするアナログ信号回路の応答時間の測定方
    式。
JP57024985A 1982-02-18 1982-02-18 アナログ信号回路の応答時間の測定方式 Granted JPS58142649A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57024985A JPS58142649A (ja) 1982-02-18 1982-02-18 アナログ信号回路の応答時間の測定方式

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57024985A JPS58142649A (ja) 1982-02-18 1982-02-18 アナログ信号回路の応答時間の測定方式

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS58142649A JPS58142649A (ja) 1983-08-24
JPS6347296B2 true JPS6347296B2 (ja) 1988-09-21

Family

ID=12153269

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP57024985A Granted JPS58142649A (ja) 1982-02-18 1982-02-18 アナログ信号回路の応答時間の測定方式

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS58142649A (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6479619B2 (ja) * 2015-09-30 2019-03-06 株式会社東芝 インピーダンス測定回路

Also Published As

Publication number Publication date
JPS58142649A (ja) 1983-08-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5170115A (en) Sampling type measuring device
US4907165A (en) Electric energy measuring method
CN114509598A (zh) 一种基波电压过零点自动检测方法和系统
US6040689A (en) Current sensing method and apparatus
JPS6347296B2 (ja)
US4546441A (en) Method and apparatus for time based measurement of impedance
EP0303711A1 (en) Method and apparatus for detecting absolute position
US4947109A (en) Detector of quantity of electricity
JPH04105073A (ja) 実効値測定装置
US4780789A (en) Method for generating circuit-breaking signals
JPH1010163A (ja) 実効値電圧測定装置
US5243276A (en) Sampling type measuring device
JPS6129443B2 (ja)
JPS5938773Y2 (ja) 特性測定装置
SU1654757A1 (ru) Способ определени шквала и устройство дл его осуществлени
SU1594447A1 (ru) Устройство дл автоматического измерени параметров резонансных контуров
SU1134917A1 (ru) Устройство дл измерени мощности СВЧ
SU1525596A1 (ru) Устройство порогового контрол среднеквадратического значени переменного напр жени
SU1203699A1 (ru) Способ измерени динамических характеристик преобразовани быстродействующих и высокоточных аналого-цифровых преобразователей и устройство дл его осуществлени
CN116165574A (zh) 基于离散序列和非对称式距离电子设备故障检测方法及检测系统
SU1707559A1 (ru) Способ определени параметров электроэнергии сети переменного тока
SU1201800A1 (ru) Измеритель динамических параметров
JP3166665B2 (ja) π/4DQPSK変調精度測定装置
RU1178224C (ru) Способ контрол изол ции линий датчиков
CN113533954A (zh) 用于检测储能逆变器的继电器闭合时间的方法及控制系统